JP4461714B2 - 露光ずれ測定装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、露光装置における露光のずれを測定する露光ずれ測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
周知のように、半導体素子などの製造工程では、ファースト露光により基板に形成されたパターン(例えばアライメントマーク)の位置を絶対基準として、それ以降の露光工程や検査工程などを行っている(例えば特許文献1参照)。
【特許文献1】
特開平5−47635号公報
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記の従来技術では、ファースト露光後の各種工程(露光工程や検査工程など)においてアライメントエラーが発生することがあった。この場合には、製造工程を一時停止させてマニュアルアシストなどの対策を講じることが必要となり、生産性が低下してしまう。また最悪の場合には、途中工程で不良基板として処分することもあった。
【0004】
生産性を向上させるためにはアライメントエラーを減らすことが必要であり、ファースト露光によるパターン(例えばアライメントマーク)の位置ずれを出来るだけ小さくすることが考えられるが、露光装置の性能に頼るほか無いというのが現状であった。
本発明の目的は、露光のずれを測定することによりアライメントエラーの低減に寄与できる露光ずれ測定装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
第1の発明の露光ずれ測定装置は、露光装置による露光により基板に形成された測定用パターンの、第1座標系での位置を検出する位置検出手段と、前記基板の径を検出する径検出手段と、前記露光装置が前記露光の前のアライメントによって前記基板に設定した第2座標系での前記測定用パターンの設計位置と、前記第1座標系での前記測定用パターンの検出位置との差に対して、前記第1座標系と前記第2座標系との相対的な位置関係を示すとともに前記基板の径を用いて求めた補正量を加算して、前記測定用パターンの前記設計位置と前記検出位置との位置ずれ量を算出する算出手段とを備えたものである。
【0006】
第2の発明は、第1の発明の露光ずれ測定装置において、前記露光装置が前記露光の前に行った前記基板のアライメントに関わる情報に基づいて、前記第2座標系を認識する認識手段を備えたものである。
第3の発明は、第1の発明の露光ずれ測定装置において、前記露光装置が前記露光の前に行った前記基板のアライメントの外形基準の位置と前記基板の径とに基づいて、前記第2座標系を認識する認識手段を備えたものである。
【0007】
第4の発明の露光ずれ測定装置は、露光装置による露光により基板に形成された測定用パターンの、第1座標系での位置を検出する位置検出手段と、前記基板として、径が良好でかつ計測用パターンが正確な位置に形成された良品基板を用いたときに前記位置検出手段から得られる検出結果と、前記基板として被測定基板を用いたときに前記位置検出手段から得られる検出結果とに基づいて、前記被測定基板に形成された前記測定用パターンの位置ずれ量を算出する算出手段と、前記被測定基板の径を検出する径検出手段と、前記良品基板に対する前記被測定基板の径の誤差に基づいて、前記位置ずれ量を補正する補正手段とを備えたものである。
【0008】
第5の発明は、第1から第4のいずれかの発明の露光ずれ測定装置において、前記位置検出手段は、前記基板の中心を原点として前記第1座標系を設定するものである。
第6の発明は、第1から第5のいずれかの発明の露光ずれ測定装置において、前記位置ずれ量が許容範囲を超えたときに警告を発する警告手段を備えたものである。
【0009】
第7の発明は、第1から第6のいずれかの発明の露光ずれ測定装置において、前記露光装置による前記露光は、前記基板に対するファースト露光である。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、図面を用いて本発明の実施形態を詳細に説明する。
【0011】
本実施形態の露光ずれ測定装置10は、図1に示すように、ウエハ11を載置する不図示のxyθステージと、ファースト露光によりウエハ11に形成されたパターン(例えばアライメントマーク)の画像を撮像するパターン検出系(12〜19)と、プリアライメント検出系(20〜22)と、制御装置23と、記憶装置24とで構成されている。
【0012】
ウエハ11は、例えばシリコンからなるICウエハ(基板)であり、不図示の露光装置におけるファースト露光後、現像工程を経て、xyθステージに載置される。ウエハ11の形状は略円形である。ウエハ11の外縁部にはノッチ11Aが設けられる。ノッチ11Aは基準切り欠き部である。
露光ずれ測定装置10の詳細を説明する前に、図2,図3を用いてファースト露光の説明を行う。図2,図3には、径の異なる2枚のウエハ11(1),(2)を図示した。ウエハ11(1)の半径R1とウエハ11(2)の半径R2との実際の差は、ごく僅か(公差の範囲内)であるが、説明をわかりやすくするために半径R1,R2の差を大きく図示した。
【0013】
露光装置は、ファースト露光の前に、ウエハ11(1),(2)のアライメントを行う。アライメントの方法は、ウエハ11(1),(2)の半径R1,R2に拘わらず同じである。ここではウエハ11(1)のアライメントを例に説明する。
アライメント時、露光装置では、ウエハ11(1)のエッジの3点をカメラで計測しながら、2つの位置決めピン31,32に向けてウエハ11(1)を移動させ、位置決めピン31,32にウエハ11(1)のエッジを当接させる。また、ウエハ11(1)を回転させ、位置決めピン31,32を結ぶ線分の垂直二等分線上にノッチ11Aを位置決めする。位置決めピン31,32の各位置や間隔Dは、露光装置ごとに固有である。位置決めピン31,32は、請求項の「外形基準」に対応する。
【0014】
このようにしてアライメントが終了すると、ウエハ11(1)には座標系(X,Y)が設定されたことになる。図2の座標系(X,Y)は、例えば、一方の位置決めピン31を原点として設定されたものである。また、座標系(X,Y)の設定は、ウエハ11(1)とは径の異なるウエハ11(2)に対しても同様である。つまり、ウエハ11(1),(2)の半径R1,R2に拘わらず、常に、位置決めピン31,32を基準に設定される。座標系(X,Y)は、請求項の「第2座標系」に対応する。
【0015】
そして、露光装置では、アライメントにより設定された座標系(X,Y)にしたがって、ウエハ11(1),(2)に対するファースト露光を行う。つまり、レチクル上のファースト露光用パターンをウエハ11(1),(2)に転写する。図2には、ファースト露光による全てのショット領域のうち1つ(ショット領域33)のみを図示し、ショット領域33の中に1つのパターン34を例示した。パターン34は、例えばアライメントマークである。
【0016】
ここで、ファースト露光によりウエハ11(1),(2)に形成されたパターン34の座標系(X,Y)での位置を(X1,Y1)とする。また、座標系(X,Y)でのパターン34の設計位置を(XS,YS)とする。図3には、設計位置(XS,YS)の通りにパターン34が形成された場合を“パターン34s”として図示した。設計位置(XS,YS)は、ウエハ11(1),(2)の半径R1,R2に拘わらず同じである。
【0017】
実際のパターン34の位置(X1,Y1)が設計位置(XS,YS)に対してずれている場合、その位置ずれ量(ΔX,ΔY)が許容範囲を超えていると、ファースト露光後の各種工程(露光工程や検査工程など)においてアライメントエラーが発生し、結果として生産性の低下を招いてしまう。
このため、本実施形態の露光ずれ測定装置10では、露光装置における上記のファースト露光と現像工程とを経た後のウエハ11において、位置ずれ量(ΔX,ΔY)の測定を行う。
【0018】
次に、露光ずれ測定装置10の詳細について説明する。
ウエハ11を載置するxyθステージ(不図示)は、ウエハ11をxyθ方向に移動させるための機構であり、後述のプリアライメント時や位置検出時にxyθ方向に駆動される。
プリアライメント検出系(20〜22)は、光源20と照明レンズ21とCCD撮像素子22とで構成される。光源20は例えばLEDである。光源20からの照明光は、照明レンズ21を介してウエハ11の外縁部の付近に入射する。そして、この外縁部で遮断されなかった一部の照明光がCCD撮像素子22に入射し、そこで受光される。CCD撮像素子22による受光信号は、プリアライメント信号として制御装置23に出力される。
【0019】
パターン検出系(12〜19)は、光源12と照明レンズ13とハーフミラー14,17と集光レンズ15,18とカメラ16,19とで構成される。光源12は例えばLEDである。光源12からの照明光は、照明レンズ13とハーフミラー14,17を介してウエハ11のパターン領域の2箇所に入射する。そして、各々の箇所で反射した光がハーフミラー14,17と集光レンズ15,18を介してカメラ16,19に入射し、そこで撮像される。カメラ16,19による撮像信号は、パターン画像として制御装置23に出力される。
【0020】
制御装置23は、露光ずれ測定装置10の各部を制御し、概略、CCD撮像素子22から出力されるプリアライメント信号と、カメラ16,19から出力されるパターン画像と、記憶装置24に記憶された情報(次に説明する)とに基づいて、図3に示すファースト露光の位置ずれ量(ΔX,ΔY)を測定する。
記憶装置24には、露光装置がファースト露光の前に行ったウエハ11のアライメントに関わる情報(位置決めピン31,32の各位置や間隔Dなど)が予め記憶されている。さらに、ファースト露光時に設定された座標系(X,Y)でのパターン34の設計位置(XS,YS)も予め記憶されている。
【0021】
次に、本実施形態の露光ずれ測定装置10の動作を説明する。この測定動作は図4のフローチャートにしたがって行われる。
ここでは、半径R1のウエハ11(1)を測定対象として説明する。ただし、露光ずれ測定装置10にとってウエハ11(1)の半径R1は未知の情報である。ウエハ11(1)には、図5に示すように、ショット領域33の中にパターン34(例えばアライメントマーク)が形成されているとする。以下の説明では、パターン34を測定用パターンの1つとする。
【0022】
制御装置23は、xyθステージにウエハ11(1)が載置されると、ウエハ11(1)のプリアライメントを行う(ステップS1)。つまり、光源20を点灯状態とし、xyθステージをθ方向に駆動してウエハ11(1)を回転させ(360度)、CCD撮像素子22からプリアライメント信号を取り込む。プリアライメント信号は、ウエハ11(1)の外縁部の形状変化を表す。
【0023】
そして、制御装置23は、プリアライメント信号をサンプリングし、画像処理によりウエハ11(1)のノッチ11Aのθ位置を検出する(ステップS2)。また、ウエハ11(1)の中心C1(図5)のxy位置と、ウエハ11(1)の半径R1も検出する。ノッチ11Aのθ位置と中心C1のxy位置により、xyθステージ上でのウエハ11(1)の載置状態を把握することができる。
【0024】
このようにしてプリアライメントが終了すると、ウエハ11(1)には座標系(U,V)が設定されたことになる。図5の座標系(U,V)は、ウエハ11(1)の中心C1を原点として設定されたものである。なお、座標系(U,V)の設定は、ウエハ11(1)とは径の異なるウエハ11(2)に対しても同様であり、ウエハ11(1),(2)の半径R1,R2に拘わらず、常に、その中心C1,C2(図7参照)を基準に行われる。座標系(U,V)は、請求項の「第1座標系」に対応する。
【0025】
次に、制御装置23は、ウエハ11(1)のパターン領域のうち、予め定めた2箇所(例えば図5のパターン34の形成部位)をカメラ16,19による撮像領域まで移動させるため、ノッチ11Aのθ位置と中心C1のxy位置とを考慮してxyθステージの駆動量を計算し、この計算結果に基づいてxyθステージを駆動する(ステップS3)。
【0026】
さらに、制御装置23は、光源12を点灯状態とし、カメラ16,19から出力されるパターン画像をそれぞれ取り込む。そして、取り込んだパターン画像に基づいて、例えばパターン34の座標系(U,V)での位置(U1,V1)を検出する(ステップS4)。
次に、制御装置23は、この検出位置(U1,V1)が記憶装置24内の図3の設計位置(XS,YS)に対して正しいか否かを判断するため、設計位置(XS,YS)に対応する座標系(X,Y)の認識を行う。この座標系(X,Y)を認識できれば、座標系(X,Y)と座標系(U,V)との相対的な位置関係が分かり、ステップS4で検出した位置(U1,V1)と記憶装置24内の設計位置(XS,YS)とを比較することができるからである。
【0027】
座標系(X,Y)を認識するため、制御装置23は、ステップS5において、露光装置によるファースト露光前のアライメントに関わる情報(位置決めピン31,32の各位置や間隔Dなど)を記憶装置24から読み込む。
そして、この位置決めピン31,32の情報と、ステップS2で検出したウエハ11(1)の半径R1とに基づいて、図6に示すように、座標系(X,Y)を認識する(ステップS6)。また、この座標系(X,Y)と座標系(U,V)との相対的な位置関係として、原点の並進量(HXU1,HYV1)を計算する(式(1),(2)参照)。
【0028】
HXU1=D/2 …(1)
HYV1=√(R1 2−D2/4) …(2)
その後、制御装置23は、ステップS7において、パターン34の座標系(U,V)での検出位置(U1,V1)と、座標系(X,Y)での設計位置(XS,YS)と、座標系(X,Y)と座標系(U,V)との相対的な位置関係(HXU1,HYV1)とを用い、パターン34の位置ずれ量(ΔX,ΔY)を算出する(式(3),(4)参照)。
【0029】
ΔX=|U1−XS+HXU1| …(3)
ΔY=|V1−YS+HYV1| …(4)
最後に、制御装置23は、ステップS7で算出した位置ずれ量(ΔX,ΔY)が許容範囲内に含まれる否かの判定を行う(ステップS8)。そして許容範囲内であれば(S8がYes)、測定動作を終了する。
【0030】
位置ずれ量(ΔX,ΔY)が許容範囲内のウエハ11(1)は、検出位置(U1,V1)が設計位置(XS,YS)に対して正しいため、ファースト露光後の各種工程(露光工程や検査工程など)でアライメントエラーが発生することはない。
【0031】
一方、位置ずれ量(ΔX,ΔY)が許容範囲を超えたとき(S8がNo)、制御装置23はステップS9で、警告を発するなどのエラー処理を行った後、測定動作を終了する。
位置ずれ量(ΔX,ΔY)が許容範囲を超えたウエハ11(1)は、検出位置(U1,V1)が設計位置(XS,YS)に対して大きく外れているため、ファースト露光後の各種工程(露光工程や検査工程など)でアライメントエラーが発生する可能性が高い。したがって、このウエハ11(1)を次工程へ送る前に排除することができる。
【0032】
ウエハ11(1)とは径の異なるウエハ11(2)がxyθステージに載置された場合にも、同様の手順で、位置ずれ量(ΔX,ΔY)の算出が行われる。つまり、図7に示す座標系(U,V)でのパターン34の検出位置(U2,V2)と、図8に示す座標系(X,Y)での設計位置(XS,YS)と、座標系(X,Y)と座標系(U,V)との相対的な位置関係(HXU2,HYV2)とを用い、上記の式(1)〜(4)にしたがって、パターン34の位置ずれ量(ΔX,ΔY)を算出することができる。
【0033】
既に説明した通り、露光装置におけるファースト露光時、ウエハ11(1),(2)には同じ座標系(X,Y)が設定され、同じレチクルの設計位置(XS,YS)によるファースト露光用パターンの転写が行われる。このため、例えば図2,図3に示すように、ウエハ11(1),(2)の座標系(X,Y)での同じ位置(X1,Y1)にパターン34が形成されることがある。
【0034】
この場合、露光ずれ測定装置10では、ウエハ11(1),(2)の中心C1,C2を原点として座標系(U,V)を設定し(図5,図7)、この座標系(U,V)においてパターン34の位置検出を行うため、径の異なるウエハ11(1)とウエハ11(2)とで検出結果が異なってしまう。具体的には、図5のウエハ11(1)では検出位置(U1,V1)となり、図7のウエハ11(2)では検出位置(U2,V2)となる。
【0035】
しかし、パターン34の位置ずれ量(ΔX,ΔY)を算出する際には、座標系(X,Y)と座標系(U,V)との相対的な位置関係(式(1),(2))をウエハ11(1),(2)の半径R1,R2に応じて適切に計算し、この計算結果をパターン34の位置検出の結果に加味する(式(3),(4))。
このため、最終的に得られる位置ずれ量(ΔX,ΔY)としては、ウエハ11(1),(2)の半径R1,R2に拘わらず同じ値となる。つまり、露光ずれ測定装置10によれば、測定対象であるウエハ11の径がばらついていても、レチクルの設計位置(XS,YS)との比較により高精度な位置ずれ量(ΔX,ΔY)を測定することができる。
【0036】
上記のように、本実施形態の露光ずれ測定装置10では、ファースト露光によるパターン34(例えばアライメントマーク)の位置ずれ量(ΔX,ΔY)を設計位置(XS,YS)との比較により確実に測定できるため、ファースト露光後の各種工程(露光工程や検査工程など)におけるアライメントエラーの低減に寄与できる。その結果、半導体素子などの製造工程における生産性の向上に寄与できる。
【0037】
さらに、本実施形態の露光ずれ測定装置10では、露光装置によるファースト露光前のアライメントに関わる情報(位置決めピン31,32の各位置や間隔Dなど)に基づいて、ウエハ11のファースト露光時の座標系(X,Y)を認識するため、ファースト露光を行う露光装置の変更によりアライメント方法(特に位置決めピン31,32の構成)が変わっても、レチクルの設計位置(XS,YS)との比較により確実に位置ずれ量(ΔX,ΔY)を測定できる。
【0038】
また、本実施形態の露光ずれ測定装置10では、測定対象であるウエハ11の径を考慮してファースト露光時の座標系(X,Y)を認識し、位置ずれ量(ΔX,ΔY)の測定を行うため、ウエハ11の径に拘わらず高精度な測定結果を得ることができ、アライメントエラーの低減および生産性の向上に寄与できる。
さらに、本実施形態の露光ずれ測定装置10では、ウエハ11の半径を実際に検出し、この検出結果を考慮してファースト露光時の座標系(X,Y)を認識し、位置ずれ量(ΔX,ΔY)の測定を行うため、さらに高精度な測定結果を得ることができると共に、一括処理できるという利点もある。
【0039】
また、本実施形態の露光ずれ測定装置10では、測定開始時点でのプリアライメントによりウエハ11の中心C1,C2を検出し、この中心C1,C2を原点として座標系(U,V)を設定するため(中心位置決めの構成)、一般的なウエハ検査装置のxyθステージをそのまま使用することができる。したがって、露光ずれ測定装置10を一般的なウエハ検査装置に容易に組み込むことが可能となる。
【0040】
さらに、本実施形態の露光ずれ測定装置10では、ファースト露光によるパターン34の位置ずれ量(ΔX,ΔY)が許容範囲を超えたときに、警告を発するなどのエラー処理を行うため、オペレータが露光ずれ測定装置10の近くに居なくてもファースト露光の異常を確認することができる。
また、本実施形態の露光ずれ測定装置10では、1つのxyθステージ上にウエハ11を載置した状態のままで、プリアライメント検出系(20〜22)によるプリアライメント処理と、パターン検出系(12〜19)による画像取り込み処理とを順に行うため、測定精度が向上する。また、xyθステージを別々に設けた場合と比較して、ウエハ11の受け渡し時間を省略でき、全体の測定時間を短縮できる。さらに駆動系を共有できるため構成が簡単になる。
【0041】
(変形例)
なお、上記した実施形態では、ウエハ11の半径を実際に検出し、この検出結果を考慮して座標系(X,Y)を認識し、位置ずれ量(ΔX,ΔY)を測定したが、本発明はこれに限定されない。必要となる測定精度に応じ、ウエハ11の半径として設計値を用いてもよい。別の手段による検出結果を用いてもよい。
【0042】
さらに、上記した実施形態では、ウエハ11の径を考慮して座標系(X,Y)を認識し、位置ずれ量(ΔX,ΔY)を測定したが、本発明はこれに限定されない。例えば、ウエハ11の径の代わりにウエハ11の曲率半径を考慮してもよい。
【0043】
また、上記した実施形態では、露光装置によるファースト露光前のアライメント情報に基づいて位置ずれ量(ΔX,ΔY)を測定したが、本発明はこれに限定されない。常に同じ露光装置を用いてファースト露光を行う場合には、位置ずれ量(ΔX,ΔY)を測定する際に、露光装置のアライメント情報が不要となる。
さらに、上記した実施形態では、露光ずれ測定装置10のxyθステージが中心位置決めの構成である例を説明したが、本発明はこれに限定されない。露光装置と同様の外形基準による位置決めとした場合でも、座標系(U,V)と座標系(X,Y)との相対的な位置関係を加味することにより、位置ずれ量(ΔX,ΔY)を測定できる。
【0044】
また、上記した実施形態では、パターン検出系(12〜19)とプリアライメント検出系(20〜22)とでxyθステージを共有したが、別々にしてもよい。さらに、2台のカメラ16,19を設けたが、カメラは1台でもよい。
さらに、上記した実施形態では、レチクルの設計位置(XS,YS)との比較により位置ずれ量(ΔX,ΔY)を測定したが、本発明はこれに限定されない。例えば、良品ウエハをxyθステージに載置したときに得られる位置検出の結果と、被測定基板であるウエハ11をxyθステージに載置したときに得られる位置検出の結果とに基づいて、2つの検出結果を比較することにより、同様の位置ずれ量(ΔX,ΔY)を算出してもよい。この場合には、ウエハ11の半径を実際に検出し、良品ウエハに対するウエハ11の半径の誤差に基づいて、位置ずれ量(ΔX,ΔY)を補正することが好ましい。
【0045】
また、上記した実施形態では、ファースト露光による位置ずれ量の測定を例に説明したが、セカンド露光やそれ以降の露光による位置ずれ量の測定にも、本発明を適用できる。
【0046】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、露光のずれを測定することによりアライメントエラーの低減に寄与できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】露光ずれ測定装置10の全体構成を示す概略図である。
【図2】露光装置におけるファースト露光を説明する図である。
【図3】露光装置におけるファースト露光を説明する図である。
【図4】露光ずれ測定装置10の動作手順を示すフローチャートである。
【図5】ウエハ11(1)での位置検出を説明する図である。
【図6】ウエハ11(1)での位置ずれ量(ΔX,ΔY)の算出を説明する図である。
【図7】ウエハ11(2)での位置検出を説明する図である。
【図8】ウエハ11(2)での位置ずれ量(ΔX,ΔY)の算出を説明する図である。
【符号の説明】
10 露光ずれ測定装置
11 ウエハ
12,20 光源
13,21 照明レンズ
14,17 ハーフミラー
15,18 集光レンズ
16,19 カメラ
22 CCD撮像素子
23 制御装置
24 記憶装置
31,32 位置決めピン
33 ショット領域
34 パターン(例えばアライメントマーク)
34s 設計位置に形成されたパターン
Claims (7)
- 露光装置による露光により基板に形成された測定用パターンの、第1座標系での位置を検出する位置検出手段と、
前記基板の径を検出する径検出手段と、
前記露光装置が前記露光の前のアライメントによって前記基板に設定した第2座標系での前記測定用パターンの設計位置と、前記第1座標系での前記測定用パターンの検出位置との差に対して、前記第1座標系と前記第2座標系との相対的な位置関係を示すとともに前記基板の径を用いて求めた補正量を加算して、前記測定用パターンの前記設計位置と前記検出位置との位置ずれ量を算出する算出手段とを備えた
ことを特徴とする露光ずれ測定装置。 - 請求項1に記載の露光ずれ測定装置において、
前記露光装置が前記露光の前に行った前記基板のアライメントに関わる情報に基づいて、前記第2座標系を認識する認識手段を備えた
ことを特徴とする露光ずれ測定装置。 - 請求項1に記載の露光ずれ測定装置において、
前記露光装置が前記露光の前に行った前記基板のアライメントの外形基準の位置と前記基板の径とに基づいて、前記第2座標系を認識する認識手段を備えた
ことを特徴とする露光ずれ測定装置。 - 露光装置による露光により基板に形成された測定用パターンの、第1座標系での位置を検出する位置検出手段と、
前記基板として、径が良好でかつ計測用パターンが正確な位置に形成された良品基板を用いたときに前記位置検出手段から得られる検出結果と、前記基板として被測定基板を用いたときに前記位置検出手段から得られる検出結果とに基づいて、前記被測定基板に形成された前記測定用パターンの位置ずれ量を算出する算出手段と、
前記被測定基板の径を検出する径検出手段と、
前記良品基板に対する前記被測定基板の径の誤差に基づいて、前記位置ずれ量を補正する補正手段とを備えた
ことを特徴とする露光ずれ測定装置。 - 請求項1から請求項4の何れか1項に記載の露光ずれ測定装置において、
前記位置検出手段は、前記基板の中心を原点として前記第1座標系を設定する
ことを特徴とする露光ずれ測定装置。 - 請求項1から請求項5の何れか1項に記載の露光ずれ測定装置において、
前記位置ずれ量が許容範囲を超えたときに警告を発する警告手段を備えた
ことを特徴とする露光ずれ測定装置。 - 請求項1から請求項6の何れか1項に記載の露光ずれ測定装置において、
前記露光装置による前記露光は、前記基板に対するファースト露光である
ことを特徴とする露光ずれ測定装置。
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