JP4446912B2 - 測定装置、移動体および信号処理回路 - Google Patents
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Description
20 内部クロック発生回路
30 ADC(Analog-Digital Converter)
40 演算回路
50 ビーム照射装置
501 レーザ出射部
502 レーザ受光部
60 走行制御回路
Claims (4)
- レーザ光を照射して物体との間の物理量を測定する測定装置において、
1パルスの出力波形が立ち下り切る前に次のパルスによって出力波形が立ち上がるようにして生成された複数のパルスレーザ光の群を目標領域に向けて所定間隔にて複数回照射するレーザ照射手段と、前記複数のパルスレーザ光の群が前記物体によって反射された反射光を受光する受光手段と、前記レーザ照射手段によって照射される複数のパルスレーザ光の群の出力波形信号と前記受光手段から出力される前記反射光の受光波形信号に対し微分処理を行い、得られた微分値が所定の閾値を越えるタイミングを照射タイミングと受光タイミングとして検出するタイミング検出手段と、前記タイミング検出手段によって検出された各パルスレーザ光の照射タイミングと受光タイミングをもとに前記物体との間の物理量を算出する算出手段とを備え、
前記タイミング検出手段は、他の出力波形と重なることのないパルスレーザ光を照射したときの照射タイミングと受光タイミングの時間差ΔTrefを取得し、前記複数のパルスレーザ光の群のうち先頭からi番目のパルスレーザ光の照射タイミングとそれに対応するとされる受光タイミングの時間差ΔTiと前記時間差ΔTrefを比較して、該i番目のパルスレーザ光が前記受光手段によって受光されたかを検出する、
ことを特徴とする測定装置。 - 請求項1において、
前記タイミング検出手段は、前記i番目のパルスレーザ光が前記受光手段によって受光されていないとき、前記i番目のパルスレーザ光の照射タイミングから前記時間差ΔTrefが経過したタイミングを該i番目のパルスレーザ光の受光タイミングとする、
ことを特徴とする測定装置。 - レーザ光を照射して物体との間の物理量を測定する測定装置において、
1パルスの出力波形が立ち下り切る前に次のパルスによって出力波形が立ち上がるようにして生成された複数のパルスレーザ光の群を目標領域に向けて所定間隔にて複数回照射するレーザ照射手段と、前記複数のパルスレーザ光の群が前記物体によって反射された反射光を受光する受光手段と、前記レーザ照射手段によって照射される複数のパルスレーザ光の群の出力波形信号と前記受光手段から出力される前記反射光の受光波形信号に対し微分処理を行い、得られた微分値が所定の閾値を越えるタイミングを照射タイミングと受光タイミングとして検出するタイミング検出手段と、前記タイミング検出手段によって検出された各パルスレーザ光の照射タイミングと受光タイミングをもとに前記物体との間の物理量を算出する算出手段とを備え、
前記タイミング検出手段は、前記複数のパルスレーザ光の群のうち先頭からi番目のパルスレーザ光の照射タイミングとそれに対応するとされる受光タイミングの時間差ΔTiと、i−1番目のパルスレーザ光の照射タイミングとその受光タイミングの時間差ΔTi−1の時間差と、これら2つのパルスレーザ光の照射パルス間隔δΔとを比較して、該i番目のパルスレーザ光が前記受光手段によって受光されたかを検出する、
ことを特徴とする測定装置。 - 請求項3において、
前記タイミング検出手段は、前記i番目のパルスレーザ光が前記受光手段によって受光されていないとき、前記i−1番目のパルスレーザ光の受光タイミングから前記照射パルス間隔δΔが経過したタイミングを該i番目のパルスレーザ光の受光タイミングとする、ことを特徴とする測定装置。
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