JP4437944B2 - 衝撃試験機 - Google Patents

Description

本発明は、電子機器等の製品に対する衝撃試験機に関し、特にエアシリンダを用いた衝撃試験機に関する。

従来において、電子機器等の製品に衝撃を加えて、その製品が衝撃に耐えられるかどうかを試験するために衝撃試験機が用いられている。
例えば、非特許文献１には、振り子式の衝撃試験装置が開示されている。図１９に示されるように、この衝撃試験装置は振り子２２を備えている。振り子２２は、一端が回転中心Ｏに回転可能に固定された回転腕２３と、回転腕２３の他端に取り付けられた供試品固定台２４と、衝撃試験対象である電子機器等の供試品１を供試品固定台２４に固定する供試品ホルダ２５とを有している。供試品１を供試品ホルダ２５により供試品固定台２４に固定して、所望の高さに設定した振り子２２を重力により回転中心Ｏの周りを回転するように落下させ、これにより、供試品１を衝撃試験装置の下部に設けられた緩衝体２６に衝突させる。この時、供試品１に与えられる衝撃パルスは、正弦半波となる。

また、他の装置として、例えば非特許文献１に開示された落下式衝撃試験装置がある。この落下式衝撃試験装置では、供試品１を取り付けた取付台を緩衝体上に自由落下させ供試品１に衝撃パルスを与える。この落下式衝撃試験装置により供試品１に正弦半波、のこぎり波を与えることができる。

振動工学ハンドブック（養賢堂）、Ｐ７５６からＰ７５９ 特開２０００−０８８７２４

地球から宇宙空間へ打ち上げられるロケットや人口衛星に搭載される電子機器は、打ち上げ時に使用される火薬の爆発による衝撃に耐えられなければならない。また、打ち上げられた多段式のロケットを分離するための火薬の爆発にも耐えられなければならない。

上述の振り子式衝撃試験装置と同様の仕組みであるが、材料試験に用いられるシャルピー試験機を利用して宇宙空間で使用される電子機器のために火薬の爆発に対する衝撃試験を図２０の方法で行われている（非特許文献１も参照）。シャルピー試験機は、例えば特許文献１に開示されている。シャルピー試験機を利用した図２０の方法では、本来の用い方とは違って、衝撃台３２を吊るしておき、供試品１を衝撃台３２に固定し、シャルピー試験機の振り子であるハンマ３４を所定の高さから重力により回転中心Ｏの周りを回転するように落下させ、ハンマ３４を衝撃台３２に衝突させてその上に固定された供試品１に間接的に衝撃を与える。電子機器に直接打撃を与えたのでは、電子機器が破壊されてしまうからである。また、ロケットに搭載される電子機器は厳しい衝撃試験に耐えることができるものではなければならないため、材料のじんせい試験に使用されるシャルピー試験機が用いられている。

この方法により供試品１に与えられる衝撃は図２１に示される波形となる。図２１の波形において、衝撃試験に大きな影響を与える部分は最初の山の部分である。この最初の山の部分は、図２１に示したように正弦半波であり、図中の点線に関して対称となっている。図２２は、図２１の衝撃応答スペクトル（Ｓｈｏｃｋ Ｒｅｓｏｎｓｅ Ｓｐｅｃｔｒｕｍ）を示している。図２２に示されるように、シャルピー試験機を利用した衝撃試験によって得られる衝撃波応答スペクトルの傾きは、６ｄＢ／Ｏｃｔ程度である。

しかし、火薬の爆発によって電子機器に与えられる衝撃は、シャルピー試験機を用いて与えられる衝撃とは異なり、火薬の爆発によって電子機器が受ける衝撃は正弦半波ではなく、より周波数の小さい成分が大きい。即ち、低周波数領域において、図２２に示される衝撃波応答スペクトルよりも大きい傾きを持つ衝撃波応答スペクトルが、ロケットや人口衛星等に搭載された電子機器の衝撃試験に適している。従って、低周波数領域において、より大きな傾きを持つ衝撃波応答スペクトルが得られる衝撃試験機が望まれる。

また、図２０の方法による衝撃試験機では、衝撃加速度は１５０Ｇから１５００Ｇと印加可能な衝撃力の範囲が小さく、衝撃印加方法の応用性が無い。さらに、操作を振り子の側近で行うために、操作者が危険にさらされる。

そこで、本発明の目的は、楽に正弦半波以外の衝撃を印加することができ、低周波数領域においてより大きい傾き持つ衝撃波応答スペクトルが得られ、印加可能な衝撃力の範囲が大きく、衝撃印加方法に応用性があり多種多様な衝撃を与えることができる衝撃試験機を提供することである。

本発明によると、供試品が固定される衝撃台と、前記衝撃台を吊るす手段と、該衝撃台の水平方向一方側に設けられ、衝撃台に打撃を与えるエアシリンダ式打撃装置と、前記衝撃台の水平方向他方側に設けられ、衝撃台に打撃が与えられた時に、衝撃台が衝突するストッパと、を備え、前記エアシリンダ式打撃装置は、前記手段に吊るされた前記衝撃台に対し、該衝撃台の前記水平方向一方側から前記水平方向他方側に向けて打撃を与え、これにより、該衝撃台が、前記ストッパに衝突するようになっている、ことを特徴とする衝撃試験機が提供される。

この構成によると、エアシリンダ式打撃装置により打撃を受けた衝撃台がストッパに衝突することで、正弦半波以外の衝撃を供試品に与えることができ、低周波数領域において傾きが６ｄＢ／Ｏｃｔよりも大きい衝撃波形のスペクトルを得ることが可能となる。

本発明の好ましい実施形態によると、前記ストッパは取り外し可能である。この構成によると、ストッパの有無により簡単に衝撃波形を変えることができる。

本発明の好ましい実施形態によると、前記衝撃台またはストッパには拘束物が取り付けられており、衝撃台に打撃が与えられた時に、衝撃台は前記拘束物を介してストッパに衝突することにより、拘束物は供試品に与える衝撃波形に影響を及ぼす。

本発明の好ましい実施形態によると、前記衝撃台またはエアシリンダ式打撃装置には当て物が取り付けられており、エアシリンダ式打撃装置は前記当て物を介して衝撃台に打撃を与えることにより、当て物は供試品に与える衝撃波形に影響を及ぼす。

本発明の好ましい実施形態によると、前記衝撃台またはエアシリンダ式打撃装置には当て物が取り付けられており、エアシリンダ式打撃装置は前記当て物を介して衝撃台に打撃を与え、前記衝撃台またはストッパには拘束物が取り付けられており、衝撃台に打撃が与えられた時に、衝撃台は前記拘束物を介してストッパに衝突し、前記拘束物と当て物は、供試品に所望の衝撃を与えることができるように、その厚さ及び種類を変更することができる。

この構成により、拘束物と当て物の厚さ及び種類を変更することで、所望の衝撃波形を得ることができる。

前記エアシリンダ式打撃装置は、エア供給源からエアシリンダ式打撃装置への圧縮空気の供給をその開閉により制御する電磁弁と、操作者が操作することにより電磁弁に動作信号を送り電磁弁の開閉を制御する操作部と、前記エア供給源から前記電磁弁を介して圧縮空気が送られてくることにより衝撃台に打撃を与える打撃部と、を有することを特徴とする請求項１乃至６のいずれかに記載の衝撃試験機。

この構成により、エアシリンダ式打撃装置から離れた位置に配置される操作部を操作するだけで衝撃試験を行えるので、操作者が危険にさらされない。

また、本発明によると、衝撃台を吊るすステップと、該衝撃台に供試品を固定するステップと、エアシリンダ式打撃装置を衝撃台の水平方向一方側に配置するステップと、ストッパを衝撃台の水平方向他方側に配置するステップと、前記エアシリンダ式打撃装置により、吊るされた前記衝撃台に対し、該衝撃台の前記水平方向一方側から前記水平方向他方側に向けて打撃を与え、これにより、該衝撃台を、前記ストッパに衝突させて供試品に衝撃を与えるステップと、を有することを特徴とする衝撃試験方法が提供される。

この衝撃試験方法によると、エアシリンダ式打撃装置により打撃を受けた衝撃台がストッパに衝突することで、正弦半波以外の衝撃を供試品に与えることができ、低周波数領域において傾きが６ｄＢよりも大きい衝撃波形のスペクトルを得ることが可能になる。

本発明の好ましい実施形態によると、前記衝撃試験方法は、前記衝撃台またはエアシリンダ式打撃装置に当て物を取り付けるステップと、前記衝撃台またはストッパに拘束物を取り付けるステップと、をさらに有し、エアシリンダ式打撃装置は前記当て物を介して衝撃台に打撃を与え、衝撃台に打撃が与えられた時に、衝撃台は前記拘束物を介してストッパに衝突し、前記拘束物と当て物の厚さ及び種類が、供試品に所望の衝撃を与えることができるように決定される。

これにより、拘束物と当て物の厚さ及び種類を変更することで、所望の衝撃波形を得ることができる。

本発明によると、当て物の種類、拘束物の種類及びストッパ有無により様々な衝撃を供試品に与えることができる。特に、ストッパを用いることで、正弦半波以外の衝撃を供試品に与えることができ、低周波数領域のスペクトルの傾きを大きくすることができる。従って、宇宙空間で使用される電子機器が火薬の爆発による衝撃により適した衝撃応答スペクトルを得ることができる。また、エアシリンダ式打撃装置の空気圧を調整することで、衝撃力を１００Ｇから３０００Ｇにすることができる。

以下本発明の好ましい実施形態を添付の図面を参照して説明する。
図１は、本発明の実施形態による衝撃試験機１０を示している。図１の衝撃試験機１０は、供試品１が固定される衝撃台２と、衝撃台２の一方の側に設けられ衝撃台２に衝撃を与えるエアシリンダ式打撃装置４と、衝撃台２の他方の側に設けられるストッパ６とを備える。図１に示されるように衝撃台２にはロープ７が接続されており、このロープ７がフック８に掛けられて衝撃台２が吊るされる。なお、衝撃台２を吊るすためにロープ７とフック８以外の他の適切な手段を用いてもよい。衝撃台２には、エアシリンダ式打撃装置４からの衝撃を受ける当て物１１が取り付けられる。この当て物１１は、例えばゴムや銅や鉛であり、後述するようにこの当て物１１を変えることで、衝撃波形を変化させることができる。上述では、当て物１１を衝撃台２に取り付ける場合を説明したが、当て物１１はエアシリンダ式打撃装置４に取り付けられてもよい。この場合には、エアシリンダ式打撃装置４は、当て物１１を介して衝撃台２に打撃を与える。

図１に示されるように、ストッパ６には、エアシリンダ式打撃装置４により衝撃台２に衝撃が与えられた時に、衝撃台２が衝突する被衝突部である拘束物１８が設けられている。衝撃台２が、ストッパ６の拘束物１８に衝突することで、衝撃台２の図中左側方向の運動が拘束、制限される。この拘束物１８は、例えばゴムであってよいが、これに限定されない。後述するように、拘束物１８の厚さを変化させることで衝撃応答スペクトルを変化させることができる。上述では、拘束物１８をストッパ６に取り付ける場合を説明したが、拘束物１８は衝撃台２に取り付けられてもよい。この場合には、衝撃台２に打撃が与えられた時に、衝撃台２は拘束物１８を介してストッパ６に衝突する。

ストッパ６は、衝撃台２が衝突した時に、動かないように固定しておくことが好ましいが、衝突時に多少は動くようにしておいてもよい。さらに、ストッパ６は取り外し可能である。後述するようにストッパ６がある場合には、供試品１に与える衝撃波形は正弦半波以外の波形となり、ストッパ６が無い場合には、供試品１に与える衝撃波形は正弦半波となる。

エアシリンダ式打撃装置４は、図１に示されるように安定させるためにエアシリンダ式打撃装置取付壁に固定されている。
エアシリンダ式打撃装置４には、アキュームレータ（補助タンク）１２と電磁弁１３を介してエア供給源１４から圧縮空気が供給される。アキュームレータ１２は、エア供給源１４から送られてきた空気を圧縮し、電磁弁１３は、開閉動作によりアキュームレータ１２から送られてくる圧縮空気のエアシリンダ式打撃装置４への供給を制御する。また、電磁弁１３の開閉を制御する操作部１５が設けられる。操作者が操作部１５を操作することにより、操作部１５から電磁弁１３に動作信号が送られて電磁弁１３の開閉が制御される。

電磁弁１３を開くことでエアシリンダ式打撃装置４に圧縮空気が供給されて、エアシリンダ式打撃装置４の打撃部１６が図中の矢印方向に移動して衝撃台２の当て物１１に衝突して供試品１に衝撃を与える。
本実施形態で用いられるエアシリンダ式打撃装置４は、一例であるので、本発明の衝撃試験機１０に適切などのような公知のエアシリンダ式打撃装置４を用いてもよい。

次に、上述した本発明の実施形態による衝撃試験機１０の動作について説明する。
まず、試験対象である電子機器などの供試品１を衝撃台２の上に適切な固定具により固定し、エア供給源１４から供給される空気をアキュームレータ１２により所望の圧力に圧縮する。次に、操作者が操作部１５を操作することにより、動作信号が電磁弁１３に送られて電磁弁１３が開けられる。電磁弁１３が開くと、圧縮空気がアキュームレータ１２からエアシリンダ式打撃装置４へ供給されエアシリンダ式打撃装置４の打撃部１６が図１の矢印方向に高速で移動する。これにより、エアシリンダ式打撃装置４の打撃部１６は、衝撃台２に設けられた当て物１１を介して図１の右側から衝撃台２に衝撃を与える。従って、ストッパ６を用いた場合には、衝撃台２は、ストッパ６の拘束物１８に衝突するので、図２０の衝撃印加方法と異なり衝撃台２は飛ばされない。なお、ストッパ６は固定されていてよく、衝撃台２が衝突した時に動かないようになっている。

即ち、衝撃台２はエアシリンダ式打撃装置４の打撃部１６により図１の右側から衝撃を受け、その直後に図１の衝撃台２の左側に設けられたストッパ６に衝突することで、図１の左側からも衝撃を受ける。このため、衝撃台２の上に固定された供試品１が受ける衝撃は、正弦半波ではなく図２のような波形を持つ衝撃を受けることになる。即ち、図２の衝撃波形において、最初の山（衝撃波）の後に、符号が逆の山（衝撃波）が発生し正弦波と異なる波形が得られる。

図２の衝撃波形の衝撃応答スペクトルは図３の実線で示される。図３の実線で示されるように、本発明の実施形態による衝撃試験機１０においてストッパ６を使用して衝撃試験を行うと、低周波領域で８ｄＢと大きい傾きを持つスペクトルを得ることが可能になる。なお、図３の破線は、対比のために図のシャルピー衝撃試験機１０を用いた場合のスペクトルを示している。

図４から図８は、本発明の実施形態による衝撃試験機１０において、当て物１１、拘束物１８及び打撃力を変化させて衝撃試験の実験を行って得られ波形のスペクトルを示している。図４から図８は、いずれも拘束物１８としてゴムを使用して得られた実験結果であるが、図４から図８は、それぞれ拘束物１８であるゴムの厚さを１ｍｍ、３ｍｍ、６ｍｍ、９ｍｍ、１２ｍｍとして実験を行った結果である。また、各図においてＧ１，Ｇ２，Ｇ３は、それぞれ衝撃台２の異なる位置において、シリンダ式打撃装置から受けた衝撃のスペクトルを示している。また、各図において、大きい方の長方形内の傾きの値は得られた傾きの大まかな平均値である。

図４から図８の各図において、（Ａ）、（Ｂ）は、衝撃台２に与える打撃力を１ｋｇ／ｃｍ^２とした結果であり、（Ｃ）、（Ｄ）は、衝撃台２に与える打撃力を２．５ｋｇ／ｃｍ^２とした結果であり、（Ｅ），（Ｆ）は衝撃台２に与える打撃力を５ｋｇ／ｃｍ^２とした結果である。また、図４から図８の各図において、（Ａ）、（Ｃ）、（Ｅ）は、当て物１１として厚さ３ｍｍのゴムを用いた場合の結果であり、（Ｂ），（Ｄ），（Ｆ）は、当て物１１として厚さ３ｍｍの銅板を用いた場合の実験結果である。

図４から図８の結果により、打撃力を変化させることで図９のスペクトルの点Ａの位置を上下に変化させることができ、特に拘束物１８ゴムの厚さが１ｍｍと３ｍｍの場合には、当て物１１をゴムから銅板に変えることでスペクトルの傾きを大きくすることができる。このように、打撃力と当て物１１を変えることで、供試品１に与える衝撃を変化させることができ、ロケットに搭載される電子機器の衝撃試験に必要とされる低周波数領域において傾きの大きいスペクトルを持つ衝撃を得ることができる。特に図４には、低周波数領域において傾きが１０ｄＢ／Ｏｃｔのスペクトルが得られた。

また、本発明の実施形態による衝撃試験機１０では、ストッパ６を取り外すことができ、図１の衝撃試験機１０においてストッパ６のみを取り除いた状態で、供試品１に衝撃試験を行うことができる。ストッパ６を用いないで、図１の衝撃試験機１０により衝撃台２に与えた衝撃は正弦半波になる。

図１０から図１５は、ストッパ６を取り外した図１の衝撃試験機１０が供試品１に与えた衝撃のスペクトルを示している。各図においてＧ１，Ｇ２，Ｇ３は、それぞれ衝撃台２の異なる位置において、シリンダ式打撃装置から受けた衝撃のスペクトルを示している。各図において、低周波数領域におけるスペクトルの傾きは、６ｄＢ／Ｏｃｔ程度である。図１０から図１５は、それぞれ当て物１１として厚さ１ｍｍの銅板、厚さ３ｍｍの銅板、厚さ１ｍｍのゴム、厚さ３ｍｍのゴム、厚さ１ｍｍの鉛、厚さ３ｍｍの鉛を用いた場合の結果を示している。図１０から図１５の各図において、（Ａ），（Ｂ），（Ｃ），（Ｄ），（Ｅ）はそれぞれ、シリンダ式打撃装置が衝撃台２に与える打撃力を１ｋｇ／ｃｍ^２、１．５ｋｇ／ｃｍ^２、２．５ｋｇ／ｃｍ^２、５ｋｇ／ｃｍ^２、７．５ｋｇ／ｃｍ^２とした場合の結果を示している。

図１０から図１５のすべてにおいて、衝撃レベルは圧力と当て物の組み合わせに対して相関があり安定していることが分かる。
当て物１１として厚さ１ｍｍの銅板を用いた場合は、図１０に示されるように、包絡周波数は１０００Ｈｚ近辺になる。包絡周波数の位置は、図９の点Ａで示される。なお、同じ厚さのアルミ板に変えることで衝撃レベルを維持して包絡周波数を上げることができる。

当て物１１として厚さ３ｍｍの銅板を用いた場合は、図１１に示されるように、包絡周波数は１０００Ｈｚ近辺になる。当て物１１が厚さ３ｍｍの銅板の場合には、厚さ１ｍｍの銅板に比べて高周波成分が入り過ぎないので波形が綺麗になる。なお、同じ厚さのアルミ板に変えることで衝撃レベルを維持して包絡周波数を上げることができる。

当て物１１として厚さ１ｍｍのゴム及び厚さ３ｍｍのゴムを用いた場合は、図１２及び図１３に示されるように、包絡周波数はそれぞれ８００Ｈｚ及び４００Ｈｚ近辺になる。当て物１１を厚さ１ｍｍの鉛板及び厚さ３ｍｍの鉛板を用いた場合には、図１４及び図１５に示されるように、包絡周波数はそれぞれ９００Ｈｚ及び６００Ｈｚ近辺となり、ゴム板に比べて若干衝撃レベルが高くなる傾向がある。

図１６、図１７及び図１８は、図１の衝撃試験機１０においてストッパ６を用いて供試品１を衝撃台２に固定して衝撃試験を行って得られた具体的なデータを示している。図１６、図１７及び図１８は、それぞれ一つの衝撃試験における衝撃台の異なる位置Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３における衝撃波形を示している。図１６から図１８の各々において、（Ａ）は、横軸を周波数（Ｈｚ）とし縦軸を衝撃（Ｇ）とした衝撃のスペクトルを示し、（Ｂ）は、横軸を時間（ｓｅｃ）とし縦軸を衝撃（Ｇ）とした（Ａ）に対応する衝撃波を示している。即ち、各図において、（Ａ）は（Ｂ）の波形のスペクトルを示している。図１６（Ａ）、１７（Ａ）、１８（Ａ）のそれぞれのスペクトルの低周波数領域における傾きは９ｄＢ／Ｏｃｔである。なお、図１６から図１８において、衝撃波形を測定するセンサの向きの関係上、図２と衝撃波形の正負が逆になっている。

このように、本発明の実施形態の衝撃試験機１０によると、当て物１１の種類、拘束物１８の種類及びストッパ６の有無により様々な衝撃を供試品１に与えることができる。特に、ストッパ６を用いることで、正弦半波以外の衝撃を供試品１に与えることができ、低周波数領域のスペクトルの傾きを大きくすることができる。また、エアシリンダ式打撃装置４の空気圧を調整することで、衝撃力を１００Ｇから３０００Ｇにすることができる。

なお、本発明は上述した実施の形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変更を加え得ることは勿論である。

本発明の実施形態による衝撃試験機を示す図である。 図１の衝撃試験機が衝撃台及び供試品に与える衝撃波形を示す図である。 図２の衝撃波形の衝撃応答スペクトルを示す図である。 ストッパの拘束物を厚さ１ｍｍのゴムとして、打撃力及び当て物を変化させて図１の衝撃試験機が、衝撃台に与えた衝撃波の衝撃応答スペクトルを示す図である。 ストッパの拘束物を厚さ３ｍｍのゴムとして、打撃力及び当て物を変化させて図１の衝撃試験機が、衝撃台に与えた衝撃波の衝撃応答スペクトルを示す図である。 ストッパの拘束物を厚さ６ｍｍのゴムとして、打撃力及び当て物を変化させて図１の衝撃試験機が、衝撃台に与えた衝撃波の衝撃応答スペクトルを示す図である。 ストッパの拘束物を厚さ９ｍｍのゴムとして、打撃力及び当て物を変化させて図１の衝撃試験機が、衝撃台に与えた衝撃波の衝撃応答スペクトルを示す図である。 ストッパの拘束物を厚さ１２ｍｍのゴムとして、打撃力及び当て物を変化させて図１の衝撃試験機が、衝撃台に与えた衝撃波の衝撃応答スペクトルを示す図である。 衝撃応答スペクトルを模式的に示した図である。 当て物を厚さ１ｍｍの銅板として、打撃力を変化させてストッパを用いないで図１の衝撃試験機が衝撃台に与えた衝撃波形の衝撃応答スペクトルを示す図である。 当て物を厚さ３ｍｍの銅板として、打撃力を変化させてストッパを用いないで図１の衝撃試験機が衝撃台に与えた衝撃波形の衝撃応答スペクトルを示す図である。 当て物を厚さ１ｍｍのゴムとして、打撃力を変化させてストッパを用いないで図１の衝撃試験機が衝撃台に与えた衝撃波形の衝撃応答スペクトルを示す図である。 当て物を厚さ３ｍｍのゴムとして、打撃力を変化させてストッパを用いないで図１の衝撃試験機が衝撃台に与えた衝撃波形の衝撃応答スペクトルを示す図である。 当て物を厚さ１ｍｍの鉛板として、打撃力を変化させてストッパを用いないで図１の衝撃試験機が衝撃台に与えた衝撃波形の衝撃応答スペクトルを示す図である。 当て物を厚さ３ｍｍの鉛板として、打撃力を変化させてストッパを用いないで図１の衝撃試験機が衝撃台に与えた衝撃波形の衝撃応答スペクトルを示す図である。 ストッパを用いた図１の衝撃試験機で衝撃試験を行って得られた具体的なデータを示している。 ストッパを用いた図１の衝撃試験機で衝撃試験を行って得られた具体的なデータを示している。 ストッパを用いた図１の衝撃試験機で衝撃試験を行って得られた具体的なデータを示している。 従来の振り子式衝撃試験機を示す図である。 シャルピー試験機を用いて宇宙空間で使用される電子機器に対する衝撃試験の方法を示す図である。 図１０の方法で電子機器に与える衝撃波形を示す図である。 図２１の衝撃波形の衝撃応答ペクトルを示す図である。

符号の説明

１ 供試品
２ 衝撃台
４ エアシリンダ式打撃装置
６ ストッパ
７ ロープ
８ フック
１０ 衝撃試験機
１１ 当て物
１２ アキュームレータ（補助タンク）
１３ 電磁弁
１４ エア供給源
１５ 操作部
１６ 打撃部
１８ 拘束物
２２ 振り子
２３ 回転腕
２４ 供試品固定台
２５ 供試品ホルダ
２６ 緩衝体
３２ 衝撃台
３４ ハンマ

Claims (8)

1. 供試品が固定される衝撃台と、
   前記衝撃台を吊るす手段と、
   該衝撃台の水平方向一方側に設けられ、衝撃台に打撃を与えるエアシリンダ式打撃装置と、
   前記衝撃台の水平方向他方側に設けられ、衝撃台に打撃が与えられた時に、衝撃台が衝突するストッパと、を備え、
   前記エアシリンダ式打撃装置は、前記手段に吊るされた前記衝撃台に対し、該衝撃台の前記水平方向一方側から前記水平方向他方側に向けて打撃を与え、これにより、該衝撃台が、前記ストッパに衝突するようになっている、ことを特徴とする衝撃試験機。
2. 前記ストッパは取り外し可能であることを特徴とする請求項１に記載の衝撃試験機。
3. 前記衝撃台またはストッパには拘束物が取り付けられており、衝撃台に打撃が与えられた時に、衝撃台は前記拘束物を介してストッパに衝突することにより、拘束物は供試品に与える衝撃波形に影響を及ぼすこと特徴とする請求項１に記載の衝撃試験機。
4. 前記衝撃台またはエアシリンダ式打撃装置には当て物が取り付けられており、エアシリンダ式打撃装置は前記当て物を介して衝撃台に打撃を与えることにより、当て物は供試品に与える衝撃波形に影響を及ぼすことを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の衝撃試験機。
5. 前記衝撃台またはエアシリンダ式打撃装置には当て物が取り付けられており、エアシリンダ式打撃装置は前記当て物を介して衝撃台に打撃を与え、
   前記衝撃台またはストッパには拘束物が取り付けられており、衝撃台に打撃が与えられた時に、衝撃台は前記拘束物を介してストッパに衝突し、
   前記拘束物と当て物は、供試品に所望の衝撃を与えることができるように、その厚さ及び種類を変更することができることを特徴とする請求項１または２に記載の衝撃試験機。
6. 前記エアシリンダ式打撃装置は、エア供給源からエアシリンダ式打撃装置への圧縮空気の供給をその開閉により制御する電磁弁と、操作者が操作することにより電磁弁に動作信号を送り電磁弁の開閉を制御する操作部と、前記エア供給源から前記電磁弁を介して圧縮空気が送られてくることにより衝撃台に打撃を与える打撃部と、を有することを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の衝撃試験機。
7. 衝撃台を吊るすステップと、
   該衝撃台に供試品を固定するステップと、
   エアシリンダ式打撃装置を衝撃台の水平方向一方側に配置するステップと、
   ストッパを衝撃台の水平方向他方側に配置するステップと、
   前記エアシリンダ式打撃装置により、吊るされた前記衝撃台に対し、該衝撃台の前記水平方向一方側から前記水平方向他方側に向けて打撃を与え、これにより、該衝撃台を、前記ストッパに衝突させて供試品に衝撃を与えるステップと、を有することを特徴とする衝撃試験方法。
8. 前記衝撃台またはエアシリンダ式打撃装置に当て物を取り付けるステップと、
   前記衝撃台またはストッパに拘束物を取り付けるステップと、をさらに有し、
   エアシリンダ式打撃装置は前記当て物を介して衝撃台に打撃を与え、衝撃台に打撃が与えられた時に、衝撃台は前記拘束物を介してストッパに衝突し、
   前記拘束物と当て物の厚さ及び種類が、供試品に所望の衝撃を与えることができるように決定されること特徴とする請求項７に記載の衝撃試験方法。