JP4437821B2 - 情報処理装置の再起動試験方法、情報処理装置 - Google Patents

Description

本発明は、ＢＩＯＳ（Ｂａｓｉｃ Ｉｎｐｕｔ／Ｏｕｔｐｕｔ Ｓｙｓｔｅｍ）に基づいてブートデバイスを検索し、該ブートデバイスのうち初期プログラムロード（ＩＰＬ：Ｉｎｉｔｉａｌ Ｐｒｏｇｒａｍ Ｌｏａｄ）用デバイスの当初アクセス領域（ハードディスクドライブであればＭＢＲ（Ｍａｓｔｅｒ Ｂｏｏｔ Ｒｅｃｏｒｄ））に格納されたプログラムを実行することによりオペレーションシステム（ＯＳ：Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ）を起動させる情報処理装置の再起動試験方法に関する。

情報処理装置、例えばＰＯＳ端末を製造して試験する過程において、再起動（リブート）試験を行うことがある。この再起動試験は、ＰＯＳ端末の電源を入れて立ち上げ、ＢＩＯＳ（Ｂａｓｉｃ Ｉｎｐｕｔ／Ｏｕｔｐｕｔ Ｓｙｓｔｅｍ）がブートデバイスから初期プログラムロード用デバイスとしてハードディスクを認識してマスターブートレコード（ＭＢＲ：Ｍａｓｔｅｒ Ｂｏｏｔ Ｒｅｃｏｒｄ）を情報処理装置のメモリ上にロードし、オペレーションシステムのロード完了後情報処理装置を終了させ、一連の処理が正常に行われるかを確認するものである。

前記マスターブートレコードは、情報処理装置の起動時に最初に読み込まれるハードディスクドライブの先頭のセクタに格納され、ハードディスク内に収められたどのＯＳをどのように起動するか等の情報が記録されている。

情報処理装置を起動するとＢＩＯＳの制御により、まずマスターブートレコードが読み込まれ、ブートローダ（ブートセクタ）と称されるプログラムが動作する。ブートローダはパーティション（ハードディスク内の領域）の位置や大きさなどを記録したパーティションテーブルを読み込み、起動するパーティションのブートセクタの領域を読み込む。ブートセクタに置かれたプログラムは、そのパーティションに置かれたＯＳを起動する。マスターブートレコードの情報が破壊されてしまうと、情報処理装置は起動不能となってしまう。

上述した再起動を行うことにより、ＢＩＯＳとハードディスクドライブの試験を同時に実行することができる他、再起動試験では、情報処理装置のすべての部材が動作することから、再起動試験を繰り返し行うことにより耐久試験を兼ねることができる。従って再起動試験を必要回数行って情報処理装置に異常がないことを確認することにより、製造された情報処理装置に問題がないことを確認することができる。

図８は再起動試験方法の対象となる情報処理装置の概略構成を示すブロック図である。情報処理装置１０は、ＣＰＵ等を備えた制御部１１と、画像を表示するディスプレイ装置からなる表示部１２と、キーボード等からなるデータ入力部１３と、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）等からなるデータ格納部１４とを備え、各部がバス１５を介して接続されており、互いに通信を行う。このような情報処理装置１０において、再起動試験は、一般的に以下の手順で実行される。

図９は、従来の情報処理装置の再起動試験を示すフローチャートである。まず電源がＯＮ状態とされる（ステップＳＴ１）と、ＢＩＯＳはメモリやキーボードのチェックを行うＰＯＳＴ（Ｐｏｗｅｒ ＯＮ Ｓｅｌｆ Ｔｅｓｔ）を実行する（ステップＳＴ２）。

次いで、ＢＩＯＳ内の設定内容に従ってブートデバイスを検索し（ステップＳＴ３）、ブートデバイスがハードディスクドライブであるときにはハードディスクドライブの先頭セクタに存在するＭＢＲ（マスターブートレコード）を所定バイト数（５１２バイト）だけメモリにロードする（ステップＳＴ４）。そして、ＢＩＯＳはロードしたデータの先頭バイトから処理を実行し、ＭＢＲのデータに従って処理を実行する（ステップＳＴ５）。このような再起動試験を必要な回数行う。

情報処理装置の試験を行うに際して、ＯＳを起動するものについては以下のものがある。特許文献１には、ＯＳデバッガを使用したコンピュータシステムのＯＳ自動テスト方式において、前記ＯＳデバッガが処理するコマンドを含む入力データと前記ＯＳデバッガの処理結果データとを保持する不揮発性メモリを備え、ＯＳデバッガによるＯＳのテストが自動化するものが記載されている。

特開平１１−２５９３３８号公報

このような再起動試験を行う情報処理装置として、例えばＰＯＳ端末がある。従来、このようなＰＯＳ端末の再起動試験において、電源をオン状態としてからＯＳのロードを行って試験を行っていた。このため、必要回数の再起動試験を行うには所定の時間がかかっていた。近年ＯＳが巨大化し、ＯＳのロードに長時間を要するものとなり、これに伴い１回のリブート処理に更に長い時間がかかるようになり、上述した再起動試験にも長時間かかり、このように再起動試験に時間がかかると製造コストが上昇することとなる。

また、上述のように再起動試験を行って情報処理装置にＯＳをロードすると、自動的にＯＳ内の設定が変化したり、何らかのログが残ってしまったりすることから、できるだけＯＳをロードしない状態でＯＳをロードした場合と略同様の再起動試験ができることが要望されている。

このように、ＯＳをロードしないで再起動させるため、ＯＳのロード前に人為的に装置の電源を切断することも考えられるが、電源を切断するという作業者の手間をかけると試験コストが嵩んでしまう他、装置における強制的な電源の切断は、その切断タイミングが適正でないと、ＯＳロード中のデータ更新時に異常が発生するおそれがあるためなるべく避けなければならない。

そこで本発明は、短時間で試験を行うことができる情報処理装置の再起動試験方法及び情報処理装置を提供することを目的とする。

本発明において上記の課題を解決するための手段は、情報処理装置の再起動試験方法に係り、ＢＩＯＳに基づいてブートデバイスを検索し、該ブートデバイスの当初アクセス領域に格納されたブートプログラムに基づいてオペレーションシステムを実行して起動する情報処理装置の起動試験方法において、前記ＢＩＯＳに基づいて検索された前記ブートデバイスの前記当初アクセス領域に書き込まれている前記オペレーションシステムを起動させる前記ブートプログラムを前記ＢＩＯＳで設定した待避用格納領域に格納する第１の工程と、前記第１の工程の後に、前記ＢＩＯＳで設定した試験用ブートプログラム格納領域に格納されている、前記オペレーションシステムを起動することなく前記ブートデバイスを認識して前記情報処理装置を起動する試験用ブートプログラムを前記ブートデバイスの前記当初アクセス領域に格納する第２の工程と、前記第２の工程の後に、前記試験用ブートプログラムを実行して前記情報処理装置を起動する試験を実行する第３の工程と、前記第３の工程の後に、前記待避用格納領域に格納したオペレーションシステム起動用ブートプログラムを前記当初アクセス領域に格納する第４の工程と、を実行するものである。

また、本発明の他の手段は、情報処理装置に係り、ブートデバイスの当初アクセス領域に、オペレーションシステムと、オペレーションシステムの起動を行うブートプログラムとを備え、起動に際して前記ブートプログラムを実行することにより起動する情報処理装置において、ＢＩＯＳにより指定された個所に設定され、前記オペレーションシステムの起動を伴わずに前記ブートデバイスへの移行状態を試験する試験用ブートプログラムを格納した試験用ブートプログラム格納領域と、前記ＢＩＯＳにより指定された個所に設定され、前記オペレーションシステムの起動を行う前記ブートプログラムを一時的に待避させる待避領域と、再起動試験に際して、前記オペレーションシステムを起動させる前記ブートプログラムを待避用格納領域に格納し、前記試験用ブートプログラムを前記ブートデバイスの当初アクセス領域に格納し、前記試験用ブートプログラムに基づく起動を行い、その後、前記待避用格納領域に格納した前記オペレーションシステム起動用ブートプログラムを前記当初アクセス領域に格納する制御手段と、を備えたものである。

本発明によれば、ＯＳを起動させることなく再起動試験を行うことができるから、試験時間を短縮することができると共に試験コストを低減することができる。また、簡単な設定変更でいつでも試験を行うことができるので製造工程以外の場所でハードディスクドライブを交換した場合などでも簡単に再起動試験を行うことができる。

以下本発明に係る情報処理装置の再起動試験方法について図１乃至図７に基づいて説明する。まず試験対象となるＰＯＳ端末の構成について説明する。

図１は実施の形態に係る再起動試験方法の試験対象となるＰＯＳ端末を示す斜視図である。ＰＯＳ端末１００は、ドロワ１１０の上に載置されており、ドロワ１１０の引出の開放動作を制御することができる。

ＰＯＳ端末１００の上面にはキーボード１０５とオペレータ用表示器１０７とが配列され、上面左側にはレシートプリンタ１０９が配列されている。ＰＯＳ端末１００の上面後方には、客用表示器１０８が立設されている。また、ＰＯＳ端末１００には、カードリーダライタ１１１が設けられている。更に、ＰＯＳ端末１００には、各種情報の入力を行うテンキー等を備えたキーボード１０５及びポインティングデバイス１０６を備えている。

ＰＯＳ端末１００は、ストレージデバイスとして、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）１０４、ＣＤ−ＲＯＭ１１２ａを収納するＣＤ−ＲＯＭドライブ１１２を備えている（図２参照）。

図２は、実施の形態例に係る再起動試験方法の対象となるＰＯＳ端末の概略構成を示すブロック図である。ＰＯＳ端末１００は、各種演算処理を実行し各部を制御するＣＰＵ１０１を備えている。このようなＣＰＵ１０１には、ＢＩＯＳ等を記憶保存するＲＯＭ１０２と、可変データを書き換え自在に記憶してワークエリアとして使用されるＲＡＭ１０３とがバスライン１１４を介して接続されている。また、ＨＤＤ１０４、ＣＤ−ＲＯＭドライブ１１２もバスライン１１４を介してＣＰＵ１０１に接続されている。また、ドロワ１１０、キーボード１０５、オペレータ用表示器１０７、客用表示器１０８、レシートプリンタ１０９、カードリーダライタ１１１、ポインティングデバイス１０６が、いずれも各種の入出力回路（すべて図示せず）とバスライン１１４とを介してＣＰＵ１０１に接続され、ＣＰＵ１０１によって動作制御される。更に、ＰＯＳ端末１００は、当該ＰＯＳ端末１００が設置される店舗に設けられる構内回線網（図示せず）等に接続するための通信インターフェース１１３を備えており、この通信インターフェース１１３も、バスライン１１４を介してＣＰＵ１０１に接続されている。

図３はハードディスクドライブのプログラム領域の構成を示す模式図である。ＨＤＤ１０４は、ブートデバイスであるＨＤＤ１０４の当初アクセス領域であるＭＢＲ領域１０４ａ、ブートセクタ（ブートローダ）を格納したブートセクタ領域１０４ｂ、オペレーティングシステムを格納したＯＳ領域１０４ｃ、商品販売データ処理用プログラムが格納されたプログラム領域１０４ｄが設定されている。

ＭＢＲ領域１０４ａには、当初オペレーションシステムのロードを伴う通常動作用のブートプログラムが格納されている。商品販売データ処理プログラムは、ＰＯＳ端末１０１の起動時、その全部又は一部がＲＡＭ１０３にコピーされる。ＣＰＵ１０１は、オペレーションシステムの動作下において、ＲＡＭ１０３にコピーされた商品販売データ処理プログラムに従い、ＰＯＳ端末１０１による商品販売データ処理の実行を支援する。

図４はＲＯＭ１０２が格納するＢＩＯＳの構成を示す模式図である。本例では、ＲＯＭ１０２に格納されたＢＩＯＳ２０１は、リブート試験に使用する試験用ブートプログラムを格納する試験用ブートプログラム格納領域３０１と、リブート試験に先立って前記ＨＤＤ１０４のＭＢＲ領域１０４ａに格納されていた通常動作用のブートプログラムを待避させるブートプログラム待避領域３０２とを備える他、リブート試験中における動作を指定するリブート試験準備フラグ３０４、リブート試験終了フラグ３０５が設定されている。

そして、ＢＩＯＳ２０１は、通常の処理を行う他、再起動試験を行うため以下の処理を行うよう構成されている。即ち、再起動試験実行の指示（リブート試験準備フラグ３０４をオン状態とする）により、ＢＩＯＳ２０１は、ＰＯＳ端末１００の再起動試験の開始時、まずＨＤＤ１０４のＭＢＲ領域１０４ａに格納された通常動作用のブートプログラム（ＯＳを起動する）を前記ブートプログラム待避領域３０２に待避させる。次いで、ＢＩＯＳ２０１は、前記試験用ブートプログラム格納領域３０１に格納された試験用ブートプログラムをＨＤＤ１０４のＭＢＲ領域１０４ａに格納する。この試験用ブートプログラムは、予め作成され、試験用ブートプログラム格納領域３０１に格納されていたものであり、オペレーションシステムを起動することなくＨＤＤ１０４にアクセスして情報処理装置を再起動する。そして、再起動試験停止の指示（リブート試験終了フラグ３０５をオン状態とする）があるまでＨＤＤ１０４のＭＢＲ領域１０４ａに格納された試験用ブートプログラムを実行して再起動試験を行う。このときＯＳはロードすることなく再起動が実行される。そして、再起動試験停止の指示により再起動試験を停止し、前記ブートプログラム待避領域３０２に待避していた通常動作用のブートプログラム（ＯＳを起動する）を再びＨＤＤ１０４のＭＢＲ領域１０４ａに書き戻し、ＨＤＤ１０４のＭＢＲ領域１０４ａを当初の状態に戻す。

本例では、ＰＯＳ端末１００は、このようなＢＩＯＳ２０１をＲＯＭ１０２に設定しておき、以下の手順で再起動試験を行う。以下本発明に係る情報処理装置の再起動方法について詳細に説明する。

図５は実施の形態例に係る再起動試験方法の手順を示すフローチャート、図６は実施の形態例に係る再起動試験方法における各領域のプログラム格納状態を示す模式図、図７は実施の形態例に係る再起動方法におけるＢＩＯＳセットアップメニューを示す模式図である。

まずＰＯＳ端末１００の電源をＯＮ状態にすると（ステップＳＴ１１）、ＢＩＯＳ２０１はメモリやキーボードのチェックを行うＰＯＳＴ（Ｐｏｗｅｒ ＯＮ Ｓｅｌｆ Ｔｅｓｔ）を実行する（ステップＳＴ１２）。次いで、ＢＩＯＳ内の設定内容に従ってブートデバイスの検索を行う（ステップＳＴ１３）。ここまでは上述した従来の再起動の手順と同一の手順と同一である。

次いで、この状態で、ユーザが起動試験を開始するため所定のキーを押下すると、ＢＩＯＳ設定メニューに入る。

このＢＩＯＳ設定メニューには、図７に示すように、オペレータ用表示器１０７の表示画面４００に、通常の設定項目の他、本発明に係る再起動試験を開始させる「Ｒｅｂｏｏｔ Ｔｅｓｔ Ｓｔａｒｔ」の設定項目４０１、及び再起動試験を終了させる「Ｒｅｂｏｏｔ Ｔｅｓｔ Ｅｎｄ」の設定項目４０２が表示され、それぞれの設定項目４０１、４０２の「ＯＮ」・「ＯＦＦ」を指定できる。これらの指定により、リブート試験準備フラグ３０４及びリブート試験終了フラグ３０５のフラグを「ＯＮ」・「ＯＦＦ」に設定することができる。

ＰＯＳ端末１００の再起動試験を行うときには、この表示画面４００上で、「Ｒｅｂｏｏｔ Ｔｅｓｔ Ｓｔａｒｔ」の項目４０１を「ＯＮ」に設定する。これにより、ＢＩＯＳは自身のリブート試験準備フラグ３０４にフラグを立てる。この設定によりＢＩＯＳ設定画面は終了する。

ＢＩＯＳ設定メニューが終了すると、ＢＩＯＳ２０１はブートデバイスを検索した後、ＢＩＯＳ２０１内のリブート試験準備フラグ３０４が立っているかを判定し（ステップＳＴ１４）、リブート試験準備フラグ３０４が立っていると、通常動作用のブートプログラムであるＭＢＲデータ（５１２バイト）をＢＩＯＳ２０１内のブートプログラム待避領域３０２に待避させる（ステップＳＴ１５、図６（ａ））。この待避した通常動作用のブートプログラムは、後述するステップＳＴ２０においてハードディスクドライブのＭＢＲデータを復元するときに用いる。

そして、ＢＩＯＳ２０１内の試験用ブートプログラム格納領域３０１に格納されている試験用ブートプログラムをハードディスクドライブ１０４のＭＢＲ領域１０４ａに上書きする（ステップＳＴ１６、図６（ｂ））。次いで、リブート試験準備フラグ３０４を「ＯＦＦ」に設定してＰＯＳ端末１００を再起動させる。これにより再起動試験が始まる。このとき、前記ＢＩＯＳ設定メニューの「Ｒｅｂｏｏｔ Ｔｅｓｔ Ｓｔａｒｔ」の設定項目４０１も連動して「ＯＦＦ」になる。

次いでステップＳＴ１２、ステップＳＴ１３を実行し、リブート試験準備フラグ３０４が「ＯＦＦ」である（準備が完了した）ので（ステップＳＴ１４）、ステップＳＴ１８に進む。ここでは、「リブート試験開始フラグ」は「ＯＦＦ」であるので、ＢＩＯＳがステップＳＴ１６でＭＢＲ領域１０４ａに上書きした試験用ブートプログラムをハードディスクドライブから自動的に呼び出し、ＭＢＲのデータが実行されて、自動的にＰＯＳ端末１００が再起動され、再度ステップＳＴ１２からの処理が実行される。この状態では、ＯＳは立ち上がらない状態でＰＯＳ端末１００は起動し、そのまま設定を変更しない限り情報処理装置の再起動試験が繰り返し実行される。従って本例では、再起動試験に際しては、ＯＳを立ち上げることなくＰＯＳ端末１００の起動を行うので、再起動試験に要する時間を短くすることができる。

再起動試験を終了するときには、ステップＳＴ１３でユーザがキーボードから所定のキーを押下してＢＩＯＳ設定メニューに入り、「Ｒｅｂｏｏｔ Ｔｅｓｔ Ｅｎｄ」の設定項目４０２を「ＯＮ」に設定する。この状態で、リブート試験終了フラグ３０５が「ＯＮ」状態になり、ＢＩＯＳ２０１はステップＳＴ１８でこれを検知し、ＢＩＯＳ２０１内のブートプログラム待避領域３０２に格納した通常動作用のブートプログラムをＨＤＤ１０４のＭＢＲ領域１０４ａに復元させて「Ｒｅｂｏｏｔ Ｔｅｓｔ Ｅｎｄ」を「ＯＦＦ」状態に戻す。これに伴いＢＩＯＳのリブート試験終了フラグ３０５も「ＯＦＦ」状態になる。そして、情報処理装置の電源をオフ状態にすることで一連の再起動試験は終了する（ステップＳＴ２１）。

以上説明したように、本例に係る情報処理装置の再起動試験方法によれば、再起動試験に際してＯＳを立ち上げることなく情報処理装置の再起動試験を行うことができるので、試験時間を短縮することができると共に試験コストを低減することができる。また、簡単な設定変更でいつでも試験を行うことができるので製造工程以外の場所でハードディスクドライブを交換した場合などでも簡単に再起動試験を行うことができる。

尚、上記例では当初アクセス領域が設定されるブートデバイス（ＩＰＬ）としてハードディスクドライブを使用する例について説明したが、ブートデバイスはハードディスクドライブの他、他のドライブ、例えばＣＤ−ＲＯＭ、ＵＳＢフラッシュメモリ等とすることができる。

実施の形態に係る再起動試験方法の試験対象となるＰＯＳ端末を示す斜視図である。 実施の形態例に係る再起動試験方法の対象となるＰＯＳ端末の概略構成を示すブロック図である。 ハードディスクドライブのプログラム領域の構成を示す模式図である。 実施の形態例に係る再起動試験方法におけるＲＯＭの状態を示す模式図である。 実施の形態例に係る再起動試験方法の手順を示すフローチャートである。 実施の形態例に係る再起動試験方法における各領域のプログラム格納状態を示す模式図である。 実施の形態例に係る再起動方法におけるＢＩＯＳセットアップメニューを示す模式図である。 再起動試験方法の対象となる情報処理装置の概略構成を示すブロック図である。 従来の情報処理装置の再起動試験方法を示すフローチャートである。

符号の説明

１００…ＰＯＳ端末、１０４…ハードディスクドライブ、１０４ａ…ＭＢＲ領域、１０４ｂ…ブートセクタ領域、１０４ｃ…ＯＳ領域、１０４ｄ…プログラム領域、３０１…試験用ブートプログラム格納領域、３０２…ブートプログラム待避領域、３０４…リブート試験準備フラグ、３０５…リブート試験終了フラグ

Claims (2)

1. ＢＩＯＳに基づいてブートデバイスを検索し、該ブートデバイスの当初アクセス領域に格納されたブートプログラムに基づいてオペレーションシステムを実行して起動する情報処理装置の再起動試験方法において、
   前記ＢＩＯＳに基づいて検索された前記ブートデバイスの前記当初アクセス領域に書き込まれている前記オペレーションシステムを起動させる前記ブートプログラムを前記ＢＩＯＳで設定した待避用格納領域に格納する第１の工程と、
   前記第１の工程の後に、前記ＢＩＯＳで設定した試験用ブートプログラム格納領域に格納されている、前記オペレーションシステムを起動することなく前記ブートデバイスを認識して前記情報処理装置を起動する試験用ブートプログラムを前記ブートデバイスの前記当初アクセス領域に格納する第２の工程と、
   前記第２の工程の後に、前記試験用ブートプログラムを実行して前記情報処理装置を起動する試験を実行する第３の工程と、
   前記第３の工程の後に、前記待避用格納領域に格納したオペレーションシステム起動用ブートプログラムを前記当初アクセス領域に格納する第４の工程と、
   を実行する、ことを特徴とする情報処理装置の再起動試験方法。
2. ブートデバイスの当初アクセス領域に、オペレーションシステムと、オペレーションシステムの起動を行うブートプログラムとを備え、起動に際して前記ブートプログラムを実行することにより起動する情報処理装置において、
   ＢＩＯＳにより指定された個所に設定され、前記オペレーションシステムの起動を伴わずに前記ブートデバイスへの移行状態を試験する試験用ブートプログラムを格納した試験用ブートプログラム格納領域と、
   前記ＢＩＯＳにより指定された個所に設定され、前記オペレーションシステムの起動を行う前記ブートプログラムを一時的に待避させる待避領域と、
   再起動試験に際して、前記オペレーションシステムを起動させるブートプログラムを前記待避用格納領域に格納し、前記試験用ブートプログラムを前記ブートデバイスの当初アクセス領域に格納し、前記試験用ブートプログラムに基づく起動を行い、その後、前記待避用格納領域に格納した前記オペレーションシステム起動用ブートプログラムを前記当初アクセス領域に格納する制御手段と、
   を備えたことを特徴とする情報処理装置。

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