JP4428783B2 - Method for manufacturing printed wiring board - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、レーザによりスルーホール用通孔をコア基板に形成するプリント配線板の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
高性能が求められるパッケージ基板には、多層ビルドアップ配線板が使用されている。該多層ビルドアップ配線板は、スルーホールを設けたコア基板に、配線を備える層間樹脂絶縁層を1層ずつビルドアップしていくことで形成されている。該コア基板に設けられるスルーホールは、コア基板にドリルで通孔を穿設することにより形成されていた。しかし、ドリルでは、微細なスルーホールを狭ピッチで形成することができず、プリント配線板の高集積化のために要求される性能を満たせなくなりつつある。このため、コア基板にレーザを用いて通孔を穿設することが研究されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、レーザでスルーホールを形成すると、ヒートサイクル等に於いて断線が生じることがあり、信頼性が低かった。この断線の原因を研究したところ、スルーホール内に気泡が混入していることが判明した。
【0004】
気泡の混入する原因を本発明者が更に研究したところ、コア基板を形成する銅張り積層板に、レーザで通孔を穿設した際に、通孔の開口部から内側へ延在する銅箔のバリ部分が残るためであることが判明した。即ち、図16(A)に示すように、銅箔232を積層してなるコア基板230にレーザで通孔233を形成した際に、通孔233の開口部に銅箔232のバリ232bが残る。そして、図16(B)に示すように、スルーホール236を形成するために、めっき膜235を形成した際に、バリ232bとめっき膜235との間に気泡Eが残ることがある。また、図16(C)に示すように、スルーホール236に樹脂充填材240を充填した際に、該バリ232b部分の裏面と樹脂充填材240との間に気泡Eが残ったり、或いは、図16(D)に示すように、内側へ延在する銅箔のバリ232b部分により充填が困難となり、スルーホール236内で樹脂充填材240の未充填が発生していることが分かった。
【0005】
本発明は、上述した課題を解決するためになされたものであり、その目的は、高い信頼性と配線密度とを両立させ得るプリント配線板の製造方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
請求項は、少なくとも以下の(A)〜(D)の工程を備えることを特徴とするプリント配線板の製造方法にある:
(A)金属膜の積層された基板の表面を黒化還元処理で粗化する工程と、
(B)前記基板にレーザを照射し、スルーホールとなる複数個の通孔を形成する工程と、
(C)酸化剤を用いて前記通孔の開口部から内側へ延在する金属膜を溶解すると同時に、前記通孔内をデスミヤ処理する工程と、
(D)前記通孔内に充填材を充填する工程。
【0009】
請求項の発明では、金属膜の積層された基板の表面を粗化した後、レーザを照射して通孔を形成するため、反射が抑えられ、通孔の開口部から内側へ延在する金属膜のバリ部分が大きくならない。更に、当該金属膜のバリ部分を溶解するので、スルーホール内に導体層を形成させた際、また、スルーホールに充填剤を充填した際に、気泡が残ることがなく、バリを起点とするコーナクラックが発生しないので、スルーホールの信頼性を高めることができる。
【0013】
請求項の発明では、酸化剤を用いるため、通孔の開口部から内側へ延在する金属膜のバリ部分の溶解と同時に、通孔内のデスミヤ処理を併せて行うことができる。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態に係るプリント配線板及びその製造方法について図を参照して説明する。
先ず、本発明の第1実施形態に係るプリント配線板の構成について、パッケージ基板として用いられるプリント配線板10の断面図を示す図7を参照して説明する。
図7に示すようにプリント配線板10では、コア基板30内にスルーホール36が形成され、該コア基板30の両面には導体回路34が形成されている。また、該コア基板30の上には、バイアホール60及び導体回路58の形成された下層側層間樹脂絶縁層50が配設されている。該下層層間樹脂絶縁層50の上には、バイアホール160及び導体回路158が形成された上層層間樹脂絶縁層150が配置されている。上層層間樹脂絶縁層150の上には、ソルダーレジスト層70が配設されている。
【0015】
プリント配線板10の上面には、ソルダーレジスト層70の開口に、ICチップへの接続用の半田バンプ76Uが配設される。一方、パッケージ基板の底面には、ソルダーレジスト層70の開口に、ドータボードへの接続用の半田バンプ76Dが配設されている。
【0016】
図6に示すように該半田バンプ76Uは、層間樹脂絶縁層150に形成されたバイアホール160及び層間樹脂絶縁層50に形成されたバイアホール60を介してスルーホール36へ接続されている。一方、該半田バンプ76Dは、層間樹脂絶縁層150に形成されたバイアホール160及び層間樹脂絶縁層50に形成されたバイアホール60を介してスルーホール36へ接続されている。
【0017】
第1実施形態のプリント配線板は、スルーホール36をレーザにより形成するため、微細径のスルーホール36を狭ピッチで配設することができ、高集積化を達成している。
【0018】
以下、図7に示すプリント配線板10の製造方法について図を参照して説明する。
ここでは先ず、コア基板30及び層間樹脂絶縁層50に通孔を穿設する炭酸ガスレーザの概略構成について、図8を参照して説明する。
レーザ装置としては、種々の機種を用いることが可能であるが、第1実施態様では、レーザ装置として、三菱電機製のML605GTXを用いる。また、CO2レーザ発信器180としては、三菱電機製のML5003D2を用いる。
【0019】
レーザ発振器180から出た光は、基板上の焦点を鮮明にするための転写用マスク182を経由してガルバノヘッド170へ入射する。ガルバノヘッド170は、レーザ光をX方向にスキャンするガルバノミラー174XとY方向にスキャンするガルバノミラー174Yとの2枚で1組のガルバノミラーから構成されており、このミラー174X、174Yは制御用のモータ172X、172Yにより駆動される。モータ172X、172Yは図示しない制御装置からの制御指令に応じて、ミラー174X、174Yの角度を調整すると共に、内蔵しているエンコーダからの検出信号を該コンピュータ側へ送出するよう構成されている。
【0020】
レーザ光は、ガルバノミラー174X、174Yを経由してそれぞれX−Y方向にスキャンされてf−θレンズ176を通り、コア基板30にスルーホール用通孔33を形成する。コア基板30は、X−Y方向に移動するX−Yテーブル190に載置されている。
【0021】
引き続き、本発明の第1実施形態に係るプリント配線板の製造工程について図1乃至図6を参照して説明する。この第1実施形態では、プリント配線板をセミアディティブ方により形成する。
【0022】
(1)図1(A)に示すように厚さ0.8mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる基板30の両面に18μmの銅箔32がラミネートされている銅張積層板30Aを出発材料とした。まず、この銅張積層板30AをNaOH(10g/l)、NaClO2 (40g/l)、Na3 PO4 (6g/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とする黒化処理、および、NaOH(10g/l)、NaBH4 (6g/l)を含む水溶液を還元浴とする還元処理を行い、銅箔32の全表面に粗化面32βを形成した(図1(B)参照)。ここでは、黒化還元処理で粗化面を形成したが、後述するエッチング、又は、無電解めっきにより粗化面を設けることもできる。
【0023】
(2)次に、基板30を図8を参照して上述した炭酸レーザ装置のX−Yテーブル190に載置し、波長9.4μmのCO2 ガスレーザにて、シングルハットモード、パルス幅50〜200μ秒、5〜20ショットの条件で、直径100〜200μmの通孔33を300μmピッチで形成する(図1(C))。第1実施形態の製造方法では、銅箔32の表面を粗化した後、レーザを照射して通孔33を形成しするため、反射が抑えられ、通孔33の開口部から内側へ延在する銅箔32のバリ部分が大きくならない。なお、本実施形態では、両面の銅箔32に粗化面32βを形成したが、レーザを照射する面のみを粗化すれば、上記効果を得ることができる。
【0024】
(3)そして、エッチング液で通孔33の開口部から開口部から内側へ延在する銅箔32のバリ部分を溶解除去する(図1(D)参照)。ここで、溶解用のエッチング液として、塩化第二鉄、塩化第二銅、過酸化水素/硫酸、アルカリエッチャントなどを用いることができる。また、硫酸、硝酸、塩酸等の酸を用いてバリを除去することもできる。更に、クロム、過マンガン塩等の酸化剤を用いてバリを除去することも可能である。酸化剤を用いる場合には、バリ部分の溶解と同時に、通孔33内のデスミヤ処理を併せて行うことができる。本実施形態では、バリ部分を溶解するため、通孔33の開口性が高くなる。
【0025】
その後、無電解めっき液に浸漬して、通孔33の側壁に銅めっき膜を析出することでスルーホール36を形成してから(図2(A))、常法に従いパターン状にエッチングにより基板の両面に内層銅パターン(下層導体回路)34を形成した(図2(B))。
【0026】
(4)下層導体回路34を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、エッチング液を基板の両面にスプレイで吹きつけて、下層導体回路34の表面とスルーホール36のランド36a表面と内壁とをエッチングすることにより、下層導体回路34の全表面に粗化面34βと、スルーホール36のランド36a及び内壁に36βを形成した(図2(C)参照)。エッチング液として、イミダゾール銅(II)錯体10重量部、グリコール酸7重量部、塩化カリウム5重量部およびイオン交換水78重量部を混合したものを使用した。エッチング液としては、例えば、過酸化水素、硫酸、塩化第二鉄や塩化第二銅などのプリント配線板に用いられるもの全般を用いることができる。
【0027】
(5)エポキシ系樹脂を主成分とする樹脂充填材40を、基板の両面に印刷機を用いて塗布することにより、下層導体回路34間またはスルーホール36内に充填し、加熱乾燥を行った。即ち、この工程により、樹脂充填材40が下層導体回路34の間あるいはスルーホール36内に充填される(図2(D)参照)。本実施形態では、通孔33の開口部から内側へ延在する銅箔32のバリ部分を除去してあるため、通孔33に樹脂充填材40を充填した際に、銅箔32と樹脂充填材40との間に気泡が残ることがなく、スルーホール36の信頼性を高めることができる。
【0028】
(6)上記(5)の処理を終えた基板の片面を、ベルト研磨紙(三共理化学社製)を用いたベルトサンダー研磨により、下層導体回路34の表面やスルーホール36のランド表面に樹脂充填材40が残らないように研磨し、ついで、上記ベルトサンダー研磨による傷を取り除くためのバフ研磨を行った。このような一連の研磨を基板の他方の面についても同様に行った。そして、充填した樹脂充填材40を加熱硬化させた(図3(A)参照)。
【0029】
このようにして、スルーホール36等に充填された樹脂充填材40の表層部および下層導体回路34上面の粗化層34βを除去して基板両面を平滑化し、樹脂充填材40と下層導体回路34の側面とが粗化面34βを介して強固に密着し、またスルーホール36の内壁面と樹脂充填材40とが粗化面36βを介して強固に密着した配線基板を得る。
【0030】
(7)次に、上記(6)の処理を終えた基板の両面に、上記(4) で用いたエッチング液と同じエッチング液をスプレイで吹きつけ、一旦平坦化された下層導体回路34の表面とスルーホール36のランド36a表面とをエッチングすることにより、下層導体回路34の全表面に粗化面34βを、スルーホールのランド36a表面に粗化層36βを形成した(図3(B)参照)。
【0031】
なお、本実施形態で、上記(1)の工程では黒化還元処理により、(7)の工程ではエッチングにより粗化面を形成しているが、この代わりに、無電解めっきにより粗化層を形成することもできる。この場合には、導体回路34を形成した基板30にアルカリ脱脂してソフトエッチングして、次いで、塩化パラジウウムと有機酸からなる触媒溶液で処理して、Pd触媒を付与し、この触媒を活性化した後、硫酸銅3.2×10−2mol/l、硫酸ニッケル3.9×10−3mol/l、錯化剤5.4×10−2mol/l、次亜りん酸ナトリウム3.3×10−1mol/l、ホウ酸5.0×10−1mol/l、界面活性剤(日信化学工業製、サーフィール465)0.1g/l、PH=9からなる無電解めっき液に浸積し、浸漬1分後に、4秒当たり1回に割合で縦、および、横振動させて、導体回路34及びスルーホール36のランド36a表面にCu−Ni−Pからなる針状合金の被覆層と粗化層42を設ける。
【0032】
(8)次に、上記工程を経た基板の両面に、厚さ50μmの熱硬化型シクロオレフィン系樹脂シートを温度50〜150℃まで昇温しながら圧力5kg/cm2 で真空圧着ラミネートし、シクロオレフィン系樹脂からなる層間樹脂絶縁層50を設ける(図3(C)参照)。なお、真空圧着時の真空度は、10mmHgに調整する。
【0033】
(9) 次に、波長9.4μmのCO2 ガスレーザにて、ビーム径5mm、パルス幅50μ秒、マスクの穴径0.5mm、3ショットの条件でシクロオレフィン系樹脂からなる層間樹脂絶縁層50に直径80μmのバイアホール用開口48を設けた(図3(D)参照)。この後、酸素プラズマを用いてデスミア処理を行った。
【0034】
(10) 次に、日本真空技術株式会社製のSV−4540を用いてプラズマ処理を行い、層間樹脂絶縁層50の表面を粗化した(図4(A)参照)。この際、不活性ガスとしてはアルゴンガスを使用し、電力200W、ガス圧0.6Pa、温度70℃の条件で、2分間プラズマ処理を実施した。
【0035】
(11) 次に、同じ装置を用い、内部のアルゴンガスを交換した後、Ni−Cu合金をターゲットにしたスパッタリングを、気圧0.6Pa、温度80℃、電力200W、時間5分間の条件で行い、Ni−Cu合金層52をポリオレフィン系層間樹脂絶縁層50の表面に形成した。このとき、形成されたNi−Cu合金層52の厚さは0.2μmであった(図4(B)参照)。
【0036】
(12)上記処理を終えた基板の両面に、市販の感光性ドライフィルムを貼り付け、フォトマスクフィルムを載置して、100mJ/cm2 で露光した後、0.8%炭酸ナトリウムで現像処理し、厚さ15μmのめっきレジスト54のパターンを形成した(図4(C)参照)。
【0037】
(13)次に、以下の条件で電気めっきを施して、厚さ15μmの電気めっき膜56を形成した(図5(A)参照)。なお、この電気めっき膜56により、後述する工程で導体回路58となる部分の厚付けおよびバイアホール60となる部分のめっき充填等が行われたことになる。なお、電気めっき水溶液中の添加剤は、アトテックジャパン社製のカパラシドHLである。
【0038】
〔電気めっき水溶液〕
硫酸 2.24 mol/l
硫酸銅 0.26 mol/l
添加剤 19.5 ml/l
〔電気めっき条件〕
電流密度 1 A/dm2
時間 65 分
温度 22±2 ℃
【0039】
(14)ついで、めっきレジスト54を5%NaOHで剥離除去した後、そのめっきレジスト54の下に存在していたNi−Cu合金層52を硝酸および硫酸と過酸化水素との混合液を用いるエッチングにて溶解除去し、電気銅めっき膜56等からなる厚さ16μmの導体回路58(バイアホール60を含む)を形成した(図5(B)参照)。
【0040】
(15)続いて、上記(5) 〜(13)の工程を繰り返すことにより、さらに上層の層間樹脂絶縁層150、導体回路158及びバイアホール160を形成した(図5(C)参照)。
【0041】
(16)次に、ジエチレングリコールジメチルエーテル(DMDG)に60重量%の濃度になるように溶解させた、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬社製)のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与のオリゴマー(分子量:4000)46.67重量部、メチルエチルケトンに溶解させた80重量%のビスフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェル社製、商品名:エピコート1001)15重量部、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、商品名:2E4MZ−CN)1.6重量部、感光性モノマーである多官能アクリルモノマー(日本化薬社製、商品名:R604)3重量部、同じく多価アクリルモノマー(共栄化学社製、商品名:DPE6A)1.5重量部、分散系消泡剤(サンノプコ社製、商品名:S−65)0.71重量部を容器にとり、攪拌、混合して混合組成物を調製し、この混合組成物に対して光重合開始剤としてベンゾフェノン(関東化学社製)2.0重量部、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化学社製)0.2重量部を加えて、粘度を25℃で2.0Pa・sに調整したソルダーレジスト組成物(有機樹脂絶縁材料)を得た。
なお、粘度測定は、B型粘度計(東京計器社製、DVL−B型)で60rpmの場合はローターNo.4、6rpmの場合はローターNo.3によった。
【0042】
(17)次に、多層配線基板の両面に、上記ソルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗布し、70℃で20分間、70℃で30分間の条件で乾燥処理を行った後、ソルダーレジスト開口部のパターンが描画された厚さ5mmのフォトマスクをソルダーレジスト層に密着させて1000mJ/cm2 の紫外線で露光し、DMTG溶液で現像処理し、200μmの直径の開口71U、71Dを形成した。
そして、さらに、80℃で1時間、100℃で1時間、120℃で1時間、150℃で3時間の条件でそれぞれ加熱処理を行ってソルダーレジスト層を硬化させ、はんだパッド部分が開口した、その厚さが20μmのソルダーレジスト層(有機樹脂絶縁層)70を形成した(図6(A))。
【0043】
(18)次に、ソルダーレジスト層(有機樹脂絶縁層)70を形成した基板を、塩化ニッケル(2.3×10-1mol/l)、次亜リン酸ナトリウム(2.8×10-1mol/l)、クエン酸ナトリウム(1.6×10-1mol/l)を含むpH=4.5の無電解ニッケルめっき液に20分間浸漬して、開口71U、71Dに厚さ5μmのニッケルめっき層72を形成した(図6(B))。さらに、その基板をシアン化金カリウム(7.6×10-3mol/l)、塩化アンモニウム(1.9×10-1mol/l)、クエン酸ナトリウム(1.2×10-1mol/l)、次亜リン酸ナトリウム(1.7×10-1mol/l)を含む無電解めっき液に80℃の条件で7.5分間浸漬して、ニッケルめっき層72上に、厚さ0.03μmの金めっき層74を形成した。
【0044】
(19)この後、ソルダーレジスト層70の開口にはんだペーストを印刷して、200℃でリフローすることによりはんだバンプ(はんだ体)76U、76Dを形成し、プリント配線板10を完成する(図7参照)。
【0045】
引き続き、本発明の第2実施形態に係るプリント配線板及びその製造方法について説明する。
図15は、パッケージ基板に適用した第2実施形態に係るプリント配線板の断面を示している。この第2実施形態のプリント配線板110は、図7を参照して上述した第1実施形態と同様である。但し、第1実施形態では、ドータボード側にはんだバンプ76Dが配設されたが、この第2実施形態では、導電性接続ピン78が配設されている。
【0046】
引き続き、第2実施形態のプリント配線板の製造方法について説明する。ここではまず、A.層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムの作製、及び、B.樹脂充填材の調製について説明する。
A.層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムの作製
ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量469、油化シェルエポキシ社製エピコート1001)30重量部、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(エポキシ当量215、大日本インキ化学工業社製 エピクロンN−673)40重量部、トリアジン構造含有フェノールノボラック樹脂(フェノール性水酸基当量120、大日本インキ化学工業社製 フェノライトKA−7052)30重量部をエチルジグリコールアセテート20重量部、ソルベントナフサ20重量部に攪拌しながら加熱溶解させ、そこへ末端エポキシ化ポリブタジエンゴム(ナガセ化成工業社製 デナレックスR−45EPT)15重量部と2−フェニル−4、5−ビス(ヒドロキシメチル)イミダゾール粉砕品1.5重量部、微粉砕シリカ2重量部、シリコン系消泡剤0.5重量部を添加しエポキシ樹脂組成物を調製した。
得られたエポキシ樹脂組成物を厚さ38μmのPETフィルム上に乾燥後の厚さが50μmとなるようにロールコーターを用いて塗布した後、80〜120℃で10分間乾燥させることにより、層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムを作製した。
【0047】
B.樹脂充填材の調製
ビスフェノールF型エポキシモノマー(油化シェル社製、分子量:310、YL983U)100重量部、表面にシランカップリング剤がコーティングされた平均粒径が1.6μmで、最大粒子の直径が15μm以下のSiO2 球状粒子(アドテック社製、CRS 1101−CE)170重量部およびレベリング剤(サンノプコ社製 ペレノールS4)1.5重量部を容器にとり、攪拌混合することにより、その粘度が23±1℃で45〜49Pa・sの樹脂充填材を調製した。
なお、硬化剤として、イミダゾール硬化剤(四国化成社製、2E4MZ−CN)6.5重量部を用いた。
【0048】
プリント配線板の製造方法
(1) 厚さ0.8mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる基板30の両面に18μmの銅箔32がラミネートされている銅張積層板30Aを出発材料とした(図9(A)参照)。まず、この銅張積層板30AをNaOH(10g/l)、NaClO2 (40g/l)、Na3 PO4 (6g/l)を含む水溶液を黒化浴(酸化浴)とする黒化処理、および、NaOH(10g/l)、NaBH4 (6g/l)を含む水溶液を還元浴とする還元処理を行い、銅箔32の全表面に粗化面32βを形成した(図9(B)参照)。
【0049】
(2)次に、基板30を図8を参照して上述した炭酸レーザ装置のテーブルに載置し、炭酸ガスレーザを照射することで、図9(C)に示すように通孔33を形成する。第2実施形態の製造方法では、銅箔32の表面を粗化した後、レーザを照射して通孔33を形成しするため、反射が抑えられ、通孔33の開口部から内側へ延在する銅箔32のバリ部分が大きくならない。
【0050】
(3)そして、エッチング液で通孔33の開口部から開口部から内側へ延在する銅箔32のバリ部分を溶解除去する(図9(D)参照)。ここで、溶解するためのエッチング液として、塩化第二鉄、塩化第二銅、過酸化水素/硫酸、アルカリエッチャントなどを用いることができる。また、硫酸、硝酸、塩酸等の酸を用いてバリを除去することもできる。更に、クロム、過マンガン塩等の酸化剤を用いてバリを除去することも可能である。酸化剤を用いる場合には、バリ部分の溶解と同時に、通孔33内のデスミヤ処理を併せて行うことができる。バリを溶解するため、通孔33の開口性が高まる。
【0051】
その後、無電解めっき液に浸漬して、通孔33の側壁に銅めっき膜を析出することでスルーホール36を形成してから(図10(A))、常法に従いパターン状にエッチングにより基板の両面に内層銅パターン(下層導体回路)34を形成した(図10(B))。
【0052】
(4)下層導体回路34を形成した基板を水洗いし、乾燥した後、エッチング液を基板の両面にスプレイで吹きつけて、下層導体回路34の表面とスルーホール36のランド36a表面と内壁とをエッチングすることにより、下層導体回路34の全表面に粗化面34βを、スルーホールのランド表面及び内壁に粗化層36βを形成した(図10(C)参照)。エッチング液として、イミダゾール銅(II)錯体10重量部、グリコール酸7重量部、塩化カリウム5重量部およびイオン交換水78重量部を混合したものを使用した。
【0053】
(5)上記Bにて記載した樹脂充填材を整調した後、下記の方法により調整後24時間以内に、スルーホール36、及び、基板30の片面の導体回路非形成部と導体回路34の外縁部とに樹脂充填材40の層を形成した(図10(D)参照)。
すなわち、まず、スキージを用いてスルーホール36内に樹脂充填材40を押し込んだ後、100℃、20分の条件で乾燥させた。次に、導体回路非形成部に相当する部分が開口したマスクを基板上に載置し、スキージを用いて凹部となっている導体回路非形成部に樹脂充填材40の層を形成し、100℃、20分の条件で乾燥させた。本実施形態では、通孔33の開口部から内側へ延在する銅箔32のバリ部分を除去してあるため、通孔33に樹脂充填材40を充填した際に、銅箔32と樹脂充填材40との間に気泡が残ることがなく、スルーホール36の信頼性を高めることができる。
【0054】
(6) 上記(5) の処理を終えた基板の片面を、#600のベルト研磨紙(三共理化学製)を用いたベルトサンダー研磨により、内層銅パターン4の表面やスルーホール36のランド36a表面に樹脂充填材40が残らないように研磨し、次いで、上記ベルトサンダー研磨による傷を取り除くためのバフ研磨を行った。このような一連の研磨を基板の他方の面についても同様に行った。
次いで、100℃で1時間、150℃で1時間の加熱処理を行って樹脂充填材40を硬化した。
【0055】
このようにして、スルーホール36や導体回路非形成部に形成された樹脂充填材40の表層部および下層導体回路34の表面を平坦化し、樹脂充填材40と下層導体回路34の側面とが粗化面34βを介して強固に密着し、またスルーホール36の内壁面と樹脂充填材40とが粗化面36βを介して強固に密着した絶縁性基板を得た(図11(A)参照)。すなわち、この工程により、樹脂充填材40の表面と下層導体回路34の表面とが同一平面となる。
【0056】
(7) 上記基板を水洗、酸性脱脂した後、ソフトエッチングし、次いで、エッチング液を基板の両面にスプレイで吹きつけて、下層導体回路34の表面とスルーホール36のランド36a表面と内壁とをエッチングすることにより、下層導体回路34の全表面に粗化面34βを、スルーホールのランド36a表面に粗化層36βを形成した(図11(B)参照)。
エッチング液としては、イミダゾール銅(II)錯体10重量部、グリコール酸7重量部、塩化カリウム5重量部からなるエッチング液(メック社製、メックエッチボンド)を使用した。
【0057】
(8) 基板の両面に、上記Aで作製した基板より少し大きめの層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムを基板上に載置し、圧力4kgf/cm2 、温度80℃、圧着時間10秒の条件で仮圧着して裁断した後、さらに、以下の方法により真空ラミネーター装置を用いて貼り付けることにより層間樹脂絶縁層50を形成した(図11(C)参照)。すなわち、層間樹脂絶縁層用樹脂フィルムを基板上に、真空度0.5Torr、圧力4kgf/cm2 、温度80℃、圧着時間60秒の条件で本圧着し、その後、170℃で30分間熱硬化させた。
【0058】
(9) 層間樹脂絶縁層50上に、厚さ1.2mmの貫通孔49aが形成されたマスク49を載置する。そして、波長9.4μmのCO2 ガスレーザにて、ビーム径4.0mm、パルス幅8.0μ秒、マスクの貫通孔の径1.0mm、1ショットの条件で、層間樹脂絶縁層50に直径80μmのバイアホール用開口48を形成した(図11(D)参照)。
【0059】
(10) バイアホール用開口48を形成した基板30を、60g/lの過マンガン酸を含む80℃の溶液に10分間浸漬し、層間樹脂絶縁層50の表面に存在するエポキシ樹脂粒子を溶解除去することにより、バイアホール用開口48の内壁を含む層間樹脂絶縁層50の表面を粗面とした(図12(A)参照)。
【0060】
(11) 次に、上記処理を終えた基板を、中和溶液(シプレイ社製)に浸漬してから水洗いした。さらに、粗面化処理(粗化深さ3μm)した該基板の表面に、パラジウム触媒を付与することにより、層間樹脂絶縁層50の表面およびバイアホール用開口48の内壁面に触媒核を付着させた。
【0061】
(12)次に、以下の組成の無電解銅めっき水溶液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ0.6〜3.0μmの無電解銅めっき膜51を形成した(図12(B)参照)。
〔無電解めっき水溶液〕
NiSO4 0.003 mol/l
酒石酸 0.200 mol/l
硫酸銅 0.030 mol/l
HCHO 0.050 mol/l
NaOH 0.100 mol/l
α、α′−ビピリジル 40 mg/l
ポリエチレングリコール(PEG) 0.10 g/l
〔無電解めっき条件〕
35℃の液温度で40分
【0062】
(13)市販の感光性ドライフィルムを無電解銅めっき膜51に貼り付け、マスクを載置して、100mJ/cm2 で露光し、0.8%炭酸ナトリウム水溶液で現像処理することにより、厚さ30μmのめっきレジスト54を設けた(図12(C)参照)。
【0063】
(14)ついで、基板を50℃の水で洗浄して脱脂し、25℃の水で水洗後、さらに硫酸で洗浄してから、以下の条件で電解銅めっきを施し、厚さ20μmの電解銅めっき膜56を形成した(図13(A)参照)。
〔電解めっき水溶液〕
硫酸 2.24 mol/l
硫酸銅 0.26 mol/l
添加剤 19.5 ml/l
(アトテックジャパン社製、カパラシドHL)
〔電解めっき条件〕
電流密度 1 A/dm2
時間 65 分
温度 22±2 ℃
【0064】
(15)めっきレジスト54を5%NaOHで剥離除去した後、そのめっきレジスト54下の無電解めっき膜51を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング処理して溶解除去し、無電解銅めっき膜51と電解銅めっき膜56からなる厚さ18μmの導体回路(バイアホール60を含む)58を形成した(図13(B)参照)。
【0065】
(16)(7) と同様の処理を行い、第二銅錯体と有機酸とを含有するエッチング液によって、粗化面62を形成した(図13(C)参照)。
【0066】
(17)上記 (8)〜(16)の工程を繰り返すことにより、さらに上層の層間樹脂絶縁層160、導体回路158及びバイアホール160を形成し、多層配線板を得た(図14(A)参照)。
【0067】
(18)次に、多層配線基板の両面に、第1実施形態と同様のソルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗布し、70℃で20分間、70℃で30分間の条件で乾燥処理を行った後、ソルダーレジスト開口部のパターンが描画された厚さ5mmのフォトマスクをソルダーレジスト層に密着させて1000mJ/cm2 の紫外線で露光し、DMTG溶液で現像処理し、200μmの直径の開口71U、71Dを形成した。
そしてさらに、80℃で1時間、100℃で1時間、120℃で1時間、150℃で3時間の条件でそれぞれ加熱処理を行ってソルダーレジスト層を硬化させ、開口を有し、その厚さが20μmのソルダーレジストパターン層70を形成した(図14(B))。上記ソルダーレジスト組成物としては、市販のソルダーレジスト組成物を使用することもできる。
【0068】
(19)次に、ソルダーレジスト層70を形成した基板を、塩化ニッケル(2.3×10-1mol/l)、次亜リン酸ナトリウム(2.8×10-1mol/l)、クエン酸ナトリウム(1.6×10-1mol/l)を含むpH=4.5の無電解ニッケルめっき液に20分間浸漬して、開口71U、71Dに厚さ5μmのニッケルめっき層72を形成した。さらに、その基板をシアン化金カリウム(7.6×10-3mol/l)、塩化アンモニウム(1.9×10-1mol/l)、クエン酸ナトリウム(1.2×10-1mol/l)、次亜リン酸ナトリウム(1.7×10-1mol/l)を含む無電解金めっき液に80℃の条件で7.5分間浸漬して、ニッケルめっき層72上に、厚さ0.03μmの金めっき層74を形成した(図14(C))。
【0069】
(20)この後、基板のICチップを載置する面のソルダーレジスト層70の開口に、スズ−鉛を含有するはんだペーストを印刷し、さらに他方の面のソルダーレジスト層70の開口にスズ−アンチモンを含有するはんだペーストを印刷した後、200℃でリフローすることにより上面にはんだバンプ76Uを設けた。そして、下面に導電性接続ピン78を配設し、プリント基板110を製造した(図15参照)。
【0070】
なお、上述した実施形態では、多層ビルドアップ配線板のコア基板にレーザでスルーホールを設ける例を挙げたが、本発明の製造方法は、表面及び裏面に回路を構成し、両面をスルーホールで接続する単板のプリント配線板、あるいは、複数枚のコア基板を積層してなるプリント配線板等の製造方法にも適用可能である。
【0071】
比較例としてレーザで通孔形成後に、エッチング液あるいは酸、酸化剤による工程を経ないで、上述した実施形態と同じプリント配線板を形成した。
この比較例のプリント配線板をヒートサイクル条件下で試験を行ったところ、スルーホール内で導体層が断線したり、スルーホール部分が平坦にならず、層間樹脂絶縁層や上層に形成された導体回路にクラックを引き起こした。この原因は、図16を参照して上述したように、レーザでコア基板に通孔を形成した際に、金属膜がバリとして残り、スルーホール内に導体層を形成させた際に、バリと導体層との間に気泡が残り、また、スルーホールに充填材を充填させた際に、気泡が残ったり、充填不足が起こったためと考えられる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1(A)、(B)、(C)、(D)は、本発明の第1実施形態に係るプリント配線板の製造工程図である。
【図2】図2(A)、(B)、(C)、(D)は、本発明の第1実施形態に係るプリント配線板の製造工程図である。
【図3】図3(A)、(B)、(C)、(D)は、本発明の第1実施形態に係るプリント配線板の製造工程図である。
【図4】図4(A)、(B)、(C)は、本発明の第1実施形態に係るプリント配線板の製造工程図である。
【図5】図5(A)、(B)、(C)は、本発明の第1実施形態に係るプリント配線板の製造工程図である。
【図6】図6(A)、(B)は、本発明の第1実施形態に係るプリント配線板の製造工程図である。
【図7】本発明の第1実施形態に係るプリント配線板の断面図である。
【図8】開口を形成する炭酸ガスレーザ装置の説明図である。
【図9】図9(A)、(B)、(C)、(D)は、本発明の第2実施形態に係るプリント配線板の製造工程図である。
【図10】図10(A)、(B)、(C)、(D)は、本発明の第2実施形態に係るプリント配線板の製造工程図である。
【図11】図11(A)、(B)、(C)、(D)は、本発明の第2実施形態に係るプリント配線板の製造工程図である。
【図12】図12(A)、(B)、(C)は、本発明の第2実施形態に係るプリント配線板の製造工程図である。
【図13】図13(A)、(B)、(C)は、本発明の第2実施形態に係るプリント配線板の製造工程図である。
【図14】図14(A)、(B)、(C)は、本発明の第2実施形態に係るプリント配線板の製造工程図である。
【図15】本発明の第2実施形態に係るプリント配線板の断面図である。
【図16】図16(A)、(B)、(C)、(D)は、従来技術に係るプリント配線板の製造工程図である。
【符号の説明】
30 コア基板
30A 銅張り積層板
32 銅箔(金属膜)
33 通孔
34 導体回路
36 バイアホール
40 樹脂充填材
50 層間樹脂絶縁層
58 導体回路
60 バイアホール
70 ソルダーレジスト層
76U、76D 半田バンプ
150 層間樹脂絶縁層
158 導体回路
160 バイアホール
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a method of manufacturing a printed wiring board in which through holes for through holes are formed on a core substrate by a laser.
[0002]
[Prior art]
Multilayer build-up wiring boards are used for package substrates that require high performance. The multilayer build-up wiring board is formed by building up an interlayer resin insulating layer including wiring one by one on a core substrate provided with a through hole. The through hole provided in the core substrate was formed by drilling a through hole in the core substrate with a drill. However, a drill cannot form fine through-holes with a narrow pitch, and is not able to satisfy the performance required for high integration of printed wiring boards. For this reason, research has been conducted on drilling through holes in the core substrate using a laser.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
However, when a through hole is formed by a laser, disconnection may occur in a heat cycle and the reliability is low. When the cause of this disconnection was studied, it was found that bubbles were mixed in the through hole.
[0004]
The present inventor further studied the cause of air bubbles, and found that when a through hole was drilled with a laser in a copper-clad laminate forming the core substrate, the copper foil extended inward from the opening of the through hole. It was found that this was due to the remaining burr part. That is, as shown in FIG. 16A, when the through hole 233 is formed by laser in the core substrate 230 formed by laminating the copper foil 232, the burr 232b of the copper foil 232 remains in the opening of the through hole 233. . Then, as shown in FIG. 16B, when the plating film 235 is formed to form the through hole 236, bubbles E may remain between the burr 232b and the plating film 235. Further, as shown in FIG. 16C, when the through hole 236 is filled with the resin filler 240, bubbles E remain between the back surface of the burr 232b portion and the resin filler 240, or FIG. As shown in FIG. 16 (D), it was found that filling was difficult due to the burr 232b portion of the copper foil extending inward, and the resin filler 240 was not filled in the through hole 236.
[0005]
The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a printed wiring board capable of achieving both high reliability and wiring density.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
  Claim1Is a method for producing a printed wiring board, comprising at least the following steps (A) to (D):
(A) The surface of the substrate on which the metal film is laminatedWith blackening reduction treatmentRoughening process;
(B) irradiating the substrate with a laser to form a plurality of through holes to be through holes;
(C) a step of desmearing the inside of the through-hole while simultaneously dissolving the metal film extending inward from the opening of the through-hole using an oxidizing agent;
(D) A step of filling the through hole with a filler.
[0009]
  Claim1In this invention, the surface of the substrate on which the metal film is laminated is roughened, and then a laser beam is irradiated to form a through hole. Therefore, reflection is suppressed and the metal film extending inward from the opening of the through hole is formed. The burr part does not become large. Further, since the burr portion of the metal film is dissolved, no bubbles remain when the conductor layer is formed in the through hole or when the filler is filled in the through hole, and the burr is the starting point. Since no corner cracks occur, the reliability of the through hole can be improved.
[0013]
  Claim1In this invention, since the oxidizing agent is used, the desmear treatment in the through-hole can be performed simultaneously with the dissolution of the burr portion of the metal film extending inward from the opening of the through-hole.
[0014]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, a printed wiring board and a manufacturing method thereof according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
First, the configuration of the printed wiring board according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 7 showing a cross-sectional view of the printed wiring board 10 used as a package substrate.
As shown in FIG. 7, in the printed wiring board 10, through holes 36 are formed in the core substrate 30, and conductor circuits 34 are formed on both surfaces of the core substrate 30. On the core substrate 30, a lower-layer interlayer resin insulation layer 50 in which via holes 60 and conductor circuits 58 are formed is disposed. On the lower interlayer resin insulation layer 50, an upper interlayer resin insulation layer 150 in which via holes 160 and conductor circuits 158 are formed is disposed. A solder resist layer 70 is disposed on the upper interlayer resin insulation layer 150.
[0015]
On the upper surface of the printed wiring board 10, solder bumps 76U for connection to the IC chip are disposed in the openings of the solder resist layer 70. On the other hand, solder bumps 76D for connection to the daughter board are disposed in the opening of the solder resist layer 70 on the bottom surface of the package substrate.
[0016]
As shown in FIG. 6, the solder bumps 76 </ b> U are connected to the through holes 36 via via holes 160 formed in the interlayer resin insulation layer 150 and via holes 60 formed in the interlayer resin insulation layer 50. On the other hand, the solder bumps 76D are connected to the through holes 36 via via holes 160 formed in the interlayer resin insulation layer 150 and via holes 60 formed in the interlayer resin insulation layer 50.
[0017]
In the printed wiring board of the first embodiment, since the through holes 36 are formed by a laser, the through holes 36 having a small diameter can be arranged at a narrow pitch, and high integration is achieved.
[0018]
Hereinafter, a method for manufacturing the printed wiring board 10 shown in FIG. 7 will be described with reference to the drawings.
Here, first, a schematic configuration of a carbon dioxide laser in which through holes are formed in the core substrate 30 and the interlayer resin insulating layer 50 will be described with reference to FIG.
Various types of laser devices can be used. In the first embodiment, ML605GTX manufactured by Mitsubishi Electric is used as the laser device. As the CO2 laser transmitter 180, ML5003D2 manufactured by Mitsubishi Electric is used.
[0019]
The light emitted from the laser oscillator 180 enters the galvano head 170 via a transfer mask 182 for making the focal point on the substrate clear. The galvano head 170 is composed of a pair of galvano mirrors, a galvano mirror 174X that scans laser light in the X direction and a galvano mirror 174Y that scans in the Y direction. It is driven by motors 172X and 172Y. The motors 172X and 172Y are configured to adjust the angles of the mirrors 174X and 174Y according to a control command from a control device (not shown) and to send a detection signal from a built-in encoder to the computer side.
[0020]
The laser light is scanned in the XY directions via the galvanometer mirrors 174X and 174Y, passes through the f-θ lens 176, and forms the through-hole 33 for the through hole in the core substrate 30. The core substrate 30 is placed on an XY table 190 that moves in the XY direction.
[0021]
Subsequently, the manufacturing process of the printed wiring board according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In the first embodiment, the printed wiring board is formed by a semi-additive method.
[0022]
(1) A copper clad laminate in which 18 μm copper foil 32 is laminated on both surfaces of a substrate 30 made of glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin having a thickness of 0.8 mm as shown in FIG. 30A was the starting material. First, this copper clad laminate 30A is made of NaOH (10 g / l), NaClO.2 (40 g / l), NaThree POFour Blackening treatment using an aqueous solution containing (6 g / l) as a blackening bath (oxidation bath), and NaOH (10 g / l), NaBHFour A reduction treatment using an aqueous solution containing (6 g / l) as a reduction bath was performed to form a roughened surface 32β on the entire surface of the copper foil 32 (see FIG. 1B). Here, the roughened surface is formed by the blackening reduction treatment, but the roughened surface can also be provided by etching described later or electroless plating.
[0023]
(2) Next, the substrate 30 is placed on the XY table 190 of the carbonic acid laser device described above with reference to FIG.2 Using a gas laser, through holes 33 having a diameter of 100 to 200 μm are formed at a pitch of 300 μm under the conditions of a single hat mode, a pulse width of 50 to 200 μs, and 5 to 20 shots (FIG. 1C). In the manufacturing method of the first embodiment, since the surface of the copper foil 32 is roughened and then irradiated with a laser to form the through-hole 33, reflection is suppressed and the inner side extends from the opening of the through-hole 33. The burr portion of the copper foil 32 does not become large. In the present embodiment, the roughened surface 32β is formed on the copper foils 32 on both sides. However, if only the surface irradiated with the laser is roughened, the above effect can be obtained.
[0024]
(3) Then, the burr portion of the copper foil 32 extending from the opening to the inside from the opening of the through hole 33 is dissolved and removed with an etching solution (see FIG. 1D). Here, ferric chloride, cupric chloride, hydrogen peroxide / sulfuric acid, alkaline etchant, or the like can be used as an etching solution for dissolution. Further, burrs can be removed by using an acid such as sulfuric acid, nitric acid or hydrochloric acid. Further, it is possible to remove burrs using an oxidizing agent such as chromium or permanganate. When an oxidizing agent is used, desmear treatment in the through-hole 33 can be performed simultaneously with the dissolution of the burr portion. In this embodiment, since the burr | flash part is melt | dissolved, the opening property of the through-hole 33 becomes high.
[0025]
Then, after immersing in an electroless plating solution and forming a through hole 36 by depositing a copper plating film on the side wall of the through-hole 33 (FIG. 2A), the substrate is etched into a pattern according to a conventional method. An inner layer copper pattern (lower conductor circuit) 34 was formed on both sides of the substrate (FIG. 2B).
[0026]
(4) The substrate on which the lower conductor circuit 34 is formed is washed with water and dried, and then an etching solution is sprayed on both surfaces of the substrate to spray the surface of the lower conductor circuit 34, the surface of the land 36a of the through hole 36, and the inner wall. By etching, a roughened surface 34β was formed on the entire surface of the lower conductor circuit 34, and 36β was formed on the land 36a and the inner wall of the through hole 36 (see FIG. 2C). As an etching solution, a mixture of 10 parts by weight of imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, 5 parts by weight of potassium chloride and 78 parts by weight of ion-exchanged water was used. As the etchant, for example, all of those used for printed wiring boards such as hydrogen peroxide, sulfuric acid, ferric chloride, and cupric chloride can be used.
[0027]
(5) The resin filler 40 containing epoxy resin as a main component was applied to both sides of the substrate using a printing machine to fill the space between the lower conductor circuits 34 or the through holes 36, followed by heat drying. . That is, by this step, the resin filler 40 is filled between the lower conductor circuits 34 or in the through holes 36 (see FIG. 2D). In this embodiment, since the burr | flash part of the copper foil 32 extended inside from the opening part of the through-hole 33 is removed, when the resin filler 40 is filled into the through-hole 33, the copper foil 32 and resin filling are carried out. Bubbles do not remain between the material 40 and the reliability of the through hole 36 can be improved.
[0028]
(6) One side of the substrate after the processing of (5) is filled with resin on the surface of the lower conductor circuit 34 or the land surface of the through hole 36 by belt sander polishing using belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku Co., Ltd.). Polishing was performed so that the material 40 did not remain, and then buffing was performed to remove scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate. Then, the filled resin filler 40 was cured by heating (see FIG. 3A).
[0029]
In this way, the surface layer portion of the resin filler 40 filled in the through holes 36 and the like and the roughened layer 34β on the upper surface of the lower conductor circuit 34 are removed to smooth both surfaces of the substrate, and the resin filler 40 and the lower conductor circuit 34 are smoothed. A wiring substrate is obtained in which the side surface of the through hole 36 is firmly adhered via the roughened surface 34β, and the inner wall surface of the through hole 36 and the resin filler 40 are firmly adhered via the roughened surface 36β.
[0030]
(7) Next, the same etching solution as that used in (4) above is sprayed on both surfaces of the substrate after the processing in (6) above, and the surface of the lower conductor circuit 34 once flattened is sprayed. And the surface of the land 36a of the through hole 36 are etched to form the roughened surface 34β on the entire surface of the lower conductor circuit 34 and the roughened layer 36β on the surface of the land 36a of the through hole (see FIG. 3B). ).
[0031]
In this embodiment, the roughened surface is formed by the blackening reduction process in the step (1) and by etching in the step (7), but instead, the roughened layer is formed by electroless plating. It can also be formed. In this case, the substrate 30 on which the conductor circuit 34 is formed is subjected to alkali degreasing and soft etching, and then treated with a catalyst solution composed of paradium chloride and an organic acid to give a Pd catalyst and activate the catalyst. After that, copper sulfate 3.2 × 10-2mol / l, nickel sulfate 3.9 × 10-3mol / l, complexing agent 5.4 × 10-2mol / l, sodium hypophosphite 3.3 × 10-1mol / l, boric acid 5.0 × 10-1It is immersed in an electroless plating solution consisting of mol / l, a surfactant (manufactured by Nissin Chemical Industry, Surfir 465) 0.1 g / l, PH = 9, and once every 4 seconds after immersion Then, a needle-like alloy coating layer made of Cu—Ni—P and a roughening layer 42 are provided on the surfaces of the lands 36 a of the conductor circuit 34 and the through hole 36 by longitudinal and lateral vibration.
[0032]
(8) Next, a pressure of 5 kg / cm is applied to both sides of the substrate that has undergone the above-described process while the temperature of a 50 μm-thick thermosetting cycloolefin resin sheet is raised to a temperature of 50 to 150 ° C.2 And an interlayer resin insulation layer 50 made of cycloolefin resin is provided (see FIG. 3C). Note that the degree of vacuum during vacuum bonding is adjusted to 10 mmHg.
[0033]
(9) Next, CO with a wavelength of 9.4 μm2 A via hole opening 48 having a diameter of 80 μm was provided in the interlayer resin insulating layer 50 made of cycloolefin resin under the conditions of a beam diameter of 5 mm, a pulse width of 50 μs, a mask hole diameter of 0.5 mm, and three shots using a gas laser ( (See FIG. 3D). Thereafter, desmear treatment was performed using oxygen plasma.
[0034]
(10) Next, plasma processing was performed using SV-4540 manufactured by Nippon Vacuum Technology Co., Ltd. to roughen the surface of the interlayer resin insulation layer 50 (see FIG. 4A). At this time, argon gas was used as an inert gas, and plasma treatment was performed for 2 minutes under the conditions of power 200 W, gas pressure 0.6 Pa, and temperature 70 ° C.
[0035]
(11) Next, using the same apparatus, after replacing the argon gas inside, sputtering using Ni—Cu alloy as a target was performed under conditions of atmospheric pressure 0.6 Pa, temperature 80 ° C., power 200 W, and time 5 minutes. The Ni—Cu alloy layer 52 was formed on the surface of the polyolefin-based interlayer resin insulation layer 50. At this time, the thickness of the formed Ni—Cu alloy layer 52 was 0.2 μm (see FIG. 4B).
[0036]
(12) A commercially available photosensitive dry film is pasted on both surfaces of the substrate after the above treatment, and a photomask film is placed thereon, and 100 mJ / cm.2 Then, it was developed with 0.8% sodium carbonate to form a pattern of plating resist 54 having a thickness of 15 μm (see FIG. 4C).
[0037]
(13) Next, electroplating was performed under the following conditions to form an electroplated film 56 having a thickness of 15 μm (see FIG. 5A). In addition, with this electroplating film 56, the thickness of the portion that becomes the conductor circuit 58 and the plating filling of the portion that becomes the via hole 60 are performed in the steps described later. The additive in the electroplating aqueous solution is Kaparaside HL manufactured by Atotech Japan.
[0038]
[Electroplating aqueous solution]
Sulfuric acid 2.24 mol / l
Copper sulfate 0.26 mol / l
Additive 19.5 ml / l
[Electroplating conditions]
Current density 1 A / dm2
65 minutes
Temperature 22 ± 2 ° C
[0039]
(14) Next, after removing the plating resist 54 with 5% NaOH, the Ni—Cu alloy layer 52 existing under the plating resist 54 is etched using a mixed solution of nitric acid, sulfuric acid and hydrogen peroxide. The conductive circuit 58 (including the via hole 60) having a thickness of 16 μm made of the electrolytic copper plating film 56 and the like was formed (see FIG. 5B).
[0040]
(15) Subsequently, by repeating the steps (5) to (13), an upper interlayer resin insulation layer 150, a conductor circuit 158 and a via hole 160 were formed (see FIG. 5C).
[0041]
(16) Next, a photosensitizing agent obtained by acrylating 50% of an epoxy group of a cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) dissolved in diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) to a concentration of 60% by weight. 46.67 parts by weight of oligomer (molecular weight: 4000), 15 parts by weight of 80% by weight of bisphenol A type epoxy resin (trade name: Epicoat 1001) dissolved in methyl ethyl ketone, imidazole curing agent (Shikoku Chemicals) Manufactured, product name: 2E4MZ-CN) 1.6 parts by weight, polyfunctional acrylic monomer (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., product name: R604) as a photosensitive monomer, polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoei Chemical Co., Ltd.) , Trade name: DPE6A) 1.5 parts by weight, dispersion antifoaming agent (manufactured by Sannopco, trade name: S-65) 0.71 layer An amount part is placed in a container, and a mixed composition is prepared by stirring and mixing. 2.0 parts by weight of benzophenone (manufactured by Kanto Chemical Co., Inc.) as a photopolymerization initiator and Michler's ketone as a photosensitizer are mixed with this mixed composition. (Kanto Chemical Co., Ltd.) 0.2 parts by weight was added to obtain a solder resist composition (organic resin insulating material) having a viscosity adjusted to 2.0 Pa · s at 25 ° C.
Viscosity measurement was performed using a B-type viscometer (DVL-B type, manufactured by Tokyo Keiki Co., Ltd.). In the case of 4 or 6 rpm, the rotor No. 3 according.
[0042]
(17) Next, the solder resist composition is applied to both sides of the multilayer wiring board in a thickness of 20 μm, and after drying at 70 ° C. for 20 minutes and at 70 ° C. for 30 minutes, the solder resist is applied. A photomask with a thickness of 5 mm on which the pattern of the opening is drawn is brought into close contact with the solder resist layer and 1000 mJ / cm2 Were exposed to UV light and developed with DMTG solution to form openings 71U and 71D having a diameter of 200 μm.
Further, the solder resist layer was cured by heating at 80 ° C. for 1 hour, 100 ° C. for 1 hour, 120 ° C. for 1 hour, and 150 ° C. for 3 hours to open the solder pad portion. A solder resist layer (organic resin insulating layer) 70 having a thickness of 20 μm was formed (FIG. 6A).
[0043]
(18) Next, the substrate on which the solder resist layer (organic resin insulating layer) 70 is formed is made of nickel chloride (2.3 × 10-1mol / l), sodium hypophosphite (2.8 × 10-1mol / l), sodium citrate (1.6 × 10-1The nickel plating layer 72 having a thickness of 5 μm was formed in the openings 71U and 71D by immersing in an electroless nickel plating solution containing 0.5 mol / l) of pH = 4.5 (FIG. 6B). Further, the substrate was made of potassium gold cyanide (7.6 × 10 6-3mol / l), ammonium chloride (1.9 × 10-1mol / l), sodium citrate (1.2 × 10-1mol / l), sodium hypophosphite (1.7 × 10-1The gold plating layer 74 having a thickness of 0.03 μm was formed on the nickel plating layer 72 by immersing in an electroless plating solution containing 1 mol / l) at 80 ° C. for 7.5 minutes.
[0044]
(19) Thereafter, a solder paste is printed in the opening of the solder resist layer 70 and reflowed at 200 ° C. to form solder bumps (solder bodies) 76U and 76D, thereby completing the printed wiring board 10 (FIG. 7). reference).
[0045]
Subsequently, a printed wiring board and a manufacturing method thereof according to the second embodiment of the present invention will be described.
FIG. 15 shows a cross section of a printed wiring board according to the second embodiment applied to a package substrate. The printed wiring board 110 of the second embodiment is the same as that of the first embodiment described above with reference to FIG. However, in the first embodiment, the solder bumps 76D are disposed on the daughter board side, but in the second embodiment, the conductive connection pins 78 are disposed.
[0046]
Next, a method for manufacturing a printed wiring board according to the second embodiment will be described. Here, first, A. B. Production of a resin film for an interlayer resin insulation layer; The preparation of the resin filler will be described.
A. Preparation of resin film for interlayer resin insulation layer
30 parts by weight of bisphenol A type epoxy resin (epoxy equivalent 469, Epicoat 1001 manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.), 40 parts by weight of cresol novolac type epoxy resin (epoxy equivalent 215, Epiklon N-673 manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc.), triazine 30 parts by weight of a structure-containing phenol novolak resin (phenolic hydroxyl group equivalent 120, Phenolite KA-7052 manufactured by Dainippon Ink & Chemicals, Inc.) was dissolved in 20 parts by weight of ethyl diglycol acetate and 20 parts by weight of solvent naphtha with stirring. Thereto, terminal epoxidized polybutadiene rubber (Nagase Kasei Kogyo Denarex R-45EPT) 15 parts by weight, 2-phenyl-4,5-bis (hydroxymethyl) imidazole pulverized product 1.5 parts by weight, finely pulverized silica 2 parts by weight , Silicon Added to prepare an epoxy resin composition agent 0.5 parts by weight.
The obtained epoxy resin composition was applied on a PET film having a thickness of 38 μm using a roll coater so that the thickness after drying was 50 μm, and then dried at 80 to 120 ° C. for 10 minutes, whereby an interlayer resin was obtained. A resin film for an insulating layer was produced.
[0047]
B. Preparation of resin filler
100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell Co., Ltd., molecular weight: 310, YL983U), SiO having an average particle diameter of 1.6 μm and a maximum particle diameter of 15 μm or less coated with a silane coupling agent on the surface2 170 parts by weight of spherical particles (manufactured by Adtech, CRS 1101-CE) and 1.5 parts by weight of a leveling agent (Perenol S4, manufactured by San Nopco) are placed in a container and mixed by stirring. A 49 Pa · s resin filler was prepared.
As the curing agent, 6.5 parts by weight of an imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd., 2E4MZ-CN) was used.
[0048]
Method for manufacturing printed wiring board
(1) A copper-clad laminate 30A in which 18 μm copper foil 32 is laminated on both surfaces of a substrate 30 made of glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin having a thickness of 0.8 mm is used as a starting material (FIG. 9). (See (A)). First, this copper clad laminate 30A is made of NaOH (10 g / l), NaClO.2 (40 g / l), NaThree POFour Blackening treatment using an aqueous solution containing (6 g / l) as a blackening bath (oxidation bath), and NaOH (10 g / l), NaBHFour A reduction treatment using an aqueous solution containing (6 g / l) as a reduction bath was performed to form a roughened surface 32β on the entire surface of the copper foil 32 (see FIG. 9B).
[0049]
(2) Next, the substrate 30 is placed on the table of the carbonic acid laser device described above with reference to FIG. 8, and irradiated with a carbon dioxide gas laser to form the through-hole 33 as shown in FIG. 9C. . In the manufacturing method of the second embodiment, the surface of the copper foil 32 is roughened and then irradiated with a laser to form the through-hole 33. Therefore, reflection is suppressed and the inside of the through-hole 33 extends from the opening. The burr portion of the copper foil 32 does not become large.
[0050]
(3) Then, the burr portion of the copper foil 32 extending from the opening to the inside from the opening of the through hole 33 is dissolved and removed with an etching solution (see FIG. 9D). Here, ferric chloride, cupric chloride, hydrogen peroxide / sulfuric acid, alkali etchant, or the like can be used as an etching solution for dissolution. Further, burrs can be removed by using an acid such as sulfuric acid, nitric acid or hydrochloric acid. Further, it is possible to remove burrs using an oxidizing agent such as chromium or permanganate. When an oxidizing agent is used, desmear treatment in the through-hole 33 can be performed simultaneously with the dissolution of the burr portion. Since the burrs are dissolved, the openability of the through holes 33 is enhanced.
[0051]
Then, after immersing in an electroless plating solution and depositing a copper plating film on the side wall of the through hole 33 to form a through hole 36 (FIG. 10A), the substrate is etched into a pattern according to a conventional method. An inner layer copper pattern (lower conductor circuit) 34 was formed on both sides of the substrate (FIG. 10B).
[0052]
(4) The substrate on which the lower conductor circuit 34 is formed is washed with water and dried, and then an etching solution is sprayed on both surfaces of the substrate to spray the surface of the lower conductor circuit 34, the surface of the land 36a of the through hole 36, and the inner wall. By etching, a roughened surface 34β was formed on the entire surface of the lower conductor circuit 34, and a roughened layer 36β was formed on the land surface and inner wall of the through hole (see FIG. 10C). As an etching solution, a mixture of 10 parts by weight of imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, 5 parts by weight of potassium chloride and 78 parts by weight of ion-exchanged water was used.
[0053]
(5) After adjusting the resin filler described in B above, within 24 hours after adjustment by the following method, the through hole 36 and the outer edge of the conductor circuit 34 and the conductor circuit non-formed portion on one side of the substrate 30 A layer of the resin filler 40 was formed on the part (see FIG. 10D).
That is, first, the resin filler 40 was pushed into the through hole 36 using a squeegee and then dried at 100 ° C. for 20 minutes. Next, a mask having an opening corresponding to the conductor circuit non-forming portion is placed on the substrate, and a layer of the resin filler 40 is formed on the conductor circuit non-forming portion, which is a recess, using a squeegee. Drying was performed at 20 ° C. for 20 minutes. In this embodiment, since the burr | flash part of the copper foil 32 extended inside from the opening part of the through-hole 33 is removed, when the resin filler 40 is filled into the through-hole 33, the copper foil 32 and resin filling are carried out. Bubbles do not remain between the material 40 and the reliability of the through hole 36 can be improved.
[0054]
(6) The surface of the inner layer copper pattern 4 and the surface of the land 36a of the through-hole 36 are polished on one side of the substrate after the above processing (5) by belt sander polishing using # 600 belt polishing paper (manufactured by Sankyo Rikagaku). Then, the resin filler 40 was polished so as not to remain, and then buffed to remove scratches due to the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate.
Next, heat treatment was performed at 100 ° C. for 1 hour and 150 ° C. for 1 hour to cure the resin filler 40.
[0055]
In this way, the surface layer portion of the resin filler 40 and the surface of the lower conductor circuit 34 formed in the through hole 36 and the conductor circuit non-forming portion are flattened, and the resin filler 40 and the side surface of the lower conductor circuit 34 are roughened. An insulating substrate was obtained in which the inner wall surface of the through hole 36 and the resin filler 40 were firmly adhered to each other through the roughened surface 34β (see FIG. 11A). . That is, by this step, the surface of the resin filler 40 and the surface of the lower conductor circuit 34 are flush with each other.
[0056]
(7) After washing the substrate with water and acid degreasing, soft etching is performed, and then an etching solution is sprayed on both sides of the substrate to spray the surface of the lower conductor circuit 34, the surface of the land 36a of the through hole 36, and the inner wall. By etching, a roughened surface 34β was formed on the entire surface of the lower conductor circuit 34, and a roughened layer 36β was formed on the surface of the land 36a of the through hole (see FIG. 11B).
As an etchant, an etchant (MEC Etch Bond, manufactured by MEC Co.) consisting of 10 parts by weight of imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, and 5 parts by weight of potassium chloride was used.
[0057]
(8) A resin film for an interlayer resin insulation layer that is slightly larger than the substrate prepared in A above is placed on both sides of the substrate, and the pressure is 4 kgf / cm.2 Then, after temporarily crimping and cutting under conditions of a temperature of 80 ° C. and a crimping time of 10 seconds, an interlayer resin insulation layer 50 was formed by pasting using a vacuum laminator apparatus by the following method (FIG. 11C). reference). That is, a resin film for an interlayer resin insulation layer is placed on a substrate with a vacuum degree of 0.5 Torr and a pressure of 4 kgf / cm.2 The film was subjected to main pressure bonding under conditions of a temperature of 80 ° C. and a pressure bonding time of 60 seconds, and then thermally cured at 170 ° C. for 30 minutes.
[0058]
(9) A mask 49 having a through hole 49a having a thickness of 1.2 mm is placed on the interlayer resin insulation layer 50. And CO of wavelength 9.4μm2 A via hole opening 48 having a diameter of 80 μm was formed in the interlayer resin insulating layer 50 with a gas laser under conditions of a beam diameter of 4.0 mm, a pulse width of 8.0 μsec, a mask through-hole diameter of 1.0 mm, and one shot. (See FIG. 11D).
[0059]
(10) The substrate 30 on which the via hole opening 48 is formed is immersed in an 80 ° C. solution containing 60 g / l of permanganic acid for 10 minutes to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the interlayer resin insulation layer 50. As a result, the surface of the interlayer resin insulating layer 50 including the inner wall of the via hole opening 48 was roughened (see FIG. 12A).
[0060]
(11) Next, the substrate after the above treatment was immersed in a neutralization solution (manufactured by Shipley Co., Ltd.) and then washed with water. Further, by applying a palladium catalyst to the surface of the roughened substrate (roughening depth 3 μm), catalyst nuclei are attached to the surface of the interlayer resin insulating layer 50 and the inner wall surface of the via hole opening 48. It was.
[0061]
(12) Next, the substrate was immersed in an electroless copper plating aqueous solution having the following composition to form an electroless copper plating film 51 having a thickness of 0.6 to 3.0 μm over the entire rough surface (FIG. 12 ( B)).
[Electroless plating aqueous solution]
NiSOFour                   0.003 mol / l
Tartaric acid 0.200 mol / l
Copper sulfate 0.030 mol / l
HCHO 0.050 mol / l
NaOH 0.100 mol / l
α, α'-bipyridyl 40 mg / l
Polyethylene glycol (PEG) 0.10 g / l
[Electroless plating conditions]
40 minutes at 35 ° C liquid temperature
[0062]
(13) A commercially available photosensitive dry film is affixed to the electroless copper plating film 51, a mask is placed, and 100 mJ / cm2 Then, a plating resist 54 having a thickness of 30 μm was provided by developing with a 0.8% aqueous sodium carbonate solution (see FIG. 12C).
[0063]
(14) Next, the substrate is washed with 50 ° C. water and degreased, washed with 25 ° C. water and further washed with sulfuric acid, and then subjected to electrolytic copper plating under the following conditions to obtain an electrolytic copper having a thickness of 20 μm. A plating film 56 was formed (see FIG. 13A).
(Electrolytic plating aqueous solution)
Sulfuric acid 2.24 mol / l
Copper sulfate 0.26 mol / l
Additive 19.5 ml / l
(Manufactured by Atotech Japan, Kaparaside HL)
[Electrolytic plating conditions]
Current density 1 A / dm2
65 minutes
Temperature 22 ± 2 ° C
[0064]
(15) After stripping and removing the plating resist 54 with 5% NaOH, the electroless plating film 51 under the plating resist 54 is etched and removed with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide to remove the electroless copper plating film. A conductor circuit (including via hole 60) 58 having a thickness of 18 μm formed of 51 and electrolytic copper plating film 56 was formed (see FIG. 13B).
[0065]
(16) The same treatment as in (7) was performed, and a roughened surface 62 was formed with an etching solution containing a cupric complex and an organic acid (see FIG. 13C).
[0066]
(17) By repeating the steps (8) to (16), an upper interlayer resin insulation layer 160, a conductor circuit 158 and a via hole 160 were further formed to obtain a multilayer wiring board (FIG. 14A). reference).
[0067]
(18) Next, a solder resist composition similar to that of the first embodiment is applied to both surfaces of the multilayer wiring board at a thickness of 20 μm, and dried at 70 ° C. for 20 minutes and 70 ° C. for 30 minutes. Then, a photomask having a thickness of 5 mm on which the pattern of the opening of the solder resist is drawn is brought into close contact with the solder resist layer and 1000 mJ / cm.2 Were exposed to UV light and developed with DMTG solution to form openings 71U and 71D having a diameter of 200 μm.
Further, the solder resist layer is cured by heating at 80 ° C. for 1 hour, at 100 ° C. for 1 hour, at 120 ° C. for 1 hour, and at 150 ° C. for 3 hours. A 20 μm solder resist pattern layer 70 was formed (FIG. 14B). A commercially available solder resist composition can also be used as the solder resist composition.
[0068]
(19) Next, the substrate on which the solder resist layer 70 is formed is nickel chloride (2.3 × 10-1mol / l), sodium hypophosphite (2.8 × 10-1mol / l), sodium citrate (1.6 × 10-1The nickel plating layer 72 having a thickness of 5 μm was formed in the openings 71U and 71D by immersing in an electroless nickel plating solution having a pH of 4.5 containing 1 mol / l). Further, the substrate was made of potassium gold cyanide (7.6 × 10 6-3mol / l), ammonium chloride (1.9 × 10-1mol / l), sodium citrate (1.2 × 10-1mol / l), sodium hypophosphite (1.7 × 10-1The gold plating layer 74 having a thickness of 0.03 μm was formed on the nickel plating layer 72 by immersing in an electroless gold plating solution containing (mol / l) at 80 ° C. for 7.5 minutes (FIG. 14C )).
[0069]
(20) Thereafter, a solder paste containing tin-lead is printed in the opening of the solder resist layer 70 on the surface on which the IC chip of the substrate is placed, and further, the tin-lead is formed in the opening of the solder resist layer 70 on the other surface. After the solder paste containing antimony was printed, the solder bumps 76U were provided on the upper surface by reflowing at 200 ° C. And the conductive connection pin 78 was arrange | positioned in the lower surface, and the printed circuit board 110 was manufactured (refer FIG. 15).
[0070]
In the above-described embodiment, an example in which a through hole is provided in a core substrate of a multilayer build-up wiring board with a laser has been described. The present invention can also be applied to a manufacturing method of a single printed wiring board to be connected or a printed wiring board in which a plurality of core substrates are laminated.
[0071]
As a comparative example, after forming through holes with a laser, the same printed wiring board as that of the above-described embodiment was formed without passing through a process using an etching solution, an acid, or an oxidizing agent.
When the printed wiring board of this comparative example was tested under heat cycle conditions, the conductor layer was disconnected in the through hole, or the through hole portion was not flat, and the conductor formed in the interlayer resin insulation layer or the upper layer Caused a crack in the circuit. As described above with reference to FIG. 16, this is because when the through hole is formed in the core substrate with a laser, the metal film remains as a burr, and when the conductor layer is formed in the through hole, It is considered that bubbles remained between the conductor layers, and when the through hole was filled with a filler, bubbles remained or insufficient filling occurred.
[Brief description of the drawings]
FIGS. 1A, 1B, 1C, and 1D are manufacturing process diagrams of a printed wiring board according to a first embodiment of the present invention.
FIGS. 2A, 2B, 2C and 2D are manufacturing process diagrams of a printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
3A, 3B, 3C, and 3D are manufacturing process diagrams of the printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
4A, 4B, and 4C are manufacturing process diagrams of a printed wiring board according to the first embodiment of the present invention. FIG.
5A, 5B, and 5C are manufacturing process diagrams of the printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
6A and 6B are manufacturing process diagrams of the printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a cross-sectional view of the printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.
FIG. 8 is an explanatory diagram of a carbon dioxide laser device that forms an opening.
9A, 9B, 9C, and 9D are manufacturing process diagrams of a printed wiring board according to a second embodiment of the present invention.
FIGS. 10A, 10B, 10C, and 10D are manufacturing process diagrams of a printed wiring board according to a second embodiment of the present invention.
11 (A), (B), (C), and (D) are manufacturing process diagrams of a printed wiring board according to a second embodiment of the present invention.
12A, 12B, and 12C are manufacturing process diagrams of a printed wiring board according to a second embodiment of the present invention.
FIGS. 13A, 13B, and 13C are manufacturing process diagrams of a printed wiring board according to a second embodiment of the present invention.
14A, 14B, and 14C are manufacturing process diagrams of a printed wiring board according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 15 is a cross-sectional view of a printed wiring board according to a second embodiment of the present invention.
16 (A), (B), (C), and (D) are manufacturing process diagrams of a printed wiring board according to the prior art.
[Explanation of symbols]
30 core substrate
30A copper-clad laminate
32 Copper foil (metal film)
33 through holes
34 Conductor circuit
36 Bahia Hall
40 Resin filler
50 Interlayer resin insulation layer
58 Conductor circuit
60 Bahia Hall
70 Solder resist layer
76U, 76D Solder bump
150 Interlayer resin insulation layer
158 Conductor circuit
160 Viahole

Claims (2)

少なくとも以下の(A)〜(D)の工程を備えることを特徴とするプリント配線板の製造方法:
(A)金属膜の積層された基板の表面を黒化還元処理で粗化する工程と、
(B)前記基板にレーザを照射し、スルーホールとなる複数個の通孔を形成する工程と、
(C)酸化剤を用いて前記通孔の開口部から内側へ延在する金属膜を溶解すると同時に、前記通孔内をデスミヤ処理する工程と、
(D)前記通孔内に充填材を充填する工程。
A method for producing a printed wiring board comprising at least the following steps (A) to (D):
(A) a step of roughening the surface of the substrate on which the metal film is laminated by blackening reduction treatment ;
(B) irradiating the substrate with a laser to form a plurality of through holes to be through holes;
(C) a step of desmearing the inside of the through-hole while simultaneously dissolving the metal film extending inward from the opening of the through-hole using an oxidizing agent;
(D) A step of filling the through hole with a filler.
通孔内に充填剤を充填した後、層間樹脂絶縁層を積層し、該層間樹脂絶縁層にレーザで開口を形成した後、開口内をめっき充填してバイアホールを形成することを特徴とする請求項のプリント配線板の製造方法。Filling the through hole with a filler, laminating an interlayer resin insulation layer, forming an opening in the interlayer resin insulation layer with a laser, and then filling the opening with plating to form a via hole The manufacturing method of the printed wiring board of Claim 1 .
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