JP4400492B2 - 電子装置 - Google Patents

電子装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4400492B2
JP4400492B2 JP2005085406A JP2005085406A JP4400492B2 JP 4400492 B2 JP4400492 B2 JP 4400492B2 JP 2005085406 A JP2005085406 A JP 2005085406A JP 2005085406 A JP2005085406 A JP 2005085406A JP 4400492 B2 JP4400492 B2 JP 4400492B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead terminal
bonding wire
lead
bonding
electronic device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005085406A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006269719A (ja
Inventor
真治 太田
本田  匡宏
真嗣 今田
昭喜 浅井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2005085406A priority Critical patent/JP4400492B2/ja
Publication of JP2006269719A publication Critical patent/JP2006269719A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4400492B2 publication Critical patent/JP4400492B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45117Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
    • H01L2224/45124Aluminium (Al) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48475Connecting portions connected to auxiliary connecting means on the bonding areas, e.g. pre-ball, wedge-on-ball, ball-on-ball
    • H01L2224/48476Connecting portions connected to auxiliary connecting means on the bonding areas, e.g. pre-ball, wedge-on-ball, ball-on-ball between the wire connector and the bonding area
    • H01L2224/48477Connecting portions connected to auxiliary connecting means on the bonding areas, e.g. pre-ball, wedge-on-ball, ball-on-ball between the wire connector and the bonding area being a pre-ball (i.e. a ball formed by capillary bonding)
    • H01L2224/48478Connecting portions connected to auxiliary connecting means on the bonding areas, e.g. pre-ball, wedge-on-ball, ball-on-ball between the wire connector and the bonding area being a pre-ball (i.e. a ball formed by capillary bonding) the connecting portion being a wedge bond, i.e. wedge on pre-ball
    • H01L2224/4848Connecting portions connected to auxiliary connecting means on the bonding areas, e.g. pre-ball, wedge-on-ball, ball-on-ball between the wire connector and the bonding area being a pre-ball (i.e. a ball formed by capillary bonding) the connecting portion being a wedge bond, i.e. wedge on pre-ball outside the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/485Material
    • H01L2224/48505Material at the bonding interface
    • H01L2224/48599Principal constituent of the connecting portion of the wire connector being Gold (Au)
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/485Material
    • H01L2224/48505Material at the bonding interface
    • H01L2224/48699Principal constituent of the connecting portion of the wire connector being Aluminium (Al)
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/49105Connecting at different heights
    • H01L2224/49109Connecting at different heights outside the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/494Connecting portions
    • H01L2224/4943Connecting portions the connecting portions being staggered
    • H01L2224/49433Connecting portions the connecting portions being staggered outside the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/85009Pre-treatment of the connector or the bonding area
    • H01L2224/85051Forming additional members, e.g. for "wedge-on-ball", "ball-on-wedge", "ball-on-ball" connections
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/91Methods for connecting semiconductor or solid state bodies including different methods provided for in two or more of groups H01L2224/80 - H01L2224/90
    • H01L2224/92Specific sequence of method steps
    • H01L2224/922Connecting different surfaces of the semiconductor or solid-state body with connectors of different types
    • H01L2224/9222Sequential connecting processes
    • H01L2224/92242Sequential connecting processes the first connecting process involving a layer connector
    • H01L2224/92247Sequential connecting processes the first connecting process involving a layer connector the second connecting process involving a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01013Aluminum [Al]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01014Silicon [Si]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01047Silver [Ag]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01078Platinum [Pt]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/014Solder alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Description

本発明は、電子部品と複数個のリード端子とをボンディングワイヤで接続してなる電子装置に関する。
この種の電子装置として、QFP(Quad Flat Package)構造を有する電子装置や、QFNパッケージ(Quad Flat Non−Leaded Package)構造を有する電子装置(たとえば、特許文献1参照)などのリードフレームを用いた樹脂封止型のパッケージが提案されている。
このような電子装置は、一般的に、一面がボンディングワイヤ接続用の面となっている電子部品と、電子部品の周囲に位置する複数個のリード端子とを備え、電子部品の一面と各々のリード端子とがボンディングワイヤにより電気的に接続され、電子部品、ボンディングワイヤおよびリード端子がモールド樹脂によって封止され、リード端子の一部がモールド樹脂から露出した構成を有している。
特許第3430976号公報
図18は、従来のこの種のリードフレームを用いた一般的な電子装置の具体的構成を示す図であり、(a)は概略平面図、(b)は(a)中のA−A一点鎖線に沿った概略断面図である。
リードフレームのアイランド11の上に、ICチップなどの電子部品20がダイボンド材21を介して搭載されており、この電子部品20の周囲には、リードフレームの複数個のリード端子12が配置されている。
ここでは、複数個のリード端子12は、電子部品20の一面20aに対して比較的遠くに位置する外周側のものと、電子部品20の一面20aに対して比較的近くに位置する内周側のものとからなる。
そして、これら外周側のリード端子と内周側のリード端子とが2列に配置された形となっており、いわゆる2列構造のQFNパッケージ(Quad Flat Non−Leaded Package)構造となっている。
また、電子部品20の一面20aと、個々のリード端子12とが、ボンディングワイヤ30により結線され電気的に接続されている。ここで、この種の電子装置においては、ワイヤボンディングは、電子部品20を第1ボンディング側、リード端子12を第2ボンディング側として行われるのが一般的である。
そして、これら電子部品20、ボンディングワイヤ30およびリード端子12がモールド樹脂40によって封止されており、リード端子12の一部がモールド樹脂40の下面から露出した構成となっている。
ここで、複数個のリード端子12のうち第1のリード端子12aに接続されたボンディングワイヤ30が、電子部品20の一面20aと直交する方向において重なる位置に存在するものを第2のリード端子12bとする。
図18に示される電子装置においては、第1のリード端子12aは、電子部品20の一面20aに対して比較的遠い位置にあるものであり、第2のリード端子12bは、電子部品20の一面20aに対して比較的近い位置にあるものである。
そして、特に、図18(a)に示されるように、第1のリード端子12aに接続されたボンディングワイヤ30は、電子部品20の一面20aから第2のリード端子12bの直上をまたぐように通って、第1のリード端子12aに接続されている。つまり、第1のリード端子12aに接続されているボンディングワイヤ30は、平面的に見て第2のリード端子12bと交差している。
また、図18(b)に示されるように、各ボンディングワイヤ30においては、第2ボンディング側であるリード端子12との接続部30a、30b寄りの部位は、第1ボンディング側である電子部品20との接続部寄りの部位に比べて、ループのふくらみが小さく、かなり低い。
そのため、第1のリード端子12aに接続されているボンディングワイヤ30のように、第2のリード端子12bと交差しているワイヤが存在すると、ボンディングワイヤ30同士の距離、および、ボンディングワイヤ30と他電位のリード端子12bとの距離が、非常に小さくなってしまう箇所が発生する。
そして、このようなワイヤ30同士の距離、および、ワイヤ30と他電位のリード端子12bとの距離が非常に小さい箇所が発生すると、ボンディング時におけるワイヤ形状のばらつきや、モールド樹脂40による封止時のワイヤ流れなどによって、ボンディングワイヤ30同士が接触したり、ボンディングワイヤ30と当該ボンディングワイヤ30が接続されるリード端子12以外のリード端子12とが接触したりする。
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、電子部品と複数個のリード端子とをボンディングワイヤで接続してなる電子装置において、リード端子側の接続部近傍にて、ボンディングワイヤ同士が接触したり、ボンディングワイヤとリード端子とが接触するのを防止することを目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明では、一面(20a)がボンディングワイヤ(30)接続用の面となっている電子部品(20)と、電子部品(20)の周囲に位置する複数個のリード端子(12)とを備え、電子部品(20)の一面(20a)と各々のリード端子(12)とがボンディングワイヤ(30)により電気的に接続されている電子装置において、次のような点を特徴としている。
すなわち、本電子装置においては、複数個のリード端子(12)のうち第1のリード端子(12a)に接続されたボンディングワイヤ(30)が電子部品(20)の一面(20a)と直交する方向において重なる位置に存在するものを、第2のリード端子(12b)としたとき、第2のリード端子(12b)のうちボンディングワイヤ(30)が接続される部位を、第1のリード端子(12a)のうちボンディングワイヤ(30)が接続される部位よりも薄くすることにより、電子部品(20)の一面(20a)と直交する方向において、第2のリード端子(12b)のうちボンディングワイヤ(30)が接続される部位が、第1のリード端子(12a)のうちボンディングワイヤ(30)が接続される部位よりも低くなっており、電子部品(20)の一面(20a)と直交する方向において、第2のリード端子(12b)に接続されたボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部(30b)寄りの部位が、第1のリード端子(12a)に接続されたボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部(30a)寄りの部位よりも低くなっていることを特徴としている。
それによれば、電子部品(20)の一面(20a)と直交する方向において、第1のリード端子(12a)と第2のリード端子(12b)との間で、ボンディングワイヤ(30)におけるリード端子との接続部寄りの部位は、第2のリード端子(12b)側のワイヤ(30)の方が第1のリード端子(12a)側のワイヤ(30)よりも、低くなったものにできる。
そのため、このような高低差を付けた分、第2のリード端子(12b)と重なるように第1のリード端子(12a)に接続されるボンディングワイヤ(30)は、第2のリード端子(12b)および第2のリード端子(12b)に接続されるボンディングワイヤ(30)とは、十分な距離を確保できる。
したがって、本発明によれば、電子部品(20)と複数個のリード端子(12)とをボンディングワイヤ(30)で接続してなる電子装置において、リード端子(12)側の接続部近傍にて、ボンディングワイヤ(30)同士が接触したり、ボンディングワイヤ(30)とリード端子(12)とが接触するのを防止することができる。
請求項2に記載の発明においては、複数個のリード端子(12)のうち第1のリード端子(12a)に接続されたボンディングワイヤ(30)が電子部品(20)の一面(20a)と直交する方向において重なる位置に存在するものを、第2のリード端子(12b)としたとき、第1のリード端子(12a)のうちボンディングワイヤ(30)が接続される部位には、別体の導電性部材(14、15)が取り付けられることにより、電子部品(20)の一面(20a)と直交する方向において、第2のリード端子(12b)に接続されたボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部(30b)が、第1のリード端子(12a)に接続されたボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部(30a)よりも低くなっており、電子部品(20)の一面(20a)と直交する方向において、第2のリード端子(12b)に接続されたボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部(30b)寄りの部位が、第1のリード端子(12a)に接続されたボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部(30a)寄りの部位よりも低くなっていることを特徴としている。
それによれば、第1のリード端子(12a)に接続されるボンディングワイヤ(30)において、リード端子(12a)との接続部(30a)は、この導電性部材(14、15)の厚さの分、電子部品(20)の一面(20a)と直交する方向において、第2のリード端子(12b)に接続されたボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部30bよりも高くなる。
そのため、本発明によっても、上記した第1のリード端子(12a)と第2のリード端子(12b)との間におけるボンディングワイヤ(30)の高低差を適切に実現することができる。ここで、請求項3に記載の発明では、請求項1に記載の電子装置において、電子部品(20)の一面(20a)と直交する方向において、第2のリード端子(12b)に接続されたボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部(30b)が、第1のリード端子(12a)に接続されたボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部(30a)よりも低くなっていることを特徴としている。それによって、ボンディングワイヤ(30)におけるリード端子との接続部寄りの部位については、第2のリード端子(12b)側のワイヤ(30)の方が第1のリード端子(12a)側のワイヤ(30)よりも、低くなっているという構成を、適切に実現することができる。
また、請求項に記載の発明では、請求項1〜請求項に記載の電子装置において、複数個のリード端子(12)は、電子部品(20)の一面(20a)との距離が異なるものからなり、第1のリード端子(12a)は、電子部品(20)の一面(20a)に対して比較的遠いものであり、第2のリード端子(12b)は、電子部品(20)の一面(20a)に対して比較的近いものであることを特徴としている。
また、請求項に記載の発明では、請求項1〜請求項に記載の電子装置において、電子部品(20)、ボンディングワイヤ(30)およびリード端子(12)がモールド樹脂(40)によって封止されており、リード端子(12)の一部がモールド樹脂(40)から露出していることを特徴としている。
なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示す一例である。
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各図相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、説明の簡略化を図るべく、図中、同一符号を付してある。
(第1実施形態)
図1は、本発明の第1実施形態に係る電子装置としてのリードフレームを用いたQFNパッケージ(Quad Flat Non−Leaded Package)構造を有する電子装置100の構成を示す図であり、(a)は同電子装置100の概略平面図、(b)は、(a)中のB−B一点鎖線に沿った概略断面図である。
[構成等]
図1に示されるように、本電子装置100におけるリードフレーム10は、アイランド11とアイランド11の周囲に位置するリード端子12とを備えている。このリードフレーム10は、Cuや42アロイなどの通常のリードフレーム材料からなるものであり、プレス加工やエッチング加工などにより形成することができる。
アイランド11上には、電子部品20が搭載されている。本例では、電子部品として半導体素子20が搭載されている。この半導体素子20は、シリコン半導体などからなる半導体基板に対して半導体プロセスにより、トランジスタ素子などの素子を形成してなるICチップなどとして構成されたものである。
ここでは、半導体素子20は、ダイボンド材21を介してアイランド11に接着固定されている。ここで、ダイボンド材21としては、はんだや導電性接着剤、Agペーストなど通常の電子装置分野で適用されるものを採用できる。
また、本例では、アイランド11は矩形板状のものであり、アイランド11の四隅部には、吊りリード13が設けられている。なお、吊りリード13は、よく知られているように、リードフレームのカット工程の前までに、アイランド11をリードフレームのフレーム部に連結して一体化させておくためのものである。
そして、リード端子12は、アイランド11の4辺の外周において複数本のものが配列されている。ここでは、比較的長いリード端子12と比較的短いリード端子12とが、交互に設けられている。
それにより、半導体素子20の周囲に位置する複数個のリード端子12は、半導体素子20の一面20aに対して比較的遠くに位置する外周側のものと、半導体素子20の一面20aに対して比較的近くに位置する内周側のものとからなる。
そして、本実施形態では、図1に示されるように、これら外周側のリード端子と内周側のリード端子とが2列に配置された形となっており、いわゆる2列構造のQFNパッケージ構造となっている。
そして、図1に示されるように、半導体素子20の一面20aと各リード端子12とは、ボンディングワイヤ30により結線され電気的に接続されている。このボンディングワイヤ30は、Auやアルミニウムなどの電子装置の分野で通常用いられるワイヤ材料からなるものである。
そして、本実施形態の電子装置100においては、このボンディングワイヤ30は、半導体素子20を第1ボンディング側、リード端子12を第2ボンディング側として、ボールボンディングやウェッジボンディングなどの通常のワイヤボンディング法により形成されている。
また、アイランド11、リード端子12、半導体素子20およびボンディングワイヤ30は、モールド樹脂40により包み込まれるように封止されている。このモールド樹脂40は、エポキシ系樹脂などの通常のモールド材料を用いてトランスファーモールド法などにより形成できるものである。
さらに、本電子装置100では、図1(b)に示されるように、アイランド11の下面、および、各リード端子12の下面がモールド樹脂40の下面から露出した構成となっている。
ここでは、リード端子12の露出面の平面形状は円形状となっており、その露出部は、アイランド11の4辺の外周において2列に配置された形態となっている。なお、リード端子12の露出部の平面形状は、円形に限られるものではないことはもちろんであり、四角形などでもよい。
図示しないが、たとえば、この電子装置100は、外部基板上へ搭載され、これらアイランド11およびリード端子12のモールド樹脂40からの露出部が、当該基板の電極に対してはんだなどを介して接続される。それによって、この電子装置100は、外部基板上に実装される。
このような本実施形態の電子装置100において、複数個のリード端子12のうち第1のリード端子12aに接続されたボンディングワイヤ30が、半導体素子20の一面20aと直交する方向(図1(a)では紙面垂直方向、図1(b)では紙面上下方向)において重なる位置に存在するものを第2のリード端子12bとする。
図1に示される電子装置100においては、第1のリード端子12aは、半導体素子20の一面20aに対して比較的遠い位置にある外周側のものからなり、第2のリード端子12bは、半導体素子20の一面20aに対して比較的近い位置にある内周側のものからなる。
さらにいうならば、図1(a)に示されるように、第1のリード端子12aに接続されたボンディングワイヤ30は、半導体素子20の一面20aから第2のリード端子12bの直上をまたぐように通って、第1のリード端子12aに接続されている。つまり、第1のリード端子12aに接続されているボンディングワイヤ30は、平面的に見て第2のリード端子12bと交差している。
このような第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとの関係において、本実施形態では、電子部品である半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第2のリード端子12bに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子12bとの接続部30bが、第1のリード端子12aに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子12aとの接続部30aよりも低くなっている。
本例では、図1(b)に示されるように、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位が、第1のリード端子12aのうちボンディングワイヤ30が接続される部位よりも薄くなっている。
それにより、半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位が、第1のリード端子12aのうちボンディングワイヤ30が接続される部位よりも低くなっており、その結果、上記したようなボンディングワイヤ30における2つの接続部30aと30bとの間の高低差が実現されている。
そして、このワイヤ30における接続部30a、30b間の高低差によって、図1(b)に示されるように、半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第2のリード端子12bに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子12bとの接続部30b寄りの部位が、第1のリード端子12aに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子12aとの接続部30a寄りの部位よりも低くなっている。
[製造方法等]
次に、このリードフレームを用いたQFNパッケージ構造を有する電子装置100の製造方法について、図2、図3も参照して述べる。図2、図3は、本電子装置100の製造方法を示す工程図である。
本製造方法においては、エッチングを行うことによって、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位を、第1のリード端子12aのうちボンディングワイヤ30が接続される部位よりも薄い薄肉部とする。
まず、図2(a)、(b)に示されるように、平板状のリードフレーム素材10aを用意し、このリードフレーム素材10aに対して感光性樹脂などからなるマスクM1をフォト工程などにより、上記薄肉部となる部位がマスクM1の開口部となるようにパターニングする。
その後、図2(c)に示されるように、このマスクM1を形成したリードフレーム素材10aを、その両面より化学的にエッチングする。それにより、リードフレーム素材10aにおいてエッチングされた部分が、部分的に薄肉部となる。
さらに、図2(d)、(e)に示されるように、この素材10aに対して、アイランド11やリード端子12を形成するための感光性樹脂などからなるマスクM2を、フォト工程などにより形成し、もう一度エッチング加工を行う。それにより、アイランド11およびリード端子12が形成されたリードフレーム10を作成する。
次に、図3(a)、(b)に示されるように、このリードフレーム10において、アイランド11上に半導体素子20をダイボンド材21を介して搭載固定し、半導体素子20とリード端子12との間でワイヤボンディングを行い、これらの間をボンディングワイヤ30で結線する。
次に、ここまでの工程に共されたワークを、樹脂成型用の金型に設置し、トランスファーモールド成形などによりモールド樹脂40による封止を行う。それにより、アイランド11、リード端子12、半導体素子20、ボンディングワイヤ30がモールド樹脂40により封止される。
その後、モールド樹脂40の側面から突出するリードフレーム10の部分のカットなどを行う。こうして、上記図1に示される本実施形態のQFNパッケージ構造を有する電子装置100ができあがる。
[効果等]
ところで、本実施形態によれば、一面20aがボンディングワイヤ30接続用の面となっている電子部品としての半導体素子20と、半導体素子20の周囲に位置する複数個のリード端子12とを備え、半導体素子20の一面20aと各々のリード端子12とがボンディングワイヤ30により電気的に接続されている電子装置において、次のような点を特徴とする電子装置100が提供される。
すなわち、本電子装置100においては、複数個のリード端子12のうち第1のリード端子12aに接続されたボンディングワイヤ30が半導体素子20の一面20aと直交する方向において重なる位置に存在するものを、第2のリード端子12bとしたとき、半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第2のリード端子12bに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子との接続部30b寄りの部位が、第1のリード端子12aに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子との接続部30a寄りの部位よりも低くなっていることを特徴としている。
それによれば、半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとの間で、ボンディングワイヤ30におけるリード端子との接続部寄りの部位が、第2のリード端子12b側のワイヤ30の方が第1のリード端子12a側のワイヤ30よりも低くなっている。
そのため、このような高低差を付けた分、第2のリード端子12bと重なるように第1のリード端子12aに接続されるボンディングワイヤ30は、第2のリード端子12bおよび第2のリード端子12bに接続されるボンディングワイヤ30に対して十分な距離を確保することができる。
そのため、ワイヤボンディング時におけるワイヤ形状のばらつきや、モールド樹脂40による封止時におけるワイヤ流れなどが生じても、第1のリード端子12aに接続されたボンディングワイヤ30と、これに重なる第2のリード端子12bおよび当該第2のリード端子12bに接続されたボンディングワイヤ30とが、接触することを、極力防止することができる。
したがって、本実施形態によれば、電子部品20と複数個のリード端子12とをボンディングワイヤ30で接続してなる電子装置100において、リード端子12側の接続部近傍にて、ボンディングワイヤ30同士が接触したり、ボンディングワイヤ30とリード端子12とが接触するのを防止することができる。
また、本実施形態の電子装置100においては、半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第2のリード端子12bに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子との接続部30bが、第1のリード端子12aに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子との接続部30aよりも低くなっていることも特徴のひとつである。
それによって、ボンディングワイヤ30におけるリード端子との接続部寄りの部位が、第2のリード端子12b側のワイヤ30の方が第1のリード端子12a側のワイヤ30よりも低くなっているという構成を、適切に実現することができる。
また、図1に示したように、本実施形態の電子装置100においては、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位を、第1のリード端子12aのうちボンディングワイヤ30が接続される部位よりも薄くすることにより、半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位を、第1のリード端子12aのうちボンディングワイヤ30が接続される部位よりも低くしていることも特徴のひとつである。
それによって、上記した第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとの間におけるボンディングワイヤ30の高低差を適切に実現している。
[変形例]
上記図2および上記図3に示される製造方法においては、エッチングを行うことによって、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位を、第1のリード端子12aのうちボンディングワイヤ30が接続される部位よりも薄い薄肉部としていた。
図4、図5は、このような薄肉部を有するリードフレーム10を形成する形成方法の他の例を示す工程図である。
図4に示される第1の変形例では、プレス加工を行うことによって、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位を、第1のリード端子12aのうちボンディングワイヤ30が接続される部位よりも薄い薄肉部とする。
図4(a)、(b)に示されるように、平板状のリードフレーム素材10aを用意し、このリードフレーム素材10aに対してアイランド11やリード端子12を形成するための感光性樹脂などからなるマスクM2を、フォト工程などにより形成する。
次に、図4(c)に示されるように、マスクM2が形成されたリードフレーム素材10aに対してエッチング加工を行うことにより、アイランド11およびリード端子12のパターンが形成されたリードフレーム10を作成する。
次に、図4(d)に示されるように、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位を、プレスすることによって押しつぶし、薄肉化する。
その後は、この薄肉部が形成されたリードフレーム10を用いて、上記製造方法と同様に、半導体素子20のマウント、ワイヤボンディング、樹脂モールドなどを行うことにより、電子装置100を製造することができる。
また、図5に示される第2の変形例では、リードフレーム素材10bとして、部分的に厚さの異なる異形材を用いることによって、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位を、第1のリード端子12aのうちボンディングワイヤ30が接続される部位よりも薄い薄肉部とする。
図5(a)に示されるように、異形材としてのリードフレーム素材10bを用意する。このリードフレーム素材10bは、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位となる部分が薄肉部となっている
次に、図5(b)、(c)に示されるように、このリードフレーム素材10bに対してアイランド11やリード端子12を形成するための感光性樹脂などからなるマスクM2を、フォト工程などにより形成し、エッチング加工を行う。それによって、アイランド11およびリード端子12、さらには、上記薄肉部が形成されたリードフレーム10が形成される。
その後は、このリードフレーム10を用いて、上記製造方法と同様に、半導体素子20のマウント、ワイヤボンディング、樹脂モールドなどを行うことにより、電子装置100を製造することができる。
そして、これら図4、図5に示される製造方法により形成されたリードフレーム10を用いて製造された電子装置100においても、上述したのと同様に、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位を、第1のリード端子12aのうちボンディングワイヤ30が接続される部位よりも薄くすることにより、上記した第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとの間におけるボンディングワイヤ30の高低差を適切に実現し、リード端子12側の接続部近傍にて、ボンディングワイヤ30同士が接触したり、ボンディングワイヤ30とリード端子12とが接触するのを防止することができる。
また、上記図1に示される例においては、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位を、第1のリード端子12aのうちボンディングワイヤ30が接続される部位よりも薄くすることにより、半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位を、第1のリード端子12aのうちボンディングワイヤ30が接続される部位よりも低くしていた。
それに対して、第1のリード端子12aおよび第2のリード端子12bのうち一方を曲げ加工することにより、半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位を、第1のリード端子12aのうちボンディングワイヤ30が接続される部位よりも低くしてもよい。このことについて、図6を参照して具体的に述べる。
図6に示される第3の変形例では、まず、平板状のリードフレーム素材10aを用意し(図6(a)参照)、このリードフレーム素材10aに対してアイランド11やリード端子12を形成するための感光性樹脂などからなるマスクM2を、フォト工程などにより形成し、エッチング加工を行う(図6(b)、(c)参照)。
その後、図6(d)に示されるように、第1のリード端子12aを曲げ加工することにより、半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位を、第1のリード端子12aのうちボンディングワイヤ30が接続される部位よりも低くする。
その後は、図6(e)に示されるように、このリードフレーム10を用いて上記製造方法と同様に、半導体素子20のマウント、ワイヤボンディング、樹脂モールドなどを行うことにより、電子装置100を製造することができる。
そして、この図6に示される製造方法により形成されたリードフレーム10を用いて製造された電子装置100においても、上述したのと同様に、上記した第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとの間におけるボンディングワイヤ30の高低差を適切に実現することができ、リード端子12側の接続部近傍にて、ボンディングワイヤ30同士が接触したり、ボンディングワイヤ30とリード端子12とが接触するのを防止することができる。
なお、図6では、第1のリード端子12aを曲げ加工したが、第2のリード端子12bを曲げ加工することにより、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位を、第1のリード端子12aのうちボンディングワイヤ30が接続される部位よりも低くしてもよい。
(第2実施形態)
図7は、本発明の第2実施形態に係る電子装置としてのQFNパッケージ構造を有する電子装置200の概略断面図である。
図7に示されるように、本実施形態の電子装置200も、上記第1実施形態と同様に、一面20aがボンディングワイヤ30接続用の面となっている電子部品としての半導体素子20と、半導体素子20の周囲に位置する複数個のリード端子12とを備え、半導体素子20の一面20aと各々のリード端子12とがボンディングワイヤ30により電気的に接続されている。
そして、このような電子装置200においても、半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第2のリード端子12bに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子との接続部30b寄りの部位が、第1のリード端子12aに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子との接続部30a寄りの部位よりも低くなっていることは、上記第1実施形態と同様である。
したがって、本実施形態によっても、電子部品20と複数個のリード端子12とをボンディングワイヤ30で接続してなる電子装置200において、リード端子12側の接続部近傍にて、ボンディングワイヤ30同士が接触したり、ボンディングワイヤ30とリード端子12とが接触するのを防止することができる。
ここにおいて、上記第1実施形態では、半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第2のリード端子12bのうちボンディングワイヤ30が接続される部位を、第1のリード端子12aのうちボンディングワイヤ30が接続される部位よりも低くすることにより、上記特徴点を実現していたが、本実施形態では、別体の導電性部材14を用いることで、同様の特徴を実現している。
すなわち、図7に示されるように、本実施形態の電子装置200においては、第1のリード端子12aのうちボンディングワイヤ30が接続される部位に、別体の導電性部材14が取り付けられている。ここでは、別体の導電性部材14は、Cuなどの金属からなるメッキ膜やプレート(箔)などである。
それによれば、第1のリード端子12aに接続されるボンディングワイヤ30において、リード端子12aとの接続部30aは、この導電性部材14の厚さの分、半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第2のリード端子12bに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子との接続部30bよりも高くなる。
つまり、本実施形態によれば、第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとで、ボンディングワイヤ30が接続される部位の厚さが同一であっても、上記実施形態と同様に、第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとの間におけるボンディングワイヤ30の高低差が適切に実現できるのである。
このような導電性部材14としてメッキ膜14を用いた場合の本実施形態の電子装置200の製造方法について、図8、図9を参照して述べる。図8、図9は、同製造方法を示す工程図である。
まず、図8(a)、(b)、(c)に示されるように、平板状のリードフレーム素材10aを用意し、このリードフレーム素材10aに対してメッキ膜14を形成するための感光性樹脂などからなるマスクM3を、フォト工程などにより形成し、メッキ処理を行い、メッキ膜14を形成する。
続いて、図8(d)に示されるように、マスクM3を剥離して除去し、リードフレーム素材10aに対してアイランド11やリード端子12を形成するための感光性樹脂などからなるマスクM4を、フォト工程などにより形成する。
次に、図9(a)に示されるように、マスクM4が形成されたリードフレーム素材10aに対してエッチング加工を行い、アイランド11およびリード端子12が形成されたリードフレーム10を形成する。
その後は、図9(b)、(c)に示されるように、このリードフレーム10を用いて上記製造方法と同様に、半導体素子20のマウント、ワイヤボンディング、樹脂モールドを行うことにより、本電子装置200を製造することができる。
[変形例]
図10は、本第2実施形態の変形例としてのQFNパッケージ構造を有する電子装置を示す概略断面図である。
この図10に示される変形例では、上記別体の導電性部材としてバンプ15を用いたものである。このバンプ15は、ボールボンディングなどにより形成された金などからなるスタッドバンプである。
このような導電性部材としてバンプ15を用いた場合の本例の電子装置の製造方法について、図11および図12を参照して述べる。図11、図12は、同製造方法を示す工程図である。
まず、図11(a)、(b)、(c)に示されるように、平板状のリードフレーム素材10aを用意し、このリードフレーム素材10aに対してアイランド11やリード端子12を形成するための感光性樹脂などからなるマスクM2を、フォト工程などにより形成し、さらに、エッチング加工を行い、アイランド11およびリード端子12が形成されたリードフレーム10を形成する。
次に、図11(d)に示されるように、アイランド11に半導体素子20をマウントする。そして、図12(a)に示されるように、まず、半導体素子20と第2のリード端子12bとの間でワイヤボンディングを行い、これら両者の間をボンディングワイヤ30で接続する。
続いて、図12(b)に示されるように、第1のリード端子12aにおけるボンディングワイヤ30と接続される部位に、ボールボンディングなどにより上記別体の導電性部材としてのバンプ15を形成する。
その後、図12(c)に示されるように、半導体素子20と第1のリード端子12aとの間でワイヤボンディングを行い、これら両者の間をボンディングワイヤ30およびバンプ15を介して接続する。その後は、モールドを行うことで、図10に示される電子装置ができあがる。
そして、この図10に示される電子装置によっても、第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとで、ボンディングワイヤ30が接続される部位の厚さが同一であっても、上記実施形態と同様に、第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとの間におけるボンディングワイヤ30の高低差が適切に実現でき、リード端子12側の接続部近傍にて、ボンディングワイヤ30同士が接触したり、ボンディングワイヤ30とリード端子12とが接触するのを防止することができる。
参考形態)
図13は、本発明の参考形態に係る電子装置としてのQFNパッケージ構造を有する電子装置300の概略断面図である。
図13に示されるように、本参考形態の電子装置300も、上記第1実施形態と同様に、一面20aがボンディングワイヤ30接続用の面となっている電子部品としての半導体素子20と、半導体素子20の周囲に位置する複数個のリード端子12とを備え、半導体素子20の一面20aと各々のリード端子12とがボンディングワイヤ30により電気的に接続された基本構成を有する。
ここにおいて、図13に示されるように、本参考形態の電子装置300では、半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第2のリード端子12bに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子との接続部30bが、第1のリード端子12aに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子との接続部30aと同じ高さとなっている。
しかしながら、本参考形態では、第1のリード端子12aと半導体素子20との間においては、第1のリード端子12aを第1ボンディング側とし、半導体素子20の一面20aを第2ボンディング側としてボンディングワイヤ30による接続が行われており、一方、第2のリード端子12bと半導体素子20との間においては、それとは反対に、半導体素子20の一面20aを第1ボンディング側とし、第2のリード端子12bを第2ボンディング側としてボンディングワイヤ30による接続が行われている。
それによれば、第1のリード端子12a側のボンディングワイヤ30と第2のリード端子12b側のボンディングワイヤ30とで、ループ形状が異なるものにできる。つまり、第1のリード端子12a側のボンディングワイヤ30の方が、リード端子12側の部位にて、第2のリード端子12b側のボンディングワイヤ30よりもふくらみが大きく、高いループ形状を実現できている。
そのため、本参考形態の電子装置300では、半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとで、ボンディングワイヤ30が接続される部位の高さが同一であっても、第2のリード端子12bに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子との接続部30b寄りの部位が、第1のリード端子12aに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子との接続部30a寄りの部位よりも低くなっている。
したがって、本参考形態によっても、電子部品20と複数個のリード端子12とをボンディングワイヤ30で接続してなる電子装置300において、リード端子12側の接続部近傍にて、ボンディングワイヤ30同士が接触したり、ボンディングワイヤ30とリード端子12とが接触するのを防止することができる。
このような第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとでワイヤボンディングの順序を変えた本参考形態の電子装置300の製造方法について、図14、図15を参照して述べる。図14、図15は、同製造方法を示す工程図である。
まず、図14(a)、(b)、(c)に示されるように、平板状のリードフレーム素材10aを用意し、このリードフレーム素材10aに対してアイランド11やリード端子12を形成するための感光性樹脂などからなるマスクM2を、フォト工程などにより形成し、さらに、エッチング加工を行い、アイランド11およびリード端子12が形成されたリードフレーム10を形成する。
次に、図14(d)に示されるように、アイランド11に半導体素子20をマウントする。そして、図15(a)に示されるように、まず、半導体素子20と第2のリード端子12bとの間で、半導体素子20を第1ボンディング側としてワイヤボンディングを行い、これら両者の間をボンディングワイヤ30で接続する。
その後、図15(b)に示されるように、半導体素子20と第1のリード端子12aとの間で、第1のリード端子12aを第1ボンディング側としてワイヤボンディングを行い、これら両者の間をボンディングワイヤ30およびバンプ15を介して接続する。その後は、樹脂モールドなどを行うことによって、上記図13に示される電子装置300ができあがる。
(他の実施形態)
図16は、本発明の他の実施形態に係る電子装置としてのQFNパッケージ構造を有する電子装置の概略断面図である。
この図16に示される電子装置のように、第2のリード端子12bに接続されているボンディングワイヤ30を下方に垂らすことにより、半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第2のリード端子12bに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子との接続部30b寄りの部位が、第1のリード端子12aに接続されたボンディングワイヤ30のうち当該リード端子との接続部30a寄りの部位よりも低くなるようにしてもよい。
このようにボンディングワイヤ30を垂らすことは、たとえば、ワイヤボンディングのときに、第1ボンディング後のワイヤの引き出し量を多くすることなどにより、容易に実現することができる。
この図16に示される電子装置によれば、半導体素子20の一面20aと直交する方向において、第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとで、ボンディングワイヤ30が接続される部位の高さが同一であっても、上記実施形態と同様に、第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとの間におけるボンディングワイヤ30の高低差が適切に実現できる。
そのため、この図16の場合にも、リード端子12側の接続部近傍にて、ボンディングワイヤ30同士が接触したり、ボンディングワイヤ30とリード端子12とが接触するのを防止することができる。
また、上記した各実施形態では、リード端子12が2列構造のQFNパッケージ構造の電子装置についての適用例を述べたが、上記各実施形態は、図17に示されるような1列構造のQFNパッケージとしての電子装置についても適用可能である。
図17は、他の実施形態としての1列構造のQFNパッケージ構造を有する電子装置の概略平面図である。この電子装置においては、複数個のリード端子12は1列の配置となっている。
しかしながら、この電子装置においても、複数個のリード端子12のうち第1のリード端子12aに接続されたボンディングワイヤ30が電子部品20の一面20aと直交する方向(図17中の紙面垂直方向)において重なる位置に存在する第2のリード端子12bが、上記図示例と同様に、備えられている。
そして、図17においても、これら第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとの間において、上記各実施形態に示されるボンディングワイヤ30間の高低差を付与した構成を採用することができる。
それによって、図17に示される電子装置によれば、上記実施形態と同様の効果を発揮することができ、リード端子12側の接続部近傍にて、ボンディングワイヤ30同士が接触したり、ボンディングワイヤ30とリード端子12とが接触するのを防止することができる。
なお、上記各実施形態では、電子部品として半導体素子20を採用していたが、その一面20aがボンディングワイヤ接続用の面すなわち一面20aに図示しないボンディングランドを備えたものであれば、この半導体素子20以外にも、種々の電子部品を採用することができる。
また、上記各実施形態は、電子部品と複数個のリード端子とをボンディングワイヤで接続してなる電子装置であれば、QFP(Quad Flat Package)構造を有する電子装置などに対しても適用してよい。さらに言うならば、そのような電子装置であれば、モールド樹脂による封止がなされておらず、モールド樹脂を持たないものであってもよい。
また、上記各実施形態は、可能な範囲で適宜組み合わせて用いることができる。たとえば、上記図1に示されるように第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとで厚さを異ならせたリードフレーム10を用いつつ、さらに、上記図13に示されるように第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとでボンディングワイヤ30の順序を変えた構成を採用することができる。
また、上記図1に示されるように第1のリード端子12aと第2のリード端子12bとで厚さを異ならせるとともに上記別体の導電性部材14(上記図7参照)も付与されたリードフレーム10を用いてもよい。
本発明の第1実施形態に係るQFNパッケージ構造を有する電子装置の構成を示す図であり、(a)は概略平面図、(b)は、(a)中のB−B概略断面図である。 図1に示される電子装置の製造方法を示す工程図である。 図2に続く製造方法を示す工程図である。 上記第1実施形態の第1の変形例としてのリードフレームの形成方法を示す工程図である。 上記第1実施形態の第2の変形例としてのリードフレームの形成方法を示す工程図である。 上記第1実施形態の第3の変形例としての電子装置の製造方法を示す工程図である。 本発明の第2実施形態に係るQFNパッケージ構造を有する電子装置の概略断面図である。 図7に示される電子装置の製造方法を示す工程図である。 図8に続く製造方法を示す工程図である。 上記第2実施形態における変形例としての電子装置の概略断面図である。 図10に示される電子装置の製造方法を示す工程図である。 図11に続く製造方法を示す工程図である。 本発明の参考形態に係るQFNパッケージ構造を有する電子装置の概略断面図である。 図13に示される電子装置の製造方法を示す工程図である。 図14に続く製造方法を示す工程図である。 本発明の他の実施形態に係るQFNパッケージ構造を有する電子装置の概略断面図である。 本発明の他の実施形態に係る1列構造のQFNパッケージ構造を有する電子装置の概略断面図である。 従来の一般的な電子装置の具体的構成を示す図であり、(a)は概略平面図、(b)は(a)中のA−A概略断面図である。
符号の説明
12…リード端子、12a…第1のリード端子、12b…第2のリード端子、
14…導電性部材としてのメッキ膜、15…導電性部材としてのバンプ、
20…電子部品としての半導体素子、20a…半導体素子の一面、
30…ボンディングワイヤ、
30a…第1のリード端子に接続されたボンディングワイヤのうちリード端子との接続部、
30b…第2のリード端子に接続されたボンディングワイヤのうちリード端子との接続部、
40…モールド樹脂。

Claims (5)

  1. 一面(20a)がボンディングワイヤ(30)接続用の面となっている電子部品(20)と、
    前記電子部品(20)の周囲に位置する複数個のリード端子(12)とを備え、
    前記電子部品(20)の一面(20a)と各々の前記リード端子(12)とが前記ボンディングワイヤ(30)により電気的に接続されている電子装置において、
    前記複数個のリード端子(12)のうち第1のリード端子(12a)に接続された前記ボンディングワイヤ(30)が前記電子部品(20)の一面(20a)と直交する方向において重なる位置に存在するものを、第2のリード端子(12b)としたとき、
    前記第2のリード端子(12b)のうち前記ボンディングワイヤ(30)が接続される部位を、前記第1のリード端子(12a)のうち前記ボンディングワイヤ(30)が接続される部位よりも薄くすることにより、
    前記電子部品(20)の一面(20a)と直交する方向において、前記第2のリード端子(12b)のうち前記ボンディングワイヤ(30)が接続される部位が、前記第1のリード端子(12a)のうち前記ボンディングワイヤ(30)が接続される部位よりも低くなっており、
    前記電子部品(20)の一面(20a)と直交する方向において、前記第2のリード端子(12b)に接続された前記ボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部(30b)寄りの部位が、前記第1のリード端子(12a)に接続された前記ボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部(30a)寄りの部位よりも低くなっていることを特徴とする電子装置。
  2. 一面(20a)がボンディングワイヤ(30)接続用の面となっている電子部品(20)と、
    前記電子部品(20)の周囲に位置する複数個のリード端子(12)とを備え、
    前記電子部品(20)の一面(20a)と各々の前記リード端子(12)とが前記ボンディングワイヤ(30)により電気的に接続されている電子装置において、
    前記複数個のリード端子(12)のうち第1のリード端子(12a)に接続された前記ボンディングワイヤ(30)が前記電子部品(20)の一面(20a)と直交する方向において重なる位置に存在するものを、第2のリード端子(12b)としたとき、
    前記第1のリード端子(12a)のうち前記ボンディングワイヤ(30)が接続される部位には、別体の導電性部材(14、15)が取り付けられることにより、
    前記電子部品(20)の一面(20a)と直交する方向において、前記第2のリード端子(12b)に接続された前記ボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部(30b)が、前記第1のリード端子(12a)に接続された前記ボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部(30a)よりも低くなっており、
    前記電子部品(20)の一面(20a)と直交する方向において、前記第2のリード端子(12b)に接続された前記ボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部(30b)寄りの部位が、前記第1のリード端子(12a)に接続された前記ボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部(30a)寄りの部位よりも低くなっていることを特徴とする電子装置。
  3. 前記電子部品(20)の一面(20a)と直交する方向において、前記第2のリード端子(12b)に接続された前記ボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部(30b)が、前記第1のリード端子(12a)に接続された前記ボンディングワイヤ(30)のうち当該リード端子との接続部(30a)よりも低くなっていることを特徴とする請求項1に記載の電子装置。
  4. 前記複数個のリード端子(12)は、前記電子部品(20)の一面(20a)との距離が異なるものからなり、
    前記第1のリード端子(12a)は、前記電子部品(20)の一面(20a)に対して比較的遠いものであり、前記第2のリード端子(12b)は、前記電子部品(20)の一面(20a)に対して比較的近いものであることを特徴とする請求項1ないしのいずれか1つに記載の電子装置。
  5. 前記電子部品(20)、前記ボンディングワイヤ(30)および前記リード端子(12)がモールド樹脂(40)によって封止されており、
    前記リード端子(12)の一部が前記モールド樹脂(40)から露出していることを特徴とする請求項1ないしのいずれか1つに記載の電子装置。
JP2005085406A 2005-03-24 2005-03-24 電子装置 Expired - Fee Related JP4400492B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005085406A JP4400492B2 (ja) 2005-03-24 2005-03-24 電子装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005085406A JP4400492B2 (ja) 2005-03-24 2005-03-24 電子装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006269719A JP2006269719A (ja) 2006-10-05
JP4400492B2 true JP4400492B2 (ja) 2010-01-20

Family

ID=37205366

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005085406A Expired - Fee Related JP4400492B2 (ja) 2005-03-24 2005-03-24 電子装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4400492B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008186889A (ja) * 2007-01-29 2008-08-14 Denso Corp 半導体装置

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6276338B2 (ja) * 2016-07-25 2018-02-07 ラピスセミコンダクタ株式会社 半導体装置及び計測機器
JP7081702B2 (ja) * 2021-02-15 2022-06-07 大日本印刷株式会社 リードフレームおよび半導体装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008186889A (ja) * 2007-01-29 2008-08-14 Denso Corp 半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006269719A (ja) 2006-10-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8184453B1 (en) Increased capacity semiconductor package
US7799611B2 (en) Partially patterned lead frames and methods of making and using the same in semiconductor packaging
US7042068B2 (en) Leadframe and semiconductor package made using the leadframe
US9190296B2 (en) Fabrication method of semiconductor package without chip carrier
KR102054385B1 (ko) 수지 봉지형 반도체 장치 및 그 제조 방법
US7808084B1 (en) Semiconductor package with half-etched locking features
JP5227501B2 (ja) スタックダイパッケージ及びそれを製造する方法
US7872336B2 (en) Low cost lead-free preplated leadframe having improved adhesion and solderability
JP6370071B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
US20150076690A1 (en) Semiconductor device and method of manufacturing the same
TWI455213B (zh) 無外引腳封裝結構及其製作方法
US8105881B2 (en) Method of fabricating chip package structure
TWI455269B (zh) 晶片封裝結構及其製作方法
US20180122731A1 (en) Plated ditch pre-mold lead frame, semiconductor package, and method of making same
JP3470111B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
CN211125636U (zh) 半导体封装件
JP3540793B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法
US20090206459A1 (en) Quad flat non-leaded package structure
JP6505540B2 (ja) 半導体装置及び半導体装置の製造方法
US20040262752A1 (en) Semiconductor device
JP4400492B2 (ja) 電子装置
JP2007201324A (ja) 電子装置の実装構造および電子部品の実装方法
US20220208664A1 (en) Lead frame, method of making lead frame, and semiconductor device
JP5499437B2 (ja) モールドパッケージ
JP5181537B2 (ja) モールドパッケージ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070420

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090612

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090616

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090717

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090818

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090824

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091006

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091019

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121106

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131106

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees