JP4399229B2 - 現像装置 - Google Patents

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この発明は、像担持体に形成された静電潜像に現像剤を供給する現像装置に関する。
電子写真方式の画像形成装置では、像担持体の表面に形成された静電潜像を現像するために現像装置が使用される。現像装置は、一般的に、像担持体の周面に当接する周面を有する現像ローラを備えている。この現像ローラの周面には、現像剤の層が形成される。さらに、現像ローラの近傍には、層圧規制ブレード(規制部材)が配設される。この層圧規制ブレードは、現像ローラの周面に形成される現像剤の層の層厚を規制する。この構成により、現像ローラの周面に所望の厚みの現像剤層が形成される。さらに、層圧規制ブレードと現像剤とが当接することにより、像担持体に供給される現像剤の帯電量を所望の値に維持することが可能になる。
ところが、現像剤と当接することにより層圧規制ブレードが磨耗するため、層圧規制ブレードの表面粗さが経時的に低下し現像剤の帯電不良が生じるという不都合が生じる。特に、現像剤に外添剤が添加される場合には、この外添剤と層圧規制ブレードとが摺り合うことにより層圧規制ブレードの表面が研磨され表面粗さの低下が著しくなる虞がある。このため、帯電不良の現像剤の量が多くなり、カブリ等の画質不良が生じ易くなった。
そこで、従来技術の中には、層圧規制ブレードにおける現像剤との当接箇所をTiN(窒化チタン)にて表面処理することで、現像剤の安定した帯電量を長期にわたって維持することが可能な現像装置がある(例えば、特許文献1参照。)。
特開2001−13782号公報
しかしながら、特許文献1の発明を含む従来技術では、層圧規制ブレードの耐用期間の終期近傍において、層圧規制ブレードの表面荒さの低下により現像剤の帯電不良が生じることがあった。このため、層圧規制ブレードの耐用期間の終期近傍では、カブリが生じ易くなるという問題があった。
また、特許文献1の発明を含む従来技術では、層圧規制ブレードに表面処理を施す際の処理温度が300℃を超えることが多く、層圧規制ブレードが薄い場合には処理温度によって層圧規制ブレードが変形するため、層圧規制ブレードを薄くすることが困難であった。
この発明の目的は、耐用期間の始期から終期に至るまで、適正に帯電された現像剤を像担持体に供給することが可能な現像装置を提供することである。また、この発明の別の目的は、層圧規制ブレード(規制部材)の薄型化を可能にする現像装置を提供することである。
この発明は以下の構成を備えている。
(1) 像担持体の表面に当接する周面を有し、前記像担持体に供給される現像剤を前記周面にて担持する現像ローラと、
前記現像剤を介して前記現像ローラの周面に当接し、前記現像ローラの周面に形成される前記現像剤の層の厚みを規制する、厚みが100μmのステンレス製板材で構成された規制部材と、を備え、
前記規制部材における少なくとも前記現像ローラの周面との当接部分が処理温度250℃〜300℃のスパッタリング法で形成されたTiBNによって構成されることを特徴とする。
この構成においては、現像ローラの周面に形成される現像剤層の層圧を規制する規制部材の一部がTiBNによって構成されている。規制部材の代表例として、ステンレス製の層圧規制ブレードが挙げられる。ここで、規制部材全体がTiBNによって構成されることは必ずしも必要ではないが、少なくとも規制部材における現像剤層との当接部分がTiBNによって構成されることが重要である。
層圧規制ブレードの一部をTiBNによって構成させるための手法の代表例は、スパッタリング等の表面処理である。ここで、TiBNを選択したのは、TiBNの硬さ(ビッカース硬度HV=5500)に着目したからである。また、低い処理温度(処理温度250℃〜300℃)でTiBN膜を構成できるというTiBNの特徴を考慮したものである。
この発明によれば、以下の効果を奏することができる。
(1)現像装置の耐用期間の全体にわたって、規制部材の適度な表面粗さを得ることができ、現像剤の帯電不良を原因とするカブリの発生を抑制することが可能になる。また、規制部材に表面処理を施す場合の処理温度が比較的低温になるため、規制部材を薄型化することが可能になる。
以下、図を用いて本発明の実施形態としての一成分現像装置を説明する。
図1は、本実施形態における現像装置の構成を示している。同図に示すように現像装置1は、電子写真方式の画像形成装置における像担持体10の近傍に配置される。このとき、現像装置1は、像担持体10の周面に対向するように配置される。像担持体10の周面には、図示しない露光装置によって静電潜像が形成されている。なお、像担持体10の代表例として、表面に光導電性膜を有する感光体ドラムが挙げられる。
現像装置1は、トナーホッパ12,攪拌スクリュ14,供給ローラ15,現像ローラ16,層厚規制ブレード17を備えている。トナーホッパ12は、現像剤としてのトナー13を収容する。攪拌スクリュ14は、トナーホッパ12内のトナー13を攪拌する。供給ローラ15は、トナー13を現像ローラ16に供給する。現像ローラ16は、トナー13を像担持体10に供給する。なお、本実施形態のトナー13として、粒径が7μm程度のトナーを用いている。また、本実施形態では外添剤として、シリカ(SiO2 ),チタン酸ストロンチウム(SrTiO3 )を用いている。
現像ローラ16は、周面にトナー13を担持しつつ図中における時計回りに回転する。このとき、現像ローラ16の周面にはトナー13で構成される所定の厚みの層が形成される。現像ローラ16の周面は像担持体10の周面に当接する。このため、現像ローラ16の周面と像担持体10の周面とが当接するときに、現像ローラ16から像担持体10にトナー13が移動する。現像ローラ16から像担持体10に移動するトナー13の量は、像担持体10および現像ローラ16の電位,トナー13の帯電量,および現像ローラ16の周面に形成されるトナー13の層の厚みによって影響される。
層厚規制ブレード17は、現像ローラ16の周面に形成されるトナー13の層の厚みを規制する鋼板ステンレス製板材(SUS304)である。層厚規制ブレード17は、トナー13の層に当接するようにトナーホッパ12内の所定位置に配設される。トナー13の層は、層厚規制ブレード17からの押圧力によってその厚み(層厚)が規制される。また、層厚規制ブレード17は、層を構成するトナー13を摩擦力によって帯電する。このとき、層厚規制ブレード17におけるトナー13との当接位置の表面粗さが、像担持体10に供給されるトナー13の帯電量に影響する。
図2は、層厚規制ブレード17の表面粗さ(RZ)と画像形成状態との関係を示している。なお、ここでは表面粗さ(RZ)として十点平均粗さを用いている。同図では、層厚規制ブレード17の表面粗さ(RZ)を0〜6μmの間で変化させたときにおける濃度ムラの量(BG)が示されている。本実施形態で、濃度ムラとは、白地の背景(バックグラウンド)に意図せずトナー13が付着して黒くなる白地カブリを意味する。通常、表面粗さ(RZ)が低下するに伴って像担持体10に供給されるトナー13の帯電量が低下する。トナー13の帯電量が不足すると、現像バイアスによってトナー13の移動を制御することが困難になり、意図せずにトナー13が像担持体10に移動し易くなる。
そこで、本発明では、層厚規制ブレード17におけるトナー13との当接位置をTiBNによって構成している。本実施形態では、層厚規制ブレード17を表面処理しており、層厚規制ブレード17の表面にTiBNからなる膜が形成されている。ここで用いられる表面処理の最適例としてスパッタリングが挙げられる。
表面処理に用いる材料としてTiBNを採用したのは、TiBNは硬いため(ビッカース硬度HV=約5500)磨耗しにくく、耐用期間の全体にわたって好適な表面粗さ(RZ)を維持することができるからである。さらに、TiBNについて、250〜300℃という比較的低温で表面処理を行うことが可能であるからである。処理温度が低温になることで、層厚規制ブレード17が100μm程度と比較的薄い場合でも、層厚規制ブレード17を変形させることなく、層厚規制ブレード17の表面にTiBNをコーティングすることが可能である。
図3は、表面処理に用いる素材と層厚規制ブレードの表面粗さとの関係を示している。図3(A)に示すように、SiO2 ,SrTiO3 ,SUS304,CrN,TiN,およびTiBNのビッカース硬度Hvは、それぞれ700,600,600,1200,2000,5500である。SiO2 ,SrTiO3 ,およびSUS304の硬度を1としたとき、CrNの相対硬度が2、TiNの相対硬度が3、TiBNの相対硬度が8になる。
一般的に、この相対硬度が大きい程、耐用期間の終期における表面粗さ(飽和表面粗さRs)が大きくなる。ここで、表面粗さが1μm以下になると帯電不良のトナーの量が増加することを考慮すると、飽和表面粗さRsが1.5μm以上であることが望ましい。飽和表面粗さRsが1.5μm以上を実現するためには、相対硬度が約7以上であることが望ましい。
この点、本発明では層厚規制ブレード17にTiBNの膜を形成することにより相対硬度7以上を達成し、層厚規制ブレード17におけるトナー13との当接位置の飽和表面粗さRsを1.5μm以上になることを実現している。
図3(B)では、層厚規制ブレード17におけるトナー13との当接位置がCrN(ビッカース硬度HV1200),TiN(ビッカース硬度HV2000),またはTiBN(ビッカース硬度HV5500)で構成されるときの表面粗さの変化量を示している。ここでは、プリント枚数が6000枚に達したときが耐用期間の終期(life end)とされている。同図に示すように、層厚規制ブレード17の表面粗さは、プリント枚数が増加するにしたがって低下し、耐用期間の終期において飽和表面粗さRsに達する。飽和表面粗さRsを算出するために本実施形態では実験によって求められた以下の式を用いている。
Rs=1.1×[1/(2Ht)1.5 −1/Hb1.5
ただし、Htは外添剤のビッカース硬度であり、Hbは層圧規制ブレード17のビッカース硬度である。
ここで、耐用期間の終期の算出手法を説明する。耐用期間の終期は、下記の式で算出される許容プリント枚数PLによって表される。
PL=(−1000/0.613)×loge[(RL−Rs)/(Ro−Rs)]
ただし、RLは表面粗さの許容下限値であり、Roは層圧規制ブレード17の表面粗さの初期値である。
このように、本実施形態によれば、層厚規制ブレード17における現像ローラ16との当接部分にTiBNからなる膜を形成したことにより、層厚規制ブレード17の耐用期間の全体にわたって層厚規制ブレード17の表面粗さを適正な値に維持することが可能になる。この結果、帯電不良のトナー13の増加を防止してカブリ等の画像形成不良が発生することを防止できる。
図4は、層厚規制ブレード17の磨耗をモデル化して示している。ここでは、表面粗さを、
h=1+cos(X)
のように三角関数を用いて表現している。このとき、現像剤との摩擦によって圧力を受ける部分の面積S(受圧面積)は、研磨面幅Wの2乗に比例する。また、層厚規制ブレード17の磨耗量Mは荷重σに比例する。さらに、この荷重は、受圧面積Sに反比例する。この結果、磨耗量Mは、研磨面幅Wの2乗に反比例する。よって、磨耗は指数関数の変化をし、計算値と実測値とが整合することが分かる。なお、表面粗さhと指数(h)との関係を図5に示す。
本発明の現像装置の構成を示す図である。 層厚規制ブレードの表面粗さとカブリ量との関係を示す図である。 表面処理に用いる素材と層厚規制ブレードの表面粗さとの関係を示す図である。 層厚規制ブレード17の磨耗をモデル化して示した図である。 表面粗さhと指数(h)との関係を示す図である。
符号の説明
1−現像装置
10−像担持体
12−トナーホッパ
13−トナー
14−攪拌スクリュ
15−供給ローラ
16−現像ローラ
17−層厚規制ブレード

Claims (1)

  1. 像担持体の表面に当接する周面を有し、前記像担持体に供給される現像剤を前記周面にて担持する現像ローラと、
    前記現像剤を介して前記現像ローラの周面に当接し、前記現像ローラの周面に形成される前記現像剤の層の厚みを規制する、厚みが100μmのステンレス製板材で構成された規制部材と、を備え、
    前記規制部材における少なくとも前記現像ローラの周面との当接部分が処理温度250℃〜300℃のスパッタリング法で形成されたTiBNによって構成されることを特徴とする現像装置
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