JP4380373B2 - Electrical resistance measurement connector, electrical resistance measurement connector device and manufacturing method thereof, and circuit board electrical resistance measurement device and measurement method - Google Patents

Electrical resistance measurement connector, electrical resistance measurement connector device and manufacturing method thereof, and circuit board electrical resistance measurement device and measurement method Download PDF

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Description

本発明は、電気抵抗測定用コネクター、電気抵抗測定用コネクター装置およびその製造方法並びに回路基板の電気抵抗測定装置および回路装置の電気抵抗測定方法に関する。   The present invention relates to an electrical resistance measurement connector, an electrical resistance measurement connector device and a method for manufacturing the same, a circuit board electrical resistance measurement device, and a circuit device electrical resistance measurement method.

近年、電子部品やこれを内蔵した電子機器における信号伝送の高速化の要請に伴って、BGAやCSPなどのLSIパッケージを構成する回路基板やこれらの半導体装置が搭載される回路基板として、電極間における配線の電気抵抗が低いものが要求されている。そのため、このような回路基板の電気的検査においては、その電極間における配線の電気抵抗の測定を高い精度で行うことが極めて重要である。
従来、回路基板の電気抵抗の測定においては、例えば、図37に示すように、被検査回路基板90の互いに電気的に接続された2つの被検査電極91,92の各々に対し、電流供給用プローブPA,PDおよび電圧測定用プローブPB,PCを押圧して接触させ、この状態で、電流供給用プローブPA,PDの間に電源装置93から電流を供給し、このときに電圧測定用プローブPB,PCによって検出される電圧信号を電気信号処理装置94において処理することにより、当該被検査電極91,92間の電気抵抗の大きさを求める四端子法が採用されている。
In recent years, in response to a demand for high-speed signal transmission in electronic components and electronic devices incorporating them, circuit boards constituting LSI packages such as BGA and CSP, and circuit boards on which these semiconductor devices are mounted, There is a demand for wiring having low electrical resistance. Therefore, in such an electrical inspection of a circuit board, it is extremely important to measure the electrical resistance of the wiring between the electrodes with high accuracy.
Conventionally, in the measurement of the electrical resistance of a circuit board, for example, as shown in FIG. 37, current is supplied to each of two inspected electrodes 91 and 92 electrically connected to each other of the inspected circuit board 90. The probes PA and PD and the voltage measurement probes PB and PC are pressed and brought into contact with each other. In this state, current is supplied from the power supply device 93 between the current supply probes PA and PD. At this time, the voltage measurement probe PB is supplied. A four-terminal method is employed in which the voltage signal detected by the PC is processed in the electric signal processing device 94 to obtain the magnitude of the electric resistance between the electrodes 91 and 92 to be inspected.

しかしながら、上記の方法においては、電流供給用プローブPA,PDおよび電圧測定用プローブPB,PCを被検査電極91,92に対して相当に大きい押圧力で接触させることが必要であり、しかも、当該プローブは金属製であってその先端は尖頭状とされているため、プローブが押圧されることによって被検査電極91,92の表面が損傷してしまい、当該回路基板は使用することが不可能なものとなってしまう。このような事情から、電気抵抗の測定は、製品とされるすべての回路基板について行うことができず、いわゆる抜き取り検査とならざるを得ないため、結局、製品の歩留りを大きくすることはできない。   However, in the above method, it is necessary to bring the current supply probes PA and PD and the voltage measurement probes PB and PC into contact with the electrodes 91 and 92 to be inspected with a considerably large pressing force. Since the probe is made of metal and has a pointed tip, the surface of the electrodes 91 and 92 to be inspected is damaged when the probe is pressed, and the circuit board cannot be used. It will become something. Under such circumstances, the measurement of electrical resistance cannot be performed on all circuit boards that are products, and it must be a so-called sampling inspection. Therefore, the yield of products cannot be increased after all.

このような問題を解決するため、従来、被検査電極に接触する接続用部材が導電性エラストマーにより構成された電気抵抗測定装置が提案されており、具体的には、(i)エラストマーにより導電性粒子が結着された導電ゴムよりなる弾性接続用部材を、電流供給用電極および電圧測定用電極の個々に配置してなる電気抵抗測定装置(特許文献1参照。)、(ii)同一の被検査電極に電気的に接続される電流供給用電極および電圧測定用電極の両方の表面に接するよう設けられた、異方導電性エラストマーよりなる共通の弾性接続用部材を有する電気抵抗測定装置(特許文献2参照。)、(iii )表面に複数の検査電極が形成された検査用回路基板と、この検査用回路基板の表面に設けられた導電性エラストマーよりなる弾性接続用部材とを有し、被検査電極が接続部材を介して複数の検査電極に電気的に接続された状態で、それらの検査電極のうち2つを選択し、その一方を電流供給用電極とし、他方を電圧測定用電極として電気抵抗を測定する電気抵抗測定装置(特許文献3参照。)などが知られている。
このような電気抵抗測定装置によれば、被検査回路基板の被検査電極に対し、弾性接続用部材を介して、電流供給用電極および電圧測定用電極が対接されることによって電気的接続が達成されるため、当該被検査電極を損傷させることなく電気抵抗の測定を行うことができる。
In order to solve such problems, conventionally, an electrical resistance measuring device in which a connecting member that contacts an electrode to be inspected is made of a conductive elastomer has been proposed. Specifically, (i) a conductive material is made of an elastomer. An electrical resistance measuring device (see Patent Document 1), in which an elastic connecting member made of conductive rubber having particles bound thereto is arranged separately for a current supply electrode and a voltage measuring electrode; An electrical resistance measuring device having a common elastic connecting member made of anisotropic conductive elastomer, which is provided in contact with both surfaces of a current supply electrode and a voltage measurement electrode electrically connected to the inspection electrode (patent) (Iii), (iii) an inspection circuit board having a plurality of inspection electrodes formed on the surface, and an elastic connection member made of a conductive elastomer provided on the surface of the inspection circuit board. In a state where the electrode to be inspected is electrically connected to the plurality of inspection electrodes via the connection member, two of the inspection electrodes are selected, one of which is used as a current supply electrode, and the other is used for voltage measurement. As an electrode, an electrical resistance measuring device (see Patent Document 3) that measures electrical resistance is known.
According to such an electrical resistance measurement device, the current supply electrode and the voltage measurement electrode are brought into contact with the electrode to be inspected of the circuit board to be inspected via the elastic connection member, thereby making electrical connection. Thus, the electrical resistance can be measured without damaging the electrode to be inspected.

しかしながら、上記(i)および上記(ii)の構成の電気抵抗測定装置によって、電極間における電気抵抗の測定を行う場合には、以下のような問題がある。
近年、回路基板においては、高い集積度を得るために電極のサイズおよびピッチもしくは電極間距離が小さくなる傾向がある。而して、上記(i)および上記(ii)の構成の電気抵抗測定装置においては、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板における被検査電極の各々に、弾性接続用部材を介して電流供給用電極および電圧測定用電極の両方を同時に電気的に接続させる必要がある。従って、小さいサイズの被検査電極が高密度で配置された被検査回路基板についての電気抵抗の測定を行うための電気抵抗測定装置においては、小さなサイズの被検査電極の各々に対応して、当該被検査電極が占有する領域と同等若しくはそれ以下の面積の領域内に、互いに離間した状態で電流供給用電極および電圧測定用電極を形成すること、すなわち被検査電極よりも更に小さいサイズの電流供給用電極および電圧測定用電極を極めて小さい距離で離間した状態で形成することが必要である。
また、回路基板の製造方法としては、生産性を向上させるために、一つの基板材料によって、複数の回路基板が連結されてなる回路基板連結体を製造し、その状態で、当該回路基板連結体における各回路基板についての電気的検査を一括して行い、その後、回路基板連結体を切断することにより、分離された複数の回路基板を製造する方法が採用されている。
However, when measuring the electrical resistance between the electrodes by the electrical resistance measuring device having the configuration of (i) and (ii), there are the following problems.
In recent years, in a circuit board, in order to obtain a high degree of integration, the size and pitch of electrodes or the distance between electrodes tend to be small. Thus, in the electrical resistance measuring apparatus having the configurations of (i) and (ii), a current is supplied to each of the electrodes to be inspected on the circuit board to be inspected whose electrical resistance is to be measured via the elastic connection member. Both the electrode for voltage and the electrode for voltage measurement need to be electrically connected simultaneously. Therefore, in the electrical resistance measuring device for measuring the electrical resistance of the circuit board to be inspected in which the small size inspected electrodes are arranged at high density, Forming a current supply electrode and a voltage measurement electrode in a state of being separated from each other in a region having an area equal to or smaller than the region occupied by the electrode to be inspected, that is, supplying a current having a smaller size than the electrode to be inspected It is necessary to form the working electrode and the voltage measuring electrode in a state of being separated by a very small distance.
In addition, as a method for manufacturing a circuit board, in order to improve productivity, a circuit board connected body in which a plurality of circuit boards are connected with one board material is manufactured, and in that state, the circuit board connected body A method of manufacturing a plurality of separated circuit boards by collectively performing electrical inspection on each circuit board and then cutting the circuit board connector is adopted.

然るに、検査対象である回路基板連結体は、その面積が相当に大きく、また、被検査電極の数も極めて多いものであり、特に多層回路基板を製造する場合には、その製造プロセスにおける工程数が多く、加熱処理による熱履歴を受ける回数が多いため、被検査電極が所期の配置位置から位置ずれした状態で形成されることが少なくない。このように、大面積で、多数の被検査電極を有し、当該被検査電極が所期の配置位置から位置ずれした状態で形成された被検査回路基板について、上記(i)および上記(ii)の構成の電気抵抗測定装置によって電気抵抗の測定を行う場合には、被検査電極の各々に、電流供給用電極および電圧測定用電極の両方を同時に電気的に接続させることは極めて困難である。
具体的な一例を挙げて説明すると、図38に示すように、直径Lが300μmの被検査電極Tに係る電気抵抗を測定する場合には、当該被検査電極Tに電気的に接続される電流供給用電極Aおよび電圧測定用電極Vの離間距離Dは150μm程度であるが、図39(イ)および(ロ)に示すように、被検査回路基板の位置合わせにおいて、電流供給用電極Aおよび電圧測定用電極Vに対する被検査電極Tの位置が、図38に示す所期の位置から電流供給用電極Aおよび電圧測定用電極Vが並ぶ方向(図において左右方向)に75μmずれたときには、電流供給用電極Aおよび電圧測定用電極Vのいずれか一方と被検査電極Tとの電気的接続が達成されず、所要の電気抵抗測定を行うことができない。
However, the circuit board assembly to be inspected has a considerably large area and the number of electrodes to be inspected is extremely large. In particular, when manufacturing a multilayer circuit board, the number of steps in the manufacturing process is large. In many cases, the thermal history due to the heat treatment is frequently received, and thus the electrode to be inspected is often formed in a state of being displaced from the intended arrangement position. As described above, the circuit board to be inspected having a large area, a large number of electrodes to be inspected, and the electrodes to be inspected formed in a state shifted from the intended arrangement position is the above (i) and (ii) When measuring the electrical resistance with the electrical resistance measuring device having the configuration of), it is extremely difficult to electrically connect both the current supply electrode and the voltage measurement electrode to each of the electrodes to be inspected simultaneously. .
To explain with a specific example, as shown in FIG. 38, when measuring the electrical resistance of the electrode T to be inspected having a diameter L of 300 μm, the current electrically connected to the electrode T to be inspected The separation distance D between the supply electrode A and the voltage measurement electrode V is about 150 μm. However, as shown in FIGS. 39A and 39B, in the alignment of the circuit board to be inspected, the current supply electrode A and When the position of the electrode T to be inspected with respect to the voltage measuring electrode V deviates by 75 μm from the intended position shown in FIG. 38 in the direction in which the current supply electrode A and the voltage measuring electrode V are aligned (left and right in the figure), The electrical connection between one of the supply electrode A and the voltage measurement electrode V and the electrode T to be inspected is not achieved, and the required electrical resistance measurement cannot be performed.

一方、上記(iii )の電気抵抗測定装置によれば、被検査電極の各々に対応して、電流供給用電極および電圧測定用電極を形成することが不要であるため、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板が、大面積で、多数の被検査電極を有し、かつ、小さいサイズの被検査電極が高密度で配置されてなるものであっても、当該被検査電極に対する位置ずれの許容度が大きく、また、当該電気抵抗測定装置の作製が容易である。
しかしながら、このような電気抵抗測定装置は、いわば擬似四端子法による測定装置であるため、測定誤差範囲が大きいものであり、従って、電極間における電気抵抗の低い回路基板について、その電気抵抗の測定を高い精度で行うことは困難である。
On the other hand, according to the electrical resistance measuring apparatus of (iii) above, it is not necessary to form a current supply electrode and a voltage measurement electrode corresponding to each of the electrodes to be inspected. Even if the circuit board to be inspected has a large area, a large number of electrodes to be inspected, and a small size of the electrodes to be inspected arranged at high density, tolerance of displacement with respect to the electrodes to be inspected is allowed. The electrical resistance measuring device is easy to manufacture.
However, since such an electric resistance measuring device is a measuring device based on the pseudo four-terminal method, it has a large measurement error range. Therefore, the measurement of the electric resistance of a circuit board having a low electric resistance between the electrodes is performed. Is difficult to perform with high accuracy.

特開平9−26446号公報JP-A-9-26446 特開2000−74965号公報JP 2000-74965 A 特開2000−241485号公報JP 2000-241485 A

本発明は、以上のような事情に基づいてなされたものであって、その第1の目的は、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板が、大面積で、サイズの小さい多数の被検査電極を有するものであっても、当該被検査回路基板に対する所要の電気的接続を確実に達成することができ、しかも、所期の電気抵抗の測定を高い精度で確実に行うことができる電気抵抗測定用コネクターを提供することにある。
本発明の第2の目的は、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板が、大面積で、サイズの小さい多数の被検査電極を有するものであっても、当該被検査回路基板に対する所要の電気的接続を確実に達成することができ、しかも、所期の電気抵抗の測定を高い精度で確実に行うことができ、更に、温度変化による熱履歴などの環境の変化に対しても良好な電気的接続が安定に維持される電気抵抗測定用コネクター装置を提供することにある。
本発明の第3の目的は、上記の電気抵抗測定用コネクター装置を有利に製造することができる方法を提供することにある。
本発明の第4の目的は、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板が、大面積で、サイズの小さい多数の被検査電極を有するものであっても、当該被検査回路基板に対する所要の電気的接続を確実に達成することができ、しかも、所期の電気抵抗の測定を高い精度で確実に行うことができる回路基板の電気抵抗測定装置を提供することにある。
本発明の第5の目的は、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板が、大面積で、サイズの小さい多数の被検査電極を有するものであっても、当該被検査回路基板に対する所要の電気的接続を確実に達成することができ、しかも、所期の電気抵抗の測定を高い精度で確実に行うことができる回路基板の電気抵抗測定方法を提供することにある。
The present invention has been made on the basis of the above circumstances, and a first object thereof is to provide a large number of small electrodes to be inspected with a large circuit board to be inspected for measuring electric resistance. Even if it has, it is possible to reliably achieve the required electrical connection to the circuit board to be inspected, and furthermore, the electrical resistance measurement that can reliably perform the intended electrical resistance measurement with high accuracy Is to provide a connector.
The second object of the present invention is to provide the required electric power to the circuit board to be inspected even if the circuit board to be inspected has a large number of electrodes to be inspected having a large area and a small size. Connection can be achieved reliably, and the expected electrical resistance can be measured with high accuracy and with good electrical resistance against environmental changes such as thermal history due to temperature changes. It is an object of the present invention to provide an electrical resistance measurement connector device in which the electrical connection is stably maintained.
A third object of the present invention is to provide a method by which the above-described electrical resistance measuring connector device can be advantageously manufactured.
A fourth object of the present invention is to provide required electric power to a circuit board to be inspected even if the circuit board to be inspected has a large number of electrodes to be inspected having a large area and a small size. Another object of the present invention is to provide a circuit board electrical resistance measurement apparatus that can reliably achieve a desired connection and that can reliably perform intended electrical resistance measurement with high accuracy.
A fifth object of the present invention is to provide required electric power for a circuit board to be inspected even when the circuit board to be inspected has a large number of electrodes to be inspected having a large area and a small size. Another object of the present invention is to provide a circuit board electrical resistance measurement method capable of reliably achieving a desired connection and capable of reliably performing a desired electrical resistance measurement with high accuracy.

本発明の電気抵抗測定用コネクターは、絶縁性基板と、この絶縁性基板の表面に電気抵抗を測定すべき被検査回路基板における複数の被検査電極のパターンに対応するパターンに従って配置された複数の接続用電極組とを具えてなり、
前記接続用電極組の各々は、電圧測定用電極、電流供給用電極および電圧測定用電極の3つの電極がこの順で並ぶよう互いに離間して配置されてなることを特徴とする。
The electrical resistance measurement connector of the present invention includes an insulating substrate and a plurality of electrodes arranged on the surface of the insulating substrate according to a pattern corresponding to a pattern of a plurality of electrodes to be inspected on a circuit board to be inspected. A connection electrode set,
Each of the connection electrode sets is characterized in that three electrodes, ie, a voltage measurement electrode, a current supply electrode, and a voltage measurement electrode, are arranged apart from each other so as to be arranged in this order.

また、本発明の電気抵抗測定用コネクターは、絶縁性基板と、この絶縁性基板の表面に電気抵抗を測定すべき被検査回路基板における複数の被検査電極のパターンに対応するパターンに従って配置された複数の接続用電極組とを具えてなり、
前記接続用電極組の各々は、電流供給用電極、電圧測定用電極および電流供給用電極の3つの電極がこの順で並ぶよう互いに離間して配置されてなることを特徴とする。
The electrical resistance measuring connector of the present invention is arranged in accordance with a pattern corresponding to a pattern of a plurality of electrodes to be inspected on an insulating substrate and a circuit board to be inspected whose electrical resistance is to be measured on the surface of the insulating substrate. Comprising a plurality of connection electrode sets,
Each of the connection electrode sets is characterized in that three electrodes of a current supply electrode, a voltage measurement electrode, and a current supply electrode are arranged so as to be spaced apart from each other in this order.

上記の3つの電極が配置されてなる接続用電極組を有する電気抵抗測定用コネクターにおいては、接続用電極組における電流供給用電極および電圧測定用電極の各々は、これらの電極が並ぶ方向に対して垂直な方向に長尺な形状を有することが好ましい。   In the electrical resistance measurement connector having the connection electrode set in which the above three electrodes are arranged, each of the current supply electrode and the voltage measurement electrode in the connection electrode set is in the direction in which these electrodes are arranged. It is preferable to have a long shape in a perpendicular direction.

本発明の電気抵抗測定用コネクターにおいては、絶縁性基板の裏面に、電流供給用電極および電圧測定用電極のいずれか一方に電気的に接続された複数の中継電極が配置されていることが好ましい。
このような電気抵抗測定用コネクターにおいては、複数の電流供給用電極に電気的に接続された中継電極を有することが好ましい。
In the electrical resistance measurement connector of the present invention, it is preferable that a plurality of relay electrodes electrically connected to either the current supply electrode or the voltage measurement electrode are disposed on the back surface of the insulating substrate. .
Such an electrical resistance measurement connector preferably has a relay electrode electrically connected to the plurality of current supply electrodes.

本発明の電気抵抗測定用コネクター装置は、上記の構成の電気抵抗測定用コネクターと、この電気抵抗測定用コネクターの表面に一体的に積層された異方導電性エラストマー層とを具えてなることを特徴とする。   An electrical resistance measurement connector device according to the present invention comprises the electrical resistance measurement connector having the above-described configuration, and an anisotropic conductive elastomer layer integrally laminated on the surface of the electrical resistance measurement connector. Features.

本発明の電気抵抗測定用コネクター装置においては、異方導電性エラストマー層は、電流供給用電極および電圧測定用電極の各々の表面上に配置された、それぞれ厚み方向に伸びる複数の導電路形成部と、これらの導電路形成部を相互に絶縁する絶縁部とよりなることが好ましい。
また、導電路形成部は、磁性を示す導電性粒子が厚み方向に並ぶよう配向した状態で含有されてなることが好ましい。
In the electrical resistance measurement connector device according to the present invention, the anisotropic conductive elastomer layer is disposed on the surface of each of the current supply electrode and the voltage measurement electrode, and a plurality of conductive path forming portions extending in the thickness direction. And an insulating part that insulates these conductive path forming parts from each other.
The conductive path forming part is preferably contained in a state where conductive particles exhibiting magnetism are aligned in the thickness direction.

本発明の電気抵抗測定用コネクター装置の製造方法は、上記の構成の電気抵抗測定用コネクター装置を製造する方法であって、
上記の電気抵抗測定用コネクターの表面に、硬化されて弾性高分子物質となる液状の高分子物質形成材料中に磁性を示す導電性粒子が含有されてなるエラストマー用材料層を形成し、このエラストマー用材料層に対して、電気抵抗測定用コネクターの接続用電極組が形成された領域の表面上に位置する部分においてそれ以外の部分より大きい強度の磁場を厚み方向に作用させると共に、当該エラストマー用材料層を硬化処理することにより、当該電気抵抗測定用コネクターの表面に、その接続用電極組が形成された領域の表面上に位置する部分に磁性を示す導電性粒子が厚み方向に並ぶよう配向した状態で含有されたエラストマー層を形成し、
このエラストマー層における導電性粒子が含有された部分において、接続用電極組における各電極の間の領域の表面上に位置する部分を除去して穴部を形成し、その後、この穴部に硬化されて弾性高分子物質となる液状の高分子物質形成材料を充填し、当該高分子物質形成材料を硬化処理する工程を有することを特徴とする。
A method of manufacturing an electrical resistance measurement connector device according to the present invention is a method of manufacturing an electrical resistance measurement connector device having the above-described configuration,
An elastomer material layer is formed on the surface of the electrical resistance measurement connector by forming a liquid polymer substance-forming material that is cured to become an elastic polymer substance and containing conductive particles exhibiting magnetism. For the elastomer layer, a magnetic field having a strength greater than that of the other portion is applied in the thickness direction at the portion located on the surface of the region where the electrode set for connecting the electrical resistance measurement connector is formed. The material layer is cured so that the conductive particles exhibiting magnetism are aligned in the thickness direction on the surface of the electrical resistance measurement connector on the surface of the region where the connection electrode set is formed. Forming an elastomer layer contained in the state,
In the part containing the conductive particles in the elastomer layer, a part located on the surface of the region between the electrodes in the connection electrode set is removed to form a hole, and then the hole is cured to the hole. And filling a liquid polymer substance-forming material to be an elastic polymer substance and curing the polymer substance-forming material.

本発明の回路基板の電気抵抗測定装置は、少なくとも一面に電極を有する回路基板の電気抵抗を測定する回路基板の電気抵抗測定装置であって、
電気抵抗を測定すべき被検査回路基板の一面側に配置される、上記の構成の電気抵抗測定用コネクターを具えてなることを特徴とする。
The circuit board electrical resistance measuring device of the present invention is an electrical resistance measuring device for a circuit board for measuring electrical resistance of a circuit board having electrodes on at least one surface,
An electrical resistance measurement connector having the above-described configuration is provided on one surface side of a circuit board to be inspected for measuring electrical resistance.

また、本発明の回路基板の電気抵抗測定装置は、少なくとも一面に電極を有する回路基板の電気抵抗を測定する回路基板の電気抵抗測定装置であって、
電気抵抗を測定すべき被検査回路基板の一面側に配置される、上記の裏面に中継電極を有する電気抵抗測定用コネクターと、
この電気抵抗測定用コネクターの裏面に異方導電性シートを介して配置された、表面に前記電気抵抗測定用コネクターにおける中継電極のパターンに対応するパターンに従って配置された検査電極を有する一面側検査用回路基板とを具えてなることを特徴とする。
The circuit board electrical resistance measuring device of the present invention is an electrical resistance measuring device for a circuit board for measuring electrical resistance of a circuit board having electrodes on at least one surface,
An electrical resistance measurement connector having a relay electrode on the back surface, disposed on one surface side of the circuit board to be inspected for electrical resistance measurement,
For inspection on one side, which has an inspection electrode disposed on the back surface of the electrical resistance measurement connector via an anisotropic conductive sheet and disposed on the surface according to a pattern corresponding to the pattern of the relay electrode in the electrical resistance measurement connector And a circuit board.

上記の回路基板の電気抵抗測定装置において、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板が両面に電極を有するものである場合には、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板の他面側に配置される、他面側検査用回路基板を具えてなり、
前記他面側検査用回路基板は、その表面にそれぞれ前記被検査回路基板の他面側被検査電極の各々に対応して互いに離間して配置された、それぞれ同一の他面側被検査電極に電気的に接続される電流供給用検査電極および電圧測定用検査電極が形成されているものであってもよい。
In the circuit board electrical resistance measuring apparatus described above, when the circuit board to be inspected to be measured has electrodes on both sides, the circuit board is disposed on the other side of the circuit board to be measured for electrical resistance. A circuit board for inspection on the other side,
The other surface side inspection circuit boards are arranged on the same surface on the same other surface side inspected electrodes, which are arranged to be spaced apart from each other corresponding to the other surface side inspected electrodes of the circuit board to be inspected. An electrically connected test electrode for current supply and a test electrode for voltage measurement may be formed.

また、本発明の回路基板の電気抵抗測定装置は、両面に電極を有する回路基板の電気抵抗を測定する回路基板の電気抵抗測定装置であって、
電気抵抗を測定すべき被検査回路基板の一面側に配置される、上記の構成の電気抵抗測定用コネクターと、
当該被検査回路基板の他面側に配置される、上記の構成の電気抵抗測定用コネクターとを具えてなることを特徴とする。
The circuit board electrical resistance measuring device of the present invention is an electrical resistance measuring device for a circuit board for measuring electrical resistance of a circuit board having electrodes on both sides,
An electrical resistance measurement connector having the above-described configuration, which is disposed on one surface side of a circuit board to be inspected for measuring electrical resistance,
The electrical resistance measurement connector having the above-described configuration is provided on the other surface side of the circuit board to be inspected.

また、本発明の回路基板の電気抵抗測定装置は、両面に電極を有する回路基板の電気抵抗を測定する回路基板の電気抵抗測定装置であって、
電気抵抗を測定すべき被検査回路基板の一面側に配置される、上記の構成の電気抵抗測定用コネクターと、
この電気抵抗測定用コネクターの裏面に異方導電性シートを介して配置された、表面に当該電気抵抗測定用コネクターにおける中継電極のパターンに対応するパターンに従って配置された検査電極を有する一面側検査用回路基板と、
前記被検査回路基板の他面側に配置される、上記の構成の電気抵抗測定用コネクターと、
この電気抵抗測定用コネクターの裏面に異方導電性シートを介して配置された、表面に当該電気抵抗測定用コネクターにおける中継電極のパターンに対応するパターンに従って配置された検査電極を有する他面側検査用回路基板と
を具えてなることを特徴とする。
The circuit board electrical resistance measuring device of the present invention is an electrical resistance measuring device for a circuit board for measuring electrical resistance of a circuit board having electrodes on both sides,
An electrical resistance measurement connector having the above-described configuration, which is disposed on one surface side of a circuit board to be inspected for measuring electrical resistance,
For inspection on one surface side, which has an inspection electrode arranged on the back surface of the electrical resistance measurement connector via an anisotropic conductive sheet and arranged on the front surface according to a pattern corresponding to the pattern of the relay electrode in the electrical resistance measurement connector A circuit board;
An electrical resistance measurement connector having the above-described configuration, disposed on the other surface side of the circuit board to be inspected,
The other side inspection having the inspection electrode arranged on the front surface according to the pattern corresponding to the pattern of the relay electrode in the electric resistance measurement connector arranged on the back surface of the electric resistance measurement connector via an anisotropic conductive sheet And a circuit board for use.

本発明の回路基板の電気抵抗測定方法は、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板の一面に、上記の電気抵抗測定用コネクターを配置し、
当該被検査回路基板の一面側被検査電極の各々に、前記電気抵抗測定用コネクターの接続用電極組における少なくとも1つの電流供給用電極および少なくとも1つの電圧測定用電極を同時に電気的に接続して測定状態とし、
この測定状態において、前記電気抵抗測定用コネクターにおける電流供給用電極を介して被検査回路基板に電流を供給すると共に、前記一面側被検査電極に電気的に接続された電圧測定用電極のうち1つの電圧測定用電極を指定し、当該指定された1つの電圧測定用電極に電気的に接続された一面側被検査電極に係る電気抵抗の測定を実施することを特徴とする。
In the method for measuring electrical resistance of a circuit board according to the present invention, the electrical resistance measuring connector is disposed on one surface of a circuit board to be measured whose electrical resistance is to be measured.
At least one current supply electrode and at least one voltage measurement electrode in the connection electrode set of the electrical resistance measurement connector are simultaneously electrically connected to each of the electrodes to be inspected on one side of the circuit board to be inspected. The measurement state,
In this measurement state, a current is supplied to the circuit board to be inspected via a current supply electrode in the electrical resistance measurement connector, and one of the voltage measurement electrodes electrically connected to the one surface side inspected electrode. One voltage measuring electrode is designated, and the electrical resistance of the one-surface-side inspected electrode electrically connected to the designated one voltage measuring electrode is measured.

本発明の電気抵抗測定用コネクターによれば接続用電極組における電圧測定用電極、電流供給用電極および電圧測定用電極の3つの電極がこの順で並ぶよう配置されることにより、或いは、電流供給用電極、電圧測定用電極および電流供給用電極の3つの電極がこの順で並ぶよう配置されることにより、被検査電極が、接続用電極組における各電極が並ぶ方向に位置ずれした場合であっても、当該被検査電極は、少なくとも1つの電流供給用電極および少なくとも1つの電圧測定用電極の両方に同時に電気的に接続されるようになる。更に、このような構成において、電流供給用電極および電圧測定用電極の各々が、これらの電極が並ぶ方向に対して垂直な方向に長尺な形状とされることにより、被検査電極が、接続用電極組における各電極が並ぶ方向と垂直な方向に位置ずれした場合であっても、当該被検査電極は、電流供給用電極および電圧測定用電極の両方に同時に電気的に接続されるようになる。
従って、本発明の電気抵抗測定用コネクターによれば、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板が、大面積で、サイズの小さい多数の被検査電極を有するものであっても、当該被検査回路基板に対する所要の電気的接続を確実に達成することができ、しかも、所期の電気抵抗の測定を高い精度で確実に行うことができる。
According to the electrical resistance measurement connector of the present invention, the three electrodes of the voltage measurement electrode, the current supply electrode, and the voltage measurement electrode in the connection electrode set are arranged in this order, or By arranging the three electrodes of the supply electrode, the voltage measurement electrode, and the current supply electrode in this order, the inspected electrode is displaced in the direction in which the electrodes in the connection electrode set are aligned. Even if it exists, the said to-be-inspected electrode will be electrically connected simultaneously to both at least 1 electrode for current supply and at least 1 electrode for voltage measurement. Further, in such a configuration, each of the current supply electrode and the voltage measurement electrode is elongated in a direction perpendicular to the direction in which these electrodes are arranged, so that the electrode to be inspected is connected. Even when the electrodes in the electrode set are displaced in a direction perpendicular to the direction in which the electrodes are arranged, the electrode to be inspected is electrically connected to both the current supply electrode and the voltage measurement electrode simultaneously. Become.
Therefore, according to the electrical resistance measurement connector of the present invention, even if the circuit board to be inspected to measure the electrical resistance has a large area and a large number of small electrodes to be inspected, The required electrical connection to the substrate can be reliably achieved, and the intended electrical resistance can be reliably measured with high accuracy.

本発明の電気抵抗測定用コネクター装置によれば、上記の電気抵抗測定用コネクターを有するため、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板が、大面積で、サイズの小さい多数の被検査電極を有するものであっても、当該被検査回路基板に対する所要の電気的接続を確実に達成することができ、しかも、所期の電気抵抗の測定を高い精度で確実に行うことができ、更に、温度変化による熱履歴などの環境の変化に対しても良好な電気的接続を安定に維持することができる。
本発明の電気抵抗測定用コネクター装置の製造方法によれば、上記の電気抵抗測定用コネクター装置を有利に製造することができる。
本発明の回路装置の電気抵抗測定装置によれば、上記の電気抵抗測定用コネクターを有するため、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板が、大面積で、サイズの小さい多数の被検査電極を有するものであっても、当該被検査回路基板に対する所要の電気的接続を確実に達成することができ、しかも、所期の電気抵抗の測定を高い精度で確実に行うことができる。
本発明の回路装置の電気抵抗測定方法によれば、上記の電気抵抗測定用コネクターを用いるため、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板が、大面積で、サイズの小さい多数の被検査電極を有するものであっても、当該被検査回路基板に対する所要の電気的接続を確実に達成することができ、しかも、所期の電気抵抗の測定を高い精度で確実に行うことができる。
According to the electrical resistance measurement connector device of the present invention, since the electrical resistance measurement connector is provided, the circuit board to be inspected for measuring electrical resistance has a large area and a large number of small electrodes to be inspected. Even if it is, the required electrical connection to the circuit board to be inspected can be reliably achieved, and the intended electrical resistance can be reliably measured with high accuracy. Good electrical connection can be stably maintained against environmental changes such as heat history.
According to the method for manufacturing the electrical resistance measuring connector device of the present invention, the electrical resistance measuring connector device can be advantageously manufactured.
According to the electrical resistance measuring apparatus for a circuit device of the present invention, since the electrical resistance measuring connector is provided, the circuit board to be inspected for measuring electrical resistance has a large area and a large number of small electrodes to be inspected. Even if it has, the required electrical connection to the circuit board to be inspected can be reliably achieved, and the intended electrical resistance can be reliably measured with high accuracy.
According to the electrical resistance measurement method for a circuit device of the present invention, since the electrical resistance measurement connector is used, a circuit board to be inspected for measuring electrical resistance has a large area and a large number of small electrodes to be inspected. Even if it has, the required electrical connection to the circuit board to be inspected can be reliably achieved, and the intended electrical resistance can be reliably measured with high accuracy.

以下、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
〈電気抵抗測定用コネクター〉
図1は、本発明に係る電気抵抗測定用コネクターの第1の例を示す平面図、図2は、第1の例の電気抵抗測定用コネクターの構成を示す説明用断面図である。
この第1の例の電気抵抗測定用コネクター10は、絶縁性基板11を有し、この絶縁性基板11の表面には、複数の接続用電極組12が、電気抵抗を測定すべき回路基板の一面に形成された一面側被検査電極2(一点鎖線で示す)のパターンに対応するパターンに従って配置されている。この接続用電極組12の各々は、図1に示すように、2つの矩形の電流供給用電極13および2つの矩形の電圧測定用電極14の合計4つの電極よりなり、これらの4つの電極は、電流供給用電極13の各々が、矩形における互いに対角する頂点位置に位置され、かつ、電圧測定用電極14の各々が、当該矩形における互いに対角する他の頂点位置に位置されるよう、互いに離間して配置されている。
また、絶縁性基板11の裏面には、図2に示すように、複数の中継電極15が適宜のパターンに従って配置され、これらの中継電極15の各々には、絶縁性基板11に形成された配線部16によって、電流供給用電極13および電圧測定用電極14のいずれか一方が電気的に接続されている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail.
<Electrical resistance measurement connector>
FIG. 1 is a plan view showing a first example of an electrical resistance measurement connector according to the present invention, and FIG. 2 is an explanatory sectional view showing the configuration of the electrical resistance measurement connector of the first example.
The electrical resistance measuring connector 10 of the first example has an insulating substrate 11, and a plurality of connection electrode sets 12 are provided on the surface of the insulating substrate 11 of a circuit board whose electrical resistance is to be measured. It arrange | positions according to the pattern corresponding to the pattern of the one surface side to-be-tested electrode 2 (it shows with a dashed-dotted line) formed in one surface. As shown in FIG. 1, each of the connection electrode sets 12 includes a total of four electrodes, ie, two rectangular current supply electrodes 13 and two rectangular voltage measurement electrodes 14, and these four electrodes are Each of the current supply electrodes 13 is positioned at a diagonal vertex position in the rectangle, and each of the voltage measurement electrodes 14 is positioned at another diagonal position in the rectangle. They are spaced apart from each other.
Further, as shown in FIG. 2, a plurality of relay electrodes 15 are arranged on the back surface of the insulating substrate 11 according to an appropriate pattern. Each of the relay electrodes 15 has a wiring formed on the insulating substrate 11. Either one of the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 is electrically connected by the unit 16.

絶縁性基板11を構成する材料としては、ポリイミド樹脂、ガラス繊維補強型ポリイミド樹脂、ガラス繊維補強型エポキシ樹脂、ガラス繊維補強型ビスマレイミドトリアジン樹脂などを用いることができる。また、絶縁性基板11は、単層構成のものであっても多層構成のものであってもよい。
絶縁性基板11の厚みは、例えば50〜1000μmであることが好ましく、より好ましくは100〜500μmである。
As a material constituting the insulating substrate 11, polyimide resin, glass fiber reinforced polyimide resin, glass fiber reinforced epoxy resin, glass fiber reinforced bismaleimide triazine resin, or the like can be used. The insulating substrate 11 may have a single layer structure or a multilayer structure.
The thickness of the insulating substrate 11 is preferably, for example, 50 to 1000 μm, and more preferably 100 to 500 μm.

電流供給用電極13、電圧測定用電極14、中継電極15および配線部16を構成する材料としては、銅、ニッケル、金またはこれらの金属の積層体などを用いることができる。
また、電流供給用電極13、電圧測定用電極14、中継電極15および配線部16は、プリント配線板を製造するために一般に用いられる方法によって、形成することができる。
As a material constituting the current supply electrode 13, the voltage measurement electrode 14, the relay electrode 15, and the wiring portion 16, copper, nickel, gold, or a laminate of these metals can be used.
Further, the current supply electrode 13, the voltage measurement electrode 14, the relay electrode 15 and the wiring portion 16 can be formed by a method generally used for manufacturing a printed wiring board.

接続用電極組12における電流供給用電極13と電圧測定用電極14との間の離間距離は、20〜100μmであることが好ましく、より好ましくは30〜80μmである。この離間距離が過小である場合には、電流供給用電極13と電圧測定用電極14との間に必要な絶縁性を確保することが困難となることがあり、また、当該電気抵抗測定用コネクター10の製造が困難となることがある。一方、この離間距離が過大である場合には、被検査電極に対する位置ずれの許容度が小さくなり、電流供給用電極13および電圧測定用電極14の両方を被検査電極に確実に電気的に接続することが困難となることがある。   The separation distance between the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 in the connection electrode set 12 is preferably 20 to 100 μm, more preferably 30 to 80 μm. If the separation distance is too small, it may be difficult to ensure the necessary insulation between the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14, and the electrical resistance measurement connector 10 may be difficult to manufacture. On the other hand, when the separation distance is excessive, the tolerance of displacement with respect to the electrode to be inspected is reduced, and both the current supply electrode 13 and the voltage measuring electrode 14 are reliably electrically connected to the electrode to be inspected. May be difficult to do.

上記の電気抵抗測定用コネクター10においては、図3に示すように、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板1の一面に、例えば異方導電性シート5を介して当該電気抵抗測定用コネクター10における各接続用電極組12が当該被検査回路基板1の各一面側被検査電極2上に位置するよう配置され、適宜の手段によって押圧されることにより、被検査回路基板10の一面側被検査電極2が、異方導電性シート5を介して、電気抵抗測定用コネクター10における接続用電極組12における電極に電気的に接続される。
このような状態において、電流供給用電極13を介して被検査回路基板1の被検査電極間に定電流を供給すると共に、被検査回路基板10における一面側被検査電極2に電気的に接続された電圧測定用電極14のうち1つの電圧測定用電極14を指定し、この指定された電圧測定用電極14に電気的に接続された一面側被検査電極2に係る電気抵抗の測定が行われる。そして、指定する電圧測定用電極14を順次変更することにより、全ての一面側被検査電極2に係る電気抵抗の測定が行われる。
In the electrical resistance measurement connector 10, as shown in FIG. 3, the electrical resistance measurement connector 10 is disposed on one surface of the circuit board 1 to be measured, for example, via an anisotropic conductive sheet 5. Each of the connection electrode sets 12 is arranged on each one-surface-side inspected electrode 2 of the circuit board 1 to be inspected, and is pressed by an appropriate means, whereby one surface-side inspecting of the circuit board 10 to be inspected is performed. The electrode 2 is electrically connected to the electrode in the connection electrode set 12 in the electrical resistance measurement connector 10 via the anisotropic conductive sheet 5.
In such a state, a constant current is supplied between the electrodes to be inspected of the circuit board 1 to be inspected via the current supply electrodes 13 and is electrically connected to the electrode 2 to be inspected in the circuit board 10 to be inspected. One voltage measurement electrode 14 is designated out of the measured voltage measurement electrodes 14, and the electrical resistance of the one-surface-side inspected electrode 2 electrically connected to the designated voltage measurement electrode 14 is measured. . Then, by sequentially changing the voltage measuring electrode 14 to be designated, the electrical resistance of all the one-surface-side inspected electrodes 2 is measured.

第1の例の電気抵抗測定用コネクター10によれば、各接続用電極組12には、2つの電流供給用電極13が、矩形における互いに対角する頂点位置に位置され、かつ、2つの電圧測定用電極14が、当該矩形における互いに対角する他の頂点位置に位置されているため、当該矩形における辺方向(図1において左右方向および上下方向)に、一面側被検査電極2が位置ずれした場合であっても、当該一面側被検査電極2は、少なくとも1つの電流供給用電極13および少なくとも1つの電圧測定用電極14の両方に同時に電気的に接続されるようになる。
具体的な例を挙げて説明すると、図4(イ)に示すように、一面側被検査電極2の中心位置が、接続用電極組12の中心位置から、当該図において右方に位置ずれした場合には、それぞれ図において右側に位置された電流供給用電極13および電圧測定用電極14の両方に同時に電気的に接続されるようになる。
また、図4(ロ)に示すように、一面側被検査電極2の中心位置が、接続用電極組12の中心位置から、当該図において左方に位置ずれした場合には、それぞれ図において左側に位置された電流供給用電極13および電圧測定用電極14の両方に同時に電気的に接続されるようになる。
また、図4(ハ)に示すように、一面側被検査電極2の中心位置が、接続用電極組12の中心位置から、当該図において上方に位置ずれした場合には、それぞれ図において上側に位置された電流供給用電極13および電圧測定用電極14の両方に同時に電気的に接続されるようになる。
また、図4(ニ)に示すように、一面側被検査電極2の中心位置が、接続用電極組12の中心位置から、当該図において下方に位置ずれした場合には、それぞれ図において下側に位置された電流供給用電極13および電圧測定用電極14の両方に同時に電気的に接続されるようになる。
According to the electrical resistance measurement connector 10 of the first example, each connection electrode set 12 has two current supply electrodes 13 positioned at the apex positions of the rectangles opposite to each other and two voltages. Since the measurement electrode 14 is positioned at another vertex position opposite to each other in the rectangle, the one-surface-side inspected electrode 2 is displaced in the side direction (the horizontal direction and the vertical direction in FIG. 1) in the rectangle. Even in this case, the one-surface-side inspected electrode 2 is electrically connected to both at least one current supply electrode 13 and at least one voltage measurement electrode 14 at the same time.
Explaining with a specific example, as shown in FIG. 4 (a), the center position of the one-surface-side inspected electrode 2 is shifted to the right in the drawing from the center position of the connection electrode set 12. In this case, both the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 positioned on the right side in the drawing are electrically connected simultaneously.
Further, as shown in FIG. 4B, when the center position of the one-surface-side inspected electrode 2 is shifted to the left in the figure from the center position of the connection electrode set 12, the left side in the figure respectively. Are simultaneously electrically connected to both the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14.
Further, as shown in FIG. 4 (c), when the center position of the one-surface-side inspected electrode 2 is shifted upward in the figure from the center position of the connection electrode set 12, the upper side in the figure respectively. Both the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 are electrically connected simultaneously.
Further, as shown in FIG. 4 (d), when the center position of the one-surface-side inspected electrode 2 is shifted downward in the figure from the center position of the connection electrode set 12, the lower side in the figure respectively. Are simultaneously electrically connected to both the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14.

従って、第1の例の電気抵抗測定用コネクター10によれば、被検査回路基板1との電気的接続作業において、一面側被検査電極2に対する位置ずれの許容度が大きいため、被検査回路基板1が大面積でサイズの小さい多数の一面側被検査電極2を有するものであっても、当該一面側被検査電極2に対する電流供給用電極13および電圧測定用電極14の両方の電気接続を確実に達成することができる。しかも、電流供給用電極13および電圧測定用電極14は互いに電気的に絶縁されているので、被検査回路基板1についての電気抵抗を高い精度で測定することができる。   Therefore, according to the electrical resistance measuring connector 10 of the first example, since the tolerance for displacement with respect to the one-surface-side inspected electrode 2 is large in the electrical connection work with the inspected circuit board 1, Even if 1 has a large number of single-surface-side electrodes 2 to be inspected 2 having a large area, the electrical connection of both the current supply electrode 13 and the voltage measuring electrode 14 to the single-surface-side electrode 2 is ensured. Can be achieved. Moreover, since the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 are electrically insulated from each other, the electrical resistance of the circuit board 1 to be inspected can be measured with high accuracy.

本発明において、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板1としては、図5(イ)に示すように、一面に形成された一面側被検査電極2のみを有し、当該一面側被検査電極2間に形成された回路4aのみを有するもの、図5(ロ)に示すように、一面に形成された一面側被検査電極2および他面に形成された他面側被検査電極3を有し、一面側被検査電極2と他面側被検査電極3との間に形成された回路4bのみを有するもの、図5(ハ)に示すように、一面に形成された一面側被検査電極2および他面に形成された他面側被検査電極3を有し、一面側被検査電極2間に形成された回路4aおよび一面側被検査電極2と他面側被検査電極3との間に形成された回路4bの両方を有するもののいずれであってもよい。   In the present invention, the circuit board to be inspected 1 whose electrical resistance is to be measured has only one surface side inspected electrode 2 formed on one surface as shown in FIG. 2 having only the circuit 4a formed between the two electrodes, as shown in FIG. 5 (b), having the one-surface-side inspected electrode 2 formed on one surface and the other-surface-side inspected electrode 3 formed on the other surface. And having only the circuit 4b formed between the one-surface-side inspected electrode 2 and the other-surface-side inspected electrode 3, as shown in FIG. 5 (c), the one-surface-side inspected electrode formed on one surface 2 and the other surface side inspected electrode 3 formed on the other surface, the circuit 4a formed between the one surface side inspected electrode 2, and between the one surface side inspected electrode 2 and the other surface side inspected electrode 3 Any of those having both of the circuits 4b formed in the above may be used.

図6は、本発明に係る電気抵抗測定用コネクターの第2の例を示す平面図、図7は、第2の例の電気抵抗測定用コネクターの構成を示す説明用断面図である。
この第2の例の電気抵抗測定用コネクター10においては、絶縁性基板11の表面には、複数の接続用電極組12が、電気抵抗を測定すべき回路基板の一面に形成された一面側被検査電極2(一点鎖線で示す)のパターンに対応するパターンに従って配置されている。この接続用電極組12の各々は、図6に示すように、1つの矩形の電流供給用電極13および2つの矩形の電圧測定用電極14の合計3つの電極よりなり、これらの3つの電極は、電圧測定用電極14、電流供給用電極13、電圧測定用電極14の順で並ぶよう、互いに離間して配置されている。
また、絶縁性基板11の裏面には、図7に示すように、複数の中継電極15が適宜のパターンに従って配置され、これらの中継電極15の各々には、絶縁性基板11に形成された配線部16によって、電流供給用電極13および電圧測定用電極14のいずれか一方が電気的に接続されている。
以上において、絶縁性基板11の材質および接続用電極組12における各電極の材質は、前述の第1の例の電気抵抗測定用コネクターと同様である。
FIG. 6 is a plan view showing a second example of the electrical resistance measurement connector according to the present invention, and FIG. 7 is an explanatory sectional view showing the configuration of the electrical resistance measurement connector of the second example.
In the electrical resistance measuring connector 10 of the second example, a plurality of connection electrode sets 12 are formed on the surface of the insulating substrate 11 on one side of the circuit board on which electrical resistance is to be measured. It arrange | positions according to the pattern corresponding to the pattern of the test | inspection electrode 2 (it shows with a dashed-dotted line). As shown in FIG. 6, each of the connection electrode sets 12 includes a total of three electrodes, one rectangular current supply electrode 13 and two rectangular voltage measurement electrodes 14, and these three electrodes are The electrode 14 for voltage measurement, the electrode 13 for current supply, and the electrode 14 for voltage measurement are arranged so as to be spaced apart from each other.
Further, as shown in FIG. 7, a plurality of relay electrodes 15 are arranged on the back surface of the insulating substrate 11 in accordance with an appropriate pattern, and each of the relay electrodes 15 has a wiring formed on the insulating substrate 11. Either one of the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 is electrically connected by the unit 16.
In the above, the material of the insulating substrate 11 and the material of each electrode in the connection electrode set 12 are the same as those of the electrical resistance measurement connector of the first example described above.

第2の例の電気抵抗測定用コネクター10によれば、接続用電極組12には、電圧測定用電極14、電流供給用電極13および電圧測定用電極14の3つの電極が、この順で並ぶよう配置されているため、一面側被検査電極2が、当該接続用電極組12における各電極が並ぶ方向(図6において左右方向)に位置ずれした場合であっても、当該一面側被検査電極2は、電流供給用電極13および少なくとも1つの電圧測定用電極14の両方に同時に電気的に接続されるようになる。
具体的に説明すると、図8(イ)に示すように、一面側被検査電極2の中心位置が、接続用電極組12の中心位置から、当該図において右方に位置ずれした場合には、中央に位置された電流供給用電極13および図において右側に位置された電圧測定用電極14の両方に同時に電気的に接続されるようになる。
また、図8(ロ)に示すように、一面側被検査電極2の中心位置が、接続用電極組12の中心位置から、当該図において左方に位置ずれした場合には、中央に位置された電流供給用電極13および図において左側に位置された電圧測定用電極14の両方に同時に電気的に接続されるようになる。
また、電流供給用電極13および電圧測定用電極14の各々は、それらが並ぶ方向に対して垂直な方向に長尺な矩形の形状を有するため、一面側被検査電極2の中心位置が、接続用電極組12の中心位置から、当該接続用電極組12における各電極が並ぶ方向と垂直な方向(図6において上下方向)に位置ずれした場合であっても、当該一面側被検査電極2は、電流供給用電極13および電圧測定用電極14の両方に同時に電気的に接続されるようになる。
According to the electrical resistance measurement connector 10 of the second example, the connection electrode set 12 includes three electrodes, a voltage measurement electrode 14, a current supply electrode 13, and a voltage measurement electrode 14, arranged in this order. Therefore, even if the one-surface-side inspected electrode 2 is displaced in the direction in which the electrodes in the connection electrode set 12 are aligned (left-right direction in FIG. 6), the one-surface-side inspected electrode 2 is electrically connected to both the current supply electrode 13 and the at least one voltage measurement electrode 14 simultaneously.
Specifically, as shown in FIG. 8 (a), when the center position of the one-surface-side inspected electrode 2 is shifted to the right in the drawing from the center position of the connection electrode set 12, Both the current supply electrode 13 located in the center and the voltage measurement electrode 14 located on the right side in the figure are electrically connected simultaneously.
Further, as shown in FIG. 8 (b), when the center position of the one-surface-side inspected electrode 2 is shifted to the left in the drawing from the center position of the connection electrode set 12, it is positioned at the center. The current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 positioned on the left side in the figure are both electrically connected simultaneously.
In addition, each of the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 has a rectangular shape that is long in a direction perpendicular to the direction in which they are arranged. Even when the position of the electrodes in the connection electrode set 12 is shifted from the center position of the connection electrode set 12 in a direction (vertical direction in FIG. 6) perpendicular to the direction in which the electrodes are arranged, The current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 are both electrically connected at the same time.

従って、第2の例の電気抵抗測定用コネクター10によれば、被検査回路基板1との電気的接続作業において、一面側被検査電極2に対する位置ずれの許容度が大きいため、被検査回路基板1が大面積でサイズの小さい多数の一面側被検査電極2を有するものであっても、当該一面側被検査電極2に対する電流供給用電極13および電圧測定用電極14の両方の電気接続を確実に達成することができる。しかも、電流供給用電極13および電圧測定用電極14は互いに電気的に絶縁されているので、被検査回路基板1についての電気抵抗を高い精度で測定することができる。   Therefore, according to the electrical resistance measuring connector 10 of the second example, since the tolerance for displacement with respect to the one-surface-side inspected electrode 2 is large in the electrical connection work with the inspected circuit board 1, the circuit board to be inspected. Even if 1 has a large number of single-surface-side electrodes 2 to be inspected 2 having a large area, the electrical connection of both the current supply electrode 13 and the voltage measuring electrode 14 to the single-surface-side electrode 2 is ensured. Can be achieved. Moreover, since the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 are electrically insulated from each other, the electrical resistance of the circuit board 1 to be inspected can be measured with high accuracy.

図9は、本発明に係る電気抵抗測定用コネクターの第3の例を示す平面図、図10は、第3の例の電気抵抗測定用コネクターの構成を示す説明用断面図である。
この第3の例の電気抵抗測定用コネクター10においては、絶縁性基板11の表面には、複数の接続用電極組12が、電気抵抗を測定すべき回路基板の一面に形成された一面側被検査電極2(一点鎖線で示す)のパターンに対応するパターンに従って配置されている。この接続用電極組12の各々は、図9に示すように、2つの矩形の電流供給用電極13および1つの矩形の電圧測定用電極14の合計3つの電極よりなり、これらの3つの電極は、電流供給用電極13、電圧測定用電極14、電流供給用電極13の順で並ぶよう、互いに離間して配置されている。
また、絶縁性基板11の裏面には、図10に示すように、複数の中継電極15が適宜のパターンに従って配置され、これらの中継電極15の各々には、絶縁性基板11に形成された配線部16によって、電流供給用電極13および電圧測定用電極14のいずれか一方が電気的に接続されている。
以上において、絶縁性基板11の材質および接続用電極組12における各電極の材質は、前述の第1の例の電気抵抗測定用コネクターと同様である。
FIG. 9 is a plan view showing a third example of the electrical resistance measurement connector according to the present invention, and FIG. 10 is an explanatory sectional view showing the configuration of the electrical resistance measurement connector of the third example.
In the electrical resistance measurement connector 10 of the third example, a plurality of connection electrode sets 12 are formed on the surface of the insulating substrate 11 on one side of the circuit board on which electrical resistance is to be measured. It arrange | positions according to the pattern corresponding to the pattern of the test | inspection electrode 2 (it shows with a dashed-dotted line). As shown in FIG. 9, each of the connection electrode sets 12 includes a total of three electrodes, that is, two rectangular current supply electrodes 13 and one rectangular voltage measurement electrode 14, and these three electrodes are The current supply electrode 13, the voltage measurement electrode 14, and the current supply electrode 13 are arranged apart from each other so as to be arranged in this order.
Further, as shown in FIG. 10, a plurality of relay electrodes 15 are arranged on the back surface of the insulating substrate 11 according to an appropriate pattern, and each of the relay electrodes 15 has a wiring formed on the insulating substrate 11. Either one of the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 is electrically connected by the unit 16.
In the above, the material of the insulating substrate 11 and the material of each electrode in the connection electrode set 12 are the same as those of the electrical resistance measurement connector of the first example described above.

第3の例の電気抵抗測定用コネクター10によれば、接続用電極組12には、電流供給用電極13、電圧測定用電極14および電流供給用電極13の3つの電極が、この順で並ぶよう配置されているため、一面側被検査電極2が、接続用電極組12における各電極が並ぶ方向(図9において左右方向)に位置ずれした場合であっても、当該一面側被検査電極2は、少なくとも1つの電流供給用電極13および電圧測定用電極14の両方に同時に電気的に接続されるようになる。
また、電流供給用電極13および電圧測定用電極14の各々は、それらが並ぶ方向に対して垂直な方向に長尺な矩形の形状を有するため、一面側被検査電極2の中心位置が、接続用電極組12の中心位置から、当該接続用電極組12における各電極が並ぶ方向と垂直な方向(図9において上下方向)に位置ずれした場合であっても、当該一面側被検査電極2は、電流供給用電極13および電圧測定用電極14の両方に同時に電気的に接続されるようになる。
According to the electrical resistance measurement connector 10 of the third example, the connection electrode set 12 includes three electrodes, a current supply electrode 13, a voltage measurement electrode 14, and a current supply electrode 13, arranged in this order. Therefore, even if the one-surface-side inspected electrode 2 is displaced in the direction in which the electrodes in the connection electrode set 12 are arranged (left-right direction in FIG. 9), the one-surface-side inspected electrode 2 Are electrically connected to both at least one of the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 simultaneously.
In addition, each of the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 has a rectangular shape that is long in a direction perpendicular to the direction in which they are arranged. Even when the position of the electrodes in the connection electrode set 12 is shifted from the center position of the connection electrode set 12 in a direction (vertical direction in FIG. 9) perpendicular to the direction in which the electrodes are arranged, The current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 are both electrically connected at the same time.

従って、第3の例の電気抵抗測定用コネクター10によれば、被検査回路基板1との電気的接続作業において、一面側被検査電極2に対する位置ずれの許容度が大きいため、被検査回路基板1が大面積でサイズの小さい多数の一面側被検査電極2を有するものであっても、当該一面側被検査電極2に対する電流供給用電極13および電圧測定用電極14の両方の電気接続を確実に達成することができる。しかも、電流供給用電極13および電圧測定用電極14は互いに電気的に絶縁されているので、被検査回路基板1についての電気抵抗を高い精度で測定することができる。   Therefore, according to the electrical resistance measuring connector 10 of the third example, since the tolerance for displacement with respect to the one-surface-side inspected electrode 2 is large in the electrical connection work with the inspected circuit board 1, Even if 1 has a large number of single-surface-side electrodes 2 to be inspected 2 having a large area, the electrical connection of both the current supply electrode 13 and the voltage measuring electrode 14 to the single-surface-side electrode 2 is ensured. Can be achieved. Moreover, since the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 are electrically insulated from each other, the electrical resistance of the circuit board 1 to be inspected can be measured with high accuracy.

図11は、本発明に係る電気抵抗測定用コネクターの第4の例における構成を示す説明用断面図である。
この第4の例の電気抵抗測定用コネクター10においては、第1の例の電気抵抗測定用コネクターと同様の構成の接続用電極組12が絶縁性基板11の表面に形成されている(図1参照)。絶縁性基板11の裏面には、複数の中継電極15が適宜のパターンに従って配置され、これらの中継電極15の各々には、絶縁性基板11に形成された配線部16によって、電流供給用電極13および電圧測定用電極14のいずれか一方が電気的に接続されており、これらの中継電極15のうち一部の中継電極15には、複数の電流供給用電極13が電気的に接続されている。
以上において、絶縁性基板11の材質および接続用電極組12における各電極の材質は、前述の第1の例の電気抵抗測定用コネクターと同様である。
FIG. 11 is an explanatory cross-sectional view showing the configuration of a fourth example of the electrical resistance measuring connector according to the present invention.
In the electrical resistance measurement connector 10 of the fourth example, a connection electrode set 12 having the same configuration as that of the electrical resistance measurement connector of the first example is formed on the surface of the insulating substrate 11 (FIG. 1). reference). A plurality of relay electrodes 15 are arranged according to an appropriate pattern on the back surface of the insulating substrate 11, and each of the relay electrodes 15 is provided with a current supply electrode 13 by a wiring portion 16 formed on the insulating substrate 11. And one of the voltage measurement electrodes 14 are electrically connected, and a plurality of current supply electrodes 13 are electrically connected to some of the relay electrodes 15 among the relay electrodes 15. .
In the above, the material of the insulating substrate 11 and the material of each electrode in the connection electrode set 12 are the same as those of the electrical resistance measurement connector of the first example described above.

第4の例の電気抵抗測定用コネクター10によれば、被検査回路基板との電気的接続作業において、被検査電極に対する位置ずれの許容度が大きいため、被検査回路基板が大面積でサイズの小さい多数の被検査電極を有するものであっても、当該被検査電極に対する電流供給用電極13および電圧測定用電極14の両方の電気接続を確実に達成することができる。しかも、電流供給用電極13および電圧測定用電極14は互いに電気的に絶縁されているので、被検査回路基板についての電気抵抗を高い精度で測定することができる。
更に、複数の電流供給用電極13に電気的に接続された中継電極15を有するため、当該電気抵抗測定用コネクター10が電気的に接続される検査用回路基板における検査電極の数を少なくすることができ、これにより、検査用回路基板の製造が容易となり、また、検査用回路基板の製造コストの低減化を図ることができる。
According to the electrical resistance measurement connector 10 of the fourth example, since the tolerance of displacement with respect to the electrode to be inspected is large in the electrical connection work with the circuit board to be inspected, the circuit board to be inspected has a large area and a size. Even with a large number of small electrodes to be inspected, it is possible to reliably achieve electrical connection of both the current supply electrode 13 and the voltage measuring electrode 14 to the electrode to be inspected. Moreover, since the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 are electrically insulated from each other, the electrical resistance of the circuit board to be inspected can be measured with high accuracy.
Further, since the relay electrode 15 is electrically connected to the plurality of current supply electrodes 13, the number of inspection electrodes on the inspection circuit board to which the electrical resistance measurement connector 10 is electrically connected is reduced. As a result, the manufacture of the inspection circuit board is facilitated, and the manufacturing cost of the inspection circuit board can be reduced.

本発明の電気抵抗測定用コネクターは、上記の例に限定されず、種々の変更を加えることが可能である。
例えば、接続用電極組は、電流供給用電極および電圧測定用電極の各々を少なくと1つ以上有するものであれば、全電極の数は5個以上であってもよい。
また、電流供給用電極および電圧測定用電極の形状は、矩形に限られず、円形、その他の形状であってもよい。
また、接続用電極組における電極の配置パターンは、当該電極の数および形状並びに被検査電極の形状などに応じて適宜設定することができる。
また、一つの中継電極に複数の電圧測定用電極が電気的に接続されていてもよい。
The electrical resistance measurement connector of the present invention is not limited to the above example, and various modifications can be made.
For example, the number of all electrodes may be five or more as long as the connection electrode set has at least one of each of the current supply electrode and the voltage measurement electrode.
The shapes of the current supply electrode and the voltage measurement electrode are not limited to a rectangle, but may be a circle or other shapes.
Further, the arrangement pattern of the electrodes in the connection electrode set can be appropriately set according to the number and shape of the electrodes, the shape of the electrode to be inspected, and the like.
In addition, a plurality of voltage measurement electrodes may be electrically connected to one relay electrode.

〈電気抵抗測定用コネクター装置〉
図12は、本発明に係る電気抵抗測定用コネクター装置の第1の例における構成を示す説明用断面図である。この電気抵抗測定用コネクター装置25は、第1の例の電気抵抗測定用コネクター10と、この電気抵抗測定用コネクター10の表面(図において下面)上に一体的に形成された異方導電性エラストマー層20とにより構成されている。
異方導電性エラストマー層20は、図13にも示すように、各接続用電極組12における電流供給用電極13および電圧測定用電極14のパターンに対応するパターンに従って配置された厚み方向に伸びる複数の導電路形成部21と、これらの導電路形成部21の間に介在されてこれらを相互に絶縁する絶縁部22とにより構成されている。また、図示の例では、異方導電性エラストマー層20の表面には、1つの接続用電極組12の各電極に対応する4つの導電路形成部21の表面およびそれらの間に介在された絶縁部22の表面がその他の絶縁部22の表面から突出するよう、突出部23が形成されている。
導電路形成部21は、当該異方導電性エラストマー層20の基材を構成する弾性高分子物質中に磁性を示す導電性粒子Pが厚み方向に並ぶよう配向した状態で密に含有されて構成されており、この導電性粒子Pの連鎖によって導電路が形成される。これに対して、絶縁部22は、導電性粒子Pが全く或いは殆ど含有されていないものである。
<Connector device for electrical resistance measurement>
FIG. 12 is an explanatory cross-sectional view showing the configuration of the first example of the electrical resistance measuring connector device according to the present invention. This electrical resistance measurement connector device 25 is an anisotropic conductive elastomer integrally formed on the electrical resistance measurement connector 10 of the first example and on the surface (lower surface in the figure) of the electrical resistance measurement connector 10. And the layer 20.
As shown in FIG. 13, the anisotropic conductive elastomer layer 20 includes a plurality of layers extending in the thickness direction arranged according to patterns corresponding to the patterns of the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 in each connection electrode set 12. The conductive path forming portion 21 and an insulating portion 22 that is interposed between the conductive path forming portions 21 and insulates them from each other. Further, in the illustrated example, the surface of the anisotropic conductive elastomer layer 20 includes the surfaces of the four conductive path forming portions 21 corresponding to the respective electrodes of one connection electrode set 12 and the insulation interposed therebetween. The protruding portion 23 is formed so that the surface of the portion 22 protrudes from the surface of the other insulating portion 22.
The conductive path forming portion 21 is configured to be densely contained in the elastic polymer material constituting the base material of the anisotropic conductive elastomer layer 20 in a state where the conductive particles P exhibiting magnetism are aligned in the thickness direction. The conductive path is formed by the chain of the conductive particles P. On the other hand, the insulating part 22 contains no or almost no conductive particles P.

導電路形成部21を構成する導電性粒子Pとしては、例えばニッケル、鉄、コバルトなどの磁性を示す金属粒子もしくはこれらの合金の粒子またはこれらの金属を含有する粒子、またはこれらの粒子を芯粒子とし、当該芯粒子の表面に金、銀、パラジウム、ロジウムなどの導電性の良好な金属のメッキを施したもの、あるいは非磁性金属粒子もしくはガラスビーズなどの無機質粒子またはポリマー粒子を芯粒子とし、当該芯粒子の表面に、ニッケル、コバルトなどの導電性磁性体のメッキを施したものなどが挙げられる。
これらの中では、ニッケル粒子を芯粒子とし、その表面に金や銀などの導電性の良好な金属のメッキを施したものを用いることが好ましい。
また、導電性粒子Pの粒径は、得られる導電路形成部21の加圧変形を容易にし、当該導電路形成部21における導電性粒子P間に十分な電気的な接触が得られるよう、3〜200μmであることが好ましく、特に10〜100μmであることが好ましい。
As the conductive particles P constituting the conductive path forming portion 21, for example, metal particles exhibiting magnetism such as nickel, iron, cobalt or the like, particles of these alloys, particles containing these metals, or these particles as core particles And the surface of the core particle is plated with a metal having good conductivity such as gold, silver, palladium, rhodium, or inorganic particles or polymer particles such as non-magnetic metal particles or glass beads as the core particles, Examples include those obtained by plating the surface of the core particles with a conductive magnetic material such as nickel or cobalt.
Among these, it is preferable to use nickel particles as core particles and the surfaces thereof plated with a metal having good conductivity such as gold or silver.
In addition, the particle size of the conductive particles P facilitates the pressure deformation of the obtained conductive path forming portion 21, and sufficient electrical contact is obtained between the conductive particles P in the conductive path forming portion 21. It is preferable that it is 3-200 micrometers, and it is especially preferable that it is 10-100 micrometers.

また、導電性粒子Pの含水率は、5%以下であることが好ましく、より好ましくは3%以下、さらに好ましくは2%以下、特に好ましくは1%以下である。このような条件を満足することにより、第1の上部側異方導電性シート20を形成する際に、当該第1の異方導電性シート20に気泡が生ずることが防止または抑制される。   The moisture content of the conductive particles P is preferably 5% or less, more preferably 3% or less, still more preferably 2% or less, and particularly preferably 1% or less. By satisfying such conditions, the formation of bubbles in the first anisotropic conductive sheet 20 is prevented or suppressed when the first upper anisotropic conductive sheet 20 is formed.

導電路形成部21における導電性粒子Pの割合は、体積分率で5〜60%であることが好ましく、より好ましくは7〜50%、特に好ましくは10〜40%である。この割合が5%未満である場合には、十分に電気抵抗値の小さい導電路を形成することが困難となることがある。一方、この割合が60%を超える場合には、得られる導電路形成部21は脆弱なものとなり、導電路形成部としての必要な弾性が得られないことがある。   The ratio of the conductive particles P in the conductive path forming part 21 is preferably 5 to 60%, more preferably 7 to 50%, and particularly preferably 10 to 40% in terms of volume fraction. When this ratio is less than 5%, it may be difficult to form a conductive path having a sufficiently small electric resistance value. On the other hand, when this ratio exceeds 60%, the obtained conductive path forming part 21 becomes fragile, and the necessary elasticity as the conductive path forming part may not be obtained.

異方導電性エラストマー層20の基材を構成する絶縁性の弾性高分子物質としては、架橋構造を有するものが好ましい。架橋構造を有する高分子物質を得るために用いることのできる高分子物質用材料としては、種々のものを用いることができ、その具体例としては、ポリブタジエンゴム、天然ゴム、ポリイソプレンゴム、スチレン−ブタジエン共重合体ゴム、アクリロニトリル−ブタジエン共重合体ゴムなどの共役ジエン系ゴムおよびこれらの水素添加物、スチレン−ブタジエンブロック共重合体ゴムなどのブロック共重合体ゴムおよびこれらの水素添加物、シリコーンゴム、フッ素ゴム、シリコーン変性フッ素ゴム、エチレン−プロピレン共重合体ゴム、ウレタンゴム、ポリエステル系ゴム、クロロプレンゴム、エピクロルヒドリンゴムなどが挙げられる。
以上において、成形加工性および電気絶縁特性が高いことから、シリコーンゴム、シリコーン変性フッ素ゴムを用いることが好ましい。
As the insulating elastic polymer material constituting the base material of the anisotropic conductive elastomer layer 20, those having a crosslinked structure are preferable. Various materials can be used as the polymer material that can be used to obtain a polymer material having a crosslinked structure. Specific examples thereof include polybutadiene rubber, natural rubber, polyisoprene rubber, styrene- Conjugated diene rubbers such as butadiene copolymer rubber, acrylonitrile-butadiene copolymer rubber, and hydrogenated products thereof, block copolymer rubbers such as styrene-butadiene block copolymer rubber, and hydrogenated products thereof, silicone rubber , Fluoro rubber, silicone-modified fluoro rubber, ethylene-propylene copolymer rubber, urethane rubber, polyester rubber, chloroprene rubber, epichlorohydrin rubber and the like.
In the above, silicone rubber and silicone-modified fluororubber are preferably used because of high moldability and electrical insulation characteristics.

このような第1の例の電気抵抗測定用コネクター装置25によれば、第1の例の電気抵抗測定用コネクターを有するため、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板との電気的接続作業において、被検査電極に対する位置ずれの許容度が大きいため、被検査回路基板が大面積でサイズの小さい多数の一面側被検査電極を有するものであっても、当該被検査電極に対する電流供給用電極13および電圧測定用電極14の両方の電気接続を確実に達成することができる。しかも、電流供給用電極13および電圧測定用電極14は互いに電気的に絶縁されているので、被検査回路基板1についての電気抵抗を高い精度で測定することができる。
また、電気抵抗測定用コネクター10の表面に、異方導電性エラストマー層20が一体的に形成されているため、温度変化による熱履歴などの環境の変化に対しても良好な電気的接続を安定に維持することができる。
また、異方導電性エラストマー層20には、電気抵抗測定用コネクター10における電流供給用電極13および電圧測定用電極14に対応して導電路形成部21が形成されているため、電流供給用電極13および電圧測定用電極14の間の絶縁性が確保され、その結果、被検査回路基板についての電気抵抗を一層高い精度で測定することができる。
According to the electrical resistance measurement connector device 25 of the first example as described above, since the electrical resistance measurement connector of the first example is provided, in the electrical connection work with the circuit board to be inspected, the electrical resistance is to be measured. Since the tolerance of displacement with respect to the electrode to be inspected is large, even if the circuit board to be inspected has a large number of single-surface inspected electrodes having a large area and a small size, the current supply electrode 13 for the electrode to be inspected And electrical connection of both the voltage measuring electrode 14 can be reliably achieved. Moreover, since the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 are electrically insulated from each other, the electrical resistance of the circuit board 1 to be inspected can be measured with high accuracy.
In addition, since the anisotropic conductive elastomer layer 20 is integrally formed on the surface of the electrical resistance measuring connector 10, stable electrical connection can be achieved against environmental changes such as thermal history due to temperature changes. Can be maintained.
The anisotropic conductive elastomer layer 20 is provided with the conductive path forming portion 21 corresponding to the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 in the electrical resistance measurement connector 10. As a result, the electrical resistance of the circuit board to be inspected can be measured with higher accuracy.

第1の例の電気抵抗測定用コネクター装置は、例えば以下のようにして製造することができる。
図14は、異方導電性エラストマー層20を得るための金型の一例における構成を示す説明用断面図である。この金型は、上型30およびこれと対となる下型35が互いに対向するよう配置されて構成されている。
上型30においては、強磁性体基板31の表面(図において下面)に、電気抵抗測定用コネクター10における接続用電極組12が形成された領域のパターンと対掌なパターンに従って強磁性体層32が形成され、この強磁性体層32が形成された領域以外の領域には、非磁性体層33が形成されている。非磁性体層33は強磁性体層32の厚みより大きい厚みを有し、強磁性体層32と非磁性体層33との間に段差が形成されることにより、当該上型30の成形面には、異方導電性エラストマー層20における突出部23を形成するための凹所が形成されている。
下型35においては、強磁性体基板36の表面(図において上面)に、電気抵抗測定用コネクター10における接続用電極組12が形成された領域のパターンと同一のパターンに従って強磁性体層37が形成され、この強磁性体層37が形成された領域以外の領域には、当該強磁性体層37と実質的に同一の厚みを有する非磁性体層38が形成されている。
The electrical resistance measurement connector device of the first example can be manufactured as follows, for example.
FIG. 14 is a cross-sectional view illustrating the configuration of an example of a mold for obtaining the anisotropic conductive elastomer layer 20. This mold is configured such that an upper mold 30 and a lower mold 35 paired therewith are arranged so as to face each other.
In the upper mold 30, the ferromagnetic layer 32 is formed on the surface (lower surface in the drawing) of the ferromagnetic substrate 31 according to a pattern opposite to the pattern of the region where the connection electrode set 12 in the electrical resistance measuring connector 10 is formed. The nonmagnetic layer 33 is formed in a region other than the region where the ferromagnetic layer 32 is formed. The nonmagnetic layer 33 has a thickness larger than the thickness of the ferromagnetic layer 32, and a step is formed between the ferromagnetic layer 32 and the nonmagnetic layer 33, so that the molding surface of the upper mold 30 is formed. A recess for forming the protrusion 23 in the anisotropic conductive elastomer layer 20 is formed.
In the lower mold 35, the ferromagnetic layer 37 is formed on the surface of the ferromagnetic substrate 36 (upper surface in the drawing) according to the same pattern as the pattern of the region where the connection electrode set 12 in the electrical resistance measurement connector 10 is formed. In a region other than the region where the ferromagnetic layer 37 is formed, a nonmagnetic layer 38 having substantially the same thickness as the ferromagnetic layer 37 is formed.

上型30および下型35の各々における強磁性体基板31,36を構成する材料としては、鉄、鉄−ニッケル合金、鉄−コバルト合金、ニッケル、コバルトなどの強磁性体金属を用いることができる。この強磁性体基板31,36は、その厚みが0.1〜50mmであることが好ましく、表面が平滑で、化学的に脱脂処理され、また、機械的に研磨処理されたものであることが好ましい。
また、上型30および下型35の各々における強磁性体層32,37を構成する材料としては、鉄、鉄−ニッケル合金、鉄−コバルト合金、ニッケル、コバルトなどの強磁性体金属を用いることができる。この強磁性体層32,37は、その厚みが10μm以上であることが好ましい。この厚みが10μm未満である場合には、後述するエラストマー用材料層に対して、十分な強度分布を有する磁場を作用させることが困難となり、当該エラストマー用材料層における導電路形成部となるべき部分に導電性粒子を高い密度で集合させることが困難となり、高い導電性を有する導電路形成部が得られないことがある。
また、上型30および下型35の各々における非磁性体層33,38を構成する材料としては、銅などの非磁性体金属、耐熱性を有する高分子物質などを用いることができるが、フォトリソグラフィーの手法により容易に非磁性体層33,38を形成することができる点で、放射線によって硬化された高分子物質を用いることが好ましく、その材料としては、例えばアクリル系のドライフィルムレジスト、エポキシ系の液状レジスト、ポリイミド系の液状レジストなどのフォトレジストを用いることができる。
Ferromagnetic metals such as iron, iron-nickel alloy, iron-cobalt alloy, nickel, and cobalt can be used as materials constituting the ferromagnetic substrates 31 and 36 in each of the upper mold 30 and the lower mold 35. . The ferromagnetic substrates 31 and 36 preferably have a thickness of 0.1 to 50 mm, have a smooth surface, are chemically degreased, and are mechanically polished. preferable.
In addition, as a material constituting the ferromagnetic layers 32 and 37 in each of the upper mold 30 and the lower mold 35, a ferromagnetic metal such as iron, iron-nickel alloy, iron-cobalt alloy, nickel, cobalt, or the like is used. Can do. The ferromagnetic layers 32 and 37 preferably have a thickness of 10 μm or more. When this thickness is less than 10 μm, it becomes difficult to apply a magnetic field having a sufficient strength distribution to the elastomer material layer described later, and a portion to be a conductive path forming portion in the elastomer material layer It is difficult to collect conductive particles at a high density, and a conductive path forming part having high conductivity may not be obtained.
In addition, as the material constituting the nonmagnetic layers 33 and 38 in each of the upper mold 30 and the lower mold 35, a nonmagnetic metal such as copper, a heat-resistant polymer substance, or the like can be used. It is preferable to use a polymer substance cured by radiation in that the nonmagnetic layers 33 and 38 can be easily formed by a lithography technique. Examples of the material include acrylic dry film resists and epoxy. A photoresist such as a liquid resist or a polyimide liquid resist can be used.

上記の金型を用い、例えば以下のようにして電気抵抗測定用コネクター装置が製造される。
先ず、図1に示す第1の例の電気抵抗測定用コネクター10を作製すると共に、硬化されて弾性高分子物質となる液状の高分子物質形成材料中に、磁性を示す導電性粒子が含有されてなるエラストマー用材料を調製する。
次いで、図15に示すように、電気抵抗測定用コネクター10の表面にエラストマー用材料を塗布することにより、所要の厚みのエラストマー用材料層20Aを形成すると共に、このエラストマー用材料層20Aの表面(図において上面)および電気抵抗測定用コネクター10の裏面に、上記の上型30および下型35を配置する。
Using the above mold, for example, a connector device for measuring electrical resistance is manufactured as follows.
First, the electrical resistance measuring connector 10 of the first example shown in FIG. 1 is manufactured, and conductive particles exhibiting magnetism are contained in a liquid polymer material forming material that is cured to become an elastic polymer material. An elastomer material is prepared.
Next, as shown in FIG. 15, an elastomer material is applied to the surface of the electrical resistance measurement connector 10 to form an elastomer material layer 20A having a required thickness, and the surface of the elastomer material layer 20A ( The upper mold 30 and the lower mold 35 are arranged on the upper surface in the drawing and the back surface of the electrical resistance measuring connector 10.

そして、上型30の下面および下型35の下面に、例えば電磁石を配置してこれを作動させることにより、エラストマー用材料層20Aに対し、上型30の強磁性体層32と下型35の強磁性体層37との間に位置する部分、すなわち電気抵抗測定用コネクター10の接続用電極組12が形成された領域(以下、「接続用電極組領域」ともいう。)の表面上に位置する部分においてそれ以外の部分より大きい強度の磁場を厚み方向に作用させる。その結果、エラストマー用材料層20A中に分散されていた導電性粒子Pが、図16に示すように、接続用電極組領域の表面上に位置する部分に集合すると共に、厚み方向に並ぶよう配向する。そして、この状態で、エラストマー用材料層20Aの硬化処理を行うことにより、図17に示すように、電気抵抗測定用コネクター10の表面に、その接続用電極組領域の表面上に位置する部分に磁性を示す導電性粒子が厚み方向に並ぶよう配向した状態で含有されたエラストマー層20Bが形成される。   Then, for example, by placing an electromagnet on the lower surface of the upper die 30 and the lower surface of the lower die 35 and operating the electromagnet, the ferromagnetic material layer 32 of the upper die 30 and the lower die 35 of the material layer for elastomer 20A are operated. Positioned on the surface of the portion located between the ferromagnetic layer 37, that is, the region where the connection electrode set 12 of the electrical resistance measurement connector 10 is formed (hereinafter also referred to as “connection electrode set region”). A magnetic field having a strength greater than that of the other portions is applied in the thickness direction in the portion to be applied. As a result, as shown in FIG. 16, the conductive particles P dispersed in the elastomer material layer 20A are gathered in a portion located on the surface of the connection electrode assembly region and aligned in the thickness direction. To do. In this state, the elastomer material layer 20A is cured, so that the surface of the electrical resistance measurement connector 10 is positioned on the surface of the connection electrode assembly region as shown in FIG. The elastomer layer 20 </ b> B containing the conductive particles exhibiting magnetism aligned in the thickness direction is formed.

以上において、エラストマー用材料の粘度は、温度25℃において100000〜1000000cpの範囲内であることが好ましい。
エラストマー用材料を塗布する方法としては、特に限定されるものではないが、例えば、ロール塗布法、ブレード塗布法、スクリーン印刷などの印刷法を利用することができる。
エラストマー用材料層20Aに作用される磁場の強度は、平均で20〜2000mTとなる大きさが好ましい。
磁場を作用させる手段としては、電磁石の代わりに永久磁石を用いることができる。このような永久磁石としては、上記の範囲の磁場の強度が得られる点で、アルニコ(Fe−Al−Ni−Co系合金)、フェライトなどよりなるものが好ましい。
エラストマー用材料層20Aの硬化処理は、磁場を作用させたままの状態で行うこともできるが、磁場の作用を停止した後に行うこともできる。
エラストマー用材料層20Aの硬化処理の条件は、使用される材料によって適宜選定されるが、通常、熱処理によって行われる。具体的な加熱温度および加熱時間は、エラストマー用材料層20Aの高分子物質形成材料の種類、導電性粒子の移動に要する時間などを考慮して適宜選定される。例えば高分子物質形成材料が室温硬化型シリコーンゴムである場合には、当該エラストマー用材料層の硬化処理は、室温で24時間程度、40℃で2時間程度、80℃で30分間程度で行われる。
In the above, the viscosity of the elastomer material is preferably in the range of 100,000 to 1,000,000 cp at a temperature of 25 ° C.
The method for applying the elastomer material is not particularly limited, and for example, a printing method such as a roll coating method, a blade coating method, or screen printing can be used.
The intensity of the magnetic field applied to the elastomer material layer 20A is preferably 20 to 2000 mT on average.
As means for applying a magnetic field, a permanent magnet can be used instead of an electromagnet. As such a permanent magnet, one made of alnico (Fe—Al—Ni—Co alloy), ferrite, or the like is preferable in that the strength of the magnetic field in the above range can be obtained.
The curing process of the elastomer material layer 20A can be performed while the magnetic field is applied, but can also be performed after the magnetic field is stopped.
The conditions for the curing treatment of the elastomer material layer 20A are appropriately selected depending on the material used, but are usually performed by heat treatment. The specific heating temperature and heating time are appropriately selected in consideration of the type of the polymer material forming material of the elastomer material layer 20A, the time required to move the conductive particles, and the like. For example, when the polymer material-forming material is room temperature curable silicone rubber, the elastomer material layer is cured at room temperature for about 24 hours, at 40 ° C. for about 2 hours, and at 80 ° C. for about 30 minutes. .

このようにして電気抵抗測定用コネクター10の表面に形成されたエラストマー層20Bに対して、図18に示すように、導電性粒子Pが含有された部分において、接続用電極組12における各電極(電流供給用電極13および電圧測定用電極14)の間の領域の表面上に位置する部分を除去することにより、十字状の穴部Kを形成する。次いで、この穴部Kに、図19に示すように、硬化されて弾性高分子物質となる液状の高分子物質形成材料23Aを充填し、その後、当該高分子物質形成材料23Aの硬化処理を行うことにより、隣接する導電路形成部21間に絶縁部22が形成された異方導電性エラストマー層20が形成され、以て、図12および図13に示す電気抵抗測定用コネクター装置25が製造される。   Thus, with respect to the elastomer layer 20B formed on the surface of the electrical resistance measuring connector 10, as shown in FIG. 18, in the portion where the conductive particles P are contained, each electrode ( By removing a portion located on the surface of the region between the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14), a cross-shaped hole K is formed. Next, as shown in FIG. 19, the hole K is filled with a liquid polymer substance forming material 23A that is cured to become an elastic polymer substance, and then the polymer substance forming material 23A is cured. Thus, the anisotropic conductive elastomer layer 20 in which the insulating portion 22 is formed between the adjacent conductive path forming portions 21 is formed, and thus the electrical resistance measuring connector device 25 shown in FIGS. 12 and 13 is manufactured. The

以上において、エラストマー層20Bに穴部Kを形成する方法としては、炭酸ガスレーザーなどによるレーザー加工法を利用することが好ましい。
穴部Kに充填される高分子物質形成材料は、前述のエラストマー用材料に用いられる高分子物質形成材料と同一の種類のものであっても異なる種類のものであってもよい。
In the above, as a method of forming the hole K in the elastomer layer 20B, it is preferable to use a laser processing method using a carbon dioxide laser or the like.
The polymer substance forming material filled in the hole K may be of the same type or different type as the polymer substance forming material used for the aforementioned elastomer material.

このような方法によれば、電気抵抗測定用コネクター10の接続用電極組領域の表面上に導電性粒子Pが含有された部分を有するエラストマー層20Bを形成し、このエラストマー層20Bに対して、導電性粒子Pが含有された部分において電流供給用電極13若しくは電圧測定用電極14の表面上に位置する導電路形成部となるべき部分の間に穴部Kを形成したうえで、当該穴部Kに絶縁部22を形成するため、隣接する導電路形成部21間に所要の絶縁性が確保された異方導電性エラストマー層20を確実に形成することができる。   According to such a method, the elastomer layer 20B having a portion containing the conductive particles P is formed on the surface of the connection electrode assembly region of the electrical resistance measurement connector 10, and the elastomer layer 20B A hole K is formed between portions that should be conductive path forming portions located on the surface of the current supply electrode 13 or the voltage measurement electrode 14 in the portion containing the conductive particles P. Since the insulating portion 22 is formed in K, the anisotropic conductive elastomer layer 20 in which required insulation is ensured between the adjacent conductive path forming portions 21 can be reliably formed.

図20は、本発明に係る電気抵抗測定用コネクター装置の第2の例における構成を示す説明用断面図である。この電気抵抗測定用コネクター装置25は、第1の例の電気抵抗測定用コネクター10と、この電気抵抗測定用コネクター10の表面(図において下面)上に一体的に形成された異方導電性エラストマー層20とにより構成されている。
異方導電性エラストマー層20は、図21にも示すように、各接続用電極組12における電流供給用電極13および電圧測定用電極14のパターンに対応するパターンに従って配置された厚み方向に伸びる複数の導電路形成部21と、これらの導電路形成部21の間に介在されてこれらを相互に絶縁する絶縁部22とにより構成されている。また、図示の例では、異方導電性エラストマー層20には、導電路形成部21の表面が絶縁部22の表面から突出するよう、突出部23が形成されている。
導電路形成部21は、当該異方導電性エラストマー層20の基材を構成する弾性高分子物質中に磁性を示す導電性粒子Pが厚み方向に並ぶよう配向した状態で密に含有されて構成されており、この導電性粒子Pの連鎖によって導電路が形成される。これに対して、絶縁部22は、導電性粒子Pが全く含有されていないものである。
異方導電性エラストマー層20の基材を構成する弾性高分子物質および導電路形成部21を構成する導電性粒子としては、前述の第1の例の電気抵抗測定用コネクター装置における異方導電性エラストマー層20と同様のものを用いることができる。
FIG. 20 is an explanatory cross-sectional view showing the configuration of the second example of the electrical resistance measuring connector device according to the present invention. This electrical resistance measurement connector device 25 is an anisotropic conductive elastomer integrally formed on the electrical resistance measurement connector 10 of the first example and on the surface (lower surface in the figure) of the electrical resistance measurement connector 10. And the layer 20.
As shown in FIG. 21, the anisotropically conductive elastomer layer 20 includes a plurality of layers extending in the thickness direction arranged according to patterns corresponding to the patterns of the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 in each connection electrode set 12. The conductive path forming portion 21 and an insulating portion 22 that is interposed between the conductive path forming portions 21 and insulates them from each other. Further, in the illustrated example, the anisotropic conductive elastomer layer 20 is formed with a protruding portion 23 so that the surface of the conductive path forming portion 21 protrudes from the surface of the insulating portion 22.
The conductive path forming portion 21 is configured to be densely contained in the elastic polymer material constituting the base material of the anisotropic conductive elastomer layer 20 in a state where the conductive particles P exhibiting magnetism are aligned in the thickness direction. The conductive path is formed by the chain of the conductive particles P. On the other hand, the insulating part 22 does not contain the conductive particles P at all.
The elastic polymer material constituting the base material of the anisotropic conductive elastomer layer 20 and the conductive particles constituting the conductive path forming portion 21 are anisotropic conductive materials in the electrical resistance measurement connector device of the first example described above. The thing similar to the elastomer layer 20 can be used.

このような第2の例の電気抵抗測定用コネクター装置25によれば、第1の例の電気抵抗測定用コネクターを有するため、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板との電気的接続作業において、被検査電極に対する位置ずれの許容度が大きいため、被検査回路基板が大面積でサイズの小さい多数の一面側被検査電極を有するものであっても、当該被検査電極に対する電流供給用電極13および電圧測定用電極14の両方の電気接続を確実に達成することができる。しかも、電流供給用電極13および電圧測定用電極14は互いに電気的に絶縁されているので、被検査回路基板1についての電気抵抗を高い精度で測定することができる。
また、電気抵抗測定用コネクター10の表面に、異方導電性エラストマー層20が一体的に形成されているため、温度変化による熱履歴などの環境の変化に対しても良好な電気的接続を安定に維持することができる。
また、異方導電性エラストマー層20には、電気抵抗測定用コネクター10における電流供給用電極13および電圧測定用電極14に対応して導電路形成部21が形成されているため、電流供給用電極13および電圧測定用電極14の間の絶縁性が確保され、その結果、被検査回路基板についての電気抵抗を一層高い精度で測定することができる。
According to the electrical resistance measurement connector device 25 of the second example as described above, since the electrical resistance measurement connector of the first example is provided, in the electrical connection work with the circuit board to be inspected whose electrical resistance is to be measured. Since the tolerance of displacement with respect to the electrode to be inspected is large, even if the circuit board to be inspected has a large number of single-surface inspected electrodes having a large area and a small size, the current supply electrode 13 for the electrode to be inspected And electrical connection of both the voltage measuring electrode 14 can be reliably achieved. Moreover, since the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 are electrically insulated from each other, the electrical resistance of the circuit board 1 to be inspected can be measured with high accuracy.
In addition, since the anisotropic conductive elastomer layer 20 is integrally formed on the surface of the electrical resistance measuring connector 10, stable electrical connection can be achieved against environmental changes such as thermal history due to temperature changes. Can be maintained.
The anisotropic conductive elastomer layer 20 is provided with the conductive path forming portion 21 corresponding to the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 in the electrical resistance measurement connector 10. As a result, the electrical resistance of the circuit board to be inspected can be measured with higher accuracy.

第2の例の電気抵抗測定用コネクター装置は、例えば以下のようにして製造することができる。
先ず、図22に示すように、適宜の離型性支持板26を用意し、この離型性支持板26の表面に、弾性高分子物質中に導電性粒子Pが厚み方向に並ぶよう配向した状態で含有されてなる導電性エラストマー層21Aを、当該離型性支持板26に剥離可能に支持された状態で形成する。この導電性エラストマー層21Aは、形成すべき導電路形成部の厚みと同等の厚みを有するものとされる。
以上において、離型性支持板26を構成する材料としては、金属、セラミックス、樹脂およびこれらの複合材などを用いることができる。
また、導電性エラストマー層21Aを形成する方法としては、(1)予め適宜の方法によって製造された、弾性高分子物質中に導電性粒子Pが厚み方向に並ぶよう配向した状態で含有されてなる導電性エラストマーシートを、離型性支持板26の表面に剥離可能に接着する方法、(2)硬化されて弾性高分子物質となる液状の高分子物質形成材料中に磁性を示す導電性粒子が分散されてなる導電性エラストマー用材料を調製し、この導電性エラストマー用材料を、離型性支持板15上に塗布することによって、導電性エラストマー用材料層を形成し、この導電性エラストマー用材料層に対してその厚み方向に磁場を作用させることにより、導電性エラストマー用材料層中の導電性粒子Pを厚み方向に並ぶよう配向させ、この状態で、導電性エラストマー用材料層の硬化処理を行う方法、などを利用することができる。
上記(1)の方法において、導電性エラストマーシートを、離型性支持板26の表面に剥離可能に接着する手段としては、導電性エラストマーシート自体が有する粘着性を利用して接着する方法、粘着剤によって接着する方法などを用いることができる。
上記(2)の方法において、導電性エラストマー用材料を塗布する具体的な手段としては、スクリーン印刷などの印刷法、ロール塗布法、ブレード塗布法などを利用することができる。
導電性エラストマー用材料層に磁場を作用させる手段としては、電磁石、永久磁石などを用いることができる。
導電性エラストマー用材料層に作用させる磁場の強度は、0.2〜2.5テスラとなる大きさが好ましい。
導電性エラストマー用材料層の硬化処理は、通常、加熱処理によって行われる。具体的な加熱温度および加熱時間は、導電性エラストマー用材料層を構成する高分子物質形成材料の種類、導電性粒子の移動に要する時間などを考慮して適宜設定される。
The electrical resistance measurement connector device of the second example can be manufactured as follows, for example.
First, as shown in FIG. 22, an appropriate releasable support plate 26 is prepared, and the conductive particles P are aligned in the thickness direction in the elastic polymer material on the surface of the releasable support plate 26. The conductive elastomer layer 21 </ b> A contained in a state is formed in a state where it is releasably supported on the releasable support plate 26. This conductive elastomer layer 21A has a thickness equivalent to the thickness of the conductive path forming portion to be formed.
In the above, as a material constituting the releasable support plate 26, metals, ceramics, resins, composite materials thereof, and the like can be used.
As a method of forming the conductive elastomer layer 21A, (1) the conductive particles P are contained in an elastic polymer material, which is manufactured in advance by an appropriate method, in an aligned state in the thickness direction. A method of adhering a conductive elastomer sheet to the surface of the releasable support plate 26 so as to be peelable; (2) conductive particles exhibiting magnetism in a liquid polymer material forming material which is cured to become an elastic polymer material; A conductive elastomer material that is dispersed is prepared, and the conductive elastomer material is applied onto the releasable support plate 15 to form a conductive elastomer material layer. The conductive elastomer material By applying a magnetic field to the layer in the thickness direction, the conductive particles P in the conductive elastomer material layer are aligned in the thickness direction. Method of performing hardening treatment Sutoma material layer, or the like may be used.
In the above method (1), as a means for adhering the conductive elastomer sheet to the surface of the releasable support plate 26 in a peelable manner, a method of adhering using the adhesive property of the conductive elastomer sheet itself, A method of adhering with an agent can be used.
In the method (2), as specific means for applying the conductive elastomer material, a printing method such as screen printing, a roll coating method, a blade coating method, or the like can be used.
As a means for applying a magnetic field to the conductive elastomer material layer, an electromagnet, a permanent magnet, or the like can be used.
The strength of the magnetic field applied to the conductive elastomer material layer is preferably 0.2 to 2.5 Tesla.
The curing treatment of the conductive elastomer material layer is usually performed by heat treatment. The specific heating temperature and heating time are appropriately set in consideration of the type of polymer substance forming material constituting the conductive elastomer material layer, the time required to move the conductive particles, and the like.

このようにして離型性支持板26上に形成された導電性エラストマー層21Aの表面に、図23に示すように、メッキ電極用の金属薄層27を形成する。次いで、図24に示すように、この金属薄層27上に、フォトリソグラフィーの手法により、形成すべき導電路形成部のパターン、すなわち電気抵抗測定用コネクターにおける電流供給用電極および電圧測定用電極に対応するパターンに従って複数の開口28aが形成されたレジスト層28を形成する。その後、図25に示すように、金属薄層27をメッキ電極として、当該金属薄層27におけるレジスト層28の開口28aを介して露出した部分に、電解メッキ処理を施すことにより、当該レジスト層28の開口28a内に金属マスク29を形成する。そして、この状態で、導電性エラストマー層21A、金属薄層27およびレジスト層28に対してレーザー加工を施すことにより、レジスト層28、金属薄層27および導電性エラストマー層21Aの一部が除去され、その結果、図26に示すように、電気抵抗測定用コネクターにおける電流供給用電極および電圧測定用電極に対応するパターンに従って配置された複数の導電路形成部21が離型性支持板26上に支持された状態で形成される。その後、導電路形成部21の表面から残存する金属薄層27および金属マスク29を剥離する。   As shown in FIG. 23, a thin metal layer 27 for the plating electrode is formed on the surface of the conductive elastomer layer 21A formed on the releasable support plate 26 in this way. Next, as shown in FIG. 24, a conductive path forming portion pattern to be formed on the thin metal layer 27 by photolithography, that is, the current supply electrode and the voltage measurement electrode in the electrical resistance measurement connector. A resist layer 28 having a plurality of openings 28a is formed in accordance with the corresponding pattern. Thereafter, as shown in FIG. 25, by using the metal thin layer 27 as a plating electrode, a portion of the metal thin layer 27 exposed through the opening 28a of the resist layer 28 is subjected to an electrolytic plating process, whereby the resist layer 28 A metal mask 29 is formed in the opening 28a. In this state, by applying laser processing to the conductive elastomer layer 21A, the metal thin layer 27, and the resist layer 28, a part of the resist layer 28, the metal thin layer 27, and the conductive elastomer layer 21A is removed. As a result, as shown in FIG. 26, a plurality of conductive path forming portions 21 arranged according to a pattern corresponding to the current supply electrode and the voltage measurement electrode in the electrical resistance measurement connector are formed on the releasable support plate 26. It is formed in a supported state. Thereafter, the remaining thin metal layer 27 and metal mask 29 are peeled off from the surface of the conductive path forming portion 21.

以上において、導電性エラストマー層21Aの表面に金属薄層27を形成する方法としては、無電解メッキ法、スパッタ法などを利用することができる。
金属薄層27を構成する材料としては、銅、金、アルミニウム、ロジウムなどを用いることができる。
金属薄層27の厚みは、0.05〜2μmであることが好ましく、より好ましくは0.1〜1μmである。この厚みが過小である場合には、均一な薄層が形成されず、メッキ電極として不適なものとなることがある。一方、この厚みが過大である場合には、レーザー加工によって除去することが困難となることがある。
レジスト層28の厚みは、形成すべき金属マスク29の厚みに応じて設定される。
金属マスク29を構成する材料としては、銅、鉄、アルミウニム、金、ロジウムなどを用いることができる。
金属マスク29の厚みは、2μm以上であることが好ましく、より好ましくは5〜20μmである。この厚みが過小である場合には、レーザーに対するマスクとして不適なものとなることがある。
レーザー加工は、炭酸ガスレーザーによるものが好ましく、これにより、目的とする形態の導電路形成部21を確実に形成することができる。
In the above, as a method of forming the metal thin layer 27 on the surface of the conductive elastomer layer 21A, an electroless plating method, a sputtering method, or the like can be used.
As a material constituting the metal thin layer 27, copper, gold, aluminum, rhodium, or the like can be used.
The thickness of the thin metal layer 27 is preferably 0.05 to 2 μm, more preferably 0.1 to 1 μm. When this thickness is too small, a uniform thin layer is not formed, which may be inappropriate as a plating electrode. On the other hand, if this thickness is excessive, it may be difficult to remove by laser processing.
The thickness of the resist layer 28 is set according to the thickness of the metal mask 29 to be formed.
As a material for forming the metal mask 29, copper, iron, aluminum unime, gold, rhodium, or the like can be used.
The thickness of the metal mask 29 is preferably 2 μm or more, more preferably 5 to 20 μm. If this thickness is too small, it may be unsuitable as a mask for the laser.
The laser processing is preferably performed using a carbon dioxide laser, whereby the conductive path forming portion 21 having a desired form can be reliably formed.

一方、図27に示すように、電気抵抗測定用コネクター10の表面に、硬化されて絶縁性の弾性高分子物質となる液状の高分子物質形成材料を塗布することにより、絶縁部用材料層22Aを形成する。次いで、図28に示すように、複数の導電路形成部21が形成された離型性支持板26を、絶縁部用材料層22Aが形成された離型性支持板26上に重ね合わせることにより、当該電気抵抗測定用コネクター10における電流供給用電極13および電圧測定用電極14の各々とこれに対応する導電路形成部21とを対接させる。これにより、隣接する導電路形成部21の間に絶縁部用材料層22Aが形成された状態となる。その後、この状態で、絶縁部用材料層22Aの硬化処理を行うことにより、図29に示すように、隣接する導電路形成部21の間にこれらを相互に絶縁する絶縁部12が、導電路形成部11および電気抵抗測定用コネクター10に一体的に形成される。
そして、離型性支持板26から離型させることにより、電気抵抗測定用コネクター10の表面に異方導電性エラストマー層20が一体的に形成されてなる、図20に示す構成のアダプター装置が得られる。
On the other hand, as shown in FIG. 27, by applying a liquid polymer substance forming material that is cured to become an insulating elastic polymer substance on the surface of the electrical resistance measurement connector 10, an insulating material layer 22A is applied. Form. Next, as shown in FIG. 28, the releasable support plate 26 in which the plurality of conductive path forming portions 21 are formed is superimposed on the releasable support plate 26 in which the insulating portion material layer 22A is formed. Each of the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 in the electrical resistance measurement connector 10 is brought into contact with the corresponding conductive path forming portion 21. Thereby, the insulating material layer 22A is formed between the adjacent conductive path forming portions 21. Thereafter, in this state, the insulating portion material layer 22A is subjected to the curing process, so that the insulating portions 12 that insulate them from each other between the adjacent conductive path forming portions 21 are formed as shown in FIG. It is formed integrally with the forming portion 11 and the electrical resistance measuring connector 10.
Then, by separating from the releasable support plate 26, an adapter device having the structure shown in FIG. 20 is obtained, in which the anisotropic conductive elastomer layer 20 is integrally formed on the surface of the electrical resistance measuring connector 10. It is done.

以上において、高分子物質形成材料を塗布する手段としては、スクリーン印刷などの印刷法、ロール塗布法、ブレード塗布法などを利用することができる。
絶縁部用材料層22Aの厚みは、形成すべき絶縁部22の厚みに応じて設定される。
絶縁部用材料層22Aの硬化処理は、通常、加熱処理によって行われる。具体的な加熱温度および加熱時間は、絶縁部用材料層22Aを構成するエラストマー材料の種類などを考慮して適宜設定される。
In the above, a printing method such as screen printing, a roll coating method, a blade coating method, or the like can be used as means for applying the polymer substance forming material.
The thickness of the insulating part material layer 22A is set according to the thickness of the insulating part 22 to be formed.
The curing process of the insulating part material layer 22A is usually performed by heat treatment. The specific heating temperature and heating time are appropriately set in consideration of the type of elastomer material constituting the insulating part material layer 22A.

このような製造方法によれば、導電性粒子Pが厚み方向に並ぶよう配向した状態で分散されてなる導電性エラストマー層21Aをレーザー加工してその一部を除去することにより、目的とする形態の導電路形成部21を形成するため、所要の量の導電性粒子Pが充填された所期の導電性を有する導電路形成部21が形成された異方導電性エラストマー20を確実に得ることができる。
また、離型性支持板26上に電流供給用電極13および電圧測定用電極14のパターンに従って配置された複数の導電路形成部21を形成したうえで、これらの導電路形成部21の間に絶縁部用材料層22Aを形成して硬化処理することによって、絶縁部22を形成するため、導電性粒子Pが全く存在しない絶縁部22が形成された異方導電性エラストマー層20を確実に得ることができる。
しかも、異方導電性エラストマー層を形成するために、多数の強磁性体部が配列されてなる高価な金型を用いることが不要となる。
また、レーザー加工による導電路形成部21の形成工程は、離型性支持板26上において行われるため、異方導電性エラストマー層20の形成において、電気抵抗測定用コネクター10の表面に損傷を与えることがない。
According to such a manufacturing method, the conductive elastomer layer 21A, in which the conductive particles P are aligned so as to be aligned in the thickness direction, is laser-processed to remove a part thereof, thereby achieving a desired form. In order to form the conductive path forming portion 21, the anisotropic conductive elastomer 20 having the desired conductive path forming portion 21 filled with a predetermined amount of the conductive particles P is reliably obtained. Can do.
In addition, a plurality of conductive path forming portions 21 arranged in accordance with the pattern of the current supply electrode 13 and the voltage measuring electrode 14 are formed on the releasable support plate 26, and between these conductive path forming portions 21. By forming the insulating portion material layer 22A and curing the insulating portion 22, the insulating portion 22 is formed, so that the anisotropic conductive elastomer layer 20 having the insulating portion 22 in which the conductive particles P are not present is reliably obtained. be able to.
Moreover, in order to form the anisotropic conductive elastomer layer, it is not necessary to use an expensive mold in which a large number of ferromagnetic parts are arranged.
Further, since the formation process of the conductive path forming portion 21 by laser processing is performed on the releasable support plate 26, the surface of the electrical resistance measuring connector 10 is damaged in the formation of the anisotropic conductive elastomer layer 20. There is nothing.

本発明の電気抵抗測定用コネクター装置は、上記の例に限定されず、種々の変更を加えることが可能である。
例えば、図30に示すように、電気抵抗測定用コネクター10は、図6および図7に示す第2の例のものであってもよく、また、図9および図10に示す第3の例のものまたは図11に示す第4の例のもの、或いは、その他の本発明に係る電気抵抗測定用コネクターであってもよい。
また、異方導電性エラストマー層20は、導電路形成部が接続用電極組における全ての電極を覆うよう形成されてなるものであってもよく、弾性高分子物質中に、導電性粒子が、厚み方向に並ぶよう配向し、かつ、当該導電性粒子の連鎖が面方向に分散した状態で含有されてなる、いわゆる分散型のものであってもよい。
The electrical resistance measuring connector device of the present invention is not limited to the above example, and various modifications can be made.
For example, as shown in FIG. 30, the electrical resistance measuring connector 10 may be the second example shown in FIGS. 6 and 7, and the third example shown in FIGS. 9 and 10. 11 or the fourth example shown in FIG. 11, or another electrical resistance measuring connector according to the present invention.
Further, the anisotropic conductive elastomer layer 20 may be formed so that the conductive path forming portion covers all the electrodes in the connection electrode set, and the conductive particles are contained in the elastic polymer substance. It may be a so-called dispersion type that is aligned so as to be aligned in the thickness direction and that is contained in a state where the chain of the conductive particles is dispersed in the plane direction.

〈回路基板の電気抵抗測定装置〉
図31は、本発明に係る回路基板の電気抵抗測定装置の第1の例における構成を示す説明図であり、図32は、図31に示す回路基板の電気抵抗測定装置の要部を拡大して示す説明図である。
この第1の例の回路基板の電気抵抗測定装置は、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板1の一面(図31において上面)側に配置される上部側アダプター40と、被検査回路基板1の他面(図31において下面)側に配置される下部側アダプター50とが、上下に互いに対向するよう配置されて構成されている。
<Circuit board electrical resistance measurement device>
FIG. 31 is an explanatory diagram showing the configuration of the first example of the circuit board electrical resistance measuring apparatus according to the present invention, and FIG. 32 is an enlarged view of the main part of the circuit board electrical resistance measuring apparatus shown in FIG. It is explanatory drawing shown.
The circuit board electrical resistance measuring apparatus according to the first example includes an upper adapter 40 disposed on one surface (upper surface in FIG. 31) of the circuit board 1 to be measured, and the circuit board 1 to be tested. The lower side adapter 50 arrange | positioned at the other surface (lower surface in FIG. 31) side is comprised so that it may mutually oppose up and down.

上部側アダプター40においては、被検査回路基板1の一面側(図31において上側)に配置される、例えば図12に示す構成の電気抵抗測定用コネクター装置25が設けられ、この電気抵抗測定用コネクター装置25における電気抵抗測定用コネクター10の裏面(図31において上面)には、第1の上部側異方導電性シート44を介して一面側検査用回路基板41が配置されている。この一面側検査用回路基板41の表面(図31において下面)には、電気抵抗測定用コネクター装置25における中継電極15のパターンに対応するパターンに従って、複数の検査電極42が配置され、当該一面側検査用回路基板41の裏面(図31において上面)には、後述する電極板48の標準配列電極49の配列パターンに対応するパターンに従って端子電極43が配置されおり、この端子電極43の各々は対応する検査電極42に、電気的に接続されている。   The upper adapter 40 is provided with an electrical resistance measurement connector device 25 having a configuration shown in FIG. 12, for example, which is arranged on one surface side (upper side in FIG. 31) of the circuit board 1 to be inspected. On the back surface (upper surface in FIG. 31) of the electrical resistance measurement connector 10 in the device 25, the one-surface-side inspection circuit board 41 is disposed via the first upper-side anisotropic conductive sheet 44. A plurality of inspection electrodes 42 are arranged on the front surface (lower surface in FIG. 31) of the one-surface-side inspection circuit board 41 according to a pattern corresponding to the pattern of the relay electrode 15 in the electrical resistance measuring connector device 25. Terminal electrodes 43 are arranged on the back surface (upper surface in FIG. 31) of the inspection circuit board 41 in accordance with a pattern corresponding to an array pattern of standard array electrodes 49 of an electrode plate 48 to be described later. The inspection electrode 42 is electrically connected.

一面側検査用回路基板41の裏面上には、第2の上部側異方導電性シート45を介して電極板48が設けられている。この電極板48は、その表面(図31において下面)に、例えばピッチが2.54mm、1.8mmまたは1.27mmの標準格子点上に配置された複数の標準配列電極49を有し、これらの標準配列電極49の各々は、第2の上部側異方導電性シート45を介して一面側検査用回路基板41の端子電極43に電気的に接続されると共に、電極板48の内部配線(図示せず)を介してテスター59に電気的に接続されている。   An electrode plate 48 is provided on the back surface of the one-surface-side inspection circuit board 41 via a second upper-side anisotropic conductive sheet 45. The electrode plate 48 has a plurality of standard array electrodes 49 arranged on a standard lattice point having a pitch of 2.54 mm, 1.8 mm, or 1.27 mm, for example, on the surface (the lower surface in FIG. 31). Each of the standard array electrodes 49 is electrically connected to the terminal electrode 43 of the one-surface-side inspection circuit board 41 through the second upper-side anisotropic conductive sheet 45 and the internal wiring ( It is electrically connected to the tester 59 via a not-shown).

この例における第1の上部側異方導電性シート44は、いわゆる偏在型異方導電性シートであって、電気抵抗測定用コネクター10の中継電極15のパターンに対応するパターンに従って配置された厚み方向に伸びる複数の導電路形成部(図示省略)と、これらの導電路形成部の間に介在されてこれらを相互に絶縁する絶縁部(図示省略)とにより構成され、導電路形成部は、絶縁性の弾性高分子物質中に導電性粒子が厚み方向に並ぶよう配向した状態で含有されてなり、絶縁部は、導電性粒子が全くあるいは殆ど含有されていない絶縁性の弾性高分子物質よりなる。
また、第2の上部側異方導電性シート45は、いわゆる分散型の異方導電性シートであって、弾性高分子物質中に、導電性粒子が厚み方向に並ぶよう配向して連鎖を形成した状態で、かつ、当該導電性粒子による連鎖が面方向に分散した状態で含有されてなる。
これらの第1の上部側異方導電性シート44および第2の上部側異方導電性シート45を構成する弾性高分子物質および導電性粒子としては、電気抵抗測定用コネクター装置25における異方導電性エラストマー層20を構成する弾性高分子物質および導電性粒子として例示したものの中から、適宜選択して用いることができる。
The first upper-side anisotropic conductive sheet 44 in this example is a so-called unevenly-distributed anisotropic conductive sheet, and is disposed in a thickness direction according to a pattern corresponding to the pattern of the relay electrode 15 of the electrical resistance measurement connector 10. And a plurality of conductive path forming portions (not shown) extending between the conductive path forming portions and an insulating portion (not shown) interposed between these conductive path forming portions to insulate them from each other. The conductive elastic particles are contained in a state in which the conductive particles are aligned in the thickness direction, and the insulating portion is made of an insulating elastic polymer material containing no or almost no conductive particles. .
The second upper side anisotropic conductive sheet 45 is a so-called dispersive anisotropic conductive sheet, in which the conductive particles are aligned in the thickness direction to form a chain in the elastic polymer material. In this state, a chain of conductive particles is contained in a state dispersed in the plane direction.
The elastic polymer substance and the conductive particles constituting the first upper side anisotropic conductive sheet 44 and the second upper side anisotropic conductive sheet 45 are anisotropic conductive materials in the electrical resistance measuring connector device 25. The elastic elastomer layer 20 constituting the conductive elastomer layer 20 and those exemplified as the conductive particles can be appropriately selected and used.

下部側アダプター50においては、他面側検査用回路基板51が設けられ、この他面側検査用回路基板51の表面(図31において上面)には、被検査回路基板1の他面側被検査電極3の配置パターンに対応するパターンに従って、1つの他面側被検査電極3に対して、互いに離間して配置された電流供給用検査電極52aおよび電圧測定用検査電極52bよりなる検査電極対が、他面側被検査電極3が占有する領域と同等の面積の領域内に位置するよう配置されている。他面側検査用回路基板51の裏面には、後述する電極板60の標準配列電極61の配列パターンに対応するパターンに従って電流供給用端子電極53aおよび電圧測定用端子電極53bが配置されており、これらの電流供給用端子電極53aおよび電圧測定用端子電極53bの各々は、対応する電流供給用検査電極52aおよび電圧測定用検査電極52bに電気的に接続されている。   The lower-side adapter 50 is provided with an other-surface-side inspection circuit board 51, and the other-surface-side inspection circuit board 51 has a surface (upper surface in FIG. 31) on the other-surface-side inspection target circuit board 1. According to a pattern corresponding to the arrangement pattern of the electrodes 3, an inspection electrode pair composed of a current supply inspection electrode 52 a and a voltage measurement inspection electrode 52 b which are disposed apart from each other on the other-surface-side inspection electrode 3. The other surface side inspected electrode 3 is disposed so as to be located in a region having the same area as the region occupied by the other surface side inspection electrode 3. A current supply terminal electrode 53a and a voltage measurement terminal electrode 53b are arranged on the back surface of the circuit board 51 for inspecting the other surface in accordance with a pattern corresponding to the arrangement pattern of the standard arrangement electrodes 61 of the electrode plate 60 described later. Each of the current supply terminal electrode 53a and the voltage measurement terminal electrode 53b is electrically connected to the corresponding current supply test electrode 52a and voltage measurement test electrode 52b.

他面側検査用回路基板51の表面上には、異方導電性エラストマー層55が一体的に形成されている。この異方導電性エラストマー層55には、検査電極対の各々を構成する電流供給用検査電極52aおよび電圧測定用検査電極52bの両方の表面(図31において上面)に接する共通の導電路形成部56が形成され、隣接する導電路形成部56の間には、これらを相互に絶縁する絶縁部57が形成されている。導電路形成部56は、絶縁性の弾性高分子物質中に導電性粒子が厚み方向に並ぶよう配向した状態で含有されてなり、絶縁部57は、導電性粒子が全くあるいは殆ど含有されていない絶縁性の弾性高分子物質よりなる。また、この例の異方導電性エラストマー層55においては、導電路形成部56の表面(図31において上面)が絶縁部57の表面から突出した状態で形成されている。   An anisotropic conductive elastomer layer 55 is integrally formed on the surface of the other surface side inspection circuit board 51. The anisotropic conductive elastomer layer 55 has a common conductive path forming portion in contact with both surfaces (upper surface in FIG. 31) of the current supply test electrode 52a and the voltage measurement test electrode 52b constituting each of the test electrode pairs. 56 is formed, and an insulating portion 57 is formed between adjacent conductive path forming portions 56 to insulate them from each other. The conductive path forming portion 56 is contained in an insulating elastic polymer substance in a state in which the conductive particles are aligned in the thickness direction, and the insulating portion 57 contains no or almost no conductive particles. It consists of an insulating elastic polymer material. Further, in the anisotropic conductive elastomer layer 55 of this example, the surface of the conductive path forming portion 56 (upper surface in FIG. 31) is formed in a state of protruding from the surface of the insulating portion 57.

他面側検査用回路基板51の裏面(図31において下面)には、下部側異方導電性シート62を介して電極板60が設けられている。
電極板60および下部側異方導電性シート62は、上部側アダプター40における電極板48および第2の上部側異方導電性シート45に対応するものであり、電極板60は、その表面(図31において上面)に、例えばピッチが2.54mm、1.8mmまたは1.27mmの標準格子点上に配置された複数の標準配列電極61を有し、これらの標準配列電極61の各々は、下部側異方導電性シート62を介して他面側検査用回路基板51の電流供給用端子電極53aまたは電圧測定用端子電極53bに電気的に接続されると共に、電極板60の内部配線(図示せず)を介してテスター59に電気的に接続されている。下部側異方導電性シート62は、いわゆる分散型の異方導電性シートであって、弾性高分子物質中に、導電性粒子が厚み方向に並ぶよう配向して連鎖を形成した状態で、かつ、当該導電性粒子による連鎖が面方向に分散した状態で含有されてなる。
An electrode plate 60 is provided on the back surface (the lower surface in FIG. 31) of the other surface side inspection circuit board 51 via the lower side anisotropic conductive sheet 62.
The electrode plate 60 and the lower-side anisotropic conductive sheet 62 correspond to the electrode plate 48 and the second upper-side anisotropic conductive sheet 45 in the upper-side adapter 40, and the electrode plate 60 has its surface (see FIG. 31 has a plurality of standard array electrodes 61 arranged on standard grid points having a pitch of 2.54 mm, 1.8 mm, or 1.27 mm, for example. It is electrically connected to the current supply terminal electrode 53a or the voltage measurement terminal electrode 53b of the other surface side inspection circuit board 51 via the side anisotropic conductive sheet 62, and the internal wiring of the electrode plate 60 (not shown). )) And is electrically connected to the tester 59. The lower side anisotropic conductive sheet 62 is a so-called dispersive anisotropic conductive sheet, in a state where conductive particles are aligned in the thickness direction in the elastic polymer substance to form a chain, and The chain of the conductive particles is contained in a state dispersed in the plane direction.

異方導電性エラストマー層55における導電路形成部56は、その厚み方向における導電性が、厚み方向と直角な面方向における導電性より高いことが好ましく、具体的には、面方向の電気抵抗値に対する厚み方向の電気抵抗値の比が1以下、特に0.5以下であるような電気的特性を有するものであることが好ましい。
この比が1を超える場合には、導電路形成部56を介して電流供給用検査電極52aと電圧測定用検査電極52bとの間に流れる電流が大きくなるため、高い精度で電気抵抗を測定することが困難となることがある。
このような観点から、導電路形成部56における導電性粒子の充填率が5〜50体積%であることが好ましい。
このような異方導電性エラストマー層55は、適宜の方法例えば特開2000−74965号公報に記載された方法によって形成することができる。
また、異方導電性エラストマー層55および下部側異方導電性シート62を構成する弾性高分子物質および導電性粒子としては、電気抵抗測定用コネクター装置25における異方導電性エラストマー層20を構成する弾性高分子物質および導電性粒子として例示したものの中から、適宜選択して用いることができる。
The conductive path forming portion 56 in the anisotropic conductive elastomer layer 55 is preferably higher in conductivity in the thickness direction than in the plane direction perpendicular to the thickness direction. Specifically, the electrical resistance value in the plane direction It is preferable that the ratio of the electrical resistance value in the thickness direction with respect to the thickness is 1 or less, particularly 0.5 or less.
When this ratio exceeds 1, the current flowing between the current supply test electrode 52a and the voltage measurement test electrode 52b via the conductive path forming portion 56 becomes large, so that the electrical resistance is measured with high accuracy. Can be difficult.
From such a viewpoint, it is preferable that the filling rate of the conductive particles in the conductive path forming portion 56 is 5 to 50% by volume.
Such an anisotropic conductive elastomer layer 55 can be formed by an appropriate method, for example, a method described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-74965.
Further, the anisotropic conductive elastomer layer 20 in the electrical resistance measuring connector device 25 is used as the elastic polymer material and the conductive particles constituting the anisotropic conductive elastomer layer 55 and the lower side anisotropic conductive sheet 62. It can be appropriately selected from those exemplified as the elastic polymer substance and the conductive particles.

他面側検査用回路基板51における電流供給用検査電極52aと電圧測定用検査電極52bとの間の離間距離は10μm以上であることが好ましい。この離間距離が10μm未満である場合には、導電路形成部56を介して電流供給用検査電極52aと電圧測定用検査電極52bとの間に流れる電流が大きくなるため、高い精度で電気抵抗を測定することが困難となることがある。
一方、この離間距離の上限は、各検査電極のサイズと、関連する他面側被検査電極3の寸法およびピッチによって定まり、通常は500μm以下である。この離間距離が過大である場合には、他面側被検査電極3の1つに対して両検査電極を適切に配置することが困難となることがある。
The separation distance between the current supply inspection electrode 52a and the voltage measurement inspection electrode 52b on the other surface side inspection circuit board 51 is preferably 10 μm or more. When the separation distance is less than 10 μm, the current flowing between the current supply test electrode 52a and the voltage measurement test electrode 52b via the conductive path forming portion 56 becomes large, so that the electric resistance can be increased with high accuracy. It may be difficult to measure.
On the other hand, the upper limit of the separation distance is determined by the size of each inspection electrode and the size and pitch of the related other surface side inspection electrode 3 and is usually 500 μm or less. If this separation distance is excessive, it may be difficult to properly dispose both inspection electrodes with respect to one of the other surface side inspection electrodes 3.

以上のような回路基板の電気抵抗測定装置においては、次のようにして被検査回路基板1における任意の一面側被検査電極2とこれに対応する他面側被検査電極3との間の電気抵抗が測定される。
被検査回路基板1を、上部側アダプター40および下部側アダプター50の間における所要の位置に配置し、この状態で、上部側アダプター40を下降させると共に、下部側アダプター50を上昇させることにより、被検査回路基板1の一面に、電気抵抗測定用コネクター装置25における異方導電性エラストマー層20が圧接されると共に、被検査回路基板1の他面に、他面側検査用回路基板51の表面上に形成された異方導電性エラストマー層55が圧接された状態となる。この状態が測定状態である。
In the circuit board electrical resistance measuring apparatus as described above, the electric current between any one of the test electrodes 2 on the circuit board 1 to be tested and the corresponding test electrode 3 on the other side as follows. Resistance is measured.
The circuit board 1 to be inspected is placed at a required position between the upper adapter 40 and the lower adapter 50. In this state, the upper adapter 40 is lowered and the lower adapter 50 is raised, The anisotropic conductive elastomer layer 20 in the electrical resistance measuring connector device 25 is pressed against one surface of the test circuit board 1 and the other surface of the circuit board 1 to be tested is placed on the surface of the test circuit board 51 on the other side. The anisotropic conductive elastomer layer 55 formed in the state is pressed. This state is a measurement state.

この測定状態において、電気抵抗測定用コネクター10における電流供給用電極12と他面側検査用回路基板51における電流供給用検査電極52aとの間に一定の値の電流を供給すると共に、一面側被検査電極2に電気的に接続された電圧測定用電極14のうち1つの電圧測定用電極14を指定し、当該指定された1つの電圧測定用電極14と、当該電圧測定用電極14に電気的に接続された一面側被検査電極2に対応する他面側被検査電極3に電気的に接続された検査電極対における電圧測定用検査電極52bとの間の電圧を測定し、得られた電圧値に基づいて、当該指定された電圧測定用電極14に電気的に接続された一面側被検査電極2とこれに対応する他面側被検査電極3との間の電気抵抗値が取得される。
そして、指定する電圧測定用電極14を順次変更することにより、全ての一面側被検査電極2とこれに対応する他面側被検査電極3との間の電気抵抗の測定を行うことができる。
In this measurement state, a constant current is supplied between the current supply electrode 12 in the electrical resistance measurement connector 10 and the current supply inspection electrode 52a in the other surface side inspection circuit board 51, and One of the voltage measurement electrodes 14 electrically connected to the inspection electrode 2 is designated, and the one specified voltage measurement electrode 14 and the voltage measurement electrode 14 are electrically connected. The voltage obtained by measuring the voltage between the inspection electrode 52b for voltage measurement in the inspection electrode pair electrically connected to the other-surface-side inspected electrode 3 corresponding to the one-surface-side inspected electrode 2 connected to Based on the value, an electrical resistance value between the one-surface-side inspected electrode 2 electrically connected to the designated voltage measuring electrode 14 and the corresponding other-surface-side inspected electrode 3 is acquired. .
Then, by sequentially changing the designated voltage measuring electrode 14, it is possible to measure the electrical resistance between all the one-surface-side inspected electrodes 2 and the corresponding other-surface-side inspected electrodes 3.

以上において、被検査回路基板1における1つの一面側被検査電極2に、電気抵抗測定用コネクター10の接続用電極組12における2つの電圧測定用電極14が電気的に接続された場合には、図33に示すように、当該一面側被検査電極2とこれに対応する他面側被検査電極3との間には、2つの電圧測定用回路C1,C2が形成されることになる。このような場合には、電圧測定用回路C1による電気抵抗値および電圧測定用回路C2による電圧値のうちその値が高いものが採用され、当該電圧値に基づいて一面側被検査電極2とこれに対応する他面側被検査電極3との間の電気抵抗値が取得される。   In the above, when two voltage measurement electrodes 14 in the connection electrode set 12 of the electrical resistance measurement connector 10 are electrically connected to one single-surface-side inspection electrode 2 in the circuit board 1 to be inspected, As shown in FIG. 33, two voltage measuring circuits C1 and C2 are formed between the one-surface-side inspected electrode 2 and the other-surface-side inspected electrode 3 corresponding thereto. In such a case, the higher one of the electrical resistance value by the voltage measuring circuit C1 and the voltage value by the voltage measuring circuit C2 is adopted, and the one-side inspection electrode 2 and this The electrical resistance value with respect to the other surface side inspected electrode 3 corresponding to is acquired.

以上のような構成の回路基板の電気抵抗測定装置によれば、その上部側アダプター40に図1および図2に示す構成の電気抵抗測定用コネクター10が設けられていることにより、被検査回路基板1との電気的接続作業において、一面側被検査電極2に対する位置ずれの許容度が大きいため、被検査回路基板1が大面積でサイズの小さい多数の一面側被検査電極2を有するものであっても、当該一面側被検査電極2に対する電流供給用電極13および電圧測定用電極14の両方の電気接続を確実に達成することができる。しかも、電流供給用電極13および電圧測定用電極14は互いに電気的に絶縁されているので、被検査回路基板1についての電気抵抗を高い精度で測定することができる。   According to the circuit board electrical resistance measuring apparatus having the above-described configuration, the upper-side adapter 40 is provided with the electrical resistance measuring connector 10 having the configuration shown in FIGS. 1 has a large tolerance for positional deviation with respect to the one-surface-side inspected electrode 2, the circuit board 1 to be inspected has a large number of one-surface-side inspected electrodes 2 having a large area and a small size. However, the electrical connection of both the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 to the one-surface-side inspected electrode 2 can be reliably achieved. Moreover, since the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 are electrically insulated from each other, the electrical resistance of the circuit board 1 to be inspected can be measured with high accuracy.

図34は、本発明に係る回路基板の電気抵抗測定装置の第2の例における構成を示す説明図であり、図35は、図34に示す回路基板の電気抵抗測定装置の要部を拡大して示す説明図である。
この第2の例の回路基板の電気抵抗測定装置は、電気抵抗を測定すべき被検査回路基板1の一面(図34において上面)側に配置される上部側アダプター40と、被検査回路基板1の他面(図34において下面)側に配置される下部側アダプター50とが、上下に互いに対向するよう配置されて構成されており、上部側アダプター40は、第1の例の電気抵抗測定装置における上部側アダプターと同様の構成である。
FIG. 34 is an explanatory view showing the configuration of the second example of the circuit board electrical resistance measuring apparatus according to the present invention, and FIG. 35 is an enlarged view of the main part of the circuit board electrical resistance measuring apparatus shown in FIG. It is explanatory drawing shown.
The circuit board electrical resistance measuring apparatus of the second example includes an upper adapter 40 disposed on one surface (the upper surface in FIG. 34) side of the circuit board 1 to be measured, and the circuit board 1 to be tested. The lower adapter 50 arranged on the other surface (the lower surface in FIG. 34) is arranged so as to face each other vertically, and the upper adapter 40 is the electrical resistance measuring device of the first example. This is the same configuration as the upper-side adapter in FIG.

下部側アダプター50においては、被検査回路基板1の他面側(図34において下側)に配置される、例えば図12に示す構成の電気抵抗測定用コネクター装置25が設けられ、この電気抵抗測定用コネクター装置25における電気抵抗測定用コネクター10の裏面(図34において下面)には、第1の下部側異方導電性シート64を介して他面側検査用回路基板51が配置されており、この他面側検査用回路基板51の裏面上には、第2の下部側異方導電性シート65を介して電極板60が設けられている。この電極板60は、第1の例の電気抵抗測定装置の下部側アダプターにおける電極板と同様の構成である。
他面側検査用回路基板51の表面(図34において上面)には、電気抵抗測定用コネクター装置25における中継電極15のパターンに対応するパターンに従って、複数の検査電極52が配置され、当該他面側検査用回路基板51の裏面(図34において下面)には、電極板60の標準配列電極61の配列パターンに対応するパターンに従って端子電極53が配置されおり、この端子電極53の各々は対応する検査電極52に、電気的に接続されている。
The lower-side adapter 50 is provided with an electrical resistance measurement connector device 25 having a configuration shown in FIG. 12, for example, which is disposed on the other surface side (lower side in FIG. 34) of the circuit board 1 to be inspected. On the back surface (lower surface in FIG. 34) of the electrical resistance measurement connector 10 in the connector device 25 for the other side, the circuit board 51 for inspection on the other surface side is disposed via the first lower side anisotropic conductive sheet 64. An electrode plate 60 is provided on the back surface of the other surface side inspection circuit board 51 via a second lower side anisotropic conductive sheet 65. The electrode plate 60 has the same configuration as the electrode plate in the lower adapter of the electrical resistance measuring apparatus of the first example.
A plurality of inspection electrodes 52 are arranged on the surface (upper surface in FIG. 34) of the other surface side inspection circuit board 51 in accordance with a pattern corresponding to the pattern of the relay electrode 15 in the electrical resistance measuring connector device 25. Terminal electrodes 53 are arranged on the rear surface (lower surface in FIG. 34) of the side inspection circuit board 51 in accordance with a pattern corresponding to the arrangement pattern of the standard arrangement electrodes 61 of the electrode plate 60. Each of the terminal electrodes 53 corresponds. The test electrode 52 is electrically connected.

この例における第1の下部側異方導電性シート64は、いわゆる偏在型異方導電性シートであって、電気抵抗測定用コネクター10の中継電極15のパターンに対応するパターンに従って配置された厚み方向に伸びる複数の導電路形成部(図示省略)と、これらの導電路形成部の間に介在されてこれらを相互に絶縁する絶縁部(図示省略)とにより構成され、導電路形成部は、絶縁性の弾性高分子物質中に導電性粒子が厚み方向に並ぶよう配向した状態で含有されてなり、絶縁部は、導電性粒子が全くあるいは殆ど含有されていない絶縁性の弾性高分子物質よりなる。
また、第2の下部側異方導電性シート65は、いわゆる分散型の異方導電性シートであって、弾性高分子物質中に、導電性粒子が厚み方向に並ぶよう配向して連鎖を形成した状態で、かつ、当該導電性粒子による連鎖が面方向に分散した状態で含有されてなる。
これらの第1の下部側異方導電性シート64および第2の下部側異方導電性シート65を構成する弾性高分子物質および導電性粒子としては、電気抵抗測定用コネクター装置25における異方導電性エラストマー層20を構成する弾性高分子物質および導電性粒子として例示したものの中から、適宜選択して用いることができる。
The first lower-side anisotropic conductive sheet 64 in this example is a so-called unevenly-distributed anisotropic conductive sheet, and is disposed in a thickness direction according to a pattern corresponding to the pattern of the relay electrode 15 of the electrical resistance measurement connector 10. And a plurality of conductive path forming portions (not shown) extending between the conductive path forming portions and an insulating portion (not shown) interposed between these conductive path forming portions to insulate them from each other. The conductive elastic particles are contained in a state in which the conductive particles are aligned in the thickness direction, and the insulating portion is made of an insulating elastic polymer material containing no or almost no conductive particles. .
The second lower-side anisotropic conductive sheet 65 is a so-called dispersion-type anisotropic conductive sheet, and in the elastic polymer material, conductive particles are aligned in the thickness direction to form a chain. In this state, a chain of conductive particles is contained in a state dispersed in the plane direction.
The elastic polymer substance and the conductive particles constituting the first lower-side anisotropic conductive sheet 64 and the second lower-side anisotropic conductive sheet 65 are anisotropic conductive materials in the electrical resistance measuring connector device 25. The elastic elastomer layer 20 constituting the conductive elastomer layer 20 and those exemplified as the conductive particles can be appropriately selected and used.

以上のような回路基板の電気抵抗測定装置においては、次のようにして被検査回路基板1における任意の一面側被検査電極2とこれに対応する他面側被検査電極3との間の電気抵抗が測定される。
被検査回路基板1を、上部側アダプター40および下部側アダプター50の間における所要の位置に配置し、この状態で、上部側アダプター40を下降させると共に、下部側アダプター50を上昇させることにより、被検査回路基板1の一面に、上部側アダプター40の電気抵抗測定用コネクター装置25における異方導電性エラストマー層20が圧接されると共に、被検査回路基板1の他面に、下部側アダプター50の電気抵抗測定用コネクター装置25における異方導電性エラストマー層20が圧接された状態となる。この状態が測定状態である。
In the circuit board electrical resistance measuring apparatus as described above, the electric current between any one of the test electrodes 2 on the circuit board 1 to be tested and the corresponding test electrode 3 on the other side as follows. Resistance is measured.
The circuit board 1 to be inspected is placed at a required position between the upper adapter 40 and the lower adapter 50. In this state, the upper adapter 40 is lowered and the lower adapter 50 is raised, The anisotropic conductive elastomer layer 20 in the electrical resistance measurement connector device 25 of the upper adapter 40 is pressed against one surface of the test circuit board 1 and the lower adapter 50 is electrically connected to the other surface of the circuit board 1 to be tested. The anisotropic conductive elastomer layer 20 in the resistance measuring connector device 25 is in a pressure contact state. This state is a measurement state.

この測定状態において、上部側アダプター40の電気抵抗測定用コネクター10における電流供給用電極12と下部側アダプター50の電気抵抗測定用コネクター10における電流供給用電極12との間に一定の値の電流を供給すると共に、一面側被検査電極に電気的に接続された電圧測定用電極14のうち1つの電圧測定用電極14を指定し、当該指定された1つの電圧測定用電極14と、当該電圧測定用電極14に電気的に接続された一面側被検査電極2に対応する他面側被検査電極3に電気的に接続された電圧測定用電極14との間の電圧を測定し、得られた電圧値に基づいて、当該指定された電圧測定用電極14に電気的に接続された一面側被検査電極2とこれに対応する他面側被検査電極3との間の電気抵抗値が取得される。
そして、指定する電圧測定用電極14を順次変更することにより、全ての一面側被検査電極2とこれに対応する他面側被検査電極3との間の電気抵抗の測定を行うことができる。
In this measurement state, a constant current is applied between the current supply electrode 12 in the electrical resistance measurement connector 10 of the upper adapter 40 and the current supply electrode 12 in the electrical resistance measurement connector 10 of the lower adapter 50. And supplying one voltage measurement electrode 14 among the voltage measurement electrodes 14 electrically connected to the one-surface-side inspected electrode, the designated one voltage measurement electrode 14, and the voltage measurement The voltage between the voltage measuring electrode 14 electrically connected to the other surface side inspected electrode 3 corresponding to the one surface side inspected electrode 2 electrically connected to the electrode for measuring 14 was obtained. Based on the voltage value, an electrical resistance value between the one-surface-side inspected electrode 2 electrically connected to the designated voltage measuring electrode 14 and the corresponding other-surface-side inspected electrode 3 is acquired. The
Then, by sequentially changing the designated voltage measuring electrode 14, it is possible to measure the electrical resistance between all the one-surface-side inspected electrodes 2 and the corresponding other-surface-side inspected electrodes 3.

以上において、被検査回路基板1における1つの一面側被検査電極2に、電気抵抗測定用コネクター10の接続用電極組12における2つの電圧測定用電極14が電気的に接続され、当該被検査回路基板1における1つの他面側被検査電極3に、電気抵抗測定用コネクター10の接続用電極組12における2つの電圧測定用電極14が電気的に接続された場合には、図36に示すように、当該一面側被検査電極2とこれに対応する他面側被検査電極3との間には、4つの電圧測定用回路C1,C2,C3,C4が形成されることになる。このような場合には、電圧測定用回路C1、電圧測定用回路C2、電圧測定用回路C3および電圧測定用回路C4の各々による電圧値のうちその値が最も高いものが採用され、当該電圧値に基づいて、一面側被検査電極2とこれに対応する他面側被検査電極3との間の電気抵抗値が取得される。   In the above, two voltage measurement electrodes 14 in the connection electrode set 12 of the electrical resistance measurement connector 10 are electrically connected to one single-surface-side inspection electrode 2 in the circuit board 1 to be inspected, and the circuit to be inspected. When two voltage measurement electrodes 14 in the connection electrode set 12 of the electrical resistance measurement connector 10 are electrically connected to one other-surface-side inspected electrode 3 in the substrate 1, as shown in FIG. In addition, four voltage measuring circuits C1, C2, C3, and C4 are formed between the one-surface-side inspected electrode 2 and the other-surface-side inspected electrode 3 corresponding thereto. In such a case, the voltage value of the voltage measurement circuit C1, the voltage measurement circuit C2, the voltage measurement circuit C3, and the voltage measurement circuit C4 that has the highest value is adopted. Based on the above, the electrical resistance value between the one-surface-side inspected electrode 2 and the other-surface-side inspected electrode 3 corresponding thereto is acquired.

以上のような構成の回路基板の電気抵抗測定装置によれば、その上部側アダプター40および下部側アダプター50の各々に図1および図2に示す構成の電気抵抗測定用コネクター10が設けられていることにより、被検査回路基板1との電気的接続作業において、一面側被検査電極2および他面側被検査電極3に対する位置ずれの許容度が大きいため、被検査回路基板1が大面積でサイズの小さい多数の一面側被検査電極2および他面側被検査電極3を有するものであっても、当該一面側被検査電極2および他面側被検査電極3の各々に対する電流供給用電極13および電圧測定用電極14の両方の電気接続を確実に達成することができる。しかも、電流供給用電極13および電圧測定用電極14は互いに電気的に絶縁されているので、被検査回路基板1についての電気抵抗を高い精度で測定することができる。   According to the circuit board electrical resistance measuring apparatus having the above-described configuration, the electrical resistance measuring connector 10 having the configuration shown in FIGS. 1 and 2 is provided in each of the upper adapter 40 and the lower adapter 50. As a result, in the electrical connection work with the circuit board 1 to be inspected, since the tolerance of displacement with respect to the one-surface-side inspected electrode 2 and the other-surface-side inspected electrode 3 is large, the circuit board 1 to be inspected has a large area and size. Current supply electrode 13 for each of the one-surface-side inspected electrode 2 and the other-surface-side inspected electrode 3 and the other-surface-side inspected electrode 3 and Both electrical connections of the voltage measuring electrode 14 can be reliably achieved. Moreover, since the current supply electrode 13 and the voltage measurement electrode 14 are electrically insulated from each other, the electrical resistance of the circuit board 1 to be inspected can be measured with high accuracy.

本発明の回路装置の電気抵抗測定装置は、上記の例に限定されず、以下のような種々の変更を加えることが可能である。
例えば、第1の例において、下部側アダプター50の他面側検査用回路基板51は、1つの他面側被検査電極3に対して、検査電極対を構成する電流供給用検査電極52および電圧測定用検査電極53が電気的に接続された状態を達成することのできるものであれば、種々のものを用いることができる。
また、異方導電性エラストマー層55としては、電流供給用検査電極52および電圧測定用検査電極53の各々に対応して導電路形成部が形成されてなるものを用いることができる。
また、個々の先端に導電性エラストマーが設けられた検査電極や、更に、許容される場合にはプローブピンを検査電極として用いることも可能である。
また、被検査回路基板が片面プリント回路基板である場合には、下部側アダプターを設けることは不要である。
The electrical resistance measuring device of the circuit device of the present invention is not limited to the above example, and various modifications as described below can be added.
For example, in the first example, the other-surface-side inspection circuit board 51 of the lower adapter 50 has a current-supply inspection electrode 52 and a voltage that constitute an inspection electrode pair with respect to one other-surface-side inspection electrode 3. Any device can be used as long as it can achieve a state in which the measurement inspection electrode 53 is electrically connected.
Further, as the anisotropic conductive elastomer layer 55, a layer in which a conductive path forming portion is formed corresponding to each of the current supply inspection electrode 52 and the voltage measurement inspection electrode 53 can be used.
Moreover, it is also possible to use a test electrode provided with a conductive elastomer at each tip, and, if permitted, a probe pin as a test electrode.
Further, when the circuit board to be inspected is a single-sided printed circuit board, it is not necessary to provide a lower adapter.

以下、本発明の具体的な実施例について説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
また、以下の実施例において、被検査回路基板として、下記の仕様の片面プリント回路基板を使用した。
縦横の寸法が3cm×3cmで、一面に直径100μmの被検査電極の600個が0.2mmのピッチで配置されてなる電極群が合計で4つ形成されてなり(被検査電極の合計の数が2400個)、各電極群における600個の被検査電極のうち2個ずつが内部配線を介して互いに電気的に接続されて回路が形成された(各電極群における回路数が300個,全体の回路数が1200個)片面プリント回路基板。
Hereinafter, specific examples of the present invention will be described, but the present invention is not limited thereto.
In the following examples, a single-sided printed circuit board having the following specifications was used as a circuit board to be inspected.
A total of four electrode groups are formed, each having a vertical and horizontal dimension of 3 cm × 3 cm, and 600 electrodes to be inspected having a diameter of 100 μm arranged at a pitch of 0.2 mm on one side (the total number of electrodes to be inspected). 2400), two of the 600 electrodes to be inspected in each electrode group were electrically connected to each other via internal wiring to form a circuit (300 circuits in each electrode group, total The number of circuits is 1200) single-sided printed circuit board.

〈実施例1〉
〔電気抵抗測定用コネクター〕
図1および図2に示す構成に従い、下記の仕様により、電気抵抗測定用コネクターを作製した。
絶縁性基板(11):
材質;ガラス繊維補強型エポシキ樹脂,絶縁性基板(11)の寸法;100mm×100mm×0.5mm,
接続用電極組(12):
電流供給用電極(13)および電圧測定用電極(14)の寸法;50μm×50μm,電流供給用電極(13)および電圧測定用電極(14)の間の離間距離;30μm,接続用電極組(12)のピッチ;200μm,接続用電極組(12)の数;600,
中継電極(15):
中継電極(15)の寸法;直径120μm(円形),中継電極(15)のピッチ;350μm,中継電極(15)の数;1200
<Example 1>
[Connector for electrical resistance measurement]
According to the configuration shown in FIGS. 1 and 2, an electrical resistance measurement connector was produced according to the following specifications.
Insulating substrate (11):
Material: Glass fiber reinforced epoxy resin, dimensions of insulating substrate (11): 100 mm × 100 mm × 0.5 mm,
Connecting electrode set (12):
Dimensions of current supply electrode (13) and voltage measurement electrode (14): 50 μm × 50 μm, separation distance between current supply electrode (13) and voltage measurement electrode (14); 30 μm, connection electrode set ( 12) pitch; 200 μm, number of connection electrode sets (12); 600,
Relay electrode (15):
Dimensions of relay electrode (15); diameter 120 μm (circular), pitch of relay electrode (15); 350 μm, number of relay electrodes (15); 1200

〔電気抵抗測定用コネクター装置〕
上記の電気抵抗測定用コネクターの表面に、以下のようにして異方導電性エラストマー層を形成して電気抵抗測定用コネクター装置を作製した。
(1)金型:
図14に示す構成に従い、下記の仕様により、異方導電性エラストマー層を得るための金型を作製した。
すなわち、上型(30)および下型(35)の各々において、強磁性体基板(31,36)の材質は鉄であり、その厚みは10mmである。強磁性体層(32,37)の材質はニッケルであり、その平面形状は円形で、その寸法は直径が300μm、厚みが100μmである。上型(30)の非磁性体層(33)の材質はドライフィルムレジストを硬化処理したものであり、その厚みは150μmである。下型(35)の非磁性体層(38)の材質はドライフィルムレジストを硬化処理したものであり、その厚みは100μmである。
[Connector device for electrical resistance measurement]
An anisotropic conductive elastomer layer was formed on the surface of the electrical resistance measurement connector as described below to produce an electrical resistance measurement connector device.
(1) Mold:
According to the configuration shown in FIG. 14, a mold for obtaining an anisotropic conductive elastomer layer was produced according to the following specifications.
That is, in each of the upper mold (30) and the lower mold (35), the material of the ferromagnetic substrate (31, 36) is iron, and the thickness thereof is 10 mm. The material of the ferromagnetic layers (32, 37) is nickel, its planar shape is circular, and its dimensions are 300 μm in diameter and 100 μm in thickness. The material of the non-magnetic layer (33) of the upper mold (30) is obtained by curing a dry film resist and has a thickness of 150 μm. The material of the non-magnetic layer (38) of the lower mold (35) is obtained by curing a dry film resist and has a thickness of 100 μm.

(2)エラストマー用材料:
付加型液状シリコーンゴム100重量部に、平均粒子径が10μmの導電性粒子15重量部を添加して混合し、その後、減圧による脱泡処理を施すことにより、エラストマー用材料を調製した。以上において、導電性粒子としては、ニッケルよりなる芯粒子に金メッキが施されてなるもの(平均被覆量:芯粒子の重量の4重量%)を用いた。また、エラストマー用材料の粘度は、温度25℃において4800Pであった。
(2) Material for elastomer:
An elastomer material was prepared by adding and mixing 15 parts by weight of conductive particles having an average particle diameter of 10 μm to 100 parts by weight of addition-type liquid silicone rubber, followed by defoaming treatment under reduced pressure. In the above, as the conductive particles, those obtained by subjecting core particles made of nickel to gold plating (average coating amount: 4% by weight of the weight of the core particles) were used. The viscosity of the elastomer material was 4800 P at a temperature of 25 ° C.

(3)異方導電性エラストマー層:
上記の電気抵抗測定用コネクター(10)の表面に、調製したエラストマー用材料をスクリーン印刷法によって塗布することにより、エラストマー用材料層(20A)を形成し、このエラストマー用材料層(20A)の表面および電気抵抗測定用コネクター10の裏面に、上記の上型(30)および下型(35)を配置した。そして、上型(30)の下面および下型(35)の下面に、電磁石を配置してこれを作動させることにより、エラストマー用材料層(20A)に対し、上型(30)の強磁性体層(32)と下型(35)の強磁性体層(37)との間に位置する部分に、その厚み方向に2Tの磁場を作用させながら、125℃、2時間の条件で、エラストマー用材料層(20A)の硬化処理を行うことにより、電気抵抗測定用コネクター(10)の表面に、その接続用電極組領域の表面上に位置する部分に磁性を示す導電性粒子が厚み方向に並ぶよう配向した状態で含有されたエラストマー層(20B)を形成した。
得られたエラストマー層(20B)に対して、炭酸ガスレーザーによるレーザー加工を施すことにより、導電性粒子が含有された部分において、接続用電極組(12)における各電極の間の領域の表面上に位置する部分を除去することにより、十字状の穴部(K)を形成した。次いで、この穴部(K)に、付加型液状シリコーンゴムを充填し、125℃、2時間の条件で、当該付加型液状シリコーンゴムの硬化処理を行うことにより、異方導電性エラストマー層(20)を形成し、以て、電気抵抗測定用コネクター装置(25)を製造した。
(3) Anisotropic conductive elastomer layer:
The elastomer material layer (20A) is formed on the surface of the electrical resistance measurement connector (10) by applying the prepared elastomer material by screen printing, and the surface of the elastomer material layer (20A) is formed. The upper mold (30) and the lower mold (35) are arranged on the back surface of the electrical resistance measuring connector 10. Then, by placing an electromagnet on the lower surface of the upper die (30) and the lower surface of the lower die (35) and operating it, the ferromagnetic material of the upper die (30) with respect to the elastomer material layer (20A). For elastomers under the conditions of 125 ° C. and 2 hours while applying a 2T magnetic field to the portion located between the layer (32) and the ferromagnetic layer (37) of the lower die (35). By conducting the curing process of the material layer (20A), the conductive particles exhibiting magnetism are arranged in the thickness direction on the surface of the electrical resistance measurement connector (10) on the surface of the connection electrode assembly region. The elastomer layer (20B) contained in such an oriented state was formed.
By subjecting the obtained elastomer layer (20B) to laser processing using a carbon dioxide gas laser, in the portion containing conductive particles, on the surface of the region between the electrodes in the connection electrode set (12) The cross-shaped hole (K) was formed by removing the part located in. Next, the addition type liquid silicone rubber is filled in the hole (K), and the addition type liquid silicone rubber is cured under the conditions of 125 ° C. and 2 hours, whereby the anisotropic conductive elastomer layer (20 Thus, the electrical resistance measuring connector device (25) was manufactured.

(4)回路装置の電気抵抗測定装置:
上記の電気抵抗測定用コネクター装置を用い、図31に示す上部側アダプターと、テスターとからなる電気抵抗測定装置を作製した。
(4) Electrical resistance measuring device for circuit device:
Using the electrical resistance measurement connector device described above, an electrical resistance measurement device including an upper-side adapter and a tester shown in FIG. 31 was produced.

<比較例1>
特開2000−74965号公報に開示されている構成に従い、被検査電極に対応して電流供給用電極および電圧測定用電極が表面に形成された検査用回路基板と、この検査用回路基板の表面に設けられた導電性エラストマーよりなる接続部材および保持部材と有する電気抵抗測定装置を作製した。
上記の検査用回路基板における電流供給用電極および電圧測定用電極の縦横の寸法は、それぞれ120μm×40μmで、電流供給用電極および電圧測定用電極の離間距離は40μmで、接続部材の厚みは0.06mmで、接続部材を構成する弾性高分子物質としてシリコーンゴムを用いると共に、導電性粒子として、金メッキされた平均粒径10μmのニッケル粒子を用いた。
<Comparative Example 1>
In accordance with the configuration disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2000-74965, an inspection circuit board having a current supply electrode and a voltage measurement electrode formed on the surface corresponding to the electrode to be inspected, and the surface of the inspection circuit board An electrical resistance measuring device having a connecting member and a holding member made of a conductive elastomer provided on the substrate was manufactured.
The vertical and horizontal dimensions of the current supply electrode and the voltage measurement electrode in the circuit board for inspection are 120 μm × 40 μm, the separation distance between the current supply electrode and the voltage measurement electrode is 40 μm, and the thickness of the connecting member is 0 At 0.06 mm, silicone rubber was used as the elastic polymer material constituting the connecting member, and gold-plated nickel particles with an average particle diameter of 10 μm were used as the conductive particles.

〔評価〕
前述の仕様の被検査回路基板を合計で200枚用意し、これらの被検査回路基板における各回路の電気抵抗の測定を、実施例1および比較例1に係る電気抵抗測定装置によって行い、回路の電気抵抗の測定値が1Ω以上である場合を、接続不良と判断し、その数を測定した。
その結果、実施例1に係る電気抵抗測定装置においては、100個の回路基板(1200回路×100)中、電気抵抗の測定値が1Ω以上である回路を有する回路基板の数は0個であり、比較例1に係る電気抵抗装置においては、100個の回路基板(1200回路×100)中、電気抵抗の測定値が1Ω以上である回路を有する回路基板の数は25個であった。
[Evaluation]
A total of 200 circuit boards to be inspected having the above-mentioned specifications are prepared, and the electrical resistance of each circuit on these circuit boards to be inspected is measured by the electrical resistance measuring apparatus according to Example 1 and Comparative Example 1, and the circuit When the measured value of the electrical resistance was 1Ω or more, it was determined that the connection was poor, and the number was measured.
As a result, in the electrical resistance measuring apparatus according to Example 1, the number of circuit boards having a circuit whose measured value of electrical resistance is 1Ω or more out of 100 circuit boards (1200 circuits × 100) is 0. In the electrical resistance device according to Comparative Example 1, out of 100 circuit boards (1200 circuits × 100), the number of circuit boards having a circuit having a measured electrical resistance value of 1Ω or more was 25.

本発明に係る電気抵抗測定用コネクターの第1の例を示す平面図である。It is a top view which shows the 1st example of the connector for electrical resistance measurement which concerns on this invention. 第1の例の電気抵抗測定用コネクターの構成を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the structure of the connector for electrical resistance measurement of a 1st example. 被検査回路基板の一面上に、異方導電性シートを介して図1に示す電気抵抗測定用コネクターが配置された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state by which the connector for an electrical resistance measurement shown in FIG. 1 is arrange | positioned through the anisotropic conductive sheet on one surface of a to-be-inspected circuit board. 第1の例の電気抵抗測定用コネクターにおける接続用電極組と被検査電極との間に位置ずれが生じた状態を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the state which the position shift produced between the electrode set for a connection and the to-be-tested electrode in the electrical resistance measurement connector of a 1st example. 被検査回路基板の構成を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the structure of a to-be-inspected circuit board. 本発明に係る電気抵抗測定用コネクターの第2の例を示す平面図である。It is a top view which shows the 2nd example of the connector for an electrical resistance measurement which concerns on this invention. 第2の例の電気抵抗測定用コネクターの構成を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the structure of the connector for an electrical resistance measurement of a 2nd example. 第2の例の電気抵抗測定用コネクターにおける接続用電極組と被検査電極との間に位置ずれが生じた状態を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the state which the position shift produced between the electrode group for a connection in the electrical resistance measurement connector of a 2nd example, and a to-be-tested electrode. 本発明に係る電気抵抗測定用コネクターの第3の例を示す平面図である。It is a top view which shows the 3rd example of the connector for an electrical resistance measurement which concerns on this invention. 第3の例の電気抵抗測定用コネクターの構成を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the structure of the connector for an electrical resistance measurement of the 3rd example. 本発明に係る電気抵抗測定用コネクターの第4の例における構成を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the structure in the 4th example of the connector for electrical resistance measurement which concerns on this invention. 本発明に係る電気抵抗測定用コネクター装置の第1の例における構成を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the structure in the 1st example of the connector apparatus for an electrical resistance measurement which concerns on this invention. 図12に示す電気抵抗測定用コネクター装置を、その異方導電性エラストマー層の一部を破断して示す平面図である。It is a top view which fractures | ruptures a part of the anisotropic conductive elastomer layer, and shows the connector apparatus for electrical resistance measurement shown in FIG. 異方導電性エラストマー層を得るための金型の一例における構成を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the structure in an example of the metal mold | die for obtaining an anisotropic conductive elastomer layer. 電気抵抗測定用コネクターの表面にエラストマー用材料層が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state in which the elastomer material layer was formed in the surface of the connector for electrical resistance measurement. エラストマー用材料層の厚み方向に強度分布を有する磁場が作用された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state to which the magnetic field which has intensity distribution was acted on the thickness direction of the material layer for elastomers. 電気抵抗測定用コネクターの表面にエラストマー層が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state in which the elastomer layer was formed in the surface of the connector for electrical resistance measurement. エラストマー層に穴部が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state in which the hole part was formed in the elastomer layer. エラストマー層に形成された穴部に高分子物質形成材料が充填された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state by which the polymer substance forming material was filled into the hole part formed in the elastomer layer. 本発明に係る電気抵抗測定用コネクター装置の第2の例における構成を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the structure in the 2nd example of the connector apparatus for an electrical resistance measurement which concerns on this invention. 図20に示す電気抵抗測定用コネクター装置を、その異方導電性エラストマー層の一部を破断して示す平面図である。FIG. 21 is a plan view showing the electrical resistance measurement connector device shown in FIG. 20 with a part of its anisotropically conductive elastomer layer cut away. 離型性支持板上に導電性エラストマー層が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state in which the electroconductive elastomer layer was formed on the releasable support plate. 導電性エラストマー層上に金属薄層が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state by which the metal thin layer was formed on the conductive elastomer layer. 金属薄層上に開口を有するレジスト層が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state in which the resist layer which has an opening was formed on the metal thin layer. レジスト層の開口内に金属マスクが形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state in which the metal mask was formed in opening of a resist layer. 離型性支持板上に複数の導電路形成部が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state in which the some conductive path formation part was formed on the releasable support plate. 電気抵抗測定用コネクターの表面に絶縁部用材料層が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state by which the insulating part material layer was formed in the surface of the connector for electrical resistance measurement. 絶縁部用材料層が形成された電気抵抗測定用コネクター上に、導電路形成部が形成された離型性支持板が重ね合わされた状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state with which the releaseable support plate in which the conductive path formation part was formed was piled up on the electrical resistance measurement connector in which the insulating part material layer was formed. 隣接する導電路形成部間に絶縁部が形成された状態を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the state by which the insulating part was formed between the adjacent conductive path formation parts. 本発明に係る電気抵抗測定用コネクター装置の他の例における構成を示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the structure in the other example of the connector apparatus for an electrical resistance measurement which concerns on this invention. 本発明に係る回路基板の電気抵抗測定装置の第1の例における構成の概略を、被検査回路基板と共に示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the outline of the structure in the 1st example of the electrical resistance measuring apparatus of the circuit board based on this invention with a to-be-inspected circuit board. 第1の例の回路基板の電気抵抗測定装置の要部を拡大して示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which expands and shows the principal part of the electrical resistance measuring apparatus of the circuit board of a 1st example. 第1の例の回路基板の電気抵抗測定装置によって形成される電圧測定用回路を模式的に示す説明図である。It is explanatory drawing which shows typically the circuit for a voltage measurement formed with the electrical resistance measuring apparatus of the circuit board of a 1st example. 本発明に係る回路基板の電気抵抗測定装置の第2の例における構成の概略を、被検査回路基板と共に示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which shows the outline of the structure in the 2nd example of the electrical resistance measuring apparatus of the circuit board based on this invention with a to-be-inspected circuit board. 第2の例の回路基板の電気抵抗測定装置の要部を拡大して示す説明用断面図である。It is sectional drawing for description which expands and shows the principal part of the electrical resistance measuring apparatus of the circuit board of a 2nd example. 第2の例の回路基板の電気抵抗測定装置によって形成される電圧測定用回路を模式的に示す説明図である。It is explanatory drawing which shows typically the circuit for a voltage measurement formed with the electrical resistance measuring apparatus of the circuit board of a 2nd example. 電流供給用プローブおよび電圧測定用プローブにより、回路基板における電極間の電気抵抗を測定する装置の模式図である。It is a schematic diagram of the apparatus which measures the electrical resistance between the electrodes in a circuit board with the probe for electric current supply, and the probe for voltage measurement. 従来の回路基板の電気抵抗測定装置において、被検査電極上に電流供給用電極および電圧測定用電極が適正に配置された状態を示す説明図である。In the conventional electrical resistance measuring device of a circuit board, it is explanatory drawing which shows the state by which the electrode for electric current supply and the electrode for a voltage measurement are arrange | positioned appropriately on to-be-inspected electrode. 従来の回路基板の電気抵抗測定装置において、被検査電極上に電流供給用電極および電圧測定用電極が位置ずれした状態で配置された状態を示す説明図である。FIG. 10 is an explanatory diagram showing a state in which a current supply electrode and a voltage measurement electrode are arranged in a misaligned state on an electrode to be inspected in a conventional circuit board electrical resistance measurement device.

符号の説明Explanation of symbols

1 被検査回路基板 2 一面側被検査電極
3 他面側被検査電極 4a,4b 回路
5 異方導電性シート
10 電気抵抗測定用コネクター
11 絶縁性基板 12 接続用電極組
13 電流供給用電極 14 電圧測定用電極
15 中継電極 16 配線部
20 異方導電性エラストマー層
20A エラストマー用材料層
20B エラストマー層
21 導電路形成部
21A 導電性エラストマー層
22 絶縁部 22A 絶縁部用材料層
23 突出部
23A 高分子物質形成材料
25 電気抵抗測定用コネクター装置
26 離型性支持板 27 金属薄層
28 レジスト層 28a 開口
29 金属マスク
30 上型 31 強磁性体基板
32 強磁性体層 33 非磁性体層
35 下型 36 強磁性体基板
37 強磁性体層 38 非磁性体層
40 上部側アダプター 41 一面側検査用回路基板
42 検査電極 43 端子電極
44 第1の上部側異方導電性シート
45 第2の上部側異方導電性シート
48 電極板 49 標準配列電極
50 下部側アダプター 51 他面側検査用回路基板
52 検査電極 53 端子電極
52a 電流供給用検査電極
52b 電圧測定用検査電極
53a 電流供給用端子電極
53b 電圧測定用端子電極
55 異方導電性エラストマー層
56 導電路形成部 57 絶縁部
59 テスター 60 電極板
61 標準配列電極
62 下部側異方導電性シート
64 第1の下部側異方導電性シート
65 第2の下部側異方導電性シート
90 被検査回路基板
91,92 被検査電極 93 電源装置
94 電気信号処理装置
PA,PD 電流供給用プローブ
PB,PC 電圧測定用プローブ
A 電流供給用電極 V 電圧測定用電極
T 被検査電極 P 導電性粒子
K 穴部
C1,C2,C3,C4 電圧測定用回路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Circuit board to be inspected 2 Electrode to be inspected on one side 3 Electrodes to be inspected on the other side 4a, 4b Circuit 5 Anisotropic conductive sheet 10 Connector for electrical resistance measurement 11 Insulating substrate 12 Electrode set for connection 13 Electrode for current supply 14 Voltage Measurement electrode 15 Relay electrode 16 Wiring part 20 Anisotropic conductive elastomer layer 20A Elastomer material layer 20B Elastomer layer 21 Conductive path forming part 21A Conductive elastomer layer 22 Insulating part 22A Insulating part material layer 23 Projecting part 23A Polymer substance Forming material 25 Connector device 26 for measuring electric resistance 26 Releasable support plate 27 Metal thin layer 28 Resist layer 28a Opening 29 Metal mask 30 Upper mold 31 Ferromagnetic substrate 32 Ferromagnetic layer 33 Nonmagnetic layer 35 Lower mold 36 Strong Magnetic substrate 37 Ferromagnetic layer 38 Nonmagnetic layer 40 Upper side adapter 41 One side inspection circuit board 42 Inspection electrode 43 Terminal electrode 44 First upper side anisotropic conductive sheet 45 Second upper side anisotropic conductive sheet 48 Electrode plate 49 Standard array electrode 50 Lower side adapter 51 Circuit board 52 for inspection on the other side Inspection electrode 53 Terminal electrode 52a Current supply test electrode 52b Voltage measurement test electrode 53a Current supply terminal electrode 53b Voltage measurement terminal electrode 55 Anisotropic conductive elastomer layer 56 Conductive path forming part 57 Insulation part 59 Tester 60 Electrode plate 61 Standard array electrode 62 Lower-side anisotropic conductive sheet 64 First lower-side anisotropic conductive sheet 65 Second lower-side anisotropic conductive sheet 90 Circuit boards 91 and 92 to be inspected 93 Power supply 94 Electric signal processor PA , PD Current supply probe PB, PC Voltage measurement probe A Current supply electrode V Voltage measurement electrode T Inspected electrode P Conductive particle Holes C1, C2, C3, C4 voltage measurement circuit

Claims (15)

絶縁性基板と、この絶縁性基板の表面に電気抵抗を測定すべき被検査回路基板における複数の被検査電極のパターンに対応するパターンに従って配置された複数の接続用電極組とを具えてなり、
前記接続用電極組の各々は、電圧測定用電極、電流供給用電極および電圧測定用電極の3つの電極がこの順で並ぶよう互いに離間して配置されてなることを特徴とする電気抵抗測定用コネクター。
Comprising an insulating substrate and a plurality of connection electrode sets arranged in accordance with a pattern corresponding to a pattern of a plurality of electrodes to be inspected on a circuit board to be inspected on the surface of the insulating substrate,
Each of the connection electrode sets is composed of three electrodes, ie, a voltage measurement electrode, a current supply electrode, and a voltage measurement electrode, which are spaced apart from each other so as to be arranged in this order . connector.
絶縁性基板と、この絶縁性基板の表面に電気抵抗を測定すべき被検査回路基板における複数の被検査電極のパターンに対応するパターンに従って配置された複数の接続用電極組とを具えてなり、
前記接続用電極組の各々は、電流供給用電極、電圧測定用電極および電流供給用電極の3つの電極がこの順で並ぶよう互いに離間して配置されてなることを特徴とする電気抵抗測定用コネクター。
Comprising an insulating substrate and a plurality of connection electrode sets arranged in accordance with a pattern corresponding to a pattern of a plurality of electrodes to be inspected on a circuit board to be inspected on the surface of the insulating substrate,
Each of the connection electrode sets is composed of three electrodes, that is, a current supply electrode, a voltage measurement electrode, and a current supply electrode, which are arranged apart from each other in this order . connector.
接続用電極組における電流供給用電極および電圧測定用電極の各々は、これらの電極が並ぶ方向に対して垂直な方向に長尺な形状を有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の電気抵抗測定用コネクター。 Each of the current supply electrode and the voltage measurement electrode in the connection electrode set has an elongated shape in a direction perpendicular to the direction in which these electrodes are arranged. The connector for electrical resistance measurement as described . 絶縁性基板の裏面に、電流供給用電極および電圧測定用電極のいずれか一方に電気的に接続された複数の中継電極が配置されていることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の電気抵抗測定用コネクター。 4. The relay electrode according to claim 1, wherein a plurality of relay electrodes electrically connected to either the current supply electrode or the voltage measurement electrode are disposed on the back surface of the insulating substrate. for measurement of electric resistance connector of crab described. 複数の電流供給用電極に電気的に接続された中継電極を有することを特徴とする請求項4に記載の電気抵抗測定用コネクター。 The electrical resistance measuring connector according to claim 4, further comprising a relay electrode electrically connected to the plurality of current supply electrodes . 請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の電気抵抗測定用コネクターと、この電気抵抗測定用コネクターの表面に一体的に積層された異方導電性エラストマー層とを具えてなることを特徴とする電気抵抗測定用コネクター装置。A connector for measuring electrical resistance according to any one of claims 1 to 5, and an anisotropic conductive elastomer layer integrally laminated on a surface of the connector for measuring electrical resistance. Connector device for electrical resistance measurement. 異方導電性エラストマー層は、電流供給用電極および電圧測定用電極の各々の表面上に配置された、それぞれ厚み方向に伸びる複数の導電路形成部と、これらの導電路形成部を相互に絶縁する絶縁部とよりなることを特徴とする請求項6に記載の電気抵抗測定用コネクター装置。The anisotropic conductive elastomer layer is disposed on the surface of each of the current supply electrode and the voltage measurement electrode, and a plurality of conductive path forming portions extending in the thickness direction, and the conductive path forming portions are insulated from each other. The electrical resistance measuring connector device according to claim 6, further comprising an insulating portion. 異方導電性エラストマー層における導電路形成部は、磁性を示す導電性粒子が厚み方向に並ぶよう配向した状態で含有されてなることを特徴とする請求項7に記載の電気抵抗測定用コネクター装置。8. The electrical resistance measuring connector device according to claim 7, wherein the conductive path forming portion in the anisotropic conductive elastomer layer is contained in a state in which the conductive particles exhibiting magnetism are aligned in the thickness direction. . 請求項8に記載の電気抵抗測定用コネクター装置を製造する方法であって、A method of manufacturing the electrical resistance measuring connector device according to claim 8,
請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の電気抵抗測定用コネクターの表面に、硬化されて弾性高分子物質となる液状の高分子物質形成材料中に磁性を示す導電性粒子が含有されてなるエラストマー用材料層を形成し、このエラストマー用材料層に対して、電気抵抗測定用コネクターの接続用電極組が形成された領域の表面上に位置する部分においてそれ以外の部分より大きい強度の磁場を厚み方向に作用させると共に、当該エラストマー用材料層を硬化処理することにより、当該電気抵抗測定用コネクターの表面に、その接続用電極組が形成された領域の表面上に位置する部分に磁性を示す導電性粒子が厚み方向に並ぶよう配向した状態で含有されたエラストマー層を形成し、6. Conductive particles exhibiting magnetism are contained in a liquid polymer material-forming material that is cured to become an elastic polymer material on the surface of the electrical resistance measurement connector according to claim 1. Forming an elastomer material layer, and against this elastomer material layer, a magnetic field having a strength greater than that of the other portions in the portion located on the surface of the region where the connection electrode set of the electrical resistance measurement connector is formed In the thickness direction, the elastomer material layer is cured to magnetize the portion of the electrical resistance measurement connector located on the surface of the region where the connection electrode set is formed. Forming an elastomer layer contained in an oriented state so that the conductive particles shown are aligned in the thickness direction;
このエラストマー層における導電性粒子が含有された部分において、接続用電極組における各電極の間の領域の表面上に位置する部分を除去して穴部を形成し、その後、この穴部に硬化されて弾性高分子物質となる液状の高分子物質形成材料を充填し、当該高分子物質形成材料を硬化処理する工程を有することを特徴とする電気抵抗測定用コネクター装置の製造方法。In the part containing the conductive particles in the elastomer layer, a part located on the surface of the region between the electrodes in the connection electrode set is removed to form a hole, and then the hole is cured to the hole. A method of manufacturing a connector device for measuring electrical resistance, comprising: filling a liquid polymer substance-forming material that becomes an elastic polymer substance and curing the polymer substance-forming material.
少なくとも一面に電極を有する回路基板の電気抵抗を測定する回路基板の電気抵抗測定装置であって、A circuit board electrical resistance measuring device for measuring electrical resistance of a circuit board having electrodes on at least one surface,
電気抵抗を測定すべき被検査回路基板の一面側に配置される、請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の電気抵抗測定用コネクターを具えてなることを特徴とする回路基板の電気抵抗測定装置。The electrical resistance of a circuit board comprising the electrical resistance measuring connector according to any one of claims 1 to 5, wherein the electrical resistance measuring connector is disposed on one surface side of a circuit board to be inspected. measuring device.
少なくとも一面に電極を有する回路基板の電気抵抗を測定する回路基板の電気抵抗測定装置であって、A circuit board electrical resistance measuring device for measuring electrical resistance of a circuit board having electrodes on at least one surface,
電気抵抗を測定すべき被検査回路基板の一面側に配置される、請求項4または請求項5に記載の電気抵抗測定用コネクターと、The electrical resistance measurement connector according to claim 4 or 5, wherein the electrical resistance measurement connector is disposed on one side of the circuit board to be inspected to measure electrical resistance.
この電気抵抗測定用コネクターの裏面に異方導電性シートを介して配置された、表面に当該電気抵抗測定用コネクターにおける中継電極のパターンに対応するパターンに従って配置された検査電極を有する一面側検査用回路基板とを具えてなることを特徴とする回路基板の電気抵抗測定装置。For inspection on one surface side, which has an inspection electrode arranged on the back surface of the electrical resistance measurement connector via an anisotropic conductive sheet and arranged on the front surface according to a pattern corresponding to the pattern of the relay electrode in the electrical resistance measurement connector A circuit board electrical resistance measuring device comprising a circuit board.
両面に電極を有する回路基板の電気抵抗を測定する回路基板の電気抵抗測定装置であって、A circuit board electrical resistance measuring device for measuring electrical resistance of a circuit board having electrodes on both sides,
電気抵抗を測定すべき被検査回路基板の他面側に配置される、他面側検査用回路基板を具えてなり、A circuit board for inspecting the other side arranged on the other side of the circuit board to be inspected for measuring electrical resistance;
前記他面側検査用回路基板は、その表面にそれぞれ前記被検査回路基板の他面側被検査電極の各々に対応して互いに離間して配置された、それぞれ同一の他面側被検査電極に電気的に接続される電流供給用検査電極および電圧測定用検査電極が形成されていることを特徴とする請求項10または請求項11に記載の回路基板の電気抵抗測定装置。The other surface side inspection circuit boards are arranged on the same surface on the same other surface side inspected electrodes, which are arranged to be spaced apart from each other corresponding to the other surface side inspected electrodes of the circuit board to be inspected. 12. The circuit board electrical resistance measurement device according to claim 10, wherein a current supply test electrode and a voltage measurement test electrode are formed to be electrically connected.
両面に電極を有する回路基板の電気抵抗を測定する回路基板の電気抵抗測定装置であって、A circuit board electrical resistance measuring device for measuring electrical resistance of a circuit board having electrodes on both sides,
電気抵抗を測定すべき被検査回路基板の一面側に配置される、請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の電気抵抗測定用コネクターと、The electrical resistance measurement connector according to any one of claims 1 to 5, wherein the electrical resistance measurement connector is disposed on one surface side of a circuit board to be inspected to measure electrical resistance.
当該被検査回路基板の他面側に配置される、請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の電気抵抗測定用コネクターと6. The electrical resistance measuring connector according to claim 1, which is disposed on the other surface side of the circuit board to be inspected.
を具えてなることを特徴とする回路基板の電気抵抗測定装置。An electrical resistance measuring device for a circuit board, comprising:
両面に電極を有する回路基板の電気抵抗を測定する回路基板の電気抵抗測定装置であって、A circuit board electrical resistance measuring device for measuring electrical resistance of a circuit board having electrodes on both sides,
電気抵抗を測定すべき被検査回路基板の一面側に配置される、請求項4または請求項5に記載の電気抵抗測定用コネクターと、The electrical resistance measurement connector according to claim 4 or 5, wherein the electrical resistance measurement connector is disposed on one side of the circuit board to be inspected to measure electrical resistance.
この電気抵抗測定用コネクターの裏面に異方導電性シートを介して配置された、表面に当該電気抵抗測定用コネクターにおける中継電極のパターンに対応するパターンに従って配置された検査電極を有する一面側検査用回路基板と、For inspection on one side, which has inspection electrodes arranged on the front surface according to a pattern corresponding to the pattern of the relay electrode in the electric resistance measurement connector, arranged on the back surface of the electrical resistance measurement connector via an anisotropic conductive sheet A circuit board;
前記被検査回路基板の他面側に配置される、請求項4または請求項5に記載の電気抵抗測定用コネクターと、The electrical resistance measurement connector according to claim 4 or 5, which is disposed on the other surface side of the circuit board to be inspected;
この電気抵抗測定用コネクターの裏面に異方導電性シートを介して配置された、表面に当該電気抵抗測定用コネクターにおける中継電極のパターンに対応するパターンに従って配置された検査電極を有する他面側検査用回路基板とThe other side inspection having the inspection electrode arranged on the front surface according to the pattern corresponding to the pattern of the relay electrode in the electric resistance measurement connector arranged on the back surface of the electric resistance measurement connector via an anisotropic conductive sheet Circuit board and
を具えてなることを特徴とする回路基板の電気抵抗測定装置。An electrical resistance measuring device for a circuit board, comprising:
電気抵抗を測定すべき被検査回路基板の一面に、請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の電気抵抗測定用コネクターを配置し、The electrical resistance measuring connector according to any one of claims 1 to 5 is disposed on one surface of a circuit board to be inspected for measuring electrical resistance,
当該被検査回路基板の一面側被検査電極の各々に、前記電気抵抗測定用コネクターの接続用電極組における少なくとも1つの電流供給用電極および少なくとも1つの電圧測定用電極を同時に電気的に接続して測定状態とし、At least one current supply electrode and at least one voltage measurement electrode in the connection electrode set of the electrical resistance measurement connector are simultaneously electrically connected to each of the electrodes to be inspected on one side of the circuit board to be inspected. The measurement state,
この測定状態において、前記電気抵抗測定用コネクターにおける電流供給用電極を介して被検査回路基板に電流を供給すると共に、前記一面側被検査電極に電気的に接続された電圧測定用電極のうち1つの電圧測定用電極を指定し、当該指定された1つの電圧測定用電極に電気的に接続された一面側被検査電極に係る電気抵抗の測定を実施することを特徴とする回路基板の電気抵抗測定方法。In this measurement state, a current is supplied to the circuit board to be inspected via a current supply electrode in the electrical resistance measurement connector, and one of the voltage measurement electrodes electrically connected to the one surface side inspected electrode. An electrical resistance of a circuit board characterized by designating two voltage measuring electrodes and measuring the electrical resistance of the one-surface-side inspected electrode electrically connected to the designated one voltage measuring electrode Measuring method.
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