JP4371939B2 - Board loading apparatus, component mounting apparatus, and board loading method - Google Patents

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Description

本発明は、供給位置からステージへ可撓性基板を搬入する基板搬入装置に関する。   The present invention relates to a substrate carry-in device for carrying a flexible substrate from a supply position to a stage.

基板に複数の部品を実装するための種々の部品実装装置が知られている。一般的に、この部品実装装置は、装置外から装置内に基板を供給するためのローダ、部品実装済みの基板を装置内から装置外に排出するアンローダ、載置された基板を真空吸着により保持するボンディングステージ、ローダからボンディングステージ上に基板を搬入する基板搬入装置、ボンディングステージ上に保持された基板に部品を実装する実装ヘッド、及び部品実装済みの基板をボンディングステージからアンローダに搬出する基板搬出装置を備えている。例えば、特許文献1にこの種の部品実装装置が開示されている。   Various component mounting apparatuses for mounting a plurality of components on a substrate are known. Generally, this component mounting device is equipped with a loader for supplying a substrate from outside the device to the inside of the device, an unloader for discharging the substrate on which the components are mounted from the inside of the device to the outside, and holding the mounted substrate by vacuum suction. Bonding stage, substrate loading device for loading the substrate from the loader onto the bonding stage, mounting head for mounting the component on the substrate held on the bonding stage, and substrate unloading for unloading the component-mounted substrate from the bonding stage to the unloader Equipment. For example, Patent Document 1 discloses this type of component mounting apparatus.

基板には、エポキシ樹脂等からなる比較的硬質な通常の基板に加え、FPC基板のような可撓性を有する基板(可撓性基板)がある。また、比較的高剛性の搬送キャリアに可撓性基板を保持させて搬送する場合もある。可撓性基板は、通常の基板と比較して撓みや反りが生じやすい。基板搬入装置によってボンディングステージに搬入された可撓性基板が、撓みや反りがあって平坦ではない状態でボンディングステージ上に吸着保持されると、実装ヘッドによる実装時に部品の実装位置のずれ等の実装不良の原因となる。   As the substrate, there is a flexible substrate such as an FPC substrate (flexible substrate) in addition to a relatively hard normal substrate made of an epoxy resin or the like. In some cases, a flexible substrate is held on a relatively high-rigidity transport carrier and transported. A flexible substrate is more likely to bend and warp than a normal substrate. If the flexible substrate carried into the bonding stage by the substrate carry-in device is sucked and held on the bonding stage in a state where it is not flat due to bending or warping, the mounting position of the component may be shifted during mounting by the mounting head. Cause mounting failure.

可撓性基板の撓みや反りに対する対策として、単純にボンディングステージによる真空吸着の真空度を高めると、真空吸着孔の部分で可撓性基板が局所的に窪みを生じ、却って可撓性基板の平坦度が低下する。   As a countermeasure against bending and warping of the flexible substrate, if the vacuum degree of vacuum suction by the bonding stage is simply increased, the flexible substrate locally becomes depressed at the vacuum suction hole, and the flexible substrate Flatness decreases.

特許文献2には、基板を下面から支持する複数のサポートピンの高さを反りに応じて調節することで、通常の基板の反りを矯正する技術が開示されている。しかし、この技術は、通常の基板よりも大幅に柔軟性が高い可撓性基板には適用できない。   Patent Document 2 discloses a technique for correcting the warp of a normal substrate by adjusting the heights of a plurality of support pins that support the substrate from the lower surface according to the warp. However, this technique cannot be applied to a flexible substrate that is significantly more flexible than a normal substrate.

特開2004−186182号公報JP 2004-186182 A 特開平6−196847号公報JP-A-6-196847

本発明は、可撓性基板を撓みや反りのない平坦な状態でステージ上に配置し、可撓性基板を確実にステージに密着させることを課題とする。   An object of the present invention is to arrange a flexible substrate on a stage in a flat state without bending or warping, and to ensure that the flexible substrate is in close contact with the stage.

本発明の第1の態様は、搬送治具に保持された可撓性基板を、この可撓性基板の供給位置から、この可撓性基板が載置されて保持されるステージへ搬入する基板搬入装置であって、前記搬送治具を解除可能に保持する保持体と、この保持体を下向きに弾性的に付勢する第1の弾性部材とを備える保持機構と、前記保持機構を設けた移動体を、前記供給位置から前記ステージへ向かう前記可撓性基板の搬入方向に移動させ、かつ昇降させる保持機構移動部と、前記供給位置で前記搬送治具を保持した前記保持機構が前記ステージ上方まで前記搬入方向に移動し、前記可撓性基板と前記ステージとの間に間隔が存在する第1の高さ位置から前記ステージ上に前記可撓性基板が載置される第2の高さ位置まで前記保持機構が降下するように、前記保持機構と前記保持機構移動部を制御する制御部と、前記移動体に設けられ、前記搬送治具を保持した前記保持機構が前記ステージに対して前記第2の高さ位置まで降下すると、前記可撓性基板を前記ステージに押さえ付ける押さえ機構とを備えることを特徴とする基板搬入装置を提供する。 According to a first aspect of the present invention, a flexible substrate held by a conveying jig is carried from a supply position of the flexible substrate to a stage on which the flexible substrate is placed and held. A carrying-in apparatus, comprising: a holding mechanism that releasably holds the conveying jig; a first elastic member that elastically biases the holding body downward; and the holding mechanism. The holding mechanism moving unit that moves the moving body in the loading direction of the flexible substrate from the supply position toward the stage and moves it up and down, and the holding mechanism that holds the conveyance jig at the supply position include the stage. A second height at which the flexible substrate is placed on the stage from a first height position that moves upward in the carry-in direction and has a gap between the flexible substrate and the stage. The holding mechanism is lowered so that the holding mechanism is lowered to the vertical position. A control unit for controlling the mechanism and the holding mechanism moving unit, is provided on the movable body, when the conveying jig the holding mechanism holding the drops to the second height position relative to the stage, the accepted Provided is a substrate carry-in device comprising a pressing mechanism that presses a flexible substrate against the stage.

押さえ機構が可撓性基板をステージに押さえ付けることで、可撓性基板を撓みや反りのない平坦な状態でステージ上に配置し、ステージに密着させることができる。また、ステージ上に可撓性基板が載置される第2の高さ位置まで保持機構が降下したときに、押さえ機構が可撓性基板をステージに押さえ付けるので、ステージが基板を保持する力(真空吸着の場合には真空度)を必要最小限に抑制しつつ、可撓性基板を平坦な状態でステージ上に保持することができる。さらに、移動体に押さえ機構を設けているので、保持機構移動部とは別に、押さえ機構の水平方向の移動や昇降のための専用の移動機構を設ける必要がない。   When the pressing mechanism presses the flexible substrate against the stage, the flexible substrate can be placed on the stage in a flat state without bending or warping, and can be brought into close contact with the stage. Further, when the holding mechanism is lowered to the second height position where the flexible substrate is placed on the stage, the pressing mechanism presses the flexible substrate against the stage, so that the stage holds the substrate. The flexible substrate can be held on the stage in a flat state while suppressing the degree of vacuum (in the case of vacuum suction) to a necessary minimum. Furthermore, since the moving body is provided with the pressing mechanism, it is not necessary to provide a dedicated moving mechanism for moving the pressing mechanism in the horizontal direction and for raising and lowering separately from the holding mechanism moving portion.

持体は、例えば真空吸着により搬送治具を保持する。 Coercive bearing member holds the conveying jig for example by vacuum suction.

一つの実施形態としては、前記保持体及び前記第1の弾性部材が前記押さえ機構を構成し、前記搬送治具を保持した前記保持機構が前記ステージに対して前記第2の高さ位置に降下すると、前記保持体が前記第1の弾性部材の付勢力に抗して上向きに変位し、前記第1の弾性部材により前記保持体が前記搬送治具を下向きに付勢することで、前記可撓性基板を前記ステージに押さえ付ける。   As one embodiment, the holding body and the first elastic member constitute the pressing mechanism, and the holding mechanism holding the conveying jig is lowered to the second height position with respect to the stage. Then, the holding body is displaced upward against the urging force of the first elastic member, and the holding body urges the conveying jig downward by the first elastic member. A flexible substrate is pressed against the stage.

保持機構の保持体及び第1の弾性部材が押さえ機構としても機能するので、基板搬入装置の構造の複雑化や部品点数の増加を伴うことなく、可撓性基板をステージに密着させることができる。   Since the holding body of the holding mechanism and the first elastic member also function as a pressing mechanism, the flexible substrate can be brought into close contact with the stage without complicating the structure of the substrate carrying-in device and increasing the number of parts. .

代案としては、前記押さえ機構は、前記移動体に対して固定された第1の固定部と、この第1の固定部に昇降可能に取り付けられ、その先端が前記可撓性部材に対応する位置に配置され、かつそれ自体の自重により下向きに付勢された第1の押さえ体とを備え、前記保持機構が前記第1の高さ位置にあると、前記第1の押さえの先端が前記保持体の先端よりも上方に位置し、前記保持機構が前記第2の高さ位置に降下すると、前記保持体が前記第1の弾性部材の付勢力に抗して上向きに変位すると共に、前記第1の押さえ体が前記可撓性基板に接触して前記第1の固定部に対して上向きに変位し、前記第1の押さえ体が前記自重により前記可撓性基板を下向きに付勢することで前記可撓性基板を前記ステージに押さえ付ける。 As an alternative, the pressing mechanism is attached to the first fixed portion fixed to the movable body and the first fixed portion so as to be movable up and down, and a tip thereof corresponds to the flexible member. And a first pressing body biased downward by its own weight, and when the holding mechanism is at the first height position, the tip of the first pressing body is When the holding mechanism is positioned above the tip of the holding body and the holding mechanism is lowered to the second height position, the holding body is displaced upward against the biasing force of the first elastic member, and The first pressing body contacts the flexible substrate and is displaced upward with respect to the first fixing portion, and the first pressing body urges the flexible substrate downward by its own weight. Thus, the flexible substrate is pressed against the stage.

第1の押さえ体が自重により可撓性基板をステージに押さえ付けるので、比較的簡易な構成で可撓性基板をステージに密着させることができる。また、第1の押さえ体の自重により可撓性基板を押さえ付けるので、第2の高さ位置がある程度変化しても、可撓性基板に作用する付勢力は一定に保持される。   Since the first pressing body presses the flexible substrate to the stage by its own weight, the flexible substrate can be brought into close contact with the stage with a relatively simple configuration. Further, since the flexible substrate is pressed by the weight of the first pressing body, even if the second height position changes to some extent, the urging force acting on the flexible substrate is kept constant.

前記第1の押さえ体は、前記第1の固定部に対して昇降可能に装着された上下方向に延びる第1の軸と、この第1の軸の先端に設けられた先端部とを備え、前記保持機構が前記第2の高さ位置に降下すると、前記先端部が前記可撓性基板に接触する。   The first pressing body includes a first shaft extending in a vertical direction that is mounted to be movable up and down with respect to the first fixing portion, and a tip portion provided at a tip of the first shaft, When the holding mechanism is lowered to the second height position, the tip portion comes into contact with the flexible substrate.

先端部が点接触的に可撓性基板に接触するので、可撓性基板上のACFテープ、電極、実装済みの部品等が存在していない領域、すなわち他の部材が接触しても支障がない領域で可撓性基板をステージに対して押さえ付けることができる。先端部の可撓性基板に対する接触位置は、反りや撓みが生じやすい領域であって、かつACFテープ等が存在しない領域に設定することが好ましい。一般に断面積が急変している領域(厚みが一定の場合には平面視での形状が急変している部分)で撓みや反りが生じやすい。先端部は、フッ素樹脂等の離型性と耐熱性を有する材料からなることが好ましい。   Since the tip part contacts the flexible substrate in a point contact manner, there is no problem even if an ACF tape, electrode, mounted component, etc. on the flexible substrate do not exist, that is, other members contact. The flexible substrate can be pressed against the stage in a region that is not present. The contact position of the tip with the flexible substrate is preferably set in a region where warping or bending is likely to occur and no ACF tape or the like is present. In general, bending and warping are likely to occur in a region where the cross-sectional area is suddenly changed (a portion where the shape in plan view is suddenly changed when the thickness is constant). The tip is preferably made of a material having releasability and heat resistance such as fluororesin.

先端部は、第1の軸に対して取外可能に取り付けられることが好ましい。先端部を交換することで、可撓性基板の材質、寸法、形状等の変更に応じて先端部の材質、寸法、形状等を容易に変更することができる。   The tip is preferably detachably attached to the first shaft. By exchanging the tip portion, the material, size, shape, etc. of the tip portion can be easily changed in accordance with changes in the material, size, shape, etc. of the flexible substrate.

第1の押さえ体が可撓性基板を下向きに付勢する付勢力を高めるために、ばね等の弾性部材を設けてもよい。この弾性部材の弾性的な付勢力は調節可能であることが好ましい。   An elastic member such as a spring may be provided in order to increase the biasing force with which the first pressing body biases the flexible substrate downward. The elastic biasing force of the elastic member is preferably adjustable.

代案としては、前記押さえ機構は、前記移動体に対して固定された第2の固定部と、この第2の固定部に昇降可能に取り付けられ、その先端が前記搬送治具に対応する位置に配置され、かつ第2の弾性部材により下向きに付勢された第2の押さえ体とを備え、前記保持機構が前記第1の高さ位置にあると、前記第2の押さえ体の先端が前記保持体の先端よりも上方に位置し、前記保持機構が前記第2の高さ位置に降下すると、前記保持体が前記第1の弾性部材の付勢力に抗して上向きに変位すると共に、前記第2の押さえの先端が前記搬送治具に接触して前記第2の弾性部材の付勢力に抗して前記第2の固定部に対して上向きに変位し、前記第2の弾性部材により前記第2の押さえが前記搬送治具を下向きに付勢することで、前記可撓性基板を前記ステージに押さえ付ける As an alternative, the pressing mechanism is attached to the second fixing portion fixed to the movable body and the second fixing portion so as to be movable up and down, and the tip thereof is located at a position corresponding to the conveying jig. And a second pressing body biased downward by the second elastic member, and when the holding mechanism is at the first height position, the tip of the second pressing body is When the holding mechanism is positioned above the tip of the holding body and the holding mechanism is lowered to the second height position, the holding body is displaced upward against the biasing force of the first elastic member, and The tip of the second pressing body comes into contact with the conveying jig and is displaced upward with respect to the second fixing portion against the urging force of the second elastic member, and is moved by the second elastic member. by the second pressing body is urged downward the conveying jig, the flexible Press the plate to the stage

第2の弾性部材により第2の押さえ体が搬送治具を下向きに付勢することで、可撓性基板を前記ステージに押さえ付ける。従って、可撓性基板に対して直接接触することなく、可撓性基板をステージに対して密着させることができる。   The second pressing member urges the conveyance jig downward by the second elastic member, thereby pressing the flexible substrate against the stage. Therefore, the flexible substrate can be brought into close contact with the stage without directly contacting the flexible substrate.

第2の押さえ体は、搬送治具により保持された可撓性基板がステージに対して均一に押さえ付けられるように配置することが好ましい。   The second pressing body is preferably arranged so that the flexible substrate held by the conveying jig is uniformly pressed against the stage.

前記押さえ機構は、前記第2の弾性部材の付勢力を調節する調節機構を備えることが好ましい。   The pressing mechanism preferably includes an adjustment mechanism that adjusts the urging force of the second elastic member.

この調節機構を設けることにより、搬送治具及び可撓性基板の材質、寸法、形状等に応じて、可撓性基板が均一にステージに対して押さえ付けられるように第2の弾性部材の付勢力を調節することができる。   By providing this adjusting mechanism, the second elastic member is attached so that the flexible substrate can be uniformly pressed against the stage according to the material, dimensions, shape, etc. of the transport jig and the flexible substrate. The power can be adjusted.

具体的には、前記第2の押さえ体は、前記第2の固定部に対して昇降可能に装着された上下方向に延びる第2の軸と、この第2の軸の先端に取り付けられたパッドとを備え、
前記保持機構が前記第2の高さ位置に降下すると、前記パッドが前記搬送治具に接触する。
Specifically, the second pressing body includes a second shaft that is attached to the second fixing portion so as to be movable up and down and that extends in the vertical direction, and a pad attached to the tip of the second shaft. And
When the holding mechanism is lowered to the second height position, the pad comes into contact with the transport jig.

パットの材質は、耐熱ゴム、シリコン等の弾力性と耐熱性を有する材料からなることが好ましい。   The material of the pad is preferably made of a material having elasticity and heat resistance such as heat-resistant rubber and silicon.

パッドは第2の軸に対して着脱可能に取り付けられていることが好ましい。パッドを交換することで、可撓性基板及び搬送治具の材質、寸法、形状等の変更に応じてパッドの材質、寸法、形状等を容易に変更することができる。   It is preferable that the pad is detachably attached to the second shaft. By exchanging the pad, it is possible to easily change the material, size, shape, etc. of the pad according to changes in the material, size, shape, etc. of the flexible substrate and the conveying jig.

第2の押さえ体は、保持体とは別体であり、かつ搬送治具を弾性的に付勢する。従って、第2の押さえ体を備える押さえ機構は、分離可能に互いに重ね合わせられた上側搬送プレートと下側搬送プレートとを備え、これら上側及び下側搬送プレート間に可撓性基板を挟み込んで保持する搬送治具を使用する場合に適している。この場合、前記保持体が前記下側搬送プレートを保持する一方、前記第2の押さえ体は前記上側搬送プレートに接触する。   The second pressing body is separate from the holding body and elastically biases the transport jig. Accordingly, the pressing mechanism including the second pressing body includes an upper conveyance plate and a lower conveyance plate that are detachably overlapped with each other, and holds the flexible substrate between the upper and lower conveyance plates. This is suitable when using a transport jig. In this case, the holding body holds the lower transport plate, while the second pressing body contacts the upper transport plate.

ステージは、例えば真空吸着により可撓性基板を保持する。この場合、前記ステージに基板吸着孔が形成され、真空吸引部からこの基板吸着孔を介して作用する吸引力により前記可撓性基板が前記ステージ上に吸着保持される。   The stage holds the flexible substrate by, for example, vacuum suction. In this case, a substrate suction hole is formed in the stage, and the flexible substrate is sucked and held on the stage by a suction force acting through the substrate suction hole from a vacuum suction portion.

一つの実施形態では、前記制御部は、前記保持機構が前記搬送治具の保持を解除すると共に、前記ステージが前記可撓性基板の保持を開始すると、前記保持機構が前記第2の高さ位置から前記第1の高さ位置まで上昇し、その後、前記搬送治具に対する保持を解除した状態を維持しつつ前記保持機構が前記第1の高さ位置から前記第2の高さ位置まで再度降下し、前記押さえ機構が前記可撓性基板を前記ステージに再度押さえ付けるように、前記保持機構と前記保持機構移動部を制御する。 In one embodiment, when the holding mechanism releases the holding jig and the stage starts holding the flexible substrate, the control unit causes the holding mechanism to move to the second height. The holding mechanism is raised again from the first height position to the second height position while maintaining the state in which the holding with respect to the conveying jig is released after rising from the position to the first height position. The holding mechanism and the holding mechanism moving unit are controlled so that the holding mechanism moves down and the pressing mechanism presses the flexible substrate against the stage again.

保持機構が最初に第2の高さ位置まで降下した際に、可撓性基板がステージに保持される。保持機構はいったん第1の高さ位置まで上昇した後、搬送治具に対する保持を解除した状態を維持しつつ、第1の高さ位置から第2の高さ位置まで再度降下する。この2回目の降下時に、押さえ機構によって可撓性基板がステージに押さえ付けられる。 When the holding mechanism is first lowered to the second height position, the flexible substrate is held on the stage. The holding mechanism once rises to the first height position, and then descends again from the first height position to the second height position while maintaining the state where the holding of the conveying jig is released. During the second descent, the flexible substrate is pressed against the stage by the pressing mechanism.

好ましくは、前記可撓性基板が前記ステージに適正な状態で保持されているのか不適正な状態で保持されているのかを検出するセンサをさらに備え、前記制御部は、前記保持機構が前記第1の高さ位置から前記第2の高さ位置に再度降下した後の予め定められた監視期間中、前記可撓性基板が前記ステージに適正な状態で保持されていることを前記センサにより検出すれば、前記保持機構が前記第2の高さ位置から前記第1の高さ位置まで再度上昇するように、前記保持機構と前記保持機構移動部を制御する。   Preferably, the control unit further includes a sensor that detects whether the flexible substrate is held in an appropriate state or in an inappropriate state on the stage, and the control unit has the holding mechanism in the first state. The sensor detects that the flexible substrate is held in an appropriate state on the stage during a predetermined monitoring period after it is lowered again from the first height position to the second height position. Then, the holding mechanism and the holding mechanism moving unit are controlled so that the holding mechanism rises again from the second height position to the first height position.

代案としては、前記可撓性基板が前記ステージに適正な状態で保持されているのか不適正な状態で保持されているのかを検出するセンサをさらに備え、前記制御部は、前記第2の高さ位置において前記保持機構が前記可撓性基板の保持を解除すると共に、前記ステージが前記可撓性基板の保持を開始すると、前記保持機構が前記第2の高さ位置から前記第1の高さ位置に上昇し、前記ステージが前記可撓性基板の保持を開始した後予め定められた第1の監視期間中に前記可撓性基板が前記ステージに不適正な状態で保持されていることを前記センサにより検出すれば、前記可撓性基板に対する保持を解除した状態を維持しつつ前記保持機構が前記第1の高さ位置から前記第2の高さ位置まで再度降下し、それによって前記押さえ機構が前記可撓性基板を前記ステージに押さえ付けるように、前記保持機構と前記保持機構移動部を制御する。   As an alternative, the sensor further includes a sensor for detecting whether the flexible substrate is held in an appropriate state or in an inappropriate state on the stage, and the control unit includes the second high-level sensor. When the holding mechanism releases the holding of the flexible substrate in the vertical position and the stage starts to hold the flexible substrate, the holding mechanism moves from the second height position to the first height. The flexible substrate is held in an inappropriate state on the stage during a predetermined first monitoring period after the stage starts to hold the flexible substrate. Is detected by the sensor, the holding mechanism is lowered again from the first height position to the second height position while maintaining the state where the holding on the flexible substrate is released. The holding mechanism is As it pressed sexual substrate on the stage, and controls the holding mechanism moving portion and the holding mechanism.

保持機構が最初に第2の高さ位置まで降下した際に、可撓性基板がステージに保持される。保持機構がいったん第1の高さ位置まで上昇した後、可撓性基板がステージに不適正な状態で保持されていることをセンサが検出すると、搬送治具に対する保持を解除した状態を維持しつつ保持機構が第1の高さ位置から第2の高さ位置まで再度降下する可撓性基板がステージに平坦な状態で保持されていない場合にのみ、押さえ機構によってステージに可撓性基板が押さえ付けられる。従って、供給位置からステージへの可撓性基板の搬入効率を低下させることなく、可撓性基板を平坦な状態でステージ上に密着させることができる。 When the holding mechanism is first lowered to the second height position, the flexible substrate is held on the stage. Once the holding mechanism has been raised to the first height position, if the sensor detects that the flexible substrate is held in an inappropriate state on the stage, the holding state for the transfer jig is released. However, the holding mechanism descends again from the first height position to the second height position . Only when the flexible substrate is not held flat on the stage, the flexible substrate is pressed against the stage by the pressing mechanism. Therefore, the flexible substrate can be brought into close contact with the stage in a flat state without reducing the efficiency of carrying the flexible substrate from the supply position to the stage.

本発明の第2の態様は、前記基板搬入装置と、前記ステージに保持された前記可撓性基板に部品を実装する実装ヘッド部とを少なくとも備える部品実装装置を提供する。   According to a second aspect of the present invention, there is provided a component mounting apparatus including at least the substrate carry-in device and a mounting head unit for mounting components on the flexible substrate held on the stage.

本発明の第3の態様は、搬送治具に保持された可撓性基板を、この可撓性基板の供給位置から、この可撓性基板が載置されて保持されるステージへ搬入する基板搬入方法であって、前記搬送治具を解除可能に保持する保持体と、この保持体を下向きに弾性的に付勢する第1の弾性部材とを備える保持機構を設け、前記供給位置において前記保持機構の前記保持体によって前記搬送治具を保持し、前記保持機構を前記供給位置から前記ステージ上方まで移動させ、前記保持機構を前記可撓性基板と前記ステージとの間に間隔が存在する第1の高さ位置から前記ステージ上に前記可撓性基板が載置される第2の高さ位置まで降下させ、前記保持体を前記第1の弾性部材の付勢力に抗して上向きに変位させて、前記第1の弾性部材により前記保持体が前記搬送治具を下向きに付勢することで前記可撓性基板を前記ステージに押さえ付けることを特徴とする、基板搬入方法を提供する。 According to a third aspect of the present invention, there is provided a substrate for carrying a flexible substrate held by a conveying jig from a supply position of the flexible substrate to a stage on which the flexible substrate is placed and held. A carrying-in method, comprising: a holding mechanism including a holding body that releasably holds the transfer jig; and a first elastic member that elastically biases the holding body downward, and at the supply position, The conveyance jig is held by the holding body of the holding mechanism, the holding mechanism is moved from the supply position to above the stage, and the holding mechanism has an interval between the flexible substrate and the stage. The holding body is lowered from the first height position to a second height position on which the flexible substrate is placed on the stage, and the holding body is directed upward against the biasing force of the first elastic member. The holding body is displaced by the first elastic member. Characterized in that pressing the said flexible substrate on the stage by biasing the conveying jig downward, to provide a substrate carrying method.

一つの実施形態では、前記保持機構が保持された移動体に対して固定された第1の固定部と、この第1の固定部に昇降可能に取り付けられ、その先端が前記可撓性基板に対応する位置に配置され、かつそれ自体の自重により下向きに付勢された第1の押さえ体とを設け、前記保持機構を前記ステージにおいて前記第1の高さ位置から前記第2の高さ位置に降下させると、前記保持体が前記第1の弾性部材の付勢力に抗して上向きに変位すると共に、前記第1の押さえ体が前記可撓性基板に接触して前記第1の固定部に対して上向きに変位し、前記第1の押さえ体が前記自重により前記可撓性基板を下向きに付勢することで前記可撓性基板を前記ステージに押さえ付ける。In one embodiment, the first fixing portion fixed to the moving body holding the holding mechanism, and the first fixing portion is attached to the first fixing portion so as to be movable up and down, and the tip thereof is attached to the flexible substrate. A first pressing body disposed at a corresponding position and biased downward by its own weight, and the holding mechanism is moved from the first height position to the second height position on the stage. The holding body is displaced upward against the urging force of the first elastic member, and the first pressing body comes into contact with the flexible substrate and moves to the first fixing portion. The first pressing body urges the flexible substrate downward by its own weight to press the flexible substrate against the stage.

代案としては、前記保持機構が保持された移動体に対して固定された第2の固定部と、この第2の固定部に昇降可能に取り付けられ、その先端が前記搬送治具に対応する位置に配置され、かつ第2の弾性部材により下向きに付勢された第2の押さえ体とを設け、前記保持機構が前記ステージにおいて前記第1の高さ位置から前記第2の高さ位置に降下すると、前記保持体が前記第1の弾性部材の付勢力に抗して上向きに変位すると共に、前記第2の押さえ体の先端が前記搬送治具に接触して前記第2の弾性部材の付勢力に抗して前記第2の固定部に対して上向きに変位し、前記第2の弾性部材により前記第2の押さえ体が前記搬送治具を下向きに付勢することで、前記可撓性基板を前記ステージに押さえ付ける。As an alternative, a second fixing portion fixed to the moving body holding the holding mechanism, and a position that is attached to the second fixing portion so as to be movable up and down, and a tip of the second fixing portion corresponds to the conveying jig. And a second pressing member biased downward by a second elastic member, and the holding mechanism is lowered from the first height position to the second height position on the stage. Then, the holding body is displaced upward against the urging force of the first elastic member, and the tip of the second pressing body comes into contact with the conveying jig to attach the second elastic member. The flexible member is displaced upward with respect to the second fixing portion, and the second pressing member urges the conveying jig downward by the second elastic member. Press the substrate against the stage.

本発明の第1の態様の基板搬入装置第2の態様の部品実装装置、及び第3の態様の基板搬入方法によれば、保持機構を備える移動部に設けた押さえ機構が可撓性基板をステージに押さえ付けることで、ステージが基板を保持する力(真空吸着の場合には真空度)を必要最小限に抑制しつつ、かつ比較的簡易な構成で可撓性基板を撓みや反りのない平坦な状態でステージ上に配置し、ステージに密着させることができる。 A first aspect of the substrate carry-in device of the present invention, the component mounting apparatus of the second aspect, and according to the substrate carrying the method of the third aspect, the holding mechanism provided in the mobile unit with a holding mechanism flexible substrate By pressing the stage against the stage, the force with which the stage holds the substrate (the degree of vacuum in the case of vacuum suction) is suppressed to the minimum necessary, and the flexible substrate is bent and warped with a relatively simple configuration. It can be placed on the stage in a flat state and can be in close contact with the stage.

本発明の第3の態様の基板搬入方法では、押さえ機構によって可撓性基板をステージに対して押さえ付けることにより、可撓性基板を撓みや反りのない平坦な状態でステージに密着させることができる。   In the substrate carrying-in method according to the third aspect of the present invention, the flexible substrate is pressed against the stage by a pressing mechanism, so that the flexible substrate is brought into close contact with the stage in a flat state without bending or warping. it can.

次に、添付図面を参照して、本発明の実施形態を詳細に説明する。図において、X軸方向(+X,−X)と、このX軸方向と直交するY軸方向(+Y,−Y)は基板5の表面沿いの方向ないしは水平方向である。+X方向は後述する基板5の搬送方向と同方向である。また、図においてZ軸方向(+Z,−Z)は、X軸方向及びY軸方向と直交し、基板5の表面に対して垂直な方向ないしは鉛直方向である。   Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the figure, an X-axis direction (+ X, −X) and a Y-axis direction (+ Y, −Y) orthogonal to the X-axis direction are directions or horizontal directions along the surface of the substrate 5. The + X direction is the same as the conveyance direction of the substrate 5 described later. In the figure, the Z-axis direction (+ Z, −Z) is a direction perpendicular to the surface of the substrate 5 or a vertical direction perpendicular to the X-axis direction and the Y-axis direction.

(第1実施形態) (First embodiment)

図1は、本発明の実施形態に係る基板搬入装置27を備える部品実装装置の一例である電子部品実装装置1を示す。この電子部品実装装置1は、部品の一例であるチップ部品やベアICチップ等の電子部品を基板に実装する実装動作を行う。   FIG. 1 shows an electronic component mounting apparatus 1 which is an example of a component mounting apparatus including a board carry-in device 27 according to an embodiment of the present invention. The electronic component mounting apparatus 1 performs a mounting operation for mounting electronic components such as chip components and bare IC chips, which are examples of components, on a substrate.

この電子部品実装装置1により電子部品が実装される基板には、エポキシ樹脂等からなる比較的硬質な通常の基板(図示せず)に加え、図6に示すように1個の搬送治具2に保持された複数のFPC基板(可撓性基板)3がある。本実施形態では、搬送治具2は、平面視で長方形を呈する1枚の搬送プレート4からなる。搬送治具2は、熱による反り防止するために、断熱効果の高いインバー材料からなる。搬送プレート4には、長辺方向に延びる互いに平行な一対の開口4a,4bが設けられている。図7及び図8を併せて参照すると、本実施形態ではFPC基板3は平面視で比較的細長い長方形である。各FPC基板3は、基端側が開口4a,4b付近で搬送プレート4に固定され、先端側が開口4a,4bに臨んでいる。図8に示すように、各FPC基板3の先端の開口4a,4bに臨む部分に、電子部品が実装される領域(実装領域)3aが設定される。この実装領域3aには、異方性導電性フイルム(ACF)テープが予め貼り付けられている。以下の説明では、通常の基板と、搬送治具2とFPC基板3の組合せの両方を総称して単に基板5と呼ぶ。   In addition to a relatively hard ordinary substrate (not shown) made of epoxy resin or the like, the substrate on which the electronic component is mounted by the electronic component mounting apparatus 1 includes one transport jig 2 as shown in FIG. There are a plurality of FPC substrates (flexible substrates) 3 held on the substrate. In the present embodiment, the transport jig 2 is composed of a single transport plate 4 that is rectangular in plan view. The conveying jig 2 is made of an invar material having a high heat insulating effect in order to prevent warping due to heat. The transport plate 4 is provided with a pair of openings 4a and 4b extending in the long side direction and parallel to each other. Referring to FIGS. 7 and 8 together, in this embodiment, the FPC board 3 is a relatively elongated rectangle in plan view. Each FPC board 3 has a base end side fixed to the transport plate 4 in the vicinity of the openings 4a and 4b, and a front end side facing the openings 4a and 4b. As shown in FIG. 8, a region (mounting region) 3 a where electronic components are mounted is set at a portion facing the openings 4 a and 4 b at the tip of each FPC board 3. An anisotropic conductive film (ACF) tape is attached in advance to the mounting region 3a. In the following description, both the normal substrate and the combination of the transfer jig 2 and the FPC substrate 3 are collectively referred to simply as the substrate 5.

図1を参照すると、電子部品実装装置1は、大別して、複数の電子部品を供給可能に収容する部品供給部7、この部品供給部7から供給される電子部品を基板5に実装する実装動作を行う実装部8、装置外から装置内に基板5を供給するローダ10、及び部品実装済みの基板5を装置内から装置外に排出するアンローダ11、実装部8への基板5の搬入及び実装部8からの基板5の搬出を行う基板搬送部9を機台6上に備える。また、電子部品実装装置1は部品供給部7、実装部8、ローダ10、アンローダ11、及び基板搬送部9の動作を制御する制御部ないしはコントローラ12を備える。   Referring to FIG. 1, an electronic component mounting apparatus 1 is roughly divided into a component supply unit 7 that accommodates a plurality of electronic components in a supplyable manner, and a mounting operation for mounting electronic components supplied from the component supply unit 7 on a substrate 5. A mounting unit 8 for performing the above operation, a loader 10 for supplying the substrate 5 from outside the device to the inside of the device, an unloader 11 for discharging the substrate 5 on which components have been mounted from the inside of the device to the outside of the device, A substrate transport unit 9 for carrying out the substrate 5 from the unit 8 is provided on the machine base 6. In addition, the electronic component mounting apparatus 1 includes a control unit or a controller 12 that controls operations of the component supply unit 7, the mounting unit 8, the loader 10, the unloader 11, and the board transfer unit 9.

図1を参照して部品供給部7を説明する。部品供給部7は、リフター14、供給部品配置装置15、及び反転ヘッド装置16を備える。   The component supply unit 7 will be described with reference to FIG. The component supply unit 7 includes a lifter 14, a supply component placement device 15, and a reversing head device 16.

リフター14内には、多数の電子部品が形成された半導体ウェハや、多数の電子部品が格子上に配列されて収容された部品トレイが、選択的に供給可能に収容されている。Y軸方向に往復移動可能な移動装置(図示せず)によってリフター14から供給部品配置装置15に半導体ウェハや部品トレイが供給される。供給部品配置装置15はY軸方向に移動可能である。また、供給部品配置装置15は、半導体ウェハに対してエキスパンド動作を施すことができる。反転ヘッド装置16はX軸方向に移動可能であり、供給部品配置装置15の半導体ウェハあるいは部品トレイから電子部品を個別に吸着保持し、実装部5に向けて移動する。また、反転ヘッド装置16は、吸着保持した電子部品を上下方向に反転させることができる。半導体ウェハや部品トレイの電子部品に対する反転ヘッド装置16の位置決めは、認識カメラ17の認識結果に基づいて、反転ヘッド装置16のX軸方向の移動と、供給部品配置装置15のY軸方向の移動の組み合わせにより行われる。   In the lifter 14, a semiconductor wafer on which a large number of electronic components are formed and a component tray in which a large number of electronic components are arranged and accommodated on a lattice are accommodated so as to be selectively supplied. A semiconductor wafer and a component tray are supplied from the lifter 14 to the supply component placement device 15 by a moving device (not shown) that can reciprocate in the Y-axis direction. The supply component placement device 15 is movable in the Y-axis direction. In addition, the supply component placement device 15 can perform an expanding operation on the semiconductor wafer. The reversing head device 16 is movable in the X-axis direction, and sucks and holds electronic components individually from the semiconductor wafer or component tray of the supply component arranging device 15 and moves toward the mounting unit 5. Further, the reversing head device 16 can reverse the sucked and held electronic component in the vertical direction. The reversing head device 16 is positioned with respect to the electronic components of the semiconductor wafer and the component tray based on the recognition result of the recognition camera 17 and the reversing head device 16 is moved in the X-axis direction and the supply component arranging device 15 is moved in the Y-axis direction. It is done by the combination of.

図1を参照して実装部8を説明する。実装部8は、実装ヘッド装置18、ボンディングステージ20、及び基板規制装置21を備える。   The mounting unit 8 will be described with reference to FIG. The mounting unit 8 includes a mounting head device 18, a bonding stage 20, and a substrate regulating device 21.

実装ヘッド装置18は、反転ヘッド装置16から受け渡された電子部品をその下端に吸着保持することができる。また、実装ヘッド装置18は、X軸方向に沿った直線移動、昇降、及びそれ自体の軸線周りの回転が可能である。さらに、実装ヘッド装置18は、吸着保持した電子部品を介して、押圧エネルギー、超音波振動エネルギー、熱エネルギー等の接合エネルギーを基板5に付与し、それによって基板5に電子部品を実装することができる。   The mounting head device 18 can suck and hold the electronic component delivered from the reversing head device 16 at its lower end. The mounting head device 18 can move linearly along the X-axis direction, move up and down, and rotate around its own axis. Further, the mounting head device 18 can apply bonding energy such as pressing energy, ultrasonic vibration energy, and thermal energy to the substrate 5 through the electronic components held by suction, thereby mounting the electronic components on the substrate 5. it can.

ボンディングステージ20には、基板5が載置されて保持される。ボンディングステージ20は、XYテーブル22上に搭載されている。XYテーブル22は例えばサーボモータにてX軸方向とY軸方向で独立して駆動され、リニアスケールを用いたフルクローズ制御にて位置決めが可能である。XYテーブル22により、ボンディングステージ20がX軸及びY軸方向に移動し、それによって実装ヘッド装置18に対して基板5上の実装位置が位置決めされる。ボンディングステージ20は、例えばセラミックスからなる。仮にボンディングステージ20が断熱性の低い金属製であると、実装ヘッド装置18の加熱ヘッドの熱がFPC基板3を介してボンディングステージ20に逃げるので、加熱ヘッドをより高温に設定する必要がある。しかし、ボンディングステージ20を断熱効果の高いセラミックス製とすることにより、加熱ヘッドを低い温度に設定することができ、その結果、熱によるFPC基板のダメージが低減される。   The substrate 5 is placed and held on the bonding stage 20. The bonding stage 20 is mounted on the XY table 22. The XY table 22 is driven independently by, for example, a servo motor in the X-axis direction and the Y-axis direction, and can be positioned by full-closed control using a linear scale. The XY table 22 moves the bonding stage 20 in the X-axis and Y-axis directions, thereby positioning the mounting position on the substrate 5 with respect to the mounting head device 18. The bonding stage 20 is made of ceramics, for example. If the bonding stage 20 is made of a metal with low heat insulation, the heat of the heating head of the mounting head device 18 escapes to the bonding stage 20 through the FPC board 3, so the heating head needs to be set to a higher temperature. However, when the bonding stage 20 is made of ceramics having a high heat insulating effect, the heating head can be set at a low temperature, and as a result, damage to the FPC board due to heat is reduced.

図6から図8を参照すると、ボンディングステージ20の上面には、FPC基板3を載置するための直方体状を呈する複数(本実施形態では10個)の台部20aが、上向きに突出するように設けられている。5個ずつの台部20aがそれぞれ搬送治具2の開口4a,4bの一方に対応しており、各台部20aは1枚のFPC基板3に対応している。また、ボンディングステージ20の平面視で四隅の位置には、短い円柱状の支持部20bが上向きに突出するように設けられている。図7に示すように、搬送治具2の下面(本実施形態では搬送プレート4の下面)が、これらの支持部20bに支持される。また、図6に示すように、ボンディングステージ20にはヒータ26が内蔵されている。ボンディングステージ20は、ヒータ26によって例えば150℃に加熱される。仮に搬送治具2の下面全体がボンディングステージ20に当接すると、搬送治具2も加熱され、反りが生じ、FPC基板3に悪影響を及ぼす。しかし、搬送治具2は円柱状部20bで4点支持されるので、ボンディングステージ20と搬送治具2との間に断熱層として機能する空気層が形成され、熱による搬送治具2の反りを防止することができる。   Referring to FIGS. 6 to 8, a plurality of (10 in the present embodiment) base portions 20 a, which have a rectangular parallelepiped shape for mounting the FPC board 3, protrude upward on the upper surface of the bonding stage 20. Is provided. Each of the five base portions 20 a corresponds to one of the openings 4 a and 4 b of the transport jig 2, and each base portion 20 a corresponds to one FPC board 3. Further, short columnar support portions 20b are provided so as to protrude upward at positions of four corners in plan view of the bonding stage 20. As shown in FIG. 7, the lower surface of the conveyance jig 2 (in this embodiment, the lower surface of the conveyance plate 4) is supported by these support portions 20b. Further, as shown in FIG. 6, a heater 26 is built in the bonding stage 20. The bonding stage 20 is heated to, for example, 150 ° C. by the heater 26. If the entire lower surface of the conveying jig 2 comes into contact with the bonding stage 20, the conveying jig 2 is also heated, warps, and adversely affects the FPC board 3. However, since the conveyance jig 2 is supported at four points by the cylindrical portion 20b, an air layer functioning as a heat insulating layer is formed between the bonding stage 20 and the conveyance jig 2, and the conveyance jig 2 is warped by heat. Can be prevented.

図7及び図8に示すように、各台部20aの上面には、複数(本実施形態では3個)の基板吸着孔20cが設けられている。これらの基板吸着孔20cはボンディングステージ20内に形成した共通の流路20dと、概略的に示すボンディングステージ20外の管路23を介して、真空ポンプ等を備える真空吸引装置24に接続されている。真空吸引装置24から管路23及び流路20dを介して基板吸着孔20cを介して作用する吸引力により、FPC基板3が台部20aの上面に吸着保持される。   As shown in FIGS. 7 and 8, a plurality (three in the present embodiment) of substrate suction holes 20c are provided on the upper surface of each base 20a. These substrate suction holes 20c are connected to a vacuum suction device 24 equipped with a vacuum pump or the like via a common flow path 20d formed in the bonding stage 20 and a conduit 23 outside the bonding stage 20 shown schematically. Yes. The FPC board 3 is sucked and held on the upper surface of the pedestal portion 20a by the suction force acting from the vacuum suction device 24 via the pipe line 23 and the flow path 20d through the substrate suction hole 20c.

図7にのみ示すように、管路23には、基板吸着センサ25が介設されている。この基板吸着センサ25は、管路23、流路20d、及基板吸着孔20cの真空度に基づいてFPC基板3が台部20a上に撓みや反りのない平坦な状態(適正な状態)で保持されているか、撓みや反りのある不適正な状態で保持されているかを検出する。例えば、基板吸着センサ25は真空度が予め定められた上側閾値以上に上昇すると、FPC基板3が台部20aに適正な状態で保持されていることを検出し、真空度が予め定められた下側閾値以下に低下するとFPC基板3が台部20aに不適切な状態で保持されていることを検出する。本実施形態では、基板吸着センサ25はFPC基板3が適正に状態で保持されていればオン状態となり、不適正な状態で保持されていればオフ状態となる。   As shown only in FIG. 7, a substrate suction sensor 25 is interposed in the conduit 23. The substrate suction sensor 25 holds the FPC board 3 in a flat state (appropriate state) free from bending or warping on the base 20a based on the degree of vacuum of the pipe line 23, the flow path 20d, and the substrate suction hole 20c. It is detected whether it is held in an inappropriate state with bending or warping. For example, when the degree of vacuum rises above a predetermined upper threshold value, the substrate suction sensor 25 detects that the FPC board 3 is held in an appropriate state on the base 20a, and the degree of vacuum is lower than the predetermined level. If it falls below the side threshold value, it is detected that the FPC board 3 is held in an inappropriate state on the base 20a. In the present embodiment, the substrate suction sensor 25 is turned on when the FPC board 3 is properly held, and is turned off when the FPC board 3 is held in an inappropriate state.

図6にのみ概略的に示す基板規制装置21は、ボンディングステージ20上で基板5を正規の位置に規制する。本実施形態における基板規制装置21は、基板5の1つの隅部に対応する基準部21aと、ボンディングステージ20上に配置された基板5を基準部21aに対して押し付けてボンディングステージ20に対して位置決めするための進退可能な可動部材21b,21c,21dとを備えている。   A substrate restricting device 21 schematically shown only in FIG. 6 restricts the substrate 5 to a regular position on the bonding stage 20. The substrate regulating device 21 in the present embodiment presses the reference portion 21a corresponding to one corner of the substrate 5 and the substrate 5 disposed on the bonding stage 20 against the reference portion 21a to the bonding stage 20. It includes movable members 21b, 21c, and 21d that can move forward and backward for positioning.

図1に示すように、ローダ10は、装置外から装置内へX軸方向に延びる一対の搬送レール10aを備える。図9を併せて参照すると、搬送レール10aの端部10b(基板供給位置P1)は、後述する基板投入位置P2の付近に位置している。基板5は、搬送レール10aで両端が支持された状態のまま矢印Aで示す基板搬送方向に搬送され、搬送レール10aの端部10bにおいて取り出し可能な状態で保持される。   As shown in FIG. 1, the loader 10 includes a pair of transport rails 10a extending in the X-axis direction from the outside of the apparatus into the apparatus. Referring also to FIG. 9, the end 10b (substrate supply position P1) of the transport rail 10a is located in the vicinity of a substrate loading position P2 described later. The substrate 5 is transported in the substrate transport direction indicated by the arrow A with both ends supported by the transport rail 10a, and is held in a state where it can be taken out at the end portion 10b of the transport rail 10a.

図1及び図9に示すように、アンローダ11は、ローダ10と同様に基板搬送方向A(X軸方向)に延びる一対の搬送レール11aを備える。搬送レール11aの端部11bは後述する基板搬出位置P3の付近に位置している。端部11bに供給された基板5は、搬送レール11aで両端が支持された状態で基板搬送方向Aに搬送され、装置外に搬出される。   As shown in FIGS. 1 and 9, the unloader 11 includes a pair of transport rails 11 a that extend in the substrate transport direction A (X-axis direction), like the loader 10. The end 11b of the transport rail 11a is located in the vicinity of a substrate carry-out position P3 described later. The substrate 5 supplied to the end portion 11b is transported in the substrate transport direction A while being supported at both ends by the transport rail 11a, and is transported out of the apparatus.

図1から図4に示す基板搬送部9は、ローダ10から実装部8への基板5の搬入を行う基板搬入装置27と、実装部8からアンローダ11への基板5の搬出を行う基板搬出装置127とを備える。   The substrate transport unit 9 shown in FIGS. 1 to 4 includes a substrate carry-in device 27 that carries the substrate 5 from the loader 10 to the mounting unit 8, and a substrate carry-out device that carries the substrate 5 from the mount unit 8 to the unloader 11. 127.

図3を参照すると、基板搬送部9はX軸方向(基板搬送方向A)に延びる直動ガイド30を備える。この直動ガイド30は、基板搬入装置27と基板搬出装置127が共用している。直動ガイド30は、基板搬送方向Aに延びるガイドレール30aと、このガイドレール30a上に摺動可能に取り付けられたスライダ30bとを備える。スライダ30bにはナット31が固定され、このナット31には基板搬送方向に延びるボールねじ軸32が螺合している。ボールねじ軸32は例えばステッピングモータであるモータ13によって正逆回転駆動される。モータ13の回転方向に応じて、スライダ30bがガイドレール30a上を+X方向又は−X方向に直進移動する。   Referring to FIG. 3, the substrate transport unit 9 includes a linear motion guide 30 that extends in the X-axis direction (substrate transport direction A). This linear motion guide 30 is shared by the substrate carry-in device 27 and the substrate carry-out device 127. The linear motion guide 30 includes a guide rail 30a extending in the substrate transport direction A, and a slider 30b slidably mounted on the guide rail 30a. A nut 31 is fixed to the slider 30b, and a ball screw shaft 32 extending in the substrate transport direction is screwed to the nut 31. The ball screw shaft 32 is driven to rotate forward and backward by a motor 13 which is a stepping motor, for example. Depending on the rotation direction of the motor 13, the slider 30b moves straight on the guide rail 30a in the + X direction or the -X direction.

基板搬入装置27は、X軸方向に移動するスライダ30bに取り付けられた上下方向ないしは鉛直方向(Z軸方向)に延びる直動ガイド33を備える。この直動ガイド33は、スライダ30bに対して固定された上下方向に延びるガイドレール33aと、このガイドレール33a上に摺動可能に取り付けられたスライダ33bとを備える。   The substrate carry-in device 27 includes a linear motion guide 33 that is attached to a slider 30b that moves in the X-axis direction and extends in the vertical direction or the vertical direction (Z-axis direction). The linear guide 33 includes a guide rail 33a that is fixed to the slider 30b and extends in the vertical direction, and a slider 33b that is slidably mounted on the guide rail 33a.

基板搬入装置27は、スライダ33bを昇降させるための、ストローク長が異なる一対のシリンダ34,35を備えている。上側に配置されたシリンダ34はショートストロークシリンダであり、本実施形態ではストローク長が20mmである。一方、下側に配置されたシリンダ35はロングストロークシリンダであり、本実施形態ではストローク長が82mmである。一方のシリンダ34は、そのロッドが鉛直方向下向きとなる姿勢で、シリンダブラケット37を介してスライダ33bに固定されている。他方のシリンダ35は、そのロッドが鉛直方向上向きとなる姿勢で、シリンダブラケット38を介してスライダ30bに対して固定されている。第1及び第2のシリンダ34,35のロッドは、軸線が同軸となるように位置決めされ、かつシャフト39によって互いに連結されている。シリンダ34,35は、それぞれ図示しない圧縮空気供給装置と圧力空気配管を介して接続されており、圧縮空気の供給と排気によってロッドを突出位置と引込位置のいずれかに設定することができる。後に詳述するように、シリンダ34,35のロッドの突出状態の組合せによりスライダ33bを上下方向に移動させることができる。   The substrate carry-in device 27 includes a pair of cylinders 34 and 35 having different stroke lengths for moving the slider 33b up and down. The cylinder 34 arranged on the upper side is a short stroke cylinder, and in this embodiment, the stroke length is 20 mm. On the other hand, the cylinder 35 arranged on the lower side is a long stroke cylinder, and in this embodiment, the stroke length is 82 mm. One cylinder 34 is fixed to the slider 33b via a cylinder bracket 37 in such a posture that its rod is directed downward in the vertical direction. The other cylinder 35 is fixed to the slider 30b via the cylinder bracket 38 in such a posture that the rod is directed upward in the vertical direction. The rods of the first and second cylinders 34 and 35 are positioned so that their axes are coaxial, and are connected to each other by a shaft 39. Each of the cylinders 34 and 35 is connected to a compressed air supply device (not shown) via a pressure air pipe, and the rod can be set at either a protruding position or a retracted position by supplying compressed air and exhausting it. As will be described in detail later, the slider 33b can be moved in the vertical direction by a combination of the protruding states of the rods of the cylinders 34 and 35.

スライダ33bには、アームブラケット40を介して搬入アーム41が固定されている。搬入アーム41は、Y軸方向に延びて基端がアームブラケット40に対して固定された第1のビーム41aと、この第1のビーム41aの基端側と先端側に固定された互いに平行なX軸方向に延びる第2及び第3のビーム41b,41cとを備え、平面視でH字状を呈する。第2及び第3のビーム41b,41cの両端には、それぞれ1個の基板吸着機構(保持機構)42が取り付けられており、搬入アーム41は合計4個の基板吸着機構42を備える。これらの基板吸着機構42は、搬送治具2の四隅の位置(図6において符号43)に対応して設けられている。   A loading arm 41 is fixed to the slider 33b via an arm bracket 40. The carry-in arm 41 includes a first beam 41a extending in the Y-axis direction and having a base end fixed to the arm bracket 40, and parallel to each other fixed to the base end side and the tip end side of the first beam 41a. The second and third beams 41b and 41c extending in the X-axis direction are provided and have an H shape in plan view. One substrate suction mechanism (holding mechanism) 42 is attached to both ends of the second and third beams 41 b and 41 c, and the carry-in arm 41 includes a total of four substrate suction mechanisms 42. These substrate suction mechanisms 42 are provided corresponding to the positions of the four corners of the conveying jig 2 (reference numeral 43 in FIG. 6).

図3、図5、及び図10を参照すると、各基板吸着機構42は、基端側が真空吸引装置43に接続された吸着ノズル44を備える。この吸着ノズル44は下端側に昇降可能な中空筒部45を備えている。中空筒部45の下端には、吸込口46aが形成された吸着パッド46が装着されている。また、吸着ノズル44は、中空筒部45を図5において矢印Bで示すように鉛直方向下向きに弾性的に付勢するばね47(図10にのみ概略的に図示する。)を備えている。後に詳述するように、吸着ノズル44の中空筒部45はばね47の付勢力に抗して鉛直方向上向に変位することができる。吸着パッド46は、例えば耐熱ゴム、シリコン等の弾力性と耐熱性を有する材料からなる。   Referring to FIGS. 3, 5, and 10, each substrate suction mechanism 42 includes a suction nozzle 44 having a proximal end connected to a vacuum suction device 43. The suction nozzle 44 includes a hollow cylindrical portion 45 that can be raised and lowered on the lower end side. A suction pad 46 having a suction port 46 a is attached to the lower end of the hollow cylinder portion 45. Further, the suction nozzle 44 includes a spring 47 (illustrated schematically only in FIG. 10) that elastically biases the hollow cylindrical portion 45 downward in the vertical direction as indicated by an arrow B in FIG. As will be described in detail later, the hollow cylindrical portion 45 of the suction nozzle 44 can be displaced upward in the vertical direction against the urging force of the spring 47. The suction pad 46 is made of a material having elasticity and heat resistance such as heat-resistant rubber and silicon.

基板搬出装置127の構造は基板搬入装置27と同様である。図2及び図3を参照すると、基板搬出装置127は、スライダ30bに取り付けられた鉛直方向の直動ガイド133(ガイドレール133aとスライダ133b)、スライダ133bを昇降させるためのショートストロークのシリンダ134(本実施形態ではストローク長が20mm)、及びロングストロークのシリンダ135(本実施形態ではストローク長が82mm)とを備える。シリンダ134はシリンダブラケット137を介してスライダ133bに固定され、シリンダ135は基板搬入装置27と共通のシリンダブラケット38を介してスライダ30bに固定されている。スライダ133bにはアームブラケット140を介して搬出アーム141が固定されている。搬出アーム141は、Y軸方向に延びて基端がアームブラケット140に対して固定されたビーム141aと、このビーム141aの基端側と先端側に固定された互いに平行なX軸方向に延びる一対のビーム141b,141cとを備え、平面視でH字状を呈する。ビーム141b,141cの両端には、それぞれ1個の基板吸着機構142が取り付けられている。基板吸着機構142の配置及び構造も基板搬入装置27の基板吸着機構42と同様であり(図5参照)、真空吸引装置143により電子部品を吸着保持できる。 The structure of the substrate carry-out device 127 is the same as that of the substrate carry-in device 27. 2 and 3, the substrate carry-out device 127 includes a vertical linear motion guide 133 (guide rail 133a and slider 133b) attached to the slider 30b, and a short stroke cylinder 134 (for moving the slider 133b up and down). In this embodiment, the stroke length is 20 mm) and a long stroke cylinder 135 (in this embodiment, the stroke length is 82 mm). The cylinder 134 is fixed to the slider 133b via a cylinder bracket 137, and the cylinder 135 is fixed to the slider 30b via a cylinder bracket 38 common to the substrate carry-in device 27. An unloading arm 141 is fixed to the slider 133b via an arm bracket 140. The carry-out arm 141 has a beam 141a extending in the Y-axis direction and having a base end fixed to the arm bracket 140, and a pair extending in the parallel X-axis direction fixed to the base end side and the distal end side of the beam 141a. Beam 141b, 141c, and has an H shape in plan view. One substrate suction mechanism 142 is attached to each end of the beams 141b and 141c. The arrangement and structure of the substrate suction mechanism 142 are the same as those of the substrate suction mechanism 42 of the substrate carry-in device 27 (see FIG. 5), and electronic components can be sucked and held by the vacuum suction device 143.

次に、図9を参照して、基板5、実装部8のボンディングステージ20、及び基板搬送部9(基板搬入装置27と基板搬出装置127)の水平方向の位置及び移動について説明する。図9において、符号P1,P2はそれぞれローダ10及びアンローダ11における基板5の位置を示す。位置P1はローダ10搬送レール10aの端部10b、すなわち部品実装前の基板5の供給位置を示し、この基板供給位置P1においてローダ10上の基板5が基板搬入装置27に保持される。一方、基板排出位置P4はアンローダ11の搬送レール11aの端部11b、すなわち部品実装済みの基板5の配置位置を示す。この位置P4において基板搬出装置127が基板5をアンローダ11に排出する。図9において、符号P2,P3,P0は、基板5を吸着保持したボンディングステージ20の移動を示す。基板投入位置P2は基板供給位置P1と隣接し、この位置P2において基板搬入装置27に保持された基板5がボンディングステージ20上に載置される。また、基板搬出位置P3は基板排出位置P4と隣接し、この基板搬出位置P3においてボンディングステージ20上の基板5が基板搬出装置127によって保持される。実装位置P0はローダ10及びアンローダ11による基板搬送経路から外れた位置にあり、この実装位置P0においてボンディングステージ20に保持された基板5(FPC基板3)に電子部品が実装される。   Next, with reference to FIG. 9, horizontal positions and movements of the substrate 5, the bonding stage 20 of the mounting unit 8, and the substrate transport unit 9 (the substrate carry-in device 27 and the substrate carry-out device 127) will be described. In FIG. 9, symbols P <b> 1 and P <b> 2 indicate positions of the substrate 5 in the loader 10 and the unloader 11, respectively. The position P1 indicates the end portion 10b of the loader 10 conveyance rail 10a, that is, the supply position of the substrate 5 before component mounting. The substrate 5 on the loader 10 is held by the substrate carry-in device 27 at the substrate supply position P1. On the other hand, the board discharge position P4 indicates the arrangement position of the end 11b of the transport rail 11a of the unloader 11, that is, the board 5 on which components are mounted. At this position P4, the substrate carry-out device 127 discharges the substrate 5 to the unloader 11. In FIG. 9, symbols P2, P3, and P0 indicate movement of the bonding stage 20 that holds the substrate 5 by suction. The substrate loading position P2 is adjacent to the substrate supply position P1, and the substrate 5 held by the substrate carry-in device 27 is placed on the bonding stage 20 at this position P2. The substrate carry-out position P3 is adjacent to the substrate discharge position P4, and the substrate 5 on the bonding stage 20 is held by the substrate carry-out device 127 at the substrate carry-out position P3. The mounting position P0 is at a position deviated from the substrate transport path by the loader 10 and the unloader 11, and an electronic component is mounted on the substrate 5 (FPC substrate 3) held on the bonding stage 20 at the mounting position P0.

前述のように、基板搬送部9の基板搬入装置27と基板搬出装置127は共通の直動ガイド30に取り付けられているので、両者の基板搬送方向Aの距離は常に一定である。図9においてニ点鎖線で示すように、基板搬送部9の水平方向の位置には、位置P11,P12,P13がある。位置P11に基板搬送部9が位置すると、基板搬入装置27が位置P1の上方に位置し、基板搬出装置127が位置P2の上方に位置する。従って、位置P11では、基板搬入装置27によるローダ10からの基板5のピックアップが可能である。また、位置P12に基板搬送部9が位置すると、基板搬入装置27が位置P2の上方に位置し、基板搬出装置27が位置P3の上方に位置する。従って、位置P12では、基板搬入装置27からボンディングステージ20への基板5の搬入と、基板搬出装置127によるボンディングステージ20からの基板5のピックアップが可能である。さらに、位置P13では、基板搬入装置27が位置P3の上方に位置し、基板搬出装置127が位置P4の上方に位置する。従って、位置P13では、基板搬出装置127からアンローダ11への基板5の搬出が可能である。 As described above, since the substrate carry-in device 27 and the substrate carry-out device 127 of the substrate transfer unit 9 are attached to the common linear motion guide 30, the distance between the two in the substrate transfer direction A is always constant. As shown by a two-dot chain line in FIG. When the substrate transport unit 9 is located at the position P11, the substrate carry-in device 27 is located above the position P1, and the substrate carry-out device 127 is located above the position P2. Accordingly, the substrate 5 can be picked up from the loader 10 by the substrate carry-in device 27 at the position P11. Further, when the substrate conveying unit 9 is located at the position P12, the substrate carry-in device 27 is positioned above the position P2, the substrate carry-out device 1 27 is positioned above the position P3. Therefore, at the position P12, the substrate 5 can be carried into the bonding stage 20 from the substrate carry-in device 27, and the substrate 5 can be picked up from the bonding stage 20 by the substrate carry-out device 127. Further, at the position P13, the substrate carry-in device 27 is located above the position P3, and the substrate carry-out device 127 is located above the position P4. Accordingly, the substrate 5 can be unloaded from the substrate unloading device 127 to the unloader 11 at the position P13.

次に、図4を参照して、基板搬入装置27の搬入アーム41の高さの変化を説明する。なお、図4において各高さH0〜H3における基板吸着機構42(吸着パッド46)の下端の位置は、仮に搬入アーム41に対する鉛直方向の変位がないものとして図示している。   Next, a change in the height of the carry-in arm 41 of the substrate carry-in device 27 will be described with reference to FIG. In FIG. 4, the position of the lower end of the substrate suction mechanism 42 (suction pad 46) at each height H <b> 0 to H <b> 3 is illustrated assuming that there is no vertical displacement with respect to the loading arm 41.

前述のように、基板搬入装置27は、搬入アーム41の昇降用のシリンダとして、ショートストロークで下向きのシリンダ34とロングストロークで上向きのシリンダ35を備える。ショートストロークのシリンダ34のロッドは、非作動(オフ)時には引込位置で、作動(オン)時には突出位置となる。一方、ロングストロークのシリンダ35のロッドは、非作動(オフ)時には突出位置で、作動(オン)時には引込位置となる。両方のシリンダ34,35がオフ状態のときの高さ位置H0が基板搬入装置27の高さの基準となる。   As described above, the substrate carry-in device 27 includes the cylinder 34 for raising and lowering the carry-in arm 41 and the cylinder 34 that is directed downward with a short stroke and the cylinder 35 that is directed upward with a long stroke. The rod of the short stroke cylinder 34 is in the retracted position when not operated (off) and is in the protruding position when activated (on). On the other hand, the rod of the long stroke cylinder 35 is in the protruding position when it is inactive (off) and in the retracted position when it is activated (on). The height position H0 when both the cylinders 34 and 35 are in the off state is a reference for the height of the substrate carry-in device 27.

まず、ショートストロークのシリンダ34をオン状態とし、ロングストロークのシリンダ35をオフ状態とすると、搬入アーム41は高さ位置H1に降下する。この高さ位置H1における搬入アーム41の降下量D1は、ショートストロークのシリンダ34のストローク長(本実施形態では20mm)と等しい。   First, when the short stroke cylinder 34 is turned on and the long stroke cylinder 35 is turned off, the carry-in arm 41 is lowered to the height position H1. The descending amount D1 of the carry-in arm 41 at the height position H1 is equal to the stroke length of the short-stroke cylinder 34 (20 mm in this embodiment).

次に、ロングストロークのシリンダ35をオン状態とし、ショートストロークのシリンダ34をオフ状態とすると、搬入アーム41は高さ位置H2に降下する。この高さ位置H2における搬入アーム41の降下量D2は、ロングストロークのシリンダ35のストローク長(本実施形態では82mm)と等しい。   Next, when the long stroke cylinder 35 is turned on and the short stroke cylinder 34 is turned off, the carry-in arm 41 is lowered to the height position H2. The descending amount D2 of the loading arm 41 at the height position H2 is equal to the stroke length of the long stroke cylinder 35 (82 mm in this embodiment).

さらに、両方の第1及び第2のシリンダ34,35をオン状態とすると、搬入アーム41は高さ位置H3に降下する。この高さ位置H3における搬入アーム41の降下量D3は2個の第1及び第2のシリンダ34,35のシリンダストローク長さの和(本実施形態では102mm)と等しい。   Further, when both the first and second cylinders 34 and 35 are turned on, the carry-in arm 41 is lowered to the height position H3. The descending amount D3 of the carry-in arm 41 at the height position H3 is equal to the sum of the cylinder stroke lengths of the two first and second cylinders 34 and 35 (102 mm in this embodiment).

次に、図10を参照して、基板搬入装置27の搬入アーム41の高さ位置H0〜H3と基板吸着機構42の鉛直方向上向の変位量(押込量)ΔLの関係を説明する。なお、ローダ10の搬送レール10aの高さ位置は、ボンディングステージ20よりも高い。   Next, the relationship between the height positions H0 to H3 of the carry-in arm 41 of the substrate carry-in device 27 and the vertical upward displacement amount (push amount) ΔL of the substrate suction mechanism 42 will be described with reference to FIG. Note that the height position of the transport rail 10 a of the loader 10 is higher than that of the bonding stage 20.

図10の状態1は、基板吸着機構42が基板5を保持せず、ローダ10の搬送レール10aよりも上方に位置している状態を示す。この状態1では、第1及び第2のシリンダ34,35(図3参照)が共にオフ状態(降下量は0)であり、搬入アーム41は基準の高さ位置H0にある。この状態1における搬入アーム41から基板吸着機構42の下端までの長さを基準の長さLとする。   State 1 in FIG. 10 shows a state in which the substrate suction mechanism 42 does not hold the substrate 5 and is positioned above the transport rail 10 a of the loader 10. In this state 1, both the first and second cylinders 34 and 35 (see FIG. 3) are in the off state (the descending amount is 0), and the carry-in arm 41 is at the reference height position H0. The length from the carry-in arm 41 in this state 1 to the lower end of the substrate suction mechanism 42 is set as a reference length L.

図10の状態2は、基板5を取り出すために搬送レール10a上に向けて搬入アーム41が降下している状態を示す。この状態2では、シリンダ34がオン、シリンダ35がオフとなり、降下量D1(図4参照)は、シリンダ34のストローク長(本実施形態では20mm)である。搬入アーム41の降下により、基板吸着機構42は単に下端(具体的には図5に示す吸着パッド46の下端)が基板5に接触するだけでなく、上向きに押し込まれている。すなわち、基板吸着機構42(具体的には図5に示す先端に吸着パッド46を備える中空筒部45)は、ばね47の付勢力(図5の矢印B参照)に抗して、押込量ΔL1(本実施形態では2mm)だけ上向きに変位する。また、状態2における搬入アーム41から基板吸着機構42の下端までの長さはL−ΔL1となる。   State 2 in FIG. 10 shows a state in which the carry-in arm 41 is lowered toward the transfer rail 10a in order to take out the substrate 5. In this state 2, the cylinder 34 is turned on, the cylinder 35 is turned off, and the descending amount D1 (see FIG. 4) is the stroke length of the cylinder 34 (20 mm in this embodiment). Due to the lowering of the carry-in arm 41, the substrate suction mechanism 42 is not only contacted with the substrate 5 at the lower end (specifically, the lower end of the suction pad 46 shown in FIG. 5) but is pushed upward. That is, the substrate suction mechanism 42 (specifically, the hollow cylindrical portion 45 having the suction pad 46 at the tip shown in FIG. 5) resists the urging force of the spring 47 (see arrow B in FIG. 5), and the pushing amount ΔL1. It is displaced upward (2 mm in this embodiment). In the state 2, the length from the loading arm 41 to the lower end of the substrate suction mechanism 42 is L−ΔL1.

図10の状態3は、基板吸着機構42に保持した基板5をローダ10の搬送レール10aの上方の空中で搬送している状態を示す。この状態3では、第1及び第2のシリンダ34,35が共にオフ(降下量は0)であり、搬入アーム41は基準の高さ位置H0にある。基板吸着機構42に保持された基板5は搬送レール10aに対して非接触であるので(押込量が0)、搬入アーム41から基板吸着機構42の下端までの長さはほぼ標準の長さLである。   State 3 in FIG. 10 shows a state in which the substrate 5 held by the substrate suction mechanism 42 is transported in the air above the transport rail 10 a of the loader 10. In this state 3, both the first and second cylinders 34 and 35 are off (the amount of descending is 0), and the carry-in arm 41 is at the reference height position H0. Since the substrate 5 held by the substrate suction mechanism 42 is not in contact with the transport rail 10a (the pushing amount is 0), the length from the carry-in arm 41 to the lower end of the substrate suction mechanism 42 is substantially the standard length L. It is.

図10の状態4は、基板吸着機構42に保持した基板5がボンディングステージ20の直上に位置するように、搬入アーム41が降下した状態を示す。この状態4では、シリンダ34はオフで、シリンダ35がオンとなり、降下量D2(図4参照)はシリンダ35のストローク長(本実施形態では82mm)である。搬入アーム41は高さ位置H0よりも降下量D2だけ低い高さ位置H2にあり、基板吸着機構42の下端とボンディングステージ20の間には、隙間48が存在する。基板吸着機構42に保持された基板5はボンディングステージ20に対して非接触であるので(押込量が0)、搬入アーム41から基板吸着機構42の下端までの長さはほぼ標準の長さLである。   A state 4 in FIG. 10 shows a state in which the carry-in arm 41 is lowered so that the substrate 5 held by the substrate suction mechanism 42 is positioned immediately above the bonding stage 20. In this state 4, the cylinder 34 is off, the cylinder 35 is on, and the lowering amount D2 (see FIG. 4) is the stroke length of the cylinder 35 (82 mm in this embodiment). The carry-in arm 41 is at a height position H2 that is lower than the height position H0 by a lowering amount D2, and a gap 48 exists between the lower end of the substrate suction mechanism 42 and the bonding stage 20. Since the substrate 5 held by the substrate suction mechanism 42 is not in contact with the bonding stage 20 (the pushing amount is 0), the length from the carry-in arm 41 to the lower end of the substrate suction mechanism 42 is substantially the standard length L. It is.

図10の状態5は、基板吸着機構42に保持した基板5がボンディングステージ20に載置された状態を示す。また、この状態5は、後に詳述するように、基板5が搬送治具2とFPC基板3の組合せである場合に、FPC基板3をボンディングステージ20に押さえ付けるために搬入アーム41が降下した状態にも相当する。この状態5では、第1及び第2のシリンダ34,35が共にオンであり、降下量D3(図4参照)は、第1及び第2のシリンダ34,35のストローク長の和(本実施形態では102mm)である。この状態5では、基板吸着機構42は上向きに押し込まれている。すなわち、基板吸着機構42は、ばね47の付勢力に抗して、押込量ΔL2(本実施形態では2mm)だけ上向きに変位し、搬入アーム41から基板吸着機構42の下端までの長さはL−ΔL2となる。   A state 5 in FIG. 10 shows a state in which the substrate 5 held by the substrate suction mechanism 42 is placed on the bonding stage 20. Further, in this state 5, as will be described in detail later, when the substrate 5 is a combination of the transfer jig 2 and the FPC substrate 3, the carry-in arm 41 is lowered to press the FPC substrate 3 against the bonding stage 20. It also corresponds to the state. In this state 5, both the first and second cylinders 34 and 35 are on, and the lowering amount D3 (see FIG. 4) is the sum of the stroke lengths of the first and second cylinders 34 and 35 (this embodiment). Is 102 mm). In this state 5, the substrate suction mechanism 42 is pushed upward. That is, the substrate suction mechanism 42 is displaced upward by a pushing amount ΔL2 (2 mm in this embodiment) against the urging force of the spring 47, and the length from the loading arm 41 to the lower end of the substrate suction mechanism 42 is L. −ΔL2.

基板5が搬送治具2とFPC基板3の組合せである場合、状態5において各FPC基板3がボンディングステージ20の対応する台部20aに押さえ付けられる。まず、状態5では、前述のように基板吸着機構42がば47の付勢力に抗して押込量ΔL2だけ上向きに変位する。換言すれば、ばね47は押込量ΔL2に相当する長さだけ自然長(状態1におけるばね47の長さ)よりも短くなる。その結果、ばね47から基板吸着機構42の中空筒部45に下向きの弾性的付勢力が作用し(図5の矢印B参照)、中空筒部45の下端の吸着パッド46が基板5をボンディングステージ20に向けて下向きに付勢する。基板5が搬送治具2とFPC基板3の組合せである場合、図6において符号43で示すように、吸着パッド46は搬送治具2の四隅に接触するので、吸着パッド46は搬送基板5をボンディングステージ20に向けて下向きに付勢する。このように搬送治具2をボンディングステージ20に対して付勢することにより、FPC基板3がボンディングステージ20の台部20aに押さえ付けられる。本実施形態では、基板吸着機構42はFPC基板の押さえ機構としても機能する。   When the substrate 5 is a combination of the transfer jig 2 and the FPC substrate 3, each FPC substrate 3 is pressed against the corresponding base portion 20 a of the bonding stage 20 in the state 5. First, in the state 5, the substrate suction mechanism 42 is displaced upward by the pushing amount ΔL2 against the urging force of the plate 47 as described above. In other words, the spring 47 is shorter than the natural length (the length of the spring 47 in the state 1) by a length corresponding to the pushing amount ΔL2. As a result, a downward elastic biasing force is applied from the spring 47 to the hollow cylinder portion 45 of the substrate adsorption mechanism 42 (see arrow B in FIG. 5), and the adsorption pad 46 at the lower end of the hollow cylinder portion 45 attaches the substrate 5 to the bonding stage. Energize downwards toward 20. When the substrate 5 is a combination of the transport jig 2 and the FPC board 3, the suction pad 46 contacts the four corners of the transport jig 2 as indicated by reference numeral 43 in FIG. It urges downward toward the bonding stage 20. Thus, the FPC board 3 is pressed against the base 20 a of the bonding stage 20 by urging the conveying jig 2 against the bonding stage 20. In the present embodiment, the substrate suction mechanism 42 also functions as a pressing mechanism for the FPC board.

前述のように基板搬出装置127は基板搬入装置27と同様の構造であるので、搬アーム41の高さ位置はH0,H1,H2,H3のいずれかに設定することができる。また、各高さ位置H0〜H3における基板吸着機構42の押込量の変化も基板搬入装置27と同様である(図10参照)。 Since the substrate carry-out device 127 as described above is the same structure as the substrate loading device 27, the height position of the arm 1 41 out transportable can be set to one of the H0, H1, H2, H3. The same as the amount of pushing change the substrate carry-in device 27 of the substrate suction mechanism 1 42 at each height position H0 to H3 (see FIG. 10).

図1及び図3にのみ概略的に示すコントローラ12は、予め記憶されたプログラムに従って、基板吸着センサ25を含む各種センサ及び認識カメラ17を含む各種カメラからの入力に基づいて、部品供給部7、実装部8、ローダ10、アンローダ11、及び基板搬送部9の動作を制御する。特に、コントローラ12は、基板吸着センサ25を含む各種センサからの入力に基づいて、基板搬送部9が備える種々の要素、すなわちモータ13、真空吸引装置43,143、シリンダ34,35,134,135の動作を制御すると共に、これらの動作と連動して実装部8のXYテーブル22、真空吸引装置24、及び基板規制装置21の動作を制御する。   The controller 12 schematically shown only in FIG. 1 and FIG. 3 is based on inputs from various sensors including the substrate suction sensor 25 and various cameras including the recognition camera 17 according to a program stored in advance. The operations of the mounting unit 8, the loader 10, the unloader 11, and the substrate transfer unit 9 are controlled. In particular, the controller 12 is based on inputs from various sensors including the substrate suction sensor 25, that is, various elements included in the substrate transport unit 9, that is, the motor 13, the vacuum suction devices 43 and 143, and the cylinders 34, 35, 134, and 135. And the operations of the XY table 22, the vacuum suction device 24, and the substrate regulating device 21 of the mounting unit 8 are controlled in conjunction with these operations.

次に、基板搬送部9(基板搬入装置27及び基板搬出装置127)の動作を、図11A及び図11Bのフローチャート、並びに図12及び図13を参照して説明する。   Next, the operation of the substrate transport unit 9 (the substrate carry-in device 27 and the substrate carry-out device 127) will be described with reference to the flowcharts of FIGS. 11A and 11B and FIGS.

まず、ステップS11−1において、搬入アーム41が電子部品を実装する前の新たな基板5を吸着して保持する。詳細には、まず、図12(A)に示すように、基板搬入装置27と基板搬出装置127の両方が高さ位置H0の状態で基板搬送部9が位置P11に移動し、搬入アーム41が基板供給位置P1にある基板5の上方に位置する。次に、図12(B)に示すように、搬入アーム41が高さ位置H0から高さ位置H1まで降下し、基板吸着機構42の先端の吸着パッド46が基板5に当接する。また、真空吸引装置43による基板5の吸着が開始される。続いて、図12(C)に示すように、基板5を吸着保持した搬入アーム41が高さ位置H1から高さ位置H0に上昇する。   First, in step S <b> 11-1, the carry-in arm 41 sucks and holds a new substrate 5 before mounting the electronic component. More specifically, first, as shown in FIG. 12A, the substrate transport unit 9 moves to the position P11 in a state where both the substrate carry-in device 27 and the substrate carry-out device 127 are at the height position H0, and the carry-in arm 41 is moved. Located above the substrate 5 at the substrate supply position P1. Next, as shown in FIG. 12B, the carry-in arm 41 descends from the height position H0 to the height position H1, and the suction pad 46 at the tip of the substrate suction mechanism 42 contacts the substrate 5. Further, the suction of the substrate 5 by the vacuum suction device 43 is started. Subsequently, as shown in FIG. 12C, the carry-in arm 41 that holds the substrate 5 by suction rises from the height position H1 to the height position H0.

ステップS11−2において、実装済みの基板5を保持しているボンディングステージ20が実装位置P0から基板搬出位置P3に移動する(図12(B)の矢印参照)。   In step S11-2, the bonding stage 20 holding the mounted substrate 5 moves from the mounting position P0 to the substrate carry-out position P3 (see the arrow in FIG. 12B).

ステップS11−3では、搬出アーム141がボンディングステージ20に降下する。詳細には、図12(D)に示すように、まず基板搬送部9が位置P11から位置P12に移動し、搬入アーム141がボンディングステージ20上の基板5の上方に位置する。続いて、搬出アーム141が高さ位置H0から高さ位置H3まで降下し、基板吸着機構142の下端の吸着パッド146が基板5に当接する。なお、搬入アーム41も高さ位置H0から高さ位置H2まで降下する。   In step S <b> 11-3, the carry-out arm 141 is lowered to the bonding stage 20. More specifically, as shown in FIG. 12D, first, the substrate transfer unit 9 moves from the position P11 to the position P12, and the carry-in arm 141 is positioned above the substrate 5 on the bonding stage 20. Subsequently, the carry-out arm 141 descends from the height position H0 to the height position H3, and the suction pad 146 at the lower end of the substrate suction mechanism 142 contacts the substrate 5. The carry-in arm 41 also descends from the height position H0 to the height position H2.

次に、ステップS11−4において、真空吸引装置143が作動し、搬出アーム141がボンディングステージ20上の電子部品を実装済みの基板5の吸着を開始する。これに続いて、ステップS11−5において真空吸引装置24が停止し、ボンディングステージ20による基板5の吸着が解除される。   Next, in step S11-4, the vacuum suction device 143 is operated, and the carry-out arm 141 starts sucking the substrate 5 on which the electronic components on the bonding stage 20 are mounted. Following this, in step S11-5, the vacuum suction device 24 is stopped, and the adsorption of the substrate 5 by the bonding stage 20 is released.

次に、ステップS11−6において、図12(E)に示すように、搬出アーム141が高さ位置H3から高さ位置H2に上昇する。その結果、実装済みの基板5が搬出アーム141によりボンディングステージ20から取り出される。   Next, in step S11-6, as shown in FIG. 12E, the carry-out arm 141 rises from the height position H3 to the height position H2. As a result, the mounted substrate 5 is taken out from the bonding stage 20 by the carry-out arm 141.

ステップS11−7においてボンディングステージ20が基板搬出位置P3から基板投入位置P2に移動する。図12(E)に示すように、搬入アーム41は高さ位置H2にあるので、搬入アーム41によって保持された部品実装前の基板5と、基板投入位置P2にあるボンディングステージ20との間には隙間48(図10参照)が存在している。   In step S11-7, the bonding stage 20 moves from the substrate carry-out position P3 to the substrate loading position P2. As shown in FIG. 12E, since the carry-in arm 41 is at the height position H2, there is a gap between the substrate 5 before component mounting held by the carry-in arm 41 and the bonding stage 20 at the board loading position P2. There is a gap 48 (see FIG. 10).

ステップS11−8において、搬入アーム41がボンディングステージ20に降下する。詳細には、図13(A)に示すように、搬入アーム41が高さ位置H2から高さ位置H3まで降下する。その結果、搬入アーム41に保持された基板5がボンディングステージ20に載置される。図6を参照すると、基板5が搬送治具2とFPC基板3の組合せである場合、搬送治具2(搬送プレート4)の四隅下面が支持部20bで支持され、各FPC基板3の実装領域3aを含む部分、すなわち搬送プレート4の開口4a,4bに臨む部分が対応する台部20aの上面に載置される。この状態では、基板吸着機構42の中空筒部45はばね47の付勢力に抗して押込量ΔL2だけ上方に変位している。 In step S11-8, loading arm 4 1 drops bonding stage 20. Specifically, as shown in FIG. 13 (A), carrying arm 4 1 drops from the height position H2 to the height position H3. As a result, the substrate 5 held by the loading arm 4 1 is placed on the bonding stage 20. Referring to FIG. 6, when the substrate 5 is a combination of the transport jig 2 and the FPC board 3, the bottom surfaces of the four corners of the transport jig 2 (transport plate 4) are supported by the support portions 20 b, and the mounting area of each FPC board 3 is The part including 3a, that is, the part facing the openings 4a and 4b of the transport plate 4 is placed on the upper surface of the corresponding base part 20a. In this state, the hollow cylindrical portion 45 of the substrate suction mechanism 42 is displaced upward by the pushing amount ΔL2 against the urging force of the spring 47.

次に、ステップS11−9において、搬入アーム41がボンディングステージ20上の部品実装前の基板5の吸着を解除する。具体的には、真空吸引装置43が停止する。続いて、ステップS11−10において、図13(B)に示すように、搬入アーム41が高さ位置H3から高さ位置H2まで上昇する。搬入アーム41は基板5の吸着を解除しているので、ボンディングステージ20上に基板5が残される。   Next, in step S <b> 11-9, the carry-in arm 41 releases the suction of the substrate 5 before component mounting on the bonding stage 20. Specifically, the vacuum suction device 43 stops. Subsequently, in step S11-10, as shown in FIG. 13B, the carry-in arm 41 rises from the height position H3 to the height position H2. Since the carry-in arm 41 releases the adsorption of the substrate 5, the substrate 5 remains on the bonding stage 20.

ステップS11−11では、基板規制装置21がボンディングステージ20の基板5の規制を開始する。詳細には、可動部材21b〜21dが突出してボンディングステージ20上の基板5を基準部21aに対して押し付け、それによってボンディングステージ20に対して基板5を位置決めする(図6参照)。   In step S11-11, the substrate regulating device 21 starts regulating the substrate 5 of the bonding stage 20. Specifically, the movable members 21b to 21d protrude to press the substrate 5 on the bonding stage 20 against the reference portion 21a, thereby positioning the substrate 5 with respect to the bonding stage 20 (see FIG. 6).

次に、ステップS11−12において、真空吸引装置24が作動し、ボンディングステージ20が基板5の吸着保持を開始する。基板5が搬送治具2とFPC基板3の組合せである場合、図8に示すように、FPC基板3の実装領域3aの周囲に配置された3個の基板吸着孔20cから作用する吸引力によってFPC基板3が台部20aに保持される。   Next, in step S11-12, the vacuum suction device 24 is activated, and the bonding stage 20 starts to hold the substrate 5 by suction. When the substrate 5 is a combination of the transfer jig 2 and the FPC substrate 3, as shown in FIG. 8, the suction force acting from the three substrate suction holes 20c arranged around the mounting area 3a of the FPC substrate 3 is used. The FPC board 3 is held on the platform 20a.

ボンディングステージ20が基板5の吸着保持を開始すると、ステップS11−13において、基板規制装置21が基板5の規制を解除する。詳細には、基準部21a及び可動部材21b〜21dがボンディングステージ20から待避する(図6参照)。   When the bonding stage 20 starts to hold the substrate 5 by suction, the substrate restriction device 21 releases the restriction of the substrate 5 in step S11-13. Specifically, the reference portion 21a and the movable members 21b to 21d are retracted from the bonding stage 20 (see FIG. 6).

ステップS11−14において、キャリア搬送モードであるか否かが判断される。具体的には、基板5が搬送治具2とFPC基板3の組合せである場合がキャリア搬送モードであり、基板5がエポキシ樹脂等からなる比較的硬質な通常の基板である場合はキャリア搬送モードではない。   In step S11-14, it is determined whether the carrier transport mode is set. Specifically, the carrier transport mode is when the substrate 5 is a combination of the transport jig 2 and the FPC substrate 3, and the carrier transport mode when the substrate 5 is a relatively hard normal substrate made of epoxy resin or the like. is not.

ステップS11−4においてキャリア搬送モードでない場合には、ステップS11−20においてボンディングステージ20上の基板5に対する実装動作が開始される。 If not carrier transport mode in step S11- 1 4, mounting operation for the substrate 5 on the bonding stage 20 is started in step S11-20.

一方、ステップS11−4においてキャリア搬送モードである場合には、ステップS11−15において、図13(C)に示すように搬入アーム41がボンディングステージ20に再度降下する。詳細には、搬入アーム41が高さ位置H2から高さ位置H3まで降下する。この際、真空吸引装置24は停止しており、搬入アーム41の基板吸着機構42は基板5に対する保持を解除した状態を維持している。 On the other hand, in the case of carrier transfer mode in step S11- 1 4, in step S11-15, loading arm 41 as shown in FIG. 13 (C) falls again to the bonding stage 20. Specifically, the carry-in arm 41 descends from the height position H2 to the height position H3. At this time, the vacuum suction device 24 is stopped, and the substrate suction mechanism 42 of the carry-in arm 41 maintains a state in which the holding of the substrate 5 is released.

図6を参照すると、この搬入アーム41の再降下(ステップS11−15)により、基板吸着機構42の吸着パッド46が符号43で示す搬送治具2の四隅上面に当接する。また、図10の状態5で示すように、搬入アーム41が高さ位置H3に降下すると、基板吸着機構42の中空筒部45がばね47の付勢力に抗して押込量ΔL2だけ上向きに変位する。その結果、ばね47から基板吸着機構42の中空筒部45に下向きの弾性的付勢力が作用し(図5の矢印B参照)、中空筒部45の下端の吸着パッド46が搬送治具2をボンディングステージ20に向けて下向きに付勢する。また、搬送治具2が下向きに付勢されることにより、FPC基板3が台部20aに対して押し付けられる。ボンディングステージ20はFPC基板3を吸着中であるので、FPC基板3の実装領域3aがボンディングステージ20の台部20aに撓みや反りのない平坦な状態で密着させることができる。 Referring to FIG. 6, the re-lowering of the loading arm 41 (step S11- 15), the suction pads 46 of the substrate suction mechanism 42 comes into contact with the four corners the upper surface of the conveying jig 2 indicated by reference numeral 43. As shown in state 5 in FIG. 10, when the loading arm 41 is lowered to the height position H3, the hollow cylinder portion 45 of the substrate suction mechanism 42 is displaced upward by the pushing amount ΔL2 against the urging force of the spring 47. To do. As a result, a downward elastic biasing force is applied from the spring 47 to the hollow cylindrical portion 45 of the substrate suction mechanism 42 (see arrow B in FIG. 5), and the suction pad 46 at the lower end of the hollow cylindrical portion 45 holds the transport jig 2. It urges downward toward the bonding stage 20. Further, when the conveying jig 2 is biased downward, the FPC board 3 is pressed against the base 20a. Since the bonding stage 20 is sucking the FPC board 3, the mounting area 3 a of the FPC board 3 can be brought into close contact with the base portion 20 a of the bonding stage 20 in a flat state without bending or warping.

ステップS11−16では基板吸着センサ25がオン状態であるか否が確認され、この基板吸着センサ25の確認は、ステップS11−17において予め定められた監視時間Tmが経過するまで継続される。この監視時間Tmの計時は、ボンディングステージ20が基板5の吸着を開始した時点(ステップS11−12)から開始される。   In step S11-16, it is confirmed whether or not the substrate suction sensor 25 is in the ON state, and the confirmation of the substrate suction sensor 25 is continued until the monitoring time Tm predetermined in step S11-17 has elapsed. The monitoring time Tm is measured from the time when the bonding stage 20 starts to adsorb the substrate 5 (step S11-12).

監視時間Tm中に基板吸着センサ25がオフ状態となったことが検出された場合は、押さえ付けを行ったにもかかわらず、FPC基板3が台部20aに対して撓みや反りのある不適切な状態で保持されている。この場合、ステップS11−22において、エラーと判断され、電子部品実装装置1の動作が停止される。 If it is detected that the substrate adsorption sensor 25 is turned off during the monitoring time Tm, the FPC board 3 is not suitable to be bent or warped with respect to the base portion 20a despite being pressed. It is held in the correct state. In this case, in step S11- 22, it is determined that an error, the operation of the electronic component mounting apparatus 1 is stopped.

一方、監視時間Tm中に基板吸着センサ25がオン状態を維持した場合は、FPC基板3が台部20aに対して撓みや反りのない平坦状態で保持されている。この場合には、ステップS11−18において予め定めらたれ待機時間Twが経過するまで、図13(C)の状態(FPC基板3が台部20aに吸着され、かつ基板吸着機構42のばね47の付勢力により台部20aに押し付けられた状態)を維持する。待機時間Twが経過すると、ステップS11−19において、搬入アーム41が高さ位置H3から高さ位置H0まで再度上昇し、FPC基板3の台部20aに対する押さえ付けが終了する。待機時間Twを設けることで、搬入アーム41が高さ位置H2に再度上昇する際に反力によってFPC基板3が台部20aから浮き上がるのを防止することができる。なお、搬出アーム141も高さ位置H0まで上昇する。   On the other hand, when the substrate suction sensor 25 is kept on during the monitoring time Tm, the FPC board 3 is held in a flat state with no bending or warping with respect to the base 20a. In this case, until the predetermined waiting time Tw elapses in step S11-18, the state of FIG. 13C (the FPC board 3 is sucked to the base 20a and the spring 47 of the board suction mechanism 42 is The state of being pressed against the base 20a by the urging force). When the standby time Tw elapses, in step S11-19, the carry-in arm 41 rises again from the height position H3 to the height position H0, and the pressing of the FPC board 3 against the base portion 20a is completed. By providing the waiting time Tw, it is possible to prevent the FPC board 3 from being lifted from the base portion 20a by the reaction force when the carry-in arm 41 is raised again to the height position H2. The carry-out arm 141 is also raised to the height position H0.

次に、ステップS11−20において、ボンディングステージ20上に保持された基板5に対する電子部品の実装が開始される。詳細には、図13(D)に示すように、基板5を保持したボンディングステージ20が実装位置P0に移動し、実装部8の実装ヘッド装置19により基板5に対して電子部品が実装される。基板5が搬送治具2とFPC基板3の組合せである場合でも、ステップS11−15〜S11−19の基板吸着機構42による押さえ付け動作により、FPC基板3がボンディングステージ20の台部20aに反りや撓みのない平坦な状態で保持されている。そのため、FPC基板3に対して位置ずれ等のエラーを生じることなく電子部品を実装することができる。   Next, in step S11-20, mounting of electronic components on the substrate 5 held on the bonding stage 20 is started. Specifically, as shown in FIG. 13D, the bonding stage 20 holding the substrate 5 moves to the mounting position P0, and an electronic component is mounted on the substrate 5 by the mounting head device 19 of the mounting unit 8. . Even when the substrate 5 is a combination of the transport jig 2 and the FPC substrate 3, the FPC substrate 3 warps against the base portion 20a of the bonding stage 20 by the pressing operation by the substrate suction mechanism 42 in steps S11-15 to S11-19. It is held in a flat state without bending. Therefore, electronic components can be mounted on the FPC board 3 without causing errors such as misalignment.

ステップS11−21では、搬出アーム141が保持している部品実装済みの基板5がアンローダ11に搬出される。詳細には、図13(E)に示すように、基板搬送部9が位置P13まで移動した後、搬出アーム141が高さ位置H2まで降下する。この時点で、真空吸引装置143が停止して搬入アーム141による基板5の吸着が解除され、部品実装済み5の基板5がローダ11aの端部11b(基板排出位置P4)に配置される。   In step S <b> 11-21, the component-mounted board 5 held by the carry-out arm 141 is carried out to the unloader 11. Specifically, as shown in FIG. 13E, after the substrate transport unit 9 moves to the position P13, the carry-out arm 141 descends to the height position H2. At this time, the vacuum suction device 143 stops, the suction of the substrate 5 by the carry-in arm 141 is released, and the component-mounted 5 substrate 5 is placed at the end 11b (substrate discharge position P4) of the loader 11a.

図14は、第1実施形態の基板搬送部9の動作の一例であり、基板5が搬送治具2とFPC基板3の組合せである場合を示す。この図14において、時刻T8から時刻T10にボンディングステージ20に基板5を載置するために搬入アーム41が第1回目の降下(ステップS11−8)を実行して、時刻T11から時刻T12にFPC基板3を台部20aに押し付けるために搬入アーム41が第2回目の降下(ステップS11−15)を実行している。   FIG. 14 is an example of the operation of the substrate transfer unit 9 of the first embodiment, and shows a case where the substrate 5 is a combination of the transfer jig 2 and the FPC substrate 3. In FIG. 14, in order to place the substrate 5 on the bonding stage 20 from time T8 to time T10, the carry-in arm 41 performs the first descent (step S11-8), and the FPC from time T11 to time T12. In order to press the substrate 3 against the platform 20a, the carry-in arm 41 performs the second descent (step S11-15).

(第2実施形態)
本発明の第2実施形態にかかる電子部品実装装置は、コントローラ12(図1及び図3参照)により実行される基板搬送部9(図3参照)及びそれに関連するボンディングステージ20(図6参照)の動作が第1実施形態と異なる。第2実施形態の機械的構造は図1から図10を参照して説明した第1実施形態の機械的構造と同様である。
(Second Embodiment)
The electronic component mounting apparatus according to the second embodiment of the present invention includes a substrate transfer unit 9 (see FIG. 3) executed by a controller 12 (see FIGS. 1 and 3) and a bonding stage 20 (see FIG. 6) related thereto. Is different from the first embodiment. The mechanical structure of the second embodiment is the same as the mechanical structure of the first embodiment described with reference to FIGS.

基板搬送部9(基板搬入装置27及び基板搬出装置127)の動作を、図15A及び図15Bのフローチャート、並びに図16から図18を参照して説明する。   The operation of the substrate transport unit 9 (the substrate carry-in device 27 and the substrate carry-out device 127) will be described with reference to the flowcharts of FIGS. 15A and 15B and FIGS. 16 to 18.

ステップS15−1〜S15−3(図16(A)〜図17(B))における基板搬入装置27、基板搬出装置127、及びボンディングステージ20の動作は第1実施形態と同様である。部品実装前の基板5を把持した搬入アーム41がボンディングステージ20に降下し(ステップS15−8、図17(A))、基板5の吸着を解除した後に高さ位置H0まで上昇する(ステップS15−9及びS15−10、図17(B))。また、基板規制及びその解除とボンディングステージ20により基板5の吸着が実行される(ステップS15−10〜S15−13)。   The operations of the substrate carry-in device 27, the substrate carry-out device 127, and the bonding stage 20 in steps S15-1 to S15-3 (FIGS. 16A to 17B) are the same as those in the first embodiment. The carry-in arm 41 that holds the substrate 5 before component mounting descends to the bonding stage 20 (step S15-8, FIG. 17A), and lifts to the height position H0 after releasing the suction of the substrate 5 (step S15). -9 and S15-10, FIG. 17 (B)). Further, suction of the substrate 5 is executed by the substrate restriction and its release and the bonding stage 20 (steps S15-10 to S15-13).

次に、ステップS15−14において、搬出アーム141に保持されている部品実装済みの基板5がアンローダ11に搬出される。詳細には、図17(C)に示すように、基板搬送部13が位置13に移動し、さらに搬入アーム141が高さ位置H0から高さ位置H1に降下する。その結果、部品実装済みの基板5がアンローダ11の端部11a(基板排出位置P4)に載置される。また、図17(D)に示すように、基板5の吸着を解除した後、搬出アーム141が高さ位置H0まで上昇する。   Next, in step S15-14, the component-mounted board 5 held by the carry-out arm 141 is carried out to the unloader 11. More specifically, as shown in FIG. 17C, the substrate transport unit 13 moves to the position 13, and the carry-in arm 141 moves down from the height position H0 to the height position H1. As a result, the component-mounted substrate 5 is placed on the end 11a (substrate discharge position P4) of the unloader 11. Further, as shown in FIG. 17D, after the suction of the substrate 5 is released, the carry-out arm 141 rises to the height position H0.

次に、ステップS15−15において、キャリア搬送モードであるか否かが判断される。キャリア搬送モードでない場合(ボンディングステージ20上の基板5が通常の基板の場合)には、ステップS15−23においてボンディングステージ20上の基板5に対する実装動作が開始される。   Next, in step S15-15, it is determined whether or not the carrier transport mode is set. When the carrier transport mode is not set (when the substrate 5 on the bonding stage 20 is a normal substrate), the mounting operation on the substrate 5 on the bonding stage 20 is started in step S15-23.

一方、ステップS15−15において、キャリア搬送モードである場合(ボンディングステージ20上の基板5が搬送治具2とFPC基板3の組合せである場合)には、ステップS15−16において基板吸着センサ25がオン状態であるか否が確認され、この基板吸着センサ25の確認は、ステップS15−17において予め定められた第1の監視時間Tm1が経過するまで継続される。この監視時間Tm1の計時は、ボンディングステージ20が基板5の吸着を開始した時点(ステップS15−12)から開始される。   On the other hand, when the carrier transport mode is set in step S15-15 (when the substrate 5 on the bonding stage 20 is a combination of the transport jig 2 and the FPC substrate 3), the substrate suction sensor 25 is set in step S15-16. Whether or not it is in the on state is confirmed, and the confirmation of the substrate adsorption sensor 25 is continued until the first monitoring time Tm1 that is predetermined in step S15-17 has elapsed. The monitoring time Tm1 is measured from the time when the bonding stage 20 starts to attract the substrate 5 (step S15-12).

第1の監視時間Tm1中に基板吸着センサ25がオン状態を維持した場合は、FPC基板3が台部20aに対して撓みや反りのない平坦状態で保持されている。この場合、ステップS15−23に移行して実装動作が開始される。   When the substrate suction sensor 25 is kept on during the first monitoring time Tm1, the FPC board 3 is held in a flat state with no bending or warping with respect to the platform 20a. In this case, the process proceeds to step S15-23 to start the mounting operation.

一方、第1の監視時間Tm1中に基板吸着センサ25がオフ状態となったことが検出された場合は、押さえ付けを行ったにもかかわらず、FPC基板3が台部20aに対して撓みや反りのある不適切な状態で保持されている。この場合、ステップS15−18において、FPC基板3を台部20aに押さえ付けるために搬入アーム41がボンディングステージ20へ再度降下する。詳細には、図17(E)に示すように基板搬送部9が位置P13から位置P12に移動する。続いて、搬入アーム41が高さ位置H0から高さ位置H3まで降下する。この際、真空吸引装置24は停止しており、搬入アーム41の基板吸着機構42は基板5に対する保持を解除した状態を維持している。   On the other hand, when it is detected that the substrate adsorption sensor 25 is turned off during the first monitoring time Tm1, the FPC board 3 is not bent or deformed with respect to the base portion 20a despite the pressing. It is held in an inappropriate state with warping. In this case, in step S15-18, the carry-in arm 41 descends again to the bonding stage 20 in order to press the FPC board 3 against the platform 20a. Specifically, as shown in FIG. 17E, the substrate transport unit 9 moves from position P13 to position P12. Subsequently, the carry-in arm 41 descends from the height position H0 to the height position H3. At this time, the vacuum suction device 24 is stopped, and the substrate suction mechanism 42 of the carry-in arm 41 maintains a state in which the holding of the substrate 5 is released.

図6を参照すると、この搬入アーム41の再降下(ステップS15−18)により、基板吸着機構42の吸着パッド46が符号43で示す搬送治具2の四隅上面に当接する。その結果、基板吸着機構42の中空筒部45がばね47の付勢力に抗して押込量ΔL2だけ上向きに変位し、中空筒部45の下端の吸着パッド46が搬送治具2をボンディングステージ20に向けて下向きに付勢する。搬送治具2が下向きに付勢されることにより、FPC基板3が台部20aに対して押し付けられる。ボンディングステージ20はFPC基板3を吸着中であるので、FPC基板3の実装領域3aがボンディングステージ20の台部20aに撓みや反りのない平坦な状態で密着させることができる。   Referring to FIG. 6, the suction pad 46 of the substrate suction mechanism 42 comes into contact with the upper surfaces of the four corners of the transport jig 2 indicated by reference numeral 43 by the re-lowering of the carry-in arm 41 (step S15-18). As a result, the hollow cylindrical portion 45 of the substrate suction mechanism 42 is displaced upward by the pushing amount ΔL2 against the urging force of the spring 47, and the suction pad 46 at the lower end of the hollow cylindrical portion 45 attaches the conveying jig 2 to the bonding stage 20. Energize downward toward. When the conveyance jig 2 is biased downward, the FPC board 3 is pressed against the base portion 20a. Since the bonding stage 20 is sucking the FPC board 3, the mounting area 3 a of the FPC board 3 can be brought into close contact with the base portion 20 a of the bonding stage 20 in a flat state without bending or warping.

ステップS15−19では基板吸着センサ25がオン状態であるか否が確認され、この基板吸着センサ25の確認は、ステップS11−20において予め定められた第2の監視時間Tm2が経過するまで継続される。この第2の監視時間Tm2の計時は、搬入アーム41がボンディングステージ20に再度降下した時点(ステップS15−18)から開始される。   In step S15-19, it is confirmed whether or not the substrate suction sensor 25 is in an ON state, and the confirmation of the substrate suction sensor 25 is continued until a second monitoring time Tm2 predetermined in step S11-20 has elapsed. The The timing of the second monitoring time Tm2 is started when the carry-in arm 41 is lowered again to the bonding stage 20 (step S15-18).

第2の監視時間Tm2中に基板吸着センサ25がオフ状態となってことが検出された場合は、押さえ付けを行ったにもかかわらず、FPC基板3が台部20aに対して撓みや反りのある不適切な状態で保持されている。この場合、ステップS15−24において、エラーと判断され、電子部品実装装置1の動作が停止される。   If it is detected that the substrate suction sensor 25 is in the OFF state during the second monitoring time Tm2, the FPC board 3 is not bent or warped with respect to the base portion 20a despite being pressed. It is held in some inappropriate state. In this case, an error is determined in step S15-24, and the operation of the electronic component mounting apparatus 1 is stopped.

一方、第2の監視時間Tm中に基板吸着センサ25がオン状態を維持した場合は、FPC基板3が台部20aに対して撓みや反りのない平坦状態で保持されている。この場合には、ステップS15−21において予め定めらたれ待機時間Twが経過するまで、図17(E)の状態(FPC基板3が台部20aに吸着され、かつ基板吸着機構42のばね47の付勢力により台部20aに押し付けらたれ状態)を維持する。待機時間Twが経過すると、ステップS15−21において、図18に示すように搬入アーム41が高さ位置H3から高さ位置H0まで再度上昇し、FPC基板3の台部20aに対する押さえ付けが終了する。待機時間Twを設けることで、搬入アーム41が高さ位置H2に再度上昇する際に反力によってFPC基板3が台部20aから浮き上がるのを防止することができる。その後、ステップS15−23において実装動作が開始される。   On the other hand, when the substrate suction sensor 25 is kept on during the second monitoring time Tm, the FPC board 3 is held in a flat state with no bending or warping with respect to the base 20a. In this case, the state shown in FIG. 17E (the FPC board 3 is adsorbed to the base 20a and the spring 47 of the board adsorbing mechanism 42 is moved until the standby time Tw predetermined in step S15-21 elapses. The state of being pressed against the base 20a by the urging force is maintained. When the standby time Tw elapses, in step S15-21, the carry-in arm 41 rises again from the height position H3 to the height position H0 as shown in FIG. 18, and the pressing of the FPC board 3 against the base portion 20a is completed. . By providing the waiting time Tw, it is possible to prevent the FPC board 3 from being lifted from the base portion 20a by the reaction force when the carry-in arm 41 is raised again to the height position H2. Thereafter, the mounting operation is started in step S15-23.

図19は、第2実施形態の基板搬送部9の動作の一例であり、基板5が搬送治具2とFPC基板3の組合せである場合を示す。この図19において、時刻T9’から時刻T10’にボンディングステージ20に基板5を載置するために搬入アーム41が第1回目の降下(ステップS15−8)を実行する。時刻T11’から時刻T14’に搬出アーム141に保持された基板5をアンローダ11に搬出した後(ステップS15−14)、時刻T15’から時刻T16’にFPC基板3を台部20aに押し付けるために搬入アーム41が第2回目の降下(ステップS15−18)を実行している。   FIG. 19 is an example of the operation of the substrate transport unit 9 of the second embodiment, and shows a case where the substrate 5 is a combination of the transport jig 2 and the FPC substrate 3. In FIG. 19, in order to place the substrate 5 on the bonding stage 20 from time T9 'to time T10', the carry-in arm 41 performs the first lowering (step S15-8). After unloading the substrate 5 held by the unloading arm 141 from time T11 ′ to time T14 ′ (step S15-14), the FPC substrate 3 is pressed against the base 20a from time T15 ′ to time T16 ′. The carry-in arm 41 performs the second descent (step S15-18).

本実施形態では、FPC基板3が不適正な状態でボンディングステージ20の台部20aに保持されている場合にのみ、搬入アーム41がボンディングステージ20へ最降下して台部20aにFPC基板3を押さえ付けている。従って、ローダ10からボンディングステージ20への基板5の搬入効率を低下させることなく、FPC基板3を撓みや反りのない平坦な状態で台部20aに密着させることができる。   In the present embodiment, only when the FPC board 3 is held on the base 20a of the bonding stage 20 in an inappropriate state, the carry-in arm 41 descends to the bonding stage 20 and the FPC board 3 is placed on the base 20a. I'm holding it down. Therefore, the FPC board 3 can be brought into close contact with the base 20a in a flat state without bending or warping without reducing the efficiency of carrying the board 5 from the loader 10 to the bonding stage 20.

(第3実施形態)
本発明の第3実施形態にかかる電子部品実装装置は、FPC基板3に接触して直接的にボンディングステージ20の台部20aに押し付ける直接型押さえ機構50(図20参照)を備える点が第1実施形態と異なる。また、図21に示すように、搬送治具2の搬送プレート4は1個の開口4cを備え、この開口4cに実装領域3a(図26参照)が臨むように8枚のFPC基板3が取り付けられている。そのため、ボンディングステージ20には8個の台部20aが一例に設けられる。本実施形態のその他の機械的構造は図1から図10を参照して説明した第1実施形態の機械的構造と同様である。
(Third embodiment)
The electronic component mounting apparatus according to the third embodiment of the present invention is provided with a direct pressing mechanism 50 (see FIG. 20) that contacts the FPC board 3 and directly presses against the base 20a of the bonding stage 20. Different from the embodiment. Further, as shown in FIG. 21, the transport plate 4 of the transport jig 2 has one opening 4c, and eight FPC boards 3 are attached so that the mounting region 3a (see FIG. 26) faces the opening 4c. It has been. Therefore, the bonding stage 20 is provided with eight base portions 20a as an example. Other mechanical structures of the present embodiment are the same as those of the first embodiment described with reference to FIGS.

図20から図24を参照すると、直接型押さえ機構50は、搬入アーム41に着脱可能に取り付けるための取付ブラケット51、この取付ブラケット51に固定されたブロック52、ブロック52に昇降可能に装着された8個の押さえ体53とを備える。   Referring to FIGS. 20 to 24, the direct mold pressing mechanism 50 is attached to the carry-in arm 41 so as to be detachable, a block 52 fixed to the mounting bracket 51, and the block 52 is mounted to be movable up and down. Eight pressing bodies 53 are provided.

取付ブラケット51は、上下方向に延びて水平方向に対向する一対の腕部54と、これら腕部54の上端側を連結する連結部55とを備える。各腕部54の上端には一対の貫通孔54aが設けられている。連結部55には水平方向に細長い一対の長孔55aが設けられている。   The mounting bracket 51 includes a pair of arm portions 54 that extend in the vertical direction and face in the horizontal direction, and a connecting portion 55 that connects the upper end sides of the arm portions 54. A pair of through holes 54 a is provided at the upper end of each arm portion 54. The connecting portion 55 is provided with a pair of elongated holes 55a elongated in the horizontal direction.

図22及び図24に示すように、搬入アーム41のビーム41aに設けた一対の貫通孔41dと取付ブラケット51の連結部55の長孔55aに上方からボルト56を貫通し、これらのボルト56の下端を固定金具57に形成した雌ねじ孔に螺合している。ボルト56と固定金具57でビーム41aを上下方向から締め付けることにより、ビーム41aに取付ブラケット51の上端側を固定している。このボルト56と固定金具57による固定により、高さの異なる種々のビーム41aに対して取付ブラケット51を固定することができる。また、腕部54の貫通孔54aに水平方向に貫通させたボルト58を腕部54の外側に配置したナット59に螺合し、ボルト58の先端をビーム41aの側部に押し付けることで、取付ブラケット51のビーム41aに対する固定を補強している。このボルト58とナット59による補強により、幅の異なる種々のビーム41aに対して確実に取付ブラケット51を固定することができる。   As shown in FIGS. 22 and 24, bolts 56 are passed through the pair of through holes 41 d provided in the beam 41 a of the carry-in arm 41 and the long holes 55 a of the connecting portion 55 of the mounting bracket 51 from above. The lower end is screwed into a female screw hole formed in the fixing bracket 57. The upper end side of the mounting bracket 51 is fixed to the beam 41a by tightening the beam 41a from above and below with the bolt 56 and the fixing bracket 57. The mounting bracket 51 can be fixed to various beams 41a having different heights by fixing with the bolt 56 and the fixing bracket 57. In addition, a bolt 58 horizontally penetrated through the through hole 54a of the arm portion 54 is screwed into a nut 59 disposed outside the arm portion 54, and the tip of the bolt 58 is pressed against the side portion of the beam 41a. The fixing of the bracket 51 to the beam 41a is reinforced. By the reinforcement by the bolt 58 and the nut 59, the mounting bracket 51 can be securely fixed to various beams 41a having different widths.

各腕部54の下端側を水平方向に折り曲げて、タブ状部54bが形成されている。図22に示すように、このタブ状部54bには上下方向に延びる長孔54cが形成されている。また、各タブ状部54bの下縁を上下方向に部分的に折り曲げて、受け部54dが形成されている。   A tab-like portion 54b is formed by bending the lower end side of each arm portion 54 in the horizontal direction. As shown in FIG. 22, the tab-like portion 54b is formed with a long hole 54c extending in the vertical direction. Further, a receiving portion 54d is formed by partially bending the lower edge of each tab-like portion 54b in the vertical direction.

ブロック52は全体として水平方向に細長い直方体状であり、鉛直方向に延びて上面から下面に貫通する8個の軸受孔52aが形成されている。また、ブロック52の背面には水平方向に延びる一対の雌ねじ孔52bが形成されている。さらに、ブロック52には鉛直方向に延びて下面から上面に貫通する一対の貫通孔52cが形成されている。   The block 52 has a rectangular parallelepiped shape elongated in the horizontal direction as a whole, and has eight bearing holes 52a extending in the vertical direction and penetrating from the upper surface to the lower surface. A pair of female screw holes 52b extending in the horizontal direction are formed on the back surface of the block 52. Further, the block 52 is formed with a pair of through holes 52c extending in the vertical direction and penetrating from the lower surface to the upper surface.

取付ブラケット51のタブ状部54bにブロック52の背面を当接させ、タブ状部54bの長孔54cに挿通させたボルト61をブロック52の雌ねじ孔52bに螺合することにより、取付ブラケット51に対してブロック52を固定している。図20に示すように、ブロック52はX軸方向(基板搬送方向A)に水平に延びる姿勢で搬入アーム41に対して固定される。貫通孔52cに挿通させて先端を受け部54dに当接させたボルト62を、ブロック52の上面に配置したナットに螺合することにより、取付ブラケット51に対するブロック52の鉛直方向の位置を調節できるようになっている。   The back surface of the block 52 is brought into contact with the tab-shaped portion 54 b of the mounting bracket 51, and the bolt 61 inserted through the long hole 54 c of the tab-shaped portion 54 b is screwed into the female screw hole 52 b of the block 52, thereby On the other hand, the block 52 is fixed. As shown in FIG. 20, the block 52 is fixed to the carry-in arm 41 in a posture extending horizontally in the X-axis direction (substrate carrying direction A). A bolt 62 inserted through the through hole 52c and brought into contact with the receiving portion 54d is screwed into a nut disposed on the upper surface of the block 52, whereby the vertical position of the block 52 relative to the mounting bracket 51 can be adjusted. It is like that.

図23に最も明瞭に示すように、押さえ体53は、軸63、軸63の上端に固定されたカラー64、及び軸63の下端に固定された先端部材65を備える。   As most clearly shown in FIG. 23, the pressing body 53 includes a shaft 63, a collar 64 fixed to the upper end of the shaft 63, and a tip member 65 fixed to the lower end of the shaft 63.

軸63はブロック52の軸受孔52aに摺動自在に挿通されている。カラー64の寸法は軸受孔52aの孔径よりも大きく、カラー64はブロック52からの押さえ体53の脱落を防止する機能、ないしはブロック52に対する押さえ体53の鉛直方向下向きの移動の限界を規定する機能を有する。軸63の下端には大径部63aを設けている。この大径部63aの寸法は軸受孔52aの孔径よりも大きく、大径部63aはブロック52に対する押さえ体53の鉛直方向上向きの移動の限界を規定する機能を有する。   The shaft 63 is slidably inserted into the bearing hole 52 a of the block 52. The size of the collar 64 is larger than the hole diameter of the bearing hole 52 a, and the collar 64 has a function of preventing the pressing body 53 from falling off from the block 52, or a function of defining the limit of the downward movement of the pressing body 53 relative to the block 52. Have A large diameter portion 63 a is provided at the lower end of the shaft 63. The size of the large diameter portion 63 a is larger than the hole diameter of the bearing hole 52 a, and the large diameter portion 63 a has a function of defining the limit of the upward movement of the pressing body 53 relative to the block 52.

軸63には大径部63aの下端面から延びる差込孔63bが形成されている。先端部材65は、フッ素樹脂等の離型性と耐熱性を有する材料からなり、最先端面が平坦な下向きの円錐形である本体65aと、この本体65aの上部から突出する円柱状の差込部65bを備えている。差込部65bには周面には係合溝65cが形成されている。差込部65bを差込孔63bに差し込み、かつ大径部63aに形成した雌ねじ孔63cに螺合したねじ要素66の先端を係合溝65cに係合することにより、先端部材65を軸63に対して固定している。従って、先端部材65は軸63に対して着脱可能である。材質、寸法、形状等が異なる種々の先端部材65を準備し、FPC基板3の材質、寸法、形状等の変更に応じて先端部材65を交換することができる。先端部材65の本体65aの形状は円錐形に限定されず、角錐形状、円柱形状、角柱形状等の他の形状であってもよい。   The shaft 63 is formed with an insertion hole 63b extending from the lower end surface of the large diameter portion 63a. The tip member 65 is made of a material having release properties and heat resistance, such as a fluororesin, and has a main body 65a that is a downwardly-facing conical shape with a flat front end surface, and a cylindrical plug that protrudes from the upper portion of the main body 65a. A portion 65b is provided. An engaging groove 65c is formed on the peripheral surface of the insertion portion 65b. By inserting the insertion portion 65b into the insertion hole 63b and engaging the tip of the screw element 66 screwed into the female screw hole 63c formed in the large diameter portion 63a with the engagement groove 65c, the tip member 65 is moved to the shaft 63. It is fixed against. Therefore, the tip member 65 can be attached to and detached from the shaft 63. Various tip members 65 having different materials, dimensions, shapes, and the like are prepared, and the tip members 65 can be exchanged according to changes in the material, size, shape, etc. of the FPC board 3. The shape of the main body 65a of the tip member 65 is not limited to a conical shape, and may be other shapes such as a pyramid shape, a cylindrical shape, and a prism shape.

図21、図25、及び図26を参照すると、押さえ体53の先端部材65の位置は、FPC基板3の符号67で示す位置と対応するように設定されている。この符号67で示す位置は、撓みや反りが生じやすく、かつACFテープが存在している実装領域3aから外れた領域に設定されている。   Referring to FIGS. 21, 25, and 26, the position of the tip member 65 of the pressing body 53 is set to correspond to the position indicated by the reference numeral 67 of the FPC board 3. The position indicated by reference numeral 67 is set in an area that is likely to be bent or warped and is out of the mounting area 3a where the ACF tape is present.

図27を参照すると、状態1(基板吸着機構42が基板5を保持せず、ローダ10の搬送レール10aよりも上方に位置している状態)では、直接型押さえ機構50の先端部材65の下端は、基板吸着機構42の吸着パッド46の下端よりも距離α(本実施形態では1mm)だけ上方に位置する。図21から図24を併せて参照すると、矢印Cで示すように押さえ体53は自重により下向きに付勢されており、カラー64がブロック52に係止されることで鉛直方向の位置が保持されている。   Referring to FIG. 27, in state 1 (the state in which the substrate suction mechanism 42 does not hold the substrate 5 and is located above the transport rail 10 a of the loader 10), the lower end of the tip member 65 of the direct mold pressing mechanism 50. Is positioned above the lower end of the suction pad 46 of the substrate suction mechanism 42 by a distance α (1 mm in this embodiment). Referring to FIGS. 21 to 24 together, as shown by an arrow C, the pressing body 53 is urged downward by its own weight, and the vertical position is maintained by the collar 64 being locked to the block 52. ing.

次に、状態2(基板5を取り出すために搬送レール10a上に向けて搬入アーム41が降下している状態)では、基板吸着機構42の中空筒部45がばね47の付勢力に抗して押込量ΔL1(本実施形態では2mm)だけ上昇することにより、先端部材65の下端が基板5に接触する。   Next, in state 2 (in which the carry-in arm 41 is lowered toward the transfer rail 10 a to take out the substrate 5), the hollow cylinder portion 45 of the substrate suction mechanism 42 resists the biasing force of the spring 47. The lower end of the tip member 65 comes into contact with the substrate 5 by raising the push amount ΔL1 (2 mm in this embodiment).

状態3(基板吸着機構42に保持した基板5をローダ10の搬送レール10aの上方の空中で搬送している状態)、及び状態4(基板吸着機構42に保持した基板5がボンディングステージ20の直上に位置するように、搬入アーム41が降下した状態)では、基板吸着機構42に保持された基板5は搬送レール10aやボンディングステージ20に対して非接触であるので(押込量が0)、先端部材65の下端は、基板吸着機構42の吸着パッド46の下端よりも距離α(本実施形態では1mm)だけ上方に位置する。   State 3 (state in which the substrate 5 held by the substrate suction mechanism 42 is transported in the air above the transport rail 10a of the loader 10) and state 4 (the substrate 5 held by the substrate suction mechanism 42 is directly above the bonding stage 20) Since the substrate 5 held by the substrate suction mechanism 42 is not in contact with the transport rail 10a and the bonding stage 20 (the pushing amount is 0) in the state where the carry-in arm 41 is lowered so as to be positioned at the position of The lower end of the member 65 is positioned above the lower end of the suction pad 46 of the substrate suction mechanism 42 by a distance α (1 mm in this embodiment).

状態5(基板吸着機構42に保持した基板5がボンディングステージ20に載置された状態)では、基板吸着機構42がばね47の付勢力に抗して、押込量ΔL2(本実施形態では2mm)だけ上向きに変位するので、先端部材65の下端が基板5に接触する。   In state 5 (the state in which the substrate 5 held by the substrate suction mechanism 42 is placed on the bonding stage 20), the substrate suction mechanism 42 resists the urging force of the spring 47, and the pushing amount ΔL2 (2 mm in this embodiment). Therefore, the lower end of the tip member 65 comes into contact with the substrate 5.

図25及び図26を併せて参照すると、ボンディングステージ20に載置されたFPC基板3により先端部材65が自重に抗して上向きに押し込まれる。従って、反りや撓みが生じやすい位置67において、押さえ体53が自重によりFPC基板3を下向きに付勢して台部20aに押さえ付ける。その結果、FPC基板3を撓みや反りのない平坦な状態で台部20a上に配置し、台部20aに密着させることができる。先端部材65の押込量は基板吸着機構42の押込量ΔL2(2mm)から距離α(1mm)を引いた差(1mm)である。   Referring to FIGS. 25 and 26 together, the tip member 65 is pushed upward against its own weight by the FPC board 3 placed on the bonding stage 20. Therefore, at a position 67 where warping or bending is likely to occur, the pressing body 53 urges the FPC board 3 downward by its own weight and presses it against the base 20a. As a result, the FPC board 3 can be arranged on the base 20a in a flat state without bending or warping, and can be brought into close contact with the base 20a. The pushing amount of the tip member 65 is a difference (1 mm) obtained by subtracting the distance α (1 mm) from the pushing amount ΔL2 (2 mm) of the substrate suction mechanism 42.

本実施形態では、押さえ体53が自重によりFPC基板3を押さえ付けるので、比較的簡易な構成でFPC基板3をステージに密着させることができる。また、押さえ体53の自重によりFPC基板3を押さえ付けるので、高さ位置H3がある程度変化しても、FPC基板3に作用する付勢力は一定に保持される。   In this embodiment, since the pressing body 53 presses the FPC board 3 by its own weight, the FPC board 3 can be brought into close contact with the stage with a relatively simple configuration. In addition, since the FPC board 3 is pressed by the weight of the pressing body 53, even if the height position H3 changes to some extent, the urging force acting on the FPC board 3 is kept constant.

第3実施形態の電子部品実装装置における基板搬送部9の動作として、第1実施形態の動作又は第2実施形態の動作のいずれを採用してもよい。すなわち、図11A及び図11Bを参照して説明したように、搬入位置P1からボンディングステージ20に基板5を搬送する際に、FPC基板3を台部20aに押し付けるための搬入アーム41の降下を常に実行してもよい(ステップS11−14〜S11−19)。また、図15A及び図15Bを参照して説明したように、搬入位置P1からボンディングステージ20に基板5を搬送する際に、台部20aにFPC基板3が適切に吸着保持されていない場合にのみ、FPC基板3を台部20aに押し付けるための搬入アーム41の降下を実行してもよい(ステップS15−14〜S15−22)。   Either the operation of the first embodiment or the operation of the second embodiment may be adopted as the operation of the board transport unit 9 in the electronic component mounting apparatus of the third embodiment. That is, as described with reference to FIGS. 11A and 11B, when the substrate 5 is transferred from the loading position P1 to the bonding stage 20, the lowering of the loading arm 41 for pressing the FPC substrate 3 against the base 20a is always performed. It may be executed (steps S11-14 to S11-19). Further, as described with reference to FIGS. 15A and 15B, when the substrate 5 is transported from the loading position P1 to the bonding stage 20, only when the FPC substrate 3 is not properly sucked and held on the base 20a. The carry-in arm 41 may be lowered to press the FPC board 3 against the platform 20a (steps S15-14 to S15-22).

図28に示すように、ブロック52に一対の案内軸68を昇降可能に取り付け、これらの案内軸68の下端に固定した共通の取付部69に先端部材65を着脱可能に取り付けてもよい。   As shown in FIG. 28, a pair of guide shafts 68 may be attached to the block 52 so as to be movable up and down, and the tip member 65 may be detachably attached to a common attachment portion 69 fixed to the lower ends of these guide shafts 68.

また、前述のように先端部材65がFPC基板3に接触する位置67は、反りや撓みが生じやすい領域であって、かつACFテープ等が存在しない領域に設定する必要がある。一般に、FPC基板は断面積が急変している領域(厚みが一定の場合には平面視での形状が急変している部分)で撓みや反りが生じやすい。例えば、図29(A),(B)に示すFPC基板3の場合、平面視での形状が急変し、かつACFテープ90等が存在しない領域にある位置67に先端部材65を接触させることが好ましい。   Further, as described above, the position 67 where the tip member 65 comes into contact with the FPC board 3 needs to be set in a region where warping or bending is likely to occur and no ACF tape or the like exists. In general, the FPC board is likely to bend or warp in a region where the cross-sectional area is abruptly changed (a portion where the shape in plan view is abruptly changed when the thickness is constant). For example, in the case of the FPC board 3 shown in FIGS. 29 (A) and 29 (B), the tip member 65 may be brought into contact with a position 67 in a region where the shape in plan view changes suddenly and the ACF tape 90 or the like does not exist. preferable.

(第4実施形態)
本発明の第4実施形態にかかる電子部品実装装置は、FPC基板3ではなく搬送治具2に接触して下方に付勢し、それによって間接的にFPC基板3をボンディングステージ20の台部20aに押し付ける間接型押さえ機構70(図30参照)を備える点が第1実施形態と異なる。また、図34から図36に示すように、搬送治具2は、分離可能に互いに重ね合わせられた上側搬送プレート71と下側搬送プレート72とを備え、これら上側及び下側搬送プレート71,72間に10枚のFPC基板3を挟み込んで保持している。上側搬送プレート71には2つの開口71a,71bが設けられ、これらの開口71a,71bにFPC基板3の実装領域3aが臨んでいる。ボンディングステージ20の上面にはピン20eが突設されており、搬送治具2をボンディングステージ20上に載置すると、ピン20eが上側及び下側搬送プレート72に設けられた孔を貫通する。基板吸着機構42は、吸着ノズル44の吸着パッド46が図6において符号43で示すように下側搬送プレート72の四隅を吸着するように、搬入アーム41に配置されている。
(Fourth embodiment)
The electronic component mounting apparatus according to the fourth embodiment of the present invention is not in contact with the FPC board 3 but in contact with the conveying jig 2 and biased downward, thereby indirectly mounting the FPC board 3 on the base 20a of the bonding stage 20. The second embodiment is different from the first embodiment in that an indirect type pressing mechanism 70 (see FIG. 30) is pressed against the first embodiment. Further, as shown in FIGS. 34 to 36, the transport jig 2 includes an upper transport plate 71 and a lower transport plate 72 that are detachably overlapped with each other, and these upper and lower transport plates 71, 72 are provided. Ten FPC boards 3 are sandwiched and held therebetween. The upper transport plate 71 is provided with two openings 71a and 71b, and the mounting area 3a of the FPC board 3 faces the openings 71a and 71b. A pin 20 e is projected on the upper surface of the bonding stage 20, and when the transport jig 2 is placed on the bonding stage 20, the pin 20 e passes through holes provided in the upper and lower transport plates 72. The substrate suction mechanism 42 is disposed on the carry-in arm 41 so that the suction pad 46 of the suction nozzle 44 sucks the four corners of the lower transport plate 72 as indicated by reference numeral 43 in FIG.

図30及び図31を参照すると、合計11個の間接型押さえ機構70が搬入アーム41に取り付けられている。搬入アーム41のビーム41cの中央部には、X軸方向(基板搬送方向A)に延びる補助ビーム73がボルト74によって着脱可能に取り付けられ、この補助ビーム73の一方の側面(図において手前側の側面)には水平方向に延びる支持部材75を介して3個の間接型押さえ機構70が取り付けられている。また、他方の側面(図において奥側の側面)には支持部材75を介して2個の間接型押さえ機構70が取り付けられている。また、ビーム41cの基端側と先端側にもそれぞれX軸方向に延びる補助ビーム76がボルト77によって着脱可能に取り付けられ、これらの補助ビーム76には水平方向に延びる支持部材75を介して3個の間接型押さえ機構70が取り付けられている。図34を併せて参照すると、11個の間接型押さえ機構70は、後述する押圧パッド77が上側搬送プレート71に接触する位置が符号88に示すように均一に分布するように配置されている。しかし、間接型押さえ機構70の数及び配置はこれに限定されず、搬送治具2及びFPC基板3の材質、寸法、及び形状等に応じて、FPC基板3が確実に台部20aに対して押さえ付けられるように配置すればよい。本実施形態のその他の機械的構造は図1から図10を参照して説明した第1実施形態の機械的構造と同様である。   Referring to FIGS. 30 and 31, a total of 11 indirect pressing mechanisms 70 are attached to the carry-in arm 41. An auxiliary beam 73 extending in the X-axis direction (substrate transport direction A) is detachably attached to the central portion of the beam 41c of the carry-in arm 41 by a bolt 74, and one side surface of this auxiliary beam 73 (on the front side in the figure). Three indirect pressing mechanisms 70 are attached to the side surface via support members 75 extending in the horizontal direction. In addition, two indirect pressing mechanisms 70 are attached to the other side surface (the back side surface in the drawing) via a support member 75. Further, auxiliary beams 76 extending in the X-axis direction are detachably attached to the proximal end side and the distal end side of the beam 41c by bolts 77, respectively, and these auxiliary beams 76 are connected through a support member 75 extending horizontally. Indirect type pressing mechanisms 70 are attached. Referring also to FIG. 34, the eleven indirect presser mechanisms 70 are arranged such that positions where a press pad 77 described later contacts the upper transport plate 71 are uniformly distributed as indicated by reference numeral 88. However, the number and arrangement of the indirect mold pressing mechanisms 70 are not limited to this, and the FPC board 3 is surely attached to the base portion 20a according to the material, size, shape, and the like of the transport jig 2 and the FPC board 3. What is necessary is just to arrange | position so that it may hold down. Other mechanical structures of the present embodiment are the same as those of the first embodiment described with reference to FIGS.

図31及び図32を参照すると、間接型押さえ機構70は外周にねじ部79aを形成したハウジング79を備えている。支持部材75に設けた貫通孔75aにハウジング79を挿通し、ねじ部79aに螺合したナット80,81で支持部材75を上面及び下面から締め付けることで、ハウジング79を支持部材75に固定している。   Referring to FIGS. 31 and 32, the indirect type pressing mechanism 70 includes a housing 79 having a threaded portion 79a formed on the outer periphery. The housing 79 is fixed to the support member 75 by inserting the housing 79 into the through hole 75a provided in the support member 75 and tightening the support member 75 from the upper surface and the lower surface with nuts 80 and 81 screwed into the threaded portion 79a. Yes.

ハウジング79には鉛直方向に延びて上面から下面まで貫通する案内孔79cが形成されている。この案内孔79cには軸82の上端側が摺動可能に収容されている。軸82の下端には雌ねじ孔82aが形成されている。この雌ねじ孔82aには、短い円柱状の押圧パッド77を下端に装着した取換部材83のねじ部83aが螺合している。一方、軸82の上端側にはカラー部82bが設けられている。このカラー部82bが案内孔79cに形成された段部79dに係止されることにより、軸82の鉛直方向下向きの移動が規制される。軸82、取換部材83、及び押圧パッド77は本発明の第2の押さえ体を構成する。   The housing 79 is formed with a guide hole 79c extending in the vertical direction and penetrating from the upper surface to the lower surface. The upper end side of the shaft 82 is slidably accommodated in the guide hole 79c. A female screw hole 82 a is formed at the lower end of the shaft 82. A threaded portion 83a of a replacement member 83 having a short cylindrical pressing pad 77 attached to the lower end is screwed into the female screw hole 82a. On the other hand, a collar portion 82 b is provided on the upper end side of the shaft 82. The collar portion 82b is locked to a stepped portion 79d formed in the guide hole 79c, whereby the downward movement of the shaft 82 in the vertical direction is restricted. The shaft 82, the replacement member 83, and the pressing pad 77 constitute a second pressing body of the present invention.

押圧パッド77は、耐熱ゴム、シリコン等の弾力性と耐熱性を有する材料からなる。取換部材83と共に押圧パッド77を軸82から取り外すことができる。従って、材質、寸法、形状等が異なる押圧パッド77を装着し種々の取換部材83を準備し、搬送治具2やFPC基板3の材質、寸法、形状等に応じて押圧パッド77を交換することができる。例えば、図33(A)に示すように比較的小径の円錐台形状の押圧パッド77や、図33(B)に示すように比較的大径の円錐台形状の押圧パッド77を使用してもよい。   The pressing pad 77 is made of a material having elasticity and heat resistance such as heat-resistant rubber and silicon. The pressing pad 77 can be removed from the shaft 82 together with the replacement member 83. Accordingly, the pressure pads 77 of different materials, dimensions, shapes, etc. are mounted to prepare various replacement members 83, and the pressure pads 77 are replaced according to the materials, dimensions, shapes, etc. of the conveying jig 2 and the FPC board 3. be able to. For example, a relatively small-diameter truncated cone-shaped press pad 77 as shown in FIG. 33A or a relatively large-diameter truncated cone-shaped press pad 77 as shown in FIG. 33B may be used. Good.

ハウジング79の案内孔79cの上部には雌ねじ部79eが設けられ、この雌ねじ部79eには調節部材85の外周のねじ部85aが螺合している。調節部材85の下面に形成された凹部85aと軸82のカラー部との間にはばね86が圧縮状態で配置されている。このばね86は矢印Dで示すように軸82を弾性的に付勢している。このばね86による付勢力は、調節部材85を回転させて案内孔79cへの差込量を変化させることにより、搬送治具2やFPC基板3の材質、寸法、及び形状等に応じて調節することができる。   A female threaded portion 79e is provided in the upper portion of the guide hole 79c of the housing 79, and a threaded portion 85a on the outer periphery of the adjusting member 85 is screwed into the female threaded portion 79e. A spring 86 is disposed in a compressed state between a recess 85 a formed on the lower surface of the adjustment member 85 and the collar portion of the shaft 82. The spring 86 elastically biases the shaft 82 as indicated by an arrow D. The urging force by the spring 86 is adjusted according to the material, size, shape, and the like of the transport jig 2 and the FPC board 3 by rotating the adjusting member 85 to change the amount of insertion into the guide hole 79c. be able to.

図37を参照すると、状態1では、間接型押さえ機構70の押圧パッド77の下端は、基板吸着機構42の吸着パッド46の下端よりも距離β(本実施形態では1mm)だけ上方に位置する。図32を併せて参照すると、矢印Dで示すように軸82は、ばね86により下向きに付勢されており、カラー部82bが段部79dに係止されることで鉛直方向の位置が保持されている。   Referring to FIG. 37, in state 1, the lower end of the pressing pad 77 of the indirect mold pressing mechanism 70 is positioned above the lower end of the suction pad 46 of the substrate suction mechanism 42 by a distance β (1 mm in this embodiment). Referring also to FIG. 32, the shaft 82 is urged downward by a spring 86 as indicated by an arrow D, and the collar portion 82b is locked to the stepped portion 79d to maintain the vertical position. ing.

次に、状態2では、基板吸着機構42の中空筒部45がばね47の付勢力に抗して押込量ΔL1(本実施形態では2mm)だけ上昇することにより、間接型押さえ機構70の押圧パッド77が基板5に接触する。   Next, in the state 2, the hollow cylinder portion 45 of the substrate suction mechanism 42 rises by the pushing amount ΔL1 (2 mm in this embodiment) against the urging force of the spring 47, whereby the pressing pad of the indirect mold pressing mechanism 70 is reached. 77 contacts the substrate 5.

状態3及び状態4では、基板吸着機構42に保持された基板5は搬送レール10aやボンディングステージ20に対して非接触であるので(押込量が0)、押圧パッド77の下端は、基板吸着機構42の吸着パッド46の下端よりも距離βだけ上方に位置する。   In states 3 and 4, since the substrate 5 held by the substrate suction mechanism 42 is not in contact with the transport rail 10a and the bonding stage 20 (the pushing amount is 0), the lower end of the pressing pad 77 is the substrate suction mechanism. It is located above the lower end of 42 suction pads 46 by a distance β.

状態5(基板吸着機構42に保持した基板5がボンディングステージ20に載置された状態)では、基板吸着機構42がばね47の付勢力に抗して、押込量ΔL2(本実施形態では2mm)だけ上向きに変位するので、押圧パッド77の下端が基板5に接触する。   In state 5 (the state in which the substrate 5 held by the substrate suction mechanism 42 is placed on the bonding stage 20), the substrate suction mechanism 42 resists the urging force of the spring 47, and the pushing amount ΔL2 (2 mm in this embodiment). Therefore, the lower end of the pressing pad 77 comes into contact with the substrate 5.

図32、図35、及び図35を併せて参照すると、ボンディングステージ20に載置されたFPC基板3により押圧パッド77がばね86の弾性的付勢力に抗して上向きに押し込まれる。従って、図34におい符号88で示す位置において、押圧パッド77がばね86の付勢力により上側搬送プレート71を下向きに付勢する。そして、上側搬送プレート71が下向きに付勢されることで、FPC基板3が台部20aの上面に押さえ付けられる。その結果、FPC基板3を撓みや反りのない平坦な状態で台部20a上に配置し、台部20aに密着させることができる。押圧パッド77の押込量は基板吸着機構42の押込量ΔL2(2mm)から距離β(1mm)を引いた差(1mm)である。   Referring to FIGS. 32, 35, and 35 together, the pressing pad 77 is pushed upward against the elastic biasing force of the spring 86 by the FPC board 3 placed on the bonding stage 20. 34, the pressing pad 77 urges the upper transport plate 71 downward by the urging force of the spring 86. Then, the upper conveyance plate 71 is urged downward, whereby the FPC board 3 is pressed against the upper surface of the base portion 20a. As a result, the FPC board 3 can be arranged on the base 20a in a flat state without bending or warping, and can be brought into close contact with the base 20a. The pressing amount of the pressing pad 77 is a difference (1 mm) obtained by subtracting the distance β (1 mm) from the pressing amount ΔL2 (2 mm) of the substrate suction mechanism 42.

間接型押さえ機構70の押圧パッド77は、FPC基板3ではなく上側搬送プレート71に接触するので、FPC基板3の損傷や、FPC基板3上のACFテープの付着等を生じることがない。   Since the pressing pad 77 of the indirect pressing mechanism 70 contacts the upper transport plate 71 instead of the FPC board 3, damage to the FPC board 3 and adhesion of the ACF tape on the FPC board 3 do not occur.

第4実施形態の電子部品実装装置における基板搬送部9の動作として、第1実施形態の動作又は第2実施形態の動作のいずれを採用してもよい。すなわち、図11A及び図11Bを参照して説明したように、搬入位置P1からボンディングステージ20に基板5を搬送する際に、FPC基板3を台部20aに押し付けるための搬入アーム41の降下を常に実行してもよい(ステップS11−14〜S11−19)。また、図15A及び図15Bを参照して説明したように、搬入位置P1からボンディングステージ20に基板5を搬送する際に、台部20aにFPC基板3が適切に吸着保持されていない場合にのみ、FPC基板3を台部20aに押し付けるための搬入アーム41の降下を実行してもよい(ステップS15−14〜S15−22)。   Either the operation of the first embodiment or the operation of the second embodiment may be adopted as the operation of the board transport unit 9 in the electronic component mounting apparatus of the fourth embodiment. That is, as described with reference to FIGS. 11A and 11B, when the substrate 5 is transferred from the loading position P1 to the bonding stage 20, the lowering of the loading arm 41 for pressing the FPC substrate 3 against the base 20a is always performed. It may be executed (steps S11-14 to S11-19). Further, as described with reference to FIGS. 15A and 15B, when the substrate 5 is transported from the loading position P1 to the bonding stage 20, only when the FPC substrate 3 is not properly sucked and held on the base 20a. The carry-in arm 41 may be lowered to press the FPC board 3 against the platform 20a (steps S15-14 to S15-22).

本発明は前記実施形態に限定されず、種々の変形が可能である。例えば、直接型押さえ機構50と間接型押さえ機構70を併用してもよい。また、搬送治具を使用せずにFPC基板を搬送してもよい。また、本発明の対象は、FPC基板に限定されず、可撓性を有する基板であればよい。さらに、基板搬入装置27と基板搬出装置127はX軸方向に互いに独立して移動可能であってもよい。FPC基板3を2回以上台部20aに対して押さえ付けてもよい。さらにまた、直接型押さえ機構50の場合に、押さえ体53をばねで付勢する構成としてもよい。第4実施形態(間接押さえ型機構)の場合に、搬送治具2が1枚の搬送プレート4からなるものでもよい。逆に、第3実施形態(直接型押さえ機構)の場合に、搬送治具2が上側及び下側搬送プレート71,72からなるものでもよい。   The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications are possible. For example, the direct mold pressing mechanism 50 and the indirect mold pressing mechanism 70 may be used in combination. Further, the FPC board may be transported without using a transport jig. The subject of the present invention is not limited to an FPC board, but may be a flexible board. Further, the substrate carry-in device 27 and the substrate carry-out device 127 may be movable independently of each other in the X-axis direction. The FPC board 3 may be pressed against the base part 20a two or more times. Furthermore, in the case of the direct mold pressing mechanism 50, the pressing body 53 may be biased by a spring. In the case of the fourth embodiment (indirect pressing type mechanism), the conveying jig 2 may be composed of a single conveying plate 4. Conversely, in the case of the third embodiment (direct mold pressing mechanism), the transport jig 2 may be composed of upper and lower transport plates 71 and 72.

本発明の第1実施形態に係る電子部品実装装置を示す斜視図。The perspective view which shows the electronic component mounting apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 基板搬送装置を示す図1の+Y方向での斜視図。The perspective view in the + Y direction of FIG. 1 which shows a board | substrate conveyance apparatus. 基板搬送装置を示す図1の−Y方向での斜視図。The perspective view in the -Y direction of FIG. 1 which shows a board | substrate conveyance apparatus. 図2のIV−IV線での断面図。Sectional drawing in the IV-IV line of FIG. 保持ノズルを示す部分拡大斜視図。The partial expansion perspective view which shows a holding nozzle. 基板とボンディングステージを示す斜視図。The perspective view which shows a board | substrate and a bonding stage. 基板が載置されたボンディングステージを示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the bonding stage in which the board | substrate was mounted. 図7の部分平面図。FIG. 8 is a partial plan view of FIG. 7. 基板、ボンディングステージ、及び基板搬送装置が移動する位置を説明するための概略平面図。The schematic plan view for demonstrating the position to which a board | substrate, a bonding stage, and a board | substrate conveyance apparatus move. 基板搬入装置の高さ位置の変化を説明するための概略正面図。The schematic front view for demonstrating the change of the height position of a board | substrate carrying-in apparatus. 第1実施形態における基板搬送装置の動作を説明するためのフローチャート。The flowchart for demonstrating operation | movement of the board | substrate conveyance apparatus in 1st Embodiment. 第1実施形態における基板搬送装置の動作を説明するためのフローチャート。The flowchart for demonstrating operation | movement of the board | substrate conveyance apparatus in 1st Embodiment. (A)〜(E)は基板搬送装置による基板の供給及び排出動作を示す模式説明図。(A)-(E) are model explanatory drawings which show the supply and discharge operation | movement of the board | substrate by a board | substrate conveyance apparatus. (A)〜(E)は基板搬送装置による基板の供給及び排出動作を示す模式説明図。(A)-(E) are model explanatory drawings which show the supply and discharge operation | movement of the board | substrate by a board | substrate conveyance apparatus. 基板搬送装置による基板の供給及び排出動作のタイミングチャート。6 is a timing chart of substrate supply and discharge operations by the substrate transfer apparatus. 第2実施形態における基板搬送装置の動作を説明するためのフローチャート。The flowchart for demonstrating operation | movement of the board | substrate conveyance apparatus in 2nd Embodiment. 第2実施形態における基板搬送装置の動作を説明するためのフローチャート。The flowchart for demonstrating operation | movement of the board | substrate conveyance apparatus in 2nd Embodiment. (A)〜(E)は第2実施形態における基板搬送装置による基板の供給及び排出動作を示す模式説明図。(A)-(E) are model explanatory drawings which show the supply and discharge | emission operation | movement of the board | substrate by the board | substrate conveyance apparatus in 2nd Embodiment. (A)〜(E)は第2実施形態における基板搬送装置による基板の供給及び排出動作を示す模式説明図。(A)-(E) are model explanatory drawings which show the supply and discharge | emission operation | movement of the board | substrate by the board | substrate conveyance apparatus in 2nd Embodiment. 第2実施形態における基板搬送装置による基板の供給及び排出動作を示す模式説明図。The model explanatory drawing which shows the supply and discharge | emission operation | movement of the board | substrate by the board | substrate conveyance apparatus in 2nd Embodiment. 基板搬送装置による基板の供給及び排出動作のタイミングチャート。6 is a timing chart of substrate supply and discharge operations by the substrate transfer apparatus. 第3実施形態における基板搬送装置を示す斜視図。The perspective view which shows the board | substrate conveyance apparatus in 3rd Embodiment. 直接型押さえ機構を示す斜視図。The perspective view which shows a direct mold pressing mechanism. 直接型押さえ機構を示す背面図。The rear view which shows a direct mold pressing mechanism. 図22のXXIII−XXIII線での断面図。Sectional drawing in the XXIII-XXIII line of FIG. 直接型押さえ機構を示す側面図。The side view which shows a direct mold pressing mechanism. 基板が載置されたボンディングステージを示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the bonding stage in which the board | substrate was mounted. 図25の部分平面図。FIG. 26 is a partial plan view of FIG. 25. 基板搬入装置の高さ位置の変化を説明するための概略正面図。The schematic front view for demonstrating the change of the height position of a board | substrate carrying-in apparatus. 直接型押さえ機構の変形例を示す背面図。The rear view which shows the modification of a direct type | mold pressing mechanism. (A)及び(B)はFPC基板の他の例を示す部分平面図。(A) And (B) is a partial top view which shows the other example of an FPC board | substrate. 第3実施形態における基板搬送装置を示す斜視図。The perspective view which shows the board | substrate conveyance apparatus in 3rd Embodiment. (A)及び(B)は間接型押さえ機構を示す斜視図。(A) And (B) is a perspective view which shows an indirect type pressing mechanism. 図31(A),(B)の線XXXII−XXXIIでの断面図。FIG. 32 is a cross-sectional view taken along line XXXII-XXXII in FIGS. (A)及び(B)はパッドの他の例を示す部分断面図。(A) And (B) is a fragmentary sectional view showing other examples of a pad. 基板とボンディングステージを示す斜視図。The perspective view which shows a board | substrate and a bonding stage. 基板が載置されたボンディングステージを示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the bonding stage in which the board | substrate was mounted. 図36の部分平面図。FIG. 37 is a partial plan view of FIG. 36. 基板搬入装置の高さ位置の変化を説明するための概略正面図。The schematic front view for demonstrating the change of the height position of a board | substrate carrying-in apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1 電子部品実装装置
2 搬送治具
3 FPC基板
3a 実装領域
4 搬送プレート
4a,4b 開口
5 基板
6 機台
7 部品供給部
8 実装部
9 基板搬送部
10 ローダ
10a 搬送レール
10b 端部
11 アンローダ
11a 搬送レール
12 コントローラ
14 リフター
15 供給部品配置装置
16 反転ヘッド装置
17 認識カメラ
19 実装ヘッド装置
20 ボンディングステージ
20a 台部
20b 支持部
20c 基板吸着孔
20d 流路
21 基板規制装置
21a 基準部
21b,21c,21d 可動部材
22 XYテーブル
23 管路
24 真空吸引装置
25 基板吸着センサ
26 ヒータ
27 基板搬入装置
30 直動ガイド(水平)
30a ガイドレール
30b スライダ
31 ナット
32 ボールねじ軸
33 直動ガイド
33a ガイドレール
33b スライダ
34,35 シリンダ
36
37,38 シリンダブラケット
39 シャフト
40 アームブラケット
41 搬入アーム
41a,41b,41c ビーム
42 基板吸着機構
43 真空吸引装置
44 吸着ノズル
45 中空筒部
46a 吸込口
46 吸着パッド
47 ばね
48 隙間
50 直接型押さえ機構
51 取付ブラケット
52 ブロック
52a 軸受孔
52b 雌ねじ孔
52c 貫通孔
53 押さえ体
54 腕部
54a 貫通孔
54b タブ状部
54c 長孔
54d 受け部
55 連結部
55a 長孔
56 ボルト
57 固定金具
58 ボルト
59 ナット
61 ボルト
62 ボルト
63 軸
63a 大径部
63b 差込孔
63c 雌ねじ孔
64 カラー
65 先端部材
65a 本体
65b 差込部
65c 係合溝
66 ねじ要素
67 位置
68 案内軸
69 取付部
70 間接型押さえ機構
71 上側搬送プレート
71a,71b 開口
72 下側搬送プレート
73 補助ビーム
74 ボルト
75 支持部材
75a 貫通孔
76 補助ビーム
77 押圧パッド
79 ハウジング
79a ねじ部
79c 案内孔
79d 段部
79e 雌ねじ部
80,81 ナット
82 軸
82a 雌ねじ孔
83 取換部材
83a ねじ部
85 調節部材
86 ばね
127 基板搬出装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Electronic component mounting apparatus 2 Conveying jig 3 FPC board 3a Mounting area 4 Conveying plate 4a, 4b Opening 5 Substrate 6 Machine stand 7 Component supply part 8 Mounting part 9 Substrate conveying part 10 Loader 10a Conveying rail 10b End part 11 Unloader 11a Conveying Rail 12 Controller 14 Lifter 15 Supply component placement device 16 Reversing head device 17 Recognition camera 19 Mounting head device 20 Bonding stage 20a Base portion 20b Support portion 20c Substrate suction hole 20d Flow path 21 Substrate regulating device 21a Reference portions 21b, 21c, 21d Movable Member 22 XY table 23 Pipe line 24 Vacuum suction device 25 Substrate adsorption sensor 26 Heater 27 Substrate carry-in device 30 Linear motion guide (horizontal)
30a Guide rail 30b Slider 31 Nut 32 Ball screw shaft 33 Linear motion guide 33a Guide rail 33b Slider 34, 35 Cylinder 36
37, 38 Cylinder bracket 39 Shaft 40 Arm bracket 41 Carry-in arm 41a, 41b, 41c Beam 42 Substrate suction mechanism 43 Vacuum suction device 44 Suction nozzle 45 Hollow cylindrical portion 46a Suction port 46 Suction pad 47 Spring 48 Gap 50 Direct mold pressing mechanism 51 Mounting bracket 52 Block 52a Bearing hole 52b Female screw hole 52c Through hole 53 Presser body 54 Arm part 54a Through hole 54b Tab-like part 54c Long hole 54d Receiving part 55 Connection part 55a Long hole 56 Bolt 57 Fixing bracket 58 Bolt 59 Nut 61 Bolt 62 Bolt 63 Shaft 63a Large diameter portion 63b Insertion hole 63c Female screw hole 64 Collar 65 Tip member 65a Main body 65b Insertion portion 65c Engagement groove 66 Screw element 67 Position 68 Guide shaft 69 Mounting portion 70 Indirect presser mechanism 71 Upper transport plate 71a, 71b Opening 72 Lower transport plate 73 Auxiliary beam 74 Bolt 75 Support member 75a Through hole 76 Auxiliary beam 77 Press pad 79 Housing 79a Screw part 79c Guide hole 79d Step part 79e Female thread part 80, 81 Nut 82 Shaft 82a Female screw hole 83 Replacement member 83a Screw part 85 Adjustment member 86 Spring 127 Substrate unloading device

Claims (17)

搬送治具(2)に保持された可撓性基板(3)を、この可撓性基板の供給位置(P1)から、この可撓性基板が載置されて保持されるステージ(20)へ搬入する基板搬入装置(27)であって、
前記搬送治具を解除可能に保持する保持体(45,46)と、この保持体を下向きに弾性的に付勢する第1の弾性部材(47)とを備える保持機構(42)と、
前記保持機構を設けた移動体(41)を、前記供給位置から前記ステージへ向かう前記可撓性基板の搬入方向に移動させ、かつ昇降させる保持機構移動部(13,30,33,34,35)と、
前記供給位置で前記搬送治具を保持した前記保持機構が前記ステージ上方まで前記搬入方向に移動し、前記可撓性基板と前記ステージとの間に間隔が存在する第1の高さ位置(H0,H2)から前記ステージ上に前記可撓性基板が載置される第2の高さ位置(H3)まで前記保持機構が降下するように、前記保持機構と前記保持機構移動部を制御する制御部(12)と、
前記移動体に設けられ、前記搬送治具を保持した前記保持機構が前記ステージに対して前記第2の高さ位置まで降下すると、前記可撓性基板を前記ステージに押さえ付ける押さえ機構(42,50,70)と
を備えることを特徴とする基板搬入装置。
The flexible substrate (3) held by the transfer jig (2) is transferred from the supply position (P1) of the flexible substrate to the stage (20) on which the flexible substrate is placed and held. A substrate carrying-in device (27) for carrying in,
A holding mechanism (42) comprising a holding body (45, 46) for releasably holding the conveying jig, and a first elastic member (47) that elastically biases the holding body downward;
A holding mechanism moving section (13, 30, 33, 34, 35) for moving the moving body (41) provided with the holding mechanism in the loading direction of the flexible substrate from the supply position toward the stage and moving up and down. )When,
The holding mechanism that holds the transfer jig at the supply position moves in the carry-in direction to above the stage, and a first height position (H0) where an interval exists between the flexible substrate and the stage. , H2) to control the holding mechanism and the holding mechanism moving unit so that the holding mechanism descends to the second height position (H3) where the flexible substrate is placed on the stage. Part (12);
A holding mechanism (42, 42) that presses the flexible substrate against the stage when the holding mechanism that is provided on the movable body and holds the conveying jig descends to the second height position with respect to the stage. 50, 70) and a board carrying-in apparatus.
前記保持体及び前記第1の弾性部材が前記押さえ機構を構成し、
前記搬送治具を保持した前記保持機構が前記ステージに対して前記第2の高さ位置に降下すると、前記保持体が前記第1の弾性部材の付勢力に抗して上向きに変位し、前記第1の弾性部材により前記保持体が前記搬送治具を下向きに付勢することで、前記可撓性基板を前記ステージに押さえ付けることを特徴とする、請求項1に記載の基板搬入装置。
The holding body and the first elastic member constitute the pressing mechanism,
When the holding mechanism holding the conveying jig is lowered to the second height position with respect to the stage, the holding body is displaced upward against the urging force of the first elastic member, The substrate carrying-in apparatus according to claim 1, wherein the holding body presses the flexible jig downward with the first elastic member, thereby pressing the flexible substrate against the stage.
前記押さえ機構(50)は、前記移動体に対して固定された第1の固定部(52)と、この第1の固定部に昇降可能に取り付けられ、その先端が前記可撓性基板に対応する位置に配置され、かつそれ自体の自重により下向きに付勢された第1の押さえ体(53)とを備え、
前記保持機構が前記第1の高さ位置にあると、前記第1の押さえ体の先端が前記保持体の先端よりも上方に位置し、
前記保持機構が前記第2の高さ位置に降下すると、前記保持体が前記第1の弾性部材の付勢力に抗して上向きに変位すると共に、前記第1の押さえ体が前記可撓性基板に接触して前記第1の固定部に対して上向きに変位し、前記第1の押さえ体が前記自重により前記可撓性基板を下向きに付勢することで前記可撓性基板を前記ステージに押さえ付けることを特徴とする、請求項1に記載の基板搬入装置。
The pressing mechanism (50) is attached to the first fixing portion (52) fixed to the movable body and the first fixing portion so as to be movable up and down, and the tip thereof corresponds to the flexible substrate. A first presser body (53) disposed at a position to be urged downward by its own weight,
When the holding mechanism is in the first height position, the tip of the first pressing body is located above the tip of the holding body,
When the holding mechanism is lowered to the second height position, the holding body is displaced upward against the urging force of the first elastic member, and the first pressing body is moved to the flexible substrate. In contact with the first fixed portion and displaced upward with respect to the first fixing portion, and the first pressing body biases the flexible substrate downward by its own weight, so that the flexible substrate is placed on the stage. The substrate carrying-in apparatus according to claim 1, wherein the substrate carrying-in apparatus is pressed.
前記第1の押さえ体は、前記第1の固定部に対して昇降可能に装着された上下方向に延びる第1の軸(63)と、この第1の軸の先端に設けられた先端部(65)とを備え、
前記保持機構が前記第2の高さ位置に降下すると、前記先端部の先端が前記可撓性基板に接触することを特徴とする、請求項3に記載の基板搬入装置。
The first pressing body includes a first shaft (63) extending in the up-down direction and attached to the first fixed portion so as to be movable up and down, and a tip portion (at a tip of the first shaft ( 65)
The substrate carrying-in apparatus according to claim 3, wherein when the holding mechanism is lowered to the second height position, a tip of the tip portion contacts the flexible substrate.
前記押さえ機構(70)は、前記移動体に対して固定された第2の固定部(79)と、この第2の固定部に昇降可能に取り付けられ、その先端が前記搬送治具に対応する位置に配置され、かつ第2の弾性部材(86)により下向きに付勢された第2の押さえ体(77,82,83)とを備え、
前記保持機構が前記第1の高さ位置にあると、前記第2の押さえ体の先端が前記保持体の先端よりも上方に位置し、
前記保持機構が前記第2の高さ位置に降下すると、前記保持体が前記第1の弾性部材の付勢力に抗して上向きに変位すると共に、前記第2の押さえ体の先端が前記搬送治具に接触して前記第2の弾性部材の付勢力に抗して前記第2の固定部に対して上向きに変位し、前記第2の弾性部材により前記第2の押さえ体が前記搬送治具を下向きに付勢することで、前記可撓性基板を前記ステージに押さえ付けることを特徴とする、請求項1に記載の基板搬入装置。
The pressing mechanism (70) is attached to the second fixing portion (79) fixed to the movable body and the second fixing portion so as to be movable up and down, and the tip thereof corresponds to the conveying jig. A second pressing body (77, 82, 83) disposed at a position and biased downward by the second elastic member (86),
When the holding mechanism is at the first height position, the tip of the second pressing body is positioned above the tip of the holding body,
When the holding mechanism is lowered to the second height position, the holding body is displaced upward against the urging force of the first elastic member, and the front end of the second pressing body is moved to the conveying jig. The second elastic member is displaced upward against the second fixing portion against the urging force of the second elastic member, and the second pressing member causes the second pressing body to move to the conveying jig. The substrate carrying-in apparatus according to claim 1, wherein the flexible substrate is pressed against the stage by urging the substrate downward.
前記押さえ機構は、前記第2の弾性部材の付勢力を調節する調節機構(85)を備える、請求項5に記載の基板搬入装置。   The substrate carrying-in apparatus according to claim 5, wherein the pressing mechanism includes an adjustment mechanism (85) for adjusting an urging force of the second elastic member. 前記第2の押さえ体は、前記第2の固定部に対して昇降可能に装着された上下方向に延びる第2の軸(82)と、この第2の軸の先端に取り付けられたパッド(77)とを備え、
前記保持機構が前記第2の高さ位置に降下すると、前記パッドが前記搬送治具に接触することを特徴とする、請求項5に記載の基板搬入装置。
The second pressing body includes a second shaft (82) extending in the up-down direction mounted so as to be movable up and down with respect to the second fixed portion, and a pad (77) attached to the tip of the second shaft. )
The substrate carrying-in apparatus according to claim 5, wherein when the holding mechanism is lowered to the second height position, the pad comes into contact with the transfer jig.
前記搬送治具は、分離可能に互いに重ね合わせられた上側搬送プレート(71)と下側搬送プレート(72)とを備え、これら上側及び下側搬送プレート間に可撓性基板を挟み込んで保持し、
前記保持体が前記下側搬送プレートを保持する一方、前記第2の押さえ体は前記上側搬送プレートに接触することを特徴とする請求項5に記載の基板搬入装置。
The transport jig includes an upper transport plate (71) and a lower transport plate (72) that are detachably overlapped with each other, and sandwich and hold a flexible substrate between the upper and lower transport plates. ,
The substrate carrying-in apparatus according to claim 5, wherein the holding body holds the lower transfer plate while the second pressing body is in contact with the upper transfer plate.
前記ステージに基板吸着孔(20c)が形成され、真空吸引部(24)からこの基板吸着孔を介して作用する吸引力により前記可撓性基板が前記ステージ上に吸着保持されることを特徴とする、請求項1から請求項8のいずれか1項に記載の基板搬入装置。   A substrate suction hole (20c) is formed in the stage, and the flexible substrate is sucked and held on the stage by a suction force acting through the substrate suction hole from the vacuum suction part (24). The board | substrate carrying-in apparatus of any one of Claims 1-8. 前記制御部は、前記保持機構が前記搬送治具の保持を解除すると共に、前記ステージが前記可撓性基板の保持を開始すると、前記保持機構が前記第2の高さ位置から前記第1の高さ位置まで上昇し、その後、前記搬送治具に対する保持を解除した状態を維持しつつ前記保持機構が前記第1の高さ位置から前記第2の高さ位置まで再度降下し、前記押さえ機構が前記可撓性基板を前記ステージに再度押さえ付けるように、前記保持機構と前記保持機構移動部を制御することを特徴とする、請求項1に記載の基板搬入装置。   When the holding mechanism releases the holding of the transport jig and the stage starts to hold the flexible substrate, the control mechanism moves the first holding mechanism from the second height position. The holding mechanism descends again from the first height position to the second height position while maintaining the state where the holding to the conveying jig is released, and the holding mechanism is lowered again. The substrate carry-in apparatus according to claim 1, wherein the holding mechanism and the holding mechanism moving unit are controlled so that the flexible substrate is pressed against the stage again. 前記可撓性基板が前記ステージに適正な状態で保持されているのか不適正な状態で保持されているのかを検出するセンサ(25)をさらに備え、
前記制御部は、前記保持機構が前記第1の高さ位置から前記第2の高さ位置に再度降下した後の予め定められた監視期間中、前記可撓性基板が前記ステージに適正な状態で保持されていることを前記センサにより検出すれば、前記保持機構が前記第2の高さ位置から前記第1の高さ位置まで再度上昇するように、前記保持機構と前記保持機構移動部を制御することを特徴とする、請求項10に記載の基板搬入装置。
A sensor (25) for detecting whether the flexible substrate is held in an appropriate state or in an inappropriate state on the stage;
The control unit is configured such that the flexible substrate is in an appropriate state for the stage during a predetermined monitoring period after the holding mechanism is lowered again from the first height position to the second height position. If the sensor detects that the holding mechanism is held at the second height position, the holding mechanism and the holding mechanism moving portion are moved so that the holding mechanism rises again from the second height position to the first height position. The board | substrate carrying-in apparatus of Claim 10 characterized by the above-mentioned.
前記可撓性基板が前記ステージに適正な状態で保持されているのか不適正な状態で保持されているのかを検出するセンサ(25)をさらに備え、
前記制御部は、前記第2の高さ位置において前記保持機構が前記可撓性基板の保持を解除すると共に、前記ステージが前記可撓性基板の保持を開始すると、前記保持機構が前記第2の高さ位置から前記第1の高さ位置に上昇し、前記ステージが前記可撓性基板の保持を開始した後予め定められた第1の監視期間中に前記可撓性基板が前記ステージに不適正な状態で保持されていることを前記センサにより検出すれば、前記可撓性基板に対する保持を解除した状態を維持しつつ前記保持機構が前記第1の高さ位置から前記第2の高さ位置まで再度降下し、それによって前記押さえ機構が前記可撓性基板を前記ステージに押さえ付けるように、前記保持機構と前記保持機構移動部を制御することを特徴とする、請求項1に記載の基板搬入装置。
A sensor (25) for detecting whether the flexible substrate is held in an appropriate state or in an inappropriate state on the stage;
The control unit releases the holding of the flexible substrate at the second height position, and when the stage starts to hold the flexible substrate, the holding mechanism is moved to the second height position. The flexible substrate is moved from the height position to the first height position, and the flexible substrate is moved to the stage during a predetermined first monitoring period after the stage starts holding the flexible substrate. If it is detected by the sensor that the substrate is held in an inappropriate state, the holding mechanism is moved from the first height position to the second height while maintaining the state in which the holding on the flexible substrate is released. 2. The holding mechanism and the holding mechanism moving unit are controlled such that the holding mechanism and the holding mechanism moving unit are lowered so that the holding mechanism is lowered again to press the flexible substrate against the stage. Board loading equipment.
前記ステージに基板吸着孔(20c)が形成され、真空吸引部(34)からこの基板吸着孔を介して作用する吸引力により前記可撓性基板が前記ステージ上に吸着保持され、
前記センサは、前記吸着孔と前記真空吸引部を接続する経路上に設けられ、この経路の真空度に基づいて前記可撓性基板が前記ステージに適正な状態で保持されているのか、不適正な状態で保持されているのかを検出することを特徴とする、請求項11又は請求項12に記載の基板搬入装置。
A substrate suction hole (20c) is formed in the stage, and the flexible substrate is sucked and held on the stage by a suction force acting through the substrate suction hole from the vacuum suction part (34).
The sensor is provided on a path connecting the suction hole and the vacuum suction unit, and whether or not the flexible substrate is held in an appropriate state on the stage based on the degree of vacuum of the path is inappropriate. 13. The substrate carrying-in apparatus according to claim 11 or 12, wherein it is detected whether the substrate is held in a stable state.
請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の基板搬入装置と、
前記ステージに保持された前記可撓性基板に部品を実装する実装ヘッド部(19)と
を備えることを特徴とする、部品実装装置。
A substrate carry-in device according to any one of claims 1 to 13,
A component mounting apparatus, comprising: a mounting head portion (19) for mounting components on the flexible substrate held on the stage.
搬送治具(2)に保持された可撓性基板(3)を、この可撓性基板の供給位置(P1)から、この可撓性基板が載置されて保持されるステージ(20)へ搬入する基板搬入方法であって、
前記搬送治具を解除可能に保持する保持体(45,46)と、この保持体を下向きに弾性的に付勢する第1の弾性部材(47)とを備える保持機構(42)を設け、
前記供給位置において前記保持機構の前記保持体によって前記搬送治具を保持し、
前記保持機構を前記供給位置(P1)から前記ステージ上方まで移動させ、
前記保持機構を前記可撓性基板と前記ステージとの間に間隔が存在する第1の高さ位置(H0,H2)から前記ステージ上に前記可撓性基板が載置される第2の高さ位置(H3)まで降下させ、前記保持体を前記第1の弾性部材の付勢力に抗して上向きに変位させて、前記第1の弾性部材により前記保持体が前記搬送治具を下向きに付勢することで前記可撓性基板を前記ステージに押さえ付けることを特徴とする、基板搬入方法。
The flexible substrate (3) held by the transfer jig (2) is transferred from the supply position (P1) of the flexible substrate to the stage (20) on which the flexible substrate is placed and held. A board carrying-in method for carrying in,
A holding mechanism (42) including a holding body (45, 46) for releasably holding the conveying jig and a first elastic member (47) that elastically biases the holding body downward;
Holding the conveying jig by the holding body of the holding mechanism at the supply position;
Moving the holding mechanism from the supply position (P1) to above the stage;
A second height at which the flexible substrate is placed on the stage from the first height position (H0, H2) where the holding mechanism has a gap between the flexible substrate and the stage. Is lowered to the position (H3), the holding body is displaced upward against the urging force of the first elastic member, and the holding body causes the conveying jig to face downward by the first elastic member. A substrate carrying-in method, wherein the flexible substrate is pressed against the stage by urging.
前記保持機構が保持された移動体(41)に対して固定された第1の固定部(52)と、この第1の固定部に昇降可能に取り付けられ、その先端が前記可撓性基板に対応する位置に配置され、かつそれ自体の自重により下向きに付勢された第1の押さえ体(53)とを設け、
前記保持機構を前記ステージにおいて前記第1の高さ位置から前記第2の高さ位置に降下させると、前記保持体が前記第1の弾性部材の付勢力に抗して上向きに変位すると共に、前記第1の押さえ体が前記可撓性基板に接触して前記第1の固定部に対して上向きに変位し、前記第1の押さえ体が前記自重により前記可撓性基板を下向きに付勢することで前記可撓性基板を前記ステージに押さえ付けることを特徴とする、請求項15に記載の基板搬入方法。
A first fixing portion (52) fixed to the moving body (41) holding the holding mechanism, and a first fixing portion that can be moved up and down, the tip of which is attached to the flexible substrate. A first pressing body (53) arranged at a corresponding position and biased downward by its own weight,
When the holding mechanism is lowered from the first height position to the second height position on the stage, the holding body is displaced upward against the urging force of the first elastic member, and The first pressing body contacts the flexible substrate and is displaced upward with respect to the first fixing portion, and the first pressing body urges the flexible substrate downward by its own weight. The substrate carrying-in method according to claim 15, wherein the flexible substrate is pressed against the stage.
前記保持機構が保持された移動体(41)に対して固定された第2の固定部(79)と、この第2の固定部に昇降可能に取り付けられ、その先端が前記搬送治具に対応する位置に配置され、かつ第2の弾性部材(86)により下向きに付勢された第2の押さえ体(77,82,83)とを設け、
前記保持機構が前記ステージにおいて前記第1の高さ位置から前記第2の高さ位置に降下すると、前記保持体が前記第1の弾性部材の付勢力に抗して上向きに変位すると共に、前記第2の押さえ体の先端が前記搬送治具に接触して前記第2の弾性部材の付勢力に抗して前記第2の固定部に対して上向きに変位し、前記第2の弾性部材により前記第2の押さえ体が前記搬送治具を下向きに付勢することで、前記可撓性基板を前記ステージに押さえ付けることを特徴とする、請求項15に記載の基板搬入方法。
A second fixing portion (79) fixed to the movable body (41) holding the holding mechanism, and a second fixing portion (79) that can be moved up and down, the tip of which corresponds to the transport jig And a second pressing body (77, 82, 83) that is disposed at a position that is urged downward by the second elastic member (86),
When the holding mechanism is lowered from the first height position to the second height position on the stage, the holding body is displaced upward against the urging force of the first elastic member, and The tip of the second pressing body comes into contact with the conveying jig and is displaced upward with respect to the second fixing portion against the urging force of the second elastic member, and is moved by the second elastic member. The substrate carrying-in method according to claim 15 , wherein the second pressing body urges the transport jig downward to press the flexible substrate against the stage.
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KR100971288B1 (en) * 2008-08-22 2010-07-20 주식회사 탑 엔지니어링 An array tester
JP2010076929A (en) * 2008-09-29 2010-04-08 Ushio Inc Substrate conveying arm
JP5853135B2 (en) * 2012-03-15 2016-02-09 パナソニックIpマネジメント株式会社 Electrode joining method and circuit member joining line
JP6255259B2 (en) * 2014-01-30 2017-12-27 株式会社ディスコ Transport mechanism
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CN108630737B (en) * 2018-07-24 2024-02-13 苏州普洛泰科精密工业有限公司 Automatic T-FOF mounting equipment for OLED display
CN109250486B (en) * 2018-10-18 2024-03-26 李荣根 Quick plate taking and placing device, plate taking and placing equipment and plate taking and placing method
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