JP4365380B2 - Fret検出方法および装置 - Google Patents
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このようなタンパク質の他のタンパク質や低分子化合物との間の相互作用について、蛍光共鳴エネルギー移動(FRET)現象を利用して解析することが最近行われている。すなわち、数ナノメータの領域での分子間の相互作用を蛍光を用いて検出する。このようなFRET現象を利用した検出は、主に顕微鏡システムを用いて行われる。
前記記憶手段には、前記自家蛍光サンプル体に前記レーザ光を照射することにより発する前記自家蛍光サンプル体の蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報が予め記憶されており、前記キャリブレーション情報を取得するステップでは、前記記憶手段に記憶されている、前記自家蛍光サンプル体の蛍光の前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を呼び出して前記自家蛍光サンプル体の蛍光をベクトルで表し、前記FRET蛍光寿命を求めるステップでは、前記受光波長帯域毎の前記測定対象サンプルの前記ベクトルのそれぞれから、前記自家蛍光サンプル体の蛍光の前記ベクトルを減算し、この減算で得られたベクトルを用いて、前記FRET蛍光寿命を求めることが好ましい。
図1は、本発明のFRET検出装置を用いたフローサイトメータ10の概略構成図である。
管路30の出口には、回収容器32が設けられている。フローサイトメータ10には、レーザ光の照射により短時間内にFRETサンプル12中の特定の細胞等の生体物質を分離するためのセル・ソータを配置して別々の回収容器に分離するように構成することもできる。
図2では、ドナー分子がCFP(Cyan Fluorescent Protein)、アクセプタ分子がYFP(Yellow Fluorescent Protein)であるときのエネルギーの吸収、蛍光放射の特性を示している。図2中、曲線A1はCFPのエネルギー吸収スペクトルを、曲線A2はCFPの蛍光放射スペクトルを、曲線B1はYFPのエネルギー吸収スペクトルを、曲線B2はYFPの蛍光放射スペクトルをそれぞれ示す。図2中、斜線の部分は、CFPが放射した蛍光をYFPがエネルギー吸収して、FRETが生じる波長帯域を示す。
信号生成部40は、レーザ光の強度を所定の周波数で変調(振幅変調)するための変調信号を生成する部分である。
具体的には、信号生成部40は、発振器46、パワースプリッタ48及びアンプ50,52を有し、生成される変調信号を、レーザ光源部22に供給するとともに、信号処理部42に供給する部分である。信号処理部42に変調信号を供給するのは、後述するように、光電変換器27aおよび27bから出力される蛍光信号の位相差検出のための参照信号として用いるためである。なお、変調信号は、所定の周波数の正弦波信号であり、10〜100MHzの範囲の周波数に設定される。
分析装置80は、コンピュータ上で所定のプログラムを起動させることにより構成される装置であり、CPU82、メモリ84、入出力ポート86の他に、ソフトウェアを起動することによって形成される第1キャリブレーションユニット88、第2キャリブレーションユニット90、第3キャリブレーションユニット92、第4キャリブレーションユニット94、蛍光緩和時定数算出ユニット96、およびFRET効率算出ユニット98を有する。また、分析装置80にはディスプレイ94が接続されている。
メモリ84は、コンピュータ上で実行することにより、第1キャリブレーションユニット88〜第4キャリブレーションユニット94、蛍光緩和時定数算出ユニット96、およびFRET効率算出ユニット98を形成するプログラムを格納したROMと、これらのユニットにより算出された処理結果や入出力ポート86から供給されたデータを記憶するRAMと、を備えている。
入出力ポート86は、コントローラ44から供給される蛍光信号のcos成分(実数部)、sin成分(虚数部)の検出値の入力を受け入れるとともに、各ユニットで作成された処理結果の値やスキャッタグラム等の情報をディスプレイ94に出力するために用いられる。ディスプレイ94は、各ユニットで求められた、蛍光の振幅情報や位相差の情報、蛍光緩和時定数やFRET効率等の処理結果の値やスキャッタグラム等のグラフを表示する。
N(t):励起状態にある単位体積中の蛍光分子数(励起状態密度関数)
N0:時刻0で励起状態にある単位体積中の蛍光分子数
kf:発光遷移の速度定数(単位時間に発光遷移する分子数の に対する割合)
knf:無輻射遷移の速度定数(単位時間に無輻射遷移する分子数の に対する割合)
τ0≡1/kf:無輻射過程がないと仮定したときの励起状態の寿命(自然寿命)
τ≡1/(kf+knf):蛍光緩和時定数(蛍光緩和時定数)
である。
τd *:FRET発生時のドナー分子の蛍光緩和時定数=1/(kd+kt)
(kt=0(非FRET時)、τd *=τd=1/kd)
τa:アクセプタ分子の蛍光緩和時定数=1/ka
τad:アクセプタ分子のドナー波長帯域での蛍光緩和時定数=1/kad
τda:ドナー分子のアクセプタ波長帯域での蛍光緩和時定数=1/kda
τbd:細胞の自家蛍光のドナー波長帯域での蛍光緩和時定数=1/kbd
τba:細胞の自家蛍光のアクセプタ波長帯域での蛍光緩和時定数=1/kbaである。
12 FRETサンプル
20 信号処理装置
22 レーザ光源部
24,26 受光部
26a レンズ系
26c1,26c2, バンドパスフィルタ
27a、27b 光電変換器
28 制御・処理部
30 管路
32 回収容器
40 信号生成部
42 信号処理部
44 コントローラ
46 発振器
48 パワースプリッタ
50,52,54a,54b 増幅器
56 位相差検出器
60 システム制御器
62 ローパスフィルタ
66 A/D変換器
80 分析装置
82 CPU
84 メモリ
86 入出力ポート
88 第1キャリブレーションユニット
90 第2キャリブレーションユニット
92 第3キャリブレーションユニット
94 第4キャリブレーションユニット
96 蛍光緩和時定数算出ユニット
98 FRET効率算出ユニット
Claims (22)
- 第1分子および第2分子で標識された測定対象サンプルにレーザ光を照射し、このとき測定対象サンプルが発する蛍光を受光することによって、第1分子のエネルギーが第2分子に移動するFRET(Fluorescence Resonance Energy Transfer)を検出するFRET検出方法であって、
レーザ光の強度を所定の周波数で時間変調して前記測定対象サンプルに照射し、このときの前記測定対象サンプルの発する蛍光を受光波長帯域の異なる複数の検出センサで受光することにより、前記測定対象サンプルの蛍光の蛍光強度情報および位相情報を含む検出値を収集するステップと、
予め記憶手段に記憶されている情報であって、前記測定対象サンプルの前記蛍光のうち前記第1分子が発する第1分子蛍光成分の、前記受光波長帯域における蛍光強度の比を表す第1の強度比率と、前記レーザ光の時間変調に対する前記第1分子蛍光成分の位相情報と、前記蛍光のうち前記第2分子が発する第2分子蛍光成分の、前記受光波長帯域の蛍光強度の比を表す第2の強度比率と、前記レーザ光の時間変調に対する前記第2分子蛍光成分の位相情報と、レーザ光によって励起された第1分子が発する蛍光が1次遅れ系の緩和応答であるとしたとき定義される寿命であって前記FRETが発生しない状態における前記第1分子蛍光成分の非FRET蛍光寿命と、を少なくとも含むキャリブレーション情報を読み出して取得するステップと、
各検出センサから収集された前記検出値から、前記受光波長帯域毎に、前記測定対象サンプルの蛍光の蛍光強度情報および位相情報を求めて、求めた前記蛍光強度情報および前記位相情報と、前記第1の強度比率と、前記第1分子蛍光成分の前記位相情報と、前記第2の強度比率と、前記第2分子蛍光成分の前記位相情報と、を用いて、レーザ光によって励起された第1分子が発する蛍光が1次遅れ系の緩和応答であるとしたとき定義される前記第1分子蛍光成分のFRET蛍光寿命を求めるステップと、
前記第1分子蛍光成分のFRET蛍光寿命と、前記第1分子蛍光成分の前記非FRET蛍光寿命との比を用いてFRET発生情報を求めるステップと、を有することを特徴とするFRET検出方法。 - 前記FRET発生情報を求めるステップでは、前記非FRET蛍光寿命をτd、前記FRET蛍光寿命をτd *とするとき、
前記FRET発生情報として、1−(τd */τd)で表されるFRET効率Etを求める請求項1に記載のFRET検出方法。 - 前記検出値を収集するステップでは、複数の前記測定対象サンプルに前記レーザ光を照射し、前記センサにて複数の前記測定対象サンプルそれぞれについて前記検出値を収集し、
前記FRET蛍光寿命を求めるステップでは、各検出値に基づいて、前記測定対象サンプルそれぞれの蛍光強度情報および位相情報を求め、求めた複数の蛍光強度情報および位相情報から前記FRET蛍光寿命を求める請求項1または2に記載のFRET検出方法。 - 前記FRET蛍光寿命を求めるステップでは、前記受光波長帯域毎に前記検出値から求めた前記蛍光強度および位相情報をベクトルで表し、このベクトルと、前記第1の強度比率および前記第2の強度比率とを、前記受光波長帯域毎に用いて、FRETが生じた状態における前記第1分子蛍光成分の蛍光強度情報および位相情報と、前記第2分子蛍光成分のうちFRETが生じることで発するFRET成分の蛍光強度情報および位相情報とを求め、求めた情報を用いて、前記FRET蛍光寿命を求める請求項1〜3のいずれかに記載のFRET検出方法。
- 前記受光波長帯域は、前記第1分子蛍光成分の蛍光強度が最大となるピーク波長を中心とした第1波長帯域と、前記第2分子蛍光成分の蛍光強度が最大となるピーク波長を中心とした第2波長帯域とを有し、
前記FRET蛍光寿命を求めるステップでは、
前記第1波長帯域の前記検出センサにて収集される検出値によって表される第1波長帯域における前記ベクトルと前記第2の強度比率とを少なくとも用いて、前記FRETが生じた状態における前記第1分子蛍光成分の蛍光強度情報および位相情報を求め、
前記第2波長帯域の前記検出センサにより収集される検出値によって表される第2波長帯域における前記ベクトルと前記第1の強度比率とを少なくとも用いて、前記FRET成分の蛍光強度情報および位相情報を求める請求項4に記載のFRET検出方法。 - 前記記憶手段には、前記第2分子蛍光成分のうち前記レーザ光によって第2分子が直接励起されることで発生する直接励起蛍光成分の蛍光強度情報および位相情報があらかじめ記憶されており、
前記キャリブレーション情報を取得するステップでは、前記記憶手段に記憶されている前記直接励起蛍光成分の蛍光強度情報および位相情報を呼び出して、直接励起蛍光成分の情報をベクトルで表し、
前記FRET蛍光寿命を求めるステップでは、前記直接励起蛍光成分の前記ベクトルと、前記第2波長帯域における前記ベクトルとを少なくとも用いて、前記FRETが生じた状態における前記第2分子蛍光成分の蛍光強度情報および位相情報を求める請求項5に記載のFRET検出方法。 - 前記記憶手段には、前記第2分子蛍光成分のうち前記レーザ光によって第2分子が直接励起されることで発生する直接励起蛍光成分の蛍光強度情報および位相情報があらかじめ記憶されており、
前記キャリブレーション情報を取得するステップでは、前記第2分子蛍光成分のうち、前記レーザ光によって第2分子が直接励起されることで発生する直接励起蛍光成分の蛍光強度情報および位相情報を呼び出して、前記直接励起蛍光成分のベクトルで表し、
前記FRET蛍光寿命を求めるステップでは、前記第1分子蛍光成分のFRET寿命を前記キャリブレーション情報を用いて求めるのに加えて、前記第2波長帯域における前記ベクトルと、前記第1の強度比率とを少なくとも用いて前記FRET成分の位相情報を求め、
求めた前記FRET成分の位相情報と前記直接励起蛍光成分の前記ベクトルとを用いて、前記FRETが生じた状態における前記第2分子蛍光成分のFRET蛍光寿命と、前記FRETが生じない状態における前記第2分子蛍光成分の非FRET蛍光寿命とを求め、
前記第2分子蛍光成分のFRET蛍光寿命と、前記第2分子蛍光成分の前記非FRET蛍光寿命とを用いて、前記第1分子蛍光成分のFRET蛍光寿命を求める請求項5に記載のFRET検出方法。 - 前記測定対象サンプルは、前記レーザ光によって励起されて自家蛍光を発する自家蛍光サンプル体に、前記第1分子および前記第2分子で標識されたサンプルであって、
前記記憶手段には、前記自家蛍光サンプル体に前記レーザ光を照射することにより発する前記自家蛍光サンプル体の蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報が予め記憶されており、
前記キャリブレーション情報を取得するステップでは、前記記憶手段に記憶されている、前記自家蛍光サンプル体の蛍光の前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を呼び出して前記自家蛍光サンプル体の蛍光をベクトルで表し、
前記FRET蛍光寿命を求めるステップでは、前記受光波長帯域毎の前記測定対象サンプルの前記ベクトルのそれぞれから、前記自家蛍光サンプル体の蛍光の前記ベクトルを減算し、この減算で得られたベクトルを用いて、前記FRET蛍光寿命を求める請求項4〜7のいずれかに記載のFRET検出方法。 - 前記キャリブレーション情報を取得するステップでは、自家蛍光キャリブレーションによって得られた情報を前記記憶手段から呼び出して取得し、
前記自家蛍光キャリブレーションでは、
前記自家蛍光サンプル体を測定対象物として所定の周波数で時間変調したレーザ光を照射することにより、各検出センサから、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を含む検出値を収集して、前記自家蛍光サンプル体の蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を求め、求めた情報を前記記憶手段に記憶する請求項8に記載のFRET検出方法。 - 前記キャリブレーション情報を取得するステップでは、non−FRETキャリブレーションによって得られた情報を前記記憶手段から呼び出して取得し、
前記non−FRETキャリブレーションでは、
前記第1分子および前記第2分子がサンプルに付着されて、FRETが生じない処理がなされたnon−FRETサンプルを測定対象物として所定の周波数で時間変調したレーザ光を照射することにより、各検出センサから、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を含む検出値を収集して、前記non−FRETサンプルの蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を求め、
求めた前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報と、前記記憶手段に予め記憶された前記第1の強度比率と、前記第1分子蛍光成分の位相情報と、前記記憶手段に予め記憶された前記第2の強度比率と、前記第2分子蛍光成分の位相情報と、を用いて、レーザ光によって第2分子が直接励起される直接励起蛍光成分の蛍光強度情報および位相情報を求め、求めた情報を前記記憶手段に記憶する請求項1〜9のいずれかに記載のFRET検出方法。 - 前記non−FRETサンプルは、前記レーザ光によって励起されて自家蛍光を発する自家蛍光サンプル体に、前記第1分子および前記第2分子で標識されたサンプルであって、
前記キャリブレーション情報を取得するステップでは、自家蛍光キャリブレーションによって得られた情報を前記記憶手段から呼び出して取得し、
前記自家蛍光キャリブレーションは、前記non−FRETキャリブレーションに先がけて行われるキャリブレーションであって、前記自家蛍光サンプル体を測定対象物として所定の周波数で時間変調したレーザ光を照射することにより、各検出センサから、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を含む検出値を収集して、前記自家蛍光サンプル体の蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を求め、求めた情報を前記記憶手段に記憶し、
前記non−FRETキャリブレーションでは、前記non−FRETサンプルの蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報をベクトルで表したnon−FRETサンプルベクトルから、前記自家蛍光キャリブレーションで求められた前記自家蛍光の情報をベクトルで表した自家蛍光ベクトルを減算し、この減算で得られたベクトルと、前記記憶手段に予め記憶された前記第1の強度比率と、前記第1分子蛍光成分の位相情報と、前記記憶手段に予め記憶された前記第2の強度比率と、前記第2分子蛍光成分の位相情報と、を用いて前記直接励起蛍光成分ベクトルを導出し、導出した結果を前記記憶手段に記憶する請求項10に記載のFRET検出方法。 - 前記キャリブレーション情報を取得するステップでは、第1分子キャリブレーションによって得られた情報を前記記憶手段から呼び出して取得し、
前記第1分子キャリブレーションでは、
前記第1分子のみで標識された第1分子サンプルを測定対象物として所定の周波数で時間変調したレーザ光を照射することにより、各検出センサから、前記第1分子サンプルの蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を含む検出値を収集して、前記第1分子サンプルの蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を求め、
前記第1の強度比率として、前記第1分子サンプルの、前記受光波長帯域の蛍光強度の比を求め、
求めた前記第1の強度比率と求めた前記位相情報とを前記記憶手段に記憶する請求項1〜11のいずれかに記載のFRET検出方法。 - 前記第1分子サンプルは、前記レーザ光によって励起されて自家蛍光を発する自家蛍光サンプル体に、前記第1分子で標識されたサンプルであって、
前記キャリブレーション情報を取得するステップでは、自家蛍光キャリブレーションによって得られた情報を前記記憶手段から呼び出して取得し、
前記自家蛍光キャリブレーションは、前記第1分子キャリブレーションに先がけて行われるキャリブレーションであって、前記自家蛍光サンプル体を測定対象物として所定の周波数で時間変調したレーザ光を照射することにより、各検出センサから、前記受光波長帯域毎に蛍光強度情報および位相情報を含む検出値を収集して、前記自家蛍光サンプル体の蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を求め、求めた情報を前記記憶手段に記憶し、
前記第1分子キャリブレーションでは、前記第1分子サンプルの蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報をベクトルで表した第1分子サンプルベクトルから、前記自家蛍光キャリブレーションで求められた前記自家蛍光サンプル体の蛍光の情報をベクトルで表した自家蛍光ベクトルを減算し、この減算で得られたベクトルを用いて、前記第1分子サンプルの蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を求め、求めた情報を前記記憶手段に記憶する請求項12に記載のFRET検出方法。 - 前記キャリブレーション情報を取得するステップでは、第2分子キャリブレーションによって得られた情報を前記記憶手段から呼び出して取得し、
前記第2分子キャリブレーションでは、
前記第2分子のみで標識された第2分子サンプルを測定対象物として所定の周波数で時間変調したレーザ光を照射することにより、各検出センサから、前記第2分子サンプルの蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を含む検出値を収集して、前記第2分子サンプルの蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を求め、
前記第2の強度比率として、前記第2分子サンプルの、前記受光波長帯域の蛍光強度の比を求め、
求めた前記第2の強度比率および求めた前記位相情報を前記記憶手段に記憶する請求項1〜13のいずれかに記載のFRET検出方法。 - 前記第2分子サンプルは、前記レーザ光によって励起されて自家蛍光を発する自家蛍光サンプル体に、前記第2分子で標識されたサンプルであって、
前記キャリブレーション情報を取得するステップでは、自家蛍光キャリブレーションによって得られた情報を前記記憶手段から呼び出して取得し、
前記自家蛍光キャリブレーションは、前記第2分子キャリブレーションに先がけて行われるキャリブレーションであって、前記自家蛍光サンプル体を測定対象物として所定の周波数で時間変調したレーザ光を照射することにより、各検出センサから、前記受光波長帯域毎に蛍光強度情報および位相情報を含む検出値を収集して、前記自家蛍光サンプル体の蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を求め、求めた情報を前記記憶手段に記憶し、
前記第2分子キャリブレーションでは、前記第2分子サンプルの蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報をベクトルで表した第2分子サンプルベクトルから、前記自家蛍光サンプル体キャリブレーションで求められた前記自家蛍光サンプルの蛍光の情報をベクトルで表した自家蛍光ベクトルを減算し、この減算で得られたベクトルを用いて、前記第2分子サンプルの蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を求め、求めた情報を前記記憶手段に記憶する請求項14に記載のFRET検出方法。 - 第1分子および第2分子で標識された測定対象サンプルにレーザ光を照射し、このとき測定対象サンプルが発する蛍光を受光することによって、第1分子のエネルギーが第2分子に移動するFRET(Fluorescence Resonance Energy Transfer)を検出するFRET検出装置であって、
レーザ光の強度を所定の周波数で時間変調して前記測定対象サンプルについて照射し、このときの前記測定対象サンプルの蛍光を受光波長帯域の異なる複数の検出センサで受光することにより、前記測定対象サンプルの蛍光の蛍光強度情報および位相情報を含む検出値を取得する検出情報取得部と、
前記測定対象サンプルの前記蛍光のうち前記第1分子が発する第1分子蛍光成分の、前記受光波長帯域の蛍光強度の比を表す第1の強度比率と、前記第1分子蛍光成分の位相情報と、前記第2分子が発する第2分子蛍光成分の、前記受光波長帯域の蛍光強度の比を表す第2の強度比率と、前記第2分子蛍光成分の位相情報と、レーザ光によって励起された第1分子が発する蛍光が1次遅れ系の緩和応答であるとしたときに定義される寿命であって、前記FRETが発生しない状態における前記第1分子蛍光成分の非FRET蛍光寿命と、を少なくとも含むキャリブレーション情報を予め記憶しておく記憶手段と、
前記検出情報取得部が取得した前記検出値から、前記受光波長帯域それぞれについて、前記測定対象サンプルの蛍光の蛍光強度情報および位相情報を求めて、求めた前記蛍光強度情報および前記位相情報と、前記記憶手段から読み出した前記第1の強度比率と、前記第1分子蛍光成分の前記位相情報と、前記第2の強度比率と、前記第2分子蛍光成分の前記位相情報と、を用いて、レーザ光によって励起された第1分子が発する蛍光が1次遅れ系の緩和応答であるとしたときに定義される前記第1分子蛍光成分のFRET蛍光寿命を求めるFRET蛍光寿命算出部と、
前記第1分子蛍光成分のFRET蛍光寿命と、前記第1分子蛍光成分の前記非FRET蛍光寿命との比を用いて表されるFRET発生情報を求めるFRET発生情報算出部と、を有することを特徴とするFRET検出装置。 - 前記FRET蛍光寿命算出部では、前記検出値それぞれから求めた前記蛍光強度および位相情報をベクトルで表し、それぞれのベクトルと、前記第1の強度比率と、前記第1分子蛍光成分の前記位相情報と、前記第2分子蛍光成分の前記第2の強度比率と、前記第2分子蛍光成分の前記位相情報とを用いて、FRETが生じた状態における前記第1分子蛍光成分の蛍光強度情報および位相情報と、前記第2分子蛍光成分のうちFRETが生じることで発するFRET成分の蛍光強度情報および位相情報とを求め、求めたこれらの情報を用いて、前記FRET蛍光寿命を求める請求項16に記載のFRET検出装置。
- 前記センサの各受光波長帯域は、前記第1分子蛍光成分の蛍光強度が最大となるピーク波長を中心とした第1波長帯域と、前記第2分子蛍光成分の蛍光強度が最大となるピーク波長を中心とした第2波長帯域であり、
前記FRET蛍光寿命算出部では、
前記第1波長帯域の検出センサによる前記検出値から求められる第1波長帯域におけるベクトルと、前記第2の強度比率とを少なくとも用いて、前記FRETが生じた状態における前記第1分子蛍光成分の蛍光強度情報および位相情報を求め、
前記第2波長帯域の前記検出センサによる前記検出値によって表される第2波長帯域におけるベクトルと、前記第1の強度比率とを少なくとも用いて、前記FRET成分の蛍光強度情報および位相情報を求める請求項16または17に記載のFRET検出装置。 - 前記FRET検出装置は、さらに、自家蛍光キャリブレーション部を有し、
前記自家蛍光キャリブレーション部は、前記レーザ光によって励起されて自家蛍光を発する自家蛍光を測定対象物として所定の周波数で時間変調したレーザ光を照射することにより、前記検出センサそれぞれから、前記受光波長帯域の蛍光強度情報および位相情報を含む検出値を収集し、前記自家蛍光サンプル体の蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を求めて、前記記憶手段に記憶し、
前記FRET蛍光寿命算出部では、前記受光波長帯域毎の前記測定対象サンプルの蛍光の情報をベクトルで表し、このベクトルから、前記自家蛍光サンプル体の前記蛍光強度情報および前記位相情報を表したベクトルを減算し、減算して得られたベクトルを用いて、前記FRET蛍光寿命を求める請求項16〜18のいずれかに記載のFRET検出装置。 - 前記FRET検出装置は、さらに、non−FRETキャリブレーション部を有し、
前記non−FRETキャリブレーション部は、
前記第1分子および前記第2分子がサンプルに付着されて、FRETが生じない処理がなされたnon−FRETサンプルを測定対象物として所定の周波数で時間変調したレーザ光を照射することにより、各検出センサから、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を含む検出値を収集した際、
前記non−FRETサンプルの蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を求め、求めた蛍光強度情報および位相情報と、前記第1の強度比率と、前記第1分子蛍光成分の前記位相情報と、前記第2の強度比率と、前記第2分子蛍光成分の前記位相情報と、を用いて、前記レーザ光によって第2分子が直接励起されることで発生する直接励起蛍光成分の蛍光強度情報および位相情報を求め、これらの情報をベクトルで表した直接励起蛍光成分ベクトルを導出し、この導出結果を前記記憶手段に記憶し、
前記FRET蛍光寿命算出部は、前記直接励起蛍光成分ベクトルを用いて前記FRET蛍光寿命を求める請求項16〜19のいずれかに記載のFRET検出装置。 - 前記FRET検出装置は、さらに、第1分子キャリブレーション部を有し、
前記第1分子キャリブレーション部は、
前記第1分子のみで標識された第1分子サンプルを測定対象物として所定の周波数で時間変調したレーザ光を照射することにより、各検出センサから、前記第1分子サンプルの蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を含む検出値を収集した際、
前記第1分子サンプルの蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を求め、前記第1の強度比率として、前記第1分子サンプルの、前記受光波長帯域の蛍光強度の比を求め、求めた前記第1の強度比率及び求めた前記第1分子サンプルの蛍光の前記位相情報を前記記憶手段に記憶する請求項16〜20のいずれかに記載のFRET検出装置。 - 前記FRET検出装置は、さらに、第2分子キャリブレーション部を有し、
前記第2分子キャリブレーション部は、
前記第2分子のみで標識された第2分子サンプルを測定対象物として所定の周波数で時間変調したレーザ光を照射することにより、各検出センサから、前記第2分子サンプルの蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を含む検出値を収集した際、
前記第2分子サンプルの蛍光の、前記受光波長帯域毎の蛍光強度情報および位相情報を求め、前記第2の強度比率として、前記第2分子サンプルの、前記受光波長帯域の蛍光強度の比を求め、求めた前記第2の強度比率及び求めた前記第2分子サンプルの蛍光の前記位相情報を前記記憶手段に記憶する請求項16〜21のいずれかに記載のFRET検出装置。
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