JP4336577B2 - ミクロトーム - Google Patents
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Description
又、切断刃が、試料と干渉しない位置を除いた手動操作部の移動軌跡であれば、どこでも検鏡試料位置調整機構の微調整を行うことができる。このことによって、より微調整の操作性を向上できる。
図1に示すように、ミクロトーム11は、試料Sを保持する試料支持機構12と、該試料支持機構12の位置調整を行う検鏡試料位置調整機構(以下、位置調整機構13という)と、試料Sを切断する切断刃14を移動可能に支持する切断刃移動機構15とを備えている。なお、本明細書では、切断刃14の移動方向において、切断刃14が試料Sを切断する方向を前方向とし、ミクロトーム11を前から見た場合を基準として、同移動方向に直交する方向を左右方向とする。ミクロトーム11の底板16には切断刃移動機構15及び位置調整機構13が設けられている。
切断刃移動機構15は、底板16上に固定された支台17、支台17上に固定されたテーブル18、テーブル18上を水平方向d1(図1における前後方向)に沿って移動するホルダ保持体19、ホルダ保持体19に取り付けられたホルダ20(図6参照)及びホルダ20に取り付けされた切断刃14を備えている。水平方向d1は、「切断刃の移動方向」に相当する。図7に示すように、テーブル18上には、前後方向に延びるレール21が固定され、レール21に対して、滑走ブロック22が前後方向にスライド自在に係合されている。滑走ブロック22上には、副ブロック23が固定されており、副ブロック23上にホルダ保持体19が固定されている。副ブロック23の右側部には、ハンド操作板24が固定されている。ハンド操作板24の下部は、テーブル18の高さ位置よりも下方に延出されている。ハンド操作板24は、手動操作部に相当する。
位置調整機構13は、昇降機構25、荒調整機構26、及び微調整機構27を備えている。昇降機構25には、仲介台28を介して試料支持機構12が固定されている。
図2に示すように、昇降機構25は、下部側支持体45、第1回転機構46、第2回転機構47、上部側支持体48、スライド機構49を備えている。
第1回転機構46は、底板16に固定された下部側支持体45に支持されて昇降方向d2に沿って移動不能にかつ回転可能とされている。ここで、昇降方向d2は、図2における上下方向であり、切断刃の移動方向と直交する。第1回転機構46には雌ネジとしてのナット50を備えており、そのナット50の雌ネジ部50aには、第2回転機構47に備えられた雄ネジとしての軸体51の雄ネジ部51aが進退可能に螺着されている。第2回転機構47は、第1回転機構46と相対回転することにより昇降方向d2に沿って移動する。上壁36に固定された上部側支持体48内には、昇降方向d2に沿って移動可能にスライド機構49が配置されている。スライド機構49は、第2回転機構47が昇降方向d2に沿って移動することに伴って、昇降方向d2に沿って移動する。
第1回転機構46は、ホイール固定体60、スペーサ61、締結体62、ナット50、ウォームホイール63、及びボルト65を備えている。ホイール固定体60は、筒状に形成され、その中間部から上端部にかけて下端部の外径より順に拡径した複数段の膨出段部が形成されている。ホイール固定体60は、両スラスト玉軸受57,58に嵌入(支持)されている。ホイール固定体60の上端部に設けられた膨出段部は、スラスト玉軸受58に圧接する当接部60aとされている。ホイール固定体60の下端部外周には締結体62が締結されている。締結体62は、スペーサ61を介してスラスト玉軸受57に圧接されている。
第2回転機構47は、軸体51、第1平歯車70、スペーサ71、締結体72を備えている。軸体51は、昇降方向d2の中間部から下端にかけて設けられた雄ネジ部51aにて、ナット50の雌ネジ部50aに螺着されている。軸体51は、昇降方向d2の中間部に第1平歯車70が固定されている。第1平歯車70の半径は、ウォームホイール63の半径よりも長くされており、又、被動機構91、駆動機構90の機構内部の摩擦等によりウォームホイール63に働くモーメントでは、第1平歯車70を介して静止状態の第2平歯車102を回転させないようにしている。軸体51は、上端部に締結体72が締結されている。軸体51の外周には、締結体72の下側にスペーサ71が配置されている。ところで、上壁36には、貫通孔75が形成され、その貫通孔75には、上部側支持体48が挿入されている。上部側支持体48の上端部外周には、上壁36の上面に当接する鍔部48aが形成され、その鍔部48aは、上壁36に固定されている。上部側支持体48には、貫通孔76が昇降方向d2に沿って形成され、その貫通孔76内には、スライド機構49が配置されている。
スライド機構49は、支持部77、載置台78を備えている。支持部77は、貫通孔76に遊挿されている。支持部77には、断面円形状をなす挿通孔79が昇降方向d2に沿って形成され、その挿通孔79には軸体51が挿通されている。支持部77には、挿通孔79の上下両側にスラスト玉軸受80,81がそれぞれ嵌入されている。その両スラスト玉軸受80,81には、軸体51が嵌入されている。両スラスト玉軸受80,81及び支持部77は、スペーサ71と第1平歯車70との間に位置するように配置されている。軸体51に締結体72が締結されていることにより、第1平歯車70、及び締結体72は、スラスト玉軸受81、支持部77、及びスラスト玉軸受80を昇降方向d2に沿って挟みつけ固定している。
図3に示すように、荒調整機構26は、駆動機構90、該駆動機構90から動力が伝達される被動機構91を備えている。駆動機構90は、軸挿通体92、一対のスラスト玉軸受93,94、軸体95、前記荒調整ノブ30、及び第1傘歯車96を備えている。上壁36に固定された軸挿通体92には、一対のスラスト玉軸受93,94が嵌入されている。軸体95は、その軸心O2が蓋体39の側面39aと直交する方向(図3における左右方向)に沿うように、一対のスラスト玉軸受93,94にて回転自在に支持されている。軸体95は、一端が蓋体39から突出されており、その一端に荒調整ノブ30が固定されている。軸体95の他端には、第1傘歯車96が固定されている。
図2に示すように、第2回転機構47を構成する第1平歯車70は、ナット50との相対回転により昇降方向d2へ移動する。第1平歯車70は、上部側支持体48の下面48bに当接する位置から、ボルト65に当接する位置までの範囲が昇降範囲eとされている。第1平歯車70及び第2平歯車102は、昇降範囲eにおいて互いに常に噛合するように、その厚さが設定されている。
まず、微調整機構27を説明する前に、微調整機構27に付設される構成について説明する。図8に示すように、側壁38には、貫通孔38bが形成されている。貫通孔38bには軸受支持体152が挿通配置されている。取付リング153は、側壁38外側面に対して貫通孔38bの周縁に取付け固定されている。軸受支持体152は取付リング153に対しボルト着されている。軸受支持体152の内面には、円形をなすリング154がボルト着されて、リング154の軸心が軸受支持体152の軸心と一致するようにされている。軸受支持体152の両端には、一対の玉軸受155,156が嵌入固定されており、同玉軸受155,156には、ストッパ操作部材160が嵌入されている。ストッパ操作部材160は、円形管状に形成されており、中央部から内端寄り部位には、取付フランジ161が形成されている。取付フランジ161は、リング154内において、軸受支持体152の内端面に当接されている。ストッパ操作部材160の略中央部外周には、スペーサ165が貫通されるとともに、締付ナット164が螺合されている。締付ナット164の螺合により、玉軸受155、156を取付フランジ161と締付ナット164にて締め付けしている。この結果、ストッパ操作部材160は、軸受支持体152に対して、回転可能に支持されている。
荒調整ノブ30を回転させると、第1傘歯車96、第2傘歯車101、第2平歯車102、第1平歯車70、及び軸体51が回転する。第1平歯車70の歯数と第2平歯車102の歯数との比が「1:1」、及び第1傘歯車96の歯数と第2傘歯車101の歯数との比が「1:1」となっていることから、荒調整ノブ30の回転量だけ軸体51が回転する。このとき、第2回転機構47は、回転しながら昇降方向d2(軸心O1)に沿って移動する。なお、第2平歯車102の回転により、第1平歯車70、軸体51を介してウォームホイール63が回転しようとするが、ウォームホイール63とウォーム110との歯面の摩擦が大きくてウォーム110を回転させることはない。この結果、試料支持機構12の昇降方向d2位置が調整される。なお、第1平歯車70の昇降方向d2への移動により、第1平歯車70と第2平歯車102とが昇降方向d2に沿う方向に相対移動しても互いの噛合が維持されているため、荒調整ノブ30による試料支持機構12の昇降方向d2への位置調整が円滑に行える。
(1) 本実施形態のミクロトームでは、切断刃14を移動する切断刃移動機構15と、切断刃移動機構15の移動軌跡上に試料を移動するための爪支持部材130(入力操作部)を有するようにした。そして、切断刃移動機構15のハンド操作板24(手動操作部)に、位置調整機構13(検鏡試料位置調整機構)の爪支持部材130に連係されたワイヤ44(入力伝達手段)を駆動操作する操作レバー40(操作手段)を設けた。
・ 又、前記実施形態では、テーブル18を水平に配置したが、斜状に配置してもよい。
(1) 請求項4において、前記検鏡試料位置調整機構は、さらに、前記昇降機構を介して前記試料の位置の荒調整が可能な荒調整機構を含むことを特徴とするミクロトーム。こうすると、荒調整機構を含むミクロトームにおいても、一方の手で、切断刃移動機構と検鏡試料位置調整機構とを操作することができることにより操作性を向上し、そのことによって、あいている他方の手で検鏡試片を取り去ることができる。
12…試料支持機構
13…位置調整機構(検鏡試料位置調整機構)
14…切断刃
15…切断刃移動機構
24…ハンド操作板(手動操作部)
25…昇降機構
26…荒調整機構
27…微調整機構
40…操作レバー(操作手段)
S…試料
Claims (2)
- 切断刃を移動する切断刃移動機構と、前記切断刃の移動軌跡上に試料を移動するための入力操作部を有する検鏡試料位置調整機構を備えたミクロトームにおいて、
前記切断刃移動機構の手動操作部に、前記検鏡試料位置調整機構の入力操作部に止着されたひも状部材を駆動操作する操作手段が設けられ、
前記ひも状部材は、前記切断刃移動機構の手動操作部の移動軌跡に沿って配置され、
前記手動操作部を把持した手にて、前記操作手段を駆動操作することにより、前記ひも状部材が駆動操作されて、前記入力操作部を操作することを特徴とするミクロトーム。 - 前記検鏡試料位置調整機構は、前記試料を昇降させる昇降機構と、前記昇降機構を介して前記試料の位置の微調整が可能な微調整機構とを含み、
前記入力操作部は、前記微調整機構に設けられており、前記操作手段にて前記入力伝達手段を介して該入力操作部を操作することにより、前記試料の位置の微調整がされることを特徴とする請求項1に記載のミクロトーム。
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