JP4326670B2 - チップ抵抗器の製法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、チップ抵抗器やチップインダクタ、チップヒューズなどのように、チップ型の絶縁性基板の両端部に一対の電極が設けられ、その間に接続される電子素子上を保護膜で被覆する構造のチップ抵抗器の製法に関する。さらに詳しくは、たとえば長さが1mm程度以下のような非常に小形になっても、保護膜の表面が平坦で、両端の電極形状を正確に認識することができる構造のチップ抵抗器の製法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来のチップ抵抗器は、たとえば図4(a)に示されるような構造になっている。すなわち、図4(a)で、アルミナなどからなる絶縁性基板1の対向する両端部に一対の厚膜電極2、3が第1上面電極21a、31a、第2上面電極21b、31bおよび裏面電極22、32とこれらを連結する側面電極23、33により形成され、両電極に接続されるように厚膜抵抗体4が絶縁性基板1上に形成されている。そして、抵抗体4の表面側に厚膜の保護膜5が1〜3層で形成されている。なお、厚膜は5〜10μm程度の厚さに形成される。
【0003】
前述のような構造のチップ抵抗器などのチップ電子部品は、元々小形に形成されているが、電子機器の軽薄短小化に伴い、たとえば図4(b)に示される平面説明図において、縦A×横Bは1mm×0.5mmからさらに0.6mm×0.3mm程度のものが要求されてきている。このような小形になっても、回路基板などにマウントされる場合、自動機でマウントされ、その表面の電極の位置を認識することにより、電子部品の位置の確認がなされる。しかし、上面電極21b、31bの幅Cは0.1mm程度しかなく、しかもこの上面電極21b、31bと保護膜5との境界は、図4(b)に平面説明図が示されるように、ギザギザになり上面電極21b、31bを正確に認識することができない。
【0004】
すなわち、レーザトリミングなどにより抵抗値が調整された抵抗体4の表面を保護するため、その表面にまず保護膜5が形成されるが、保護膜5の厚さは、20〜30μm程度あり、凹凸のある狭い凹部に第2上面電極材料を印刷しなければならないため、マスクが密着せず、第2上面電極21b、31bのファインパターンを形成し難い。さらに、保護膜5を形成するペーストの粘度が低いと第1表面電極21a、21b上に流れるため、粘度が少なくとも100Pa・s以上、通常は200Pa・s程度のものが使用され、しかもその長さが0.5mm程度以下しかないと、上面は平坦にならず、表面張力により凸面を形成しやすい。そのため、保護膜5に重なって、第2上面電極21b、31bが形成されることになり、その境界面がギザギザになって、電極のパターンを認識し難くなる。
【0005】
一方、図5に示されるように、抵抗値の調整時に削った溝をまず埋めるように、抵抗体4の上にミドルコート51が設けられ、その後に第2上面電極21b、31bを形成する方法が採用される場合がある。この場合は、ミドルコート51と第2上面電極21b、31bとがほぼフラットとなり、その上に設けられる第2保護膜52をクリアなパターンで形成することができる。しかし、この第2保護膜52は、20〜30μm程度は設けられないと、ピンホールが生じやすく、レーザトリミングによる凹溝を完全に埋めて表面を平坦化させることができないため、第2表面電極21b、31bと第2保護膜52の表面との段差tが20〜30μm程度生じることになり、同様に電極表面を自動認識し難い。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
前述のように、従来の安価なチップ抵抗器などのチップ型電子部品は、電極材料や抵抗体などの材料をペースト状にして印刷し、硬化させる厚膜法により形成されるが、部品の大きさが小さくなるにしたがって、その印刷パターンを精細に行うことが難しくなっている。しかし、たとえば電極パターンを認識することにより、その位置の確認を行うような実装方法では、小形化しても、その電極パターンなどを正確に認識できる構造のチップ型電子部品が望まれている。
【0007】
さらに、前述のように保護膜が厚くなるにつれて、その表面の平坦性が得られず、実装する場合の真空吸着などを行いにくいという問題もある。
【0008】
本発明は、このような状況に鑑みてなされたもので、非常に小形のチップ電子部品でも、その保護膜の表面が平坦化され、両端部の電極パターンがクリアに形成され、正確に自動認識することができる構造のチップ抵抗器の具体的な製法を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明によるチップ抵抗器の製法は、(a)絶縁性基板の両端部に、一対の第1上面電極を設け、(b)前記一対の第1上面電極の一部に重なり、所定の形状になるように前記絶縁性基板上に抵抗体を形成し、(c)前記一対の第1上面電極の露出する表面のそれぞれに一対の第2上面電極を形成し、(d)前記抵抗体上に保護膜を形成するチップ抵抗器の製法であって、複数個のチップ抵抗器を一度に形成する大きな基板の状態で、複数個のチップ抵抗器の前記一対の第1および第2の上面電極を連続して並ぶように形成すると共に、前記一対の第2上面電極を厚膜により形成し、該一対の第2上面電極により挟まれる前記抵抗体の表面に、前記一対の第2上面電極の側壁を覆って表面が平坦になるように、前記大きな基板の一方向から粘度の小さいペーストを流し込むように塗布して硬化させることにより、前記一対の第2上面電極の間隙部に前記保護膜を形成することとを特徴としている。
【0011】
ここに厚膜とは、電極材料をペースト状にして塗布し硬化させることにより厚く形成される膜を意味する。また、電子素子とは抵抗体、インダクタ素子などの電子部品の主要部を構成する素子を意味する。
【0012】
この構成にすることにより、狭いパターンの一対の第2上面電極が先に形成され、その第2上面電極により挟まれた凹部に粘度の低いペーストが流し込まれて硬化させることにより保護膜が形成されているため、保護膜の表面は平坦化され、かつ、第2上面電極は、保護膜が形成される前のほぼ平坦な状態で形成されているため、ファインパターンで形成され、0.1mm程度の非常に細いパターンでも正確に認識することができるように形成されている。なお、この第2上面電極は、ペースト状電極材料を印刷などにより塗布して硬化させることにより形成する厚膜により形成されているため、図1に示されるように底部で広く、上部で狭いテーパ状に形成される。そのため、その両電極間に印刷される粘度の小さい保護膜用のペーストは第2上面電極の側壁に覆い重なるように設けられ、硬化する。
【0013】
前記第2上面電極上にさらに一対の第3上面電極が設けられていることにより、第3上面電極は、ほぼ平坦面に数μm程度に形成されればよいため、より一層電極パターンをファインパターンにより形成することができる。
【0015】
前記粘度の小さいペーストとして50Pa・s以下の粘度のペーストを使用することにより、一対の第2上面電極の間にペーストが流れ込んで、表面が平坦な保護膜を形成することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】
つぎに、本発明のチップ抵抗器の製法について、図面を参照しながら説明をする。本発明の製法により得られるチップ抵抗器は、その断面説明図が図1に示されるように、たとえばアルミナなどからなる、平面形状が矩形状の絶縁性基板1上の、相対向する両端部に、一対の第1上面電極21a、31aが設けられており、その一対の第1上面電極21a、31aと両端部が電気的に接続されるように、電子素子、図1に示される例では抵抗体4が基板1上に設けられている。この一対の第1上面電極21a、31a上に一対の厚膜の第2上面電極21b、31bがそれぞれ設けられており、その一対の第2上面電極21b、31bの間で抵抗体4の表面に、第2上面電極21b、31bの側壁を覆って表面が平坦になるように、粘度の小さいペーストを硬化させることにより、保護膜5が設けられている。
【0017】
すなわち、この種の電子部品を製造するには、電極材料や抵抗体などの電子素子を構成する材料はガラスまたは樹脂によりペースト状にしたものを印刷などにより塗布し、600〜900℃程度で焼成(ガラスペーストの場合)、または200〜240℃程度で硬化(樹脂ペーストの場合)させることにより形成する厚膜法と、スパッタリング法などにより成膜してフォトリソグラフィ工程によりパターニングすることにより形成する薄膜法とがあるが、本発明では安価に製造することができる厚膜法を主として用い、少なくとも第2上面電極21b、31bおよび保護膜5が厚膜により形成されながら、非常に小形のチップ型電子部品でも、その上面電極がファインパターンで形成されていることに特徴がある。
【0018】
基板1は、たとえばアルミナ、サファイア、またはSiウェハなどが用いられる。厚膜の電極材料としては、一般には金属粉末とガラスまたは樹脂とを混合してペースト状にしたものが使用され、混入する金属粉末により、Ag系、Ag-Pd系、Au系などを用いられているが、図1に示される例では、第1上面電極21a、31aとして、Au系ガラスペーストからなる厚膜電極が用いられ、第2上面電極21b、31bとして、Ag系樹脂ペーストが用いられている。ここに「系」とは、Agを主体としながらPdなどの他の元素が添加されるものを含むことを意味する。
【0019】
図1に示される例では、第2上面電極21b、31bの間に保護膜5が形成されて第2上面電極21b、31bと保護膜5とがほぼ等しい高さになった後に、第2上面電極21b、31b上にAg系樹脂ペーストからなる第3上面電極21c、31cが形成されている。また、基板1の裏面で、上面電極に対応する両端部にAu系ガラスペーストまたはAg系樹脂ペーストを塗布して硬化させることにより裏面電極22、32が形成されており、その各上面電極21、31および裏面電極22、32とを接続するように絶縁性基板1の側面に側面電極23、33がAg系樹脂ペーストからなる厚膜電極により形成されている。この電極の表面に、図示しないNiメッキおよびハンダメッキからなるメッキ層が設けられることにより、一対の電極2、3が形成されている。
【0020】
抵抗体4は、たとえば酸化ルテニウム(RuO2)および抵抗値調整のためのAg、Pdなどをガラスペーストまたは樹脂ペーストに混入したペースト材料を、印刷などにより所望の形状に塗布して硬化させることにより形成されている。なお、抵抗体4は、厚膜ではなく、Ni-Cr系、Ta系、Ta-N系、TaSiO2のようなTa-Si系などの金属膜を所望の抵抗値に応じて選択してスパッタリングなどにより成膜して所望の形状にパターニングすることにより薄膜で形成されてもよい。
【0021】
保護膜5は、エポキシ樹脂のような樹脂ペーストを印刷などにより塗布して硬化させることにより形成されている。通常は、この種の印刷により塗布するペーストは、粘度が小さいと横に垂れてしまい、所望の形状に形成し難いため、粘度が200Pa・s程度、少なくとも100Pa・s程度以上のものが使用される。しかし、本発明では、この粘度を小さくして、50Pa・s以下の流れやすいペーストを使用していることに特徴がある。
【0022】
すなわち、本発明では、第2上面電極21b、31bが形成されており、その間に流し込むかたちで充填されているため、横に垂れることはない。すなわち、図2に示されるように、製造段階では、大きな基板に何万個もの抵抗器が一度に製造され、最終的にラインL1で、バー状に分割し、さらにラインL2で個々のチップに分割される。そのため、一対の電極は横方向に複数列で並び、図2の矢印で示されるように、その一対の電極21、31間ごとに粘度の小さい樹脂ペーストがスキージなどにより充填されるように塗布されている。その結果、印刷のマスクがしっかりと位置合せされていなくても、一対の電極列の間に樹脂ペーストが塗布されると共に、粘度が小さいためその表面は平坦化され、平坦な保護膜5が得られる。なお、一対の第2上面電極21b、31bは同様にペーストの塗布により形成されており、多少根元はだれるため、保護膜5はそのだれた根元部分上に重なるように形成される。
【0023】
図1に示される例では、保護膜5が一層の例で示されているが、抵抗体4の表面にまず第1保護膜を形成し、レーザトリミングの際に削られた抵抗体の粉末などが付着して抵抗特性に影響しないようにし、さらにレーザトリミング後にトリミングにより掘られた溝を埋める第2保護膜を設け、その上に最終的な第3保護膜を形成する3層構造、または第1保護膜と第3保護膜による2層構造などで形成される場合もある。これらの場合も、最終的な保護膜が、第2上面電極が形成された後に、粘度の小さいペーストを塗布して硬化させることにより形成される。
【0024】
なお、この最終的な保護膜5は、高温で焼成すると抵抗体4の抵抗値が変化する可能性があるため、前述の例のように、エポキシ樹脂などからなる樹脂製ペーストを塗布して200〜240℃程度で硬化させるのが好ましい。しかし、ホウケイ酸鉛ガラスなどを用いたガラス系のペーストを印刷して、600〜900℃程度で焼結することもできる。
【0025】
つぎに、本発明のチップ抵抗器の製法について、図3に示されるフローチャートを参照しながら説明する。なお、図1には1個分のチップ抵抗器の断面説明図が示されているが、実際に製造する場合は、前述の図2に示されるように、6cm×7cm程度の大きな基板に1万〜5万個分程度の電極や抵抗体を同時に形成し、バー状に切断して露出する側面に側面電極を形成し、さらにその後バー状に連なったチップ抵抗器を1個1個に切断分離することにより製造される。
【0026】
まず、基板1裏面の所定の場所にAg系グレーズペーストまたはAu系金属有機物からなる電極材料のペーストを印刷する。そして、600〜900℃程度で焼成することにより厚膜の裏面電極22、32(図1参照)を形成する(S1)。ついで、基板1表面の裏面電極22、32に対応する部分(チップ抵抗器の両端部)に、たとえばAu系またはAg系の金属有機物(ガラスペースト)からなる電極材料を印刷により塗布して焼成することにより、第1上面電極21a、31aを形成する(S2)。その後、酸化ルテニウム(RuO2)をガラスペーストに混入した抵抗体ペースト材料を両端の第1表面電極21a、31aの間の基板1上に、その上面電極21a、31aの一部にかかるように、所定の形状で印刷して焼成することにより抵抗体4を形成する(S3)。
【0027】
その後、一対の第1上面電極21a、31aにプローブ電極を接触させて抵抗値を測定しながら、所望の抵抗値になるようにレーザトリミングを行い抵抗値の調整を行う(S4)。ついで、たとえばAgとPdを樹脂に混合したAg系有機ペースト(樹脂ペースト)からなる電極材料を、第1上面電極21a、31aの上に印刷により塗布して200℃程度で硬化させることにより、第2上面電極21b、31bを形成する(S5)。
【0028】
つぎに、マスクを表面に載せて、粘度が50Pa・s以下のエポキシ樹脂からなる樹脂ペーストを印刷により第2上面電極21b、31bの間隙部に塗布する。この際、図2に示されるように、第2上面電極21b、31bの間隙部に沿って、表面に設けられるマスク上のペーストをスキージにより塗りこむことにより、粘度の小さいペーストが第2上面電極21b、31bの間に流れ込むように塗布される。そして、200〜240℃程度で硬化させることにより、表面が平坦な保護膜5が形成される(S6)。その後、第2上面電極21b、31bの上に同様の材料により第3上面電極21c、31cを5μm程度の厚さに形成する(S7)。第2上面電極21b、31bのパターンは正確に形成されているため、この第3上面電極21c、31cはなくても良いが、第3上面電極21c、31cは、ほぼ平坦面に形成できるため、より一層ファインパターンで得られる。
【0029】
ついで、大きな基板を一対の上面電極21、31を結ぶ方向と垂直な方向に並ぶ一列ごとに分離されるように、図2のラインL1でバー状に切断する(S8)。そして、上面電極21、31と裏面電極22、32とを接続するようにAg系樹脂ペーストからなる電極材料を塗布して硬化させることにより、側面電極23、33を形成する(S9)。その後、バー状に連結されているチップ抵抗器を、図2のラインL2でチップ状に分割し(S10)、電極の露出面にNiメッキおよびPb/Snなどからなるハンダメッキを行うことにより、図1に示されるチップ抵抗器が得られる(メッキ層は図示せず)。
【0030】
本発明によれば、非常に小形化して、段差の大きい部分に細いパターンの電極を精度良く形成できない場合でも、段差の大きくない初期に第2上面電極が形成され、その後に粘度の小さいペーストの塗布と硬化により保護膜が形成されているため、保護膜の表面を平坦で第2上面電極の間のみに形成される。さらに、第2上面電極上に第3上面電極を形成することにより、ほぼ平坦な表面上に形成されるため、より一層ファインパターンで形成され、小さなチップ抵抗器で、0.1mm程度しかない電極幅でも、非常に正確に形成される。
【0031】
前述の例は、チップ抵抗器の例であったが、チップインダクタやチップヒューズのように、チップ型基板の両端部に一対の電極を有し、その一対の電極と接続されるように抵抗体のような電子素子が形成され、その表面に保護膜が形成される場合でも同様に先に上面電極を形成し、その間に粘度の小さいペーストを塗布して硬化させることにより表面が平坦な保護膜を形成することができる。
【0032】
【発明の効果】
本発明によれば、非常に小形のチップ型電子部品でも、その表面の電極が正確なパターンで形成されているため、実装する際に上面電極をモニターすることにより、部品の正確な位置合せをするこができる。さらに、実装の際に真空吸引する場合でも、保護膜の表面が平坦に形成されているため、その部分で吸引することができ、非常に小形で真空吸引する場所がない場合でも、確実に吸引することができる。その結果、チップ電子部品のさらなる小形化に大きく寄与する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の製法により得られるチップ抵抗器の断面説明図である。
【図2】図1のチップ抵抗器の製造工程における大きな基板の平面説明図である。
【図3】 本発明によるチップ抵抗器の製法の一実施形態を示すフローチャートである。
【図4】従来のチップ抵抗器の構造例を示す断面説明図である。
【図5】従来のチップ抵抗器における他の構造例を示す断面説明図である。
【符号の説明】
1 基板
2、3 電極
4 抵抗体
5 保護膜
21a、31a 第1上面電極
21b、31b 第2上面電極
21c、31c 第3上面電極
Claims (3)
- (a)絶縁性基板の両端部に、一対の第1上面電極を設け、(b)前記一対の第1上面電極の一部に重なり、所定の形状になるように前記絶縁性基板上に抵抗体を形成し、(c)前記一対の第1上面電極の露出する表面のそれぞれに一対の第2上面電極を形成し、(d)前記抵抗体上に保護膜を形成するチップ抵抗器の製法であって、
複数個のチップ抵抗器を一度に形成する大きな基板の状態で、複数個のチップ抵抗器の前記一対の第1および第2の上面電極を連続して並ぶように形成すると共に、前記一対の第2上面電極を厚膜により形成し、該一対の第2上面電極により挟まれる前記抵抗体の表面に、前記一対の第2上面電極の側壁を覆って表面が平坦になるように、前記大きな基板の一方向から粘度の小さいペーストを流し込むように塗布して硬化させることにより、前記一対の第2上面電極の間隙部に前記保護膜を形成することとを特徴とするチップ抵抗器の製法。 - 前記粘度の小さいペーストとして50Pa・s以下の粘度のペーストを使用する請求項1記載のチップ抵抗器の製法。
- 前記第2上面電極上にさらに一対の第3上面電極を形成する請求項1または2記載のチップ抵抗器の製法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000148674A JP4326670B2 (ja) | 2000-05-19 | 2000-05-19 | チップ抵抗器の製法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000148674A JP4326670B2 (ja) | 2000-05-19 | 2000-05-19 | チップ抵抗器の製法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001332407A JP2001332407A (ja) | 2001-11-30 |
JP4326670B2 true JP4326670B2 (ja) | 2009-09-09 |
Family
ID=18654664
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000148674A Expired - Fee Related JP4326670B2 (ja) | 2000-05-19 | 2000-05-19 | チップ抵抗器の製法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4326670B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4512004B2 (ja) * | 2005-07-19 | 2010-07-28 | 立山科学工業株式会社 | チップ抵抗器 |
-
2000
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2001332407A (ja) | 2001-11-30 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061228 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080417 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080520 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080717 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090610 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120619 Year of fee payment: 3 |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4326670 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120619 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130619 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |