JP4321665B2 - 回転角度検出装置 - Google Patents

回転角度検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4321665B2
JP4321665B2 JP2008283246A JP2008283246A JP4321665B2 JP 4321665 B2 JP4321665 B2 JP 4321665B2 JP 2008283246 A JP2008283246 A JP 2008283246A JP 2008283246 A JP2008283246 A JP 2008283246A JP 4321665 B2 JP4321665 B2 JP 4321665B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic flux
magnet
magnetic
rotation angle
axis direction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008283246A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009025317A (ja
Inventor
彰利 水谷
隆央 伴
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2008283246A priority Critical patent/JP4321665B2/ja
Publication of JP2009025317A publication Critical patent/JP2009025317A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4321665B2 publication Critical patent/JP4321665B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Description

本発明は、2つの部材(例えば、回転部材と非回転部材)の相対回転角度を検出する回転角度検出装置に関する。
(従来の技術)
従来の回転角度検出装置の概略構造を図9(a)、(b)を参照して説明する。
回転角度検出装置は、回転軸(以下、Z軸と称す)上に配置された磁気検出素子J1 (例えば、ホールICに内蔵されるホール素子)と、この磁気検出素子J1 に向けて磁束を与える半円筒形状の磁束付与磁石J2 と、この磁束付与磁石J2 から磁気検出素子J1 に向けて与えられた磁束を吸引する半円筒形状の磁束吸引磁石J3 とを具備する。
磁束付与磁石J2 と磁束吸引磁石J3 は、円筒形状を呈したヨークJ4 の内周面に固定されたものであり、Z軸に垂直な方向の厚さ、即ち磁束付与磁石J2 と磁束吸引磁石J3 の厚みは一定であった。
一方、磁気検出素子J1 は、磁束付与磁石J2 と磁束吸引磁石J3 に囲まれた状態で支持される。
磁束発生手段(磁束付与磁石J2 および磁束吸引磁石J3 )と、磁気検出素子J1 との相対回転角度が変化すると、磁気検出素子J1 の磁気検出面と直交する方向の磁束密度が変化する。
具体的には、図10(a)に示す相対回転角度(この回転角度を0°とする)から、図10(b)に示す相対回転角度(この回転角度を90°とする)へ磁束発生手段を回転させることにより、磁気検出素子J1 の磁気検出面と直交する方向の磁束密度は図11に示されるように変化する。
磁気検出素子J1 は、磁気検出面と直交する方向の磁束密度に応じた出力信号を発生するため、回転角度検出装置は、磁気検出素子J1 の出力信号に基づいて、磁束発生手段側の部材と、磁気検出素子J1 側の部材との相対回転角度を検出することができる(例えば、特許文献1〜4参照)。
(従来の技術の不具合)
上記構成を採用する従来の回転角度検出装置は、次の問題を有していた。
(1)例えば、図10(b)に示す回転角度90°の状態で、磁気検出素子J1 の設置位置が、磁気検出素子J1 の磁気不感方向(以下、X軸方向)にずれた場合、磁束付与磁石J2 および磁束吸引磁石J3 と、磁気検出素子J1 との距離が接近する。すると、図12の破線に示す理想の磁束密度(磁気検出素子J1 の設置位置がX軸方向へずれても変化のない磁束密度)に対し、図12の実線A’に示されるように、磁気検出素子J1 を通過する磁束密度が増加する。
このように、組付け時の誤差等によって、磁気検出素子J1 の設定位置がX軸方向にずれると、磁気検出素子J1 を通過する磁束密度が増加して、磁気検出素子J1 から所定以上の出力が発生し、回転角度の検出誤差が発生する。
(2)上記では、磁束付与磁石J2 および磁束吸引磁石J3 を、それぞれ1つの磁石で構成する例を示した。これに対して、図13に示すように、磁束付与磁石J2 と磁束吸引磁石J3 のそれぞれを2つの平板磁石で構成して、Z軸方向から見て回転方向に略円弧状に配置した場合について説明する。
この場合、図13に示す回転角度90°の状態で、磁気検出素子J1 の設置位置が、磁気検出素子J1 のX軸方向にずれた場合、磁束付与磁石J2 および磁束吸引磁石J3 と、磁気検出素子J1 との距離が接近する。すると、上記(1)と同様、図12の破線に示す理想の磁束密度に対し、図12の実線A’に示されるように、磁気検出素子J1 を通過する磁束密度が増加する。
このように、組付け時の誤差等によって、磁気検出素子J1 の設定位置がX軸方向にずれると、磁気検出素子J1 を通過する磁束密度が増加して、磁気検出素子J1 から所定以上の出力が発生し、回転角度の検出誤差が発生する。
特許第3206204号公報 特開平2−122205号公報 特開平2−298815号公報 特開昭64−37607号公報
本発明は上記の事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、X軸方向に磁気検出素子の設置位置がずれた場合であっても、そのずれによる磁気検出素子を通過する磁束密度の増加または低下をなくし、回転角度の検出誤差の発生を防ぐ
〔請求項1の手段〕
請求項1の手段を採用する回転角度検出装置は、磁束付与磁石と磁束吸引磁石が、Z軸方向から見て回転方向に沿う円弧状を呈する場合、磁束付与磁石および磁束吸引磁石の少なくとも一方のZ軸方向から見た厚みを、中央が厚く、端側が薄く設けるものである。
このように設けられることにより、磁気検出素子の設置位置がX軸方向にずれた場合、端側が薄く設けられた磁石(磁束付与磁石および磁束吸引磁石の少なくとも一方)によって、ずれによる磁気検出素子を通過する磁束密度の増加をなくすことができ、結果的に回転角度の検出誤差の発生を防ぐことができる。
即ち、上記第1の目的を達成することができる。
請求項2の手段〕
請求項2の手段を採用する回転角度検出装置の磁束付与磁石および磁束吸引磁石は、それぞれ半円筒形状を呈する1つの磁石によって構成され、磁束付与磁石と磁束吸引磁石で直径方向に分割された略円筒形状を呈するものである。
請求項3の手段〕
請求項3の手段を採用する回転角度検出装置の磁束付与磁石および磁束吸引磁石は、それぞれ複数の磁石がZ軸方向から見て回転方向へ円弧状に並んで配置されることによって構成されるものである。
請求項4の手段〕
請求項4の手段を採用する回転角度検出装置の磁束付与磁石、磁束吸引磁石の少なくとも一方は、回転軸方向から見た内面が、多次曲線を有する曲面に設けられるものであり、回転軸方向から見た内面、外面の少なくとも一方の多次曲線は、回転軸方向から見た左右の曲率変化が異なり、左右非対称に設けられるものである。
請求項5の手段〕
請求項5の手段を採用する回転角度検出装置の磁束付与磁石、磁束吸引磁石の少なくとも一方は、回転軸方向から見た外面が、多次曲線を有する曲面に設けられるものであり、回転軸方向から見た内面、外面の少なくとも一方の多次曲線は、回転軸方向から見た左右の曲率変化が異なり、左右非対称に設けられるものである。
請求項6の手段〕
請求項6の手段を採用する回転角度検出装置の磁束付与磁石、磁束吸引磁石の少なくとも一方は、回転軸方向から見た内面が、多次曲線を有する曲面に設けられるとともに、回転軸方向から見た外面が、多次曲線を有する曲面に設けられるものであり、回転軸方向から見た内面、外面の少なくとも一方の多次曲線は、回転軸方向から見た左右の曲率変化が異なり、左右非対称に設けられるものである。
請求項7の手段〕
請求項7の手段を採用する回転角度検出装置の磁束付与磁石、磁束吸引磁石の少なくとも一方は、回転軸方向に沿う内面が、多次曲線を有する曲面に設けられるものであり、回転軸方向に沿う内面、外面の少なくとも一方の多次曲線は、回転軸に直交する方向から見た磁気検出素子の設定位置の左右の曲率変化が異なり、回転軸に直交する方向から見た磁気検出素子の設定位置を基準にした左右非対称に設けられるものである。
請求項8の手段〕
請求項8の手段を採用する回転角度検出装置の磁束付与磁石、磁束吸引磁石の少なくとも一方は、回転軸方向に沿う外面が、多次曲線を有する曲面に設けられるものであり、回転軸方向に沿う内面、外面の少なくとも一方の多次曲線は、回転軸に直交する方向から見た磁気検出素子の設定位置の左右の曲率変化が異なり、回転軸に直交する方向から見た磁気検出素子の設定位置を基準にした左右非対称に設けられるものである。
請求項9の手段〕
請求項9の手段を採用する回転角度検出装置の磁束付与磁石、磁束吸引磁石の少なくとも一方は、回転軸方向に沿う内面が、多次曲線を有する曲面に設けられるとともに、回転軸方向に沿う外面が、多次曲線を有する曲面に設けられるものであり、回転軸方向に沿う内面、外面の少なくとも一方の多次曲線は、回転軸に直交する方向から見た磁気検出素子の設定位置の左右の曲率変化が異なり、回転軸に直交する方向から見た磁気検出素子の設定位置を基準にした左右非対称に設けられるものである。
本発明の最良の形態を、複数の実施例と変形例を用いて説明する
図1〜図3を用いて実施例1を説明する。まず、図1を参照して回転角度検出装置の基本構成を説明する。なお、図1(a)は回転角度検出装置をZ軸方向から見た図であり、図1(b)は回転角度検出装置のZ軸方向に沿う断面図である。
この実施例に示す回転角度検出装置は、例えばスロットルバルブの回転角度(開度)を検出するためのものであり、スロットルバルブと図示しない部材を介して一体に回転するロータ1(回転部材)と、ホール素子2(磁気検出素子の一例)を内蔵するホールIC3とを備える。このホールIC3は、図示しない固定部材(非回転部材)によって支持されて、ホール素子2がロータ1のZ軸上に配置される。
ロータ1は、ホールIC3の周囲に同芯的に配置されたものであり、円筒形状を呈したヨーク4と、ホールIC3を通過する磁束を発生させる磁束発生手段5とを備える。
この磁束発生手段5は、ホール素子2に磁束を与える磁束付与磁石6と、磁束付与磁石6からホール素子2に向けて与えられた磁束を吸引する磁束吸引磁石7とによって構成される。即ち、磁束付与磁石6の内周面がN極の極性で、磁束吸引磁石7の内周面がS極の極性を持つように配置されている。
磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7は、ホール素子2の両側に距離を隔てて対向配置される。この実施例の磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7は、それぞれ半円筒形状を呈するものであり、磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7によって直径方向に分割された略円筒形状を呈する。そして、磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7の円弧端が対向する部分には所定のエアギャップが形成される。そして、磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7は、ヨーク4内に固定されて、ホール素子2を囲んで配置される。
ロータ1の中心に同芯的に配置されたホールIC3は、ホール素子2と信号処理回路等を一体化した周知のICであり、ホール素子2の磁気検出面に対して直交する方向の磁束密度に応じた電圧信号を出力する。
上記構成における回転角度検出装置の作動を、図2を参照して説明する。
なお、以下では、図1に示されるように、ロータ1の回転軸をZ軸とし、このZ軸と直交する方向で、且つホール素子2の磁気不感方向(磁気検出面に沿う方向)をX軸とし、上記Z軸と直交する方向で、且つホール素子2の磁気検出方向(磁気検出面に直交する方向)をY軸として説明する。
ここで、磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7との間のエアギャップの中心がY軸方向に向くロータ1の回転角度を0°、磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7との間のエアギャップの中心がX軸方向に向くロータ1の回転角度を90°(図1参照)とする。
回転角度検出装置は、磁束付与磁石6→ホールIC3(ホール素子2)→磁束吸引磁石7という経路で磁束が流れる磁気回路が形成される。そして、スロットルバルブとともにロータ1が回転すると、ホール素子2の磁気検出面と直交する磁束が変化する。
即ち、図1(a)に示すように、磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7との間のエアギャップの中心がX軸方向に向く位置(回転角度90°)の時にホール素子2の磁気検出面に直交する磁束密度が最大になり、ロータ1の回転角度が90°より増加しても、逆に90°より減少しても、回転角度に応じてホール素子2の磁気検出面に直交する磁束量が減少する。
そして、磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7との間のエアギャップの中心がY軸方向に向く位置(回転角度0°)では、ホール素子2の磁気検出面と直交する磁束が0になる。
さらに、回転角度が0°よりもマイナス側に回転すると、回転角度に応じてホール素子2の磁気検出面と直交する反対方向の磁束量が増加する。そして、ロータ1の回転角度が−90°の時にホール素子2の磁気検出面と直交する逆向きの磁束密度が最大になる。
回転角度が−90°よりもさらにマイナス側に回転すると、回転角度に応じて磁気検出面と直交する反対方向の磁束量が減少を始め、ホール素子2を通過する逆向きの磁束密度が減少する。
[実施例の特徴]
スロットルバルブの開度を検出する回転角度検出装置では、微小開度(アイドリング付近)を高い精度で検出する要求があるために、磁束密度0付近をスロットルバルブの0°位置として使用する場合がある。このため、スロットルバルブの開度を検出する回転角度検出装置は、通常、回転角度0°〜90°の範囲において使用される。
背景技術の項の(1)でも説明したように、ロータ1の回転角度90°の状態で、ホール素子2の設置位置がX軸方向へずれた場合、磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7と、ホール素子2との距離が接近するため、ホール素子2を通過する磁束密度が増加する(図3の実線A’参照)。このため、組付け時の誤差等によって、ホール素子2の設定位置がX軸方向にずれると、ホール素子2を通過する磁束密度が増加して、ホール素子2から所定以上の出力が発生し、回転角度の検出誤差を招いてしまう。
そこでこの実施例1では、上記の不具合を解決するために、磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7をZ軸方向から見た厚み、即ち円弧方向(回転方向と同義)に沿う厚みを、図1(a)に示すように、円弧方向の中央B1 が厚く、円弧方向の端B2 側が薄くなるように設けている。これにより、磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7の内周面とホール素子2との距離が、端B2 に向かうにつれて次第に大きくなるように構成される。この磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7の厚みの変化は、ホール素子2の設置位置がX軸方向へずれるのに応じて変化するホール素子2を通過する磁束密度の変化幅に基づいて設定される。つまり、ホール素子2の設置位置がX軸方向へずれても、ホール素子2を通過する磁束密度が変化しないように設定される。
本実施例の回転角度検出装置は、上記のように設けられることにより、回転角度検出装置の組付け誤差等によって、ホール素子2の設置位置が磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7の中心からX軸方向へずれても、ずれた方向に薄くなった磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7によって、ずれによるホール素子2を通過する磁束密度の増加をなくすことができる。具体的には、図3の実線Aに示されるように、ホール素子2の設置位置が中央からX軸方向へずれても磁束密度は増加せず、ほぼ理想の磁束密度を得ることができる。
即ち、回転角度検出装置の組付け誤差等によって、ホール素子2の設置位置がX軸方向へずれても磁束密度が変化しないため、回転角度の検出誤差の発生を防ぐことができる。
なお、この実施例1では、磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7の円弧方向の端B2 側を薄くする手段として、磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7の内周面を削った形状(内面を窪ませた形状)に設けた例を示したが、逆に、磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7の外周面を削った形状(外面を窪ませた形状)に設けても、同様の効果を得ることができる。
また、この実施例1では、磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7の両方の厚みを変化させる例を示したが、磁束付与磁石6または磁束吸引磁石7の一方のみの厚みを変化させても良い。例えば、図4に示すように、磁束付与磁石6または磁束吸引磁石7の一方のみの円弧方向の中央B1 を厚く、円弧方向の端B2 側を薄く設けて、磁束付与磁石6または磁束吸引磁石7の他方の円弧方向に沿う厚みを一定に設けても良い。即ち、磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7のZ軸側の曲率をそれぞれ変えても良い。このように設けても、同様の効果を得ることができる。
図5を用いて実施例2を説明する。この図5(a)は回転角度検出装置をZ軸方向から見た図であり、図5(b)は回転角度検出装置のZ軸方向に沿う断面図である。なお、この実施例2以降における実施例1と同一符号は、特に説明を加えない限り同一機能物を示すものである。
上記の各実施例では、半円筒形を呈する磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7を例に示した。それに対してこの実施例2は、図5(a)に示すように、磁束付与磁石6を複数(この実施例では2つ)の磁石6aを組み合わせてZ軸方向から見て略円弧状を呈するように配置するとともに、磁束吸引磁石7も複数(この実施例では2つ)の磁石7aを組み合わせてZ軸方向から見て略円弧状を呈するように配置したものである。
背景技術の項の(2)でも説明したように、ロータ1の回転角度90°の状態で、ホール素子2の設置位置がX軸方向へずれた場合、磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7と、ホール素子2との距離が接近するため、ホール素子2を通過する磁束密度が増加する(図3の実線A’参照)。このため、組付け時の誤差等によって、ホール素子2の設定位置がX軸方向にずれると、ホール素子2を通過する磁束密度が増加して、ホール素子2から所定以上の出力が発生し、回転角度の検出誤差を招いてしまう。
そこで、この実施例2は、上記の不具合を解決するために、それぞれが2つの磁石6a、7aによって構成される磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7のそれぞれの回転方向に沿う厚みを、図5(a)に示すように、回転方向の中央B1 が厚く、回転方向の端B2 側が薄くなるように設けている。即ち、磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7の内周面とホール素子2との距離が、回転方向の端B2 に向かうにつれて次第に大きくなるように構成されている。それぞれが2つの磁石6a、7aによって構成される磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7の厚みの変化は、ホール素子2の設置位置がX軸方向へずれるのに応じて変化するホール素子2を通過する磁束密度の変化幅に基づいて設定される。つまり、ホール素子2の設置位置がX軸方向へずれても、ホール素子2を通過する磁束密度が変化しないように設定される。
本実施例の回転角度検出装置は、上記のように設けられることにより、回転角度検出装置の組付け誤差等によって、ホール素子2の設置位置が磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7の中心からX軸方向へずれても、ずれた方向に薄くなった磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7によって、ずれによるホール素子2を通過する磁束密度の増加をなくすことができる。具体的には、上記実施例1で示した図3の実線Aのように、ホール素子2の設置位置が中央からX軸方向へずれても磁束密度は増加せず、ほぼ理想の磁束密度を得ることができる。
即ち、実施例1と同様、回転角度検出装置の組付け誤差等によって、ホール素子2の設置位置がX軸方向へずれても磁束密度は低下しないため、回転角度の検出誤差の発生を防ぐことができる。
なお、この実施例2では、それぞれが2つの磁石6a、7aによって構成される磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7の回転方向の端B2 側を薄くする手段として、磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7の内周面を削った形状(内面を窪ませた形状)に設けた例を示したが、逆に、磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7の外周面を削った形状(外面を窪ませた形状)に設けても良い。
また、この実施例2では、磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7の両方の厚みを変化させる例を示したが、図6に示すように、磁束付与磁石6または磁束吸引磁石7の一方のみの厚みを変化させても良い。
なお、図6では、一例として磁束付与磁石6のみの厚みを変化させる例を示したが、磁束吸引磁石7のみの厚みを変化させても良い
図7を用いて実施例3を説明する。なお、図7は回転角度検出装置をZ軸方向から見た図であり、図中に示す破線は最も窪んだ磁石の内面を示すものである。
(回転角度検出装置をZ軸方向から見た磁石形状の説明
の実施例は、図7に示すように、磁束付与磁石6、磁束吸引磁石7をZ軸方向から見て、中央B1 に対して左側の外面の磁石形状の曲率E(多次曲線)と、右側の外面の磁石形状の曲率F(多次曲線)とを異ならせるとともに、中央B1 に対して左側の内面の磁石形状の曲率G(多次曲線)と、右側の内面の磁石形状の曲率H(多次曲線)とを異ならせるものである。
E=a5 n +b5 n-1 ・・・c5
F=a6 n +b6 n-1 ・・・c6
G=a7 n +b7 n-1 ・・・c7
H=a8 n +b8 n-1 ・・・c8
なお、c5 、c6 、c7 、c8 式の変数Xは、磁石のX軸方向の長さを示すものである。
このように、Z軸方向から見た磁束付与磁石6、磁束吸引磁石7の内外面の磁石形状の曲率を、左右で異ならせることにより、着磁方向のバラツキ、磁石を形成する磁性体密度のバラツキ、あるいはヨーク4を用いずに磁石のみで磁気回路を構成する場合等により、X軸に付与される磁束分布の変化を相殺することができ、X軸に付与される磁束分布を高精度で均一化できる。
なお、この実施例では、Z軸方向から見た磁束付与磁石6、磁束吸引磁石7の内面、外面の両方の左右の曲率を変えた例を示したが、磁束付与磁石6、磁束吸引磁石7の内面または外面の一方だけを左右異なる曲率にしても良い。
図8を用いて実施例4を説明する。なお、図8は回転角度検出装置のZ軸方向に沿う断面図である。
(回転角度検出装置のZ軸方向に沿う磁石形状の説明
の実施例は、図8に示すように、磁束付与磁石6、磁束吸引磁石7をX軸方向から見て、中央A1 に対して左側の外面の磁石形状の曲率I(多次曲線)と、右側の外面の磁石形状の曲率J(多次曲線)とを異ならせるとともに、中央A1 に対して左側の内面の磁石形状の曲率K(多次曲線)と、右側の内面の磁石形状の曲率L(多次曲線)とを異ならせるものである。
I=a9 n +b9 n-1 ・・・c9
J=a10n +b10n-1 ・・・c10
K=a11n +b11n-1 ・・・c11
L=a12n +b12n-1 ・・・c12
なお、c9 、c10、c11、c12式の変数Zは、磁石のZ軸方向の長さを示すものである。
このように、X軸方向から見た磁束付与磁石6、磁束吸引磁石7の内外面の磁石形状の曲率を、左右で異ならせることにより、着磁方向のバラツキ、磁石を形成する磁性体密度のバラツキ、あるいはヨーク4を用いずに磁石のみで磁気回路を構成する場合等により、Z軸に付与される磁束分布の変化を相殺することができ、Z軸に付与される磁束分布を高精度で均一化できる。
なお、この実施例では、Z軸方向に沿う磁束付与磁石6、磁束吸引磁石7の内面、外面の両方の左右の曲率を変えた例を示したが、磁束付与磁石6、磁束吸引磁石7の内面または外面の一方だけを左右異なる曲率にしても良い。
〔変形例〕
上記の実施例では、固定部材を固定し、ロータ1を回転させた例を示したが、逆にロータ1に相当する部材を固定し、磁気検出素子(実施例ではホール素子2を内蔵するホールIC3)を支持する部材を回転させる構造を採用しても良い。言い換えれば、磁気検出素子を回転させ、磁束付与磁石6および磁束吸引磁石7を固定して磁気検出素子の出力から回転角度を検出しても良い。
上記の実施例では、磁気検出素子(実施例ではホール素子2を内蔵するホールIC3)を1つ搭載した例を示したが、複数個配置しても良い。また、ホールIC3を構成するホール素子2のみを磁束発生手段5(磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7)の内部に配置し、信号処理回路を磁束発生手段5の外部に配置しても良い。つまり、例えば、ホール素子2の信号処理回路を回転角度検出装置から離れた制御装置内に設けても良い。
上記の実施例では、回転角度検出装置の具体的な一例としてスロットルバルブの開度を検出する例を示したが、産業ロボットのアーム部の回転角度等、他の回転角度を検出するように設けても良い。
上記の実施例では、磁束付与磁石6と磁束吸引磁石7の外側周囲にヨーク4を設置した例を示したが、ヨーク4をなくした構成でも良い。
回転角度検出装置をZ軸方向から見た図およびZ軸方向に沿う断面図である(実施例1)。 磁束密度と回転角度の関係を示すグラフである(実施例1)。 磁気検出素子のX軸方向ずれ量と磁束密度の関係を示すグラフである(実施例1)。 回転角度検出装置をZ軸方向から見た図およびZ軸方向に沿う断面図である(実施例1の変形例)。 回転角度検出装置をZ軸方向から見た図およびZ軸方向に沿う断面図である(実施例2)。 回転角度検出装置をZ軸方向から見た図である(実施例2の変形例)。 回転角度検出装置をZ軸方向から見た図である(実施例3)。 回転角度検出装置のZ軸方向に沿う断面図である(実施例4)。 回転角度検出装置をZ軸方向から見た図およびZ軸方向に沿う断面図である(従来例)。 ロータの回転角度の説明図である(従来例)。 磁束密度と回転角度の関係を示すグラフである(従来例)。 磁気検出素子のX軸方向ずれ量と磁束密度の関係を示すグラフである(従来例)。 回転角度検出装置をZ軸方向から見た図およびZ軸方向に沿う断面図である(従来例)。
1 ロータ
2 ホール素子(磁気検出素子)
3 ホールIC
4 ヨーク
5 磁束発生手段
6 磁束付与磁石
7 磁束吸引磁石
A1 磁束付与磁石および磁束吸引磁石のZ軸方向の中央
A2 磁束付与磁石および磁束吸引磁石のZ軸方向の端
B1 Z軸方向から見た磁束付与磁石および磁束吸引磁石の中央
B2 Z軸方向から見た磁束付与磁石および磁束吸引磁石の端

Claims (9)

  1. 回転軸上に配置された磁気検出素子と、
    この磁気検出素子の両側に距離を隔てて対向配置され、前記磁気検出素子に向けて磁束を与える磁束付与磁石、およびこの磁束付与磁石から前記磁気検出素子に向けて与えられた磁束を吸引する磁束吸引磁石を備える磁束発生手段と、を具備し、
    前記磁気検出素子と前記磁束発生手段の相対回転角度の変化を、前記磁気検出素子を通過する磁束密度によって検出する回転角度検出装置において、
    前記磁束付与磁石と前記磁束吸引磁石が、回転軸方向から見て回転方向に沿う円弧状を呈する場合、
    前記磁束付与磁石および前記磁束吸引磁石の少なくとも一方は、回転軸方向から見た厚みが、中央が厚く、端側が薄く設けられることを特徴とする回転角度検出装置。
  2. 請求項1に記載の回転角度検出装置において、
    前記磁束付与磁石および前記磁束吸引磁石は、それぞれ半円筒形状を呈する1つの磁石によって構成され、前記磁束付与磁石と前記磁束吸引磁石で直径方向に分割された略円筒形状を呈することを特徴とする回転角度検出装置。
  3. 請求項1に記載の回転角度検出装置において、
    前記磁束付与磁石および前記磁束吸引磁石は、それぞれ複数の磁石が回転軸方向から見て回転方向へ円弧状に並んで配置されることによって構成されることを特徴とする回転角度検出装置。
  4. 請求項1〜請求項3のいずれかに記載の回転角度検出装置において、
    前記磁束付与磁石、前記磁束吸引磁石の少なくとも一方は、回転軸方向から見て前記磁気検出素子が配置される側の内面が、多次曲線を有する曲面に設けられるものであり、
    回転軸方向から見た内面、外面の少なくとも一方の多次曲線は、回転軸方向から見た左右の曲率変化が異なり、左右非対称に設けられることを特徴とする回転角度検出装置。
  5. 請求項1〜請求項3のいずれかに記載の回転角度検出装置において、
    前記磁束付与磁石、前記磁束吸引磁石の少なくとも一方は、回転軸方向から見て前記磁気検出素子が配置される側とは異なった側の外面が、多次曲線を有する曲面に設けられるものであり、
    回転軸方向から見た内面、外面の少なくとも一方の多次曲線は、回転軸方向から見た左右の曲率変化が異なり、左右非対称に設けられることを特徴とする回転角度検出装置。
  6. 請求項1〜請求項3のいずれかに記載の回転角度検出装置において、
    前記磁束付与磁石、前記磁束吸引磁石の少なくとも一方は、
    回転軸方向から見て前記磁気検出素子が配置される側の内面が、多次曲線を有する曲面に設けられるとともに、
    回転軸方向から見て前記磁気検出素子が配置される側とは異なった側の外面が、多次曲線を有する曲面に設けられるものであり、
    回転軸方向から見た内面、外面の少なくとも一方の多次曲線は、回転軸方向から見た左右の曲率変化が異なり、左右非対称に設けられることを特徴とする回転角度検出装置。
  7. 請求項1〜請求項3のいずれかに記載の回転角度検出装置において、
    前記磁束付与磁石、前記磁束吸引磁石の少なくとも一方は、回転軸方向に沿う前記磁気検出素子が配置される側の内面が、多次曲線を有する曲面に設けられるものであり、
    回転軸方向に沿う内面、外面の少なくとも一方の多次曲線は、回転軸に直交する方向から見た前記磁気検出素子の設定位置の左右の曲率変化が異なり、回転軸に直交する方向から見た前記磁気検出素子の設定位置を基準にした左右非対称に設けられることを特徴とする回転角度検出装置。
  8. 請求項1〜請求項3のいずれかに記載の回転角度検出装置において、
    前記磁束付与磁石、前記磁束吸引磁石の少なくとも一方は、回転軸方向に沿う前記磁気検出素子が配置される側とは異なった側の外面が、多次曲線を有する曲面に設けられるものであり、
    回転軸方向に沿う内面、外面の少なくとも一方の多次曲線は、回転軸に直交する方向から見た前記磁気検出素子の設定位置の左右の曲率変化が異なり、回転軸に直交する方向から見た前記磁気検出素子の設定位置を基準にした左右非対称に設けられることを特徴とする回転角度検出装置。
  9. 請求項1〜請求項3のいずれかに記載の回転角度検出装置において、
    前記磁束付与磁石、前記磁束吸引磁石の少なくとも一方は、
    回転軸方向に沿う前記磁気検出素子が配置される側の内面が、多次曲線を有する曲面に設けられるとともに、
    回転軸方向に沿う前記磁気検出素子が配置される側とは異なった側の外面が、多次曲線を有する曲面に設けられるものであり、
    回転軸方向に沿う内面、外面の少なくとも一方の多次曲線は、回転軸に直交する方向から見た前記磁気検出素子の設定位置の左右の曲率変化が異なり、回転軸に直交する方向から見た前記磁気検出素子の設定位置を基準にした左右非対称に設けられることを特徴とする回転角度検出装置。
JP2008283246A 2003-03-31 2008-11-04 回転角度検出装置 Expired - Fee Related JP4321665B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008283246A JP4321665B2 (ja) 2003-03-31 2008-11-04 回転角度検出装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003096737 2003-03-31
JP2008283246A JP4321665B2 (ja) 2003-03-31 2008-11-04 回転角度検出装置

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004028085A Division JP4269961B2 (ja) 2003-03-31 2004-02-04 回転角度検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009025317A JP2009025317A (ja) 2009-02-05
JP4321665B2 true JP4321665B2 (ja) 2009-08-26

Family

ID=40397213

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008283246A Expired - Fee Related JP4321665B2 (ja) 2003-03-31 2008-11-04 回転角度検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4321665B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011076716B4 (de) 2010-06-02 2021-09-30 Denso Corporation Drehwinkeldetektor

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4941847B2 (ja) * 2009-10-05 2012-05-30 株式会社デンソー 回転角検出装置
JP6287772B2 (ja) * 2014-11-18 2018-03-07 株式会社デンソー 液面検出装置
JP2018072022A (ja) * 2016-10-25 2018-05-10 クノールブレムゼ商用車システムジャパン株式会社 回転検出装置、ギアシフトユニット及びトランスミッションシステム

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH085312A (ja) * 1994-06-23 1996-01-12 Nippondenso Co Ltd 半導体回転角度センサ
JP3605968B2 (ja) * 1996-10-30 2004-12-22 株式会社デンソー 回転角センサ
JP4291936B2 (ja) * 2000-07-12 2009-07-08 カヤバ工業株式会社 回転角度センサ
JP3726698B2 (ja) * 2001-04-19 2005-12-14 アイシン精機株式会社 角度センサ
JP2003084007A (ja) * 2001-09-14 2003-03-19 Takechi Kogyo Gomu Co Ltd 回転方向検出装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011076716B4 (de) 2010-06-02 2021-09-30 Denso Corporation Drehwinkeldetektor

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009025317A (ja) 2009-02-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4269961B2 (ja) 回転角度検出装置
US7030606B2 (en) Angular sensor with a magneto-electric transducer and a magnetic deflection device
JP4720233B2 (ja) 回転角度検出装置
US6879150B2 (en) Magnetic position sensor
JP4079043B2 (ja) 回転角度検出装置
US7154262B2 (en) Rotation angle detecting device
JP4204294B2 (ja) 回転角検出装置
JP4321665B2 (ja) 回転角度検出装置
JP4543932B2 (ja) 回転角度検出装置
JP2004028809A (ja) アクチュエータ
JP2007263585A (ja) 回転角度検出装置
JPH11344394A (ja) トルクセンサ
JPWO2005040730A1 (ja) 回転角検出装置
WO2017022469A1 (ja) 相対位置検出装置、アクセルポジションセンサ及び車両
JP4233920B2 (ja) 回転角度検出装置
JP4219826B2 (ja) 回転角検出装置
JP3758174B2 (ja) 非接触型位置センサ
KR20000070595A (ko) 회전각도를 접촉없이 감지할 수 있는 측정장치
JP3891045B2 (ja) 回転角検出装置
JP2008128752A (ja) 非接触型角度センサ
JP2017049127A (ja) 磁場検出装置及び回転検出装置
KR20040001880A (ko) 자기 위치 센서
JP2009162742A (ja) 回転角検出装置及びそれに好適なシザーズギア
JP2005091013A (ja) 磁気式ロータリポジションセンサ
JP2005221369A (ja) 回転角度検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081104

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090203

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090406

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090512

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090525

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120612

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120612

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130612

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140612

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees