JP4315934B2 - 磁気ディスク評価装置 - Google Patents
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Description
図1から図4を参照して、第1実施例の磁気ディスク評価装置について説明する。図1は、磁気ディスク評価装置10のグライドハイト評価ヘッド(以下、単に評価ヘッドとする)20と磁気ディスク11の周辺を示した図である。
図5を参照して、第2実施例の磁気ディスク評価装置について説明する。但し、磁気ディスク評価装置としての基本構成は第1実施例の装置と同様であり、用いる評価ヘッド30に特徴があるのでヘッド部について説明する。
図6を参照して、第3実施例の評価ヘッドについて説明する。
図7及び図8を参照して、第4実施例の評価ヘッドについて説明する。
さらに、第2の発明に係る第5実施例の磁気ディスク評価装置について説明する。図9は、第2の発明に係る第5実施例の磁気ディスク評価装置100の概要構成を示した図である。
次に、図9に示した第5実施例の磁気ディスク評価装置100を用い、平均膜厚1.2nmとなるように潤滑剤を塗布した磁気ディスク101上で、グライドハイト評価ヘッド104の浮上量を10nmとして磁気ディスク101の評価試験を行った。
(付記1) 回転する磁気ディスクの表面上を移動可能とされ、前記磁気ディスクとの接触高さを検出するためのグライドハイト評価ヘッドと、前記グライドハイト評価ヘッドを支持するヘッド支持体とを含み、前記磁気ディスクの浮上保証量を評価する磁気ディスク評価装置であって、
前記グライドハイト評価ヘッドの空気流方向での全長をLとしたとき、前記ヘッド支持体によるヘッド支持点が、空気流入端位置から空気流出端側に向かって0.78L以上となる位置に設定され、
前記グライドハイト評価ヘッドの浮上面と前記磁気ディスク表面とが成す角である浮上ピッチ角が95マイクロラジアン以上とされている、ことを特徴とする磁気ディスク評価装置。
(付記2) 付記1に記載の磁気ディスク評価装置において、
前記グライドハイト評価ヘッドは、前記ヘッド支持体により前記磁気ディスク側へ向け3.5gf以上の負荷が供給されている、ことを特徴とする磁気ディスク評価装置。
(付記3) 回転する磁気ディスクの表面上を移動可能とされ、前記磁気ディスクとの接触高さを検出するためのグライドハイト評価ヘッドと、前記グライドハイト評価ヘッドを支持するヘッド支持体とを含み、前記磁気ディスクの浮上保証量を評価する磁気ディスク評価装置であって、
前記グライドハイト評価ヘッドの浮上面に、前記磁気ディスクの回転による空気流を利用して該グライドハイト評価ヘッドを前記磁気ディスク側に引く負圧を生じさせる負圧誘導形状が形成され、
前記浮上面と前記磁気ディスク表面とが成す角である浮上ピッチ角が95マイクロラジアン以上とされている、ことを特徴とする磁気ディスク評価装置。
(付記4) 付記1から3のいずれかに記載の磁気ディスク評価装置において、
前記グライドハイト評価ヘッドと前記磁気ディスクとの間に生じる空気膜剛性値が、0.33gf/nm以上である、ことを特徴とする磁気ディスク評価装置。
(付記5) 潤滑剤が塗布された磁気ディスクを回転させながら、該記磁気ディスクとの接触を検出する接触検出手段を備えたグライドハイト評価ヘッドを浮上させながら走査して、該磁気ディスクの評価を行う磁気ディスク評価装置であって、
前記接触検出手段の検出信号を、前記磁気ディスクの突起に前記グライドハイト評価ヘッドが接触したことに基づいて生じる第1の周波数帯と、前記潤滑剤の突出部に前記グライドハイト評価ヘッドが接触したことに基づいて生じる第2の周波数帯とに、分割する検出信号分割手段と、
前記検出信号分割手段に接続され、前記検出信号に前記第2の周波数帯のみに所定閾値を越える信号成分が含まれていることに基づいて、前記グライドハイト評価ヘッドが前記潤滑剤の突出部に接触したとの判定を実行する接触判定部とを含む、ことを特徴とする磁気ディスク評価装置。
(付記6) 付記1〜4のいずれかに記載の磁気ディスク評価装置において、
前記グライドハイト評価ヘッドの浮上面の少なくとも一部が、アモルファスカーボン、ダイヤモンドライクカーボン、水素添加ダイヤモンドライクカーボン及び窒素添加ダイヤモンドライクカーボンよりなる群から選択された保護材料により被覆されている、ことを特徴とする磁気ディスク評価装置。
(付記7) 付記6に記載の磁気ディスク評価装置において、
前記保護材料による被膜の少なくとも一部がフッ素化処理されている、ことを特徴とする磁気ディスク評価装置。
(付記8) 付記6又は7に記載の磁気ディスク評価装置において、
前記保護材料による被膜の一部に磁気ディスク側に突出している突起が形成されている、ことを特徴とする磁気ディスク評価装置。
(付記9) 付記5に記載の磁気ディスク評価装置において、
前記接触判定部は、少なくとも前記第1の周波数帯に所定閾値を越える成分が含まれていることに基づいて前記グライドハイト評価ヘッドが前記磁気ディスクの突起に接触したとの判定も実行する、ことを特徴とする磁気ディスク評価装置。
(付記10) 付記5又は9に記載の磁気ディスク評価装置において、
前記第1の周波数帯と前記第2の周波数帯とは、前記グライドハイト評価ヘッドの形状に応じて、100〜500kHzから選択され特定された境界周波数の前後に設定されている、ことを特徴とする磁気ディスク評価装置。
11 磁気ディスク
12 サスペンション(支持部材)
13 舌片
13A 支持点
20 評価ヘッド(グライドハイト評価ヘッド)
21、22 レール
24 支持点
α 浮上ピッチ角
100 磁気ディスク評価装置
101 磁気ディスク
104 評価ヘッド(グライドハイト評価ヘッド)
108 バンドパスフィルタ(検出信号分割手段)
109 信号解析装置(接触判定部)
114 圧電素子(接触検出手段)
Claims (2)
- 潤滑剤が塗布された磁気ディスクを回転させながら、該記磁気ディスクとの接触を検出する接触検出手段を備えたグライドハイト評価ヘッドを浮上させながら走査して、該磁気ディスクの評価を行う磁気ディスク評価装置であって、
前記接触検出手段の検出信号を、前記磁気ディスクの突起に前記グライドハイト評価ヘッドが接触したことに基づいて生じる第1の周波数帯に入る信号成分と、前記潤滑剤の突出部に前記グライドハイト評価ヘッドが接触したことに基づいて生じる第2の周波数帯に入る信号成分とに、分割する検出信号分割手段と、
前記検出信号分割手段に接続され、前記検出信号に前記第2の周波数帯のみに所定閾値を越える前記信号成分が含まれていることに基づいて、前記グライドハイト評価ヘッドが前記潤滑剤の突出部に接触したとの判定を実行する接触判定部とを含むものであって、
前記グライドハイト評価ヘッドの浮上面の少なくとも一部が、アモルファスカーボン、ダイヤモンドライクカーボン、水素添加ダイヤモンドライクカーボン及び窒素添加ダイヤモンドライクカーボンよりなる群から選択された保護材料により被覆されており、
前記保護材料による被膜の少なくとも一部がフッ素化処理されている、ことを特徴とする磁気ディスク評価装置。 - 請求項1に記載の磁気ディスク評価装置において、
前記接触判定部は、少なくとも前記第1の周波数帯に所定閾値を越える成分が含まれていることに基づいて前記グライドハイト評価ヘッドが前記磁気ディスクの突起に接触したとの判定も実行する、ことを特徴とする磁気ディスク評価装置。
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