JP4313226B2 - Pulse width adjustment device - Google Patents
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Description
この発明は、パルス幅調整装置に関し、特に、光磁気記録再生装置などのデータ書込み用クロックのパルス幅を調整する装置に関する。 The present invention relates to a pulse width adjusting device, and more particularly to a device for adjusting the pulse width of a data write clock such as a magneto-optical recording / reproducing device.
CPUをはじめとするデジタル回路は、クロック発生回路によって生成される基準クロックを基準として動作している。基準クロックのパルス幅には、デバイスにより正常な動作が保証された範囲があり、その範囲外のパルス幅をデバイスに与えた場合、デバイスの正常な動作は保証されない。
近年、動作速度の高速化をするために、基準クロックの周波数が高くなると共に、そのパルス幅の許容範囲も狭くなる傾向にある。
また、一般に基準クロックは温度や電圧などの動作環境により変動するが、基準クロックのパルス幅が許容範囲を越えた場合には、デバイスの動作が不安定となる。
Digital circuits such as a CPU operate on the basis of a reference clock generated by a clock generation circuit. The pulse width of the reference clock has a range in which normal operation is guaranteed by the device. When a pulse width outside the range is given to the device, normal operation of the device is not guaranteed.
In recent years, in order to increase the operation speed, the frequency of the reference clock is increased and the allowable range of the pulse width tends to be narrowed.
In general, the reference clock varies depending on the operating environment such as temperature and voltage, but if the pulse width of the reference clock exceeds an allowable range, the operation of the device becomes unstable.
また、クロック発生回路により生成された基準クロックを直接ロジック回路に供給することは少なく、通常は所望のタイミングやパルス幅を得るために、遅延素子を介在させて基準クロックを供給している。しかし、遅延素子のばらつき等により遅延時間が変動するので、これも動作の不安定の原因となる。そこで、従来からこのような遅延のばらつきなどを考慮した種々の遅延制御回路が提案されている(たとえば、特許文献1,2)。
In addition, the reference clock generated by the clock generation circuit is rarely supplied directly to the logic circuit, and usually the reference clock is supplied via a delay element in order to obtain a desired timing and pulse width. However, since the delay time fluctuates due to variations in delay elements, this also causes unstable operation. In view of this, various delay control circuits have been proposed in consideration of such delay variations (for example,
図1に、従来のパルス幅調整回路の一実施例の構成ブロック図を示す。このパルス幅調整回路は、主として、次のような素子から構成される。
(1)与えられた基準クロック(CLK)をもとに、校正用のパルス(Calibrate-pls)を発生する校正回路11(Cal Pulse Gen)、
(2)2つの入力パルスのうち一方を選択するセレクタ12(Sel)、
(3)一定時間遅延したパルス(Tap1〜N)を生成する遅延回路13(Delay Element String)、
(4)クロックの立ち上がり時における遅延パルスを保持する遅延状態保持回路14(REG)、
(5)保持された遅延パルスの数をカウントしてその数値(ENC0)を出力するエンコーダ15(Encoder Logic)、
(6)通常動作時の遅延量DLYSELに対応する遅延パルスを選択する選択回路16(マルチプレクサMUX)、
(7)MUX16と同じ遅延時間を持つ遅延素子18(Delay B)、
(8)MUX16から出力されるパルスCLK1と、遅延素子18から出力されるパルスCLK2との論理積をとるAND素子17。
ただし、素子17は、必要に応じてOR素子等を用いてもよい。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of a conventional pulse width adjusting circuit. This pulse width adjustment circuit is mainly composed of the following elements.
(1) A calibration circuit 11 (Cal Pulse Gen) that generates a calibration pulse (Calibrate-pls) based on a given reference clock (CLK),
(2) Selector 12 (Sel) for selecting one of the two input pulses,
(3) Delay circuit 13 (Delay Element String) for generating pulses (Tap1 to N) delayed for a certain time,
(4) Delay state holding circuit 14 (REG) that holds a delay pulse at the rising edge of the clock,
(5) An encoder 15 (Encoder Logic) that counts the number of held delay pulses and outputs the value (ENC0);
(6) a selection circuit 16 (multiplexer MUX) for selecting a delay pulse corresponding to the delay amount DLYSEL during normal operation;
(7) Delay element 18 (Delay B) having the same delay time as MUX 16;
(8) An
However, an OR element or the like may be used as the
AND素子17から出力されるクロックCLKWは、設計どおりの所望のタイミングで出力され、かつパルス幅が調整された後の信号であり、たとえば、光記録再生装置の書き込みクロックとして利用されるものである。
この従来のパルス調整回路は、まず校正回路11を用いて遅延時間を測定する校正モードで動作させ、その後調整されたパルスを用いて通常モードで動作させる。
「校正モード」では、設計時のパルスの理想的な遅延量と、現実のパルスのずれとを測定し、通常モードにおいてどれだけ遅延させれば理想的な遅延量となるかを求める。
The clock CLKW output from the
This conventional pulse adjustment circuit is first operated in the calibration mode in which the delay time is measured using the
In the “calibration mode”, an ideal delay amount of a pulse at the time of design and an actual pulse deviation are measured, and how much delay is delayed in the normal mode to obtain an ideal delay amount.
図2に、従来の校正モードの理想的なタイミングチャートを示す。
本来、回路11,12でも必ず遅延が発生するが、これらの回路による遅延が、クロックCLKの周期に対して無視できるほど十分小さい場合は、図2のような理想的なタイムチャートとなる。
図2において、校正信号(calibrate)が校正回路11に入力されると、クロックCLKの立ち上がりA0で、校正回路11からクロック1周期分のパルス(Calibrate-pls)が出力される。
このパルス(Calibrate-pls)は、セレクタ12を通り、遅延回路13に入力されると、ここで一定時間だけ遅延したタップパルス(Tap1〜Tap9)が順次出力される。図2では、N=9の場合を示しており、合計10個のタップパルスが、時間Tだけずれた状態で出力されている。
FIG. 2 shows an ideal timing chart of the conventional calibration mode.
Originally, a delay always occurs in the
2, when calibration signal (calibrate) is input to the
When this pulse (Calibrate-pls) passes through the
クロックCLKの次の立ち上がりA1のタイミングにおいて、遅延状態保持回路REG14は、タップパルスをラッチしエンコーダ15に与えると、エンコーダ15では、ハイ状態となっているパルスの数に相当する数値データENC0が出力される。
図2では、エンコーダの出力値ENC0は6である。このエンコーダ出力値ENC0を見れば、クロック1周期の中で、何Tapの遅延を要したかがわかる。すなわち、出力値ENC0は、クロック1周期当たりの通過TAPを意味する。
In the next timing of the rising A 1 of the clock CLK, the delay state holding circuit REG14, given the latches
In FIG. 2, the output value ENC0 of the encoder is 6. By looking at the encoder output value ENC0, it can be understood how many taps of delay are required in one clock cycle. That is, the output value ENC0 means a passing TAP per clock cycle.
1TAP分の遅延時間を“T”とすると、この時間Tは、次式(式1)で求められる。
クロック1TAP分の遅延時間(T)=クロック1周期(To)/
クロック1周期の通過TAP数(ENC0)
図2によれば、校正モード時において、図2のような理想的な状態では、エンコーダの出力値は6となるべきであることを意味する。
Assuming that the delay time for 1 TAP is “T”, this time T is obtained by the following equation (Equation 1).
Delay time (T) for 1 TAP clock = 1 clock cycle (T o ) /
Number of passing TAPs per clock cycle (ENC0)
According to FIG. 2, it means that the output value of the encoder should be 6 in the ideal state as shown in FIG. 2 in the calibration mode.
図3に、従来の通常モードの理想的なタイミングチャートを示す。通常モードでは、校正信号Calibrateはローの状態で動作させる。このとき、クロックCLKは、セレクタ12を通り、そのまま遅延回路13に入力され、遅延回路13からは、図3に示すようなタップパルス(Tap1〜Tap9)が出力される。セレクタ12の出力Tap0を含めた、これらのタップパルス(Tap0〜Tap9)は、遅延状態保持回路REG14と選択回路MUX16に与えられる。
また、選択回路MUX16には、図示していないマイクロコンピュータ(MPU)などから与えられる遅延設定値(DLYSEL)が入力されるが、このDLYSELの値に対応するタップ番号のタップパルスが選択されて、選択されたタップパルスがMUX16からクロックCLK1として出力される。
図3の場合は、DLYSELとして“2”が設定されているので、タップパルスTap2が選択され、MUX16からクロックCLK1としてTap2がそのまま出力される。
FIG. 3 shows an ideal timing chart of the conventional normal mode. In the normal mode, the calibration signal Calibrate is operated in the low state. At this time, the clock CLK passes through the
In addition, a delay setting value (DLYSEL) given from a microcomputer (MPU) (not shown) or the like is input to the selection circuit MUX16, and a tap pulse having a tap number corresponding to this DLYSEL value is selected. The selected tap pulse is output from the
In the case of FIG. 3, since “2” is set as DLYSEL, the tap pulse Tap2 is selected, and Tap2 is output as it is from the
一方、DelayB18は、MUX16と同じだけの遅延時間を持つ遅延素子であるが、図3に示すようなクロックCLK2が出力される。そして、AND回路17により、MUX16から出力されたクロックCLK1と、DelayB18を通過したクロックCLK2との論理積ANDがとられ、パルス幅調整されたクロックCLKWが出力される。
図2の校正モードにおいて求められたタップ数は、クロック1周期に対して“6”であったが、図3の通常モードでは、遅延のタップ数に相当するDLYSEL値を“2”に設定している。
すなわち、クロックCLK1は、もとのクロックCLKに対して、33%(2/6≒0.33)だけ遅延させたクロックであり、図3のような理想的な場合には、設計値どおりの遅延量(33%)に対応するクロックCLKWが出力されることになる。たとえば、このクロックCLKWは、記録再生装置のデータ書き込み用クロック信号として用いられる。
On the other hand, the Delay B18 is a delay element having the same delay time as the
The number of taps obtained in the calibration mode of FIG. 2 was “6” for one clock cycle. In the normal mode of FIG. 3, the DLYSEL value corresponding to the number of taps for delay is set to “2”. ing.
That is, the clock CLK1 is a clock delayed by 33% (2 / 6≈0.33) with respect to the original clock CLK. In an ideal case as shown in FIG. The clock CLKW corresponding to the delay amount (33%) is output. For example, the clock CLKW is used as a data write clock signal for the recording / reproducing apparatus.
ここで、クロックの遅延量を決める設定値DLYSELによって設定された「ずらし量(%)」は、次式(式2)で求められる。
ずらし量(%)=DLYSEL値/クロック1周期あたりの通過TAP数
Here, the “shift amount (%)” set by the setting value DLYSEL that determines the delay amount of the clock is obtained by the following equation (Equation 2).
Shift amount (%) = DLYSEL value / number of passing TAPs per clock cycle
従来において、タップパルスの遅延時間Tに対して、クロックCLKの1周期の長さが十分大きい場合、すなわち、書き込みクロックの周波数が低い場合は、校正回路11やセレクタ12の遅延量は無視できるものであり、多少遅延量に変動があっても書き込みパルスCLKWに影響を及ぼすことはほとんどなかった。
しかし、記録再生装置の高速化,高密度化に伴って、書き込みクロックの周波数を高めることが要求されており、基準となるクロックCLKの1周期の長さが短くなってくると、校正回路11やセレクタの遅延量は無視できないものとなる。すなわち、校正回路11等にわずかな遅延量のずれがあるだけで、出力される書き込みクロックの周期がみだれ、記録再生処理に大きな不都合をもたらす。
Conventionally, when the length of one cycle of the clock CLK is sufficiently large with respect to the delay time T of the tap pulse, that is, when the frequency of the write clock is low, the delay amount of the
However, as the recording / reproducing apparatus increases in speed and density, it is required to increase the frequency of the write clock. When the length of one cycle of the reference clock CLK becomes shorter, the
以下に、このような不測の遅延が生じた場合の動作について説明する。
図4に、従来の校正モードの遅延発生時のタイミングチャートを示す。
図2の理想的な場合に比べて、校正回路11の出力パルス(Calibrate-pls)と、セレクタ12の出力パルスTap0とが、クロックCLKに対して遅延した場合を示している。
図2では、クロックCLKの立ち上がりAoで、パルス(Calibrate-pls)がほぼ同時に立ち上がっていたが、図4では、パルス(Calibrate-pls)が、クロックCLKの立ち上がりAoよりも時間Tcだけ遅延して立ち上がった状態を示している。
また、図4では、セレクタ12の出力であるタップパルスTap0も遅延しており、パルス(Calibrate-pls)よりも時間Tsだけ遅延して、タップパルスTap0が立ち上がった状態を示している。
The operation when such an unexpected delay occurs will be described below.
FIG. 4 shows a timing chart when a delay occurs in the conventional calibration mode.
Compared with the ideal case of FIG. 2, the output pulse (Calibrate-pls) of the
In Figure 2, the rising A o of the clock CLK, the pulse (Calibrate-pls) had risen almost simultaneously, in FIG. 4, a pulse (Calibrate-pls), only rising A o than the time T c of the clock CLK It shows the state of standing up with a delay.
Further, FIG. 4 shows a state in which the tap pulse Tap0 which is the output of the
図4の場合、タップパルスTap0が遅延しているため、遅延回路13で生成される他のタップパルス(Tap1〜Tap9)も図2の理想の場合に比べて遅延していることになる。
したがって、クロックCLKの次の立ち上がりA1のタイミングにおいて、ハイレベルのタップパルスをカウントすると、図4の場合は4となり、結局エンコーダ15の出力値ENC0は理想的には“6”であるべきところが、“4”となってしまう。すなわち、クロック1周期あたりの通過TAP数は“4”として、測定される。
このように校正時に得られる遅延量が変化してしまうのは、校正回路11とセレクタ12によって遅延(TcとTs)が発生したためである。
クロックのずらし量を25%に設定する場合、この校正モード時の測定結果(ENC0=4)を用いると、前記した式2から、DLYSELの値は“1”とすればよいことがわかる。
In the case of FIG. 4, since the tap pulse Tap0 is delayed, the other tap pulses (Tap1 to Tap9) generated by the
Therefore, when the high level tap pulse is counted at the timing of the next rising edge A 1 of the clock CLK, the result is 4 in the case of FIG. 4, and the output value ENC0 of the
The reason why the delay amount obtained during calibration changes in this way is that a delay (Tc and Ts) is generated by the
When the clock shift amount is set to 25%, using the measurement result in the calibration mode (ENC0 = 4), it can be seen from the above-described
図5に、通常モード時において、クロックを25%だけずらした動作をさせた場合のタイムチャートを示す。しかし、図5においては、所望の25%の遅延量とはならずに、約17%の遅延量を持つクロックパルスCLKWとなっている。これは、校正回路11とセレクタ12の遅延(TcとTs)によって生じたものである。一般に、この2つの遅延を考慮するとすれば、式2ではなく、次のような式3を用いて、クロックのずらし量(%)を決定する必要がある。
ずらし量(%)=DLYSEL値/
(クロック1周期あたりの通過Tap数+Tc+Ts)
FIG. 5 shows a time chart when the operation is performed by shifting the clock by 25% in the normal mode. However, in FIG. 5, the clock pulse CLKW has a delay amount of about 17% instead of the desired delay amount of 25%. This is caused by the delay (Tc and Ts) of the
Shift amount (%) = DLYSEL value /
(Number of passing taps per clock cycle + Tc + Ts)
ところが、校正回路11で生じる遅延Tcも、セレクタ12で生じる遅延Tsも、温度,電源電圧の変化により変動する。したがって、式3の分母の値が変動するため、所望のずらし量を得るためには、DLYSEL値も変更する必要がある。
しかし、現実には、温度や電圧の変化に合わせて式3の値を一定とすることは困難であり、従来の方法では遅延に対応させた正確なパルス幅を設定することはできない。
However, both the delay Tc generated in the
However, in reality, it is difficult to make the value of
そこで、この発明は、以上のような事情を考慮してなされたものであり、クロックCLKの1周期が短くなっても、回路素子の遅延の影響が生じず、所望の正確なパルス幅を持つクロックを生成することのできるパルス幅調整装置を提供することを課題とする。 Therefore, the present invention has been made in consideration of the above-described circumstances. Even if one cycle of the clock CLK is shortened, there is no influence of the delay of the circuit element, and the desired accurate pulse width is obtained. It is an object of the present invention to provide a pulse width adjusting device capable of generating a clock.
この発明は、入力された一定周期のクロックCLKを用いて、所定の遅延量を持つ複数の遅延パルスを生成する遅延回路と、前記複数の遅延パルスを用いてクロックCLK1周期当たりの遅延量を測定するための保持信号を生成する複数個の遅延状態保持回路と、前記保持信号を出力するタイミングを示すパルスを生成しかつ前記遅延状態保持回路に与える保持タイミング回路と、各遅延状態保持回路ごとに接続され、その接続された遅延状態保持回路から与えられる前記保持信号を用いて、1周期の間に測定された保持信号の数をカウントする複数個のエンコーダと、各エンコーダから出力される保持信号のカウント値に対して所定の演算を行って、クロックCLKの1周期当たりの遅延量に相当する演算値を出力する演算値出力回路とを備えたことを特徴とするパルス幅調整装置を提供するものである。 According to the present invention, a delay circuit that generates a plurality of delay pulses having a predetermined delay amount using an input clock CLK having a fixed period, and measures a delay amount per clock CLK cycle using the plurality of delay pulses. A plurality of delay state holding circuits for generating a holding signal for generating, a holding timing circuit for generating a pulse indicating a timing for outputting the holding signal and giving the pulse to the delay state holding circuit, and for each delay state holding circuit A plurality of encoders that are connected and count the number of holding signals measured during one cycle using the holding signals given from the connected delay state holding circuit, and holding signals output from each encoder A calculation value output circuit that performs a predetermined calculation on the count value of the clock and outputs a calculation value corresponding to a delay amount per cycle of the clock CLK. There is provided a pulse width adjustment device, characterized in that was e.
また、前記遅延回路から出力される複数個の遅延パルスを用いて、前記演算値出力回路により出力された演算値から求められた遅延タイミング設定値DLYSELに相当する遅延パルスCLK1を選択し出力する選択回路と、選択回路と同じ遅延時間を持ち、クロックCLKを前記遅延時間だけずらしたクロックCLK2を出力する第2の遅延回路と、前記遅延パルスCLK1とクロックCLK2との論理演算をする論理演算回路とをさらに備え、入力されたクロックCLKに対してパルス幅が調整されたクロックを論理演算回路から出力することを特徴とするパルス幅調整装置を提供するものである。
論理演算回路は、論理和または論理積等を演算する回路であり、設計仕様によって種々のものが利用できる。
A selection for selecting and outputting the delay pulse CLK1 corresponding to the delay timing set value DLYSEL obtained from the operation value output from the operation value output circuit using a plurality of delay pulses output from the delay circuit. A circuit, a second delay circuit that has the same delay time as the selection circuit and outputs a clock CLK2 in which the clock CLK is shifted by the delay time, and a logical operation circuit that performs a logical operation of the delay pulse CLK1 and the clock CLK2 And a pulse width adjusting device that outputs a clock whose pulse width is adjusted with respect to the input clock CLK from a logic operation circuit.
The logical operation circuit is a circuit for calculating logical sum or logical product, and various circuits can be used depending on design specifications.
ここで、前記演算値出力回路から出力される演算値を用いて、前記論理演算回路から所望のパルス幅のクロックが出力されるように、前記設定値DLYSELを決定する遅延量自動調整回路を、さらに備えてもよい。
また、前記遅延状態保持回路とエンコーダとをそれぞれ2個備え、前記演算値出力回路には、2つのエンコーダからそれぞれ出力されるカウント値を引き算する引算回路を用いてもよい。
Here, a delay amount automatic adjustment circuit that determines the set value DLYSEL so that a clock having a desired pulse width is output from the logic operation circuit using the operation value output from the operation value output circuit, Further, it may be provided.
Further, two delay state holding circuits and two encoders may be provided, and a subtraction circuit that subtracts count values respectively output from the two encoders may be used as the arithmetic value output circuit.
さらに、前記遅延状態保持回路が2個の場合に、前記保持タイミング回路は、第1の遅延状態保持回路に与えるパルスよりも、第2の遅延状態保持回路に与えるパルスの方が、クロックCLKの1周期分遅れたタイミングで出力するようにしてもよい。
また、前記遅延タイミング設定値DLYSELは、前記演算値出力回路から出力される演算値(SUB0)に、予め設定されたパルス幅の調整量に相当するパルス調整値(K/L)を乗算することにより求めるようにしてもよい。ここで、パルス調整値とは、クロックCLKのずらし量を意味し、後述する実施例では、K/Lに相当するものである。すなわち、DLYSEL=SUB0×(K/L)で表すことができる。
Further, when the number of the delay state holding circuits is two, the holding timing circuit causes the pulse applied to the second delay state holding circuit to have a higher pulse of the clock CLK than the pulse applied to the first delay state holding circuit. You may make it output at the timing delayed by 1 period.
The delay timing set value DLYSEL is obtained by multiplying the calculated value (SUB0) output from the calculated value output circuit by a pulse adjustment value (K / L) corresponding to a preset pulse width adjustment amount. You may make it obtain | require by. Here, the pulse adjustment value means a shift amount of the clock CLK, and corresponds to K / L in an embodiment described later. That is, it can be expressed by DLYSEL = SUB0 × (K / L).
この発明において、遅延パルスとは後述する実施例において示すタップパルス(Tap0〜TapN)に対応する。
また、保持信号とは、図5,図8に示すTapn_LおよびTapn_L2を意味する。保持信号を出力するタイミングを示すパルスとは、図11に示すLatch-timing-pls(LP1,LP2)を意味する。
この発明の遅延状態保持回路とエンコーダとは、2以上設ければよいが、少なくともそれぞれ2個設ければよく、それぞれ2個備えた場合には、前記演算値出力回路としては、引算回路を用いればよい。この場合、引算回路には、2つのエンコーダからのカウント値が与えられ、カウント値のうち大きい方から小さい方を引き算すればよい。
In the present invention, the delayed pulse corresponds to tap pulses (Tap0 to TapN) shown in the embodiments described later.
Further, the holding signal means Tapn_L and Tapn_L2 shown in FIGS. The pulse indicating the timing for outputting the holding signal means Latch-timing-pls (LP1, LP2) shown in FIG.
Two or more delay state holding circuits and encoders according to the present invention may be provided, but at least two each may be provided. When two each are provided, a subtraction circuit is provided as the calculation value output circuit. Use it. In this case, the count value from the two encoders is given to the subtraction circuit, and the smaller one of the count values may be subtracted.
この発明によれば、複数個の遅延状態保持回路と、複数個のエンコーダと、各エンコーダから出力されるカウント値に対して所定の演算を行って、1周期当たりの遅延量に相当する演算値を求めているので、基準となるクロックのパルス幅が小さくなった場合でも、温度,電圧などの使用環境の変化や、回路素子の特性のばらつきによる遅延の影響を受けずに、クロックパルスのパルス幅を正確に調整できる。 According to this invention, a plurality of delay state holding circuits, a plurality of encoders, and a calculation value corresponding to a delay amount per cycle by performing a predetermined calculation on the count value output from each encoder. Therefore, even when the reference clock pulse width is reduced, the clock pulse pulse is not affected by delays due to changes in the operating environment such as temperature and voltage, and variations in circuit element characteristics. The width can be adjusted accurately.
以下、図に示す実施例に基づいて本発明を詳述する。なお、本発明はこれによって限定されるものではない。
図6に、この発明のパルス幅調整装置の構成ブロック図を示す。図1に示す従来の装置と同じブロックには、同じ符号を付加している。
図6において、図1とは異なり、保持タイミング回路21(Latch Timing Pulse Gen)と、第2の遅延状態保持回路22(REG2)と、第2のエンコーダ23(Encoder2)と、引算回路24(SUB)とが追加されている。
Hereinafter, the present invention will be described in detail based on the embodiments shown in the drawings. In addition, this invention is not limited by this.
FIG. 6 shows a block diagram of the configuration of the pulse width adjusting device of the present invention. The same blocks as those in the conventional apparatus shown in FIG.
In FIG. 6, unlike FIG. 1, a holding timing circuit 21 (Latch Timing Pulse Gen), a second delay state holding circuit 22 (REG2), a second encoder 23 (Encoder2), and a subtraction circuit 24 ( SUB) and have been added.
また、校正モード時の出力としては、エンコーダ15の出力値ENC0を用いるのではなく、2つのエンコーダ(15,23)の出力を引き算した値SUB0を用いる点が異なる。この出力値SUB0は、以下に示すように、校正回路11とセレクタ12による遅延(Tc,Ts)を含まないクロック1周期あたりの通過TAP数を示している。
すなわち、図6に示すこの発明の構成によれば、遅延量(Tc,Ts)による影響をキャンセルでき、正確なクロック1周期あたりの通過TAP数を求めることができる。
Further, the difference is that the output value ENC0 of the
That is, according to the configuration of the present invention shown in FIG. 6, the influence of the delay amount (Tc, Ts) can be canceled, and the accurate number of passing TAPs per clock cycle can be obtained.
また、校正回路11から出力されるパルス(Calibrate-pls)は、クロック2周期分の幅を持つように出力される(図8参照)。これは、2つの遅延状態保持回路(14,22)を用いているので、それぞれ別々のクロックのタイミングでタップパルスを保持するためには、2周期分のパルス(Calibrate-pls)が必要となるからである。
The pulse (Calibrate-pls) output from the
図9に、図6に示したこの発明の校正回路11(Cal Pulse Gen)の一実施例の詳細回路を示す。校正回路11は、図9に示すように、3つのDフリップフロップとAND回路から構成される。
入力信号であるCalibrate信号がCL端子に入力されると、次のクロックCLKの立ち上がりのタイミングで、出力パルス(Calibrate-pls)の立ち上がりが生成され、その次の次のクロックの立ち上がりのタイミングで、出力パルス(Calibrate-pls)の立ち下がりが生成される(図8のパルスCalibrate-pls参照)。
FIG. 9 shows a detailed circuit of an embodiment of the calibration circuit 11 (Cal Pulse Gen) of the present invention shown in FIG. As shown in FIG. 9, the
When the Calibrate signal, which is an input signal, is input to the CL terminal, the rising edge of the output pulse (Calibrate-pls) is generated at the next rising timing of the clock CLK, and at the next rising timing of the next clock, A falling edge of the output pulse (Calibrate-pls) is generated (see pulse Calibrate-pls in FIG. 8).
図10に、この発明の保持タイミング作成回路21(Latch Timing Pulse Gen)の一実施例の詳細回路を示す。また、図11に、保持タイミング作成回路21から出力される2つのパルス信号(LP1,LP2)のタイミングチャートを示す。
図10に示すように、保持タイミング作成回路21は、2つのDフリップフロップと1つのAND回路から構成される。パルスLP1(Latch-timing-pls)は、第1の遅延状態保持回路14(REG)に与えられるタイミングパルスであり、パルスLP2(Latch-timing-pls2)は第2の遅延状態保持回路22(REG2)に与えられるタイミングパルスである。
図11に示すように、パルスLP1は、パルス(Calibrate-pls)の立ち上がりのタイミングで立ち上がり、1クロック分で立ち下がるパルスである。パルスLP2は、パルスLP1に対して1クロック周期分だけ遅れて生成されるパルスである。
FIG. 10 shows a detailed circuit of one embodiment of the holding timing generation circuit 21 (Latch Timing Pulse Gen) of the present invention. FIG. 11 shows a timing chart of two pulse signals (LP1, LP2) output from the holding
As shown in FIG. 10, the holding
As shown in FIG. 11, the pulse LP1 is a pulse that rises at the rising timing of the pulse (Calibrate-pls) and falls after one clock. The pulse LP2 is a pulse generated with a delay of one clock period with respect to the pulse LP1.
図12に、遅延回路13(Delay element String)の一実施例の詳細回路を示す。
図12に示すように、遅延回路13は、取り出すタップパルスの数(N)に等しい数の遅延素子(D)を直列に接続したものである。各遅延素子(D)の出力からタップパルス(TAP1〜TAPN)が取り出される。
また、各遅延素子(D)の遅延量は、タップパルスの時間的ずれ量に関係するが、この遅延量は装置全体の設計仕様により異なり、一義的には決められない。たとえば、遅延素子(D)の遅延量は、基準となるクロックCLKの周期,記録再生装置で必要とする分解能によって決定される。
FIG. 12 shows a detailed circuit of an embodiment of the delay circuit 13 (Delay element String).
As shown in FIG. 12, the
Further, the delay amount of each delay element (D) is related to the amount of time deviation of the tap pulse, but this delay amount varies depending on the design specifications of the entire apparatus and cannot be uniquely determined. For example, the delay amount of the delay element (D) is determined by the period of the reference clock CLK and the resolution required by the recording / reproducing apparatus.
図13に、遅延状態保持回路14,22(REG,REG2)の一実施例の詳細回路を示す。
図13に示すように、各タップパルスごとに設けたイネーブル(EN)端子付きのDフリップフロップから構成される。各イネーブル端子(EN)には、保持タイミング作成回路21で生成されたタイミングパルス(LP1またはLP2)が入力される。
図13はREG14を示したものであるが、REG2(22)も全く同様の構成である。この遅延状態保持回路(14,22)によれば、イネーブル端子へのパルス入力時のタイミングで各タップパルス(Tap0〜N)の値が出力される(Tap0_L〜TapN_L)。
FIG. 13 shows a detailed circuit of one embodiment of the delay
As shown in FIG. 13, it is composed of a D flip-flop with an enable (EN) terminal provided for each tap pulse. The timing pulse (LP1 or LP2) generated by the holding
FIG. 13 shows the
この発明のパルス幅調整装置は、以上のような回路ブロックから構成されるが、次に、この装置のパルス幅の調整内容について説明する。
図8に、この発明のパルス幅調整装置において、校正回路11とセレクタ12に遅延が発生している場合の校正モードのタイムチャートを示す。ここでは、遅延回路13のタップ数(N)を11としている。
図8において、前記したように、パルス(Calibrate-pls)は、クロックCLKの2周期分の幅を持つクロックであり、図4と同様に、パルス(Calibrate-pls)の後に、所定の遅延を伴ってタップパルス(Tap0からTap11)が出力される。各タップパルス(Tap0〜Tap11)も、クロックCLKの2周期分の幅を持っている。
The pulse width adjusting device of the present invention is composed of the circuit blocks as described above. Next, the adjustment contents of the pulse width of this device will be described.
FIG. 8 shows a time chart of the calibration mode when a delay occurs in the
In FIG. 8, as described above, the pulse (Calibrate-pls) is a clock having a width corresponding to two periods of the clock CLK, and a predetermined delay is applied after the pulse (Calibrate-pls) as in FIG. Along with this, tap pulses (
図8において、パルス(Calibrate-pls)の立ち上がり後の最初のクロックCLKの立ち上がりのタイミングA0において、REG14で保持されたタップパルスの通過数(=4)が、エンコーダ15から出力されるのは図4と同様である。
図8には図示していないが、REG14からは、Tap0_LからTap3_Lまでの4つのパルスが出され、エンコーダ15からは“4”という値のENC0が出力される。
In FIG. 8, the number of tap pulses passed (= 4) held by the
Although not shown in FIG. 8, REG14 outputs four pulses from Tap0_L to Tap3_L, and
一方、図8に示したTap0_L2からTap11_L2までのパルスは、第2の遅延状態保持回路22(REG2)の出力を示している。
ここで、REG2(22)では、図8のクロックCLKが立ち上がるタイミングA1のときに、各タップパルスがラッチされ、この時のタップパルスの数に相当する値(ENC20)が、エンコーダ23から出力される。図8では、タイミングA1においては、Tap0〜Tap9までがラッチされ、“10”が、ENC20の値として出力される。
On the other hand, the pulses from Tap0_L2 to Tap11_L2 shown in FIG. 8 indicate the output of the second delay state holding circuit 22 (REG2).
Here, in REG 2 (22), each tap pulse is latched at the timing A 1 when the clock CLK of FIG. 8 rises, and a value (ENC 20) corresponding to the number of tap pulses at this time is output from the
以上より、図8に示すように、第1のエンコーダ15からは、ENC0=“4”が出力され、第2のエンコーダ23からは、ENC20=“10”が出力されることになる。したがって、図6に示した引算回路24(SUB)では、両出力(ENC0,ENC20)の差が演算され、“6”=(10−4)がSUB0として出力されることになる。
From the above, as shown in FIG. 8, ENC0 = “4” is output from the
以上のようなラッチと引算の処理の結果、得られたSUB0(=6)は、校正回路11およびセレクタ12によって生じていた遅延(Tc,Ts)を含まない正確なクロック1周期分の通過Tap数を示している。これは、2つの遅延(Tc,Ts)の影響は、2つの遅延状態保持回路とエンコーダの両経路に同じだけ存在しているが、両エンコーダから得られた数値を引算回路で引き算しているため、2つの遅延(Tc,Ts)に相当する部分が打ち消されるからである。
SUB0 (= 6) obtained as a result of the latch and subtraction process as described above passes through an accurate clock cycle that does not include the delay (Tc, Ts) caused by the
図6の構成によれば、次式(式4)で示すような通過Tap数がSUB0の値として得られることになる。
クロック1周期あたりの通過Tap数=T2−T1
ここで、T2=クロック2周期あたりの通過Tap数+Tc+Ts,
T1=クロック1周期あたりの通過Tap数+Tc+Ts
である。クロック2周期あたりの通過Tap数とは第2のエンコーダ23から出力される値(ENC20)であり、クロック1周期あたりの通過Tap数とは第1のエンコーダ14から出力される値(ENC0)を意味する。この式4によれば、T2−T1を演算すればTcとTsは打ち消されることがわかる。すなわち、式4は、クロック1周期あたりの通過Tap数=ENC20−ENC0を意味する。
According to the configuration of FIG. 6, the number of passing taps as represented by the following formula (Formula 4) is obtained as the value of SUB0.
Number of passing taps per clock cycle = T2-T1
Here, T2 = number of passing taps per two clock cycles + Tc + Ts,
T1 = number of passing taps per clock cycle + Tc + Ts
It is. The number of passing Taps per clock cycle is the value (ENC20) output from the
以上のように、校正モード動作時において得られたSUB0の値は、2つの遅延(Tc,Ts)を含まないので、図2に示した理想的なタイムチャートで得られる出力値(=6)に等しい。
このように校正モードで得られたSUB0値を用いて、選択回路MUXに与えるDLYSEL値を決定し通常モードの動作をさせれば理想的なパルス幅を持つクロックを生成することができる。
As described above, since the value of SUB0 obtained in the calibration mode operation does not include two delays (Tc, Ts), the output value (= 6) obtained from the ideal time chart shown in FIG. be equivalent to.
A clock having an ideal pulse width can be generated by determining the DLYSEL value to be given to the selection circuit MUX by using the SUB0 value obtained in the calibration mode in this way and performing the operation in the normal mode.
図8に示したように、校正回路11とセレクタ12に遅延が生じている場合の通常モード時の動作は、図5に示したタイミングチャートとほぼ同様である。
この発明では、図6の構成の装置において、MUX16にDLYSEL値として“1”を与える。また、前記したように校正モードで求められたクロック1周期あたりの通過Tap数は“6”である。したがって、前記した式2より、ずらし量(%)=1(DLYSEL値)/6(クロック1周期の通過Tap数)であるので、ずらし量≒17%程度のクロックパルスCLKWを得ることができる。
As shown in FIG. 8, the operation in the normal mode when the
In the present invention, “1” is given to the
一方、図5に示した従来の通常モード動作時では、クロック1周期の通過TAP数が4であるので、ずらし量を25%とするべくDLYSEL値を1としたが、結局25%のずらし量のクロックは得られず、17%のずらし量のクロックが得られていた。
すなわち、図1の従来のような構成では正確なずらし量を得ることはできなかったが、校正回路11やセレクタ12の遅延があったとしても、図6の本願の校正によれば、正確なずらし量が得られる。
On the other hand, in the conventional normal mode operation shown in FIG. 5, since the number of passing TAPs in one clock cycle is 4, the DLYSEL value is set to 1 so that the shift amount is 25%. No clock was obtained, and a 17% shift amount of clock was obtained.
That is, with the conventional configuration of FIG. 1, an accurate shift amount cannot be obtained. However, even if there is a delay of the
以上の図6の構成において、校正モード処理によって一旦SUB0値を測定した後、利用者がこのSUB0値を見て、適切なDLYSEL値を設定するようにする。DLYSEL値の設定は、たとえば、図示しないパソコン等からキー入力するか、あるいは、図示しないディップスイッチなどの設定デバイスを用いて行えばよい。あるいは、図15で示される構成により、MPUから設定するようにしてもよい。 In the configuration shown in FIG. 6, after the SUB0 value is once measured by the calibration mode process, the user looks at the SUB0 value and sets an appropriate DLYSEL value. The DLYSEL value may be set, for example, by key input from a personal computer (not shown) or using a setting device such as a dip switch (not shown). Or you may make it set from MPU by the structure shown by FIG.
また、校正モードで得られたSUB0値を用いて自動的にDLYSEL値を算出するような遅延量自動調整回路25を図6の構成に追加してもよい。この回路25を追加すれば、校正モード処理の後、一旦処理を中断せずに、スムーズに通常モード処理に移行できる。
図7に、この発明の遅延量自動調整回路25の一実施例の構成図を示す。図7のように、 遅延量自動調整回路25は、乗算器26と除算器27とからなる。
Further, a delay amount automatic adjustment circuit 25 that automatically calculates the DLYSEL value using the SUB0 value obtained in the calibration mode may be added to the configuration of FIG. If this circuit 25 is added, after the calibration mode process, it is possible to smoothly shift to the normal mode process without interrupting the process once.
FIG. 7 shows a block diagram of an embodiment of the delay amount automatic adjustment circuit 25 of the present invention. As shown in FIG. 7, the delay amount automatic adjustment circuit 25 includes a
乗算器26には、図6の引算回路24の出力であるSUB0が入力され、後述するようなパラメータ“K”との乗算が行われる。除算器27では、乗算器26での演算結果を、パラメータ“L”で割る演算が行われ、その演算結果がDLYSEL値として図6の選択回路MUX16に出力される。
図7において、パラメータKとLは、ずらし量(%)を決定する数値パラメータであり、図示しないMPUなどから与えられ、利用者が予め設計仕様に合わせて設定しておくものである。
The
In FIG. 7, parameters K and L are numerical parameters for determining the shift amount (%), are given from an MPU (not shown), and are set in advance by the user according to the design specifications.
前記した式4によれば、クロック1周期の通過TAP数=T2−T1=ENC20−ENC0=SUB0である。
また、式2によれば、ずらし量(%)=DLYSEL/クロック1周期の通過TAP数=DLYSEL/SUB0となる。この式を変形すれば、DLYSEL=SUB0×ずらし量(%)となる(式5)。
そこで、ずらし量(%)=K/Lと定義する(式6)。ここで、Kは、クロック1周期に対するずらし量の分子の値を意味し、Lはクロック1周期に対するずらし量の分母の値を意味する。式5に、式6を代入すると
DLYSEL=SUB0×K/Lとなる。
According to
Further, according to
Therefore, the shift amount (%) is defined as K / L (Formula 6). Here, K means a numerator value of the shift amount with respect to one clock cycle, and L means a denominator value of the shift amount with respect to one clock cycle. Substituting
たとえば、ずらし量(%)を18%に設定したいとすると、式6において、18%となるような任意のKおよびLを設定する。ずらし量=18%=18/100と考えると、K=18,L=100に設定すればよいが、18%=9/50と考えると、K=9,L=50でもよい。ただし、L値は、回路の簡単化のためには、2のべき乗とすることが好ましい。この場合、除算器27をシフターで容易に構成することができるからである。
ここで、ずらし量を18%とするために、K=18,L=100という数値をMPUから遅延量自動調整回路25に与えたとすると、SUB0が6の場合、回路25の演算により、DLYSEL値としてDLYSEL=6×18/100=1が出力される。ここでは、6×18/100=1.08であるが、小数点以下を切り捨てている。
以上のように、遅延量自動調整回路25を設けて、校正モードで求められたSUB0を用いてDLYSEL値を演算するようにすれば、校正モードから通常モードへの移行がスムーズに行われる。
For example, if it is desired to set the shift amount (%) to 18%, arbitrary K and L are set to be 18% in
Here, in order to set the shift amount to 18%, assuming that numerical values of K = 18 and L = 100 are given from the MPU to the delay amount automatic adjustment circuit 25, when SUB0 is 6, the DLYSEL value is calculated by the operation of the circuit 25. DLYSEL = 6 × 18/100 = 1 is output. Here, 6 × 18/100 = 1.08, but the decimal part is rounded down.
As described above, when the delay amount automatic adjustment circuit 25 is provided and the DLYSEL value is calculated using SUB0 obtained in the calibration mode, the transition from the calibration mode to the normal mode is performed smoothly.
図14に、校正モード処理と通常モード処理とを連続して行わせた場合の概略フローチャートを示す。
(ステップS1)
図14において、まず校正モード処理をさせるために、信号Calibrateをオン(ハイレベル)にする。
(ステップS2)
図8に示したような校正モード処理を実行する。これにより、引算回路24の出力であるSUB0値を測定し、RAM等のメモリに記憶する。ここで、SUB0値は前記したように、校正回路11等の遅延に影響されない1周期あたりのTap数を示している。
FIG. 14 is a schematic flowchart when the calibration mode process and the normal mode process are continuously performed.
(Step S1)
In FIG. 14, first, the signal Calibrate is turned on (high level) in order to perform the calibration mode processing.
(Step S2)
Calibration mode processing as shown in FIG. 8 is executed. As a result, the SUB0 value that is the output of the
(ステップS3)
信号Calibrateをオフ(ローレベル)にする。これにより、校正モードを終了する。
(ステップS4)
パラメータK,Lを与えて、遅延量自動調整回路25を動作させ、演算されたDLYSEL値をMUX16に与える。
(ステップS5)
クロックCLKを供給して、通常モード処理を実行する。これにより、K,Lによって設定されたずらし量(%)に対応したパルス幅を持つクロックCLKWが出力される。
(Step S3)
The signal Calibrate is turned off (low level). This ends the calibration mode.
(Step S4)
The parameters K and L are given, the delay amount automatic adjustment circuit 25 is operated, and the calculated DLYSEL value is given to the
(Step S5)
The clock CLK is supplied and normal mode processing is executed. As a result, the clock CLKW having a pulse width corresponding to the shift amount (%) set by K and L is output.
(ステップS6)
ここでは、通常モード処理終了後、再校正をするか否か判断する。再校正を意味する所定の表示を利用者に提示して、利用者のキー入力等により判断すればよい。あるいは、予め設定された再校正有無を示すパラメータを用いて、そのパラメータを読み取ることにより、再校正処理、すなわちステップS1の処理へ戻るようにしてもよい。ただし、この分岐判断は必ずしも必須の判断ではなく、なくてもよい。
再校正が必要でない場合は、すべての処理を終了する。再校正を必要とするか否かの判断は一義的には決められないが、たとえば温度変化によるクロックの変動に常に対応させてパルス幅を調整する必要がある場合は、できるだけ再校正を実施した方がよい。可搬型の記録媒体を着脱するような記録再生装置では、データの記録処理の実行ごとにステップS1〜S5までの処理を繰り返すようにしてもよい。
(Step S6)
Here, it is determined whether or not recalibration is performed after the normal mode processing is completed. A predetermined display meaning recalibration may be presented to the user and judged by the user's key input or the like. Alternatively, by using a preset parameter indicating the presence / absence of recalibration, the parameter may be read to return to the recalibration process, that is, the process of step S1. However, this branch determination is not necessarily an essential determination.
If recalibration is not necessary, all processing is terminated. Judgment whether or not recalibration is necessary is not uniquely determined, but recalibration was performed as much as possible, for example, when it was necessary to adjust the pulse width in response to clock fluctuations due to temperature changes. Better. In a recording / reproducing apparatus that attaches / detaches a portable recording medium, the processing from steps S1 to S5 may be repeated each time the data recording processing is executed.
図15に、この発明に用いる設定パラメータの設定回路部分の一実施例を示す。ここでは、MPU36からのデータ書き込み用レジスタとして3つのレジスタ(32,33,34)を設け、データ読み出し用レジスタとして1つのレジスタ35を設けたものを示している。
MPU36と各レジスタとは、データバス,アドレスバス,書込み信号(WT),読み出し信号(RD)によって接続される。書込み用レジスタとしては、K値設定用レジスタ32,L値設定用レジスタ33,DLYSEL設定用レジスタ34がある。ここにMPUから適切な数値が書き込まれ、各数値が図6の所定の構成ブロックに与えられる。遅延量自動調整回路25を利用する場合は、レジスタ34は必要でない。データ読み出し用レジスタには、引算回路から出力されたSUB0値が書き込まれ、MPU36がこの数値を読み取るようにする。
FIG. 15 shows an embodiment of a setting parameter setting circuit portion used in the present invention. Here, three registers (32, 33, 34) are provided as data write registers from the
The
以上のように、図6,図7,図8および図14に示したような構成,動作をすることにより、高速化によるクロックのパルス幅が小さくなった場合でも、温度,電圧の変化や素子の遅延に影響されないようにクロックパルスの幅を正確に調整することができる。この発明のクロックのパルス幅の調整装置は、次のような装置にも応用できる。 As described above, even if the pulse width of the clock is reduced due to the increase in speed by performing the configuration and operation as shown in FIG. 6, FIG. 7, FIG. 8, and FIG. Therefore, the width of the clock pulse can be accurately adjusted so as not to be affected by the delay. The clock pulse width adjusting device of the present invention can also be applied to the following devices.
図16に、この発明のクロック位相調整装置の一実施例のブロック図を示す。
ここで、入力であるクロックCLKWは、図6に示した回路により、パルス幅が調整されたクロックである。この回路を用いれば、クロックのパルス幅のみならず、クロックの位相も正確に調整できる。
図16に示す回路は、図6に示した回路からAND回路17を削除した回路に相当し、信号CLKPが、位相調整されたクロックパルスとなる。MUX16には、図示していないMPUから設定されたDLYSEL_Pが入力される。ただし、このDLYSEL_Pは、図15に示したDLYSELと同様に、設定用レジスタを設けて設定すればよい。
FIG. 16 is a block diagram showing an embodiment of the clock phase adjusting apparatus according to the present invention.
Here, the input clock CLKW is a clock whose pulse width is adjusted by the circuit shown in FIG. If this circuit is used, not only the pulse width of the clock but also the phase of the clock can be adjusted accurately.
The circuit shown in FIG. 16 corresponds to a circuit obtained by deleting the AND
ここで、DelayB18は、MUX16と同一の遅延量を持つ素子を用い、また、信号CLKPの位相は、CLKP_0に対して位相調整されたものである。すなわち、DLYSEL_Pの数値を変えることにより、利用者が所望するだけ位相のずれたクロックCLKPを得ることができる。
Here, the
図17に、別の応用例として、データ(DATA)の位相調整装置の一実施例のブロック図を示す。ここで、クロックCLKWとしては、図6あるいは図16の回路によって生成されたものが入力される。
図17において、図6と異なるのは、セレクタ12と遅延回路13との間に、Dフリップフロップ30が追加されている点と、AND回路17がない点と、DelayC31が追加されている点と、MUX16の出力そのものが位相調整されたDATAとして利用される点である。この回路を用いれば、データ(DATA)の出力される位相を正確に調整できる。
FIG. 17 shows a block diagram of an embodiment of a data (DATA) phase adjustment device as another application example. Here, the clock CLKW is generated by the circuit of FIG. 6 or FIG.
17 differs from FIG. 6 in that a D flip-
セレクタ12には、規則的な一定周期のクロックCLKではなく、DATAが入力されるので、クロックCLKWに同期させたデータを遅延素子13に与えるために、Dフリップフロップ30が用いられる。
また、校正モード処理において、図8に示したのと同様の動作をさせるが、Dフリップフロップ30が追加されているので、このDフリップフロップ30による1周期分のクロックの遅延を考慮する必要がある。すなわち、Dフリップフロップ30のクロック1パルス分の遅延に合わせて、保持タイミング回路21においても、図6の場合よりも1クロック分遅延させたパルスを出力するように制御する。
Since DATA is input to the
Further, in the calibration mode processing, the same operation as shown in FIG. 8 is performed, but since the D flip-
また、DelayC31も、Dフリップフロップ30の追加に伴う遅延に合わせるために追加されたものである。この図17において出力されるデータDATA_Dは、DelayB18から出力されるクロックCLK_Dを基準にして、位相調整されたものであり、MUX16に与えられるDLYSEL_Dによって所望の位相に調整される。
Delay C31 is also added to match the delay associated with the addition of the D flip-
図18に、この発明のパルス幅調整装置を利用した光磁気ディスク装置の概略構成のブロック図を示す。
図18において、パルス幅調整装置41が、この発明の装置に相当するものであるが、エンコーダ42から与えられた書込みデータWDATAに対して位相調整を行い、その調整後のデータWDATAをBiasドライバ43に与えている。
また、エンコーダ42から与えられたクロックWCLKに対してパルス幅の調整を行い、その調整後のクロックWCLKをLDドライバ44に与えている。
FIG. 18 is a block diagram showing a schematic configuration of a magneto-optical disk apparatus using the pulse width adjusting apparatus of the present invention.
In FIG. 18, a pulse
Further, the pulse width of the clock WCLK supplied from the
11 校正回路
12 セレクタ
13 遅延回路
14 遅延状態保持回路REG
15 エンコーダ
16 選択回路MUX
17 AND回路
18 DelayB
21 保持タイミング回路
22 遅延状態保持回路
23 エンコーダ
24 引算回路SUB
25 遅延量自動調整回路
30 D−FF
31 DelayC
11
15
17 AND
21
25 Delay amount automatic adjustment circuit 30 D-FF
31 DelayC
Claims (4)
前記第1の遅延回路から出力される複数個の遅延パルスを用いて、前記演算値出力回路により出力された演算値から求められた遅延タイミング設定値DLYSELに相当する遅延パルスCLK1を選択し出力する選択回路と、選択回路と同じ遅延時間を持ち、クロックCLKを前記遅延時間だけずらしたクロックCLK2を出力する第2の遅延回路と、前記遅延パルスCLK1とクロックCLK2との論理演算をする論理演算回路とを備え、入力されたクロックCLKに対してパルス幅が調整されたクロックを前記論理演算回路から出力することを特徴とするパルス幅調整装置。 A first delay circuit that generates a plurality of delay pulses having a predetermined delay amount using the input clock CLK having a fixed period, and a delay amount per cycle of the clock CLK is measured using the plurality of delay pulses. First and second delay state holding circuits for generating a holding signal for generating, a holding timing circuit for generating a pulse indicating a timing for outputting the holding signal and supplying the pulse to the delay state holding circuit, and each delay state holding circuit First and second encoders that are connected to each other and count the number of held signals measured during one cycle using the held signals given from the connected delay state holding circuit, and from each encoder A predetermined calculation is performed on the count value of the output holding signal, and a calculation value output that outputs a calculation value corresponding to the delay amount per cycle of the clock CLK And the circuit,
Using a plurality of delay pulses output from the first delay circuit, a delay pulse CLK1 corresponding to the delay timing set value DLYSEL obtained from the calculation value output from the calculation value output circuit is selected and output. A selection circuit, a second delay circuit having the same delay time as the selection circuit and outputting a clock CLK2 in which the clock CLK is shifted by the delay time, and a logical operation circuit for performing a logical operation on the delay pulse CLK1 and the clock CLK2 And a clock whose pulse width is adjusted with respect to the input clock CLK is output from the logic operation circuit .
前記保持タイミング回路は、第1の遅延状態保持回路に与えるパルスよりも、第2の遅延状態保持回路に与えるパルスの方を、クロックCLKの1周期分遅れたタイミングで出力することを特徴とする請求項1のパルス幅調整装置。 Consists of a subtraction circuit to subtract the count value before Symbol operation value output circuit is output from the first and second encoder,
Before Symbol hold timing circuitry than the pulse to be supplied to the first delay state holding circuit, and characterized in that toward the pulse to be supplied to the second delay state holding circuit, and outputs in one cycle delayed timing of the clock CLK The pulse width adjusting device according to claim 1.
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