JP4312438B2 - 巻線型磁気センサ - Google Patents

巻線型磁気センサ Download PDF

Info

Publication number
JP4312438B2
JP4312438B2 JP2002267820A JP2002267820A JP4312438B2 JP 4312438 B2 JP4312438 B2 JP 4312438B2 JP 2002267820 A JP2002267820 A JP 2002267820A JP 2002267820 A JP2002267820 A JP 2002267820A JP 4312438 B2 JP4312438 B2 JP 4312438B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detection
coil
temperature
frequency signal
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002267820A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004108776A (ja
Inventor
正男 矢島
正吾 百瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nidec Sankyo Corp
Original Assignee
Nidec Sankyo Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nidec Sankyo Corp filed Critical Nidec Sankyo Corp
Priority to JP2002267820A priority Critical patent/JP4312438B2/ja
Priority to US10/651,838 priority patent/US20040119470A1/en
Priority to GB0321045A priority patent/GB2394298A/en
Publication of JP2004108776A publication Critical patent/JP2004108776A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4312438B2 publication Critical patent/JP4312438B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、コアに巻回された励磁コイルに通電することにより発生する磁束に対する被検出体の及ぼす変化を検出コイルにより検出することによって被検出体の識別・測定等を行えるように構成された巻線型磁気センサに関する。
【0002】
【従来の技術】
一般に、ATM、自動販売機、自動券売機などには、挿入又は投入された磁気カードやコインなどの被検出体を検出する装置が用いられている。このような装置は、例えば図15に示されているような巻線型の磁気センサを備えており、その磁気センサを構成しているセンサコアSC1,SC2が、検出すべきコインや磁気カードなどの被検出体Cの表裏に対向するように配置されている。上記2つのセンサコアSC1,SC2には、それぞれ励磁コイル3,検出コイル4が巻回されている。そして、上記励磁コイル3に通電したときに発生する磁束が前記被検出体Cに対して磁気的に作用することによって当該被検出体Cに渦電流が生じ、その渦電流に基づく磁束の変化を被検出体の検出信号として前記検出コイル4により検出する構成になされている。
【0003】
一方、上記磁気センサには、図示は省略するが、上述した被検出体検出信号から被検出体を識別する被検出体識別手段が付設されている。その被検出体識別手段には、前記2つのセンサコアSC1,SC2の間を被検出体Cが通過したときに検出コイル4から得られる各被検出体毎の基準出力値が予め格納されている。より具体的には、上記2つのセンサコアSC1,SC2の間に被検出体Cが存在していない場合のセンサ待機時において前記検出コイル4から出力される待機出力信号のレベル値と、被検出体Cが通過したときにおける上記検出コイル4からの検出出力信号の最大レベル値との差が、各被検出体Cの種別毎に予め求められて上記被検出体識別手段に基準出力値としてそれぞれ格納されている。そして、それらの各基準出力値が、上述した被検出体検出信号と比較されることによって被検出体の検出が行われる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、このような一般に広く用いられている巻線型磁気センサに用いられている励磁コイル3は、例えば図16に示されているような定電圧回路から供給される一定電圧で駆動されている。その結果、巻線型磁気センサを使用している環境温度が変化した場合において、以下のような誤動作を招来するおそれがある。尚、以下に説明する問題は、磁気カードやコインなどの被検出体を検出する場合に限らず、他の被検出体の材質識別、導電率測定、被検出体の変位や形状、間隔測定等を行う場合においても同様に問題となる。
【0005】
まず、図17に示されているように、上記巻線型磁気センサに設けられたセンサコアSCの透磁率μは、センサコアSCに用いる磁性材の特性により、温度Tの変化に対応して種々の特性となる。例えば、温度Tの変化に対して増加傾向を示すもの(例1)、減少傾向を示すもの(例2)、増加の後減少するもの(例3)等、様々である。即ち、巻線型磁気センサの使用環境温度が変化した場合には、センサ感度が温度とともに変動するので、待機出力信号のレベル値と、検出出力信号のレベル値との差により被検出体の検出信号を求めたとしても、このレベル差も環境温度とともに変動してしまい、被検出体の検出を誤認識するおそれがある。
【0006】
また、センサのインピーダンスをみると、上記のような透磁率μの温度変動に加えて、励磁コイル3の巻線抵抗値DCRも図18に示すように環境温度Tの変化に従って変動する。つまり、巻線型磁気センサのセンサインピーダンスZは、上述した透磁率μの温度変動と、巻線抵抗値DCRの温度変動とが混在したものとなっており、後述するように、駆動周波数における駆動コイルのインピーダンスの主成分が巻線抵抗値DCRであるような低周波領域では、巻線抵抗値DCRの直線的変化の方が透磁率μの温度変動による駆動コイルのインピーダンス変化より大きいので、センサインピーダンスZは温度上昇とともに高くなる。また、駆動周波数が高くなると、センサインピーダンスに占めるインダクタンス成分が大きくなり、センサインピーダンスZの温度変動は、図17に示されているようなセンサコアSCに用いる磁性材の特性に近いものとなる。一方、駆動周波数が上記低周波領域と高周波数領域との中間の周波数領域の場合は、巻線抵抗値DCRによる変動と透磁率μとの変動とが加算されることとなるので、駆動周波数に応じて複雑な特性となる。
【0007】
更に、コインなどの被検出体においては温度変化とともにその導電率が変化し、その導電率の変化は被検出体に発生する渦電流を変化させるから、この原因によっても検出出力が変化することになる。従って、従来のように励磁コイル3を定電圧駆動していると、温度上昇とともにセンサインピーダンスZが高くなるような低周波数駆動をしている場合や、図17における例1のような透磁率特性のセンサコアSCを用いた磁気センサを高周波数駆動している場合には、温度上昇に従って励磁コイル3の駆動電流Iが低下していくこととなり、その結果、図19のように、温度Tの上昇に伴ってセンサ出力、すなわち上述した被検出体検出信号が減少することとなって、被検出体の検出動作に支障を来すおそれがある。
【0008】
このように、従来の巻線型磁気センサから得られる被検出体検出信号の温度変動には、センサコアSCの透磁率μの温度変動に基づく変動分と、励磁コイル3の巻線抵抗値DCRに基づく変動分と、更に被検出体の導電率に基づく変化分とがあり、その合算された変動量は大きく、複雑な状態となっている。即ち、従来の構成では、個々の巻線型磁気センサ毎に温度特性にバラツキを生じることとなっている。従って、被検出体の検出精度を高めるには、まずその温度を正確に求める必要がある。
【0009】
このような問題を解決するために、回路部又はセンサ部にサーミスタなどの温度検出素子を取り付けて環境温度を測定し、その測定温度に対応して被検出体検出信号を温度補正する技術も提案されてはいるが、必要なセンサ部分の温度を正確に測定することは難しいことから補正に誤差を生じやすく、しかも高価な装置になってしまう。
【0010】
そこで本発明は、簡易な構成によって、容易かつ高精度な被検出体識別を行うことができるようにした巻線型磁気センサを提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために本発明にかかる巻線型磁気センサでは、被検出体に対面配置されるセンサコアと、このセンサコアの一部に巻回された励磁用及び検出用コイルとを備え、上記励磁コイルに対して常時一定の電流を供給して駆動する定電流駆動回路が設けられている。この場合、前記励磁用及び検出用コイルは、励磁用コイルが検出用コイルを兼ねているような共通のコイルを兼用して用いてもよいし、別個の励磁コイル及び検出コイルを用いてもよい。
上記構成を有する巻線型磁気センサにおいて、励磁コイルを一定電流により駆動するようにしておけば、検出コイルからは、励磁コイルの巻線抵抗値DCRに基づく温度変動分を除外して得ることができることとなり、また、励磁コイルの出力を用いてそのセンサにおける温度を推定測定することができる。従って、その推定温度に基づいてセンサコアの透磁率や被検出体の温度変動分を除いた状態での被検出体検出信号を得ることができ、環境温度の変動に対して誤差の小さい巻線型磁気センサを容易に得ることができる。
【0012】
また、本発明にかかる巻線型磁気センサでは、センサコアに被検出体が対向していないセンサ待機時においても、また、センサコアに被検出体が対向している状態であっても、前記定電流駆動回路により駆動される励磁コイルにおける駆動電圧のレベル値に基づいて、励磁コイル、即ち、センサの温度を推定することができる。
【0013】
この励磁コイルにおける温度の推定ができるようにするために、温度検出用の低周波信号を前記励磁コイルに印加し、上記低周波信号の出力値に基づいて上記励磁コイルの温度を推定する。この場合、上記低周波信号は、直流信号がコイルのインダクタンス成分を除くために好ましいが、低周波信号であってもコイルのインダクタンス成分の割合を小さくできるので、充分用いることができる。このように低周波信号を励磁コイルに印加するようにすれば、温度による変動をほぼ直線的に変化する励磁コイルの巻線抵抗値DCR成分として扱うことができ、励磁コイルの温度を高精度で推定することができる。
【0014】
励磁コイルの温度を推定することができれば、これはセンサそのものを構成する温度であるから、その励磁コイルの推定温度値に基づいて前記被検出体の検出信号を補正する温度補正手段を設けた場合、その補正結果は非常に信頼性の高い出力値とすることができる。
【0015】
なお、温度検出用の低周波信号は、それ自体で被検出体の検出をすることのできる低周波の検出信号を用い、一つの低周波信号を兼用するようにしてもよいし、又は、被検出体を検出するための検出信号が低周波信号であったとしても、温度検出用の低周波信号を、これとは異なる更に低周波の信号としてもよい。
【0016】
上記被検出体を検出するための検出信号として高周波信号が好ましい場合は、励磁コイルに印加する交流信号を、温度検出用の低周波信号と被検出体識別用の高周波信号とを加算した信号とするのがよい。このように、被検出体識別用の信号と温度検出用の信号とを加算するようにすれば、それぞれの目的に最も好適な周波数を選択使用することができ、例えば、被検出体識別用の信号として高周波信号を印加すれば、被検出体の変位又は形状を検出するに好適なセンサとすることができる。
【0017】
このときの温度検出用のコイルは、励磁コイルとは別のコイルとしてセンサ内に配置し、これを別の駆動回路により駆動するようにしても良い。このようにすれば、センサ内の任意の場所の温度を測ることが可能となる。
【0018】
上記構成を有する巻線型磁気センサにおいては、センサにおける温度が正確に測定できれば、センサコアSCの透磁率μの温度特性や、被検出体の温度特性などを予め測定しておくことによって、その巻線型磁気センサに対して、総合的にある温度に対する補正値を求めることが可能となり、その推定温度を温度補正手段に用いることによって被検出体検出信号が容易かつ高精度に温度補正することができる。
【0019】
例えば、上記励磁コイルに印加した温度検出用の低周波信号は、励磁コイル両端の電圧からローパスフィルタを介してその出力を取り出すことにより、上記励磁コイルの巻線抵抗値に基づく上記励磁コイルの温度を推定値として求めることができ、この推定温度値に基づいて、その推定温度値に対応する前記センサコアの透磁率の温度変動及び前記被検出体に発生するうず電流の温度変動に基づく変動分を求め、又は、その変動分を除外した前記被検出体の補正検出出力を得るようにすることができる。
【0020】
前記被検出体の補正検出出力を求めるにあたっては、前記励磁コイルの巻線抵抗値に基づく電圧と温度との関係テーブルと、前記センサコアの透磁率の温度変動及び前記被検出体に発生するうず電流の温度変動に基づく出力変動と温度との関係から定められた補正テーブルとを設けておき、これらのテーブルに基づいて、前記被検出体の補正検出出力を得るようにしておけば、補正検出出力を簡単に求めることができる。
【0021】
なお、温度検出のためにはセンサコアの励磁コイルを用いることがセンサの構成を簡単にするために好ましいが、励磁コイルとは別の温度検出用コイルをセンサコアに巻回し、上記温度検出用コイルに対して常時一定の電流を供給して駆動する温度用定電流駆動回路を備えるように構成することもできる。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
被検出体検出装置の全体は、図4に示されているように、後述する磁気センサ部11に対して、励磁コイルの駆動及び検出コイルの検出を行う励磁/検出回路12が接続されており、その励磁/検出回路12によって得られた被検出体検出信号が、A/D変換器13を通してCPU14に送られ、最終的な検出信号が得られる。一方、上記磁気センサ部11には、励磁コイル3の温度を検出するため励磁コイル3の駆動電圧を検出する駆動電圧検出回路15が接続されており、その駆動電圧検出回路15から、A/D変換器16を通して出力される信号によって、励磁コイル3の温度を検出し、その温度を用いて上記被検出体検出信号の温度補正が行われるようになっている。
【0023】
上記磁気センサ部11としては、例えば図1、図2に示されている巻線型磁気センサ40を用いることができる。この巻線型磁気センサ40は、被検出体の変位を検出する変位センサ、ICカードのIC接点を検出するIC接点検出センサなどとして用いられるものであって、図示を省略した回路制御部に接続されている。
【0024】
巻線型磁気センサ40自体は、一枚の薄板形状部材からなるセンサコア体41の中央基体コア部41aに対して、検出用コイル42が巻回された磁気差動型の構造を備えており、上記中央基体コア部41aの図示上下方向両側には、係止鍔部41bをそれぞれ介して一体的に連接された一対の軸端コア部41c,41dの各々に対して、励磁用コイル43c,43dがそれぞれ巻回されている。
【0025】
上記一対の軸端コア部41c,41dのうちの図示下側に配置された一方側の軸端コア部41cが、検出すべき被検出体Cと対面可能に配置されている。このとき本実施形態では、前記中央基体コア部41aを通して他方側の軸端コア部41dに至る軸心CXの方向(図示上下方向)が、前記被検出体Cの移動方向に略直交する位置関係に設定されている。そして、上記一方側の軸端コア部41cに対して被検出体Cが、上記軸心CXに略直交する方向に沿って往復移動、または、上記軸心CXの方向に沿って往復移動されることによって、これら一方側の軸端コア部41cと被検出体Cとが互いに対向しつつ近接・離間され、それらの両部材41c,Cどうしが互いに適宜の距離範囲内において対面したときに、前記被検出体Cの存在(有り)を検出したり、その移動量を検出する構成になされている。なお、上記被検出体Cが固定された状態で、巻線型磁気センサ40側が移動する構成であってもよい。
【0026】
このような構成を有する本実施形態にかかる巻線型磁気センサ40において、上記検出用コイル42から得られる検出出力は、一対の励磁用コイル43c,43dにより発生される逆方向の対向磁界φ1,φ2の和に相当する磁界に基づくものとなっており、従って、上述した被検出体Cが存在していない(無し)か、または被検出体Cが巻線型磁気センサ40から十分な遠方(無限遠)にある場合には、上記逆方向の対向磁界φ1,φ2の絶対値は等しくなって(|φ1|=|φ2|)、上記検出用コイル42からの出力は「0」となる。一方、巻線型磁気センサ40と被検出体Cとが、相対的に近接して適宜の範囲内に存在する(有り)の状態になると、これら両者間の距離の変化に対応して、上記被検出体Cに発生する渦電流が変化し、それにより、上述した逆方向の対向磁界φ1,φ2のバランスが崩れ、磁界φ1が小さくなる。そして、そのときの対向磁界φ1,φ2の絶対値の差(|φ1|−|φ2|)に相当する磁界に基づいて、上記検出用コイル42から差動出力が得られる。
【0027】
上述した被検出体検出装置に用いられている上記励磁/検出回路12は、例えば図5に示されているような構成になされている。
まず、水晶発振器12aからの出力を分周器12bで適宜に分周して得られたクロック信号が、ローパスフィルター(LPF)12cを通して定電流回路12dに送られる。この定電流回路12dは、例えば図3に示されているような構成を有しており、既に説明したように、励磁コイル43c,43dに対して常時一定の駆動電流が供給されるようになっている。
【0028】
再び図5に戻って、検出コイル42の出力側には、プリアンプ12eが接続されているとともに、そのプリアンプ12eからの出力が、帯域フィルター12f、検波器12g及びローパスフィルター(LPF)12hを通して、被検出体検出信号V0 になされている。
【0029】
ここで、本発明にかかる定電流回路として、上述した図3に示されているような励磁コイル3を定電流駆動する回路を考えてみる。
この定電流駆動回路では、入力電圧Vin と、純抵抗RLの端部電圧が常時同じになるようにフィードバックがかけられた状態となっており、いわゆる入力端子の仮想短絡状態が形成されている。従って、抵抗RLに流れる電流は、(入力電圧Vin )/(電流設定抵抗RL)となる。ここで、上記入力電圧Vin として周波数fの正弦波を用いることとすれば、励磁コイル3と抵抗RLに流れる電流を正弦波状にすることができる。そして、励磁コイル3におけるDCRやLが変動しても、オペアンプの出力が飽和しない範囲では、上述した関係は保たれることとなる。従って、励磁コイル3のインピーダンスが変動しても、常に一定の電流値で駆動することができる。例えば、入力電圧Vin に対して1Vp−pの正弦波を印加した場合には、10Ωに設定した抵抗RLに100mAp−pの正弦波状の電流が流れる。
【0030】
この図3に示すような定電流回路を用いる定電流回路12dでは、励磁コイル側からみたインピーダンスが高く、励磁コイルと駆動回路との間に長い配線を使用すると回路が不安定になり易いことから、発振したり、S/N比が劣化する場合がある。そこで、図5中において破線部分で囲んだ部位における定電流回路12dや、検出コイル42のプリアンプ12eなどをセンサ内に組み込んで、センサ部の近傍に配置することとすれば、駆動回路側の安定化とSN比の向上が図られるとともに、センサシステムとしての安定性確保とSN比の向上が達成されることとなる。
【0031】
なお、ここでは、図5中の発振器12aとローパスフィルター(LPF)12cとを用いて低周波数の正弦波を得るようにしており、励磁コイル43c,43dに対して、温度検出用と被検出体を検出するための検出信号とを兼用した低周波信号を用いた例を示している。なお、この図5において、一点鎖線から図示左方側の部分を一体型とせず、外部側に配置することによって外部供給を行うようにして良いし、二点鎖線から左側部分を外部配置しても良い。
【0032】
駆動周波数の異なるセンサを隣接して配置する場合などにおいては、異なるセンサ相互の位相ズレが存在していると、ビートが発生して出力に揺らぎを生じる場合がある。このような場合には、共通の発振器12aを用い、それぞれのセンサを共通の発振器12aにより駆動するような構成にしておけば、互いに位相が揃った周波数を分周器で容易に作成することができるという利点が得られる。
【0033】
このような構成の実施形態にかかる巻線型磁気センサにおいては、励磁コイル43c,43dが定電流駆動回路12dから供給される一定電流により駆動されていることから、巻線型磁気センサから得られる被検出体検出信号の温度変動は、励磁コイル43c,43dの巻線のインピーダンス変動分が除かれた状態となっており、センサコアSCの透磁率μの温度変動に基づく変動に対応したものとなっている。従って、環境温度の変動に対して誤差の小さい巻線型磁気センサが容易に得られる。
【0034】
従って、例えばセンサコアSCの透磁率μの温度特性を予め求めておき、また、上述した駆動電圧検出回路15における定電流駆動回路12dから励磁コイル43c,43dへの印加電圧の温度特性などを予め測定しておけば、巻線型磁気センサの環境温度が直ちに推定されることとなり、その推定温度を、前記CPU14内に設けられた後述するような温度補正手段に用いることによって、被検出体検出信号を容易かつ高精度に補正することができる。
【0035】
このような温度補正手段による被検出体検出信号の温度補正は、センサコアSCの透磁率μが温度に対して単調に変化する場合に特に良好な結果が得られるが、このような常温の範囲で単調な特性を示すセンサコアは、容易に入手することができる。
【0036】
ここで、上述した駆動電圧検出回路15は、例えば図6に示されている実施形態におけるような構成とすることができる。この図6にかかる駆動電圧検出回路は、温度検出用の低周波信号を励磁コイル43c,43dの両端部の電圧値として差動増幅器21で観察するようにしたものであって、その差動増幅器21からの出力を、検波回路22及びローパスフィルター(LPF)23を通すことにより励磁コイル43c,43dの駆動電圧V0Zを得るようにしたものである。
【0037】
センサコア体を有する巻線型磁気センサの駆動周波数が低く、その駆動周波数におけるインダクタンスが小さい場合には、コイルのインピーダンスは巻線抵抗値DCRが支配的となり、インピーダンスの寄与率はcosθの二乗で決まることとなり、コア形状、巻数、周波数によって異なるが、ほとんどが巻線抵抗値DCRの成分となる。従って、センサの駆動周波数は低い周波数を用いることが、容易に巻線抵抗値DCRの変動を求めるためには好ましい。
【0038】
上記励磁コイルの駆動電圧と温度との関係は、予め測定されたデータにより関係付けが行われており、上述した被検出体検出装置(図4参照)のCPU14内にテーブル又は数式として格納されている。そして、上述した駆動電圧検出回路15によって、励磁コイルの両端部における電圧の実効値が求められ、この電圧の実効値から上記CPU14に設けられた適宜の温度補正手段において比較されることによって、現時点における励磁コイルの温度が推定され、その推定温度値に基づいて被検出体検出信号の補正が、次のようにして行われるようになっている。
【0039】
例えば、CPU14内では、図7に示されているように、温度補正のフローが実行されるようになっている。この例では、被検出体の通過がなされていない待機時に温度を求めるようにしてある。温度補正動作がスタートすると、まず、現時点での最新データの読み込みが行われ(ステップ1)、次いで、被検出体C、例えばコインの通過がなされていないことが確認された後(ステップ2のNo)、励磁コイル両端の駆動電圧と温度との関係に基づいて励磁コイルの温度推定が実行される(ステップ3)。これにより得られた励磁コイルの推定温度は、CPU14内の適宜のメモリM内に書き込まれて定期的に更新される。そして、実際に被検出体Cの投入が行われて被検出体検出装置を被検出体Cが通過した場合には(ステップ2のYes)、上記メモリMから呼び出された温度推定値が用いられて、被検出体検出信号の補正処理(ステップ4)が実行される。
【0040】
ところで、コイルのインダクタンスは周波数に比例して大きくなることから、励磁コイルに印加する周波数を高くした場合に励磁コイルのインピーダンスに占めるコイルのインダクタンスLの割合が高くなるので、高い周波数を温度検出用として用いることは好ましくない。
【0041】
具体的には、次の表1のコイルのように、インダクタンスが小さく巻線抵抗値DCRの大きいコイルにおいても巻線抵抗値DCRのインピーダンスへの寄与率は極めて低くなる。
【表1】
Figure 0004312438
このような場合は、コア透磁率の温度特性を利用した温度計とすることができる。しかしながら、用いるコア材は、その温度特性が必ずしも温度計として好ましいものとは限らないので、この場合には、以下のように構成するのがよい。
【0042】
例えば図8に示されているDCR検出回路において、駆動側に直流のバイアス電源VDC31を印加しておくことによって、励磁コイル43c,43dの両端における直流電位を、プリアンプ32及びローパスフィルタ(LPF)33を通してDCRを求めるようにしている。ここで、直流のバイアス電源VDC31は、低周波数における最も低い周波数の例とみなすことができる。このようにバイアス電源VDC31によって僅かな直流分をコイルに加えても、センサ出力である被検出体検出信号(=dφ/dt)は、コアが飽和しない範囲内であれば影響を受けることはない。
【0043】
このような図8に示されているDCR検出回路を、実際に5つの巻線型磁気センサに用いて、励磁コイル43c,43dにおける駆動電圧V0Zの温度変動を測定してみたところ、図9に示されているように、各巻線型磁気センサ毎のバラツキが小さく、温度に対して直線性のよい特性が得られることが判明した。従って、同一の補正データを全てのセンサに用いることができる。
【0044】
一方、上記と同様に5つの巻線型磁気センサを用いて、その待機時における検出出力信号のレベル値の温度変動を測定してみたところ、図10に示される結果が得られた。この場合は、コア透磁率の温度特性を利用した温度計となる。この結果によれば、各巻線型磁気センサ毎のバラツキが比較的大きくなっているが、一定の傾向があるので、各巻線型磁気センサ毎に補正曲線を決定しておくで温度補正をすることができる。
【0045】
このようなDCR検出回路を、実際の装置として用いるには、例えば図11に示されているような構成になされる。
まず、発振器51からのクロック信号は、2つの分周器52a,52bによって例えば1MHzの高周波信号と、励磁コイルにおけるコイルのインピーダンスにおいて、そのDCR成分が主要となるような周波数として、例えば1kHzの低周波信号とに分周され、それら2つの信号が、ハイパスフィルタ(HPF)53a、ローパスフィルタ(LPF)53bを通して加算回路54に送られ、そこで、上記高低両信号が混合された後に、定電流回路55に用いられ、その定電流回路55によって励磁コイル43c,43dに駆動電流が供給される。
【0046】
上記励磁コイル43c,43dに与えられる電圧は、オペアンプ56を介して外部に取り出されるように構成されており、そこからローパスフィルタ(LPF)57を通して上述した1MHzの高周波信号が除去され、1KHzの低周波信号のみが、検波器58、及びその検波器58のリプルを取り除くローパスフィルタ(LPF)59を通して取り出され、DCR成分に対応する励磁コイル43c,43dの駆動電圧が得られるようになっている。
【0047】
検出コイル42からの検出出力信号は、プリアンプ61からハイパスフィルタ(HPF)62を通して上述した1KHzの低周波信号が除去され、1MHzの高周波信号のみが、検波器63、及びその検波器63のリプルを取り除くローパスフィルタ(LPF)64を通して取り出されて被検出体の検知信号が得られるようになっている。このような構成を用いれば、被検出体の検知信号として高周波信号を用いているので、被検出体の変位、位置の変動や被検出体の形状を検出するのに有効な磁気センサとすることができ、特に、高速移動する被検出体に用いられる近接センサなどの検出精度や応答速度が向上される。
【0048】
また、複数の巻線型磁気センサを各々異なる周波数で駆動する場合には、例えば図12に示されているような駆動回路が用いられる。この場合は、被検出体の変位、位置の変動や被検出体の形状を検出するのに、例えば1MHzの高周波信号を用い、被検出体の材質識別、導電率測定には、例えば100KHzの低周波信号を用い、更に、温度検出用の低周波信号として、例えば4KHzの低周波信号を用いた例である。このようにすれば、それぞれの目的に応じた周波数信号を用いて、被検出体の検出及び温度検出をすることができる。上述したように位相が異なる複数の周波数を同時に用いた場合には、位相差の状況などで出力振幅が揺らぐことがあるが、このような駆動回路を用いれば、位相の揃った駆動信号を得ることができ、出力の揺らぎが解消される。
【0049】
図13及び図14に示されている巻線型センサは、磁気カードリーダに設けられるものの一例を表しており、図示を省略した磁気カードに形成された磁気ストライプの種別を検知するように構成されている。具体的には、ハウジング71内に装着されたセンサコア72の基体コア部73に対して励磁コイル74が巻回されているとともに、その基体コア部73の側部(図13の上方部)に、被検出体としての磁気カードと対向するように配置された2つの対向コア部75,75が突出するように形成されており、それらの各対向コア部75に対して検出コイル76が巻回されている。このような構成の巻線型センサを用いた装置に対しても同様な作用・効果を得ることができる。
【0050】
以上、本発明者によってなされた発明の実施形態を具体的に説明したが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形可能であることはいうまでもない。
【0051】
例えば、本発明は、上述した実施形態にかかる構造の巻線型磁気センサに限定されることはなく、励磁コイルの磁束の磁気的作用によって被検出体に発生した渦電流に基づくインピーダンス変化を検出コイルにより検出するようにしたものであれば、多種多様な巻線型磁気センサに対しても同様に適用することができる。
【0052】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明にかかる巻線型磁気センサは、励磁コイルに対して常時一定の電流を供給して駆動する定電流駆動回路を設け、その定電流駆動回路から供給される一定電流により励磁コイルを駆動したことによって、巻線型磁気センサから得られる被検出体の検出信号の温度変動を除いた状態とすることができ、環境温度の変動に対して誤差の小さい巻線型磁気センサを容易に得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】巻線型磁気センサに用いられている磁気センサ部の一例を拡大して表した側面説明図である。
【図2】図1に表した巻線型磁気センサの磁気センサ部を使用する場合の位置関係を表した斜視説明図である。
【図3】定電流回路の一例を表した線図である。
【図4】本発明の一実施形態にかかる被検出体検出装置全体の概略構成を表した線図である。
【図5】図4に示された被検出体検出装置に用いられている励磁検出回路の一例を表した線図である。
【図6】図5に表された被検出体検出装置に用いられている駆動電流検出回路の一例を表した線図である。
【図7】被検出体検出信号の補正手順の一例を表した線図である。
【図8】DCR検出回路の一例を表した線図である。
【図9】図8に示されているDCR検出回路を用いて励磁コイルの駆動電圧の温度変動を測定した結果を表した線図である。
【図10】図8に示されているDCR検出回路を用いて待機出力信号の温度変動を測定した結果を表した線図である。
【図11】図8に表されたDCR検出回路を、実際の装置として用いる場合の構成例を表した線図である。
【図12】複数の巻線型磁気センサを各々異なる周波数で駆動する場合の駆動回路例を表した線図である。
【図13】本発明を適用する巻線型磁気センサの他の実施形態における概略構造を表した側面説明図である。
【図14】図13に表した巻線型磁気センサの平面説明図である。
【図15】本発明に用いられる巻線型磁気センサに設けられた磁気センサ部分の構造を表した側面説明図である。
【図16】定電圧回路の一例を表した線図である。
【図17】センサコアの透磁率の温度変化を表した線図である。
【図18】励磁コイルの巻線抵抗値DCRの環境温度変化を表した線図である。
【図19】定電圧駆動した場合のセンサインピーダンスと励磁コイルの駆動電流との関係を模式的に表した線図である。
【符号の説明】
11 磁気センサ部
12 励磁検出回路
14 CPU(温度補正手段)
40 巻線型磁気センサ
41 センサコア体
41c,41d 軸端コア部
41a 中央基体コア部
42 検出用コイル
43c,43d 励磁用コイル
C 被検出体

Claims (3)

  1. 被検出体に対面配置されるセンサコアと、このセンサコアの一部に巻回された励磁コイル及び検出コイルと、を備え、
    前記励磁コイルに通電することにより発生する磁束の前記被検出体に対応した変化を前記検出コイルにより検出して前記被検出体の検出信号を得るように構成された巻線型磁気センサにおいて、
    前記励磁コイルに対して常時一定の電流を供給して駆動する定電流駆動回路が設けられ、その定電流駆動回路から前記励磁コイルに印加されている駆動電圧のレベル値から、前記励磁コイルのその時点での温度を推定し、その推定温度値に基づいて前記被検出体の検出信号を補正する温度補正手段が設けられたものであって、
    1つの発振器からの出力を被検出体識別用の高周波信号と温度検出用の低周波信号とに分周し、それら2つの信号を加算した信号を前記定電流駆動回路に入力し、該定電流駆動回路から前記被検出体識別用の高周波信号と前記温度検出用の低周波信号とからなる駆動電流を前記励磁コイルに供給するように構成するとともに、
    前記温度補正手段は、前記励磁コイルに印加されている駆動電圧のレベル値から前記高周波信号を除去して前記低周波信号を取り出すことにより前記励磁コイルにおける前記低周波信号の駆動電圧を得て、該低周波信号の駆動電圧のレベル値から前記励磁コイルの温度を推定するとともに、前記検出コイルから取り出される前記高周波信号を前記被検出体の検知信号として用いるように構成されていることを特徴とする巻線型磁気センサ。
  2. 前記励磁コイル及び検出コイルは、共通のコイルを兼用して用いるか、別個に設けられた励磁コイル及び検出コイルを用いることを特徴とする請求項1記載の巻線型磁気センサ。
  3. 前記励磁コイルにおける温度検出用の低周波信号、前記励磁コイル両端の電圧をローパスフィルタを介して取り出すことにより、前記励磁コイルの巻線抵抗値に基づいて前記励磁コイルの温度を推定するようにしたことを特徴とする請求項1記載の巻線型磁気センサ。
JP2002267820A 2002-09-13 2002-09-13 巻線型磁気センサ Expired - Fee Related JP4312438B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002267820A JP4312438B2 (ja) 2002-09-13 2002-09-13 巻線型磁気センサ
US10/651,838 US20040119470A1 (en) 2002-09-13 2003-08-29 Winding type magnetic sensor device and coin discriminating sensor device
GB0321045A GB2394298A (en) 2002-09-13 2003-09-09 Winding type magnetic sensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002267820A JP4312438B2 (ja) 2002-09-13 2002-09-13 巻線型磁気センサ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004108776A JP2004108776A (ja) 2004-04-08
JP4312438B2 true JP4312438B2 (ja) 2009-08-12

Family

ID=32266212

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002267820A Expired - Fee Related JP4312438B2 (ja) 2002-09-13 2002-09-13 巻線型磁気センサ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4312438B2 (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2005139A2 (en) * 2006-03-30 2008-12-24 Koninklijke Philips Electronics N.V. Magnetoresistive sensor as temperature sensor
JP5127440B2 (ja) * 2007-12-28 2013-01-23 日本電産サンキョー株式会社 磁気パターン検出装置
JP5170844B2 (ja) * 2008-11-22 2013-03-27 マークテック株式会社 渦電流探傷装置と渦電流探傷方法
JP5943768B2 (ja) * 2011-08-25 2016-07-05 三菱電機株式会社 直流電流検出装置
JP6105381B2 (ja) * 2012-06-29 2017-03-29 アンリツインフィビス株式会社 磁界分布検出装置、心磁計、および金属検出装置
JP5521143B1 (ja) * 2013-03-06 2014-06-11 独立行政法人交通安全環境研究所 磁気検出装置
KR101574094B1 (ko) * 2014-01-29 2015-12-03 세이프텍(주) 모바일형 보일러 튜브의 용접부위 검사장치 및 이를 이용한 검사방법
KR101568127B1 (ko) * 2014-01-29 2015-11-11 세이프텍(주) 보일러 튜브의 용접부위 검사장치 및 이를 이용한 검사방법
US10837943B2 (en) * 2017-05-26 2020-11-17 Allegro Microsystems, Llc Magnetic field sensor with error calculation
DE102018120912A1 (de) * 2018-07-30 2020-01-30 Gerd Reime Induktive Analyse metallischer Objekte

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004108776A (ja) 2004-04-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100993928B1 (ko) 자기브리지형 전류센서, 자기브리지형 전류검출방법, 및상기 센서와 검출방법에 사용하는 자기브리지
JP4312438B2 (ja) 巻線型磁気センサ
JP2001013231A (ja) 半導体基板上に形成された磁気センサ
US20170336447A1 (en) Systems and Methods for Determining a Load Condition of an Electric Device
US9638823B2 (en) Metal sensor
US11054321B2 (en) Temperature compensated torque sensor
JP2000055999A (ja) 磁気センサ装置および電流センサ装置
US20040119470A1 (en) Winding type magnetic sensor device and coin discriminating sensor device
JP2013524253A (ja) 結合同調回路を使用して2つの物体の相対位置を検知する電磁方法
JP6325797B2 (ja) 磁界検出センサ
JP2006038849A (ja) 変位センサ
JP4582564B2 (ja) 磁束測定装置
JP2009186433A (ja) 渦電流式試料測定方法と、渦電流センサと、渦電流式試料測定システム
JP4194821B2 (ja) コイン識別センサ
JP2003130605A (ja) 磁気式変位センサ装置
JP2008107119A (ja) 電流センサ
JP3630142B2 (ja) 物体検知センサ
JP2001116773A (ja) 電流センサー及び電流検出装置
US20140002069A1 (en) Eddy current probe
JPH10132790A (ja) 磁性粉濃度測定装置
JPS618639A (ja) 磁歪式トルク検出装置
JP4593876B2 (ja) 一定の振幅および周波数を有する高周波磁界の正確な測定用デバイス
JP2003004830A (ja) 磁界検出装置
CN109387665A (zh) 速度检测装置和速度检测方法
US5831424A (en) Isolated current sensor

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050420

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070426

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071211

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080208

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20081127

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090122

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20090202

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090421

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090513

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120522

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120522

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130522

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130522

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140522

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees