JP4283602B2

JP4283602B2 - 直径測定装置

Info

Publication number: JP4283602B2
Application number: JP2003163881A
Authority: JP
Inventors: 知多佳真鍋; 泰宏和佐
Original assignee: Kobe Steel Ltd
Current assignee: Kobe Steel Ltd
Priority date: 2003-06-09
Filing date: 2003-06-09
Publication date: 2009-06-24
Anticipated expiration: 2023-06-09
Also published as: JP2005001005A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、円筒形状の被測定物の直径、例えば、クランクシャフトのジャーナル中心を回転軸とし、この回転軸の周りにクランクシャフトとともに回転するそのピン部の直径を、その動きに同期させた砥石で研削加工中に測定する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
自動車等のエンジン部品の一つであるクランクシャフトの研削加工工程で、加工中のクランクシャフトのピン部外径を測定する装置として、図１２に示す検査装置が知られている（特許文献１参照）。この検査装置は、Ｖ字形基準装置２１と、このＶ字形基準装置２１の二等分線に沿って軸方向に運動できるフィーラ２２が装着された測定装置と、砥石車送り台に取り付けられた支持体２３に対して、回転ピン２４を介して回転する第１のアーム２５、および前記Ｖ字形基準装置２１を保持した状態で、第１のアーム２５に対して回転ピン２６を介して回転する第２のアーム２７を備えた前記測定装置の支持装置を有している。前記第１のアーム２５が、油圧式複動シリンダのピストンロッド２８に連結されたレバーを介して、ピストンロッド２８の前進・後退によって回転ピン２４の周りに回動し、それに連動して第２アーム２７が回動し、これらの回動により、第２アーム２７に保持されたＶ字形基準装置２１が、研削加工中のクランクシャフトのピン部２９に押し当てられる。
【０００３】
前記Ｖ字形基準装置２１は、図１３に示すように、案内ケーシング３０の下方端部に固定された支持ブロック３１に支持され、この案内ケーシング３０の中でピン部２９の表面に接触するフィーラ２２、即ち測長センサを備えた伝動ロッド３２が上下に移動できるようになっている。この伝動ロッド３２の軸方向の移動は、案内ケーシング３０と伝動ロッド３２との間に配置されたブッシュ３３、３３ａによって案内され、伝動ロッド３２の移動量、即ち変位量は、変換器３４によって検出される。
【０００４】
【特許文献１】
特開２００１−２２５２６６（［００１０］〜［００１８］、［００２８］〜［００３２］）
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
図１４は、前記Ｖ字形基準装置と測長センサを用いる、クランクシャフトのピン部２９の直径の測定機構の主要部を模式的に示したものである。前記測長センサは、前述のように、Ｖ字形基準装置を表したＶブロック３５の中心線ＣＬ２上に設けられており、実質的に、中心線ＣＬ２上でのピン部の外周面の位置Ａと、Ｖブロック３５の谷底位置Ｂとの距離ｍを測定していることになり、この距離ｍに基づいて、ピン部２９の直径が求まる。Ｖブロック３５の鋏角をθとすると、
ｍ＝Ｒ／ｓｉｎ（θ／２）−Ｒ＝Ｒ（１／ｓｉｎ（θ／２）−１）
となり、
Ｒ＝｛ｓｉｎ（θ／２）／（１−ｓｉｎ（θ／２））｝ｍ
即ち、ｋ＝ｓｉｎ（θ／２）／（１−ｓｉｎ（θ／２））とおくと、Ｒ＝ｋ・ｍとなり、ピン部２９の半径Ｒが距離ｍに比例する。ピン部の直径をＤとすると、Ｄ＝２ｋ・ｍとなり、直径Ｄの微小変化ΔＤと距離ｍの微小変化とは、ΔＤ＝２ｋ・Δｍの関係にある。Ｖブロック３５の鋏角θを９０°とすると、２ｋ＝４．８２８となって、ΔＤ＝４．８２８・Δｍとなる。従って、ピン部３６の直径の要求測定精度の１／４．８２８の大きさの測定制度で距離ｍを測定する必要があり、ピン部２９の直径に対する要求測定精度以上の精度を有する測長センサが必要となる。
【０００６】
また、上記ｋは鋏角θが小さくなる程、小さくなるため、Ｖブロック３５の鋏角θを小さくすれば、測長センサに対する要求精度は緩和される。しかし、鋏角θが小さくなると、Ｖブロック３５とピン部２９との接触点はブロック中心線ＣＬからより離れるため、Ｖブロック３５が砥石に近づくことになり、鋏角θを小さくするにも限度がある。さらに、回転するピン部２９にＶブロック３５が接触しているため、摩耗が生じ、測定原理からＶブロック３５の摩耗変形は、ピン部２９の直径の測定値変化に直結する。
【０００７】
一方、Ｖブロック３５はその挟み面Ｇにピン部２９が接触する限りは、ピン部２９の直径によらず共用できるが、Ｖブロック３５の寸法に対してピン部２９の直径が小さくなると、Ｖブロック３５の外面側がピン部２９からはみ出し、砥石に干渉する。このため、Ｖブロック３５を共用するにも限度があり、実際には、ある範囲のピン部径毎にＶブロックを用意する必要がある。また、ピン部径が大きくなるにつれて大きなＶブロックが必要となり、ピン部径が４００ｍｍ以上にも達する舶用エンジンのクランクシャフトに上記検査装置を適用することは、Ｖブロックが巨大化するため、実用上困難である。さらに、ゴミなどを挟んでＶブロックがピン部に接触せずに浮いてしまうと、測長センサの検出指示値が変化し、測定誤差が発生する原因となる。
【０００８】
そこで、この発明の課題は、測長センサの測定精度を過度に高めずに済み、測定誤差が発生しにくく、異なる直径の被測定物にも研削砥石に干渉せずに対応可能な、クランクシャフトピン部などの加工中の被測定物直径を測定する装置を提供することである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
前記の課題を解決するために、この発明では以下の構成を採用したのである。
【００１０】
即ち、円筒状被測定物の直径を測定するように、前記被測定物を挟んで対向するようにそれぞれ設けた測長センサと、前記被測定物の上部側の、前記測長センサの両側の位置に接触するようにそれぞれ設けた回転接触部材と、前記測長センサおよび回転接触部材を保持する測定フレームと、この測定フレームの支持機構とを備え、前記回転接触部材を前記円筒状被測定物に接触させて、対向して設けた前記測長センサの位置決めを行ない、かつ、前記測定フレームの重心を前記被測定物の重心よりも下方に位置させて、重力の作用で測長センサの測定姿勢を安定化するようにして、直径測定装置を形成したのである。
【００１１】
このようにすれば、被測定物の上部に、測長センサの両側に設けた回転接触部材が接触して、対向する測長センサの測定位置が決まるので、前記のＶブロックを用いた測定法のように、測長センサの測定量からピン部の直径の算出に必要な換算係数を用いる必要がなく、測長センサの測定量が直接、ピン部の直径に対応する。このため、クランクシャフトのピン部直径に対する要求精度以上の高測定精度の測長センサは不要となる。しかも、直径測定装置のピン部への接触が回転接触部材によるため、接触部の摩耗が生じにくく、また、前記回転接触部材は測長センサの位置決めを担っているだけであり、前記回転接触部材が測長センサの両側で接触しているため、仮に摩耗が生じたとしても、両側の回転接触部材間で著しく摩耗量差が生じない限り、測定精度へは影響を及ぼさない。
【００１２】
また、測長センサが、クランクピンを挟んで対向するように設けられているため、とくに測長センサが非接触式の場合、前記測定フレームが上下に位置変動しても、この変動が両方の測長センサで相殺され、測定量が上下の位置変動の影響を受けにくい。
【００１３】
さらに、前記回転接触部材の間隔は、最小径のクランクピンを測定する場合に、研削砥石に干渉しない大きさであればよく、異なる直径のピン部を測定する場合、前記測定フレームに上下方向に伸縮可能な機構を予め付与しておくこと、および測長センサの測定レンジの切替えることで対応することができる。このため、従来のＶブロックを用いる測定法のように、ある範囲のピン部径毎にＶブロックを用意して、交換する必要がなくなり、測定作業が簡素化される。そして、測定フレームの重心を前記ピン部などの被測定物の重心よりも下方に位置させる簡単な機構で、対向して設けた測長センサの方向が、測定フレームの自重によって鉛直方向に維持され、測定姿勢が決まる。
【００１４】
円筒状被測定物の直径を測定するように、前記被測定物を挟んで対向するようにそれぞれ設けた測長センサと、前記被測定物の上部側の、前記測長センサの両側の位置に接触するようにそれぞれ設けた回転接触部材と、前記測長センサおよび回転接触部材を保持する測定フレームと、この測定フレームの支持機構とを備え、前記回転接触部材を前記円筒状被測定物に接触させて、対向して設けた前記測長センサの位置決めを行ない、かつ、前記被測定物がその加工工程で運動するときに、前記測定フレームの被測定物に対する傾きを検出し、この検出した傾きを打ち消すように前記回転接触部材を駆動して測定姿勢を安定化するようにして、直径測定装置を形成することもできる。
【００１５】
このようにしても、簡単な装置構成で、測長センサの方向を一定方向（鉛直方向）に維持し、安定した測定が可能となる。
【００１６】
前記測定フレームの支持機構が平行リンク機構であり、前記被測定物がその加工工程で運動するときに、前記測長センサが測定姿勢を保った状態で追従できるようにすることが望ましい。
【００１７】
前記測定フレームを平行リンク機構で支持することにより、クランクシャフトのジャーナル中心を回転軸として、この回転軸の周りに回転するピン部に、対向して設けた測長センサの方向を鉛直方向に維持した状態で、測定フレームが追従して運動することができる。このように、測定フレームを適正な測定姿勢に保つことにより、被測定物の回転に伴って被測定物上を移動していく測定点の間隔に変動が生じないため、測定精度が低下せず、また、研削砥石と接触も防止することができる。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下に、この発明の実施形態および参考形態を添付の図１から図１１に基づいて説明する。
【００２１】
図１（ａ）〜（ｃ）は、実施形態の直径測定装置の測定部１を示したものである。この測定部１は、被測定物のクランクシャフトのピン部２を挟んで、このピン部２の直径の延長線ＣＬ１上に、鉛直方向に対向するように設けた測長センサ３、３ａと、ピン部２の上部側の、測長センサ３の両側の位置に接触するようにそれぞれ設けた回転接触部材である接触ローラ４、４ａと、測長センサ３、３ａおよび接触ローラ４、４ａを保持するコ字形に形成された測定フレーム５からなり、測定フレーム５の下部の測長センサ３ａの周りに錘１１を取り付けて、測長センサ３、３ａおよび接触ローラ４、４ａを保持した測定フレーム５の重心をピン部２の重心よりも下方に位置させている。図２に示すように、前記測定部１の上部には、支持具６が取り付けられ、固定支持端側には支持具６ａが取り付けられている。支持具６および６ａには、平行リンク棒７、７ａの一端側にそれぞれ設けた平行リンクピン８、８ａが回転自在に嵌めこまれ、平行リンク棒７、７ａの他端側に回転自在にはめ込んだ平行リンクピン８ｂによって、これらのリンク棒７、７ａが接続され、この平行リンク機構によって前記測定部１が、その測定姿勢を保ちながら、クランクシャフトの回転軸の周りに、一点鎖線で示した中心軌跡Ｓで回転するピン部２の運動に追従し、砥石９での研削中にピン部２の直径を測定できるようになっている。なお、前記回転接触部材として、接触ローラ４、４ａの代わりに、転がり軸受けを、その外周面がピン部２に接触するようにして用いることもできる。
【００２２】
図１（ａ）に示したように、測長センサ３、３ａの間隔をＬ、測長センサ３、３ａの測定値から導かれる、測長センサ取付け部からの長さをｎ₁、ｎ₂とすれば、ピン部２の直径Ｄは、Ｄ＝Ｌ−ｎ₁−ｎ₂で求まる。なお、測長センサ３、３ａは、非接触式、接触式のいずれをも用いることができる。接触式の場合には、測長フレーム５の外表面から測長センサ３、３ａの測定値が“０”であるときの検出子先端までの距離を予め把握しておき、この距離の変動を測定することによって前記ｎ₁、ｎ₂が求まり、ピン部２の直径Ｄを算出することができる。非接触式の場合も同様に、測定値が“０”になる被測定物位置に相当する距離を基準に直径Ｄを算出することができる。
【００２３】
なお、接触ローラ４、４ａが被測定物のピン部２に接触した状態で、測定部１の位置が決まるため、この接触状態になったときに測長センサ３、３ａの仮想中心線がピン部２の中心を通ること、即ち前記直径の延長線ＣＬ１に一致することが、前記直径測定装置の測定条件である。従って、接触ローラ４、４ａは、この測定条件を満たす範囲で、上部側の測長センサ３の両側、即ち前記仮想中心線の両側の位置に設けることができる。但し、実際には測定姿勢の安定性や設備上の制約から、接触ローラ４、４ａは、図１（ａ）に示したように、前記仮想中心線に対して対称の位置に設けることが望ましい。
【００２４】
この発明の実施形態は以上のような構成であり、以下にその作用について説明する。
【００２５】
図１および図２に示したように、接触ローラ４、４ａにより、測長センサ３、３ａが、ピン部２の直径の延長線上で鉛直方向に対向するように測定姿勢を維持できるため、測長センサ３、３ａの測定量ｎ₁、ｎ₂から直接、ピン部の直径Ｄを求めることができる（Ｄ＝Ｌ−ｎ₁−ｎ₂）。このため、従来のＶブロック測定法のように、ピン部２の直径に対する要求精度以上の高測定制度の測長センサは不要となる。測定部１のピン部２への接触が接触ローラ４、４ａによるため、接触部に摩耗が生じにくく、前記回転接触部材は測長センサの位置決めを担っているだけであり、また、接触ローラ４、４ａが、ピン部２の上部側の、測長センサ３の両側で接触しているため、仮に接触ローラ４、４ａの表面に摩耗が生じたとしても、両側の接触ローラ４、４ａ間で著しく摩耗量差が生じない限り、測定精度へは影響を及ぼさない。
【００２６】
また、測長センサ３、３ａが、ピン部２を挟んで対向するように設けられているため、とくに測長センサが非接触式の場合、測定フレーム５が上下に位置変動しても、この変動が両方の測長センサ３、３ａの測定量ｎ_１、ｎ_２間で相殺され、測定量ｎ_１、ｎ_２に基づいたピン部２の直径Ｄが、測定フレーム５の上下の位置変動の影響を受けにくく、かつ、測定フレーム５の下部の測長センサ３ａの周りに錘１１を取り付けて、測長センサ３、３ａおよび接触ローラ４、４ａを保持した測定フレーム５の重心をピン部２の重心よりも下方に位置させているため、重力の作用を用いた簡単な機構で、測長センサ３、３ａの測定姿勢を鉛直方向に維持することができる。
【００２７】
さらに、前記測定フレーム５を平行リンク機構で支持しているため、クランクシャフトの回転軸の周りに回転するピン部２に、その直径の延長線上に対向して設けた測長センサ３、３ａの方向を鉛直方向に維持した適正な測定姿勢を保ちながら、測定フレーム５が追従して運動することができる。それにより、測定精度が低下せず、また、研削砥石との接触も防止することができる。
【００２８】
なお、前記測定部１は、測長センサ３、３ａの測定範囲を超えない範囲で、ピン部径の変化に対応できるが、とくに下側の測長センサ３ａの測定範囲を超える場合には、図３（ａ）、（ｂ）に示すように、測長センサ３ａを取り付ける、測定フレーム５のアーム部５ａを、油圧シリンダ、または電動スクリュウやリニアモータ等のアクチュエータ１０により昇降可能な機構に形成することが望ましい。この場合、ピン部径が研削砥石に干渉しない大きさであれば、接触ローラ３、３ａの位置はとくに変化させる必要はない。より小さいピン部径まで測定可能なように、接触ローラ４、４ａの間隔を可変に形成することも可能である。
【００２９】
また、前記直径測定装置の幅Ｗ_Mは、砥石９の幅Ｗ_G（図１（ｃ）参照）よりも小さく形成することが望ましい測定条件である。砥石９をピン部２に当てて研削加工をするため、砥石９の幅Ｗ_Gが収まるだけの空間は確保されるからである。前記測定装置の幅Ｗ_Mが砥石幅Ｗ_Gよりも大きいと、クランクシャフトのクランクアーム部に接触する可能性があり、また、砥石９はクランクシャフトの軸方向にも移動し、前記直径測定装置も軸方向に移動するため、そのときにも、クランクシャフトのクランクアーム部に接触する可能性があるからである。
【００３０】
図４および図５は、図８および測定部１の上部に図２に示した平行リンク機構を設けた参考形態の直径測定装置で、実機のクランクシャフトのピン部を測定した結果で、上側のデータが上側の測長センサ３の出力、即ち基準長さ（測定フレーム５の外表面から測長センサ３、３ａの測定値が“０”であるときの検出子先端までの長さ）に対する相対変位を、下側のデータが下側の測長センサ３ａの前記出力を、それぞれ２回転分示したものである。図４のデータは、被測定物のピン部２に砥石屑が付着している状態での、図５のデータは、砥石屑が付着していない状態での、それぞれの測定結果である。ピン部２に付着物があると、ピン部２と接触ローラ４、４ａとの間に挟み込まれて測定フレーム５が上下に変位し、上下の測定データに、いずれも幅の細い大きな変動が認められる。しかし、この大きな変動は、上側の測長センサ３と下側の測長センサ３ａとで同じタイミングで出力されており、しかも、変動の方向が逆方向である。この逆方向の大きな変動は、上側の測長センサ３と下側の測長センサ３ａとが同時に同じ方向に動いた結果と考えられる。一方、図５のデータでは、砥石屑の付着がないため、このような大きな変動は認められない。
【００３１】
図４および図５にそれぞれ示した出力データを、上側の測長センサ３の出力データから下側の測長センサ３ａの出力データを差し引いて測長位置周方向の直径の偏差、即ち直径偏差に換算すると、砥石屑が付着した場合の図４の出力データに基づいた直径偏差が図６に、砥石屑が付着していない場合の図５の出力データに基づいた直径偏差が図７に、それぞれ示すようになる。図６および図７から、砥石屑の付着の有無に拘わらず、換算した直径偏差に差は見られない。この結果は、図４のデータに見られた幅の細い大きな変動は測定フレーム５の上下動に起因するもので、この変動は上下の測長センサ３、３ａ間で相殺されることを示しており、段落［００２６］に記載した、ピン部２の直径Ｄが、測定フレーム５の上下の位置変動の影響を受けにくいという本発明の特徴が正しく実現されていることを証明している。
【００３２】
図８は参考形態の測定部１ａを示したものである。測定フレーム５の下部の測長センサ３ａの周りに錘１１を取り付けていないほかは、図１（ａ）に示した実施形態の測定部１と同じである。
【００３３】
図９は、また、他の参考形態の測定部１ｂを示したもので、接触ローラ４、４ａと対向する側に押し付け機構を設けている。この押し付け機構では、アクチュエータ１０の駆動用ロッド１０ａに連結されたアーム１２の先端部に押さえロール１３が取り付けられ、アーム１２は測定フレーム５に止めピン１４で回動可能に支持されている。そして、駆動用ロッドを前進させる、止めピン１４を支点としてアーム１２が時計回りの方向に回動し、押さえロール１３がピン部２を押し上げる反作用で測定フレーム５がピン部２に押し付けられ、測長センサ３、３ａの測定姿勢が安定する。なお、前記押付け機構を設ける代わりに、図１０に測定部１ｃを示すように、測定フレーム５の上部内側の、接触ローラ４、４ａ間に、電磁石１５を取り付け、電磁力によりピン部２を吸引して測定フレーム５をピン部２に押し付けることもできる。電磁石としては、着磁の影響を軽減するために、交流励磁の電磁石が適している。
【００３４】
図１１（ａ）および（ｂ）は、さらに、他の実施形態を示したもので、測定フレーム５の上部に傾斜センサ１６が取り付けられ、接触ローラ４、４ａには、傾斜センサ１６からの出力に基づいて接触ローラ４、４ａを回転させる駆動装置（図示省略）が取り付けられている。クランクシャフトの回転運動により、測定フレーム５がピン部２に対して回転した場合、測長センサ３、３ａの基準測定姿勢である鉛直方向、即ち矢印で示した鉛直線からの傾斜角θｄを検出し、傾斜センサ１６の出力が、基準測定姿勢にある場合の値となるように、前記駆動装置により接触ローラ４、４ａを、傾斜を打ち消す方向に回転させる。測定フレーム５は、接触ローラ４、４ａでピン部２と接触しているため、測定フレーム５がピン部２に対して相対的に動き、基準測定姿勢からの傾きを解消することができる。
【００３５】
【発明の効果】
以上のように、この発明では、クランクシャフトのピン部などの被測定物の直径を測定するように、前記被測定物を挟んで対向するように測長センサを設け、接触ローラなどの回転接触部材により測長センサを位置決めして測定姿勢を保つようにしたので、測長センサの測定量が直接、ピン部の直径に対応する。このため、従来のＶブロックを用いた測定法のように、換算係数を用いる必要がなく、クランクピン直径の要求精度以上の高測定精度の測長センサは不要となる。また、対向するように測長センサを設けた測定フレームが上下に位置変動しても、この変動が両方の測長センサで相殺され、測定量が上下の位置変動の影響を受けにくい。さらに、測定フレームの下部の測長センサの周りに錘を取り付けて、この測定フレームの重心を被測定物の重心よりも下方に位置させたので、重力の作用を用いた簡単な機構で、測長センサの測定姿勢を鉛直方向に維持できる。また、測定フレームの被測定物に対する傾きを検出して、回転接触部材を駆動して、この基準姿勢からの傾きを打ち消すようにしたので、測長センサの方向を鉛直方向に維持し、安定した測定が可能となる。
【００３６】
前記被測定物への接触が回転接触部材によるため、接触部の摩耗が生じにくく、前記回転接触部材は測長センサの位置決めを担っているだけであり、仮に摩耗が生じたとしても、両側の回転接触部材間で著しく摩耗量差が生じない限り、測定精度へは影響を及ぼさない。
【００３７】
さらに、前記回転接触部材の間隔は、最小径のクランクピンを測定する場合に、研削砥石に干渉しない大きさであればよく、異なる直径のピン部を測定する場合、前記測定フレームに上下方向に伸縮可能な機構を予め付与しておくこと、および測長センサの測定レンジを切替えることで対応することができる。このため、従来の測定法のように、ピン部径に応じてＶブロックを交換する必要がなくなり、測定作業が簡素化される。
【００３８】
そして、前記測定フレームを平行リンク機構で支持することにより、対向して設けた測長センサの方向を、常に鉛直方向に維持した状態で、前記測定フレームを追従して運動させることができる。それにより、被測定物の回転に伴って被測定物上を移動していく測定点の間隔に変動が生じないため、測定精度が低下せず、また、研削砥石と接触も防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】（ａ）この発明の実施形態の測定部を示す正面図
（ｂ）（ａ）の測定部の側面図
（ｃ）（ａ）の測定部の平面図
【図２】図１の測定部と平行リンク機構とにより構成した直径測定装置の正面図
【図３】（ａ）測定フレームの長さを可変にする機構を設けた測定部の正面図
（ｂ）（ａ）の側面図
【図４】参考形態の測長センサからの出力データの一例を示す説明図
【図５】参考形態の測長センサからの出力データの一例を示す説明図
【図６】図４の出力データから換算したピン部の直径偏差を示す説明図
【図７】図５の出力データから換算したピン部の直径偏差を示す説明図
【図８】参考形態の測定部の正面図
【図９】他の参考形態の測定部の正面図
【図１０】他の参考形態の測定部の正面図
【図１１】（ａ）他の実施形態の測定部の基準状態の正面図
（ｂ）（ａ）の傾斜状態の正面図
【図１２】従来技術の円筒形部品の直径測定装置の断面図
【図１３】図１２の直径測定装置の測定部の正面図
【図１４】従来技術の測定部を模式的に示した説明図

Claims

円筒状被測定物の直径を測定するように、前記被測定物を挟んで対向するようにそれぞれ設けた測長センサと、前記被測定物の上部側の、前記測長センサの両側の位置に接触するようにそれぞれ設けた回転接触部材と、前記測長センサおよび回転接触部材を保持する測定フレームと、この測定フレームの支持機構とを備え、前記回転接触部材を前記円筒状被測定物に接触させて、対向して設けた前記測長センサの位置決めを行ない、かつ、前記測定フレームの重心を前記被測定物の重心よりも下方に位置させて、重力の作用で測長センサの測定姿勢を安定化するようにした直径測定装置。
円筒状被測定物の直径を測定するように、前記被測定物を挟んで対向するようにそれぞれ設けた測長センサと、前記被測定物の上部側の、前記測長センサの両側の位置に接触するようにそれぞれ設けた回転接触部材と、前記測長センサおよび回転接触部材を保持する測定フレームと、この測定フレームの支持機構とを備え、前記回転接触部材を前記円筒状被測定物に接触させて、対向して設けた前記測長センサの位置決めを行ない、かつ、前記被測定物がその加工工程で運動するときに、前記測定フレームの被測定物に対する傾きを検出し、この検出した傾きを打ち消すように前記回転接触部材を駆動して測定姿勢を安定化するようにした直径測定装置。
前記測定フレームの支持機構が平行リンク機構であり、前記被測定物がその加工工程で運動するときに、前記測長センサが測定姿勢を保った状態で追従できるようにした請求項１または２に記載の直径測定装置。