JP4253793B2 - 検査分析のサービスを提供するシステムおよび方法 - Google Patents
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Description
また、半導体ウェハ、半導体チップの検査分析においては、分析結果だけでなく、何を分析しようとしているか、分析対象を含めて、競合する半導体メーカに対して重要な機密事項になる。このため、半導体メーカにおいては、半導体デバイス世代に合せて、個々に検査分析装置を買い揃えることが行われてきた。
このようなことから、半導体ウェハ、半導体チップの検査分析においては、そのコスト増が著しく、半導体集積回路装置の開発、製造コストの増大の要因になっている。
検査分析はシーケンス処理にて順序よく進めるための制御プログラムが17に格納されており、制御コンピュータ20により、電子ビーム光学系、XYステージ系の制御が制御プログラムに従って行われる。
電子銃3から放出された電子ビーム2は、加速された後、収束レンズ4および対物レンズ6によって細く絞られ、試料である半導体ウェハ1の表面上に焦点を結ぶ。同時に、電子ビーム2は、偏向器5によって軌道を曲げられ、該ウェハ面上を二次元走査あるいは一次元走査する。一方、電子ビームで照射されたウェハ部分からは、電子ビームとウェハ物質との相互作用の結果、二次電子8が放出される。
半導体ウェハに形成された回路パターンに合せ、高加速電圧SEM、低加速電圧SEM、また検査項目に合せ外観検査SEM、寸法測長SEMが使い分けられてきた。
すなわち、回路パターンの微細化および高集積化の進展が早いため、先端半導体集積回路装置の開発では、最小パターン寸法が0.1ミクロン以下となり、例えば、それに合う高分解能の性能を有するSEMが必要となるが、量産時に比べ、使用頻度は多くならない。これは、開発時点で当該性能のSEMを導入したとすれば、装置の利用効率よくないことになる。結果として、新規の半導体集積回路の開発コストが増加することになる。
また、本発明の他の目的は、効率的に検査分析するための検査分析装置を提供することである。
また、本発明の他の目的は、検査分析装置を持てない研究者、開発技術者、中小企業メーカが他と関係なく、契約を基にして、コンピュータネットワークを用いて、検査分析装置を個々のユーザの秘密裏に個別使用を可能とする技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
すなわち、本発明は、検査分析を希望するユーザの検査分析をユーザがリモート操作して行うか、またはユーザが作成した検査分析のための操作レシピーデータに従って行い、検査分析データは通信ネットワーク手段を用いて早くユーザへ提供するものである。例えば、競合関係にある複数半導体メーカの半導体ウェハの検査分析を請負い、従来、集積回路の微細化の進展、新規プロセスの導入に伴って、各半導体メーカそれぞれが個別に装置導入を図る必要がなくなり、検査分析に要するコストを下げるものである。すなわち、有料となるにしても、従来より、大幅に検査分析コストを下げたオープンラボを実現するものである。
ユーザ認証でOKとなったユーザは、指定された検査分析装置のユーザのリモート操作によるリアルタイム制御、またはユーザ作成の操作レシピーデータに従った制御が可能となる。
検査分析装置の管理者側は、個々の検査分析データについては、関与しないで、検査分析装置が所定の性能を維持するように管理を行う。これにより、検査分析装置の管理者は、検査分析装置の性能維持管理ができればよく、例えば、検査分析対象であった半導体集積回路の製造プロセスに熟知したエキスパートでなくてよくなり、人件費コストが削減できる。
また、ユーザ側より受け取った検査分析試料が検査分析装置へ装填され、所望の検査分析ができるようユーザ側へ検査分析条件を通知する必要がある。
また、半導体集積回路を形成した試料などの検査分析を希望するユーザは、セキュリティの確保が重要であり、本発明により、これが実現できた。
また、検査分析装置の管理エキスパートと、検査分析の対象である試料、例えば半導体集積回路の製造プロセスに熟知したエキスパートとを役割分担することで、人件費コストの削減を可能とした。
公共施設にある検査分析設備などの国有財産が広く国民に開放され、共有使用が行え、大学などの検査分析設備の投資効率を向上させることができる。
なお、本発明の実施の形態において、半導体ウェハとは半導体集積回路装置の製造に用いるシリコンその他の半導体単結晶基板(一般にほぼ円形)、サファイア基板、ガラス基板その他の絶縁、反絶縁または半導体基板等、並びにそれらの複合的基板であり、絶縁層、エピタキシャル半導体層、その他の半導体層および配線層などを形成して集積回路を形成しているものとする。また、半導体チップとは、半導体ウェハから個別の半導体集積回路装置に分割されたもの、パッケージに搭載されたものも含むとする。本件の検査分析の対象は、半導体ウェハ、半導体チップに限定されるものでないが、以下説明の都合により、検査分析対象が半導体ウェハとして説明する。
本発明者は、半導体集積回路の微細化および高集積化に伴い、半導体集積回路装置の開発、製造などに用いる検査分析を低コストで効率良く実施することを目的として、次のような観点で解決手段を検討した。
前提として、不特定多数のユーザ(顧客)より検査分析試料を受け取り、効率的に検査分析を行う。ここで、検査分析は、半導体製造に合せた検査分析の条件設定をユーザ側が決め、ユーザの検査分析のための操作レシピーデータとして提供を受ける。すなわち、検査分析装置の管理者側は、これまでに確立された検査分析技術の事例は、これを熟知していないユーザ側に提示するが、ユーザの個別試料の内容について熟知する必要がないことを前提とした。これにより、検査分析装置の効率的な運用が行える。また、検査分析を希望するユーザに対しては、インターネット等のような通信回線を介し、検査分析結果の出力データを短時間で提供するものである。
図4は、ユーザガイド用サーバとユーザのワークステーションまたはパソコンとの通信処理の内容を示したものである。詳細は、以下の第一段階から、第五段階から成る。
以下は、図3の2に示す段階で、本件によりユーザに提供されるサービスが、ユーザに受け入れられることを前提として説明する。ユーザにとっては、高価な検査分析装置を所有することにメリットがあるのでなく、ユーザの試料を低コストで検査分析を早くすることにメリットがあるからである。
ユーザより検査分析の正式要求を受け、ユーザ認証のための、ユーザに対して、ユーザIDとワンタイムパスワードを発行した。その際に、ユーザと検査分析装置の管理者側の請負者と守秘契約、費用支払い方法などを取り決めた。ワンタイムパスワードは、指定した日時のみ有効パスワードとなるようにしたものである。
図4に示したように、上記第一段階から第五段階までの主な処理は、ユーザガイドサーバにより、行った。リピートオーダー処理の場合は、ユーザと検査分析装置の管理者側の請負者と守秘契約、費用支払い方法などは簡略化することが可能である。
ユーザIDとパスワードを得たユーザに対し、図3の10,11,12,13に示すフローの処理が行われるのであるが、検査分析装置側が提供できるスケジュールに従って、ユーザが使用登録することで、ユーザと検査分析装置の使用可能時間とのすり合せを行った。ユーザと検査分析装置側とのすり合せは、共同設備の利用予約などと同じように、検査分析装置側のサービス提供可能なスケジュールが、検査分析装置毎にコンピュータ上に構築されており、これにユーザの都合がいい時間をユーザが決めるようにするスケジュール登録システムを構築して行った。スケジュール登録された段階で、検査分析装置側の検査分析請負者は、ユーザから検査分析試料を受け取り処理した。
ユーザがユーザ試料の検査分析を繰り返す場合には、ユーザが検査分析装置の操作レシピーを作成し、検査分析装置管理側の請負者が検査分析装置の操作するのがよい。この場合は、検査分析装置を使う上で、時間的な制約が少なくできる。
以上の処理フローにより、ユーザは自前で、検査分析装置を持たなくても、セキュリティを確保して、ユーザの試料の検査分析が効率よく行えることが確認できた。
図2は、図8の従来のSEMの説明で用いたものに対し、本件の発明で、新規に追加したものを含めて図示したものである。
電子銃3から放出された電子ビーム2は、加速された後、収束レンズ4および対物レンズ6によって細く絞られ、試料である半導体ウェハ1の表面上に焦点を結ぶ。同時に、電子ビーム2は、偏向器5によって軌道を曲げられ、該ウェハ面上を二次元走査あるいは一次元走査する。一方、電子ビームで照射されたウェハ部分からは、電子ビームとウェハ物質との相互作用の結果、二次電子8が放出される。
電子ビーム走査とステージ移動を組み合わせながら、ウェハ上の所要検査領域全面をラスタ走査し、計測した試料の画像データをメモリ部16に格納する。格納された試料の画像データは、同様にメモリ部内に記憶されていた参照用試料画の画像データと比較され、両画像データに差異部があれば、両画像データに差異があり、同一の画像データでない、例えば欠陥として検出できた。但し、差異部が実欠陥か否かは、暗号化されていると、直ちに欠陥か分からないので、復号化して外観形状と位置座標を確認することが必要となった。また、この暗号化した出力データは、データ圧縮をかけて保管することで、保管に必要なメモリ容量が減り、欠陥検出のためのデータ比較、データ転送などの処理時間が短縮できた。これにより、暗号化に伴う、処理時間の増加を抑制できた。
上記のように、検査分析装置を構成して、検査分析管理者、他のユーザも、検査分析処理につき、セキュリティが確保できるようにした。
本件の発明により、個々のユーザに対するセキュリティの確保が実現でき、半導体集積回路が形成された半導体ウェハなど、ユーザ間で機密確保が重要な検査分析に適用する際の制約をなくすることができた。
図6は、ユーザが検査分析試料を持ち込み、検査分析装置のワークステーションを利用して、検査分析を行う方法を示したものである。この方法は、検査分析に慣れていないユーザや、ワークステーションやパソコンによる操作に慣れていないユーザに適している。実施の形態1にて示したものと同様に、ユーザは、検査分析装置の管理者から、手順を聞き、検査分析の出力データの暗号化指示した制御レシピーを入力することができる。この場合にも、ユーザと検査分析装置管理者側の請負者とで、守秘契約するようにした。検査分析装置の出力データは、暗号化処理され、他者にその内容を知られることが無くした。ユーザが復元した検査分析データを得た後、元の出力データは削除するようにした。
その場合は、試料ウェハ上に少なくとも2箇所の位置決め用アライメントパターンを他のパターンと所定距離離して形成しておき、その位置座標、パターン寸法を操作レシピーに記入しておく必要がある。上記の位置決めパターンを用いて、電子ビーム直下にステージ移動され、電子ビーム照射・焦点合わせ、二次電子検出して行うことで、アライメント精度を上げることができるようにした。
1…半導体ウェハ、2、電子ビーム、3…電子銃、4…収束レンズ、5…静電偏向器、6…対物レンズ、7…CCDカメラ、8…二次電子、9…二次電子検出器、10…AD変換器、11…暗号化回路、12…XYステージ、13…ステージ駆動モータ、14…ステージ制御I/O、15…ローダ部、16…画像メモリ部、17…システム制御部、18…電子ビーム系制御部、20…システム制御用ワークステーション、21…モニター、22…外部接続用ケーブル。
図7
1…XYステージ、2…半導体ウェハ、3…アライメントマーク1、4…アライメントマーク2、5…検査分析点、6…ステージのX方向移動スイッチ、7…ステージのY方向移動スイッチ、8…所望の位置へ移動させるスイッチ、9…ステージ座標表示か補正されたウェハ上の座標表示の切り替えスイッチ。
Claims (12)
- ネットワークに接続可能なユーザ端末からの、地理的に離れて設置された検査分析装置に対するリモート操作による検査分析のサービスを提供するシステムであって、
前記システムは、前記ネットワークに接続可能なユーザ認証サーバおよびユーザガイドサーバと、前記ユーザ認証サーバを介して前記ネットワークに接続可能な検査分析装置と、を備え
前記ユーザガイドサーバは、前記検査分析の処理内容および処理費用を含む、前記ネットワークに接続された前記ユーザ端末に提示される案内情報と、前記検査分析装置の模擬操作を実行する模擬操作プログラムと、を有し、前記ユーザ端末を介してユーザからの検査分析要求を受けたときに、仮のユーザIDおよびパスワードを発行し、当該ユーザ端末を用いた前記検査分析装置のリモート制御の可否をユーザが評価できるように、前記仮のユーザIDおよびパスワードを用いた前記模擬操作プログラムの起動をユーザに許容し、前記ユーザ評価の結果、当該ユーザ端末を介して正式な検査分析の要求がユーザからなされた時に、当該正式要求を受けて、ユーザ認証のための認証用のユーザIDおよびパスワードを発行し、
前記ユーザ認証サーバは、前記認証用のユーザIDおよびパスワードを用いて当該ユーザ認証サーバにアクセスしたユーザに対し、当該ユーザ端末と前記検査分析装置との通信を可能とし、
前記検査分析装置は、前記ユーザ認証サーバを介して接続されたユーザ端末によってリモート操作されることを特徴とする検査分析のサービスを提供するシステム。
- 特許請求項1記載の検査分析のサービスを提供するシステムであって、
前記ユーザ認証のための認証用のユーザIDおよびパスワードは、指定した日時のみ当該ユーザ端末と検査分析装置との通信が可能となる、ユーザIDおよびパスワードとし、
さらに、前記ユーザ端末によってリモート操作される検査分析装置は、検査分析のリモート操作をスケジュール化する機能を備えることで、
スケジュールに従った、複数のユーザ端末対応のリモート操作を可能とすることを特徴とする検査分析のサービスを提供するシステム。
- 特許請求項2記載の検査分析のサービスを提供するシステムであって、
前記検査分析装置のリモート操作は、リモート操作による検査分析の情報が取得されるステップと、前記検査分析装置からユーザ端末に対し、検査分析した情報が送信されるステップと、を含み、
前記検査分析装置は、リモート操作による検査分析の情報の取得機能と、リモート操作による前記検査分析した情報の暗号付加機能と、リモート操作による検査分析装置から前記ユーザ端末に対する、検査分析の情報の送信機能と、を備えることにより、
前記検査分析装置からユーザ端末に対し、送信されるステップの検査分析した情報は、暗号化され、前記ユーザ端末において復号化される、画像データを含む、ことを特徴とする検査分析のサービスを提供するシステム。
- 特許請求項1記載の検査分析のサービスを提供するシステムであって、
前記検査分析装置のリモート操作は、リモート操作による検査分析の情報が取得されるステップと、前記検査分析装置からユーザ端末に対し、検査分析した情報が送信されるステップと、を含み、
前記ユーザ端末によってリモート操作される検査分析装置は、撮像位置の変更、または撮像倍率の変更に係わるリモート操作手段を有するカメラによる、検査分析の情報の取得機能と、検査分析装置から前記ユーザ端末に対し、検査分析の情報の送信機能と、を備えることにより、
前記検査分析装置からユーザ端末に対し、送信されるステップの検査分析の情報は、前記検査分析装置のリモート操作により取得された画像データを含む、ことを特徴とする検査分析のサービスを提供するシステム。
- ネットワークに接続可能なユーザ端末からの、地理的に離れて設置された検査分析装置に対するリモート操作による検査分析のサービスを提供する方法であって、
前記ネットワークに接続されたユーザガイドサーバが、前記ネットワークに接続されたユーザ端末に対して、前記検査分析の処理内容および処理費用を含む案内情報を提示するステップと、
前記ユーザガイドサーバが、前記ユーザ端末を介してユーザからの検査分析要求を受けたときに、仮のユーザIDおよびパスワードを発行するステップと、
前記ユーザガイドサーバが、前記仮のユーザIDおよびパスワードを取得したユーザに対して、当該ユーザ端末を用いた前記検査分析装置のリモート制御の可否をユーザが評価できるように、前記検査分析装置の模擬操作を実行する、当該ユーザガイドサーバが有する模擬操作プログラムの、前記仮のユーザIDおよびパスワードを用いた起動を許容するステップと、
前記ユーザガイドサーバが、前記ユーザ評価の結果、当該ユーザ端末を介して正式検査分析の要求がユーザからなされた時に、当該正式要求を受けて、ユーザ認証のための認証用のユーザIDおよびパスワードを発行するステップと、
前記ネットワークに接続されたユーザ認証サーバは、前記認証用のユーザIDおよびパスワードを用いて当該ユーザ認証サーバにアクセスしたユーザに対し、当該ユーザ端末と前記検査分析装置との通信を可能とするステップと、
前記検査分析装置は、前記ユーザ認証サーバを介して接続されたユーザ端末によってリモート操作されるステップと、
を含むことを特徴とする検査分析のサービスを提供する方法。
- 特許請求項5記載の検査分析のサービスを提供する方法であって、
前記ユーザ認証のための認証用のユーザIDおよびパスワードは、指定した日時のみ当該ユーザ端末と検査分析装置との通信が可能となる、ユーザIDおよびパスワードとし、
さらに、前記ユーザ端末によってリモート操作される検査分析装置は、検査分析のリモート操作のスケジュール化機能を備えることで、
前記ユーザ端末によってリモート操作されるステップは、スケジュールに従った、複数のユーザ端末対応のリモート操作を可能とすることを特徴とする検査分析のサービスを提供する方法。
- 特許請求項5記載の検査分析のサービスを提供する方法であって、
前記ユーザ端末によってリモート操作されるステップは、リモート操作による検査分析の情報が取得されるステップと、前記検査分析装置からユーザ端末に対し、検査分析した情報が送信されるステップと、を含み、
前記ユーザ端末によってリモート操作される検査分析装置は、リモート操作による検査分析の情報の取得機能と、リモート操作による前記検査分析した情報の暗号付加機能と、リモート操作による検査分析装置から前記ユーザ端末に対し、検査分析した情報の送信機能と、を備えることにより、
前記検査分析した情報は、暗号化され、前記ユーザ端末において復号化される、画像データを含む、ことを特徴とする検査分析のサービスを提供する方法。
- 特許請求項6記載の検査分析のサービスを提供する方法であって、
前記検査分析装置は、細く絞ったレーザビームを照射してその反射光、散乱光、透過光の少なくとも一つの検出手段、または電子ビームを照射して二次電子、散乱電子、透過電子の少なくとも一つの検出手段、またはメカニカルプローブを用いる原子間力顕微鏡を用いた検査分析の手段を備えることを特徴とする検査分析のサービスを提供する方法。
- 特許請求項8記載の検査分析のサービスを提供する方法であって、
前記検査分析装置は、ユーザの検査分析試料と、ユーザの検査分析試料ではない、デモ用試料と、に対する検査分析のリモート操作手段を備えることにより、
前記デモ用試料のリモート操作による、前記検査分析装置の調整、校正の手段を備えたことを特徴とする検査分析のサービスを提供する方法。
- 特許請求項5記載の検査分析のサービスを提供する方法であって、
前記ユーザ端末によってリモート操作されるステップは、リモート操作による検査分析の情報が取得されるステップと、前記検査分析装置からユーザ端末に対し、検査分析した情報が送信されるステップと、を含み、
前記ユーザ端末によってリモート操作される検査分析装置は、撮像位置の変更、または撮像倍率の変更に係わるリモート操作手段を有するカメラによる、検査分析の情報の取得機能と、前記検査分析装置から前記ユーザ端末に対する、検査分析の情報の送信機能と、を備えることにより、
前記ユーザ端末に対し、送信される検査分析の情報は、前記検査分析装置のリモート操作により取得された画像データを含む、ことを特徴とする検査分析のサービスを提供する方法。
- 特許請求項5記載の検査分析のサービスを提供する方法であって、
前記ユーザ端末によってリモート操作されるステップは、ユーザ端末によって検査分析装置がリモート制御されるステップと、前記リモート制御の結果である検査分析の情報がユーザ端末へ送信されるステップと、を含み、
前記リモート制御されるステップは、リモート制御が実質的にユーザにより作成された操作レシピーデータに基づいて実行されるステップであり、
前記ユーザ端末へ送信されるステップの検査分析の情報は、前記操作レシピーデータに基づいた検査分析装置のリモート制御によって得られた画像データを含む、ことを特徴とする検査分析のサービスを提供する方法。
- 特許請求項5記載の検査分析のサービスを提供する方法であって、
前記ユーザ端末によってリモート操作されるステップは、ユーザ端末の操作により画像データが取得されるステップと、前記画像データが検査分析されるステップと、検査分析データがユーザ端末へ送信されるステップと、を含み、
前記リモート操作されるステップの検査分析装置は、ユーザ端末の操作により取得された画像データと参照用画像データとを格納する機能と、前記双方の画像データに対応する部分毎の画像を比較し、差異を検出する機能と、を備えることにより、
前記画像データが検査分析されるステップは、前記ユーザ端末の操作により取得された画像データと、検査分析するステップの処理実行前までに前記検査分析装置に格納されていた参照用画像データとを用い、双方の画像データに対応する部分毎の画像が比較され、検出された差異に基づいて、検査分析データが生成されるステップであることを特徴とする検査分析のサービスを提供する方法。
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