JP4209029B2 - 自動測量機の追尾装置 - Google Patents

自動測量機の追尾装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4209029B2
JP4209029B2 JP08343699A JP8343699A JP4209029B2 JP 4209029 B2 JP4209029 B2 JP 4209029B2 JP 08343699 A JP08343699 A JP 08343699A JP 8343699 A JP8343699 A JP 8343699A JP 4209029 B2 JP4209029 B2 JP 4209029B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
tracking
surveying instrument
optical axis
reflected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP08343699A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2000275043A5 (ja
JP2000275043A (ja
Inventor
明夫 木村
良二 武蔵
郁夫 石鍋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP08343699A priority Critical patent/JP4209029B2/ja
Priority to EP00105121A priority patent/EP1041361A3/en
Publication of JP2000275043A publication Critical patent/JP2000275043A/ja
Publication of JP2000275043A5 publication Critical patent/JP2000275043A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4209029B2 publication Critical patent/JP4209029B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C15/00Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
    • G01C15/002Active optical surveying means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は目標を自動的に追尾する自動測量機、特に反射光を追尾光、測距光、可視光に分割する望遠光学系を有する自動測量機の追尾装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図2は自動測量機の要部を示しており、自動測量機は一般の測量機と同様に三脚に取付けられる整準部1、該整準部1に設けられた基盤部2、該基盤部2に鉛直軸心を中心に回転可能に設けられた托架部3、該托架部3に水平軸心を中心に回転可能に設けられた望遠鏡部4から構成される。更に、自動測量機では前記托架部3、望遠鏡部4は図示しない内蔵のモータにより回転駆動される様になっており、遠隔で又は自動で操作が可能となっている。
【0003】
前記望遠鏡部4は視準光学系の他に測距光、追尾光を含む測定光を照射し、更に目標対象物からの反射を受光する測距光学系、追尾光学系を有しており、受光した反射光に基づき目標対象物を視準する視準手段、目標対象物を検出し追尾する追尾手段、及び目標対象物迄の距離を測定する測距手段を具備している。
【0004】
而して、前記望遠鏡部4から照射された測定光が目標対象物に設けられたミラーで反射され、反射光を受光することで測量者が測量機を目標対象物に対して視準を行い、或は距離測定を行い、或は目標対象物の自動追尾が行われる。
【0005】
自動測量機は近地点での測定で、視準誤差を生じない様、測距光学系、追尾光学系、視準光学系を一体に構成している。
【0006】
前述した目標を自動的に追尾する測量機では、照射する測定光には追尾用、測距用の異なる波長帯が含まれ、目標対象物で反射され受光した反射光を追尾用、測距用、視準用と目的毎に波長分割し、分割された測距光、追尾光を用いて距離測定、自動追尾を行っている。斯かる波長分割は前記望遠鏡部4の光学系の光路上に配置される光学手段により行われる。複数の波長帯に分割する光学手段としてはダイクロイックプリズムが多く使用される。
【0007】
図3により波長を3分割する光学手段を有する従来の自動測量機の光学系について説明する。
【0008】
該光学系は対物レンズ5、合焦レンズ6、正立プリズム7、焦点鏡8、接眼レンズ9から成り、前記対物レンズ5と合焦レンズ6との間に光学手段であるダイクロイックプリズム10が配設され、更に追尾光射出用の反射ミラー11が前記対物レンズ5とダイクロイックプリズム10の間に配設されている。
【0009】
前記合焦レンズ6は光軸O上を移動可能に設けられ、前記対物レンズ5を経て入光したレーザ光線を前記焦点鏡8上に結像し、前記正立プリズム7は前記焦点鏡8に結像される像を正立像とし、前記焦点鏡8は目標対象物を視準中心に捉えるスケールを有し、前記接眼レンズ9は前記焦点鏡8に結像された目標対象物の像を前記スケールと共に測量者の網膜上に結像する。前記反射ミラー11の反射光軸上には図示しない追尾光学系が配設され、追尾光のレーザ光線を前記反射ミラー11を介して目標対象物に対して照射する様になっている。
【0010】
前記ダイクロイックプリズム10は光路を横断する2つの第1ダイクロイックミラー面15、第2ダイクロイックミラー面16を有し、前記第1ダイクロイックミラー面15に対向して追尾受光部(図示せず)が配設され、該第2ダイクロイックミラー面16に対向して測距光学系の受発光分割ミラー17が配置されている。該測距光学系は前記受発光分割ミラー17を介して測距用レーザ光線を目標対象物に対して照射し、又該受発光分割ミラー17を介して測距用反射レーザ光線を受光する様になっている。
【0011】
上記した様に、照射する測定光には視準用、追尾用、測距用の異なる波長帯が含まれる。波長帯としては例えば視準用には400〜650nmの可視光線、追尾用としては650nmの赤外光、測距用としては800nmの赤外光が使用される。
【0012】
前記対物レンズ5より入射した反射光は前記第1ダイクロイックミラー面15により追尾反射光が反射され、追尾光が他の測距光、可視光から分離される。前記追尾受光部は追尾反射光を受光し、受光結果により自動測量機本体の制御部(図示せず)はモータを駆動して測量機の視準中心に目標対象物が位置する様に姿勢を自動調整する。
【0013】
前記第1ダイクロイックミラー面15を透過したレーザ光線は、前記第2ダイクロイックミラー面16により更に測距光が反射され、測距光と可視光とが分離される。分離された測距光は、前記測距光学系により受光され、距離測定がなされる。又、前記第2ダイクロイックミラー面16を透過した可視光は前記接眼レンズ9を介して測量者に視認され、自動測量機の設置時の視準、測定時の視準が行われる。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】
上記した自動測量機では可視光、追尾光、測距光の波長帯に分割するダイクロイックプリズム10が、望遠鏡部4の光軸上で入射した反射光を追尾反射光、測距反射光、可視光に順次分割する構成である。前記ダイクロイックプリズム10には、前記対物レンズ5を透過した光束が入射するに必要とされる大きさと、追尾反射光、測距反射光をそれぞれ反射するに必要な長さの第1ダイクロイックミラー面15、第2ダイクロイックミラー面16とが要求される。この為、前記ダイクロイックプリズム10は必然的にかなりの大きさになる。大きなダイクロイックプリズム10は高価であり、望遠鏡部4を大型化する。望遠鏡部4が大型化すると電気系、測距系の電気回路の一部は托架部3側に設けられることになり、測量機自体が大きく、重くなってしまう問題があり、重量の増大に伴い駆動電力も増大し、別電源を用意しなければならない等の問題も生じていた。
【0015】
更に、最近では探索追尾範囲を拡大する為、追尾光の光束の広がりを大きくすることが行われるが、追尾光の光束の広がりを大きくした場合、内部の光学部品表面での反射、内部反射が格段に増大する。又、光学系をコンパクトにし、自動測量機の小型化を図ると、光束が多くの光学部品を通過する可能性があり、内部反射はますます増加する傾向にある。
【0016】
本発明は斯かる実情に鑑み、視準光学系、追尾光学系を含み光学手段の小型化を図り、光学手段のコストダウン或は自動測量機の小型化を図ると共に内部反射を減少させ、測定精度の向上を図るものである。
【0017】
【課題を解決するための手段】
本発明は、直線偏光の追尾光を発する発光部と、受光部と、前記発光部からの追尾光を射出すると共に入射光を前記受光部に導く追尾光学系と、前記発光部からの追尾光を通し入射光を前記受光部に向ける分割手段と、前記追尾光学系から射出された追尾光を円偏とする第1偏光光学部材と、前記受光部に設けられる第2偏光光学部材とを有し、該第2偏光光学部材は入射光を選択的に透過する自動測量機の追尾装置に係り、又前記分割手段は孔明ミラーであり、前記追尾光は前記孔明ミラーの孔部を通る自動測量機の追尾装置に係り、又前記第1偏光光学部材はλ/4複屈折部材である自動測量機の追尾装置に係り、又前記第2偏光光学部材は、前記発光部が発する直線偏光の追尾光に対して透過偏光の方向が直交する様に配置される自動測量機の追尾装置に係り、又前記孔明ミラーの孔部は、追尾光を通すと共に、射出光軸上にある光学部材の平面からの反射光を通す自動測量機の追尾装置に係り、又前記発光部には射出する追尾光の広がりを可変するリレーレンズが設けられている自動測量機の追尾装置に係り、更に又対物レンズと、合焦レンズと、対物レンズと合焦レンズとの間の光軸上に位置し、少なくとも可視光を透過する第1の反射面と、少なくとも所定の波長を透過する第2の反射面を有し、前記第1の反射面からの反射光は前記第2の反射面に達し、第2の反射面からの反射光の反射光軸は前記光軸と交差する光学手段と、前記反射光軸上に設けられた追尾光学系とを具備し、前記追尾光学系は、前記反射光軸上に設けられ偏光レーザ光線を発する追尾光源と、光束分割手段と、該光束分割手段からの光束を偏光板を介して受光する受光部と、前記反射光軸上に配設された1/4λ複屈折部材とを有する自動測量機の追尾装置に係るものである。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態を説明する。
【0019】
図1中、図3中で示したものと同様のものには同符号を付し、その説明は省略する。
【0020】
光軸O上に対物レンズ5、合焦レンズ6、正立プリズム7、焦点鏡8、接眼レンズ9を順次配設し、前記対物レンズ5と合焦レンズ6との間に光学手段、好ましくはダイクロイックプリズム20を配設する。
【0021】
前記ダイクロイックプリズム20はペンタ型プリズム21の対向する面に楔型プリズム22,23を貼付け、第1ダイクロイックミラー面24、第2ダイクロイックミラー面25を形成したものである。
【0022】
前記第1ダイクロイックミラー面24は入射した反射光の内、可視光を透過し、赤外光を反射するものであり、前記第2ダイクロイックミラー面25は測距光を透過し、追尾光を反射するものである。前記第1ダイクロイックミラー面24で反射された反射光軸上に測距光学系(図示せず)を設け、前記第2ダイクロイックミラー面25で反射される追尾光軸30上に追尾光学系31を設ける。
【0023】
尚、図中26は測距光学系の受発光分割ミラーであって光束を紙面に対して垂直な方向に分割する様横向きに配置されている。又、27は目標対象物であり、本実施の形態ではコーナキューブを示している。
【0024】
前記第1ダイクロイックミラー面24は、例えば400〜650nmの可視光を透過し、650〜850nmの赤外光を反射する。第2ダイクロイックミラー面25は、650〜720nmの赤外光を反射し、720〜850nmの赤外光を透過する。
【0025】
前記光軸O上に配置されるダイクロイックミラー面は前記第1ダイクロイックミラー面24の一面でよく、他の第2ダイクロイックミラー面25は光軸Oから外れた位置となる。この為、前記ダイクロイックプリズム20の光軸方向の寸法が短くなる。従って、該ダイクロイックプリズム20を前記合焦レンズ6に接近させた位置に配置させることで、前記ダイクロイックプリズム20と対物レンズ5間の距離を大きくすることができる。このことで、前記ダイクロイックプリズム20に入射するレーザ光線の光束径が小さくなり、該ダイクロイックプリズム20も小型化できる。
【0026】
前記追尾光学系31について説明する。
【0027】
前記追尾光軸30上に孔明ミラー33が配設され、該孔明ミラー33の透過光軸34上にリレーレンズ35を介して追尾用レーザ光線を発する追尾光源36が設けられている。該追尾光源36には直線偏光のレーザ光線を発する半導体レーザが用いられる。前記リレーレンズ35は図示ない光束調整手段に支持され、光軸に沿って移動可能となっており、追尾用レーザ光線の光束の広がりを調整できる様になっている。
【0028】
前記孔明ミラー33の反射光軸37上にはリレーレンズ38、バンドパスフィルタ39、受光素子40が配設されている。前記バンドパスフィルタ39は追尾光の波長帯を透過するものであり、前記受光素子40は、例えば4分割受光素子であり、分割受光素子の受光比の割合で、受光素子40の受光位置を検出することができる。
【0029】
前記ペンタ型プリズム21と前記孔明ミラー33との間にリレーレンズ41が設けられ、該リレーレンズ41と前記ペンタ型プリズム21との間には1/4λ複屈折部材42が配設され、前記リレーレンズ38と前記バンドパスフィルタ39との間には偏光板43が配設されている。追尾光源36である半導体レーザはほぼ直線偏光のレーザ光を発している。このレーザ光を例えば水平偏光とすれば、偏光板43は垂直偏光を通す様に設けられている。水平偏光と垂直偏光は振動方向が90°異なっている。
【0030】
尚、前記孔明ミラー33は他の反射部材、例えばハーフミラーであっても良い。又、前記1/4λ複屈折部材42の設けられる位置は前記孔明ミラー33と前記リレーレンズ41との間であっても、対物レンズ5とペンタ型プリズム21との間であっても良い。
【0031】
以下、作用を説明する。
【0032】
図示しない測距光学系より測定光が発せられると共に、前記追尾光源36より追尾光が発せられる。該追尾光源36から発せられるレーザ光線は直線偏光である。前記リレーレンズ35により追尾レーザ光線は光束の広がりが可変調整され、前記孔明ミラー33の孔を通過する。前記リレーレンズ41を透過した追尾レーザ光線は前記1/4λ複屈折部材42を透過し、円偏に変換され、前記ペンタ型プリズム21に反射され、前記対物レンズ5を通してコーナキューブ27に投射される。
【0033】
前述した様に、前記リレーレンズ35は照射する追尾レーザ光線の光束の広がりを調整するものであり、前記コーナキューブ27が近い場合は、前記リレーレンズ35を追尾光源36に近づけて広がりを大きく、コーナキューブ27の検出を容易にし、コーナキューブ27の距離が遠い場合は前記リレーレンズ35を追尾光源36より遠ざけて光束の広がりを小さくし、追尾レーザ光線の到達距離を長くする。
【0034】
前記コーナキューブ27で反射された追尾反射光を含む反射測定光が前記対物レンズ5より入射すると、前記第1ダイクロイックミラー面24で赤外光、即ち追尾反射光と測距反射光が反射され、可視光は透過する。透過した可視光は前記合焦レンズ6により前記焦点鏡8で結像し、結像した像は該焦点鏡8のスケールと共に再び測量者の網膜上に結像され、視準が行われる。
【0035】
前記第1ダイクロイックミラー面24、第2ダイクロイックミラー面25はいずれも所定の波長で2分割する構成であるので、形成する光学膜は簡単で、安価である。更に、ダイクロイックミラー面は波長を選択して透過しそれ以外を反射するものであるが、完全に透過するわけではない。従って、複数回ダイクロイックミラー面を透過した場合はその分減衰効果が大きく透過光線の光量が少なくなる。本発明では可視光は第1ダイクロイックミラー面24を一度透過するだけであるので、透過の光量が多くなり、明瞭な視準を行える。
【0036】
前記第2ダイクロイックミラー面25では前記第1ダイクロイックミラー面24で反射された赤外光の内、追尾光が反射され、測距光が透過される。前記第2ダイクロイックミラー面25を透過した測距反射光は図示しない測距光学系に受光されて距離測定がなされる。
【0037】
前記対物レンズ5より入光した前記追尾反射光は、前記光軸Oと交差する方向にペンタ型プリズム21の第2ダイクロイックミラー面25で反射され、前記1/4λ複屈折部材42を透過する。該1/4λ複屈折部材42を透過することで、追尾反射光は追尾光源36が発するレーザ光線とは90°異なる直線偏光に変換される。
【0038】
追尾反射光は前記孔明ミラー33で反射された後、前記リレーレンズ38により、前記受光素子40に集光される。該受光素子40に集光する過程で、前記偏光板43を透過し、前記バンドパスフィルタ39を透過する。ここで、前記リレーレンズ41の表面で反射した追尾光は前記追尾光源36の発したレーザ光線と同じ方向の直線偏光である。前記偏光板43は前記追尾光源36の発したレーザ光線とは透過偏光の方向が90°変えてあり、前記リレーレンズ41表面での反射光は前記偏光板43により遮断される。従って、前記リレーレンズ41の表面で反射したレーザ光線は受光素子40には到達しない。又、前記ペンタ型プリズム21の前記リレーレンズ41と対向する面での反射光もあるが、前記ペンタ型プリズム21での反射光は前記孔明ミラー33の孔を通過する様孔径が決定されており、前記孔明ミラー33で反射されることを防止している。前記バンドパスフィルタ39は追尾反射光以外の外乱光を遮断し、前記受光素子40での追尾反射光の検出精度を向上する。
【0039】
尚、前記光軸Oと前記第2ダイクロイックミラー面25の反射光軸とは同一平面内に有っても、そうでなくともよい。
【0040】
【発明の効果】
以上述べた如く本発明によれば、追尾光学系での内部反射を除去できるので、追尾光の光束を広げることができ追尾範囲を拡大することができ、又光学系をコンパクトにでき装置を小型化できるという優れた効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態を示す要部構成図である。
【図2】本発明が実施される自動測量機の要部外観図である。
【図3】従来例を示す要部構成図である。
【符号の説明】
1 整準部
2 基盤部
3 托架部
4 望遠鏡部
5 対物レンズ
6 合焦レンズ
20 ダイクロイックプリズム
21 ペンタ型プリズム
24 第1ダイクロイックミラー面
25 第2ダイクロイックミラー面
30 追尾光軸
31 追尾光学系
33 孔明ミラー
35 リレーレンズ
36 追尾光源
37 反射光軸
42 1/4λ複屈折部材
43 偏光板

Claims (5)

  1. 対物レンズと、合焦レンズと、対物レンズと合焦レンズとの間の光軸上に位置し、前記対物レンズからの光を追尾光学系へ導く光学手段とを具備する自動測量機の追尾装置であって、前記光学手段は、少なくとも可視光を透過する第1の反射面と、少なくとも所定の波長を透過する第2の反射面を有し、前記第1の反射面からの反射光は前記第2の反射面に達し、第2の反射面からの反射光の反射光軸は前記光軸と交差して前記追尾光学系へ至り、該追尾光学系は、前記反射光軸上に設けられた光束分割手段を介して前記対物レンズ側へ偏光レーザ光線を発する追尾光源と、前記対物レンズから入射した追尾反射光を前記反射光軸上に配設された1/4λ複屈折部材と前記光束分割手段と偏光板とを介して受光する受光部とを有することを特徴とする自動測量機の追尾装置。
  2. 前記光束分割手段は孔明ミラーであり、前記追尾光は前記孔明ミラーの孔部を通る請求項1の自動測量機の追尾装置。
  3. 前記偏光板は、前記発光部が発する直線偏光の追尾光に対して透過偏光の方向が直交する様に配置される請求項1の自動測量機の追尾装置。
  4. 前記孔明ミラーの孔部は、追尾光を通すと共に、射出光軸上にある光学部材の平面からの反射光を通す請求項2の自動測量機の追尾装置。
  5. 前記追尾光学系には射出する追尾光の広がりを可変するリレーレンズが設けられている請求項1の自動測量機の追尾装置。
JP08343699A 1999-03-26 1999-03-26 自動測量機の追尾装置 Expired - Fee Related JP4209029B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08343699A JP4209029B2 (ja) 1999-03-26 1999-03-26 自動測量機の追尾装置
EP00105121A EP1041361A3 (en) 1999-03-26 2000-03-10 Tracking system for automatic survey instrument

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08343699A JP4209029B2 (ja) 1999-03-26 1999-03-26 自動測量機の追尾装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2000275043A JP2000275043A (ja) 2000-10-06
JP2000275043A5 JP2000275043A5 (ja) 2006-05-18
JP4209029B2 true JP4209029B2 (ja) 2009-01-14

Family

ID=13802390

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP08343699A Expired - Fee Related JP4209029B2 (ja) 1999-03-26 1999-03-26 自動測量機の追尾装置

Country Status (2)

Country Link
EP (1) EP1041361A3 (ja)
JP (1) JP4209029B2 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007192600A (ja) * 2006-01-18 2007-08-02 Nikon Corp 測量機及び測量システム
JP4936818B2 (ja) * 2006-08-07 2012-05-23 株式会社 ソキア・トプコン ダイクロイックプリズムによる光分割した測量機
CN102506835B (zh) * 2011-12-15 2014-01-29 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种望远镜与激光同轴测量系统
JP6557548B2 (ja) * 2015-08-12 2019-08-07 株式会社トプコン 自動測量機
CN110912612A (zh) * 2018-09-18 2020-03-24 哈尔滨天陆智成光电科技有限责任公司 一种机载点对点快速跟踪激光通信装置
CN110058256B (zh) * 2019-04-12 2022-12-16 同济大学 一种基于分离腔的跟踪定位系统

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3268608B2 (ja) * 1993-02-12 2002-03-25 株式会社トプコン 測量装置
JP3805504B2 (ja) * 1997-11-14 2006-08-02 株式会社トプコン 測量機の通信システム

Also Published As

Publication number Publication date
EP1041361A2 (en) 2000-10-04
JP2000275043A (ja) 2000-10-06
EP1041361A3 (en) 2001-05-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4301863B2 (ja) 測距装置
JP4210792B2 (ja) 位置検出装置
JP4236326B2 (ja) 自動測量機
JP2006090947A (ja) 測量装置用ターゲット
JP4023572B2 (ja) 自動測量機
JP4209029B2 (ja) 自動測量機の追尾装置
US6333783B1 (en) Distance measuring system
US20010050763A1 (en) Surveying instrument having a phase-difference detection type focus detecting device and a beam-splitting optical system
JP3696346B2 (ja) レーザセオドライト
JPH05322569A (ja) 測量機
US7092076B2 (en) Surveying instrument
JP3120885B2 (ja) 鏡面の測定装置
US9062967B2 (en) Measurement apparatus for measuring a surface shape of an object based on an interference signal
JP3069893B2 (ja) 測量機の合焦方法及び合焦装置
JP3154047B2 (ja) Af機能を有する測量機
JPH07117414B2 (ja) 自動視準式光波距離計
JPH08334309A (ja) 光学式変位検出装置
JP3752060B2 (ja) 直線ビームの平行調整方法
JPH08193832A (ja) ビーム投射装置
JP3372324B2 (ja) レンズ系の偏心測定装置および偏心測定方法
JPH0996767A (ja) 空間光通信装置
JPS5921514B2 (ja) 光波距離計の光学系
JPH07146212A (ja) 光路補正装置および光学測定装置
JPS5987309A (ja) 面傾き測定装置
JP2006105769A (ja) 測距装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060313

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060313

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080109

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080115

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080317

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080617

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080807

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20081007

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20081022

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111031

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121031

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121031

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131031

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees