JP4181210B1 - サブピクセルテンプレートマッチング方法、当該方法を実現するコンピュータプログラムおよび当該プログラム格納媒体 - Google Patents

サブピクセルテンプレートマッチング方法、当該方法を実現するコンピュータプログラムおよび当該プログラム格納媒体 Download PDF

Info

Publication number
JP4181210B1
JP4181210B1 JP2008152429A JP2008152429A JP4181210B1 JP 4181210 B1 JP4181210 B1 JP 4181210B1 JP 2008152429 A JP2008152429 A JP 2008152429A JP 2008152429 A JP2008152429 A JP 2008152429A JP 4181210 B1 JP4181210 B1 JP 4181210B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pixel
value
correlation value
subpixel
correlation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008152429A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009301161A (ja
Inventor
久明 保刈
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
FIRST INC.
Original Assignee
FIRST INC.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by FIRST INC. filed Critical FIRST INC.
Priority to JP2008152429A priority Critical patent/JP4181210B1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4181210B1 publication Critical patent/JP4181210B1/ja
Publication of JP2009301161A publication Critical patent/JP2009301161A/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Image Analysis (AREA)

Abstract

【課題】画素単位で見たときに相関値が最大となる画素とその近傍画素における観測相関値を使って、高いマッチング精度を維持しながら従来の処理速度の遅さを改善できるサブピクセルテンプレートマッチング方法を提供すること。
【解決手段】最大相関時基準画素に局所相対座標の原点を置き、最大相関時基準画素とその所定の近傍画素の局所相対座標値を固定し、当該各局所相対座標に対応する全ての観測相関値と推定相関値分布曲面値との不一致量評価値計算値に対する、各局所相対座標に対応する観測相関値と推定相関値分布曲面値との不一致量の寄与度に相当する重みを各局所相対座標に予め与えることによって、重み付き最小二乗法により推定相関値分布曲面の極値座標を求める際の複数回の繰返し計算を1回の計算を行うだけで当該極値座標をサブピクセル単位で求めることでサブピクセルテンプレートマッチングを実現する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、テンプレート画像による画像探索において、画素単位(ピクセル単位)を超えるサブピクセル単位で画像探索を行う方法に関する。
従来、テンプレートマッチングの手段として一般的に使われる例であって、被探索画面上でテンプレート画像を画素単位で移動させながらテンプレート画像と被探索画面上の画像との相関値を計算することによって、相関値が最大となるテンプレート画像の位置(テンプレート画像に対して所定の位置関係にあるように任意に設定される基準点の位置)を計測することによってテンプレート画像パターンと一致する画像パターン(以降、被探索画像パターンともいう)を被探索画面の中で探し出す方法については、その効率化の観点から、第1段階は所定の粗い精度(分解能はピクセル単位が多い)での探索(いわゆる粗サーチ)を行い、その位置を計測した後、第2段階の画像探索において所定の高い精度での探索(いわゆる精サーチ)を行って、所定の位置計測精度を得る方法が一般的である。
近年、画像探索の結果である被探索画像パターンの被探索画面上での計測位置を使って当該画像探索の対象となったワークを高分解能で操作したいという要求が特に生産現場において増え、それに伴ってワークの操作精度についても要求分解能に見合った精度が要求されてきている。これに伴い、画像探索精度も画素(ピクセル)単位を超えてサブピクセル単位が要求されるケースが非常に多い。しかも、このようなワークを取扱う現場においてはタクトタイムを少しでも減らすためにより一層の高速化が要求されている。
このような上記第2段階における要求に対応できる可能性のある画像探索技術の一つとして、
(1)被探索画面における平面座標XYを考えたとき、上記第1段階で相関値が最大であるとされた基準点の位置における画素を中心にX軸方向両側にある画素群とY軸方向両側にある画素群に注目し、それぞれの画素群毎に、それぞれの画素に基準点があったときのそれぞれの相関値の軸方向プロファイルから、相関値が最大となると推定されるサブピクセル位置を求める方法がある。
この方法は、処理速度的には現場の要求に応えられるレベルとしては上位にあるが、精度的には0.01画素オーダーのレベルを達成できないものが多い。達成できても処理時間の点で満足できるレベルからは程遠い状況にある。精度的には、発明者がこの方法の一般的な計算方法を試した結果は、0.1〜0.2画素程度の誤差が出る。市場要求はアプリケーションによって千差万別であるが、0.05画素以下の精度要求は多く存在する。
(2)他の方法の例は、特許文献1に提案されている方法である。この方法は、特許文献そのものの内容が不完全記載故に不明確で推測の域を出ないが、敢えて記載すれば、以下のようなものと見受けられる。
a)まず、粗サーチで粗い精度(例えば、数画素単位の精度)で計測された位置の近辺でテンプレート画像を1画素ずつ被探索画面上を動かしながらテンプレート画像と被探索画面上の画像との間で相関値の計算を行い、相関値が最も高いときの基準点の位置をピクセル単位で見つける。
b)次に、相関値が最も高いと考えられるサブピクセル位置を見つける作業になるが、その技術は、概略以下のようなものである。
相関値のピーク点を求めるため、相関値の観測点がその近傍に分布するであろう多項式回帰曲面としてx,yの二次曲面である(1)式を最初に記載してあるが、観測された相関値を使って(1)式の係数を最小二乗法で直接求める方法が記載されていず、実施例には多項式回帰曲面を2組の直交多項式を使用して記載し、その係数を求める方法のみ記載されている。その中にはz等の定義不明の変数が含まれており明確ではないが、求められた係数を使用して(1)式の係数を求めるものと推測される。
この方法は、(直交多項式を導入して逆行列計算を行わないで最小二乗解を求める方法のようであるが、)処理速度に係る計算過程が短いとは言えず、処理速度は未だ満足すべきところではないと見受けられる。
また、そのほかに問題となることは、画素単位で見たときに相関値が最大となる画素(中心画素)からの距離が大きい4隅の近傍画素における相関値の観測値が、サブピクセル単位で見たときの相関値の分布が推定される回帰曲面(xyの関数)のピーク位置が中心画素位置から離れるに従って、またいろいろな条件が重なることによって、回帰曲面と大きくはずれてくる可能性が大きく、このはずれ値を使って回帰曲面の推定ピーク位置を求めていることから、この推定ピーク位置が本来あるべき位置からずれて計算される、即ち精度が悪くなることである。

特開平5−120436
本発明が解決しようとする課題は、画素単位で見たときに相関値が最大となる画素とその近傍画素において観測された相関値を使って、サブピクセル単位で見たときに相関値が分布すると推定される回帰曲面の推定ピーク位置をサブピクセル単位で求めるサブピクセルテンプレートマッチング方法において、計算過程を簡易化できる新たな方法を提供し、従来技術の欠点を改良し、現場の要求に応えられるより高い処理速度とマッチング位置精度の両方を実現することである。
課題を解決する手段は、以下の如くである。
以下の解決手段の前提条件は、テンプレート画像を被探索画面に重ねたときにテンプレート画像と被探索画面上の画像との間の相関値が最大となるときの被探索画面上のテンプレート画像パターンの位置が,テンプレート画像と所定の位置関係にあるように任意に設定した基準画素の位置により画素単位で既知であり(当該既知である位置にあるときの基準画素を最大相関時基準画素ともいう)、当該基準画素が最大相関時基準画素および少なくともその所定の近傍画素のそれぞれと重なるときの当該相関値が、例えば、事前の画素単位の画像探索等により、既知であることである。基準画素の位置の設定の仕方としては、テンプレート画像パターンの位置と所定の位置関係にあるように任意に定めることができる。例えばテンプレート画像上の中心点あるいは矩形の画像の4隅の内の1点等である。
<第1の解決手段>
最大相関時基準画素に局所相対座標(x, y)の原点を置き、最大相関時基準画素およびその所定の近傍画素に、それらの位置関係を示す添え字iを付加した局所相対座標(xi ,yi)を与え、行列
Figure 0004181210
を定数として決定するステップ1と、
既知である前記相関値が、自らに所定の関数変換を施すことによって得られる結果関数またはその近似関数が変数x,yの二次関数である条件を満足する曲面z=F(x, y)上に分布するであろうと推定し、局所相対座標(xi ,yi)に対応する画素毎に計算され既知である相関値Hと計算された曲面値z=F(xi ,yi)との差に基づいて所定の方法で計算されるこれらの差の総合値(総合不一致量評価値)への寄与度に相当する重みwを予め与えることによって、
Figure 0004181210
を予め固定するステップ2と、
Figure 0004181210
テンプレート画像と被探索画面上の画像との間の相関値が最大であると推定されるときの局所相対座標値を求めることで、テンプレート画像と被探索画面上の画像とのサブピクセルテンプレートマッチングを行う。
<第2の解決手段>
第1の解決手段において、
ステップ2を、
「既知である前記相関値が、変数x,yの二次関数である曲面z=F(x, y)上に分布するであろうと推定し、局所相対座標(xi ,yi)に対応する画素毎に計算され既知である相関値Hと計算された曲面z=F(xi ,yi)との差に基づいて所定の方法で計算されるこれらの差の総合値(総合不一致量評価値)への寄与度に相当する重みwを予め与えることによって、
Figure 0004181210
と置き換え、
ステップ3を、
Figure 0004181210
と置き換えることによっても、テンプレート画像と被探索画面上の画像とのサブピクセルテンプレートマッチングを行うことができる。
第1の解決手段において、曲面z=F(x, y)を二次元ガウス関数とし、所定の関数変換を対数変換とすることができる。
第1の解決手段および第2の解決手段において、
所定の近傍画素については、最大相関時基準画素の8近傍の画素(理論式においてn=9)を選択することが計算処理時間の短縮と精度の両方を満足させる方法として一般的に好ましい。しかしながら、テンプレートマッチングの諸々の条件によっては、更に8近傍画素の外側に画素を追加するとか、8近傍画素の一部の画素を削除することも可能である。
また、所定の重みwiについては、精度の関係から対角方向の近傍画素の寄与度を下げることが望ましい。
以上の解決手段におけるサブピクセルテンプレートマッチング方法を、コンピュータ上で実現するためのコンピュータプログラムとすることができる。
また、このコンピュータプログラムを記憶する格納媒体に格納し、保存あるいは移動し、コンピュータにロードできるようにすることができる。
画素単位で見たときに相関値が最大となる画素とその近傍画素において観測された相関値を使って、サブピクセル単位で見たときに相関値が分布するであろうと推定される回帰曲面の推定ピーク位置をサブピクセル単位で求めるサブピクセルテンプレートマッチング方法において計算過程を簡易化できる新たな方法を導入することにより、従来技術の欠点を改良し、現場の要求に応えられるより高い処理速度とマッチング位置精度の両方を実現することができた。
処理速度においては、特許文献1の方法に比べて、上記回帰曲面の推定ピーク位置を求める計算部分は数分の1程度に短縮されると推測される。
また、精度的には、従来の方法の第1番目に挙げた「(1)被探索画面における平面座標XYを考えたとき、上記第1段階で相関値が最大であるとされた基準点の位置における画素を中心にX軸方向両側にある画素群とY軸方向両側にある画素群に注目し、それぞれの画素群毎に、それぞれの画素に基準点があったときのそれぞれの相関値の軸方向プロファイルから、相関値が最大となると推定されるサブピクセル位置を求める方法」におけるよりは1桁上まわる精度が実現できている。
また、相関値の観測点が分布するであろうと推定される多項式回帰曲面がどのような関数による曲面であろうとも、その関数に所定の関数変換を施すことによって得られる結果関数が変数x,yの二次関数に実質帰着できるか、またはその関数そのものが変数x,yの二次関数である場合にも、画素単位で見たときに相関値が最大となる画素とその近傍画素において観測された相関値を使って、サブピクセル単位で見たときに相関値が分布するであろうと推定される回帰曲面の推定ピーク位置をサブピクセル単位で求めるサブピクセルテンプレートマッチング方法が適用できることを明確にでき、その利用範囲が広がった。
本発明は、例えば、グレイスケール画像間の正規化相関による画素単位の画像探索の結果が得られているときのように、計測のためにテンプレート画像パターンに対して任意の位置に基準画素を設定し、テンプレート画像を被探索画面に重ねて画素単位で移動させながら行うテンプレート画像と被探索画面上の画像との間の相関値の計測(計算)結果が、その相関値が最大となるときの基準画素の位置(この位置にあるときの基準画素を最大相関時基準画素という)およびその所定の近傍画素のそれぞれの位置に基準画素がいるときのそれぞれの位置に対して既知であることを前提条件として、
当該最大相関時基準画素の近辺でテンプレート画像と被探索画面上の画像との間の相関値が更に高く最大となると推定されるときの当該最大相関時基準画素に対する相対位置を、画素単位を超えるサブピクセルの単位で求めようとするものである。
ここで、上記前提条件を得るときの方法として、相関値は上述の正規化相関による相関値に限る必要はないことをことわっておく。
また、本発明の対象は、必ずしもグレイスケール画像に限ることはない。

以下、本発明によるサブピクセルテンプレートマッチング方法の背景となる理論と共に、発明を実施するための最良の形態を例と共に説明する。
本発明の方法におけるサブピクセル推定では、従来法の一つである「被探索画面における平面座標xyを考えたとき、相関値が最大であるとされた基準点の位置における画素を中心にX軸方向両側にある画素群とY軸方向両側にある画素群に注目し、それぞれの画素群毎に、それぞれの画素に基準点があったときのそれぞれの相関値の軸方向プロファイルから、相関値が最大となると推定されるサブピクセル位置を求める方法」とは異なり、2次元位置を直接求める。
その一つの例は、相関値分布に対して2次元ガウス関数を当てはめ、その頂点位置を相関値が最大でテンプレート画像と被探索画面上の画像とが最も一致していると推定されるサブピクセル単位の推定位置とする方法である。

2次元ガウス関数の頂点位置は次のようにして求める。
まず、被探索画面上の所定の位置を原点とする絶対座標系の座標を(X,Y)とすると、この関数の一般式は次のように表すことができる。
Figure 0004181210
このとき,g(X,Y)は楕円放物面となっている。
さて、(1)式の両辺の対数をとると、
Figure 0004181210
極値の座標を求めるためには係数a,b,c,d,eを求めなければならないが、既知である最大相関時基準画素とその8近傍画素の計9個の画素を代表する(画素単位の)各点(Xi,Yi) (ここに、iは最大相関時基準画素およびその8近傍の各画素の位置とその位置に対応する変数の表記の関係を対応付けるために付けられた番号)における相関値の対数Hi≡H(Xi,Yi)を用いて従来の確立された方法により係数a,b,c,d,eを求めるとすれば、一般的には最小二乗法によることになる。
本発明においては、既知である相関値と2次元ガウス関数とのフィッティング(相関値分布に対する2次元ガウス関数の当てはめ)をより適切に行う手法として、各点(Xi,Yi)に対応する画素に関するフィッティングのための誤差計算値(不一致量)をすべての点(Xi,Yi)を対象にした総合誤差計算値(総合不一致量評価値)にどのように寄与させるかのその寄与度に対応する重み付けを行うためにwiなる重みを導入し,重み付き最小二乗法の理論式を利用して(3)式の係数a,b,c,d,eを求める方法をとるが、本発明の方法を説明する前に、重み付き最小二乗法により(3)式の係数a,b,c,d,eを求める解法の理論を以下に示す。
各点(Xi,Yi)に対応するHi≡H(Xi,Yi)と重み付き最小二乗法による繰返し計算の1行程によって得られた係数a,b,c,d,eを使って計算された点(Xi,Yi)における二次関数値との差に重みwiを考慮した不一致量に相当する残差εi
Figure 0004181210
Figure 0004181210
重み付き最小二乗法により係数a,b,c,d,eを求めるためには、基本的に(7)式で表される不一致量評価値を最少としなければならない。
Figure 0004181210
以上から、(12)式あるいは(13)式で係数a,b,c,d,eを求めて(5)式に代入すれば、理論的には2次元ガウス関数の頂点位置(X,Y)が得られることになる。しかし、以下の2つの課題が存在する。
第1の課題は、処理時間を如何に短くするかである。
重み付き最小二乗法により係数a,b,c,d,eを求める方法の一つは(Xi,Yi)の最適な重みwiと共に係数a,b,c,d,eを求めていくロバスト推定法であり、以下に例示するような処理ステップを実行する。
Figure 0004181210
(ステップc) 残差εiをもとに各wiを修正する。この修正方法の代表的な例は、M推定法である。
(ステップd) 上記修正方法(M推定法)による各wiの修正量が所定の規定量以内か判断し(場合によっては、修正回数が所定の回数に達したか判断し)、YESの場合にはステップeに進み、NOの場合にはステップb以降を繰り返す。
(ステップe) そのときの係数a,b,c,d,eを重みつき最小二乗解とする。
因みに、M推定法は業界では周知の方法であるが、その概略の考え方を以下に示す。
Figure 0004181210
しかしながら、上記の処理ステップの実行そのものに要する処理時間は、本発明技術が利用される業務においては受け入れ不能の長時間となることが明らかなことから、本発明においてはロバスト推定法をそのまま使うことはせず、最初からまたは可能な限り早い段階でwiを適切な値に決定し固定する方式を採る。
また、最初から適切と思われるwiを決定できたとして、(12)式から生まれる連立方程式を1回解くだけで係数a,b,c,d,eの適切な値を求めるとしても、そのときの連立方程式を1回解く処理時間自体はまだ満足できる短さのレベルとはいえないため、連立方程式を解く必要がない方法をとることを第1義とする。
Figure 0004181210
上記2つの課題を解決する具体的な解決方法(発明を実施するための最良の形態)は、以下に示すようなものである。
まず、前記前提条件に記載したように、既知である最大相関時基準画素の座標位置(X,Y)に局所相対座標系xyの原点(x,y)を置き、更に最大相関時基準画素の8近傍画素の局所相対座標(xi ,yi)(i=0,…,7)を定める。ここに、iは最大相関画素およびその8近傍の各画素の位置とその位置に対応する変数の表記の関係を対応付けるために付けられた番号である。この状態の一例を示したのが図2である。
尚、最大相関時基準画素の座標位置に局所相対座標系xyの原点(x,y)を置くということは、サブピクセルの視点で見た場合、最大相関時基準画素の中心でもよいし、その他の位置であってもかまわず、所定の位置に置けばよいということを意味する。本発明は、画素単位で求められた最大相関時基準画素(X,Y)を基準として、その近辺でテンプレート画像パターンと被探索画像パターンの間の相関値が更に高く最大となると推定されるときの相対位置(x,y)を、画素単位を超えるサブピクセルの単位で求めようとするものであり、発明の実施者はそのサブピクセル単位の相対位置の結果を最大相関時基準画素位置に加える形で最終の最大相関位置を計測し応用するのであるから、画素単位の計測の基準が画素のどの位置にあるかは実施者が知っていればよいことであり、実施者の装置設計に依存するものであるからである。
(1)式から(13)式を基にして説明した重み付き最小二乗法により係数a,b,c,d,eを求め、最終的に2次元ガウス関数の頂点座標位置(X,Y)を求める考え方は、上記のように局所相対座標(x, y)に対しても、Xをxで、Yをyで置き換えることによって成立つ。これは座標軸の単なる平行移動であるからである。因みに、変数以外で数式上変わるところは、(1)式、(2)式、(3)式、(6)式、(8)式に点在する定数K、f、f’のみであり、重み付き最小二乗法により求める頂点座標位置に直接影響を与えるものではない。
従って、以下の説明では、(1)式から(13)式についてはxy座標系に対しても同一の式番号によって呼ぶことにする。
Figure 0004181210
次に、図2に示すような対応付けに従って、重み行列
Figure 0004181210
ここで、各重みwi (i=0,…,8)を前述のロバスト推定法で係数a,b,c,d,eと共に求められるべき値に最初から設定できれば理想であるが、それは一般的には困難である。
本発明においては、本来厳密に言えばロバスト推定法で、最初に各重みを仮に設定し、実際の観測値と計算値の差(不一致量)の総合値(不一致評価値)が最少になるように(7)式から(11)式および(12)式または(13)式を使って繰返し計算によって重み付き最小二乗解を得なければならないところを、サブピクセルマッチング結果をある精度レベル以内にすることができる各重みのとり得る許容範囲が比較的広く、定性的な判断に加えて定量的にも最悪簡単な現場実験の結果を踏まえて各重みをラフに設定できる可能性が高いことが試行計算等により視察できたことにより、最初に各重みを1回設定するだけで、上記繰返し計算を行わないで1パスの計算により実質的に使用に耐えうる精度の推定極値座標(サブピクセルテンプレートマッチングのマッチング位置計測結果)を短い処理時間内で得ようとするものである。
現場実験としては、例えば製造現場の、ワークの搬送環境、撮像環境、その他重みのばらつきに影響を与える要因が理想的に安定である場合には、高い精度を目指そうとすれば、最初にロバスト推定法で各重みwi (i=0,…,8)を求めておいて、その後に流れる多量のワークに対してテンプレートマッチングを行うときにはその重みを最初から設定しておくことも可能であろうし、もっと大まかにいくつかの重み付けに対するサブピクセルマッチングの結果を測定することによって重み付けの適正値を探すこともできるであろう。
本発明を実施する際には、現場で精度上実質的に使用に耐えうるサブピクセルテンプレートマッチングの結果が得られる各重みwi (i=0,…,8)を設定するための所定の基準を、現場の環境に依存して個々に作り出す必要がある。そのためには、以下に示す本発明の実施形態の一例に記載する重みの値が参考にできる。
以上、本発明によるサブピクセルマッチング方法の背景となる理論と、その理論を現実に適用する場合の重要な課題の解決方法について、本発明を実施するための最良の形態の一例として説明してきた。
以下にこの理論を使用して、行列
Figure 0004181210
を固定の一定値とし、重み行列
Figure 0004181210
についても予め数値を決定し行列
Figure 0004181210
を一定値として求めておくことによって、テンプレート画像と被探索画面上の画像とのサブピクセルテンプレートマッチングを短い処理時間で行う方法について、上記各重みwi (i=0,…,8)の設定例と共に、本発明の最良の実施形態の一例を示すフローチャートである図1に従って説明する。
(ステップS10)
Figure 0004181210
(ステップS11)
図2の対応付けに従って、(11)式の重み行列
Figure 0004181210
上記の重みの設定値について現実の経験値的な観点からの考え方を付記すれば、以下のようになる。
画素単位で見たときに相関値が最大となる画素(最大相関時基準画素)からの距離が大きい4隅の近傍画素における相関値の観測値が、サブピクセル単位で見たときの相関値の分布が推定される回帰曲面(xyの関数)のピーク位置が最大相関時基準画素位置から離れるに従って、また、撮像条件の違い等による画像品質のばらつき、テンプレート画像と被探索画面上の画像との幾何学的配置のばらつき等の条件変動等いろいろな条件が重なることによって、回帰曲面と大きくはずれてくる可能性が大きく、このはずれ値を使って回帰曲面の推定ピーク位置を求めるとすれば、この推定ピーク位置が本来あるべき位置からずれて計算される、即ち精度が悪くなる。この問題を解消するためにはずれ値が出る可能性の高い近傍画素に対する重みを意識的に下げたほうがよいとの考え方である。その下げるべき値は本発明実施者の実施環境等の条件によって経験的に定めることが望ましい。その意味で、(15)式に記載してある重み値は、発明者における一つの条件に対する好適な例に一致する。
当然、任意の他の基準により各重みを設定することもできるし、各重みを個々に任意に設定することもできる。設定の仕方は、扱う画像と扱う環境等の条件等によって実験的に変えていくことが望ましい。
(ステップS12)
Figure 0004181210
(ステップS13)
Figure 0004181210
(ステップS14)
ステップS13で求められた係数a,b,c,d,eを使って、(5)式により(3)式のH(x, y)が最大となる局所相対座標(x
,y)、即ち(1)式の二次元ガウス関数h(x, y)が最大となる局所相対座標(x,y)がサブピクセルの単位で求まる。
図1による上記の実施形態例に対して、更に精度を上げる方法として、上記実施形態例のステップS13で求められた係数a,b,c,d,e,fと設定されたwiと計測されて既知であるHiを使って、残差εiを求めて、残差εiの絶対値が基準値を超えるwiを削除して再度ステップS12以降の手順を実施して(3)式のH(x, y)が最大となる局所相対座標(x
,y)を求めることもできる。これは、wiの再設定のために上記の「基準値を超えるwiを削除」する過程を踏んだということで、そのあとは基本的に図1による実施形態例と同等の方法と言える。
この方法は、上記実施形態例に対して追加の計算を行っているので処理時間が余分にかかるが、それが許されるアプリケーションであれば、精度が増す分有利になる。
いままでの説明では、発明を実施するための最良の形態として、サブピクセル単位で見た場合に、相関値に対して2次元ガウス関数をあてはめてきたが、2次元ガウス関数に限ることはなく、自らに所定の関数変換を施すことによって得られる結果関数またはその近似関数が変数x,yの二次関数である条件を満足する曲面z=F(x, y)を当てはめることは可能である。いままでの説明から当然のことながら、当該曲面z=F(x, y)が最大極値となる座標(x, y)と当該二次関数が最大極値となる座標(x, y)は同一でなければならない。
また、理論説明から明らかなごとく、(2)式のg(x, y)を当てはめることも可能である。g(x, y)は楕円放物面であるが、一般的にはx,yの二次関数であれば当てはめが可能である。 この場合は、(6)式の残差の計算におけるHiは観測された相関値そのものとなる。
本発明において、二次元ガウス曲面に当てはめることを優先したのは、実験的に二次元ガウス曲面を当てはめるほうが楕円放物面を当てはめるより精度が上がる結果が得られたことに基づく。
発明の最良の形態のところで、最大相関時基準画素の所定の近傍画素として8近傍画素の例を示しているが、必ずしも8近傍画素に限ることはない。ケース・バイ・ケースで近傍画素の数と位置は適切な組合せが見出せる可能性がある。
本発明の追加の効果であるが、処理時間的にこれ以上短縮の方法がないような短縮方法が提案できていることに加え、テンプレートサブピクセルマッチングの位置計測精度については、矩形あるいは円形に近い一般的な形状のワークを使ってのマッチングにおいて、0.02〜0.04程度の精度が得られており、実用的に本発明の技術が適用可能な分野は多いといえる。
本発明の最良の実施形態の一例を示すフローチャート。 最大相関画素の8近傍画素の位置とその位置に対応する変数の表記の関係を対応付ける番号iと局所相対座標(xi ,yi)の対応の一例を示す図。
符号の説明

Claims (6)

  1. テンプレート画像を被探索画面に重ねたときにテンプレート画像と被探索画面上の画像との間の相関値が最大となるときの被探索画面上のテンプレート画像パターンの位置が,テンプレート画像と所定の位置関係にあるように任意に設定した基準画素の位置により画素単位で既知であり(当該既知である位置にあるときの基準画素を最大相関時基準画素ともいう)、当該基準画素が最大相関時基準画素および少なくともその所定の近傍画素のそれぞれと重なるときの当該相関値が、既知であることを前提条件として、
    前記最大相関時基準画素に局所相対座標(x, y)の原点を置き、前記最大相関時基準画素およびその所定の近傍画素に、それらの位置関係を示す添え字iを付加した局所相対座標(xi ,yi)を与え、行列
    Figure 0004181210
    を定数として決定するステップ1と、
    既知である前記相関値が、自らに所定の関数変換を施すことによって得られる結果関数またはその近似関数が変数x,yの二次関数である条件を満足する曲面z=F(x, y)上に分布するであろうと推定し、局所相対座標(xi ,yi)に対応する画素毎に計算され既知である相関値Hと計算された曲面値z=F(xi ,yi)との差に基づいて所定の方法で計算されるこれらの差の総合値(総合不一致量評価値)への寄与度に相当する重みwを予め与えることによって、
    Figure 0004181210
    を予め固定するステップ2と、
    Figure 0004181210
    前記テンプレート画像と被探索画面上の画像との間の相関値が最大であると推定されるときの局所相対座標値を求めることを特徴とするサブピクセルテンプレートマッチング方法。
  2. 請求項1において、
    ステップ2を、
    「既知である前記相関値が、変数x,yの二次関数である曲面z=F(x, y)上に分布するであろうと推定し、局所相対座標(xi ,yi)に対応する画素毎に計算され既知である相関値Hと計算された曲面z=F(xi ,yi)との差に基づいて所定の方法で計算されるこれらの差の総合値(総合不一致量評価値)への寄与度に相当する重みwを予め与えることによって、
    Figure 0004181210
    と置き換え、
    ステップ3を、
    Figure 0004181210
    と置き換えたことを特徴とするサブピクセルテンプレートマッチング方法。
  3. 前記曲面z=F(x,
    y)を二次元ガウス関数とし、所定の可逆的関数変換を対数変換としたことを特徴とする請求項1または2に記載のサブピクセルテンプレートマッチング方法。
  4. 前記所定の近傍画素が、原点の置かれた最大相関時基準画素の8近傍の画素であることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載のサブピクセルテンプレートマッチング方法。
  5. 請求項1から4のいずれかに記載されたサブピクセルテンプレートマッチング方法をコンピュータ上で実行可能とすることを特徴とするコンピュータプログラム。
  6. 請求項5に記載のコンピュータプログラムを格納したことを特徴とするプログラム格納媒体。
JP2008152429A 2008-06-11 2008-06-11 サブピクセルテンプレートマッチング方法、当該方法を実現するコンピュータプログラムおよび当該プログラム格納媒体 Active JP4181210B1 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008152429A JP4181210B1 (ja) 2008-06-11 2008-06-11 サブピクセルテンプレートマッチング方法、当該方法を実現するコンピュータプログラムおよび当該プログラム格納媒体

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008152429A JP4181210B1 (ja) 2008-06-11 2008-06-11 サブピクセルテンプレートマッチング方法、当該方法を実現するコンピュータプログラムおよび当該プログラム格納媒体

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP4181210B1 true JP4181210B1 (ja) 2008-11-12
JP2009301161A JP2009301161A (ja) 2009-12-24

Family

ID=40056112

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008152429A Active JP4181210B1 (ja) 2008-06-11 2008-06-11 サブピクセルテンプレートマッチング方法、当該方法を実現するコンピュータプログラムおよび当該プログラム格納媒体

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4181210B1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104680035A (zh) * 2015-03-26 2015-06-03 北京润科通用技术有限公司 一种航电数据的曲线回放方法及系统
CN112200864A (zh) * 2019-07-08 2021-01-08 深圳中科飞测科技有限公司 一种图像处理方法、定位方法、装置、设备及存储介质
CN113947689A (zh) * 2021-09-30 2022-01-18 西安交通大学 一种基于计算机视觉的结构大运动快速测量方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6878908B2 (ja) 2017-01-23 2021-06-02 セイコーエプソン株式会社 エンコーダー、ロボットおよびプリンター
EP3582182B1 (en) * 2018-06-12 2020-07-29 Axis AB A method, a device, and a system for estimating a sub-pixel position of an extreme point in an image

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104680035A (zh) * 2015-03-26 2015-06-03 北京润科通用技术有限公司 一种航电数据的曲线回放方法及系统
CN104680035B (zh) * 2015-03-26 2018-05-18 北京润科通用技术有限公司 一种航电数据的曲线回放方法及系统
CN112200864A (zh) * 2019-07-08 2021-01-08 深圳中科飞测科技有限公司 一种图像处理方法、定位方法、装置、设备及存储介质
CN113947689A (zh) * 2021-09-30 2022-01-18 西安交通大学 一种基于计算机视觉的结构大运动快速测量方法
CN113947689B (zh) * 2021-09-30 2023-10-10 西安交通大学 一种基于计算机视觉的结构大运动快速测量方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009301161A (ja) 2009-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Neggers et al. On image gradients in digital image correlation
US9355443B2 (en) System, a method and a computer program product for CAD-based registration
JP4181210B1 (ja) サブピクセルテンプレートマッチング方法、当該方法を実現するコンピュータプログラムおよび当該プログラム格納媒体
US9599575B2 (en) System, a method and a computer program product for CAD-based registration
US10430938B2 (en) Method of detecting defects in an object
CN113096118B (zh) 晶圆表面粗糙度测量的方法、系统、电子设备和存储介质
CN103389310B (zh) 一种基于辐射标定的亚像素光学元件损伤在线检测方法
CN110096540B (zh) 测绘数据转换方法、设备、存储介质及装置
CN111833237A (zh) 基于卷积神经网络和局部单应性变换的图像配准方法
CN109035363B (zh) 一种快速迭代的线圆最优拟合方法
CN114219802B (zh) 一种基于图像处理的蒙皮连接孔孔位检测方法
US9652836B2 (en) Defect cell clustering method and apparatus thereof
CN110235233B (zh) 用于检查集成电路的关注区域生成
CN117876219A (zh) 基于3d线扫描装置的点云拼接方法、装置、设备、介质
US11644426B2 (en) Methods and systems for generating calibration data for wafer analysis
CN108846856B (zh) 图片特征点的跟踪方法和跟踪装置
CN115619678B (zh) 一种图像变形的矫正方法、装置、计算机设备及存储介质
JP4747293B2 (ja) 画像処理装置および画像処理方法並びにこれらに用いるプログラム
CN112070810B (zh) 定位方法、可移动设备及计算机可读存储介质
CN113674174B (zh) 一种基于显著行匹配的线扫圆柱体几何校正方法及装置
CN115205224A (zh) 自适应特征增强的多源融合视觉检测方法、装置及介质
CN110910436B (zh) 基于图像信息增强技术的测距方法、装置、设备和介质
CN110363235B (zh) 一种高分辨率图像匹配方法及系统
CN115235625A (zh) 一种光谱共焦回波位置标定方法、装置、介质及计算机设备
CN115661215B (zh) 一种车载激光点云数据配准方法、装置、电子设备及介质

Legal Events

Date Code Title Description
A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20080805

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080812

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080828

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4181210

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110905

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110905

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110905

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110905

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120905

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120905

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120905

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130905

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130905

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250