JP4175748B2 - パターン検査装置 - Google Patents
パターン検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4175748B2 JP4175748B2 JP26542499A JP26542499A JP4175748B2 JP 4175748 B2 JP4175748 B2 JP 4175748B2 JP 26542499 A JP26542499 A JP 26542499A JP 26542499 A JP26542499 A JP 26542499A JP 4175748 B2 JP4175748 B2 JP 4175748B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pattern
- image
- unit
- inspected
- ideal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、繰り返しパターンを有するカラーフィルター、シャドウマスク、プリント配線板、半導体ウエハなどにおけるパターン欠陥検査に適用可能なパターン検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
繰り返しパターンを有する検査対象物(たとえば、カラーフィルター、シャドウマスク、プリント配線板、半導体ウエハなど)において、その繰り返しパターンに存在する欠陥を検出するため、あらかじめ理想パターンを与えることなく、被検査画像に含まれる複数の単位パターンを用いて、欠陥の自動検出を行う技術が存在する。たとえば、図22に示すように、繰り返しパターン内の単位パターンであるパターンPAとパターンPBとを比較し、相違する部分を欠陥として検出する技術が存在する。さらに、このような比較のみでは、欠陥がパターンPAとパターンPBとのいずれに存在するかが不明であるため、これを解決する技術として、たとえば、特公平6−56293号公報に記載の技術が存在する。これは、3つの単位パターンPA,PB,PCに関して、パターンPAとパターンPBとの比較を行い(比較結果AB)、パターンPCとパターンPBとの比較との比較とを行い(比較結果CB)、そして両比較結果AB,CBをさらに比較することにより、パターンPBに存在する欠陥のみを特定するものである。なお、これらの比較動作は、図23に示すように、両パターンの各画素の階調値の差分の絶対値を閾値で区切ることにより2値化する(正常または欠陥として検出する)処理により行われる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記の技術においては、2つの単位パターンを比較する際に、画像入力部により得られる被検査画像を用いているが、この被検査画像にはノイズが含まれていることが多く、2つの単位パターンの(差分絶対値の2値化による)比較結果はノイズの影響を受けやすい。すなわち、ノイズを多く含む被検査画像について、上記の技術を適用した場合、本来欠陥である部分を見逃すことによる欠陥検出率の低下、あるいは逆に、本来正常な部分を欠陥として誤検出することによる過剰検出率の増加を引き起こすこととなり、検出結果が不安定になるという問題がある。
【0004】
そこで、本発明は前記問題点に鑑み、あらかじめ理想パターンを与えることなく、繰り返しパターンに存在する欠陥を検出するにあたって、ノイズの影響を低減させて安定した検出動作を行うことが可能なパターン検査装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項1に記載のパターン検査装置は、繰り返しパターンの欠陥検査を行うパターン検査装置であって、被検査画像を入力する被検査画像入力手段と、被検査画像に含まれる複数の単位パターンに基づいて理想パターンを生成する理想パターン生成手段と、前記生成された理想パターンと前記被検査画像に含まれる被検査単位パターンとを比較した比較結果を用いて、前記被検査単位パターンの欠陥を判定する比較判定手段とを備え、前記理想パターン生成手段は、前記被検査単位パターンに対して所定の相対的位置関係にある単位パターンが存在する場合には、前記理想パターンの生成に使用される複数の単位パターンのうち前記被検査単位パターン以外の単位パターンとして、前記被検査単位パターンに対して所定の相対的位置関係にある単位パターンを使用して前記理想パターンを生成し、前記被検査単位パターンに対して所定の相対的位置関係にある単位パターンが存在しない場合には、前記被検査単位パターンに対して所定の相対的位置関係にある単位パターンの代わりに、前記被検査画像中に実在する他の位置の単位パターンを使用して前記理想パターンを生成することを特徴とする。
【0006】
請求項2に記載のパターン検査装置は、請求項1に記載のパターン検査装置において、前記被検査画像中の単位パターンが順次に前記被検査単位パターンとして選択され、前記理想パターンは、前記被検査単位パターンと、前記被検査単位パターン以外の単位パターンとに基づいて生成されることを特徴とする。
【0007】
請求項3に記載のパターン検査装置は、請求項1に記載のパターン検査装置において、前記被検査画像中の単位パターンが順次に前記被検査単位パターンとして選択され、前記理想パターンは、前記被検査単位パターン以外の複数の単位パターンに基づいて生成されることを特徴とする。
【0009】
請求項4に記載のパターン検査装置は、請求項1ないし3のいずれかに記載のパターン検査装置において、前記被検査単位パターンに対して所定の相対的位置関係にある単位パターンが存在する場合において、前記理想パターンの生成に使用される前記被検査単位パターン以外の単位パターンは、前記被検査単位パターンに対して隣接する単位パターンであることを特徴とする。
【0011】
請求項5に記載のパターン検査装置は、請求項1ないし4のいずれかに記載のパターン検査装置において、前記理想パターン生成手段が、前記被検査画像の一方側の端部付近の単位パターンが前記被検査単位パターンとなる際には、前記相対的位置関係を変更することにより、前記被検査単位パターンに関して前記被検査画像の他方側に隣接する単位パターンを利用して前記理想パターンを生成する手段を備えることを特徴とする。
【0012】
請求項6に記載のパターン検査装置は、請求項1ないし3のいずれかに記載のパターン検査装置において、前記比較判定手段が、前記被検査画像と前記理想パターンとの差分を単位パターンごとに求めて、一連の信号列を得る手段と、前記一連の信号列に現れる変動部分のうち、所定の閾値以上の絶対値を有する変動部分を抽出し、それによって欠陥を有する単位パターンの位置を特定する位置特定手段とを備えることを特徴とする。
【0013】
請求項7に記載のパターン検査装置は、請求項1ないし6のいずれかに記載のパターン検査装置において、前記理想パターン生成手段は、前記被検査画像の画像信号を単位パターン順次に入力する手段と、前記被検査画像の画像信号を単位パターンの繰返し周期の整数倍の遅延時間だけ遅延させることによって、互いに異なる遅延時間を持った複数の遅延被検査画像信号を得る手段と、前記被検査画像の画像信号と前記複数の遅延被検査画像信号とからなる集合のうち、2以上の信号を合成して前記理想パターンの信号を得る手段とを備えることを特徴とする。
【0014】
請求項8に記載のパターン検査装置は、請求項1に記載のパターン検査装置において、前記理想パターン生成手段は、前記被検査画像に含まれる単位パターンの異なる組合せに基づいて複数の理想パターンを生成可能であり、前記比較判定手段は、前記複数の理想パターンのうち少なくとも2つと、前記被検査画像に含まれる被検査単位パターンとを比較して前記被検査単位パターンの欠陥を判定することを特徴とする。
【0015】
【発明の実施の形態】
<第1実施形態>
図1は、本発明の第1実施形態に係るパターン検査装置1(1A)の構成を表す概略図である。パターン検査装置1Aは、検査対象となる対象物2を載置するXYテーブル3と、XYテーブル3をX方向およびY方向にそれぞれ駆動するモータ4a,4bなどを含む駆動部4と、CCDラインセンサ5とを備える。ここでは、対象物2として半導体ウエハWを検査する場合を想定し、図2にその詳細を表す平面図を示す。図2に示すように、半導体ウエハWは、複数の単位パターンである「ダイ(die)」2aがX方向およびY方向にそれぞれ繰り返しマトリクス状に配列されている構造を有する。また、パターン検査装置1Aは、CCDラインセンサ5を介して得られる被検査画像の入力処理を行う画像入力処理部10を備えており、画像入力処理部10はCCDラインセンサ5と協働して被検査画像を入力する被検査画像入力手段として機能する。
【0016】
ここで、CCDラインセンサ5は、XYテーブル3のY方向(−)の移動に伴い対象物2に対して相対的にY方向(+)に移動し、対象物2上をY方向(+)に一定速度で走査を行う。このようなY方向の走査によって、被検査画像Sが得られる。そして、得られた被検査画像Sについて後述のパターン検査動作が行われる。また、その後、CCDラインセンサ5は、対象物2に対してX方向(+)に所定幅(たとえば幅xa)だけ相対的に移動した後、相対的にY方向(−)に移動し走査することによっても、同様の被検査画像Sを得ることができる。さらに、X方向(+)の移動動作と、Y方向(+,−)への走査動作とを順次に繰り返すことにより、同様の被検査画像Sを得て、パターン検査動作を繰り返して行うことができる。
【0017】
このようなY方向の走査により得られる被検査画像SのX方向の大きさは、CCDラインセンサ5の有効幅xa(図1)の大きさなどに依存し、たとえば、有効幅xaと単位パターンの幅xb(図2)とが同一である場合には、1回のY方向の走査動作で各ダイ2aの全体をX方向に含む被検査画像Sを得ることができる。また、幅xaが単位パターンの幅xbより大きい場合、たとえば、幅xaが幅xbのn倍(n>1)である場合には、1回のY方向の走査動作でn個のダイ2aをX方向に含む被検査画像Sを得ることができる。また逆に、有効幅xaが単位パターンの幅xbより小さい場合には、1回のY方向の走査動作で得られる被検査画像Sは、X方向に各ダイ2aの一部のみを含むものとなる。
【0018】
上記のように、被検査画像Sに関して、そのX方向の幅は有効幅xaの大きさに依存して相違するものの、走査方向であるY方向には常に単位パターンであるダイ2aが所定の周期で繰り返し出現する画像となっている。この場合の周期は、Y方向のダイ2aの大きさyb(図2参照)を1ユニット(単位)とする空間的周期でもあり、また、CCDラインセンサ5が一定速度で走査するときには、CCDラインセンサ5が距離ybを所定の速度vで進むのに要する時間(yb/v)を1ユニット(単位)とする時間的周期であるとして考えることもできる。このように、被検査画像Sは、走査方向であるY方向に単位パターンの周期的な繰り返しを含む画像として得られる。
【0019】
また、パターン検査装置1Aは、被検査画像Sに含まれる複数の単位パターンに基づいて理想パターンを生成する理想パターン生成部30A(30)と、生成された理想パターンと被検査画像に含まれる各単位パターンとを比較することにより欠陥を判定する比較判定部50A(50)とを備える。
【0020】
図3は理想パターン生成部30Aおよび比較判定部50Aの具体的構成を示す機能ブロック図であり、図4は具体的なパターン検査の各動作において得られる各画像信号の概要を示す説明図である。図4は、単位パターンPBに欠陥DTが存在する場合を示しており、欠陥DTは、周囲の画素に対して相対的に大きな階調値を有するものとして原画像S(すなわち被検査画像S)において検出されている。なお、図4では、簡単化のため、各画像信号は1次元的な画像信号であるとして表している。これは、X方向に複数の撮像素子が配列されて構成されるCCDラインセンサ5の1つの撮像素子が、対象物2上を(たとえば点Eから点Fへと)走査することにより得られる画像信号に相当する。以下では、これらの図を参照しながら、パターン検査装置1のさらに具体的な構成およびパターン検査動作について説明する。
【0021】
この第1実施形態においては、得られる被検査画像Sの3つの単位パターンに関する平均(加算平均)を求めて理想パターンとしての参照画像PIを生成する場合について説明する。この参照画像PIを生成するため、理想パターン生成部(または参照画像生成部)30Aは、図3に示すように、1周期遅延回路31A,32A、加算回路36A、および除算回路38Aを有している。1周期遅延回路31Aは、原画像Sを1周期遅延させた画像SD1を生成し、1周期遅延回路32Aは、画像SD1をさらに1周期遅延させた画像SD2を生成する。したがって、図4にも示すように、画像SD1は原画像Sに対して1周期遅延しており、画像SD2は原画像Sに対して2周期遅延している。このため、画像SD1を1周期遅延画像SD1、画像SD2を2周期遅延画像SD2とも称する。
【0022】
そして、加算回路36Aはこれらの3つの画像S,SD1,SD2を加算し、除算回路38Aは加算回路36Aの加算結果を3で除する(割る)。これにより、参照画像PIを得ることができる。すなわち参照画像PIは、各瞬間に得られる原画像S,1周期遅延画像SD1,2周期遅延画像SD2について、各画像の対応する画素の階調値に関して平均値を求めることにより得られる。ここでは、これをPI=(S+SD1+SD2)/3として表現することにする。なお、加算回路36Aおよび除算回路38Aは、被検査画像Sと1周期遅延画像SD1と2周期遅延画像SD2とを合成する合成手段として機能する。
【0023】
この参照画像PIは、単位パターンが繰り返し現れる画像となっており、それぞれの単位パターンが「理想パターン」である。被検査画像Sにノイズが含まれている場合であっても、複数(ここでは3つ)の単位パターンについての平均を求めることにより、被検査画像Sに含まれるノイズ成分の影響を(この場合は1/3に)軽減して、より理想的な画像信号を有するパターンを生成することができる。このように、ノイズの影響を低減させた理想パターンを用いて、次述の比較動作(ひいては欠陥検出動作)が行われるので、検出結果に対するノイズの影響を低減させて、安定した欠陥検出が可能になる。なお、この「理想パターン」は、あらかじめパターン検査に先立って与えられるものではなく、被検査画像Sから自動的に生成されるものである。
【0024】
そして、理想パターンを繰り返し含む画像である参照画像PIを用いて、比較判定部50Aによる欠陥に関する比較判定動作が行われる。比較判定部50Aは比較回路52Aを有しており、この比較回路52Aは、参照画像PIと1周期遅延画像SD1との比較動作を行うことにより、被検査画像Sの欠陥検査を行う。具体的には、まず、1周期遅延画像SD1と参照画像PIとの差分画像を求め、その差分画像の各階調値の絶対値をとる。そして、閾値THにより2値化を行い、閾値TH以上の値を有する部分を欠陥として検出することにより、欠陥に関する比較判定動作を行う。
【0025】
ここにおいて、この理想パターンは、空間的に隣接する3つの単位パターンについて、対応する画素の階調値の平均を求めたパターンに相当する。たとえば、図4に示すように、単位パターンPAの撮像時点から2周期遅延した時点においては、原画像S中の単位パターンPCと、1周期遅延画像SD1中の単位パターンPBと、2周期遅延画像SD2中の単位パターンPAとに関する画像信号が同時に得られることになり、参照画像PIはこれらの平均、すなわち(PC+PB+PA)/3として得られる。そして、この理想パターン(参照画像PI)と、同一時点において得られている1周期遅延画像SD1中の単位パターンPBとを比較することにより、上記の比較判定動作が行われ、この場合には、単位パターンPBに存在する欠陥DTが、閾値処理により欠陥として検出されている。
【0026】
すなわち、被検査画像S内の所定の単位パターン(たとえばPB)を被検査対象とする場合において、その単位パターン(PB)の近傍位置に存在する所定の単位パターン(ここでは空間的に隣接する3つの単位パターンPA,PB,PC)を用いて理想パターンを生成し、その理想パターンと被検査対象である単位パターン(PB)とを比較することにより所定の単位パターン(PB)の欠陥検出が行われていることに相当する。
【0027】
このように、各理想パターンは、被検査対象とする単位パターン(以下、「被検査単位パターン」とも称する)の近傍位置(ここでは隣接位置)に存在する所定の単位パターンを用いて生成されているので、被検査画像内の単位パターンが走査方向に徐々に変化する場合であっても、より理想的な理想パターンを生成することができる。たとえば、各単位パターン自体の大きさや各単位パターン内の所定の部分の大きさなどが走査方向に徐々に変化する(大きくなるまたは小さくなる)場合であっても、その変化の影響を最小限に抑制して、理想的なパターンを生成することが可能である。
【0028】
また、参照画像PIは、各瞬間に得られる、少なくとも1つの遅延画像と被検査画像とのうち少なくとも2つの画像(この場合は、原画像S,1周期遅延画像SD1,2周期遅延画像SD2の3つの画像)を合成してリアルタイムに生成される。そして、上記の比較判定動作は、各瞬間における1周期遅延画像SD1と参照画像PIとに対して随時行われ、上記の単位パターンPBの欠陥検出動作の次には単位パターンPC,PDに関する欠陥検出動作が順次に行われる。したがって、被検査画像Sに対して1周期ずつ遅れはするものの、被検査画像S内に含まれる各単位パターンに対する欠陥検出結果がリアルタイムで順次に生成される。すなわち、参照画像PIを所定の各瞬間において理想パターンとして用いることにより、パターン検査をリアルタイムに行うことができる。
【0029】
なお、上記においては、3つのパターンについて加算平均を算出することにより理想パターンを生成しているが、4つ以上のパターンについて加算平均を算出することにより理想パターンを生成してもよい。多くのパターンを用いて加算平均を算出して理想パターンを生成することにより、さらにノイズの影響を軽減させることができる。
【0030】
<第2実施形態>
上記第1実施形態においては、被検査対象となる単位パターンを含む隣接する3つの単位パターンを用いて理想パターンとしての参照画像PIを生成していたが、本発明はこれに限定されない。たとえば、被検査対象となるパターンの両側の単位パターンを用いて理想パターンとしての参照画像PIを生成してもよい。この第2実施形態においては、このような場合について説明する。
【0031】
第2実施形態のパターン検査装置1Bは、理想パターン生成部30B以外については、第1実施形態のパターン検査装置1Aと同様の構成を有しており、ここでは、相違点を中心に説明する。
【0032】
図5は理想パターン生成部30Bおよび比較判定部50Bの具体的構成を示す機能ブロック図であり、図6は具体的なパターン検査の各動作において得られる画像信号の概要を示す説明図である。
【0033】
理想パターン生成部30Bは、図5に示すように、1周期遅延回路31B,32B、加算回路36B、および除算回路38Bを有している。1周期遅延回路31Bは1周期遅延画像SD1を生成し、1周期遅延回路32Bは2周期遅延画像SD2を生成する。そして、加算回路36Bは、被検査画像Sと2周期遅延画像SD2とを加算し、除算回路38Bは加算回路36Bの加算結果を2で除する(割る)ことにより、参照画像PIを得る。すなわち参照画像PIは、各瞬間に得られる原画像S,2周期遅延画像SD2について、各画像の対応する画素の階調値に関して平均値を求めることにより得られる。ここでは、これをPI=(S+SD2)/2として表現することにする。なお、加算回路36Bおよび除算回路38Bは、被検査画像Sと2周期遅延画像SD2とを合成する合成手段として機能する。これにより、参照画像PIは、各瞬間に得られる、少なくとも1つの遅延画像と被検査画像とのうち少なくとも2つの画像(この場合は、被検査画像S,2周期遅延画像SD2の2つの画像)を合成してリアルタイムに生成されることになる。
【0034】
また、パターン検査装置1Bの比較判定部50Bは、比較回路52Bを有しており、この比較回路52Bは、参照画像PIと1周期遅延画像SD1との比較動作を行うことにより、被検査画像Sの欠陥検査を行う。
【0035】
ここにおいて、理想パターンには、被検査単位パターン自体の画像信号は含まれていないため、自己のデータを除外した客観的なデータに基づいて、理想パターンを生成することができる。そして、このような理想パターンに基づいて、各単位パターンに関する欠陥検査を行うので、検出結果に対するノイズの影響を低減させて、安定した欠陥検出が可能になる。
【0036】
<第3実施形態>
この第3実施形態においては、第1実施形態および第2実施形態のさらなる変形例を示す。ここでは、被検査対象となる単位パターンを含む隣接する3つの単位パターンのうち、値の近い2つの単位パターンを用いて理想パターンとしての参照画像PIを生成する場合について説明する。
【0037】
第3実施形態のパターン検査装置1Cは、理想パターン生成部30C以外については、第1実施形態のパターン検査装置1Aと同様の構成を有しており、ここでは、相違点を中心に説明する。
【0038】
図7は理想パターン生成部30Cおよび比較判定部50Cの具体的構成を示す機能ブロック図であり、図8は具体的なパターン検査の各動作において得られる画像信号の概要を示す説明図である。
【0039】
理想パターン生成部30Cは、図7に示すように、1周期遅延回路31C,32C、選択回路35C、加算回路36C、および除算回路38Cを有している。1周期遅延回路31Cは1周期遅延画像SD1を生成し、1周期遅延回路32Cは2周期遅延画像SD2を生成する。そして、選択回路35Cは、被検査画像S、1周期遅延画像SD1、および2周期遅延画像SD2の3つの画像のうち、値の近い2つの値を選択する。加算回路36Cは、選択回路35Cで選択された2つの画像信号を加算し、除算回路38Cは加算回路36Cの加算結果を2で除する(割る)ことにより、参照画像PIを得る。すなわち参照画像PIは、各瞬間に得られる原画像S,1周期遅延画像SD1、および2周期遅延画像SD2の3つの画像のうちの値の近い2つの画像について、各画像の対応する画素の階調値に関して平均値を求めることにより得られる。なお、選択回路35C、加算回路36Cおよび除算回路38Cは、被検査画像S、1周期遅延画像SD1、および2周期遅延画像SD2の3つの画像のうちの2つの画像を合成する合成手段として機能する。これにより、参照画像PIは、各瞬間に得られる、少なくとも1つの遅延画像と被検査画像とのうち少なくとも2つの画像(この場合は、被検査画像S、1周期遅延画像SD1、および2周期遅延画像SD2の3つの画像のうちの2つの画像)を合成してリアルタイムに生成されることになる。
【0040】
また、パターン検査装置1Cの比較判定部50Cは、比較回路52Cを有しており、この比較回路52Cは、参照画像PIと1周期遅延画像SD1との比較動作を行うことにより、被検査画像Sの欠陥検査を行う。
【0041】
ここにおいて、理想パターンは、値が近い2つの単位パターンの加算平均により得られており、値が離れた他の1つの単位パターンの画像信号は含まれていない。言い換えれば、確率的に最もノイズまたは欠陥である確率が大きいと考えられる部分を除外した2つの値に基づいて理想パターンが生成されている。そのため、理想パターンは、ノイズの影響を低減させたものとして得ることができる。そして、このような理想パターンに基づいて、各単位パターンに関する欠陥検査を行うので、検出結果に対するノイズの影響を低減させて、安定した欠陥検出が可能になる。
【0042】
<第4実施形態>
つぎに、第4実施形態について説明する。この第4実施形態は、第1実施形態の変形例である。上記第1実施形態においては、後述するように、欠陥DTの値が欠陥位置から単位周期だけ離れた位置において参照画像PIの生成に影響を与えるため、閾値THの設定値の大きさによっては、真欠陥以外をも欠陥として検出する誤検出を生じることがある。この第4実施形態によれば、このような誤検出を抑制することが可能である。
【0043】
第4実施形態のパターン検査装置1Dは、比較判定部50D以外については、第1実施形態のパターン検査装置1Aと同様の構成を有しており、ここでは、相違点を中心に説明する。
【0044】
図9は理想パターン生成部30Dおよび比較判定部50Dの具体的構成を示す機能ブロック図であり、図10は具体的なパターン検査の各動作において得られる画像信号の概要を示す説明図である。
【0045】
図9に示すように、比較判定部50Dは、比較回路51D,52D,53Dを有しており、各比較回路51D,52D,53Dは、それぞれ、被検査画像Sと参照画像PIとの比較,1周期遅延画像SD1と参照画像PIとの比較,2周期遅延画像SD2と参照画像PIとの比較を行う。なお、各比較回路51D,52D,53Dは、第1実施形態の比較回路52Aと同様の具体的構成を有しており、比較対象となる両画像信号の差分の絶対値を所定の閾値THにより2値化することにより比較結果を得ることができる。また、比較判定部50Dは、2周期遅延回路71D,1周期遅延回路72D、およびAND回路76Dを有している。2周期遅延回路71Dは、参照画像PIと被検査画像Sとの比較結果COMP1を2周期遅延させてAND回路76Dに入力する。同様に、1周期遅延回路72Dは、参照画像PIと1周期遅延画像SD1との比較結果COMP2を1周期遅延させてAND回路76Dに入力する。また、参照画像PIと2周期遅延画像SD2との比較結果COMP3は、遅延されることなくそのままAND回路76Dに入力される。そして、AND回路76Dは、これらの比較結果COMP1,COMP2,COMP3のAND(論理積)をとり検査結果として出力する。
【0046】
図10を参照しながら、この真欠陥位置の特定動作を説明する。図10においては、単位パターンPA,PB,PCなどの画像は示されていないが、図4と同様に、得られた被検査画像S,1周期遅延画像SD1,2周期遅延画像SD2などが示されている。図10の中央下寄りに示されている信号ABS(SD1−PI)は、図4の下から2段目に示されている信号ABS(SUB)と同一の信号を示す。なお、記号ABS()は、括弧内の絶対値を意味するものである。
【0047】
ここで、単位パターンPBにおける欠陥DTの値は、その欠陥DTの位置から単位周期だけ離れた位置における参照画像PIの生成に影響を与える。たとえば、参照画像PIを、1周期遅延画像SD1と、1周期遅延画像SD1に対して前後に1周期ずつずれた被検査画像Sと2周期遅延画像SD2とを加算平均することにより求める場合には、参照画像PIにおいて、1周期遅延画像SD1の単位パターンPBに対応する周期位置(図中左から3番目の位置)の前後の周期位置(図中左から2番目,4番目の位置)においても、欠陥DTの値の欠陥成分(正常値との差)の1/3程度が参照画像PIの対応部分に現れており、欠陥DTの値が参照画像PI内の破線A20で囲まれる3つの単位パターンに影響を与える。このように、欠陥DTは、欠陥位置の前後の周期における参照画像PIの生成においても影響を与える。
【0048】
上記第1実施形態においては、1周期遅延画像SD1と参照画像PIとの比較を行うことにより、単位パターンPBにおける欠陥を検出したが、これは、閾値THが適切な値であること、たとえば閾値THが所定値TPよりも大きい(TH>TP)ことが前提となる。ここで値TPは、適切な閾値THの下限値を示す。仮に閾値THが適切でない場合、たとえば、閾値TH=TH2<TPとなる場合には、単位パターンPA,PB,PCの全てにおいて欠陥が存在するとして判定してしまい、上記の真欠陥以外をも欠陥として検出することになる。
【0049】
この第4実施形態では、このような誤検出を防止するため、比較回路52Dに加えて、さらに比較回路51D,53Dを設ける。以下では、これらを用いて単位パターンPA,PB,PCにおける真欠陥を特定する動作を説明する。
【0050】
比較回路51Dは、被検査画像Sと参照画像PIとの差分の絶対値ABS(S−PI)を所定の閾値で2値化することにより両者を比較する。この比較においては、参照画像PI内の破線A10で囲まれた3つの理想パターンと、被検査画像S内の各単位パターンPA,PB,PCとがそれぞれ比較される。この被検査画像Sは1周期遅延画像SD1よりも1周期前の画像であり、各単位パターンPA,PB,PCの比較対象となる参照画像PI内の3つの理想パターンに対して、破線A20で囲まれた3つの理想パターンより1周期前の破線A10内の3つの理想パターンが対応する。この破線A10内の3つの理想パターンのうちの左端の理想パターンには、欠陥DTによる影響が及んでおらず、単位パターンPAについては欠陥DTの影響が及んでいない参照画像PIとの正確な比較結果を得ることができる。そのため、比較結果COMP1においては、PBおよびPCにのみ欠陥が存在するという判定結果が得られる。
【0051】
同様に、比較回路53Dは、2周期遅延画像SD2と参照画像PIとの差分の絶対値ABS(SD2−PI)を所定の閾値で2値化することにより両者を比較する。この比較においては、参照画像PI内の破線A30で囲まれた3つの理想パターンと、2周期遅延画像SD2内の各単位パターンPA,PB,PCとがそれぞれ比較される。この2周期遅延画像SD2は1周期遅延画像SD1よりも1周期遅れた(1周期後の)画像であり、各単位パターンPA,PB,PCの比較対象となる参照画像PI内の3つの理想パターンに対して、破線A20で囲まれた3つの理想パターンよりも1周期遅れた破線A30内の3つの理想パターンが対応する。この破線A30内の3つの理想パターンのうちの右端の理想パターンには、欠陥DTによる影響が及んでいないので、単位パターンPCについては欠陥DTの影響が及んでいない参照画像PIとの正確な比較結果を得ることができる。そのため、比較結果COMP3においては、単位パターンPAおよびPBにのみ欠陥が存在するという判定結果が得られる。
【0052】
そして、上記の比較回路51Dによる比較結果COMP1を2周期遅延し、比較回路52Dによる比較結果COMP2を1周期遅延し、さらに、比較回路53Dによる比較結果COMP3を遅延しない状態で、各比較結果を同期させてAND回路76Dに入力し、これらの比較結果の論理積をとり、各比較結果COMP1〜COMP3のいずれもが「1」である(欠陥である)場合に、真の欠陥であるとして検出する。また、この欠陥の検出結果は、被検査画像Sに対して2周期遅延されたタイミングで出力される。この場合は、単位パターンPBに存在する欠陥DTのみを真の欠陥とする検出結果が、被検査画像Sに対して2周期遅延されて(第3周期目に)得られる。なお、上記においては3つの単位パターンPA,PB,PCについて説明したが、同様に、被検査画像S内の連続する各パターンについての検出結果が順次にリアルタイムで出力される。
【0053】
この実施形態においても、ノイズの影響が軽減された理想パターンとの比較を行って2値化するので、検出結果に対するノイズの影響を低減させて、安定した欠陥検出が可能になる。さらに、比較判定部50Dは、比較回路51D,52D,53D、2周期遅延回路71D、1周期遅延回路72D、およびAND回路76Dを有し、これらが欠陥位置を特定する欠陥位置特定手段として機能するので、上述したような影響、すなわち、被検査画像に含まれる欠陥が理想パターン生成に与える影響を排除して、この影響に起因する誤検出を抑制することができる。
【0054】
<第5実施形態>
この第5実施形態も、第4実施形態と同様、第1実施形態の変形例であり、上述の誤検出を抑制することができる。第5実施形態のパターン検査装置1Eは、比較判定部50E以外については、第1実施形態のパターン検査装置1Aと同様の構成を有しており、ここでは、相違点を中心に説明する。
【0055】
図11は理想パターン生成部30Eおよび比較判定部50Eの具体的構成を示す機能ブロック図であり、図12は具体的なパターン検査の各動作において得られる画像信号の概要を示す説明図である。なお、図12においては、被検査画像S,1周期遅延画像SD1,2周期遅延画像SD2、参照画像PIが示されていないが、各画像S,SD1,SD2,PIは、図10(図4)と同様である。
【0056】
図11に示すように、比較判定部50Eは、差分絶対値算出回路80E、1周期遅延回路81E、2周期遅延回路82E、最大値選択部83E、コンパレータ84E、AND回路85E、および2値化回路86Eを有している。
【0057】
差分絶対値算出回路80Eは、1周期遅延画像SD1と参照画像PIとの差分の絶対値を信号AS(図12最上段)として出力する。また、1周期遅延回路81Eは、信号ASを1周期遅延させた信号ASD1を生成し、2周期遅延回路82Eは、信号ASを2周期遅延させた信号ASD2を生成する。そして、最大値選択部83Eは、信号ASと信号ASD1と信号ASD2との3つの値のうち各瞬間(各位置)における最大値を選択して信号MAXを生成する。さらに、コンパレータ84Eは、信号MAXと信号ASD1とを比較し、両信号が等価(同一値)である場合に「真」、等価でない場合に「偽」とする信号EQUを出力する。
【0058】
これらの処理により、基準となる信号ASD1とその前後に1周期ずつずれた信号AS,ASD2の3つの信号の中で、基準となる信号ASD1の信号値が最も大きい場合(たとえば図12中の波線で囲まれた領域)においてのみ、信号EQUの値が「真」となる。したがって、欠陥が存在する単位パターンと参照画像PIの理想パターンとの比較結果が前後の周期の単位パターンと参照画像PIの理想パターンとの比較結果に現れる値に比べて大きな値を有しているという性質に基づき、欠陥である可能性が高い位置を特定することができる。ここにおいて、基準として用いられている信号ASD1は、被検査画像Sに対して1周期遅延された信号ASに対してさらに1周期遅延された信号、すなわち、被検査画像Sに対して2周期遅延された信号である。したがって、検出結果は、被検査画像Sに対して2周期遅延されたタイミングで出力される。
【0059】
最後に、AND回路85Eは、(2値信号の論理積をとるのではなく、)信号ASD1を信号EQUでマスクする処理を行い、信号ASD1のうち信号EQUが「真」である部分のみ、すなわち欠陥である可能性が高い部分のみの階調値を抽出する。そして、2値化回路86Eにより、閾値THにより2値化を行い、閾値TH以上の値を有する部分を欠陥として検出することにより、欠陥に関する比較判定動作を行う。
【0060】
この実施形態においても、ノイズの影響が軽減された理想パターンとの比較を行うので、検出結果に対するノイズの影響を低減させて、安定した欠陥検出が可能になる。さらに、比較判定部50Eは、差分絶対値算出回路80E、1周期遅延回路81E、2周期遅延回路82E、最大値選択部83E、コンパレータ84E、AND回路85E、および2値化回路86Eを有し、これらが欠陥位置を特定する欠陥位置特定手段として機能するので、上述したような影響、すなわち、被検査画像に含まれる欠陥が理想パターン生成に与える影響を排除して、この影響に起因する誤検出を抑制することができる。
【0061】
<第6実施形態>
つぎに、第6実施形態について説明する。この第6実施形態は、第2実施形態の変形例である。上述のような誤検出は、第2実施形態に関しても生じる可能性が存在するが、この第6実施形態のパターン検査装置1Fによれば、そのような誤検出を抑制することができる。第6実施形態のパターン検査装置1Fは、比較判定部50F以外については、第2実施形態のパターン検査装置1Bと同様の構成を有しており、ここでは、相違点を中心に説明する。
【0062】
図13は理想パターン生成部30Fおよび比較判定部50Fの具体的構成を示す機能ブロック図であり、図14は具体的なパターン検査の各動作において得られる画像信号の概要を示す説明図である。なお、図14においては、被検査画像S,1周期遅延画像SD1,2周期遅延画像SD2、参照画像PIが示されていないが、各画像S,SD1,SD2,PIは、図6と同様である。
【0063】
図13に示すように、比較判定部50Fは、差分回路91F,92F,93Fと加算回路94F,95Fと、絶対値算出回路96F,97Fと2値化回路98F,99FとAND回路76Fとを有している。
【0064】
差分回路93Fは、被検査画像Sと参照画像PIとの差分を算出して、信号SUB3(=S−PI)を出力する。なお、記号SUB()は、括弧内の差分を意味する。同様に、差分回路92Fは1周期遅延画像SD1と参照画像PIとの差分を算出して信号SUB2(=SD1−PI)を出力し、差分回路91Fは2周期遅延画像SD2と参照画像PIとの差分を算出して信号SUB1(=SD2−PI)を出力する。また、加算回路94Fは信号SUB1,SUB2を加算して信号ADD1を出力し、加算回路95Fは信号SUB3,SUB2を加算して信号ADD2を出力する。そして、絶対値算出回路96F,97Fは、それぞれ、信号ADD1の絶対値,信号ADD2の絶対値を出力し、2値化回路98F,99Fは、出力された各絶対値信号を所定の閾値によって2値化して各信号THD1,THD2をする。さらに、AND回路76Fは、これらの2値化された両信号THD1,THD2のAND(論理積)をとることにより検査結果を出力する。そして、このような処理において、2つの比較結果である信号THD1,THD2を用いて、両者がともに「1」である部分を真の欠陥である部分として検出することができる。
【0065】
この実施形態においても、ノイズの影響が軽減された理想パターンとの比較を行うので、検出結果に対するノイズの影響を低減させて、安定した欠陥検出が可能になる。さらに、比較判定部50Fは、差分回路91F,92F,93Fと加算回路94F,95Fと、絶対値算出回路96F,97Fと2値化回路98F,99FとAND回路76Fとを有し、これらが欠陥位置を特定する欠陥位置特定手段として機能するので、上述したような影響、すなわち、被検査画像に含まれる欠陥が理想パターン生成に与える影響を排除して、この影響に起因する誤検出を抑制することができる。
【0066】
<第7実施形態>
第1実施形態ないし第6実施形態においては、周期的な繰り返しパターンを有する被検査画像Sの欠陥検査について説明した。ここにおいて、被検査画像Sがn個の単位パターンの繰り返しにより構成されている場合には、第2周期目以降第(n−1)周期目までの単位パターンについては、上述の技術により単位パターン内の欠陥検査を行うことが可能である。しかしながら、第1周期目の単位パターンおよび第n周期目の単位パターン(言い換えれば、被検査画像Sの端部の単位パターン)については、理想パターンを生成するための所定の相対的位置関係にある単位パターンが存在しないため、上記の技術では、理想パターンを生成することができず、欠陥検査を行うことができない。
【0067】
この第7実施形態では、このような場合、すなわち、理想パターンを生成するための所定の相対的位置関係にある単位パターンが存在しない場合にあっても、異なる単位パターンを代用して理想パターンを生成し欠陥検出を行うこと(具体的には、参照画像R内の異なる周期位置に存在する理想パターンを用いて欠陥検出を行うこと)により、被検査画像S内の全ての単位パターンに関する欠陥検出動作を行う場合について説明する。
【0068】
第7実施形態のパターン検査装置1Gは、比較判定部50G以外については、第3実施形態のパターン検査装置1C(図7)と同様の構成を有しており、ここでは、相違点を中心に説明する。
【0069】
図15は理想パターン生成部30Gおよび比較判定部50Gの具体的構成を示す機能ブロック図であり、図16および図17は具体的なパターン検査の各動作において得られる画像信号の概要を示す説明図である。
【0070】
図15に示すように、理想パターン生成部30Gは、理想パターン生成部30C(図7)と同様の構成を有する。ただし、図15においては、簡略化のため、図7の選択回路35C、加算回路36C、除算回路38Cに相当する複数の回路をまとめて参照画像作成回路40Gとして表記している。
【0071】
また、比較判定部50Gは、比較回路52Gに加えて、比較回路51G,53G、2周期遅延回路71G、1周期遅延回路72G、およびセレクタ77Gを有している。
【0072】
比較回路51Gは、被検査画像Sと参照画像R(上記PIと同一)との比較結果を表す信号C0(=S−R)を出力し、2周期遅延回路71Gは、信号C0を2周期遅延させて信号C0Dを生成してセレクタ77Gへと出力する。また、比較回路52Gは、1周期遅延画像O1(上記SD1と同一)と参照画像Rとの比較結果を表す信号C1(=O1−R)を出力し、1周期遅延回路72Gは、信号C1を1周期遅延させて信号C1Dを生成してセレクタ77Gへと出力する。さらに、比較回路53Gは、2周期遅延画像O2(上記SD2と同一)と参照画像Rとの比較結果を表す信号C2(=O2−R)をそのままセレクタ77Gへと出力する。そして、セレクタ77Gは、被検査画像Sの最初の単位パターン撮像時点に対して2周期遅延した周期(すなわち第3周期目)においては信号C2を選択し、3周期遅延した周期(すなわち第4周期目)からn周期遅延した周期(すなわち第(n+1)周期目)までは信号C1Dを選択し、(n+1)周期遅延した周期(すなわち第(n+2)周期目)においては信号C0Dを選択する。これにより、被検査画像Sの欠陥検出結果を連続的にリアルタイムで得ることが可能になる。
【0073】
ここで、図16および図17を参照しながら、動作原理について説明する。なお、図16および図17の最上段の番号は、周期性を有する各信号の周期番号(周期No.)を表記している。
【0074】
図16には、被検査画像S、1周期遅延画像O1、2周期遅延画像O2、および参照画像Rが示されている。この参照画像Rは、被検査画像Sと1周期遅延画像O1と2周期遅延画像O2との3つの画像を用いて作成されており、参照画像Rの第3周期目から第n周期目において、有効な参照画像Rが作成されている。
【0075】
つぎに、図17をも参照しながら、説明を続ける。まず、被検査画像Sの第2周期目から第(n−1)周期目までの各単位パターンは、被検査画像Sを1周期遅延させた1周期遅延画像O1においては、第3周期目から第n周期目までの各単位パターン(破線B10で囲まれた部分)に対応し、参照画像R内においてもこれに対応する周期位置に有効な理想パターン(破線B11で囲まれた部分)が存在するので、両者の比較結果である信号C1の対応する部分(破線B12で囲まれた部分)は有効な検出結果となる。セレクタ77Gは、この信号C1内の有効な単位パターン(破線B12で囲まれた部分)をさらに1周期遅延させた信号C1Dの対応する部分(破線B13で囲まれた部分)、すなわち、信号C1Dの第4周期目から第(n+1)周期目までに現れる検出結果を欠陥の検出結果として選択して出力する。このように、被検査画像Sの第2周期目から第(n−1)周期目までの各単位パターンについての欠陥検出結果は、被検査画像Sに対して2周期遅延されて、信号C1Dの第4周期目から第(n+1)周期目までに現れ、この検出結果がセレクタ77Gによって選択出力される。
【0076】
一方、被検査画像Sの第1周期目(最初の周期)の単位パターンは、1周期遅延画像O1において第2周期目の単位パターンに対応するが、参照画像R内においてはこの第2周期目の周期位置には有効な理想パターンが存在しない。参照画像Rの第2周期目においては、2周期遅延画像O2が、無効な値を有する無効データとなっているため、2周期遅延画像O2の2周期目に所定の単位パターンが存在しないことになり、参照画像Rの第2周期目において有効な理想パターンを生成することができないからである。したがって、上述と同様の方法では、欠陥検出を行うことができない。
【0077】
そこで、被検査画像Sの第1周期目(最初の周期)の単位パターンの欠陥検査にあたって、本来は被検査画像Sの第2周期目の欠陥検出のために用いる単位パターン(すなわち参照画像Rの第3周期目の単位パターン)を用いて比較検出動作を行う。そのため、2周期遅延画像O2の第3周期目の単位パターンと参照画像Rの第3周期目の単位パターンとの比較動作の結果を表す信号C2を求める。この2周期遅延画像O2の第3周期目の単位パターンは、被検査画像Sの第1周期目の単位パターンに対応するものであるので、この部分の信号C2を被検査画像Sの第1周期目に関する欠陥検出結果として選択することができる。この選択は、セレクタ77Gにより行われる。これにより、図示のように被検査画像Sの第1周期目に欠陥が存在する場合であっても、その欠陥を検出することができる。
【0078】
同様に、被検査画像Sの第n周期目(最後の周期)の単位パターンは、1周期遅延画像O1において第(n+1)周期目の単位パターンに対応するが、参照画像R内においてはこの第(n+1)周期目の周期位置には有効な理想パターンが存在しない。そこで、本来は被検査画像Sの第(n−1)周期目の欠陥検出のために用いる単位パターン(すなわち参照画像Rの第n周期目の単位パターン)を用いて、被検査画像Sの第n周期目の単位パターンとの比較検出動作を行う。そのため、被検査画像Sの第n周期目の単位パターンと参照画像Rの第n周期目の単位パターンとの比較動作の結果を表す信号C0を求める。そして、セレクタ77Gは、この信号C0を2周期遅延させた信号C0Dの第(n+2)周期目の単位パターンを被検査画像Sの第n周期目に関する欠陥検出結果として選択して出力する。これにより、図示のように被検査画像Sの第n周期目(最後の周期)に欠陥が存在する場合であっても、その欠陥を検出することができる。
【0079】
このように、被検査画像Sの第1周期目(最初の周期)および第n周期目(最後の周期)の単位パターンの欠陥検出において、所定の相対的位置関係にある単位パターンが存在しないためにその比較検出動作に必要な理想パターンが生成できない場合であっても、異なる周期位置の単位パターンに関する欠陥を検出するための理想パターン(すなわち、第2周期目および第(n−1)周期目の単位パターンの欠陥検出のための理想パターン)に基づいて、比較検出動作を行うことができるので、被検査画像S内の全ての単位パターンについて欠陥検査を行うことができる。なお、ここでは、異なる周期位置に存在する単位パターンの欠陥検出のための理想パターンをそのまま利用して比較検出動作を行っているが、所定の単位パターンとは異なる単位パターンを用いて別個の理想パターンを新たに生成し、その生成された理想パターンを利用して比較検出動作を行ってもよい。このことは、一般的には、理想パターンを生成するための所定の相対的位置関係にある単位パターンが存在しない場合には、当該所定の相対的位置関係にある単位パターンとは異なる単位パターンを用いて理想パターンを生成し、その理想パターンに基づいて比較動作を行うことにより欠陥検査を行うものとして表現することができる。この第7実施形態においても、被検査画像Sの第1周期目(最初の周期)および第n周期目(最後の周期)の単位パターンの欠陥検出のために用いられる理想パターンは、所定の相対的位置関係にある単位パターン(すなわち被検査単位パターンおよびその前後に隣接する合計3つの単位パターン)とは異なる単位パターンに基づいて生成された理想パターンであるとも理解される。
【0080】
<第8実施形態>
第8実施形態は、第7実施形態の変形例である。第7実施形態においては、被検査画像S内の各パターンと参照画像R内の理想パターンとの比較を行う際に、参照画像Rの所定の1つの理想パターンと被検査画像S内の1つのパターンとを比較していたが、この第8実施形態においては、参照画像Rの異なる位置に存在する所定の2つの理想パターンと被検査画像S内の1つのパターンとを比較する場合について説明する。より具体的には、この第8実施形態においては、n個の繰り返し単位パターンを有する被検査画像S内の異なる位置に存在する複数(3個)の単位パターンの組合せに基づいて複数((n−2)個)の理想パターンを生成し、そのうち少なくとも2つ(ここでは2つ)の異なる理想パターンのそれぞれと被検査画像に含まれる各単位パターンとを比較した複数の比較結果を用いて各単位パターンの欠陥を判定する。さらに具体的には、参照画像内の隣接する2つの理想パターンと被検査画像S内の所定の被検査対象パターンとのそれぞれの比較結果を用いて欠陥検出を行う。これによれば、被検査画像S内に含まれるノイズの影響をさらに低減することができる。
【0081】
また、この第8実施形態では、第7実施形態と同様、理想パターンを生成するための所定の相対的位置関係にある単位パターンが存在しない場合に、異なる単位パターンを用いて理想パターンを生成し欠陥検出を行うこと(具体的には、参照画像R内の異なる周期位置に存在する理想パターンを用いて欠陥検出を行うこと)について説明する。
【0082】
第8実施形態のパターン検査装置1Hは、理想パターン生成部30Hおよび比較判定部50H以外については、第7実施形態のパターン検査装置1G(図15)と同様の構成を有しており、ここでは、相違点を中心に説明する。
【0083】
図18は、理想パターン生成部30Gおよび比較判定部50Gの具体的構成を示す機能ブロック図であり、図19および図20は具体的なパターン検査の各動作において得られる画像信号の概要を示す説明図である。
【0084】
図18に示すように、理想パターン生成部30Hは、1周期遅延回路31H,32H,33H,34H、および参照画像作成回路40Hを有している。
【0085】
1周期遅延回路31Hは、被検査画像Sを1周期遅延させた1周期遅延画像O1を生成し、1周期遅延回路32Hは、その1周期遅延画像O1をさらに1周期遅延させた2周期遅延画像O2を生成する。同様に、1周期遅延回路33Hは、2周期遅延画像O2をさらに1周期遅延させた3周期遅延画像O3を生成し、1周期遅延回路34Hは、その3周期遅延画像O1をさらに1周期遅延させた4周期遅延画像O4を生成する。そして、参照画像作成回路40Hは、これらのうち1周期遅延画像O1と2周期遅延画像O2と3周期遅延画像O3とに基づいて、参照画像R(上記PIと同一)を生成する。この参照画像作成回路40Hは、具体的には、第3実施形態などと同様の構成を有する。
【0086】
また、比較判定部50Hは、比較回路51H,52H,53H,54H,55H、1周期遅延回路56H,57H,58H,59H、AND回路61H,62H,63H,64H、3周期遅延回路66H、2周期遅延回路67H、1周期遅延回路68H、およびセレクタ69Hを有する。
【0087】
比較回路51Hは、被検査画像Sと参照画像Rとの比較結果を算出して信号C0(=S−R)を出力し、比較回路52Hは、1周期遅延画像O1と参照画像Rとの比較結果を表す信号C1(=O1−R)を出力する。同様に、比較回路53Hは、2周期遅延画像O2と参照画像Rとの比較結果を算出して信号C2(=O2−R)を出力し、比較回路54Hは、3周期遅延画像O3と参照画像Rとの比較結果を表す信号C3(=O3−R)を出力し、比較回路55Hは、4周期遅延画像O4と参照画像Rとの比較結果を表す信号C4(=O4−R)を出力する。
【0088】
また、1周期遅延回路56Hは、信号C0を1周期遅延させて信号C0Dを生成し、AND回路61Hは、この信号C0Dと信号C1とのAND(論理積)を求めて信号A0として出力する。3周期遅延回路66Hは、この信号A0を3周期遅延させて信号A0Dを生成して、セレクタ69Hに対して出力する。
【0089】
同様に、1周期遅延回路57Hは、信号C1を1周期遅延させて信号C1Dを生成し、AND回路62Hは、この信号C1Dと信号C2とのAND(論理積)を求めて信号A1として出力する。2周期遅延回路67Hは、この信号A1を2周期遅延させて信号A1Dを生成して、セレクタ69Hに対して出力する。
【0090】
さらに、1周期遅延回路58Hは、信号C2を1周期遅延させて信号C2Dを生成し、AND回路63Hは、この信号C2Dと信号C3とのAND(論理積)を求めて信号A2として出力する。1周期遅延回路68Hは、この信号A2を1周期遅延させて信号A2Dを生成して、セレクタ69Hに対して出力する。
【0091】
また、1周期遅延回路59Hは、信号C3を1周期遅延させて信号C3Dを生成し、AND回路64Hは、この信号C3Dと信号C4とのAND(論理積)を求めて信号A3とし、そのままセレクタ69Hに対して出力する。
【0092】
そして、セレクタ69Hは、被検査画像Sの最初の単位パターン撮像時点に対して4周期遅延した周期、すなわち第5周期目においては信号A3を選択し、第6周期目から第(n+2)周期目までは信号A2Dを選択し、第(n+3)周期目においては信号A1Dを選択し、第(n+4)周期目においては信号A0Dを選択する。これにより、被検査画像Sの欠陥検出結果を連続的にリアルタイムで得ることが可能になる。
【0093】
つぎに、検出原理について、図19および図20を参照しながら説明する。図19には、被検査画像S、1周期遅延画像O1、2周期遅延画像O2、3周期遅延画像O3、4周期遅延画像O4、および参照画像Rが示されている。この参照画像Rは、1周期遅延画像O1と2周期遅延画像O2と3周期遅延画像O3との3つの画像を用いて作成されており、参照画像Rの第4周期目から第(n+1)周期目において、有効な参照画像Rが作成されている。
【0094】
ここにおいて、たとえば、被検査画像Sの第2周期目のパターンU(2)の欠陥検出を行うにあたっては、参照画像Rの第5周期目の理想パターンR(5)と3周期遅延画像O3の第5周期目のパターンU(2)とを比較した結果C3と、参照画像Rの第4周期目の理想パターンR(4)と2周期遅延画像O2の第4周期目のパターンU(2)とを比較した結果である信号C2とを求め、さらに信号C2を1周期遅延させた信号C2Dと上記結果C3とを同期させてAND回路63Hに入力し、その比較判定結果である信号A2を結果として得ることができる。ただし、ここでは、他の信号との同期をとるため、信号A2を1周期遅延させた信号A2Dを検出結果としている。
【0095】
このように、本実施形態においては、被検査画像S内の1つの単位パターンの欠陥検出にあたって、参照画像R内の異なる2つ以上の理想パターンを用いて比較判定動作を行うことにより、ノイズの影響を低減することができる。以下では、上記のような動作などについて、図20を参照しながら、さらに詳しく説明する。なお、図20の最上段の番号は、周期性を有する各信号の周期番号(周期No.)を表記している。図20では、n=6の場合について例示しており、記号▲1▼〜▲4▼の欠陥が図示の位置に存在するものとしている。
【0096】
最初に、被検査画像Sの第2周期目から第(n−2)周期目までの各単位パターンに関する欠陥検査について説明する。これは、2つの比較結果の信号C2,C3、すなわち、2周期遅延画像O2と参照画像Rとの比較結果を表す信号C2と、3周期遅延画像O3と参照画像Rとの比較結果を表す信号C3とを用いて行う。
【0097】
ここにおいて、被検査画像Sの第2周期目から第4(=n−2)周期目は、3周期遅延画像O3の第5周期目から第7周期目に相当する。また、参照画像Rの第5周期目から第7周期目は、有効なデータとして得られており、3周期遅延画像O3と参照画像Rとの比較結果である信号C3も第5周期目から第7周期目において有効な値となる。同様に、被検査画像Sの第2周期目から第4周期目は、2周期遅延画像O2の第4周期目から第6周期目に相当する。また、参照画像Rの第4周期目から第6周期目は、有効なデータとして得られており、2周期遅延画像O2と参照画像Rとの比較結果である信号C2も第4周期目から第6周期目において有効な値となる。
【0098】
そして、信号C2を1周期遅延させて信号C2Dを生成することにより、信号C3と同期させて、AND回路63Hによりアンド動作を行い信号A2を得る。これにより、被検査画像Sの第2周期目から第4周期目の各パターンについて、参照画像Rの異なる位置に存在する2つの理想パターンを用いて比較動作を行うことになる。ここで、被検査画像Sの第2周期目のパターンU(2)について考えると、参照画像Rの異なる2つの理想パターン(第4周期目および第5周期目の理想パターンR(4),R(5))を用いて比較動作を行うことになる。したがって、異なる理想パターンを用いることにより誤検出を抑制し、ノイズの影響を低減することができる。
【0099】
一方、被検査画像Sの第1周期目(最初の周期)の単位パターンは、第2周期遅延画像O2において第3周期目の単位パターンに対応するが、参照画像R内においてはこの第3周期目の周期位置には有効な理想パターンが存在しない。参照画像Rの第3周期目においては、3周期遅延画像O3が、無効な値を有する無効データとなっているためである。
【0100】
そこで、本来は被検査画像Sの第2周期目の欠陥検出のために用いる参照画像R内の異なる2つの理想パターン(すなわち参照画像Rの第4周期目,第5周期目の単位パターンU(4),U(5))を用いて、被検査画像Sの第1周期目の単位パターンとの比較検出動作を行う。ここでは、2つの比較結果の信号C3,C4、すなわち、3周期遅延画像O3と参照画像Rとの比較結果を表す信号C3と、4周期遅延画像O4と参照画像Rとの比較結果を表す信号C4とを用いて比較動作を行う。
【0101】
ここにおいて、被検査画像Sの第1周期目は、4周期遅延画像O4の第5周期目に相当する。また、参照画像Rの第5周期目は、有効なデータとして得られており、4周期遅延画像O4と参照画像Rとの比較結果である信号C4も第5周期目において有効な値となる。したがって、第5周期目において、4周期遅延画像O4と参照画像Rとを比較して、比較結果の信号C4を得ることにより、被検査画像Sの1周期目のパターンを理想パターンと比較することができる。同様に、被検査画像Sの第1周期目は、3周期遅延画像O3の第4周期目に相当する。また、参照画像Rの第4周期目は、有効なデータとして得られており、3周期遅延画像O3と参照画像Rとの比較結果である信号C3も第4周期目において有効な値となる。したがって、第4周期目において、3周期遅延画像O3と参照画像Rとを比較して、比較結果の信号C3を得ることにより、被検査画像Sの1周期目のパターンを理想パターンと比較することができる。そして、この信号C3を1周期遅延させて信号C3Dを生成して信号C4と同期させてAND回路64Hによりアンド動作を行うことにより、信号A3を得る。これにより、被検査画像Sの第1周期目のパターンU(1)について、参照画像Rの異なる位置に存在する2つの理想パターン(第4周期目および第5周期目の理想パターンR(4),R(5))を用いて比較動作を行うことができる。
【0102】
また、被検査画像Sの第5(=n−1)周期目(最後から2つめの周期)の単位パターンは、第3周期遅延画像O3において第8(=n+2)周期目の単位パターンに対応するが、参照画像R内においてはこの第8周期目の周期位置には有効な理想パターンが存在しない。参照画像Rの第8周期目においては、1周期遅延画像O1が、無効な値を有する無効データとなっているためである。
【0103】
そこで、本来は被検査画像Sの第4周期目の欠陥検出のために用いる参照画像R内の異なる2つの理想パターン(すなわち参照画像Rの第6周期目,第7周期目の単位パターンU(6),U(7))を用いて、被検査画像Sの第5周期目の単位パターンとの比較検出動作を行う。ここでは、2つの比較結果の信号C1,C2、すなわち、1周期遅延画像O1と参照画像Rとの比較結果を表す信号C1と、2周期遅延画像O2と参照画像Rとの比較結果を表す信号C2とを用いて比較動作を行う。
【0104】
ここにおいて、被検査画像Sの第5周期目は、2周期遅延画像O2の第7周期目に相当する。また、参照画像Rの第7周期目は、有効なデータとして得られており、2周期遅延画像O2と参照画像Rとの比較結果である信号C2も第7周期目において有効な値となる。したがって、第7周期目において、2周期遅延画像O2と参照画像Rとを比較して、比較結果の信号C2を得ることにより、被検査画像Sの5周期目のパターンを理想パターンと比較することができる。同様に、被検査画像Sの第5周期目は、1周期遅延画像O1の第6周期目に相当する。また、参照画像Rの第6周期目は、有効なデータとして得られており、1周期遅延画像O1と参照画像Rとの比較結果である信号C1も第6周期目において有効な値となる。したがって、第6周期目において、1周期遅延画像O1と参照画像Rとを比較して、比較結果の信号C1を得ることにより、被検査画像Sの5周期目のパターンを理想パターンと比較することができる。そして、信号C1を1周期遅延させて信号C1Dを生成することにより、信号C2と同期させて、AND回路62Hによりアンド動作を行い信号A1を得る。これにより、被検査画像Sの第5周期目のパターンU(5)について、参照画像Rの異なる位置に存在する2つの理想パターン(第6周期目および第7周期目の理想パターンR(6),R(7))を用いて比較動作を行うことになる。なお、ここでは、他の信号との同期をとるため、信号A1を2周期遅延させた信号A1Dを検出結果としている。
【0105】
さらに、被検査画像Sの第6(=n)周期目(最後の周期)の単位パターンは、第3周期遅延画像O3において第9(=n+3)周期目の単位パターンに対応するが、参照画像R内においてはこの第9周期目の周期位置には有効な理想パターンが存在しない。参照画像Rの第9周期目においては、1周期遅延画像O1が、無効な値を有する無効データとなっているためである。
【0106】
そこで、本来は被検査画像Sの第4周期目の欠陥検出のために用いる参照画像R内の異なる2つの理想パターン(すなわち参照画像Rの第6周期目,第7周期目の単位パターンU(6),U(7))を用いて、被検査画像Sの第6周期目の単位パターンとの比較検出動作を行う。ここでは、2つの比較結果である信号C0,C1、すなわち、被検査画像Sと参照画像Rとの比較結果を表す信号C0と、1周期遅延画像O1と参照画像Rとの比較結果を表す信号C1とを用いて比較動作を行う。
【0107】
ここにおいて、被検査画像Sの第6周期目は、1周期遅延画像O1の第7周期目に相当する。また、参照画像Rの第7周期目は、有効なデータとして得られており、1周期遅延画像O1と参照画像Rとの比較結果である信号C1も第7周期目において有効な値となる。したがって、第7周期目において、1周期遅延画像O1と参照画像Rとを比較して、比較結果の信号C1を得ることにより、被検査画像Sの6周期目のパターンを理想パターンと比較することができる。同様に、参照画像Rの第6周期目は、有効なデータとして得られており、被検査画像Sと参照画像Rとの比較結果である信号C0も第6周期目において有効な値となる。したがって、第6周期目において、被検査画像Sと参照画像Rとを比較して、比較結果の信号C0を得ることにより、被検査画像Sの6周期目のパターンを理想パターンと比較することができる。そして、信号C0を1周期遅延させて信号C0Dを生成して信号C1と同期させて、AND回路61Hにより信号C0Dと信号C1とのアンド動作を行い信号A0を得る。これにより、被検査画像Sの第6周期目のパターンU(6)について、参照画像Rの異なる位置に存在する2つの理想パターン(第6周期目および第7周期目の理想パターンR(6),R(7))を用いて比較動作を行うことになる。なお、ここでは、他の信号との同期をとるため、信号A0を3周期遅延させた信号A0Dを検出結果としている。
【0108】
さらに、上述したように、セレクタ69Hによって、上記の検出結果を表す信号A0D,A1D,A2D,A3のうちのいずれかの信号が選択される。すなわち、セレクタ69Hは、被検査画像Sの最初の単位パターン撮像時点に対して4周期遅延した周期、すなわち第5周期目においては信号A3を選択し、第6周期目から第8(=n+2)周期目までは信号A2Dを選択し、第9(=n+3)周期目においては信号A1Dを選択し、第10(=n+4)周期目においては信号A0Dを選択する。これにより、被検査画像Sに含まれるn個の各単位パターンに関する欠陥検出結果を順次連続的にリアルタイムで得ることが可能になる。特に、被検査画像Sの第1周期目(最初の周期)、第(n−1)周期目(最後から2つめの周期)、および第n周期目(最後の周期)の単位パターンの欠陥検出において、その理想パターンを生成するための所定の相対的位置関係にある単位パターンが存在しない場合にあっても、当該所定の相対的位置関係にある単位パターンとは異なる単位パターンを用いて理想パターンを生成し、その理想パターンに基づいて比較動作を行うことにより欠陥検査を行っているので、被検査画像S内の全ての単位パターンについて欠陥検査を行うことができる。
【0109】
ここで、図20においては、被検査画像Sの第1周期目と第4周期目とにノイズを含む場合を示している。また、図21は、第7実施形態のパターン検査装置1Gによる処理結果を示す図であり、図20と同様の位置においてノイズを含む場合を示している。ノイズを含む場合には、ノイズの大きさや、比較動作における閾値の設定値によっては誤検出を伴うことになる。両図20,21においては、ノイズによる誤検出を黒色部分(黒色で塗りつぶした部分)で示している。なお、これらの図では、説明を行う上での便宜上、ノイズによる誤検出が頻繁に発生している場合を想定して示している。
【0110】
図20および図21を比較すると判るように、図21の検査結果においては、被検査画像Sの第1,2,4,6周期目の単位パターンの検出結果に対応する第3,4,6,8周期目において合計4つの誤検出を伴っている。一方、図20に検査結果においては、被検査画像Sの第1,4,6周期目の単位パターンの検出結果に対応する第5,8,10周期目において合計3つの誤検出を伴っている。すなわち、図20に示す場合には、図21に示す場合よりも、1つ誤検出が減っている。
【0111】
このように、第8実施形態のパターン検査装置1Hによれば、被検査画像Sに含まれる異なる複数(3つ)の単位パターンの組合せに基づいて生成された複数の理想パターンの中から、参照画像Rに含まれる少なくとも2つの異なる理想パターンを選択し、選択された少なくとも理想パターンのそれぞれと被検査画像に含まれる単位パターンとを比較した複数の比較結果を用いて欠陥を判定するので、同等のノイズが被検査画像S内に含まれている場合であっても、第7実施形態のパターン検査装置1Gに比べて、誤検出を抑制してノイズの影響を低減させることができることが判る。
【0112】
<その他>
上記第7実施形態および第8実施形態においては、参照画像Rを生成する参照画像作成回路40Gおよび40Hは、第3実施形態と同様の構成を有するものとしたが、これに限定されず、第1実施形態または第2実施形態などと同様の構成を有していてもよい。これらによって生成される参照画像Rを用いて、上記と同様の欠陥検出動作を行うことができる。
【0113】
また、上記各実施形態では、半導体ウエハ上の単位パターンとして「ダイ」が繰り返し配列されている場合について説明したが、これに限定されず、「ダイ」内部のさらに小さな単位パターンを「単位パターン」としてもよい。
【0114】
さらに、上記各実施形態においては、検査対象物として半導体ウエハを例示したが、これに限定されず、繰り返しパターンを有するものであればよく、たとえば、カラーフィルター、シャドウマスク、プリント配線板などであってもよい。
【0115】
【発明の効果】
以上のように、請求項1ないし請求項8に記載のパターン検査装置によれば、被検査画像を入力する被検査画像入力手段と、被検査画像に含まれる複数の単位パターンに基づいて理想パターンを生成する理想パターン生成手段と、生成された理想パターンと被検査画像に含まれる単位パターンとを比較した比較結果を用いて、被検査画像中の単位パターンの欠陥を判定する比較判定手段とを備えるので、ノイズの影響が軽減された理想パターンを自動的に生成し、生成された理想パターンとの比較を行って欠陥検出を行うことにより、検出結果に対するノイズの影響を低減させて安定した欠陥検出が可能になる。
また、理想パターンを生成するための所定の相対的位置関係にある単位パターンが存在しない場合であっても、被検査画像中に実在する他の単位パターンを代用して理想パターンを生成するので、被検査画像内の全ての単位パターンについて欠陥検査を行うことができる。
【0116】
特に、請求項4に記載のパターン検査装置によれば、被検査単位パターンに対して隣接する単位パターンを使用して理想パターンを生成するので、被検査画像内の単位パターンが徐々に変化する場合であっても、より理想的な理想パターンを生成することができる。
【0118】
さらに、請求項6に記載のパターン検査装置によれば、比較判定手段は、欠陥を有する単位パターンの位置を特定する欠陥位置特定手段を有するので、被検査画像に含まれる欠陥が理想パターン生成に与える影響を排除して、この影響に起因する誤検出を抑制することができる。
【0119】
また、請求項7に記載のパターン検査装置によれば、理想パターン生成手段は、被検査画像の画像信号を単位パターン順次に入力する手段と、被検査画像の画像信号を単位パターンの繰返し周期の整数倍の遅延時間だけ遅延させることによって、互いに異なる遅延時間を持った複数の遅延被検査画像信号を得る手段と、被検査画像の画像信号と複数の遅延被検査画像信号とからなる集合のうち、2以上の信号を合成して理想パターンの信号を得る手段とを備えるので、リアルタイムに理想パターンを生成することができる。したがって、このリアルタイムに得られる理想パターンを用いることにより、パターン検査をリアルタイムに行うことができる。
【0120】
さらに、請求項8に記載のパターン検査装置によれば、理想パターン生成手段は、被検査画像に含まれる単位パターンの異なる組合せに基づいて複数の理想パターンを生成可能であり、比較判定手段は、複数の理想パターンのうち少なくとも2つと、被検査画像に含まれる被検査単位パターンとを比較して被検査単位パターンの欠陥を判定するので、ノイズの影響をさらに低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態に係るパターン検査装置1Aの構成を表す概略図である。
【図2】半導体ウエハWの詳細を表す平面図である。
【図3】理想パターン生成部30Aおよび比較判定部50Aの機能ブロック図である。
【図4】パターン検査装置1Aにおいて得られる各画像信号の概要を示す説明図である。
【図5】理想パターン生成部30Bおよび比較判定部50Bの機能ブロック図である。
【図6】パターン検査装置1Bにおいて得られる各画像信号の概要を示す説明図である。
【図7】理想パターン生成部30Cおよび比較判定部50Cの機能ブロック図である。
【図8】パターン検査装置1Cにおいて得られる各画像信号の概要を示す説明図である。
【図9】理想パターン生成部30Dおよび比較判定部50Dの機能ブロック図である。
【図10】パターン検査装置1Dにおいて得られる各画像信号の概要を示す説明図である。
【図11】理想パターン生成部30Eおよび比較判定部50Eの機能ブロック図である。
【図12】パターン検査装置1Eにおいて得られる各画像信号の概要を示す説明図である。
【図13】理想パターン生成部30Fおよび比較判定部50Fの機能ブロック図である。
【図14】パターン検査装置1Fにおいて得られる各画像信号の概要を示す説明図である。
【図15】理想パターン生成部30Gおよび比較判定部50Gの機能ブロック図である。
【図16】パターン検査装置1Gにおいて得られる各画像信号の概要を示す説明図である。
【図17】パターン検査装置1Gにおいて得られる各画像信号の概要を示す説明図である。
【図18】理想パターン生成部30Hおよび比較判定部50Hの機能ブロック図である。
【図19】パターン検査装置1Hにおいて得られる各画像信号の概要を示す説明図である。
【図20】パターン検査装置1Hにおいて得られる各画像信号の概要を示す説明図である。
【図21】パターン検査装置1Gにおいて得られる各画像信号の概要を示す説明図である。
【図22】従来技術を説明するための図である。
【図23】従来技術を説明するための図である。
【符号の説明】
1,1A〜1H パターン検査装置
2 対象物
3 XYテーブル
10 画像入力処理部
30,30A〜30H 理想パターン生成部
50,50A〜50H 比較判定部
DT 欠陥
PI,R 参照画像
R(i) 理想パターン
S 被検査画像(原画像)
U 単位パターン
W 半導体ウエハ
Claims (8)
- 繰り返しパターンの欠陥検査を行うパターン検査装置であって、
被検査画像を入力する被検査画像入力手段と、
被検査画像に含まれる複数の単位パターンに基づいて理想パターンを生成する理想パターン生成手段と、
前記生成された理想パターンと前記被検査画像に含まれる被検査単位パターンとを比較した比較結果を用いて、前記被検査単位パターンの欠陥を判定する比較判定手段と、
を備え、
前記理想パターン生成手段は、
前記被検査単位パターンに対して所定の相対的位置関係にある単位パターンが存在する場合には、前記理想パターンの生成に使用される複数の単位パターンのうち前記被検査単位パターン以外の単位パターンとして、前記被検査単位パターンに対して所定の相対的位置関係にある単位パターンを使用して前記理想パターンを生成し、
前記被検査単位パターンに対して所定の相対的位置関係にある単位パターンが存在しない場合には、前記被検査単位パターンに対して所定の相対的位置関係にある単位パターンの代わりに、前記被検査画像中に実在する他の位置の単位パターンを使用して前記理想パターンを生成することを特徴とするパターン検査装置。 - 請求項1に記載のパターン検査装置において、
前記被検査画像中の単位パターンが順次に前記被検査単位パターンとして選択され、
前記理想パターンは、前記被検査単位パターンと、前記被検査単位パターン以外の単位パターンとに基づいて生成されることを特徴とするパターン検査装置。 - 請求項1に記載のパターン検査装置において、
前記被検査画像中の単位パターンが順次に前記被検査単位パターンとして選択され、
前記理想パターンは、前記被検査単位パターン以外の複数の単位パターンに基づいて生成されることを特徴とするパターン検査装置。 - 請求項1ないし3のいずれかに記載のパターン検査装置において、
前記被検査単位パターンに対して所定の相対的位置関係にある単位パターンが存在する場合において、前記理想パターンの生成に使用される前記被検査単位パターン以外の単位パターンは、前記被検査単位パターンに対して隣接する単位パターンであることを特徴とするパターン検査装置。 - 請求項1ないし4のいずれかに記載のパターン検査装置において、
前記理想パターン生成手段が、
前記被検査画像の一方側の端部付近の単位パターンが前記被検査単位パターンとなる際には、前記相対的位置関係を変更することにより、前記被検査単位パターンに関して前記被検査画像の他方側に隣接する単位パターンを利用して前記理想パターンを生成する手段を備えることを特徴とするパターン検査装置。 - 請求項1ないし5のいずれかに記載のパターン検査装置において、
前記比較判定手段が、
前記被検査画像と前記理想パターンとの差分を単位パターンごとに求めて、一連の信号列を得る手段と、
前記一連の信号列に現れる変動部分のうち、所定の閾値以上の絶対値を有する変動部分を抽出し、それによって欠陥を有する単位パターンの位置を特定する位置特定手段と、
を備えることを特徴とするパターン検査装置。 - 請求項1ないし6のいずれかに記載のパターン検査装置において、
前記理想パターン生成手段は、
前記被検査画像の画像信号を単位パターン順次に入力する手段と、
前記被検査画像の画像信号を単位パターンの繰返し周期の整数倍の遅延時間だけ遅延させることによって、互いに異なる遅延時間を持った複数の遅延被検査画像信号を得る手段と、
前記被検査画像の画像信号と前記複数の遅延被検査画像信号とからなる集合のうち、2以上の信号を合成して前記理想パターンの信号を得る手段と、
を備えることを特徴とするパターン検査装置。 - 請求項1に記載のパターン検査装置において、
前記理想パターン生成手段は、前記被検査画像に含まれる単位パターンの異なる組合せに基づいて複数の理想パターンを生成可能であり、
前記比較判定手段は、前記複数の理想パターンのうち少なくとも2つと、前記被検査画像に含まれる被検査単位パターンとを比較して前記被検査単位パターンの欠陥を判定することを特徴とするパターン検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26542499A JP4175748B2 (ja) | 1999-09-20 | 1999-09-20 | パターン検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26542499A JP4175748B2 (ja) | 1999-09-20 | 1999-09-20 | パターン検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001091228A JP2001091228A (ja) | 2001-04-06 |
JP4175748B2 true JP4175748B2 (ja) | 2008-11-05 |
Family
ID=17416976
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26542499A Expired - Lifetime JP4175748B2 (ja) | 1999-09-20 | 1999-09-20 | パターン検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4175748B2 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4756785B2 (ja) * | 2001-07-24 | 2011-08-24 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 表面検査方法および装置 |
JP2004363085A (ja) * | 2003-05-09 | 2004-12-24 | Ebara Corp | 荷電粒子線による検査装置及びその検査装置を用いたデバイス製造方法 |
JP2006220644A (ja) | 2005-01-14 | 2006-08-24 | Hitachi High-Technologies Corp | パターン検査方法及びその装置 |
JP2010151824A (ja) * | 2005-01-14 | 2010-07-08 | Hitachi High-Technologies Corp | パターン検査方法及びその装置 |
JP4065893B1 (ja) | 2006-12-04 | 2008-03-26 | 東京エレクトロン株式会社 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法、情報処理装置、情報処理方法及びそのプログラム |
JP4102842B1 (ja) | 2006-12-04 | 2008-06-18 | 東京エレクトロン株式会社 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法、情報処理装置、情報処理方法及びそのプログラム |
JP2008139201A (ja) * | 2006-12-04 | 2008-06-19 | Tokyo Electron Ltd | 欠陥検出装置、欠陥検出方法、情報処理装置、情報処理方法及びそのプログラム |
JP4919988B2 (ja) * | 2008-03-07 | 2012-04-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 回路パターン検査装置、および回路パターン検査方法 |
DE102008017645A1 (de) * | 2008-04-04 | 2009-10-08 | Carl Zeiss Smt Ag | Vorrichtung zur mikrolithographischen Projektionsbelichtung sowie Vorrichtung zur Inspektion einer Oberfläche eines Substrats |
JP5567951B2 (ja) * | 2010-09-10 | 2014-08-06 | 株式会社ブリヂストン | タイヤのマスター画像生成方法及びマスター画像生成装置 |
JP2012019220A (ja) * | 2011-08-01 | 2012-01-26 | Hitachi High-Technologies Corp | 回路パターン検査装置、および回路パターン検査方法 |
JP6315419B2 (ja) * | 2013-12-12 | 2018-04-25 | 三星電子株式会社Samsung Electronics Co.,Ltd. | 半導体検査方法、半導体検査装置及び半導体製造方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2667416B2 (ja) * | 1987-12-28 | 1997-10-27 | レーザーテック株式会社 | パターン欠陥検査方法 |
JP3751660B2 (ja) * | 1995-06-15 | 2006-03-01 | 浜松ホトニクス株式会社 | 規則的パターンの欠陥検査装置 |
JPH09265537A (ja) * | 1996-03-29 | 1997-10-07 | Hitachi Ltd | 画像処理方法 |
JP3409670B2 (ja) * | 1997-11-28 | 2003-05-26 | 株式会社日立製作所 | 外観検査方法およびその装置 |
-
1999
- 1999-09-20 JP JP26542499A patent/JP4175748B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2001091228A (ja) | 2001-04-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4175748B2 (ja) | パターン検査装置 | |
JP4776308B2 (ja) | 画像欠陥検査装置、画像欠陥検査システム、欠陥分類装置及び画像欠陥検査方法 | |
US4949390A (en) | Interconnect verification using serial neighborhood processors | |
EP0952488B1 (en) | Reticle inspecting apparatus capable of shortening an inspecting time | |
JP2006098163A (ja) | 欠陥検出装置および欠陥検出方法 | |
US4525747A (en) | Analog-to-digital image signal conversion | |
JPH05256796A (ja) | 検査システム | |
JP2009063592A (ja) | 表面検査装置及び方法 | |
JPH0526136B2 (ja) | ||
EP0488031B1 (en) | Method of and apparatus for inspecting a printed circuit board | |
JP4564768B2 (ja) | パターン検査方法及びその装置 | |
JPH09265537A (ja) | 画像処理方法 | |
JPH0877362A (ja) | 画像処理装置 | |
JP2006113073A (ja) | パターン欠陥検査装置及びパターン欠陥検査方法 | |
JP3752849B2 (ja) | パターン欠陥検査装置及びパターン欠陥検査方法 | |
JP3808320B2 (ja) | パターン検査装置およびパターン検査方法 | |
JP2003203218A (ja) | 外観検査装置および方法 | |
JP2007047122A (ja) | 画像欠陥検査装置、欠陥分類装置及び画像欠陥検査方法 | |
JP2803065B2 (ja) | 周期性パターンの検査装置 | |
WO1988008168A2 (en) | Interconnect verification using serial neighborhood processors | |
JPH07200830A (ja) | 欠陥検査装置 | |
JP2561050B2 (ja) | 繰返しパターンの欠陥検査装置 | |
JP4013695B2 (ja) | 画像処理方法及び画像処理装置 | |
JP2001108411A (ja) | パターン検査装置およびパターン検査方法 | |
JP2725469B2 (ja) | 微小欠陥検出装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040401 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050215 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050415 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060725 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060911 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20061005 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20070223 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080819 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110829 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4175748 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110829 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110829 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120829 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120829 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120829 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130829 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |