JP4168452B2 - 水蒸気アニール用治具、水蒸気アニール方法及び基板移載装置 - Google Patents
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Description
特許文献1の「半導体装置の絶縁膜の平坦化方法」は、半導体装置の基板上の凹凸面上に形成された絶縁膜を熱フローにより平坦化する方法において、熱フローを酸素又は、水蒸気を含む雰囲気中において3atm以上の圧力下で行うものである。そして、この方法により、絶縁膜に拡散する酸素量及びその拡散速度が増大し、従来に比し低温でかつ短時間でBPSG膜の良好なリフローを実現している。
(1)治具にわずかでも汚染が存在すると、基板のエッジエクスクルージョンに汚染が転写される。このため、基板の汚染検査において、検査精度の問題から、半導体装置を作り込んだ部分に汚染が無い場合でもエッジエクスクルージョンの汚染を検出し、この結果後検出を招くことがある。
(2)エッジエクスクルージョンまで成膜された基板の場合、熱処理時における基板と治具の熱膨張差により基板と治具との接触面が擦れたり、基板の治具への載置又は取出し時に基板と治具が擦れたりすることにより、基板上の膜が削られてパーティクルが発生し、基板を汚染してしまう。
(1)すなわち、本発明にかかる水蒸気アニール用治具は、平板状の基板を受入れ可能な上部開口と、該上部開口と連通する下部貫通穴と、上部開口と下部貫通穴との間に位置し基板の下面を支持する支持部とを有し、前記基板を内部に収容するサセプタと、該サセプタの上部開口を閉じる蓋部材と、を備え、前記下部貫通穴は、基板の下面を支持して前記サセプタから浮かせた状態で保持するための支持体を下方から挿入できるように形成され、前記サセプタと前記蓋部材との接触部分に、基板を処理する温度及び圧力の範囲において水蒸気分子を導入できかつ所定の粒径以上のパーティクル及びコンタミネーションの侵入を阻止する微細流路が形成され、前記基板の下面側から上面側へのパーティクル及びコンタミネーションの侵入は、前記支持部と前記基板との接触部分又は前記サセプタと該サセプタが載置される載置面との接触部分によって阻止される、ことを特徴とする。
また、サセプタには、基板を浮かせるための支持体を下方から挿入できる下部貫通穴が設けられているので、後述する基板移載装置により、基板の処理面を上方に向けたままサセプタ上に載置することが可能となる。すなわち、後述する基板移載装置により、サセプタの下部貫通穴から挿入され上部開口から突出した支持体の上に、処理面を上方に向けた基板を載置し、次に支持体をサセプタに対して相対的に降下させることにより、基板の処理面を上方に向けた状態でサセプタ上に載置することができる。
このため、基板の処理面とサセプタとが接触しないので、サセプタに汚染が存在しても、その汚染が基板の処理面に転写されることがない。また、基板処理面のエッジエクスクルージョンと治具とが接触しないので、熱処理時や基板搬送時において基板とサセプタの擦れが発生した場合でも、処理面の膜が削られてパーティクルが発生することがない。
よって、水蒸気アニール処理の効果を維持したまま、治具からの転写による基板の汚染や、処理中におけるパーティクルやコンタミネーション等による基板の汚染をより効果的に低減できる。
また、サセプタの上に別のサセプタを直接積み重ね、その接触部分に水蒸気分子を導入できかつ所定の粒径以上のパーティクル及びコンタミネーションの侵入を阻止する微細流路が形成されるので、最上段以外のサセプタに収容された基板についても、従来の水蒸気アニール処理の効果を維持しつつ基板の汚染を大幅に低減できる。
また、蓋部材を介さずにサセプタ同士を直接積み重ねることにより積層高さを抑制できるので、基板の処理枚数の向上又は処理装置の小型化に寄与できる。
図1は、本発明の第1実施形態にかかる水蒸気アニール用治具10の構成を示す図であり、(A)は平面図、(B)は(A)におけるA−A線断面図、(C)は(B)におけるサセプタ12のみの断面図である。
図1に示すように、本実施形態にかかる水蒸気アニール用治具10は、内部に平板状の基板1を収容するサセプタ12と、サセプタ12の上部開口12aを閉じる蓋部材14と、サセプタ12の下部貫通穴12bを閉じる蓋部材14とを備えている。
このような基板1が、処理面(半導体装置を作り込む側の面)を上方に向けてサセプタ12に収容される。なお、サセプタ12への基板1の載置方法の詳細については後述する。
下部貫通穴12bは、基板1の下面を支持してサセプタ12から浮かせた状態で保持するための支持体24(図2、図3参照)を下方から挿入できるように形成されている。
サセプタ12と蓋部材14との接触部分には、基板1を処理する温度及び圧力の範囲において水蒸気分子を導入できかつ所定の粒径以上のパーティクル及びコンタミネーションの侵入を阻止する微細流路が形成される。
この底部材16は下部貫通穴12bを気密に閉じるものであってもよい。あるいは、サセプタ12と底部材16との接触部分に、基板1を処理する温度及び圧力の範囲において水蒸気分子を導入できかつ所定の粒径以上のパーティクル及びコンタミネーションの侵入を阻止する微細流路が形成されるようにしてもよい。
あるいは、サセプタ12と基板載置テーブルとの接触部分でパーティクル等の侵入を阻止しなくても、基板1とサセプタ12との接触部分で、基板下面側から基板上面側へのパーティクル等の侵入を阻止してもよい。この場合、サセプタ12の支持部12cは、その上に基板1が載置された状態で下部貫通穴12bと上部開口12aとを連通する隙間が形成されないように基板1を支持する形状である必要がある。
いずれにしても、基板1の下面側から上面側へのパーティクル及びコンタミネーションの侵入が、サセプタ12の支持部12cと基板1との接触部分、又はサセプタ12とこのサセプタ12が載置される載置面(上記の例では基板載置テーブル又は底部材16)との接触部分によって阻止されるように構成されている必要がある。
図2に示すように、この基板移載装置20は、サセプタ支持手段としての支持ブロック22と、支持体24と、昇降手段26と、サセプタ搬送手段及び基板搬送手段としての搬送ロボット30を備えている。
本実施形態において、把持ハンド31は扁平形状をなし、その上面に、基板1の下面を吸着把持する基板把持部33と、サセプタ12の下面を吸着把持するサセプタ把持部34とを有している。把持ハンド31は、処理面を上方に向けた基板1の下面を吸着把持する。
移動機構36は、基台37と、基台37に昇降可能に設けられた昇降機構38と、昇降機構38に軸心a1を中心に回転可能かつ伸縮自在に設けられた多関節アーム39とを備えている。
このように構成された搬送ロボット30では、把持ハンド31により、把持ハンド31が基板1又はサセプタ12より下側に位置する状態でこれら吸着把持し、移動機構36により把持ハンド31を三次元的に移動させて、サセプタ支持手段としての支持ブロック22へのサセプタ12の載置又は取出しと、支持体24上への基板1の載置又は取出しを行うようになっている。
その他、基板搬送手段は、支持体24への基板1の載置又は取出しを行うことが可能な範囲で種々の形態を採用できる。また、サセプタ搬送手段は、サセプタ支持手段(支持ブロック22)へのサセプタ12の載置又は取出しを行うことが可能な範囲で種々の形態を採用できる。
図3(A)に示すように、各支持ブロック22はサセプタ12の下面を支持する支持面22aと中心位置合わせ時にサセプタ12の外周面に当接する当接面22bを有している。また、支持ブロック22は所定の中心基準位置Cに向かって水平に進退動可能に構成されており、サセプタ12が支持面22aに載置された後、図3(B)に示すように、各支持ブロック22が中心基準位置Cに向かって水平に移動してサセプタ12の外周面を当接面22bにより押し込むことで、サセプタ12の中心と中心基準位置Cとの位置合わせが行われる。
このように構成されているため、基板1の処理面を上方に向けたまま支持体24上に載置することができる。
本実施形態では、昇降手段26は、支持体24を上下動させる構成であるが、そのような構成に代えて、サセプタ支持手段(この例では支持ブロック22)を上下動させることにより、支持体24をサセプタ支持手段に対して相対的に上下させる構成としてもよい。
搬送ロボット30により支持ブロック22を搬送して、支持ブロック22上に載置し、支持ブロック22によりサセプタ12を水平に支持した状態で(図3(A)、(B))、支持体24をサセプタ12の下部貫通穴12bから挿入して上部開口12aから突出させ(図3(C)、(D))、基板1の処理面を上方に向けたまま、基板1の下側に把持ハンド31が位置する状態で支持体24上に基板1を載置し、把持ハンド31を基板1の下側から抜き出し、支持体24を支持ブロック22に対して相対的に降下させることにより(図3(E))、基板1の処理面を上方に向けた状態でサセプタ12上に載置する。
基板1を収容したサセプタ12を搬送ロボット30により搬送して、支持ブロック22上に載置し、支持体24をサセプタ12の下部貫通穴12bから挿入して上部開口12aから突出させることにより基板1をサセプタ12から浮かせた状態とし、搬送ロボット30の把持ハンド31を基板1の下側に挿入して基板1の下面を吸着把持し、搬送することにより、サセプタ12から基板を取り出す。
まず、水蒸気アニール装置の内部に設けられた基板載置テーブル(図6の114参照)上に底部材16を載置する。水蒸気アニール装置は、特に限定されず、例えば特許文献2(特開平11−152567号公報)や特許文献3(特開2004−127958号公報)に開示された公知の装置を適用することができる。
続いて、上述した基板移載装置20により基板1が載置されたサセプタ12を搬送ロボット30により搬送し、底部材16の上に載置する。続いて、サセプタ12の上部開口12aを閉じるように蓋部材14を載置する。そしてこの状態で、水蒸気アニール装置の処理容器と圧力容器を封止し、要求されるアニール処理の種類(熱酸化膜形成、シリコン中欠陥の終端、層間絶縁膜のリフロー、等)に応じた所定の圧力、温度、時間により、水蒸気アニール処理を行う。
上記構成の水蒸気アニール用治具10によれば、サセプタ12と蓋部材14との接触部分に形成される微細流路のフィルタ機能により基板の処理面へのパーティクルやコンタミネーションの侵入を阻止しつつ、水蒸気は微細流路を通過して基板の処理面へ到達する。このため、従来の水蒸気アニール処理の効果を維持しつつ基板の汚染を大幅に低減できる。
よって、水蒸気アニール処理の効果を維持したまま、治具からの転写による基板の汚染や、処理中におけるパーティクルやコンタミネーション等による基板の汚染をより効果的に低減できる。
図5は、本発明の第2実施形態にかかる水蒸気アニール用治具10の構成を示す断面図である。
本実施形態にかかる水蒸気アニール用治具10は、上述した第1実施形態にかかる水蒸気アニール用治具10のサセプタ12を複数備えたものである。
また、図5のように複数のサセプタ12を積み重ねたときに、一のサセプタ12と他のサセプタ12との接触部分に、基板1を処理する温度及び圧力の範囲において水蒸気分子を導入できかつ所定の粒径以上のパーティクル及びコンタミネーションの侵入を阻止する微細流路が形成されるようになっている。この微細流路の設定条件は、第1実施形態で説明したのと同様とすることができる。
その他の部分の構成は、上述した第1実施形態と同様である。また、上述した基板移載装置20を用いて、基板1の処理面を上方に向けたままサセプタ12に載置することができる。
まず、水蒸気アニール装置の内部に設けられた基板載置テーブル上に底部材16を載置する。
続いて、基板移載装置20によりサセプタ12に基板1を載置し、このサセプタ12を搬送ロボット30により搬送し、底部材16の上に載置する。以降、同様にサセプタ12に基板1を載置し搬送して、基板1処理枚数分だけサセプタ12を積み重ねる。サセプタ12を積み重ねたら、最上段のサセプタ12の上に、その上部開口12aを閉じるように蓋部材14を載置する。そしてこの状態で、水蒸気アニール装置の処理容器と圧力容器を封止し、要求されるアニール処理の種類(熱酸化膜形成、シリコン中欠陥の終端、層間絶縁膜のリフロー、等)に応じた所定の圧力、温度、時間により、水蒸気アニール処理を行う。
なお、上記の水蒸気アニール方法において、底部材16を使用せず、基板載置テーブル上にサセプタ12を直接載置するようにしてもよい。
すなわち、サセプタ12を複数有するので、これらのサセプタ12を複数段積み重ねることにより、基板の多数枚処理が可能となる。
また、サセプタ12の上に別のサセプタ12を直接積み重ね、その接触部分に水蒸気分子を導入できかつ所定の粒径以上のパーティクル及びコンタミネーションの侵入を阻止する微細流路が形成されるので、最上段以外のサセプタ12に収容された基板についても、従来の水蒸気アニール処理の効果を維持しつつ基板の汚染を大幅に低減できる。
また、蓋部材14を介さずにサセプタ12同士を直接積み重ねることにより積層高さを抑制できるので、基板1の処理枚数の向上又は処理装置の小型化に寄与できる。
10 水蒸気アニール用治具
12 サセプタ
12a 上部開口
12b 下部貫通穴
14 蓋部材
16 底部材
20 基板移載装置
22 支持ブロック(サセプタ支持手段)
24 支持体
26 昇降手段
28 スライドブロック
30 搬送ロボット
31 把持ハンド
Claims (7)
- 平板状の基板を受入れ可能な上部開口と、該上部開口と連通する下部貫通穴と、上部開口と下部貫通穴との間に位置し基板の下面を支持する支持部とを有し、前記基板を内部に収容するサセプタと、
該サセプタの上部開口を閉じる蓋部材と、を備え、
前記下部貫通穴は、基板の下面を支持して前記サセプタから浮かせた状態で保持するための支持体を下方から挿入できるように形成され、
前記サセプタと前記蓋部材との接触部分に、基板を処理する温度及び圧力の範囲において水蒸気分子を導入できかつ所定の粒径以上のパーティクル及びコンタミネーションの侵入を阻止する微細流路が形成され、
前記基板の下面側から上面側へのパーティクル及びコンタミネーションの侵入は、前記支持部と前記基板との接触部分又は前記サセプタと該サセプタが載置される載置面との接触部分によって阻止される、
ことを特徴とする水蒸気アニール用治具。 - 前記サセプタを複数有し、該複数のサセプタを積み重ねたときに一のサセプタと他のサセプタとの接触部分に、基板を処理する温度及び圧力の範囲において水蒸気分子を導入できかつ所定の粒径以上のパーティクル及びコンタミネーションの侵入を阻止する微細流路が形成される、ことを特徴とする請求項1に記載の水蒸気アニール用治具。
- 前記サセプタの下に配置され基板下面側へのパーティクル及びコンタミネーションの侵入を阻止する底部材をさらに備える、ことを特徴とする請求項1又は2に記載の水蒸気アニール用治具。
- 前記サセプタまたは前記蓋部材の少なくとも一方は、石英、SiC、グラファイト、又は無アルカリガラスからなる、ことを特徴とする請求項1又は2に記載の水蒸気アニール装置。
- 請求項1に記載の水蒸気アニール用治具を用いた水蒸気アニール方法であって、
処理面を上方に向けた基板が収容された前記サセプタの上に、該サセプタの上部開口を閉じるように前記蓋部材を載置し、水蒸気アニール用治具の周囲を水蒸気雰囲気にして前記基板に対して熱処理を行う、ことを特徴とする水蒸気アニール方法。 - 請求項2に記載の水蒸気アニール用治具を用いた水蒸気アニール方法であって、
処理面を上方に向けた基板が収容された前記サセプタを複数段積み重ね、最上段のサセプタの上に当該サセプタの上部開口を閉じるように前記蓋部材を載置し、水蒸気アニール用治具の周囲を水蒸気雰囲気にして前記基板に対して熱処理を行う、ことを特徴とする水蒸気アニール方法。 - 請求項1又は2に記載の水蒸気アニール用治具のサセプタへの基板の載置又は取出しを行うための基板移載装置であって、
前記サセプタを水平に支持するサセプタ支持手段と、
該サセプタ支持手段へのサセプタの載置又は取出しを行うサセプタ搬送手段と、
前記サセプタの下部貫通穴から挿入され上部開口から突出しその上端で基板を支持可能な支持体と、
基板を把持する把持ハンドを有し、処理面を上方に向けた基板の下側に前記把持ハンドが位置する状態で前記支持体への基板の載置又は取出しを行う基板搬送手段と、
前記支持体を前記サセプタの下部貫通穴から挿入して上部開口から突出させ又はサセプタ外に離脱させるように前記支持体を前記サセプタ支持手段に対して相対的に上下させる昇降手段と、を備え、
前記支持体は、前記基板搬送手段による支持体への基板の載置又は取出しを行う際に該基板搬送手段の把持ハンドと干渉しないように構成されている、
ことを特徴とする基板移載装置。
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