JP4168251B2

JP4168251B2 - Slit lamp

Info

Publication number: JP4168251B2
Application number: JP2002363198A
Authority: JP
Inventors: 洋一濱田
Original assignee: 株式会社コーナン・メディカル
Priority date: 2002-12-16
Filing date: 2002-12-16
Publication date: 2008-10-22
Anticipated expiration: 2022-12-16
Also published as: JP2004194689A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はスリットランプに関する。さらに詳しくは、被検眼に対してスリット照明光を照射し、被検眼でのこの反射光を受光することによって被検眼の所望の部位を観察するためのスリットランプに関する。
【０００２】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】
スリットランプは上記のとおりスリット照明光を被検眼に照射して被検眼の所望の部位を観察するものである。スリットランプは眼科医療において種々の目的に用いられる。つまり、スリットランプは被検眼の種々の部位について種々の対象を観察するものであるため、これらに応じて多くの観察方法が適用される。検査者は被検眼の観察部位や要観察対象に応じ、自分の経験に則してスリットランプの照明光学系および観察光学系の各焦点および光軸方向を被検眼の所望の部位に合わせる。さらに、スリット光の形状やサイズを変化させて所望の部位を観察する。
【０００３】
このように、従来、スリットランプは眼科診療に熟練した者の手動操作を必要としている。すなわち、広い用途を持つスリットランプではあるが未熟者にとっては扱いにくい機器である。
【０００４】
このようなスリットランプは広く用いらている周知の眼科医療装置である（たとえば、特許文献１参照）。
【０００５】
かかる現状に鑑み、本発明はたとえ経験の少ない検者であっても操作のしやすいスリットランプを提供することを目的としている。
【０００６】
【特許文献１】
特開２０００−２６２４７６号公報
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明のスリットランプは、
照明光によって被検眼の前眼部を照明するための照明光学系と、
上記照明光の前眼部で反射された反射光による像を観察するための観察光学系と、
合焦光を被検眼に投影する合焦光投影光学系、および、被検眼で反射した合焦光を検出することにより作動位置を検出する合焦検出光学系を有する作動位置検出手段と、
上記作動位置を基準点とした照明光学系および観察光学系の一体移動、ならびに、上記各光学系の作動を制御するための制御装置とを備えており、
上記照明光学系および観察光学系の光軸同士の交点である第一交点が、上記合焦光投影光学系および合焦検出光学系の光軸同士の交点である第二交点に対して所定の位置関係を有しており、
上記照明光学系および観察光学系が、互いに独立して上記第一交点の回りに回転可能にされ、且つ、上記制御装置によってその光軸方向が変更制御されるように構成されている。
【０００８】
かかるスリットランプによれば、被検眼に対する作動位置が自動的に検出され、また、そのときの第一交点、つまり被検眼に対する撮影光学系の焦点の位置が明確になるので狙うべき観察部位を効果的に観察することができる。
【０００９】
そして、上記第一交点と上記第二交点とが一致するように構成してもよい。
【００１１】
たとえば、スリットランプを用いた種々の観察法に対応する標準的な各設定値をリストアップしておき、検査者の意志によってこの設定値を変更して設定できるからである。
【００１２】
上記照明光学系および観察光学系の一体移動によって第一交点がＸ、Ｙ、Ｚの三軸方向に移動可能に構成し、上記記録手段が、項目としての上記第一交点の移動、および、予め定められた設定値としての第一交点の複数の移動方向および移動距離をさらに記録するように構成することもできる。
【００１３】
さらに、上記制御装置を、選択手段によって選択された設定値を組み合わせて実行させるように構成することができる。この場合、被検眼の観察時に前述した各光学系や光学機器の設定をその都度行う必要がないため、迅速な観察が可能となるからである。
【００１４】
また、被検者が固視するための固視標と、
照明光学系に配置されたスリットと、
記録手段とをさらに備えており、
上記記録手段が、上記固視標の位置、上記照明光学系の光軸方向、上記スリット形態、照明光学系の照明の明るさ、上記観察光学系の光軸方向、観察光学系の観察倍率、および、上記第一交点の変位位置を含む各項目と、該項目のそれぞれについて予め定められた複数の設定値と、を記録するように構成されており、
上記制御装置が、上記各項目について、複数の設定値から所望の設定値を選択する選択手段を有したものであり、
上記記録手段が、上記各項目から選択された所定の一設定値を組み合わせた設定値列を複数列記録するように構成され、上記選択手段によって所望の設定値列を選択しうるように構成されたものが好ましい。この場合、種々の観察法に適合した設定値列をそれぞれ記録しておくことができ、これにより、観察法を選択するだけで適切な光学系や光学機器の設定が自動的になされる。
【００１５】
【発明の実施の形態】
添付図面を参照しながら本発明の実施形態にかかるスリットランプを説明する。
【００１６】
図１（ａ）は本発明のスリットランプの一実施形態を示す概略平面図であり、図１（ｂ）はその概略側面図である。図２は図１のスリットランプの一部の光学系を示す一部断面側面図である。図３は図１のスリットランプにおける各光学系の配置を示す平面図である。図４は各光学系の側面または正面を示す、図３のＩＶ−ＩＶ線矢視図である。
【００１７】
図１〜４に示すスリットランプ１は、照明光によって被検眼の前眼部を照明するための照明光学系２と、上記照明光の被検眼Ｅで反射された反射光による像を観察するための観察光学系３とを備えている（図２）。さらに、合焦光を被検眼に投影する合焦光投影光学系４、および、被検眼Ｅで反射した合焦光を検出する合焦検出光学系５を備えている（図３および図４）。この合焦光投影光学系４および合焦検出光学系５に後述のアライメント光学系６を加えたものを作動位置検出装置７と呼ぶ。加えて、被検眼Ｅに固視させることによって被検眼の視軸を一定方向に固定するための固視灯３４を備えている。この固視灯３４は位置変更が可能である。符号３７は額当てであり、符号３８はあご台である。被検者はその額を額当て３７に押し当て、あごをあご台３８に乗せることによって顔を固定する。
【００１８】
図１および図３に示すように、照明光学系２と観察光学系３とはその光軸２ａ、３ａ同士が交差するように配置されている。この交点を第一交点Ｃ１と呼ぶ。さらに、照明光学系２および観察光学系３はともに独立して、この第一交点Ｃ１を中心に各光軸２ａ、３ａを第一交点Ｃ１に向けた状態で水平面内で回転可能に構成されている。すなわち、上記両光軸２ａ、３ａのなす角度は変更可能である。図３には、回転前の位置を二点鎖線で示し、回転後の位置を実線で示している。かかる構成によって被検眼Ｅに対する照明方向および観察方向を変化させることが可能である。この構成は、図示のごとく、照明光学系２を搭載した照明架台８と、観察光学系３を搭載した観察架台９とがそれらの先端部で同一回転軸１０の回りに回動自在に取り付けられていることによって可能となる。すなわち、第一交点Ｃ１は回転軸１０の中心軸に一致している。
【００１９】
上記回転軸１０は左右方向（Ｘ軸）、上下方向（Ｙ軸）および前後方向（Ｚ軸）それぞれに移動可能な三軸架台１１に突設されたものである。三軸架台１１は、図２に示すように公知のＸＹテーブル等を採用したＸＺ軸移動台１１ａと、このＸＺ移動架台１１ａの上に設置された昇降機能を有するＹ軸移動台１１ｂとから構成されている。
【００２０】
また、合焦光投影光学系４および合焦検出光学系５の光軸４ａ、５ａ同士も交差している。この交点を第二交点Ｃ２と呼ぶ。しかし、合焦光投影光学系４および合焦検出光学系５は上記三軸架台１１に固定されているので、これら光軸４ａ、５ａのなす角度は変化しない。本実施形態では上記第一交点Ｃ１と第二交点Ｃ２とは一致しているが、後述するように、Ｚ軸方向にわずかにずれていてもよい。
【００２１】
図２に示すように、照明光学系２は被検眼観察用の照明光源としての可視光ランプ１２を有しており、光軸２ａに沿って被検眼Ｅに向けてコンデンサレンズ１３、形状可変のスリット１４、交換可能なフィルタ１５、および、投影レンズ１６をその順に備えている。そして、可視光ランプ１２からの照明光をミラー３０によって被検眼Ｅに至らせる。観察光学系３は照明光学系２によって照明された被検眼の部位を観察するためのもので、カラーＣＣＤカメラ１７を有しており、光軸３ａに沿って被検眼Ｅに向けて撮影レンズ１８、変倍レンズ１９および対物レンズ２０を備えている。前述のように、照明光学系２および観察光学系３の光軸２ａ、３ａは第一交点Ｃ１で交差しており、両光学系２、３はこの第一交点Ｃ１に焦点が合わされている。
【００２２】
図３および図４に示すように、合焦光投影光学系４は合焦光光源としての赤外ＬＥＤ２１を有しており、光軸４ａに沿って被検眼Ｅに向けてコンデンサレンズ２２、視標スリット２３および投影レンズ２４を備えている。合焦検出光学系５は被検眼Ｅの頂点で反射した合焦光を検出するためのものであり、ラインセンサやエリアセンサ等からなる検出センサ２５を有し、光軸５ａ上の被検眼Ｅ側に結像レンズ２６および可視光カットフィルタ３９を備えている。これらの光学系４、５によって被検眼に対するスリットランプ１のＺ方向の位置決めを行う。すなわち、三軸架台１１を被検眼に対して前後させることにより、両光軸４ａ、５ａの第二交点Ｃ２が被検眼Ｅの頂点に一致したときに合焦点を検出したことになる。
【００２３】
図２に示すように、アライメント光学系６は被検眼に対するスリットランプ１のＸＹ各方向の位置決めを行うものであり、被検眼を照射するアライメント指標光の光源としての赤外ＬＥＤ２７を有し、その光軸６ａ上に平行化レンズ２８を有している。そして、ミラー３０、ハーフミラー３１、さらにミラー３０を介してアライメント指標光を被検眼Ｅの前眼部に照射する。また、アライメント光学系６はアライメント光源２７の被検眼での反射像たる輝点（プルキンエ像）を受光するアライメントセンサとしてのＣＣＤ２９を有している。上記反射像（反射光）は光軸６ａに沿って配置されたミラー３０、ハーフミラー３１、検出レンズ３２およびミラー３０を通してＣＣＤ２９に至る。このプルキンエ像に基づいて上記三軸架台１１をＸＹ方向に移動させることによってアライメント光軸６ａを角膜頂点に一致させる。
【００２４】
作動位置検出装置７による作動位置の検出は、合焦動作とアライメント動作とを並行して行うことにより達成される。具体的には、三軸架台１１を被検眼Ｅに向けて（Ｚ方向）前進させる。そして、アライメント光学系６によって上記プルキンエ像を検出することが可能になった時点で三軸架台１１をＸ方向およびＹ方向にも変位させてアライメントを行う。アライメントを維持しつつ、すなわち、アライメント光軸６ａを角膜頂点の所定範囲内に維持しつつ三軸架台１１をＺ方向に変位させる。上記第二交点Ｃ２が被検眼の角膜頂点に一致したときに作動位置が検出されることになり、このときにたとえば、照明光源１２を発光させてＣＣＤカメラ１７によって観察部位の画像を撮影する。
【００２５】
図３に示すように、このアライメント光学系６の被検眼Ｅに至る光軸６ａは上記第一交点Ｃ１と第二交点Ｃ２とを通る。そして、上記合焦光投影光学系４および合焦検出光学系５による合焦点の検出と、このアライメント光学系６によるアライメントとが並行して行われた結果、作動位置が検出されることになる。
【００２６】
前述したごとく、照明光学系２および観察光学系３はともに独立して第一交点Ｃ１を中心に水平面内で回転可能に構成されている。したがって、被検眼Ｅに対する照明方向および観察方向を変えて被検眼の観察部位を観察することができる。さらに、照明光のスリット形状を変化させて、たとえば、スリット幅、スリット長さ、円形や矩形等のスリット外形を変化させて被検眼を照明することができる。また、観察対象に応じて照明光学系の可視光ランプ１２の明るさを変化させることもできる。照明光学系２のフィルタ１５を異なる種類のもの、たとえば、散乱フィルタ、グリーンフィルタ、ブルーフィルタ等に交換することによって異なる照明光を被検眼に照射することができる。観察光学系３の変倍レンズ１９によって観察倍率を変えることも可能である。もちろん、三軸架台１１をＸＹＺそれぞれの方向に移動させること、および、固視灯３４の位置を変更することにより、被検眼Ｅの観察部位を変更することもできる。スリットランプ１はかかる作用により、被検眼Ｅの観察対象に応じて様々な部位を様々な観察法によって観察することができる。
【００２７】
図１に示すように、本スリットランプ１は制御装置３３を備えている。この制御装置３３は、上記したような照明架台８および観察架台９の作動、照明光学系２および観察光学系３の諸作動、作動位置検出装置７の作動、三軸架台１１の作動、固視灯３４の作動を制御するものである。また、制御装置３３には被検眼の観察対象に対応した種々の観察法を実行するためのプログラムが格納されている。各観察法によってスリットランプ１の上記光学系等の作動がそれぞれ異なっている。
【００２８】
表１に示すように、観察法としては主に照明方法の違いに基づいて命名されているが、直接照明法、スリット照明法、徹照法および観察照明法を例示している。これらの観察法を表１および図５〜９を参照しつつ説明する。なお、図５〜９は平面図であり、図中の実線の矢印は照明光軸２ａおよび観察光軸３ａを示し、破線の矢印は被検眼Ｅの視軸Ｅａを示している。
【００２９】
【表１】

直接照明法のなかには、（１）スリットを用いずに均一な照明で前眼部を照明して観察する拡散照明法（図５）、および、（２）中程度幅のスリット光で観察部位に対して眼軸の反対側から角膜反射を避けるように照明して広い前眼部病変を観察する幅広スリット照明法（図５）を例示している。
【００３０】
スリット照明法としては、（３）細いスリット光を照射して角膜、前房、水晶体等の光学断面を斜めから観察する第一の極細スリット照明法（図６）、（５）横から照明光を照射することによって陰影を付け、虹彩や角膜の凹凸を観察する接線照明法（図８）、並びに、（６）細い照明光を前房を横切るように照射して散乱光により前房の微細な浮遊物を観察するチンダル照明法（図８）を例示している。なお、（４）極細スリット照明法には前眼部表面からの深さの異なる部位を全体にピントよく観察する第二の極細スリット照明法（図７）もある。
【００３１】
徹照法としては、（７）照明光軸と観察光軸とをほぼ同軸とし、照明光束を小さくすることによって虹彩面を避けて瞳孔周辺から眼底を照射し、眼底反射のバックライトで水晶体を観察する徹照法（図５）、および、（８）この徹照法とほとんど同じであるが照明光束をほぼ瞳孔中心から眼底に照射して眼底反射のバックライトで虹彩欠損部を観察する虹彩徹照法（図９）がある。
【００３２】
間接照明法としては、（９）観察部位を避けて斜めからその部位の背景を照らすことによって角膜や水晶体のシルエットを観察する背景照明法（図６）、（１０）細めのスリット光で観察部位付近を照らし、その散乱光で軟組織内の異物、角膜裏面の沈着物および新生血管等を観察する近傍照明法（図５）、並びに、（１１）広めのスリット光で強膜を照らすことによる角膜組織内のライトガイド効果を利用して角膜を観察する強膜散乱法（図８）等がある。
【００３３】
表１に示すように、これらの各観察法には、固視灯３４の位置、照明光学系２の光軸２ａの方向、スリット１４の形状、フィルタの種類およびその有無、照明光源の明るさ、観察光学系２の光軸２ａの方向および観察倍率、並びに、作動位置が決定した後の照明光学系２および撮影光学系３の一体変位（三軸架台１１の移動）の各項目のうちのいずれかが異なる値が設定（設定値）されている。このように、各観察法について予め設定された設定値の組み合わせが設定値列である。
【００３４】
表１における固視灯の位置、照明光軸の方向および観察光軸の方向については、被検眼が被検者の左眼の場合を例示している。これが右眼である場合には、表中における「右」および「左」との記載がそれぞれ逆の「左」および「右」となる。照明光軸および観察光軸の方向を示す角度は、これらの光軸２ａ、３ａそれぞれとアライメント光学系６の光軸６ａとのなす角度である。また、左眼、右眼、左および右とは、検査者から見た方向である。「正面」とは観察光軸３ａがアライメント光学系６の光軸６ａと一致していることを示す。また、固視灯の位置を角度で示しているが、これは固視灯と被検眼頂点とを結ぶ直線と、アライメント光学系６の光軸６ａとの水平面内でなす角度である。したがって、被検眼の視軸がアライメント光学系６の光軸６ａとこのような角度をなしていると想定できる。これらの角度は効果的な観察ができる値の例示であり、この数値に限定されるものではない。本実施形態では一個の固視灯３４が光学的にアライメント光学系６の光軸６ａ上に配置され、その左右両側に一個ずつ配置されている。
【００３５】
スリット形状について「全開」としているのはスリットを用いない（たとえば直径が約１５ｍｍの円形照明光）ことを意味しており、また、「中幅」とは被検眼上におけるスリット光の幅が約３ｍｍであり、細幅とは幅が約１ｍｍであり、「極細」とは幅が約０．４ｍｍであることを示す。また、スリットの長さについては、「長」が被検眼上におけるスリット光の長さ約１５ｍｍを示し、「短」が長さ約３ｍｍを示している。しかし、このスリットのサイズは効果的な観察ができるサイズの例示であり、この数値に限定されるものではない。
【００３６】
照明光源の明るさは照度を意味している。この明るさは使用する観察光学系やＣＣＤカメラによってその基準が異なる。そこで、明るさの基準を対象スリットランプの標準照度「Ｍ」を決定し、「Ｈ」で示す高照度を「Ｍ」の約８倍とし、「Ｌ」で示す低照度を「Ｍ」の約１／４倍としている。これも効果的な観察ができる明るさの例示であり、この数値に限定されるものではない。
【００３７】
観察倍率については、「×２０」が２０倍であって高倍率「Ｈ」を示しており、「×１２」が１２倍であって中倍率「Ｍ」を示しており、「×８」が８倍であって低倍率「Ｌ」を示している。これも効果的な観察ができる倍率の例示であり、この数値に限定されるものではない。
【００３８】
また、幅広スリット照明法（２）、チンダル照明法（６）、および、間接照明法に属する各方法（９）（１０）（１１）では、作動位置が決定した後にさらに三軸架台１１をＸ方向やＹ方向に移動させることにより、照明光学系２および撮影光学系３を一体で変位させて観察部位や照明条件を変化させるようにされている。この目的は、当該観察部位を観察するのに最適な光学系の位置を探索すること、観察部位を変更すること、および、反射光を観察目的の病変部から外すことである。具体的な作動は、たとえば三軸架台１１をＸ方向またはＹ方向に移動させつつ僅かに違う観察部位の画像を複数記録することである。その後に検査者が最適な画像を選択する。本実施形態では、これらの目的のために表中に示す方向に変位量を個々に設定し、所定回数変位させる。しかし、これは効果的な観察ができる変位方向、変位量、変位回数の例示であり、この数値に限定されるものではない。
【００３９】
以上の設定値が、各観察法に対応するように制御装置３３に記録されている。また、本制御装置３３にはマウスやスイッチ等の入力手段３５、および、プリンタやモニタディスプレイ等の出力手段３６が接続されている。入力手段３５によって観察法が指定されると、制御装置３３はそのプログラムに従って当該観察法に対応する上記各項目の各設定値どおりに前述した各光学系、光学機器、架台等を自動設定する。入力方法としては、たとえばモニタディスプレイに観察法等のメニューを表示し、この中から所望の観察法をマウス等によって選択するものであってもよい。
【００４０】
また、制御装置３３は作動位置検出動作および被検眼画像の撮影動作を制御する機能も有しており、さらに、撮影した被検眼の画像を記録する記録部も備えている。
【００４１】
かかるスリットランプ１の操作および動作を説明する。まず、検査者が入力手段３５によってメニューから所望の観察法、または、各観察法に振り当てられた符号等（たとえば表１に示す番号）を選択する。スリットランプ１はその制御装置３３により、選択された観察法に対応する各機器（光学系を含む）の諸項目の設定値を自動設定し、所定の固視灯を点灯する。つぎに、検査者は被検者を額当て３７およびあご台３８に誘導し、被検眼の位置が観察のための所定位置となるようにこれら３７、３８を調節する。ついで検査者は被検者に固視灯を注視するように指示し、スタートボタンをＯＮにする。スリットランプ１は作動位置検出装置７の情報に基づいて作動位置検出動作を開始し、作動位置を設定する。ついで、スリットランプ１は前述のごとく選択した観察法に従って撮影動作を行う。選択した観察法による被検眼観察が完了すると、撮影画像は記録部に記録され、各光学系は初期位置に戻る。ついで、出力手段３６が記録画像を出力する。
【００４２】
本実施形態では、第一交点Ｃ１と第二交点Ｃ２とを一致させている。しかし、スリットランプによって被検眼を観察する場合、被検眼を横切るスリット光と観察方向との関係が、上記第一交点Ｃ１を角膜頂点からやや前房内へ入った位置とすることが多い。したがって、このように第一交点Ｃ１をやや前進させる必要がある観察法に対しては、記録部に、作動位置が決定した後の照明光学系２および撮影光学系３の一体変位（三軸架台１１の移動）の項目として、Ｚ方向の変位量、変位回数を設定しておいてもよい。しかし、本発明ではかかる構成に限定されない。たとえば、第一交点Ｃ１を第二交点Ｃ２（作動位置となる点）より若干前方（たとえば約１．５ｍｍ）にずらせて設定しておいてもよい。このようにずらせておくと作動位置が検出されると同時に撮影作動を開始できるからである。
【００４３】
本実施形態では、制御装置３３が各観察法に対応する設定値列（表１）を記録しており、観察法が選択されることによって設定値に従って各機器の作動を制御している。しかし、本発明はかかる構成に限定されない。たとえば、検査者等が入力手段を用いて各設定値を任意に組み合わせたうえでスリットランプが作動するようにしてもよい。この場合、たとえば、各観察法に対応する標準的な各設定値がリストされた表等を用い、検査者の意志によってこの設定値を変更して設定できるので好ましい。
【００４４】
【発明の効果】
本発明のスリットランプによれば、たとえ経験の少ない検者であっても操作がしやすい。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１（ａ）は本発明のスリットランプの一実施形態を示す概略平面図であり、図１（ｂ）はその概略側面図である。
【図２】図１のスリットランプの一部の光学系を示す一部断面側面図である。
【図３】図１のスリットランプにおける各光学系の配置を示す平面図である。
【図４】スリットランプの各光学系の側面または正面を示す、図３のＩＶ−ＩＶ線矢視図である。
【図５】図１のスリットランプを用いた観察法の一例を説明する光路図である。
【図６】図１のスリットランプを用いた観察法の他の例を説明する光路図である。
【図７】図１のスリットランプを用いた観察法のさらに他の例を説明する光路図である。
【図８】図１のスリットランプを用いた観察法のさらに他の例を説明する光路図である。
【図９】図１のスリットランプを用いた観察法のさらに他の例を説明する光路図である。
【符号の説明】
１スリットランプ
２照明光学系
２ａ（照明光学系の）光軸
３観察光学系
３ａ（観察光学系の）光軸
４合焦光投影光学系
４ａ（合焦光投影光学系の）光軸
５合焦検出光学系
５ａ（合焦検出光学系の）光軸
６アライメント光学系
７作動位置検出手段
８照明架台
９観察架台
１０回転軸
１１三軸架台
１１ａＸＺ軸移動台
１１ｂＹ軸移動台
１２可視光ランプ
１３コンデンサレンズ
１４スリット
１５フィルタ
１６投影レンズ
１７カラーＣＣＤカメラ
１８撮影レンズ
１９変倍レンズ
２０対物レンズ
２１赤外ＬＥＤ
２２コンデンサレンズ
２３視標スリット
２４投影レンズ
２５検出センサ
２６結像レンズ
２７赤外ＬＥＤ
２８平行化レンズ
２９ＣＣＤ
３０ミラー
３１ハーフミラー
３２検出レンズ
３３制御装置
３４固視灯
３５入力手段
３６出力手段
３７額当て
３８あご台
３９可視光カットフィルタ
Ｃ１第一交点
Ｃ２第二交点[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a slit lamp. More specifically, the present invention relates to a slit lamp for observing a desired part of the eye to be examined by irradiating the eye to be examined with slit illumination light and receiving the reflected light from the eye to be examined.
[0002]
[Background Art and Problems to be Solved by the Invention]
As described above, the slit lamp irradiates the eye to be examined with slit illumination light and observes a desired part of the eye to be examined. Slit lamps are used for various purposes in ophthalmic medicine. That is, since the slit lamp is for observing various objects with respect to various parts of the eye to be examined, many observation methods are applied according to these. The examiner adjusts the focal point and the optical axis direction of the illumination optical system and the observation optical system of the slit lamp to the desired part of the eye according to his / her own experience according to the observation part of the eye to be examined and the object to be observed. Furthermore, a desired part is observed by changing the shape and size of the slit light.
[0003]
As described above, the slit lamp conventionally requires manual operation by a person skilled in ophthalmic medical care. That is, although it is a slit lamp with a wide use, it is a device which is difficult to handle for unskilled persons.
[0004]
Such a slit lamp is a well-known ophthalmic medical device that is widely used (for example, see Patent Document 1).
[0005]
In view of the current situation, an object of the present invention is to provide a slit lamp that is easy to operate even for an examiner with little experience.
[0006]
[Patent Document 1]
JP 2000-262476 A
[Means for Solving the Problems]
The slit lamp of the present invention is
An illumination optical system for illuminating the anterior segment of the subject's eye with illumination light;
An observation optical system for observing an image of the reflected light reflected by the anterior segment of the illumination light;
An operating position detecting means having an in-focus light projecting optical system that projects in-focus light onto the eye to be examined, and an in-focus detecting optical system that detects the operating position by detecting the in-focus light reflected by the eye to be examined;
An integrated movement of the illumination optical system and the observation optical system with the operation position as a reference point, and a control device for controlling the operation of each optical system,
The first intersection point, which is the intersection point between the optical axes of the illumination optical system and the observation optical system, is predetermined with respect to the second intersection point, which is the intersection point between the optical axes of the focused light projection optical system and the focus detection optical system. Have a positional relationship ,
The illumination optical system and the observation optical system are configured to be rotatable around the first intersection point independently of each other, and the optical axis direction is controlled to be changed by the control device .
[0008]
According to such a slit lamp, the operation position with respect to the eye to be examined is automatically detected, and the first intersection point at that time, that is, the position of the focal point of the imaging optical system with respect to the eye to be examined is clarified, so that the observation site to be aimed is effective. Can be observed.
[0009]
And you may comprise so that said 1st intersection and said 2nd intersection may correspond.
[0011]
This is because, for example, standard setting values corresponding to various observation methods using a slit lamp are listed, and this setting value can be changed and set according to the examiner's will.
[0012]
The first intersection point is configured to be movable in three axis directions of X, Y, and Z by the integral movement of the illumination optical system and the observation optical system, and the recording means is configured to move the first intersection point as an item and A plurality of moving directions and moving distances of the first intersection as the set values may be further recorded.
[0013]
Furthermore, the control device can be configured to execute a combination of setting values selected by the selection means. In this case, it is not necessary to perform the setting of each optical system and optical device described above at the time of observing the eye to be inspected, and thus quick observation is possible.
[0014]
In addition, a fixation target for the subject to fixate,
A slit arranged in the illumination optical system;
Further comprising a recording means,
The upper type recording unit, the position of the fixation target, the optical axis of the illumination optical system, the slit form, brightness of illumination of the illumination optical system, the optical axis of the observation optical system, the observation magnification of the observation optical system And each item including the displacement position of the first intersection point, and a plurality of preset values predetermined for each of the items are recorded,
The control device has a selection means for selecting a desired setting value from a plurality of setting values for each item,
The recording means is configured to record a plurality of setting value strings obtained by combining predetermined predetermined setting values selected from the respective items, and is configured so that a desired setting value string can be selected by the selecting means. Are preferred . In this case, it is possible to record a set value sequence suitable for various observation methods, whereby an appropriate optical system and optical apparatus are automatically set only by selecting an observation method.
[0015]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
A slit lamp according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
[0016]
Fig.1 (a) is a schematic plan view which shows one Embodiment of the slit lamp of this invention, FIG.1 (b) is the schematic side view. FIG. 2 is a partial sectional side view showing a part of the optical system of the slit lamp of FIG. FIG. 3 is a plan view showing the arrangement of optical systems in the slit lamp of FIG. 4 is a view taken along the line IV-IV in FIG. 3, showing the side or front of each optical system.
[0017]
The slit lamp 1 shown in FIGS. 1 to 4 is for observing an image of an illumination optical system 2 for illuminating the anterior segment of the subject's eye with illumination light and the reflected light reflected by the eye E of the illumination light. Observation optical system 3 (FIG. 2). Furthermore, a focusing light projection optical system 4 for projecting the focused light onto the eye to be examined and a focus detection optical system 5 for detecting the focused light reflected by the eye E to be examined are provided (FIGS. 3 and 4). . An in-focus light projection optical system 4 and a focus detection optical system 5 to which an alignment optical system 6 described later is added is referred to as an operating position detection device 7. In addition, a fixation lamp 34 for fixing the visual axis of the eye to be examined in a fixed direction by fixing the eye E to be examined is provided. The position of the fixation lamp 34 can be changed. Reference numeral 37 is a forehead pad and reference numeral 38 is a chin stand. The subject presses the forehead against the forehead pad 37 and places the chin on the chin table 38 to fix the face.
[0018]
As shown in FIGS. 1 and 3, the illumination optical system 2 and the observation optical system 3 are arranged such that their

optical axes

2a and 3a intersect each other. This intersection is referred to as a first intersection C1. Furthermore, the illumination optical system 2 and the observation optical system 3 are both independently configured to be rotatable in a horizontal plane with the

optical axes

2a and 3a facing the first intersection C1 around the first intersection C1. Yes. That is, the angle formed by the two

optical axes

2a and 3a can be changed. In FIG. 3, the position before rotation is indicated by a two-dot chain line, and the position after rotation is indicated by a solid line. With this configuration, the illumination direction and the observation direction for the eye E can be changed. In this configuration, as shown in the figure, an illumination base 8 on which the illumination optical system 2 is mounted and an observation base 9 on which the observation optical system 3 is mounted are attached so as to be rotatable around the same rotation axis 10 at their distal ends. Is possible. That is, the first intersection C1 coincides with the central axis of the rotation shaft 10.
[0019]
The rotating shaft 10 is projected from a triaxial mount 11 that can move in the left-right direction (X-axis), the up-down direction (Y-axis), and the front-rear direction (Z-axis). As shown in FIG. 2, the triaxial mount 11 includes an XZ axis moving table 11a employing a known XY table or the like, and a Y axis moving table 11b having a lifting function installed on the XZ moving table 11a. Has been.
[0020]
The

optical axes

4a and 5a of the focusing light projection optical system 4 and the focusing detection optical system 5 also intersect each other. This intersection is called a second intersection C2. However, since the focusing light projection optical system 4 and the focusing detection optical system 5 are fixed to the triaxial mount 11, the angle formed by these

optical axes

4a and 5a does not change. In the present embodiment, the first intersection C1 and the second intersection C2 coincide with each other, but may be slightly shifted in the Z-axis direction as described later.
[0021]
As shown in FIG. 2, the illumination optical system 2 includes a visible light lamp 12 as an illumination light source for observing an eye to be examined, and a condenser lens 13 and a shape-variable variable toward the eye E along the optical axis 2a. A slit 14, an exchangeable filter 15, and a projection lens 16 are provided in that order. Then, the illumination light from the visible light lamp 12 is caused to reach the eye E by the mirror 30. The observation optical system 3 is for observing the region of the subject's eye illuminated by the illumination optical system 2 and has a color CCD camera 17 and is directed toward the subject's eye E along the optical axis 3a. The zoom lens 19 and the objective lens 20 are provided. As described above, the

optical axes

2a and 3a of the illumination optical system 2 and the observation optical system 3 intersect at the first intersection C1, and the two

optical systems

2 and 3 are focused on the first intersection C1.
[0022]
As shown in FIGS. 3 and 4, the focused light projection optical system 4 includes an infrared LED 21 as a focused light source, and the condenser lens 22 is viewed toward the eye E along the optical axis 4a. A mark slit 23 and a projection lens 24 are provided. The focus detection optical system 5 is for detecting the focused light reflected by the vertex of the eye E, and has a detection sensor 25 composed of a line sensor, an area sensor, etc., and the eye E to be examined on the optical axis 5a. An imaging lens 26 and a visible light cut filter 39 are provided on the side. These

optical systems

4 and 5 position the slit lamp 1 in the Z direction with respect to the eye to be examined. That is, by moving the triaxial mount 11 back and forth with respect to the eye to be examined, the focal point is detected when the second intersection C2 of the

optical axes

4a and 5a coincides with the apex of the eye E to be examined.
[0023]
As shown in FIG. 2, the alignment optical system 6 is for positioning the slit lamp 1 in each of the XY directions with respect to the eye to be examined, and has an infrared LED 27 as a light source of alignment index light for irradiating the eye to be examined. A collimating lens 28 is provided on the optical axis 6a. Then, the alignment index light is applied to the anterior eye portion of the eye E through the mirror 30, the half mirror 31, and the mirror 30. Further, the alignment optical system 6 has a CCD 29 as an alignment sensor that receives a bright spot (Purkinje image) as a reflection image of the alignment light source 27 from the eye to be examined. The reflected image (reflected light) reaches the CCD 29 through the mirror 30, the half mirror 31, the detection lens 32, and the mirror 30 arranged along the optical axis 6a. The alignment optical axis 6a is made to coincide with the corneal apex by moving the triaxial mount 11 in the XY directions based on this Purkinje image.
[0024]
Detection of the working position by the operating position detecting device 7 is accomplished by performing a focusing operation and the alignment operation and concurrently. Specifically, the triaxial mount 11 is advanced toward the eye E (Z direction). Then, when the Purkinje image can be detected by the alignment optical system 6, the triaxial mount 11 is displaced in the X direction and the Y direction to perform alignment. While maintaining alignment, that is, while maintaining the alignment optical axis 6a within a predetermined range of the corneal apex, the triaxial mount 11 is displaced in the Z direction. The operating position is detected when the second intersection C2 coincides with the corneal apex of the eye to be examined. At this time, for example, the illumination light source 12 is caused to emit light and the CCD camera 17 captures an image of the observation site.
[0025]
As shown in FIG. 3, the optical axis 6a that reaches the eye E of the alignment optical system 6 passes through the first intersection C1 and the second intersection C2. Then, the detection of focus by the focused light projection optical system 4 and the focusing detection optical system 5, a result of the alignment by the alignment optical system 6 is carried out concurrent to the working position is detected Become.
[0026]
As described above, both the illumination optical system 2 and the observation optical system 3 are independently configured to be rotatable in the horizontal plane around the first intersection C1. Therefore, the observation part of the eye to be examined can be observed by changing the illumination direction and the observation direction with respect to the eye E. Furthermore, the eye to be examined can be illuminated by changing the slit shape of the illumination light, for example, changing the slit width, the slit length, and the outer shape of the slit such as a circle or a rectangle. Further, the brightness of the visible light lamp 12 of the illumination optical system can be changed according to the observation target. By replacing the filter 15 of the illumination optical system 2 with a different type, for example, a scattering filter, a green filter, a blue filter, or the like, different illumination light can be irradiated to the eye to be examined. It is also possible to change the observation magnification by the variable magnification lens 19 of the observation optical system 3. Of course, the observation region of the eye E can be changed by moving the triaxial mount 11 in the respective directions of XYZ and changing the position of the fixation lamp 34. With this action, the slit lamp 1 can observe various parts by various observation methods according to the observation target of the eye E to be examined.
[0027]
As shown in FIG. 1, the slit lamp 1 includes a control device 33. The control device 33 operates the illumination gantry 8 and the observation gantry 9 as described above, various operations of the illumination optical system 2 and the observation optical system 3, the operation of the operation position detection device 7, the operation of the triaxial gantry 11, and the fixation. The operation of the lamp 34 is controlled. The control device 33 stores a program for executing various observation methods corresponding to the observation target of the eye to be examined. The operation of the optical system of the slit lamp 1 is different depending on each observation method.
[0028]
As shown in Table 1, although the observation method is named mainly based on the difference in the illumination method, the direct illumination method, the slit illumination method, the transillumination method, and the observation illumination method are illustrated. These observation methods will be described with reference to Table 1 and FIGS. 5 to 9 are plan views, in which solid arrows indicate the illumination optical axis 2a and the observation optical axis 3a, and broken arrows indicate the visual axis Ea of the eye E to be examined.
[0029]
[Table 1]

Among the direct illumination methods, (1) a diffuse illumination method (FIG. 5) for illuminating and observing the anterior segment with uniform illumination without using a slit, and (2) an observation site with a medium-width slit light On the other hand, the wide slit illumination method (FIG. 5) which illuminates so as to avoid corneal reflection from the opposite side of the eye axis and observes a wide anterior segment lesion is illustrated.
[0030]
As the slit illumination method, (3) a first ultra-slit illumination method (FIG. 6) for observing an optical cross section of the cornea, anterior chamber, crystalline lens, etc. from an oblique direction by irradiating a thin slit light (5) illumination light from the side A tangential illumination method (Fig. 8) for observing iris and cornea irregularities, and (6) irradiating fine illumination light across the anterior chamber and scattering the light from the anterior chamber. Exemplifies the Tyndall illumination method (FIG. 8) for observing a floating object. In addition, (4) the ultra-fine slit illumination method includes a second ultra-slit illumination method (FIG. 7) in which a portion having a different depth from the anterior ocular surface is observed with good overall focus.
[0031]
As for the transillumination method, (7) the illumination optical axis and the observation optical axis are substantially coaxial, the illumination light beam is reduced to irradiate the fundus from the periphery of the pupil, and the lens is reflected by the fundus reflection backlight. The transillumination method to be observed (FIG. 5) and (8) Iris which is almost the same as this transillumination method, but irradiates the illumination light beam from the center of the pupil to the fundus and observes the iris defect portion with the fundus reflection backlight. There is a transillumination method (FIG. 9).
[0032]
The indirect illumination method includes (9) a background illumination method (FIG. 6) for observing the silhouette of the cornea and the lens by illuminating the background of the part obliquely while avoiding the observation part, and (10) the observation part with a narrow slit light. Illuminating the vicinity and observing foreign matter in soft tissue, deposits on the back of the cornea, new blood vessels and the like with the scattered light, and (11) cornea by illuminating the sclera with wider slit light There is a scleral scattering method (FIG. 8) for observing the cornea using the light guide effect in the tissue.
[0033]
As shown in Table 1, each of these observation methods includes the position of the fixation lamp 34, the direction of the optical axis 2a of the illumination optical system 2, the shape of the slit 14, the type and presence of the filter, and the brightness of the illumination light source. Among the items of the direction of the optical axis 2a and the observation magnification of the observation optical system 2, and the integral displacement (movement of the triaxial mount 11) of the illumination optical system 2 and the photographing optical system 3 after the operation position is determined One of them has a different value (set value). Thus, a set value set in advance for each observation method is a set value sequence.
[0034]
Regarding the position of the fixation lamp, the direction of the illumination optical axis, and the direction of the observation optical axis in Table 1, the case where the subject's eye is the left eye of the subject is illustrated. When this is the right eye, the descriptions of “right” and “left” in the table are opposite “left” and “right”, respectively. The angles indicating the directions of the illumination optical axis and the observation optical axis are angles formed by the

optical axes

2 a and 3 a and the optical axis 6 a of the alignment optical system 6. The left eye, right eye, left, and right are directions seen from the examiner. “Front” indicates that the observation optical axis 3 a coincides with the optical axis 6 a of the alignment optical system 6. Further, although the position of the fixation lamp is indicated by an angle, this is an angle formed in the horizontal plane between the straight line connecting the fixation lamp and the vertex of the eye to be examined and the optical axis 6 a of the alignment optical system 6. Therefore, it can be assumed that the visual axis of the eye to be examined is at such an angle with the optical axis 6 a of the alignment optical system 6. These angles are examples of values that allow effective observation, and are not limited to these values. In this embodiment, one fixation lamp 34 is optically arranged on the optical axis 6a of the alignment optical system 6, and one fixed lamp 34 is arranged on each of the left and right sides thereof.
[0035]
“Fully open” for the slit shape means that no slit is used (for example, circular illumination light having a diameter of about 15 mm), and “medium width” means that the width of the slit light on the eye to be examined is about The width is 3 mm, the narrow width is about 1 mm, and “extremely thin” means that the width is about 0.4 mm. As for the length of the slit, “long” indicates a length of about 15 mm of slit light on the eye to be examined, and “short” indicates a length of about 3 mm. However, the size of the slit is an example of a size that enables effective observation, and is not limited to this value.
[0036]
The brightness of the illumination light source means illuminance. The standard of this brightness varies depending on the observation optical system and CCD camera used. Therefore, the standard illuminance “M” of the target slit lamp is determined as the standard of brightness, the high illuminance indicated by “H” is set to about 8 times “M”, and the low illuminance indicated by “L” is set to be approximately equal to “M”. 1/4 times. This is also an example of brightness that allows effective observation, and is not limited to this value.
[0037]
Regarding the observation magnification, “× 20” is 20 times, indicating a high magnification “H”, “× 12” is 12 times, indicating a medium magnification “M”, and “× 8” is It is 8 times and indicates a low magnification “L”. This is also an example of a magnification that enables effective observation, and is not limited to this value.
[0038]
In the wide slit illumination method (2), the chindal illumination method (6), and the methods (9), (10), and (11) belonging to the indirect illumination method, the triaxial mount 11 is further moved to X after the operating position is determined. By moving in the direction and the Y direction, the illumination optical system 2 and the photographing optical system 3 are displaced together to change the observation region and the illumination conditions. The purpose is to search for an optimum position of the optical system for observing the observation site, to change the observation site, and to remove the reflected light from the lesion site for the observation purpose. A specific operation is to record a plurality of images of slightly different observation sites while moving the triaxial mount 11 in the X direction or the Y direction, for example. Thereafter, the inspector selects an optimal image. In this embodiment, for these purposes, displacement amounts are individually set in the directions shown in the table and displaced a predetermined number of times. However, this is an example of the direction of displacement, the amount of displacement, and the number of displacements that can be effectively observed, and is not limited to this value.
[0039]
The above set values are recorded in the control device 33 so as to correspond to each observation method. The control device 33 is connected to input means 35 such as a mouse and a switch and output means 36 such as a printer and a monitor display. When the observation method is designated by the input means 35, the control device 33 automatically sets the above-described optical systems, optical devices, pedestals, etc. according to the set values of the respective items corresponding to the observation method according to the program. As an input method, for example, a menu such as an observation method may be displayed on a monitor display, and a desired observation method may be selected by using a mouse or the like.
[0040]
The control device 33 also has a function of controlling the operation position detection operation and the photographing operation of the eye image, and further includes a recording unit that records the photographed image of the eye.
[0041]
The operation and operation of the slit lamp 1 will be described. First, the inspector selects a desired observation method or a code assigned to each observation method (for example, the numbers shown in Table 1) from the menu by the input means 35. The slit lamp 1 automatically sets the setting values of various items of each device (including the optical system) corresponding to the selected observation method by the control device 33, and lights a predetermined fixation lamp. Next, the examiner guides the subject to the forehead support 37 and the chin table 38, and adjusts the

positions

37 and 38 so that the position of the subject eye becomes a predetermined position for observation. Next, the inspector instructs the subject to watch the fixation lamp, and turns on the start button. The slit lamp 1 starts the operation position detection operation based on the information of the operation position detection device 7, and sets the operation position. Next, the slit lamp 1 performs a photographing operation according to the observation method selected as described above. When the eye observation by the selected observation method is completed, the captured image is recorded in the recording unit, and each optical system returns to the initial position. Next, the output means 36 outputs a recorded image.
[0042]
In this embodiment, the 1st intersection C1 and the 2nd intersection C2 are made to correspond. However, when the subject's eye is observed with a slit lamp, the relationship between the slit light that crosses the subject's eye and the observation direction is often set such that the first intersection C1 is located slightly in the anterior chamber from the apex of the cornea. Therefore, for the observation method in which the first intersection C1 needs to be moved slightly forward in this way, the displacement of the illumination optical system 2 and the imaging optical system 3 after the operation position is determined (triaxial mount) is determined in the recording unit. 11), the amount of displacement in the Z direction and the number of displacements may be set. However, the present invention is not limited to such a configuration. For example, the first intersection C1 may be set so as to be slightly shifted (for example, about 1.5 mm) from the second intersection C2 (the point to be the operating position). This is because if the position is shifted in this way, the photographing operation can be started at the same time as the operation position is detected.
[0043]
In the present embodiment, the control device 33 records a set value sequence (Table 1) corresponding to each observation method, and controls the operation of each device according to the set value by selecting the observation method. However, the present invention is not limited to such a configuration. For example, the slit lamp may be operated after the inspector or the like arbitrarily combines the set values using the input means. In this case, for example, it is preferable to use a table or the like in which standard setting values corresponding to each observation method are listed and change the setting values according to the examiner's will.
[0044]
【The invention's effect】
According to the slit lamp of the present invention, even an inexperienced examiner can easily operate.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 (a) is a schematic plan view showing an embodiment of a slit lamp of the present invention, and FIG. 1 (b) is a schematic side view thereof.
2 is a partial cross-sectional side view showing a part of the optical system of the slit lamp of FIG. 1;
3 is a plan view showing the arrangement of optical systems in the slit lamp of FIG.
4 is a view taken along the line IV-IV in FIG. 3, showing a side surface or a front surface of each optical system of the slit lamp.
FIG. 5 is an optical path diagram for explaining an example of an observation method using the slit lamp of FIG. 1;
6 is an optical path diagram for explaining another example of an observation method using the slit lamp of FIG. 1; FIG.
7 is an optical path diagram for explaining still another example of the observation method using the slit lamp of FIG. 1. FIG.
FIG. 8 is an optical path diagram for explaining still another example of the observation method using the slit lamp of FIG. 1;
FIG. 9 is an optical path diagram for explaining still another example of the observation method using the slit lamp of FIG. 1;
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Slit lamp 2 Illumination optical system 2a Optical axis 3 (of illumination optical system) Observation optical system 3a Optical axis 4 of observation optical system Focusing light projection optical system 4a Optical axis 5 alignment (of focusing light projection optical system) Focus detection optical system 5a Optical axis 6 (of focus detection optical system) Alignment optical system 7 Operating position detection means 8 Illumination frame 9 Observation frame 10 Rotating shaft 11 Triaxial frame 11a XZ axis moving table 11b Y axis moving table 12 Visible light Lamp 13 Condenser lens 14 Slit 15 Filter 16 Projection lens 17 Color CCD camera 18 Shooting lens 19 Variable magnification lens 20 Objective lens 21 Infrared LED
22 Condenser lens 23 Target slit 24 Projection lens 25 Detection sensor 26 Imaging lens 27 Infrared LED
28 Parallelizing lens 29 CCD
30 mirror 31 half mirror 32 detection lens 33 control device 34 fixation lamp 35 input means 36 output means 37 forehead support 38 chin stand 39 visible light cut filter C1 first intersection C2 second intersection

Claims

An illumination optical system for illuminating the anterior segment of the subject's eye with illumination light;
An observation optical system for observing an image of the reflected light reflected by the anterior segment of the illumination light;
An operating position detecting means having an in-focus light projecting optical system that projects in-focus light onto the eye to be examined, and an in-focus detecting optical system that detects the operating position by detecting the in-focus light reflected by the eye to be examined;
An integrated movement of the illumination optical system and the observation optical system with the operation position as a reference point, and a control device for controlling the operation of each optical system,
The first intersection point, which is the intersection point between the optical axes of the illumination optical system and the observation optical system, is predetermined with respect to the second intersection point, which is the intersection point between the optical axes of the focused light projection optical system and the focus detection optical system. Have a positional relationship,
A slit lamp configured such that the illumination optical system and the observation optical system can be rotated around the first intersection independently of each other, and the optical axis direction is controlled to be changed by the control device.

The slit lamp according to claim 1, wherein the first intersection and the second intersection are matched.

An alignment optical system for aligning in the XY direction perpendicular to the Z axis toward the eye to be examined;
The optical axis of the alignment optical system coincides with the Z-axis, the first intersection and the second intersection are both located on the optical axis of the alignment optical system, and the first intersection is a predetermined rejection from the second intersection. 2. The slit lamp according to claim 1, wherein the slit lamp is located forward.

It further includes a fixation target for the subject to fixate, a slit disposed in the illumination optical system, and a recording means,
The recording means is the position of the fixation target, the optical axis direction of the illumination optical system, the slit shape, the illumination brightness of the illumination optical system, the optical axis direction of the observation optical system, the observation magnification of the observation optical system, And each item including the displacement position of the first intersection point,
It is configured to record a plurality of predetermined set values for each of the items,
The slit lamp according to claim 1, wherein the control device includes a selection unit that selects a desired set value from a plurality of set values for each of the items.

An alignment optical system for aligning in the XY direction perpendicular to the Z axis toward the eye to be examined; and the optical axis of the alignment optical system coincides with the Z axis,
The optical axis direction of the illumination optical system and the optical axis direction of the observation optical system are respectively defined by the angle of the optical axis of the illumination optical system and the angle of the optical axis of the observation optical system. The slit lamp according to claim 4.

The first intersection is configured to be movable in the three axial directions of X, Y, and Z by the integral movement of the illumination optical system and the observation optical system,
The slit lamp according to claim 4, wherein the recording means further records the movement of the first intersection as an item and a plurality of movement directions and movement distances of the first intersection as a predetermined set value.

The slit lamp according to any one of claims 4 to 6, wherein the control device is configured to execute a combination of set values selected by the selection means.

A fixation target for the subject to fixate;
A slit arranged in the illumination optical system;
Recording means ,
The upper type recording unit, the position of the fixation target, the optical axis of the illumination optical system, the slit form, brightness of illumination of the illumination optical system, the optical axis of the observation optical system, the observation magnification of the observation optical system And each item including the displacement position of the first intersection point, and a plurality of preset values predetermined for each of the items are recorded,
The control device has a selection means for selecting a desired setting value from a plurality of setting values for each item,
The recording means is configured to record a plurality of setting value sequences in which predetermined setting values selected from the respective items are combined,
2. The slit lamp according to claim 1 , wherein a desired set value string can be selected by the selection means.

The first intersection is configured to be movable in the three axial directions of X, Y, and Z by the integral movement of the illumination optical system and the observation optical system,
9. The slit lamp according to claim 8, wherein the recording means further records the movement of the first intersection as an item, and a plurality of movement directions and movement distances of the first intersection as predetermined setting values.

The slit lamp according to claim 8 or 9, wherein the control device is configured to execute a combination of set values selected by the selection means.