JP4160755B2 - 溶接されたアセンブリの弾性ひずみエネルギーを評価する方法、及び超音波表面波の速度を測定する分析装置 - Google Patents
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Description
本発明は、溶接されたアセンブリの弾性ひずみエネルギーを評価する方法、及び、この方法に応用可能な測定装置であって、超音波表面波の速度の測定に応用される装置に関する。
【0002】
機械部品の弾性ひずみエネルギーは、それを破壊するのに必要なエネルギーである。それは、シャルピーマシンのような特殊器械の中で或る標準を守りながら、アセンブリを代表する試験片の上で実行される試験によって評価され得る。試験片の作製及びマシンの使用は制約的であること、及び応用する上でもっと容易な方法、特に弾性ひずみエネルギーを間接的に評価することができる非破壊的モニタリングが有利であることは明らかである。
【0003】
弾性ひずみエネルギーを評価するそのような間接的な方法は、これまで設計されており、本発明の目的である。それは、超音波表面波を使用することに基づいており、部品の特殊なファミリー、即ち、溶接されたアセンブリ、具体的には、材料を付加することなく拡散又は類似の方法によって溶接された、幾分薄いシートの材料を、他のシート又はより厚い部品であってよい基板の上に有するアセンブリへ応用される。
【0004】
通常、超音波試験は、分析される部品を液体の中へ沈めた後に実行される。超音波は、液体中で部品に向かって射出され、部品に達したとき、それによって反射又は吸収されることができる。或る好ましい入射角の場合、超音波は伝搬モードの変換を受け、浅い深さよりも浸透することなく部品の表面へ伝搬し、レイリー波と呼ばれる表面波を提供する。発明者の研究は、これらの表面波が、前述したアセンブリの溶接の品質に相関させられること、更に正確には、これらアセンブリ内で、これらの波の伝搬速度にリンクされたパラメータが、アセンブリの弾性ひずみエネルギーとの相関を有し、溶接は、その品質の関数として波の伝搬及びこのパラメータに影響を与えることを証明した。
【0005】
本発明は、その最も一般的な形式では、基板上に金属シートを有する溶接されたアセンブリの弾性ひずみエネルギーを評価する方法である。この方法は、シート上に超音波表面波を生成し、前記波の速度を測定し、速度パラメータを推定し、相関関数に従ってアセンブリの弾性ひずみエネルギーを推定することから構成されることを特徴とする。この相関関数は、前もって、類似の溶接されたアセンブリを含む較正試験片の上で得られ、較正試験片の弾性ひずみエネルギーを較正試験片の速度パラメータに関連させる。
【0006】
好ましくは、溶接されたアセンブリの上で、これらの波の2つの速度が、シートの異方性のためにシートの2つの主方向に沿って測定される。発明者らは、速度パラメータが、2つの速度の低い方から推定されるべきであると考える。このパラメータは、溶接されたアセンブリの金属シートの上で測定された超音波の速度と、金属薄板の母材から作られているが溶接されたアセンブリを有しない基準片の上で測定された超音波の速度との差であることができる。計算が行われる速度は同じ条件で測定されることが適切である。即ち、それらの速度は、溶接されたアセンブリの金属薄板の上、及び基準片の金属シートの上で、同じ測定方向を含むことが適切である。
【0007】
本発明の他の態様は、この方法に応用可能な測定器械である。それは、部品の方向へ傾斜して向けられる超音波射出ヘッドを含んで部品上の超音波表面波の速度を測定する器械から構成され、部品から拡散された波の一部分を集めるか、前記一部分をエコーとして射出ヘッドへ戻すように定められた第2のヘッドを含み、第2のヘッドは、射出ヘッドの傾斜とは反対の傾斜で部品の方向へ向けられており、波の前記一部分を集めるか戻すため2つの作用面を含み、これらの作用面は部品から等距離で段階的に配列されていることを特徴とする。
【0008】
有利には、それは、ヘッドの傾斜の調節を可能にするように設計されたフレーム、及びフレーム上のヘッド支持機構を含み、更に、作用面は平行軸及び同じ半径を有する円柱であることが推奨される。
【0009】
本発明は、図面を参照して説明される。
【0010】
使用される機械はフレーム1を含む。フレーム1は、固定点3を有する垂直懸架柱2、及び圧力ネジ6によって柱2の上の所定の場所に固定されることのできるスライド5を仲介として柱2へ連結された案内面4から構成されることができる。2つのポインタ7及び8は、案内面4の両側に置かれ、圧力ネジ9及び10によって適所に保持されることができる。ポインタの各々は、11及び12として参照される測定ヘッドを有する。測定ヘッドの必須の要素は、第1の測定ヘッドでは超音波センサ13であり、第2の測定ヘッドでは反射器14である。ヘッド11及び12は、相互に対して平行で案内面4の方向に対して垂直な水平ピボット15及び16によってポインタ7及び8の上に取り付けられ、歯付きセクタ17及び18を備えている。セクタ17及び18は、ポインタ7及び8へ取り付けられたハンドル21及び22を調節することによって作動されるウォームネジ19及び20と係合するラックを形成し、従って、ヘッド11及び12は、選択された傾斜で相互に対向して設定されることができ、センサ13及び反射器14は、下降及び収束方向を指すことができる。ポインタ7及び8上のヘッド11及び12をブロックする他の固定ネジ23及び24は、所望の傾斜に達したとき、ポインタ7及び8に対する歯付きセクタ17及び18の望まれない回転を停止することを可能にする。最後に、スライド5の下に置かれたフライホイール43は、案内面4を水平面で回転することを可能にする。
【0011】
ここで図示された実施形態において、センサ13は、当技術分野でしばしば行われるように、超音波を射出してエコーを集める役割を付与され、反射器14は、これらのエコーを生成する役割を付与される。一方では、測定原理を修正することなく、後で説明するようにして、反射器14を一対のセンサで置換することができる。
【0012】
機械は、部分的に水で満たした測定タンク25の上に張り出しており、センサ13及び反射器14は部分的に沈められ、使用される超音波が液体から出ないようになっている。機械によって調べられている部品は、溶接されたアセンブリ26である。アセンブリ26は、上部にあってセンサ13及び反射器14に対面している相当に薄い金属シート27、及び他の金属シートであるか、より厚い部品であってよい基板28から構成される。溶接されたアセンブリ26は、タンク25の底でブロック29の上に置かれる。
【0013】
センサ13は、結果を表示するためのオシロスコープ31及びパルス発生器32を介して制御コンソール30へ接続される。センサ13は、超音波が金属シート27へ達するように、水中で斜めに超音波を射出する。もしヘッド11及び波の方向の傾斜角θが良好に選択されるならば(約30゜)、波は、金属シート27の上面及び浅い深さ部分に存在するレイリー表面波の形式で金属シート27へ送られる。波は、シート27が相当に薄いので、溶着部に達する。波はシート27の端へ向かって進むが、一部分は、垂直線に対して波の入射方向と対称に、前述した値θに対応する角度で上方へ拡散される。
【0014】
反射器14は、プリズム33及び34から構成される。プリズムの下面35及び36は、金属シート27の方向へ向けられ、超音波を反射する。もし、これらの表面が、表面波の上方への拡散方向に垂直であれば、このように拡散された波の部分は、プリズム33及び34によって、金属シート27の方向へエコーとして戻され、戻りレイリー表面波を形成する。戻りレイリー表面波の部分は、同じ原理に従ってセンサ13の方向へ拡散される。外出及び入来する波の通路は、全く同一である。従って、センサ13は、反射面35及び36上の波の反射に対応する2つのエコーを登録し、これらのエコーは、波の部分がこれらの表面35及び36の方向へ拡散される金属シート27の部分を隔てている距離Xの2倍(外出及び入来)を波が移動するのに必要な時間tだけ離れている。
【0015】
2つのエコーは、オシロスコープ31によって提供される記録の上で37及び38として参照され、図2に示される。それらのエコーは、類似しているので容易に識別できる。金属シート27の端40による波の反射によって作り出され、波が固体を通ってより大きな速度を有するため、前記のエコーの前にセンサ13へ戻ることのできる他のエコー、例えば39も見ることができるが、本方法に関連を有しない。
【0016】
前述したような試験へ進んで、式V=2X/tに従って金属シート27内の表面波の伝搬速度を計算する前に、最も完全なモード変換を引き起こすことによってエコー37及び38を増大させるため、予備的な調整試験が、ヘッド11及び12の傾斜を調節することによって実行される。液体中の波の移動時間は考慮されない。なぜなら、反射面35及び36は、階段状にされ、金属シート27から傾斜角θで実質的に同じ距離に置かれているからである。
【0017】
実際には、もっと複雑な試験片、例えば、図3に示されるような試験片41を使用して試行へ進むことができる。試験片41は、金属シート27に類似した金属シート27’(即ち、同じ厚さ、同じ組成、及び同じ方法で作製されたもの)、組成において基板28に類似した基板28’、及び金属シート27(又は27’)の母材から形成された下部層42から構成される。従って、下部層42は、同じ組成を有し同じ方法で作製されているが、より厚く作製されている。下部層42は、金属シート27’とは反対側の基板28’の表面へ溶接される。
【0018】
溶接されたアセンブリ26の代わりに機械の下に置かれた試験片41は、金属シート27’の2つの主方向、即ち、縦方向及び横方向で超音波表面波の速度Vl及びVtを測定し、次に、試験片41を引っくり返した後に、下部層42の対応する速度Vl0及びVt0を測定することを可能にする。主方向は、金属シート27’の圧延方向によって制御される。実際に、圧延は、金属シート内に異方性を作り出し、従って、VlとVtとの間、又はVl0とVt0との間に、相当に目立つ差を作り出す。値Vl及びVtは、27’と28’との間に施された溶接によって影響を受け、値Vl0及びVt0は、下部層42の母材の固有特性を表す。下部層42の厚さは、波が基板28’との溶着部まで浸透するには大きすぎる。注意すべきは、基板28’を下部層42へ溶接することなく、これらの測定を実行できることである。その場合、溶接されたアセンブリ26に加えて、別個に下部層42を使用して、Vl0及びVt0を計算する。
【0019】
次に、各々の試験片41について、Vl及びVtから最も低い速度を選択し、再びVl0及びVt0から最も低い速度を選択し、これらの最も低い値を相互から引き算し、パラメータΔVを得る。パラメータΔVは、金属シート27’と基板28’との間で溶接されたアセンブリの弾性ひずみエネルギーへ非常に良好に相関する。この弾性ひずみエネルギーは、シャルピーマシン又は他の適切なマシンによって実行される機械的試験によって測定される。これらの試験は、標準化され、通常の方法で実行されるので、ここで説明する必要はない。これらの機械的測定に使用される試験片は、Vl及びVtを測定した溶接されたアセンブリ26と類似したものでなければならない。即ち、金属シート、基板、及びそれらの溶接条件は同じでなければならない。
【0020】
図4は、前述したように定義される低速度の差ΔV(m/s)と、チタン合金金属シートの溶接された接合部における弾性ひずみエネルギーR(J/cm2)との間に発見された線形相関を示す。
【0021】
相関関数のために幾つかの点を得るための異なった溶接条件のもとで、試験片41又は26について行われた較正によって、相関関数が得られたとき、ΔVが測定される他の試験片について、非破壊モニタリングが可能である。その場合、弾性ひずみエネルギーRは、相関グラフから読み取られる。
【0022】
最後に図5を参照して、機械の改良を説明する。それは反射を処理する第2のヘッド12の改善された設計である。この改良設計では、プリズム33及び34が、平面ではなく円柱形の反射面35’及び36’を有するプリズム33’及び34’で置換される。反射面35’及び36’の軸はピボット16と平行であり、反射面35’及び36’は同じ半径を有する。金属シート27と、これらの反射面35’及び36’との間で拡散された波は、常に、傾斜角θで同じ方向へ戻される。これは、この修正された反射器の傾斜の調節を不要にする。
【0023】
本発明の方法は、溶接されたアセンブリの幾つかの箇所で測定を実行して、その均一性を評価することを可能にする。
【図面の簡単な説明】
【図1】 使用される機械の略図である。
【図2】 測定記録を示す図である。
【図3】 基準片又は試験片を示す図である。
【図4】 得られた相関関数の実際の例を示す図である。
【図5】 機械の改良を示す図である。
Claims (8)
- 基板(28)上に金属シート(27)を有する溶接されたアセンブリ(26)の弾性ひずみエネルギーを評価する方法であって、
金属シートの母材で作られた部品(42)上で超音波表面波を生成する段階と、
該部品上の超音波表面波の速度を測定する段階と、
金属シート(27)上で超音波表面波を生成する段階と、
前記金属シート上の超音波表面波の速度を測定する段階と、
溶接されたアセンブリの金属シート上の超音波表面波と、部品(42)の上の超音波表面波の速度差から速度パラメータ(ΔV)を推定する段階と、
類似の溶接されたアセンブリを含む試験片から既に得られた試験片の弾性ひずみエネルギーを試験片の速度パラメータへ関連させる相関関数に従って、アセンブリの弾性ひずみエネルギーを推定する段階とからなることを特徴とする方法。 - 溶接されたアセンブリ(26)上の前記超音波の2つの速度(Vl、Vt)を、金属シート(27)の2つの主方向で測定することからなることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 速度パラメータが、2つの速度の低い方から推定されることを特徴とする、請求項2に記載の方法。
- 速度差が、溶接されたアセンブリ上の2つの速度の低い方、及び金属シートの母材で作られた部品の2つの主方向で測定された2つの速度の低い方について計算されることを特徴とする、請求項3に記載の方法。
- 部品に向かって斜め方向の超音波表面波の射出ヘッドを含み、部品上で超音波表面波の速度を測定する装置であって、部品から拡散された超音波の一部分を集めるか、前記一部分をエコーとして射出ヘッドへ戻すように定められた第2のヘッド(12)を含み、第2のヘッドは、射出ヘッドの傾斜とは反対の傾斜で部品の方向へ向けられており、また前記超音波の一部分を集めるか戻すために部品から等距離で段階的に配列された2つの作用面(35、36)を含むことを特徴とする装置。
- ヘッドの傾斜を調節できるように設計されたフレーム、及びフレーム上のヘッドのための支持機構(4、17、18、19、20、21、22)を含むことを特徴とする、請求項5に記載の装置。
- 作用面(33’、34’、35’、36’)が、平行な軸及び同じ半径を有する円柱形であることを特徴とする、請求項5または6に記載の装置。
- ヘッド(11、12)が、水平面で枢動するサポート(4、5、43)に取り付けられたことを特徴とする、請求項5から7のいずれか一項に記載の装置。
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