JP4132016B2 - 整合回路およびプラズマ処理装置 - Google Patents

整合回路およびプラズマ処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4132016B2
JP4132016B2 JP2001391875A JP2001391875A JP4132016B2 JP 4132016 B2 JP4132016 B2 JP 4132016B2 JP 2001391875 A JP2001391875 A JP 2001391875A JP 2001391875 A JP2001391875 A JP 2001391875A JP 4132016 B2 JP4132016 B2 JP 4132016B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reactance element
variable
fixed
matching circuit
antenna
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001391875A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003197398A (ja
JP2003197398A5 (ja
Inventor
賢二 住田
智洋 奥村
幸弘 前川
一郎 中山
己拔 篠原
稔 神田
慎一 又村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nihon Koshuha Co Ltd
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Nihon Koshuha Co Ltd
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nihon Koshuha Co Ltd, Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Nihon Koshuha Co Ltd
Priority to JP2001391875A priority Critical patent/JP4132016B2/ja
Priority to US10/324,031 priority patent/US6707253B2/en
Priority to CNB021588155A priority patent/CN1195318C/zh
Publication of JP2003197398A publication Critical patent/JP2003197398A/ja
Publication of JP2003197398A5 publication Critical patent/JP2003197398A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4132016B2 publication Critical patent/JP4132016B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32082Radio frequency generated discharge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32082Radio frequency generated discharge
    • H01J37/32174Circuits specially adapted for controlling the RF discharge
    • H01J37/32183Matching circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体、液晶等の電子デバイスやマイクロマシンの製造に使用される整合回路およびプラズマ処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体、液晶等の電子デバイスやマイクロマシンの製造において、プラズマ処理による薄膜加工技術が使用されている。図4は、典型的なプラズマ処理装置を示す。真空容器1の側壁にはガス供給装置2が設けられ、該ガス供給装置2により所定のガスを内部に供給しつつ、底壁に設けた排気口3を通してターボ分子ポンプ4により排気が行われ、真空容器1内は所定の圧力に保持される。排気口3の上方には真空容器1を所定の圧力に制御する調圧弁5が昇降可能に設けられている。真空容器1内には、プラズマ処理する基板6が載置される基板電極7が4本の支柱8を介して固定され、該基板電極7には基板電極用高周波電源9から周波数500KHzの高周波電力が供給される。真空容器1内には、特に基板電極7の周囲に、インナチャンバ10が設けられ、プラズマ処理によって真空容器1の内壁面が汚れるのを防止している。
【0003】
また、真空容器1の上壁内面には、円板状のアンテナ11が、基板電極7と対向するように、誘電板12を介して固定されている。アンテナ11の下面はカバー13によって覆われている。アンテナ11の周囲には、導体リング14が誘電体リング15を介して真空容器1の上壁内面に固定されている。これにより、導体リング14および誘電体リング15と、アンテナ11および誘電板12との間に、環状のプラズマトラップ16が設けられている。アンテナ11には、給電棒17が誘電板12および真空容器1の上壁を貫通して設けられ、該給電棒17にはアンテナ用高周波電源18から同軸管19により整合回路20を介して周波数f=100MHzの高周波電力が供給される。
【0004】
真空容器1を排気し所定の圧力下で所定のガスを封入した状態で、基板電極7とアンテナ11に高周波電力を供給すると、真空容器1内にプラズマが発生し、基板電極7上の基板6にプラズマ処理が行われる。
【0005】
整合回路20は、アンテナ11のインピーダンスを同軸線路としての同軸管19の特性インピーダンスに整合させて、電力損失を低減するためのもので、図5に示す回路で構成されている。すなわち、同軸管19が接続される入力端子21には、第1可変リアクタンス素子としての第1可変コンデンサ22の一端が、インダクタンスとして作用する銅板23を介して接続され、当該第1可変コンデンサ22の他端は筐体24を介して接地されている。また、第2可変リアクタンス素子としての第2可変コンデンサ25の一端が、インダクタンスとして作用する銅板26を介して入力端子21に接続され、当該第2可変コンデンサ25の他端はアンテナ11が接続される整合回路20の出力端子27に接続されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のプラズマ処理装置の整合回路20は、整合可能範囲が狭く、ガスの種類や流量、真空容器内の圧力、高周波電力等の放電条件を変えても、限られた放電条件においてしか整合が確保できなかった。また、プラズマ処理の途中で、ガス種、ガス流量、圧力、高周波電力のいずれかを変化させた場合、その変化前後のアンテナ11のインピーダンスの変化が大きいと、整合状態に達するまで5〜10秒程度を要することがあり、アンテナ11のインピーダンスの変化が大きすぎるときには、整合状態を確保できないことがあった。さらに、アンテナ11に印加する高周波電力の周波数が高くなると、整合回路20の第1可変リアクタンス素子22と第2可変リアクタンス素子25に過大な電流が流れ、特に第2可変リアクタンス素子25の端子間に過大電圧が発生する結果、局部的に温度上昇したり、整合状態が不安定になるという問題があった。
【0007】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたもので、整合可能範囲が広く、負荷の状態の変化に対して整合状態が安定した整合回路およびプラズマ処理装置を提供することを課題とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するための手段として、本発明の整合回路は、
接地された筐体内に、入力端子、第1可変リアクタンス素子、第1固定リアクタンス素子、第2固定リアクタンス素子、第2可変リアクタンス素子、ストリップ線路、及び出力端子を配置し、
前記入力端子に前記第1可変リアクタンス素子の一端を接続し、
該第1可変リアクタンス素子の他端を直列に接続された前記第1固定リアクタンス素子と前記第2固定リアクタンス素子の間に接続し、
前記第1固定リアクタンス素子を前記筐体に接続して接地し、
前記第2固定リアクタンス素子を前記第2可変リアクタンス素子の一端に接続するとともに、前記ストリップ線路の一端に接続し、
前記第2可変リアクタンス素子の他端を前記筐体に接続して接地し、
前記ストリップ線路の他端を前記出力端子に接続し、
前記ストリップ線路を前記筐体に沿って配置し、前記筐体と平行平板を形成するようにした。
【0009】
前記入力端子に印加する高周波電力の波長をλ(m)としたとき、前記出力端子から該出力端子に接続されるアンテナまでの長さD1(m)と前記ストリップ線路の長さD2(m)との合計D1+D2は、
【数4】
Figure 0004132016
を満たすことが好ましい。
【0010】
前記D1+D2は、
【数5】
Figure 0004132016
を満たすことがさらに好ましい。
【0011】
前記第1可変リアクタンス素子と第2可変リアクタンス素子は、可変コンデンサとすることができる。前記第1固定リアクタンス素子と前記第2固定リアクタンス素子とは、それぞれコイルであり、各コイルを直列に接続した1つの固定コイルであることが好ましい。前記第1固定リアクタンス素子と第2固定リアクタンス素子は、それぞれ可変リアクタンス素子に置き換えることができる。
【0012】
前記課題を解決するための手段として、本発明のプラズマ処理装置は、真空容器と、該真空容器内にガスを供給するガス供給装置と、前記真空容器内を排気する排気装置と、前記真空容器内に設けられ処理する基板を載置する基板電極と、該基板電極に高周波電力を供給する基板電極用高周波電源と、前記基板電極に対向して配置されたアンテナと、該アンテナに高周波電力を供給するアンテナ用高周波電源と、前記アンテナと前記アンテナ用高周波電源との間に配置された整合回路からなり、
該整合回路は、
接地された筐体内に、入力端子、第1可変リアクタンス素子、第1固定リアクタンス素子、第2固定リアクタンス素子、第2可変リアクタンス素子、ストリップ線路、及び出力端子を配置し、
前記アンテナ用高周波電源が接続される前記入力端子に前記第1可変リアクタンス素子の一端を接続し、
該第1可変リアクタンス素子の他端を直列に接続された前記第1固定リアクタンス素子と前記第2固定リアクタンス素子の間に接続し、
前記第1固定リアクタンス素子を前記筐体に接続して接地し、
前記第2固定リアクタンス素子を前記第2可変リアクタンス素子の一端に接続するとともに、前記ストリップ線路の一端に接続し、
前記第2可変リアクタンス素子の他端を前記筐体に接続して接地し、
前記ストリップ線路の他端を前記出力端子に接続し、
前記ストリップ線路を前記筐体に沿って配置し、前記筐体と平行平板を形成するようにした。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を添付図面に従って説明する。
【0014】
図1は、本発明にかかる整合回路30を示す。この整合回路30が使用されるプラズマ処理装置は、図4に示す典型的なプラズマ処理装置と同一であるので、その説明および図示を省略する。
【0015】
この整合回路30は、プラズマ処理装置のアンテナ11のインピーダンスを、同軸管19およびアンテナ用高周波電源18の特性インピーダンスに整合させるためのものである。アンテナ用高周波電源18からの同軸管19が接続される入力端子31には、第1可変リアクタンス素子としての第1可変コンデンサ32の一端が接続されている。第1可変コンデンサ32の他端は、固定コイル33のタップ34に接続されている、固定コイル33は、タップ34を境にして、第1固定リアクタンス素子33aと第2固定リアクタンス素子33bとで構成されている。固定コイル33のタップ34は、整合回路30の入力端子31からみた入力インピーダンスが50Ωとなるように、適切な位置に調整されている。固定コイル33の第1固定リアクタンス素子33a側の一端は、筐体35に接続されて接地されている。第2固定リアクタンス33b側の他端は、第2可変リアクタンス素子としての第2可変コンデンサ36の一端に接続されるとともに、ストリップ線路37の一端に接続されている。第2可変コンデンサ36の他端は、筐体35に接続されて接地されている。ストリップ線路37の他端は、アンテナ11に接続される整合回路30の出力端子38に接続されている。ストリップ線路37は、筐体35に沿って配置され、当該筐体35と平行平板を形成するようになっている。図2はこの整合回路30を立体的に示すものである。
【0016】
入力端子31と第1可変コンデンサ32の間には、アンテナ用高周波電源18からの高周波の進行波と反射波を検出する検出器39が設けられ、該検出器39で検出された高周波の進行波と反射波は制御装置40に入力され、該制御装置40は、検出器39で検出された高周波の反射波がゼロになるように、第1可変コンデンサ32と第2可変コンデンサ36を制御するようになっている。
【0017】
本実施形態では、第1可変コンデンサ32の容量は、C1=10〜60pF、第2可変コンデンサ36の容量はC2=10〜609pF、固定コイル33のインダクタンスはL=1.3μH、ストリップ線路37の長さはD2=320mm、整合回路30の出力端子38からアンテナ11までの長さはD1=118mmであり、整合回路30の出力端子38からアンテナ11までの長さD1とストリップ線路37の長さD2の合計は、D=D1+D2=438mmである。
【0018】
前記整合回路30からみたプラズマのインピーダンスは概ね5Ω以下、本実施形態では概ね1Ωであり、負荷端を短絡した状態に近い。短絡端に特性インピーダンスZ0のストリップ線路37を介して高周波を印加すると、図3に示すように、短絡点を節とする定在波が発生する。このとき、負荷端からλ/4長離れたところから負荷側をみたインピーダンスZinは無限大になる。したがって、負荷端からλ/4長離れたところから高周波電力を印加すると、負荷端で電流が最大、印加端で電流が最小になる。
【0019】
しかしながら、インピーダンスZinが無限大では、高周波電源18とのインピーダンス整合ができない。そこで、負荷端から次式で示す長さだけ離れたところに、ストリップ線路37を除く整合回路30の構成部品を配置する。すなわち、整合回路30の出力端子38からアンテナ11までの長さD1とストリップ線路37の長さD2の合計D=D1+D2を次式の範囲に定める。
【数6】
Figure 0004132016
【0020】
前記D1+D2の好ましい範囲は、次式の通りである。
【数7】
Figure 0004132016
【0021】
前述のように、ストリップ線路37を設け、D1+D2を前記範囲に定めることで、第2可変リアクタンス36に流れる電流が少なくなり、局部的な温度上昇を抑制できる。そして、整合回路30からみた負荷インピーダンスは、ストリップ線路37の長さが支配的になり、ガス種、ガス流量、圧力、高周波電力などの放電条件を変えたときのアンテナ11のインピーダンス変化に影響を受けず、整合可能範囲が広くなり、整合状態が安定する。
【0022】
前記実施形態における真空容器1の形状やアンテナ11の形状は、一例を示すものであり、本発明はこれらの形状について様々に変更し、修正することができることは言うまでもない。
【0023】
前記実施形態では、アンテナ11に印加する高周波電力の周波数を100MHzとしたが、整合回路30内のストリップ線路37が有効に作用する周波数は概ね50MHz以上であるので、本発明のアンテナ11に印加する高周波電力の周波数は50MHz以上であればよい。
【0024】
前記実施形態では、第1可変リアクタンス素子や第2可変リアクタンス素子として可変コンデンサ32,36を用いたが、他の可変素子、例えば可変インダクタとしてもよい。また、第1固定リアクタンス素子と第2固定リアクタンス素子は、1つの固定コイル33としたが、別個の素子としてもよい。さらに、第1固定リアクタンス素子と第2固定リアクタンス素子は、それぞれ固定素子でなく、可変インダクタまたは可変コンデンサとしてもよい。
【0025】
なお、本発明は、誘導結合プラズマ源におけるコイルや、表面波プラズマ源における電磁波放射アンテナを用いる場合にも、有効である。
【0026】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、整合回路の出力端からアンテナまでの長さD1とストリップ線路の長さD2の合計D1+D2を前記範囲に定めることで、第2可変リアクタンスに流れる電流が少なくなり、局部的な温度上昇を抑制できる。そして、整合回路からみた負荷インピーダンスは、ストリップ線路の長さが支配的になり、ガス種、ガス流量、圧力、高周波電力などの放電条件を変えたときのアンテナのインピーダンス変化に影響を受けず、整合可能範囲が広くなり、整合状態が安定する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明にかかる整合回路の回路図。
【図2】 図1の整合回路の構成部品の配置を示す立体斜視図。
【図3】 負荷に作用する定在波の状態を示す原理図。
【図4】 プラズマ処理回路の概略構成図。
【図5】 従来の整合回路の回路図。
【符号の説明】
1 真空装置
2 ガス供給装置
4 ターボ分子ポンプ
6 基板
7 基板電極
9 基板電極用高周波電源
11 アンテナ
18 アンテナ用高周波電源
30 整合回路
31 入力端子
32 第1可変コンデンサ
32a 第1固定リアクタンス
32b 第2固定リアクタンス
33 固定コイル
36 第2可変コンデンサ
37 ストリップ線路
38 出力端子

Claims (10)

  1. 接地された筐体内に、入力端子、第1可変リアクタンス素子、第1固定リアクタンス素子、第2固定リアクタンス素子、第2可変リアクタンス素子、ストリップ線路、及び出力端子を配置し、
    前記入力端子に前記第1可変リアクタンス素子の一端を接続し、
    該第1可変リアクタンス素子の他端を直列に接続された前記第1固定リアクタンス素子と前記第2固定リアクタンス素子の間に接続し、
    前記第1固定リアクタンス素子を前記筐体に接続して接地し、
    前記第2固定リアクタンス素子を前記第2可変リアクタンス素子の一端に接続するとともに、前記ストリップ線路の一端に接続し、
    前記第2可変リアクタンス素子の他端を前記筐体に接続して接地し、
    前記ストリップ線路の他端を前記出力端子に接続し、
    前記ストリップ線路を前記筐体に沿って配置し、前記筐体と平行平板を形成するようにしたことを特徴とする整合回路。
  2. 前記入力端子に印加する高周波電力の波長をλ(m)としたとき、前記出力端子から該出力端子に接続されるアンテナまでの長さD1(m)と前記ストリップ線路の長さD2(m)との合計D1+D2が、
    Figure 0004132016
    を満たすことを特徴とする請求項1に記載の整合回路。
  3. 前記D1+D2が、
    Figure 0004132016
    を満たすことを特徴とする請求項2に記載の整合回路。
  4. 前記第1可変リアクタンス素子が、可変コンデンサであることを特徴とする請求項1に記載の整合回路。
  5. 前記第2可変リアクタンス素子が、可変コンデンサであることを特徴とする請求項1に記載の整合回路。
  6. 前記第1固定リアクタンス素子と前記第2固定リアクタンス素子とが、それぞれコイルであり、各コイルを直列に接続した1つの固定コイルであることを特徴とする請求項1に記載の整合回路。
  7. 前記第1固定リアクタンス素子を、可変リアクタンス素子に置き換えたことを特徴とする請求項1に記載の整合回路。
  8. 前記第2固定リアクタンス素子を、可変リアクタンス素子に置き換えたことを特徴とする請求項1に記載の整合回路。
  9. 真空容器と、該真空容器内にガスを供給するガス供給装置と、前記真空容器内を排気する排気装置と、前記真空容器内に設けられ処理する基板を載置する基板電極と、該基板電極に高周波電力を供給する基板電極用高周波電源と、前記基板電極に対向して配置されたアンテナと、該アンテナに高周波電力を供給するアンテナ用高周波電源と、前記アンテナと前記アンテナ用高周波電源との間に配置された整合回路からなり、
    該整合回路は、
    接地された筐体内に、入力端子、第1可変リアクタンス素子、第1固定リアクタンス素子、第2固定リアクタンス素子、第2可変リアクタンス素子、ストリップ線路、及び出力端子を配置し、
    前記アンテナ用高周波電源が接続される前記入力端子に前記第1可変リアクタンス素子の一端を接続し、
    該第1可変リアクタンス素子の他端を直列に接続された前記第1固定リアクタンス素子と前記第2固定リアクタンス素子の間に接続し、
    前記第1固定リアクタンス素子を前記筐体に接続して接地し、
    前記第2固定リアクタンス素子を前記第2可変リアクタンス素子の一端に接続するとともに、前記ストリップ線路の一端に接続し、
    前記第2可変リアクタンス素子の他端を前記筐体に接続して接地し、
    前記ストリップ線路の他端を前記出力端子に接続し、
    前記ストリップ線路を前記筐体に沿って配置し、前記筐体と平行平板を形成するようにしたことを特徴とするプラズマ処理装置。
  10. 前記入力端子に印加する高周波電力の波長をλ(m)としたとき、前記出力端子から該出力端子に接続されるアンテナまでの長さD1(m)と前記ストリップ線路の長さD2(m)との合計D1+D2が、
    Figure 0004132016
    を満たすことを特徴とする請求項9に記載のプラズマ処理装置。
JP2001391875A 2001-12-25 2001-12-25 整合回路およびプラズマ処理装置 Expired - Fee Related JP4132016B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001391875A JP4132016B2 (ja) 2001-12-25 2001-12-25 整合回路およびプラズマ処理装置
US10/324,031 US6707253B2 (en) 2001-12-25 2002-12-20 Matching circuit and plasma processing apparatus
CNB021588155A CN1195318C (zh) 2001-12-25 2002-12-25 匹配电路和等离子加工装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001391875A JP4132016B2 (ja) 2001-12-25 2001-12-25 整合回路およびプラズマ処理装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2003197398A JP2003197398A (ja) 2003-07-11
JP2003197398A5 JP2003197398A5 (ja) 2005-07-14
JP4132016B2 true JP4132016B2 (ja) 2008-08-13

Family

ID=19188567

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001391875A Expired - Fee Related JP4132016B2 (ja) 2001-12-25 2001-12-25 整合回路およびプラズマ処理装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6707253B2 (ja)
JP (1) JP4132016B2 (ja)
CN (1) CN1195318C (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005142486A (ja) * 2003-11-10 2005-06-02 Pearl Kogyo Co Ltd 整合器
JP4344886B2 (ja) * 2004-09-06 2009-10-14 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置
JP2006128075A (ja) * 2004-10-01 2006-05-18 Seiko Epson Corp 高周波加熱装置、半導体製造装置および光源装置
JP4727377B2 (ja) * 2005-10-06 2011-07-20 三菱重工業株式会社 真空処理装置、真空処理装置における高周波電力供給方法
JP4566895B2 (ja) * 2005-11-30 2010-10-20 株式会社ダイヘン インピーダンス変換器
WO2013018358A1 (ja) * 2011-08-04 2013-02-07 パナソニック株式会社 マイクロ波加熱装置
WO2014181569A1 (ja) 2013-05-10 2014-11-13 株式会社村田製作所 アンテナ装置
US10043638B2 (en) * 2014-08-15 2018-08-07 Applied Materials, Inc. Compact configurable modular radio frequency matching network assembly for plasma processing systems
KR20210042653A (ko) * 2019-10-10 2021-04-20 주성엔지니어링(주) 기판 처리 장치

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5070277A (en) * 1990-05-15 1991-12-03 Gte Laboratories Incorporated Electrodless hid lamp with microwave power coupler
US6353206B1 (en) * 1996-05-30 2002-03-05 Applied Materials, Inc. Plasma system with a balanced source
JP2929275B2 (ja) * 1996-10-16 1999-08-03 株式会社アドテック 透磁コアを有する誘導結合型−平面状プラズマの発生装置
JPH10172792A (ja) * 1996-12-05 1998-06-26 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN1430247A (zh) 2003-07-16
JP2003197398A (ja) 2003-07-11
US6707253B2 (en) 2004-03-16
CN1195318C (zh) 2005-03-30
US20030136519A1 (en) 2003-07-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20230170190A1 (en) Rf grounding configuration for pedestals
CN101866808B (zh) 具有响应多个rf频率的电极的等离子体处理器
KR101109439B1 (ko) 플라즈마 프로세싱 시스템에서 기판을 최적화하는 방법 및장치
JP4286404B2 (ja) 整合器およびプラズマ処理装置
US7102292B2 (en) Method and device for removing harmonics in semiconductor plasma processing systems
JP4897195B2 (ja) プラズマ処理方法、プラズマ処理装置およびプラズマ処理装置の製造方法
US9378929B2 (en) Plasma processing apparatus and plasma processing method
US7537672B1 (en) Apparatus for plasma processing
EP1166321B1 (en) Plasma processor with coil having variable rf coupling
US20130112666A1 (en) Plasma processing apparatus
JP2003528457A (ja) プラズマに同調したオーバーヘッドrf電極を有するプラズマリアクタ
EP2139303A1 (en) Plasma generating apparatus and plasma film forming apparatus
KR19980025047A (ko) 플라즈마 처리 장치
WO2006044722A2 (en) Apparatus and methods for improving the stability of rf power delivery to a plasma load
TW200402251A (en) Plasma processor with electrode responsive to plural frequencies
JP4132016B2 (ja) 整合回路およびプラズマ処理装置
JP2010238730A (ja) プラズマ処理装置
CN110379699A (zh) 等离子体处理装置
US10825657B2 (en) Plasma processing apparatus
JP4676189B2 (ja) 高周波給電装置及びプラズマ処理装置
WO2020022141A1 (ja) プラズマ処理装置
US6284110B1 (en) Method and apparatus for radio frequency isolation of liquid heat transfer medium supply and discharge lines
JP2010238705A (ja) プラズマ処理装置
TWI839393B (zh) 用於調變電漿的電漿處理系統及操作其之方法
KR100258441B1 (ko) 헬릭스코일을 이용한 헬리컬 공진기형 식각기의 플라즈마 균일도 조절 방법(Plasma uniformity control method for use in helical resonator type etcher using helix coil)

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041124

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041124

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071017

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071030

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071225

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080205

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080402

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080430

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080530

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110606

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110606

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120606

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130606

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130606

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees