JP4107916B2 - 抵抗値測定用ワイヤプローブ - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、フラットチップ型抵抗器等の測定値の安定化および検測時間の短縮化を可能にした抵抗値測定用ワイヤプローブに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、電子機器の超小型化、超高密度化、多機能化により、電子部品、特に、フラットチップ型抵抗器がプリント配線板に表面実装される部品として広く採用されている。そして、このフラットチップ型抵抗器の内、高精度品(B級、C級)および低抵抗品は、その抵抗値を正確に測定することが必要である。このため、フラットチップ型抵抗器の両端部に設けられた微小サイズの電極に接触するための測定用ワイヤプローブが用いられている。
【0003】
図6は従来の抵抗値測定用ワイヤプローブを示す断面図である。図において、1はワイヤであり、このワイヤ1はその先端1Aが図示せぬフラットチップ型抵抗器の電極に接触する。2は回り止であり、この回り止2はワイヤ1の中間部分に固着する。3はピストンであり、このピストン3はワイヤ1の他端に固着する。4はコイル状のスプリングであり、このコイル状のスプリング4は測定時、ワイヤ1の先端1Aが図示せぬフラットチップ型抵抗器の電極に接触したのち、初期接触圧および押し付け圧を加えるものである。5は円筒状のシリンダであり、このシリンダ5はその円筒状の内部空間にピストン3を移動自在に、スプリング4を圧縮自在に収納する。
【0004】
6は円筒状のホルダであり、このホルダ6はその上部側が開放され、その円筒状の内周面にはその軸線方向に溝が設けられ、この溝は上記シリンダ5の突条に係合する。また、このホルダ6の下部に設けた穴6Bはワイヤ1をその軸線方向に移動可能に支持する。7は止栓であり、この止栓7はシリンダ5の他端に止栓固定用ハンダ8により固着され、ワイヤ1で検出された電気的出力を図示せぬ信号線を介して測定装置に伝達する。9はコイル状の緩み止用バネであり、ホルダ6の外周面に固着する。なお、上記スプリング3は圧縮されていない自然長の状態で収納されている。
【0005】
次に、上記構成の抵抗値測定用ワイヤプローブの測定動作について簡単に説明する。まず、図示せぬ測定治具が下降すると、この抵抗値測定用ワイヤプローブが一体に下降し、ワイヤ1の先端1Aが図示せぬフラットチップ型抵抗器の電極に接触したのち、スプリング4が圧縮され、その圧縮量による圧力、いわゆるバネ圧がワイヤ1に加わる。このときのバネ圧が図示せぬフラットチップ型抵抗器の電極への初期接触圧になり、この初期接触圧が得られるまでの時間が初期接触圧時間T2(図5参照)になる。そして、さらに、抵抗値測定用ワイヤプローブの下降により、スプリング4が圧縮され、その押し付け圧がワイヤ1を介し図示せぬフラットチップ型抵抗器の電極に加わり、抵抗値を測定することができる。
【0006】
なお、抵抗値測定用ワイヤプローブが下降し、そのワイヤ1の先端が図示せぬフラットチップ型抵抗器の電極に接触したときの時刻をt0とし、スプリング4のバネ圧がワイヤ1に加わり、図示せぬフラットチップ型抵抗器の電極への初期接触圧になったときの時刻をt2としたとき、スプリング4のバネ圧(初期接触圧)と時刻t0から時刻t2までの初期接触圧時間T2との関係は図5の直線P2で示すことができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の抵抗値測定用ワイヤプローブは、▲1▼スプリングがシリンダに内蔵されているため、バネ定数の高いスプリングが使用できず、初期接触圧、押し付け圧を上げることができない、さらに、バネ圧を変更することができないこと、▲2▼初期接触圧が低いため、接触抵抗値が大きくなること、▲3▼ワイヤの他端にピストンが固着されて、ピストンがシリンダに内蔵しているため、ワイヤの材質、ワイヤの直径、ワイヤの長さを適宜選択し、交換できないこと、▲4▼ワイヤの先端が磨耗しても、ワイヤを簡単に交換できず、ワイヤプローブを廃棄しなければならないこと、▲5▼スプリングのバネ圧が初期接触圧として加わるまでの初期接触圧時間T2が長いこと、▲6▼被測定物にワイヤの−端が接触し、ワイヤの他端にスプリングの一端が接触し、スプリングの他端から測定値を取込む構造、いわゆる間接作動型のため、接触抵抗値が大きく、耐圧が低いこと、などの課題があった。
【0008】
本発明は上述の事情に鑑みてなされたもので、初期バネ圧を任意に変更可能にし、初期接触圧時間の短縮を可能にし、しかも、ワイヤの交換を適宜可能にした抵抗値測定用ワイヤプローブを提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上述の目的を達成するため、本発明の抵抗値測定用ワイヤプローブは、一端が被測定部に接触するワイヤと、このワイヤの中間部に固着した回り止と、この回り止に一端が当接し、上記ワイヤが貫通するコイル状のスプリングと、内周面に螺旋状溝(または、螺旋状突条)を設け、一端側が上記スプリングの他端に当接し、上記ワイヤが貫通する円筒状のホルダと、このホルダの螺旋状溝(または、螺旋状突条)に螺合する螺旋状突条(または、螺旋状溝)を外周面に設け、上記ワイヤが貫通する円筒状のシリンダと、上記ワイヤの他端に固着するとともに上記シリンダの他端に当接する止栓とから構成し、上記ワイヤはその長さがプローブの全長と同じであり、上記ワイヤに固定された上記回り止と上記止栓との間に上記スプリングと螺合長さを調節可能とした上記シリンダとホルダとが配置され、上記シリンダとホルダの螺合長さを調節することにより、上記ホルダを軸線方向に移動させて上記コイル状のスプリングを圧縮して、所望の初期バネ圧に調整可能にしたことを特徴とするものである。
【0010】
本発明においては、スプリングを最適な初期バネ圧に調整、設定できるうえ、計測に最適なワイヤを選択し、簡単に交換できるので、測定値の安定化および検測時間の短縮化ができる。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態について、図1乃至図4を参照して説明する。本実施形態の抵抗値測定用ワイヤプローブとしては、フラットチップ型抵抗器の抵抗値を測定する場合を示している。
【0012】
図1は本発明に係る抵抗値測定用ワイヤプローブを示す断面図であり、図2は図1の構成部品を分解して示す分解断面図である。図において、10はワイヤであり、このワイヤ10はその長さがプローブの全長と同じである。11は回り止であり、この回り止11はワイヤ10の所定の位置に固着する。12はコイル状のスプリングであり、このスプリング12はその軸線方向にワイヤ10が貫通しており、そして、測定時に、このワイヤ10の先端10Aが図示せぬフラットチップ型抵抗器の電極に、初期接触圧および押し付け圧を加える。13は円筒状のホルダであり、このホルダ13はその内部の軸線方向にワイヤ10が貫通しており、その内周面には螺旋状溝13A(図2参照)を設ける。また、このホルダ13の下側面と回り止11の上側面との間に上記スプリング12を設ける。
【0013】
14はシリンダであり、このシリンダ14はその内部の軸線方向にワイヤ10が貫通しており、その外周面には螺旋状突条14A(図2参照)を設け、そして、この螺旋状突条14Aはホルダ13の螺旋状溝13Aに螺合する。15はストッパであり、このストッパ15はその内部の軸線方向にワイヤ10が貫通しており、さらに、このストッパ15の内周面には螺旋状溝15A(図2参照)を設け、この螺旋状溝15Aはシリンダ14の螺旋状突条14A(図2参照)に螺合し、ホルダ13の上部側に設けられる。16は止栓であり、この止栓16はその内部の軸線方向にワイヤ10が貫通しており、この止栓16の先端と上記ワイヤ10の他端が一致した状態で、止栓固定用ハンダ17(図2参照)によって、この止栓16に上記ワイヤ10の他端を固着する。
【0014】
なお、上記止栓16の下部に設けた嵌込み部16A(図2、図3参照)の外周面は、例えば、六角形状(図4参照)にする。一方、シリンダ14の内周面に設けた被嵌込み部(図4参照)は、上記止栓16の嵌込み部16Aが嵌込み可能な大きさ・形状(六角形状)にする。このため、上記止栓16の六角形状の嵌込み部16Aは上記シリンダ14の六角形状の被嵌込み部に嵌込むことができる。
【0015】
次に、上記構成の抵抗値測定用ワイヤプローブを一体化する組立て動作について説明する。まず、回り止11をワイヤ10の所定の位置に固着する。そして、シリンダ14の上側の螺旋状突条14Aにストッパ15の螺旋状溝15Aを螺合させ、所望の量だけ回転させて、ストッパ15をシリンダ14の上部側の所定の位置にセットする。一方、シリンダ14の下側の螺旋状突条14Aにホルダ13の螺旋状溝13Aを螺合させて、シリンダ14を所望の量だけ回転させて、ホルダ13とシリンダ14とを所望の長さだけ噛み合せることにより、シリンダ14とストッパ15とホルダ13とが一体化する。
【0016】
そして、このワイヤ10の回り止11よりも上部側に、順に、スプリング12、一体化したシリンダ14とストッパ15とホルダ13、止栓16を通し、そして、上記止栓16の六角形状の嵌込み部16Aを上記シリンダ14の六角形状の被嵌込み部に嵌込む。その結果、止栓16の上端部にワイヤ10の他端(上部)が一致する。そこで、止栓16の上端部に止栓固定用ハンダ17を付けることにより、この止栓16にワイヤ10の他端が固着されて、プロ−ブとして一体化することができる。
【0017】
次に、上記構成の抵抗値測定用ワイヤプローブの初期バネ圧の調整動作について説明する。まず、止栓16を所望の量だけ回転すれば、シリンダ14も所望の量だけ回転し、ホルダ13はその回転量に対応した長さだけ下方に移動する。このため、スプリング12は圧縮されて、所望の初期バネ圧(図5参照)を得ることができる。そして、ストッパ15を回転させて、ストッパ15の下面がホルダ13の上面に圧接させることにより、シリンダ14の回転を拘束することができる。このため、スプリング12の初期バネ圧を得る(調整する)ことができ、しかも、その初期バネ圧をロックすることができる。
【0018】
次に、上記の初期バネ圧に調整した抵抗値測定用ワイヤプローブの測定動作について説明する。まず、図示せぬ測定治具の下降により、この抵抗値測定用ワイヤプローブも一体に下降し、ワイヤ10の先端10Aが図示せぬフラットチップ型抵抗器の電極に接触する。このとき、図示せぬフラットチップ型抵抗器の電極には、図5に示すように、短い初期接触圧時間T1で初期接触圧を加えることができる。そして、さらに、図示せぬ抵抗値測定用ワイヤプローブの下降により、スプリング12が圧縮され、押し付け圧がワイヤ10を介して図示せぬフラットチップ型抵抗器の電極に加わり、抵抗値を測定することができる。なお、図5の直線P1はこのスプリング12の初期バネ圧と初期接触圧が得られる初期接触圧時間T1との関係を示す。
【0019】
また、上記構成は、シリンダ14に螺旋状突条14Aを設け、ホルダ13に螺旋状溝13Aを設けた場合を示したが、これに限定せず、シリンダ14に螺旋状溝を設け、ホルダ13に螺旋状突条を設けてもよいことはもちろんである。
また、上記構成は、ストッパ15を回転させて、ストッパ15の下面をホルダ13の上面に圧接させることにより、ホルダ13およびシリンダ14の回転を拘束したが、これに限定せず、各種、各形式のストッパを用いてもよいことはもちろんである。
【0020】
また、上記構成の抵抗値測定用ワイヤプローブは、スプリング12の軸線方向にワイヤ10が貫通し、スプリング12の外径を拘束する部材がないため、バネ定数の高いスプリングが使用でき、あるいはバネ定数の高いスプリングに変更できる。このため、初期バネ圧を上げることができるため、短時間で初期接触圧、押し付け圧が得られ、さらに、初期バネ圧、初期接触圧、押し付け圧を任意に変更、例えば30g〜200g以上の範囲で任意に変更することができる。
【0021】
また、上記構成の抵抗値測定用ワイヤプローブは、スプリング12、ホルダ13、シリンダ14、ストッパ15、止栓16のそれぞれの軸線方向にワイヤ10の上部側が貫通する構成のため、止栓固定用ハンダ17を外すことにより、仕様にあわせて、あるいは、検測するのに最適になるように、ワイヤの材質(超硬、タングステン、パラジウム、ベリリウム、カッパー、など)、ワイヤの直径、ワイヤの長さを選択し、交換することができる。
【0022】
また、上述した構成のため、ワイヤ10の先端が磨耗しても、止栓固定用ハンダ17を外すことにより、新たなワイヤ10に交換することができ、しかも、誰にでも、簡単に交換することができる。
また、上述した構成のため、スプリング12を最適な初期バネ圧に調整、設定できるので、初期接触圧時間を短縮することができる。
また、上記ワイヤの全長を抵抗値測定用ワイヤプローブの全長に等しくしたので、ワイヤの−端が被測定物に接触し、ワイヤの他端から測定値を取り込む構造の、いわゆる直接作動型であるため、測定時にプローブのもつ接触抵抗がキャンセルされ、測定値が真値に近似し、しかも、耐電圧を高くすることができる。
【0023】
尚、上記実施形態は本発明の実施例の一態様を述べたもので、本発明の趣旨を逸脱することなく種々の変形実施例が可能なことは勿論である。
【0024】
【発明の効果】
本発明は上述のように構成したので、検測に最適なスプリングおよび最適なワイヤを選択して装着できるので、接触抵抗値を極めて小さくすることができ、しかも、そのばらつきも小さくできるので、測定値の安定化および検測時間の短縮化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る抵抗値測定用ワイヤプローブの一実施例を示す断面図である。
【図2】図1の一部を分解して示した部分分解断面図である。
【図3】図1の一部を拡大した断面図である。
【図4】図3のA1−A2断面を示す図である。
【図5】従来および本発明の抵抗値測定用ワイヤプローブの初期バネ圧、初期接触圧、初期接触圧時間との関係を示す図である。
【図6】従来の抵抗値測定用ワイヤプローブを示す断面図である。
【符号の説明】
10 ワイヤ
11 回り止
12 スプリング
13 ホルダ
13A 螺旋状溝
13B 穴
14 シリンダ
14A 螺旋状突状
15 ストッパ
15A 螺旋状溝
16 止栓
17 止栓固定用ハンダ
Claims (3)
- 一端が被測定部に接触するワイヤと、
このワイヤの中間部に固着した回り止と、
この回り止に一端が当接し、上記ワイヤが貫通するコイル状のスプリングと、
内周面に螺旋状溝(または、螺旋状突条)を設け、一端側が上記スプリングの他端に当接し、上記ワイヤが貫通する円筒状のホルダと、
このホルダの螺旋状溝(または、螺旋状突条)に螺合する螺旋状突条(または、螺旋状溝)を外周面に設け、上記ワイヤが貫通する円筒状のシリンダと、
上記ワイヤの他端に固着するとともに上記シリンダの他端に当接する止栓とから構成し、
上記ワイヤはその長さがプローブの全長と同じであり、上記ワイヤに固定された上記回り止と上記止栓との間に上記スプリングと螺合長さを調節可能とした上記シリンダとホルダとが配置され、
上記シリンダとホルダの螺合長さを調節することにより、上記ホルダを軸線方向に移動させて上記コイル状のスプリングを圧縮して、所望の初期バネ圧に調整可能にしたことを特徴とする抵抗値測定用ワイヤプローブ。 - 上記シリンダの回転を拘束するストッパを設けたことを特徴とする請求項1記載の抵抗値測定用ワイヤプローブ。
- 上記止栓の一端と上記ワイヤの他端の固着は、ハンダ付けであることを特徴とする請求項1記載の抵抗値測定用ワイヤプローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002247584A JP4107916B2 (ja) | 2002-08-27 | 2002-08-27 | 抵抗値測定用ワイヤプローブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002247584A JP4107916B2 (ja) | 2002-08-27 | 2002-08-27 | 抵抗値測定用ワイヤプローブ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004085395A JP2004085395A (ja) | 2004-03-18 |
JP4107916B2 true JP4107916B2 (ja) | 2008-06-25 |
Family
ID=32055191
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002247584A Expired - Fee Related JP4107916B2 (ja) | 2002-08-27 | 2002-08-27 | 抵抗値測定用ワイヤプローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4107916B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101369333B1 (ko) | 2012-09-29 | 2014-03-06 | 화인계기주식회사 | 탐침의 길이를 조절할 수 있는 휴대형 테스터기 |
TWI598593B (zh) * | 2016-06-22 | 2017-09-11 | 致茂電子股份有限公司 | 電流探針以及適於更換此電流探針的治具 |
CN106925812B (zh) * | 2017-03-10 | 2018-09-18 | 长沙天恒测控技术有限公司 | 用于电工钢片表面绝缘电阻测量装置的无动力钻孔器 |
-
2002
- 2002-08-27 JP JP2002247584A patent/JP4107916B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004085395A (ja) | 2004-03-18 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050729 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070618 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070703 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070831 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071009 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071207 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110411 Year of fee payment: 3 |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R250 | Receipt of annual fees |
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S631 | Written request for registration of reclamation of domicile |
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S531 | Written request for registration of change of domicile |
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|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
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R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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