JP4078185B2 - Cvd装置 - Google Patents

Cvd装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4078185B2
JP4078185B2 JP2002316228A JP2002316228A JP4078185B2 JP 4078185 B2 JP4078185 B2 JP 4078185B2 JP 2002316228 A JP2002316228 A JP 2002316228A JP 2002316228 A JP2002316228 A JP 2002316228A JP 4078185 B2 JP4078185 B2 JP 4078185B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
reaction chamber
cvd apparatus
discharge port
wafer support
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002316228A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003277936A (ja
Inventor
沈境植
Original Assignee
周星エンジニアリング シーオー.,エルティーディー.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from KR10-2001-0068511A external-priority patent/KR100443598B1/ko
Priority claimed from KR10-2001-0073336A external-priority patent/KR100445814B1/ko
Application filed by 周星エンジニアリング シーオー.,エルティーディー. filed Critical 周星エンジニアリング シーオー.,エルティーディー.
Publication of JP2003277936A publication Critical patent/JP2003277936A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4078185B2 publication Critical patent/JP4078185B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45519Inert gas curtains
    • C23C16/45521Inert gas curtains the gas, other than thermal contact gas, being introduced the rear of the substrate to flow around its periphery
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/4401Means for minimising impurities, e.g. dust, moisture or residual gas, in the reaction chamber
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45563Gas nozzles
    • C23C16/4558Perforated rings

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、化学蒸着装置(Chemical Vapor Deposition:以下、CVDと略称す)に係るもので、詳しくは、反応チャンバの下部空間に不必要な薄膜が蒸着されて、この部分がパーティクルソースとして作用することを防止し得るCVD装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
一般に、従来CVD装置は、気体排出口が主に反応チャンバの底面に設置されることを特徴とする。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
然るに、このような従来CVD装置においては、薄膜蒸着に関与しなかった気体が気体排出口を通して外部に排出される時、反応チャンバの下部空間に蒸着されることで、この部分がパーティクルの発生ソース(source)として作用する憂いがあるという不都合な点があった。
【0004】
本発明は、このような従来の課題に鑑みてなされたもので、薄膜蒸着に関与しなかった気体が反応チャンバの下部空間に下がらないように構成して、パーティクルの発生ソースを根本的に防止することで、装備の点検周期を延長して原価を低減し得るCVD装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するため、本発明に係るCVD装置においては、化学気相蒸着工程が施工される反応チャンバと、該反応チャンバの内部に装入設置されてウエハーが載置されるウエハー支持台と、該ウエハー支持台の周囲から上部空間中心部に工程気体を噴射するために、前記反応チャンバの側壁面部に設置される気体フォーカスリングと、前記反応チャンバ内部にパージ気体を供給するために、前記反応チャンバの底面に設置されるパージ気体供給口と、前記気体フォーカスリングを通して噴射される工程気体及び前記パージ気体供給口を通して供給されるパージ気体を外部に排出させるために、前記気体フォーカスリングより下部に位置するように前記反応チャンバの側壁に沿って水平に環状リング形態に設置される気体排出口と、該気体排出口と真空ポンプを相互連結する一つのポンピングラインと、前記気体排出口を通して排出される工程気体とパージ気体とが前記気体排出口の入口部位で相互混合されないように、前記気体排出口の中間部分に位置するように前記気体排出口に水平に設置される遮断膜とを具備している。一方、前記遮断膜下方の気体排出口部分を複数の空間に分けるために水平分割して、前記遮断膜より大きい内径を有する複数の下部分割膜と、前記遮断膜上部の気体排出口部分を複数の空間に分けるために水平分割して、前記遮断膜より大きい内径を有する複数の上部分割膜と、を更に具備することができる。
【0006】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態に対し、図面を用いて説明する。
本発明に係るCVD装置においては、図1〜図2に示したように、反応チャンバ10はウエハーが一枚ずつ装入される毎葉式反応チャンバで、反応チャンバ10の上部は石英ドーム20から構成されている。石英ドーム20の外側には該石英ドーム20を覆うベルジャー30が設置されて、ベルジャー30の内側にはベルジャーヒータ40が被覆される。反応チャンバ10の内部にはウエハー支持台50が装入載置されて、ウエハー60はウエハー支持台50上に置かれる。
【0007】
ウエハー支持台50には、化学気相蒸着が発生し得るのに適切な温度でウエハー60を加熱するためのメーンヒータ(図示せず)が設置される。ウエハー支持台50は支持軸52により支持されるが、支持軸52はベローズ55に囲まれて、該ベローズ55によって支持軸52が上下移送される場合も、外部と反応チャンバ10の内部は密閉状態を維持するようになる。
【0008】
気体フォーカスリング70は、ウエハー支持台50の側壁面を囲むように反応チャンバ10の内側壁面に設置される。気体フォーカスリング70には複数の噴射孔72が形成されている。噴射孔72の代りに環状の噴射リングが形成されることもある。
【0009】
反応チャンバ10の底面には、反応チャンバ10の内部にN2またはArなどのパージ気体を供給するためのパージ気体供給口90が設置される。
【0010】
反応チャンバ10の側壁面には、気体フォーカスリング70を通して噴射される工程気体、及びパージ気体供給口90を通して供給されるパージ気体を排出させるための気体排出口80が設置されている。気体排出口80は気体フォーカスリング70より下部に位置して環状溝の形態を有している。気体排出口80はウエハー支持台50と同様な高さに設置されることが好ましい。気体排出口80はポンピングライン82により一つの真空ポンプ(図示せず)に連結される。
【0011】
気体排出口80で工程気体とパージ気体とが相互混合されないように、気体排出口80の中間部分には遮断膜85が環状に水平に設置される。従って、気体排出口80は下部気体排出口88と上部気体排出口87に分割される。パージ気体供給口90を通して注入されるパージ気体は下部気体排出口88を通して排出され、気体フォーカスリング70を通して注入される工程気体は上部気体排出口87を通して排出される。
【0012】
気体排出口80は、遮断膜85によって上下空間に分離されることはあるが、完全に分離されるのではなく、遮断膜85の端部はこのような上下空間が連結されるように設置される。気体排出口80に注入された工程気体及びパージ気体はポンピングライン82を通して外部に排出される。
【0013】
下部気体排出口88は、二つの環状下部分割膜84の水平分割によって三つの空間88a、88b、88cに分けられる。下部分割膜84は遮断膜85より大きい内径を有している。これらの空間88a、88b、88cは上にいくほど間隙が段々広くなる。下部気体排出口88が分割されない場合、この部分にパージ気体が一斉に押し寄せて渦流が生じるようになる。然し、これらの空間88a、88b、88cがある場合、下の空間からパージ気体が順次的に少しずつ排出されるため渦流が生じなくなる。上部気体排出口87も同様な理由により、二つの環状上部分割膜86の水平分割によって三つの空間87a、87b、87cに分けられ、これらの空間87a、87b、87cは上から下にいくほど間隙が段々広くなる。上部分割膜87も遮断膜85より大きな内径を有している。
【0014】
気体供給ライン74を通して気体フォーカスリング70に工程気体を注入すると、工程気体は噴射孔72を通してウエハー支持台50周囲から上部空間の中心部に噴射される。ウエハー支持台50の上部空間の中心部に噴射された工程気体は、ベルジャーヒータ40によって加熱されている石英ドーム20にぶつかって熱分解されることで、ウエハー支持台50の上部空間にまんべんなく分布される。従って、ウエハー60が大口径の場合も、ウエハー60全面に均一な化学気相蒸着が発生する。
【0015】
化学気相蒸着に関与しなかった残留工程気体は気体排出口80を通して外部に排出される。この時、工程気体が反応チャンバ10の下部に下がらないように構成して、パージ気体供給口90を通してパージ気体を適切な流速に供給する。もちろん、パージ気体も工程気体の圧力により反応チャンバ10の上部に上がらないように構成すべきである。
【0016】
工程気体はパージ気体の供給によってウエハー支持台50の下部空間に下がらないため、ウエハー支持台50、支持軸52等反応チャンバ10の下部内壁に薄膜が蒸着されることが防止される。パージ気体もウエハー支持台50の上部空間に上がらないため、化学気相蒸着に影響を及ぼさなくなり、パージ気体によって薄膜の均一度及び蒸着速度が影響を受ける現象は起こらない。遮断膜85の設置によってこのような効果はより大きくなる。
【0017】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係るCVD装置においては、工程気体はパージガスの圧力によって反応チャンバ10の下部空間に下がらないため、工程気体が反応チャンバ10の下部空間に蒸着されることを防止し得る。従って、パーティクルソースを最小化し得ることは勿論で、装備の点検周期を延長させることができる。また、パージガスも工程気体の圧力によって反応チャンバ10の上部空間に上がらないため、パージ気体によりCVD工程が影響を受けることがないという効果がある。
【0018】
且つ、遮断膜85を設置した2段ポンピング構造によって工程気体及びパージ気体の混合による渦流発生を防止し得る。もし気体排出口80から渦流が発生すると、気体が多少渋滞することとなり、ウエハー支持台50に設置されたメーンヒータの熱気によるバーニング(burning)現象が生じるようになる。そして、上部分割膜86及び下部分割膜84によって形成された空間により、工程気体及びパージ気体それぞれが各部分から少しずつ排出されるため、このような渦流現象はより一層減少するようになる。排出量は遮断膜85側にいくほど段々多くなる。
【0019】
本発明は、前記実施形態のみに限定されなく、本発明の技術的思想内で当分野で通常の知識を有する者によって多くの変形が可能であることは明白である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るCVD装置の構造を示した概略説明図である。
【図2】図1の部分拡大図である。
【符号の説明】
10 反応チャンバ
20 石英ドーム
30 ベルジャー
40 ベルジャーヒータ
50 ウエハー支持台
52 支持軸
60 ウエハー
70 気体フォーカスリング
72 噴射孔
74 気体供給ライン
80 気体排出口
82 ポンピングライン
84 下部分割膜
86 上部分割膜
85 遮断膜
87 上部気体排出口
88 下部気体排出口
90 パージ気体供給口

Claims (6)

  1. 化学気相蒸着工程が施工される反応チャンバと、
    該反応チャンバの内部に装入されてウエハーが載置されるウエハー支持台と、
    該ウエハー支持台の周囲から上部空間中心部に工程気体を噴射するために前記反応チャンバの内側壁面に設置された気体フォーカスリングと、
    前記反応チャンバの内部にパージ気体を供給するために前記反応チャンバの底面に設置されるパージ気体供給口と、
    前記気体フォーカスリングを通して噴射される工程気体及び前記パージ気体供給口を通して供給されるパージ気体を排出させるために、前記気体フォーカスリングより下部の前記ウエハー支持台と同様な高さに位置するように、前記反応チャンバの側壁に沿って水平な環状リング形態に設置される気体排出口と、
    該気体排出口と真空ポンプを相互連結する一つのポンピングラインと、
    前記気体排出口を通して排出される工程気体とパージ気体とがその気体排出口の入口部位で相互混合されないように、その気体排出口の中間部分に位置するように前記気体排出口に環状に水平に、且つ、前記反応チャンバ内側壁面とウエハー支持体との隙間を狭めるように設置される遮断膜と、を包含して構成されることを特徴とするCVD装置。
  2. 前記反応チャンバは上部が石英ドームから構成されて、該石英ドームの外側には前記石英ドームを覆うベルジャーヒータが被覆されることを特徴とする請求項1記載のCVD装置。
  3. 前記反応チャンバには前記ウエハー支持台が1つ装入載置されて、ウエハーが一枚ずつ装入される毎葉式反応チャンバであることを特徴とする請求項1記載のCVD装置。
  4. 前記遮断膜下方の気体排出口部分を複数の空間に分けるために水平分割して、前記遮断膜よりも大きい内径を有する複数の下部分割膜を形成し、前記遮断膜の上部の気体排出口部分を複数の空間に分けるために水平分割して、前記遮断膜より大きい内径を有する複数の上部分割膜を更に形成して構成されることを特徴とする請求項1記載のCVD装置。
  5. 前記各下部分割膜によって形成される複数の空間は、下から上にいくほど間隙が段々広く形成されて、前記上部分割膜によって形成される複数の空間は、上から下にいくほど間隙が段々広く形成されることを特徴とする請求項記載のCVD装置。
  6. 前記ウエハー支持台の内部にはヒータが設置されていることを特徴とする請求項記載のCVD装置。
JP2002316228A 2001-11-05 2002-10-30 Cvd装置 Expired - Fee Related JP4078185B2 (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0068511A KR100443598B1 (ko) 2001-11-05 2001-11-05 Cvd 장치
KR2001-068511 2001-11-05
KR2001-073336 2001-11-23
KR10-2001-0073336A KR100445814B1 (ko) 2001-11-23 2001-11-23 Cvd 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003277936A JP2003277936A (ja) 2003-10-02
JP4078185B2 true JP4078185B2 (ja) 2008-04-23

Family

ID=26639442

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002316228A Expired - Fee Related JP4078185B2 (ja) 2001-11-05 2002-10-30 Cvd装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7390366B2 (ja)
JP (1) JP4078185B2 (ja)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6963043B2 (en) * 2002-08-28 2005-11-08 Tokyo Electron Limited Asymmetrical focus ring
JP5004513B2 (ja) * 2006-06-09 2012-08-22 Sumco Techxiv株式会社 気相成長装置及び気相成長方法
KR101161407B1 (ko) * 2007-12-26 2012-07-09 삼성엘이디 주식회사 화학기상 증착장치
US8298338B2 (en) * 2007-12-26 2012-10-30 Samsung Electronics Co., Ltd. Chemical vapor deposition apparatus
KR101004822B1 (ko) * 2008-04-18 2010-12-28 삼성엘이디 주식회사 화학 기상 증착 장치
KR100982987B1 (ko) * 2008-04-18 2010-09-17 삼성엘이디 주식회사 화학 기상 증착 장치
US8540844B2 (en) * 2008-12-19 2013-09-24 Lam Research Corporation Plasma confinement structures in plasma processing systems
US8707899B2 (en) * 2009-02-26 2014-04-29 Hitachi High-Technologies Corporation Plasma processing apparatus
US8968473B2 (en) 2009-09-21 2015-03-03 Silevo, Inc. Stackable multi-port gas nozzles
TW201142069A (en) * 2010-03-19 2011-12-01 Gt Solar Inc System and method for polycrystalline silicon deposition
US9441295B2 (en) 2010-05-14 2016-09-13 Solarcity Corporation Multi-channel gas-delivery system
US9240513B2 (en) 2010-05-14 2016-01-19 Solarcity Corporation Dynamic support system for quartz process chamber
US10385448B2 (en) 2012-09-26 2019-08-20 Applied Materials, Inc. Apparatus and method for purging gaseous compounds
JP2017518626A (ja) 2015-02-17 2017-07-06 ソーラーシティ コーポレーション 太陽電池の製造歩留まりを向上させる方法及びシステム
US20160359080A1 (en) 2015-06-07 2016-12-08 Solarcity Corporation System, method and apparatus for chemical vapor deposition
US9748434B1 (en) 2016-05-24 2017-08-29 Tesla, Inc. Systems, method and apparatus for curing conductive paste
WO2017209802A1 (en) * 2016-06-03 2017-12-07 Applied Materials, Inc. Effective and novel design for lower particle count and better wafer quality by diffusing the flow inside the chamber
US9954136B2 (en) 2016-08-03 2018-04-24 Tesla, Inc. Cassette optimized for an inline annealing system
US10115856B2 (en) 2016-10-31 2018-10-30 Tesla, Inc. System and method for curing conductive paste using induction heating
CN113169101B (zh) * 2019-01-08 2022-09-30 应用材料公司 用于基板处理腔室的泵送设备与方法
CN112951697A (zh) * 2019-11-26 2021-06-11 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112992743B (zh) * 2021-05-17 2021-09-17 北京北方华创微电子装备有限公司 半导体工艺腔室及半导体工艺设备

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4545327A (en) * 1982-08-27 1985-10-08 Anicon, Inc. Chemical vapor deposition apparatus
JP2763222B2 (ja) * 1991-12-13 1998-06-11 三菱電機株式会社 化学気相成長方法ならびにそのための化学気相成長処理システムおよび化学気相成長装置
JPH05175130A (ja) 1991-12-20 1993-07-13 Nippon Steel Corp プラズマcvd装置
US5592581A (en) * 1993-07-19 1997-01-07 Tokyo Electron Kabushiki Kaisha Heat treatment apparatus
JPH08186081A (ja) * 1994-12-29 1996-07-16 F T L:Kk 半導体装置の製造方法及び半導体装置の製造装置
JP3477953B2 (ja) * 1995-10-18 2003-12-10 東京エレクトロン株式会社 熱処理装置
US5928426A (en) * 1996-08-08 1999-07-27 Novellus Systems, Inc. Method and apparatus for treating exhaust gases from CVD, PECVD or plasma etch reactors
JPH1180964A (ja) * 1997-07-07 1999-03-26 Canon Inc プラズマcvd法による堆積膜形成装置

Also Published As

Publication number Publication date
US7390366B2 (en) 2008-06-24
JP2003277936A (ja) 2003-10-02
US20030084849A1 (en) 2003-05-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4078185B2 (ja) Cvd装置
US10570508B2 (en) Film forming apparatus, film forming method and heat insulating member
TWI671792B (zh) 基板處理設備
JP4335438B2 (ja) 非対称の流動形状を用いるプロセスチャンバ用リッドアセンブリ
US6085690A (en) Chemical vapor deposition apparatus
JP5233734B2 (ja) ガス供給装置、成膜装置及び成膜方法
TWI662993B (zh) 噴頭組件及處理腔室
JP2003045864A (ja) 基板処理装置
KR20140115795A (ko) 라이너 어셈블리 및 이를 구비하는 기판 처리 장치
JP2009212531A (ja) 化学気相成長反応装置
KR101412034B1 (ko) 가스분사조립체 및 이를 이용한 박막증착장치
KR100453014B1 (ko) Cvd 장치
US5800616A (en) Vertical LPCVD furnace with reversible manifold collar and method of retrofitting same
KR100484945B1 (ko) 멀티 홀 앵글드 가스분사 시스템을 갖는 반도체소자 제조장치
US6191388B1 (en) Thermal processor and components thereof
KR100443598B1 (ko) Cvd 장치
KR100445814B1 (ko) Cvd 장치
JPS6343315A (ja) 減圧cvd装置
KR100286330B1 (ko) 반도체의유체접촉방식복사가열장치
JP7471972B2 (ja) 処理装置及び処理方法
KR100613354B1 (ko) 가스 공급이 균일하게 이루어지는 급속열처리 장치
TWM653706U (zh) 預熱環和半導體加熱設備
JPH11350118A (ja) 成膜装置
JPS61287220A (ja) 気相成長装置
JPH0897154A (ja) 真空成膜装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050308

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060711

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060925

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080108

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080204

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110208

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120208

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130208

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140208

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees