JP4071536B2 - ファイル装置の試験装置及び該ファイル装置の試験装置における試験方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、パーソナルコンピュータ、ワークステーション、或いはサーバ等に搭載又は接続されるファイル装置、例えば、RAID装置、ハードディスク装置(HDD)、コンパクトディスクドライブ(CDドライブ)、光磁気ディスク装置(MOドライブ)、フレキシブルディスクドライブ(FDD)等の試験を行うファイル装置の試験装置及びファイル装置の試験装置における試験方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
以下、従来例について説明する。
【0003】
従来、ファイル装置の試験においては、実際の使用環境又はそれに近い環境で装置へのアクセスを行い、装置動作を検証する方法が一般的である。この際に使用されるデバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングは固定的なものであり、OS種別、CPU性能、搭載メモリ容量、チップセット種別(コンピュータ装置本体とファイル装置とのインタフェース制御手段)等のシステム環境が同じ条件の場合は、同じアクセスタイミングとなりがちである。
【0004】
図15は従来のファイル装置の試験装置の構成図である。この例の場合、ファイル装置の試験装置は、試験対象のファイル装置3と、該ファイル装置3を駆動するデバイスドライバ(コンピュータ本体)1と、該デバイスドライバ(コンピュータ本体)1に接続された入力手段2等からなり、デバイスドライバ(コンピュータ本体)1内には、ファイル装置アクセス部5を備えている。この場合、ファイル装置アクセス部5はプログラムで構成されている。
【0005】
そして、ファイル装置3の試験を実施する場合には、外部から試験プログラム4を入力し、この試験プログラム4をファイル装置アクセス部5が取り込んで、ファイル装置3へアクセスする。そして、試験プログラム4を実行することで、ファイル装置3の各種試験を実施する。そして、前記試験により得られたデータは、ファイル装置アクセス部5により取得する。
【0006】
なお、前記試験の項目とし、例えば、ハードディスク装置の場合の試験項目としては、媒体試験、メカ(特にヘッド部)の試験、キャッシュ(リード/ライト)試験、省電力試験、コマンドインタフェース試験、性能試験、リセット試験等である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
前記のような従来のものにおいては、次のような課題があった。
【0008】
(1) :ファイル装置の障害の内、検出までに時間がかかるものとして、装置の内部処理において、ある特定の条件が成立した場合に発生する障害が挙げられる。この特定条件の成立の可否は、試験装置からのコマンドの発行タイミングに依存するものが多い。
【0009】
(2) :従来技術では、デバイスドライバからのアクセスタイミングが固定的であるため、障害が発生する条件を生成させるためには、長時間の試験走行を行うことによるタイミングの変化を期待したり、装置環境を変えることでタイミングの変化を狙うなどが必要となり、障害の検出や一度発生した障害の再現に時間がかかっていた。
【0010】
本発明は、このような従来の課題を解決し、デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを可変にすることで、オペレータが意図したアクセスタイミングを実現し、ファイル装置の内部処理に対して各種の状態や条件を発生させることで、障害の発生を加速させ障害検出までの時間を短縮できるようにすることを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明は前記の目的を達成するため、次のように構成した。
【0012】
(1) :試験対象のファイル装置と、該ファイル装置を駆動するデバイスドライバと、前記ファイル装置に対する制御情報(ファイル装置を制御するための情報)を含む各種データを入力する入力手段と、前記ファイル装置を試験するための試験プログラムを有するファイル装置の試験装置において、前記デバイスドライバに、前記入力手段から入力された制御情報を前記デバイスドライバへ取り込む制御情報取り込み部と、前記取り込んだ制御情報を解析する制御情報解析部と、前記制御情報解析部の解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示するアクセス間隔制御部と、前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行うファイル装置アクセス部を備え、前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行う機能を備えていることを特徴とする。
【0013】
(2) :試験対象のファイル装置と、該ファイル装置を駆動するデバイスドライバと、前記ファイル装置に対する制御情報を含む各種データを入力する入力手段と、前記ファイル装置を試験するための試験プログラムを備え、更に、前記デバイスドライバに、前記入力手段から入力された制御情報を前記デバイスドライバへ取り込む制御情報取り込み部と、前記取り込んだ制御情報を解析する制御情報解析部と、前記制御情報解析部の解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示するアクセス間隔制御部と、前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行うファイル装置アクセス部を備え、前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行う機能を備えたファイル装置の試験装置における試験方法であって、前記制御情報で指定した時間間隔でファイル装置へのアクセスを行うと共に、前記時間間隔の最小値、最大値、増減量により、ファイル装置へのアクセス間隔を段階的に大きく又は小さくすることを特徴とする。
【0014】
(3) :試験対象のファイル装置と、該ファイル装置を駆動するデバイスドライバと、前記ファイル装置に対する制御情報を含む各種データを入力する入力手段と、前記ファイル装置を試験するための試験プログラムを備え、更に、前記デバイスドライバに、前記入力手段から入力された制御情報を前記デバイスドライバへ取り込む制御情報取り込み部と、前記取り込んだ制御情報を解析する制御情報解析部と、前記制御情報解析部の解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示するアクセス間隔制御部と、前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行うファイル装置アクセス部を備え、前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行う機能を備えたファイル装置の試験装置における試験方法であって、前記制御情報で指定した時間間隔の最小値、最大値により、ファイル装置へのアクセス間隔を指定された時間間隔の範囲内でランダムとすることを特徴とする。
【0015】
(4) :試験対象のファイル装置と、該ファイル装置を駆動するデバイスドライバと、前記ファイル装置に対する制御情報を含む各種データを入力する入力手段と、前記ファイル装置を試験するための試験プログラムを備え、更に、前記デバイスドライバに、前記入力手段から入力された制御情報を前記デバイスドライバへ取り込む制御情報取り込み部と、前記取り込んだ制御情報を解析する制御情報解析部と、前記制御情報解析部の解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示するアクセス間隔制御部と、前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行うファイル装置アクセス部を備え、前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスを抑止する期間を制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行う機能を備えたファイル装置の試験装置における試験方法であって、前記制御情報で指定した発生間隔の最大値、最小値、増減量により、ファイル装置へのアクセスを完全に抑止する期間の発生間隔を段階的に大きく又は小さくすることを特徴とする。
【0016】
(5) :試験対象のファイル装置と、該ファイル装置を駆動するデバイスドライバと、前記ファイル装置に対する制御情報を含む各種データを入力する入力手段と、前記ファイル装置を試験するための試験プログラムを備え、更に、前記デバイスドライバに、前記入力手段から入力された制御情報を前記デバイスドライバへ取り込む制御情報取り込み部と、前記取り込んだ制御情報を解析する制御情報解析部と、前記制御情報解析部の解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示するアクセス間隔制御部と、前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行うファイル装置アクセス部を備え、前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスを抑止する期間を制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行う機能を備えたファイル装置の試験装置における試験方法であって、前記制御情報で指定した発生間隔の最大値、最小値により、ファイル装置へのアクセスを完全に抑止する期間の発生を指定された発生間隔の範囲内でランダムとすることを特徴とする。
【0017】
(作用)
前記構成に基づく本発明の作用を説明する。
【0018】
(a) :前記(1) では、オペレータが入力手段から制御情報を入力すると、制御情報取り込み部は入力された制御情報をデバイスドライバへ取り込み、制御情報解析部は取り込んだ制御情報を解析し、アクセス間隔制御部は前記解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示し、ファイル装置アクセス部は前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行う。
【0019】
このようにして、前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行うことができ、内部処理に依存した装置障害の検出率を向上させることができる。
【0020】
すなわち、デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを可変にすることで、オペレータが意図したアクセスタイミングを実現することができる。そして、ファイル装置の内部処理に対して各種の状態や条件を発生させて試験を行うことができるので、障害の発生を加速させ検出までの時間を短縮することができる。
【0021】
(b) :前記(2) では、オペレータが入力手段から制御情報を入力すると、制御情報取り込み部は入力された制御情報をデバイスドライバへ取り込み、制御情報解析部は取り込んだ制御情報を解析し、アクセス間隔制御部は前記解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示し、ファイル装置アクセス部は前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行う。
【0022】
このようにして、前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行うことができるので、内部処理に依存した装置障害の検出率を向上させることができる。
【0023】
そして、試験を実施する際、前記制御情報で指定した時間間隔でファイル装置へのアクセスを行うと共に、前記時間間隔の最小値、最大値、増減量により、ファイル装置へのアクセス間隔を段階的に大きく又は小さくする。
【0024】
このようにすれば、1度発生した障害を再現させる場合や過去の障害事例から、ファイル装置の障害発生が発生し易いアクセス間隔が事前に分かっている場合は、アクセス間隔を固定的に指定することで、障害の発生し易い状態や条件を集中的に作り出し、障害の発生を早めることで、障害検出までの時間を短縮することができる。
【0025】
(c) :前記(3) では、オペレータが入力手段から制御情報を入力すると、制御情報取り込み部は入力された制御情報をデバイスドライバへ取り込み、制御情報解析部は取り込んだ制御情報を解析し、アクセス間隔制御部は前記解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示し、ファイル装置アクセス部は前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行う。
【0026】
このようにして、前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行うことができるので、内部処理に依存した装置障害の検出率を向上させることができる。
【0027】
そして、試験を実施する際、前記制御情報で指定した時間間隔の最小値、最大値により、ファイル装置へのアクセス間隔を指定された時間間隔の範囲内でランダムとする。
【0028】
このように、ファイル装置へのアクセス間隔を指定した範囲内でランダムに発生させることにより、ファイル装置の内部の状態や条件をランダムに発生させることができ、従来は発生させられなかったタイミング依存障害を発生させ、検出することが可能となる。
【0029】
(d) :前記(4) では、オペレータが入力手段から制御情報を入力すると、制御情報取り込み部は入力された制御情報をデバイスドライバへ取り込み、制御情報解析部は取り込んだ制御情報を解析し、アクセス間隔制御部は前記解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示し、ファイル装置アクセス部は前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行う。
【0030】
このようにして、前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行うことができるので、内部処理に依存した装置障害の検出率を向上させることができる。
【0031】
そして、試験を実施する際、前記制御情報で指定した発生間隔の最大値、最小値、増減量により、ファイル装置へのアクセスを完全に抑止する期間の発生間隔を段階的に大きく又は小さくする。
【0032】
以上のように、ファイル装置へのアクセスを抑止することで、装置の省電力機能やバックグラウンド処理を動作させることができる。これらの処理とファイルアクセスが組み合わされたことに起因するタイミング依存障害を発生させ、検出することが可能となる。
【0033】
(e) :前記(5) では、オペレータが入力手段から制御情報を入力すると、制御情報取り込み部は入力された制御情報をデバイスドライバへ取り込み、制御情報解析部は取り込んだ制御情報を解析し、アクセス間隔制御部は前記解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示し、ファイル装置アクセス部は前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行う。
【0034】
このようにして、前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行うことができるので、内部処理に依存した装置障害の検出率を向上させることができる。
【0035】
そして、試験を実施する際、前記制御情報で指定した発生間隔の最大値、最小値により、ファイル装置へのアクセスを完全に抑止する期間の発生を指定された発生間隔の範囲内でランダムとする。
【0036】
以上のように、ファイル装置へのアクセス抑止間隔を指定した範囲内でランダムに発生させることにより、装置の省電力機能やバックグラウンド処理の動作をランダムなタイミングで開始させることができ、従来は発生させられなかったタイミング依存障害を発生させ、検出することが可能となる。
【0037】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【0038】
§1:ファイル装置の試験装置及び該装置における試験方法の概要
以下に説明するファイル装置の試験装置及び該装置における試験方法の概要は次の通りである。
【0039】
(1) :試験の対象
本実施の形態における試験対象は、RAID装置、ハードディスク装置(HDD)、コンパクトディスクドライブ(CDドライブ)、光磁気ディスク装置(MOドライブ)、フレキシブルディスクドライブ(FDD)等のファイル装置である。
【0040】
そして、例えば、ハードディスク装置の場合の試験項目としては、媒体試験、メカ(特にヘッド部)の試験、キャッシュ(リード/ライト)試験、省電力試験、コマンドインタフェース試験、性能試験、リセット試験等である。
【0041】
(2) :試験の内容
試験の内容は次の通りである。
【0042】
▲1▼:デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを可変にする。
【0043】
▲2▼:オペレータの意図したアクセスタイミングを実現することで、ファイル装置の内部処理に対して各種の状態、条件を生成させて、障害の発生を加速させ検出までの時間を短縮する。
【0044】
▲3▼:手段としては、試験装置のHMI(ヒューマン・マシン・インタフェース)として、アクセスタイミングに関する設定項目を用意し、オペレータの指定内容を取り込んだデバイスドライバがファイル装置へのアクセス間隔を制御することで行う。
【0045】
▲4▼:ファイル装置の試験装置では、HMIを通して、以下の内容を指定できるものとする。
【0046】
a:固定値によるアクセス間隔の指定
b:範囲指定と増加間隔を指定した段階的アクセス間隔増加の指定
c:範囲指定と減少間隔を指定した段階的アクセス間隔減少の指定
d:範囲指定をした範囲内でのランダムなアクセス間隔の指定
e:固定値によるアクセス抑止状態と抑止時間発生の指定
f:範囲指定と増加間隔を指定した段階的アクセス抑止間隔増加の指定
g:範囲指定と減少間隔を指定した段階的アクセス抑止間隔減少の指定
h:範囲指定によるランダムなアクセス抑止状態発生の指定
i:範囲指定によるランダムなアクセス抑止時間の指定
j:範囲指定と増加時間を指定した段階的アクセス抑止時間増加の指定
k:範囲指定と減少時間を指定した段階的アクセス抑止時間減少の指定
l:上記の指定の任意な組み合わせ、切り換えの指定
【0047】
§2:ファイル装置の試験装置の説明
(1) :ファイル装置の試験装置の構成の説明
図1はファイル装置の試験装置の構成図である。ファイル装置の試験装置は、試験対象のファイル装置3と、該ファイル装置3を駆動するデバイスドライバ(コンピュータ本体)1と、該デバイスドライバ1に接続されたHMI(ヒューマン・マシン・インタフェース)6を備えている。
【0048】
そして、デバイスドライバ1には、制御情報取り込み部7と、制御情報解析部8と、アクセス間隔制御部9と、ファイル装置アクセス部5と、メモリ10等を備え、前記メモリ10には、共有メモリ領域11と、ワークメモリ領域12を備えている。
【0049】
更に、デバイスドライバ1には、前記ファイル装置3に対する試験を行うための試験プログラム4を取り込む手段(例えば、予め、デバイスドライバ1に接続されたハードディスク装置に格納された試験プログラムを、該デバイスドライバ1内のCPUの制御で読み出す等の手段)を備えている。
【0050】
前記HMI6は各種の制御情報等をオペレータが入力したりするための手段である。制御情報取り込み部7はオペレータにより入力された制御情報等をデバイスドライバ1へ取り込む手段である。制御情報解析部8は前記取り込んだ制御情報を解析する手段である。
【0051】
アクセス間隔制御部9は前記解析結果から得られた情報を基に、デバイスドライバ1のファイル装置3へのアクセス間隔をファイル装置アクセス部5へ指示する手段である。ファイル装置アクセス部5はアクセス間隔制御部9からの指示に基づきファイル装置3へのアクセスを行う手段である。
【0052】
(2) :各部の機能と処理の説明
前記ファイル装置の試験装置における各部の機能と処理は次の通りである。
【0053】
HMI(入力手段)6によりオペレータから指定された制御情報は、制御情報取り込み部7によりデバイスドライバ1に取り込まれる。取り込まれた制御情報は制御情報解析部8により制御内容の解析を行い、解析結果をアクセス間隔制御部9に渡す。
【0054】
アクセス間隔制御部9では前記解析結果からデバイスドライバ1のファイル装置3へのアクセス間隔を制御する情報を生成し、ファイル装置アクセス部5が、参照可能な状態(例えば、メモリ10の共有メモリ領域11に格納する)とする。アクセス間隔制御部9の行う具体的なアクセス間隔の制御は、ファイル装置アクセス部5に対するアクセス許可と抑止を指示する情報の操作と、ファイル装置アクセス部5のファイル装置3へのアクセス状況を監視する処理である。
【0055】
一方、ファイル装置アクセス部5は、従来と同様の方法により、試験プログラムからのファイル装置3へのアクセス依頼を受け付けるが、実際にアクセスを行う際には、アクセス間隔制御部9により指示される情報を参照する。参照した結果、アクセスが許可されていればファイル装置3へのアクセスを実施する。アクセスを実施する際には、アクセスを行うことを示す情報をアクセス間隔制御部9に示すものとする。また、アクセスが抑止されていれば、アクセスが許可されるまで待ち状態となる。
【0056】
以上のようにして、ファイル装置3へのアクセス間隔をオペレータが指示するタイミングで実施することが可能となる。その結果として、ファイル装置3の内部処理に各種の状態、条件を発生させることになり、これまで、検出に時間がかかったタイミング依存の障害を短時間で検出することが可能となる。
【0057】
§3:処理の詳細な説明
図2は処理フローチャート(その1)であり、図1に示したHMI6と、制御情報取り込み部7と、制御情報解析部8と、アクセス間隔制御部9の処理(この処理を「処理1」とする)である。図3は処理フローチャート(その2)であり、図1に示したファイルアクセス制御部5の処理(この処理を「処理2」とする)である。図4は処理フローチャート(その2)であり、図2のS3の詳細な処理(この処理を「処理3」とする)である。
【0058】
また、図5〜図11は、オペレータ入力画面例(その1)〜(その7)、図12は制御テーブル例、図13は制御データ構造である。以下、図2〜図13に基づいて、図1に示したファイル装置の試験装置における詳細な処理を説明する。なお、S1〜S29は各処理ステップを示す。
【0059】
(1) :処理1の説明(図2参照)
以下の処理を行う場合、予め、ディスプレイ装置の画面に制御情報の入力画面(詳細は後述する)を表示し、この入力画面から、オペレータの操作により制御情報を入力する。また、デバイスドライバ1では、予め、試験プログラム4を取り込み、例えば、メモリ10のワークメモリ領域12に格納してから処理を始めるものとする。
【0060】
前記HMI6は前記オペレータが入力した制御情報のデータを受け付け、制御情報取り込み部7はHMI6が受け付けた制御情報を取り込み、メモリ10のワークメモリ領域12に格納する(S1)。次に、制御情報解析部8は前記取り込んだ制御情報のデータを解析して制御テーブル(詳細は後述する)を作成し、メモリ10のワークメモリ領域12に格納する(S2)。
【0061】
ここで示した制御テーブルの格納データは、図11に示すオペレータ入力画面例12の「ファイルアクセス制御情報−002」の入力を基にした例である。また、制御テーブルに格納されたデータはプログラムが処理し易いように、図13に示したデータ構造として保持される(例えば、メモリ10のワークメモリ領域12に格納する)。すなわち、前記制御テーブルのデータを基にして、図13のようなデータ構造の制御データを作成し、このデータ構造の制御データを用いて該当するプログラムが処理を行う。
【0062】
次に、アクセス間隔制御部9は前記制御テーブルからアクセスタイミング指示を行う(S3)。この場合、アクセス間隔制御部9は前記制御テーブルのデータを基にファイル装置3へのアクセスタイミングを判断し、アクセスを許可するタイミングが訪れた際に、メモリ10の共有メモリ領域11に用意したアクセス指示領域に対して、アクセス許可することを意味する情報をセットする。アクセス許可を意味する情報としては、1ビットのON/OFFでも構わないし、特定のデータを書き込んでも構わない。
【0063】
その後、アクセス間隔制御部9はファイル装置3へのアクセス監視を行い(S4)、アクセス完了か否かを判断する(S5)。この場合、アクセス間隔制御部9は前記メモリ10の共有メモリ領域11に用意したアクセス指示領域にセットしたアクセス許可情報を、ファイルアクセス手段としてのデバイスドライバ1が認識し、メモリ10の共有メモリ領域11に用意したアクセス実行領域に対して、アクセスしたことを意味する情報をセットするのを監視する。
【0064】
前記S4、S5の処理において、ファイル装置3へのアクセスが実行されることを認識すると、アクセス間隔制御部9は前記メモリ10の共有メモリ領域11に用意したアクセス実行領域にセットされた情報をリセット(クリア)し、ファイル装置3へのトータルアクセス回数を+1(インクリメント)し(S6)、終了指示有りか否かを判断する(S7)。
【0065】
その結果、試験処理に対する終了指示が無い場合は、前記S3の処理へ移行し、前記終了指示が有れば、この処理を終了する。なお、前記S7の処理における終了指示は、プログラムによる指示か、オペレータからの指示かのいずれかである。
【0066】
(2) :処理2の説明(図3参照)
一方、デバイスドライバ1のファイル装置アクセス部5は次のように処理を行う。先ず、ファイル装置アクセス部5は試験プログラム4からのコマンド発行依頼を受け付け(S11)、コマンド発行準備を行う(S12)。なお、S11とS12の処理は従来の処理と変わらない。
【0067】
次に、ファイル装置アクセス部5は、前記メモリ10の共有メモリ領域11に用意したアクセス指示領域を参照し(S13)、アクセス許可の有無を判定する(S14)。その結果、ファイル装置アクセス部5はアクセスの許可を認識しなければS13の処理へ移行し、アクセスの許可を認識した場合はアクセス指示リセットを行う(S15)。すなわち、S15の処理では、前記メモリ10の共有メモリ領域11に用意したアクセス指示領域にセットされたアクセス許可情報をリセット(クリア)する。
【0068】
そして、ファイル装置アクセス部5はアクセス実行の報告を行う(S16)。この場合、ファイル装置アクセス部5は前記メモリ10の共有メモリ領域11に用意したアクセス実行領域に対して、アクセスすることを意味する情報をセットする。前記アクセスすることを意味する情報としては、1ビットのON/OFFでも構わないし、特定のデータを書き込んでも構わない。
【0069】
その後、ファイル装置アクセス部5は従来と同じ処理として、ファイル装置3へのアクセスを実行し(S17)、その結果を試験プログラム4へ報告する(S18)。その後は、試験プログラム4から次のコマンド発行依頼を受け付ける処理(S11)へ戻る。
【0070】
(3) :処理3の説明(図4参照)
以下、前記アクセス間隔制御部9が行う前記S3(図2参照)の処理の詳細を図4に基づいて説明する。
【0071】
先ず、アクセス間隔制御部9は初回のアクセスかどうかを判定し(S21)、初回である場合は、無条件にアクセス指示を設定するS29の処理へ移行し、前記メモリ10の共有メモリ領域11に用意したアクセス指示領域に、アクセス指示を設定する。
【0072】
しかし、S21の処理において、初回のアクセスでないと判定した場合、アクセス間隔制御部9は前回のアクセスの完了を認識した時刻を、システム(ファイル装置の試験装置)のタイマから取得し変数Tに格納する(S22)。次に、アクセス間隔制御部9は、前記制御テーブルの情報を基に、アクセス抑止間隔の制御が指示されている場合は、次の抑止のタイミングを算出して変数Tsに格納する(S23)。前記変数Tsの算出は、アクセス抑止間隔の指示内容により以下のように行う。
【0073】
▲1▼固定による指示:Ts=T+固定値
▲2▼昇順による指示:Ts=T+最小間隔+アクセス回数×増減量
(但し、最小間隔+アクセス回数×増減量が最大間隔を超える場合は、アクセス回数を0にリセットして算出する。)
▲3▼降順による指示:Ts=T+最大間隔−アクセス回数×増減量
(但し、最大間隔−アクセス回数×増減量が最小間隔を下回る場合は、アクセス回数を0にリセットして算出する。)
▲4▼ランダムによる指示:Ts=T+(最小間隔〜最大間隔の範囲でランダムに決定した時間)
次に、アクセス間隔制御部9は次のアクセスタイミング(変数Ta)の算出を行う(S24)。この処理では、前記制御テーブルの情報を基に、次のアクセスタイミングを算出して変数Taに格納する。変数Taの算出は、アクセス間隔の指示内容により以下のように行う。
【0074】
▲1▼固定による指示:Ta=T+固定値
▲2▼昇順による指示:Ta=T+最小間隔+アクセス回数×増減量
(但し、最小間隔+アクセス回数×増減量が最大間隔を超える場合は、アクセス回数を0にリセットして算出する。)
▲3▼降順による指示:Ta=T+最大間隔−アクセス回数×増減量
(但し、最大間隔−アクセス回数×増減量が最小間隔を下回る場合は、アクセス回数を0にリセットして算出する。)
▲4▼ランダムによる指示:Ta=T+(最小間隔〜最大間隔の範囲でランダムに決定した時間)
次に、アクセス間隔制御部9は現在時刻をシステム(ファイル装置の試験装置)のタイマから取得し、変数Tnに格納する(S25)。そして、現在時刻Tnとアクセス抑止タイミングTsを比較し(S26)、Tn≧Tsの関係が成立する場合は、抑止時間を決定して時間待ちする(S27)。しかし、Tn≧Tsの関係が成立しない場合は、アクセスタイミングか否かを判断し(S28)、アクセスタイミングでなければS25の処理へ移行する。
【0075】
前記S27の処理では、制御テーブルの情報を基にアクセス抑止時間を算出して時間待ち処理を行う。なお、前記抑止時間の算出はアクセス抑止時間の指示内容により以下のように行う。
【0076】
▲1▼固定による指示:抑止時間=固定値
▲2▼昇順による指示:抑止時間=最小時間+アクセス回数×増減量
(但し、最小間隔+アクセス回数×増減量が最大時間を超える場合は、アクセス回数を0にリセットして算出する。)
▲3▼降順による指示:抑止時間=最大間隔−アクセス回数×増減量
(但し、最大時間−アクセス回数×増減量が最小時間を下回る場合は、アクセス回数を0にリセットして算出する。)
▲4▼ランダムによる指示:抑止時間=最小時間〜最大時間の範囲でランダムに決定した時間
なお、前記S28では、アクセス間隔制御部9は現在時刻TnとアクセスタイミングTaを比較し、Tn≧Taが成り立たなければS25の処理へ移行し、Tn≧Taが成り立つ場合は、前記メモリ10の共有メモリ領域11に用意したアクセス指示領域にアクセス許可を意味する情報をセットする。すなわち、共有メモリ領域11にアクセス指示を設定し、この処理を終了する。
【0077】
(4) :その他の処理
前記各制御方法(請求項2、3、4、5等の制御方法に対応)を、オペレータの指定により任意に組み合わせ、切り換えることも可能である。この処理は、図11に示したオペレータ入力画面例12を使用し実現する。
【0078】
オペレータは、前記オペレータ入力画面例12において、アクセス間隔、アクセス抑止間隔及びアクセス抑止時間に対する指示を任意に設定したファイルアクセス制御情報▲2▼を複数用意し、それぞれの制御情報の実行スケジュールをアクセス間隔制御スケジュール画面▲1▼により指定する。この情報を基に、前記図2のS2の処理で行う制御テーブル作成の入力データを切り換えることで、制御の切り換えを実施する。
【0079】
§4:オペレータ入力画面例、制御テーブル等の説明
(1) :オペレータ入力画面例の説明
a:オペレータ入力画面例1(図5のA図参照)は、オペレータの操作によりアクセス間隔制御情報を入力するものである。この場合、アクセス間隔=10μsec 、アクセス間隔制御=固定を入力している。
【0080】
b:オペレータ入力画面例2(図5のB図参照)は、オペレータの操作によりアクセス間隔制御情報を入力するものである。この場合、アクセス間隔制御=昇順、増減量=10μsec 、最小間隔=20μsec 、最大間隔=100msec を入力している。
【0081】
c:オペレータ入力画面例3(図6のA図参照)は、オペレータの操作によりアクセス間隔制御情報を入力するものである。この場合、アクセス間隔制御=降順、増減量=20μsec 、最小間隔=20μsec 、最大間隔=500μsec を入力している。
【0082】
d:オペレータ入力画面例4(図6のB図参照)は、オペレータの操作によりアクセス間隔制御情報を入力するものである。この場合、アクセス間隔制御=ランダム、最小間隔=20μsec 、最大間隔=100msec を入力している。
【0083】
e:オペレータ入力画面例5(図7のA図参照)は、オペレータの操作によりアクセス抑止間隔制御情報及びアクセス抑止時間制御情報を入力するものである。この場合、アクセス抑止間隔制御情報として、アクセス抑止間隔=5min 、抑止間隔制御=固定を入力し、アクセス抑止時間制御情報として、アクセス抑止時間=30sec 、抑止時間制御=固定を入力している。
【0084】
f:オペレータ入力画面例6(図7のB図参照)は、オペレータの操作によりアクセス抑止間隔制御情報及びアクセス抑止時間制御情報を入力するものである。この場合、アクセス抑止間隔制御情報として、抑止間隔制御=昇順、増減量=1min 、最小間隔=5min 、最大間隔=30min を入力し、アクセス抑止時間制御情報として、アクセス抑止時間=30sec 、抑止時間制御=固定を入力している。
【0085】
g:オペレータ入力画面例7(図8のA図参照)は、オペレータの操作によりアクセス抑止間隔制御情報及びアクセス抑止時間制御情報を入力するものである。この場合、アクセス抑止間隔制御情報として、抑止間隔制御=昇順、増減量=30sec 、最小間隔=5min 、最大間隔=30min を入力し、アクセス抑止時間制御情報として、アクセス抑止時間=30sec 、抑止時間制御=固定を入力している。
【0086】
h:オペレータ入力画面例8(図8のB図参照)は、オペレータの操作によりアクセス抑止間隔制御情報及びアクセス抑止時間制御情報を入力するものである。この場合、アクセス抑止間隔制御情報として、抑止間隔制御=ランダム、最小間隔=1min 、最大間隔=10min を入力し、アクセス抑止時間制御情報として、アクセス抑止時間=30sec 、抑止時間制御=固定を入力している。
【0087】
i:オペレータ入力画面例9(図9のA図参照)は、オペレータの操作によりアクセス抑止間隔制御情報及びアクセス抑止時間制御情報を入力するものである。この場合、アクセス抑止間隔制御情報として、アクセス抑止間隔=5min 、抑止間隔制御=固定を入力し、アクセス抑止時間制御情報として、抑止時間制御=昇順、増減量=10sec 、最小時間=1min 、最大時間=20min を入力している。
【0088】
j:オペレータ入力画面例10(図9のB図参照)は、オペレータの操作によりアクセス抑止間隔制御情報及びアクセス抑止時間制御情報を入力するものである。この場合、アクセス抑止間隔制御情報として、アクセス抑止間隔=5min 、抑止間隔制御=固定を入力し、アクセス抑止時間制御情報として、抑止時間制御=降順、増減量=20sec 、最小時間=1min 、最大時間=10min を入力している。
【0089】
k:オペレータ入力画面例11(図10参照)は、オペレータの操作によりアクセス抑止間隔制御情報及びアクセス抑止時間制御情報を入力するものである。この場合、アクセス抑止間隔制御情報として、アクセス抑止間隔=5min 、抑止間隔制御=固定を入力し、アクセス抑止時間制御情報として、抑止時間制御=ランダム、最小時間=30sec 、最大時間=20min を入力している。
【0090】
l:オペレータ入力画面例12(図11参照)は、オペレータの操作により、アクセス間隔制御スケジュール(図の▲1▼参照)と、ファイルアクセス制御情報−001(図の▲2▼参照)と、ファイルアクセス制御情報−002(図の▲2▼参照)の情報を含む制御情報の中から、任意の情報を選択して入力する画面例である。
【0091】
(なお、前記オペレータ入力画面例1、2、3は、請求項2に対応し、オペレータ入力画面例4は請求項3に対応し、オペレータ入力画面例5、6、7は請求項4に対応し、オペレータ入力画面例8は請求項5に対応し、オペレータ入力画面例9、10は、以下に説明する(付記6)に対応し、オペレータ入力画面例11は以下に説明する(付記7)に対応し、オペレータ入力画面例12は以下に説明する(付記8)に対応している。)
(2) :制御テーブル例の説明
前記制御テーブルの1例を図12に示す。この例では、制御テーブルは、制御情報種別、制御情報名、変数名、指定値、指定時間単位、μsec 換算の各項目が設けてある。そして、前記制御情報種別として、アクセス間隔制御、アクセス抑止時間、アクセス抑止間隔の各項目毎にデータが設定されている。
【0092】
また、前記アクセス間隔制御は、アクセス間隔、アクセス間隔制御、増減値、最小間隔、最大間隔に分けられ、それぞれ、前記変数名、指定値、指定時間単位、μsec 換算の各項目データが設定されている。また、前記アクセス抑止時間は、アクセス抑止時間、抑止時間制御、増減値、最小時間、最大時間に分けられ、それぞれ、前記変数名、指定値、指定時間単位、μsec 換算の各項目データが設定されている。また、前記アクセス抑止間隔は、アクセス抑止間隔、抑止間隔制御、増減値、最小間隔、最大間隔に分けられ、それぞれ、前記変数名、指定値、指定時間単位、μsec 換算の各項目データが設定されている。
【0093】
(3) :制御データ構造の説明
図13は制御データ構造の1例を示した図である。この制御データ構造は、前記ファイル装置の試験装置が実行する処理を実現させるためのプログラムにより認識できるデータ構造に変換したものであり、前記制御テーブルのデータを基に、作成したものである。
【0094】
§5:具体的な装置例と記録媒体の説明
図14は具体的な装置例である。前記ファイル装置の試験装置(図1参照)は、ワークステーション、パーソナルコンピュータ等の任意のコンピュータにより実現することができる。この装置は、コンピュータ本体21と、該コンピュータ本体21に接続されたディスプレイ装置22、入力装置(キーボード/マウス等)23、リムーバブルディスクドライブ(「RDD」という)24、ハードディスク装置(「HDD」という)25等で構成されている。
【0095】
そして、コンピュータ本体21には、内部の各種制御や処理を行うCPU26と、プログラムや各種データを格納しておくためのROM27(不揮発性メモリ)と、メモリ28と、インタフェース制御部(「I/F制御部」という)29と、通信制御部30等が設けてある。なお、前記RDD24には、フレキシブルディスクドライブや光ディスクドライブ等が含まれる。
【0096】
前記構成の装置において、例えば、HDD25の磁気ディスク(記録媒体)に、前記ファイル装置の試験装置の処理を実現するためのプログラムを格納しておき、このプログラムをCPU26が読み出して実行することにより、前記ファイル装置の試験装置が行う処理を実行する。
【0097】
しかし、本発明は、このような例に限らず、例えば、HDD25の磁気ディスクに、次のようにしてプログラムを格納し、このプログラムをCPU26が実行することで前記処理を行うことも可能である。
【0098】
▲1▼:他の装置で作成されたリムーバブルディスクに格納されているプログラム(他の装置で作成したプログラムデータ)を、RDD24により読み取り、HDD25の記録媒体に格納する。
【0099】
▲2▼:通信回線を介して他の装置から伝送されたプログラム等のデータを、通信制御部30を介して受信し、そのデータをHDD25の記録媒体(磁気ディスク)に格納する。
【0100】
§6:付記
以上の説明に対し、次の構成を付記する。
【0101】
(付記1)
試験対象のファイル装置と、該ファイル装置を駆動するデバイスドライバと、前記ファイル装置に対する制御情報を含む各種データを入力する入力手段と、前記ファイル装置を試験するための試験プログラムを有するファイル装置の試験装置において、
前記デバイスドライバに、前記入力手段から入力された制御情報を前記デバイスドライバへ取り込む制御情報取り込み部と、
前記取り込んだ制御情報を解析する制御情報解析部と、
前記制御情報解析部の解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示するアクセス間隔制御部と、
前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行うファイル装置アクセス部を備え、
前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行う機能を備えていることを特徴とするファイル装置の試験装置。
【0102】
(付記2)
試験対象のファイル装置と、該ファイル装置を駆動するデバイスドライバと、前記ファイル装置に対する制御情報を含む各種データを入力する入力手段と、前記ファイル装置を試験するための試験プログラムを備え、更に、前記デバイスドライバに、
前記入力手段から入力された制御情報を前記デバイスドライバへ取り込む制御情報取り込み部と、前記取り込んだ制御情報を解析する制御情報解析部と、前記制御情報解析部の解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示するアクセス間隔制御部と、前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行うファイル装置アクセス部を備え、
前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行う機能を備えたファイル装置の試験装置における試験方法であって、
前記制御情報で指定した時間間隔でファイル装置へのアクセスを行うと共に、前記時間間隔の最小値、最大値、増減量により、ファイル装置へのアクセス間隔を段階的に大きく又は小さくすることを特徴とするファイル装置の試験装置における試験方法。
【0103】
(付記3)
試験対象のファイル装置と、該ファイル装置を駆動するデバイスドライバと、前記ファイル装置に対する制御情報を含む各種データを入力する入力手段と、前記ファイル装置を試験するための試験プログラムを備え、更に、前記デバイスドライバに、
前記入力手段から入力された制御情報を前記デバイスドライバへ取り込む制御情報取り込み部と、前記取り込んだ制御情報を解析する制御情報解析部と、前記制御情報解析部の解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示するアクセス間隔制御部と、前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行うファイル装置アクセス部を備え、
前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行う機能を備えたファイル装置の試験装置における試験方法であって、
前記制御情報で指定した時間間隔の最小値、最大値により、ファイル装置へのアクセス間隔を指定された時間間隔の範囲内でランダムとすることを特徴とするファイル装置の試験装置における試験方法。
【0104】
(付記4)
試験対象のファイル装置と、該ファイル装置を駆動するデバイスドライバと、前記ファイル装置に対する制御情報を含む各種データを入力する入力手段と、前記ファイル装置を試験するための試験プログラムを備え、更に、前記デバイスドライバに、
前記入力手段から入力された制御情報を前記デバイスドライバへ取り込む制御情報取り込み部と、前記取り込んだ制御情報を解析する制御情報解析部と、前記制御情報解析部の解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示するアクセス間隔制御部と、前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行うファイル装置アクセス部を備え、
前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスを抑止する期間を制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行う機能を備えたファイル装置の試験装置における試験方法であって、
前記制御情報で指定した発生間隔の最大値、最小値、増減量により、ファイル装置へのアクセスを完全に抑止する期間の発生間隔を段階的に大きく又は小さくすることを特徴とするファイル装置の試験装置における試験方法。
【0105】
(付記5)
試験対象のファイル装置と、該ファイル装置を駆動するデバイスドライバと、前記ファイル装置に対する制御情報を含む各種データを入力する入力手段と、前記ファイル装置を試験するための試験プログラムを備え、更に、前記デバイスドライバに、
前記入力手段から入力された制御情報を前記デバイスドライバへ取り込む制御情報取り込み部と、前記取り込んだ制御情報を解析する制御情報解析部と、前記制御情報解析部の解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示するアクセス間隔制御部と、前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行うファイル装置アクセス部を備え、
前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスを抑止する期間を制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行う機能を備えたファイル装置の試験装置における試験方法であって、
前記制御情報で指定した発生間隔の最大値、最小値により、ファイル装置へのアクセスを完全に抑止する期間の発生を指定された発生間隔の範囲内でランダムとすることを特徴とするファイル装置の試験装置における試験方法。
【0106】
(付記6)
前記発生させるファイル装置へのアクセス抑止期間の長さを、前記制御情報で指定した最小値、最大値、増減量により、段階的に長く又は短くすることを特徴とする付記5記載のファイル装置の試験装置における試験方法。
【0107】
(付記7)
前記発生させるファイル装置へのアクセス抑止期間の長さを、前記制御情報で指定した最小値、最大値の範囲内でランダムに発生させることを特徴とする付記5記載のファイル装置の試験装置における試験方法。
【0108】
(付記8)
前記試験方法を、前記制御情報での指定により、任意に組み合わせ、切り換えることができることを特徴とする付記2、3、4、5、6、7のいずれかに記載のファイル装置の試験装置における試験方法。
【0109】
(付記9)
コンピュータに、
入力手段から入力された制御情報を前記デバイスドライバへ取り込む制御情報取り込み部と、
前記取り込んだ制御情報を解析する制御情報解析部と、
前記制御情報解析部の解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示するアクセス間隔制御部と、
前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行うファイル装置アクセス部を備え、
デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行う機能を実現させるためのプログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読みとり可能な記録媒体。
【0110】
(前記付記6〜8の特徴)
▲1▼:前記付記6では、ファイル装置へのアクセカ抑止時間を意図した範囲で大きく、または小さくできることにより、装置の省電力機能やバックグラウンド処理の動作時間を網羅的に発生させることが可能となり、指定したアクセス抑止時間の範囲内での、省電力機能やバックグラウンド処理とファイルアクセスの組み合わせが原因となるタイミング依存性障害を漏らすことなく発生させ、検出することができる。
【0111】
▲2▼:前記付記7では、ファイル装置へのアクセカ抑止時間を指定した範囲でランダムに発生させることにより、装置の省電力機能やバックグラウンド処理をさまざまな時間で行わせることができ、従来は発生させられなかったタイミング依存性障害を発生させ、検出することが可能となる。
【0112】
▲3▼:前記付記8では、ファイル装置へのアクセス間隔、省電力機能やバックグラウンド処理の開始タイミング、処理時間等を任意に制御することが可能となり、装置内の状態や条件を網羅的に発生させることができ、さまざまなタイミングに依存する障害を発生させ、検出することが可能となる。
【0113】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば次のような効果がある。
【0114】
(1) :請求項1では、オペレータが入力手段から制御情報を入力すると、制御情報取り込み部は入力された制御情報をデバイスドライバへ取り込み、制御情報解析部は取り込んだ制御情報を解析し、アクセス間隔制御部は前記解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示し、ファイル装置アクセス部は前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行う。
【0115】
このようにして、前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行うことができ、内部処理に依存した装置障害の検出率を向上させることができる。
【0116】
すなわち、デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを可変にすることで、オペレータが意図したアクセスタイミングを実現することができる。そして、ファイル装置の内部処理に対して各種の状態や条件を発生させて試験を行うことができるので、障害の発生を加速させ検出までの時間を短縮することができる。
【0117】
(2) :請求項2では、オペレータが入力手段から制御情報を入力すると、制御情報取り込み部は入力された制御情報をデバイスドライバへ取り込み、制御情報解析部は取り込んだ制御情報を解析し、アクセス間隔制御部は前記解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示し、ファイル装置アクセス部は前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行う。
【0118】
このようにして、前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行うことができるので、内部処理に依存した装置障害の検出率を向上させることができる。
【0119】
そして、試験を実施する際、前記制御情報で指定した時間間隔でファイル装置へのアクセスを行うと共に、前記時間間隔の最小値、最大値、増減量により、ファイル装置へのアクセス間隔を段階的に大きく又は小さくする。
【0120】
このようにすれば、1度発生した障害を再現させる場合や過去の障害事例から、ファイル装置の障害発生が発生し易いアクセス間隔が事前に分かっている場合は、アクセス間隔を固定的に指定することで、障害の発生し易い状態や条件を集中的に作り出し、障害の発生を早めることで、障害検出までの時間を短縮することができる。
【0121】
(3) :請求項3では、オペレータが入力手段から制御情報を入力すると、制御情報取り込み部は入力された制御情報をデバイスドライバへ取り込み、制御情報解析部は取り込んだ制御情報を解析し、アクセス間隔制御部は前記解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示し、ファイル装置アクセス部は前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行う。
【0122】
このようにして、前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行うことができるので、内部処理に依存した装置障害の検出率を向上させることができる。
【0123】
そして、試験を実施する際、前記制御情報で指定した時間間隔の最小値、最大値により、ファイル装置へのアクセス間隔を指定された時間間隔の範囲内でランダムとする。
【0124】
このように、ファイル装置へのアクセス間隔を指定した範囲内でランダムに発生させることにより、ファイル装置の内部の状態や条件をランダムに発生させることができ、従来は発生させられなかったタイミング依存障害を発生させ、検出することが可能となる。
【0125】
(4) :請求項4では、オペレータが入力手段から制御情報を入力すると、制御情報取り込み部は入力された制御情報をデバイスドライバへ取り込み、制御情報解析部は取り込んだ制御情報を解析し、アクセス間隔制御部は前記解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示し、ファイル装置アクセス部は前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行う。
【0126】
このようにして、前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行うことができるので、内部処理に依存した装置障害の検出率を向上させることができる。
【0127】
そして、試験を実施する際、前記制御情報で指定した発生間隔の最大値、最小値、増減量により、ファイル装置へのアクセスを完全に抑止する期間の発生間隔を段階的に大きく又は小さくする。
【0128】
以上のように、ファイル装置へのアクセスを抑止することで、装置の省電力機能やバックグラウンド処理を動作させることができる。これらの処理とファイルアクセスが組み合わされたことに起因するタイミング依存障害を発生させ、検出することが可能となる。
【0129】
(5) :請求項5では、オペレータが入力手段から制御情報を入力すると、制御情報取り込み部は入力された制御情報をデバイスドライバへ取り込み、制御情報解析部は取り込んだ制御情報を解析し、アクセス間隔制御部は前記解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示し、ファイル装置アクセス部は前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行う。
【0130】
このようにして、前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行うことができるので、内部処理に依存した装置障害の検出率を向上させることができる。
【0131】
そして、試験を実施する際、前記制御情報で指定した発生間隔の最大値、最小値により、ファイル装置へのアクセスを完全に抑止する期間の発生を指定された発生間隔の範囲内でランダムとする。
【0132】
以上のように、ファイル装置へのアクセス抑止間隔を指定した範囲内でランダムに発生させることにより、装置の省電力機能やバックグラウンド処理の動作をランダムなタイミングで開始させることができ、従来は発生させられなかったタイミング依存障害を発生させ、検出することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態におけるファイル装置の試験装置の構成図である。
【図2】本発明の実施の形態における処理フローチャート(その1)である。
【図3】本発明の実施の形態における処理フローチャート(その2)である。
【図4】本発明の実施の形態における処理フローチャート(その3)である。
【図5】本発明の実施の形態におけるオペレータ入力画面例(その1)であり、A図はオペレータ入力画面例1、B図はオペレータ入力画面例2である。
【図6】本発明の実施の形態におけるオペレータ入力画面例(その2)であり、A図はオペレータ入力画面例3、B図はオペレータ入力画面例4である。
【図7】本発明の実施の形態におけるオペレータ入力画面例(その3)であり、A図はオペレータ入力画面例5、B図はオペレータ入力画面例6である。
【図8】本発明の実施の形態におけるオペレータ入力画面例(その4)であり、A図はオペレータ入力画面例7、B図はオペレータ入力画面例8である。
【図9】本発明の実施の形態におけるオペレータ入力画面例(その5)であり、A図はオペレータ入力画面例9、B図はオペレータ入力画面例10である。
【図10】本発明の実施の形態におけるオペレータ入力画面例(その6)であり、A図はオペレータ入力画面例11である。
【図11】本発明の実施の形態におけるオペレータ入力画面例(その7)であり、A図はオペレータ入力画面例12である。
【図12】本発明の実施の形態における制御テーブル例である。
【図13】本発明の実施の形態におけるデータ構造である。
【図14】本発明の実施の形態における具体的な装置例である。
【図15】従来のファイル装置の試験装置の構成図である。
【符号の説明】
1 デバイスドライバ(コンピュータ本体)
2 入力手段
3 ファイル装置(試験対象のファイル装置)
4 試験プログラム
5 ファイル装置アクセス部
6 HMI
7 制御情報取り込み部
8 制御情報解析部
9 アクセス間隔制御部
10 メモリ
11 共有メモリ領域
12 ワークメモリ領域
Claims (5)
- 試験対象のファイル装置と、該ファイル装置を駆動するデバイスドライバと、前記ファイル装置に対する制御情報を含む各種データを入力する入力手段と、前記ファイル装置を試験するための試験プログラムを有するファイル装置の試験装置において、
前記デバイスドライバに、前記入力手段から入力された制御情報を前記デバイスドライバへ取り込む制御情報取り込み部と、
前記取り込んだ制御情報を解析する制御情報解析部と、
前記制御情報解析部の解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示するアクセス間隔制御部と、
前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行うファイル装置アクセス部を備え、
前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行う機能を備えていることを特徴とするファイル装置の試験装置。 - 試験対象のファイル装置と、該ファイル装置を駆動するデバイスドライバと、前記ファイル装置に対する制御情報を含む各種データを入力する入力手段と、前記ファイル装置を試験するための試験プログラムを備え、更に、前記デバイスドライバに、
前記入力手段から入力された制御情報を前記デバイスドライバへ取り込む制御情報取り込み部と、前記取り込んだ制御情報を解析する制御情報解析部と、前記制御情報解析部の解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示するアクセス間隔制御部と、前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行うファイル装置アクセス部を備え、
前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行う機能を備えたファイル装置の試験装置における試験方法であって、
前記制御情報で指定した時間間隔でファイル装置へのアクセスを行うと共に、前記時間間隔の最小値、最大値、増減量により、ファイル装置へのアクセス間隔を段階的に大きく又は小さくすることを特徴とするファイル装置の試験装置における試験方法。 - 試験対象のファイル装置と、該ファイル装置を駆動するデバイスドライバと、前記ファイル装置に対する制御情報を含む各種データを入力する入力手段と、前記ファイル装置を試験するための試験プログラムを備え、更に、前記デバイスドライバに、
前記入力手段から入力された制御情報を前記デバイスドライバへ取り込む制御情報取り込み部と、前記取り込んだ制御情報を解析する制御情報解析部と、前記制御情報解析部の解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示するアクセス間隔制御部と、前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行うファイル装置アクセス部を備え、
前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行う機能を備えたファイル装置の試験装置における試験方法であって、
前記制御情報で指定した時間間隔の最小値、最大値により、ファイル装置へのアクセス間隔を指定された時間間隔の範囲内でランダムとすることを特徴とするファイル装置の試験装置における試験方法。 - 試験対象のファイル装置と、該ファイル装置を駆動するデバイスドライバと、前記ファイル装置に対する制御情報を含む各種データを入力する入力手段と、前記ファイル装置を試験するための試験プログラムを備え、更に、前記デバイスドライバに、
前記入力手段から入力された制御情報を前記デバイスドライバへ取り込む制御情報取り込み部と、前記取り込んだ制御情報を解析する制御情報解析部と、前記制御情報解析部の解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示するアクセス間隔制御部と、前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行うファイル装置アクセス部を備え、
前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスを抑止する期間を制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行う機能を備えたファイル装置の試験装置における試験方法であって、
前記制御情報で指定した発生間隔の最大値、最小値、増減量により、ファイル装置へのアクセスを完全に抑止する期間の発生間隔を段階的に大きく又は小さくすることを特徴とするファイル装置の試験装置における試験方法。 - 試験対象のファイル装置と、該ファイル装置を駆動するデバイスドライバと、前記ファイル装置に対する制御情報を含む各種データを入力する入力手段と、前記ファイル装置を試験するための試験プログラムを備え、更に、前記デバイスドライバに、
前記入力手段から入力された制御情報を前記デバイスドライバへ取り込む制御情報取り込み部と、前記取り込んだ制御情報を解析する制御情報解析部と、前記制御情報解析部の解析結果から、デバイスドライバのファイル装置へのアクセス間隔を指示するアクセス間隔制御部と、前記指示に基づきファイル装置へのアクセスを行うファイル装置アクセス部を備え、
前記デバイスドライバのファイル装置へのアクセスを抑止する期間を制御することで、ファイル装置の内部処理に関して各種の状態や条件を発生させて試験を行う機能を備えたファイル装置の試験装置における試験方法であって、
前記制御情報で指定した発生間隔の最大値、最小値により、ファイル装置へのアクセスを完全に抑止する期間の発生を指定された発生間隔の範囲内でランダムとすることを特徴とするファイル装置の試験装置における試験方法。
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Cited By (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7787958B2 (en) | 2001-04-13 | 2010-08-31 | Greatbatch Ltd. | RFID detection and identification system for implantable medical lead systems |
US7822460B2 (en) | 1998-11-04 | 2010-10-26 | Surgi-Vision, Inc. | MRI-guided therapy methods and related systems |
US7853325B2 (en) | 2001-04-13 | 2010-12-14 | Greatbatch Ltd. | Cylindrical bandstop filters for medical lead systems |
US7899551B2 (en) | 2001-04-13 | 2011-03-01 | Greatbatch Ltd. | Medical lead system utilizing electromagnetic bandstop filters |
US7920916B2 (en) | 2006-11-09 | 2011-04-05 | Greatbatch Ltd. | Capacitor and inductor elements physically disposed in series whose lumped parameters are electrically connected in parallel to form a bandstop filter |
US8219208B2 (en) | 2001-04-13 | 2012-07-10 | Greatbatch Ltd. | Frequency selective passive component networks for active implantable medical devices utilizing an energy dissipating surface |
US8224462B2 (en) | 2005-11-11 | 2012-07-17 | Greatbatch Ltd. | Medical lead system utilizing electromagnetic bandstop filters |
US8275466B2 (en) | 2006-06-08 | 2012-09-25 | Greatbatch Ltd. | Band stop filter employing a capacitor and an inductor tank circuit to enhance MRI compatibility of active medical devices |
US8301243B2 (en) | 2006-06-08 | 2012-10-30 | Greatbatch Ltd. | Method of tuning bandstop filters for implantable medical leads |
US8447414B2 (en) | 2008-12-17 | 2013-05-21 | Greatbatch Ltd. | Switched safety protection circuit for an AIMD system during exposure to high power electromagnetic fields |
US8457760B2 (en) | 2001-04-13 | 2013-06-04 | Greatbatch Ltd. | Switched diverter circuits for minimizing heating of an implanted lead and/or providing EMI protection in a high power electromagnetic field environment |
US8509913B2 (en) | 2001-04-13 | 2013-08-13 | Greatbatch Ltd. | Switched diverter circuits for minimizing heating of an implanted lead and/or providing EMI protection in a high power electromagnetic field environment |
US8712544B2 (en) | 2001-04-13 | 2014-04-29 | Greatbatch Ltd. | Electromagnetic shield for a passive electronic component in an active medical device implantable lead |
US8903505B2 (en) | 2006-06-08 | 2014-12-02 | Greatbatch Ltd. | Implantable lead bandstop filter employing an inductive coil with parasitic capacitance to enhance MRI compatibility of active medical devices |
US8989870B2 (en) | 2001-04-13 | 2015-03-24 | Greatbatch Ltd. | Tuned energy balanced system for minimizing heating and/or to provide EMI protection of implanted leads in a high power electromagnetic field environment |
US9008799B2 (en) | 2006-06-08 | 2015-04-14 | Greatbatch Ltd. | EMI filter employing a self-resonant inductor bandstop filter having optimum inductance and capacitance values |
US9031670B2 (en) | 2006-11-09 | 2015-05-12 | Greatbatch Ltd. | Electromagnetic shield for a passive electronic component in an active medical device implantable lead |
US9042999B2 (en) | 2006-06-08 | 2015-05-26 | Greatbatch Ltd. | Low loss band pass filter for RF distance telemetry pin antennas of active implantable medical devices |
US9061139B2 (en) | 1998-11-04 | 2015-06-23 | Greatbatch Ltd. | Implantable lead with a band stop filter having a capacitor in parallel with an inductor embedded in a dielectric body |
US9108066B2 (en) | 2008-03-20 | 2015-08-18 | Greatbatch Ltd. | Low impedance oxide resistant grounded capacitor for an AIMD |
US9242090B2 (en) | 2001-04-13 | 2016-01-26 | MRI Interventions Inc. | MRI compatible medical leads |
US9248283B2 (en) | 2001-04-13 | 2016-02-02 | Greatbatch Ltd. | Band stop filter comprising an inductive component disposed in a lead wire in series with an electrode |
US9295828B2 (en) | 2001-04-13 | 2016-03-29 | Greatbatch Ltd. | Self-resonant inductor wound portion of an implantable lead for enhanced MRI compatibility of active implantable medical devices |
US9427596B2 (en) | 2013-01-16 | 2016-08-30 | Greatbatch Ltd. | Low impedance oxide resistant grounded capacitor for an AIMD |
US9468750B2 (en) | 2006-11-09 | 2016-10-18 | Greatbatch Ltd. | Multilayer planar spiral inductor filter for medical therapeutic or diagnostic applications |
USRE46699E1 (en) | 2013-01-16 | 2018-02-06 | Greatbatch Ltd. | Low impedance oxide resistant grounded capacitor for an AIMD |
US9931514B2 (en) | 2013-06-30 | 2018-04-03 | Greatbatch Ltd. | Low impedance oxide resistant grounded capacitor for an AIMD |
US10080889B2 (en) | 2009-03-19 | 2018-09-25 | Greatbatch Ltd. | Low inductance and low resistance hermetically sealed filtered feedthrough for an AIMD |
US10350421B2 (en) | 2013-06-30 | 2019-07-16 | Greatbatch Ltd. | Metallurgically bonded gold pocket pad for grounding an EMI filter to a hermetic terminal for an active implantable medical device |
US10559409B2 (en) | 2017-01-06 | 2020-02-11 | Greatbatch Ltd. | Process for manufacturing a leadless feedthrough for an active implantable medical device |
US10561837B2 (en) | 2011-03-01 | 2020-02-18 | Greatbatch Ltd. | Low equivalent series resistance RF filter for an active implantable medical device utilizing a ceramic reinforced metal composite filled via |
US10589107B2 (en) | 2016-11-08 | 2020-03-17 | Greatbatch Ltd. | Circuit board mounted filtered feedthrough assembly having a composite conductive lead for an AIMD |
US10905888B2 (en) | 2018-03-22 | 2021-02-02 | Greatbatch Ltd. | Electrical connection for an AIMD EMI filter utilizing an anisotropic conductive layer |
US10912945B2 (en) | 2018-03-22 | 2021-02-09 | Greatbatch Ltd. | Hermetic terminal for an active implantable medical device having a feedthrough capacitor partially overhanging a ferrule for high effective capacitance area |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5556226B2 (ja) * | 2010-02-22 | 2014-07-23 | 富士通株式会社 | インタフェース試験装置及びインタフェース試験方法 |
JP5565137B2 (ja) * | 2010-06-25 | 2014-08-06 | 富士通株式会社 | 仮想テープ装置の保守試験プログラム、保守試験装置及び保守試験方法 |
JP6680980B2 (ja) * | 2016-06-24 | 2020-04-15 | 富士通株式会社 | テスト実行プログラム、テスト実行装置及びテスト実行方法 |
-
2002
- 2002-05-07 JP JP2002131371A patent/JP4071536B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (48)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9301705B2 (en) | 1998-11-04 | 2016-04-05 | Johns Hopkins University School Of Medicine | System and method for magnetic-resonance-guided electrophysiologic and ablation procedures |
US7822460B2 (en) | 1998-11-04 | 2010-10-26 | Surgi-Vision, Inc. | MRI-guided therapy methods and related systems |
US9061139B2 (en) | 1998-11-04 | 2015-06-23 | Greatbatch Ltd. | Implantable lead with a band stop filter having a capacitor in parallel with an inductor embedded in a dielectric body |
US8099151B2 (en) | 1998-11-04 | 2012-01-17 | Johns Hopkins University School Of Medicine | System and method for magnetic-resonance-guided electrophysiologic and ablation procedures |
US8219208B2 (en) | 2001-04-13 | 2012-07-10 | Greatbatch Ltd. | Frequency selective passive component networks for active implantable medical devices utilizing an energy dissipating surface |
US7853325B2 (en) | 2001-04-13 | 2010-12-14 | Greatbatch Ltd. | Cylindrical bandstop filters for medical lead systems |
US9295828B2 (en) | 2001-04-13 | 2016-03-29 | Greatbatch Ltd. | Self-resonant inductor wound portion of an implantable lead for enhanced MRI compatibility of active implantable medical devices |
US9248283B2 (en) | 2001-04-13 | 2016-02-02 | Greatbatch Ltd. | Band stop filter comprising an inductive component disposed in a lead wire in series with an electrode |
US8751013B2 (en) | 2001-04-13 | 2014-06-10 | Greatbatch Ltd. | Switched diverter circuits for minimizing heating of an implanted lead and/or providing EMI protection in a high power electromagnetic field environment |
US8712544B2 (en) | 2001-04-13 | 2014-04-29 | Greatbatch Ltd. | Electromagnetic shield for a passive electronic component in an active medical device implantable lead |
US9242090B2 (en) | 2001-04-13 | 2016-01-26 | MRI Interventions Inc. | MRI compatible medical leads |
US7899551B2 (en) | 2001-04-13 | 2011-03-01 | Greatbatch Ltd. | Medical lead system utilizing electromagnetic bandstop filters |
US8855785B1 (en) | 2001-04-13 | 2014-10-07 | Greatbatch Ltd. | Circuits for minimizing heating of an implanted lead and/or providing EMI protection in a high power electromagnetic field environment |
US7787958B2 (en) | 2001-04-13 | 2010-08-31 | Greatbatch Ltd. | RFID detection and identification system for implantable medical lead systems |
US8457760B2 (en) | 2001-04-13 | 2013-06-04 | Greatbatch Ltd. | Switched diverter circuits for minimizing heating of an implanted lead and/or providing EMI protection in a high power electromagnetic field environment |
US8509913B2 (en) | 2001-04-13 | 2013-08-13 | Greatbatch Ltd. | Switched diverter circuits for minimizing heating of an implanted lead and/or providing EMI protection in a high power electromagnetic field environment |
US8989870B2 (en) | 2001-04-13 | 2015-03-24 | Greatbatch Ltd. | Tuned energy balanced system for minimizing heating and/or to provide EMI protection of implanted leads in a high power electromagnetic field environment |
US8326435B2 (en) | 2005-03-21 | 2012-12-04 | Greatbatch Ltd. | RFID detection and identification system for implantable medical lead systems |
US8224462B2 (en) | 2005-11-11 | 2012-07-17 | Greatbatch Ltd. | Medical lead system utilizing electromagnetic bandstop filters |
US9008799B2 (en) | 2006-06-08 | 2015-04-14 | Greatbatch Ltd. | EMI filter employing a self-resonant inductor bandstop filter having optimum inductance and capacitance values |
US9042999B2 (en) | 2006-06-08 | 2015-05-26 | Greatbatch Ltd. | Low loss band pass filter for RF distance telemetry pin antennas of active implantable medical devices |
US8897887B2 (en) | 2006-06-08 | 2014-11-25 | Greatbatch Ltd. | Band stop filter employing a capacitor and an inductor tank circuit to enhance MRI compatibility of active medical devices |
US8903505B2 (en) | 2006-06-08 | 2014-12-02 | Greatbatch Ltd. | Implantable lead bandstop filter employing an inductive coil with parasitic capacitance to enhance MRI compatibility of active medical devices |
US8577453B1 (en) | 2006-06-08 | 2013-11-05 | Greatbatch Ltd. | Header embedded filter for implantable medical device |
US8275466B2 (en) | 2006-06-08 | 2012-09-25 | Greatbatch Ltd. | Band stop filter employing a capacitor and an inductor tank circuit to enhance MRI compatibility of active medical devices |
US9119968B2 (en) | 2006-06-08 | 2015-09-01 | Greatbatch Ltd. | Band stop filter employing a capacitor and an inductor tank circuit to enhance MRI compatibility of active medical devices |
US8649857B2 (en) | 2006-06-08 | 2014-02-11 | Greatbatch Ltd. | Tank filters placed in series with the lead wires or circuits of active medical devices to enhance MRI compatibility |
US8301243B2 (en) | 2006-06-08 | 2012-10-30 | Greatbatch Ltd. | Method of tuning bandstop filters for implantable medical leads |
US7920916B2 (en) | 2006-11-09 | 2011-04-05 | Greatbatch Ltd. | Capacitor and inductor elements physically disposed in series whose lumped parameters are electrically connected in parallel to form a bandstop filter |
US9031670B2 (en) | 2006-11-09 | 2015-05-12 | Greatbatch Ltd. | Electromagnetic shield for a passive electronic component in an active medical device implantable lead |
US9468750B2 (en) | 2006-11-09 | 2016-10-18 | Greatbatch Ltd. | Multilayer planar spiral inductor filter for medical therapeutic or diagnostic applications |
US8175700B2 (en) | 2006-11-09 | 2012-05-08 | Greatbatch Ltd. | Capacitor and inductor elements physically disposed in series whose lumped parameters are electrically connected in parallel to form a bandstop filter |
US8108042B1 (en) | 2006-11-09 | 2012-01-31 | Greatbatch Ltd. | Capacitor and inductor elements physically disposed in series whose lumped parameters are electrically connected in parallel to form a bandstop filter |
US9108066B2 (en) | 2008-03-20 | 2015-08-18 | Greatbatch Ltd. | Low impedance oxide resistant grounded capacitor for an AIMD |
US8447414B2 (en) | 2008-12-17 | 2013-05-21 | Greatbatch Ltd. | Switched safety protection circuit for an AIMD system during exposure to high power electromagnetic fields |
US10080889B2 (en) | 2009-03-19 | 2018-09-25 | Greatbatch Ltd. | Low inductance and low resistance hermetically sealed filtered feedthrough for an AIMD |
US10561837B2 (en) | 2011-03-01 | 2020-02-18 | Greatbatch Ltd. | Low equivalent series resistance RF filter for an active implantable medical device utilizing a ceramic reinforced metal composite filled via |
US10596369B2 (en) | 2011-03-01 | 2020-03-24 | Greatbatch Ltd. | Low equivalent series resistance RF filter for an active implantable medical device |
US11071858B2 (en) | 2011-03-01 | 2021-07-27 | Greatbatch Ltd. | Hermetically sealed filtered feedthrough having platinum sealed directly to the insulator in a via hole |
USRE46699E1 (en) | 2013-01-16 | 2018-02-06 | Greatbatch Ltd. | Low impedance oxide resistant grounded capacitor for an AIMD |
US9427596B2 (en) | 2013-01-16 | 2016-08-30 | Greatbatch Ltd. | Low impedance oxide resistant grounded capacitor for an AIMD |
US9931514B2 (en) | 2013-06-30 | 2018-04-03 | Greatbatch Ltd. | Low impedance oxide resistant grounded capacitor for an AIMD |
US10350421B2 (en) | 2013-06-30 | 2019-07-16 | Greatbatch Ltd. | Metallurgically bonded gold pocket pad for grounding an EMI filter to a hermetic terminal for an active implantable medical device |
US10589107B2 (en) | 2016-11-08 | 2020-03-17 | Greatbatch Ltd. | Circuit board mounted filtered feedthrough assembly having a composite conductive lead for an AIMD |
US10559409B2 (en) | 2017-01-06 | 2020-02-11 | Greatbatch Ltd. | Process for manufacturing a leadless feedthrough for an active implantable medical device |
US10905888B2 (en) | 2018-03-22 | 2021-02-02 | Greatbatch Ltd. | Electrical connection for an AIMD EMI filter utilizing an anisotropic conductive layer |
US10912945B2 (en) | 2018-03-22 | 2021-02-09 | Greatbatch Ltd. | Hermetic terminal for an active implantable medical device having a feedthrough capacitor partially overhanging a ferrule for high effective capacitance area |
US11712571B2 (en) | 2018-03-22 | 2023-08-01 | Greatbatch Ltd. | Electrical connection for a hermetic terminal for an active implantable medical device utilizing a ferrule pocket |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003323355A (ja) | 2003-11-14 |
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