JP4069755B2 - Circuit inspection apparatus and circuit inspection method - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は,2つのトランジスタを直列接続したトランジスタ列を有する対象回路の不良検出のための回路検査装置および回路検査方法に関する。さらに詳細には,対象回路の接続状態を検査する回路検査装置および回路検査方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来より,2つのトランジスタを直列接続したトランジスタ列を有する回路の一例として,インバータが使用されている。インバータは,直流を所望の周波数の交流に変換させるためのものである。一般にインバータ10は,図5に示すように,2つのトランジスタが直列接続されたトランジスタ列を複数列有するトランジスタ部11と,各トランジスタの制御を行う制御回路部12とによって構成されている。そして,トランジスタ部11の入力端子11aに直流電圧を供給するとともに,制御回路部12にパルス変調信号を入力することにより,出力端子11bの間に所望の周波数の交流電圧を得ることができるものである。
【0003】
このインバータ10の不良検出のために,従来より種々の回路検査装置が考案されている(例えば,特許文献1,特許文献2参照。)。これらは,インバータ10に組み込まれた状態で,各トランジスタの電気的特性や開放・短絡不良を検査するための回路検査装置である。従来の回路検査装置の一例を図6に示す。インバータ検査装置100は,自動車に使用されるインバータ10に対し,製品としてのレベルでの検査を行うものである。
【0004】
このインバータ検査装置100は,トランジスタ部11の入力端子11aに接続する500〜600Vの高電圧電源101と,制御回路部12に接続するパルス変調信号発生装置102とを備えている。さらに,インバータ10から出力される交流電流を計測するために,出力端子11bの間に接続される擬似負荷103をも有している。この擬似負荷103は,実車における負荷に相当する抵抗分とリアクタンス分とを含むものである。そして,これらによってインバータ10を動作させ,出力端子11bから出力される電流を電流センサ104と電流計105とによって計測するのである。
【0005】
【特許文献1】
特開平7−318608号公報
【特許文献2】
実開昭和63−10785号公報
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら,前記した従来のインバータ検査装置100では,実車レベルでの回路検査装置であるので,高電圧の入力電圧とかなり大きい負荷を用意する必要がある。そのため,トランジスタ部11や制御回路部12に対してインバータ検査装置100が大きいものとなり,また検査実施のための消費電力も大きいものとなるという問題点があった。
【0007】
本発明は,前記した従来の回路検査装置が有する問題点を解決するためになされたものである。すなわちその課題とするところは,小さな設備で簡単に実施可能であり,消費電力も小さい回路検査装置および回路検査方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
この課題の解決を目的としてなされた本発明の回路検査装置は,2つのトランジスタを直列接続したトランジスタ列と,各トランジスタへの制御信号を出力する制御回路とを有する対象回路における,トランジスタと制御回路との接合点を検査する回路検査装置であって,対象回路のトランジスタ列の両端に直流電圧を印加する直流電圧印加部と,対象回路の制御回路に特定のパターンの制御信号の出力を指示する指示部と,対象回路のトランジスタ列の中間の出力点の電圧を計測する出力電圧計測部とを有するものである。
【0009】
本発明の回路検査装置によれば,直流電圧印加部によって対象回路のトランジスタ列に直流電圧が印加され,指示部によって対象回路の制御回路に特定のパターンの制御信号の出力が指示される。そのとき,出力電圧計測部によって,対象回路のトランジスタ列の中間の出力点の電圧が計測されれば,指示されたパターンに応じた出力が得られているかどうかが検査される。すなわち,トランジスタ列の各トランジスタが指示通りに動作しているか否かをチェックできる。これにより,接合点の良否検査ができる。この検査では,指示パターンと出力パターンとの整合性が検査されるのみであるので,電流値の測定は不要であり,高電圧の入力電圧は不要である。従って,小さな設備で簡単に実施可能であり,消費電力も小さい回路検査装置となっている。
【0010】
さらに,本発明の回路検査装置は,複数の出力電圧計測部を有し,各出力電圧計測部に一端が接続されるとともに,他端が互いに接続された複数の抵抗負荷と,複数の抵抗負荷の他端の接続点の電圧を計測する中間電圧計測部とを有するものである
れにより,インバータのような複数のトランジスタ列を有する対象回路に対して,各トランジスタ列の検査を行うことができる。また,交流成分を有する電流を流すものではないのでリアクタンス分は不要であり,小さな抵抗負荷で検査が可能となる。
【0011】
さらに,本発明の回路検査装置は,直流電圧印加部と直列に設けられた過剰電流検知部を有するものであってもよい
このようにすれば,接合点の異常によって過電流が発生した場合に,検知できるからである。
【0012】
また,本発明は,2つのトランジスタを直列接続したトランジスタ列と,各トランジスタへの制御信号を出力する制御回路とを有する対象回路の回路検査方法であって,複数のトランジスタ列を有する対象回路を検査対象とし,各トランジスタ列の検査および制御回路の検査を,トランジスタ列と制御回路との接続前にあらかじめ済ませておき,トランジスタ列と制御回路との接続後に,対象回路のトランジスタ列の両端に直流電圧を印加し,対象回路の制御回路に特定のパターンの制御信号の出力を指示し,その状態で対象回路のトランジスタ列の中間の出力点の電圧を計測する電圧計測を行う回路検査方法にも及ぶ。
【0013】
さらに,本発明の回路検査方法は,トランジスタ列における過剰電流の発生の有無を検知することが望ましい
【0014】
【発明の実施の形態】
以下,本発明を具体化した一実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。本実施の形態は,自動車用モータ等に使用されるインバータを検査するインバータ検査装置である。
【0015】
本実施の形態のインバータ検査装置1は,その概略構成を図1に示すように,インバータ10に接続して使用される。インバータ10は,6個のトランジスタが互いに接続されている大電力トランジスタ部11と,各トランジスタの制御を行う制御回路部12とを有する,従来と同様のものである。以下では,トランジスタ部11の各トランジスタを区別するために,図1に示すように,図中上段の3つを左からUP,VP,WPとし,下段の3つを左からUN,VN,WNと呼ぶ。各トランジスタは,UPとUN,VPとVN,WPとWNがそれぞれ直列接続され,それぞれトランジスタ列を構成している。このインバータ10がインバータ検査装置1の対象回路である。
【0016】
インバータ検査装置1は,インバータ10に対する入力側として,トランジスタ部11の入力端子11aに接続される定電圧電源21と,制御回路部12に接続される信号発生装置22と,定電圧電源21に直列に接続されたブレーカ23とを有している。さらに出力側としては,出力端子11bの間に接続された1組の抵抗負荷24と,4つの電圧計25,26,27,28とを有している。
【0017】
定電圧電源21は,従来使用したような高電圧のものである必要はなく,数十V程度の電圧の直流電源である。信号発生装置22は,従来のようなパルス変調信号を出力するものではなく,オン/オフ信号を出力する装置である。ブレーカ23は,回路に過電流が流れた場合に,回路を遮断する装置である。ここで,定電圧電源21が直流電圧印加部に,信号発生装置22が指示部にそれぞれ相当する。また,ブレーカ23が過剰電流検知器に相当する。
【0018】
また,抵抗負荷24は,リアクタンス分を含まない抵抗分のみのものである。各数kΩ程度の3つの同じ個別抵抗が,それぞれの一端は各出力端子11bに接続され,他端は3つが互いに接続されて,抵抗負荷24が構成されている。そして,それぞれの出力端子11bと各個別抵抗の一端との間に,それぞれ電圧計25,26,27が接続されている。また,各個別抵抗が互いに接続された他端には電圧計28が接続されている。ここで,電圧計25,26,27が出力電圧計測部に,電圧計28が中間電圧計測部にそれぞれ相当する。
【0019】
次に,インバータ検査装置1による検査工程を含むインバータ10の製造工程について説明する。この製造工程には,図2に示すように,3種類の検査工程が含まれている。トランジスタ部11に関しては,工程31でまず各トランジスタの実装を行う。すなわち,各トランジスタの端子と入出力用端子とをワイヤボンディングによって接続する(工程32)。この段階でまず,各トランジスタごとに電気的特性検査33を行う。
【0020】
一方,制御回路部12に関しては,工程34でまず部品実装を行う。これは,プリント基板に各種部品をはんだ付けする工程である(工程35)。そして,実装の完了した制御回路部12に対して,電気的特性検査36を行う。これらの電気的特性検査33および電気的特性検査36は,インバータ10の組み付け前の部品受け入れ検査であり,従来より行われているものである。この段階で,トランジスタ部11,制御回路部12とも不良品がはねられ,良品のみが次の組み付け工程に供される。
【0021】
次に,こうして作製されたトランジスタ部11と制御回路部12とを組み付ける(工程37)。この工程では,図1に黒丸で示したように,トランジスタ部11の各トランジスタのベース端子(もしくはゲート端子)と制御回路部12とがはんだ付けされる(工程38)。続いて,そのはんだ付け部分の接続状態を検査するインバータ検査工程39を行う。このインバータ検査工程39を行うための装置が,インバータ検査装置1である。ここでは,電気的特性検査33と電気的特性検査36とで個々の部品についての電気的特性は検査済みであるので,実車レベルの検査の必要はない。従って,工程38で接続した箇所の接続状態を検査するためのオン/オフ検査のみを行えばよい。
【0022】
次に,インバータ検査装置1による検査方法について説明する。図3に示すように,検査のためにトランジスタ部11へ入力する入力信号には,3種類のパターン(A,B,C)がある。インバータ10にインバータ検査装置1を接続し,信号発生装置22によって,これらのうちいずれかを出力するように制御回路部12に指示させる。そして,その状態で各電圧計25,26,27,28が示す出力電圧25v,26v,27v,28vを計測するのである。
【0023】
各パターンの指示は次のようである。まず,UP,VP,WPのいずれか1つをオンとし,それに直列接続されているトランジスタをオフとする。さらにそれ以外の2組は添字Pのものをオフ,添字Nのものをオンとするのである。すなわち,1列中の2つのトランジスタを同時にオンすることはしない。UPをオンとするのがAパターン,VPをオンとするのがBパターン,WPをオンとするのがCパターンである。
【0024】
すべての接続箇所が正常である場合,各パターンにおける出力電圧25v,26v,27v,28vは図3に示すようになる。ここで,Eは定電圧電源21の電圧である。すなわち,添字Pのものがオンされているトランジスタ列に接続された電圧計の出力がEとなり,添字Pのものがオフされているトランジスタ列に接続された電圧計の出力は0となる。さらに,電圧計28の出力28vはE/3となる。
【0025】
いずれかの接続箇所が不調であり,オン信号にもかかわらず出力が得られない場合は,図4に示すような結果となる。例えば,UPがオンしないという不良の場合は,パターンAの出力結果がすべて0となることから判断できる。VP,WPについても,パターンB,Cの結果からその不良が判断される。また,UNが不良の場合はパターンBとパターンCとで電圧計28の示す出力電圧28vが,本来E/3となるはずのところE/2となることから判断できる。VN,WNについても,同様に2つのパターンによる結果の組み合わせにより判断できる。
【0026】
ところで,接続箇所が他の回路部分と短絡していると,いずれかのトランジスタが,制御信号にかかわらず常時オン状態になることがある。そうすると,検査パターンによっては,図1中上下に直列接続されているトランジスタ組(UPとUN,VPとVN,WPとWN)が同時にオンすることがある。この場合には,回路に過電流が流れることとなる。そこで,ブレーカ23が直ちに回路を遮断する。各パターンのいずれでブレーカ23が作動したかにより,図3からどのトランジスタの接続箇所が短絡状態であるかが判断できる。例えば,過電流の発生がAパターンのみであればUNが短絡状態である。BパターンとCパターンとで起きる場合はUPが短絡状態である。
【0027】
以上詳細に説明したように,本実施の形態のインバータ検査装置1によれば,電源は数十Vの定電圧電源21,擬似負荷は数kΩの抵抗負荷24でよい。さらに,信号発生装置22はオン/オフ信号を発生するものでよく,電流センサも不要で電圧計25〜28のみでよい。従って,小さく安価な設備で簡単に実施可能であり,消費電力も小さい。
【0028】
なお,本実施の形態は単なる例示にすぎず,本発明を何ら限定するものではない。したがって本発明は当然に,その要旨を逸脱しない範囲内で種々の改良,変形が可能である。
【0029】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように本発明によれば,小さな設備で簡単に実施可能であり,消費電力も小さい回路検査装置および回路検査方法が提供されている。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施の形態に係るインバータ検査装置の構成を示すブロック図である。
【図2】インバータ検査装置による検査の工程を示す工程図である。
【図3】インバータ検査装置による検査結果の例を示す表である。
【図4】インバータ検査装置による検査結果の例を示す表である。
【図5】インバータの構成を示すブロック図である。
【図6】従来のインバータ検査装置の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 インバータ検査装置
10 インバータ
11 トランジスタ部
12 制御回路部
21 定電圧電源
22 信号発生装置
23 ブレーカ
24 抵抗負荷
25,26,27,28 電圧計
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a circuit inspection apparatus and a circuit inspection method for detecting a defect in a target circuit having a transistor array in which two transistors are connected in series. More specifically, the present invention relates to a circuit inspection apparatus and a circuit inspection method for inspecting a connection state of a target circuit.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, an inverter is used as an example of a circuit having a transistor array in which two transistors are connected in series. The inverter is for converting direct current into alternating current of a desired frequency. In general, as shown in FIG. 5, the inverter 10 includes a transistor unit 11 having a plurality of transistor columns in which two transistors are connected in series, and a control circuit unit 12 that controls each transistor. An AC voltage having a desired frequency can be obtained between the output terminals 11b by supplying a DC voltage to the input terminal 11a of the transistor unit 11 and inputting a pulse modulation signal to the control circuit unit 12. is there.
[0003]
Various circuit inspection devices have been devised for detecting defects in the inverter 10 (see, for example, Patent Document 1 and Patent Document 2). These are circuit inspection devices for inspecting the electrical characteristics and open / short circuit defects of each transistor in a state of being incorporated in the inverter 10. An example of a conventional circuit inspection apparatus is shown in FIG. The inverter inspection apparatus 100 inspects the inverter 10 used in an automobile at a product level.
[0004]
The inverter inspection apparatus 100 includes a high voltage power source 101 of 500 to 600 V connected to the input terminal 11 a of the transistor unit 11 and a pulse modulation signal generator 102 connected to the control circuit unit 12. Furthermore, in order to measure the alternating current output from the inverter 10, it also has the pseudo load 103 connected between the output terminals 11b. This pseudo load 103 includes a resistance component and a reactance component corresponding to the load in the actual vehicle. Then, the inverter 10 is operated by these, and the current output from the output terminal 11b is measured by the current sensor 104 and the ammeter 105.
[0005]
[Patent Document 1]
JP-A-7-318608 [Patent Document 2]
Japanese Utility Model Publication Showa 63-10785 [0006]
[Problems to be solved by the invention]
However, since the conventional inverter inspection device 100 described above is a circuit inspection device at the actual vehicle level, it is necessary to prepare a high input voltage and a considerably large load. Therefore, the inverter inspection device 100 is larger than the transistor unit 11 and the control circuit unit 12, and power consumption for performing the inspection is also large.
[0007]
The present invention has been made to solve the problems of the conventional circuit inspection apparatus described above. That is, an object of the present invention is to provide a circuit inspection apparatus and a circuit inspection method that can be easily implemented with a small facility and have low power consumption.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
The circuit inspection apparatus of the present invention, which has been made for the purpose of solving this problem, includes a transistor and a control circuit in a target circuit having a transistor array in which two transistors are connected in series and a control circuit that outputs a control signal to each transistor. Is a circuit inspection device for inspecting a junction point with a DC voltage application unit that applies a DC voltage to both ends of a transistor array of a target circuit, and instructs a control circuit of the target circuit to output a control signal of a specific pattern An instruction unit and an output voltage measurement unit that measures a voltage at an output point in the middle of the transistor array of the target circuit are included.
[0009]
According to the circuit inspection apparatus of the present invention, a DC voltage is applied to the transistor array of the target circuit by the DC voltage application unit, and an instruction unit instructs the control circuit of the target circuit to output a control signal of a specific pattern. At this time, if the voltage at the output point in the middle of the transistor array of the target circuit is measured by the output voltage measuring unit, it is inspected whether an output corresponding to the designated pattern is obtained. That is, it can be checked whether each transistor in the transistor array is operating as instructed. As a result, it is possible to inspect the bonding point. In this inspection, only the consistency between the instruction pattern and the output pattern is inspected, so that the measurement of the current value is unnecessary, and a high input voltage is unnecessary. Therefore, the circuit inspection apparatus can be easily implemented with small equipment and has low power consumption.
[0010]
Furthermore, the circuit inspection apparatus of the present invention includes a plurality of output voltage measuring units, one end connected to each output voltage measuring unit and the other end connected to each other, and a plurality of resistance loads. And an intermediate voltage measuring unit that measures the voltage at the connection point at the other end of the .
This ensures, with respect to the circuit having a plurality of transistor arrays, such as an inverter, it is possible to perform inspection of each transistor column. In addition, since no current having an AC component flows, reactance is not required, and inspection can be performed with a small resistance load.
[0011]
Furthermore, the circuit testing apparatus of the present invention, may have an excess current detection portion provided in series with the DC voltage applying unit.
By doing so, it is possible to detect when an overcurrent occurs due to an abnormality in the junction.
[0012]
Further, the present invention is a circuit inspection method for a target circuit having a transistor string in which two transistors are connected in series and a control circuit that outputs a control signal to each transistor, and includes a target circuit having a plurality of transistor strings. was inspected, the inspection of the inspection and control circuit of each transistor column, in advance done before connection between each transistor column and the control circuit, after the connection between each transistor column and the control circuit, for each transistor column of the target circuit A circuit that applies a DC voltage to both ends, instructs the control circuit of the target circuit to output a control signal of a specific pattern, and measures the voltage at the output point in the middle of each transistor array of the target circuit It extends to inspection methods.
[0013]
Furthermore, in the circuit inspection method of the present invention, it is desirable to detect the presence or absence of excessive current in each transistor array.
[0014]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present embodiment is an inverter inspection device that inspects an inverter used in an automobile motor or the like.
[0015]
The inverter inspection apparatus 1 according to the present embodiment is used by being connected to an inverter 10 as shown in FIG. The inverter 10 is the same as the conventional one having a high power transistor unit 11 in which six transistors are connected to each other and a control circuit unit 12 for controlling each transistor. In the following, in order to distinguish each transistor of the transistor section 11, as shown in FIG. 1, the upper three in the figure are UP, VP, WP from the left, and the lower three are UN, VN, WN from the left. Call it. In each transistor, UP and UN, VP and VN, and WP and WN are respectively connected in series to constitute a transistor row. This inverter 10 is a target circuit of the inverter inspection apparatus 1.
[0016]
The inverter inspection device 1 is connected in series to the constant voltage power source 21 connected to the input terminal 11 a of the transistor unit 11, the signal generator 22 connected to the control circuit unit 12, and the constant voltage power source 21 as an input side to the inverter 10. And a breaker 23 connected to the. Further, the output side includes a set of resistance loads 24 connected between the output terminals 11b and four voltmeters 25, 26, 27, and 28.
[0017]
The constant voltage power source 21 does not need to be a high voltage as used in the past, and is a DC power source having a voltage of about several tens of volts. The signal generator 22 is an apparatus that outputs an on / off signal rather than a conventional pulse modulation signal. The breaker 23 is a device that interrupts the circuit when an overcurrent flows in the circuit. Here, the constant voltage power source 21 corresponds to a DC voltage application unit, and the signal generator 22 corresponds to an instruction unit. The breaker 23 corresponds to an excess current detector.
[0018]
Further, the resistance load 24 is only a resistance component not including a reactance component. Three identical individual resistors of about several kΩ each are connected to each output terminal 11b at one end, and three are connected to each other at the other end to constitute a resistive load 24. And the voltmeters 25, 26, and 27 are respectively connected between each output terminal 11b and one end of each individual resistor. A voltmeter 28 is connected to the other end where the individual resistors are connected to each other. Here, the voltmeters 25, 26, and 27 correspond to the output voltage measuring unit, and the voltmeter 28 corresponds to the intermediate voltage measuring unit.
[0019]
Next, the manufacturing process of the inverter 10 including the inspection process by the inverter inspection apparatus 1 will be described. This manufacturing process includes three types of inspection processes as shown in FIG. As for the transistor unit 11, each transistor is first mounted in step 31. That is, the terminals of the transistors and the input / output terminals are connected by wire bonding (step 32). At this stage, first, an electrical characteristic test 33 is performed for each transistor.
[0020]
On the other hand, with respect to the control circuit unit 12, component mounting is first performed in step 34. This is a process of soldering various parts to the printed circuit board (process 35). Then, an electrical characteristic test 36 is performed on the control circuit unit 12 that has been mounted. These electrical characteristic inspection 33 and electrical characteristic inspection 36 are component acceptance inspections prior to assembly of the inverter 10 and have been performed conventionally. At this stage, both the transistor unit 11 and the control circuit unit 12 are rejected, and only the non-defective product is subjected to the next assembly process.
[0021]
Next, the transistor part 11 and the control circuit part 12 thus fabricated are assembled (step 37). In this step, as indicated by black circles in FIG. 1, the base terminal (or gate terminal) of each transistor of the transistor portion 11 and the control circuit portion 12 are soldered (step 38). Subsequently, an inverter inspection process 39 for inspecting the connection state of the soldered portion is performed. An apparatus for performing the inverter inspection process 39 is the inverter inspection apparatus 1. Here, since the electrical characteristics of the individual parts have already been inspected by the electrical characteristics inspection 33 and the electrical characteristics inspection 36, it is not necessary to inspect at the actual vehicle level. Therefore, it is only necessary to perform an on / off inspection for inspecting the connection state of the portion connected in step 38.
[0022]
Next, an inspection method using the inverter inspection apparatus 1 will be described. As shown in FIG. 3, there are three types of patterns (A, B, C) in the input signal input to the transistor unit 11 for inspection. The inverter inspection device 1 is connected to the inverter 10, and the signal generation device 22 instructs the control circuit unit 12 to output any one of them. In this state, the output voltages 25v, 26v, 27v, 28v indicated by the voltmeters 25, 26, 27, 28 are measured.
[0023]
The instructions for each pattern are as follows. First, any one of UP, VP, and WP is turned on, and the transistors connected in series to it are turned off. In the other two sets, the subscript P is turned off and the subscript N is turned on. That is, the two transistors in one column are not turned on simultaneously. Turning on UP is the A pattern, turning on VP is the B pattern, and turning on WP is the C pattern.
[0024]
When all the connection points are normal, the output voltages 25v, 26v, 27v, 28v in each pattern are as shown in FIG. Here, E is the voltage of the constant voltage power supply 21. That is, the output of the voltmeter connected to the transistor row with the subscript P turned on is E, and the output of the voltmeter connected to the transistor row with the subscript P turned off becomes 0. Furthermore, the output 28v of the voltmeter 28 is E / 3.
[0025]
If any of the connection points is malfunctioning and no output is obtained despite the ON signal, the result shown in FIG. 4 is obtained. For example, in the case of a failure in which UP is not turned on, it can be determined that the output results of pattern A are all 0. The defects of VP and WP are also determined from the results of patterns B and C. Further, when UN is defective, it can be determined from the fact that the output voltage 28v indicated by the voltmeter 28 in pattern B and pattern C is E / 2 where it should originally be E / 3. VN and WN can be similarly determined by combining the results of the two patterns.
[0026]
By the way, if the connection location is short-circuited with other circuit portions, one of the transistors may be always on regardless of the control signal. Then, depending on the inspection pattern, the transistor groups (UP and UN, VP and VN, WP and WN) connected in series vertically in FIG. 1 may be turned on simultaneously. In this case, an overcurrent flows in the circuit. Therefore, the breaker 23 immediately shuts off the circuit. Depending on which of the respective patterns the breaker 23 is activated, it can be determined from FIG. For example, if the overcurrent is generated only in the A pattern, UN is in a short circuit state. When this occurs in the B pattern and the C pattern, UP is in a short circuit state.
[0027]
As described in detail above, according to the inverter inspection apparatus 1 of the present embodiment, the power source may be a constant voltage power source 21 of several tens of volts and the pseudo load may be a resistive load 24 of several kΩ. Further, the signal generator 22 may generate an on / off signal, and no current sensor is required, and only the voltmeters 25 to 28 are required. Therefore, it can be easily implemented with small and inexpensive equipment, and the power consumption is small.
[0028]
Note that this embodiment is merely an example, and does not limit the present invention. Therefore, the present invention can naturally be improved and modified in various ways without departing from the gist thereof.
[0029]
【The invention's effect】
As is apparent from the above description, according to the present invention, there are provided a circuit inspection apparatus and a circuit inspection method that can be easily implemented with a small facility and consume less power.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an inverter inspection apparatus according to an embodiment.
FIG. 2 is a process diagram showing an inspection process by an inverter inspection apparatus;
FIG. 3 is a table showing an example of an inspection result by an inverter inspection device.
FIG. 4 is a table showing an example of an inspection result by an inverter inspection device.
FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of an inverter.
FIG. 6 is a block diagram showing a configuration of a conventional inverter inspection apparatus.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inverter inspection apparatus 10 Inverter 11 Transistor part 12 Control circuit part 21 Constant voltage power supply 22 Signal generator 23 Breaker 24 Resistance load 25, 26, 27, 28 Voltmeter

Claims (4)

各列が2つのトランジスタを直列接続してなる複数列のトランジスタ列と,各トランジスタへの制御信号を出力する制御回路とを有する対象回路における,トランジスタと制御回路との接合点を検査する回路検査装置において,
対象回路の各トランジスタ列の両端に直流電圧を印加する直流電圧印加部と,
対象回路の制御回路に特定のパターンの制御信号の出力を指示する指示部と,
対象回路の各トランジスタ列の中間の出力点の電圧を計測する複数の出力電圧計測部と,
前記各出力電圧計測部に一端が接続されるとともに,他端が互いに接続された複数の抵抗負荷と,
前記複数の抵抗負荷の他端の接続点の電圧を計測する中間電圧計測部とを有することを特徴とする回路検査装置。
Circuit inspection for inspecting junction points between transistors and control circuits in a target circuit having a plurality of transistor columns each formed by connecting two transistors in series and a control circuit that outputs a control signal to each transistor In the device
A DC voltage application unit for applying a DC voltage to both ends of each transistor row of the target circuit;
An instruction unit that instructs the control circuit of the target circuit to output a control signal of a specific pattern;
A plurality of output voltage measuring units for measuring voltages at intermediate output points of each transistor array of the target circuit;
A plurality of resistive loads having one end connected to each of the output voltage measuring units and the other end connected to each other;
A circuit inspection apparatus comprising: an intermediate voltage measurement unit that measures a voltage at a connection point at the other end of the plurality of resistance loads.
請求項1に記載する回路検査装置において,
前記直流電圧印加部と直列に設けられた過剰電流検知部を有することを特徴とする回路検査装置。
In the circuit inspection apparatus according to claim 1,
A circuit inspection apparatus comprising an excess current detection unit provided in series with the DC voltage application unit.
2つのトランジスタを直列接続したトランジスタ列と,各トランジスタへの制御信号を出力する制御回路とを有する対象回路の回路検査方法において,
複数のトランジスタ列を有する対象回路を検査対象とし,
各トランジスタ列の検査および制御回路の検査を,各トランジスタ列と制御回路との接続前にあらかじめ済ませておき,
各トランジスタ列と制御回路との接続後に,
対象回路の各トランジスタ列の両端に直流電圧を印加し,
対象回路の制御回路に特定のパターンの制御信号の出力を指示し,
その状態で対象回路の各トランジスタ列の中間の出力点の電圧をそれぞれ計測する電圧計測を行い,
前記電圧計測の際,各トランジスタ列の中間の出力点の電圧と,それらの出力点からそれぞれ負荷抵抗を介して一箇所に接続させた接続点の電圧を測定することを特徴とする回路検査方法。
In a circuit inspection method for a target circuit having a transistor array in which two transistors are connected in series and a control circuit that outputs a control signal to each transistor,
A target circuit having a plurality of transistor arrays is to be inspected.
The inspection of each transistor array and the control circuit must be completed before connecting each transistor array and the control circuit.
After connecting each transistor array to the control circuit,
A DC voltage is applied across each transistor row of the target circuit,
Instruct the control circuit of the target circuit to output a control signal of a specific pattern,
In that state, measure the voltage at the output point in the middle of each transistor array of the target circuit,
In the voltage measurement, a circuit inspection method is characterized in that a voltage at an intermediate output point of each transistor array and a voltage at a connection point connected from each of the output points to one place through a load resistor are measured. .
請求項3に記載する回路検査方法において,
前記電圧計測の際,トランジスタ列における過剰電流の発生の有無を検知することを特徴とする回路検査方法。
In the circuit inspection method according to claim 3,
A circuit inspection method for detecting the occurrence of excessive current in each transistor array during the voltage measurement.
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