JP4045145B2 - 固体イメージセンサを製造する為の底部反射防止皮膜カラーフィルタプロセス - Google Patents
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- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 title claims description 41
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 17
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 15
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 14
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 14
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 10
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 9
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 8
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 6
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 5
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 claims description 5
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 5
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 3
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 3
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 63
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 8
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 6
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 4
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 4
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 4
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 4
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000004380 ashing Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 3
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 2
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000005188 flotation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 238000001429 visible spectrum Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/011—Manufacture or treatment of image sensors covered by group H10F39/12
- H10F39/026—Wafer-level processing
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/805—Coatings
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/805—Coatings
- H10F39/8053—Colour filters
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
- H10F39/80—Constructional details of image sensors
- H10F39/806—Optical elements or arrangements associated with the image sensors
- H10F39/8063—Microlenses
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、底部反射防止皮膜(bottom antireflection coating:BARC)カラーフィルタプロセスにより形成されたカラーフィルタアレイを含む固体イメージセンサ及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】
一般的に、ディジタルカメラ等のディジタルイメージングシステムは、イメージを取り込む為のイメージセンサ(または簡単にイメージャー)を含む。様々な種類のイメージセンサが開発されているが、これらの中には電荷結合素子(CCD)イメージセンサ及び相補型金属酸化物半導体(CMOS)イメージセンサが含まれる。通常、これらのデバイスは画素のアレイを含み、アレイ中の各画素はイメージセンサの光検出領域を画定するn+型〜p型基板のフォトダイオード、仮想ゲート埋め込み型nチャネル光検出器、又はフォトゲート検出器といった光検出素子を含む。また、イメージセンサは、光検出素子から他の処理回路へと光信号を駆動する為の回路も含む。一般的にCCDイメージセンサは光電変換器及び対象物からの光を吸収し、光生成された電荷を信号電荷パケットへと収集する電荷蓄積装置とを含む。更に、CCDイメージセンサは光電変換器及び電荷蓄積装置からの電荷パケット(charge packet)を伝達する為の電荷伝達領域と、電荷伝達領域を介して伝達される信号電荷パケットに対応する電圧出力を生成する為の電荷/電圧信号変換器とを含む場合もある。CMOSイメージセンサは通常、能動画素センサのアレイと、画素センサの所定行の出力をサンプリングして保持する相関ダブルサンプリング(CDS)増幅器の行(レジスタ)とを含む。CMOS及びCCDイメージセンサシステムの双方において、各画素センサは、光集積期間中にその画素センサの関連した検出領域に到達する光の強度に基づいて電荷を蓄積する。
【0003】
カラーの用途の場合、一般に各画素センサ素子がカラーフィルタを介して光を受け取り、このカラーフィルタは相対的に狭い放射波長範囲(例えば可視スペクトル)の光しかイメージセンサの画素センサに到達させない。一般的には複数組のカラーフィルタが画素サイズのモザイクパターン又は画素幅のストライプパターンに配列されている。カラーフィルタはイメージセンサの表面に直接的に付加することができる。代案として、カラーフィルタをパッシベーション層上に形成することもでき(例えば、米国特許第5,654,202号を参照)、この場合はイメージセンサのボンディングパッドを露出させる為に独立したマスキングプロセスが必要となる。カラーフィルタは、一般に各フィルタ色の層を含むフォトレジスト構造から形成される。一般的なカラーフィルタ材料は、スピンコートされる、染色又は着色フォトレジストである。所定のカラーフィルタセットのフィルタの色は、加法混色(例えば赤、緑、青)でも減法混色(例えばシアン、マゼンタ、イエロー)でも、或いは加法混色・減法混色の組み合わせでも良い。
【0004】
イメージセンサの集光効率は、各画素領域のCFA材料上にマイクロレンズアレイを設けることにより改善され得る。イメージングの波長範囲において高い透過性である平坦化層をカラーフィルタアレイとマイクロレンズ材料との間に堆積させることもできる。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明は、新規なイメージセンサシステム及びそのようなシステムを製造する方法を特徴とする。より具体的には、この新規なイメージセンサシステムは、底部反射防止皮膜を組み込む発明的なカラーフィルタプロセスにより形成されるカラーフィルタアレイを含む。底部反射防止皮膜は、カラーフィルタアレイの形成中に能動イメージセンシング素子構造の露出領域を保護する保護層になり、これにより能動イメージセンシング素子構造の本来の透過特性が維持される。例えば、底部反射防止皮膜は、能動イメージセンシング素子構造の損傷を受けやすい領域を、カラーフィルタアレイをパターニングする為に用いられる現像液にさらすことによって生じる可能性がある劣化から守る。また、底部反射防止皮膜は、能動イメージセンシング素子構造の露出面にある金属構造(例えば、ボンディングパッド)や画素のエッジの劣化も低減する。例えば、底部反射防止皮膜は、このような金属構造及び画素のエッジにおいてカラーフィルタのレジスト材料及びカラーフィルタ現像液に繰り返しさらされる結果として生じる浮きかす(scumming)や化学反応を低減する。更に、底部反射防止皮膜はカラーフィルタアレイに対して均一な接着面を提供し、カラーフィルタアレイのレジスト構造の浮きを実質的に排除する。いくつかの実施形態においては、底部反射防止皮膜は更に、カラーフィルタアレイの1つ以上の色の光透過特性も改善する。
【0006】
本発明の一態様においては、底部反射防止皮膜が能動イメージセンシング素子構造の露出面上に形成され、カラーフィルタアレイが底部反射防止皮膜上に形成され、そして底部反射防止皮膜の露出部分が実質的に除去される。
【0007】
本発明のこの態様に従った実施形態は、以下にあげる特徴のうちの1つ以上を含むことができる。
【0008】
底部反射防止皮膜は染色された有機フィルム形成材料又は光吸収ポリマーフィルム形成材料からなることができる。
【0009】
底部反射防止皮膜の厚さは、カラーフィルタアレイの1つ以上の色の光透過特性を改善するように選択されることが好ましい。更に、底部反射防止皮膜は、約400nm〜約700nmの波長範囲の放射に対して実質的に透過性であることが好ましい。
【0010】
いくつかの実施形態においては、カラーフィルタアレイは複数の着色されたフォトレジスト構造からなる。
【0011】
底部反射防止皮膜の露出部分は、プラズマエッチング(例えば、低出力バッファード酸素灰化プロセス)により実質的に除去されることが好ましい。プラズマエッチング処理においては、底部反射防止皮膜はカラーフィルタアレイよりも大幅に速いエッチング速度で除去されることが好ましい。
【0012】
いくつかの実施形態において、底部反射防止皮膜の露出部分が実質的に除去される前に、底部反射防止皮膜は能動イメージセンシング素子構造の露出面上に実質的に連続的な層を形成している。底部反射防止皮膜は、カラーフィルタアレイを形成する間、能動イメージセンシング素子構造の露出面にある金属構造上に保護バリアを形成しても良い。
【0013】
能動イメージセンサ素子構造は、相補型金属酸化物半導体(CMOS)イメージセンサであっても、或いは電荷結合素子(CCD)イメージセンサであっても良い。
【0014】
他の態様においては、本発明は能動イメージセンシング素子構造、カラーフィルタアレイ、及びカラーフィルタアレイと能動イメージセンシング素子構造の表面との間に堆積された底部反射防止皮膜を含むイメージセンサシステムを特徴とする。
【0015】
本発明の他の特徴及び利点は、添付図面及び特許請求の範囲と共に以下の説明から明らかになるであろう。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下の説明においては、同じ参照番号を用いて同様の要素を識別する。更に、図面は、例示的な実施形態の主要な特徴を図面の態様で示すことが意図されている。図面は、実際の実施形態における全ての要素を描いたり、図示した要素の相対的な寸法を描いたりすることが意図されておらず、一定の縮尺で描かれていない。
【0017】
図1を参照すると、一実施形態において、イメージセンサシステム10は能動イメージセンシング素子構造12、カラーフィルタアレイ14及び能動イメージセンシング素子構造12の上面とカラーフィルタアレイ14との間に堆積された底部反射防止皮膜(BARC)層16を含む。イメージセンサシステム10は更に、パッシベーション層18及びそのパッシベーション層18上に形成された従来のマイクロレンズアレイ20を含む。
【0018】
図2、図3、図4及び図5を参照し、最初に図2及び図3を参照すると、イメージセンサシステム10は以下のように形成される。最初に能動イメージセンシング素子構造12が形成される(ステップ32)。能動イメージセンシング素子構造12は、従来のCCDイメージング素子構造としても、従来のCMOSイメージング素子構造としても良い。一般的に、能動イメージセンシング素子構造12は、画素のアレイを含み、画素の各々は光検出素子(例えば、p−i−nフォトダイオード、n+型〜p型基板のフォトダイオード、仮想ゲート埋め込み型nチャネル光検出器又はフォトゲート検出器)及び光信号を光検出素子から他の処理回路に駆動する為の回路を含む。
【0019】
図3に示したように、一実施形態における能動イメージセンシング素子構造12は、基板36上に形成された複数の画素トランジスタ34、複数のメタライゼーション相互接続層38(個々には図示せず)、及び最終メタライゼーション層40を含む。最終メタライゼーション層40は、ボンディングパッド42、接地コンタクト44及び一対のメタライゼーションコンタクト46、48を含む。最終メタライゼーション層40は更に、研磨した酸化物(例えば、酸化珪素)層50、窒化珪素層52、及び酸化物層50及び窒化珪素層52を通じてそれぞれのコンタクト44〜48へと伸びる、複数のタングステンを充填したコンタクトバイア54、56、58を含む。タングステンプラグを形成する前に、Ti/TiNバリア(又はライナー)層をコンタクトバイア54〜58の表面に堆積しても良い。バイア59は酸化物層50及び窒化珪素層52を貫いて形成され、ボンディングパッド42が露出される。メタライゼーションコンタクト46、48に接続されるタングステンプラグ56、58の各々の上に画素メタライゼーション60、62を形成することができる。パターニングされたn型アモルファスシリコン層64、66は画素メタライゼーション60、62上に形成される。n型アモルファスシリコン層64、66上には真性アモルファスシリコン層68が形成され、そして真性アモルファスシリコン層68上にはp型アモルファスシリコン層70が形成される。透明導電層72はp型アモルファスシリコン層70上に延在し、接地コンタクト44に接続されるタングステンプラグに接触する。不透明金属層74は透明導電層72上の一部分に延在し、接地コンタクト周辺部の透明導電層72をブリッジし、画素境界において光を遮断し、画素アレイを囲む。
【0020】
図4に示したように、能動イメージセンシング素子構造12の形成後(図2のステップ32)、BARC層16が能動イメージセンシング素子構造12の露出面上に堆積される(図2のステップ76)。一般的に、BARC層16は従来の任意のBARC材料から形成されることができ、それらの材料には染色有機フィルムを形成するBARC材料又は光吸収ポリマーフィルムを形成するBARC材料が含まれる。いくつかの実施形態においては、BARC層16はカラーフィルタアレイ14のパターニングにおいて使用される波長範囲の放射を実質的に吸収し、イメージセンサシステム10によりイメージングされる波長範囲の放射(例えば可視発光スペクトル)に対して実質的に透過性であることが好ましい。BARC層16は有機フィルム形成材料又はポリマーフィルム形成材料から形成され得る。一実施形態において、BARC層16は、約400nm〜約700nmの波長範囲の放射に対して実質的に透過性であるフォトレジストベースの反射防止皮膜(例えば、Shipley Company,L.L.C(Marlborough,Massachusetts,USA)から市販されるShipley AR2−600反射防止皮膜)である。この実施形態において、BARC層16は滴下時には2000rpm、それを広げる処理においては4790rpmで動作する従来のスピンコータにより塗布される。この結果得られるBARC層16の厚さは約60nmである。BARC層16は、堆積後、DNSトラック上で60秒間にわたり205℃でプロキシミティベーキングされる。
【0021】
通常、BARC層16は、カラーフィルタアレイ14の1つ以上の色に対する光透過特性を改善するように選択された厚さを有する。特に、BARC層の厚さは、BARC層16を含まない素子構造に比べて、1つ以上のターゲット放射波長におけるピーク透過率が増すように選択される。ターゲット放射波長は、完成されたイメージセンサシステム10のカラーフィルタセットの各色に対する画素感光性がピークとなる波長に相当する。各色に対する光透過特性は、BARC層16及びイメージセンシング素子構造12の他の層の屈折率に基づいてモデリングされることができる。BARC層16及びカラーフィルタアレイ14の層の厚さは、カラーフィルタセットの1つ以上のターゲット放射波長に対するピーク透過率が最適化されるまで、指定の厚さ範囲内において変化させることができる。図示の実施形態において、BARC層の層厚を約60nmとすることで、赤色が620nm、緑色が540nmそして青色が460nmのターゲット放射波長であるRGBカラーフィルタアレイの各色に対する光透過特性が改善することが分かっている。一般的に、BARC層の厚さは、BARC層の除去処理ステップ(図2の処理ステップ90に関連して後述する)中にボンディングパッド42及び他の素子構造を露出する為に、BARC層16の一部を比較的容易に除去することができるように相対的に薄く(例えば、約200nm未満)するべきである。
【0022】
図5を参照すると、パターニングされたカラーフィルタアレイ14はBARC層16上に形成される(図2のステップ82)。BARC層16はカラーフィルタアレイ14に信頼性の高い接着面を提供し、それによりカラーフィルタアレイレジスト構造の浮き上がりが実質的になくなる。カラーフィルタアレイ14は、画素サイズのモザイクのパターン、又は画素幅のストリップのパターンに配列された複数の着色フォトレジスト構造から形成される従来のカラーフィルタアレイとすることができる。例えば、カラーフィルタアレイ14は特定のカラーセット(例えば、赤/緑/青又はシアン/マゼンタ/イエロー)の着色フォトレジスト層を連続的に堆積させることにより形成されるポリマーのカラーフィルタアレイとすることができる。マスキング又はエッチングプロセスを用いて、選択された画素位置にそれぞれのカラーフィルタを形成できる。一般的に、画素カラーフィルタは、1つ以上の染料を含む単一のポリマー層、又は各々が1つ以上の染料を含む複数のポリマー層により形成され得る。図1に示したように、結果として生じるカラーフィルタアレイ14は別個の、各フィルタ色(例えば、図示された実施形態において赤色、緑色及び青色)について空間的に分離されたフィルタ領域84、86、88を含み、各領域84、86、88は、イメージセンサシステム10の異なるカラー画素に対応する。このような構成により、異なる波長の光を別個にサンプリングすることができ、そのため色の分離したイメージを形成できる。
【0023】
上述したように、BARC層16はカラーフィルタアレイ14の形成中に能動イメージセンシング素子構造12の露出領域を保護し、これにより能動イメージセンシング素子構造12の本質的な透過特性が維持される。例えば、BARC層16は、能動イメージセンシング素子構造12の損傷を受けやすい領域を、カラーフィルタアレイ14のパターニングにおいて用いる現像液にさらすことにより生じる可能性のある劣化から守っている。底部反射防止皮膜は更に、能動イメージセンサ画素構造12の露出面にある金属構造(例えば、ボンディングパッド42)及び画素のエッジの劣化も低減する。例えば、BARC層16は、このような金属構造及び画素のエッジにおいてカラーフィルタレジスト材料及びカラーフィルタ現像液に繰り返しさらされる結果として生じる可能性のある浮きかす及び化学反応を低減する。
【0024】
次に、BARC層16の露出部分が除去される(図2のステップ90)。BARC層16は、従来のプラズマエッチングシステム(例えば、LAM Research Corporation(Fremont,California)から市販されているLAM590プラズマエッチングシステム)で除去され得る。一実施形態において、低出力バッファード灰化法(例えば、He/O2灰化)を用いてBARC層16を除去できる。プラズマエッチング処理は、BARC層16をカラーフィルタアレイ14よりも大幅に速いエッチング速度で除去することが好ましい。BARC層16の一部を除去する処理により、カラーフィルタアレイ14の形成中に汚されたカラーフィルタアレイ14部分も除去される(又は清浄化される)ことによって、カラーフィルタアレイ14の光透過特性も改善されることが明らかになっている。例えば、RGBカラーフィルタアレイの形成中に、形成される第一の色(例えば、赤色)のフィルタアレイが、残りの色(例えば、青色及び緑色)のフィルタアレイの形成に用いられる後続のカラーレジスト処理ステップにより汚される可能性がある。更に、形成される第二の色(例えば、青色)のフィルタアレイも、残りの色(例えば緑色)のフィルタアレイの形成に用いられる後続のカラーレジスト処理ステップにより汚される可能性がある。このような汚れは、汚れたカラーフィルタアレイを介した光の透過を低下させる。しかしながら、BARC層16の一部を除去するプロセスにより、汚れたカラーフィルタアレイの表面が清浄化され、これによりそれらの光透過特性が改善される。
【0025】
パッシベーション層18及びマイクロレンズアレイ20を含む更なる構造は、BARC層16の露出部分を除去した後に形成され得る(図2のステップ92)。これらの追加構造は、従来のデバイス製造プロセスに従って形成され得る。
【0026】
他の実施形態も特許請求の範囲内にある。
【0027】
以下においては、本発明の種々の構成要件の組み合わせからなる例示的な実施形態を示す。
1.イメージセンサ(10)の製造方法であって、
能動イメージセンシング素子構造(12)の露出面上に底部反射防止皮膜(16)を形成するステップと、
前記底部反射防止皮膜(16)上にカラーフィルタアレイ(14)を形成するステップと、及び
前記底部反射防止皮膜(16)の露出部分を実質的に除去するステップとからなる、イメージセンサ(10)の製造方法。
2.イメージセンサシステム(10)であって、
能動イメージセンシング素子構造(12)と、
カラーフィルタアレイ(14)と、及び
前記カラーフィルタアレイ(14)と前記能動イメージセンシング素子構造(12)の表面との間に堆積された底部反射防止皮膜(16)とを含む、イメージセンサシステム(10)。
3.前記底部反射防止皮膜(16)が、染色有機フィルム形成材料からなる、上記1又は2に記載の発明内容。
4.前記底部反射防止皮膜(16)が、光吸収ポリマーフィルム形成材料からなる、上記1又は2に記載の発明内容。
5.前記底部反射防止皮膜(16)が、前記カラーフィルタアレイ(14)の1つ以上の色の光透過特性を改善するように選択された厚さを有する、上記1又は2に記載の発明内容。
6.前記底部反射防止皮膜(16)が、約400nm〜約700nmの波長範囲の放射に対し、実質的に透過性である、上記1又は2に記載の発明内容。
7.前記カラーフィルタアレイ(14)が、複数の着色されたフォトレジスト構造からなる、上記1又は2に記載の発明内容。
8.前記底部反射防止皮膜(16)の露出部分が、プラズマエッチング処理により実質的に除去される、上記1又は2に記載の発明内容。
9.前記底部反射防止皮膜(16)の露出部分が実質的に除去される前に、前記底部反射防止皮膜(16)が前記能動イメージセンシング素子構造(12)の露出面上に実質的に連続的な層を形成している、上記1又は2に記載の発明内容。
10.前記底部反射防止皮膜(16)が、前記カラーフィルタアレイ(14)の形成中に、前記能動イメージセンシング素子構造(12)の露出面における金属構造上の保護バリアになる、上記1又は2に記載の発明内容。
【0028】
【発明の効果】
本発明により、新規なイメージセンサシステム及びそのようなシステムを製造する方法が提供される。そのイメージセンサシステムは底部反射防止膜を備え、この底部反射防止膜はカラーフィルタアレイの形成中に能動イメージセンシング素子構造の露出領域を保護する保護層となるため、能動イメージセンシング素子構造の本質的な透過特性が維持されることが可能になる。更に、底部反射防止皮膜はカラーフィルタアレイに対して均一な接着面を提供するため、カラーフィルタアレイのレジスト構造の浮きを実質的に排除することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】カラーフィルタアレイと能動イメージセンシング素子構造の上面との間に堆積された底部反射防止皮膜を含むイメージセンサシステムの一部分を描いたブロック図である。
【図2】図1のイメージセンサシステムを製造するプロセスの流れ図である。
【図3】能動イメージセンシング素子構造の形成後、図2のプロセスに従って形成されているイメージセンサシステムの側断面図である。
【図4】図3の能動イメージセンシング素子構造の露出面上に底部反射防止皮膜が形成された後に図2のプロセスに従って形成されているイメージセンサシステムの側断面図である。
【図5】図4の底部反射防止皮膜上にカラーフィルタが形成され、底部反射防止皮膜の露出部分が除去された後、図2のプロセスに従って形成されているイメージセンサシステムの側断面図である。
【符号の説明】
10 イメージセンサシステム
12 能動イメージセンシング素子構造
14 カラーフィルタアレイ
16 底部反射防止皮膜
Claims (9)
- 能動イメージセンシング素子構造の露出面上に底部反射防止皮膜を形成し、前記露出面に金属構造を含み、
前記底部反射防止皮膜の一部の上にカラーフィルタアレイを形成し、前記底部反射防止皮膜が、前記カラーフィルタアレイの形成中に前記金属構造上に保護バリアを形成し、及び
前記カラーフィルタアレイにより覆われていない領域における前記底部反射防止皮膜の露出部分を実質的に除去すると同時に、前記カラーフィルタアレイの一部を除去し、前記カラーフィルタアレイの透過特性を改善することを含む、イメージセンサの製造方法。 - 前記底部反射防止皮膜が、染色有機フィルム形成材料からなる、請求項1に記載の製造方法。
- 前記底部反射防止皮膜が、光吸収ポリマーフィルム形成材料からなる、請求項1に記載の製造方法。
- 前記底部反射防止皮膜が、400nm〜700nmの波長範囲の放射に対し、実質的に透過性である、請求項1に記載の製造方法。
- 前記カラーフィルタアレイが、複数の着色されたフォトレジスト構造からなる、請求項1に記載の製造方法。
- 前記底部反射防止皮膜が、前記カラーフィルタアレイよりも実質的に速いプラズマエッチング速度を有する、請求項1に記載の製造方法。
- 前記能動イメージセンシング素子構造が、相補形金属酸化物半導体(CMOS)イメージセンサからなる、請求項1に記載の製造方法。
- 前記底部反射防止皮膜が60nm未満の厚さを有する、請求項1に記載の製造方法。
- 前記底部反射防止皮膜が、カラーフィルタアレイ材料の直ぐ下の領域のみに存在する、請求項1に記載の製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/938,394 US6765276B2 (en) | 2001-08-23 | 2001-08-23 | Bottom antireflection coating color filter process for fabricating solid state image sensors |
| US09/938394 | 2001-08-23 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003179219A JP2003179219A (ja) | 2003-06-27 |
| JP2003179219A5 JP2003179219A5 (ja) | 2005-11-04 |
| JP4045145B2 true JP4045145B2 (ja) | 2008-02-13 |
Family
ID=25471356
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002243001A Expired - Fee Related JP4045145B2 (ja) | 2001-08-23 | 2002-08-23 | 固体イメージセンサを製造する為の底部反射防止皮膜カラーフィルタプロセス |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (3) | US6765276B2 (ja) |
| JP (1) | JP4045145B2 (ja) |
| DE (1) | DE10230134B4 (ja) |
| GB (1) | GB2382221B (ja) |
Families Citing this family (53)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004095895A (ja) * | 2002-08-30 | 2004-03-25 | Sony Corp | 固体撮像素子の製造方法 |
| US7157686B2 (en) * | 2002-12-06 | 2007-01-02 | Delta Electronics, Inc. | Optical receiver |
| JP4247017B2 (ja) * | 2003-03-10 | 2009-04-02 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出器の製造方法 |
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-
2001
- 2001-08-23 US US09/938,394 patent/US6765276B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-04-26 US US10/133,047 patent/US20030038326A1/en not_active Abandoned
- 2002-07-04 DE DE10230134A patent/DE10230134B4/de not_active Expired - Fee Related
- 2002-07-16 GB GB0216551A patent/GB2382221B/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-08-23 JP JP2002243001A patent/JP4045145B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-06-27 US US10/608,644 patent/US6967073B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6967073B2 (en) | 2005-11-22 |
| GB2382221A (en) | 2003-05-21 |
| DE10230134B4 (de) | 2010-06-10 |
| US6765276B2 (en) | 2004-07-20 |
| US20040002178A1 (en) | 2004-01-01 |
| US20030038326A1 (en) | 2003-02-27 |
| JP2003179219A (ja) | 2003-06-27 |
| US20030038293A1 (en) | 2003-02-27 |
| GB0216551D0 (en) | 2002-08-28 |
| DE10230134A1 (de) | 2003-03-27 |
| GB2382221B (en) | 2005-07-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050818 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050818 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070622 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070703 |
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| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| R350 | Written notification of registration of transfer |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| S631 | Written request for registration of reclamation of domicile |
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| S633 | Written request for registration of reclamation of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313633 |
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| R350 | Written notification of registration of transfer |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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