JP4038159B2 - 光信号処理装置および光信号処理方法 - Google Patents

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Description

本発明は、高速の光パケット信号を電子回路によるメモリに書き込み、かつ読み出して入力光パケットと異なるビットレートで再び光パケット信号として出力させることの可能な光信号処理方法および装置に関する。
近年のデータ通信量の急激な増加とパケットスイッチネットワークの進展に伴って、データ通信の要となるコアネットワークの速度は劇的に増加している。このことにより、コアネットワークとエッジネットワークとを接続するエッジルータでの非同期バースト光パケットのビットレート変換を簡単に行うことが重要になってきている。
近年、光信号のビットレートを変換する方法として非線形光ループミラー(nonlinear optical loop mirror:NOLM)を用いた、光サンプリング技術によるビットレート変換が提案されている(非特許文献1参照)。 しかしながら、この方法は光サンプリング法を用いているため、本質的に変換される光信号は同じパタンを繰り返す必要があり、実際のデータ通信に適用することは不可能である。
また、2×2スイッチと遅延線とを組み合わせた光遅延線ラティス(非特許文献2参照) 、もしくはファイバループを用いた方法(非特許文献3参照)が提案されている。しかしながら、これらの方法は実現が容易である一方、取り扱えるビットの最大数、ビットレート、その変換率などに制限があり、光パケット信号を柔軟に取り扱うことができない。
N.S. Patel, K.L. Hall, J.D. Moores, K.A. Rauschenbach, and B.S. Robinson, "All-optical rate conversion,"in Proc, OFC'97, Technical Digest TuQ2, p87-88, 1997 S.D. Koehler, K.II Kang, I. Glesk, P.R. Prucnal, "optical packet compressor operating at 100 Gbit /s,"in Proc. 1996 IEEE/LEOS Annual Meeting, vol.2, pp.117-118, 1996 A.S. Acampora, S.I.A. Shah, "A packet compression/decompression approach for very high speed optical networks, "in Proc, ITS'90 Symposium Record. , pp.38-48, 1990
本発明の目的は、従来技術における上述のような課題を解決するため、ビットレート変換を行う信号を繰り返すことなく、ビットレートの変換率、取り扱えるビットの最大数、ビットレートなどの本質的な制限を受けず、さらに任意ビットレートへの変換や、動的にレートを変えることも可能な、非同期バースト光パケットのビットレート変換を行う光信号処理装置および光信号処理方法を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明は、入力する高速の非同期バースト光パケットをシリアル−パラレル変換器によって、シリコン系のRAM等の電子メモリに記憶させた後、パラレル−シリアル変換器によって再び光パケットに再構築する際に、下記のように遅延時間差に工夫を加えることで、非同期バースト光パケットのビットレート変換を可能にすることを特徴とする。
すなわち、本発明の第の光信号処理装置は、光パルス発生器、光−電気型シリアル−パラレル変換器、電子メモリ、および電気−光型パラレル−シリアル変換器を用いて光信号を処理する光信号処理装置において、前記電気−光・パラレル−シリアル変換器が、光パルス光源と、前記光パルス光源から出力する光信号をm本(mは2以上の整数)に分波する第1の分波器と、前記第1の分波器で分波されたm本の並列光信号をそれぞれさらにn(n=k/m)本ずつに分波する(nは2以上の整数)第2の分波器と、前記m組のn本に分波された並列光信号を遅延させるb・m・τin(τinは入力光パケットのビット間隔、bは正数)の間隔で順次長さが長くなるm組の各n本の第1の光遅延線と、前記電子メモリから読み出された並列電気信号をn個単位でサンプリングするm組のサンプルホールド部と、前記サンプルホールド部において前記n個単位でサンプリングされ蓄積された電荷を前記第1の光遅延線からの光信号により1/(b・m・τin)のビットレートをもつnビットの電気パルス列信号として取り出すm組の電気−電気型パラレル−シリアル変換部と、前記パルス光源から分岐させた光パルスからビット間隔がb・m・τinであるnビットの光パルス列を発生させる光パルス列発生器と、前記光パルス列発生器で発生した前記光パルス列をm個に分波する第3の分波器と、前記第3の分波器で分波されたm本の並列光信号を前記m組の電気−電気型パラレル−シリアル変換部から出力するnビットm組の並列電気信号で変調するm個の光変調器と、前記m個の光変調器の入力側又は出力側においてm本の並列光信号をb・τinずつの時間で遅延させる第2の光遅延器と、前記第2の光遅延器で遅延されたm本の並列光信号を1本の光パルス列に合波して1/(b・τin)のビットレートの出力光パケット信号として出力する合波器とを有することを特徴とする。
本発明の第の光信号処理装置は、光パルス発生器、光−電気型シリアル−パラレル変換器、電子メモリ、および電気−光型パラレル−シリアル変換器を用いて光信号を処理する光信号処理装置において、前記電気−光型パラレル−シリアル変換器が、光パルス光源と、前記光パルス光源から出力する光信号をm本(mは2以上の整数)に分波する第1の分波器と、前記第1の分波器で分波されたm本の並列光信号をそれぞれさらにn(n=k/m)本ずつに分波する(nは2以上の整数)第2の分波器と、前記m組のn本に分波された並列光信号を遅延させるb・m・τin(τinは入力光パケットのビット間隔、bは正数)の間隔で順次長さが長くなるm組の各n本の第1の光遅延線と、前記電子メモリから読み出された並列光信号のデータ配列を交換するデータ配列組み替え装置と、前記データ配列組み替え装置からの並列電気信号をn個単位でサンプリングするm組のサンプルホールド部と、前記サンプルホールド部において前記n個単位でサンプリングされ蓄積された電荷を前記第1の光遅延線からの光信号により1/(b・m・τin)のビットレートを持つnビットの電気パルス列信号として取り出すm組の電気−電気型パラレル−シリアル変換部と、前記パルス光源から分岐させた光パルスからビット間隔がb・m・τinであるnビットの光パルス列を発生させる光パルス列発生器と、前記光パルス列発生器で発生された前記光パルス列をm個に分波する第3の分波器と、前記第3の分波器で分波されたm本の並列光信号を前記m組の電気−電気型パラレル−シリアル変換部から出力するnビットm組の並列電気信号で変調するm個の光変調器と、前記m個の光変調器の入力側又は出力側においてm本の並列光信号をb・k・τinずつの時間を遅延させる第2の光遅延器と、前記第2の光遅延器で遅延されたm本の並列光信号を1本の光パルス列に合波して1/(b・m・τin)のビットレートの出力光パケット信号とする合波器とを有することを特徴とする。
本発明の第の光信号処理装置は、光パルス発生器、光−電気・シリアル−パラレル変換器、電子メモリ、および電気−光型パラレル−シリアル変換器を用いて光信号を処理する光信号処理装置において、前記電子メモリが、1度にk/c(cはkの因数)個のデータと(c−1)・k/c個の「0」の合わせてk個の信号を出力し、さらに、前記電気−光型パラレル−シリアル変換器が、光パルス光源と、前記光パルス光源から出力する光信号をm本(mは2以上の整数)に分波する第1の分波器と、前記第1の分波器で分波されたm本の並列光信号をそれぞれさらにn(n=k/m)本ずつに分波する第2の分波器と、前記m組のn本に分波された並列光信号を遅延させるm・τin(τinは入力光パケ
ットのビット間隔)の間隔で順次長さが長くなるm組の各n本の第1の光遅延線と、前記電子メモリから読み出されたm組の並列電気信号をn個単位でサンプリングするm組のサンプルホールド部と、前記サンプルホールド部において前記n個単位でサンプリングされ蓄積された電荷を前記第1の光遅延線からの光信号により1/(m・τin)のビットレートをもつnビットの電気パルス列信号として取り出すm組の電気−電気型パラレル−シリアル変換部と、前記パルス光源から分岐させた光パルスからビット間隔がm・τinであるnビットの光パルス列を発生させる光パルス列発生器と、前記光パルス列発生器から発生した光パルス列をm個に分波する第3の分波器と、前記第3の分波器で分波されたm本の並列光信号を前記m組の電気−電気型パラレル−シリアル変換部から出力するnビットm組の並列電気信号で変調するm個の光変調器と、前記m個の光変調器の入力側又は出力側においてm本の並列光信号をm・τinずつの時間を遅延させる第2の光遅延器と、前記第2の光遅延器で遅延されたm本の並列光信号を1本の光パルス列に合波して1/(c・τin)のビットレートの出力光パケット信号とする合波器とを有することを特徴とする。
ここで、前記電気−電気型パラレル−シリアル変換部は、前記第1の光遅延線からの光信号の照射によってその抵抗値が変わる金属−半導体−金属光検出器と、前記サンプルホールド部からのデータを電荷として蓄積するキャパシタと、前記キャパシタを充電する時間(CR時定数)を調整する抵抗と、前記キャパシタに充電された電荷が前記金属−半導体−金属光検出器を通じて流れる出力用の高周波線路と、前記高周波線路に流れる出力電気信号を前記光変調器が駆動できるだけの電圧に増幅する増幅器とを有することを特徴とすることができる。
本発明の第の光信号処理方法は、高速な光パケットを信号処理することの可能な光信号処理方法であって、入力する光パケット信号をk本ずつの並列電気信号に変換し、前記k個の並列電気信号を電子回路により構成された電子メモリに書き込み、前記電子メモリからk個の並列電気信号を同時に読み出して、n個の電気信号を保持するm(m=k/n)組のサンプルホールド回路によって蓄積された電荷を各々1/(b・m・τin)(bは1でない正数)のビットレートをもつm組のnビット電気パルス列信号として出力させ、光パルス光源から出力された光パルスをm個に分岐し、前記m組のnビット電気パルス列信号を印加した光変調器を通過させることで、m本の光信号列に変換し、それらをb・τinずつ遅延させ、再び合波器によって合わせることで、1/(b・τin)のビットレートをもつ1本の光パケット信号に変換することを特徴とする。
本発明の第の光信号処理方法は、高速な光パケットを信号処理することの可能な光信号処理方法であって、入力する光パケット信号をk本ずつの並列電気信号に変換し、前記k個の並列電気信号を電子回路により構成された電子メモリに書き込み、前記電子メモリからk個の並列電気信号を同時に読み出して、データ配列を組み替えたうえで、n個の電気信号を保持するm(m=k/n)組のサンプルホールド回路によって蓄積された電荷を各々1/(b・m・τin)(bは1でない正数)のビットレートをもつm組のnビット電気パルス列信号として出力させ、光パルス光源から出力された光パルスをm個に分岐し、前記m組のnビット電気パルス列信号を印加した光変調器を通過させることで、m本の光信号列に変換し、それらをb・k・τinずつ遅延させ、再び合波器によって合わせることで、1/(b・m・τin)のビットレートをもつ1本の光パケット信号に変換することを特徴とする。
本発明の第の光信号処理方法は、高速な光パケットを信号処理することの可能な光信号処理方法であって、入力する光パケット信号をk本ずつの並列電気信号に変換し、前記k個の並列電気信号を電子回路により構成された電子メモリに書き込み、前記電子メモリからk/c(cはkの因数)個のデータと(c−1)・k/c個の「0」の合わせてk個の並列電気信号を1度に出力させて、n個の電気信号を保持するm(m=k/n)組のサンプルホールド回路によって蓄積された電荷を各々1/(m・τin)のビットレートをもつm組のnビット電気パルス列信号として出力させ、光パルス光源から出力された光パルスをm個に分岐し、前記m組のnビット電気パルス列信号を印加した光変調器を通過させることで、m本の光信号列に変換し、それらをm・τinずつ遅延させ、再び合波器によって合わせることで、1/(c・τin)のビットレートをもつ1本の光パケット信号に変換することを特徴とする。
本発明によれば、従来の光メモリ装置で用いられてきた電気−光型パラレル−シリアル変換器をベースとして、光パケット再構築時の各種遅延線の長さや、CMOS−RAM等の電子メモリからのデータ出力の方法を変更するだけの比較的簡潔な構成で、従来のビットレート変換器では到底実現することの出来なかった、任意レート、動的なレート変換が可能なビットレート変換の実現が可能になる。さらに詳しくは、本発明によれば、ビットレート変換を行う信号を繰り返すことなく、ビットレートの変換率、取り扱えるビットの最大数、ビットレートなどの本質的な制限を受けず、さらに任意ビットレートへの変換や、動的にレートを変えることも可能な、非同期バースト光パケットのビットレート変換を行うことができる。
さらに、本発明によれば、電子メモリを利用した光メモリ装置をベースとしているので、光信号のランダムな読み出しや、データ交換などを組み合わせた複合的な機能を持ったビットレート変換も実現可能である。
また、本発明によって、コアネットワークとエッジネットワークを結ぶノードデバイスや、高性能なルータ、光コンピュータ等の高次機能を持つ光情報処理装置や光情報処理システムへの適用も可能となる。
以下、図面を参照して本発明を実施するための最良の形態を詳細に説明する。
(共通の全体構成)
図1は本発明の光信号処理装置の全体の構成例を示す。入力光パケットは、面型光スイッチで構成される光−光型のシリアル−パラレル変換器101によってk本の並列光信号に変換された後、光検出器(photodetector:PD)アレイ102によって並列電気信号に変換され、CMOS−RAM104に書き込まれる。kビット周期でシリアル−パラレル変換を行うための面型光スイッチのプローブ光は、光−光型のシリアル−パラレル変換器101と並列に接続した光クロック発生器103によって作り出される。
CMOS−RAM104に記憶された信号は、電気−光型のパラレル−シリアル変換器105から出された読み出しトリガによってkビットずつ出力され、電気−光型パラレル−シリアル変換器105によって出力光パケットに再構築されて出力される。
参考例
図2は、本発明の特徴構成と対比するための参考例としての電気−光型のパラレル−シリアル変換器105の具体的な構成を示す。パルス光源201から出力した光パルスは、分波器202によってk本の光パルスに分岐される。分岐されたそのk本の光パルスはそれぞれ電界吸収型光変調器やLiNbOマッハツェンダー光変調器などで構成される光変調器203に入射し、CMOS−RAM104から読み出されたデータ(k個の並列電気信号)によって変調される。
光変調器203で変調された光信号を順次長くなる光遅延線204でそれぞれ入力光パケットのビット間隔(τin)のa倍(aは1でない正数)ずつ遅延を与えた後に、合波器204によって合波することで、1/(a・τin)のビットレートの光パケットが得られる。
ここでa>1の場合は、入力パケットよりも遅いビットレートへの変換、a<1の場合は入力パケットよりも速いビットレートへの変換とすることができる。また、分波器202、順次長くなる光遅延線204、および合波器205は、例えば石英系の導波路で構成される平面光回路(Planar Lightwave Circuit: PLC)で作製される。
(第の実施形態)
図3は、本発明の第1の実施形態おける上記の電気−光型のパラレル−シリアル変換器105の具体的な構成例を示す。図2に示したような構成での電気−光型のパラレル−シリアル変換器105では、kが大きい場合は、kの値に比例する大量の光変調器が必要になってしまう。そこで、このようにkが大きい場合は、図3に示すように、分波器303、光遅延線304、サンプルホールド部306、電気−電気型のパラレル−シリアル変換器305を用いて、k個の並列電気信号をn個単位で束ねて、m本の並列電気信号列を作成し(k=n・m)、上述と同様にm個の光変調器203により、1/(b・τin)のビットレートをもつ出力光パケットを再構築する。
すなわち、図3の電気−光型パラレル−シリアル変換器105は、光パルス光源201と、この光パルス光源から出力する光信号をm個(mは2以上の整数)に分波する第1の分波器302と、この第1の分波器で分波されたm本の並列光信号をそれぞれさらにn(n=k/m)本ずつに分波する(nは2以上の整数)第2の分波器303と、そのm組のn本に分波された並列光信号を遅延させるb・m・τin(τinは入力光パケットのビット間隔、bは正数)の間隔で順次長さが長くなるm組の各n本の第1の光遅延線304と、CMOS−RAM104から読み出された並列電気信号をn個単位でサンプリングするm組のサンプルホールド部306と、このサンプルホールド部においてn個単位でサンプリングされ蓄積された電荷を第1の光遅延線304からの光信号により1/(b・m・τin)のビットレートをもつnビットの電気パルス列信号(シリアル信号)として取り出すm組の電気−電気型パラレル−シリアル変換部305と、パルス光源201から分岐させた光パルスからビット間隔がb・m・τinであるnビットの光パルス列を発生させる光パルス列発生器301と、この光パルス列発生器で発生した光パルス列をm個に分波する第3の分波器202と、この第3の分波器で分波されたm本の並列光信号を上記m組の電気−電気型のパラレル−シリアル変換部305から出力するnビットm組の並列電気信号で変調するm個の光変調器203と、このm個の光変調器の入力側又は出力側においてm本の並列光信号をb・τinずつの時間で遅延させる第2の光遅延器204と、この第2の光遅延器で遅延されたm本の並列光信号を1本の光パルス列に合波して1/(b・τin)のビットレートの出力光パケット信号として出力する合波器205とを有する。なお、光遅延線304からの光信号は電気−電気型のパラレル−シリアル変換部305でパラレルーシリアル変換のトリガ信号として働き、その詳細は図8で後述する。
図3の本発明の構成では、図2で示した参考例に比べて光変調器203の数が1/nになり、光変調器203の数を大幅に減らすことが可能となる。
(第の実施形態)
図3に示した構成例では、光遅延線204の遅延時間差はb・τinであったが、図4に示すように、この光遅延線204の遅延時間差をb・k・τinとして構成することも可能である。この場合、出力光パケットのビットレートは1/(b・m・τin)となる。図4の構成例では、出力光パケットを再構築する際、そのビット順序が変わってしまうので、CMOS−RAM104からの出力データの結線を組み替えることが必要である。このため、本例では、CMOS−RAM104とm個の電気−電気型パラレル−シリアル変換器305との間に共有の1個のデータ配列組み替え器401とm個のサンプルホールド部306を接続している。このデータ配列組み替え器401はCMOS−RAM104から読み出された並列電気信号のmn個(すなわち、k個)のデータの並び替えを行い、これによりデータ配列が組み替えられた並列電気信号がm個のサンプルホールド部306を介してそれぞれ対応のm個の電気−電気型のパラレル−シリアル変換器305へ供給される。
データ配列組み替え器401の具体的な組み替え方法は下記の通りである。
まず、前述の図3の入力方法では、CMOS−RAM104から読み出されたmn(=k)個のデータd1, d2, ・・・, dmnに対して
m=1の系列は、d1, dm+1, ・・・, d(n-1)m+1
m=2の系列は、d2, dm+2, ・・・, d(n-1)m+2
となり、一般にm=pの系列のデータは
dp, dm+p, ・・・, d(n-1)m+p (1)
となる。
これに対して図4の入力方法では、
m=1の系列は、d1, d2, ・・・, dn
m=1の系列は、dn+1, dn+2, ・・・, d2n
となり、一般にm=pの系列のデータは
d(p-1)n+1, d(p-1)n+2, ・・・, dpn (2)
となるので、m=p番目の電気‐電気型パラレル‐シリアル変換器305に入力されるn=q番目のデータが、
d(q-1)m+p → d(p-1)n+q (3)
(p=1, 2, ・・・, mおよびq=1, 2, ・・・, n)
となるように、データ配列組み替え器401によりデータを組み替えることになる。
その他の構成要素は図3と同様なので、その説明は省略する。
(第の実施形態)
図5は、本発明の第3の実施形態おける上記の電気−光型のパラレル−シリアル変換器105の更に別の構成例を示す。図3や図4に示したような構成での電気−光型のパラレル−シリアル変換器105では、出力光パケットのビット間隔を任意に調整することが可能であるという特長を持つが、光遅延線の長さを短時間のうちに動的に変更することは非常に困難である。
そこで、出力するビットレートを動的に変更する必要があるなどの場合は、図5に示すように、図3の光メモリ用電気−光型のパラレル−シリアル変換器と同様な構成を用い、CMOS−RAM104からのデータの出力方法を変更することで、出力光パケットのビットレートの値自体には若干の制限が加わるものの、動的に低ビットレートへの変換を行うことが可能となるようにしている。以下、そのCMOS−RAM104からのデータの出力方法について説明する。
図6は、従来構成の光メモリにおけるCMOS−RAMや、図2や図3に示した構成例におけるCMOS−RAMでのデータの出力方法を示している。図6に示すように、k本の出力端子から、一度にk本のデータd〜dを各端子毎に一回の動作によって出力する。
一方、図5の構成例でのデータの出力方法は、図7に示すように、例えばビットレートを1/c(cはkの因数)にする際には、CMOS−RAM104のk本の出力端子に対して、k/c個のデータと(c−1)・k/c個の「0」のあわせてk個の信号を出力させることとする。kビットの出力光パケットを再構築するためには、同様の出力を全部でc回繰り返す必要があるが、その出力間隔は入力光パケットのビット間隔をτinとすると、k・τinとすればよい。
このように、電気−光型パラレル−シリアル変換器105からの読み出しトリガを調整することにより、CMOS−RAM104からのデータを図7に示すように出力することで、光メモリにおける電気−光型のパラレル−シリアル変換器の構成を変えることなく、動的にビットレートを変換することが可能となる。
図5の構成例で、必ずしも動的に出力ビットレートを変更する必要が無い場合は、CMOS−RAM104から「0」を出力する代わりに、電気−電気型パラレル−シリアル変換器305の該当する入力端子の電圧をあらかじめグラウンド(GND)に落としておいても同様の効果が得られる。
(第の実施形態)
図8は、本発明の第4の実施形態における上記の電気−電気型パラレル−シリアル変換器305の回路構成例を示す。電気−電気型のパラレル−シリアル変換器305は、光遅延線304からの光信号の照射によってその抵抗値が変わる金属−半導体−金属光検出器(Metal-semiconductor-metal photodetector: MSM−PD)801、CMOS−RAM104からのデータを電荷として蓄積するためのキャパシタ802、キャパシタ802を充電する時間(CR時定数)を調整するための抵抗803、キャパシタ802に充電された電荷が流れる出力用の高周波線路804、および出力電気信号を光変調器203が駆動できるだけの電圧に増幅するための電気増幅器(アンプ)805を有する。
キャパシタ802への充電時間は、抵抗803の抵抗値とキャパシタ802のキャパシタンスの積で決まり、キャパシタ802からの放電時間は、MSM−PD801のオン抵抗とキャパシタ802のキャパシタンスの積で決まることを考慮すると、抵抗803の抵抗値がMSM−PD801のオン抵抗値よりも十分に大きい場合において、CMOS−RAM104からのデータ(入力パラレル電気信号)を入力し、キャパシタ802に充電された状態で、MSM−PD801に短パルスが光照射されると、MSM−PD801の抵抗値が下がり、キャパシタ802から放電して出力線路804にデータが流れるが、キャパシタ802の充電の時定数はその放電の時定数よりも十分に大きいため、MSM−PD801がオン状態になっている時間は、放電のみが選択的に行われることになる。このため、入力側からはほとんど影響を受けることなく、入力パラレル電気信号をシリアル電気信号として出力する機能が実現される。
以上、本発明を実施するための最良の形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載の範囲内であれば、その数値限定、変形、置換等は本発明の実施形態に含まれる。
本発明は、動的、かつ任意のビットレート変換機能が実現できるため、高性能な光ルータやノードデバイスが実現可能となる。
本発明の光信号処理装置の全体の構成例を示すブロック図である。 本発明の特徴構成と対比するための参考例としての電気−光型パラレル−シリアル変換器の構成例を示すブロック図である。 本発明の電気−光型パラレル−シリアル変換器の実施形態の構成例を示すブロック図である。 本発明の電気−光型パラレル−シリアル変換器の他の実施形態の構成例を示すブロック図である。 本発明の電気−光型パラレル−シリアル変換器の更に他の実施形態の構成例を示すブロック図である。 従来のCMOS−RAMからのデータ出力形態を説明するブロック図である。 本発明の図5の実施形態におけるCMOS−RAMからのデータ出力形態を説明するブロック図である。 本発明の実施形態における電気−電気型パラレル−シリアル変換器の構成例を示す回路図である。
符号の説明
101 光−光型シリアル−パラレル変換器
102 PDアレイ
103 光クロック発生器
104 CMOS−RAM
105 電気−光型パラレル−シリアル変換器
201 光パルス光源
202 分波器
203 光変調器
204 光遅延線
205 合波器
301 光パルス列発生器
302 分波器
303 分波器
304 光遅延線
305 電気−電気型パラレル−シリアル変換器
306 サンプルホールド部
401 データ配列組み替え器
801 MSM−PD
802 キャパシタ(コンデンサ)
803 抵抗
804 高周波線路
805 電気増幅器

Claims (7)

  1. 光パルス発生器、光−電気型シリアル−パラレル変換器、電子メモリ、および電気−光型パラレル−シリアル変換器を用いて光信号を処理する光信号処理装置において、
    前記電気−光・パラレル−シリアル変換器が、
    光パルス光源と、
    前記光パルス光源から出力する光信号をm本(mは2以上の整数)に分波する第1の分波器と、
    前記第1の分波器で分波されたm本の並列光信号をそれぞれさらにn(n=k/m)本ずつに分波する(nは2以上の整数)第2の分波器と、
    前記m組のn本に分波された並列光信号を遅延させるb・m・τin(τinは入力光パケットのビット間隔、bは正数)の間隔で順次長さが長くなるm組の各n本の第1の光遅延線と、
    前記電子メモリから読み出された並列電気信号をn個単位でサンプリングするm組のサンプルホールド部と、
    前記サンプルホールド部において前記n個単位でサンプリングされ蓄積された電荷を前記第1の光遅延線からの光信号により1/(b・m・τin)のビットレートをもつnビットの電気パルス列信号として取り出すm組の電気−電気型パラレル−シリアル変換部と、
    前記パルス光源から分岐させた光パルスからビット間隔がb・m・τinであるnビットの光パルス列を発生させる光パルス列発生器と、
    前記光パルス列発生器で発生した前記光パルス列をm個に分波する第3の分波器と、
    前記第3の分波器で分波されたm本の並列光信号を前記m組の電気−電気型パラレル−シリアル変換部から出力するnビットm組の並列電気信号で変調するm個の光変調器と、
    前記m個の光変調器の入力側又は出力側においてm本の並列光信号をb・τinずつの時間で遅延させる第2の光遅延器と、
    前記第2の光遅延器で遅延されたm本の並列光信号を1本の光パルス列に合波して1/(b・τin)のビットレートの出力光パケット信号として出力する合波器と
    を有することを特徴とする光信号処理装置。
  2. 光パルス発生器、光−電気型シリアル−パラレル変換器、電子メモリ、および電気−光型パラレル−シリアル変換器を用いて光信号を処理する光信号処理装置において、
    前記電気−光型パラレル−シリアル変換器が、
    光パルス光源と、
    前記光パルス光源から出力する光信号をm本(mは2以上の整数)に分波する第1の分波器と、
    前記第1の分波器で分波されたm本の並列光信号をそれぞれさらにn(n=k/m)本ずつに分波する(nは2以上の整数)第2の分波器と、
    前記m組のn本に分波された並列光信号を遅延させるb・m・τin(τinは入力光パケットのビット間隔、bは正数)の間隔で順次長さが長くなるm組の各n本の第1の光遅延線と、
    前記電子メモリから読み出された並列光信号のデータ配列を交換するデータ配列組み替え装置と、
    前記データ配列組み替え装置からの並列電気信号をn個単位でサンプリングするm組のサンプルホールド部と、
    前記サンプルホールド部において前記n個単位でサンプリングされ蓄積された電荷を前記第1の光遅延線からの光信号により1/(b・m・τin)のビットレートを持つnビットの電気パルス列信号として取り出すm組の電気−電気型パラレル−シリアル変換部と、
    前記パルス光源から分岐させた光パルスからビット間隔がb・m・τinであるnビットの光パルス列を発生させる光パルス列発生器と、
    前記光パルス列発生器で発生された前記光パルス列をm個に分波する第3の分波器と、
    前記第3の分波器で分波されたm本の並列光信号を前記m組の電気−電気型パラレル−シリアル変換部から出力するnビットm組の並列電気信号で変調するm個の光変調器と、
    前記m個の光変調器の入力側又は出力側においてm本の並列光信号をb・k・τinずつの時間を遅延させる第2の光遅延器と、
    前記第2の光遅延器で遅延されたm本の並列光信号を1本の光パルス列に合波して1/(b・m・τin)のビットレートの出力光パケット信号とする合波器と
    を有することを特徴とする光信号処理装置。
  3. 光パルス発生器、光−電気・シリアル−パラレル変換器、電子メモリ、および電気−光型パラレル−シリアル変換器を用いて光信号を処理する光信号処理装置において、
    前記電子メモリが、1度にk/c(cはkの因数)個のデータと(c−1)・k/c個の「0」の合わせてk個の信号を出力し、
    さらに、前記電気−光型パラレル−シリアル変換器が、
    光パルス光源と、
    前記光パルス光源から出力する光信号をm本(mは2以上の整数)に分波する第1の分波器と、
    前記第1の分波器で分波されたm本の並列光信号をそれぞれさらにn(n=k/m)本ずつに分波する第2の分波器と、
    前記m組のn本に分波された並列光信号を遅延させるm・τin(τinは入力光パケットのビット間隔)の間隔で順次長さが長くなるm組の各n本の第1の光遅延線と、
    前記電子メモリから読み出されたm組の並列電気信号をn個単位でサンプリングするm組のサンプルホールド部と、
    前記サンプルホールド部において前記n個単位でサンプリングされ蓄積された電荷を前記第1の光遅延線からの光信号により1/(m・τin)のビットレートをもつnビットの電気パルス列信号として取り出すm組の電気−電気型パラレル−シリアル変換部と、
    前記パルス光源から分岐させた光パルスからビット間隔がm・τinであるnビットの光パルス列を発生させる光パルス列発生器と、
    前記光パルス列発生器から発生した光パルス列をm個に分波する第3の分波器と、
    前記第3の分波器で分波されたm本の並列光信号を前記m組の電気−電気型パラレル−シリアル変換部から出力するnビットm組の並列電気信号で変調するm個の光変調器と、
    前記m個の光変調器の入力側又は出力側においてm本の並列光信号をm・τinずつの時間を遅延させる第2の光遅延器と、
    前記第2の光遅延器で遅延されたm本の並列光信号を1本の光パルス列に合波して1/(c・τin)のビットレートの出力光パケット信号とする合波器と
    を有することを特徴とする光信号処理装置。
  4. 前記電気−電気型パラレル−シリアル変換部は、
    前記第1の光遅延線からの光信号の照射によってその抵抗値が変わる金属−半導体−金属光検出器と、
    前記サンプルホールド部からのデータを電荷として蓄積するキャパシタと、
    前記キャパシタを充電する時間(CR時定数)を調整する抵抗と、
    前記キャパシタに充電された電荷が前記金属−半導体−金属光検出器を通じて流れる出力用の高周波線路と、
    前記高周波線路に流れる出力電気信号を前記光変調器が駆動できるだけの電圧に増幅する増幅器と
    を有することを特徴とする請求項乃至のいずれかに記載の光信号処理装置。
  5. 高速な光パケットを信号処理することの可能な光信号処理方法であって、
    入力する光パケット信号をk本ずつの並列電気信号に変換し、
    前記k個の並列電気信号を電子回路により構成された電子メモリに書き込み、
    前記電子メモリからk個の並列電気信号を同時に読み出して、n個の電気信号を保持するm(m=k/n)組のサンプルホールド回路によって蓄積された電荷を各々1/(b・m・τin)(bは1でない正数)のビットレートをもつm組のnビット電気パルス列信号として出力させ、
    光パルス光源から出力された光パルスをm個に分岐し、
    前記m組のnビット電気パルス列信号を印加した光変調器を通過させることで、m本の光信号列に変換し、それらをb・τinずつ遅延させ、再び合波器によって合わせることで、1/(b・τin)のビットレートをもつ1本の光パケット信号に変換する
    ことを特徴とする光信号処理方法。
  6. 高速な光パケットを信号処理することの可能な光信号処理方法であって、
    入力する光パケット信号をk本ずつの並列電気信号に変換し、
    前記k個の並列電気信号を電子回路により構成された電子メモリに書き込み、
    前記電子メモリからk個の並列電気信号を同時に読み出して、データ配列を組み替えたうえで、n個の電気信号を保持するm(m=k/n)組のサンプルホールド回路によって蓄積された電荷を各々1/(b・m・τin)(bは1でない正数)のビットレートをもつm組のnビット電気パルス列信号として出力させ、
    光パルス光源から出力された光パルスをm個に分岐し、
    前記m組のnビット電気パルス列信号を印加した光変調器を通過させることで、m本の光信号列に変換し、それらをb・k・τinずつ遅延させ、再び合波器によって合わせることで、1/(b・m・τin)のビットレートをもつ1本の光パケット信号に変換する
    ことを特徴とする光信号処理方法。
  7. 高速な光パケットを信号処理することの可能な光信号処理方法であって、
    入力する光パケット信号をk本ずつの並列電気信号に変換し、
    前記k個の並列電気信号を電子回路により構成された電子メモリに書き込み、
    前記電子メモリからk/c(cはkの因数)個のデータと(c−1)・k/c個の「0」の合わせてk個の並列電気信号を1度に出力させて、n個の電気信号を保持するm(m=k/n)組のサンプルホールド回路によって蓄積された電荷を各々1/(m・τin)のビットレートをもつm組のnビット電気パルス列信号として出力させ、
    光パルス光源から出力された光パルスをm個に分岐し、
    前記m組のnビット電気パルス列信号を印加した光変調器を通過させることで、m本の光信号列に変換し、それらをm・τinずつ遅延させ、再び合波器によって合わせることで、1/(c・τin)のビットレートをもつ1本の光パケット信号に変換する
    ことを特徴とする光信号処理方法。
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