JP4026385B2 - 電気脱イオン装置の制御方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は原水を電気的に脱塩処理(脱イオン処理)するための電気脱イオン装置の制御方法に係り、特に電気脱イオン装置への通電電流値を制御する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、半導体製造工場、液晶製造工場、製薬工業、食品工業、電力工業等の各種の産業又は民生用ないし研究施設等において使用される脱イオン水の製造装置として、図3に示す如く、電極(陽極11,陰極12)の間に複数のアニオン交換膜13及びカチオン交換膜14を交互に配列して濃縮室15と脱塩室16とを交互に形成し、脱塩室16にイオン交換樹脂、イオン交換繊維もしくはグラフト交換体等からなるアニオン交換体及びカチオン交換体を混合もしくは複層状に充填した電気脱イオン装置が公知である(特許第1782943号、特許第2751090号、特許第2699256号)。なお、図3において、17は陽極室、18は陰極室である。
【0003】
電気脱イオン装置は、水解離によってH+イオンとOH−イオンを生成させ、脱塩室内に充填されているイオン交換体を連続して再生することによって、効率的な脱塩処理が可能であり、従来から広く用いられてきたイオン交換樹脂装置のような薬品を用いた再生処理を必要とせず、完全な連続採水が可能で、高純度の水が得られるという優れた効果を発揮する。
【0004】
このような電気脱イオン装置におけるシリカ除去性能に電流値が関係することは知られていたが、濃縮室における濃度の影響等は明確とされていなかった。
【0005】
このため、従来においては、電流値とシリカ除去率との関係などの経験的なデータをもとに定められた運転マニュアル等により電気脱イオン装置の電流制御が行われていた。
【0006】
しかし、このような制御方法では、水量や回収率等の条件が異なった場合や、被処理水の濃度変動等に対応して必要電流値を正確に求めることができない。このようなことから、従来においては、電気脱イオン装置の電流値の自動制御運転等は全く行われていない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、電気脱イオン装置における脱塩のための電流値を制御し、目標とする濃度の生産水を生産することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明の電気脱イオン装置の制御方法は、水を脱イオン処理するための電気脱イオン装置を制御する方法であって、該電気脱イオン装置は、陽極及び陰極と、該陽極と陰極との間にカチオン交換膜及びアニオン交換膜を配置することに形成された濃縮室及び脱塩室とを備えており、該脱塩室に原水が通水されて生産水として取り出され、該濃縮室に濃縮水が通水され、該陽極と陰極との間に電源装置から直流電流が通電され、この電流量が制御装置によって制御される電気脱イオン装置の制御方法であって、該脱塩室に導入される原水の濃度及び流量と、目標とする生産水の濃度とを該制御装置に入力して目標とする生産水の濃度を達成するために必要な電流値を演算し、この演算された電流を該陽極と陰極の間に通電する電気脱イオン装置の制御方法において、前記原水の一部と、前記濃縮室流出水の一部とを濃縮室に導入し、濃縮室流出水の残部を電気脱イオン装置外に排出する方法であって、脱塩室内の流量Q、濃縮室内の流量s・Q、電気脱イオン装置外に排出する濃縮水量r・Qをそれぞれ設定しておき、これらの設定値を予め前記制御装置に入力しておき、原水の濃度と目標生産水濃度とに応じて前記電流値を演算することを特徴とするものである。
【0009】
かかる本発明によると、原水の濃度及び流量と生産水の目標濃度とを制御装置に与えて電流値を決定するため、制御を自動化することができる。
【0010】
本発明では、原水の一部と、前記濃縮室流出水の一部とを濃縮室に導入し、濃縮室流出水の残部を電気脱イオン装置外に排出する。脱塩室内の流量Q、濃縮室内の流量s・Q、電気脱イオン装置外に排出する濃縮水量r・Qをそれぞれ設定しておき、これらの設定値を予め前記制御装置に入力しておき、原水の濃度と目標生産水濃度とに応じて前記電流値を演算することにより、目標濃度の生産水を確実に生産することができる。ここで、sは脱塩室流量に対する濃縮室流量の比率、rは脱塩室流量に対する濃縮室からの排出流量の比率である。
【0011】
本発明では、脱塩室から濃縮室へのイオンの移動量を、[脱塩室内のイオン濃度、及び、電流値に比例して脱塩室から濃縮室へ移動するイオン移動量]から、[イオン交換膜の膜面積、及び、濃縮室内のイオン濃度と脱塩室内のイオン濃度との濃度差に比例して濃縮室から脱塩室へ移動するイオン移動量]を減算した量とすることが好ましい。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して実施の形態について説明する。図1は実施の形態に係る制御方法が適用される電気脱イオン装置の概略的なモデル図、図2は動作解析を差分方程式にて行う場合のモデル図である。
【0014】
図1において、原水は配管1から流量Qにて脱塩室2に導入され、同じく流量Qにて脱塩室2から配管3を介して生産水として取り出される。
【0015】
原水の一部は、配管1から分岐した配管4を介して濃縮室5に導入され、濃縮室流出水の一部は配管6から電気脱イオン装置外に排出される。濃縮室流出水の残部は、配管6から分岐した配管7及びポンプ8を介して前記配管4内の分岐原水と合流されて濃縮室5に循環される。脱塩室3と濃縮室5とはイオン交換膜9(この場合はアニオン交換膜)により隔てられている。
【0016】
濃縮室内の流量は、脱塩室流量Qに比率sを乗じた流量s・Qであり、電気脱イオン装置外に排出される流量は、脱塩室流量Qに比率rを乗じた流量r・Qである。当然ながら、電気脱イオン装置に供給される原水の総量は(1+r)Qであり、また、配管7を流れる濃縮水循環流量は、(s−r)・Qとして表現される。
【0017】
原水中の除去対象とする解離性化合物(この実施の形態ではシリカ)濃度がc0(μg/L)であり、生産水の目標濃度がcNである。
【0018】
脱塩室2内の流入口から距離xの地点では、水中のシリカ濃度はcとなっている。
【0019】
濃縮室5では、流入口のシリカ濃度はc0’であり、流出する濃縮水のシリカ濃度はcN’である。濃縮室5内の流入口から距離xの地点では、水中のシリカ濃度はc’となっている。
【0020】
また、脱塩室2から濃縮室5へ電気脱イオン装置の電極間の電位差に基づいて移動する単位時間当りのシリカ移動量をK(μg/Hr)とし、濃縮室5から脱塩室2へシリカ濃度差に基づいて移動する単位時間当りのシリカ移動量をK’(μg/Hr)とする。
【0021】
電気脱イオン装置の陽極から陰極へ流れる電流をi(A)とする。
【0022】
図1に示す通り、流入口から距離xの地点における水の流れ方向(流入口と流出口とを結ぶ方向。図1の左右方向)の微少幅をdxとする。この微少幅dxに属するイオン交換膜8の膜面積をmとする。この膜面積mはdxに脱塩室の幅を乗じた面積である。脱塩室の幅は、上記の水の流れ方向と直交方向の幅である。
【0023】
この微少幅dxに属する膜面積mの領域を電位差により脱塩室2から濃縮室5へ透過する単位時間当りのシリカ移動量dKは、脱塩室シリカ濃度cと電流値iに比例するので、比例定数kを用いて
dK=k・c・i・dx (1)
として表される。
【0024】
同様に、シリカ濃度に用いて該領域を濃縮室5から脱塩室2へ透過する単位時間当りのシリカ移動量dK’は両室のシリカ濃度差(c’−c)と該領域の面積mとに比例するので比例定数k’を用いて
dK’=k’・(c’−c)・m・dx (2)
として表される。
【0025】
脱塩室2内における前記距離xの地点における物質収支から次の(3)式が導かれる。
Q・dc/dx=dK/dx−dK’/dx (3)
左辺のdc/dxは、前記流入口から距離xの地点における水の流れ方向の濃度勾配であり、Q・dc/dxは、この距離xの地点の脱塩室断面を通過することにより減少するシリカ量である。
【0026】
(3)式の右辺のdK/dxは地点xにおける脱塩室から濃縮室への移動シリカ量であり、dK’/dxは地点xにおける濃縮室から脱塩室への移動シリカ量であるから、両者の差(dK/dx−dK’/dx)は上記Q・dc/dxに等しい。
【0027】
同様に、濃縮室5内における流入口から距離xの地点での物質収支より次の(4)式が導かれる。
−s・Q・dc’/dx=dK/dx−dK’/dx (4)
なお、(4)式の左辺のs・Qが濃縮室内の流量であることは前記の通りである。
【0028】
この電気脱イオン装置の全体のシリカ収支、即ち単位時間当りの電気脱イオン装置への原水総量中のシリカ量と、生産水(流量Q)及び排出濃縮水(流量r・Q)とによって持ち出されるシリカ量とが等しいことから、次の(5)式が導かれる。
(1+r)・Q・c0=Q・cN+r・Q・cN’ (5)
【0029】
同様に、配管4と配管7との合流地点でのシリカ収支より、次の(6)式が導かれる。当然ながら、(6)式の右辺は配管4と配管7とから流入するシリカ量の和であり、左辺は合流後のシリカ量である。
s・Q・c0’=r・Q・c0+(s−r)・Q・cN’ (6)
【0030】
上記各式(1)〜(6)と変数・定数の内容を次にまとめて示す。
dK=k・c・i・dx (1)
dK’=k’・(c’−c)・m・dx (2)
Q・dc/dx=dK/dx−dK’/dx (3)
−s・Q・dc’/dx=dK/dx−dK’/dx (4)
(1+r)・Q・c0=Q・cN+r・Q・cN’ (5)
s・Q・c0’=r・Q・c0+(s−r)・Q・cN’ (6)
Q:脱塩室流量(L/min)
s・Q:濃縮室流量(L/min)
r・Q:電気脱イオン装置外への排出濃縮水流量(L/min)
K:脱塩室から濃縮室への電位による移動量(μg/min)
k:定数
c:脱塩室濃度(μg/L)
i:電流(dx部)(A)
K’:濃縮室から脱塩室への電位による移動量(μg/min)
k’:定数
c’:濃縮室濃度(μg/L)
m:膜面積(dx部)(cm2)
なお、上記の流量、濃度等の単位は一例であり、これに限定されない。
【0031】
上記の(1)〜(6)式では、電極間の電流iは各室の水の流れ方向において均一に流れる(電流密度が同じ)ことを前提としている。種々の実験の結果、電流分布はほぼ均一として扱い得ることが認められた。
【0032】
なお、実験の結果、脱塩室2のうち流入口近傍では、塩素イオンが多量に存在し、シリカは殆ど解離せず、脱塩室から濃縮室へは移動しない現象が認められた。そこで、流入口に近い所定の範囲では、シリカは移動せず、残りの範囲でのみシリカが移動(膜を透過)するものとして扱うのが適切である。本発明では、シリカ移動が生じない範囲は、脱塩室全長Xに対し電流効率e(%)を乗じた範囲即ちL=X・(e/100)の範囲と扱うのが好適である。
【0033】
水道水を活性炭、逆浸透(RO)装置、脱気膜で処理したシリカ濃度200μg/Lの水を用いて実験を行ったところ、
脱塩室流量Q:13.3L/min
膜面積:739.2cm2
濃縮室シリカ平均濃度:2000μg/L
脱塩室シリカ平均濃度:100μg/L
濃縮室流出水シリカ濃度:2157μg/L
であり、これらの値を(2)式の積分式に代入することにより
k’=0.000229
と算出された。kについては、種々のkの値を用いてシミュレーションを行い、実測値と照合したところk=120を採用すればよいことが認められた。なお、この場合、シリカの透過は流入側のX・(e/100)の範囲では行われないと扱った。シミュレーションに際しては、(1)〜(6)式を解く必要があり、この場合(1)〜(6)式より次のようにして後述の(10)式を導き、これを差分法により解いた。
【0034】
即ち、(5),(6)式より、
ここで、c0はcNに著しく大である、即ち、
c0>>cNであるので、
c0−cN=c0 (9)
【0035】
(8),(9)式より、次の(10)式が導かれる。
【0036】
ここで、図1は図2の通り脱塩室濃度分布が階段状に変化する差分型とみなし、(1)〜(4)式を差分方程式と扱い、差分式とした(3),(4)式に差分式とした(1),(2)式を代入して次の(12),(13)式を導いた。
【0037】
(12),(13)式において、Δxを十分小さくして例えばΔx=1cmとし、c0〜cNまで順次計算を行うことにより、生産水濃度が求められる。
【0038】
電流値iを種々変えて生産水シリカ濃度を演算しこの生産水のシリカ濃度が目標濃度となる電流値iを選び出して電気脱イオン装置に通電すればよい。実際には安全率(例えば1.2)をiに乗じた通電を行うのが好ましい。
【0039】
なお、図2において、脱塩室内のシリカ濃度は、流入口側がc0であり、幅Δx毎にc1,c2,c3………,cn,cn+1………と階段状に変化し、生産水シリカ濃度がcNとなっている。濃縮室内は、同様にシリカ濃度が流入口から流出口にかけてc0’,c1’,c2’………,cn’,cn+1’………cN’と階段状に変化する。
【0040】
本発明では、原水中のシリカ濃度は連続式測定器によって連続して測定するのが好ましい。電気脱イオン装置の電源装置としては安定化電源装置が好ましい。電気脱イオン装置は単段で運転されてもよく、2段以上直列に接続されてもよい。
【0041】
本発明において、pH条件については以下のように扱ってもよい。即ち、原水が中性であれば解離によるシリカのイオン比はほぼ0であるため、上記Lの範囲においてシリカ移動はないとし、また例えば原水pH=9.86であれば上記Lの範囲内において、式(1)にイオン解離率=0.5を掛けた移動量となるように計算する。
【0042】
【実施例】
水道水を活性炭−RO−脱気膜で処理した水を原水とし、図1の電気脱イオン装置に通水した。電気脱イオン装置は、3室の脱塩室を有し、有効高さ66cm×幅11.2cm×厚さ2.5mmとした。イオン交換樹脂として、アニオン交換樹脂60%、カチオン交換樹脂40%の混合樹脂を、脱塩室にのみ充填した。濃縮室内にはスペーサを配置した。
【0043】
通水量Q等は次の通りである。
Q=13.3L/Hr(脱塩室1室当り)
r=0.9
s=0.3
【0044】
コンピュータで前記式(9),(10)に従って生産水シリカ濃度を10ppbにするように自動計算、自動制御させた。
【0045】
運転当初は供給水のシリカ濃度を100ppbで運転したところ、自動計算された0.3Aの電流値で運転が行われた。また、運転500時間からシリカを添加し供給水のシリカ濃度を500ppbとしたところ、自動計算された0.8Aで運転が行われた。運転時間1000時間より1500時間まで、シリカ濃度を200ppbで運転したところ、自動計算された電流値0.4Aで運転が行われた。
【0046】
処理水のシリカを連続モニターした結果は、いずれの時期においても8〜10ppbであり、自動制御運転により低シリカ濃度の生産水を生産できることが認められた。
【0047】
【発明の効果】
以上の通り、本発明によると、目標とする濃度の生産水を確実に生産するよう電気脱イオン装置を制御することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態に係る方法が適用される電気脱イオン装置の制御方法の模式図である。
【図2】実施の形態に係る方法が適用される電気脱イオン装置の制御方法の模式図である。
【図3】電気脱イオン装置の一般的な構成を示す模式的な断面図である。
【符号の説明】
2 脱塩室
5 濃縮室
8 ポンプ
9 イオン交換膜
10 イオン交換体
11 陽極
12 陰極
13 アニオン交換膜
14 カチオン交換膜
15 濃縮室
16 脱塩室
17 陽極室
18 陰極室
Claims (4)
- 水を脱イオン処理するための電気脱イオン装置を制御する方法であって、
該電気脱イオン装置は、陽極及び陰極と、該陽極と陰極との間にカチオン交換膜及びアニオン交換膜を配置することに形成された濃縮室及び脱塩室とを備えており、
該脱塩室に原水が通水されて生産水として取り出され、該濃縮室に濃縮水が通水され、
該陽極と陰極との間に電源装置から直流電流が通電され、この電流量が制御装置によって制御される電気脱イオン装置の制御方法であって、
該脱塩室に導入される原水の濃度及び流量と、目標とする生産水の濃度とを該制御装置に入力して目標とする生産水の濃度を達成するために必要な電流値を演算し、この演算された電流を該陽極と陰極の間に通電する電気脱イオン装置の制御方法において、
前記原水の一部と、前記濃縮室流出水の一部とを濃縮室に導入し、濃縮室流出水の残部を電気脱イオン装置外に排出する方法であって、
脱塩室内の流量Q、
濃縮室内の流量s・Q、
電気脱イオン装置外に排出する濃縮水量r・Q
をそれぞれ設定しておき、これらの設定値を予め前記制御装置に入力しておき、原水の濃度と目標生産水濃度とに応じて前記電流値を演算することを特徴とする電気脱イオン装置の制御方法。 - 請求項1において、前記脱塩室から濃縮室へのイオンの移動量を、
[脱塩室内のイオン濃度、及び、電流値に比例して脱塩室から濃縮室へ移動するイオン移動量]から、
[イオン交換膜の膜面積、及び、濃縮室内のイオン濃度と脱塩室内のイオン濃度との濃度差に比例して濃縮室から脱塩室へ移動するイオン移動量]
を減算した量とすることを特徴とする電気脱イオン装置の制御方法。 - 請求項1又は2において、前記脱塩室は、一端側に原水の流入口を備え、他端側に生産水の流出口を備えたものであり、
この一端側の所定範囲では弱電解質が脱塩室から濃縮室へ移動しないものとして制御を行うことを特徴とする電気脱イオン装置の制御方法。 - 請求項3において、前記所定範囲を、電気脱イオン装置の電流効率に比例して設定することを特徴とする電気脱イオン装置の制御方法。
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