JP3966336B2 - Inspection method and inspection system for component mounting board, and manufacturing method of component mounting board - Google Patents
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Description
この発明は、処理対象の基板を複数の工程に順に導いて各工程による処理を実行して部品実装基板を製造する技術に関する。特に、この発明は、前記複数の工程の少なくとも2箇所に検査機を配備して、その工程実行後の基板に画像処理による検査を実行するようにした技術に関する。 The present invention relates to a technique for manufacturing a component mounting board by guiding a substrate to be processed to a plurality of processes in order and executing a process in each process. In particular, the present invention relates to a technique in which inspection machines are provided in at least two places of the plurality of steps, and inspection by image processing is performed on a substrate after the execution of the steps.
部品実装基板の一般的な製造工程には、プリント配線板にクリームはんだを印刷する工程(はんだ印刷工程)、クリームはんだが塗布された位置に部品を搭載する工程(部品実装工程)、部品登載後の基板を加熱して部品を基板にはんだ付けする工程(はんだ付け工程)が含められる。これらの工程を一連に実行するようにした基板製造ラインには、各工程で生じた不良基板が下流に流れないように、工程毎に外観検査用の検査機を設けて検査を実行し、不良と判定された基板を取り除くようにしたものがある。 The general manufacturing process of a component mounting board includes a process of printing cream solder on a printed wiring board (solder printing process), a process of mounting a part at a position where cream solder is applied (component mounting process), and after mounting the part. The process of heating the board | substrate and soldering components to a board | substrate (soldering process) is included. In order to prevent defective substrates generated in each process from flowing downstream, a board inspection line is provided for each process in order to carry out inspections. There is one in which the substrate determined to be removed is removed.
また、従来の検査システムには、各検査機と通信可能なサーバーを設け、各検査機からサーバーに基板毎の検査結果を送信するようにしたものがある。この場合、サーバーにおいて、不良の出現頻度や検査結果の推移を検査機毎に分析して、不良の発生を予防したり、製品の品質を改善するのに有効なメンテナンスルールを作成し、そのルールを各工程にフィードバックするようにしたシステムが提案されている(特許文献1参照)。 Some conventional inspection systems include a server capable of communicating with each inspection machine, and transmits the inspection result for each substrate from each inspection machine to the server. In this case, the server analyzes the occurrence frequency of defects and the transition of inspection results for each inspection machine, creates maintenance rules that are effective in preventing the occurrence of defects and improving product quality. Has been proposed (see Patent Document 1).
特許文献1に開示された検査システムでは、工程毎に、その工程で生じた不良の内容と製造用装置(はんだ印刷機、マウンタ、リフロー炉などを指す。)に生じたトラブルとの関係を導き出すようにしているので、製造用装置の経時変化により発生する不良を予防するには有効である。しかしながら、基板製造過程で生じる不良は、製造用装置の経時変化によるものに限らず、不明確な原因により突発的に生じるものもある。このような突発的な不良の原因を解明するには、その不良が発生した工程の基板に着目するのみならず、不良が発生するより前の工程での基板がどのような状態にあったかを確認するのが望ましい。
In the inspection system disclosed in
また、自動化された工程を一連に実行するようにした基板製造ラインでは、途中の工程で不良が発生しても、その不良基板を取り除かずに下流に流してしまう場合がある。この場合に、発生した不良が軽微なもので、下流の工程でその不良が是正されたり、下流の工程の処理により不良部位が隠れてしまうなどすると、下流の工程では、同じ基板が良品と判定されることがある。このような基板に対しては、各工程における基板がどのような状態であったかをユーザー自身が確認し、最終的な良否判断を行うのが望ましい。 In addition, in a substrate production line in which automated processes are executed in series, even if a defect occurs in an intermediate process, the defective substrate may flow downstream without being removed. In this case, if the defect that occurred is minor and the defect is corrected in the downstream process or the defective part is hidden by the process in the downstream process, the same substrate is determined to be a good product in the downstream process. May be. For such a substrate, it is desirable that the user confirms the state of the substrate in each process and makes a final pass / fail judgment.
また、中間工程の検査機に設定されている検査基準が厳しすぎるために、その検査機では不良判定がなされるが、下流の工程では良品と判定されるケースもある。このような場合に、ユーザー自身が各工程における基板の状態を確認できるようにすれば、前記不良と判定された基板を良品としても差し支えないことを確認した上で、この判定をした検査機の検査基準を修正するなど、適切な対応をとることができる。 In addition, since the inspection standard set in the inspection machine in the intermediate process is too strict, the defect is determined in the inspection machine, but it may be determined as a non-defective product in the downstream process. In such a case, if the user himself / herself can confirm the state of the substrate in each process, it is confirmed that the substrate determined to be defective may be regarded as a non-defective product, and the inspection machine that has made this determination Appropriate measures can be taken, such as correcting inspection standards.
この発明は、上記の点に着目してなされたもので、複数の工程のいずれかにおいて、所定の基板の所定の部品に対応する検査領域に不良があると判定されたとき、その不良判定にかかる部品について、各検査機が対応する検査領域の検査に使用した画像を、ユーザーが比較しながら確認できるようにすることを目的とする。 The present invention has been made paying attention to the above points, and in any of a plurality of processes, when it is determined that there is a defect in an inspection area corresponding to a predetermined part of a predetermined substrate, the defect determination is performed. It is an object of the present invention to allow a user to check an image used for inspection of an inspection area corresponding to each inspection machine while comparing the parts .
この発明は、処理対象の基板を複数の工程に順に導いて各工程による処理を実行する方法で部品実装基板を製作する場合に適用される。複数の工程には、はんだ印刷工程、部品実装工程、はんだ付け工程の3工程が含まれるのが望ましい。これらの工程の間に、基板を搬送するためのコンベア装置を設けた場合には、処理対象の基板を各工程に順に送り込んで各工程による処理を一連に実施し、部品実装基板を完成させることができる。ただし、各工程は必ずしも繋がっている必要はなく、ある工程と次の工程とが物理的に切り離された状態であってもよい。 The present invention is applied to a case where a component mounting board is manufactured by a method in which a substrate to be processed is guided to a plurality of processes in order and a process in each process is executed. It is desirable that the plurality of processes include three processes of a solder printing process, a component mounting process, and a soldering process. If a conveyor device is provided between these processes to convey the board, the board to be processed is sent to each process in turn, and the process in each process is performed in a series to complete the component mounting board. Can do. However, each process does not necessarily need to be connected, and a certain process and the next process may be physically separated.
この発明にかかる部品実装基板の検査方法および検査システムは、部品実装基板を製造するために一連に実行される複数の工程の少なくとも2箇所にそれぞれ画像処理による検査を行う検査機を配備して、その工程実行後の基板の画像を用いた検査を実行するものである。また、この発明では、各検査機に通信可能な情報処理装置を設置するようにしている。 In the component mounting board inspection method and inspection system according to the present invention, an inspection machine that performs inspection by image processing is provided in at least two places of a plurality of steps that are sequentially executed to manufacture a component mounting board, The inspection using the image of the substrate after the execution of the process is executed. In the present invention, an information processing apparatus capable of communicating is installed in each inspection machine.
前記検査機は、カメラを有する外観検査装置として構成することができる。または、X線による透視画像を用いた検査装置とすることもできる。検査機、情報処理装置とも、1台または複数台のコンピュータで構成することができる。また、各検査機と情報処理装置との通信は、LAN回線などのネットワーク回線を介して行われるのが望ましいが、これに限らず、無線による通信を行うようにしてもよい。また、各検査機の間でも、相互に通信ができるようにしてもよい。 The inspection machine can be configured as an appearance inspection apparatus having a camera. Or it can also be set as the inspection apparatus using the fluoroscopic image by X-rays. Both the inspection machine and the information processing apparatus can be configured by one or a plurality of computers. In addition, communication between each inspection machine and the information processing apparatus is preferably performed via a network line such as a LAN line. However, the present invention is not limited to this, and wireless communication may be performed. Moreover, you may enable it to mutually communicate also between each test | inspection machine.
この発明にかかる部品実装基板用の検査方法では、各検査機において、あらかじめ登録された設定データに基づき、前記基板の画像に各部品に対応する検査領域を設定して検査領域毎に検査を実行し、検査領域毎の良否判定結果をそれぞれ前記検査領域および基板の識別情報に対応づけた検査結果情報を作成して前記情報処理装置に送信するステップaと、前記検査に用いられた各検査領域の画像データを、それぞれ前記検査領域および基板の識別情報により読み出し可能な状態でメモリに保存するステップbとを実行するとともに、前記情報処理装置から所定の基板および検査領域の識別情報を含む送信要求を受信したとき、これらの識別情報を用いて前記送信要求に応じた画像データを前記メモリから読み出して、情報処理装置に送信するステップcを実行する。一方、情報処理装置は、各検査機からの検査結果情報のいずれかに不良判定を示す情報が含まれていたとき、当該不良判定を含む検査結果情報を用いてその不良判定に対応づけられた検査領域および基板の識別情報を特定するステップA;ステップAで特定した各識別情報を含む送信要求を作成して、すべての検査機に送信するステップB;前記送信要求に応じて各検査機から送信された画像データを、前記送信情報に含めた検査領域および基板の各識別情報に対応づけてメモリに保存するステップC;ステップCで保存された画像データに対応づけられた検査領域および基板の各識別情報の組み合わせの中から一組を特定して、その組み合わせに対応するすべての画像データを前記メモリから読み出して表示するステップD;の各ステップを実行する。 In the inspection method for a component mounting board according to the present invention, in each inspection machine, based on setting data registered in advance, an inspection area corresponding to each component is set in the image of the board and an inspection is executed for each inspection area. Step a for generating inspection result information in which the pass / fail judgment result for each inspection area is associated with the identification information of the inspection area and the substrate and transmitting the inspection result information to the information processing apparatus, and each inspection area used for the inspection And b storing the image data in the memory in a state where the image data can be read by the identification information of the inspection region and the substrate, respectively, and a transmission request including identification information of the predetermined substrate and the inspection region from the information processing apparatus when receiving, reads the image data corresponding to the transmission request using these identification information from the memory, it is transmitted to the information processing apparatus Performing step c. On the other hand, when information indicating a failure determination is included in any of the inspection result information from each inspection machine, the information processing apparatus is associated with the failure determination using the inspection result information including the failure determination. Step A for identifying the identification information of the inspection area and the substrate; Step B for creating a transmission request including each piece of identification information identified in Step A and transmitting it to all the inspection machines ; Step B from each inspection machine in response to the transmission request The transmitted image data is stored in the memory in association with the identification information of the inspection area and the substrate included in the transmission information; Step C of the inspection area and the substrate associated with the image data stored in Step C Steps D of identifying a set from among the combinations of identification information and reading out and displaying all image data corresponding to the combination from the memory To run.
上記において、「基板の識別情報」は、基板毎に個別に付与される情報であって、基板の適所に、バーコード、2次元コード、文字列などの形で付すことができる。この場合、各検査機では、検査対象の基板の画像から識別情報を読み取ってから、後の処理に使用することができる。また、各工程で基板が処理される順序が変更されず、また途中の工程で基板が取り除かれることがない場合には、各工程で、基板を受け付ける毎に、検査順序に対応する識別情報(番号など)を設定してもよい。 In the above description, the “substrate identification information” is information that is individually assigned to each substrate, and can be attached to an appropriate position on the substrate in the form of a barcode, a two-dimensional code, a character string, or the like. In this case, each inspection machine can read the identification information from the image of the substrate to be inspected and use it for subsequent processing. In addition, when the order in which the substrates are processed in each process is not changed and the substrate is not removed in the middle process, each time the substrate is received in each process, identification information ( Number etc.) may be set.
上記の方法によれば、いずれかの検査機において不良判定が行われると、情報処理装置では、この不良判定を行った検査機からの検査結果情報を用いて、不良判定がなされた基板および検査領域の識別情報を特定する。そして、特定された各識別情報を含む送信要求をすべての検査機に送信することにより、各検査機からこれらの識別情報に対応する画像データを送信させ、送信された画像データを、送信要求に含めた検査領域および基板の各識別情報に対応づけてメモリに保存する。さらに、このようにして保存された画像データを、検査領域および基板の各識別情報の組み合わせにより特定してメモリから読み出し、表示するので、ユーザーは、いずれかの工程の検査機で不良と判定された部位について、すべての検査機で生成された画像を比較しながら確認することができる。According to the above method, when a defect is determined in any of the inspection machines, the information processing apparatus uses the inspection result information from the inspection machine that has performed the defect determination, and the board and the inspection in which the defect is determined. Identify area identification information. Then, by transmitting a transmission request including each identified identification information to all inspection machines, the image data corresponding to these identification information is transmitted from each inspection machine, and the transmitted image data is sent to the transmission request. The information is stored in the memory in association with the identification information of the included inspection area and substrate. Furthermore, since the image data stored in this way is specified by a combination of the identification information of the inspection area and the substrate, read from the memory, and displayed, the user is determined to be defective by the inspection machine in any process. It is possible to check the generated part by comparing images generated by all inspection machines.
また、この方法によれば、各検査機から情報処理装置に送信される画像データを、1つの検査領域の画像データに絞り込むことができるので、情報の容量を削減して効率の良い画像送信処理を行うことができる。また、情報処理装置でも、ユーザーが必要とする画像データのみを蓄積することで、メモリ資源を有効に使用することができる。 In addition, according to this method, the image data transmitted from each inspection machine to the information processing apparatus can be narrowed down to the image data of one inspection area, so that an efficient image transmission process can be performed by reducing the information capacity. It can be performed. Also in the information processing apparatus, it is possible to use memory resources effectively by accumulating only image data required by the user .
上記方法の好ましい態様では、各検査機において、ステップaにおいて、検査機間で共通の設定データを用いて、基板上の各部品に対応する検査領域を設定する。
他の好ましい態様では、前記情報処理装置は、前記ステップDにおいて、前記メモリから読み出した各画像データを1つの画面内に配置して表示する。なお、この表示は、情報処理装置に付属のモニタ装置で行ってもよいが、これに限定されるものではない。たとえば、通信回線または所定の記憶媒体用のドライブ装置を画像データの出力先とすれば、ユーザーの使用する端末用コンピュータで各画像データを表示させることができる。
この態様によれば、各検査機からの画像データを1つの画面内に配置して表示することができるので、ユーザーは、各工程における不良部位の画像を簡単に比較することができる。
In a preferred aspect of the above method, in each inspection machine, in step a, an inspection area corresponding to each component on the board is set using setting data common to the inspection machines.
In another preferred aspect, the information processing apparatus arranges and displays each image data read from the memory in one screen in the step D. This display may be performed by a monitor device attached to the information processing apparatus, but is not limited to this. For example, if a communication line or a drive device for a predetermined storage medium is used as an output destination of image data, each image data can be displayed on a terminal computer used by the user.
According to this aspect, since the image data from each inspection machine can be arranged and displayed in one screen, the user can easily compare the image of the defective part in each process.
つぎに、上記検査方法を実施するための部品実装基板用の検査システムでは、各検査機は、検査対象の基板の画像に個々の部品に対応する検査領域を設定するための設定データが検査領域毎に登録されるとともに、各検査領域につき、それぞれ当該領域を特定するための情報として検査機間に共通の識別情報が登録される登録手段と、前記検査に使用した画像データを保存するための画像データベースと、前記設定データに基づき、前記基板の画像に各部品に対応する検査領域を設定して検査領域毎に検査を実行する検査実行手段と、前記検査実行手段による検査結果に基づき、検査領域毎の良否判定結果をそれぞれ検査領域および基板の識別情報に対応づけた検査結果情報を作成して前記情報処理装置に送信する検査結果情報送信手段と、前記検査に用いられた各検査領域の画像データを、それぞれ前記検査領域および基板の識別情報により読み出し可能な状態で前記画像データベースに保存する画像保存手段と、前記情報処理装置から所定の検査領域および基板の識別情報を含む送信要求を受信したとき、これらの識別情報を用いて前記送信要求に応じた画像データを前記画像データベースから読み出して、情報処理装置に送信する画像送信手段とを具備する。一方、前記情報処理装置は、各検査機から送信された画像データを保存するためのメモリと、前記メモリから読み出された画像データを表示するための表示手段と、各検査機からの検査結果情報のいずれかに不良判定を示す情報が含まれていたとき、当該不良判定を含む検査結果情報を用いて、その不良判定に対応づけられた検査領域および基板の識別情報を特定し、特定した各識別情報を含む送信要求を作成してすべての検査機に送信する送信要求手段と、前記送信要求に応じて各検査機から送信された画像データを、前記送信要求に含めた検査領域および基板の識別情報に対応づけて前記メモリに保存する画像保存手段と、前記メモリに保存された画像データに対応づけられた検査領域および基板の各識別情報の組み合わせの中から一組を特定して、その組み合わせに対応するすべての画像データを前記メモリから読み出し、これらを前記表示手段に表示させる表示制御手段とを、具備する。 Next, in the inspection system for a component mounting board for performing the above inspection method, each inspection machine has setting data for setting an inspection area corresponding to each component in the image of the board to be inspected. Registered for each inspection area, registration means for registering common identification information between the inspection machines as information for specifying the area, and for storing image data used for the inspection Based on the image database and the setting data, an inspection execution unit that sets an inspection region corresponding to each component in the image of the board and executes an inspection for each inspection region, and an inspection result based on the inspection result by the inspection execution unit and test result information transmitting unit that transmits to the information processing apparatus to create the test result information associated quality determination result for each area in each inspection area and the identification information of the substrate, The image data of each inspection area used for serial examination, and an image storage means for storing the image database in readable state by each of the inspection area and the identification information of the substrate, a predetermined inspection area and from the information processing apparatus When the transmission request including the identification information of the board is received, the image transmission unit reads image data corresponding to the transmission request from the image database using the identification information and transmits the image data to the information processing apparatus. On the other hand, the information processing apparatus includes a memory for storing image data transmitted from each inspection machine, a display unit for displaying image data read from the memory, and an inspection result from each inspection machine. When any of the information includes information indicating a defect determination, the inspection result information including the defect determination is used to identify and identify the identification information of the inspection region and the substrate associated with the defect determination. A transmission request means for creating a transmission request including each identification information and transmitting it to all inspection machines, and an inspection region and a board including image data transmitted from each inspection machine in response to the transmission request in the transmission request the image storage means for storing in said memory in association with the identification information, a set from the combination of the identification information of the inspection area and the substrate associated with the image data stored in the memory Identify and read all the image data corresponding to the combination from said memory, and a display control means for displaying them on the display means comprises.
上記検査システムの検査機において、検査実行手段、検査結果情報送信手段、画像保存手段、画像送信手段は、いずれも、その手段を実行するためのプログラムがセットされたコンピュータにより構成される。また、画像データベースは、このコンピュータに内蔵または外付けされたメモリ内に設けることができる。 In the inspection machine of the inspection system, the inspection execution means, the inspection result information transmission means, the image storage means, and the image transmission means are all configured by a computer in which a program for executing the means is set. The image database can be provided in a memory built in or external to the computer.
なお、上記の段落で言うところのコンピュータは、CPU,ROM,RAMのほか、通信回路などの周辺回路を含む広義のコンピュータであり、たとえばパーソナルコンピュータにより構成することができる。前記検査結果情報送信手段や画像送信手段は、通信回路を用いて情報処理装置への情報送信処理を行うことができる。 The computer referred to in the above paragraph is a computer in a broad sense including peripheral circuits such as a communication circuit in addition to a CPU, a ROM, and a RAM, and can be configured by, for example, a personal computer. The inspection result information transmission unit and the image transmission unit can perform information transmission processing to the information processing apparatus using a communication circuit.
また、このコンピュータには、検査のための機能を持たせる必要があるので、2台以上のコンピュータにより検査機を構成し、検査および検査結果情報送信手段の機能を1のコンピュータに設定し、前記メモリ、画像保存手段、画像送信手段を他のコンピュータに設定するようにしてもよい。 In addition, since this computer needs to have a function for inspection, an inspection machine is constituted by two or more computers, and the function of the inspection and inspection result information transmitting means is set in one computer. The memory, the image storage unit, and the image transmission unit may be set in another computer.
また、基板の識別情報を、バーコード、2次元コード、文字列などにより基板に付与しておく場合には、各検査機には、検査対象の基板にかかる識別情報を認識する手段を設けるのが望ましい。この認識手段は、たとえば、検査対象の画像から基板に付された識別コードを抽出し、その内容を認識するものとなる。 Further, when the substrate identification information is given to the substrate by a bar code, a two-dimensional code, a character string, etc., each inspection machine is provided with means for recognizing the identification information on the substrate to be inspected. Is desirable. For example, the recognition means extracts an identification code attached to the substrate from the image to be inspected, and recognizes the contents.
情報処理装置側の送信要求手段、画像保存手段、表示制御手段も、プログラムにより、通信機能を有するコンピュータに設定することができる。メモリは、前記コンピュータに内蔵または外付けすることができる。また、相互に通信可能な2台のコンピュータに上記の手段を振り分けて設定することもできる。 The transmission request unit, the image storage unit , and the display control unit on the information processing apparatus side can also be set in a computer having a communication function by a program. The memory can be internal or external to the computer. Further, the above means can be distributed and set to two computers that can communicate with each other.
上記システムの好ましい態様では、前記検査装置の登録手段には、各検査領域の設定データとして、検査機間で共通の設定データが登録される。 In a preferred aspect of the system, setting data common to the inspection machines is registered as setting data for each inspection area in the registration means of the inspection apparatus .
上記システムの他の好ましい態様では、前記情報処理装置の表示制御手段は、前記メモリから読み出した各画像データを1つの画面内に配置した表示用画像データを作成して、この表示用画像データを前記表示手段に出力する。 In another preferable aspect of the above system, the display control means of the information processing apparatus creates display image data in which each image data read from the memory is arranged in one screen, and the display image data is stored in the display image data. Output to the display means.
つぎに、この発明にかかる部品実装基板の製造方法は、処理対象の基板を複数の工程に順に導いて各工程による処理を実行するとともに、少なくとも2つの工程に検査機を設置して、その工程実行後の基板の画像を用いた検査を実行するものである。この方法でも、各検査機と通信可能な情報処理装置が設置され、各検査機および情報処理装置において、前記した検査システムと同様の方法が実行される。 Next, in the component mounting board manufacturing method according to the present invention, the substrate to be processed is guided to a plurality of processes in order, and the process according to each process is performed, and an inspection machine is installed in at least two processes. The inspection using the image of the substrate after execution is executed. Also in this method, an information processing apparatus capable of communicating with each inspection machine is installed, and the same method as the above-described inspection system is executed in each inspection machine and information processing apparatus.
上記の製造方法において、複数の工程には、はんだ印刷工程、部品実装工程、はんだ付け工程を含めることができる。検査機はこれらの工程毎に設けるのが望ましいが、これに限らず、たとえば、はんだ印刷工程とはんだ付け工程、または部品実装工程とはんだ付け工程に設けることができる。また、はんだ印刷工程では、はんだ印刷機の前段にも検査機を設け、はんだ印刷前のプリント配線板の状態も検査するようにしてもよい。 In the above manufacturing method, the plurality of steps can include a solder printing step, a component mounting step, and a soldering step. The inspection machine is desirably provided for each of these processes, but is not limited thereto, and can be provided, for example, in a solder printing process and a soldering process, or in a component mounting process and a soldering process. Further, in the solder printing process, an inspection machine may be provided in the preceding stage of the solder printer, and the state of the printed wiring board before the solder printing may be inspected.
この発明によれば、複数の工程に設置された検査機のいずれかで不良判定がなされたとき、その不良と判定された基板の不良判定部位について、不良と判定された基板を各検査機が検査したときに使用した対応する検査領域の画像データを、情報処理装置に集めて表示するようにしたから、ユーザは、各画像データを比較しながら確認することができる。よって、いずれかの工程で突発的な不良が生じたときに、その不良と判定された部位について、各検査機が対応する検査領域の検査に使用した画像を比較して、不良の発生原因などを詳細に分析することができる。また、途中工程で不良と判定されたのに、最終工程で良品と判定された基板については、ユーザーが各工程での画像を確認して、正しい判定をすることができる。また、不良判定がなされた途中工程の検査機の検査基準を見直す目的で各画像を確認することもできる。 According to the present invention, when a defect is determined by any of the inspection machines installed in a plurality of processes, each inspection machine determines a substrate determined to be defective for a defect determination portion of the substrate determined to be defective. Since the image data of the corresponding inspection area used at the time of the inspection is collected and displayed on the information processing apparatus, the user can check the image data by comparing them. Therefore, when a sudden failure occurs in any process, compare the images used for inspection of the inspection area corresponding to each inspection machine for the part determined to be defective, the cause of the failure, etc. Can be analyzed in detail. In addition, for a substrate that is determined to be defective in the intermediate process but determined to be a non-defective product in the final process, the user can make a correct determination by checking images in each process. In addition, each image can be confirmed for the purpose of reviewing the inspection standard of the inspection machine in the middle of the process where the defect is determined.
図1は、この発明が適用された基板製造ラインの構成を示す。
この実施例の基板製造ラインは、はんだ印刷工程、部品実装工程、はんだ付け工程の3つの工程をコンベアでつないだ構成のものである。処理対象のプリント基板(以下、単に「基板」という。)を各工程に順に送り込むことにより、各種部品が適所にはんだ付けされた部品実装基板が製作される。なお、この基板製造ラインに送り込まれる基板には、固有の識別コードを示すバーコードラベルが貼付される(以下、この識別コードを「基板コード」という。)。
FIG. 1 shows a configuration of a substrate production line to which the present invention is applied.
The board production line of this embodiment has a configuration in which three processes of a solder printing process, a component mounting process, and a soldering process are connected by a conveyor. By sending a printed circuit board to be processed (hereinafter simply referred to as “substrate”) into each step in order, a component mounting substrate in which various components are soldered in place is manufactured. A bar code label indicating a unique identification code is affixed to a substrate sent to the substrate manufacturing line (hereinafter, this identification code is referred to as “substrate code”).
各工程には、それぞれ製造用装置3,4,5と検査機1A,1B,1Cとが配備される。はんだ印刷工程の製造用装置3は、はんだ印刷機であり、基板の供給を受けると、シルクスクリーン印刷などにより前記基板の電極の位置にクリームはんだを塗布する。検査機1Aは、はんだ印刷後の基板を対象として、はんだの塗布位置や量の適否などを検査する。以下、この検査機1Aを「はんだ印刷検査機1A」という。
In each process,
部品実装工程の製造用装置4はマウンタであって、前記はんだ印刷工程を経た基板に各種部品を搭載する処理を実行する。なお、この部品実装工程では、汎用部品を実装するための高速マウンタと、それ以外の部品を実装するための異形マウンタの2種類を使用する場合がある。検査機1Bは、部品実装後の基板を対象として、部品の有無、位置ずれ、方向の適否などを検査する。以下、この検査機1Bを「部品実装検査機1B」という。
The manufacturing apparatus 4 for the component mounting process is a mounter, and executes a process of mounting various components on the board that has undergone the solder printing process. In this component mounting process, there are cases where two types of high-speed mounters for mounting general-purpose components and deformed mounters for mounting other components are used. The
はんだ付け工程の製造用装置5はリフロー炉であって、前記部品実装工程を経た基板を加熱処理して、各部品を基板にはんだ付けする。検査機1Cは、リフロー炉5を通過した基板を対象として、はんだの位置、大きさ、傾斜状態などの適否を判別するほか、部品に対し、前記部品実装機1Bと同様の検査を実行する。以下では、この検査機1Cを「はんだ付け検査機1C」という。
The
各工程の検査機1A,1B,1Cは、いずれも、その工程の製造用装置3,4,5から搬出された基板を取り込み、その基板を撮像して得られた画像を用いて外観検査を行うものである。なお、以下では、各検査機1A,1B,1Cをまとめて表す場合には、単に、「検査機1」という。
Each of the
各検査機1は、LAN回線などのネットワーク回線7を介して相互に通信可能な状態に設定される。さらに、このネットワーク回線7には、情報処理装置であるサーバー2が接続される。このサーバー2は、詳細は後記するが、各検査機1との通信により、基板毎の検査結果を取り込むほか、必要に応じて、検査に使用した画像データなどの送信を受ける。送信された画像データは、サーバー2のハードディスクに保存される。
Each
図2は、前記各検査機1に共通する構成を示す。
各検査機1は、制御本体として、2台のパーソナルコンピュータ(以下、「PC」と略す。)11,12を具備する。一方のPC11は、検査のためのもので、他方のPC12は、検査に使用した画像を保存するために使用される(以下、PC11,12を個別に指す場合には、それぞれ「検査用PC11」、「画像保存用PC12」という。)。これらのPC11,12は、前記ネットワーク回線7により相互に通信を行うことができる。また、いずれのPC11,12も、他方のPCに依存することなく、他の工程の検査機1やサーバー2との通信を単独で行うことができる。
FIG. 2 shows a configuration common to the
Each
さらに、この検査機1には、カラー画像生成用のCCDカメラ10(以下、単に「カメラ10」という。)、基板ステージ14、および位置調整機構13などが設けられる。カメラ10および位置調整機構13は、各PC11,12に個別に接続される。なお、ここでは、図示しないが、各PC11,12には、カメラ10からの画像信号をディジタル変換するためのA/D変換回路が含まれている。また各PC11,12には、内蔵または外付けのハードディスクが設けられており、PC11側のハードディスクには、検査結果を保存するためのデータベース(以下、「検査結果データベース」という。)が設定される。また、PC12側のハードディスクには、前記検査に使用した画像データを保存するためのデータベース(以下、「画像データベース」という。)が設定される。
Further, the
前記位置調整機構13は、カメラ10および基板ステージ14の位置を調整することにより、検査対象の基板にカメラ10を位置合わせするためのものである。この位置調整機構13は、通常は、検査用PC11の制御を受ける。ただし、何らかの原因で、画像保存用PC12の画像保存処理が遅れた場合などに、画像保存用PC12が制御を行う場合もある。この場合の制御は、画像の保存が終了するまで、カメラ10や基板ステージ14を停止させておくためのものである。
The
検査用PC11は、位置調整機構13を制御することにより、基板ステージ14上の基板の所定範囲がカメラ10の視野に含められるように調整した後、カメラ10を駆動して検査対象の画像を生成させる。ここで生成された画像は、各PC11,12に同時に入力される。検査用PC11は、あらかじめ設定された検査ロジックに基づき、前記入力画像を用いた検査を実行する。この間、検査用PC11は、画像保存用PC12と通信して、検査時の動作の内容などを伝達している。画像保存用PC12は、その伝達情報に基づき、検査の流れに応じた所定のタイミングで入力画像を画像ファイルに変換し、前記画像データベースに保存する。
The
なお、この実施例では、検査対象の基板に、そのサイズに応じて複数の撮像対象領域を設定し、これらの撮像対象領域毎にカメラ10を位置決めして、その撮像対象領域の画像を生成するようにしている。画像保存用PC12は、前記画像データベースを構成するメモリ領域に、基板毎に個別のフォルダを設定し、1枚の基板について得た複数の入力画像をそれぞれ個別の画像ファイルにして、前記フォルダ内に保存するようにしている。なお、このフォルダには、対応する基板コードを含むフォルダ名が付与される。また、この実施例では、検査結果に関わらず、各基板の画像データを3.5日の期間、保存することにしている。
In this embodiment, a plurality of imaging target areas are set on the substrate to be inspected according to the size, the
この実施例の各検査機1は、基板上の部品の実装位置毎に検査領域を設定するが、各検査機1間で共通の設定データを用いて、この検査領域を設定するようにしている。この検査領域は、部品、はんだ、基板上のランド(電極)を十分に含む大きさに設定される。各検査機1の検査用PC11では、この共通の設定データに基づく検査領域を設定した後、検査の目的に応じて、その検査領域内に専用の検査領域(以下、「検査用ウィンドウ」という。)を設定し、その検査用ウィンドウ内の画像を計測し、その適否を判別する。たとえば、はんだ付け工程の検査用PC11では、検査領域内のランドを含むように検査用ウィンドウが設定される。また、部品実装工程やはんだ付け工程の検査用PC11では、前記ランドに対する検査用ウィンドウのほか、部品に対応する場所にも、その部品や部品側電極の大きさに応じた検査用ウィンドウが設定される。
Each
なお、前記共通の検査領域には、それぞれ個別のコード情報が付与されている。このコード情報は、ユーザーにその領域内に実装される部品の識別番号として示されるもので、以下、これを「領域コード」という。検査用PC11では、検査領域毎に、その検査領域で実行した計測結果や良否判定結果を含む検査結果ファイルを作成し、これを前記検査結果データベースに保存する。この検査結果ファイルのファイル名は、前記検査領域の領域コードを含むものとなる。また、検査結果データベースには、個々の基板毎に、その基板コードをフォルダ名とするフォルダが設定され、その中に、そのフォルダに対応する基板について得た各検査結果ファイルが格納される。
Note that individual code information is assigned to each of the common inspection areas. This code information is shown to the user as an identification number of a component mounted in the area, and is hereinafter referred to as “area code”. In the
さらに、検査用PC11は、前記検査結果ファイルとは別に、各検査領域毎の良否判定結果をまとめた検査結果情報を作成し、これを前記サーバー2に送信する。この検査結果情報は、たとえば、各検査領域の良否判定結果(OKまたはNG、具体的には「1」または「0」である。)を前記領域コードの順に配列し、その配列の前方に前記基板コードを付けた構成となる。
Further, the
図3は、各検査機1に共通する検査の手順を示す。なお、この図3は、前記2台のPCによる処理をとりまとめたものであり、また1枚の基板に対する処理に相当する。複数枚の基板を処理する場合には、基板毎に図3の手順を繰り返す必要がある。なお、図3および以下の説明では、各処理のステップを「ST」として示す。
FIG. 3 shows an inspection procedure common to each
まずST1では、前段の製造用装置から検査対象の基板を搬入する。つぎのST2では、前記位置調整機構13を用いてカメラ10を基板の所定位置に合わせ、撮像を開始する。この撮像開始時は、まず前記基板上のバーコードラベルを撮像して、その画像中のバーコードを復号することにより、基板コードを認識する。なお、この認識処理は、検査用PC11により行われるが、認識した基板コードは画像保存用PC12にも転送される。
First, in ST1, a substrate to be inspected is carried in from the previous manufacturing apparatus. In the next ST2, the
つぎのST4では、最初の撮像対象領域にカメラ10の視野を合わせ、撮像を行う。ST5では、前記共通の設定データに基づき、入力画像に複数の検査領域を設定し、これら領域毎に計測処理や良否判定処理を実行する。なお、このST4,5の処理も、検査用PC11により行われるもので、検査領域毎に得た計測データや良否判定の情報から前記検査結果ファイルが作成され、前記検査用PC11の検査データベースに保存される。
In the next ST4, the field of view of the
入力画像中のすべての検査領域に対する検査が終了すると、ST6に進む。このST6は、画像保存用PC12により実行されるもので、前記ST5での検査に用いた画像を前記画像データベースに保存する処理が行われる。 When the inspection for all the inspection areas in the input image is completed, the process proceeds to ST6. This ST6 is executed by the image storage PC 12, and processing for storing the image used for the inspection in ST5 in the image database is performed.
画像保存処理が終了すると、ST7からST4に戻る。以下、ST4〜7のループを繰り返すことにより、各撮像対象領域毎に画像を取得して検査を実行し、その検査に使用した画像を保存する。 When the image storage process is completed, the process returns from ST7 to ST4. Thereafter, by repeating the loop of ST4 to ST7, an image is acquired for each imaging target region, an inspection is executed, and the image used for the inspection is stored.
すべての検査が終了すると、ST7からST8に進み、各検査領域の良否判定結果に基づき、基板全体としての良否を判定する。ST9では、この判定結果をモニタ14に表示したり、前記検査結果データベースに保存する処理を行う。さらに、つぎのST10では、前記した検査結果情報を作成してサーバー2に送信する。しかる後に、ST11に進んで、基板を下流側に搬出し、処理を終了する。
When all the inspections are completed, the process proceeds from ST7 to ST8, and the pass / fail of the entire substrate is determined based on the pass / fail determination result of each inspection region. In ST9, the determination result is displayed on the
つぎに、図4を用いて、サーバー2における処理について説明する。なお、この図4も、1枚の基板に対して実行される手順であり、複数の基板について、この図4の手順による処理が並列で行われる場合もある。なお、この図4では、各ステップを100番台の数値により示す。
Next, processing in the
まず最初のST101で、はんだ印刷検査機1Aからの検査結果情報を取得すると、ST102では、その検査結果情報に付された基板コードを認識する。そして、ST103、104では、それぞれ部品実装検査機1B、はんだ付け検査機1Cから、前記ST102で認識した基板コードと同じコードが付された検査結果情報を受信する。
First, when the inspection result information from the solder printing inspection machine 1A is acquired in ST101, the substrate code attached to the inspection result information is recognized in ST102. In ST103 and 104, the inspection result information with the same code as the board code recognized in ST102 is received from the component mounting
上記ST101〜104の処理によれば、特定の1枚の基板について、各検査機1A,1B,1Cにおける検査結果情報を取り込むことができる。この後、サーバー2は、これらの検査結果情報を順にチェックして、不良判定情報(NG)が含まれていないかどうかをチェックする。ここで、所定の検査機1からの検査結果情報に不良判定情報が含まれていると、ST105が「YES」となり、ST106以下のステップを実行する。他方、いずれの検査結果情報にも不良判定情報が含まれていなかった場合には、ST105が「NO」となり、処理を終了する。
According to the processing of ST101 to ST104, the inspection result information in each
ST106では、前記検査結果情報における不良判定情報の位置からその不良判定情報が設定された検査領域の領域コードを認識する。つぎに、ST107では、各検査機1に対し、前記ST102で認識した基板コードとST106で認識した領域コードとを含むコマンドによって、前記不良判定情報が設定された検査領域にかかる情報の送信を要求する(以下、このコマンドを「送信要求」という。)。具体的には、この送信要求は、前記ST102で認識した基板コードの基板につき、ST106で認識した領域コードの検査領域における検査結果や画像データの送信を要求するものとなる。
In ST106, the area code of the inspection area in which the defect determination information is set is recognized from the position of the defect determination information in the inspection result information. Next, in ST107, each
前記送信要求に応じて各検査機1から応答情報(詳細は後記する。)が返送されると、ST108では、これらの応答情報を前記ハードディスク内に保存する。なお、この保存に際し、ハードディスクには、前記送信要求の基板コードおよび領域コードを含むフォルダ名が付されたフォルダが設定され、そのフォルダ内に各検査機1から受信した応答情報が順に格納される。
When response information (details will be described later) is returned from each
ST105で複数の不良判定情報が抽出された場合には、不良判定情報毎に上記ST106〜108の処理が実行される。すべての不良判定情報を処理すると、ST109が「YES」となり、処理を終了する。 When a plurality of pieces of defect determination information are extracted in ST105, the processes of ST106 to ST108 are executed for each piece of defect determination information. When all pieces of defect determination information have been processed, ST109 becomes “YES” and the process ends.
ここで、前記送信要求に対する検査機1側の処理について説明する。
送信要求に対する応答処理は、画像保存用PC12が中心となって実行する。画像保存用PC12は、送信要求を受けると、その中の基板コードにより前記画像データベースを検索し、この基板コードをフォルダ名とするフォルダを抽出する。そして、このフォルダから、前記送信要求に含まれていた領域コードの検査領域が含まれる画像ファイルを抽出した後、そのファイル内の画像データから前記検査領域の画像データを切り出す。
Here, processing on the
The response process for the transmission request is executed mainly by the image storage PC 12. When receiving the transmission request, the image storage PC 12 searches the image database with the board code in the PC 12 and extracts a folder having the board code as the folder name. Then, after extracting an image file including the inspection area of the area code included in the transmission request from the folder, the image data of the inspection area is cut out from the image data in the file.
つぎに、画像保存用PC12は、前記検査用PC11との通信により、前記送信要求に含まれていた領域コードをファイル名に含む検査結果ファイルの提供を受ける。そして、この検査結果ファイルから読み出した情報と前記切り出した画像とを含む応答情報を作成し、これをサーバー2に送信する。
Next, the image storage PC 12 receives an inspection result file including the area code included in the transmission request in the file name through communication with the
上記一連の処理によれば、いずれの工程の検査機1において不良判定が行われると、その不良判定がなされた検査領域について、各検査機1の検査に使用された画像データを含む応答情報がサーバーに蓄積されることになる。
According to the above-described series of processing, when the defect determination is performed in the
サーバー2は、所定の時点で、図示しないキーボードからの呼び出し操作を受け付けて、ハードディスクに蓄積された各フォルダに順にアクセスする。そして、フォルダ毎に、そのフォルダに格納されている応答情報を用いて1枚の表示用の画像データを編集し、これを図示しないモニタなどに出力する。
The
図5は、前記応答情報ファイルにより編集された表示画面の例を示す。
この例では、はんだ印刷工程、部品実装工程、はんだ付け工程の各工程毎に、画像用ウィンドウ20A,20B,20Cが設定され、これらのウィンドウ20A,20B,20C内に、それぞれその工程の検査機1の応答情報から抽出された画像が表示されている。いずれの画像も、前記した共通の検査領域内の画像を同じ倍率で表したものである。また、各画像用ウィンドウ20A,20B,20Cの下方には、検査項目毎の検査の結果(OKが○、NGが×)や計測結果を表示した検査結果用のウィンドウ21A,21B,21Cが設定される。これらのウィンドウ21A,21B,21C内の表示情報も、前記応答情から抽出されたものである。
FIG. 5 shows an example of a display screen edited by the response information file.
In this example,
前記画像用ウィンドウ20A,20B,20Cの上方位置には、検査対象の基板に関する情報が表示されるが、この中に前記基板コードを示す情報22や、検査領域の領域コードに相当する部品番号23が含まれている。また、不良判定のなされた工程に対応する画像用ウィンドウ(図示例ではウィンドウ20B)には、不良判定マーク24が設定される。表示画面の左右の端部には、それぞれ1つ前の不良基板、1つ後の不良基板に表示を切り替えるための切替ボタン25,26が設定される。
Information related to the board to be inspected is displayed above the
なお、サーバー2では、特定の基板コードの入力を受け付けて、その基板コードに対応する表示のみを行うこともできる。また、このサーバー2に、別途、端末用のPCが接続された場合、このPCで前記キーボードと同様の操作を行って、表示用画像データを作成し、それをPC側で表示するようにしてもよい。
The
また、この実施例では、各基板にバーコードラベルによる基板コードを付与したが、製造途中で基板の抜き取りが行われることがない場合には、各検査機において各基板に処理順に識別番号を付与し、この識別番号を前記基板コードに代えて使用してもよい。 Also, in this embodiment, a substrate code with a bar code label is assigned to each substrate. However, if the substrate is not removed during manufacturing, an identification number is assigned to each substrate in the processing order in each inspection machine. However, this identification number may be used in place of the substrate code.
また、この実施例では、画像保存用PCにおいて、撮像対象領域毎に画像を保存するようにしたが、これに代えて、入力画像から検査領域毎に画像を切り出して保存するようにしてもよい。この場合の各画像ファイルには、ファイル名として、対応する検査領域の領域コードを付与することができるから、サーバーからの送信要求を受信した場合には、その送信要求の基板コードおよび領域コードにより、対応する画像ファイルを速やかに読み出すことができる。 In this embodiment, the image storage PC stores an image for each imaging target area, but instead of this, an image may be cut out from the input image for each inspection area and stored. . Each image file in this case can be given a region code of the corresponding inspection region as a file name. Therefore, when a transmission request from the server is received, the substrate code and region code of the transmission request are used. The corresponding image file can be read quickly.
さらに、この実施例の検査機1では、サーバー2からの送信要求に応じて、その送信要求により指定された情報、すなわち自装置または他の検査機1で不良と判別された基板にかかる画像データや検査結果をサーバー2に送信しているが、さらに、この基板の前後に検査した複数枚の基板の情報を送信してもよい。この場合にも、各基板毎に読み出す情報は、不良判別がなされた検査領域の画像データや検査結果に限定することができる。また、サーバー2側では、これら不良発生前後の基板についても、図5に示したのと同様に、前記不良判定がなされた検査領域について、各工程における同一基板の画像を並べて表示することができる。また、不良が発生した工程について、不良基板およびその前後の複数枚の基板における同一検査領域(前記の不良が発生した領域)の画像を並べて表示することもできる。また、不良が発生した基板の当該不良発生にかかる工程(たとえば、部品実装工程)の画像を中央に表示するとともに、その左右に、不良発生前後の基板の前工程(たとえばはんだ付け工程)における画像を配置するなどしてもよい。
Furthermore, in the
1 検査機1
2 サーバー
3 はんだ印刷機
4 マウンタ
5 リフロー炉
7 ネットワーク回線
10 カメラ
11 検査用PC
12 画像保存用PC
1
2
12 PC for image storage
Claims (7)
各検査機と通信可能な情報処理装置を設置するとともに、各検査機において、検査対象の基板上の個々の部品に対応する検査領域を、それぞれ検査機間に共通の識別情報により特定できるようにしておき、
各検査機において、あらかじめ登録された設定データに基づき、前記基板の画像に各部品に対応する検査領域を設定して検査領域毎に検査を実行し、検査領域毎の良否判定結果をそれぞれ前記検査領域および基板の識別情報に対応づけた検査結果情報を作成して前記情報処理装置に送信するステップaと、前記検査に用いられた各検査領域の画像データを、それぞれ前記検査領域および基板の識別情報により読み出し可能な状態でメモリに保存するステップbとを実行するとともに、前記情報処理装置から所定の基板および検査領域の識別情報を含む送信要求を受信したとき、これらの識別情報を用いて前記送信要求に応じた画像データを前記メモリから読み出して、情報処理装置に送信するステップcを実行し、
前記情報処理装置は、各検査機からの検査結果情報のいずれかに不良判定を示す情報が含まれていたとき、当該不良判定を含む検査結果情報を用いてその不良判定に対応づけられた検査領域および基板の識別情報を特定するステップA;ステップAで特定した各識別情報を含む送信要求を作成して、すべての検査機に送信するステップB;前記送信要求に応じて各検査機から送信された画像データを、前記送信情報に含めた検査領域および基板の各識別情報に対応づけてメモリに保存するステップC;ステップCで保存された画像データに対応づけられた検査領域および基板の各識別情報の組み合わせの中から一組を特定して、その組み合わせに対応するすべての画像データを前記メモリから読み出して表示するステップD;の各ステップを実行する、
ことを特徴とする部品実装基板用の検査方法。 An inspection machine that performs inspection by image processing is provided in at least two places of a plurality of processes that are sequentially executed to manufacture a component mounting board, and an inspection using an image of the board after the process is executed is performed. A method that
In addition to installing information processing devices that can communicate with each inspection machine, in each inspection machine, the inspection area corresponding to each part on the board to be inspected can be specified by identification information common to each inspection machine. And
In each inspection machine, based on setting data registered in advance, an inspection area corresponding to each component is set in the image of the board and inspection is performed for each inspection area. Step a for generating inspection result information associated with the identification information of the area and the substrate and transmitting it to the information processing apparatus, and image data of each inspection area used for the inspection are identified with the inspection area and the substrate, respectively. and executes a step b of storing in memory in readable state by information, when receiving a transmission request including the identification information of the predetermined substrate and the inspection area from the information processing apparatus, the use of these identification information Executing step c of reading out image data corresponding to the transmission request from the memory and transmitting it to the information processing apparatus;
When the information processing apparatus includes information indicating defect determination in any of the inspection result information from each inspection machine, the inspection associated with the defect determination using the inspection result information including the defect determination Step A for specifying the identification information of the area and the substrate; Step B for creating a transmission request including each piece of identification information specified in Step A and sending it to all the inspection machines ; Step B for transmission from each inspection machine in response to the transmission request The stored image data is stored in the memory in association with the identification information of the inspection region and the substrate included in the transmission information; each of the inspection region and the substrate associated with the image data stored in Step C Steps D; specifying a set of combinations of identification information and reading out and displaying all image data corresponding to the combination from the memory Row,
An inspection method for a component mounting board characterized by the above.
各検査機は、
検査対象の基板の画像に個々の部品に対応する検査領域を設定するための設定データが検査領域毎に登録されるとともに、各検査領域につき、それぞれ当該領域を特定するための情報として検査機間に共通の識別情報が登録される登録手段と、
前記検査に使用した画像データを保存するための画像データベースと、
前記設定データに基づき、前記基板の画像に各部品に対応する検査領域を設定して検査領域毎に検査を実行する検査実行手段と、
前記検査実行手段による検査結果に基づき、検査領域毎の良否判定結果をそれぞれ検査領域および基板の識別情報に対応づけた検査結果情報を作成して前記情報処理装置に送信する検査結果情報送信手段と、
前記検査に用いられた各検査領域の画像データを、それぞれ前記検査領域および基板の識別情報により読み出し可能な状態で前記画像データベースに保存する画像保存手段と、
前記情報処理装置から所定の検査領域および基板の識別情報を含む送信要求を受信したとき、これらの識別情報を用いて前記送信要求に応じた画像データを前記画像データベースから読み出して、情報処理装置に送信する画像送信手段とを具備し、
前記情報処理装置は、
各検査機から送信された画像データを保存するためのメモリと、
前記メモリから読み出された画像データを表示するための表示手段と、
各検査機からの検査結果情報のいずれかに不良判定を示す情報が含まれていたとき、当該不良判定を含む検査結果情報を用いて、その不良判定に対応づけられた検査領域および基板の識別情報を特定し、特定した各識別情報を含む送信要求を作成してすべての検査機に送信する送信要求手段と、
前記送信要求に応じて各検査機から送信された画像データを、前記送信要求に含めた検査領域および基板の識別情報に対応づけて前記メモリに保存する画像保存手段と、
前記メモリに保存された画像データに対応づけられた検査領域および基板の各識別情報の組み合わせの中から一組を特定して、その組み合わせに対応するすべての画像データを前記メモリから読み出し、これらを前記表示手段に表示させる表示制御手段とを、具備して成る部品実装基板用の検査システム。 An inspection machine that performs inspection by image processing is provided in at least two places of a plurality of processes that are sequentially executed to manufacture a component mounting board, and an inspection using an image of the board after the process is executed is performed. And a system provided with an information processing device capable of communicating with each inspection machine,
Each inspection machine
The setting data for setting the inspection area corresponding to each part is registered in the image of the board to be inspected for each inspection area, and each inspection area is used as information for specifying the area. A registration means for registering common identification information in
An image database for storing image data used for the inspection;
Based on the setting data, an inspection execution means for setting an inspection area corresponding to each component in the image of the board and executing an inspection for each inspection area;
An inspection result information transmitting unit that creates inspection result information in which the pass / fail judgment result for each inspection region is associated with the identification information of the inspection region and the substrate based on the inspection result by the inspection execution unit, and transmits the inspection result information to the information processing apparatus; ,
Image storage means for storing the image data of each inspection region used for the inspection in the image database in a state that can be read by the identification information of the inspection region and the substrate, respectively .
When a transmission request including identification information of a predetermined inspection area and substrate is received from the information processing apparatus, image data corresponding to the transmission request is read from the image database using the identification information, and the information processing apparatus Image transmitting means for transmitting,
The information processing apparatus includes:
A memory for storing image data transmitted from each inspection machine;
Display means for displaying image data read from the memory;
When information indicating defect determination is included in any of the inspection result information from each inspection machine , using the inspection result information including the defect determination, identification of the inspection region and the substrate associated with the defect determination A transmission request means for identifying information , creating a transmission request including each identified identification information, and transmitting it to all inspection machines;
Image storage means for storing the image data transmitted from each inspection machine in response to the transmission request in the memory in association with the identification information of the inspection area and the substrate included in the transmission request ;
One set is identified from the combination of the identification information of the inspection area and the substrate associated with the image data stored in the memory, all the image data corresponding to the combination is read from the memory, and these are read out. An inspection system for a component mounting board comprising display control means for displaying on the display means .
各検査機と通信可能な情報処理装置を設置するとともに、各検査機において、検査対象の基板上の個々の部品に対応する検査領域を、それぞれ検査機間に共通の識別情報により特定できるようにしておき、
各検査機において、あらかじめ登録された設定データに基づき、前記基板の画像に各部品に対応する検査領域を設定して検査領域毎に検査を実行し、検査領域毎の良否判定結果をそれぞれ前記検査領域および基板の識別情報に対応づけた検査結果情報を作成して前記情報処理装置に送信するステップaと、前記検査に用いられた各検査領域の画像データを、それぞれ前記検査領域および基板の識別情報により読み出し可能な状態でメモリに保存するステップbとを実行するとともに、前記情報処理装置から所定の基板および検査領域の識別情報を含む送信要求を受信したとき、これらの識別情報を用いて前記送信要求に応じた画像データを前記メモリから読み出して、情報処理装置に送信するステップcを実行し、
前記情報処理装置は、各検査機からの検査結果情報のいずれかに不良判定を示す情報が含まれていたとき、当該不良判定を含む検査結果情報を用いてその不良判定に対応づけられた検査領域および基板の識別情報を特定するステップA;ステップAで特定した各識別情報を含む送信要求を作成して、すべての検査機に送信するステップB;前記送信要求に応じて各検査機から送信された画像データを、前記送信情報に含めた検査領域および基板の各識別情報に対応づけてメモリに保存するステップC;ステップCで保存された画像データに対応づけられた検査領域および基板の各識別情報の組み合わせの中から一組を特定して、その組み合わせに対応するすべての画像データを前記メモリから読み出して表示するステップD;の各ステップを実行する、
ことを特徴とする部品実装基板の製造方法。 The substrate to be processed is guided to a plurality of processes in order, and the process according to each process is executed. At the same time, an inspection machine for performing inspection by image processing is installed in at least two processes, and the image of the substrate after the process is executed is used. In the method of manufacturing a component mounting board for performing inspection,
In addition to installing information processing devices that can communicate with each inspection machine, in each inspection machine, the inspection area corresponding to each part on the board to be inspected can be specified by identification information common to each inspection machine. And
In each inspection machine, based on setting data registered in advance, an inspection area corresponding to each component is set in the image of the board and inspection is performed for each inspection area. Step a for generating inspection result information associated with the identification information of the area and the substrate and transmitting it to the information processing apparatus, and image data of each inspection area used for the inspection are identified with the inspection area and the substrate, respectively. and executes a step b of storing in memory in readable state by information, when receiving a transmission request including the identification information of the predetermined substrate and the inspection area from the information processing apparatus, the use of these identification information Executing step c of reading out image data corresponding to the transmission request from the memory and transmitting it to the information processing apparatus;
When the information processing apparatus includes information indicating defect determination in any of the inspection result information from each inspection machine, the inspection associated with the defect determination using the inspection result information including the defect determination Step A for specifying the identification information of the area and the substrate; Step B for creating a transmission request including each piece of identification information specified in Step A and sending it to all the inspection machines ; Step B for transmission from each inspection machine in response to the transmission request The stored image data is stored in the memory in association with the identification information of the inspection region and the substrate included in the transmission information; each of the inspection region and the substrate associated with the image data stored in Step C Steps D; specifying a set of combinations of identification information and reading out and displaying all image data corresponding to the combination from the memory Row,
A component mounting board manufacturing method characterized by the above.
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JP4481192B2 (en) * | 2005-02-24 | 2010-06-16 | ヤマハ発動機株式会社 | Inspection condition management system and component mounting system |
JP2007335524A (en) * | 2006-06-13 | 2007-12-27 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | Mounting line |
CN102144155B (en) * | 2008-09-18 | 2014-06-18 | 国际商业机器公司 | System and method for supporting finding of defect in object to be inspected |
JP5007750B2 (en) | 2010-03-05 | 2012-08-22 | オムロン株式会社 | Method for supporting solder printing state analysis and solder printing inspection machine |
JP6043473B2 (en) * | 2011-07-01 | 2016-12-14 | ユニ・チャーム株式会社 | Defect detection system and defect detection method |
JP6930157B2 (en) * | 2017-03-16 | 2021-09-01 | 三菱ケミカル株式会社 | Film inspection system and film manufacturing method |
DE112019007216T5 (en) * | 2019-04-17 | 2021-12-30 | Yamaha Hatsudoki Kabushiki Kaisha | Image search device, component mounting system and image search method |
WO2024062635A1 (en) * | 2022-09-23 | 2024-03-28 | 株式会社Fuji | Testing device and testing method |
-
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE112011104725B4 (en) * | 2011-01-13 | 2016-07-14 | Omron Corporation | Soldering inspection process, printed circuit board inspection system and solder joint inspection device |
DE112011104725B9 (en) * | 2011-01-13 | 2016-09-29 | Omron Corporation | Soldering inspection process, printed circuit board inspection system and solder joint inspection device |
DE112011104723B4 (en) | 2011-01-13 | 2023-02-23 | Omron Corp. | Solder joint inspection method, solder joint inspection device and circuit board inspection system |
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