JP3958557B2 - 交換可能な毛管を備えた毛管組立体 - Google Patents
交換可能な毛管を備えた毛管組立体 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3958557B2 JP3958557B2 JP2001330200A JP2001330200A JP3958557B2 JP 3958557 B2 JP3958557 B2 JP 3958557B2 JP 2001330200 A JP2001330200 A JP 2001330200A JP 2001330200 A JP2001330200 A JP 2001330200A JP 3958557 B2 JP3958557 B2 JP 3958557B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- capillary
- assembly
- support assembly
- mass spectrometer
- spectrometer system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0404—Capillaries used for transferring samples or ions
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、広くは、大気圧イオン化チャンバを低圧質量分析器組立体に連結する毛管組立体に関し、より詳しくは、着脱可能な毛管を備えた毛管組立体に関する。
【0002】
【発明の背景】
エレクトロスプレー(electrospray:ES)または大気圧イオン化(atmospheric pressure ionization:APCI)源等の大気圧イオン化(atmospheric pressure ionization:API)源が質量分光器システムに取り付けられるとき、大気圧イオン化チャンバから質量分光器の真空システム内へのガス流は、使用される真空ポンプの吐出能力に一致するように設定されなくてはならない。小径オリフィスおよび毛管は、大気圧スプレーチャンバから質量分光器の真空システム内へのガス流を制限するのに最も多く使用されている2つの方法である。これらの毛管は、該毛管を通る溶媒和イオンに熱エネルギを付与すべくしばしば加熱され、これによりこれらのイオンは脱溶媒和される。
【0003】
質量分光器システムにより分析される試料からの不揮発性物質は、これらの毛管の入口または内部ボアに蓄積される。これらの不揮発性物質は、大気圧イオン化源内に噴霧される液体移動相からの塩で形成される。これらの不揮発性物質はまた、プラスマ(血漿)または尿等の生物学的流体から抽出後の試料溶液中に残留するタンパク質、脂質または塩で形成できる。これらの毛管への不揮発性物質の蓄積は、イオン移送量の低下および信号の低下をもたらす。
【0004】
このため、使用者は、毛管を洗浄するか、新しい毛管と交換する必要がある。毛管のメインテナンスまたは交換は、一般に、錯体試料については数ヶ月毎、清浄な試料については1年毎に行われる。メインテナンスの頻度の如何に拘わらず、システムが通気されるという事実は依然として存在する。メインテナンスおよび質量分光器システムをオンラインに戻すには、約1日を要する。これは、試料処理能力が低いこと、従って研究所の収益損失をもたらすことを意味する。
【0005】
【発明の目的】
本発明の目的は、検査、洗浄および交換のため、毛管のヒータから容易かつ迅速に取り外すことができる加熱形毛管組立体を提供することにある。
本発明の他の目的は、毛管の取外し時および交換時に、質量分析器システムの通気が制限される構成の交換可能な毛管を備えた加熱形毛管組立体を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明の上記および他の目的は、大気圧イオン化チャンバが、着脱可能な毛管を備えた毛管組立体を介して質量分析器の低圧領域と、毛管の取外しおよび交換時に低圧領域の通気を防止するシステムとに連結される構成のシステムにより達成される。
すなわち、本発明は、イオン化チャンバと、低圧質量分光器システムと、イオン化チャンバと低圧質量分光器システムとを連結してイオンおよびガスがイオン化チャンバから低圧質量分光器システムに流れることを可能にする毛管組立体とを有する質量分光器システムにおいて、軸線方向ボアを備えた支持組立体と、前記軸線方向ボアを通って延びる着脱可能な毛管と、該毛管の一端を支持組立体の一端に対してシール可能に係合および固定させる固定組立体とを有することを特徴とする。
【0007】
本発明の質量分光器システムでは、支持組立体のマウントがヒータ組立体であるのが好ましい。
また、本発明の質量分光器システムでは、前記毛管は、これに電流を通すことにより直接加熱されるのが好ましい。
また、本発明の質量分光器システムでは、前記毛管がヒータ組立体のボアから取り外されたときに、低圧質量分光器システムの通気を防止する手段を有するのが好ましい。
【0008】
更に、本発明は、質量分析器システムのイオン化チャンバと低圧チャンバとを連結する加熱形毛管組立体において、軸線方向ボアを備えたヒータ組立体と、前記軸線方向ボアを通って延びている着脱可能な毛管と、該毛管の一端をヒータ組立体の一端に対してシール可能に係合および固定させる固定組立体とを有することを特徴とする。
【0009】
本発明の加熱形毛管組立体は、前記毛管が取り外されたときに、ガスがイオン化チャンバからヒータ組立体のボアを通って低圧チャンバに流れることを制限する手段を有するのが好ましい。
また、本発明の加熱形毛管組立体では、前記制限手段は、ヒータ組立体の他端に取り付けられたフラップを有するのが好ましい。
また、本発明の加熱形毛管組立体では、前記制限手段は、毛管が取り外されたときにヒータ組立体のボア内に落下するボールを有するのが好ましい。
【0010】
また、本発明の加熱形毛管組立体では、前記固定組立体は、ヒータ組立体の一端にねじ締めして受け入れられるナットを有するのが好ましい。
また、本発明の加熱形毛管組立体は、前記ナットを締めたときに毛管およびヒータ組立体に対して押圧される、ナットとヒータ組立体との間のシーリング部材を有するのが好ましい。
また、本発明の加熱形毛管組立体では、前記シーリング部材はフェルールであるのが好ましい。
また、本発明の加熱形毛管組立体は、前記ナットとヒータ組立体の一端との間に配置され、ナットが緊締されたときにヒータ組立体および毛管に対して押圧されてシールを形成するОリングを有するのが好ましい。
【0011】
【発明の実施の形態】
本発明の上記および他の目的は、添付図面を参照して述べる以下の詳細な説明からより明瞭に理解されよう。
図1を参照すると、ここには、イオン透過組立体を介して質量分析器12に連結された、プローブ11を備えたイオン化源を有する従来技術の質量分光器が示されている。当業者には、イオン源が、大気圧以下の圧力から大気圧以上の圧力までの圧力範囲で作動されることは明白である。四極子(quadrupole)質量分析器12が例示されているが、当業者ならば、質量分析器は、経過時間(time of flight:TOF)、四極子、フーリエ変換(Fourier transform:FTMS)、イオントラップ、磁気セクタまたはハイブリッド質量分析器で構成できる(但し、これらに限定されない)ことは明白であろう。
【0012】
例えば、イオン源は、大気圧イオン源(atmospheric pressure ion source:API)でも形成できる。より詳しくは、イオン源は、エレクトロスプレーイオン源(electrospray ion source:ES)または大気圧化学的イオン化源(atmospheric pressure chemical ionization source:APCI)でも形成できる。いずれにせよ、イオン源は、イオンスプレー13を形成するイオンプローブ11を有している。イオン化機構は、大気圧での、ESまたはAPCIプローブにより形成された微細荷電粒子からのイオンの脱着を有している。
【0013】
試料液体は、液体クロマトグラフィポンプ、シリンジポンプ、重力フィード容器、加圧容器および/または吸気フィード容器により(但し、これらに限定されるものではない)、プローブ11に供給される。試料はまた、液体クロマトグラフィまたは毛管電気泳動、毛管電気泳動クロマトグラフィ等の自動インジェクタ分離システムおよび/またはAPIプローブに連結された手動噴射弁を用いて導入できる。
【0014】
イオン透過組立体は連続チャンバ16、17、18を有し、これらのチャンバは連続的に圧力が低くなるように維持され、質量分析器12が最低圧力チャンバとなっている。第1チャンバ16は、毛管22を介して大気圧イオン化チャンバ21に連通している。毛管の端部でのポテンシャルにより、イオンは毛管に向かって移動される。このため、チャンバ16とチャンバ21との間の圧力差により、イオンおよびガスが毛管のオリフィス23に進入しかつ毛管通路を通ってチャンバ16内に流入する。
【0015】
毛管の他端部は、イオンガイド八極子レンズ組立体32を収容するチャンバ17からチャンバ16を分離するスキマー31に対向している。米国特許第5,157,266号に開示されているように、チューブレンズ36が毛管22の端部と協働して、イオンを、毛管から出てスキマー31に向かって移動する拡散イオン流の中心に指し向ける。八極子レンズ組立体32の後には、第2スキマー34およびレンズ35を含むイオン光学系が続いており、該イオン光学系は、イオンを、分析チャンバ18および適当な質量分析器12内に指し向ける。毛管22、スキマー31、レンズ32、スキマー34およびレンズ35の組合せが、イオン透過組立体を形成する。以上、特定のイオン透過システムについて説明したが、毛管からのイオンは、他のイオンガイドシステムにより質量分析器内に案内することもできる。
【0016】
前述のように、試料からの不揮発性物質は、毛管の入口または内部ボアに蓄積される。これらの不揮発性物質は、大気圧チャンバ21内に噴霧される液体移動相からの塩で形成されることがある。不揮発性物質はまた、プラスマまたは尿等の生物学的流体から抽出後に試料溶液中に残留するタンパク質、脂質または塩であることもある。毛管上または毛管内でのこれらの不揮発性物質の蓄積は信号の低下を引き起こし、このため、使用者は毛管を洗浄するか新しい毛管と交換する必要がある。
【0017】
本発明によれば、毛管組立体、例えば図1に示すような源チャンバ21を領域16のような質量分光器の低圧領域に連結する加熱形毛管組立体が提供される。本発明の毛管組立体は、毛管が、検査、洗浄または交換のためにそのマウントから容易に取り外されかつ再び整合位置において組立体内に挿入できるように構成されている。これは、低圧領域の通気が最小になるようにして、従って質量分光器システムの休止時間をかなり短縮させかつ日毎処理能力を増大させて行われる。
【0018】
図2および図3には、加熱形毛管組立体22が示されている。毛管組立体22は、ヒータワイヤ42を介して電気的に加熱される円筒状ヒータ41を有している。毛管43は、ヒータを通って軸線方向に延びている。ヒータの端部はねじボア部分44を有し、該ねじボア部分44はナット46の協働ねじを受け入れる。より詳しくは、ナット46は、該ナットを工具で緩めまたは締め付け可能にするレンチ掴み部47を有している。毛管ヒータ41の係合面に当接する肩部48は、ナット46とヒータ41との間の距離、従ってシーリングОリングの圧縮量を正確に決定する。圧縮可能フィッティング51がナット46により圧縮されかつ毛管43およびヒータ41に対して押圧されて、シールを形成する。
【0019】
かくして、毛管は、ナットを緩め、かつヒータ組立体の軸線方向ボアに沿って毛管を摺動させることにより、取外し、検査および交換を容易に行うことができる。例えば、毛管は、ヒータ本体の係合ボア内に押し込められる鋼製の毛管で形成できる。ヒータ本体は、毛管とヒータ本体とのかじりまたは焼付きを防止するため、アルミニウムまたは青銅合金等の別の金属で形成するのが好ましい。ナットのねじには、ヒータ本体へのねじのかじりを防止するため、銀またはニッケル等の別の金属をめっきすることができる。鋼製の毛管について説明したが、毛管は、チタンまたはニッケルをコーティングしたもの、または、例えば、ガラスをライニングしたもの、または、当業界で知られている他の形式の毛管で形成できる。ヒータ本体が毛管を加熱すると説明したが、毛管は、円筒状本体内に取り付けられた毛管に沿って電流を流すことにより直接的に抵抗加熱することもできる。
【0020】
図4に示すように、ヒータ組立体の端部には、例えばねじ53によりヒータ組立体に固定されるフラップすなわちシール52が設けられている。フラップ52は弾性材料で作られており、このため、毛管が引き出されるとフラップ52がヒータ組立体の端部を閉じ、従って、隣接する低圧チャンバ内への高圧ガスの通気を最小にする。
【0021】
図5には、本発明の他の実施形態が示されている。ヒータ本体41は、大気圧チャンバと低圧チャンバとの間の壁54により、スリーブ56を介して支持されている。本体41の端部には雄ねじ57が設けられており、該雄ねじ57はナット58を受け入れることができる。毛管43は、本体41内に軸線方向に挿入される。圧縮フィッティングすなわちフェルール61が毛管43上を摺動でき、フェルールおよびナットの傾斜面が協働してフェルールを毛管に対して押し付け、毛管のシールを形成する。毛管43は、ナット58を緩め、毛管を本体41から引き抜き、次に、洗浄した毛管または交換用毛管を再び挿入してナットを緊締することにより、取り外されるか交換される。
【0022】
図6には別のシール組立体が示されている。この実施形態では、ヒータ本体41の内部ボアに、圧縮可能なシールリングすなわちフェルール63を受け入れるための傾斜部62が設けられており、フェルール63はナット64を締めることにより毛管に対して押圧される。
【0023】
図7には本発明の他の実施形態が示されており、この実施形態では、壁71およびシールド72が加熱形毛管組立体を支持している。ヒータ本体73は、シールド72により支持される一端74と、壁71により支持される中央部とを有している。温度センサ76が、ばね77によりヒータ本体73に対して保持されている。ヒータ本体73は、毛管78を受け入れている。毛管78は、ばね組立体79によりヒータ本体73に対して押圧されている。毛管78の一端は、ヒータ本体73の端部の雌ねじ内に受け入れられる雄ねじを備えたナットすなわちフィッティング81に固定されている。
【0024】
かくして、一体フィッティング81を備えた毛管がヒータ本体73内にねじ込まれ、かつОリング82を圧縮してシールを形成する。ヒータ組立体はシーリングボール83を有し、該シーリングボール83は、ねじ87によりヒータ73に固定されたばね押圧形フィッティング86によりヒータ組立体内に形成された凹部84内に保持されている。かくして、毛管78が取り外されると、ボール83がヒータのボアをシールして、低圧チャンバの通気を防止する。
【0025】
毛管を支持組立体またはヒータ組立体の端部に固定する幾つかの構成を説明したが、差込み形フィッティングまたはスナップ形フィッティング等の他のアタッチメントを使用できることは明らかである。
以上のように、洗浄または交換のために毛管を容易に取り外すことができる毛管組立体が提供された。
【0026】
本発明の特定の実施形態についての上記説明は、例示および説明のためのものである。上記説明は本発明の完全な説明または限定を意図するものではなく、上記教示から多くの変更が可能である。本発明の実施形態は、本発明の原理およびその実用的用途を最も良く説明するために選択されかつ説明したものであり、従って、当業者ならば、本発明および種々の変更がなされた種々の実施形態を、意図する特定用途に最も適したものとして使用することができるであろう。本発明の範囲は、特許請求の範囲の記載およびその均等物により定められるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】毛管組立体を介して質量分光器に連結された従来技術によるAPIプローブを示す図面である。
【図2】本発明の一実施形態による毛管組立体を示す図面である。
【図3】図2の線3−3で囲む領域の拡大図である。
【図4】質量分析器システムの通気を防止するフラップを備えた毛管組立体の端部を示す拡大図である。
【図5】本発明の他の実施形態による毛管組立体の入力端を示す部分図である。
【図6】本発明の更に別の実施形態による毛管組立体を示す拡大図である。
【図7】本発明の更に別の実施形態による毛管組立体を示す拡大図である。
【符号の説明】
22 加熱形毛管組立体
41 ヒータ
43 毛管
46 ナット
49 Оリング
51 圧縮可能フィッティング
52 フラップ(シール)
61 圧縮可能フィッティング
63 シールリング(フェルール)
83 シーリングボール
Claims (14)
- イオン化チャンバと、低圧質量分光器システムと、イオン化チャンバと低圧質量分光器システムとを連結してイオンおよびガスがイオン化チャンバから低圧質量分光器システムに流れることを可能にする毛管組立体とを有する質量分光器システムにおいて、
前記毛管組立体は、
軸線方向ボアを有する支持組立体と、
前記軸線方向ボアを通って延び、かつ、前記支持組立体から着脱可能な毛管と、
該毛管の一端を、前記支持組立体の一端に対してシール可能に係合させて固定させる固定組立体とを備え、
前記支持組立体は、前記毛管が前記支持組立体から取り外されたときに、前記低圧質量分光器システムの通気を防止する手段を備える、
ことを特徴とする質量分光器システム。 - 前記支持組立体は、加熱された支持組立体であることを特徴とする請求項1に記載の質量分光器システム。
- 前記毛管は、前記毛管に電流を通すことにより直接加熱されることを特徴とする請求項1に記載の質量分光器システム。
- 質量分析器システムのイオン化チャンバと低圧チャンバとを連結する毛管組立体において、
軸線方向ボアを有する支持組立体と、
前記軸線方向ボアを通って延び、かつ、前記支持組立体から着脱可能な毛管と、
該毛管の一端を、前記支持組立体の一端に対してシール可能に係合させて固定させる固定組立体と、
前記毛管が取り外されたときに、前記イオン化チャンバから前記支持組立体のボアを通って前記低圧チャンバにガスが流れることを制限する手段と、
を備えることを特徴とする毛管組立体。 - 前記制限する手段は、前記支持組立体の他端に取り付けられたフラップを含むことを特徴とする請求項4に記載の毛管組立体。
- 前記制限する手段は、前記毛管が取り外されたときに、前記支持組立体のボアの中に落下するボールを有することを特徴とする請求項4に記載の毛管組立体。
- 前記固定組立体は、前記支持組立体の一端にねじ締めして受け入れられるナットを含むことを特徴とする請求項4に記載の毛管組立体。
- 前記ナットと前記支持組立体との間に設けられたシーリング部材を有し、前記シーリング部材は、前記ナットを締めたときに、前記毛管および前記支持組立体に対して押圧されることを特徴とする請求項7に記載の毛管組立体。
- 前記シーリング部材はフェルールであることを特徴とする請求項8に記載の毛管組立体。
- 前記ナットと前記支持組立体の一端との間に配置されたОリングを有し、前記Оリングは、前記ナットが緊締されたときに、前記支持組立体および前記毛管に対して押圧されてシールを形成することを特徴とする請求項7に記載の毛管組立体。
- 前記毛管を前記支持組立体に対して押圧する、ばね組立体を更に有することを特徴とする請求項4に記載の毛管組立体。
- 前記毛管を前記支持組立体に対して押圧する、ばね組立体を更に有することを特徴とする請求項1に記載の質量分光器システム。
- 前記支持組立体は加熱されることを特徴とする請求項4から11のいずれか1項に記載の毛管組立体。
- 前記支持組立体は、直接加熱されることを特徴とする請求項4から11のいずれか1項に記載の毛管組立体。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/699,141 US6667474B1 (en) | 2000-10-27 | 2000-10-27 | Capillary tube assembly with replaceable capillary tube |
US09/699141 | 2000-10-27 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002198006A JP2002198006A (ja) | 2002-07-12 |
JP3958557B2 true JP3958557B2 (ja) | 2007-08-15 |
Family
ID=24808112
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001330200A Expired - Fee Related JP3958557B2 (ja) | 2000-10-27 | 2001-10-29 | 交換可能な毛管を備えた毛管組立体 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6667474B1 (ja) |
EP (1) | EP1225616B1 (ja) |
JP (1) | JP3958557B2 (ja) |
CA (1) | CA2359954C (ja) |
DE (1) | DE60143736D1 (ja) |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3991023B2 (ja) * | 2003-10-31 | 2007-10-17 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
US7424980B2 (en) * | 2004-04-08 | 2008-09-16 | Bristol-Myers Squibb Company | Nano-electrospray nebulizer |
US7199364B2 (en) * | 2004-05-21 | 2007-04-03 | Thermo Finnigan Llc | Electrospray ion source apparatus |
US20060054805A1 (en) * | 2004-09-13 | 2006-03-16 | Flanagan Michael J | Multi-inlet sampling device for mass spectrometer ion source |
US20060115783A1 (en) * | 2004-12-01 | 2006-06-01 | Mclaren Edwin C | Apparatus and method for curing a light curable adhesive |
US7351960B2 (en) * | 2005-05-16 | 2008-04-01 | Thermo Finnigan Llc | Enhanced ion desolvation for an ion mobility spectrometry device |
US20080116370A1 (en) | 2006-11-17 | 2008-05-22 | Maurizio Splendore | Apparatus and method for a multi-stage ion transfer tube assembly for use with mass spectrometry |
JP4816426B2 (ja) * | 2006-11-22 | 2011-11-16 | 株式会社島津製作所 | 質量分析計 |
US7470899B2 (en) | 2006-12-18 | 2008-12-30 | Thermo Finnigan Llc | Plural bore to single bore ion transfer tube |
WO2009066358A1 (ja) * | 2007-11-22 | 2009-05-28 | Shimadzu Corporation | 質量分析計 |
US8794676B2 (en) * | 2008-05-30 | 2014-08-05 | Waters Technologies Corporation | Device and method for connecting fluid conduits |
US20100154568A1 (en) * | 2008-11-19 | 2010-06-24 | Roth Michael J | Analytical Instruments, Assemblies, and Methods |
US8242440B2 (en) * | 2009-05-01 | 2012-08-14 | Thermo Finnigan Llc | Method and apparatus for an ion transfer tube and mass spectrometer system using same |
US8875981B2 (en) * | 2011-06-08 | 2014-11-04 | Navolta Llc | System and method for a microreactor |
CA2878255C (en) * | 2013-06-07 | 2020-12-29 | New Objective, Inc. | Integrated nanospray system |
GB201317774D0 (en) * | 2013-10-08 | 2013-11-20 | Micromass Ltd | An ion inlet assembly |
WO2015040392A1 (en) | 2013-09-20 | 2015-03-26 | Micromass Uk Limited | Ion inlet assembly |
JP6231219B2 (ja) * | 2013-12-24 | 2017-11-15 | ウオーターズ・テクノロジーズ・コーポレイシヨン | 電気的に接地された電気スプレーための大気インターフェース |
GB2587288B (en) * | 2015-03-06 | 2021-07-28 | Micromass Ltd | Detection of bacteria in swab samples using desorption ionisation and mass spectrometry |
CN108700590B (zh) | 2015-03-06 | 2021-03-02 | 英国质谱公司 | 细胞群体分析 |
US10777398B2 (en) | 2015-03-06 | 2020-09-15 | Micromass Uk Limited | Spectrometric analysis |
GB2552430B (en) | 2015-03-06 | 2022-05-11 | Micromass Ltd | Collision surface for improved ionisation |
US10026599B2 (en) | 2015-03-06 | 2018-07-17 | Micromass Uk Limited | Rapid evaporative ionisation mass spectrometry (“REIMS”) and desorption electrospray ionisation mass spectrometry (“DESI-MS”) analysis of swabs and biopsy samples |
EP3265823B1 (en) | 2015-03-06 | 2020-05-06 | Micromass UK Limited | Ambient ionization mass spectrometry imaging platform for direct mapping from bulk tissue |
EP3265820B1 (en) | 2015-03-06 | 2023-12-13 | Micromass UK Limited | Spectrometric analysis of microbes |
US9768006B2 (en) * | 2016-01-20 | 2017-09-19 | Thermo Finnigan Llc | Ion transfer tube flow and pumping system load |
GB2548596A (en) * | 2016-03-22 | 2017-09-27 | Micromass Ltd | An interface probe |
EP3443354A1 (en) | 2016-04-14 | 2019-02-20 | Micromass UK Limited | Spectrometric analysis of plants |
US10103014B2 (en) | 2016-09-05 | 2018-10-16 | Agilent Technologies, Inc. | Ion transfer device for mass spectrometry |
US10302598B2 (en) | 2016-10-24 | 2019-05-28 | General Electric Company | Corrosion and crack detection for fastener nuts |
US10388501B1 (en) | 2018-04-23 | 2019-08-20 | Agilent Technologies, Inc. | Ion transfer device for mass spectrometry with selectable bores |
CN109585255B (zh) * | 2018-12-17 | 2024-05-10 | 深圳至秦仪器有限公司 | 密封装置及质谱仪进样装置 |
GB2590351B (en) | 2019-11-08 | 2024-01-03 | Thermo Fisher Scient Bremen Gmbh | Atmospheric pressure ion source interface |
CN112289674A (zh) * | 2020-11-13 | 2021-01-29 | 上海裕达实业有限公司 | 一种质谱直接进样装置 |
EP4006953A1 (en) * | 2020-11-27 | 2022-06-01 | F. Hoffmann-La Roche AG | Positioning of a needle-like component in a mass spectrometry system |
JPWO2023073983A1 (ja) * | 2021-11-01 | 2023-05-04 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3867631A (en) | 1972-09-28 | 1975-02-18 | Varian Associates | Leak detection apparatus and inlet interface |
GB2150289A (en) | 1983-11-22 | 1985-06-26 | Prutec Ltd | Introduction of samples into a mass spectrometer |
JPH01146242A (ja) | 1987-12-02 | 1989-06-08 | Hitachi Ltd | 質量分折計 |
US4977320A (en) | 1990-01-22 | 1990-12-11 | The Rockefeller University | Electrospray ionization mass spectrometer with new features |
US5690828A (en) * | 1990-07-13 | 1997-11-25 | Isco, Inc. | Apparatus and method for supercritical fluid extraction |
US5304798A (en) | 1992-04-10 | 1994-04-19 | Millipore Corporation | Housing for converting an electrospray to an ion stream |
US5289003A (en) | 1992-05-29 | 1994-02-22 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Department Of Health And Human Services | Probe for thermospray mass spectrometry |
US5416322A (en) | 1994-04-21 | 1995-05-16 | International Business Machines Corporation | Interface for linking an atmospheric pressure thermogravimetric analyzer to a low pressure mass spectrometer |
US5736741A (en) | 1996-07-30 | 1998-04-07 | Hewlett Packard Company | Ionization chamber and mass spectrometry system containing an easily removable and replaceable capillary |
US5756995A (en) * | 1997-07-09 | 1998-05-26 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Ion interface for mass spectrometer |
US5965883A (en) | 1997-08-25 | 1999-10-12 | California Institute Of Technology | Capillary for electrospray ion source |
-
2000
- 2000-10-27 US US09/699,141 patent/US6667474B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-10-25 CA CA002359954A patent/CA2359954C/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-10-26 DE DE60143736T patent/DE60143736D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-10-26 EP EP01309093A patent/EP1225616B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-10-29 JP JP2001330200A patent/JP3958557B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CA2359954A1 (en) | 2002-04-27 |
EP1225616B1 (en) | 2010-12-29 |
CA2359954C (en) | 2005-06-21 |
EP1225616A3 (en) | 2006-02-15 |
DE60143736D1 (de) | 2011-02-10 |
EP1225616A2 (en) | 2002-07-24 |
US6667474B1 (en) | 2003-12-23 |
JP2002198006A (ja) | 2002-07-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3958557B2 (ja) | 交換可能な毛管を備えた毛管組立体 | |
US4298795A (en) | Method and apparatus for introducing samples to a mass spectrometer | |
US8242440B2 (en) | Method and apparatus for an ion transfer tube and mass spectrometer system using same | |
US5736741A (en) | Ionization chamber and mass spectrometry system containing an easily removable and replaceable capillary | |
US6252225B1 (en) | Mass spectrometry of solution and apparatus therefor | |
US11217439B2 (en) | Mass spectrometer | |
EP3047510B1 (en) | Tool free gas cone retaining device for mass spectrometer ion block assembly | |
US6989531B2 (en) | Mass spectrometer | |
US7411185B2 (en) | Atmospheric pressure ionization mass spectrometer system | |
US20200006044A1 (en) | Ion inlet assembly | |
US8384026B2 (en) | Atmospheric pressure solids analysis probe assembly | |
US7427750B2 (en) | Mass spectrometer assemblies, mass spectrometry vacuum chamber lid assemblies, and mass spectrometer operational methods | |
JP5069568B2 (ja) | 排出チューブをオリフィスに対して位置調整するための装置および方法 | |
KR102583117B1 (ko) | 분석 기기에 입자 함유 샘플을 도입하기 위한 시스템 및 사용 방법 | |
US20230377867A1 (en) | Exhaust Flow Boosting for Sampling Probe for Use in Mass Spectrometry Systems and Methods | |
US20230349858A1 (en) | Sampling Probe with Internal Sampling for Use in Mass Spectrometry Systems and Methods | |
US11446694B2 (en) | Pipe connecting jig and ESI sprayer | |
US20240222104A1 (en) | Sealing interface for curtain chamber | |
GB2552903A (en) | Ion inlet assembly | |
GB2520152A (en) | Tool free gas cone retaining device for mass spectrometer ion block assembly | |
Favretto et al. | ‘Underflow’introduction system for solid and liquid samples in bench‐top gas chromatographic/mass spectrometric systems |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040202 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20040506 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20040511 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040628 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050530 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050819 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20061204 |
|
AA91 | Notification that invitation to amend document was cancelled |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971091 Effective date: 20061219 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070109 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070409 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070507 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070510 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100518 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110518 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120518 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130518 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |