JP3947196B2 - 磁気テープ装置 - Google Patents

Description

本発明は、サーペンタイン記録再生方式の磁気テープ装置に関する。

磁気ヘッドと磁気テープとの相対的な移動方向が磁気テープの長さ方向に沿う、いわゆるサーペンタイン記録再生方式の磁気テープ装置は、磁気ヘッドと磁気テープとの接触面積が小さいため、接触による磁気テープへのダメージが少なくなり、磁気テープの走行速度を高速化できる。この故、膨大な情報のバック・アップ装置として、高い信頼性と高速度の記録および／または再生性能とが要求されているライブラリ用の記録装置として広く使用されている。

一般に、磁気テープは、ポリエチレン・テレフタレートあるいはポリエチレン・ナフタレートなどからなるベースフィルムと、いわゆるメタルあるいはクロムなどからなる磁性体と、ウレタンなどからなるバインダと、オレイン酸などからなる潤滑剤と、アルミナなどからなる研磨剤と、分散剤などの添加物とにより構成されている。

磁気ヘッドに付着する異物は、磁気テープの走行を繰り返すことにより磁気テープのバインダが溶着して磁気ヘッドに付着した粘着性の異物と、塵埃あるいは磁性粉などが磁気ヘッドに付着した非粘着性の異物とに分けられる。これらの磁気ヘッドに付着した異物の除去方法としては、粘着性の異物の場合、研磨剤を多く含有したクリーニングテープを磁気テープ装置に装填し、クリーニングテープを走行させて磁気ヘッドを研磨する方法が知られている。また、非粘着性の異物の場合は、磁気テープ装置に磁気テープが装填されていないとき、たとえば磁気テープを排出した際に、磁気テープ装置に設けられたブラシを磁気ヘッドに押し当て、磁気ヘッドを磁気テープ幅方向に往復移動させる、いわゆるブラシ・クリーニングが知られている。

従来の磁気テープ装置では、磁気ヘッドへの異物の付着によるリード／ライト・オペレーション性能の低下を防ぐため、磁気ヘッド近傍にクリーナ機構を設け、このクリーナ機構を磁気テープに接触させることにより、磁気ヘッドへの異物の付着を抑制していた。また、磁気テープの排出時に毎回ブラシ・クリーニングを実行することで、非粘着性の異物を除去していた。また、たとえば磁気テープの累積走行時間などの、オペレーションの統計情報に基づいて、クリーニングテープによるクリーニングが必要である旨を上位装置に通知し、それを上位装置がオペレータに報知することで、定期的な粘着性の異物の除去を促していた。

一方、磁気ヘッドに複数設けられているヘッド素子のうち、ユーザデータ・トラックやサーボ・トラックに記録されているデータをリードするためのヘッド素子には、バイアス電流が流され、これによりヘッド素子に生じる微少な電位差によってデータを認識している。そして、ヘッド素子に生じる電位差と所定の閾値とを比較することによって電位差の異常を検出し、電位差の異常が検出されたときに磁気ヘッドに異常が生じたと判断する磁気テープ装置が提案されている。

特開平０５−３０７７１７号公報 特開平０６−１３１６３７号公報

リード／ライト・オペレーション実行中に、データ・トラックやサーボ・トラックに記録されているデータの認識ができなくなったとき、つまり磁気ヘッドのデータに対するリード／ライト性能が低下したとき、その原因は殆どの場合、磁気ヘッドへの異物の付着である。

このような事態に陥った場合、従来の磁気テープ装置では、一旦磁気テープをアンスレッドさせてブラシ・クリーニングを実行し、再度磁気テープを装填して、位置付けした後、リード／ライト・オペレーションを実行していた。

しかし、このような手法では、磁気テープの終端付近でオペレーションを実行していた場合、一旦、磁気テープを供給リールへ巻き戻し、磁気テープを取り出して、ブラシ・クリーニングを実行した後に、磁気テープを装填し、磁気テープをオペレーション位置へ位置付けるという作業が必要であり、修復に要する時間すなわちリカバリ時間が膨大になるという課題があった。

また、磁気ヘッドに付着している異物が粘着性の場合、ブラシ・クリーニングでは異物を除去する効果が得られず、オペレーションを中断し、クリーニングテープによるクリーニングが必要である旨を上位装置に通知し、オペレータに報知するしかなかった。

本発明は、上記した事情のもとで考え出されたものであって、磁気ヘッドに異常が生じたときに、その原因を切り分けて検出できる磁気テープ装置を提供することを目的とする。

上記の課題を解決するため、本発明では、次の技術的手段を講じている。

本発明の第１の側面によれば、磁気ヘッドを磁気テープの幅方向に移動させるヘッド移動装置と、磁気ヘッドに備えられて磁気テープに記録されている情報を再生するヘッド素子の抵抗値が正常範囲内であるか否かを判断する抵抗値判断装置と、磁気ヘッドに対して当接離間可能な導電性のブラシとを有する磁気テープ装置であって、ブラシが磁気ヘッドに当接せず、かつ磁気テープが磁気ヘッドに対向していない状態で、ヘッド移動装置を駆動させて磁気ヘッドを磁気テープの幅方向に移動させ、そのときの抵抗値判断装置による判断結果に基づいて、磁気ヘッドの状態を、非導電性の異物が付着しているかあるいは正常な状態と、導電性の異物が付着しているかあるいは故障の状態と、接触不良の状態とに切り分けて検出する状態検出装置を備えたことを特徴とする、磁気テープ装置が提供される。

本発明の第２の側面によれば、磁気テープが装填されたときに、磁気テープの端部に位置する所定長さの非データ領域が常に磁気ヘッドに対向するように、磁気テープを所定距離往復走行させる往復走行制御装置を備えたことを特徴とする、磁気テープ装置が提供される。

本発明の第３の側面によれば、磁気ヘッドに備えられて磁気テープに記録されている情報を再生するヘッド素子の抵抗値が正常範囲内であるか否かを判断する抵抗値判断装置を有する磁気テープ装置であって、磁気ヘッドにより磁気テープに記録された情報を記録および／または再生するときに、磁気ヘッドからの再生信号と抵抗値判断装置による判断結果とに基づいて、磁気ヘッドの状態を、正常な状態と、非導電性の異物が付着している状態と、導電性の異物が付着しているかあるいは故障の状態とに切り分けて検出する状態検出装置を備えたことを特徴とする、磁気テープ装置が提供される。

本発明の第４の側面によれば、磁気ヘッドに備えられて磁気テープに記録されている情報を再生するヘッド素子の抵抗値が正常範囲内であるか否かを判断する抵抗値判断装置を有し、上位装置からの指令に基づいて動作する磁気テープ装置であって、磁気ヘッドにより磁気テープに記録された情報を記録および／または再生するときに、磁気ヘッドからの再生信号と抵抗値判断装置による判断結果とに基づいて、磁気ヘッドの状態を、正常な状態と、非導電性の異物が付着している状態と、導電性の異物が付着しているかあるいは故障の状態とに切り分けて検出する状態検出装置と、状態検出装置による検出結果に応じて、その検出結果を上位装置に通知するか、あるいは磁気ヘッドに付着した異物を除去するための動作を行わせるリカバリ装置とを備えたことを特徴とする、磁気テープ装置が提供される。

本発明の第５の側面によれば、磁気ヘッドに備えられて磁気テープに記録されている情報を再生するヘッド素子の抵抗値が正常範囲内であるか否かを判断する抵抗値判断装置を有する磁気テープ装置であって、磁気ヘッドにより磁気テープに記録された情報を記録および／または再生するときに、磁気ヘッドからの再生信号と抵抗値判断装置による判断結果とに基づいて、磁気ヘッドの状態を、正常な状態と、非導電性の異物が付着している状態と、導電性の異物が付着しているかあるいは故障の状態とに切り分けて検出する状態検出装置と、状態検出装置により磁気ヘッドが正常な状態ではないと判断されたときに、磁気テープをその両端部のうちのいずれか近い方まで走行させた後、磁気テープの端部に位置する所定長さの非データ領域が常に磁気ヘッドに対向するように、磁気テープを所定距離往復走行させる往復走行制御装置とを備えたことを特徴とする、磁気テープ装置が提供される。

本発明の第６の側面によれば、磁気ヘッドにより磁気テープに記録された情報を記録および／または再生しているときに、磁気ヘッドからの再生信号の異常を検出する再生信号異常検出装置と、再生信号異常検出装置により再生信号の異常が検出されたときに、磁気テープの張力を増加させて、磁気テープをその両端部のうちのいずれか近い方の非データ領域まで走行させ、その後に磁気テープの張力を減少させて、元の位置まで磁気テープを走行させるリカバリ装置とを備えたことを特徴とする、磁気テープ装置が提供される。

本発明によれば、磁気ヘッドに異常が生じたときに、その原因を切り分けて検出できるので、検出された原因に応じて、その原因を除去するために磁気テープ装置を自動的に動作させたり、あるいは原因を上位装置に報告することが可能になり、この結果、リカバリ時間の短縮およびリード／ライト性能の向上を図ることができる。

本発明のその他の特徴および利点は、添付図面を参照して以下に行う詳細な説明によって、より明らかとなろう。

以下、本発明の好ましい実施の形態を、添付図面を参照して具体的に説明する。

図１は、本発明の一実施形態における磁気テープ装置の概略ブロック図であって、磁気テープ装置１は、上位装置２に接続されている。磁気テープ装置１には、磁気ヘッド１１、モータ１２、マシンリール１３、モータ１４、ロータリーエンコーダ１５、ファイルリール１６、モータ１７、ロータリーエンコーダ１８、プロセッサ部２１、ＲＯＭ２２、ＲＡＭ２３、インターフェイス部２４、計測部２５、リードライト回路部２６、マシンリール側パルス検出部２８、ファイルリール側パルス検出部２９、パルス情報処理部３０、Ｄ／Ａコンバータ３１〜３３、および増幅器３４〜３６を備えている。リードライト回路部２６は、抵抗異常検出回路部２７を備えている。上位装置２は、ホストコンピュータに接続されており、多数の磁気テープ装置１を備えた磁気テープライブラリ装置を総合的に制御している。

磁気ヘッド１１は、磁気テープに情報を記録するためのライト用のヘッド素子と、磁気テープに記録された情報を読み出すためのリード用のヘッド素子との組を、複数チャネル分備えている。そしてこれらの複数チャネル分のヘッド素子は、磁気テープの正方向走行時用と逆方向走行時用との２セット設けられている。

モータ１２は、磁気ヘッド１１を、磁気テープの幅方向に移動させる。

マシンリール１３は、磁気テープの正方向走行時に磁気テープを巻き取る。

モータ１４は、マシンリール１３を正逆回転させる。

ロータリーエンコーダ１５は、モータ１４が所定角度回転する毎にパルスを生成する。

ファイルリール１６は、磁気テープ装置１に着脱自在なテープカートリッジに内臓されており、磁気テープの逆方向走行時に磁気テープを巻き取る。

モータ１７は、ファイルリール１６を正逆回転させる。

ロータリーエンコーダ１８は、モータ１７が所定角度回転する毎にパルスを生成する。

プロセッサ部２１は、上位装置２からの指令に応じて、磁気テープ装置１の全体を制御する。

ＲＯＭ（read only memory）２２は、磁気テープ装置１を制御するためのプログラムなどを記憶している。

ＲＡＭ（random access memory）２３は、各種のデータを記憶し、プロセッサ部２１にワークエリアを提供する。

インターフェイス部２４は、複数のレジスタを備えており、上位装置２から指示された磁気テープのアドレスなどを一時記憶する

計測部２５は、複数のタイマや複数のカウンタを備えており、入力されたパルスのパルス間隔やパルス数などを計測する。

リードライト回路部２６は、上位装置２からの磁気テープに記録すべき情報を処理して所定のタイミングで磁気ヘッド１１に供給し、また、磁気ヘッド１１によって再生された情報を処理して所定のタイミングで上位装置２に供給する。

抵抗異常検出回路部２７は、磁気ヘッド１１のリード用の各ヘッド素子の抵抗値を計測し、計測した抵抗値が予め決められた正常範囲を外れていれば、異常検出信号を生成して、それをプロセッサ部２１に供給する。

マシンリール側パルス検出部２８は、ロータリーエンコーダ１５からのパルスを検出し、検出信号を計測部２５に供給する。

ファイルリール側パルス検出部２９は、ロータリーエンコーダ１８からのパルスを検出し、検出信号を計測部２５およびパルス情報処理部３０に供給する。

パルス情報処理部３０は、ファイルリール側パルス検出部２９からの検出信号に基づいて磁気テープの走行速度や走行位置を演算し、演算結果をインターフェイス部２４に供給する。

Ｄ／Ａコンバータ３１は、インターフェイス部２４からのディジタルデータをアナログ信号に変換して増幅器３４に供給する。

Ｄ／Ａコンバータ３２は、インターフェイス部２４からのディジタルデータをアナログ信号に変換して増幅器３５に供給する。

Ｄ／Ａコンバータ３３は、インターフェイス部２４からのディジタルデータをアナログ信号に変換して増幅器３６に供給する。

増幅器３４は、Ｄ／Ａコンバータ３１からの信号を増幅してモータ１２に供給する。

増幅器３５は、Ｄ／Ａコンバータ３２からの信号を増幅してモータ１４に供給する。

増幅器３６は、Ｄ／Ａコンバータ３３からの信号を増幅してモータ１７に供給する。

図２は、図１に示す抵抗異常検出回路部２７の回路ブロック図であって、この抵抗異常検出回路部２７は、定電流回路４１、増幅器４２、電圧比較回路４３、および抵抗器Ｒ２〜Ｒ６を備えている。Ｒ１は、磁気ヘッド１１のヘッド素子であって、磁気ヘッド１１に備えられた全てのリード用のヘッド素子について、各々抵抗値の異常が検出される。

定電流回路４１には、抵抗異常検出回路部２７の外部からバイアス電圧すなわち基準電圧が供給される。これにより抵抗異常検出回路部２７は、基準電圧に応じた基準電流を生成し、それを出力する。この基準電流は、抵抗器Ｒ３，Ｒ４およびヘッド素子Ｒ１からなる直列回路と、抵抗器Ｒ５，Ｒ６からなる直列回路とを流れる。

バイアス電流としての基準電流によってヘッド素子Ｒ１の両端間に発生した電圧は、増幅器４２によって増幅され、再生信号としてリードライト回路部２６に供給される。すなわち、磁気テープを走行させることにより、磁気テープに記録されている信号に応じてヘッド素子Ｒ１の両端間の電圧が微少に変化するので、その電圧変化を再生信号として利用するのである。

一方、抵抗異常検出時には、ヘッド素子Ｒ１の両端間の電圧と抵抗器Ｒ６の両端間の電圧とを電圧比較回路４３によって比較する。電圧比較回路４３は、ヘッド素子Ｒ１の両端間の電圧と抵抗器Ｒ６の両端間の電圧との差が所定値を越えていれば、プロセッサ部２１に供給している異常検出信号をアサートする。

図３および図４は、磁気テープ装置１のスレッダ機構部とブラシ機構部との分解斜視図であって、上下を逆に図示している。ブラシ機構部５１には、磁気ヘッド１１に付着した非粘着性の異物を書き落とすブラシ５２が設置されている。このブラシ５２は、磁気テープとの摩擦によって磁気ヘッド１１に蓄積された静電気を除去する機能をも有しており、導電性の材料により構成されている。このブラシ５２は、リンクアーム５３によって移動可能に支持されており、必要に応じて磁気ヘッド１１に当接する。

スレッダ機構部５５には、リンク機構を備えたスレッダアーム５６が回動可能に設置されており、スレッダアーム５６の先端には、スレッダピン５７が取り付けられている。スレッダアーム５６は、スレッダギヤ５８の回動に伴って回動する。スレッダ機構部５５の天板６１には、曲線状の切り欠き６２が形成されており、この切り欠き６２にはスレッダピン５７が摺動自在に嵌合している。したがって、スレッダアーム５６を回動させることにより、スレッダピン５７が切り欠き６２に沿って移動する。

図５は、磁気テープ装置１内部の概略平面図であって、磁気テープ装置１にはテープカートリッジ７１が装填される。テープカートリッジ７１には、ファイルリール１６（図１）と、ファイルリール１６に巻回された磁気テープ７２とが収容されており、磁気テープ７２の先端には、リーダブロック７３が連結されている。図５のように磁気テープ７２をマシンリール１３に装着した状態では、リーダブロック７３はマシンリール１３の中心部に嵌合しており、磁気テープ７２は、ローラガイド７５〜７７に案内されて磁気ヘッド１１に対向している。磁気ヘッド１１とローラガイド７５との間には、クリーナ７８が設置されており、磁気ヘッド１１とローラガイド７６との間には、クリーナ７９が設置されている。クリーナ７８，７９は、磁気テープ７２に当接し、磁気テープ７２に付着した異物を剥ぎ取る。スレッダモータ８１は、スレッダギヤ５８を介してスレッダアーム５６を回動させる。

図６は、磁気テープ７２のマシンリール１３への装着過程の説明図であって、テープカートリッジ７１が磁気テープ装置１に装填されると、リーダブロック７３とスレッダピン５７とが係合する。そして、スレッダアーム５６が回動すると、スレッダピン５７が切り欠き６２に沿って移動し、これに伴ってリーダブロック７３が移動する。これにより磁気テープ７２がテープカートリッジ７１から引き出され、磁気テープ７２が、ローラガイド７５、クリーナ７８、磁気ヘッド１１、クリーナ７９、ローラガイド７６、およびローラガイド７７に順次当接する。さらにスレッダピン５７が移動すると、リーダブロック７３がマシンリール１３の切除部１３ａを通ってマシンリール１３の中心部に収容される。この状態でマシンリール１３を回動させると、磁気テープ７２がマシンリール１３に巻き取られ、磁気テープ７２が走行する。もちろん、ファイルリール１６からは磁気テープ７２が繰り出される。

図７は、磁気ヘッド１１付近の拡大平面図であって、クリーナ７８，７９は磁気テープ７２の記録面に当接しており、磁気テープ７２が走行することによって、磁気テープ７２に付着している異物がクリーナ７８，７９によって剥ぎ取られる。磁気ヘッド１１は昇降台８２に取り付けられており、モータ１２によって昇降台８２が昇降することにより、磁気ヘッド１１が磁気テープ７２の幅方向に移動する。すなわち、磁気テープ７２には磁気ヘッド１１のチャネル数よりも多数のトラックが形成されており、磁気ヘッド１１を磁気テープ７２の幅方向に移動させることにより、磁気ヘッド１１が磁気テープ７２の所望のトラックにアクセス可能になるのである。

次に、上記磁気テープ装置１の動作の概略を説明する。磁気テープ装置１の電源が投入されると、磁気テープ装置１の各機構部の診断や初期位置付け動作が行われる。各機構部の診断時に、磁気テープ装置１内のテープカートリッジ７１の有無が確認され、テープカートリッジ７１が存在する場合は排出動作が行われる。

この各機構部の診断や初期位置付け動作時には、磁気ヘッド１１にブラシ５２が接触している。このブラシ５２は、磁気ヘッド１１の清掃、および磁気ヘッド１１の静電気を放電させる機能を有している。すなわち、磁気テープ７２の走行により磁気ヘッド１１に静電気が充電されるので、この静電気をブラシ５２によって放電させることにより、磁気ヘッド１１の静電気による破壊を未然に防いでいる。このため、ブラシ５２の材質は、導電性を有する、たとえばカーボンを含有したものが一般的に使用されている。したがって、ブラシ５２の固有抵抗すなわち抵抗率にもよるが、磁気ヘッド１１とブラシ５２とが接触している状態で、磁気ヘッド１１のヘッド素子Ｒ１にバイアス電流すなわち基準電流を流して抵抗異常検出を行うと、ブラシ５２の影響により、ヘッド素子Ｒ１の抵抗値が正常範囲であるにも係わらず、抵抗異常検出回路部２７が異常検出信号を出力する恐れがある。

また、磁気ヘッド１０とリードライト回路部２６とを結ぶケーブルが部分的に断線した際は、磁気ヘッド１０を移動させると、ケーブルの断線部が接触状態と非接触状態とを繰り返す。

したがって、装置機構部診断の際に、磁気ヘッド１１とブラシ５２とを離間させ、磁気ヘッド１１を磁気テープ７２の幅方向に往復移動させながら、磁気ヘッド１１のヘッド素子Ｒ１の抵抗値異常を検出する。これにより、常に抵抗値が異常であれば、磁気ヘッド１０の状態が、ケーブルの完全断線などの破損状態あるいは導電性の異物が付着した状態であると判断できる。また、抵抗値が異常と正常とを繰り返す結果になれば、ケーブルなどの接触不良状態であると判断できる。そして、このような検出結果に応じて、ケーブル等の接触不良による装置使用不可通知や、磁気テープ７２の代わりにクリーニングテープを収容したクリーニング用テープカートリッジによる清掃要求通知を、上位装置２に提供する。これにより上位装置２が、操作パネルに設けられたディスプレイ画面あるいは表示灯などにより清掃要求通知をオペレータに報知する。

清掃要求通知により、クリーニングテープによる磁気ヘッド１１のクリーニングが行われた後、再度、磁気ヘッド１１とブラシ５２とを離間させた状態で、磁気ヘッド１１を磁気テープ７２の幅方向に往復移動させながら、磁気ヘッド１１のヘッド素子Ｒ１の抵抗値異常を検出する。これにより、常に抵抗値が異常であれば、磁気ヘッド１０の状態が、導電性の異物が付着した状態ではなく、破損状態であると判断できる。この検出結果に応じて、破損による装置使用不可通知を上位装置２に提供する。これにより上位装置２は、破損による装置使用不可通知をオペレータに報知する。

上記の装置初期診断時に、クリーニングテープによる清掃要求通知を報知したにも拘らず、クリーニングテープによる清掃が行われずに磁気テープ装置１にテープカートリッジ７１が装填される場合もある。そこで、磁気テープ装置１にテープカートリッジ７１が装填されたときにも、磁気ヘッド１１の状態を検査し、異常状態を報知するとともに、可能な限りリカバリを試みる。

クリーニングテープではない通常の磁気テープ７２においても、研磨剤が含有されており、磁気ヘッド１１に磁気テープ７２を接触させながら走行させることにより、若干の研磨効果が得られる。

そこで、磁気テープ装置１にテープカートリッジ７１が装填され、上位装置２に装填完了通知を発行する前に、すなわち実データのリード／ライト前に、磁気テープ７２を一定距離だけ繰り返し往復走行させることで、磁気テープ７２の非データ領域を磁気ヘッド１１に接触させ、磁気ヘッド１１に付着した導電性の異物を除去する。

サーペンタイン記録再生方式の磁気テープ７２は、磁気テープ７２の始端部付近および終端部付近に生じるプリント・スルーすなわち段差によるデータの転写現象を避けるために、磁気テープ７２の先端及び終端からそれぞれ数ｍ程度の区間に非データ領域を設けている。異物の除去を目的とした磁気テープ７２の加減速繰り返しを非データ領域を利用して行うことにより、データ領域を保護する。

これにより、クリーニングテープを用いることなく、磁気ヘッド１１に付着した導電性の異物を除去することができる。しかも、磁気テープ７２の非データ領域を利用することから、データ領域の耐久性に影響を及ぼすことがない。

以上のような、磁気テープ装置１の電源オン時、および磁気テープ装置１へのテープカートリッジ７１の装填時の検査では、磁気ヘッド１１に非導電性の異物が付着していることを検出できない。また、磁気テープ装置１へのテープカートリッジ７１の装填後に磁気ヘッド１１に不具合が発生する場合もある。そこで、データのリード／ライト・オペレーション実行中に、データトラックもしくはサーボトラックからの出力のドロップアウトが生じた場合、ヘッド素子Ｒ１の抵抗異常を検出する。

トラック出力のドロップアウトは、リードデータの異常により検出される。このようなドロップアウトは、磁気テープ７２の傷や、磁気テープ７２あるいは磁気ヘッド１１への非導電性の異物の付着により発生する。磁気テープ７２の傷もしくは異物の付着が原因の場合、磁気テープ７２の走行を続行することで、サーボ・トラック出力は復旧する。この際、リード・オペレーション中はＥＣＣ(error checking and correction) 処理すなわち誤り訂正符号処理を実行することにより、データは保証される。また、ライト・オペレーション中は、ＳＭＤｍａｒｋ(the servo demark mark) 処理、すなわち磁気テープ７２の異常の発生した領域を除いて記録する処理を実行する。磁気テープ７２の走行を続行してもトラック出力が改善されない場合は、磁気ヘッド１１への非導電性の異物の付着であると判断できる。

また、ヘッド素子Ｒ１の抵抗値異常は、磁気ヘッド１１への導電性の異物の付着、あるいは磁気ヘッド１１の破損により発生する。この場合、たとえばデータのリード／ライト・オペレーションを中断し、磁気テープ７２もしくはクリーニングテープにより磁気ヘッド１１を研磨清掃した結果、リードデータのドロップアウトが無くなれば、磁気ヘッド１１に導電性の異物が付着していたと判断でき、無くならなければ、磁気ヘッド１１の破損であると判断できる。

データのリード・オペレーション実行中に磁気テープ７２の傷やゴミ、あるいは磁気ヘッド１１への非導電性の異物の付着によりトラックの再生異常を検出した際には、オペレーションを中断し、磁気テープ７２の張力をアップさせ、再オペレーションすなわち磁気テープ７２の再位置付けおよびリードの再試行を実行する。磁気テープ７２の張力をアップさせることで、クリーナ７８，７９と磁気テープ７２との間、および磁気ヘッド１１と磁気テープ７２との間の研磨効果を向上させて、オペレーション復旧を試みる。

このような磁気テープ７２の張力アップによる再試行によっても異常を検出する場合、および、データのライト・オペレーション実行中に磁気テープ７２の走行の続行によってもトラック出力が改善できない場合は、磁気ヘッド１１への非導電性の異物の付着に起因するので、ブラシ・クリーニングを実行した後、再オペレーションを実行する。なお、磁気テープ７２の走行の続行によってトラック出力が復帰する際は、磁気テープ７２の傷あるいは異物が原因であるので、ライト・オペレーションでは、この領域を除いてオペレーションを実行する。

ヘッド素子Ｒ１の抵抗値異常の場合、磁気ヘッド１１への導電性の異物の付着、磁気ヘッド１１の破損あるいは接触不良が原因である。そこで、オペレーションを中断し、磁気テープ７２の張力をアップさせ、磁気テープ７２の加減速を繰り返すことにより、クリーナ７８，７９と磁気テープ７２との間、および磁気ヘッド１１と磁気テープ７２との間の研磨効果を向上させ、抵抗値異常の解消を試みる。このようなリカバリによっても抵抗値異常を解消できない場合は、オペレーション不可である旨と、クリーニングテープによるヘッド清掃が必要である旨とを上位装置２に通知する。これにより上位装置２が、それをオペレータに報知する。また、クリーニングテープによっても改善が得られない場合は、磁気ヘッド１１の破損による装置使用不可を上位装置２に通知する。これにより上位装置２が、それをオペレータに報知する。

次に、上記各動作の実現手法の概略について、プロセッサ部２１による処理手順を記したフローチャートを参照しながら説明する。

図８は、磁気テープ装置１の電源オン時の処理手順を説明するフローチャートであって、磁気テープ装置１の電源がオンされると、プロセッサ部２１が、先ず磁気テープ装置１の各機構部の診断など、磁気ヘッド１１の不具合の検出とは別の処理を実行する（Ｓ１）。

次にプロセッサ部２１が、スレッダ機構部５５をＦＷＤ動作させる（Ｓ２）。すなわち、スレッダモータ８１を駆動させることにより、スレッダアーム５６を回動させ、スレッダピン５７を切り欠き６２に沿ってテープカートリッジ７１側からマシンリール１３側へと移動させる。ただし、いまは磁気テープ装置１にテープカートリッジ７１が装填されていないので、テープカートリッジ７１のリーダブロック７３がマシンリール１３に装着されることはない。これにより、磁気ヘッド１１とブラシ５２とが離間して非接触になる。

次にプロセッサ部２１が、抵抗値異常検出の準備処理を行う（Ｓ３）。すなわち、ヘッド素子Ｒ１の抵抗値異常検出回数をカウントするＭＲ異常検出カウンタを初期化する。また、第１タイマおよび第２タイマを初期化する。また、磁気ヘッド１１の往復移動回数をカウントするＭＲヘッド動作カウンタを初期化する。また、抵抗異常検出回路部２７の定電流回路４１から磁気ヘッド１１のヘッド素子Ｒ１への基準電流すなわちバイアス電流をセットする。ＭＲ異常検出カウンタ、第１タイマ、第２タイマ、およびＭＲヘッド動作カウンタは、計測部２５に設けられている。

次にプロセッサ部２１が、第２タイマによる計時時間が予め決められた所定値Ｂ以上になったか否かを判断する（Ｓ４）。

第２タイマによる計時時間がＢ以上であれば（Ｓ４：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、ヘッド素子Ｒ１の抵抗値の異常が検出されたか否かを判断する（Ｓ５）。すなわち、プロセッサ部２１が、抵抗異常検出回路部２７の電圧比較回路４３からの異常検出信号がアサートされているか否かを調べる。

抵抗値の異常が検出されれば（Ｓ５：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、ＭＲ異常検出カウンタをインクリメントする（Ｓ６）。

次にプロセッサ部２１が、第２タイマを初期化する（Ｓ７）。

次にプロセッサ部２１が、第１タイマによる計時時間が予め決められた所定値Ａ以上になったか否かを判断する（Ｓ８）。

第１タイマによる計時時間がＡ以上であれれば（Ｓ８：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、第１タイマによる計時時間が２Ａ以上になったか否かを判断する（Ｓ９）。

第１タイマによる計時時間が２Ａ以上であれれば（Ｓ９：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、ＭＲヘッド動作カウンタをインクリメントする（Ｓ１０）。

次にプロセッサ部２１が、ＭＲヘッド動作カウンタのカウント値が予め決められたＣ以上であるか否かを判断する（Ｓ１１）。

ＭＲヘッド動作カウンタのカウント値がＣ以上であれば（Ｓ１１：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、モータ１２を制御して磁気ヘッド１１の磁気テープ７２幅方向の移動を停止させる（Ｓ１２）。

次にプロセッサ部２１が、スレッダ機構部５５をＢＷＤ動作させる（Ｓ１３）。すなわち、スレッダモータ８１を駆動させることにより、スレッダアーム５６を回動させ、スレッダピン５７を切り欠き６２に沿ってマシンリール１３から遠ざかる方向に移動させる。

次にプロセッサ部２１が、ＭＲ異常検出カウンタによるカウント値が予め決められた値Ｄ以上であるか否かを判断する（Ｓ１４）。

ＭＲ異常検出カウンタによるカウント値がＤ以上でなければ（Ｓ１４：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、ＭＲ異常検出カウンタによるカウント値が予め決められた値であってＤよりも小さいＥ以上であるか否かを判断する（Ｓ１５）。

ＭＲ異常検出カウンタによるカウント値がＥ以上でなければ（Ｓ１５：ＮＯ）、抵抗値異常検出の結果磁気ヘッド１１に異常が認められなかったということなので、プロセッサ部２１が、導電性の異物が磁気ヘッド１１に付着していることを表す導電性ゴミ付着情報をリセットして（Ｓ１６）、このルーチンを終了する。導電性ゴミ付着情報は、ＲＡＭ２３に記憶されている。

ステップＳ１５において、ＭＲ異常検出カウンタによるカウント値がＥ以上であれば（Ｓ１５：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、磁気ヘッド１１の接触不良である旨のエラー通知を行ない（Ｓ１７）、このルーチンを終了する。エラー通知は、上位装置２に対して行われる。これにより上位装置２は、ディスプレイ画面や表示灯などによりエラー通知をオペレータに報知する。

ステップＳ１４において、ＭＲ異常検出カウンタによるカウント値がＤ以上であれば（Ｓ１４：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、導電性ゴミ付着情報をセットする（Ｓ１８）。

次にプロセッサ部２１が、クリーニング要求を通知し（Ｓ１９）、このルーチンを終了する。クリーニング要求は、クリーニングテープによって磁気ヘッド１１をクリーニングすべき旨の上位装置２への通知であって、これはディスプレイ画面や表示灯などにより磁気テープ装置１のオペレータに報知される。

ステップＳ１１において、ＭＲヘッド動作カウンタのカウント値がＣ以上でなければ（Ｓ１１：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、第１タイマを初期化し（Ｓ２０）、ステップＳ４に戻る。

ステップＳ９において、第１タイマによる計時時間が２Ａ以上でなければ（Ｓ９：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、モータ１２を制御して、磁気ヘッド１１の磁気テープ７２幅方向一方側への駆動を開始し（Ｓ２１）、ステップＳ４に戻る。

ステップＳ８において、第１タイマによる計時時間がＡ以上でなければ（Ｓ８：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、モータ１２を制御して、磁気ヘッド１１を磁気テープ７２幅方向他方側への駆動を開始し（Ｓ２２）、ステップＳ４に戻る。

ステップＳ５において、抵抗値の異常が検出されていなければ（Ｓ５：ＮＯ）、ステップＳ７に進む。

ステップＳ４において、第２タイマによる計時時間がＢ以上でなければ（Ｓ４：ＮＯ）、ステップＳ７に進む。

このように、磁気ヘッド１１を磁気テープ７２幅方向に往復移動させながら、所定の時間Ｂ毎にヘッド素子Ｒ１の抵抗値が異常であるかどうかを診断する。磁気ヘッド１１の往復動作の周期は所定の時間Ａで決定され、往復動作の回数は所定の値Ｃで決定される。磁気ヘッド１１に導電性の異物が付着している場合は、磁気ヘッド１１を往復動作させても常に抵抗値の異常が検出されるため、異常検出カウンタのカウント値がＤ以上になることで認識できる。このため、導電性の異物が付着している旨と、異物の除去のためのクリーニング要求を上位装置２およびオペレータに知らせることが可能となる。

磁気ヘッド１１のケーブルの部分断線などによる接触不良の場合は、磁気ヘッド１１を往復移動させることにより、不良箇所が接触と非接触とを繰り返すので、ヘッド素子Ｒ１の抵抗値も異常と正常とを繰り返すことになる。したがって、異常検出カウンタのカウント値がＤよりも小さいＥ以上になることで認識できる。このため、磁気ヘッド１１の接触不良を上位装置２およびオペレータに知らせることが可能となる。

図９および図１０は、磁気テープ装置１へのテープカートリッジ７１の装填時の処理手順を説明するフローチャートであって、磁気テープ装置１にテープカートリッジ７１が挿入されると、プロセッサ部２１が、先ずローダダウン処理を行う（Ｓ３１）。すなわち、テープカートリッジ７１を引き込んで磁気テープ装置１内の所定の位置に位置決めする。

次に、プロセッサ部２１が、スレッダ機構部５５をＦＷＤ動作させる（Ｓ３２）。すなわち、スレッダモータ８１を駆動させることにより、スレッダアーム５６を回動させ、スレッダピン５７を切り欠き６２に沿ってテープカートリッジ７１側からマシンリール１３側へと移動させる。これにより、テープカートリッジ７１のリーダブロック７３がマシンリール１３に装着され、磁気ヘッド１１と磁気テープ７２とが対向する。また、磁気ヘッド１１とブラシ５２とが離間して非接触になる。

次に、プロセッサ部２１が、媒体初期径算出処理を行う（Ｓ３３）。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気テープ７２を所定距離走行させ、そのときのマシンリール１３の回転回数をロータリーエンコーダ１５からの信号に基づいて演算し、その結果を用いてファイルリール１６に巻回されている磁気テープ７２の外径を演算する。これは、磁気テープ７２を所定の速度で走行させるための定数を演算するのに用いるためである。

次に、プロセッサ部２１が、導電性ゴミ付着情報がセットされているか否かを判断する（Ｓ３４）。すなわち、プロセッサ部２１が、ＲＡＭ２３に導電性ゴミ付着情報が記憶されているかどうかを調べる。

導電性ゴミ付着情報がセットされていれば（Ｓ３４：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、クリーニング初期処理を行う（Ｓ３５）。すなわち、プロセッサ部２１が、媒体走行カウンタを初期化する。また、プロセッサ部２１が、ＭＲヘッド駆動方向フラグを初期化する。媒体走行カウンタは、磁気テープ７２の往復走行回数をカウントするためのカウンタであって、計測部２５に備えられている。ＭＲヘッド駆動方向フラグは、磁気ヘッド１１を磁気テープ７２幅方向のいずれの方向に移動させたかを表すフラグであって、ＲＡＭ２３に記憶されている。ＭＲヘッド駆動方向フラグは、初期化によりたとえば「ＤＯＷＮ」にセットされる。

次にプロセッサ部２１が、ＭＲヘッド駆動方向フラグが「ＵＰ」にセットされているか否かを判断する（Ｓ３６）。

ＭＲヘッド駆動方向フラグが「ＵＰ」にセットされていなければ（Ｓ３６：ＮＯ）、すなわち「ＤＯＷＮ」にセットされていれば、プロセッサ部２１が、モータ１２を制御して磁気ヘッド１１を上方向すなわち磁気テープ７２幅方向一方側に移動させる（Ｓ３７）。

次にプロセッサ部２１が、ＭＲヘッド駆動方向フラグを「ＵＰ」にセットする（Ｓ３８）。

次にプロセッサ部２１が、媒体ＦＷＤ加速処理を行う（Ｓ３９）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２を正方向に走行させ、その走行速度を次第に速くさせる。

次にプロセッサ部２１が、媒体ＦＷＤ定速処理を行う（Ｓ４０）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２の走行速度を一定にさせる。

次にプロセッサ部２１が、磁気テープ７２が一定距離走行したか否かを判断する（Ｓ４１）。具体的には、プロセッサ部２１が、磁気テープ７２の走行時間を計測部２５に備えられているタイマに計時させ、その計時時間が予め決められた所定時間に達したかどうかを調べる。

磁気テープ７２が一定距離走行していれば（Ｓ４１：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、媒体ＦＷＤ減速処理を行う（Ｓ４２）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２の走行を停止させるべく、その走行速度を次第に遅くさせる。

次にプロセッサ部２１が、媒体ＢＷＤ加速処理を行う（Ｓ４３）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２を逆方向に走行させ、その走行速度を次第に速くさせる。

次にプロセッサ部２１が、媒体ＢＷＤ定速処理を行う（Ｓ４４）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２の走行速度を一定にさせる。

次にプロセッサ部２１が、磁気テープ７２が一定距離走行したか否かを判断する（Ｓ４５）。具体的には、プロセッサ部２１が、磁気テープ７２の走行時間を計測部２５に備えられているタイマに計時させ、その計時時間が予め決められた所定時間に達したかどうかを調べる。

磁気テープ７２が一定距離走行していれば（Ｓ４５：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、媒体ＢＷＤ減速処理を行う（Ｓ４６）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２の走行速度を次第に遅くさせ、停止させる。

次にプロセッサ部２１が、媒体走行カウンタをインクリメントする（Ｓ４７）。

次にプロセッサ部２１が、媒体走行カウンタによるカウント値が予め決められた所定値Ｆ以上であるか否かを判断する（Ｓ４８）。

媒体走行カウンタによるカウント値がＦ以上であれば（Ｓ４８：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、抵抗値異常検出の準備処理を行う（Ｓ４９）。すなわち、プロセッサ部２１が、ＭＲ異常検出カウンタを初期化する。また、プロセッサ部２１が、第１タイマおよび第２タイマを初期化する。また、プロセッサ部２１が、抵抗異常検出回路部２７の定電流回路４１から磁気ヘッド１１のヘッド素子Ｒ１への基準電流すなわちバイアス電流をセットする。

次にプロセッサ部２１が、第２タイマによる計時時間が予め決められた所定値Ｂ以上になったか否かを判断する（Ｓ５０）。

第２タイマによる計時時間がＢ以上であれば（Ｓ５０：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、ヘッド素子Ｒ１の抵抗値の異常が検出されたか否かを判断する（Ｓ５１）。すなわち、プロセッサ部２１が、抵抗異常検出回路部２７の電圧比較回路４３からの異常検出信号がアサートされているか否かを調べる。

抵抗値の異常が検出されれば（Ｓ５１：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、ＭＲ異常検出カウンタをインクリメントする（Ｓ５２）。

次にプロセッサ部２１が、第２タイマを初期化する（Ｓ５３）。

次にプロセッサ部２１が、第１タイマによる計時時間が予め決められた所定時間Ｇ以上であるか否かを判断する（Ｓ５４）。

第１タイマによる計時時間がＧ以上であれば（Ｓ５４：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、ＭＲ異常検出カウンタによるカウント数が予め決められた所定値Ｈ以上であるか否かを判断する（Ｓ５５）。

ＭＲ異常検出カウンタによるカウント数がＨ以上でなければ（Ｓ５５：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、データ領域位置付け処理を行う（Ｓ５６）。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して磁気テープ７２を走行させ、磁気テープ７２のデータ領域部分の所定位置を磁気ヘッド１１に対向させる。

次にプロセッサ部２１が、ＭＲヘッド位置付け処理を行う（Ｓ５７）。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１２を制御して、磁気ヘッド１１を磁気テープ７２の幅方向に移動させ、磁気ヘッド１１を磁気テープ７２の所定のトラックに対向させる。そして、上位装置２にオペレーション待機（Ｒｅａｄｙ）を通知する。

次にプロセッサ部２１が、ＲＡＭ２３に記憶されている導電性ゴミ付着情報をリセットして（Ｓ５８）、このルーチンを終了する。

ステップＳ５５において、ＭＲ異常検出カウンタによるカウント数がＨ以上であれば（Ｓ５５：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、上位装置２に対してエラー通知を行ない（Ｓ５９）、このルーチンを終了する。

ステップＳ５４において、第１タイマによる計時時間がＧ以上でなければ（Ｓ５４：ＮＯ）、ステップＳ５０に戻る。

ステップＳ５１において、抵抗値の異常が検出されなければ（Ｓ５１：ＮＯ）、ステップＳ５３に進む。

ステップＳ５０において、第２タイマによる計時時間がＢ以上でなければ（Ｓ５０：ＮＯ）、ステップＳ５３に進む。

ステップＳ４８において、媒体走行カウンタによるカウント値がＦ以上でなければ（Ｓ４８：ＮＯ）、ステップＳ３６に戻る。

ステップＳ４５において、磁気テープ７２が一定距離走行していなければ（Ｓ４５：ＮＯ）、ステップＳ４４に戻って磁気テープ７２の走行を継続させる。

ステップＳ４１において、磁気テープ７２が一定距離走行していなければ（Ｓ４１：ＮＯ）、ステップＳ４０に戻って磁気テープ７２の走行を継続させる。

ステップＳ３６において、ＭＲヘッド駆動方向フラグが「ＵＰ」にセットされていれば（Ｓ３６：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、モータ１２を制御して磁気ヘッド１１を下方向すなわち磁気テープ７２幅方向他方側に移動させる（Ｓ６１）。

次にプロセッサ部２１が、ＭＲヘッド駆動方向フラグを「ＤＯＷＮ」にセットして（Ｓ６２）、ステップＳ３９に進む。

ステップＳ３４において、導電性ゴミ付着情報がセットされていなければ（Ｓ３４：ＮＯ）、ステップＳ５６に進む。

このように、ＲＡＭ２３に導電性ゴミ付着情報が記憶されていれば、磁気テープ７２を所定回数往復走行させることで、磁気テープ７２の非データ領域による研磨効果を利用して、磁気ヘッド１１に付着している導電性の異物を除去できる。

また、磁気テープ７２の１回の往復走行毎に、磁気ヘッド１１を磁気テープ７２の幅方向に移動させるので、磁気ヘッド１１をむら無く均一に研磨できる。

図１１〜図１６は、データのリード／ライト・オペレーションにおける処理手順を説明するフローチャートであって、データのリード／ライト・オペレーションにおいては、先ずプロセッサ部２１が、抵抗値異常検出の準備処理を行う（Ｓ７１）。すなわち、ヘッド素子Ｒ１の抵抗値異常検出回数をカウントするＭＲ異常検出カウンタを初期化する。また、第２タイマを初期化する。また、抵抗異常検出回路部２７の定電流回路４１から磁気ヘッド１１のヘッド素子Ｒ１への基準電流すなわちバイアス電流をセットする。また、リトライ回数をカウントするリトライカウンタを初期化する。ＭＲ異常検出カウンタ、第２タイマ、およびリトライカウンタは、計測部２５に設けられている。

次にプロセッサ部２１が、ポジジョニング処理を開始する（Ｓ７２）。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して磁気テープ７２を走行させ、磁気テープ７２の長さ方向の所望位置を磁気ヘッド１１に対向させる。

次にプロセッサ部２１が、第１ＭＲ抵抗監視処理を行う（Ｓ７３）。すなわち、磁気ヘッド１１のヘッド素子Ｒ１の抵抗値が正常範囲を逸脱しているかどうかを調べる。この第１ＭＲ抵抗監視処理の詳細については、後述する。

次にプロセッサ部２１が、エラーであるか否かを判断する（Ｓ７４）。すなわち、ステップＳ７３の第１ＭＲ抵抗監視処理の結果、異常が検出されたかどうかを調べる。

エラーでなければ（Ｓ７４：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、媒体加速処理を行う（Ｓ７５）。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２の走行を開始させ、所定の走行速度になるように加速させる。

次にプロセッサ部２１が、加速処理が終了したか否かを判断する（Ｓ７６）。

加速処理が終了していれば（Ｓ７６：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、第１ＭＲ抵抗監視処理を行う（Ｓ７７）。

次にプロセッサ部２１が、エラーであるか否かを判断する（Ｓ７８）。すなわち、ステップＳ７７の第１ＭＲ抵抗監視処理の結果、異常が検出されたかどうかを調べる。

エラーでなければ（Ｓ７８：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、媒体定速処理を行う（Ｓ７９）。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２を所定の走行速度で安定して走行させる。

次にプロセッサ部２１が、データ処理開始位置であるか否かを判断する（Ｓ８０）。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気テープ７２の長さ方向の位置であってデータをリードあるいはライトする位置が磁気ヘッド１１に対向したかどうかを調べる。

データ処理開始位置であれば（Ｓ８０：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、上位装置２に対してオペレーション開始を通知する（Ｓ８１）。

次にプロセッサ部２１が、導電性ゴミ付着通知済であるか否かを判断する（Ｓ８２）。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気ヘッド１１に導電性の異物が付着していることを上位装置２に既に通知しているかどうかを、ＲＡＭ２３の記憶内容によって調べる。

導電性ゴミ付着通知済でなければ（Ｓ８２：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、第１ＭＲ抵抗監視処理を行う（Ｓ８３）。

次にプロセッサ部２１が、エラーであるか否かを判断する（Ｓ８４）。すなわち、ステップＳ８３の第１ＭＲ抵抗監視処理の結果、異常が検出されたかどうかを調べる。

エラーでなければ（Ｓ８４：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、媒体定速処理を行う（Ｓ８５）。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２を所定の走行速度で安定して走行させる。

次にプロセッサ部２１が、停止命令があったか否かを判断する（Ｓ８６）。すなわち、プロセッサ部２１が、上位装置２から停止命令が供給されたかどうかを調べる。

停止命令があれば（Ｓ８６：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、減速処理を行う（Ｓ８７）。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２の走行を停止させるべく、走行速度を減速させる。

次にプロセッサ部２１が、減速処理が終了したか否かを判断し（Ｓ８８）、減速処理が終了すれば（Ｓ８８：ＹＥＳ）、このルーチンを終了する。

ステップＳ８８において、減速処理が終了していなければ（Ｓ８８：ＮＯ）、ステップＳ８７に戻って減速処理を継続する。

ステップＳ８６において、停止命令がなければ（Ｓ８６：ＮＯ）、ステップＳ８３に戻る。

ステップＳ８４において、エラーであれば（Ｓ８４：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、導電性ゴミ付着を上位装置２に通知し（Ｓ８９）、ステップＳ８２に戻る。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気ヘッド１１に導電性の異物が付着している旨を上位装置２に通知するとともに、それをＲＡＭ２３に記憶させる。

ステップＳ８２において、導電性ゴミ付着通知済であれば（Ｓ８２：ＹＥＳ）、ステップＳ８５に進む。

ステップＳ８０において、データ処理開始位置でなければ（Ｓ８０：ＮＯ）、ステップＳ７７に戻る。

ステップＳ７８において、エラーであれば（Ｓ７８：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、導電性ゴミ付着情報をメモする（Ｓ９１：ＹＥＳ）。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気ヘッド１１に導電性の異物が付着している旨の情報をＲＡＭ２３に記憶させる。

次にプロセッサ部２１が、減速処理を行う（Ｓ９２）。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２の走行を停止させるべく、走行速度を減速させる。

次にプロセッサ部２１が、減速処理が終了したか否かを判断する（Ｓ９３）。

減速処理が終了すれば（Ｓ９３：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、リトライカウンタをインクリメントする（Ｓ９４）。

次にプロセッサ部２１が、リトライカウンタのカウント値が予め決められた所定の値Ｉ以上であるか否かを判断する（Ｓ９５）。

リトライカウンタのカウント値がＩ以上でなければ（Ｓ９５：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、ＦＷＤ加速処理を行う（Ｓ９６）。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２の正方向の走行を開始させ、所定の走行速度になるように加速させる。

次にプロセッサ部２１が、ＦＷＤ加速処理が終了したか否かを判断する（Ｓ９７）。

ＦＷＤ加速処理が終了していれば（Ｓ９７：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、ＦＷＤ定速処理を行う（Ｓ９８）。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２を正方向に所定の走行速度で安定して走行させる。

次にプロセッサ部２１が、一定区間走行したか否かを判断する（Ｓ９９）。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気テープ７２が磁気ヘッド１１の両側に位置するクリーナ７８，７９を跨ぐ以上の所定距離を走行したかどうかを調べる。

一定区間走行していれば（Ｓ９９：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、ＦＷＤ減速処理を行う（Ｓ１００）。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２を停止させるべく走行速度を減速させる。

次にプロセッサ部２１が、ＦＷＤ減速処理が終了したか否かを判断し（Ｓ１０１）、ＦＷＤ減速処理が終了していれば（Ｓ１０１：ＹＥＳ）、ステップＳ７２に戻る。

ステップＳ１０１において、ＦＷＤ減速処理が終了していなければ（Ｓ１０１：ＮＯ）、ステップＳ１００に戻ってＦＷＤ減速処理を継続する。

ステップＳ９９において、一定区間走行していなければ（Ｓ９９：ＮＯ）、ステップＳ９８に戻ってＦＷＤ定速処理を継続する。

ステップＳ９７において、ＦＷＤ加速処理が終了していなければ（Ｓ９７：ＮＯ）、ステップＳ９６に戻ってＦＷＤ加速処理を継続する。

ステップＳ９５において、リトライカウンタのカウント値がＩ以上であれば（Ｓ９５：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、導電性ゴミ付着情報の有無を判断する（Ｓ１０２）。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気ヘッド１１に導電性の異物が付着している旨の情報がＲＡＭ２３に記憶されているかどうかを調べる。

導電性ゴミ付着情報があれば（Ｓ１０２：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、導電性ゴミ付着情報を通知し（Ｓ１０３）、このルーチンを終了する。すなわち、プロセッサ部２１が、上位装置２に対して磁気ヘッド１１に導電性の異物が付着している旨の情報を通知する。

ステップＳ１０２において、導電性ゴミ付着情報が無ければ（Ｓ１０２：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、非導電性ゴミ付着情報を通知し（Ｓ１０４）、ステップＳ７２に戻る。すなわち、プロセッサ部２１が、上位装置２に対して磁気ヘッド１１に非導電性の異物が付着している旨の情報を通知する。

ステップＳ９３において、減速処理が終了していなければ（Ｓ９３：ＮＯ）、ステップＳ９２に戻って減速処理を継続する。

ステップＳ７６において、加速処理が終了していなければ（Ｓ７６：ＮＯ）、ステップＳ７３に戻る。

ステップＳ７４において、エラーであれば（Ｓ７４：ＹＥＳ）、ステップＳ９１に進む。

図１４は、第１ＭＲ抵抗監視処理の詳細な手順を説明するフローチャートであって、第１ＭＲ抵抗監視処理においては、先ずプロセッサ部２１が、第２タイマの計時時間が予め決められたＢ時間を経過しているか否かを判断する（ステップＳ１１１）。

第２タイマの計時時間がＢ時間を経過していれば（ステップＳ１１１：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、ＭＲ抵抗異常が検出されたか否かを判断する（ステップＳ１１２）。すなわち、プロセッサ部２１が、抵抗異常検出回路部２７の電圧比較回路４３からの異常検出信号がアサートされているか否かを調べる。

抵抗値の異常が検出されれば（Ｓ１１２：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、ＭＲ異常検出カウンタをインクリメントする（Ｓ１１３）。

次にプロセッサ部２１が、ＭＲ異常検出カウンタのカウント値が予め決められた値Ｅ以上であるか否かを判断する（Ｓ１１４）。

ＭＲ異常検出カウンタのカウント値がＥ以上でなければ（Ｓ１１４：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、第２タイマを初期化して（Ｓ１１５）、第１ＭＲ抵抗監視処理を終了する。

ステップＳ１１４において、ＭＲ異常検出カウンタのカウント値がＥ以上であれば（Ｓ１１４：ＹＥＳ）、エラー終了する。

ステップＳ１１２において、抵抗値の異常が検出されなければ（Ｓ１１２：ＮＯ）、ステップＳ１１５に進む。

ステップＳ１１１において、第２タイマの計時時間がＢ時間を経過していなければ（ステップＳ１１１：ＮＯ）、ステップＳ１１５に進む。

なお、図１１のステップＳ７５における媒体加速処理に並行して、割込処理によって、プロセッサ部２１が、ＭＲヘッドシーク処理を行う。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１２を制御して磁気ヘッド１１を磁気テープ７２の幅方向に移動させ、磁気テープ７２の幅方向の目的位置近傍に位置付ける。

図１５は、図１１のステップＳ７９における媒体定速処理に並行して、割込処理によって実行される非導電性ゴミ検出処理の手順を説明するフローチャートである。

非導電性ゴミ検出処理においては、先ずプロセッサ部２１が、ＭＲヘッド・トラック・フォロー処理を行う（ステップＳ１２１）。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気ヘッド１１によって再生される磁気テープ７２のサーボトラック情報に基づいてモータ１２を制御し、フィードバック制御により磁気ヘッド１１を磁気テープ７２の幅方向の目的位置に正確に位置付ける。

次にプロセッサ部２１が、導電性ゴミ付着情報の有無を判断する（Ｓ１２２）。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気ヘッド１１に導電性の異物が付着している旨の情報がＲＡＭ２３に記憶されているかどうかを調べる。

導電性ゴミ付着情報がなければ（Ｓ１２２：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、サーボトラックの認識が正常に行われたか否かを判断する（Ｓ１２３）。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気ヘッド１１によって再生される磁気テープ７２のサーボトラックからのデータが正常に認識可能であったかどうかを調べる。

サーボトラックの認識が正常に行われなければ（Ｓ１２３：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、非導電性ゴミ付着情報をメモし（Ｓ１２４）、ステップＳ９２に進む。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気ヘッド１１に非導電性の異物が付着している旨の情報をＲＡＭ２３に記憶させる。

ステップＳ１２３において、サーボトラックの認識が正常に行われれば（Ｓ１２３：ＹＥＳ）、ステップＳ１２１に戻る。

ステップＳ１２２において、導電性ゴミ付着情報があれば（Ｓ１２２：ＹＥＳ）、ステップＳ１２１に戻る。

図１６は、図１２のステップＳ８５における媒体定速処理に並行して、割込処理によって実行される非導電性ゴミ検出処理の手順を説明するフローチャートである。

非導電性ゴミ検出処理においては、先ずプロセッサ部２１が、ＭＲヘッド・トラック・フォロー処理を行う（ステップＳ１３１）。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気ヘッド１１によって再生される磁気テープ７２のサーボトラック情報に基づいてモータ１２を制御し、フィードバック制御により磁気ヘッド１１を磁気テープ７２の幅方向の目的位置に正確に位置付ける。

次にプロセッサ部２１が、非導電性ゴミ付着情報を既に通知したか否かを判断する（Ｓ１３２）。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気ヘッド１１に非導電性の異物が付着している旨の情報を上位装置２に既に通知しているかどうかを調べる。

非導電性ゴミ付着情報を通知していなければ（Ｓ１３２：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、サーボトラックの認識が正常に行われたか否かを判断する（Ｓ１３３）。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気ヘッド１１によって再生される磁気テープ７２のサーボトラックからのデータが正常に認識可能であったかどうかを調べる。

サーボトラックの認識が正常に行われなければ（Ｓ１３３：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、非導電性ゴミ付着情報を通知し（Ｓ１３４）、ステップＳ１３１に戻る。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気ヘッド１１に非導電性の異物が付着している旨の情報を上位装置２に通知する。

ステップＳ１３３において、サーボトラックの認識が正常に行われれば（Ｓ１３３：ＹＥＳ）、ステップＳ１３１に戻る。

ステップＳ１３２において、非導電性ゴミ付着情報を通知していれば（Ｓ１３２：ＹＥＳ）、ステップＳ１３１に戻る。

このように、磁気ヘッド１１に導電性の異物が付着した場合、磁気ヘッド１１のヘッド素子Ｒ１の抵抗値により検出可能である。また、磁気ヘッド１１に非導電性の異物が付着した場合、磁気ヘッド１１により磁気テープ７２のサーボ・トラックが読めなくなることで認識可能である。また、上位装置２に対してオペレーション開始通知を促す前に、磁気ヘッド１１に異物が付着していることを検出した場合、磁気ヘッド１１の両側に位置するクリーナ７８，７９を跨ぐ距離以上の一定距離だけ、磁気テープ７２の走行を繰り返すことにより、磁気テープ７２の研磨効果とクリーナ７８，７９の研磨効果とを利用して磁気ヘッド１１に付着した異物を除去できる。すなわち、磁気テープ７２の研磨効果により磁気ヘッド１１に付着した異物を剥ぎ取り、それにより磁気テープ７２に付着した異物をクリーナ７８，７９により剥ぎ取るのである。また、上位装置２に対してオペレーション開始通知を促した後に、磁気ヘッド１１に異物が付着していることを検出した場合、上位装置２に対して通常のリカバリを促す。これにより上位装置２が、データのバッファへの吐出しや吸い上げを中断し、プロセッサ部２１から通知されたゴミ情報に基づいて、データの読み飛ばし、書き飛ばし、クリーニング動作、あるいはブラシ５２によるクリーニングを、選択的に実行すべき旨をプロセッサ部２１に指示する。

なお、上記実施形態においては、リード／ライトオペレーション実行中であって上位装置２に対してオペレーション開始通知を促す前に、磁気ヘッド１１に異物が付着していることを検出した場合、磁気テープ７２のデータ領域を利用して磁気ヘッド１１のクリーニングを行ったが、磁気テープ７２の非データ領域を利用して磁気ヘッド１１のクリーニングを行ってもよい。

図１７および図１８は、磁気テープ７２の非データ領域を利用して磁気ヘッド１１のクリーニングを行うゴミ付着リカバリ処理の手順を説明するフローチャートである。

このゴミ付着リカバリ処理に際しては、先ずプロセッサ部２１が、ＢＯＴ(begin of tape) 位置近傍であるか否かを判断する（Ｓ１４１）。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気ヘッド１１に対向している磁気テープ７２の長さ方向の位置が、長さ方向中央よりも始端に近いかどうかを調べる。

ＢＯＴ位置近傍でなければ（Ｓ１４１：ＮＯ）、すなわち磁気ヘッド１１に対向している磁気テープ７２の長さ方向の位置が、長さ方向中央よりも終端に近ければ、プロセッサ部２１が、媒体末尾の非データ領域へ移動させる（Ｓ１４２）。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御し、磁気テープ７２を正方向に走行させて、磁気テープ７２の終端近傍の非データ領域を磁気ヘッド１１に対向させる。

次にプロセッサ部２１が、抵抗値異常検出の準備処理を行う（Ｓ１４３）。すなわち、磁気テープ７２の往復走行回数をカウントする媒体走行カウンタを初期化する。また、磁気ヘッド１１の磁気テープ７２幅方向への移動方向を表すＭＲヘッド駆動方向フラグを初期化する。また、ヘッド素子Ｒ１の抵抗値異常検出回数をカウントするＭＲ異常検出カウンタを初期化する。また、第１タイマおよび第２タイマを初期化する。また、磁気ヘッド１１の往復移動回数をカウントするＭＲヘッド動作カウンタを初期化する。また、抵抗異常検出回路部２７の定電流回路４１から磁気ヘッド１１のヘッド素子Ｒ１への基準電流すなわちバイアス電流をセットする。媒体走行カウンタ、ＭＲ異常検出カウンタ、第１タイマ、および第２タイマは、計測部２５に設けられている。ＭＲヘッド駆動方向フラグは、ＲＡＭ２３に記憶されている。

次にプロセッサ部２１が、媒体ＦＷＤ加速処理を行う（Ｓ１４４）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２を正方向に走行させ、その走行速度を次第に速くさせる。

次にプロセッサ部２１が、媒体ＦＷＤ定速処理を行う（Ｓ１４５）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２の走行速度を一定にさせる。

次にプロセッサ部２１が、磁気テープ７２が一定距離走行したか否かを判断する（Ｓ１４６）。具体的には、プロセッサ部２１が、磁気テープ７２の走行時間を計測部２５に備えられているタイマに計時させ、その計時時間が予め決められた所定時間に達したかどうかを調べる。

磁気テープ７２が一定距離走行していなければ（Ｓ１４６：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、第２ＭＲ抵抗監視処理を行う（Ｓ１４７）。この第２ＭＲ抵抗監視処理については、後述する。

次にプロセッサ部２１が、正常終了したか否かを判断する（Ｓ１４８）。すなわち、プロセッサ部２１が、ステップＳ１４７の第２ＭＲ抵抗監視処理において異常が検出されなかったかどうかを調べる。

正常終了していれば（Ｓ１４８：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、媒体ＦＷＤ減速処理を行う（Ｓ１４９）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２を停止させるべく、磁気テープ７２の走行速度を次第に遅くさせる。

次にプロセッサ部２１が、ポジショニング処理を行ない（Ｓ１５０）、このルーチンを終了する。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して磁気テープ７２を走行させ、磁気テープ７２の長さ方向の所望位置を磁気ヘッド１１に対向させる。

ステップＳ１４８において、正常終了していなければ（Ｓ１４８：ＮＯ）、ステップＳ１４５に戻って媒体ＦＷＤ定速処理を継続する。

ステップＳ１４６において、磁気テープ７２が一定距離走行していれば（Ｓ１４６：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、媒体ＦＷＤ減速処理を行う（Ｓ１５１）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２を停止させるべく、磁気テープ７２の走行速度を次第に遅くさせる。

次にプロセッサ部２１が、媒体ＢＷＤ加速処理を行う（Ｓ１５２）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２を逆方向に走行させ、その走行速度を次第に速くさせる。

次にプロセッサ部２１が、媒体ＢＷＤ定速処理を行う（Ｓ１５３）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２の走行速度を一定にさせる。

次にプロセッサ部２１が、磁気テープ７２が一定距離走行したか否かを判断する（Ｓ１５４）。具体的には、プロセッサ部２１が、磁気テープ７２の走行時間を計測部２５に備えられているタイマに計時させ、その計時時間が予め決められた所定時間に達したかどうかを調べる。

磁気テープ７２が一定距離走行していなければ（Ｓ１５４：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、第２ＭＲ抵抗監視処理を行う（Ｓ１５５）。この第２ＭＲ抵抗監視処理については、後述する。

次にプロセッサ部２１が、正常終了したか否かを判断する（Ｓ１５６）。すなわち、プロセッサ部２１が、ステップＳ１５５の第２ＭＲ抵抗監視処理において異常が検出されなかったかどうかを調べる。

正常終了していれば（Ｓ１５６：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、媒体ＢＷＤ減速処理を行ない（Ｓ１５７）、ステップＳ１５０に進む。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２を停止させるべく、磁気テープ７２の走行速度を次第に遅くさせる。

ステップＳ１５６において、正常終了していなければ（Ｓ１５６：ＮＯ）、ステップＳ１５３に戻って媒体ＢＷＤ定速処理を継続する。

ステップＳ１５４において、磁気テープ７２が一定距離走行していれば（Ｓ１５４：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、媒体走行カウンタをインクリメントする（Ｓ１５８）。

次にプロセッサ部２１が、媒体走行カウンタのカウント値が予め決められた 値Ｊ以上であるか否かを判断する（Ｓ１５９）。

媒体走行カウンタのカウント値がＪ以上であれば（Ｓ１５９：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、媒体ＢＷＤ減速処理を行ない（Ｓ１６０）、上位装置２に対して異常通知を行って、このルーチンを終了する。媒体ＢＷＤ減速処理に際しては、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２の走行を停止させるべく、磁気テープ７２の走行速度を次第に遅くさせる。

ステップＳ１５９において、媒体走行カウンタのカウント値がＪ以上でなければ（Ｓ１５９：ＮＯ）、ステップＳ１４４に戻る。

ステップＳ１４１において、ＢＯＴ位置近傍であれば（Ｓ１４１：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、媒体先頭の非データ領域へ移動させ（Ｓ１６１）、ステップＳ１４３に進む。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御し、磁気テープ７２を逆方向に走行させて、磁気テープ７２の始端近傍の非データ領域を磁気ヘッド１１に対向させる。

図１８は、図１７のステップＳ１４７，Ｓ１５５における第２ＭＲ抵抗監視処理の手順を説明するフローチャートである。

第２ＭＲ抵抗監視処理に際しては、先ずプロセッサ部２１が、第２タイマによる計時時間が予め決められた所定値Ｂ以上になったか否かを判断する（Ｓ１７１）。

第２タイマによる計時時間がＢ以上であれば（Ｓ１７１：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、ヘッド素子Ｒ１の抵抗値の異常が検出されたか否かを判断する（Ｓ１７２）。すなわち、プロセッサ部２１が、抵抗異常検出回路部２７の電圧比較回路４３からの異常検出信号がアサートされているか否かを調べる。

抵抗値の異常が検出されれば（Ｓ１７２：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、ＭＲ異常検出カウンタをインクリメントする（Ｓ１７３）。

次にプロセッサ部２１が、第２タイマを初期化する（Ｓ１７４）。

次にプロセッサ部２１が、第１タイマによる計時時間が予め決められた所定値Ａ以上になったか否かを判断する（Ｓ１７５）。

第１タイマによる計時時間がＡ以上であれば（Ｓ１７５：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、第１タイマによる計時時間が２Ａ以上になったか否かを判断する（Ｓ１７６）。

第１タイマによる計時時間が２Ａ以上であれば（Ｓ１７６：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、ＭＲヘッド動作カウンタをインクリメントする（Ｓ１７７）。

次にプロセッサ部２１が、ＭＲヘッド動作カウンタのカウント値が予め決められたＣ以上であるか否かを判断する（Ｓ１７８）。

ＭＲヘッド動作カウンタのカウント値がＣ以上であれば（Ｓ１７８：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、モータ１２を制御して磁気ヘッド１１の磁気テープ７２幅方向の移動を停止させる（Ｓ１７９）。

次にプロセッサ部２１が、ＭＲ異常検出カウンタによるカウント値が０であるか否かを判断する（Ｓ１８０）。

ＭＲ異常検出カウンタによるカウント値が０でなければ（Ｓ１８０：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、ＭＲヘッド動作カウンタを初期化し（Ｓ１８１）、第２ＭＲ抵抗監視処理を終了する。

ステップＳ１８０において、ＭＲ異常検出カウンタによるカウント値が０であれば（Ｓ１８０：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、磁気ヘッド１１のヘッド素子Ｒ１の抵抗値が正常である旨を上位装置２に通知し（Ｓ１８２）、第２ＭＲ抵抗監視処理を終了する。

ステップＳ１７８において、ＭＲヘッド動作カウンタのカウント値がＣ以上でなければ（Ｓ１７８：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、第１タイマを初期化し（Ｓ１８３）、第２ＭＲ抵抗監視処理を終了する。

ステップＳ１７６において、第１タイマによる計時時間が２Ａ以上でなければ（Ｓ１７６：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、モータ１２を制御して、磁気ヘッド１１の磁気テープ７２幅方向一方側への駆動を開始し（Ｓ１８４）、第２ＭＲ抵抗監視処理を終了する。

ステップＳ１７５において、第１タイマによる計時時間がＡ以上でなければ（Ｓ１７５：ＮＯ）、プロセッサ部２１が、モータ１２を制御して、磁気ヘッド１１を磁気テープ７２の幅方向のうち他方側への駆動を開始し（Ｓ１８５）、第２ＭＲ抵抗監視処理を終了する。

ステップＳ１７２において、抵抗値の異常が検出されなければ（Ｓ１７２：ＮＯ）、ステップＳ１７４に進む。

ステップＳ１７１において、第２タイマによる計時時間がＢ以上でなければ（Ｓ１７１：ＮＯ）、ステップＳ１７４に進む。

このように、磁気ヘッド１１への導電性の異物の付着を検出した際に、磁気テープ７２の始端側あるいは終端側の非データ領域のうち、現在位置から近い方に磁気テープ７２を走行させ、磁気ヘッド１１を磁気テープ７２の非データ領域に対向させて磁気テープ７２の往復走行を繰り返し、かつ、磁気ヘッド１１を磁気テープ７２の幅方向に往復移動させることにより、磁気ヘッド１１が磁気テープ７２によって研磨され、この結果、磁気ヘッド１１に付着した導電性の異物を除去できる。

また、磁気ヘッド１１が磁気テープ７２の幅方向にＣ回往復移動する間にヘッド素子Ｒ１の抵抗値異常を検出しないことにより、磁気ヘッド１１に付着した導電性の異物が除去できたことを確認できる。

なお、磁気ヘッド１１に付着した導電性の異物が除去されたことが確認された場合は、ポジショニング動作によりオペレーション処理の位置へ再位置付けし、オペレーション続行可能となる。また、導電性の異物が除去できない場合は、上位装置２に対して異常を通知し、オペレータに装置異常もしくはクリーニング要求を報知する。

また、上記実施形態においては、磁気ヘッド１１に付着した異物を除去するための各種動作について説明したが、磁気テープ７２のデータ領域に付着した異物を磁気テープ７２の非データ領域に移動させることにより、データのリード／ライト性能の向上を図るように構成してもよい。

すなわち、データのリード／ライト・オペレーション実行中に、クリーナ７８と磁気ヘッド１１との間、およびクリーナ７９と磁気ヘッド１１との間において、磁気テープ７２に研磨された異物が付着し、磁気テープ７２の走行方向が反転する毎に、異物がクリーナ７８と磁気ヘッド１１との間、およびクリーナ７９と磁気ヘッド１１との間を移動する。そこで、磁気テープ７２の張力を増加させて、磁気テープ７２を始端部あるいは終端部まで走行させることによって、磁気テープ７２のデータ領域に付着していた異物を非データ領域に移動させ、磁気テープ７２の張力を減少させた後に、磁気テープ７２を元の位置まで走行させる。これにより、磁気テープ７２のデータ領域に付着した異物が磁気テープ７２の非データ領域に移動するので、データ領域の異物が除去され、データのリード／ライト・オペレーションを支障無く実行できる。

図１９は、磁気テープ７２のデータ領域の異物を非データ領域に移動させるゴミ付着リカバリ処理の手順を説明するフローチャートである。

このゴミ付着リカバリ処理に際しては、先ずプロセッサ部２１が、磁気テープ７２の張力をアップさせる（ステップＳ１９１）。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、マシンリール１３とファイルリール１６との回転速度の差を大きくすることによって、磁気テープ７２に作用する張力を増大させる。

次にプロセッサ部２１が、ＢＯＴ(begin of tape) 位置近傍であるか否かを判断する（Ｓ１９２）。すなわち、プロセッサ部２１が、磁気ヘッド１１に対向している磁気テープ７２の長さ方向の位置が、長さ方向中央よりも始端に近いかどうかを調べる。

ＢＯＴ位置近傍でなければ（Ｓ１９２：ＮＯ）、すなわち磁気ヘッド１１に対向している磁気テープ７２の長さ方向の位置が、長さ方向中央よりも終端に近ければ、プロセッサ部２１が、媒体末尾の非データ領域へ移動させる（Ｓ１９３）。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御し、磁気テープ７２を順方向に走行させて、磁気テープ７２の終端近傍の非データ領域を磁気ヘッド１１に対向させる。

次にプロセッサ部２１が、磁気テープ７２の往復走行回数をカウントする媒体走行カウンタを初期化する（ステップＳ１９４）。

次にプロセッサ部２１が、媒体ＦＷＤ加速処理を行う（Ｓ１９５）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２を正方向に走行させ、その走行速度を次第に速くさせる。

次にプロセッサ部２１が、媒体ＦＷＤ定速処理を行う（Ｓ１９６）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２の走行速度を一定にさせる。

次にプロセッサ部２１が、磁気テープ７２が一定距離走行したか否かを判断する（Ｓ１９７）。具体的には、プロセッサ部２１が、磁気テープ７２の走行時間を計測部２５に備えられているタイマに計時させ、その計時時間が予め決められた所定時間に達したかどうかを調べる。

磁気テープ７２が一定距離走行していれば（Ｓ１９７：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、媒体ＦＷＤ減速処理を行う（Ｓ１９８）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２を停止させるべく、磁気テープ７２の走行速度を次第に遅くさせる。

次にプロセッサ部２１が、媒体ＢＷＤ加速処理を行う（Ｓ１９９）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２を逆方向に走行させ、その走行速度を次第に速くさせる。

次にプロセッサ部２１が、媒体ＢＷＤ定速処理を行う（Ｓ２００）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２の走行速度を一定にさせる。

次にプロセッサ部２１が、磁気テープ７２が一定距離走行したか否かを判断する（Ｓ２０１）。具体的には、プロセッサ部２１が、磁気テープ７２の走行時間を計測部２５に備えられているタイマに計時させ、その計時時間が予め決められた所定時間に達したかどうかを調べる。

磁気テープ７２が一定距離走行していれば（Ｓ２０１：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、媒体ＢＷＤ減速処理を行う（Ｓ２０２）。すなわちプロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、磁気テープ７２を停止させるべく、磁気テープ７２の走行速度を次第に遅くさせる。

次にプロセッサ部２１が、媒体走行カウンタをインクリメントする（Ｓ２０３）。

次にプロセッサ部２１が、媒体走行カウンタのカウント値が予め決められた 値Ｋ以上であるか否かを判断する（Ｓ２０４）。

媒体走行カウンタのカウント値がＫ以上であれば（Ｓ２０４：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、磁気テープ７２の張力をダウンさせる（Ｓ２０５）。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して、マシンリール１３とファイルリール１６との回転速度の差を小さくすることによって、磁気テープ７２に作用する張力を減少させる。

次にプロセッサ部２１が、媒体走行カウンタのカウント値が予め決められた値Ｌ以上であるか否かを判断する（Ｓ２０６）。

媒体走行カウンタのカウント値がＬ以上であれば（Ｓ２０６：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、ポジショニング処理を行ない（Ｓ２０７）、このルーチンを終了する。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御して磁気テープ７２を走行させ、磁気テープ７２の長さ方向の所望位置を磁気ヘッド１１に対向させる。

ステップＳ２０６において、媒体走行カウンタのカウント値がＬ以上でなければ（Ｓ２０６：ＮＯ）、ステップＳ１９５に戻る。

ステップＳ２０４において、媒体走行カウンタのカウント値がＫ以上でなければ（Ｓ２０４：ＮＯ）、ステップＳ１９５に戻る。

ステップＳ２０１において、磁気テープ７２が一定距離走行していなければ（Ｓ２０１：ＮＯ）、ステップＳ２００に戻って媒体ＢＷＤ定速処理を継続する。

ステップＳ１９７において、磁気テープ７２が一定距離走行していなければ（Ｓ１９７：ＮＯ）、ステップＳ１９６に戻って媒体ＦＷＤ定速処理を継続する。

ステップＳ１９２において、ＢＯＴ位置近傍であれば（Ｓ１９２：ＹＥＳ）、プロセッサ部２１が、媒体先頭の非データ領域へ移動させ（Ｓ２０８）、ステップＳ１９４に進む。すなわち、プロセッサ部２１が、モータ１４，１７を制御し、磁気テープ７２を逆方向に走行させて、磁気テープ７２の始端近傍の非データ領域を磁気ヘッド１１に対向させる。

このように、磁気テープ７２の張力を増大させることにより、磁気テープ７２と磁気ヘッド１１との摺動による研磨効果、および磁気テープ７２とクリーナ７８，７９との摺動による研磨効果を向上させておいて、磁気テープ７２を始端部と終端部とのうちの近い方の非データ領域まで走行させ、磁気テープ７２の非データ領域を磁気ヘッド１１に対向させた状態で、磁気テープ７２をＫ回往復走行させた後に、磁気テープ７２の張力を減少させると、磁気テープ７２にはクリーナ７８，７９の近傍位置にて異物が残留することになるが、この位置は非データ領域であるので、支障は無い。さらに磁気テープ７２をＬ回に至るまで往復走行させた後に、磁気テープ７２をオペレーション処理の位置へ再位置付けし、オペレーションを続行することにより、支障無くデータのリード／ライトを行える。すなわち、磁気テープ７２のデータ領域に付着していた異物を、磁気テープ７２の非データ領域に移動させることができ、データのリード／ライト性能を向上させることができる。

また、上記実施形態においては、磁気テープ装置１へのテープカートリッジ７１の装着時に、磁気テープ７２の非データ領域が磁気ヘッド１１に対向した状態で磁気テープ７２を走行させることにより、磁気ヘッド１１をクリーニングしたが、このクリーニングに際して、磁気テープ７２の張力を増大させるようにしてもよい。このようにすれば、磁気ヘッド１１と磁気テープ７２との摺動による研磨効果を高くでき、クリーニング効果が増大する。もちろん、磁気テープ７２のデータ領域の研磨効果を利用して磁気ヘッド１１に付着した異物を除去するときにも、磁気テープ７２の張力を増大させることにより、クリーニング効果が増大する。

以上説明したように、本発明によれば、磁気ヘッドに異常が生じたときに、その原因を切り分けて検出できるので、検出された原因に応じて、その原因を除去するために磁気テープ装置を自動的に動作させたり、あるいは原因を上位装置に報告することが可能になり、この結果、リカバリ時間の短縮およびリード／ライト性能の向上を図ることができる。

本発明の一実施形態における磁気テープ装置の概略ブロック図である。 図１に示す磁気テープ装置に備えられた抵抗異常検出回路部の回路ブロック図である。 図１に示す磁気テープ装置に備えられたスレッダ機構部とブラシ機構部との分解斜視図である。 図１に示す磁気テープ装置に備えられたスレッダ機構部とブラシ機構部との分解斜視図である。 図１に示す磁気テープ装置の内部の概略平面図である。 磁気テープのマシンリールへの装着過程の説明図である。 磁気ヘッド付近の拡大平面図である。 図１に示す磁気テープ装置の電源オン時の処理手順を説明するフローチャートである。 図１に示す磁気テープ装置へのテープカートリッジ装填時の処理手順を説明するフローチャートである。 図１に示す磁気テープ装置へのテープカートリッジ装填時の処理手順を説明するフローチャートである。 データのリード／ライト・オペレーションにおける処理手順を説明するフローチャートである。 データのリード／ライト・オペレーションにおける処理手順を説明するフローチャートである。 データのリード／ライト・オペレーションにおける処理手順を説明するフローチャートである。 第１ＭＲ抵抗監視処理の詳細な手順を説明するフローチャートである。 図１１のステップＳ７９における媒体定速処理に並行して、割込処理によって実行される非導電性ゴミ検出処理の手順を説明するフローチャートである。 図１２のステップＳ８５における媒体定速処理に並行して、割込処理によって実行される非導電性ゴミ検出処理の手順を説明するフローチャートである。 磁気テープの非データ領域を利用して磁気ヘッドのクリーニングを行うゴミ付着リカバリ処理の手順を説明するフローチャートである。 図１７のステップＳ１４７，Ｓ１５５における第２ＭＲ抵抗監視処理の手順を説明するフローチャートである。 磁気テープのデータ領域の異物を非データ領域に移動させるゴミ付着リカバリ処理の手順を説明するフローチャートである。

符号の説明

１ 磁気テープ装置
２ 上位装置
１１ 磁気ヘッド
１３ マシンリール
１６ ファイルリール
２１ プロセッサ部
２３ ＲＡＭ
２５ 計測部
２６ リードライト回路部
２７ 抵抗異常検出回路部
５２ ブラシ
７８ クリーナ
７９ クリーナ
Ｒ１ ヘッド素子

Claims (3)

1. 磁気ヘッドに備えられて磁気テープに記録されている情報を再生するヘッド素子の抵抗値が正常範囲内であるか否かを判断する抵抗値判断装置を有する磁気テープ装置であって、
   前記磁気ヘッドにより前記磁気テープに記録された情報を記録および／または再生するときに、前記磁気ヘッドからの再生信号と前記抵抗値判断装置による判断結果とに基づいて、前記磁気ヘッドの状態を、正常な状態と、非導電性の異物が付着している状態と、導電性の異物が付着しているかあるいは故障の状態とに切り分けて検出する状態検出装置を備えたことを特徴とする、磁気テープ装置。
2. 磁気ヘッドに備えられて磁気テープに記録されている情報を再生するヘッド素子の抵抗値が正常範囲内であるか否かを判断する抵抗値判断装置を有し、上位装置からの指令に基づいて動作する磁気テープ装置であって、
   前記磁気ヘッドにより前記磁気テープに記録された情報を記録および／または再生するときに、前記磁気ヘッドからの再生信号と前記抵抗値判断装置による判断結果とに基づいて、前記磁気ヘッドの状態を、正常な状態と、非導電性の異物が付着している状態と、導電性の異物が付着しているかあるいは故障の状態とに切り分けて検出する状態検出装置と、
   前記状態検出装置による検出結果に応じて、その検出結果を前記上位装置に通知するか、あるいは前記磁気ヘッドに付着した異物を除去するための動作を行わせるリカバリ装置とを備えたことを特徴とする、磁気テープ装置。
3. 磁気ヘッドに備えられて磁気テープに記録されている情報を再生するヘッド素子の抵抗値が正常範囲内であるか否かを判断する抵抗値判断装置を有する磁気テープ装置であって、
   前記磁気ヘッドにより前記磁気テープに記録された情報を記録および／または再生するときに、前記磁気ヘッドからの再生信号と前記抵抗値判断装置による判断結果とに基づいて、前記磁気ヘッドの状態を、正常な状態と、非導電性の異物が付着している状態と、導電性の異物が付着しているかあるいは故障の状態とに切り分けて検出する状態検出装置と、
   前記状態検出装置により前記磁気ヘッドが正常な状態ではないと判断されたときに、前記磁気テープをその両端部のうちのいずれか近い方まで走行させた後、前記磁気テープの端部に位置する所定長さの非データ領域が常に前記磁気ヘッドに対向するように、前記磁気テープを所定距離往復走行させる往復走行制御装置とを備えたことを特徴とする、磁気テープ装置。

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