JP3926171B2 - 分析装置 - Google Patents

分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP3926171B2
JP3926171B2 JP2002047246A JP2002047246A JP3926171B2 JP 3926171 B2 JP3926171 B2 JP 3926171B2 JP 2002047246 A JP2002047246 A JP 2002047246A JP 2002047246 A JP2002047246 A JP 2002047246A JP 3926171 B2 JP3926171 B2 JP 3926171B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
disk
light
sample
light emitting
emitting means
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002047246A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003248007A (ja
Inventor
健二 村上
和男 真鍋
英之 黒川
光輝 藤本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2002047246A priority Critical patent/JP3926171B2/ja
Publication of JP2003248007A publication Critical patent/JP2003248007A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3926171B2 publication Critical patent/JP3926171B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、試料の定性・定量分析を行うための分析装置に関し、特に試料をディスク上に展開させて光学的に走査し定性・定量分析する分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
試料をディスク上に展開させて光学的に走査し定性・定量分析する従来の分析装置に、特開平2−269938号に記載されたものがある。この分析装置では、ディスク回転手段により回転しているディスク上に試料を滴下して、ディスク周方向に沿って区画された複数の試料展開面のそれぞれに試料を供給し、遠心力によって外周方向へ展開させる。そしてその後に、前記ディスクを回転させつつ、光学式測定ヘッドをディスク半径方向に移動させることによって各試料展開面を走査し、それより得られる情報信号から、各試料展開面に展開された試料、あるいは各試料展開面に設けられた試薬との反応状態を分析するようにしている。
【0003】
しかしこの分析装置では、試料展開面を走査する際に、光学式測定ヘッドの光スポットの移動量を精密に制御するのが難しく、細かい分解能での分析は困難であった。この問題を解決する手段として、国際公開WO0026677に、ディスク上に設けたトラック溝に光ヘッドの光スポットを追従させることにより、光スポットの移動量を精密に制御する方法が提案されている。トラック溝をCD(コンパクトディスク)あるいはDVDといった既存の光ディスクと同一構造とし、光学ヘッドとして従来の光ディスク互換の光ピックアップを用いることにより、従来の光ディスクと共通の構成,共通の部品を用いて製作することも提案されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記した従来の分析装置では、試料の展開状態や試料と試薬との反応状態を読み取る際に、ディスクを一定回転数(CAV)または一定角速度(CLV)で回転させ、ディスク上のトラック溝のランド部をトレースして読み取りを行っている。したがって、ディスクの半径方向の読み取り間隔はトラックピッチに限定され、またディスクの周方向の読み取り間隔もディスク1の回転数と読み取りのサンプリング速度で決まってしまう。そのため、トラックピッチよりも細かい解像度での分析ができない、低い分解能での分析でも高分解能時と同等の分析時間が掛かってしまう、といった問題点があった。
【0005】
本発明は上記課題を解決するもので、解像度、検査時間とも適宜に変更できる分析装置を提供することを目的とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、一方のディスク面が試料展開面とされ、このディスク面に沿う方向の螺旋状あるいは同心円状のトラック溝が形成されたディスクと、前記ディスクを保持し回転させるディスク回転手段と、前記ディスク回転手段に保持されたディスクの半径方向に移動自在に設けられ収束光を出射する光出射手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのディスク面に合焦させるフォーカシング制御手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのトラック溝に追従させるトラッキング制御手段とを備え、前記ディスクのディスク面に供給されて回転の際の遠心力によって展開された試料あるいはこの試料と反応した試薬に前記光出射手段からの収束光を照射し、その反射光もしくは透過光を受光手段で検出して前記試料を分析する分析装置において、分析に必要な解像度に応じてディスク回転手段のディスク回転数を制御するように構成したことを特徴とする。これによれば、ディスクを回転させつつ、光出射手段をディスク半径方向に移動させ、フォーカシング制御,トラッキング制御することによって、試料を位置精度よく分析できる。その際に、高い解像度での分析が必要なときはディスク回転数を低く設定し、高い解像度が要求されない分析のときはディスク回転数を高く制御することで、所望の解像度(読み取り密度)を得ることができる。
【0007】
請求項2に記載の発明は、一方のディスク面が試料展開面とされ、このディスク面に沿う方向の螺旋状あるいは同心円状のトラック溝が形成されたディスクと、前記ディスクを保持し回転させるディスク回転手段と、前記ディスク回転手段に保持されたディスクの半径方向に移動自在に設けられ収束光を出射する光出射手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのディスク面に合焦させるフォーカシング制御手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのトラック溝に追従させるトラッキング制御手段とを備え、前記ディスクのディスク面に供給されて回転の際の遠心力によって展開された試料あるいはこの試料と反応した試薬に前記光出射手段からの収束光を照射し、その反射光もしくは透過光を受光手段で検出して前記試料を分析する分析装置において、光出射手段の光路中に収束光を複数に分岐させる回折格子を有し、前記回折格子で分岐されディスクのディスク面に合焦された分岐光の反射光を各々受光手段で検出することにより、トラック溝ピッチよりも細かい解像度で分析を行うように構成したことを特徴とする。
【0008】
請求項3に記載の発明は、一方のディスク面が試料展開面とされ、このディスク面に沿う方向の螺旋状あるいは同心円状のトラック溝が形成されたディスクと、前記ディスクを保持し回転させるディスク回転手段と、前記ディスク回転手段に保持されたディスクの半径方向に移動自在に設けられ収束光を出射する光出射手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのディスク面に合焦させるフォーカシング制御手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのトラック溝に追従させるトラッキング制御手段とを備え、前記ディスクのディスク面に供給されて回転の際の遠心力によって展開された試料あるいはこの試料と反応した試薬に前記光出射手段からの収束光を照射し、その反射光もしくは透過光を受光手段で検出して前記試料を分析する分析装置において、トラッキング制御手段に読み取りピッチを変更するオフセットを掛けることにより、光出射手段からの収束光の焦点をトラック溝間にも配置して、トラック溝ピッチよりも細かい解像度で分析を行うように構成したことを特徴とする。
【0009】
請求項4に記載の発明は、一方のディスク面が試料展開面とされ、このディスク面に沿う方向の螺旋状あるいは同心円状のトラック溝が形成されたディスクと、前記ディスクを保持し回転させるディスク回転手段と、前記ディスク回転手段に保持されたディスクの半径方向に移動自在に設けられ収束光を出射する光出射手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのディスク面に合焦させるフォーカシング制御手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのトラック溝に追従させるトラッキング制御手段とを備え、前記ディスクのディスク面に供給されて回転の際の遠心力によって展開された試料あるいはこの試料と反応した試薬に前記光出射手段からの収束光を照射し、その反射光もしくは透過光を受光手段で検出して前記試料を分析する分析装置において、光出射手段からの収束光の焦点を少なくとも1周ずつトラックジャンプさせることにより、トラック溝ピッチよりも粗い解像度で高速に分析を行うように構成したことを特徴とする。
【0010】
請求項5に記載の発明は、請求項1〜請求項4のいずれかに記載の分析装置において、ディスクがCDまたはDVDである光ディスクと同一形式のトラック溝を有し、光出射手段および受光手段を、前記光ディスクのための光ピックアップと互換性を有する光ピックアップに設けたことを特徴とするもので、従来の光ディスクと共通の構成,共通の部品を用いて構成可能である。
【0011】
請求項6に記載の発明は、請求項1〜請求項5のいずれかに記載の分析装置において、トラッキング制御手段を、トラッキングエラー検出方法として3ビーム法を実施可能に構成したことを特徴とする。
【0012】
請求項7に記載の発明は、請求項1〜請求項5のいずれかに記載の分析装置において、トラッキング制御手段を、トラッキングエラー検出方法として位相差検出法を実施可能に構成したことを特徴とする。
【0013】
請求項8に記載の発明は、請求項1〜請求項5のいずれかに記載の分析装置において、トラッキング制御手段を、トラッキングエラー検出方法として差動プッシュプル法を実施可能に構成したことを特徴とする。
【0014】
請求項9に記載の発明は、請求項1〜請求項8のいずれかに記載の分析装置において、試薬の塗布領域と非塗布領域とを反射光もしくは透過光を基に判断し、塗布領域に対して高解像度での分析を行い、非塗布領域に対して塗布領域よりも低解像度で高速な分析を行うように構成したことを特徴とする。
【0015】
請求項10に記載の発明は、請求項9記載の分析装置において、試薬の塗布領域と非塗布領域とを、反射光または透過光の光量の絶対値から判断するように構成したことを特徴とする。
【0016】
請求項11に記載の発明は、請求項9記載の分析装置において、試薬の塗布領域と非塗布領域とを、反射光または透過光の光量変化の振幅から判断するように構成したことを特徴とする。
【0017】
請求項12に記載の発明は、請求項1〜請求項8のいずれかに記載の分析装置において、ディスクのトラック溝に最適読み取り解像度に関する情報を予め記録し、その記録情報を光出射手段で読み出して解像度を決定するように構成したことを特徴とする。
【0018】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。
(実施の形態1)
図1は本発明の実施の形態1における分析装置の概略構成を示す斜視図である。この実施の形態1の分析装置は主に、請求項1,請求項5に記載の発明に対応する。
【0019】
図1において、1は分析用のディスクであり、2はディスク1を回転可能に支持するディスク回転手段であり、3はディスク回転手段2に支持されたディスク1に収束光を出射する光出射手段である。光出射手段3は、送りモータ4の軸上に配置された送りねじ5に連結されていて、レール部材6に沿ってディスク1の半径方向に移動可能である。ディスク回転手段2,送りモータ4,レール部材6などが固定されたベース7は、インシュレータ8を介してフレーム9に取り付けられていて、ベース7上の各部材はインシュレータ8の作用によって装置外部からの振動が遮断もしくは軽減されるようになっている。
【0020】
図2および図3に示すように、光出射手段3は、ディスク1に収束光を出射するレーザーダイオードなどの光出射部10と、ディスク1からの反射光を検出し電気信号に変換するフォトダイオードなどの光検出部11と、プリズムミラー12,コリメーターレンズ13,ビームスプリッター14,シリンドリカルレンズ15,回折格子15aなどの光学系とを、対物レンズ16を組み込んだアクチュエータ17と組み合わせたものである。アクチュエータ17は、フォーカスサーボ、トラッキングサーボの機能を担うもので、ベース部材18上に対物レンズ16をアーム19で支持し、対物レンズ16の両側にトラッキング用コイル20とフォーカス用コイル21とを1対ずつ配し、その外側に永久磁石22を配していて、各コイル20,21に通電された時に発生する電磁力と永久磁石22との吸引力・反発力によって、対物レンズ16を上下(フォーカス)方向・左右(トラッキング)方向に動かして微調節する。
【0021】
ディスク回転手段2の駆動制御回路、光出射手段3の駆動制御回路や信号処理回路などは、図示を省略したCPU(中央制御装置)に接続されていて、このCPUによって、ディスク回転手段2、光出射手段3などが予め設定されたプログラム通りに作動され、その結果が画像処理的に分析されるようになっている。
【0022】
図4および図5に示すように、ディスク1は、ポリカーボネートなどからなるディスク基板1aと、金,銀,アルミニウムなどからなるディスク反射膜1bと、紫外線硬化型樹脂などからなるディスクオーバーコート1cとの3層構造を有し、ディスク基板1aに成形された凹凸形状に基づく螺旋状(あるいは同心円状)のトラック溝24を内部に有している。
【0023】
ディスクオーバーコート1cの外面は、試料を展開するための試料展開面25として設定されており、この試料展開面25に、試料と反応させるための試薬26が塗布されている。試薬26は、血液,尿等の生体試料やその他の液状試料に含まれる検査対象成分と反応して(酵素反応や免疫反応などを含む)、反応状態(化学発光、蛍光などを含む)に応じた反射光量などの光学的変化を生じ、それより検査対象成分の有無や濃度、あるいは検査対象物の数量などとして測定分析可能なものが選ばれる。血液型判定のための比色測定に使用される試薬は反応が速い試薬の一例である。この試薬26は、試料に伴われて外周側へ流れることなく保持されるように、被塗布材料に対して親和性を有し水溶性を有さないものが望ましいが、分析内容によっては(たとえば血球数の計測)予め試料に添加されたり、不要な場合もある。試料展開面25に適度の試料を保持するための親水処理が施されることもある。またオーバーコート1cは、試料展開面25と上記した光出射部10からの収束光の光スポットとの距離(ディスク厚み方向)を小さくするためには設けられないこともあり、その場合は、オーバーコートがないことによるディスク反射膜1bの劣化を防ぐために反射膜材料に金が使用される。
【0024】
上記した分析装置における分析方法を説明する。
ディスク1をディスク回転手段2に装着し、その試料展開面25の内周部にディスペンサ等により液状の試料27を滴下した後、前記ディスク回転手段2によって高速で回転させる。このことにより、試料展開面25上の試料27が遠心力によって外周方向(図5矢印A方向)に流動し、試薬26と反応する。
【0025】
試料27の展開および試薬26との反応が完了した後に、試料展開面25の読み取りを行なう。そのためには、分析開始時、あるいは試料展開面25の読み取りを開始する時点で、図6に示すように、解像度優先の分析モードか、速度優先の分析モードかを選択し(ステップS1)、解像度優先の場合はディスク1の回転数を低く設定し(ステップS2)、速度優先の場合はディスク1の回転数を高く設定し(ステップS3)、その状態でスキャンする(ステップS4)。
【0026】
つまり、高い解像度が要求されるときには、ディスク1の回転数を低くすることでディスク1の周方向の読み取り密度を上げるのであり、それにより高解像度での分析が可能となる。速度優先のときには逆に、ディスク1の回転数を高くすることでディスク1の周方向の読み取り密度を下げるのであり、それにより高速で分析を行うことが可能となる。
【0027】
具体的には、ディスク回転手段2によってディスク1を設定回転数で回転させながら、光出射手段3をディスク半径方向に一定速度で移動させ、光出射部10からの収束光P1を試料展開面25上の試料27および(または)試薬26に照射し、その反射光をビームスプリッター14などで光検出部11に導いて、一定のサンプリング間隔で電気信号に変換し、信号処理し、その読取り信号を画像処理的に解析する。そしてその結果から、試料27の展開状態および(または)試薬26との反応状態を分析する。つまり、回転に同期して各位置の試料27および(または)試薬26の情報を光学的に読み取り、定性・定量分析するのである。
【0028】
このとき、光出射手段3は、収束光P1の光スポットP2をディスク面(すなわち試料展開面25)に合焦させるフォーカシングサーボ機構と、ディスク1のトラック溝24のランド部24aに追従させるトラッキングサーボ機構とによって、ディスク半径方向(矢印T方向)及びディスク周方向(矢印F方向)に微調整され、読み取りの位置決めを精密に行う。図7は光スポットP2の軌跡を示す。このため、試料27の分析を高精度、所望の高解像度およびスピードで行なうことが可能である。
【0029】
なお、試料27の展開状態,試薬26との反応状態の読み取りは、上記したように反射光を用いてもよいし、あるいは、図3に仮想線で示したように、光出射部10とディスク1を挟んで対向する位置に別途に光検出部11aを配置して透過光を検出するようにしてもよい。
【0030】
また、試料展開面25に複数の試薬26を塗布しておくことによって、1度の展開で複数の分析を行うことも可能である。試料展開面25をディスク半径方向の凸条などで複数に区画しておくことによって、1度の展開で複数の試料27を分析することも可能である。
【0031】
また、ディスク1の外形形状やトラック溝形状を既存の光ディスク媒体、たとえばCDやDVDと同等としておけば(図示したディスク1はCDのディスク構造である)、既存の光ディスク製造用のスタンパ,既存の光ディスク装置の光ピックアップ,ディスク回転手段,送り機構部分を共用することができ、検出回路や信号処理回路等もある程度の共用が可能である。したがって、共通の部品を用いて分析装置を低価格にて構成可能である。ディスク1をDVDディスク(周知構造なので図示を省略するが、CDよりも最短ピット長,トラックピッチとも短い)と同等とした場合には、CD用のものよりレーザを短波長化し、対物レンズの開口数を高くしたDVD用光ピックアップにて、高密度の読み取りが可能である。トラック溝は、光出射手段3によってトラッキング制御が可能であれば詳細形状には特に制約はない。たとえば従来のスタンプディスク(再生専用ディスク)のようなピット形状でもよいし、記録用ディスクのようなプリグルーブ形状でもよく、ピットあるいはウォブリングによって、アドレス情報を供給可能である。
(実施の形態2)
本発明の実施の形態2における分析装置は、高解像度の分析が必要な場合に、ディスク1のトラックピッチ(Pt)よりも細かい密度で読み取りを行えるようにしたものである。この分析装置は主に、請求項2,請求項6〜請求項8に記載の発明に対応する。
【0032】
この分析装置では、図8に示すように、光出射手段3の光路中に、細かい溝28aが形成された回折格子28が設けられていて、光出射部10から出射する収束光P1を回折格子28で回折して複数に分岐させ、その分岐光を対物レンズ16を通してディスク1のトラック溝24に照射し、各々の反射光を検出するように構成されている。
【0033】
その際に、アクチュエータ17のトラッキング制御機構によって、回折の影響を受けないメインビームP11をトラック溝24のランド部24aの中央に追従させるようにして、回折格子28で分岐したサブビームP21をランド部24aの中央からずれた位置に配置する。そしてそれにより、図9に示すように、メインビームP11はトラック溝24のランド部24aに対応するディスク面上に光スポット(焦点)P12を結ばせ、サブビームP21はトラック溝24のグルーブ部24bに対応するディスク面上に光スポットP22を結ばせて、光スポットP12,P22からの反射光を光検出部11で検出するのである。P13,P23はそれぞれ光スポットP21,P22の軌跡を示す。
【0034】
このようにトラッキング制御することによって、ディスク1のトラックピッチ(Pt)よりも細かい密度で読み取りを行うことができ、高解像度の分析が可能となる。
【0035】
この読み取り方法は、トラッキングエラー検出法として3ビーム法を実施するトラッキング制御機構をそのまま用いるものであって、回折格子28は図3に示した回折格子15aと同一とすることができ、よって装置コストを上げることなく高解像度の分析を実現できる。なお3ビーム法とは、レーザ光を回折格子で信号読み取り用(メインスポットを形成)と誤差検出用2本(サイドスポットを形成)に分光してトラック溝(ピット列)に照射し、2つのサイドスポットを検出する光検出部に戻る光量の差があればトラッキング誤差があるとして、その誤差を打ち消す方向にアクチュエータを動かすものである。
【0036】
3ビーム法に代えて、位相差検出法あるいは作動プッシュプル法を実施するトラッキング制御機構をそのまま用いても、上記と同様にしてトラック溝ピッチよりも細かい解像度で分析を行なうことができる。位相差検出法は、回折格子により光束を分岐してサイドスポットを生成し、その各々の反射光を検出してその位相差からトラッキングエラー信号を得る方式である。差動プッシュプル法は、回折格子を用いてサイドスポットを生成し、その各々の反射光から得られるプッシュプル信号によりトラッキングエラー信号を得る方式である。
(実施の形態3)
本発明の実施の形態3における分析装置は、高解像度の分析が必要な場合に、ディスク1のトラックピッチ(Pt)よりも細かい密度で読み取りを行えるようにしたものである。この分析装置は主に、請求項3に記載の発明に対応する。
【0037】
この分析装置では、図10に示すように、メインビームP11がトラック溝24のランド部24aをトレースするように、アクチュエータ17のトラッキング制御機構によってトラッキング制御する。その際の光スポットP12の軌跡はP13で示す矢印のようになる。
【0038】
ディスク1が1回転してメインビームP11がトラック溝24の1周分をトレースし終えたら、アクチュエータ17のトラッキング制御機構にオフセットを与えることにより、メインビームP11にトラック溝24のランド部24aから若干ずれた位置をトレースさせる。その際の光スポットP12の軌跡はP14で示す矢印のようになる。
【0039】
ディスク1がもう1回転してメインビームP11がトラック溝24の1周分をトレースし終えたら、さらにアクチュエータ17のトラッキング制御機構にオフセットを与えることにより、メインビームP11にトラック溝24のランド部24aからさらにずれた位置をトレースさせる。その際の光スポットP12の軌跡はP15で示す矢印のようになる。
【0040】
このとき、光スポットP12の反射光を検出すると、P13,P14,P15のピッチで、つまりディスク1のトラックピッチ(Pt)よりも細かい密度で読み取りを行うことになり、高解像度の分析が可能となる。
(実施の形態4)
本発明の実施の形態4における分析装置は、高解像度の分析が不要な場合に短時間で分析を行えるようにしたものである。この分析装置は請求項4に記載の発明に対応する。
【0041】
この分析装置では、図11に示すように、メインビームP11がトラック溝24のランド部24aをトレースするように、アクチュエータ17のトラッキング制御機構によってトラッキング制御する。その際の光スポットP12の軌跡はP16で示す矢印のようになる。
【0042】
ディスク1が1回転してメインビームP11がトラック溝24の1周分をトレースし終えたら、送りモータ4によって光出射手段3をディスク半径方向に移動させることにより、メインビームP11のトレース位置をディスク1の外周方向にn本分だけトラックジャンプさせる。ジャンプ先のトラック溝24のランド部24aをメインビームP11がトレースするようにトラッキング制御する。その際の光スポットP12の軌跡はP17で示す矢印のようになる。
【0043】
その後、同様にして、トラックジャンプとトレースとを繰り返す。
このとき、光スポットP12の反射光を検出すると、P16,P17のピッチで、つまりディスク1のトラックピッチ(Pt)よりも粗い密度で読み取りを行うことになり、全てのトラック溝をトレースする分析時よりも解像度が低い分析を短時間で行うことが可能となる。トラックジャンプの本数nは、要求される解像度と許容される分析時間との兼ね合いで決定することができる。
(実施の形態5)
本発明の実施の形態5における分析装置は、ディスクにおける試薬の塗布領域と非塗布領域とを判断し、塗布領域で高解像度での分析を行い、非塗布領域で低解像度(高速)での分析を行うようにしたものである。この分析装置は請求項9〜請求項11に記載の発明に対応する。
【0044】
図12(a)に示すように、ディスク1の試料展開面25に、複数の分析を行うための試薬が塗布された試薬塗布領域29が半径方向に並んで配置され、各試薬塗布領域29の間に、それぞれの境界を明確にするための試薬非塗布領域30が設けられている。
【0045】
このようなディスク1のディスク面を、収束光P1の光スポットP2で軌跡P3のようにトレースすると、試薬塗布領域29をトレースしたときの検出信号は図12(b)に示すように変化し、これに対し試薬非塗布領域30をトレースしたときの検出信号は図12(c)に示すように平坦になる。
【0046】
このため分析装置は、このような検出信号の違いを利用して試薬塗布領域29と試薬非塗布領域30とを判断し、試薬塗布領域29では予め決めた高解像度の読み取りを行い、試薬非塗布領域30では予め決めた低解像度まで解像度を落として高速読み取りを行うように構成されている。
【0047】
例えば、ディスクの最内周から読み取り動作を開始した時に、光スポットが試薬塗布領域29に入っているかどうかを検出信号から判断し、試薬塗布領域29でないと判断された場合は、実施の形態4で説明したのと同様に、トレースとn本の外周側へのトラックジャンプを繰り返して高速読み取りを行なう。この高速読み取り中の検出信号から、光スポットが試薬塗布領域29に入ったと判断されたら、n本分だけ逆方向にトラックジャンプを行ない、そこから高解像度での読み取りを行なう。
【0048】
このような処理を繰り返すことによって、試薬塗布領域29では高解像度の読み取りを行ない、試薬非塗布領域30では高速読み取りを行なうことが可能であり、高精度かつ高速な分析が可能である。実施の形態1で述べた処理、すなわち、高速読み取り時はディスク回転数を上げ、高解像度読み取り時はディスク回転数を下げる処理、を併用すれば更に効率的な分析が可能である。
【0049】
試薬塗布領域29と試薬非塗布領域30とを判断する基準としては、反射光または透過光の光量の絶対値、または、反射光または透過光の光量変化の振幅が用いられる。具体的にはたとえば、当該種類のディスク1の試薬塗布領域29と試薬非塗布領域30とについて予め、反射光または透過光の光量の絶対値、あるいは反射光または透過光の光量変化の振幅が求められ、それと比較される。
(実施の形態6)
本発明の実施の形態6における分析装置は、ディスクに予め記録された情報に基づいて分析を行うようにしたものである。この分析装置は請求項12に記載の発明に対応する。
【0050】
図13に示すように、ディスク1における内周部領域31のトラック溝に予め、分析時の最適読み取り解像度に関する情報が記録されている。記録の形式は、従来のCD−ROMのようなピット記録方式や、CD−RあるいはCD−RWのように有機色素や相変化材料を用いた記録方式がとられる。
【0051】
この分析装置は、上記した実施の形態1〜5の分析装置について記載した1または複数の制御方法を実施可能であり、装着されたディスク1の最適読み取り解像度情報を光出射手段3からの収束光P1を用いて読み出し、その情報に基づいて読み取り解像度を決定し、決定した読み取り解像度に対応するいずれかの制御方法を選択して実施するように構成されている。
【0052】
たとえば、複数の分析内容に関する情報が記録されたディスク1を装着し、所望の分析内容を指定すると、ディスク1から、入力した分析内容に関する情報が読み出され、同分析内容に応じた読み取り解像度が決定され、決定された読取り解像度に対応する制御方法が自動的に選択されて、実施される。
【0053】
具体的には、試料が血液で分析内容が白血球数の計測である場合には、白血球の直径はおおよそ6〜14μm であるから、最適読み取り解像度3μm 以下がディスク1に記録される。試料が血液で分析内容が血小板数の計測である場合には、血小板の直径は2〜3μm 程度であるから、最適読み取り解像度1μm 以下がディスク1に記録される。その他、原虫の大きさは数〜数十μm 、カビは数μm 、細菌は1μm 程度の大きさなので、それぞれに最適な読み取り解像度がディスク1に記録される。
【0054】
このようなディスク1を装着して分析内容「白血球数の計測」を指定すると、ディスク1の各最適読み取り解像度の情報が読み出され、その中の「白血球数の計測」に関する読み取り解像度3μm 以下に決定され、この決定された読取り解像度3μm 以下に対応する予め決められた制御方法、たとえば実施の形態2の制御方法が選択されて、実施される。
【0055】
ディスク1を分析内容ごとに専用にして分析内容に即した情報を記録しておけば、所望の分析内容を入力することなく自動的に分析を行なうように構成することも可能である。
【0056】
【発明の効果】
以上のように本発明の分析装置によれば、試料をディスク上に展開して位置精度よく分析することができ、その際の解像度、検査時間とも適宜に変更できるので、高い解像度での分析と短時間での分析とを選択して行なえる。しかもこの分析装置は、従来の光ディスク装置と共通の構成、共通の部品を流用して安価に製作することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1の分析装置の概略全体構成を示す斜視図
【図2】図1の分析装置に設けられた光出射手段の斜視図
【図3】図2の光出射手段の光学系などを示した構成図
【図4】図1の分析装置で使用される分析用ディスクの一部切り欠き平面図
【図5】図1の分析装置における検出方法を説明する一部拡大断面図
【図6】図1の分析装置における検出方法を説明する模式図
【図7】図1の分析装置におけるディスク回転数の制御方法を示すフローチャート
【図8】図1の分析装置と同等の構成を有した本発明の実施の形態2の分析装置における検出方法を説明する一部拡大断面図
【図9】同実施の形態2の分析装置における検出方法を説明する模式図
【図10】図1の分析装置と同等の構成を有した本発明の実施の形態3の分析装置における検出方法を説明する模式図
【図11】図1の分析装置と同等の構成を有した本発明の実施の形態4の分析装置における検出方法を説明する模式図
【図12】図1の分析装置と同等の構成を有した本発明の実施の形態5の分析装置について(a)検出方法を説明する模式図、(b)試薬の塗布領域での光量変化を示すグラフ、(c)試薬の非塗布領域での光量変化を示すグラフ
【図13】図1の分析装置と同等の構成を有した本発明の実施の形態6の分析装置で使用される分析用ディスクの斜視図
【符号の説明】
1 ディスク
2 ディスク回転手段
3 光出射手段
4 送りモータ
5 送りねじ
6 レール部材
10 光出射部
11 光検出部
11a 光検出部
16 対物レンズ
17 アクチュエータ
24 トラック溝
24a ランド部
24b グルーブ部
25 試料展開面
26 試薬
27 試料
28 回折格子
29 試薬塗布領域
30 試薬非塗布領域
31 最適読み取り解像度情報記録領域
P1 収束光
P2 光スポット
P3 光スポットの軌跡
P11 メインビーム
P12 メインビームの光スポット
P21 サブビーム
P22 サブビームの光スポット
P13 〜P17,P23 光スポットの軌跡

Claims (12)

  1. 一方のディスク面が試料展開面とされ、このディスク面に沿う方向の螺旋状あるいは同心円状のトラック溝が形成されたディスクと、前記ディスクを保持し回転させるディスク回転手段と、前記ディスク回転手段に保持されたディスクの半径方向に移動自在に設けられ収束光を出射する光出射手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのディスク面に合焦させるフォーカシング制御手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのトラック溝に追従させるトラッキング制御手段とを備え、前記ディスクのディスク面に供給されて回転の際の遠心力によって展開された試料あるいはこの試料と反応した試薬に前記光出射手段からの収束光を照射し、その反射光もしくは透過光を受光手段で検出して前記試料を分析する分析装置において、
    分析に必要な解像度に応じてディスク回転手段のディスク回転数を制御するように構成した分析装置。
  2. 一方のディスク面が試料展開面とされ、このディスク面に沿う方向の螺旋状あるいは同心円状のトラック溝が形成されたディスクと、前記ディスクを保持し回転させるディスク回転手段と、前記ディスク回転手段に保持されたディスクの半径方向に移動自在に設けられ収束光を出射する光出射手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのディスク面に合焦させるフォーカシング制御手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのトラック溝に追従させるトラッキング制御手段とを備え、前記ディスクのディスク面に供給されて回転の際の遠心力によって展開された試料あるいはこの試料と反応した試薬に前記光出射手段からの収束光を照射し、その反射光もしくは透過光を受光手段で検出して前記試料を分析する分析装置において、
    光出射手段の光路中に収束光を複数に分岐させる回折格子を有し、前記回折格子で分岐されディスクのディスク面に合焦された分岐光の反射光を各々受光手段で検出することにより、トラック溝ピッチよりも細かい解像度で分析を行うように構成した分析装置。
  3. 一方のディスク面が試料展開面とされ、このディスク面に沿う方向の螺旋状あるいは同心円状のトラック溝が形成されたディスクと、前記ディスクを保持し回転させるディスク回転手段と、前記ディスク回転手段に保持されたディスクの半径方向に移動自在に設けられ収束光を出射する光出射手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのディスク面に合焦させるフォーカシング制御手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのトラック溝に追従させるトラッキング制御手段とを備え、前記ディスクのディスク面に供給されて回転の際の遠心力によって展開された試料あるいはこの試料と反応した試薬に前記光出射手段からの収束光を照射し、その反射光もしくは透過光を受光手段で検出して前記試料を分析する分析装置において、
    トラッキング制御手段に読み取りピッチを変更するオフセットを掛けることにより、光出射手段からの収束光の焦点をトラック溝間にも配置して、トラック溝ピッチよりも細かい解像度で分析を行うように構成した分析装置。
  4. 一方のディスク面が試料展開面とされ、このディスク面に沿う方向の螺旋状あるいは同心円状のトラック溝が形成されたディスクと、前記ディスクを保持し回転させるディスク回転手段と、前記ディスク回転手段に保持されたディスクの半径方向に移動自在に設けられ収束光を出射する光出射手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのディスク面に合焦させるフォーカシング制御手段と、前記光出射手段から出射される収束光の焦点を前記ディスクのトラック溝に追従させるトラッキング制御手段とを備え、前記ディスクのディスク面に供給されて回転の際の遠心力によって展開された試料あるいはこの試料と反応した試薬に前記光出射手段からの収束光を照射し、その反射光もしくは透過光を受光手段で検出して前記試料を分析する分析装置において、
    光出射手段からの収束光の焦点を少なくとも1周ずつトラックジャンプさせることにより、トラック溝ピッチよりも粗い解像度で高速に分析を行うように構成した分析装置。
  5. ディスクがCDまたはDVDである光ディスクと同一形式のトラック溝を有し、光出射手段および受光手段を、前記光ディスクのための光ピックアップと互換性を有する光ピックアップに設けた請求項1〜請求項4のいずれかに記載の分析装置。
  6. トラッキング制御手段を、トラッキングエラー検出方法として3ビーム法を実施可能に構成した請求項1〜請求項5のいずれかに記載の分析装置。
  7. トラッキング制御手段を、トラッキングエラー検出方法として位相差検出法を実施可能に構成した請求項1〜請求項5のいずれかに記載の分析装置。
  8. トラッキング制御手段を、トラッキングエラー検出方法として差動プッシュプル法を実施可能に構成した請求項1〜請求項5のいずれかに記載の分析装置。
  9. 試薬の塗布領域と非塗布領域とを反射光もしくは透過光を基に判断し、塗布領域に対して高解像度での分析を行い、非塗布領域に対して塗布領域よりも低解像度で高速な分析を行うように構成した請求項1〜請求項8のいずれかに記載の分析装置。
  10. 試薬の塗布領域と非塗布領域とを、反射光または透過光の光量の絶対値から判断するように構成した請求項9記載の分析装置。
  11. 試薬の塗布領域と非塗布領域とを、反射光または透過光の光量変化の振幅から判断するように構成した請求項9記載の分析装置。
  12. ディスクのトラック溝に最適読み取り解像度に関する情報を予め記録し、その記録情報を光出射手段で読み出して解像度を決定するように構成した請求項1〜請求項8のいずれかに記載の分析装置。
JP2002047246A 2002-02-25 2002-02-25 分析装置 Expired - Fee Related JP3926171B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002047246A JP3926171B2 (ja) 2002-02-25 2002-02-25 分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002047246A JP3926171B2 (ja) 2002-02-25 2002-02-25 分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003248007A JP2003248007A (ja) 2003-09-05
JP3926171B2 true JP3926171B2 (ja) 2007-06-06

Family

ID=28660351

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002047246A Expired - Fee Related JP3926171B2 (ja) 2002-02-25 2002-02-25 分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3926171B2 (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4498082B2 (ja) * 2003-10-30 2010-07-07 パナソニック株式会社 光学分析装置およびその粒子カウント方法
US7524455B2 (en) * 2003-11-24 2009-04-28 General Electric Company Methods for deposition of sensor regions onto optical storage media substrates and resulting devices
US20070254376A1 (en) * 2004-10-01 2007-11-01 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Method and apparatus for the detection of labeling elements in a sample
JP4710347B2 (ja) * 2005-02-21 2011-06-29 パナソニック株式会社 分析装置およびそれに使用する分析ディスク
WO2006099255A2 (en) * 2005-03-10 2006-09-21 Gen-Probe Incorporated Systems and methods to perform assays for detecting or quantifying analytes within samples
JP4525427B2 (ja) * 2005-04-01 2010-08-18 パナソニック株式会社 分析ディスク、並びに分析ディスクおよび分析装置の検査方法
JP4635712B2 (ja) * 2005-05-17 2011-02-23 パナソニック株式会社 分析装置
JP4670015B2 (ja) * 2006-05-02 2011-04-13 独立行政法人産業技術総合研究所 光検出型分子センサ及び分子検出方法
JP5510388B2 (ja) * 2011-05-13 2014-06-04 株式会社Jvcケンウッド 光学的分析装置、光学的分析方法
JP6205584B2 (ja) * 2012-03-29 2017-10-04 パナソニックIpマネジメント株式会社 試料保持担体およびそれを用いた蛍光検出システム、蛍光検出装置
JP5947182B2 (ja) * 2012-09-28 2016-07-06 富士フイルム株式会社 光電場増強デバイスを用いた測定装置
EP2916124A4 (en) * 2012-10-30 2016-02-17 Panasonic Ip Man Co Ltd SAMPLE CARRIER AND FLUORESCENCE DETECTOR USING SAME
JP5760054B2 (ja) * 2013-08-23 2015-08-05 シャープ株式会社 光検出装置
JP6761217B2 (ja) * 2016-02-02 2020-09-23 国立研究開発法人産業技術総合研究所 微小構造物検出装置及び微小構造物検出方法
JP7085231B2 (ja) 2020-08-28 2022-06-16 国立研究開発法人産業技術総合研究所 微小構造物検出方法、及びその装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003248007A (ja) 2003-09-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3926171B2 (ja) 分析装置
US6327031B1 (en) Apparatus and semi-reflective optical system for carrying out analysis of samples
US5892577A (en) Apparatus and method for carrying out analysis of samples
US7200088B2 (en) System and method of detecting investigational features related to a sample
US6995845B2 (en) Methods for detecting analytes using optical discs and optical disc readers
US20070070848A1 (en) Disc drive system and methods for use with bio-discs
JP6244556B2 (ja) 試料保持担体およびそれを用いた蛍光検出装置
TW200400352A (en) Bioassay unit and substrate for bioassay
JP4151483B2 (ja) バイオアッセイ用基板並びにバイオアッセイ装置及び方法
EP1806744A1 (en) Optical recording medium recording/reproducing method, optical recording medium, and recording/reproducing device for the same
US7471603B2 (en) Optical analyzer
JP2007017310A (ja) 分析装置
JP2003248006A (ja) 分析装置
JP2005321383A (ja) 分析装置およびそれに使用する分析用ディスク
JP3575181B2 (ja) 光学記録媒体の記録及び/又は再生装置及びそれに用いられる光学ピックアップ
US20030235124A1 (en) Tilt detection device including light-shielding member shielding parts of light at both sides in radial direction of optical disk
JP2008097740A (ja) 光ディスク装置
US20070076087A1 (en) Optical disc apparatus
JP2006300696A (ja) 光学分析装置
JP2014115211A (ja) バイオディスク読み取り装置、バイオディスク読み取り方法
KR20030035901A (ko) 광디스크 장치 및 기록/재생 방법
JP2006226972A (ja) 分析装置
JPWO2003102556A1 (ja) 分析装置とそれに使用する分析用ディスク
JP2003030830A (ja) 光ディスク判別方法および光ディスク装置
JP2007198790A (ja) 分析方法および分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050223

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061013

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070130

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070227

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110309

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110309

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120309

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130309

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130309

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140309

Year of fee payment: 7

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees