JP3921987B2 - フォトニック結晶導波路及びその製造方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、フォトニック結晶導波路及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、超小型光回路を実現する技術として、フォトニック結晶を用いた光回路の研究が盛んに行われるようになってきた。フォトニック結晶とは、ある波長の光を全く通さなかったり、わずかな波長の変化で光の屈折率が大きく変わるといったユニークな光学特性を示す人工材料と言われている。
【0003】
図13(a)〜(f)はフォトニック結晶の従来例を示す図である。
【0004】
同図(a)はエアギャップ型構造を示し、ウェットエッチングにより形成され、同図(b)は深い回折格子構造を示し、ドライエッチングにより形成される。同図(a)、(b)は共に一次元フォトニック結晶である。
【0005】
同図(c)は垂直孔型構造を示し、ドライエッチング陽極化成により形成され、同図(d)はピラー型構造を示し、ドライエッチング選択成長により形成される。同図(c)、(d)は共に二次元フォトニック結晶である。
【0006】
同図(e)は斜め孔型構造を示し、ドライエッチングにより形成され、同図(f)は積み木型構造を示し、貼り付けにより形成される。同図(e)、(f)は共に三次元フォトニック結晶である。尚、図中矢印は光の進行方向を示す。
【0007】
これらのフォトニック結晶の中で、同図(c)、(d)に示す二次元フォトニック結晶は、基板上に空孔や柱を形成したものが典型的な例である。同図(e)、(f)に示す三次元フォトニック結晶は、立体的なモザイク構造からなり、角材状の結晶を積み重ねたものや小さな球を重ねたものなどがある。すなわち、2種類の媒質の屈折率の差が大きくて周期構造がある条件を満たすと、特定の波長の光が全く伝搬しなくなり、外部からの光は結晶に進入できずに反射されてしまう。この波長の範囲がフォトニックバンドギャップと言われている。
【0008】
図14はフォトニック結晶の他の従来例を示す図である。
【0009】
これはSi基板50上に形成した石英ガラス膜51中に複数の屈折率変化領域52を所定の間隔を隔てて面方向に形成し、その屈折率変化領域の中に屈折率変化領域52の存在しない領域(以下「欠落領域」という。)53を設けることにより、光ファイバ54−1からの光信号55−1を欠落領域53の一方の端面(図では下側)からその欠落領域53内を通して他方の端面(図では上側)から光ファイバ54−2を通して光信号55−2を取り出すようにしたフォトニック結晶導波路である。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前述した従来のフォトニック結晶を用いた光回路はまだ研究の段階にあり、多くの解決しなければならない課題がある。これらの課題を以下に示す。
(1)フォトニック結晶を容易に製造することができる構造及びその製造方法はまだ見出されていない。
(2)低損失なフォトニック結晶型光回路が見出されていない。
(3)空孔は、通常、エッチング、レーザビーム加工等により形成されるが、その空孔の形状は数μm以下の直径の微小サイズであるので、楕円形状であったり、径の周辺が均一でなかったりする。そのため、欠落部を伝搬する光信号は空孔の不均一形状に影響を及ぼされて散乱損失を大幅に増大させている。
【0011】
そこで、本発明の目的は、上記課題を解決し、低損失なフォトニック結晶導波路及びその製造方法を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項1の発明は、基板上に低屈折率層を形成し、その低屈折率層上に透明な酸化物からなる酸化物層を形成し、その酸化物層の面にパルス幅が1000フェムト秒以下の超短パルスレーザビームを照射し、上記酸化物層よりも低屈折率である直径が2μm以下の空孔を所定ピッチで縦、横にマトリクス状に形成すると共に、直線状、曲線状あるいはこれらを組み合わせた形状で、かつ幅が4μm以下となるように、空孔の形成されていない領域からなる酸化物パターンを形成し、その酸化物パターンに沿ってパルス幅が1000フェムト秒以下の超短パルスレーザビームを照射し、上記酸化物パターン内に幅が2μm以下の高屈折率層を形成したフォトニック結晶導波路である。
【0013】
請求項2の発明は、上記酸化物パターン内の光伝搬方向に上記高屈折率層が複数本平行配置されている請求項1に記載のフォトニック結晶導波路である。
【0014】
請求項3の発明は、上記酸化物層としてSiO2、SiO2にGe、Ti、F、B、Ta、Sn等の屈折率制御用添加物を少なくとも1種類添加したもの、Nを添加したSiN、Si3N4、上記酸化物に希土類元素を少なくとも1種類添加したもの等を用いた請求項1または2に記載のフォトニック結晶導波路である。
【0015】
請求項4の発明は、基板上に低屈折率層を形成し、その低屈折率層上に透明な酸化物からなる酸化物層を形成する工程と、
その酸化物層の面にパルス幅が1000フェムト秒以下の超短パルスレーザビームを照射し、直径が2μm以下の空孔を所定ピッチで縦、横にマトリクス状に形成すると共に、直線状、曲線状あるいはこれらを組み合わせた形状で、かつ幅が4μm以下となるように、空孔の形成されていない領域からなる酸化物パターンを形成する工程と、
その酸化物パターンに沿って、上記酸化物パターンの屈折率を増加させるのに必要な出力でパルス幅が1000フェムト秒以下の超短パルスレーザビームを照射し、上記酸化物パターン内に幅が2μm以下の高屈折率層を形成する工程と
を備えたフォトニック結晶導波路の製造方法である。
【0016】
本発明によれば、空孔の形成されていない領域からなる酸化物パターン上にパルス幅が1000フェムト秒以下の超短パルスレーザビームを照射して酸化物パターンの屈折率を増加させることにより、光信号を酸化物パターン内に効率よく閉じ込めて伝搬させることができる。この結果、空孔の形成された領域が不均一な構造になっても、不均一さによる散乱損失の誘発を抑えることができ、低損失なフォトニック結晶型光回路を実現することができる。
【0017】
また、超短パルスレーザビーム照射により酸化物パターンの屈折率を1%程度までに増加させることができ、この高屈折率化により、さらに低損失化が可能となる。
【0018】
さらに、透明な酸化物層として、SiO2、SiO2にGe、Ti、F、B、Ta、Sn等の屈折率制御用添加物を少なくとも1種類添加したもの、Nを添加したSiN、Si3N4、酸化物に希土類元素を少なくとも1種類添加したもの等を用いることにより、波長1.3μm、1.55μmの通信用波長帯において、より低損失なフォトニック結晶導波路を実現することができる。
【0019】
さらに、酸化物層には超短パルスレーザビーム照射により空孔を形成することができ、かつそのレーザビームの出力を制御することにより、酸化物パターンの屈折率を増加させることができ、その高屈折率化の制御も容易となる。
【0020】
さらに空孔形成工程の直後に酸化物パターンの高屈折率化を連続的に行う工程でフォトニック結晶導波路を形成することができる。
【0021】
さらに、酸化物層は基板上にCVD法、スパッタリング法等で成膜されているので、レーザビーム照射による空孔形成及び酸化物パターンへの加工を容易に行うことができる。
【0022】
さらに、酸化物パターンの中に複数本のフォトニック結晶導波路を形成することにより、三次元光回路を構成したり、各酸化物層間のフォトニック結晶導波路で光結合させることができる。
【0023】
さらに、酸化物層の上面及び下面に低屈折率層を形成しておくことにより、酸化物パターンへの光の閉じ込め性をより一層強くすることができ、光ファイバからの光信号を酸化物パターン内に効率よく閉じ込めて伝搬させることができ、空孔の上下面内への不要な伝搬を抑えることができる。この結果、必要とする伝搬光と必要としない不要光とのアイソレーション特性を大きくすることができる。
【0024】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を添付図面に基づいて詳述する。
【0025】
本発明は、透明な酸化物材料からなる酸化物層に超短パルスレーザビームを照射することにより、所望形状の微小な空孔を周期的にマトリクス状に構成してフォトニックバンドギャップ構造を形成し、マトリクス状のバンドギャップ構造の中に空孔の形成されていない酸化物パターンを設け、酸化物パターンに超短パルスレーザビームを照射することにより、酸化物パターンの屈折率を増加させて光信号を効率よく伝搬させるようにしたものである。
【0026】
図1(b)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の一実施の形態を示す上面図、図1(a)は図1(b)の1a−1a線断面図、図1(c)は1a−1a線断面内屈折率分布を示す図である。
【0027】
このフォト結晶導波路は、基板1の上に低屈折率層2を形成し、その低屈折率層2の上に透明な酸化物層3を形成した構造を有している。酸化物層3内には所望径Dの超短パルスレーザビームが照射されて得られる空孔(貫通孔ではなく凹部である。)4−4−1〜4−9−17を縦、横に所定の間隔を隔ててマトリックス状に形成されている。マトリクス構造の中の空孔4−4−1〜4−9−17の形成されていない領域(以下「酸化物パターン」という。)5に超短パルスレーザビームが照射されて屈折率が増加している。光信号は酸化物パターン5に沿って酸化物層3内を矢印6から矢印7のように伝搬するようになっている。超短パルスレーザビームのスポットサイズDを2μm以下にすることができるので、超短パルスレーザビームの照射されて空孔4−4−1〜4−9−17の直径も2μm以下にするのが好ましい。
【0028】
空孔4−4−1〜4−9−17の間隔S1は2μm以下にするのが好ましい。直線状の酸化物パターン5の幅Wcは4μm以下にするのが好ましい。これらの構造パラメータはシングルモード伝搬条件、酸化物層3と空孔4−4−1〜4−9−17の囲む屈折率の低下した領域、酸化物パターン5の屈折率との比屈折率差、フォトニックバンドギャップ条件を考慮に入れて決めることができる。
【0029】
このような構造の一例として、空孔4が形成された部分からなる屈折率の低下した領域の屈折率は1であり、酸化物層3に、例えばSiO2を用いれば屈折率は約1.46(波長633μm)、酸化物パターン5の屈折率はSiO2に比べて比屈折率差で約1%程度大きい値を実現することができる。
【0030】
所定の間隔でマトリックス状に構成した空孔4−4−1〜4−9−17からなる領域、すなわち屈折率低下領域の形成用のレーザとして、波長800nmで発振する超短パルスレーザビームを用い、パルス幅を1000フェムト秒(以下「fs」と記す。)以下にすることにより、そのパルス幅内で極めて大きなエネルギーを得ることができるので、マトリクス状に構成した屈折率低下領域である空孔4−4−1〜4−9−17を形成することができ、より一層の大きな屈折率変化構造を実現することができ、小型のフォトニック結晶導波路を実現することができる。
【0031】
なお、空孔4−4−1〜4−9−17の形成は超短パルスレーザビームの平均出力値、パルス値、繰り返し周波数、基板の移動速度等を制御することで実現することができる。また、酸化物層3の厚さはシングルモード伝搬条件を考慮に入れて6μm以下にすることが好ましい。
【0032】
基板1には、ガラス、セラミックス、プラスチック、半導体、強誘電体、ガラスとプラスチックとの複合材、さらには上記材料の組合せた材料等を用いることができる。
【0033】
低屈折率層2には、SiO2、SiO2にGe、P、Ti、B、Zn、Sn、Ta、F等の屈折率制御用ドーパントを少なくとも1種類添加したもの、ポリマ層、有機と無機との複合層等を用いることができる。
【0034】
酸化物層3には、SiO2、SiO2にGe、P、Ti、B、Zn、Sn、Ta、F等の屈折率制御用ドーパントを少なくとも1種類添加したもの、Nを添加したSiON、Si3N4、上記酸化物に希土類元素を少なくとも1種類添加したもの等を用いることができる。
【0035】
次に、酸化物層に超短パルスレーザビームを照射して複数個の空孔4を形成し、これら空孔4からなる屈折率低下領域を形成する方法について説明する。
【0036】
超短パルスレーザとしては、発振波長が800nmのチタニウムドープのサファイア結晶を用いたモードロックのフェムト秒レーザか、その第二あるいは第三高調波レーザ等を用いることができる。発振出力はパルス幅が1000フェムト秒以下のパルス発振のものを用いる。
【0037】
酸化物の一例として、基板(例えば石英ガラス基板)1上の低屈折率層(SiO2層、膜厚約10μm)2上にCVD法によってSiO2を15モル%添加した層を得た。この酸化物層3上に発振波長800nmのレーザビームをスポット径約1.6μmで、所望のパルス幅200fsに保持し、基板1を100μm/sの速度で移動させながら超短パルスレーザを50mm×50mmの低屈折率層2の形成された基板1上の酸化物層3に照射し、空孔4−1−1〜4−1−17からなる領域を形成した。なお、空孔4−4−1〜4−9−17の直径D及び間隔S1は、超短パルスレーザビームの繰り返し周波数を最適化して約1.5μmにすることで実現することができた。また、酸化物パターン5の幅Wcは約3μmであった。
【0038】
次いで、酸化物パターン5に沿って超短パルスレーザビームの出力を低減させて3回繰り返し照射し、酸化物パターン5の中心部近傍の屈折率を増加させ、酸化物層3の屈折率よりも比屈折率差で0.2%増加させたフォトニック結晶導波路を形成することができた。
【0039】
次に本発明の変形例として、上記条件のうち、基板1の移動速度だけを50μm/sにして酸化物パターンの高屈折率化を図った結果、比屈折率差を0.8%にすることができた。
【0040】
ここで、上記二つのフォトニック結晶導波路の波長1.3μmでの伝搬損失を比較した結果、後者の方が損失が約60%低損失になることが分かった。すなわち、酸化物パターン5内への光信号の閉じ込めがよいほど低損失化を実現できることが分かった。なお、図1(a)〜(c)で説明したレーザビーム照射は、上部クラッド層8を形成した後で酸化物層3にレーザビームを集光、照射してもよい。
【0041】
図2(b)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造法を適用した他の実施の形態を示す上面図、図2(a)は図2(b)の2a−2a線断面図、図2(c)は2a−2a線断面内屈折率分布を示す図である。以下、図1(a)、(b)に示した部材と同様の部材には共通の符号を用いた。
【0042】
本フォトニック結晶導波路は、透明な酸化物層3の表面に低屈折率の上部クラッド層8を形成した構造を有している。この上部クラッド層8は低屈折率層2と同じ性質の層である。すなわち、本フォトニック結晶導波路は、酸化物層3の上に上部クラッド層8を形成して埋め込み導波路としたものである。
【0043】
このような構造でも図1(a)〜(c)に示したフォトニック結晶導波路と同様の効果が得られる。
【0044】
図3(b)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の他の実施の形態を示す上面図、図3(a)は図3(b)の3a−3a線断面図、図3(c)は3a−3a線断面内屈折率分布を示す図である。
【0045】
本フォトニック結晶導波路は、酸化物パターン5に凸状の屈折率分布をもたせたものであり、酸化物層3の内部に超短パルスレーザビームを集光、照射して略球形状の低屈折率領域(すなわち、孔が開けられた領域)を形成したものである。
【0046】
このような構造を有しても図1(a)〜(c)に示したフォトニック結晶導波路と同様の効果が得られる。
【0047】
図4(b)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用した他の実施の形態を示す上面図であり、図4(a)は図4(b)の4a−4a線断面図である。
【0048】
本フォトニック結晶導波路は、酸化物層3内の表面近傍に超短パルスレーザビームを集光、照射して略球形状の低屈折率領域(孔が形成された領域)4−4−1〜4−9−17を形成したものである。
【0049】
このような構造を有しても図1(a)〜(c)に示したフォトニック結晶導波路と同様の効果が得られる。
【0050】
図5(b)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の他の実施の形態を示す上面図であり、図5(a)は図5(b)の5a−5a線断面図である。
【0051】
本フォトニック結晶導波路は図3(a)〜(c)に示したフォトニック結晶導波路の上面に上部クラッド層8を形成したものである。
【0052】
このような構造を有しても図1(a)〜(c)に示したフォトニック結晶導波路と同様の効果が得られる。
【0053】
図6(b)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の上面図であり、図6(a)は図6(b)の6a−6a線断面図である。
【0054】
本フォトニック結晶導波路は、酸化物パターンを5−2、5−5のように直角に曲げた光路とし、この光路の屈折率をレーザビーム照射で増加させ、矢印6方向の光信号を精度よく直角に曲げて矢印7のように伝搬させるようにしたものである。
【0055】
このように酸化物パターンを直角に曲げる場合にはその光路の高屈折率化は、低損失化に対して極めて有効である。このように光路が高屈折率化されていないと、折り曲げ部で光信号が散乱を生じ、低損失伝搬が難しく、また空孔の加工精度が悪くなるほど散乱損失を誘発する。
【0056】
図7は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の他の実施の形態を示す上面図である。
【0057】
本フォトニック結晶導波路は、酸化物パターン5−1〜5−5をY字形状に形成し、かつ酸化物パターン5−1〜5−5を高屈折率化することにより、光信号を二つの矢印6−1、6−2方向に低損失で分岐させて伝搬させ、矢印7−1、7−2方向に出射させるようにした分岐導波路である。
【0058】
このような構造を有しても図1(a)〜(c)に示したフォトニック結晶導波路と同様の効果が得られる。
【0059】
図8(b)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造を適用したフォトニック結晶導波路の他の実施の形態を示す上面図であり、図8(a)は図8(b)の8b−8b線断面図、図8(c)は図8(b)の8c−8c線断面図である。
【0060】
本フォトニック結晶導波路は、基板1と、低屈折率層2と、二つの酸化物層3−1、3−2と、上部クラッド層8とを順次積層したものであり、上部の酸化物層3−2の酸化物パターン5−1に光信号を入射させて伝搬させ、途中から下部の酸化物層3−1内の酸化物パターン5−2内に直角に折り曲げて伝搬させ、矢印7方向に出射させるようにしたものである。すなわち、本フォトニック結晶導波路は、三次元光導波路である。図中、4a−1−1〜4a−13−21、4b−1−1〜4b−12−21は、超短パルスレーザビームを集光、照射して略球形状の低屈折率領域(孔が形成された領域)である。
【0061】
なお、酸化物層を二層とする他、多層状に酸化物層を積層させ、それぞれの酸化物層内に酸化物パターンを形成することで、より複雑な構造の三次元光回路を実現することができる。
【0062】
すなわち、光信号を積層酸化物層の深さ方向に直角、斜め方向等に曲げて伝搬させたり、各酸化物層間で光結合させて伝搬させたりすることができる。
【0063】
図9は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の他の実施の形態を示す上面図である。
【0064】
本フォトニック結晶導波路は、矢印6方向の光信号を矢印6−1〜6−7方向に伝搬させて矢印7方向に出射させるように酸化物層3内にジグザグ状の酸化物パターン5−1〜5−7を形成したものである。
【0065】
このような構造を有しても図1(a)〜(c)に示したフォトニック結晶導波路と同様の効果が得られる。
【0066】
図10(b)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の他の実施の形態を示す上面図であり、図10(a)は図10(b)の側面図である。
【0067】
本フォトニック結晶導波路は、基板1上に酸化物層3−1〜3−9を9層積層させ、各酸化物層3−1〜3−9内に空孔4からなる低屈折率領域を周期的にフォトニックバンドギャップ構造を形成するように設け、酸化物層3−5内に直線状の酸化物パターン5を形成したものである。このフォトニック結晶導波路は、酸化物パターン5に矢印6方向に光信号を入射させ、矢印7方向に出射させるようにしたものである。
【0068】
このような構造を有しても図1(a)〜(c)に示したフォトニック結晶導波路と同様の効果が得られる。
【0069】
このフォトニック結晶導波路は、酸化物層3−5内のみに酸化物パターンを形成したが、各酸化物層内に酸化物パターンを形成し、各層全体で三次元光伝搬や三次元光回路を形成するようにしてもよい。
【0070】
図11(a)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の他の実施の形態を示す側面図であり、図11(a)は図11(b)の11b−11b線断面図である。
【0071】
図1(a)、(b)、(c)〜図10(a)、(b)に示した実施の形態は、空孔4からなる低屈折率領域を直径Dの略円形状構造のものであったが、図11(a)、(b)に示す実施の形態は、幅Waを有する線状構造とし、この幅Waを2μm以下、各線4L間の間隔S3も2μm以下とすることにより、フォトニックバンドギャップ構造を構成したものである。なお、Wcは酸化物パターン5の幅である。
【0072】
このような構造を有しても図1(a)〜(c)に示したフォトニック結晶導波路と同様の効果が得られる。
【0073】
なお、低屈折率の線状部は孔であってもよく、中実部で構成してもよい。
【0074】
図12は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の他の実施の形態を示す上面図である。
【0075】
本フォトニック結晶導波路は、光信号を矢印6方向から矢印7方向に直角に折り曲げて伝搬させる酸化物パターンを構成した例である。
【0076】
図1(a)〜(c)及び図3(a)〜(c)において、酸化物パターン5内の高屈折率パターンは、光伝搬方向に幅が2μm以下で少なくとも1本形成されていればよいが、2本以上平行配置して形成するようにしてもよい。光伝搬方向に直角方向の屈折率分布を種々の階段状分布や収束状分布(山型分布)に構成してもよい。このようにすることで、酸化物パターン内への光信号の閉じ込めをより一層強くし、低損失特性を実現することができる。このように複数本の高屈折率パターンを光伝搬方向に併置するように形成するためには、超短パルスレーザビームスポット径を0.2μmから1μmの範囲に制御して照射すればよい。各パターンの屈折率を変えるには、超短パルスレーザビームの照射エネルギーを変えればよい。超短パルスレーザビームとして、酸化物層の材質により、波長は600nmから1600nmの範囲(好ましくは800nmの波長)から選び、パルス幅として、数千fsから数十fsの範囲から選び、パルスの繰り返しを10Hzから200kHzの範囲から選ぶ。平均出力は数十mWから数百mWの範囲から選ぶのが好ましい。なお、レーザビームのパルス幅を狭くすればするほどそのパルス幅内のエネルギーは非常に高くなり、熱的なダメージを全く受けないで高屈折率化を実現することができる。
【0077】
透明な酸化物層として、Nを添加したSiON、Si3N4を用いれば、その層の屈折率を1.5〜2.4程度の範囲で変えることができるので、半導体レーザやフォトダイオード等の半導体光素子との屈折率のミスマッチングを小さくすることができる。また、酸化物に超短パルスレーザビームを照射することで、より大きい屈折率変化を得ることができ、酸化物パターン内への光信号の閉じ込めをより一層強くすることができる。
【0078】
透明な酸化物層として、Er(エルビウム)、Nd(ネオジム)、Sm(サマリウム)、Tm(ツリウム)、Yb(イッテルビウム)等の希土類元素を少なくとも1種類添加したガラス層を用いてもよい。このような材料で構成した酸化物パターン内に希土類元素を励起する励起光と共に信号光を伝搬させるようにすれば、信号光を増幅しながら伝搬させることができる。また、フォトニック結晶導波路の入出力端面に半透過ミラーと全反射ミラーとを設け入射端面側から励起光を入射して励起することにより、レーザ発振させることもできる。
【0079】
図8(a)〜(c)及び図10において、各酸化物層の材質は異なっていてもよい。すなわち、屈折率の異なる材質の酸化物層で構成しておけば、各フォトニック結晶導波路の特性も異ならせることができるので、より自由度をもたせた積層型フォトニック結晶導波路を構成することができる。
【0080】
以上において本発明によれば、
(1)光信号が伝搬する透明な酸化物層の面方向に所定の間隔で所望形状の空孔をマトリクス状に形成し、かつ酸化物層の空孔の形成されていない領域からなる酸化物パターンを直線、曲線あるいはこれらの組合せたものからなるようにし、かつ酸化物パターン上に1000fs以下のパルス幅の超短パルスレーザビームを照射してその酸化物パターンの屈折率を増加させ、光信号を酸化物パターン内に効率よく閉じ込めるようにしたものである。この結果、空孔部が不均一な構造になっても、その構造による散乱損失の誘発を抑えることができ、結果的に低損失なフォトニック結晶導波路を実現することができる。また、超短パルスレーザビームを照射により酸化物パターンの屈折率を1%程度まで増加させることが容易にできるので、この高屈折率化で、より一層の低損失化を実現することができる。
【0081】
(2)透明な酸化物層として、SiO2、SiO2にGe、Ti、F、B、Ta、Sn等の屈折率制御用添加物を少なくとも1種類添加したもの、Nを添加したSiN、Si3N4、酸化物に希土類元素を少なくとも1種類添加したもの等を用いることにより、波長1.3μm、1.55μmの通信用波長帯において、より低損失なフォトニック結晶導波路を実現することができる。また、酸化物層には超短パルスレーザビーム照射により空孔を開けることができ、かつそのレーザビームの出力を制御することにより、酸化物パターンの屈折率を増加させることができ、その高屈折率化の制御も容易である。さらに、空孔形成プロセスの後に直ぐに酸化物パターンの高屈折率化を行うことができるという、連続的なプロセスでフォトニック結晶導波路を実現することができる。
【0082】
(3)透明な酸化物層は基板上にCVD法、スパッタリング法等で成膜されているので、レーザビーム照射による空孔形成及び酸化物パターンの加工を容易に行うことができる。
【0083】
(4)複数の酸化物の層の中にフォトニック結晶導波路を形成することで、三次元光回路を構成したり、各酸化物層間のフォトニック結晶導波路同士を光結合させることもできる。
【0084】
(5)透明な酸化物層の上面及び下面に低屈折率層を形成しておくことにより、酸化物パターンへの光の閉じ込めをより一層強くし、光ファイバからの光信号を酸化物パターン内に効率よく閉じ込めて伝搬させることができるので、空孔の上下面内への不要な伝搬を抑えることができる。これにより、必要な伝搬光と不要な光とのアイソレーション特性を大きくとることができる。
【0085】
(6)光回路の特性の変更がインラインでモニタしながら酸化物パターン内へのレーザビーム照射でできる。例えば、酸化物パターン内の光伝搬方向に屈折率を所定の間隔で変化させて光フィルタリング特性をもたせたり、光信号の集光、拡大用の屈折率分布特性をもたせたりできる。
【0086】
(7)レーザビーム照射により屈折率変化をもたせた酸化物層は略平坦な面を保持しているので、その酸化物層の上に上部クラッド層を形成してもその面も平坦な面を保持できる。その結果、上面に電子部品、電子回路、光回路等を高寸法精度で実装することができる。
【0087】
【発明の効果】
以上要するに本発明によれば、低損失なフォトニック結晶導波路及びその製造方法の実現を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(b)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の一実施の形態を示す上面図、(a)は(b)の1a−1a線断面図、(c)は1a−1a線断面内屈折率分布を示す図である。
【図2】(b)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造法を適用した他の実施の形態を示す上面図、(a)は(b)の2a−2a線断面図、(c)は2a−2a線断面内屈折率分布を示す図である。
【図3】(b)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の他の実施の形態を示す上面図、(a)は(b)の3a−3a線断面図、(c)は3a−3a線断面内屈折率分布を示す図である。
【図4】(b)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用した他の実施の形態を示す上面図であり、(a)は(b)の4a−4a線断面図である。
【図5】(b)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の他の実施の形態を示す上面図であり、(a)は(b)の5a−5a線断面図である。
【図6】(b)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の上面図であり、(a)は(b)の6a−6a線断面図である。
【図7】本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の他の実施の形態を示す上面図である。
【図8】(b)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造を適用したフォトニック結晶導波路の他の実施の形態を示す上面図であり、(a)は(b)の8b−8b線断面図、(c)は(b)の8c−8c線断面図である。
【図9】本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の他の実施の形態を示す上面図である。
【図10】(b)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の他の実施の形態を示す上面図であり、(a)は(b)の側面図である。
【図11】(a)は本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の他の実施の形態を示す側面図であり、(a)は(b)の11b−11b線断面図である。
【図12】本発明のフォトニック結晶導波路の製造方法を適用したフォトニック結晶導波路の他の実施の形態を示す上面図である。
【図13】(a)〜(f)はフォトニック結晶の従来例を示す図である。
【図14】フォトニック結晶の他の従来例を示す図である。
【符号の説明】
1 基板
2 低屈折率層
3 酸化物層
4 空孔
5 酸化物パターン
8 上部クラッド層
Claims (4)
- 基板上に低屈折率層を形成し、その低屈折率層上に透明な酸化物からなる酸化物層を形成し、その酸化物層の面にパルス幅が1000フェムト秒以下の超短パルスレーザビームを照射し、上記酸化物層よりも低屈折率である直径が2μm以下の空孔を所定ピッチで縦、横にマトリクス状に形成すると共に、直線状、曲線状あるいはこれらを組み合わせた形状で、かつ幅が4μm以下となるように、空孔の形成されていない領域からなる酸化物パターンを形成し、その酸化物パターンに沿ってパルス幅が1000フェムト秒以下の超短パルスレーザビームを照射し、上記酸化物パターン内に幅が2μm以下の高屈折率層を形成したことを特徴とするフォトニック結晶導波路。
- 上記酸化物パターン内の光伝搬方向に上記高屈折率層が複数本平行配置されている請求項1に記載のフォトニック結晶導波路。
- 上記酸化物層としてSiO2、SiO2にGe、Ti、F、B、Ta、Sn等の屈折率制御用添加物を少なくとも1種類添加したもの、Nを添加したSiN、Si3N4、上記酸化物に希土類元素を少なくとも1種類添加したもの等を用いた請求項1または2に記載のフォトニック結晶導波路。
- 基板上に低屈折率層を形成し、その低屈折率層上に透明な酸化物からなる酸化物層を形成する工程と、
その酸化物層の面にパルス幅が1000フェムト秒以下の超短パルスレーザビームを照射し、直径が2μm以下の空孔を所定ピッチで縦、横にマトリクス状に形成すると共に、直線状、曲線状あるいはこれらを組み合わせた形状で、かつ幅が4μm以下となるように、空孔の形成されていない領域からなる酸化物パターンを形成する工程と、
その酸化物パターンに沿って、上記酸化物パターンの屈折率を増加させるのに必要な出力でパルス幅が1000フェムト秒以下の超短パルスレーザビームを照射し、上記酸化物パターン内に幅が2μm以下の高屈折率層を形成する工程と
を備えたことを特徴とするフォトニック結晶導波路の製造方法。
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