JP3909981B2 - Wafer size conversion holder and wafer holding method using the same - Google Patents

Wafer size conversion holder and wafer holding method using the same Download PDF

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Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、サイズの異なるシリコン等のウェハに対して、その装置への装着のために、搬送系、ウェハ載置台、ウエハ処理用ディスクなどの改造を行わずに、確実な保持のでき、しかも、イオン注入の処理を一枚づつ処理する枚葉式から複数処理のバッチ式において行うことを可能とする半導体製造装置およびイオン注入装置用のウェハサイズコンバージョンホルダー及びそれを用いたウェハ保持方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、半導体製造装置およびイオン注入装置においては、異径サイズのウェハの装着のために、ウェハ載置台全体を交換する方式や、異径調節式ウェハチャック、複雑な構成のウェハサイズコンバーションホルダーを用いたもの等があった。ウェハ載置台全体を交換する方式では、交換にたいへんな手間がかかり、調整も難しく、前後のウェハ搬送系も大きな変更を余儀なくされ、一方、異径調節式チャック及び複雑な構成のウェハサイズコンバーションホルダーを用いるものでは、その調整・ハンドリングや重量・大きさの点で実用上で問題が多かった。
【0003】
また、前記枚葉式のウェハ処理装置においては、装置のウェハ載置台が対応しているウェハのサイズより小口径のウェハを処理する際に所定のウェハサイズと同様に変換し、使用出来るようにウエハアダプターが検討されている。
【0004】
例えば、特開平3−102849に記載されているように所定の口径のウェハに対応した外径寸法を持ち、その内側に小口径のウェハを保持できるように彫り込み部を有し、疑似的なオリエンテーションフラットを設けることで小口径に対応する構造がある。この方法は、枚葉式での処理では小口径のウェハを大口径ウエハ用の装置で使用できるメリットを有する。しかしながら、バッチ処理を行なうイオン注入装置に於いては、ウェハを載置したサイズコンバージョンホルダーは高速回転するディスク上のウェハ載置台に載せられるため、この様な構造では、遠心力、慣性力の働く方向へのウェハの保持は確実ではなく時場合によっては、ウェハの脱落、欠け等の問題がある。
【0005】
あるいは、ウェハの厚さと実質的に等しい厚さを有し、且つウェハとはぼ等しい形状の凹部を有するとともに、そのウェハの保持部に真空吸着するための貫通孔を有する真空吸着して保持するタイプのアダプターが特開平6−1201311に記載されている。このウェハアダプターは、強度の弱いウェハのウェハ処理工程中における補強用ジクとしては有用である。また、このようなアダプターは、枚葉式処理され、真空で吸着しておける場合には有効である。しかしながら、バッチ処理を行うイオン注入装置では、このようなウェハアタプターで真空によって吸着しておくことが困難なため、イオン注入処理することは現実的には不可能である。
【0006】
また、大口径ウェハと同様に扱える小口径ウェハ用のウェハ保持具が特開昭59−74645に記載されている。このウェハ保持具は、環状の係合溝と円板により構成されている。この構造では、垂直方向に立ち上がった突縁部等でウェハの保持の確実化とウェハがウェハ保持具より外に飛び出す可能性は減少させられるが、ウェハを固定できる構造とはなっていない。また、前記バッチ処理を行うイオン注入機に使用する場合には、ウェハが確実に保持されず、ウェハ載置台となるディスク体が高速回転した際には、ウェハのディスク体上のずれや、ディスク体からの飛び出し等が発生し、ウェハの割れ、欠け等の問題を起こす可能性がある。
【0007】
すなわち、全自動のプロセスのバッチ式のイオン注入装置では、ウェハを載せたウェハサイズコンパージョンホルダーをディスクに載置する必要があり、そのディスクは高速で回転あるいは揺動するため、今までのほとんど運動操作を必要としない枚葉式でのみ使用可能なアダプターを使用しても実際にイオン注入処理することは、事実上困難である。
【0008】
さらに、従来200mmウェハ仕様のイオン注入装置は、200mmウェハ以外のウェハは、通常イオン注入処理することは容易には出来なかった。もし、他のウェハサイズの注入の必要が生じたときには、そのウェハのサイズに合わせて搬送系、ディスク等の多くの構成を変更する必要があり、また、その度に確実且つ精密な調整について多くの時間を必要としていた。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
従って、異なるサイズ、例えば200,150,125mmのウェハに対して同一のイオン注入装置で、全自動のプロセスにてイオン注入を行う場合には、ウェハ載置台、ウェハ多段収納カセット、搬送系、ハンドリングロボット、エレベータ機構等のウェハ径によって決められている部分については、交換せざるを得なく、これらの交換に係わる多くの部品を用意する必要があり、また、これらの部品の多くは真空容器内にあるため、その交換には長時間を要し、また、交換後の装置の立ち上げにも長時間を要すことになる。また、その度に確実且つ精密な調整も必要となり、多くの時間を費やすこととなる。本発明は、異なるサイズのウェハを同一の半導体製造装置およびイオン注入装置でウェハ載置台、搬送系、ハンドリングロボット等の部品を交換することなく作業注入することが出来るようにするためのウェハサイズコンバージョンホルダー及びそれを用いたウェハ保持方法を提供することを目的とする。
【0010】
本発明の他の課題は、半導体製造装置およびイオン注入装置におけるサイズの異なるウェハの載置の精度と信頼性の向上を図ることにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明は、以下のウェハサイズコンバーションホルダー及びそれを用いたイオン注入装置におけるウェハの支持方法を特徴とする。シリコン等のウェハを保持するための移動式のウェハ載置台を有するイオン注入装置のウェハサイズコンバーションホルダーに於いて、略円形の外周形状を有する基台体をウェハ載置台上に着脱可能に設けるとともに、ウェハを基台体上面の平面部に接するように着脱可能に設けて、ウェハ載置台の移動動作に伴うウェハの基台体上面上での面方向の一方向及びこの一方向と直交する方向への移動を制限する制限部材と、ウェハの外周部の基台体の上面から離れる方向への移動並びに面方向の一方向の移動を制限係止するストッパー部材と、ウェハの外周部の基台体の上面における面方向の一方向の移動と基台体の上面から離れる方向への移動を制限係止する動作式のクランプ部材とを、前記基台体の上面上に設ける構成し、制限部材とストッパー部材とクランプ部材によってウェハを基台体上面に前後左右及び上下方向に移動不能に固定するよう構成した。
【0012】
制限部材とクランプ部材とはウェハの面中心を通る線を挟んで配置されるよう構成するとともに、クランプ部材とストッパー部材とはウェハの面中心を通る線を挟んで配置されるよう構成した。基台体を、ウェハと実質的に同様の外周形状とした。ストッパー部材は、ウェハの外周部の基台体の上面における面方向の移動を制限係止する制限部を設ける。制限部材は、ウェハの基台体上面上で、ウェハの面中心を通る線を挟んで少なくとも2個所以上となるよう両側に配置される。ウェハ載置台は、ウェハを同一円周上に複数枚保持して、作業を行うバッチ式とする。
【0013】
ストッパー部材もしくはクランプ部材は、ウェハのオリエンテーションフラット部と対応する位置に設ける。クランプ部材は弾性的付勢力により制限係止を行うよう構成する。弾性的付勢部材はバネもしくは構造中にバネを有する構成とする。ストッパー部材もしくはクランプ部材のすくなくとも一方には、テーパ部を有する制限係止体により基台の上面から離れる方向への移動を制限係止する構成とする。ストッパー部材もしくはクランプ部材のすくなくとも一方には、ウェハ側へ小さく突出した係止体もしくはカバー体により基台の上面から離れる方向への移動を制限係止する構成とする。
【0014】
弾性的付勢部材は基台体の上面に設けた。基台体の上面のイオン注入の被曝部分にはウェハと同様の成分の物質をコーティング加工処理もしくは被覆処理する。弾性的付勢力を有するクランプ部材は、制限係止位置と制限開放位置に移動自在に構成するとともに、すくなくとも、一方の位置で固定可能に構成する。ストッパー部材もしくはクランプ部材は、それぞれウェハ外周における被イオン注入面の縁部分を外周に沿って覆うように構成して、制限部材を兼用するようにする。
【0015】
制限部材、ストッパー部材、クランプ部材のうち、少なくとも制限部材もしくはストッパー部材を基台と一体もしくは別体にて成形する。基台体にオリエンテーションフラット部または切欠き部を設けた。ウェハのオリエンテーションフラット部と対応する位置に設けたストッパー部材もしくはクランプ部材は、少なくとも基台体のオリエンテーションフラット部または切欠き部と対応する位置に設けるもしくは180度反対の位置に設ける。ウェハの中心と基台体の中心とを同一中心位置に設ける。
【0016】
また、シリコン等のウェハを保持するための移動式のウェハ載置台を有するイオン注入装置のウェハの保持方法に於いて、略円形の外周形状を有する基台体をウェハ載置台上に着脱可能に設けるとともに、ウェハを該基台体上面の平面部に接するように着脱可能に設けて、ウェハ載置台の移動動作に伴うウェハの基台体上面上での面方向の一方向及びこの一方向と直交する方向への移動を制限する制限部材と、係止体もしくはカバー体を有してウェハの外周部の基台体の上面から離れる方向への移動並びに面方向の一方向の移動を制限係止するストッパー部材と、係止体もしくはカバー体を有してストッパー部材とは反対の側よりウェハの外周部の基台体上面から離れる方向への移動並びに面方向の一方向の移動を制限係止するストッパー補助部材とともに配置される弾性付勢部材にてウェハを押さえる力を有するクランプ補助部材とを、基台体の上面上に設ける構成し、制限部材とストッパー部材と、ストッパー補助部材及びクランプ補助部材によってウェハを基台体上面に前後左右及び上下方向に移動不能に固定した。クランプ補助部材はストッパー補助部材の中間部に進退自在に配置する。ストッパー部材の係止体もしくはカバー体とストッパー補助部材の係止体もしくはカバー体の間隔は、ウェハの挿入時、ウェハの挿入方向のウェハ幅より若干小さいものとし、ストッパー部材およびストッパー補助部材のウェハの挿入部にはウェハの挿入間隔を設け、ストッパー補助部材のウェハの挿入部にウェハを差し込んだ後、反対側のストッパー部材のウェハの挿入部にはめ込み、ウェハを制限部材に当接させ、クランプ補助部材でウェハを係止した。制限部材は、ウェハ端部と少なくとも2点以上で接触する構造としてストッパー部材をはさんで対向して2個所配置するよう構成した。ストッパー部材の中間部もしくはその近傍にはウェハ挟持手段を挿入する窪みを配置した。
【0017】
【発明の作用】
シリコン等のウェハは、基台体の上面上に制限部材およびストッパー部材により移動を係止されるよう載置されて、クランプ部材によってさらに弾性体のサポートにより係止保持される。従って、載置されたウェハは、制限部材により、ウェハ載置台の移動方向とその反対方向の移動動作に伴うウェハの基台体上面上での面方向の移動をウェハの外周部で制限されるとともに、ストッパー部材により、ウェハの外周部の基台の上面における面方向の移動と基台体の上面から離れる方向への移動を制限係止され、さらに、ストッパー部材のウェハの外周上の相対的に反対側に設けられる動作式のクランプ部材により、ウェハの外周部の基台体の上面における面方向の移動と基台体の上面から離れる方向への移動を制限係止される。そして、ウェハと基台体とは、組み合わされた状態で搬送され、ディスク等のウェハ載置台上に着脱可能に装着されて、静止もしくは運動するディスク上にて所望のイオン注入がなされる。
【0018】
【発明の実施の形態】
本発明の正面図の図1とh−h断面図2を参照して、ウェハサイズコンバーションホルダーを利用した半導体製造装置のうちイオン注入装置への適用例について説明する。Aは、ウェハ2と実質的に同様の外周形状を有するウェハサイズコンバーションホルダーであり、外周の特定個所にオリエンテーションフラット・外周V字切欠き・マーク等の位置決め部分Xを有する薄板材等で構成される基台体1とその他の部材から構成される。基台体1は、図15に示されるようなイオン注入装置のウェハ処理室W内において、シリコン等のウェハを保持するための図16に示されるようなバッチ式のディスクD1のウェハ載置台の処理側面上に、着脱可能に設けられる。このバッチ式のディスクのウェハ載置台のディスクD1は、ウェハ2を複数枚載置するとともにイオンビームIBに対して略直交する平面上での回転運動D2と往復運動D3を行う移動運動方式で構成される。回転運動D2と往復運動D3はそれぞれモーターD4と駆動体D5にて稼働される。また、枚葉式のウェハ載置台では単一のウェハを単に支持方向を変更する反固定式もの等で構成される。
【0019】
ウェハサイズコンバーションホルダーAの基台体1の上面上には、ウェハ載置台の回転運動D2と往復運動D3による一方向とその反対方向の運動動作に伴うウェハ2の相対的な移動をウェハの外周部で制限する制限部材3と、ウェハ2の外周部の基台体1の上面における面方向での移動と基台体1の上面から離れる方向への移動を制限係止するストッパー部材4と、該ウェハ2の外周部の基台体1の上面における面方向での移動と基台の上面から離れる方向への移動を制限係止するクランプ部材5とを、設けるよう構成している。クランプ部材5は、ストッパー部材4のウェハ2の外周上の相対的に反対側に設けられる。
【0020】
ウェハ2がウェハサイズコンバーションホルダーAの基台体1と同じ中心O上もしくは図8に示すように少し一方へオフセットした位置Pに載置されるよう、制限部材3とストッパー部材4、クランプ部材5とを配置する。図4から図5(a)(図1のb−b断面)に示すように、ストッパー部材4において、ウェハ2の外周部の基台体1の上面における面方向での移動を制限部401により制限係止し、基台体1の上面から離れる方向への移動を突出部であるテーパ部402により制限係止する、ストッパー部材4は、円周形状に沿った形状でもよいし、図1に示すようにウェハ2のオリエンテーションフラットX’の形状に沿った形状でもよく、その部分で制限作用を行う。また、制限部、突出部はそれぞれ403、404のとおり図5(b)に示す形状でもよい。
【0021】
一方、図1に示すように、クランプ部材5は、基台体1上に1個所以上設けられ、そのウェハ2の外周部の基台体1の上面における面方向での移動を、図6に示すように、制限部405により制限係止し、基台の上面から離れる方向への移動を突出部であるテーパ部406により制限係止する。基台体1の上面から離れる方向への移動を制限係止するクランプ部材・制限部材としては、基台の上面のどの対称線に対しても少なくとも対称線の片側に1ヶ所以上で少なくとも合計2ヶ所以上となるよう設ける。
【0022】
【実施例】
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する。但し、本発明は次の実施例のみに限定される物ではない。
【0023】
基台体1は、ウェハ2と類似の形状である外周を有しており、即ち装置の所定のウェハサイズのウェハと同様(200mm,150mm,125mm等)の径よりなり、該基材の厚みも基台の周辺の少なくとも2〜10mm程度の範囲については、所定のウェハと同等の厚みとなるように製作される。また、その材料もアルミニウム、グラファイト、その他金属等が使用可能であり、可能であれば電気伝導性がある方が望ましい。また、基台体は、必要に応じてSiやGaAs等ウェハと同種の材料もしくは炭素系素材で製作するかまたは、同種の材料もしくは炭素系素材でコーティング処理か被覆処理することは可能である。
【0024】
制限部材3・制限部401は、上記基台体1が、ウェハ載置台に載せられウェハと同様にクランプされ、大径ディスクにセットされ、大径ディスクが高速で回転される際に、回転初期の加速時及び回転終了前の減速時に、慣性力により基台体1よりウェハが脱落しないためのガイドの役割を果たすように設けられる。このうち制限部材3は、ウェハのほぼ全周に渡っていても良く、また左右または、上下の一部分に設けられていても良い。また、その制限部材3の高さは、可能であれば、ウェハ載置面からウェハの厚みよりおおきい方が望ましい。但し、必要以上に高い場合は、ウェハの注入部分にイオンビームの照射されない部分が出来ることとなり望ましくない。制限部材3の形状は載置・保持するべきウェハと同じ形状、即ち円の一部を切断した円弧形状またはその形状の一部を切断した形状とし、その大きさは、ウェハが載置出来る大きさ即ちウェハ直径より若干大きい直径を有す大きさとする。制限部材3の制限作用を、図3(図1のa−a断面)に示す。制限部材3は図3のように長方形の断面としても良い。
【0025】
この制限部材3の一方向の部分には、ストッパー部材4が設けられ、ウェハ2は、制限部材3とそのストッパー部材4にて位置決めされる。更に、ウェハ2を固定するため、ストッパー部材4とは反対の側よりクランプ部材5にてウェハ2が動かないように押さえられる。クランプ部材5は、弾性付勢部材6(圧縮コイルバネ)にてウェハを押さえる力が与えられる。更に、弾性付勢部材(圧縮コイルバネ)6及びクランプ部材5にイオンビームが当たらないようにカバー7が設けられる。なお、クランプ部材5は、一例として、図1に示すように、支軸51、弾性付勢部材6、レバー11、台座12、ばね受け体などで構成しても良い。
【0026】
ストッパー部材4は、ウェハが基台の上面のウェハ載置面よりウェハが飛び出さないために設けられる。一般的には、ディスク回転による遠心力が働く方向に設けられる。このストッパー部材は、そのストッパー部に、図1のb−b断面である図4のように、載置されたウェハの上面より上に係止部材として、ウエハ側への突出部4’(例えば、テーパ・階段状部)を設けることでウェハの飛び出しを抑制するよう構成する。ストッパー部材は、ウェハの位置決めを行うためにウェハのオリエンテーションフラット部X’と同様の形状を有する疑似的なオリエンテーションフラットとしてもよい。また、ストッパー部材は、ウェハがノッチ形状、四角形などの形状の場合に於いてはその形状に沿わすことも可能である。さらに、ストッパー部材側に力がかかる様にバネもしくはクランプがクランプ部材側に設けられている。また、サイズコンバージョンホルダーは少なくとも外周が、ウェハ載置台のサイズと同様の標準的なウェハの厚みと同じであることが望ましい。
【0027】
クランプ部材5は、該ストッパー部材4と相対的に反対方向に設けられる。該クランプ部材5は、ストッパー部材4に力がかかる方向に位置し、基本的に弾性付勢部材によって形成されている。その個数は、1ヶでもよくまた、複数でもよい。複数の場合は、ストッパー部材4に対しては、複数のクランプ部材の力が均等にかかることが望ましい。さらに、クランプ部材5は、そのクランプ部に、図5のような載置されたウェハの上面より上に係止部材として、ウエハ側への突出部(例えば、テーパ402・階段状部404)を設けることでウェハの飛び出しを抑制するよう構成する。また、弾性付勢部材6には、バネもしくは構造中にバネを含む構造のクランプが使用されることが多い。弾性付勢部材6として使用されるバネは、圧縮コイルバネ、ねじりコイルバネ、板バネが望ましい。
【0028】
制限部材とクランプ部材とはウェハの面中心を通る線を挟んで配置されるよう構成するとともに、クランプ部材とストッーパー部材とはウェハの面中心を通る線を挟んで配置されるよう構成とした。
【0029】
基台体を、ウェハと実質的に同様の外周形状とした。ストッパー部材は、ウェハの外周部の基台体の上面における面方向の移動を制限係止する制限部を設けた。制限部材は、ウェハの基台体上面上で、ウェハの面中心を通る線を挟んで少なくとも2個所以上となるよう両側に配置される。
【0030】
クランプ部材とストッパー部材の間隔は、ウェハの挿入時、ウェハの挿入方向のウェハ幅より若干小さいものとし、ストッーパー部材のウェハの挿入部にはウェハの挿入間隔を設け、ストッーパー部材のウェハの挿入部にウェハを差し込んだ後、基台体にウェハを制限部材の制限範囲内で密着させて、クランプ部材でウェハを係止した。
【0031】
ウェハ載置台は、ウェハを同一円周上に複数枚保持して、作業を行うバッチ式とした。ストッパー部材もしくはクランプ部材は、ウェハのオリエンテーションフラット部と対応する位置に設けた。クランプ部材は弾性的付勢部材により前記制限係止を行うよう構成する。弾性的付勢部材はバネもしくは構造中にバネを有する構成とする。
【0032】
ストッパー部材もしくはクランプ部材のすくなくとも一方には、テーパ部を有する制限係止体により基台の上面から離れる方向への移動を制限係止する構成とする。弾性的付勢部材は基台体の上面に設けた。基台体の上面の被処理部分にはウェハと同様の成分の物質をコーティング加工してもよい。クランプ部材は、制限係止位置と制限開放位置に移動自在に構成するとともに、すくなくとも、一方の位置で固定可能に構成した。クランプ部材は、それぞれウェハ外周における被イオン注入面の縁部分を外周に沿って覆うように構成して、ストッパー部材もしくはクランプ部材は前記制限部材を兼用する。ストッパー部材もしくはクランプ部材は、それぞれウェハ外周における被イオン注入面の縁部分を外周に沿って覆うように構成して、制限部材を兼用した。制限部材、ストッパー部材、クランプ部材のうち、少なくとも該制限部材もしくはストッパー部材を基台と一体もしくは別体で成形した。基台体にオリエンテーションフラットを設けてもよい。
【0033】
ウェハのオリエンテーションフラット部と対応する位置に設けた前記ストッパー部材もしくはクランプ部材は、少なくとも前記基台体のオリエンテーションフラット部と対応する位置に設けるもしくは180度反対の位置に設ける。
ウェハの中心と前記基台体の中心とを同一中心位置に設けてもよい。
【0034】
なお、図7のように、基台体1上にはウェハの外周の一部に渡つて窪み部V設けて、載置されたウェハの下面を外周の外側よりドライバー・ピンセットなどの取り外し具でウエハを上方向へ外せるように構成してもよい。
【0035】
サイズコンバージョンホルダーの構成部材の材質は、アルミニウム、セラミックス、グラファイト等ウエハを補強しえるもので、シリコンウエハへの汚染量が問題とならない物を適宜選択することが出来る。図2はウェハサイズコンバージョンホルダーにウェハを載置した状態の断面図を示す。制限部材3のウェハ載せ面10からの高さは、実質的にウェハの厚みより大きいものとする。ウェハ2を載置した状態では、制限部材3の表面はウェハ2の表面よりも高い位置に存在する。
【0036】
また、 図7に示す第二実施例について以下説明する。 略円形の外周形状を有する基台体をウェハ載置台上に着脱可能に設けるとともに、ウェハを基台体上面に着脱可能に設けて、ウェハ載置台の移動動作に伴うウェハの基台体上面上での面方向の移動を制限する制限部材と、ウェハの外周部の基台体の上面から離れる方向への移動を制限係止するストッパー部材と、ストッパー部材とは反対の側より係止体もしくはカバー体を有するストッパー補助部材とともに配置される弾性的付勢部材にてウェハを押さえる力を有するクランプ補助部材とを、基台体の上面上に設ける構成し、制限部材とストッパー部材とクランプ部材によってウェハを基台体上面に固定した。 クランプ補助部材はストッパー補助部材の中間部に進退自在に配置する。 ストッパー部材の係止体もしくはカバー体とストッパー補助部材の係止体もしくはカバー体の間隔は、ウェハの挿入時、ウェハの挿入方向のウェハ幅より若干小さいものとし、ストッパー部材およびストッパー補助部材のウェハの挿入部にはウェハの挿入間隔を設け、ストッパー補助部材のウェハの挿入部にウェハを差し込んだ後、反対側のストッパー部材のウェハの挿入部にはめ込み、 ウェハを制限部材に当接させ、クランプ補助部材でウェハを係止した。 制限部材は、ウェハ端部と少なくとも2点以上で接触する構造としてストッパー部材をはさんで対向して2個所配置した。 ストッパー部材の中間部もしくはその近傍にはウェハ挟持手段を挿入する窪みを配置した。
【0037】
図7の様に板バネ等の弾性的付勢部材または弾性素材であるクランプ補助部材52にてウェハを固定することも可能である。図7において、制限部材31は、円の一部を切断した円弧形状としてまたはその形状の一部を切断した形状としてストッパー部材41をはさんで対向して配置する。 更に、ウェハ2を固定するため、ストッパー部材41とは反対の側よりストッパー補助部材11とともに配置されるクランプ補助部材52にてウェハ2が動かないように押さえられる。クランプ補助部材52は、弾性付勢部材8(板状または棒状バネ)にてウェハを押さえる力が与えられる。更に、ストッパー部材41、ストッパー補助部材11、クランプ補助部材52に係止体もしくはカバー体7を設けてウェハの外周部の基台体の上面から離れる方向への移動を制限係止するとともにイオンビームが当たらないようしてもよい。係止体9、9により弾性付勢部材8の両側を係止されたクランプ補助部材52は、弾性的付勢部材8(板状または棒状バネ)と一体に弾性材で構成してもよく、弾性的付勢部材の可動域の基台体1部分に窪み12を設けてもよい。図8は図7の側面図である。10はウエハ載置面である。図9は図7のd−d断面である実施例におけるのクランプ補助部材52の断面図であり、ストッパー補助部材11の間にスライド自在に嵌挿保持されている。図10は第二実施例図7の別の例である。図11は窪み部Vの図10におけるg−g断面図である。図12はクランプ補助部材52の図10におけるe−e断面図である。図13はウエハ装着作業の途中の説明図であり、図14はウエハ装着を示す説明図である。つまり、ストッパー補助部材11とストッパー部材41の間隔は、ウェハの挿入時、ウェハの挿入方向のウェハ幅より若干小さいものとし、ストッーパー部材のウェハの挿入部にはウェハの挿入間隔を設け、ストッーパー部材のウェハの挿入部にウェハを差し込んだ後、基台体にウェハを制限部材の制限範囲内で密着させて、ストッパー補助部材11にはめ込んだ後、クランプ補助部材でウェハを係止するように構成するものである。
【0038】
また、何れの場合もバネの個数、形状、種類に制限はなく、その必要な範囲で数量は決められる。ウェハサイズ150mmで厚さ625μmのシリコンウェハを200mm装置用ウェハサイズコンバージョンホルダーによって保持し、ディスク上に保持して200mmウェハ対応のバッチ式イオン注入装置を用いて注入を行うとき、従来は、200mmウェハ対応のバッチ式のイオン注入装置では、150mmウェハを注入することは出来なかったが、本発明のウェハサイズコンバージョンホルダーを使用することによって、注入でき、問題のないイオン注入処理後のウェハが得られた。その結果、装置改造などの作業を行うことなく、装置の仕様と異なるサイズのウェハを注入することが可能となった。
【0039】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によるウェハサイズコンバージョンホルダーを用いることにより、枚葉式の処理はもちろん、バッチ式のイオン注入装置に於いて、所定のサイズのウェハよりも小さなサイズのウェハを、従来のものと比較して、基台体の上面におけるウェハの、正確な位置決めと確実な支持が最小限の部材で実施でき、確実な注入を実施することが出来る。
【0040】
また、装置を改造する必要がないことから、ウエハサイズ変換のための段取り作業時に真空室を開放することもない為、注入開始までの時間が短縮されると共に、エンドステーション内のパーティクルの増加も防ぐことが出来る。 さらには、改造するための部品も必要なくなるためその分のコストも削減される。
【0041】
ウエハ載置台であるディスクは、ウェハを同一円周上に複数枚保持してイオン注入を行うバッチ式においても、ディスク自体を製作し直す必要がなく、保持枚数の多いものでも、自動装着が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例におけるウェハサイズコンバージョンホルダーの構成図(正面図)である。
【図2】本発明の実施例におけるウェハサイズコンバージョンホルダーの構成図(h−h断面図)である。
【図3】図1のa−a断面である実施例における制限部材3の断面図である。
【図4】図1のb−b断面である実施例におけるのストッパー部材4の断面図である。
【図5】図1のb−b断面である実施例におけるのストッパー部材4の別の断面図である。
【図6】図1のc−c断面である実施例におけるのストッパー部材4の別の断面図である。
【図7】第二実施例におけるウェハサイズコンバージョンホルダー(押しバネ方式)の構成図である。
【図8】図8は図7の側面図である。
【図9】図7のd−d断面である実施例におけるのクランプ補助部材52の断面図である。
【図10】第二実施例図7の別の例である。
【図11】窪み部Vの図10におけるg−g断面図である。
【図12】クランプ補助部材52の図10におけるe−e断面図である。
【図13】ウエハ装着作業の途中の説明図
【図14】ウエハ装着を示す説明図
【図15】イオン注入装置のウェハ処理室Wの構成図である。
【図16】シリコン等のウェハを保持するためのバッチ式のディスクD1等のウェハ載置台の構成図である。
【符号の説明】
1 基台体
2 ウェハ
3 制限部材
4 ストッパー部材
5 クランプ部材
6 弾性付勢部材
7 カバー
8 押しバネ
9 ウェハ載置部
D1 ディスク
[0001]
[Industrial application fields]
The present invention can securely hold wafers of different sizes, such as silicon, without modifying the transfer system, wafer mounting table, wafer processing disk, etc. for mounting in the apparatus. , Semiconductor manufacturing apparatus, wafer size conversion holder for ion implantation apparatus, and wafer holding method using the same, capable of performing ion implantation processing from single wafer processing to batch processing of multiple processing one by one It is.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, in semiconductor manufacturing equipment and ion implantation equipment, in order to mount wafers of different diameters, a method of exchanging the entire wafer mounting table, a wafer chuck with a different diameter, a wafer size conversion holder with a complicated configuration, There was something used. In the method of exchanging the entire wafer mounting table, it takes a lot of time and effort to replace the wafer mounting table, and the front and rear wafer transfer systems have to be changed greatly. On the other hand, the chuck with different diameter adjustment and the complicated wafer size conversion are required. In the case of using a holder, there were many practical problems in terms of adjustment, handling, weight and size.
[0003]
In the single wafer type wafer processing apparatus, when processing a wafer having a smaller diameter than the wafer size supported by the wafer mounting table of the apparatus, it can be converted and used in the same manner as the predetermined wafer size. Wafer adapters are being considered.
[0004]
For example, as described in Japanese Patent Laid-Open No. 3-102849, it has an outer diameter corresponding to a wafer having a predetermined diameter, and has an engraved portion so that a small diameter wafer can be held inside thereof, and a pseudo orientation There is a structure corresponding to a small aperture by providing a flat. This method has an advantage that a wafer with a small diameter can be used in an apparatus for a large diameter wafer in the single wafer processing. However, in an ion implantation apparatus that performs batch processing, a size conversion holder on which a wafer is placed is placed on a wafer placement table on a disk that rotates at a high speed. In such a structure, centrifugal force and inertial force work. The holding of the wafer in the direction is not reliable, and in some cases, there are problems such as dropping or chipping of the wafer.
[0005]
Alternatively, it has a thickness substantially equal to the thickness of the wafer and has a recess having a shape substantially equal to that of the wafer, and has a through-hole for vacuum suction to the holding portion of the wafer and holds it by vacuum suction. A type of adapter is described in JP-A-6-129131. This wafer adapter is useful as a reinforcing jig during a wafer processing process for a wafer having low strength. Further, such an adapter is effective when it is processed by a single wafer and can be adsorbed in a vacuum. However, in an ion implantation apparatus that performs batch processing, it is difficult to carry out the ion implantation processing because it is difficult to adsorb by vacuum using such a wafer adapter.
[0006]
Japanese Patent Laid-Open No. 59-74645 discloses a wafer holder for a small-diameter wafer that can be handled in the same manner as a large-diameter wafer. This wafer holder is composed of an annular engagement groove and a disk. In this structure, it is possible to ensure the holding of the wafer by the protruding edge or the like rising in the vertical direction and reduce the possibility of the wafer jumping out of the wafer holder, but the structure is not capable of fixing the wafer. In addition, when used in an ion implanter for performing the batch processing, when the wafer is not securely held and the disk body serving as the wafer mounting table rotates at a high speed, the wafer may be displaced on the disk body, Popping out from the body may occur, causing problems such as cracking and chipping of the wafer.
[0007]
That is, in a batch type ion implantation apparatus of a fully automatic process, it is necessary to place a wafer size comparison holder on which a wafer is placed on a disk, and the disk rotates or swings at high speed. Even if an adapter that can be used only in a single-wafer type that does not require a motion operation is used, it is practically difficult to perform ion implantation.
[0008]
Furthermore, conventional ion implantation apparatuses with a 200 mm wafer specification cannot easily perform normal ion implantation processing on wafers other than 200 mm wafers. If it is necessary to inject another wafer size, it is necessary to change many configurations such as the transfer system and disk according to the size of the wafer, and there are many reliable and precise adjustments each time. Needed time.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
Therefore, when ion implantation is performed by a fully automatic process using the same ion implantation apparatus for wafers of different sizes, for example, 200, 150, and 125 mm, a wafer mounting table, a wafer multistage storage cassette, a transport system, and handling Parts that are determined by the wafer diameter, such as robots and elevator mechanisms, must be replaced, and many parts related to these replacements must be prepared, and many of these parts are in the vacuum vessel. Therefore, it takes a long time for the replacement, and it takes a long time to start up the apparatus after the replacement. In addition, reliable and precise adjustment is required each time, and a lot of time is consumed. The present invention is a wafer size conversion for enabling wafers of different sizes to be implanted with the same semiconductor manufacturing apparatus and ion implantation apparatus without exchanging components such as a wafer mounting table, a transfer system, and a handling robot. It is an object to provide a holder and a wafer holding method using the holder.
[0010]
Another object of the present invention is to improve the accuracy and reliability of placing wafers of different sizes in a semiconductor manufacturing apparatus and an ion implantation apparatus.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
The present invention is characterized by the following wafer size conversion holder and a wafer support method in an ion implantation apparatus using the same. Ion implantation apparatus having a movable wafer mounting table for holding a wafer such as silicon Wafer size conversion holder In this case, a base body having a substantially circular outer peripheral shape is detachably provided on the wafer mounting table, and the wafer is mounted on the top surface of the base body. To touch the flat part of In the surface direction on the upper surface of the wafer base body accompanying the movement operation of the wafer mounting table In one direction and in a direction perpendicular to this one direction Restriction member that restricts movement, and movement in the direction away from the upper surface of the base of the outer periphery of the wafer And movement in one direction A stopper member for restricting and locking, and a surface direction on the upper surface of the base of the outer peripheral portion of the wafer One-way A configuration in which an operation-type clamp member that restricts and locks movement and movement in a direction away from the upper surface of the base body is provided on the upper surface of the base body When The wafer is placed on the upper surface of the base body by the limiting member, stopper member, and clamp member. Impossible to move back and forth, left and right and up and down It was configured to be fixed.
[0012]
The limiting member and the clamp member are arranged so as to sandwich the line passing through the center of the wafer surface, and the clamp member and the stopper member are arranged so as to sandwich the line passing through the center of the wafer surface. The base body has an outer peripheral shape substantially similar to that of the wafer. The stopper member is provided with a restricting portion that restricts and locks the movement in the surface direction on the upper surface of the base body at the outer peripheral portion of the wafer. The restricting members are arranged on both sides of the upper surface of the wafer base so that there are at least two places across a line passing through the center of the wafer surface. The wafer mounting table is a batch type that holds a plurality of wafers on the same circumference and performs operations.
[0013]
The stopper member or the clamp member is provided at a position corresponding to the orientation flat portion of the wafer. The clamp member is configured to perform limit locking by an elastic biasing force. The elastic biasing member is configured to have a spring or a spring in the structure. At least one of the stopper member and the clamp member is configured to restrict and lock movement in a direction away from the upper surface of the base by a limiting locking body having a tapered portion. At least one of the stopper member or the clamp member is configured to restrict and lock movement in a direction away from the upper surface of the base by a locking body or a cover body that protrudes small toward the wafer side.
[0014]
The elastic biasing member was provided on the upper surface of the base body. The exposed portion of the ion implantation on the upper surface of the base body is coated or coated with a material having the same components as the wafer. The clamp member having an elastic urging force is configured to be movable to a limit locking position and a limit release position, and is configured to be fixable at at least one position. The stopper member or the clamp member is configured to cover the edge portion of the ion-implanted surface on the outer periphery of the wafer along the outer periphery, and also serves as a limiting member.
[0015]
Of the restricting member, the stopper member, and the clamp member, at least the restricting member or the stopper member is formed integrally with or separately from the base. An orientation flat part or notch part was provided in the base body. The stopper member or the clamp member provided at a position corresponding to the orientation flat part of the wafer is provided at a position corresponding to at least the orientation flat part or the notch part of the base body, or provided at a position opposite to 180 degrees. The center of the wafer and the center of the base body are provided at the same center position.
[0016]
Also, an ion implantation apparatus having a movable wafer mounting table for holding a wafer such as silicon Wafer holding method And a base body having a substantially circular outer peripheral shape is detachably provided on the wafer mounting table, and the wafer is mounted on the upper surface of the base body. To touch the flat part of In the surface direction on the upper surface of the wafer base body accompanying the movement operation of the wafer mounting table In one direction and in a direction perpendicular to this one direction A restricting member that restricts movement; With a locking body or cover body Movement in the direction away from the upper surface of the base at the outer periphery of the wafer And movement in one direction A stopper member for restricting and locking, With a locking body or cover body From the side opposite the stopper member Limits and locks the movement of the outer peripheral part of the wafer in the direction away from the upper surface of the base body and the movement of the wafer in one direction. A configuration in which a clamp auxiliary member having a force to hold the wafer by an elastic biasing member arranged together with the stopper auxiliary member is provided on the upper surface of the base body When And a limiting member and a stopper member , Stopper auxiliary members and Clamp auxiliary Depending on the member, the wafer is placed on the top of the base Impossible to move back and forth, left and right and up and down Fixed. The clamp auxiliary member is disposed in an intermediate portion of the stopper auxiliary member so as to freely advance and retract. The interval between the stopper member locking body or cover body and the stopper auxiliary member locking body or cover body is slightly smaller than the wafer width in the wafer insertion direction when the wafer is inserted, and the stopper member and the stopper auxiliary member wafer. Insert the wafer into the insertion part of the stopper, insert the wafer into the wafer insertion part of the stopper auxiliary member, and then insert it into the wafer insertion part of the stopper member on the opposite side. The wafer was locked with an auxiliary member. The limiting member is configured so as to be in contact with the end portion of the wafer at at least two points so as to be disposed at two positions facing each other with the stopper member interposed therebetween. A recess for inserting the wafer clamping means is arranged in the middle of the stopper member or in the vicinity thereof.
[0017]
[Effects of the Invention]
A wafer such as silicon is placed on the upper surface of the base body so that the movement is locked by the limiting member and the stopper member, and is further held and held by the support of the elastic body by the clamp member. Accordingly, the movement of the wafer placed on the upper surface of the base of the wafer accompanying the movement operation in the opposite direction to the moving direction of the wafer mounting table is restricted by the restricting member at the outer peripheral portion of the wafer. In addition, the stopper member restricts and locks the movement of the outer periphery of the wafer in the surface direction on the upper surface of the base and the movement in the direction away from the upper surface of the base body, and further the relative movement of the stopper member on the outer periphery of the wafer. The movement-type clamping member provided on the opposite side of the wafer restricts and locks the movement of the outer peripheral portion of the wafer in the surface direction on the upper surface of the base body and the movement in the direction away from the upper surface of the base body. The wafer and the base are transported in a combined state, are detachably mounted on a wafer mounting table such as a disk, and desired ion implantation is performed on the stationary or moving disk.
[0018]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
With reference to FIG. 1 of the front view of this invention and hh sectional drawing 2, the application example to an ion implantation apparatus is demonstrated among the semiconductor manufacturing apparatuses using a wafer size conversion holder. A is a wafer size conversion holder having an outer peripheral shape substantially the same as that of the wafer 2, and is composed of a thin plate material having a positioning portion X such as an orientation flat, an outer peripheral V-shaped cutout, and a mark at a specific portion of the outer periphery. It is comprised from the base body 1 and other members. The base body 1 is a wafer mounting table of a batch type disk D1 as shown in FIG. 16 for holding a wafer such as silicon in the wafer processing chamber W of the ion implantation apparatus as shown in FIG. It is detachably provided on the processing side surface. The batch-type disk wafer mounting table disk D1 has a moving motion system in which a plurality of wafers 2 are mounted and a rotational motion D2 and a reciprocating motion D3 are performed on a plane substantially orthogonal to the ion beam IB. Is done. The rotational motion D2 and the reciprocating motion D3 are operated by a motor D4 and a driving body D5, respectively. In addition, the single wafer type wafer mounting table is constituted by an anti-fixed type that simply changes the supporting direction of a single wafer.
[0019]
On the upper surface of the base body 1 of the wafer size conversion holder A, the relative movement of the wafer 2 accompanying the movement operation in one direction and the opposite direction by the rotational movement D2 and the reciprocating movement D3 of the wafer mounting table is shown. A limiting member 3 that restricts at the outer periphery, and a stopper member 4 that restricts and locks the movement of the outer periphery of the wafer 2 in the surface direction on the upper surface of the base body 1 and the movement away from the upper surface of the base body 1. The clamp member 5 that restricts and locks the movement of the outer peripheral portion of the wafer 2 in the surface direction on the upper surface of the base body 1 and the movement in the direction away from the upper surface of the base body is provided. The clamp member 5 is provided on the opposite side of the stopper member 4 on the outer periphery of the wafer 2.
[0020]
The limiting member 3, the stopper member 4, and the clamp member so that the wafer 2 is placed on the same center O as the base 1 of the wafer size conversion holder A or at a position P slightly offset as shown in FIG. 5 are arranged. As shown in FIGS. 4A to 5A (cross section bb in FIG. 1), the movement of the stopper member 4 in the surface direction on the upper surface of the base body 1 of the outer peripheral portion of the wafer 2 is restricted by the restriction portion 401. The stopper member 4 that restricts and locks the movement in the direction away from the upper surface of the base body 1 by the taper portion 402 that is a protruding portion may have a shape along a circumferential shape, as shown in FIG. As shown, the shape may be a shape along the orientation flat X ′ of the wafer 2, and the limiting action is performed at that portion. Moreover, the shape shown in FIG.5 (b) may be sufficient as a restriction | limiting part and a protrusion part as 403 and 404, respectively.
[0021]
On the other hand, as shown in FIG. 1, one or more clamp members 5 are provided on the base body 1, and the movement of the outer peripheral portion of the wafer 2 in the surface direction on the upper surface of the base body 1 is shown in FIG. As shown, the restriction portion 405 restricts and locks, and the movement in the direction away from the upper surface of the base is restricted and locked by the taper portion 406 that is a protruding portion. The clamp member / restriction member that restricts and locks the movement in the direction away from the upper surface of the base body 1 is at least 2 in total at least one place on one side of the symmetry line with respect to any symmetry line on the upper surface of the base body. Provide more than one place.
[0022]
【Example】
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to the following examples.
[0023]
The base body 1 has an outer periphery having a shape similar to that of the wafer 2, that is, has a diameter (200 mm, 150 mm, 125 mm, etc.) similar to that of a wafer having a predetermined wafer size of the apparatus, and the thickness of the base material. In addition, in the range of at least about 2 to 10 mm around the base, it is manufactured to have a thickness equivalent to a predetermined wafer. Moreover, aluminum, graphite, other metals, etc. can be used for the material, and it is desirable that the material has electrical conductivity if possible. Further, the base body can be made of the same material or carbon-based material as that of a wafer such as Si or GaAs, if necessary, or can be coated or coated with the same material or carbon-based material.
[0024]
The restricting member 3 and the restricting portion 401 are initially rotated when the base body 1 is placed on the wafer mounting table and clamped in the same manner as the wafer, is set on a large diameter disk, and the large diameter disk is rotated at a high speed. At the time of acceleration and at the time of deceleration before the end of rotation, it is provided so as to serve as a guide for preventing the wafer from dropping off from the base body 1 due to inertial force. Of these, the restricting member 3 may extend over substantially the entire circumference of the wafer, or may be provided on the left and right or a part of the top and bottom. Further, it is desirable that the height of the restricting member 3 is larger than the thickness of the wafer from the wafer placement surface, if possible. However, if it is higher than necessary, a portion where the ion beam is not irradiated is formed in the implanted portion of the wafer, which is not desirable. The shape of the limiting member 3 is the same shape as the wafer to be placed and held, that is, an arc shape obtained by cutting a part of a circle, or a shape obtained by cutting a part of the shape, and the size is such that the wafer can be placed. That is, the size has a diameter slightly larger than the wafer diameter. The limiting action of the limiting member 3 is shown in FIG. 3 (cross section aa in FIG. 1). The limiting member 3 may have a rectangular cross section as shown in FIG.
[0025]
A stopper member 4 is provided in one direction portion of the limiting member 3, and the wafer 2 is positioned by the limiting member 3 and the stopper member 4. Further, in order to fix the wafer 2, the wafer 2 is pressed by the clamp member 5 from the side opposite to the stopper member 4 so as not to move. The clamp member 5 is given a force to hold the wafer by an elastic biasing member 6 (compression coil spring). Further, a cover 7 is provided so that the ion beam does not hit the elastic urging member (compression coil spring) 6 and the clamp member 5. As an example, the clamp member 5 may be composed of a support shaft 51, an elastic urging member 6, a lever 11, a pedestal 12, a spring support, and the like, as shown in FIG.
[0026]
The stopper member 4 is provided so that the wafer does not protrude from the wafer mounting surface on the upper surface of the base. Generally, it is provided in a direction in which centrifugal force due to disk rotation acts. As shown in FIG. 4 which is a bb cross section of FIG. 1, the stopper member has a protruding portion 4 ′ (for example, a protrusion 4 ′ toward the wafer side as a locking member above the upper surface of the placed wafer. The taper / stepped portion) is provided so as to suppress the jumping out of the wafer. The stopper member may be a pseudo orientation flat having the same shape as the orientation flat portion X ′ of the wafer in order to position the wafer. Further, the stopper member can follow the shape of the wafer when the wafer has a notch shape or a square shape. Further, a spring or a clamp is provided on the clamp member side so that a force is applied to the stopper member side. In addition, it is desirable that at least the outer periphery of the size conversion holder has the same standard wafer thickness as the size of the wafer mounting table.
[0027]
The clamp member 5 is provided in a direction opposite to the stopper member 4. The clamp member 5 is positioned in a direction in which force is applied to the stopper member 4 and is basically formed of an elastic biasing member. The number may be one or more. In the case of a plurality, it is desirable that the force of the plurality of clamp members is equally applied to the stopper member 4. Further, the clamp member 5 has a protruding portion (for example, a taper 402 and a stepped portion 404) toward the wafer side as a locking member above the upper surface of the wafer placed as shown in FIG. By providing, it is configured to suppress the jumping out of the wafer. The elastic biasing member 6 is often a spring or a clamp having a structure including a spring in the structure. The spring used as the elastic biasing member 6 is preferably a compression coil spring, a torsion coil spring, or a leaf spring.
[0028]
The limiting member and the clamp member are arranged so as to sandwich the line passing through the center of the wafer surface, and the clamp member and the stopper member are arranged so as to sandwich the line passing through the center of the wafer surface.
[0029]
The base body has an outer peripheral shape substantially similar to that of the wafer. The stopper member is provided with a restricting portion that restricts and locks the movement in the surface direction on the upper surface of the base body at the outer peripheral portion of the wafer. The restricting members are arranged on both sides of the upper surface of the wafer base so that there are at least two places across a line passing through the center of the wafer surface.
[0030]
The interval between the clamp member and the stopper member is slightly smaller than the wafer width in the wafer insertion direction when the wafer is inserted, and the wafer insertion portion of the stopper member is provided with the wafer insertion interval. After the wafer was inserted into the wafer, the wafer was brought into close contact with the base body within the restriction range of the restriction member, and the wafer was locked with the clamp member.
[0031]
The wafer mounting table is a batch type in which a plurality of wafers are held on the same circumference and work is performed. The stopper member or the clamp member was provided at a position corresponding to the orientation flat portion of the wafer. The clamp member is configured to perform the limit locking by an elastic biasing member. The elastic biasing member is configured to have a spring or a spring in the structure.
[0032]
At least one of the stopper member and the clamp member is configured to restrict and lock movement in a direction away from the upper surface of the base by a limiting locking body having a tapered portion. The elastic biasing member was provided on the upper surface of the base body. A material having the same component as that of the wafer may be coated on the processing target portion on the upper surface of the base body. The clamp member is configured to be movable to a limit locking position and a limit release position, and is configured to be fixable at at least one position. The clamp member is configured to cover the edge portion of the ion-implanted surface on the outer periphery of the wafer along the outer periphery, and the stopper member or the clamp member also serves as the limiting member. The stopper member or the clamp member is configured to cover the edge portion of the ion-implanted surface on the outer periphery of the wafer along the outer periphery, and also serves as a limiting member. Of the limiting member, the stopper member, and the clamp member, at least the limiting member or the stopper member was formed integrally or separately from the base. An orientation flat may be provided on the base body.
[0033]
The stopper member or clamp member provided at a position corresponding to the orientation flat portion of the wafer is provided at least at a position corresponding to the orientation flat portion of the base body or at a position opposite to 180 degrees.
The center of the wafer and the center of the base body may be provided at the same center position.
[0034]
As shown in FIG. 7, a recess V is provided on the base 1 over a part of the outer periphery of the wafer, and the lower surface of the mounted wafer is removed from the outer periphery with a removal tool such as a driver or tweezers. You may comprise so that a wafer can be removed upward.
[0035]
The material of the constituent member of the size conversion holder can reinforce the wafer, such as aluminum, ceramics, graphite, and the like, so that the amount of contamination on the silicon wafer does not matter. FIG. 2 shows a cross-sectional view of a state in which a wafer is placed on a wafer size conversion holder. The height of the limiting member 3 from the wafer mounting surface 10 is substantially larger than the thickness of the wafer. In the state where the wafer 2 is placed, the surface of the limiting member 3 is present at a position higher than the surface of the wafer 2.
[0036]
The second embodiment shown in FIG. 7 will be described below. A base body having a substantially circular outer peripheral shape is detachably provided on the wafer mounting table, and a wafer is detachably provided on the upper surface of the base body so that the wafer mounting table moves on the upper surface of the wafer base body. A restricting member that restricts movement in the surface direction at the surface, a stopper member that restricts and locks movement of the outer periphery of the wafer in a direction away from the upper surface of the base body, and a locking body from the opposite side of the stopper member or A clamp auxiliary member having a force for pressing the wafer by an elastic biasing member arranged together with the stopper auxiliary member having the cover body is provided on the upper surface of the base body, and the restriction member, the stopper member, and the clamp member are used. The wafer was fixed on the upper surface of the base body. The clamp auxiliary member is disposed in an intermediate portion of the stopper auxiliary member so as to freely advance and retract. The interval between the stopper member locking body or cover body and the stopper auxiliary member locking body or cover body is slightly smaller than the wafer width in the wafer insertion direction when the wafer is inserted, and the stopper member and the stopper auxiliary member wafer. Insert the wafer into the insertion section of the stopper, insert the wafer into the wafer insertion section of the stopper auxiliary member, and then insert it into the wafer insertion section of the stopper member on the opposite side. The wafer was locked with an auxiliary member. The restricting members were arranged at two locations opposite to each other with the stopper member as a structure in contact with the wafer edge at at least two points. A recess for inserting the wafer clamping means is arranged in the middle of the stopper member or in the vicinity thereof.
[0037]
As shown in FIG. 7, it is also possible to fix the wafer by an elastic biasing member such as a leaf spring or a clamp auxiliary member 52 which is an elastic material. In FIG. 7, the limiting member 31 is disposed so as to face the stopper member 41 with an arc shape obtained by cutting a part of a circle or a shape obtained by cutting a part of the shape. Further, in order to fix the wafer 2, the wafer 2 is pressed from the opposite side of the stopper member 41 by the clamp auxiliary member 52 arranged together with the stopper auxiliary member 11 so as not to move. The clamp auxiliary member 52 is given a force to hold the wafer by the elastic biasing member 8 (plate-shaped or bar-shaped spring). Further, the stopper member 41, the stopper auxiliary member 11, and the clamp auxiliary member 52 are provided with a locking body or cover body 7 to restrict and lock the movement of the outer peripheral portion of the wafer in the direction away from the upper surface of the base body and the ion beam. May not be hit. The clamping auxiliary member 52 locked on both sides of the elastic urging member 8 by the locking bodies 9 and 9 may be formed of an elastic material integrally with the elastic urging member 8 (plate-like or bar-like spring), You may provide the hollow 12 in the base body 1 part of the movable range of an elastic biasing member. FIG. 8 is a side view of FIG. Reference numeral 10 denotes a wafer mounting surface. FIG. 9 is a cross-sectional view of the clamp auxiliary member 52 in the embodiment having a dd cross section in FIG. 7, and is slidably fitted and held between the stopper auxiliary members 11. FIG. 10 shows another example of the second embodiment of FIG. 11 is a cross-sectional view taken along the line gg in FIG. 12 is a cross-sectional view of the clamp auxiliary member 52 taken along line ee in FIG. FIG. 13 is an explanatory diagram in the middle of the wafer mounting operation, and FIG. 14 is an explanatory diagram showing the wafer mounting. That is, the interval between the stopper auxiliary member 11 and the stopper member 41 is slightly smaller than the wafer width in the wafer insertion direction when the wafer is inserted, and the wafer insertion portion of the stopper member is provided with a wafer insertion interval. After inserting the wafer into the wafer insertion section, the wafer is brought into close contact with the base body within the restriction range of the restriction member, and fitted into the stopper auxiliary member 11, and then the wafer is locked with the clamp auxiliary member. To do.
[0038]
In any case, the number, shape, and type of springs are not limited, and the number can be determined within the necessary range. When a silicon wafer having a wafer size of 150 mm and a thickness of 625 μm is held by a wafer size conversion holder for a 200 mm apparatus and held on a disk and implanted using a batch type ion implantation apparatus compatible with the 200 mm wafer, a 200 mm wafer is conventionally used. With the corresponding batch type ion implantation apparatus, a 150 mm wafer could not be implanted. However, by using the wafer size conversion holder of the present invention, a wafer after ion implantation treatment without any problem can be obtained. It was. As a result, it has become possible to inject a wafer having a size different from the specification of the apparatus without performing a modification of the apparatus.
[0039]
【The invention's effect】
As described above, by using the wafer size conversion holder according to the present invention, a wafer having a size smaller than a predetermined size in a batch type ion implantation apparatus as well as a single wafer processing is conventionally used. Compared to the above, accurate positioning and reliable support of the wafer on the upper surface of the base body can be performed with a minimum number of members, and reliable implantation can be performed.
[0040]
In addition, since there is no need to modify the equipment, the vacuum chamber is not opened during the setup process for wafer size conversion, which shortens the time to start implantation and increases the number of particles in the end station. Can be prevented. Furthermore, since parts for remodeling are not necessary, the cost is reduced accordingly.
[0041]
The disk, which is a wafer mounting table, can be automatically mounted even when the number of held disks is large, even in batch systems where multiple wafers are held on the same circumference and ion implantation is performed, and the disks themselves do not need to be remanufactured. It becomes.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram (front view) of a wafer size conversion holder in an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a configuration diagram (hh sectional view) of a wafer size conversion holder in an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a cross-sectional view of the limiting member 3 in the embodiment that is a cross-section along the line aa in FIG.
FIG. 4 is a cross-sectional view of the stopper member 4 in the embodiment which is a bb cross section of FIG. 1;
FIG. 5 is another cross-sectional view of the stopper member 4 in the embodiment which is a bb cross section of FIG. 1;
6 is another cross-sectional view of the stopper member 4 in the embodiment which is a cross-sectional view taken along the line cc of FIG. 1. FIG.
FIG. 7 is a configuration diagram of a wafer size conversion holder (push spring system) in the second embodiment.
FIG. 8 is a side view of FIG. 7;
9 is a cross-sectional view of the clamp auxiliary member 52 in the embodiment which is a dd cross section in FIG. 7; FIG.
FIG. 10 shows another example of the second embodiment of FIG.
11 is a cross-sectional view taken along the line gg in FIG.
12 is a cross-sectional view of the clamp auxiliary member 52 taken along line ee in FIG.
FIG. 13 is an explanatory diagram in the middle of wafer mounting work.
FIG. 14 is an explanatory diagram showing wafer loading.
FIG. 15 is a configuration diagram of a wafer processing chamber W of the ion implantation apparatus.
FIG. 16 is a configuration diagram of a wafer mounting table such as a batch type disk D1 for holding a wafer such as silicon.
[Explanation of symbols]
1 Base body
2 wafers
3 Restriction member
4 Stopper member
5 Clamp member
6 Elastic biasing member
7 Cover
8 Pressing spring
9 Wafer mounting part
D1 disc

Claims (23)

シリコン等の基板ウェハを保持するための移動式のウェハ載置台を有するイオン注入装置のウェハサイズコンバーションホルダーに於いて、
略円形の外周形状を有する基台体をウェハ載置台上に着脱可能に設けるとともに、ウェハを該基台体上面の平面部に接するように着脱可能に設けて、
該ウェハ載置台の移動動作に伴うウェハの基台体上面上での面方向の一方向及びこの一方向と直交する方向への移動を制限する制限部材と、
該ウェハの外周部の基台体の上面から離れる方向への移動並びに面方向の一方向の移動を制限係止するストッパー部材と、
該ウェハの外周部の基台体の上面における面方向の一方向の移動と基台体の上面から離れる方向への移動を制限係止する動作式のクランプ部材とを、前記基台体の上面上に設ける構成とし、
前記制限部材とストッパー部材とクランプ部材によってウェハを前記基台体上面に前後左右及び上下方向に移動不能に固定したことを特徴とするウェハサイズコンバーションホルダー。
In a wafer size conversion holder of an ion implantation apparatus having a movable wafer mounting table for holding a substrate wafer such as silicon,
A base body having a substantially circular outer peripheral shape is detachably provided on the wafer mounting table, and a wafer is detachably provided so as to be in contact with a flat portion of the upper surface of the base body,
A limiting member that restricts movement in one direction of the surface of the wafer on the upper surface of the base body and movement in a direction perpendicular to the one direction in accordance with the movement operation of the wafer mounting table;
A stopper member that restricts and locks the movement of the outer periphery of the wafer in a direction away from the upper surface of the base body and the movement in one direction of the surface direction ;
An operation-type clamping member that restricts and locks movement in one direction in the surface direction on the upper surface of the base body of the outer peripheral portion of the wafer and movement in a direction away from the upper surface of the base body; It is configured to be provided on the top,
Wafer size Conversion holder over, characterized in that the wafer by the restriction member and the stopper member and the clamping member is immovably fixed to the front and rear, right and left and vertically to the base member upper surface.
前記制限部材と該クランプ部材とはウェハの面中心を通る線を挟んで配置されるよう構成するとともに、該クランプ部材と前記ストッパー部材とはウェハの面中心を通る線を挟んで配置されるよう構成したことを特徴とする請求項1記載のウェハサイズコンバーションホルダー。 Together with the the restriction member and the clamping member configured to be disposed across the line passing through the surface center of the wafer, the with the clamp member and the strike Tsu path over member disposed across the line passing through the surface center of the wafer wafer size Conversion holder over according to claim 1, characterized by being configured to be. 前記基台体を、ウェハと実質的に同様の外周形状とした請求項1記載のウェハサイズコンバーションホルダー。 The base body, the wafer is substantially similar to the outer peripheral shape as the claims 1 wafer size-conversion holder over description. 前記制限部材は、ウェハの基台体上面上で、ウェハの面中心を通る線を挟んで少なくとも2個所以上となるよう両側に配置される請求項1記載のウェハサイズコンバーションホルダー。 Wherein the restriction member is on the base member upper surface of the wafer, the wafer size Conversion holder over according to claim 1, wherein arranged on both sides so as to be at least 2 or more sites across the line passing through the surface center of the wafer. 前記ウェハ載置台は、ウェハを同一円周上に複数枚保持して、作業を行うバッチ式とした請求項1記載のウェハサイズコンバーションホルダー。 The wafer mounting table holds a plurality on the same circumference of the wafer, the wafer size Conversion holder over according to claim 1, wherein the batch type to perform operations. 前記ストッパー部材もしくはクランプ部材は、ウェハのオリエンテーションフラット部と対応する位置に設けた請求項1記載のウェハサイズコンバーションホルダー。 The stopper member or the clamping member, the wafer size Conversion holder over according to claim 1, wherein provided at positions corresponding to the orientation flat of the wafer. 前記クランプ部材は弾性的付勢部材により前記制限係止を行うよう構成する構造とした請求項1記載のウェハサイズコンバーションホルダー。 The clamping member wafer size-conversion holder over according to claim 1, wherein the structure is configured to perform the restriction locking by elastic urging member. 前記弾性的付勢部材はバネもしくは構造中にバネを有する構成とする請求項記載のウェハサイズコンバーションホルダー。 7. wafer size-conversion holder over according the elastic biasing member configured to have a spring in the spring or structure. 前記ストッパー部材もしくは該クランプ部材のすくなくとも一方には、テーパ部を有する制限係止体により基台の上面から離れる方向への移動を制限係止する構成とする請求項1記載のウェハサイズコンバーションホルダー。 2. The wafer size conversion holder according to claim 1, wherein at least one of the stopper member or the clamp member is configured to restrict and lock movement in a direction away from the upper surface of the base by a limiting locking body having a tapered portion. -. 前記ストッパー部材もしくは該クランプ部材のすくなくとも一方には、ウェハ側へ小さく突出した係止体もしくはカバー体により基台の上面から離れる方向への移動を制限係止する構成とする請求項1記載のウェハサイズコンバーションホルダー。 The wafer according to claim 1, wherein at least one of the stopper member or the clamp member is configured to restrict and lock movement in a direction away from the upper surface of the base by a locking body or a cover body that protrudes small toward the wafer side. size-conversion holder over. 前記弾性的付勢部材は基台体の上面に設けた請求項記載のウェハサイズコンバーションホルダー。 Wafer size Conversion holder over the elastic biasing member according to claim 7, wherein provided on the upper surface of the base body. 前記基台体の上面のイオン注入の被曝部分にはウェハと同様の成分の物質をコーティング加工処理もしくは被覆処理を施した請求項1記載のウェハサイズコンバーションホルダー。 Wafer size Conversion holder over according to claim 1, wherein the coated processing or coating process the materials of component similar to the wafer in the exposure portion of the ion implantation of the upper surface of the base body. 前記弾性的付勢部材を有するクランプ部材は、制限係止位置と制限開放位置に移動自在に構成するとともに、すくなくとも、一方の位置で固定可能に構成した請求項記載のウェハサイズコンバーションホルダー。 Clamping member having a resilient biasing member, along with configured movable in limited locking position and limit the open position, at least, the wafer size Conversion holder over according to claim 7, wherein the fixable configured in one position . 前記制限部材、前記ストッパー部材、前記クランプ部材のうち、少なくとも該制限部材もしくはストッパー部材を基台と一体成形した請求項1記載のウェハサイズコンバーションホルダー。 Wherein the restriction member, the stopper member, the clamping of the member, at least the restriction member or wafer size-conversion holder over according to claim 1, wherein the stopper member is the base and integrally molded. 前記基台体にオリエンテーションフラット部または切欠き部を設けた請求項記載のウェハサイズコンバーションホルダー。 Wafer size Conversion holder over of claim 6 wherein providing the orientation flat or notch in the base body. 前記ウェハのオリエンテーションフラット部と対応する位置に設けた前記ストッパー部材もしくはクランプ部材は、少なくとも前記基台体のオリエンテーションフラット部または切欠き部と対応する位置に設けるもしくは180度反対の位置に設ける請求項15記載のウェハサイズコンバーションホルダー。 The stopper member or clamp member provided at a position corresponding to the orientation flat portion of the wafer is provided at a position corresponding to at least the orientation flat portion or the notch portion of the base body, or provided at a position opposite to 180 degrees. 15 wafer size-conversion holder over description. シリコン等のウェハを保持するための移動式のウェハ載置台を有するイオン注入装置のウェハの保持方法に於いて、
略円形の外周形状を有する基台体をウェハ載置台上に着脱可能に設けるとともに、ウェハを該基台体上面の平面部に接するように着脱可能に設けて、該ウェハ載置台の移動動作に伴うウェハの基台体上面上での面方向の一方向及びこの一方向と直交する方向への移動を制限する制限部材と、係止体もしくはカバー体を有して該ウェハの外周部の基台体の上面から離れる方向への移動並びに面方向の一方向の移動を制限係止するストッパー部材と、係止体もしくはカバー体を有してストッパー部材とは反対の側より該ウェハの外周部の基台体上面から離れる方向への移動並びに面方向の一方向の移動を制限係止するストッパー補助部材とともに配置される弾性付勢部材にてウェハを押さえる力を有するクランプ補助部材とを、前記基台体の上面上に設ける構成し、
前記制限部材とストッパー部材と、ストッパー補助部材及びクランプ補助部材によってウェハを前記基台体上面に前後左右及び上下方向に移動不能に固定したウェハサイズコンバーションホルダーを用いたウェハの保持方法。
In a method of holding a wafer of an ion implantation apparatus having a movable wafer mounting table for holding a wafer such as silicon,
A base body having a substantially circular outer peripheral shape is detachably provided on the wafer mounting table, and a wafer is detachably provided so as to be in contact with the flat surface of the upper surface of the base body, so that the wafer mounting table can be moved. And a restricting member for restricting movement of the wafer in one direction on the upper surface of the base body and in a direction perpendicular to the one direction, and a locking body or a cover body, and a base of the outer peripheral portion of the wafer. A stopper member that restricts and locks the movement away from the upper surface of the base body and the movement in one direction of the surface , and the outer periphery of the wafer from the opposite side of the stopper member having a locking body or cover body A clamp auxiliary member having a force to hold the wafer with an elastic biasing member arranged together with a stopper auxiliary member that restricts and locks the movement in the direction away from the upper surface of the base body and the movement in one direction of the surface direction , Top surface of base A configuration is provided to,
Method of holding the wafer using the the restriction member and the stopper member, the wafer size-conversion holder over which immovably fixed to the front and rear, right and left and up and down direction of the wafer to the base member upper surface by the stopper support member and the clamp support member.
前記クランプ補助部材は前記ストッパー補助部材の中間部に進退自在に配置される請求項17記載のウェハサイズコンバーションホルダー及びそれを用いたウェハの保持方法。18. The wafer size conversion holder and a wafer holding method using the same according to claim 17, wherein the clamp auxiliary member is disposed in an intermediate portion of the stopper auxiliary member so as to be freely advanced and retracted. 前記ストッパー部材の係止体もしくはカバー体と前記ストッパー補助部材の係止体もしくはカバー体の間隔は、ウェハの挿入方向のウェハ幅より若干小さいものとし、前記ストッパー部材およびストッパー補助部材のウェハの挿入部にはウェハの挿入間隔を設け、ウェハの挿入時、ストッパー補助部材のウェハの挿入部にウェハを差し込んだ後、反対側のストッパー部材のウェハの挿入部にはめ込み、ウェハを制限部材に当接させ、クランプ補助部材でウェハを係止したことを特徴とする請求項17記載のウェハサイズコンバーションホルダーを用いたウェハの保持方法。The interval between the stopper body or cover body of the stopper member and the stopper body or cover body of the stopper auxiliary member is slightly smaller than the wafer width in the wafer insertion direction, and the insertion of the stopper member and the stopper auxiliary member into the wafer is performed. A wafer insertion interval is provided in the part, and when inserting the wafer, after inserting the wafer into the wafer insertion part of the stopper auxiliary member, it is fitted into the wafer insertion part of the opposite stopper member, and the wafer is brought into contact with the restriction member is allowed, method of holding the wafer with a wafer size-conversion holder over of claim 17, wherein the locked wafer with clamp support member. 前記制限部材は、ウェハ端部と少なくとも2点以上で接触する構造として前記ストッパー部材をはさんで対向して2個所配置した請求項19記載のウェハサイズコンバーションホルダーを用いたウェハの保持方法。The limiting member, holding method of a wafer using a wafer size-conversion holder over of claim 19 opposed to 2 points arranged across the stopper member as structures that contact the wafer edge with at least two or more points . 前記ストッパー部材の中間部もしくはその近傍にはウェハ挟持手段を挿入する窪みを配置した請求項19記載のウェハサイズコンバーションホルダーを用いたウェハの保持方法。Intermediate portion or holding method of a wafer using a wafer size-conversion holder over of claim 19, wherein placing the recess to insert the wafer clamping means in the vicinity of the stopper member. シリコン等の基板ウェハを保持するための移動式のウェハ載置台を有するイオン注入装置のウェハの保持方法に於いて、In a method of holding a wafer of an ion implantation apparatus having a movable wafer mounting table for holding a substrate wafer such as silicon,
略円形の外周形状を有する基台体をウェハ載置台上に着脱可能に設けるとともに、ウェハを該基台体上面の平面部に接するように着脱可能に設けて、該ウェハ載置台の移動動作に伴うウェハの基台体上面上での面方向の一方向及びこの一方向と直交する方向への移動を制限する制限部材と、該ウェハの外周部の基台体の上面から離れる方向への移動並びに面方向の一方向の移動を制限係止するストッパー部材と、該ウェハの外周部の基台体の上面における面方向の一方向の移動と基台体の上面から離れる方向への移動を制限係止する動作式のクランプ部材とを、前記基台体の上面上に設ける構成とし、A base body having a substantially circular outer peripheral shape is detachably provided on the wafer mounting table, and a wafer is detachably provided so as to be in contact with the flat surface of the upper surface of the base body, so that the wafer mounting table can be moved. And a restricting member for restricting movement of the wafer in one direction on the upper surface of the base body and in a direction perpendicular to the one direction, and movement in a direction away from the upper surface of the base body of the outer periphery of the wafer In addition, a stopper member that restricts and locks movement in one direction in the surface direction, and movement in one direction in the surface direction on the upper surface of the base body at the outer peripheral portion of the wafer and movement in a direction away from the upper surface of the base body are restricted. An operation-type clamping member to be locked is provided on the upper surface of the base body,
前記制限部材とストッパー部材とクランプ部材によってウェハを前記基台体上面に前後左右及び上下方向に移動不能に固定したことを特徴とするウェハサイズコンバーションホルダーを用いたウェハの保持方法。A wafer holding method using a wafer size conversion holder, wherein a wafer is fixed to the upper surface of the base body so as to be immovable in the front-rear, left-right, and up-down directions by the limiting member, the stopper member, and the clamp member.
シリコン等のウェハを保持するための移動式のウェハ載置台を有すHas a movable wafer mounting table for holding wafers such as silicon るイオン注入装置のウェハサイズコンバーションホルダーに於いて、In wafer size conversion holder of ion implantation equipment
略円形の外周形状を有する基台体をウェハ載置台上に着脱可能に設けるとともに、ウェハを該基台体上面平面部に接するように着脱可能に設けて、A base body having a substantially circular outer peripheral shape is detachably provided on the wafer mounting table, and a wafer is detachably provided so as to be in contact with the upper surface plane portion of the base body,
該ウェハ載置台の移動動作に伴うウェハの基台体上面上での面方向の一方向及びこの一方向と直交する方向への移動を制限する制限部材と、A limiting member that restricts movement in one direction of the surface of the wafer on the top surface of the base body and movement in a direction perpendicular to the one direction in accordance with the movement operation of the wafer mounting table;
該ウェハの外周部の基台体の上面から離れる方向への移動並びに面方向の一方向の移動を制限係止するストッパー部材と、A stopper member that restricts and locks the movement of the outer periphery of the wafer in a direction away from the upper surface of the base body and the movement in one direction of the surface direction;
係止体もしくはカバー体を有してストッパー部材とは反対の側より該ウェハの外周部の基台体の上面から離れる方向への移動並びに面方向の一方向の移動を制限係止するストッパー補助部材とともに配置される弾性付勢部材にてウェハを押さえる力を有するクランプ補助部材とを、前記基台体の上面上に設ける構成とし、Stopper auxiliary that has a locking body or a cover body and restricts the movement of the outer peripheral portion of the wafer in the direction away from the upper surface of the base body and the movement in one direction of the surface from the side opposite to the stopper member A clamp auxiliary member having a force for pressing the wafer with an elastic biasing member arranged together with the member is provided on the upper surface of the base body,
前記制限部材とストッパー部材と、ストッパー補助部材及びクランプ補助部材によってウェハを前記基台体上面に前後左右及び上下方向に移動不能に固定したウェハサイズコンバーションホルダー。A wafer size conversion holder in which a wafer is fixed to the upper surface of the base body so as to be immovable back and forth, right and left and up and down by the limiting member, the stopper member, the stopper auxiliary member and the clamp auxiliary member.
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