JP3909269B2 - 配線基板 - Google Patents

配線基板 Download PDF

Info

Publication number
JP3909269B2
JP3909269B2 JP2002173054A JP2002173054A JP3909269B2 JP 3909269 B2 JP3909269 B2 JP 3909269B2 JP 2002173054 A JP2002173054 A JP 2002173054A JP 2002173054 A JP2002173054 A JP 2002173054A JP 3909269 B2 JP3909269 B2 JP 3909269B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
ceramic
metallized wiring
wiring layer
metallized
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002173054A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003258425A (ja
Inventor
拓 松寺
隆 末吉
聡 島崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP2002173054A priority Critical patent/JP3909269B2/ja
Publication of JP2003258425A publication Critical patent/JP2003258425A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3909269B2 publication Critical patent/JP3909269B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体素子や容量素子・圧電振動子等の電子部品を搭載する、電子部品搭載用の配線基板に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体素子や容量素子・圧電振動子等の電子部品を搭載するための配線基板は、一般に、ガラスセラミックス焼結体や酸化アルミニウム質焼結体等のセラミック材料から成るセラミック絶縁層と、銅・銀・タングステン等の金属材料から成り、セラミック絶縁層の表面に被着されているメタライズ配線層とにより形成されている。
【0003】
この配線基板は、例えばセラミック絶縁層がガラスセラミックス焼結体から成る場合であれば、ホウ珪酸ガラス等のガラス粉末と酸化アルミニウム等のセラミック粉末とを有機溶剤・バインダとともにシート状に成形して得たグリーンシートの表面に、銅・銀等の金属ペーストを所定のパターンに印刷塗布し、このグリーンシートを積層するとともに約1000℃で焼成することにより製作される。
【0004】
なお、メタライズ配線層と他のメタライズ配線層との間には、通常、メタライズ配線層とほぼ同じ厚さのセラミックコート層が被着形成されて上下のセラミック絶縁層間の間隙を埋め、上下のセラミック絶縁層間の密着をより確実なものとしている。このセラミックコート層は、セラミック絶縁層と同様のセラミック粉末およびガラス粉末から成るセラミックペーストをメタライズ配線層となる金属ペーストの間を埋めるようにしてグリーンシートの表面に印刷塗布することで形成される。
【0005】
このような配線基板においては、近年、セラミック絶縁層の少なくとも1層を挟んでメタライズ配線層を対向して形成し、セラミック絶縁層を誘電体層とし、メタライズ配線層を対向電極とすることにより容量素子を形成・内蔵したタイプのものが多用されるようになってきている。
【0006】
また、配線基板に内蔵させた容量素子は、より静電容量の大きなものが求められ、この場合、静電容量は誘電体の誘電率と電極面積に比例し、誘電体厚みに反比例するため、同質誘電体で基板を大きくすることなく静電容量を大きくするためには誘電体厚みを小さくすることが必要となってきており、これに応じて容量素子の誘電体として機能するセラミック絶縁層の厚みは50μm以下と非常に薄く形成されるようになってきている。なお、容量素子の対向電極として機能するメタライズ配線層は、薄いセラミック絶縁層の両面に上下で対向するようにして(同一パターンで)被着形成される。
【0007】
この場合も、対向させて被着形成されたメタライズ配線層(対向電極)とこれに隣接するメタライズ配線層との間、また隣接するメタライズ配線層がない場合であってもこのメタライズ配線層(対向電極)の両側には上下のセラミック絶縁層間の間隙を埋めるようにセラミックコート層が被着形成される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、容量素子を内蔵させるための電極を形成する場合など、厚みが50μm以下のセラミック絶縁層を積層し、このセラミック絶縁層の少なくとも1層の両面に上下で対向させたメタライズ配線層と、このメタライズ配線層の両側で上下のセラミック絶縁層間の間隙を埋めるセラミックコート層とを被着させた場合、薄いセラミック絶縁層の両面に同一のメタライズ配線層およびセラミックコート層が形成されるとともに、これらの境界が上下で対向することになるため、積層前または積層途中にセラミック絶縁層となるグリーンシートに微小な変形が生じた際に、メタライズ配線層となる金属ペーストとセラミックコート層となるセラミックペーストとの境界に位置するグリーンシートに変形に伴う応力が直線状に集中するため、グリーンシートは屈し、形成された配線基板中にクラック等の欠陥が生じるという問題が新たに誘発される。
【0009】
本発明は上記問題に鑑み案出されたものであり、その目的は、容量素子を内蔵するためのメタライズ配線層およびセラミックコート層が両面に被着されたセラミック絶縁層の厚みが50μm以下と薄くなったとしても、セラミック絶縁層にクラック等の不具合が生じることのない配線基板を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明の配線基板は、厚みが50μm以下のセラミック絶縁層を積層して成り、前記セラミック絶縁層の少なくとも1層の両面にメタライズ配線層と、このメタライズ配線層の間隙を埋めるセラミックコート層とがそれぞれ対向させて被着されている配線基板において、前記メタライズ配線層とこれに隣接する前記セラミックコート層との境界領域で、前記メタライズ配線層が前記セラミックコート層上に、または前記セラミックコート層が前記メタライズ配線層上に、重なりの界面を階段状または段差状の面として重なっていることを特徴とするものである。
【0011】
また本発明の配線基板は、上記構成において、前記セラミックコート層と前記メタライズ配線層との重なりの幅は、0.1〜0.3mmであることを特徴とするものである。
【0012】
また本発明の配線基板は、上記構成において、前記セラミック絶縁層の上下で対向している前記セラミックコート層と前記メタライズ配線層との重なりの境界位置がずれていることを特徴とするものである。
【0013】
本発明の配線基板によれば、セラミック絶縁層の両面に上下で対向させて被着形成されたメタライズ配線層とこれに隣接するセラミックコート層との境界領域で、メタライズ配線層がセラミックコート層上に、またはセラミックコート層がメタライズ配線層上に、重なりの界面を階段状または段差状の面として重なっていることから、メタライズ配線層とセラミックコート層との境界でのグリーンシートの変形と、この変形に伴う応力がグリーンシートに直線状に集中することがなくなるため、グリーンシートの屈を効果的に防止し、配線基板にクラック等の不具合が発生することを効果的に防止することができる。また、セラミックコート層とメタライズ配線層との重なりの界面を階段状または段差状の面としていることから、セラミックコート層とメタライズ配線層とが、それぞれ界面で噛み合うようにして重なるため、セラミックコート層とメタライズ配線層との界面での接合の強度が高くなり、メタライズ配線層およびセラミックコート層のセラミック絶縁層に対する被着の信頼性が良好となる。
【0014】
【発明の実施の形態】
次に、本発明を添付の図面に基づき詳細に説明する。
【0015】
図1は本発明の配線基板の実施の形態の一例を示す断面図である。
【0016】
図1において、1はセラミック絶縁層、2はメタライズ配線層、3はセラミックコート層である。これらのセラミック絶縁層1・メタライズ配線層2およびセラミックコート層3により配線基板4が形成される。なお、セラミック絶縁層1のうち少なくとも1層には、両面に上下に対向させたメタライズ配線層2と、メタライズ配線層2の両側で上下のセラミック絶縁層1間の間隙を埋めるセラミックコート層3とが、それぞれ対向するようにして被着されている。
【0017】
セラミック絶縁層1は、ガラスセラミックス焼結体・酸化アルミニウム質焼結体・ムライト質焼結体・窒化アルミニウム質焼結体等から成る。例えばガラスセラミックス焼結体から成る場合であれば、ガラス粉末とセラミック粉末とを有機溶剤・バインダとともにシート状に成形して得たグリーンシートを約1000℃で焼成することにより形成される。
【0018】
なお、セラミック絶縁層1は、通常、複数が上下に積層され、電子部品を搭載する基体として機能する。この基体の上面および/または下面に半導体素子や容量素子・圧電振動子等の電子部品が搭載される。
【0019】
セラミック絶縁層1のうち、図2(a)および(b)にそれぞれ配線基板4の要部拡大断面図で示すように、その少なくとも1層の薄層部1aは、配線基板4に容量素子を内蔵させるための誘電体層として機能させるために、50μm以下と薄く形成される。なお、このセラミック絶縁層1の薄層部1aの厚みは、製法上の制約から通常は10μm以上である。
【0020】
メタライズ配線層2は、電子部品の電極を接続するとともに外部に導出する機能を有し、露出表面の所定部位に電子部品の電極がボンディングワイヤや半田等を介して接続される。メタライズ配線層2は、銅・銀等の金属材料から成り、例えば、銅から成る場合であれば、銅粉末および有機溶剤を混練して得た金属ペーストをセラミック絶縁層1となるグリーンシートにスクリーン印刷法等で印刷塗布することにより形成される。
【0021】
このメタライズ配線層2には、焼成時にセラミック絶縁層1およびその薄層部1aならびにセラミックコート層3との収縮を合わせるため、セラミックフィラー等を含有させるとよい。
【0022】
セラミックコート層3は、メタライズ配線層2の両側で上下のセラミック絶縁層1間の間隙を埋め、上下のセラミック絶縁層1間の密着性を良好とする機能を有する。
【0023】
本発明においては、メタライズ配線層2と、少なくともその片側でこれに隣接するセラミックコート層3との境界領域を、図2(a)に要部拡大断面図で示すようにメタライズ配線層2がセラミックコート層3上に、または図2(b)に同様の要部拡大断面図で示すようにセラミックコート層3がメタライズ配線層2上に、重なりの界面を階段状または段差状の面として重なっていることとすることが重要である。
【0024】
本発明の配線基板によれば、このようにセラミック絶縁層1もしくはその薄層部1aの上下でそれぞれ対向させて被着されているメタライズ配線層2とこれに隣接するセラミックコート層3との境界領域で、メタライズ配線層2がセラミックコート層3上に、またはセラミックコート層3がメタライズ配線層2上に、重なりの界面を階段状または段差状の面として重なっていることから、メタライズ配線層2とセラミックコート層3との境界で、セラミック絶縁層1およびその薄層部1aとなるグリーンシートの変形が直線状に集中することがなくなるため、グリーンシートの屈を効果的に防止し、配線基板4にクラック等の不具合が発生することを効果的に防止することができる。また、セラミックコート層とメタライズ配線層との重なりの界面を階段状または段差状の面としていることから、セラミックコート層とメタライズ配線層とが、それぞれ界面で噛み合うようにして重なるため、セラミックコート層とメタライズ配線層との界面での接合の強度が高くなり、メタライズ配線層およびセラミックコート層のセラミック絶縁層に対する被着の信頼性が良好となる。
【0025】
ここで、このセラミックコート層3とメタライズ配線層2との重なりは、その重なりの幅が0.1〜0.3mmであることが好ましい。重なりの幅が0.1mm未満では、メタライズ配線層2とセラミックコート層3との境界が重なりを設けていない直線の状態に近づくため、応力が境界にほぼ直線状に集中することからグリーンシートの屈を防止する効果が不十分なものとなる傾向がある。また、重なりの幅が0.3mmを超えると、重なり面の傾斜が大きくなり過ぎることにより、グリーンシートの変形に対して局所的に応力が集中することがあるため、かえってメタライズ配線層2とセラミックコート層3との境界に直交する方向にクラックが発生する危険性があるため適当ではない。よって、セラミックコート層3とメタライズ配線層2との重なりの幅は、0.1〜0.3mmであることが好ましい。
【0026】
なお、この重なりの幅は、メタライズ配線層2とセラミックコート層3との境界の全域で一様な幅とする必要はなく、製造工程上の誤差により多少ばらついても支障なく、また、応力のかかりやすいグリーンシートの端部分で大きく、中央部分で小さくなるようにしてもよい。
【0027】
さらに、図3に図2と同様の要部拡大断面図で示すように、セラミック絶縁層1の薄層部1aの上下で対向しているセラミックコート層3とメタライズ配線層2との重なりの境界位置、すなわち、セラミックコート層3とメタライズ配線層2との重なりの界面がセラミック絶縁層1、この例では薄層部1aの上下各表面に接する部位に沿った直線または曲線の位置が、ずれていることが好ましい。これは、応力が集中しやすいセラミックコート層3とメタライズ配線層2との重なりの境界位置が、セラミック絶縁層1の薄層部1aを挟んで上下に対向すること、つまりこの薄層部1aを平面視したときに薄層部1aの一箇所に応力の集中しやすい部分が集中することを避けるためである。
【0028】
図3に示す例では、セラミック絶縁層1の薄層部1aの上下でセラミックコート層3とメタライズ配線層2との重なりの界面を同じ傾きの傾斜面とすることによって、薄層部1aの上下で対向しているセラミックコート層3とメタライズ配線層2との重なりの境界位置をずらせている。
【0029】
これにより、セラミック絶縁層1の薄層部1aにかかる厚み方向への局所的な応力集中をより一層効果的に緩和することができ、薄層部1aとなるグリーンシートの屈をより確実・効果的に防止し、配線基板4にクラック等の不具合が発生することをより一層効果的に防止することができる。
【0030】
このようにセラミック絶縁層1の上下で対向しているセラミックコート層3とメタライズ配線層2との重なりの境界位置をずらせる場合は、そのずれ量としては、0.1乃至0.3mmであることが好ましい。このずれ量が0.1mm未満である場合は、セラミック絶縁層1の薄層部1aの表裏における応力の分散を十分に得ることができなくなって、薄層部1aとなるグリーンシートの屈を効果的に防止することが困難となる。また、0.3mmを超えると、メタライズ配線層2の微細化による配線間隔の制約から、配線基板4の外形寸法の増大、もしくはセラミック絶縁層1内の配線密度の低下という、配線基板4の小型化に対して相反する副作用が生じることとなる。
【0031】
なお、セラミックコート層3とメタライズ配線層2との重なりの界面は、図2(a)および(b)に示すように階段状や段差状の面とする必要がある。図2(a)および(b)に示すように階段状や段差状の面としたことから、セラミックコート層3とメタライズ配線層2とが、それぞれ界面で噛み合うようにして重なるため、セラミックコート層3とメタライズ配線層2との界面での接合の強度が高くなり、メタライズ配線層2およびセラミックコート層3のセラミック絶縁層1に対する被着の信頼性が良好となる。
【0032】
また、メタライズ配線層2またはセラミックコート層3の重なり部分における表面粗さは、中心線平均粗さ(Ra)で1μm以上としておくことが好ましい。これは、メタライズ配線層2とセラミックコート層3との接合を十分に補強し、セラミックグリーンシートの微小な変形等に伴う応力によってメタライズ配線層2またはセラミックコート層3が境界部分で変形することをより一層効果的に防止し、配線基板4の信頼性をより一層優れたものとすることができるためである。
【0033】
メタライズ配線層2は、露出表面にニッケル・金等のめっき層を2〜20μm程度の厚さで被着させておくと、メタライズ配線層2の露出表面の酸化を防止するとともに、ボンディングワイヤや半田の接続を容易とし、接続信頼性を向上させることができる。従って、メタライズ配線層2は、露出表面にニッケル・金等のめっき層を2〜20μmの厚みに被着させておくことが好ましい。
【0034】
なお、本発明は上述の実施の形態の一例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲であれば、種々の変更は可能である。
【0035】
【発明の効果】
本発明の配線基板によれば、セラミック絶縁層の両面に上下で対向させて被着形成されたメタライズ配線層とこれに隣接するセラミックコート層との境界領域で、メタライズ配線層がセラミックコート層上に、またはセラミックコート層がメタライズ配線層上に、重なりの界面を階段状または段差状の面として重なっていることから、メタライズ配線層とセラミックコート層との境界でのグリーンシートの変形と、この変形に伴う応力がグリーンシートに直線状に集中することがなくなるため、グリーンシートの屈を効果的に防止し、配線基板にクラック等の不具合が発生することを効果的に防止することができる。また、セラミックコート層とメタライズ配線層との重なりの界面を階段状または段差状の面としていることから、セラミックコート層とメタライズ配線層とが、それぞれ界面で噛み合うようにして重なるため、セラミックコート層とメタライズ配線層との界面での接合の強度が高くなり、メタライズ配線層およびセラミックコート層のセラミック絶縁層に対する被着の信頼性が良好となる。
【0036】
また、セラミックコート層とメタライズ配線層との重なりの幅は、0.1〜0.3mmとしておくと、さらに効果的にグリーンシートの変形の集中を防止することができ、グリーンシートの屈をより一層効果的に防止することができる。
【0037】
また、セラミック絶縁層の上下で対向しているセラミックコート層とメタライズ配線層との重なりの境界位置がずれているときには、セラミック絶縁層にかかる厚み方向への局所的な応力集中をより一層効果的に緩和することができるので、厚みが50μm以下の薄層部となるグリーンシートについてもその屈をより確実・効果的に防止することができ、配線基板にクラック等の不具合が発生することをより一層効果的に防止することができる。
【0038】
以上により、本発明によれば、容量素子を内蔵するためのメタライズ配線層およびセラミックコート層が両面に被着されたセラミック絶縁層の厚みが50μm以下と薄くなったとしても、セラミック絶縁層にクラック等の不具合が生じることのない配線基板を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の配線基板の実施の形態の一例を示す断面図である。
【図2】(a)および(b)は、それぞれ本発明の配線基板の実施の形態の例を示す要部拡大断面図である。
【図3】本発明の配線基板の実施の形態の他の例を示す要部拡大断面図である。
【符号の説明】
1・・・セラミック絶縁層
1a・・薄層部
2・・・メタライズ配線層
3・・・セラミックコート層
4・・・配線基板

Claims (3)

  1. 厚みが50μm以下のセラミック絶縁層を積層して成り、前記セラミック絶縁層の少なくとも1層の両面にメタライズ配線層と、該メタライズ配線層の間隙を埋めるセラミックコート層とがそれぞれ対向させて被着されている配線基板において、前記メタライズ配線層とこれに隣接する前記セラミックコート層との境界領域で、前記メタライズ配線層が前記セラミックコート層上に、または前記セラミックコート層が前記メタライズ配線層上に、重なりの界面を階段状または段差状の面として重なっていることを特徴とする配線基板。
  2. 前記セラミックコート層と前記メタライズ配線層との重なりの幅は、0.1〜0.3mmであることを特徴とする請求項1記載の配線基板。
  3. 前記セラミック絶縁層の上下で対向している前記セラミックコート層と前記メタライズ配線層との重なりの境界位置がずれていることを特徴とする請求項1記載の配線基板。
JP2002173054A 2001-12-26 2002-06-13 配線基板 Expired - Fee Related JP3909269B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002173054A JP3909269B2 (ja) 2001-12-26 2002-06-13 配線基板

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001395091 2001-12-26
JP2001-395091 2001-12-26
JP2002173054A JP3909269B2 (ja) 2001-12-26 2002-06-13 配線基板

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003258425A JP2003258425A (ja) 2003-09-12
JP3909269B2 true JP3909269B2 (ja) 2007-04-25

Family

ID=28677188

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002173054A Expired - Fee Related JP3909269B2 (ja) 2001-12-26 2002-06-13 配線基板

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3909269B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2014141492A1 (ja) * 2013-03-11 2017-02-16 日本碍子株式会社 回路基板

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003258425A (ja) 2003-09-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8649155B2 (en) Electronic component including reinforcing electrodes
JP5550280B2 (ja) 多層配線基板
US6531806B1 (en) Chip-type piezoelectric component
US20080223606A1 (en) Ceramic Substrate and Method for Manufacturing the Same
US20190051463A1 (en) Composite electronic component and resistance element
US10186381B2 (en) Composite electronic component and resistance element
CN111863450B (zh) 中介体及包括该中介体的电子组件
KR20190058239A (ko) 적층 세라믹 커패시터 및 그 제조방법
US20230113966A1 (en) Electronic component and method for manufacturing electronic component
EP3678196B1 (en) Substrate for mounting electronic components, electronic device, and electronic module
JP3909269B2 (ja) 配線基板
JP3508905B2 (ja) 配線基板とその製造方法
JP6884062B2 (ja) 配線基板
JP3793565B2 (ja) 配線基板
JP3906086B2 (ja) 配線基板
JPH04257211A (ja) チップ型電子部品
JP2788656B2 (ja) 集積回路用パッケージの製造方法
JP3967951B2 (ja) 配線基板
WO2024202401A1 (ja) 積層セラミック電子部品
WO2023210465A1 (ja) 積層セラミックコンデンサ及び積層セラミックコンデンサの実装方法
WO2024202402A1 (ja) 積層セラミック電子部品
JP3881619B2 (ja) 配線基板
WO2024075427A1 (ja) 積層セラミックコンデンサ
JP3909285B2 (ja) 配線基板
JP4335393B2 (ja) 配線基板およびその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Effective date: 20040706

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A977 Report on retrieval

Effective date: 20061019

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061107

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061218

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Effective date: 20070116

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070122

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110126

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 4

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110126

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120126

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120126

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 6

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130126

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140126

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees