JP3861333B2 - 座標位置入力装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば、パーソナルコンピュータやワードプロセッサなどの情報機器の周辺機器として用いることが出来る座標位置入力装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図14を使用し従来技術について説明する。図14は従来の座標位置入力装置の概略を示す構成図であり、同図によると、操作者が指などで接触する基板101上にはx軸(水平)方向にx1〜xnの帯状抵抗体x(それぞれ抵抗値R)が配置してある。帯状抵抗体xの上端には抵抗体選択手段102aが、帯状抵抗体xの下端には抵抗体選択手段102bが接続され、抵抗体選択手段102aは充電制御手段103aに、抵抗体選択手段102bは充電制御手段103bに接続されている。充電制御手段103aは演算増幅器とコンデンサCaで構成されている第1の積分手段104aに接続され、充電制御手段103bは演算増幅器とコンデンサCbで構成されている第2の積分手段104bにも接続されている。制御手段105の指令により前記抵抗体選択手段102aは、帯状抵抗体xのただ一つを選択する。また、充電制御手段103aは第1の積分手段104aまたはリファレンス電圧(Vref)を切り替え、前記帯状抵抗体xと接続する。充電制御手段103bは第2の積分手段104bまたはリファレンス電圧(Vref)を切り替え、前記帯状抵抗体xと接続する。第1の積分手段104aおよび第2の積分手段104bの出力は、比較演算手段106によって各々の出力電圧が比較演算され、制御手段105に入力される。
【0003】
次に基板101の動作原理の詳細を説明する。図14に示したように帯状抵抗体xnに絶縁体(図示せず)を介して操作者の指107が触れられた場合の、指位置検出方法を図15に示したフローチャートに従い以下に示す。
【0004】
y軸(垂直)方向の指位置検出は、まず、ステップ111で、帯状抵抗体xを選択する変数iの初期値としてi=1とする。ステップ112では抵抗体選択手段102aおよび抵抗体選択手段102bで帯状抵抗体Xiを選択し、ステップ113で充電制御手段103aおよび充電制御手段103bによりリファレンス電圧を帯状抵抗体Xiに充電する。続いて、ステップ114で充電制御手段103aおよび充電制御手段103bにより抵抗体選択手段102aおよび抵抗体選択手段102bを、それぞれ第1の積分手段104aおよび第2の積分手段104bに接続し、ステップ115で帯状抵抗体Xiと第1の積分手段104aおよび第2の積分手段104bを切り離す。ステップ114とステップ115を実行している間、第1の積分手段104aおよび第2の積分手段104bによって積分が行われる。ステップ116で第1の積分手段104aの出力電圧Eoaiおよび第2の積分手段104bの出力電圧Eobiを検出する。続いてステップ117で帯状抵抗体Xiが最後まで選択されたかどうかを判断して、最後まで選択されていないときにはステップ118で変数iを1つ増やし、抵抗体選択手段102aおよび抵抗体選択手段102bで帯状抵抗体X2,X3,..,Xnと順次切り替えて、第1の積分手段104aの出力電圧Eoa2,Eoa3,..,Eoan、第2の積分手段104bの出力電圧Eob2,Eob3,..,Eobnを検出していく。最後にステップ117により帯状抵抗体xが最後まで選択されたら、ステップ119でx軸方向とy軸方向の座標位置を計算する。
【0005】
次に、指位置検出の原理について説明する。y軸方向の指位置検出は、帯状抵抗体Xiを選択したときの電圧EoaiおよびEobiは、帯状抵抗体にコンデンサが存在しないときにはリファレンス電圧が充電されずに
【0006】
【数1】
【0007】
となる。その時間変化は図16に示した無接触時の検出原理図のようになる(実際には回路の内部容量で電圧変動がみられるが図では省略する)。
【0008】
次に、帯状抵抗体xに操作者の指107が触れられているとき、指107から人体を通ってグラウンドに至る経路が一種のコンデンサ(容量C)となる。ここで、抵抗体選択手段102aから操作者の指107の触れた位置までの距離をy1i、抵抗をR1i、操作者の指107の触れた位置から抵抗体選択手段102bまでの距離をy2i、抵抗をR2iとし、コンデンサすなわち操作者の指107にかかる電圧をEc、第1の積分手段のコンデンサ容量をCa、第1の積分手段のコンデンサ容量をCbとすると、次の関係が成り立つ。
【0009】
【数2】
【0010】
【数3】
【0011】
また、出力電圧Eoaiは、
【0012】
【数4】
【0013】
となり、この時間変化は図17に示した指107で接触した時の検出原理図のようになる。
【0014】
出力電圧Eobiも同様に、
【0015】
【数5】
【0016】
となる。
【0017】
ここで第1の積分手段104aのコンデンサ容量Caと第2の積分手段104bのコンデンサ容量Cbが同一であるとき、(数4)および(数5)よりEoaiとEobiの比は、R1iとR2iによってのみ決まるため、指のy軸方向の位置は、(数3)の関係より求められる。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】
x軸方向の指位置検出は、帯状抵抗体Xiをスキャンして浮遊容量以上の過渡応答が存在するものを選び出す。指107の触れた帯状抵抗体Xiのうち設定した値以下の電圧値EoaiまたはEobiが検出できたもの(以下ONの抵抗体と略す)を選び出す。検出精度を高くとるために通常は指107の接触幅に比較して十分に細かい間隔で帯状抵抗体xを配置しているためONの抵抗体がただ1つであることは少なく、隣接してONの抵抗体が存在する。そして指107の圧力やx軸方向の指の相対位置によって隣接のONの抵抗体の数は変化する。これらのx座標値は平均あるいは指の形状を円形と仮定して中心位置などを求め、指の触れたx軸方向の位置とする。
【0019】
以上の従来例においては、精度の良い位置検出が出来ないという問題があった。
【0020】
本発明は、精度の良い位置検出が可能な座標位置入力装置を提供することを目的とする。
【0021】
【課題を解決するための手段】
この課題を解決するために本発明は、物体が接触または近接可能となるように、基板上に配設された複数の帯状抵抗体と、それらの帯状抵抗体の一つを選択する抵抗体選択手段と、同一のリファレンス電圧を持ち積分処理を行う第1の積分手段および第3の積分手段と、前記第1の積分手段および第3の積分手段のリファレンス電圧と異なる同一のリファレンス電圧を持ち積分処理を行う第2の積分手段および第4の積分手段と、前記抵抗体選択手段で選択された前記帯状抵抗体の一端に対して前記第1の積分手段または第2の積分手段の一方を選択して接続させる第1の積分選択手段と、前記帯状抵抗体の他端に対して前記第3の積分手段または第4の積分手段の一方を選択して接続させる前記第2の積分選択手段と、前記第1の積分手段、第2の積分手段、第3の積分手段および第4の積分手段による出力を利用して、前記帯状抵抗体における前記接触または近接の座標位置を求める座標位置演算手段とからなり、前記第1の積分手段および第3の積分手段を選択して前記抵抗体選択手段で選択された前記帯状抵抗体に接続することで、その帯状抵抗体にリファレンス電圧を印加し、前記第2の積分手段および第4の積分手段を選択して前記帯状抵抗体に接続することで、前記第1の積分手段および第3の積分手段のリファレンス電圧と前記第2の積分手段および第4の積分手段のリファレンス電圧との電圧差によって積分がおこり、次に、前記第1の積分手段および第3の積分手段を選択して前記帯状抵抗体に接続することで、前記第2の積分手段および第4の積分手段のリファレンス電圧と前記第1の積分手段および第3の積分手段のリファレンス電圧との電圧差によって積分がおこり、ここで前記第1の積分手段および第3の積分手段と、前記第2の積分手段および第4の積分手段とを複数回交互に選択することにより、積分を複数回行って前記座標位置演算手段で加算平均して座標位置を求めるようにするものである。
【0022】
この本発明によれば、精度の良い位置検出を可能とする座標位置入力装置が得られる。
【0023】
【発明の実施の形態】
本発明の請求項1に記載の発明は、物体が接触または近接可能となるように、基板上に配設された複数の帯状抵抗体と、それらの帯状抵抗体の一つを選択する抵抗体選択手段と、同一のリファレンス電圧を持ち積分処理を行う第1の積分手段および第3の積分手段と、前記第1の積分手段および第3の積分手段のリファレンス電圧と異なる同一のリファレンス電圧を持ち積分処理を行う第2の積分手段および第4の積分手段と、前記抵抗体選択手段で選択された前記帯状抵抗体の一端に対して前記第1の積分手段または第2の積分手段の一方を選択して接続させる第1の積分選択手段と、前記帯状抵抗体の他端に対して前記第3の積分手段または第4の積分手段の一方を選択して接続させる前記第2の積分選択手段と、前記第1の積分手段、第2の積分手段、第3の積分手段および第4の積分手段による出力を利用して、前記帯状抵抗体における前記接触または近接の座標位置を求める座標位置演算手段とからなり、前記第1の積分手段および第3の積分手段を選択して前記抵抗体選択手段で選択された前記帯状抵抗体に接続することで、その帯状抵抗体にリファレンス電圧を印加し、前記第2の積分手段および第4の積分手段を選択して前記帯状抵抗体に接続することで、前記第1の積分手段および第3の積分手段のリファレンス電圧と前記第2の積分手段および第4の積分手段のリファレンス電圧との電圧差によって積分がおこり、次に、前記第1の積分手段および第3の積分手段を選択して前記帯状抵抗体に接続することで、前記第2の積分手段および第4の積分手段のリファレンス電圧と前記第1の積分手段および第3の積分手段のリファレンス電圧との電圧差によって積分がおこり、ここで前記第1の積分手段および第3の積分手段と、前記第2の積分手段および第4の積分手段とを複数回交互に選択することにより、積分を複数回行って前記座標位置演算手段で加算平均して座標位置を求めることを特徴とする座標位置入力装置としたものであり、精度の良い位置検出が可能という作用を有する。
【0027】
請求項2に記載の発明は、請求項1記載の発明において、帯状抵抗体の長軸方向の座標位置については、前記帯状抵抗体の一部に近接する物体との容量が存在すると、前記第1の積分手段および第3の積分手段と、前記第2の積分手段および第4の積分手段とを交互に選択することにより電圧値の異なるリファレンス電圧が前記帯状抵抗体に印加され、その電圧差によって積分した各々の積分値を、座標位置演算手段で演算したものであり、また前記帯状抵抗体の短軸方向の座標位置については、前記帯状抵抗体に特定して電圧変化ないしは隣接帯状抵抗体相互の電圧変化により測定したものであり、座標位置演算手段で演算して前記帯状抵抗体の長軸方向および短軸方向の、物体の接触または近接した座標位置が得られるという作用を有する。
【0028】
請求項3に記載の発明は、物体が接触または近接可能となるように、基板上に配設された複数の帯状抵抗体と、前記帯状抵抗体のそれぞれの一端に接続されて電圧を印加したり切り離したりする第1のスイッチと、前記帯状抵抗体のそれぞれ一端と前記第1のスイッチに接続される第1の抵抗と、前記第1の抵抗に接続され積分処理を行う第1の積分手段と、前記第1の積分手段の入力側と前記第1の抵抗に接続される第2の抵抗と、前記第2の抵抗に接続され電圧を印加したり切り離したりする第2のスイッチと、前記帯状抵抗体のそれぞれの他端に接続されて電圧を印加したり切り離したりする第3のスイッチと、前記第3のスイッチに接続される第3の抵抗と、前記第3の抵抗に接続され積分処理を行う第2の積分手段と、前記第2の積分手段に接続される第4の抵抗と、前記第4の抵抗に接続され電圧を印加したり切り離したりする第4のスイッチと、前記第1の積分手段および第2の積分手段による出力を利用して、前記帯状抵抗体における前記接触または近接の座標位置を求める座標位置演算手段とを備え、前記第1〜第4のスイッチの開閉動作を複数回行うことにより、積分を複数回行って前記座標位置演算手段で加算平均して座標位置を求めることを特徴とする座標位置入力装置としたものであり、精度の良い位置検出が可能という作用を有する。
【0029】
請求項4に記載の発明は、請求項3記載の発明において、基板上に設けた複数の帯状抵抗体の一つを選択する抵抗体選択手段と、同一のリファレンス電圧を持つ第1の積分手段および第2の積分手段とを備え、前記第2のスイッチは任意の基準電圧Vaに接続され、前記第1のスイッチは基準電圧Vbに接続され、第4のスイッチは基準電圧Vaに接続され、第3のスイッチは基準電圧Vbに接続されているものであり、前記2組のスイッチを閉じたときに前記帯状抵抗体に電圧を印加し、スイッチを開いたときに前記抵抗の分圧値までの電圧差まで積分するという作用を有する。
【0030】
請求項5に記載の発明は、請求項3記載の発明において、基板上に設けた複数の帯状抵抗体と、前記帯状抵抗体の一つを選択する第1,第2の抵抗体選択手段と、同一のリファレンス電圧を持つ第1の積分手段および第2の積分手段と、前記第1の積分手段と第2の積分手段の入力側にそれぞれ一端が接続された第1の抵抗,第2の抵抗と、前記第1の抵抗および第2の抵抗に接続された第1,第2のスイッチと、第3の抵抗および第4の抵抗に接続された第3,第4のスイッチとを備え、前記第1の積分手段に接続された前記第1の抵抗に接続された第1のスイッチは基準電圧Vaまたは基準電圧Vbに選択して接続され、前記第2の抵抗に接続された第2のスイッチは基準電圧Vbまたは基準電圧Vaに選択して接続され、前記第2の積分手段に接続された前記第3の抵抗に接続された第3のスイッチは基準電圧Vaまたは基準電圧Vbに選択して接続され、前記第4の抵抗に接続された第4のスイッチは基準電圧Vbまたは基準電圧Vaに選択して接続され、前記第1のスイッチが基準電圧Vaで、前記第2のスイッチが基準電圧Vbの時、前記第3のスイッチが基準電圧Vaで、前記第4のスイッチが基準電圧Vbに選択して接続されると共に、前記第1のスイッチが基準電圧Vbで、前記第2のスイッチが基準電圧Vaの時、前記第3のスイッチが基準電圧Vbで、前記第4のスイッチが基準電圧Vaに選択して接続されるように交互に接続する構成としたものであり、前記2組のスイッチを閉じたときに前記帯状抵抗体に電圧を印加し、スイッチを開いたときに前記抵抗の分圧値までの電圧差まで積分し、前記スイッチに接続される電位を切り替えることにより感度を倍に取れるという作用を有する。
【0031】
請求項6に記載の発明は、物体が接触または近接可能となるように、基板上に配設された複数の帯状抵抗体と、前記帯状抵抗体のそれぞれの一端に接続されて電圧を印加したり切り離したりする第1のスイッチと、前記帯状抵抗体のそれぞれの一端と前記第1のスイッチに接続される第1の抵抗と、前記第1の抵抗に接続される第1の積分選択手段と、前記第1の積分選択手段の入力側と前記第1の抵抗に接続される第2の抵抗と、前記第2の抵抗に接続され電圧を印加したり切り離したりする第2のスイッチと、前記第1の積分選択手段に接続され積分処理を行う第1の積分手段と、前記第1,第2のスイッチを閉じたときの前記第1の抵抗と第2の抵抗の接続点の電圧をホールドする第1のホールド手段と、前記帯状抵抗体のそれぞれの他端に接続されて電圧を印加したり切り離したりする第3のスイッチと、前記第3のスイッチに接続される第3の抵抗と、前記第3の抵抗に接続される第2の積分選択手段と、前記第2の積分選択手段に接続される第4の抵抗と、前記第4の抵抗に接続され電圧を印加したり切り離したりする第4のスイッチと、前記第2の積分選択手段に接続され積分処理を行う第2の積分手段と、前記第3,第4のスイッチを閉じたときの前記第3の抵抗と第4の抵抗の接続点の電圧をホールドする第2のホールド手段と、前記第1の積分手段および第2の積分手段による出力を利用して、前記帯状抵抗体における前記接触または近接の座標位置を求める座標位置演算手段とを備え、前記第1〜第4のスイッチの開閉動作を複数回行うことにより、積分を複数回行って前記座標位置演算手段で加算平均することを特徴とする座標位置入力装置としたものであり、精度の良い位置検出が可能となる。
【0033】
請求項7に記載の発明は、請求項6記載の発明において、前記近接する物体の座標位置は、前記帯状抵抗体の長軸方向の座標位置については、前記帯状抵抗体の一部に近接する物体との容量が存在すると、前記スイッチを閉じたときに初期値が決まり、スイッチを開いたときに前記第1の積分手段および第2の積分手段により積分した積分値を、座標位置演算手段で演算したものであり、また前記帯状抵抗体の短軸方向の座標位置については、前記帯状抵抗体に特定して電圧変化ないしは隣接帯状抵抗体相互の電圧変化により測定したものであり、座標位置演算手段で演算して前記帯状抵抗体の長軸方向および短軸方向の、物体の接触または近接した座標位置が得られるという作用を有する。
【0034】
請求項8に記載の発明は、請求項6記載の発明において、前記物体の容量に応じて積分の回数を可変して加算平均する制御を行うとしたものであり、前記物体の容量が如何なる場合でも検出レベルが適正であり高精度の検出が可能になるという作用を有する。
【0035】
請求項9に記載の発明は、請求項8記載の発明において、積分回数を1回もしくは数回ずつ増やしていって設定した値を超えたときの回数より積分処理の回数を決定するとしたものであり、前記物体の容量が如何なる場合でも検出レベルが適正であり高精度の検出が可能となるという作用を有する。
【0036】
請求項10に記載の発明は、請求項8記載の発明において、積分回数をテーブルに登録しておき、テーブルに登録された値だけ積分していき、設定した値を超えたときの回数より積分処理の回数を決定することとしたものであり、前記物体の容量が如何なる場合でも検出レベルが適正であり高精度の検出が可能となるという作用を有する。
【0037】
請求項11に記載の発明は、請求項8記載の発明において、積分を1回もしくは複数回行った値から検出レベルが適正な積分回数を演算して求めることとしたものであり、前記物体の容量が如何なる場合でも検出レベルが適正であり高精度の検出が可能となるという作用を有する。
【0038】
以下、本発明の実施の形態について、図1から図9を用いて説明する。
(実施の形態1)
図1は本発明の座標位置入力装置の概略を示す説明図であり、同図によると、操作者が指6などで接触する基板1上にはx軸(水平)方向にX1〜Xnの帯状抵抗体X(それぞれ抵抗R)が配置してある。帯状抵抗体Xの上端には抵抗体選択手段2aを、帯状抵抗体Xの下端には抵抗体選択手段2bを接続し、抵抗体選択手段2aは積分選択手段3aに、抵抗体選択手段2bは積分選択手段3bに接続している。積分選択手段3aは第1の積分手段4aおよび第2の積分手段4bにも接続し、セレクト信号によって前記第1の積分手段4aまたは第2の積分手段4bを選択して前記抵抗体選択手段2aと接続する。同様に積分選択手段3bは第3の積分手段4cおよび第4の積分手段4dにも接続し、セレクト信号によって前記第3の積分手段4cまたは第4の積分手段4dを選択して前記抵抗体選択手段2bと接続する。前記第1の積分手段4a、第2の積分手段4b、第3の積分手段4cおよび第4の積分手段4dは演算増幅器とコンデンサCsとスイッチで構成され、各々の出力は座標位置演算手段5に入力されている。また、第1の積分手段4aおよび第3の積分手段4cのリファレンス電圧はV1であり、第2の積分手段4bおよび第4の積分手段4dのリファレンス電圧はV2である。なお、セレクト信号で選択される積分手段は、第1の積分手段4aおよび第3の積分手段4cと、第2の積分手段4bおよび第4の積分手段4dとが対になっている。
【0039】
次に基板1の動作原理の詳細を説明する。図1に図示したように帯状抵抗体Xnに絶縁体(図示せず)を介して操作者の指6が触れられた場合の、指位置検出方法を図2に示したフローチャートに従い以下に示す。
【0040】
y軸(垂直)方向の指位置検出は、まず、ステップ11で、帯状抵抗体Xを選択する変数iの初期値としてi=1とする。ステップ12では抵抗体選択手段2aおよび抵抗体選択手段2bで帯状抵抗体Xiを選択し、ステップ13で第1の積分手段4aから第4の積分手段4dまでの全ての積分手段4a〜4dをクリア信号を送って出力を初期化する。ステップ14でセレクト信号によって積分選択手段3aは第1の積分手段4aを選択し、第1の積分手段4aを前記帯状抵抗体Xiに接続する。また、積分選択手段3bも同様にセレクト信号によって第3の積分手段4cを選択し、第3の積分手段4cを前記帯状抵抗体Xiに接続する。ステップ15でクリア信号を解除し、ステップ16でセレクト信号によって積分選択手段3aは第2の積分手段4bを選択し、第2の積分手段4bを前記帯状抵抗体Xiに接続する。積分選択手段3bも同様にセレクト信号によって第4の積分手段4dを選択し、第4の積分手段4dを前記帯状抵抗体Xiに接続する。前記帯状抵抗体Xiに第2の積分手段4bおよび第4の積分手段4dが接続されたときに、第1の積分手段4aおよび第3の積分手段4cのリファレンス電圧V1に充電されている帯状抵抗体Xiと、第2の積分手段4bおよび第4の積分手段4dのリファレンス電圧V2との電圧差により積分が行われる。ステップ17で第2の積分手段4bの出力電圧E2iおよび第4の積分手段4dの出力電圧E4iを検出する。
【0041】
次にステップ18でセレクト信号によって積分選択手段3aは第1の積分手段4aを選択し、第1の積分手段4aを前記帯状抵抗体Xiに接続する。また、積分選択手段3bも同様にセレクト信号によって第3の積分手段4cを選択し、第3の積分手段4cを前記帯状抵抗体Xiに接続する。前記帯状抵抗体Xiに第1の積分手段4aおよび第3の積分手段4cが接続されたときに、第2の積分手段4bおよび第4の積分手段4dのリファレンス電圧V2に充電されている帯状抵抗体Xiと、第1の積分手段4aおよび第3の積分手段4cのリファレンス電圧V1との電圧差により積分が行われる。ステップ19で第1の積分手段4aの出力電圧E1iおよび第3の積分手段4cの出力電圧E3iを検出する。続いてステップ20で帯状抵抗体Xiが最後まで選択されたかどうかを判断して、最後まで選択されていないときにはステップ21で変数iを1つ増やし、抵抗体選択手段2aおよび抵抗体選択手段2bで帯状抵抗体X2,X3,..,Xnと順次切り替えて、第1の積分手段4aの出力電圧E12,E13,..,E1n、第2の積分手段4bの出力電圧E22,E23,..,E2n、第3の積分手段4cの出力電圧E32,E33,..,E3n、および第4の積分手段4dの出力電圧E42,E43,..,E4nを検出していく。最後にステップ20により帯状抵抗体Xiが最後まで選択されたら、ステップ22でx軸方向とy軸方向の座標位置を計算する。
【0042】
次に、指位置検出の原理について説明する。y軸方向の指位置検出は、帯状抵抗体xiを選択したときに第2の積分手段4bおよび第4の積分手段4dの出力電圧E2iおよびE4iは、帯状抵抗体にコンデンサが存在しないときには
【0043】
【数6】
【0044】
【数7】
【0045】
となる。その時間変化は図3(a)に示した信号タイミング図および図3(b)に示した無接触時の検出原理図のようになる(実際には回路の内部容量で電圧変動がみられるが図では省略する)。
【0046】
次に、帯状抵抗体Xに操作者の指6が触れられているとき、指6から人体を通ってグラウンドに至る経路が一種のコンデンサ(容量C)となる。ここで、抵抗体選択手段2aから操作者の指6の触れた位置までの距離をy1i、抵抗をR1i、操作者の指6の触れた位置から抵抗体選択手段2bまでの距離をy2i、抵抗をR2iとし、指に加えられた電圧をEc(Ecの初期値はリファレンス電圧V1とリファレンス電圧V2の差V1−V2)、積分手段のコンデンサ容量をCsとすると、次の関係が成り立つ。
【0047】
【数8】
【0048】
【数9】
【0049】
また、出力電圧E1iは、
【0050】
【数10】
【0051】
出力電圧E2iは、
【0052】
【数11】
【0053】
と近似され、この時間変化は図3(c)に示した接触時の検出原理図のようになる。
【0054】
出力電圧E3i、出力電圧E4iも同様に
【0055】
【数12】
【0056】
【数13】
【0057】
となる。
【0058】
ここで(数10)および(数12)よりE1iとE3iの比は、R1iとR2iによってのみ決まり、また(数11)および(数13)よりE2iとE4iの比も、R1iとR2iによってのみ決まるため、指6のy軸方向の位置は、(数10)と(数12)または、(数11)と(数13)から(数9)の関係より求められる。
【0059】
なお、(数10)と(数11)、(数12)と(数13)は、リファレンス電圧からの出力電圧の変化が互いに極性が反対になっているので、その全ての値を使用することにより前記方式よりも感度を2倍にすることもできる。
【0060】
x軸方向の指位置検出は、帯状抵抗体Xiをスキャンして浮遊容量以上の過渡応答が存在するものを選び出す。指6の触れた帯状抵抗体Xiのうち設定した値以上の変化をした電圧値E1i,E2i,E3i,E4iが検出できたもの(以下ONの抵抗体と略す)を選び出す。検出精度を高くとるために通常は指6の接触幅に比較して十分に細かい間隔で帯状抵抗体を配置しているためONの抵抗体がただ1つであることは少なく、隣接してONの抵抗体が存在する。そして指の圧力やx軸方向の指の相対位置によって隣接のONの抵抗体の数は変化する。これらのx座標値は平均あるいは指6の形状を円形と仮定して中心位置などを求め、指の触れたx軸方向の位置とする。
【0061】
なお、実施の形態1では、第1の積分手段4a、第2の積分手段4b、第3の積分手段4cおよび第4の積分手段4dの動作としてそれぞれ積分を1回だけ行った例を示したが、図4(a)に示した信号タイミング図および図4(b)に示した接触時の検出原理図のように積分を多数回(図4では3回)行って加算平均することで、さらに精度を上げることができる。
【0062】
また、実施の形態1では、第1の積分手段4a、第2の積分手段4b、第3の積分手段4cおよび第4の積分手段4dの構成を演算増幅器とコンデンサとスイッチを用いたが、他の回路構成で積分手段を構成しても良い。
【0063】
なお、実施の形態1では操作者の指6で説明を行ったが、帯状抵抗体X間のピッチよりも大きい接触範囲を持つ導電性のペンを用いても同様の効果を有する。
【0064】
(実施の形態2)
以下、本発明にかかる座標位置入力装置の実施の形態について説明する。
【0065】
図5は本発明の座標位置入力装置の概略を示す説明図であり、同図によると、本実施の形態2は前述実施の形態1の構成に、スイッチ31a、スイッチ31b、スイッチ31c、スイッチ31dおよび第1の抵抗32a、第2の抵抗32b、第3の抵抗32c、第4の抵抗32dを設け、積分手段を第1の積分手段および第2の積分手段にした構成としている。抵抗体選択手段2aには、スイッチ31aおよび第1の抵抗32aが接続され、前記スイッチ31aの他端はグラウンド(基準電圧Vb)に接続されている。前記第1の抵抗32aの他端には、第2の抵抗32bおよびリファレンス電圧V3を持つ第1の積分手段33aが接続されている。前記第2の抵抗32bの他端にはスイッチ31bが接続され、前記スイッチ31bの他端は電源(基準電圧Va)に接続されている。抵抗体選択手段2bには、スイッチ31cおよび第3の抵抗32cが接続され、前記スイッチ31cの他端はグラウンドに接続されている。前記第3の抵抗32cの他端には、第4の抵抗32dおよびリファレンス電圧V3を持つ第2の積分手段33bが接続されている。前記第4の抵抗32dの他端にはスイッチ31dが接続され、前記スイッチ31dの他端は電源に接続されている。前記第1の積分手段33aおよび第2の積分手段33bの出力は座標位置演算手段34に入力されている。
【0066】
前記スイッチ31aおよびスイッチ31cは積分信号によって、抵抗体選択手段2a、抵抗体選択手段2bと第1の抵抗32a、第3の抵抗32cのそれぞれ一端をグラウンドに接続し、帯状抵抗体xの電圧をグラウンドにする。また、スイッチ31bおよびスイッチ31dは、積分手段によって第2の抵抗32bおよび第4の抵抗32dのそれぞれ一端を電源に接続し、前記第1の抵抗32aと第2の抵抗32bの分圧が第1の積分手段33aに入力され、前記第3の抵抗32cと第4の抵抗32dの分圧が第2の積分手段33bに入力される。
【0067】
次に動作について図6のフローチャートに従い説明する。y軸(垂直)方向の指位置検出は、まず、ステップ41で、帯状抵抗体xを選択する変数iの初期値としてi=1とする。ステップ42では抵抗体選択手段2aおよび抵抗体選択手段2bで帯状抵抗体xiを選択し、ステップ43で第1の積分手段33aおよび第2の積分手段33bをクリア信号を送って出力を初期化する。ステップ44でスイッチ31a、スイッチ31b、スイッチ31cおよびスイッチ31dを積分信号により閉じる。帯状抵抗体xiにはグラウンドの電位が印加され、第1の積分手段33aには第1の抵抗32aと第2の抵抗32bの分圧が入力され、第2の積分手段33bには第3の抵抗32cと第4の抵抗32dの分圧が入力される。このときリファレンス電圧V3は、それぞれの分圧と等しい電圧である。ステップ45でクリア信号を解除し、ステップ46でスイッチ31a、スイッチ31b、スイッチ31c、スイッチ31dを開くと積分動作がおこる。ステップ47で第1の積分手段33aおよび第2の積分手段33bの出力電圧E5iおよびE6iを測定する。
【0068】
続いてステップ48で帯状抵抗体xが最後まで選択されたかどうかを判断して、最後まで選択されていないときにはステップ49で変数iを1つ増やし、抵抗体選択手段2aおよび抵抗体選択手段2bで帯状抵抗体X2,X3,..,Xnと順次切り替えて、第1の積分手段33aの出力電圧E52,E53,..,E5n、第2の積分手段33bの出力電圧E62,E63,..E6nを検出していく。最後にステップ48により帯状抵抗体Xiが最後まで選択されたら、ステップ50でx軸方向とy軸方向の座標位置を計算する。
【0069】
次に、指位置検出の原理について説明する。y軸方向の指位置検出は、帯状抵抗体Xiを選択したときの出力電圧E5iおよびE6iは、帯状抵抗体にコンデンサが存在しないときには
【0070】
【数14】
【0071】
となる。その時間変化は図7(a)に示した信号タイミング図および図7(b)に示した無接触時の検出原理図のようになる(実際には回路の内部容量で電圧変動がみられるが図では省略する)。
【0072】
次に、帯状抵抗体Xに操作者の指6が触れられているとき、指6から人体を通ってグラウンドに至る経路が一種のコンデンサ(容量C)となる。抵抗32aおよび抵抗32bの抵抗値をRs、抵抗体選択手段2aから操作者の指6の触れた位置までの距離をy1i、抵抗をR1i、操作者の指6が触れられた位置から抵抗体選択手段2bまでの距離をy2i、抵抗をR2iとし、コンデンサにかかる電圧をEc、積分手段のコンデンサ容量をCsとすると次の関係が成り立つ。
【0073】
【数15】
【0074】
【数16】
【0075】
また、電圧E5iは、
【0076】
【数17】
【0077】
となり、この時間変化は図7(c)に示した接触時の検出原理図のようになる。
【0078】
電圧E6iも同様に
【0079】
【数18】
【0080】
となる。
【0081】
ここで(数17)および(数18)より、E5iとE6iの比は、R1iとR2iによってのみ決まるため、指6のy軸方向の位置は、(数16)の関係より求められる。
【0082】
x軸方向の指位置検出は、帯状抵抗体Xiをスキャンして浮遊容量以上の過渡応答が存在するものを選び出す。指6の触れた帯状抵抗体xiのうち設定した値以上の電圧値E5iまたはE6iが検出できたもの(以下ONの抵抗体と略す)を選び出す。検出精度を高くとるために通常は指6の接触幅に比較して十分に細かい間隔で帯状抵抗体Xを配置しているためONの抵抗体がただ一つであることは少なく、隣接してONの抵抗体が存在する。そして指6の圧力やx軸方向の指の相対位置によって隣接のONの抵抗体の数は変化する。これらのx座標値は平均あるいは指6の形状を円形と仮定して中心位置などを求め、指6の触れたx軸方向の位置とする。
【0083】
以上のように実施の形態2によれば、前述実施の形態1と同様の効果が得られる。しかも、実施の形態1の場合では積分選択手段で信号を切り替えて積分を行うことで積分選択手段に電流が流れるためにスイッチングノイズの発生がおこる可能性があるが、実施の形態2では積分を行うときには、前述スイッチ31a、スイッチ31b、スイッチ31cおよびスイッチ31dには電流が流れないためにスイッチングノイズの発生がおきないといった効果もある。
【0084】
なお、実施の形態2では、基準電圧Vaを電源、基準電圧Vbをグラウンドに接続しているが、任意の電圧に接続してもかまわない。
【0085】
また、実施の形態2では前述実施の形態1と同様に、第1の積分手段33aおよび第2の積分手段33bの動作としてそれぞれ積分を1回だけ行った例を示したが、図8(a)および(b)に示すように積分を多数回(図4では3回)行って加算平均することで、さらに精度を上げることができる。
【0086】
さらに、実施の形態2では前述実施の形態1と同様に、第1の積分手段33aおよび第2の積分手段33bの構成を演算増幅器とコンデンサとスイッチを用いたが、他の回路構成で積分手段を構成してもかまわない。
【0087】
なお、実施の形態2では前述実施の形態1と同様に操作者の指6で説明を行ったが、帯状抵抗体間のピッチよりも大きい接触範囲を持つ導電性のペンを用いても同様の効果を有する。
【0088】
また、前述スイッチ31a、スイッチ31b、スイッチ31cおよびスイッチ31dに接続する基準電圧Vaおよび基準電圧Vbを固定にせずに制御する回路構成にし、最初のステップとしてスイッチ31aおよびスイッチ31cを基準電圧Vbに接続し、スイッチ31bおよびスイッチ31dを基準電圧Vaに接続して測定する。次のステップとしてスイッチ31aおよびスイッチ31cを基準電圧Vaに接続し、スイッチ31bおよびスイッチ31dを基準電圧Vbに接続して測定すれば、最初のステップの測定結果と次のステップの測定結果とがリファレンス電圧に対して逆方向に信号が出ているので2倍の精度で測定でき、前述実施の形態1と同様の精度を得られるといった効果を有する。
【0089】
なお、前述スイッチ31a、スイッチ31b、スイッチ31cおよびスイッチ31dを、電界効果トランジスタやスリーステートバッファやアナログスイッチなどで構成してもかまわない。
【0090】
(実施の形態3)
以下本発明にかかる座標位置入力装置の実施の形態3について説明する。
【0091】
図9は本発明の座標位置入力装置の概略を示す構成図であり、同図によると、実施の形態3は前述実施の形態2の構成に、第1の選択手段61aおよび第2の選択手段61bと、第1の積分手段62aおよび第2の積分手段62bを設け、第1の積分手段62aのリファレンス電圧を印加する代わりにホールド手段63aを設け、同様に第2の積分手段62bのリファレンス電圧を印加する代わりにホールド手段63bを設けた構成としている。
【0092】
第1の選択手段61aは、スイッチ31aおよびスイッチ31bが閉じているときに、第1の積分手段62aのリファレンス電圧側に接続されたホールド手段63aに接続する。また、第2の選択手段61bは、スイッチ31cおよびスイッチ31dが閉じているときに、第2の積分手段62bのリファレンス電圧側に接続されたホールド手段63bに接続する。
【0093】
従って、第1の選択手段61aによってホールド手段63aに充電され、抵抗32aと抵抗32bによる分圧と、リファレンス電圧を同一に設定する必要がなくなる。同様に第2の選択手段61bによってホールド手段63bに充電され、抵抗32cと抵抗32dによる分圧と、リファレンス電圧を同一に設定する必要がなくなる。
【0094】
以上のように実施の形態3によれば、抵抗がばらついたり、積分手段のリファレンス電圧を調整しなくても、上記実施の形態2と同様の出力を得ることができるものである。
【0095】
なお、実施の形態3では、ホールド手段63aおよびホールド手段63bの構成をコンデンサを用いたが、他の回路構成でホールド手段を構成してもかまわない。
【0096】
(実施の形態4)
以下本発明にかかる座標位置入力装置の実施の形態4について説明する。なお構成については、実施の形態2に記載の座標位置入力装置と同一であるので省略し、動作について図10、図11のフローチャートに従い説明する。なお、積分動作については、実施の形態2と同一の動作であるため詳細な説明は省略する。
【0097】
ステップ65で積分回数の最大値である定数MAXを変数nに代入する。次にステップ66で積分回数n回の積分を行う。ステップ67ではステップ66で積分した値を積分初期値とする。ステップ68でギアチェンジフラグがONかどうか判断し、ギアチェンジフラグがOFFであれば、ステップ69で積分回数n回の積分を行う。ステップ70で積分値がレンジオーバーすなわち測定範囲を超えていないかどうかを判断し、レンジオーバーしていないならば、ステップ71で積分の変化値すなわち積分初期値から現在の積分値の差が設定した値よりも小さいかどうか判断し、大きければステップ72で座標位置の計算を行う。続いてステップ68に戻り繰り返していく。
【0098】
次に、前記ステップ70で積分値がレンジオーバーしたときには、ステップ73でギアチェンジフラグをONにして、ステップ68に戻る。
【0099】
前記ステップ71で積分変化値が設定値よりも小さいときには、ステップ74で変数nが定数MAXと同じかどうかを判断し、同じならステップ75で指6が触れられてONしたかどうかの判定を行い、ONしていると判断するとステップ72で座標位置を計算する。
【0100】
前記ステップ74で変数nと定数MAXが等しくないときには、ステップ76でギアチェンジフラグをONにして、ステップ68に戻る。
【0101】
前記ステップ68でギアチェンジフラグがONの時は、ステップ77でギアチェンジ処理を行い、ステップ78でギアチェンジフラグをOFFにして、ステップ69を実行する。
【0102】
次に前記ステップ77のギアチェンジ処理の動作について、図11のフローチャートに従い説明する。ステップ79で変数nに2を代入する。ステップ80で積分回数n回の積分を行い、ステップ81で積分値がレンジオーバーしていないか判断し、レンジオーバーしていなければステップ82で変数nと定数MAXが同じかどうか判断し、違う場合はステップ83で変数nにn+1を代入して、ステップ80へ戻る。
【0103】
前記ステップ81で積分値がレンジオーバーした場合には、ステップ84で変数nにn−1を代入して、ギアチェンジ処理を終了する。前記ステップ82で変数nが定数MAXと同じ場合、ギアチェンジ処理を終了する。
【0104】
以上のように実施の形態4によれば、前述実施の形態2と同様の効果が得られる。しかも、実施の形態2の場合で積分を多数回行う方式では、接触する指6の容量が過大になると検出範囲を超えてしまう可能性があるが、実施の形態4では接触する指の容量が過大でも、容量に応じた適正な積分回数を設定し検出範囲内に積分値がくるため安定して検出が行えるという効果もある。
【0105】
なお、実施の形態4では、積分回数すなわち変数nの値を1つずつ増やしているが、変数nの値を複数回ずつ増やしても同様の効果を有する。
【0106】
(実施の形態5)
以下本発明にかかる座標位置入力装置の実施の形態5について説明する。なお、構成および動作の一部については実施の形態4と同じであるので省略し、実施の形態4と異なるギアチェンジ処理の動作について、図12(a)のフローチャートおよび図12(b)のテーブル図に従い説明する。
【0107】
ステップ85では変数iに2を代入する。ステップ86では変数nにテーブルi番目の値を代入する。ステップ87で積分回数n回の積分を行う。ステップ88では積分値がレンジオーバーしていないかどうか判断し、レンジオーバーしていなければ、ステップ89で変数nと定数MAXが同じかどうか判断し、同じでなければステップ90で変数iにi+1を代入して、ステップ86へ戻る。
【0108】
前記ステップ88で積分値がレンジオーバーした場合、ステップ91で変数nにテーブル(i−1)番目の値を代入して、ギアチェンジ処理を終了する。前記ステップ89で変数nが定数MAXと同じ場合、ギアチェンジ処理を終了する。
【0109】
以上のように実施の形態5によれば、前述実施の形態4と同様の効果が得られる。しかも、実施の形態4の場合でギアチェンジ処理を行う方式では、積分を1回ずつ増加していくため時間がかかってしまうが、実施の形態5では積分回数をテーブルで設定するので積分をする回数は少なくてすむために、時間は短縮できるという効果も有する。
【0110】
(実施の形態6)
以下本発明にかかる座標位置入力装置の実施の形態6について説明する。なお、構成および動作の一部については実施の形態4と同じであるので省略し、実施の形態4と異なるギアチェンジ処理の動作について、図13のフローチャートに従い説明する。
【0111】
ステップ92で変数nに1を代入する。ステップ93で積分回数n回の積分を行う。ステップ94で適正な積分回数を計算し、変数nに代入する。ステップ95で変数nと定数MAXとを比較し、変数nが定数MAXよりも大きいとき、ステップ96で変数nに定数MAXを代入して、ギアチェンジ処理を終了する。前記ステップ95で変数nが定数MAXよりも小さいか同じときは、ギアチェンジ処理を終了する。
【0112】
前記ステップ94での適正な積分回数の計算は、初期値からある設定した値の差を積分変化値で割った値が積分回数となる。
【0113】
以上のように実施の形態6によれば、前述実施の形態4と同様の効果が得られる。しかも、実施の形態4の場合でギアチェンジ処理を行う方式では、積分を1回ずつ増加していくため時間がかかってしまうが、実施の形態6では積分回数を1回だけ行って、計算で適正な積分回数を求めるために、時間は短縮できるという効果も有する。
【0114】
なお、実施の形態6では積分を1回だけ行ったが、複数回積分を行っても同様の効果を有する。
【0115】
なお、実施の形態4、実施の形態5および実施の形態6では、実施の形態2の構成および積分動作について示したが、実施の形態1および実施の形態3でも同様の効果を有する。
【0116】
また、実施の形態1では、帯状抵抗体xのただ一つを選択する抵抗体選択手段2a,2bを使用する場合について説明したが、上記抵抗体選択手段は、使用しなくても良い。この場合、第1の積分手段、第2の積分手段、第3の積分手段および第4の積分手段と積分選択手段は、帯状抵抗体xの数と同じ数だけ、各帯状抵抗体xに接続されている必要がある。このようにしても上記と同様の効果が得られる。
【0117】
また、実施の形態2および実施の形態3では、帯状抵抗体xのただ一つを選択する抵抗体選択手段2a,2bを使用する場合について説明したが、上記抵抗体選択手段2a,2bは、使用しなくても良い。この場合、第1の積分手段および第2の積分手段と各抵抗と各スイッチは、帯状抵抗体の数と同じ数だけ、各帯状抵抗体に接続されている必要がある。このようにしても上記と同様の効果が得られる。
【0118】
【発明の効果】
以上の説明からも明らかなように本発明は、従来に比べてより一層精度の良い座標位置を検出することができるという有利な効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明における実施の形態1の座標位置入力装置の概略を示す構成図
【図2】同フローチャート
【図3】(a)同装置の信号タイミング図
(b)同装置の無接触時の検出原理図
(c)同装置の接触時の検出原理図
【図4】(a)同装置の別の信号タイミング図
(b)同装置の接触時の検出原理図
【図5】本発明の実施の形態2の座標位置入力装置の概略を示す構成図
【図6】同フローチャート
【図7】(a)同装置の信号タイミング図
(b)同装置の無接触時の検出原理図
(c)同装置の接触時の検出原理図
【図8】(a)同装置の別の信号タイミング図
(b)同装置の接触時の検出原理図
【図9】本発明の実施の形態3の座標位置入力装置の概略を示す構成図
【図10】本発明の実施の形態4の座標位置入力装置のフローチャート
【図11】同装置のギアチェンジ処理のフローチャート
【図12】(a)本発明の実施の形態5の座標位置入力装置のギアチェンジ処理のフローチャート
(b)同装置のテーブル図
【図13】本発明の実施の形態6の座標位置入力装置のギアチェンジ処理のフローチャート
【図14】従来例における座標位置入力装置の概略を示す構成図
【図15】同フローチャート
【図16】同装置の無接触時の検出原理図
【図17】同装置の接触時の検出原理図
【符号の説明】
1 基板
2a,2b 抵抗体選択手段
3a,3b 積分選択手段
4a 第1の積分手段
4b 第2の積分手段
4c 第3の積分手段
4d 第4の積分手段
5 座標位置演算手段
31a,31b,31c,31d スイッチ
32a,32b,32c,32d 抵抗
33a 第1の積分手段
33b 第2の積分手段
34 座標位置演算手段
61a,61b 積分選択手段
62a 第1の積分手段
62b 第2の積分手段
63a,63b ホールド手段
Claims (11)
- 物体が接触または近接可能となるように、基板上に配設された複数の帯状抵抗体と、それらの帯状抵抗体の一つを選択する抵抗体選択手段と、同一のリファレンス電圧を持ち積分処理を行う第1の積分手段および第3の積分手段と、前記第1の積分手段および第3の積分手段のリファレンス電圧と異なる同一のリファレンス電圧を持ち積分処理を行う第2の積分手段および第4の積分手段と、前記抵抗体選択手段で選択された前記帯状抵抗体の一端に対して前記第1の積分手段または第2の積分手段の一方を選択して接続させる第1の積分選択手段と、前記帯状抵抗体の他端に対して前記第3の積分手段または第4の積分手段の一方を選択して接続させる前記第2の積分選択手段と、前記第1の積分手段、第2の積分手段、第3の積分手段および第4の積分手段による出力を利用して、前記帯状抵抗体における前記接触または近接の座標位置を求める座標位置演算手段とからなり、前記第1の積分手段および第3の積分手段を選択して前記抵抗体選択手段で選択された前記帯状抵抗体に接続することで、その帯状抵抗体にリファレンス電圧を印加し、前記第2の積分手段および第4の積分手段を選択して前記帯状抵抗体に接続することで、前記第1の積分手段および第3の積分手段のリファレンス電圧と前記第2の積分手段および第4の積分手段のリファレンス電圧との電圧差によって積分がおこり、次に、前記第1の積分手段および第3の積分手段を選択して前記帯状抵抗体に接続することで、前記第2の積分手段および第4の積分手段のリファレンス電圧と前記第1の積分手段および第3の積分手段のリファレンス電圧との電圧差によって積分がおこり、ここで前記第1の積分手段および第3の積分手段と、前記第2の積分手段および第4の積分手段とを複数回交互に選択することにより、積分を複数回行って前記座標位置演算手段で加算平均して座標位置を求めることを特徴とする座標位置入力装置。
- 近接する物体の座標位置は、前記帯状抵抗体の長軸方向の座標位置については、前記帯状抵抗体の一部に近接する物体との容量が存在すると、前記第1の積分手段および第3の積分手段と、前記第2の積分手段および第4の積分手段とを交互に選択することにより電圧値の異なるリファレンス電圧が前記帯状抵抗体に印加され、その電圧差によって積分した各々の積分値を、座標位置演算手段で演算して得ることができ、前記帯状抵抗体の短軸方向の座標位置については、前記帯状抵抗体に特定して電圧変化ないしは隣接帯状抵抗体相互の電圧変化により測定して得ることができることを特徴とする請求項1記載の座標位置入力装置。
- 物体が接触または近接可能となるように、基板上に配設された複数の帯状抵抗体と、前記帯状抵抗体のそれぞれの一端に接続されて電圧を印加したり切り離したりする第1のスイッチと、前記帯状抵抗体のそれぞれ一端と前記第1のスイッチに接続される第1の抵抗と、前記第1の抵抗に接続され積分処理を行う第1の積分手段と、前記第1の積分手段の入力側と前記第1の抵抗に接続される第2の抵抗と、前記第2の抵抗に接続され電圧を印加したり切り離したりする第2のスイッチと、前記帯状抵抗体のそれぞれの他端に接続されて電圧を印加したり切り離したりする第3のスイッチと、前記第3のスイッチに接続される第3の抵抗と、前記第3の抵抗に接続され積分処理を行う第2の積分手段と、前記第2の積分手段に接続される第4の抵抗と、前記第4の抵抗に接続され電圧を印加したり切り離したりする第4のスイッチと、前記第1の積分手段および第2の積分手段による出力を利用して、前記帯状抵抗体における前記接触または近接の座標位置を求める座標位置演算手段とを備え、前記第1〜第4のスイッチの開閉動作を複数回行うことにより、積分を複数回行って前記座標位置演算手段で加算平均して座標位置を求めることを特徴とする座標位置入力装置。
- 基板上に設けた複数の帯状抵抗体の一つを選択する抵抗体選択手段と、同一のリファレンス電圧を持つ第1の積分手段および第2の積分手段とを備え、前記第2のスイッチは任意の基準電圧Vaに接続され、前記第1のスイッチは基準電圧Vbに接続され、第4のスイッチは基準電圧Vaに接続され、前記第3のスイッチは基準電圧Vbに接続されていることにより、前記2組のスイッチを閉じたときに前記帯状抵抗体に電圧を印加し、スイッチを開いたときに前記抵抗の分圧値までの電圧差まで積分することを特徴とする請求項3記載の座標位置入力装置。
- 基板上に設けた複数の帯状抵抗体と、前記帯状抵抗体の一つを選択する第1,第2の抵抗体選択手段と、同一のリファレンス電圧を持つ第1の積分手段および第2の積分手段と、前記第1の積分手段と第2の積分手段の入力側にそれぞれ一端が接続された第1の抵抗,第2の抵抗と、前記第1の抵抗および第2の抵抗に接続された第1,第2のスイッチと、第3の抵抗および第4の抵抗に接続された第3,第4のスイッチとを備え、前記第1の積分手段に接続された前記第1の抵抗に接続された第1のスイッチは基準電圧Vaまたは基準電圧Vbに選択して接続され、前記第2の抵抗に接続された第2のスイッチは基準電圧Vbまたは基準電圧Vaに選択して接続され、前記第2の積分手段に接続された前記第3の抵抗に接続された第3のスイッチは基準電圧Vaまたは基準電圧Vbに選択して接続され、前記第4の抵抗に接続された第4のスイッチは基準電圧Vbまたは基準電圧Vaに選択して接続され、前記第1のスイッチが基準電圧Vaで、前記第2のスイッチが基準電圧Vbの時、前記第3のスイッチが基準電圧Vaで、前記第4のスイッチが基準電圧Vbに選択して接続されると共に、前記第1のスイッチが基準電圧Vbで、前記第2のスイッチが基準電圧Vaの時、前記第3のスイッチが基準電圧Vbで、前記第4のスイッチが基準電圧Vaに選択して接続されるように交互に接続することを特徴とする請求項3記載の座標位置入力装置。
- 物体が接触または近接可能となるように、基板上に配設された複数の帯状抵抗体と、前記帯状抵抗体のそれぞれの一端に接続されて電圧を印加したり切り離したりする第1のスイッチと、前記帯状抵抗体のそれぞれの一端と前記第1のスイッチに接続される第1の抵抗と、前記第1の抵抗に接続される第1の積分選択手段と、前記第1の積分選択手段の入力側と前記第1の抵抗に接続される第2の抵抗と、前記第2の抵抗に接続され電圧を印加したり切り離したりする第2のスイッチと、前記第1の積分選択手段に接続され積分処理を行う第1の積分手段と、前記第1,第2のスイッチを閉じたときの前記第1抵抗と第2抵抗の接続点の電圧をホールドする第1のホールド手段と、前記帯状抵抗体のそれぞれの他端に接続されて電圧を印加したり切り離したりする第3のスイッチと、前記第3のスイッチに接続される第3の抵抗と、前記第3の抵抗に接続される第2の積分選択手段と、前記第2の積分選択手段に接続される第4の抵抗と、前記第4の抵抗に接続され電圧を印加したり切り離したりする第4のスイッチと、前記第2の積分選択手段に接続され積分処理を行う第2の積分手段と、前記第3,第4のスイッチを閉じたときの前記第3抵抗と第4抵抗の接続点の電圧をホールドする第2のホールド手段と、前記第1の積分手段および第2の積分手段による出力を利用して、前記帯状抵抗体における前記接触または近接の座標位置を求める座標位置演算手段とを備え、前記第1〜第4のスイッチの開閉動作を複数回行うことにより、積分を複数回行って前記座標位置演算手段で加算平均することを特徴とする座標位置入力装置。
- 前記近接する物体の座標位置は、前記帯状抵抗体の長軸方向の座標位置については、前記帯状抵抗体の一部に近接する物体との容量が存在すると、前記スイッチを閉じたときに初期値が決まり、スイッチを開いたときに前記第1の積分手段および第2の積分手段により積分した積分値を、座標位置演算手段で演算して得ることができ、前記帯状抵抗体の短軸方向の座標位置については、前記帯状抵抗体に特定して電圧変化ないしは隣接帯状抵抗体相互の電圧変化により測定して得ることができることを特徴とする請求項6記載の座標位置入力装置。
- 前記物体の容量に応じて積分の回数を可変して加算平均する制御を行うことを特徴とする請求項6記載の座標位置入力装置。
- 積分回数を1回もしくは複数回ずつ増やしていって設定した値を超えたときの回数より積分処理の回数を決定することを特徴とする請求項8記載の座標位置入力装置。
- 積分回数をテーブルに登録しておき、テーブルに登録された値だけ積分していき、設定した値を超えたときの回数より積分処理の回数を決定することを特徴とする請求項8記載の座標位置入力装置。
- 積分を1回もしくは複数回行った値から検出レベルが適正な積分回数を演算して求めることを特徴とする請求項8記載の座標位置入力装置。
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