JPH1063404A

JPH1063404A - 座標位置入力装置

Info

Publication number: JPH1063404A
Application number: JP22487196A
Authority: JP
Inventors: Tsutomu Sawai; 剣澤井; Yasunori Tomino; 泰範冨野; Norihisa Nishida; 紀久西田
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1996-08-27
Filing date: 1996-08-27
Publication date: 1998-03-06
Anticipated expiration: 2016-08-27
Also published as: JP3861333B2

Abstract

(57)【要約】【課題】パーソナルコンピュータなどの情報機器に用
いられ、平面上を指やペンで操作する従来の座標位置入
力装置は、その座標位置を安定して出力できないといっ
た課題があった。【解決手段】基板上に設けた帯状抵抗体Ｘ１〜Ｘｎ
と、前記帯状抵抗体Ｘ１〜Ｘｎを選択する抵抗体選択手
段２ａ，２ｂと、帯状抵抗体Ｘ１〜Ｘｎに電圧を充放電
する積分選択手段３ａ，３ｂと、帯状抵抗体Ｘ１〜Ｘｎ
に加わった電圧を積分して出力する第１の積分手段４
ａ、第２の積分手段４ｂ、第３の積分手段４ｃおよび第
４の積分手段４ｄと、第１の積分手段４ａ、第２の積分
手段４ｂ、第３の積分手段４ｃおよび第４の積分手段４
ｄの出力電圧を入力して座標位置に演算する座標位置演
算手段５とを設けた構成とすることにより、精度の良い
座標位置を検出することが可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、パーソナ
ルコンピュータやワードプロセッサなどの情報機器の周
辺機器として用いることが出来る座標位置入力装置に関
するものである。

【０００２】

【従来の技術】図１４を使用し従来技術について説明す
る。図１４は従来の座標位置入力装置の概略を示す構成
図であり、同図によると、操作者が指などで接触する基
板１０１上にはｘ軸（水平）方向にｘ１〜ｘｎの帯状抵
抗体ｘ（それぞれ抵抗値Ｒ）が配置してある。帯状抵抗
体ｘの上端には抵抗体選択手段１０２ａが、帯状抵抗体
ｘの下端には抵抗体選択手段１０２ｂが接続され、抵抗
体選択手段１０２ａは充電制御手段１０３ａに、抵抗体
選択手段１０２ｂは充電制御手段１０３ｂに接続されて
いる。充電制御手段１０３ａは演算増幅器とコンデンサ
Ｃａで構成されている第１の積分手段１０４ａに接続さ
れ、充電制御手段１０３ｂは演算増幅器とコンデンサＣ
ｂで構成されている第２の積分手段１０４ｂにも接続さ
れている。制御手段１０５の指令により前記抵抗体選択
手段１０２ａは、帯状抵抗体ｘのただ一つを選択する。
また、充電制御手段１０３ａは第１の積分手段１０４ａ
またはリファレンス電圧（Ｖref）を切り替え、前記帯
状抵抗体ｘと接続する。充電制御手段１０３ｂは第２の
積分手段１０４ｂまたはリファレンス電圧（Ｖref）を
切り替え、前記帯状抵抗体ｘと接続する。第１の積分手
段１０４ａおよび第２の積分手段１０４ｂの出力は、比
較演算手段１０６によって各々の出力電圧が比較演算さ
れ、制御手段１０５に入力される。

【０００３】次に基板１０１の動作原理の詳細を説明す
る。図１４に示したように帯状抵抗体ｘｎに絶縁体（図
示せず）を介して操作者の指１０７が触れられた場合
の、指位置検出方法を図１５に示したフローチャートに
従い以下に示す。

【０００４】ｙ軸（垂直）方向の指位置検出は、まず、
ステップ１１１で、帯状抵抗体ｘを選択する変数ｉの初
期値としてｉ＝１とする。ステップ１１２では抵抗体選
択手段１０２ａおよび抵抗体選択手段１０２ｂで帯状抵
抗体Ｘｉを選択し、ステップ１１３で充電制御手段１０
３ａおよび充電制御手段１０３ｂによりリファレンス電
圧を帯状抵抗体Ｘｉに充電する。続いて、ステップ１１
４で充電制御手段１０３ａおよび充電制御手段１０３ｂ
により抵抗体選択手段１０２ａおよび抵抗体選択手段１
０２ｂを、それぞれ第１の積分手段１０４ａおよび第２
の積分手段１０４ｂに接続し、ステップ１１５で帯状抵
抗体Ｘｉと第１の積分手段１０４ａおよび第２の積分手
段１０４ｂを切り離す。ステップ１１４とステップ１１
５を実行している間、第１の積分手段１０４ａおよび第
２の積分手段１０４ｂによって積分が行われる。ステッ
プ１１６で第１の積分手段１０４ａの出力電圧Ｅoaiお
よび第２の積分手段１０４ｂの出力電圧Ｅobiを検出す
る。続いてステップ１１７で帯状抵抗体Ｘｉが最後まで
選択されたかどうかを判断して、最後まで選択されてい
ないときにはステップ１１８で変数ｉを１つ増やし、抵
抗体選択手段１０２ａおよび抵抗体選択手段１０２ｂで
帯状抵抗体Ｘ２，Ｘ３，．．，Ｘｎと順次切り替えて、
第１の積分手段１０４ａの出力電圧Ｅoa2，Ｅoa
3，．．，Ｅoan、第２の積分手段１０４ｂの出力電圧Ｅ
ob2，Ｅob3，．．，Ｅobnを検出していく。最後にステ
ップ１１７により帯状抵抗体ｘが最後まで選択された
ら、ステップ１１９でｘ軸方向とｙ軸方向の座標位置を
計算する。

【０００５】次に、指位置検出の原理について説明す
る。ｙ軸方向の指位置検出は、帯状抵抗体Ｘｉを選択し
たときの電圧ＥoaiおよびＥobiは、帯状抵抗体にコンデ
ンサが存在しないときにはリファレンス電圧が充電され
ずに

【０００６】

【数１】

【０００７】となる。その時間変化は図１６に示した無
接触時の検出原理図のようになる（実際には回路の内部
容量で電圧変動がみられるが図では省略する）。

【０００８】次に、帯状抵抗体ｘに操作者の指１０７が
触れられているとき、指１０７から人体を通ってグラウ
ンドに至る経路が一種のコンデンサ（容量Ｃ）となる。
ここで、抵抗体選択手段１０２ａから操作者の指１０７
の触れた位置までの距離をｙ１ｉ、抵抗をＲ１ｉ、操作
者の指１０７の触れた位置から抵抗体選択手段１０２ｂ
までの距離をｙ２ｉ、抵抗をＲ２ｉとし、コンデンサす
なわち操作者の指１０７にかかる電圧をＥｃ、第１の積
分手段のコンデンサ容量をＣａ、第１の積分手段のコン
デンサ容量をＣｂとすると、次の関係が成り立つ。

【０００９】

【数２】

【００１０】

【数３】

【００１１】また、出力電圧Ｅoaiは、

【００１２】

【数４】

【００１３】となり、この時間変化は図１７に示した指
１０７で接触した時の検出原理図のようになる。

【００１４】出力電圧Ｅobiも同様に、

【００１５】

【数５】

【００１６】となる。

【００１７】ここで第１の積分手段１０４ａのコンデン
サ容量Ｃａと第２の積分手段１０４ｂのコンデンサ容量
Ｃｂが同一であるとき、（数４）および（数５）よりＥ
oaiとＥobiの比は、Ｒ１ｉとＲ２ｉによってのみ決まる
ため、指のｙ軸方向の位置は、（数３）の関係より求め
られる。

【００１８】

【発明が解決しようとする課題】ｘ軸方向の指位置検出
は、帯状抵抗体Ｘｉをスキャンして浮遊容量以上の過渡
応答が存在するものを選び出す。指１０７の触れた帯状
抵抗体Ｘｉのうち設定した値以下の電圧値Ｅoaiまたは
Ｅobiが検出できたもの（以下ＯＮの抵抗体と略す）を
選び出す。検出精度を高くとるために通常は指１０７の
接触幅に比較して十分に細かい間隔で帯状抵抗体ｘを配
置しているためＯＮの抵抗体がただ１つであることは少
なく、隣接してＯＮの抵抗体が存在する。そして指１０
７の圧力やｘ軸方向の指の相対位置によって隣接のＯＮ
の抵抗体の数は変化する。これらのｘ座標値は平均ある
いは指の形状を円形と仮定して中心位置などを求め、指
の触れたｘ軸方向の位置とする。

【００１９】以上の従来例においては、精度の良い位置
検出が出来ないという問題があった。

【００２０】本発明は、精度の良い位置検出が可能な座
標位置入力装置を提供することを目的とする。

【００２１】

【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明は、物体が接触または近接可能となるように、
基板上に配設された複数の帯状抵抗体と、前記帯状抵抗
体のそれぞれの一端に接続され積分手段を切り替える第
１の積分選択手段と、前記第１の積分選択手段に接続さ
れ積分処理を行う第１の積分手段および第２の積分手段
と、前記帯状抵抗体のそれぞれの他端に接続され積分手
段を切り替える第２の積分選択手段と、前記第２の積分
選択手段に接続され積分処理を行う第３の積分手段およ
び第４の積分手段と、前記第１の積分手段、第２の積分
手段、第３の積分手段および第４の積分手段による出力
を利用して、前記帯状抵抗体における前記接触または近
接の座標位置を求める座標位置演算手段とを備えたもの
である。

【００２２】この本発明によれば、精度の良い位置検出
を可能とする座標位置入力装置が得られる。

【００２３】

【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、物体が接触または近接可能となるように、基板上に
配設された複数の帯状抵抗体と、前記帯状抵抗体のそれ
ぞれの一端に接続され積分手段を切り替える第１の積分
選択手段と、前記第１の積分選択手段に接続され積分処
理を行う第１の積分手段および第２の積分手段と、前記
帯状抵抗体のそれぞれの他端に接続され積分手段を切り
替える第２の積分選択手段と、前記第２の積分選択手段
に接続され積分処理を行う第３の積分手段および第４の
積分手段と、前記第１の積分手段、第２の積分手段、第
３の積分手段および第４の積分手段による出力を利用し
て、前記帯状抵抗体における前記接触または近接の座標
位置を求める座標位置演算手段とを備えたものであり、
精度の良い位置検出が可能という作用を有する。

【００２４】請求項２に記載の発明は、基板上に設けた
複数の帯状抵抗体の一つを選択する抵抗体選択手段と、
同一のリファレンス電圧を持つ第１の積分手段および第
３の積分手段と、前記第１の積分手段および第３の積分
手段のリファレンス電圧と異なるリファレンス電圧を持
つ第２の積分手段および第４の積分手段と、前記第１の
積分手段または第２の積分手段の一方を選択して抵抗体
選択手段に接続する第１の積分選択手段と、前記第３の
積分手段または第４の積分手段の一方を選択して抵抗体
選択手段に接続する第２の積分選択手段とを備えたもの
であり、精度の良い位置検出が可能という作用を有す
る。

【００２５】請求項３に記載の発明は、基板上に設けた
複数の帯状抵抗体と、前記帯状抵抗体のただ１つを選択
する抵抗体選択手段と、同一のリファレンス電圧を持つ
第１の積分手段および第３の積分手段と、前記第１の積
分手段および第３の積分手段のリファレンス電圧と異な
るリファレンス電圧を持つ第２の積分手段および第４の
積分手段と、前記第１の積分手段または第２の積分手段
の一方を選択して抵抗体選択手段に接続する積分選択手
段と、前記第３の積分手段または第４の積分手段の一方
を選択して抵抗体選択手段に接続する積分選択手段とを
備えたものであり、リファレンス電圧の異なる積分手段
を選択したときに積分が行われるという作用を有する。

【００２６】請求項４に記載の発明は、第１の積分手段
および第３の積分手段と、前記第２の積分手段および第
４の積分手段とを複数回交互に選択したものであり、積
分を複数回行って加算平均するものである。

【００２７】請求項５に記載の発明は、帯状抵抗体の長
軸方向の座標位置については、前記帯状抵抗体の一部に
近接する物体との容量が存在すると、前記第１の積分手
段および第３の積分手段と、前記第２の積分手段および
第４の積分手段とを交互に選択することにより電圧値の
異なるリファレンス電圧が前記帯状抵抗体に印加され、
その電圧差によって積分した各々の積分値を、座標位置
演算手段で演算したものであり、また前記帯状抵抗体の
短軸方向の座標位置については、前記帯状抵抗体に特定
して電圧変化ないしは隣接帯状抵抗体相互の電圧変化に
より測定したものであり、座標位置演算手段で演算して
前記帯状抵抗体の長軸方向および短軸方向の、物体の接
触または近接した座標位置が得られるという作用を有す
る。

【００２８】請求項６に記載の発明は、物体が接触また
は近接可能となるように、基板上に配設された複数の帯
状抵抗体と、前記帯状抵抗体のそれぞれの一端に接続さ
れて電圧を印加したり切り離したりする第１のスイッチ
と、前記第１のスイッチに接続される抵抗と、前記抵抗
に接続され積分処理を行う第１の積分手段と、前記第１
の積分手段に接続される抵抗と、前記抵抗に接続され電
圧を印加したり切り離したりする第２のスイッチと、前
記帯状抵抗体のそれぞれの他端に接続されて電圧を印加
したり切り離したりする第３のスイッチと、前記第３の
スイッチに接続される抵抗と、前記抵抗に接続され積分
処理を行う第２の積分手段と、前記第２の積分手段に接
続される抵抗と、前記抵抗に接続され電圧を印加したり
切り離したりする第４のスイッチと、前記第１の積分手
段および第２の積分手段による出力を利用して、前記帯
状抵抗体における前記接触または近接の座標位置を求め
る座標位置演算手段とを備えたものであり、精度の良い
位置検出が可能という作用を有する。

【００２９】請求項７に記載の発明は、基板上に設けた
複数の帯状抵抗体の一つを選択する抵抗体選択手段と、
同一のリファレンス電圧を持つ第１の積分手段および第
２の積分手段とを備え、前記第２のスイッチは任意の基
準電圧Ｖａに接続され、前記第１スイッチは基準電圧Ｖ
ｂに接続され、第４のスイッチは基準電圧Ｖａに接続さ
れ、第３のスイッチは基準電圧Ｖｂに接続されているも
のであり、前記２組のスイッチを閉じたときに前記帯状
抵抗体に電圧を印加し、スイッチを開いたときに前記抵
抗の分圧値までの電圧差まで積分するという作用を有す
る。

【００３０】請求項８に記載の発明は、基板上に設けた
複数の帯状抵抗体と、前記帯状抵抗体の一つを選択する
第１，第２の抵抗体選択手段と、同一のリファレンス電
圧を持つ第１の積分手段および第２の積分手段と、前記
第１の積分手段と第２の積分手段にそれぞれ一端が接続
された第１，第２の抵抗と、前記第１の抵抗の両端に接
続された第１，第２のスイッチと、第２の抵抗の両端に
接続された第３，第４のスイッチとを備え、前記第１の
積分手段に接続された前記抵抗の一方に接続された第１
のスイッチは基準電圧Ｖａまたは基準電圧Ｖｂに選択し
て接続され、前記抵抗の他方の第２のスイッチには前記
第１の抵抗体選択手段が接続されるとともに、この第２
のスイッチは基準電圧Ｖｂまたは基準電圧Ｖａに選択し
て接続され、前記第２の積分手段に接続された前記抵抗
の一方に接続された第３のスイッチは基準電圧Ｖａまた
は基準電圧Ｖｂに選択して接続され、前記抵抗の他方の
第４のスイッチには前記第２の抵抗体選択手段が接続さ
れるとともに、この第４のスイッチは基準電圧Ｖｂまた
は基準電圧Ｖａに選択して接続される構成としたもので
あり、前記２組のスイッチを閉じたときに前記帯状抵抗
体に電圧を印加し、スイッチを開いたときに前記抵抗の
分圧値までの電圧差まで積分し、前記スイッチに接続さ
れる電位を切り替えることにより感度を倍に取れるとい
う作用を有する。

【００３１】請求項９に記載の発明は、物体が接触また
は近接可能となるように、基板上に配設された複数の帯
状抵抗体と、前記帯状抵抗体のそれぞれの一端に接続さ
れて電圧を印加したり切り離したりする第１のスイッチ
と、前記第１のスイッチに接続される第１の抵抗と、前
記第１の抵抗に接続される第１の積分選択手段と、前記
第１の積分選択手段に接続される第２の抵抗と、前記第
２の抵抗に接続され電圧を印加したり切り離したりする
第２のスイッチと、前記の第１の積分選択手段に接続さ
れ積分処理を行う第１の積分手段と、前記第１，第２の
スイッチを閉じたときの前記第１の抵抗と第２の抵抗の
接続点の電圧をホールドする第１のホールド手段と、前
記帯状抵抗体のそれぞれの他端に接続されて電圧を印加
したり切り離したりする第３のスイッチと、前記第３の
スイッチに接続される第３の抵抗と、前記第３の抵抗に
接続される第２の積分選択手段と、前記第２の積分選択
手段に接続される第４の抵抗と、前記第４の抵抗に接続
され電圧を印加したり切り離したりする第４のスイッチ
と、前記第２の積分選択手段に接続され積分処理を行う
第２の積分手段と、前記第３，第４のスイッチを閉じた
ときの前記第３の抵抗と第４の抵抗の接続点の電圧をホ
ールドする第２のホールド手段と、前記第１の積分手段
および第２の積分手段による出力を利用して、前記帯状
抵抗体における前記接触まはた近接の座標位置を求める
座標位置演算手段とを備えたものであり、精度の良い位
置検出が可能となる。

【００３２】請求項１０に記載の発明は、前記スイッチ
の開閉動作を複数回行うとしたものであり、積分を複数
回行って加算平均するという作用を有する。

【００３３】請求項１１に記載の発明は、前記近接する
物体の座標位置は、前記帯状抵抗体の長軸方向の座標位
置については、前記帯状抵抗体の一部に近接する物体と
の容量が存在すると、前記スイッチを閉じたときに初期
値が決まり、スイッチを開いたときに前記第１の積分手
段および第２の積分手段により積分した積分値を、座標
位置演算手段で演算したものであり、また前記帯状抵抗
体の短軸方向の座標位置については、前記帯状抵抗体に
特定して電圧変化ないしは隣接帯状抵抗体相互の電圧変
化により測定したものであり、座標位置演算手段で演算
して前記帯状抵抗体の長軸方向および短軸方向の、物体
の接触または近接した座標位置が得られるという作用を
有する。

【００３４】請求項１２に記載の発明は、前記物体の容
量に応じて積分の回数を可変して加算平均する制御を行
うとしたものであり、前記物体の容量が如何なる場合で
も検出レベルが適正であり高精度の検出が可能となると
いう作用を有する。

【００３５】請求項１３に記載の発明は、積分回数を１
回もしくは数回ずつ増やしていって設定した値を超えた
ときの回数より積分処理の回数を決定するとしたもので
あり、前記物体の容量が如何なる場合でも検出レベルが
適正であり高精度の検出が可能となるという作用を有す
る。

【００３６】請求項１４に記載の発明は、積分回数をテ
ーブルに登録しておき、テーブルに登録された値だけ積
分していき、設定した値を超えたときの回数より積分処
理の回数を決定することとしたものであり、前記物体の
容量が如何なる場合でも検出レベルが適正であり高精度
の検出が可能となるという作用を有する。

【００３７】請求項１５に記載の発明は、積分を１回も
しくは複数回行った値から検出レベルが適正な積分回数
を演算して求めることとしたものであり、前記物体の容
量が如何なる場合でも検出レベルが適正であり高精度の
検出が可能となるという作用を有する。

【００３８】以下、本発明の実施の形態について、図１
から図９を用いて説明する。（実施の形態１）図１は本発明の座標位置入力装置の概
略を示す説明図であり、同図によると、操作者が指６な
どで接触する基板１上にはｘ軸（水平）方向にＸ１〜Ｘ
ｎの帯状抵抗体Ｘ（それぞれ抵抗Ｒ）が配置してある。
帯状抵抗体Ｘの上端には抵抗体選択手段２ａを、帯状抵
抗体Ｘの下端には抵抗体選択手段２ｂを接続し、抵抗体
選択手段２ａは積分選択手段３ａに、抵抗体選択手段２
ｂは積分選択手段３ｂに接続している。積分選択手段３
ａは第１の積分手段４ａおよび第２の積分手段４ｂにも
接続し、セレクト信号によって前記第１の積分手段４ａ
または第２の積分手段４ｂを選択して前記抵抗体選択手
段２ａと接続する。同様に積分選択手段３ｂは第３の積
分手段４ｃおよび第４の積分手段４ｄにも接続し、セレ
クト信号によって前記第３の積分手段４ｃまたは第４の
積分手段４ｄを選択して前記抵抗体選択手段２ｂと接続
する。前記第１の積分手段４ａ、第２の積分手段４ｂ、
第３の積分手段４ｃおよび第４の積分手段４ｄは演算増
幅器とコンデンサＣｓとスイッチで構成され、各々の出
力は座標位置演算手段５に入力されている。また、第１
の積分手段４ａおよび第３の積分手段４ｃのリファレン
ス電圧はＶ１であり、第２の積分手段４ｂおよび第４の
積分手段４ｄのリファレンス電圧はＶ２である。なお、
セレクト信号で選択される積分手段は、第１の積分手段
４ａおよび第３の積分手段４ｃと、第２の積分手段４ｂ
および第４の積分手段４ｄとが対になっている。

【００３９】次に基板１の動作原理の詳細を説明する。
図１に図示したように帯状抵抗体Ｘｎに絶縁体（図示せ
ず）を介して操作者の指６が触れられた場合の、指位置
検出方法を図２に示したフローチャートに従い以下に示
す。

【００４０】ｙ軸（垂直）方向の指位置検出は、まず、
ステップ１１で、帯状抵抗体Ｘを選択する変数ｉの初期
値としてｉ＝１とする。ステップ１２では抵抗体選択手
段２ａおよび抵抗体選択手段２ｂで帯状抵抗体Ｘｉを選
択し、ステップ１３で第１の積分手段４ａから第４の積
分手段４ｄまでの全ての積分手段４ａ〜４ｄをクリア信
号を送って出力を初期化する。ステップ１４でセレクト
信号によって積分選択手段３ａは第１の積分手段４ａを
選択し、第１の積分手段４ａを前記帯状抵抗体Ｘｉに接
続する。また、積分選択手段３ｂも同様にセレクト信号
によって第３の積分手段４ｃを選択し、第３の積分手段
４ｃを前記帯状抵抗体Ｘｉに接続する。ステップ１５で
クリア信号を解除し、ステップ１６でセレクト信号によ
って積分選択手段３ａは第２の積分手段４ｂを選択し、
第２の積分手段４ｂを前記帯状抵抗体Ｘｉに接続する。
積分選択手段３ｂも同様にセレクト信号によって第４の
積分手段４ｄを選択し、第４の積分手段４ｄを前記帯状
抵抗体Ｘｉに接続する。前記帯状抵抗体Ｘｉに第２の積
分手段４ｂおよび第４の積分手段４ｄが接続されたとき
に、第１の積分手段４ａおよび第３の積分手段４ｃのリ
ファレンス電圧Ｖ１に充電されている帯状抵抗体Ｘｉ
と、第２の積分手段４ｂおよび第４の積分手段４ｄのリ
ファレンス電圧Ｖ２との電圧差により積分が行われる。
ステップ１７で第２の積分手段４ｂの出力電圧Ｅ２ｉお
よび第４の積分手段４ｄの出力電圧Ｅ４ｉを検出する。

【００４１】次にステップ１８でセレクト信号によって
積分選択手段３ａは第１の積分手段４ａを選択し、第１
の積分手段４ａを前記帯状抵抗体Ｘｉに接続する。ま
た、積分選択手段３ｂも同様にセレクト信号によって第
３の積分手段４ｃを選択し、第３の積分手段４ｃを前記
帯状抵抗体Ｘｉに接続する。前記帯状抵抗体Ｘｉに第１
の積分手段４ａおよび第３の積分手段４ｃが接続された
ときに、第２の積分手段４ｂおよび第４の積分手段４ｄ
のリファレンス電圧Ｖ２に充電されている帯状抵抗体Ｘ
ｉと、第１の積分手段４ａおよび第３の積分手段４ｃの
リファレンス電圧Ｖ１との電圧差により積分が行われ
る。ステップ１９で第１の積分手段４ａの出力電圧Ｅ１
ｉおよび第３の積分手段４ｃの出力電圧Ｅ３ｉを検出す
る。続いてステップ２０で帯状抵抗体Ｘｉが最後まで選
択されたかどうかを判断して、最後まで選択されていな
いときにはステップ２１で変数ｉを１つ増やし、抵抗体
選択手段２ａおよび抵抗体選択手段２ｂで帯状抵抗体Ｘ
２，Ｘ３，．．，Ｘｎと順次切り替えて、第１の積分手
段４ａの出力電圧Ｅ１２，Ｅ１３，．．，Ｅ１ｎ、第２
の積分手段４ｂの出力電圧Ｅ２２，Ｅ２３，．．，Ｅ２
ｎ、第３の積分手段４ｃの出力電圧Ｅ３２，Ｅ３
３，．．，Ｅ３ｎ、および第４の積分手段４ｄの出力電
圧Ｅ４２，Ｅ４３，．．，Ｅ４ｎを検出していく。最後
にステップ２０により帯状抵抗体Ｘｉが最後まで選択さ
れたら、ステップ２２でｘ軸方向とｙ軸方向の座標位置
を計算する。

【００４２】次に、指位置検出の原理について説明す
る。ｙ軸方向の指位置検出は、帯状抵抗体ｘｉを選択し
たときに第２の積分手段４ｂおよび第４の積分手段４ｄ
の出力電圧Ｅ２ｉおよびＥ４ｉは、帯状抵抗体にコンデ
ンサが存在しないときには

【００４３】

【数６】

【００４４】

【数７】

【００４５】となる。その時間変化は図３（ａ）に示し
た信号タイミング図および図３（ｂ）に示した無接触時
の検出原理図のようになる（実際には回路の内部容量で
電圧変動がみられるが図では省略する）。

【００４６】次に、帯状抵抗体Ｘに操作者の指６が触れ
られているとき、指６から人体を通ってグラウンドに至
る経路が一種のコンデンサ（容量Ｃ）となる。ここで、
抵抗体選択手段２ａから操作者の指６の触れた位置まで
の距離をｙ１ｉ、抵抗をＲ１ｉ、操作者の指６の触れた
位置から抵抗体選択手段２ｂまでの距離をｙ２ｉ、抵抗
をＲ２ｉとし、指に加えられた電圧をＥｃ（Ｅｃの初期
値はリファレンス電圧Ｖ１とリファレンス電圧Ｖ２の差
Ｖ１−Ｖ２）、積分手段のコンデンサ容量をＣｓとする
と、次の関係が成り立つ。

【００４７】

【数８】

【００４８】

【数９】

【００４９】また、出力電圧Ｅ１ｉは、

【００５０】

【数１０】

【００５１】出力電圧Ｅ２ｉは、

【００５２】

【数１１】

【００５３】と近似され、この時間変化は図３（ｃ）に
示した接触時の検出原理図のようになる。

【００５４】出力電圧Ｅ３ｉ、出力電圧Ｅ４ｉも同様に

【００５５】

【数１２】

【００５６】

【数１３】

【００５７】となる。

【００５８】ここで（数１０）および（数１２）よりＥ
１ｉとＥ３ｉの比は、Ｒ１ｉとＲ２ｉによってのみ決ま
り、また（数１１）および（数１３）よりＥ２ｉとＥ４
ｉの比も、Ｒ１ｉとＲ２ｉによってのみ決まるため、指
６のｙ軸方向の位置は、（数１０）と（数１２）また
は、（数１１）と（数１３）から（数９）の関係より求
められる。

【００５９】なお、（数１０）と（数１１）、（数１
２）と（数１３）は、リファレンス電圧からの出力電圧
の変化が互いに極性が反対になっているので、その全て
の値を使用することにより前記方式よりも感度を２倍に
することもできる。

【００６０】ｘ軸方向の指位置検出は、帯状抵抗体Ｘｉ
をスキャンして浮遊容量以上の過渡応答が存在するもの
を選び出す。指６の触れた帯状抵抗体Ｘｉのうち設定し
た値以上の変化をした電圧値Ｅ１ｉ，Ｅ２ｉ，Ｅ３ｉ，
Ｅ４ｉが検出できたもの（以下ＯＮの抵抗体と略す）を
選び出す。検出精度を高くとるために通常は指６の接触
幅に比較して十分に細かい間隔で帯状抵抗体を配置して
いるためＯＮの抵抗体がただ１つであることは少なく、
隣接してＯＮの抵抗体が存在する。そして指の圧力やｘ
軸方向の指の相対位置によって隣接のＯＮの抵抗体の数
は変化する。これらのｘ座標値は平均あるいは指６の形
状を円形と仮定して中心位置などを求め、指の触れたｘ
軸方向の位置とする。

【００６１】なお、実施の形態１では、第１の積分手段
４ａ、第２の積分手段４ｂ、第３の積分手段４ｃおよび
第４の積分手段４ｄの動作としてそれぞれ積分を１回だ
け行った例を示したが、図４（ａ）に示した信号タイミ
ング図および図４（ｂ）に示した接触時の検出原理図の
ように積分を多数回（図４では３回）行って加算平均す
ることで、さらに精度を上げることができる。

【００６２】また、実施の形態１では、第１の積分手段
４ａ、第２の積分手段４ｂ、第３の積分手段４ｃおよび
第４の積分手段４ｄの構成を演算増幅器とコンデンサと
スイッチを用いたが、他の回路構成で積分手段を構成し
ても良い。

【００６３】なお、実施の形態１では操作者の指６で説
明を行ったが、帯状抵抗体Ｘ間のピッチよりも大きい接
触範囲を持つ導電性のペンを用いても同様の効果を有す
る。

【００６４】（実施の形態２）以下、本発明にかかる座
標位置入力装置の実施の形態について説明する。

【００６５】図５は本発明の座標位置入力装置の概略を
示す説明図であり、同図によると、本実施の形態２は前
述実施の形態１の構成に、スイッチ３１ａ、スイッチ３
１ｂ、スイッチ３１ｃ、スイッチ３１ｄおよび抵抗３２
ａ、抵抗３２ｂ、抵抗３２ｃ、抵抗３２ｄを設け、積分
手段を第１の積分手段および第２の積分手段にした構成
としている。抵抗体選択手段２ａには、スイッチ３１ａ
および抵抗３２ａが接続され、前記スイッチ３１ａの他
端はグラウンド（基準電圧Ｖｂ）に接続されている。前
記抵抗３２ａの他端には、抵抗３２ｂおよびリファレン
ス電圧Ｖ３を持つ第１の積分手段３３ａが接続されてい
る。前記抵抗３２ｂの他端にはスイッチ３１ｂが接続さ
れ、前記スイッチ３１ｂの他端は電源（基準電圧Ｖａ）
に接続されている。抵抗体選択手段２ｂには、スイッチ
３１ｃおよび抵抗３２ｃが接続され、前記スイッチ３１
ｃの他端はグラウンドに接続されている。前記抵抗３２
ｃの他端には、抵抗３２ｄおよびリファレンス電圧Ｖ３
を持つ第２の積分手段３３ｂが接続されている。前記抵
抗体３２ｄの他端にはスイッチ３１ｄが接続され、前記
スイッチ３１ｄの他端は電源に接続されている。前記第
１の積分手段３３ａおよび第２の積分手段３３ｂの出力
は座標位置演算手段３４に入力されている。

【００６６】前記スイッチ３１ａおよびスイッチ３１ｃ
は積分信号によって、抵抗体選択手段２ａ、抵抗体選択
手段２ｂと抵抗３２ａ、抵抗３２ｃのそれぞれ一端をグ
ラウンドに接続し、帯状抵抗体ｘの電圧をグラウンドに
する。また、スイッチ３１ｂおよびスイッチ３１ｄは、
積分手段によって抵抗３２ｂおよび抵抗３２ｄのそれぞ
れ一端を電源に接続し、前記抵抗３２ａと抵抗３２ｂの
分圧が第１の積分手段３３ａに入力され、前記抵抗３２
ｃと抵抗３２ｄの分圧が第２の積分手段３３ｂに入力さ
れる。

【００６７】次に動作について図６のフローチャートに
従い説明する。ｙ軸（垂直）方向の指位置検出は、ま
ず、ステップ４１で、帯状抵抗体ｘを選択する変数ｉの
初期値としてｉ＝１とする。ステップ４２では抵抗体選
択手段２ａおよび抵抗体選択手段２ｂで帯状抵抗体ｘｉ
を選択し、ステップ４３で第１の積分手段３３ａおよび
第２の積分手段３３ｂをクリア信号を送って出力を初期
化する。ステップ４４でスイッチ３１ａ、スイッチ３１
ｂ、スイッチ３１ｃおよびスイッチ３１ｄを積分信号に
より閉じる。帯状抵抗体ｘｉにはグラウンドの電位が印
加され、第１の積分手段３３ａには抵抗３２ａと抵抗３
２ｂの分圧が入力され、第２の積分手段３３ｂには抵抗
３２ｃと抵抗３２ｄの分圧が入力される。このときリフ
ァレンス電圧Ｖ３は、それぞれの分圧と等しい電圧であ
る。ステップ４５でクリア信号を解除し、ステップ４６
でスイッチ３１ａ、スイッチ３１ｂ、スイッチ３１ｃ、
スイッチ３１ｄを開くと積分動作がおこる。ステップ４
７で第１の積分手段３３ａおよび第２の積分手段３３ｂ
の出力電圧Ｅ５ｉおよびＥ６ｉを測定する。

【００６８】続いてステップ４８で帯状抵抗体ｘが最後
まで選択されたかどうかを判断して、最後まで選択され
ていないときにはステップ４９で変数ｉを１つ増やし、
抵抗体選択手段２ａおよび抵抗体選択手段２ｂで帯状抵
抗体Ｘ２，Ｘ３，．．，Ｘｎと順次切り替えて、第１の
積分手段３３ａの出力電圧Ｅ５２，Ｅ５３，．．，Ｅ５
ｎ、第２の積分手段３３ｂの出力電圧Ｅ６２，Ｅ６
３，．．Ｅ６ｎを検出していく。最後にステップ４８に
より帯状抵抗体Ｘｉが最後まで選択されたら、ステップ
５０でｘ軸方向とｙ軸方向の座標位置を計算する。

【００６９】次に、指位置検出の原理について説明す
る。ｙ軸方向の指位置検出は、帯状抵抗体Ｘｉを選択し
たときの出力電圧Ｅ５ｉおよびＥ６ｉは、帯状抵抗体に
コンデンサが存在しないときには

【００７０】

【数１４】

【００７１】となる。その時間変化は図７（ａ）に示し
た信号タイミング図および図７（ｂ）に示した無接触時
の検出原理図のようになる（実際には回路の内部容量で
電圧変動がみられるが図では省略する）。

【００７２】次に、帯状抵抗体Ｘに操作者の指６が触れ
られているとき、指６から人体を通ってグラウンドに至
る経路が一種のコンデンサ（容量Ｃ）となる。抵抗３２
ａおよび抵抗３２ｂの抵抗値をＲｓ、抵抗体選択手段２
ａから操作者の指６の触れた位置までの距離をｙ１ｉ、
抵抗をＲ１ｉ、操作者の指６が触れられた位置から抵抗
体選択手段２ｂまでの距離をｙ２ｉ、抵抗をＲ２ｉと
し、コンデンサにかかる電圧をＥｃ、積分手段のコンデ
ンサ容量をＣｓとすると次の関係が成り立つ。

【００７３】

【数１５】

【００７４】

【数１６】

【００７５】また、電圧Ｅ５ｉは、

【００７６】

【数１７】

【００７７】となり、この時間変化は図７（ｃ）に示し
た接触時の検出原理図のようになる。

【００７８】電圧Ｅ６ｉも同様に

【００７９】

【数１８】

【００８０】となる。

【００８１】ここで（数１７）および（数１８）より、
Ｅ５ｉとＥ６ｉの比は、Ｒ１ｉとＲ２ｉによってのみ決
まるため、指６のｙ軸方向の位置は、（数１６）の関係
より求められる。

【００８２】ｘ軸方向の指位置検出は、帯状抵抗体Ｘｉ
をスキャンして浮遊容量以上の過渡応答が存在するもの
を選び出す。指６の触れた帯状抵抗体ｘｉのうち設定し
た値以上の電圧値Ｅ５ｉまたはＥ６ｉが検出できたもの
（以下ＯＮの抵抗体と略す）を選び出す。検出精度を高
くとるために通常は指６の接触幅に比較して十分に細か
い間隔で帯状抵抗体Ｘを配置しているためＯＮの抵抗体
がただ一つであることは少なく、隣接してＯＮの抵抗体
が存在する。そして指６の圧力やｘ軸方向の指の相対位
置によって隣接のＯＮの抵抗体の数は変化する。これら
のｘ座標値は平均あるいは指６の形状を円形と仮定して
中心位置などを求め、指６の触れたｘ軸方向の位置とす
る。

【００８３】以上のように実施の形態２によれば、前述
実施の形態１と同様の効果が得られる。しかも、実施の
形態１の場合では積分選択手段で信号を切り替えて積分
を行うことで積分選択手段に電流が流れるためにスイッ
チングノイズの発生がおこる可能性があるが、実施の形
態２では積分を行うときには、前述スイッチ３１ａ、ス
イッチ３１ｂ、スイッチ３１ｃおよびスイッチ３１ｄに
は電流が流れないためにスイッチングノイズの発生がお
きないといった効果もある。

【００８４】なお、実施の形態２では、基準電圧Ｖａを
電源、基準電圧Ｖｂをグラウンドに接続しているが、任
意の電圧に接続してもかまわない。

【００８５】また、実施の形態２では前述実施の形態１
と同様に、第１の積分手段３３ａおよび第２の積分手段
３３ｂの動作としてそれぞれ積分を１回だけ行った例を
示したが、図８（ａ）および（ｂ）に示すように積分を
多数回（図４では３回）行って加算平均することで、さ
らに精度を上げることができる。

【００８６】さらに、実施の形態２では前述実施の形態
１と同様に、第１の積分手段３３ａおよび第２の積分手
段３３ｂの構成を演算増幅器とコンデンサとスイッチを
用いたが、他の回路構成で積分手段を構成してもかまわ
ない。

【００８７】なお、実施の形態２では前述実施の形態１
と同様に操作者の指６で説明を行ったが、帯状抵抗体間
のピッチよりも大きい接触範囲を持つ導電性のペンを用
いても同様の効果を有する。

【００８８】また、前述スイッチ３１ａ、スイッチ３１
ｂ、スイッチ３１ｃおよびスイッチ３１ｄに接続する基
準電圧Ｖａおよび基準電圧Ｖｂを固定にせずに制御する
回路構成にし、最初のステップとしてスイッチ３１ａお
よびスイッチ３１ｃを基準電圧Ｖｂに接続し、スイッチ
３１ｂおよびスイッチ３１ｄを基準電圧Ｖａに接続して
測定する。次のステップとしてスイッチ３１ａおよびス
イッチ３１ｃを基準電圧Ｖａに接続し、スイッチ３１ｂ
およびスイッチ３１ｄを基準電圧Ｖｂに接続して測定す
れば、最初のステップの測定結果と次のステップの測定
結果とがリファレンス電圧に対して逆方向に信号が出て
いるので２倍の精度で測定でき、前述実施の形態１と同
様の精度を得られるといった効果を有する。

【００８９】なお、前述スイッチ３１ａ、スイッチ３１
ｂ、スイッチ３１ｃおよびスイッチ３１ｄを、電界効果
トランジスタやスリーステートバッファやアナログスイ
ッチなどで構成してもかまわない。

【００９０】（実施の形態３）以下本発明にかかる座標
位置入力装置の実施の形態３について説明する。

【００９１】図９は本発明の座標位置入力装置の概略を
示す構成図であり、同図によると、実施の形態３は前述
実施の形態２の構成に、第１の選択手段６１ａおよび第
２の選択手段６１ｂと、第１の積分手段６２ａおよび第
２の積分手段６２ｂを設け、第１の積分手段６２ａのリ
ファレンス電圧を印加する代わりにホールド手段６３ａ
を設け、同様に第２の積分手段６２ｂのリファレンス電
圧を印加する代わりにホールド手段６３ｂを設けた構成
としている。

【００９２】第１の選択手段６１ａは、スイッチ３１ａ
およびスイッチ３１ｂが閉じているときに、第１の積分
手段６２ａのリファレンス電圧側に接続されたホールド
手段６３ａに接続する。また、第２の選択手段６１ｂ
は、スイッチ３１ｃおよびスイッチ３１ｄが閉じている
ときに、第２の積分手段６２ｂのリファレンス電圧側に
接続されたホールド手段６３ｂに接続する。

【００９３】従って、第１の選択手段６１ａによってホ
ールド手段６３ａに充電され、抵抗３２ａと抵抗３２ｂ
による分圧と、リファレンス電圧を同一に設定する必要
がなくなる。同様に第２の選択手段６１ｂによってホー
ルド手段６３ｂに充電され、抵抗３２ｃと抵抗３２ｄに
よる分圧と、リファレンス電圧を同一に設定する必要が
なくなる。

【００９４】以上のように実施の形態３によれば、抵抗
がばらついたり、積分手段のリファレンス電圧を調整し
なくても、上記実施の形態２と同様の出力を得ることが
できるものである。

【００９５】なお、実施の形態３では、ホールド手段６
３ａおよびホールド手段６３ｂの構成をコンデンサを用
いたが、他の回路構成でホールド手段を構成してもかま
わない。

【００９６】（実施の形態４）以下本発明にかかる座標
位置入力装置の実施の形態４について説明する。なお構
成については、実施の形態２に記載の座標位置入力装置
と同一であるので省略し、動作について図１０、図１１
のフローチャートに従い説明する。なお、積分動作につ
いては、実施の形態２と同一の動作であるため詳細な説
明は省略する。

【００９７】ステップ６５で積分回数の最大値である定
数ＭＡＸを変数ｎに代入する。次にステップ６６で積分
回数ｎ回の積分を行う。ステップ６７ではステップ６６
で積分した値を積分初期値とする。ステップ６８でギア
チェンジフラグがＯＮかどうか判断し、ギアチェンジフ
ラグがＯＦＦであれば、ステップ６９で積分回数ｎ回の
積分を行う。ステップ７０で積分値がレンジオーバーす
なわち測定範囲を超えていないかどうかを判断し、レン
ジオーバーしていないならば、ステップ７１で積分の変
化値すなわち積分初期値から現在の積分値の差が設定し
た値よりも小さいかどうか判断し、大きければステップ
７２で座標位置の計算を行う。続いてステップ６８に戻
り繰り返していく。

【００９８】次に、前記ステップ７０で積分値がレンジ
オーバーしたときには、ステップ７３でギアチェンジフ
ラグをＯＮにして、ステップ６８に戻る。

【００９９】前記ステップ７１で積分変化値が設定値よ
りも小さいときには、ステップ７４で変数ｎが定数ＭＡ
Ｘと同じかどうかを判断し、同じならステップ７５で指
６が触れられてＯＮしたかどうかの判定を行い、ＯＮし
ていると判断するとステップ７２で座標位置を計算す
る。

【０１００】前記ステップ７４で変数ｎと定数ＭＡＸが
等しくないときには、ステップ７６でギアチェンジフラ
グをＯＮにして、ステップ６８に戻る。

【０１０１】前記ステップ６８でギアチェンジフラグが
ＯＮの時は、ステップ７７でギアチェンジ処理を行い、
ステップ７８でギアチェンジフラグをＯＦＦにして、ス
テップ６９を実行する。

【０１０２】次に前記ステップ７７のギアチェンジ処理
の動作について、図１１のフローチャートに従い説明す
る。ステップ７９で変数ｎに２を代入する。ステップ８
０で積分回数ｎ回の積分を行い、ステップ８１で積分値
がレンジオーバーしていないか判断し、レンジオーバー
していなければステップ８２で変数ｎと定数ＭＡＸが同
じかどうか判断し、違う場合はステップ８３で変数ｎに
ｎ＋１を代入して、ステップ８０へ戻る。

【０１０３】前記ステップ８１で積分値がレンジオーバ
ーした場合には、ステップ８４で変数ｎにｎ−１を代入
して、ギアチェンジ処理を終了する。前記ステップ８２
で変数ｎが定数ＭＡＸと同じ場合、ギアチェンジ処理を
終了する。

【０１０４】以上のように実施の形態４によれば、前述
実施の形態２と同様の効果が得られる。しかも、実施の
形態２の場合で積分を多数回行う方式では、接触する指
６の容量が過大になると検出範囲を超えてしまう可能性
があるが、実施の形態４では接触する指の容量が過大で
も、容量に応じた適正な積分回数を設定し検出範囲内に
積分値がくるため安定して検出が行えるという効果もあ
る。

【０１０５】なお、実施の形態４では、積分回数すなわ
ち変数ｎの値を１つずつ増やしているが、変数ｎの値を
複数回ずつ増やしても同様の効果を有する。

【０１０６】（実施の形態５）以下本発明にかかる座標
位置入力装置の実施の形態５について説明する。なお、
構成および動作の一部については実施の形態４と同じで
あるので省略し、実施の形態４と異なるギアチェンジ処
理の動作について、図１２（ａ）のフローチャートおよ
び図１２（ｂ）のテーブル図に従い説明する。

【０１０７】ステップ８５では変数ｉに２を代入する。
ステップ８６では変数ｎにテーブルｉ番目の値を代入す
る。ステップ８７で積分回数ｎ回の積分を行う。ステッ
プ８８では積分値がレンジオーバーしていないかどうか
判断し、レンジオーバーしていなければ、ステップ８９
で変数ｎと定数ＭＡＸが同じかどうか判断し、同じでな
ければステップ９０で変数ｉにｉ＋１を代入して、ステ
ップ８６へ戻る。

【０１０８】前記ステップ８８で積分値がレンジオーバ
ーした場合、ステップ９１で変数ｎにテーブル（ｉ−
１）番目の値を代入して、ギアチェンジ処理を終了す
る。前記ステップ８９で変数ｎが定数ＭＡＸと同じ場
合、ギアチェンジ処理を終了する。

【０１０９】以上のように実施の形態５によれば、前述
実施の形態４と同様の効果が得られる。しかも、実施の
形態４の場合でギアチェンジ処理を行う方式では、積分
を１回ずつ増加していくため時間がかかってしまうが、
実施の形態５では積分回数をテーブルで設定するので積
分をする回数は少なくてすむために、時間は短縮できる
という効果も有する。

【０１１０】（実施の形態６）以下本発明にかかる座標
位置入力装置の実施の形態６について説明する。なお、
構成および動作の一部については実施の形態４と同じで
あるので省略し、実施の形態４と異なるギアチェンジ処
理の動作について、図１３のフローチャートに従い説明
する。

【０１１１】ステップ９２で変数ｎに１を代入する。ス
テップ９３で積分回数ｎ回の積分を行う。ステップ９４
で適正な積分回数を計算し、変数ｎに代入する。ステッ
プ９５で変数ｎと定数ＭＡＸとを比較し、変数ｎが定数
ＭＡＸよりも大きいとき、ステップ９６で変数ｎに定数
ＭＡＸを代入して、ギアチェンジ処理を終了する。前記
ステップ９５で変数ｎが定数ＭＡＸよりも小さいか同じ
ときは、ギアチェンジ処理を終了する。

【０１１２】前記ステップ９４での適正な積分回数の計
算は、初期値からある設定した値の差を積分変化値で割
った値が積分回数となる。

【０１１３】以上のように実施の形態６によれば、前述
実施の形態４と同様の効果が得られる。しかも、実施の
形態４の場合でギアチェンジ処理を行う方式では、積分
を１回ずつ増加していくため時間がかかってしまうが、
実施の形態６では積分回数を１回だけ行って、計算で適
正な積分回数を求めるために、時間は短縮できるという
効果も有する。

【０１１４】なお、実施の形態６では積分を１回だけ行
ったが、複数回積分を行っても同様の効果を有する。

【０１１５】なお、実施の形態４、実施の形態５および
実施の形態６では、実施の形態２の構成および積分動作
について示したが、実施の形態１および実施の形態３で
も同様の効果を有する。

【０１１６】また、実施の形態１では、帯状抵抗体ｘの
ただ一つを選択する抵抗体選択手段２ａ，２ｂを使用す
る場合について説明したが、上記抵抗体選択手段は、使
用しなくても良い。この場合、第１の積分手段、第２の
積分手段、第３の積分手段および第４の積分手段と積分
選択手段は、帯状抵抗体ｘの数と同じ数だけ、各帯状抵
抗体ｘに接続されている必要がある。このようにしても
上記と同様の効果が得られる。

【０１１７】また、実施の形態２および実施の形態３で
は、帯状抵抗体ｘのただ一つを選択する抵抗体選択手段
２ａ，２ｂを使用する場合について説明したが、上記抵
抗体選択手段２ａ，２ｂは、使用しなくても良い。この
場合、第１の積分手段および第２の積分手段と各抵抗と
各スイッチは、帯状抵抗体の数と同じ数だけ、各帯状抵
抗体に接続されている必要がある。このようにしても上
記と同様の効果が得られる。

【０１１８】

【発明の効果】以上の説明からも明らかなように本発明
は、従来に比べてより一層精度の良い座標位置を検出す
ることができるという有利な効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明における実施の形態１の座標位置入力装
置の概略を示す構成図

【図２】同フローチャート

【図３】（ａ）同装置の信号タイミング図（ｂ）同装置の無接触時の検出原理図（ｃ）同装置の接触時の検出原理図

【図４】（ａ）同装置の別の信号タイミング図（ｂ）同装置の接触時の検出原理図

【図５】本発明の実施の形態２の座標位置入力装置の概
略を示す構成図

【図６】同フローチャート

【図７】（ａ）同装置の信号タイミング図（ｂ）同装置の無接触時の検出原理図（ｃ）同装置の接触時の検出原理図

【図８】（ａ）同装置の別の信号タイミング図（ｂ）同装置の接触時の検出原理図

【図９】本発明の実施の形態３の座標位置入力装置の概
略を示す構成図

【図１０】本発明の実施の形態４の座標位置入力装置の
フローチャート

【図１１】同装置のギアチェンジ処理のフローチャート

【図１２】（ａ）本発明の実施の形態５の座標位置入力
装置のギアチェンジ処理のフローチャート（ｂ）同装置のテーブル図

【図１３】本発明の実施の形態６の座標位置入力装置の
ギアチェンジ処理のフローチャート

【図１４】従来例における座標位置入力装置の概略を示
す構成図

【図１５】同フローチャート

【図１６】同装置の無接触時の検出原理図

【図１７】同装置の接触時の検出原理図

【符号の説明】１基板２ａ，２ｂ抵抗体選択手段３ａ，３ｂ積分選択手段４ａ第１の積分手段４ｂ第２の積分手段４ｃ第３の積分手段４ｄ第４の積分手段５座標位置演算手段３１ａ，３１ｂ，３１ｃ，３１ｄスイッチ３２ａ，３２ｂ，３２ｃ，３２ｄ抵抗３３ａ第１の積分手段３３ｂ第２の積分手段３４座標位置演算手段６１ａ，６１ｂ積分選択手段６２ａ第１の積分手段６２ｂ第２の積分手段６３ａ，６３ｂホールド手段

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】物体が接触または近接可能となるよう
に、基板上に配設された複数の帯状抵抗体と、前記帯状
抵抗体のそれぞれの一端に接続され積分手段を切り替え
る第１の積分選択手段と、前記第１の積分選択手段に接
続され積分処理を行う第１の積分手段および第２の積分
手段と、前記帯状抵抗体のそれぞれの他端に接続され積
分手段を切り替える第２の積分選択手段と、前記第２の
積分選択手段に接続され積分処理を行う第３の積分手段
および第４の積分手段と、前記第１の積分手段、第２の
積分手段、第３の積分手段および第４の積分手段による
出力を利用して、前記帯状抵抗体における前記接触また
は近接の座標位置を求める座標位置演算手段とを備えた
ことを特徴とする座標位置入力装置。
【請求項２】基板上に設けた複数の帯状抵抗体の一つ
を選択する抵抗体選択手段と、同一のリファレンス電圧
を持つ第１の積分手段および第３の積分手段と、前記第
１の積分手段および第３の積分手段のリファレンス電圧
と異なるリファレンス電圧を持つ第２の積分手段および
第４の積分手段と、前記第１の積分手段または第２の積
分手段の一方を選択して抵抗体選択手段に接続する第１
の積分選択手段と、前記第３の積分手段または第４の積
分手段の一方を選択して抵抗体選択手段に接続する第２
の積分選択手段とを備えたことを特徴とする請求項１記
載の座標位置入力装置。
【請求項３】前記第１の積分手段および第３の積分手
段を選択して前記帯状抵抗体に接続することで、前記帯
状抵抗体にリファレンス電圧を印加させ、前記第２の積
分手段および第４の積分手段を選択して前記帯状抵抗体
に接続することで、前記第１の積分手段および第３の積
分手段のリファレンス電圧と第２の積分手段および第４
の積分手段のリファレンス電圧との電圧差によって積分
がおこり、次に、前記第１の積分手段および第３の積分
手段を選択して前記帯状抵抗体に接続することで、前記
第２の積分手段および第４の積分手段のリファレンス電
圧と第１の積分手段および第３の積分手段のリファレン
ス電圧との電圧差によって積分がおこることを特徴とす
る請求項２記載の座標位置入力装置。
【請求項４】第１の積分手段および第３の積分手段
と、前記第２の積分手段および第４の積分手段とを複数
回交互に選択することにより、積分を複数回行って加算
平均することを特徴とする請求項３記載の座標位置入力
装置。
【請求項５】近接する物体の座標位置は、前記帯状抵
抗体の長軸方向の座標位置については、前記帯状抵抗体
の一部に近接する物体との容量が存在すると、前記第１
の積分手段および第３の積分手段と、前記第２の積分手
段および第４の積分手段とを交互に選択することにより
電圧値の異なるリファレンス電圧が前記帯状抵抗体に印
加され、その電圧差によって積分した各々の積分値を、
座標位置演算手段で演算して得ることができ、前記帯状
抵抗体の短軸方向の座標位置については、前記帯状抵抗
体に特定して電圧変化ないしは隣接帯状抵抗体相互の電
圧変化により測定して得ることができることを特徴とす
る請求項２記載の座標位置入力装置。
【請求項６】物体が接触または近接可能となるよう
に、基板上に配設された複数の帯状抵抗体と、前記帯状
抵抗体のそれぞれの一端に接続されて電圧を印加したり
切り離したりする第１のスイッチと、前記第１のスイッ
チに接続される抵抗と、前記抵抗に接続され積分処理を
行う第１の積分手段と、前記第１の積分手段に接続され
る抵抗と、前記抵抗に接続され電圧を印加したり切り離
したりする第２のスイッチと、前記帯状抵抗体のそれぞ
れの他端に接続されて電圧を印加したり切り離したりす
る第３のスイッチと、前記第３のスイッチに接続される
抵抗と、前記抵抗に接続され積分処理を行う第２の積分
手段と、前記第２の積分手段に接続される抵抗と、前記
抵抗に接続され電圧を印加したり切り離したりする第４
のスイッチと、前記第１の積分手段および第２の積分手
段による出力を利用して、前記帯状抵抗体における前記
接触または近接の座標位置を求める座標位置演算手段と
を備えたことを特徴とする座標位置入力装置。
【請求項７】基板上に設けた複数の帯状抵抗体の一つ
を選択する抵抗体選択手段と、同一のリファレンス電圧
を持つ第１の積分手段および第２の積分手段とを備え、
前記第２のスイッチは任意の基準電圧Ｖａに接続され、
前記第１のスイッチは基準電圧Ｖｂに接続され、第４の
スイッチは基準電圧Ｖａに接続され、前記第３のスイッ
チは基準電圧Ｖｂに接続されていることにより、前記２
組のスイッチを閉じたときに前記帯状抵抗体に電圧を印
加し、スイッチを開いたときに前記抵抗の分圧値までの
電圧差まで積分することを特徴とする請求項６記載の座
標位置入力装置。
【請求項８】基板上に設けた複数の帯状抵抗体と、前
記帯状抵抗体の一つを選択する第１，第２の抵抗体選択
手段と、同一のリファレンス電圧を持つ第１の積分手段
および第２の積分手段と、前記第１の積分手段と第２の
積分手段にそれぞれ一端が接続された第１，第２の抵抗
と、前記第１の抵抗の両端に接続された第１，第２のス
イッチと、第２の抵抗の両端に接続された第３，第４の
スイッチとを備え、前記第１の積分手段に接続された前
記抵抗の一方に接続された第１のスイッチは基準電圧Ｖ
ａまたは基準電圧Ｖｂに選択して接続され、前記抵抗の
他方の第２のスイッチには前記第１の抵抗体選択手段が
接続されるとともに、この第２のスイッチは基準電圧Ｖ
ｂまたは基準電圧Ｖａに選択して接続され、前記第２の
積分手段に接続された前記抵抗の一方に接続された第３
のスイッチは基準電圧Ｖａまたは基準電圧Ｖｂ電圧に選
択して接続され、前記抵抗の他方の第４のスイッチには
前記第２の抵抗体選択手段が接続されるとともに、この
第４のスイッチは基準電圧Ｖｂまたは基準電圧Ｖａに選
択して接続される構成とした座標位置入力装置。
【請求項９】物体が接触または近接可能となるよう
に、基板上に配設された複数の帯状抵抗体と、前記帯状
抵抗体のそれぞれの一端に接続されて電圧を印加したり
切り離したりする第１のスイッチと、前記第１のスイッ
チに接続される第１の抵抗と、前記第１の抵抗に接続さ
れる第１の積分選択手段と、前記第１の積分選択手段に
接続される第２の抵抗と、前記第２の抵抗に接続され電
圧を印加したり切り離したりする第２のスイッチと、前
記第１の積分選択手段に接続され積分処理を行う第１の
積分手段と、前記第１，第２のスイッチを閉じたときの
前記第１抵抗と第２抵抗の接続点の電圧をホールドする
第１のホールド手段と、前記帯状抵抗体のそれぞれの他
端に接続されて電圧を印加したり切り離したりする第３
のスイッチと、前記第３のスイッチに接続される第３の
抵抗と、前記第３の抵抗に接続される第２の積分選択手
段と、前記第２の積分選択手段に接続される第４の抵抗
と、前記第４の抵抗に接続され電圧を印加したり切り離
したりする第４のスイッチと、前記第２の積分選択手段
に接続され積分処理を行う第２の積分手段と、前記第
３，第４のスイッチを閉じたときの前記第３抵抗と第４
抵抗の接続点の電圧をホールドする第２のホールド手段
と、前記第１の積分手段および第２の積分手段による出
力を利用して、前記帯状抵抗体における前記接触または
近接の座標位置を求める座標位置演算手段とを備えたこ
とを特徴とする座標位置入力装置。
【請求項１０】前記第１〜第４のスイッチの開閉動作
を複数回行うことにより、積分を複数回行い、加算平均
することを特徴とする請求項９記載の座標位置入力装
置。
【請求項１１】前記近接する物体の座標位置は、前記
帯状抵抗体の長軸方向の座標位置については、前記帯状
抵抗体の一部に近接する物体との容量が存在すると、前
記スイッチを閉じたときに初期値が決まり、スイッチを
開いたときに前記第１の積分手段および第２の積分手段
により積分した積分値を、座標位置演算手段で演算して
得ることができ、前記帯状抵抗体の短軸方向の座標位置
については、前記帯状抵抗体に特定して電圧変化ないし
は隣接帯状抵抗体相互の電圧変化により測定して得るこ
とができることを特徴とする請求項９または請求項１０
記載の座標位置入力装置。
【請求項１２】前記物体の容量に応じて積分の回数を
可変して加算平均する制御を行うことを特徴とする請求
項１０記載の座標位置入力装置。
【請求項１３】積分回数を１回もしくは複数回ずつ増
やしていって設定した値を超えたときの回数より積分処
理の回数を決定することを特徴とする請求項１２記載の
座標位置入力装置。
【請求項１４】積分回数をテーブルに登録しておき、
テーブルに登録された値だけ積分していき、設定した値
を超えたときの回数より積分処理の回数を決定すること
を特徴とする請求項１２記載の座標位置入力装置。
【請求項１５】積分を１回もしくは複数回行った値か
ら検出レベルが適正な積分回数を演算して求めることを
特徴とする請求項１２記載の座標位置入力装置。