JP3856657B2 - 回路構造 - Google Patents

回路構造 Download PDF

Info

Publication number
JP3856657B2
JP3856657B2 JP2001106828A JP2001106828A JP3856657B2 JP 3856657 B2 JP3856657 B2 JP 3856657B2 JP 2001106828 A JP2001106828 A JP 2001106828A JP 2001106828 A JP2001106828 A JP 2001106828A JP 3856657 B2 JP3856657 B2 JP 3856657B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
wiring
layers
conductive
smectic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001106828A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002303749A (ja
Inventor
弘一 宮地
良弘 和泉
洋 合田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2001106828A priority Critical patent/JP3856657B2/ja
Priority to US10/117,614 priority patent/US6759749B2/en
Publication of JP2002303749A publication Critical patent/JP2002303749A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3856657B2 publication Critical patent/JP3856657B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B6/122Basic optical elements, e.g. light-guiding paths
    • G02B6/125Bends, branchings or intersections
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/403Edge contacts; Windows or holes in the substrate having plural connections on the walls thereof
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B2006/12035Materials
    • G02B2006/12038Glass (SiO2 based materials)
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/10Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type
    • G02B6/12Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings of the optical waveguide type of the integrated circuit kind
    • G02B2006/12166Manufacturing methods
    • G02B2006/12178Epitaxial growth
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/43Arrangements comprising a plurality of opto-electronic elements and associated optical interconnections
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/03Conductive materials
    • H05K2201/032Materials
    • H05K2201/0326Inorganic, non-metallic conductor, e.g. indium-tin oxide [ITO]
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09145Edge details
    • H05K2201/09154Bevelled, chamferred or tapered edge
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09145Edge details
    • H05K2201/0919Exposing inner circuit layers or metal planes at the side edge of the printed circuit board [PCB] or at the walls of large holes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09818Shape or layout details not covered by a single group of H05K2201/09009 - H05K2201/09809
    • H05K2201/09836Oblique hole, via or bump
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • H05K3/4611Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Structure Of Printed Boards (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、回路構造(電気回路構造を含む)およびその製造方法ならびに配線構造に関する。
【0002】
【従来の技術】
複数の配線を有する配線基板(または電気回路基板)や、複数の導波路を有する導波路基板(または光回路基板)が、多くの分野で用いられている。配線基板や導波路基板などの回路基板は、所定の形状に形成された電気または光を通す複数の伝導路(すなわち、配線または導波路)を有する回路構造が基板上に形成されている。これらの回路構造の製造方法を、配線基板を例に説明する。
【0003】
基板上に導電性を有する膜(例えば金属膜)を形成し、これをフォトリソグラフィプロセス等を用いて所定の形状にパターニングすることによって、所定のパターンの配線が形成された基板が得られる。あるいは、印刷法や転写法を用いて、所定のパターンを有する導電層(すなわち配線)を基板上に形成することもある。
【0004】
多層配線構造を形成する場合には、1層目の配線を形成した後、絶縁層を形成し、その後、2層目の配線を形成するという工程が繰り返される。いずれの方法においても、各層の配線に対して、所定の形状にパターニングするための工程が必要である。すなわち、フォトリソグラフィプロセスを用いる場合には、各層の配線を形成するための導電層毎にフォトリソ工程を実行する必要があり、印刷法や転写方法を用いる場合は、各層の配線に応じた印刷版を用いた印刷工程または、各層の配線と同じパターンに形成された転写用導電層を転写する工程を実行する必要がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
上述したように、従来の製造方法によると、多層配線構造など、複数の層に伝導路を有する回路構造を形成するためには、各層の伝導路に対して、所定の形状にパターニングするための工程が必要である。その結果、製造プロセスが煩雑になり、製造コストの上昇や生産性の低下を招いていた。
【0006】
本発明は、上記の問題を解決するためになされたものであり、その目的は、従来よりも簡便な方法で製造される回路構造およびそのような回路構造の製造方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明による回路構造は、それぞれが電気を通す複数の配線と、前記複数の配線の少なくとも1つをそれぞれが有する複数の配線層と、前記複数の配線層の間に設けられた少なくとも1つの層間絶縁層と、前記複数の配線のいずれかにそれぞれが接続された複数の入出力電極と、を有し、前記複数の配線層のそれぞれは、複数の第1導電層と前記複数の第1導電層の間に設けられた少なくとも1つの第1絶縁層とを含む第1積層構造を有し、前記少なくとも1つの層間絶縁層は、複数の第2絶縁層と前記複数の第2絶縁層の間に設けられた少なくとも1つの第2導電層とを含む第2積層構造を有し、互いに交差すると共に互いに異なる深さを有する複数の溝が形成された基板を更に有し、前記複数の配線層および前記少なくとも1つの層間絶縁層は、前記複数の溝内にそれぞれ形成され、前記複数の溝に形成されている前記配線層は、前記各溝同士の間で絶縁され、配線構造として機能する。そのことによって上記目的が達成される
【0008】
記複数の入出力電極のそれぞれは、前記第1積層構造が有する前記複数の第1導電層と、前記複数の第1導電層の層面と交差する面で接触している構成を有してもよい。
【0009】
前記第1積層構造および第2積層構造が含む前記複数の第1導電層および前記少なくとも1つの第2導電層と、前記少なくとも1つの第1絶縁層および前記複数の第2絶縁層は、それぞれ実質的に同じ材料を用いて形成されることが好ましい
【0010】
記第1積層構造および第2積層構造は、両親媒性分子の二分子膜から形成されてよい。
【0011】
前記第1積層構造および第2積層構造は、スメクティック相を呈する材料から形成されてることが好ましい。前記スメクティック相はスメクティックE相であることがさらに好ましい。
【0012】
前記第1積層構造および第2積層構造は、硬化されたスメクティック液晶材料を含んでもよい
【0013】
【発明の実施の形態】
まず、本発明による回路構造の基本的な構成とその作用・効果を説明する。
【0014】
本発明による回路構造は、それぞれが電気を通す配線を少なくとも1つ有する複数の配線層と、複数の配線層の間に設けられた少なくとも1つの層間絶縁層とを有する。複数の入出力電極のそれぞれが、配線のいずれかに接続されている。複数の配線層のそれぞれは、複数の第1導電層とこの複数の第1導電層の間に設けられた少なくとも1つの第1絶縁層とを含む第1積層構造を有する。また、層間絶縁層は、複数の第2絶縁層と前記複数の第2絶縁層の間に設けられた少なくとも1つの第2導電層とを含む第2積層構造を有する。すなわち、複数の配線層および配線層の間に設けられる層間絶縁層の両方が、導電層絶縁層との積層体から構成されている。積層体のどのレベル(複数の層)が伝導路層となるかは、入出力電極が設けられる位置によって決められている。
【0015】
この積層体は、配線層層間絶縁層との積層体であり、且つ、配線層および層間絶縁層のそれぞれは、導電層絶縁層とから形成された積層体によって構成されいるので、多重積層構造を有していることになる。典型的には、この積層体の複数の導電層は実質的に同じ材料で形成され、一方、複数の絶縁層も実質的に同じ材料で形成される。また、積層体は、典型的には、実質的に互いに等しい導電層と、実質的に互いに等しい絶縁層との交互積層体として形成されるが、配線層層間絶縁層との間に、さらに他の層を設けることもできる
【0016】
の積層体の導電層の間には絶縁層が設けられているので、積層体の層法線方向に電流は流れず、各導電層の層面内にだけ電流が流れる。すなわち、配線層を1つの伝導体と見なすと、この積層体から形成された配線層の導電性は異方性を有していると言える。基本的に異方性導電体として振舞う積層体で構成されているので、層法線方向に新たな絶縁構造を設けなくとも、配線層として機能させる導電層を選択する入出力電極さえ設ければ、簡便に多層配線を構成できることになる。入出力電極は、例えば、配線層(第1積層構造)が有する複数の導電層と、導電層の層面と交差する面で接触するように設けられる。
【0017】
本発明による回路構造は、上述のような構成を有しているので、配線層および層間絶縁層をそれぞれ実質的に同じ積層構造で実現することが可能になる。従って、配線層層間絶縁層とを別々のプロセスで形成する必要がなく、回路構造の製造を簡略化することができる。また、配線層をパターニングする必要は必ずしも無く、1つの配線層に接続される入出力電極の間に位置する配線層の部分が主に配線として機能する。なお、積層体の側面とは、積層体の外形を規定する面の内、積層体の層面と交差する方向に広がる面を指す。側面は、典型的には平面であるが、曲面であってもよく、側面の数にも制限はない。
【0018】
また、多重積層構造の外形を規定することによって、配線の二次元的な配置を規定することが可能となり、1つの配線層に複数の導電路を形成することができる。本発明の配線構造は、多重積層構造を有しているので、従来のフォトリソグラフィプロセス、印刷法や転写法を用いることなく、所定のパターンの導電路の多層化した構造を形成することができる。例えば、基板に形成された複数の溝内に積層構造を形成すると、溝内に形成された積層構造は互いに電気的にあるいは光学的に分離され得る。すなわち、溝の形状を適宜設定することによって、互いに電気的に分離された複数の配線を有する回路構造を形成することができる。
【0019】
多層積層構造は、種々の材料を用いて、種々の方法で形成され得る。少なくとも成形過程で、流動性を有する材料を用いると、基板上に形成された、所望の構造(深さや延設する方向)の溝に、当該材料を流し込むだけで、溝内に簡便に積層構造を形成することができる。さらに、配線構造を形成する場合、導電層と絶縁層との交互積層構造を自発的に形成する材料を用いることによって、製造方法をさらに簡略化できるという利点が得られる。
【0020】
例えば、導電性スメクティック液晶は、流動性を有し、且つ、導電層と絶縁層とが交互に積層された構造を発現するので、所望の構造の溝に流し込むだけで、溝内に簡便に積層構造を形成する。このように、溝内に積層構造を形成することによって、多層配線構造のような多層回路構造を形成するために、従来、層ごとに必要であったパターニング工程を省略することができる。
【0021】
特に、スメクティックE相の液晶は、導電性が高いので好ましい。また、スメクティック液晶を硬化することによって、構造が安定な配線構造を形成することができる。スメクティック材料に代えて、両親媒性の二分子膜を用いることもできる。
【0022】
なお、配線構造として、配線層と、複数の配線層と交互に積層された複数の層間絶縁層と複数の配線層のいずれかにそれぞれが接続された複数の入出力電極とを有し、複数の配線層のそれぞれが実質的にパターニングされていない構成を有してもよい。この配線構造においては、それぞれの配線層は、1つの配線として機能する。パターニングによって複数の配線を1つの配線層に形成する代わりに、複数の配線層を形成し、それぞれを1つの配線として利用する。それぞれの配線層の、入出力電極の間に位置する部分に主に電流が流れ、この部分が主に配線として機能するので、入出力電極と接続される部分の位置を配線層ごとに適宜設定することで、配線層間の相互干渉を防止することができる。
【0023】
勿論、上記の説明における入出力電極は、実際に電圧が印加される電極のことを指し、層間絶縁層に含まれる導電層と接触する電極を設けることを排除するものでは無い。すなわち、全ての導電層が複数の電極のいずれかに接続されるように複数の電極を設け、複数の電極のうちのいずれかにだけ電圧を印加する構成としても良い。このような構成を採用すると、電極の配置も含めたある1つの配線構造によって、種々の電気接続パターンを実現することができる。
【0024】
以下に、本発明による配線構造および導波路構造の実施形態および比較例を図面を参照しながら説明する。
【0025】
参考例1)
本発明の参考例1の配線構造の模式的な部分断面図を図1(a)および(b)に示す。
【0026】
図1(a)に示した配線構造100Aは、複数の導電層1と複数の絶縁層2とが交互に積層された積層体10と、複数の入出力電極20aとを有している。この積層体10のあるレベルが配線層11を構成し、他のレベルが層間絶縁層12を構成しており、積層体10は、配線層11と層間絶縁層12との積層体でもある。
【0027】
積層体10のどのレベルを配線層(配線)11として用いるか、および、どのレベルを層間絶縁層12として利用するかは、入出力電極20aを設ける位置によって決められている。入出力電極20aに接続された導電層1を有する積層体10のレベル(第1積層体)が配線層11として機能し、積層体10の他のレベル(第2積層体)が層間絶縁層12として機能することになる。例えば、入出力電極20aは、配線層(第1積層構造)11が有する複数の導電層1と、導電層1の層面と交差する面で接触するように設けられる。この例では、導電層1の端辺(積層体10の側面)で導電層1と接触するように入出力電極20aが形成されている。
【0028】
図1(b)に示した配線構造100Bは、導電層1の面内で、導電層1と接触する入出力電極20bが形成されている。積層体10の内部にある配線層11中の導電層1に接続される入出力電極20bは、積層体10に設けられた穴30内に形成される。穴30の内面(入出力電極20bが形成されている箇所を除く)は、絶縁材料で被覆されるか、または、穴30内に絶縁材料が充填されていることが好ましい。入出力電極20bはリード22を介して他の電極(不図示)に電気的に接続される。
【0029】
図2(a)に示す配線構造100Cおよび図2(b)に示す100Dのように、基板(不図示)の斜面42を利用することによって、配線層11中の導電層1と電気的に接続される入出力電極20cを容易に形成することができる。
【0030】
例えば、ガラス基板の表面をテーパ状に加工し、その表面を斜面42として利用すればよい。斜面42上に形成した複数の入出力電極20cは、それぞれ違うレベルの導電層1と接続され、それぞれが配線層11を規定することになる。
【0031】
図2(a)に示したように、積層体10の一方の側面を斜面42と接するように形成してもよいし、図2(b)に示したように、積層体10の互いに対向する一対の側面を斜面42に接するように形成してもよい。勿論、積層体10の層法線方向からみた形状は、四角形や多角形を含む、種々の形状であり得るので、積層体10の任意の側面を斜面42と接するように形成し、斜面42上に形成された入出力電極20cと配線層11中の導電層1との電気的な接続を形成することができる。このように、積層体10の複数の側面に入出力電極20cを設けると、それぞれの側面に形成される入出力電極20cの数を減らし、入出力電極20c間のピッチを広くすることができるので、多数の入出力電極20cを有する配線構造の製造に有利である。
【0032】
さらに、図3に示す配線構造100Eを形成してもよい。配線構造100Eは、基板40の斜面42上に、斜面42に平行な導電層1と絶縁層2とが互いに積層された積層体10を有している。すなわち、積層体10の積層方向は斜面42の法線方向となっている。積層体10の側面は、基板40の底面43に平行に加工されており、この側面に平行な面44上に入出力電極20eが形成されている。
【0033】
配線構造100Eは、例えば、基板40の斜面42上に、積層体10を形成し、その積層体10の側面を研磨等の方法で加工することによって得られる。積層体10の側面は、例示したような平坦な面に限られず、導電層1の層面と交差する面であればよい。勿論、階段上に複数の面を形成してもよい。
【0034】
上述した配線構造を元に、例えば、図4に示す配線構造100Fを構成することができる。
【0035】
配線構造100Fは、基板40と、対向基板50と、積層体10とを有している。積層体10は、基板40と対向基板50とシール剤62によって囲まれた空間に形成されている。積層体10は、例えば、図2(a)に示したような構造を有し、その配線層(不図示)中の導電層(不図示)は、斜面42上に形成された入出力電極20fに電気的に接続されている。あるいは、積層体10は、図3に示したような構造を有し、その配線層中の導電層は、対向基板50の平坦な表面52に設けられる入出力電極20gに電気的に接続される構造であってもよい。
【0036】
図4に示した配線構造100Fを例に本参考例の配線構造の製造方法を説明する。ここでは、積層体10は、図2(a)に示した構造を有しているとする。
【0037】
基板40や対向基板50には、絶縁性表面を有する公知の基板(例えば、ガラス基板やプラスチック基板)を用いることができる。また、入出力電極20fも公知の導電性材料を用いて公知の方法で形成される。例えば、導電性ペーストを用いた印刷法で、ガラス基板40の斜面42上に所定の間隔で入出力電極20fを形成する。ガラス基板40および対向基板50をシール剤62を用いて貼り合わせ、図4に示した配線構造100Fの外郭構造を形成する。
【0038】
積層体10は、公知の種々の材料を用いて形成することができる。ここでは、スメクティックE相を呈する液晶材料を用いる。良く知られているように、スメクティック液晶材料は、自発的に層状構造を形成する。この層状構造を構成する個々の層は、スメクティック層と呼ばれる。スメクティック液晶材料の中でも、電気伝導性に優れることから、スメクティックE相(SmE相と表記する)を呈する液晶材料が好ましい。
【0039】
ここでは、SmE相を呈する液晶材料として、2−(4´−octylphenyl)−6−butoxynaphtalene(略称、8−PNP−O4)を用意する。8−PNP−O4は、例えば、特開2000−192042号公報に開示されている方法で合成することができる。8−PNP−O4の化学構造を化1に示す。
【0040】
【化1】
Figure 0003856657
【0041】
8−PNP−O4は、55℃まで結晶相、55℃〜125℃の範囲でSmE相、125℃〜129℃の範囲でSmA相、129℃以上で等方性液体相を示す。
【0042】
8−PNP−O4はSmE相を示しているとき、図5に模式的に示す積層体70を形成している。互いに平行に配列した棒状の液晶分子72が個々のスメクティック層74を形成し、多数のスメクティック層72が液晶分子72の分子軸方向に積層された構造を形成している。隣接するスメクティック層74の間には、層間領域76が形成される。この層間領域76は、後述するように不純物イオン78が移動するチャネルとなることもある。なお、一般に、スメクティック層は、図示されたように1分子層で形成される場合だけでなく、液晶分子の構造によっては、二分子層が実質的に1つのスメクティック層を形成する場合もある。
【0043】
スメクティック層74の面内方向では、隣接する液晶分子72間の距離が短いので、分子間を電子やホールがホッピングすることによる電子伝導(ホッピング伝導)が起こる。しかしながら、スメクティック層法線方向では、液晶分子72間の距離が長いので、ホッピング伝導は起こらない。すなわち、SmE相にある液晶材料は、スメクティック層72の面内方向においてのみ電気伝導が起こるので、異方性導電体と見なすことができる。また、SmE相にある液晶材料に形成されている各スメクティック層74(厳密には、液晶分子の一部であり、主にメソゲン部分)が導電層1として機能し、各層間領域76(および電子伝導に寄与しない液晶分子の部分、主にスペーサ部分)が絶縁層2として機能しているということができる。従って、スメクティック層構造は、導電層1と絶縁層2とが交互に積層された積層体10を構成するといえる。1つのスメクティック層の厚さは、分子レベルなので、非常に多くの導電層1と絶縁層2とが形成されていることになる。
【0044】
なお、ある層構造が本発明の積層体10として機能するためには、層面内の電気伝導度が層法線方向の電気伝導度に対して、1桁以上あることが好ましく、3桁以上あることがさらに好ましい。
【0045】
なお、これまでに例示した配線構造100A〜100Fでは、配線層11は複数の導電層1を含み、層間絶縁層12は複数の絶縁層2を含んでいる。すなわち、配線層11の導電性は、個々の導電層1の導電性と、配線層11に含まれる導電層1の数によって決まる。層間絶縁層12についても同様である。従って、入出力電極の幅(面積)や入出力電極間の距離を適宜設定することによって、配線層11に含まれる導電層1の数や層間絶縁層12に含まれる絶縁層2の数を調節することによって、所望の導電性や絶縁性を達成することができる。
【0046】
上述の様にして形成された配線構造100Fの外郭構造の内部に、液晶材料を注入する。例えば、外郭構造の一部に形成した注入口(不図示)から注入する。なお、スメクティック層構造を安定に形成するために、液晶分子の配向方向を制御する配向膜を基板40の斜面42および対向基板50の表面52に形成しておくことが好ましい。液晶材料の注入は、等方性液体相を示す温度で行なうことが好ましい。
【0047】
注入口を封止した後、SmE相を示す温度範囲内まで冷却することによって、図3に示した積層体10として機能するスメクティック層構造からなる積層体70が形成される。SmE相は、種々の液晶相のなかでも分子配向秩序が高く、且つ、粘性も高いので、スメクティック層構造の機械的安定性は、スメクティックA相(SmA相)よりも優れている。
【0048】
尚、基板40の斜面42の傾斜角は、液晶材料がスメクティック層構造を保持しながら(各スメクティック層が断切れ等を生じずに)、入出力電極20fと確実に電気的な接続が取れるような形状(傾斜角度、長さ等)であることが好ましい。
【0049】
上記の例では、SmE相を示す液晶材料を用いたが、他のスメクティック相(例えば、SmA相、SmB相など)を示す材料を用いてもよい。但し、SmE相以外のスメクティック相ではポッピング伝導が起こりにくいので、電気伝導性を向上するために、不純物イオン(例えばリチウムイオン)78を添加することが好ましい。勿論、SmE相を示す材料に不純物イオン78を添加してもよい。
【0050】
イオン78は、図5に模式的に示したように、層間領域76において動きやすいが、スメクティック層74を超えて隣の層間領域76へ動くことは確率的には低い。なぜなら、スメクティック層74内の液晶分子72間の距離は短く、イオン78が動くスペースが少ないことが原因と思われる。従って、イオン78による電荷移動であるイオン伝導は層間領域76内でのみ起こる。従って、イオン伝導に対しては、層間領域76が導電層1として機能し、スメクティック層74が絶縁層2として機能することになる。すなわち、導電層1と絶縁層2とが交互に積層された積層体が得られたことになる。
【0051】
さらに、上述した液晶材料のスメクティック層構造の機械的な安定性を高めるために、液晶分子を高分子化してもよい。例えば、光反応性の官能基を液晶分子に導入し、上述の様にしてスメクティック層構造を形成した後、光照射することによって、液晶分子を重合することによって高分子液晶を得ることができる。また、液晶材料と光重合性化合物とを混合した材料を用い、液晶材料がスメクティック層構造を形成した後で、光重合性化合物を光重合することによって高分子化し、スメクティック層構造を高分子のネットワーク内で安定化することもできる。液晶分子の高分子化および高分子ネットワークによる液晶分子の配向の安定化は、公知の方法で実行できる。
【0052】
液晶材料のほかに、両親媒性分子の二分子膜(例えば、生体系の脂質二分子膜)を利用することができる。図6を参照しながら、二分子膜を用いて配線構造を得る方法を説明する。
【0053】
両親媒性分子84を含む溶液を固体表面に繰り返し塗布することによって、二分子膜の積層構造からなる積層体80を得ることができる。固体表面を化学修飾することによって、二分子膜の積層形態を制御することもできる。二分子膜の積層構造を形成する種々の公知の方法を用いることができる。
【0054】
両親媒性分子84は、親水性部分82aと疎水性部分82bとを有し、親水性部分82a同士、および疎水性部分82b同士が互いに隣接するような積層構造を形成する。この積層構造は、二分子膜84が積層された構造となっている。互いに隣接する二分子膜84の間には、層間領域86が形成される。この層間領域86には、溶媒87が存在する。すなわち、溶媒87に対して親和性が高い親水性部分82aに挟まれるように、層間領域86が形成されている。
【0055】
このような構造を有する二分子膜84の積層体に、不純物イオン(例えば、リチウムイオン)88を混入させることによって、層間領域86に導電性を付与することができる。イオン88は、疎水性部分82bが凝集している二分子膜84内を通過することは出来ないので、二分子膜84の膜面法線方向には電流は流れない。すなわち、層間領域86が導電層1として機能し、二分子膜84が絶縁層2として機能するので、上述のスメクティック層構造と同様に、二分子膜積層構造も、異方性導電体であり、導電層1と絶縁層2とが交互に積層された積層体が得られたことになる。
【0056】
スメクティック液晶や両親媒性分子を含む溶液は、それらの分子間相互作用に起因する自己組織化のメカニズムで、導電層と絶縁層との交互積層体70または80(すなわち、異方性導電体)を形成するので、配線構造の製造を極めて簡便にすることができる。さらに、これらの材料は、少なくとも、積層体を形成する過程において流動性(液晶または溶液)であるので、後述するように、溝などを用いてその外形を容易に規定することができるという利点もある。例えば、複数の溝を用いることによって、それぞれの溝に独立した配線(配線層)を形成することができるし、複数の溝間をつなぐ溝を設けることによって、複数の配線を連結することもできる。
【0057】
勿論、自己組織化のメカニズムが働かない材料を用いても、積層体を形成することができる。公知の種々の方法を用いて、導電層と絶縁層とを繰り返し形成すればよい。但し、各導電層を配線として用いるために、形成された導電層をパターニングしたり、あるいは、予め決められたパターンを有する導電層を形成することを省略する。すなわち、各導電層は実質的に同じプロセスで形成され、各絶縁層も実質的に同じプロセスで形成され、そのことによって、製造方法が単純化される。
【0058】
自己組織化の作用を有しない材料のなかでも、少なくとも積層体の形成工程で流動性を有する材料を用いることが好ましいのは、上述の通りである。少なくとも形成工程で流動性を有し得る導電性材料としては、導電性高分子、低融点金属(例えば半田)や導電性粒子とバインダ樹脂との混合物を挙げることができる。流動性と絶縁性を備えた材料としては、種々の高分子材料を始め多くの材料を用いることができる。
【0059】
形成工程で流動性を有する材料を用いて、導電性または絶縁性を有する層を成形する方法として、ゾルゲル法を挙げることができる。導電層を例えばITOで形成し、絶縁層を例えばSiOやTiOで形成することができる。それぞれの層を形成する材料を金属アルコキシドの形にした後、アセチルアセトンで化学修飾し、前駆体の溶液を作る。この溶液をスピン塗布やディップ塗布などの方法を用いて基板上に成膜してから、加水分解・重縮合反応などを経た後に酸化膜となる。この工程を2種類の材料を用いて、交互に繰り返すことで絶縁層と導電層との交互積層構造を得ることが出来る。
【0060】
勿論、スパッタ法やCVD法などの薄膜形成技術(ドライプロセス)を用いて、流動性を有しない材料からなる積層体を形成することもできる。例えば、スパッタ法を用いて、Alをスパッタしながら、チャンバ内への酸素ガス導入をOn/Off制御することによって、AlとAlとの交互積層体を形成することが出来る。
【0061】
ここまでの説明では、例えば、図1(b)に示したように、それぞれの配線層11を複数の導電層1で構成し、それぞれの層間絶縁層12を複数の絶縁層2で構成された積層体10を備える配線構造を説明したが、図7に示す配線構造200を構成することもできる。
【0062】
配線構造200が有する積層体90は、それぞれが1つの導電層1だけを含む複数の配線層91と、それぞれが1つの絶縁層2だけを含む複数の層間絶縁層92とを備えている。それぞれの導電層1はパターニングされておらず、それぞれが1つの配線として機能する。それぞれの配線層91には、少なくとも1つの入出力電極94が設けられており、リード96を介して、LED95に接続されている。それぞれのLED95は、それぞれ2本のリード96を介して、2つの入出力電極94に接続されている。LED95が有する2つの端子の内の一方の端子は、共通の配線層91(ここでは表面に形成された配線層91)に設けられた入出力電極94に接続されている。
【0063】
図7に示した構造は、例えば、以下の様にして製造することができる。簡単のために、LED95が4つの場合を説明する。
【0064】
基板40の表面に、ゾルゲル法を用いて、ITOからなる5つの配線層91と、SiOからなる4つの層間絶縁層92とを交互に形成し、積層体90を得る。各層の厚さは、例えば、1μmとする。
【0065】
次に、積層体90の所定の位置に所定の深さの4つの穴を形成する。ここでは、基板40の直上に形成された配線層91に到達する穴(不図示)を4つ形成する。用意した4つのLED95に接続されている一方のリード96を表層の配線層91に接続し、他方のリード96を積層体90の内部に形成されている互いに異なる配線層91に接続する。例えば、リード96として、線状の導体の表面を絶縁材料で被覆したものを用い、それぞれ、先端または先端からの距離が接続される所定の配線層91のレベル(穴の底からの距離)と一致する部分の導体が露出されるように、導体表面の絶縁材料を取り除いておく。このようなリード96を積層体90中に形成した穴に挿入することによって、それぞれのリード96は、導体が露出されて部分で、それぞれ対応する配線層91と接触し、電気的な接続が形成される。リード96を形成する胴体が露出され部分がそれぞれ入出力電極94として機能することになる。
【0066】
このような配線構造200に接続されたLED95のアレイは、積層体90の側面から各配線層91に印加する電圧によって制御することができ、それぞれのLED95は独立に制御が可能になっている。すなわち、導体層をパターニングして配線を形成することなしに、4つのLEDを独立に制御できる配線構造が得られる。勿論、LEDアレイだけでなく、種々のデバイス用の配線構造を提供することができる。
【0067】
配線構造200は、ゾルゲル法以外の方法を用いて、また、他の材料を用いて形成できる。例えば、銅薄とポリイミドフィルムとの積層体を用いることもできる。但し、導電層と絶縁層との交互積層体を自発的に形成する材料は、それぞれの層が有する導電性まはた絶縁性が充分でないことが多いので、個々の配線層および層間絶縁層を複数の層(導電層および/または絶縁層)で形成することが好ましい。勿論、必要に応じて、例えば、配線構造100Aと配線構造200の構造を組み合わせることもできる。
【0068】
(実施形態
実施形態においては、溝を用いて外形を規定した配線構造の実施形態を説明する。実施形態の配線構造300を図8(a)および(b)に模式的に示す。図8(a)は上面図、図8(b)は、分解斜視図である。
【0069】
配線構造300は、基板301に形成された溝305および306内に積層体310が形成されている。基板301としては、例えばプラスチック基板を好適に用いることができる。
【0070】
溝305と溝306とは、互いに交差するように設けられており、互いに異なる深さを有している。ここでは、溝305の方が深い。また、溝305および306の端部(延設方向の端)には、傾斜した側面(斜面305aおよび306a)が形成されている。溝305および溝306のその他の側面は、基板301の法線に平行で、底面は、基板301が規定する面に平行である。
【0071】
溝305および306のそれぞれの斜面305aおよび306aの少なくとも一部に、端子電極(「入出力電極」に相当)320が設けられいる。溝305および306のそれぞれに設けられている端子電極320の深さ(積層体310中のレベル)が異なる。言い換えると、端子電極320が設けられている深さを調整することによって、積層体310中の異なるレベルの部分を配線層として機能させることができる。ここでは、上述したSmE相を呈する液晶材料を用いて積層体310を形成する例を説明する。
【0072】
配線構造300は、例えば、以下の様にして製造することができる。
【0073】
まず、図9(a)に示すように、熱可塑性を有するプラスチック基板301’と、金型302’を用意する。金型302’の表面には、幅100μmの2本の突起部305’および306’が形成されている。突起部305’と突起部306’とは互いに交差しており、例えば、突起部305’の高さは200μmで、突起部306’の高さは100μmである。
【0074】
プラスチック基板301’および金型302’を例えば180℃に熱し、金型302’をプラスチック基板301’に押し当てた後、プラスチック基板301’をゆっくりと剥離する。その結果、図9(b)に示すように、金型302’の突起部305’および突起部306’の形状がプラスチック基板301’に転写され、2本の交差する溝305および306を有するプラスチック基板301が得られる。
【0075】
溝305および306を有する基板301は、上述したように、プラスチック基板をエンボス加工することによって、簡便に形成することができるが、これに限らず、射出成形等を用いて形成してもよい。さらに、ガラス基板にエッチングや機械加工よって溝を形成してもよい。
【0076】
次に、得られた基板301の溝305および306の斜面305aおよび306aの所定の位置に、端子電極320を形成する(図8(a)参照)。端子電極320の形成は、印刷法や転写法、あるいは、フォトリソグラフィ法を用いて形成することができる。端子電極320の材料としては、金属、導電性ペースト等、公知の導電性材料を用いることができる。
【0077】
次に、プラスチック基板301’を、例えば垂直配向膜材料の一種であるDMOAP水溶液に浸し、取り出した後に乾燥させる。この工程で、プラスチック基板301の表面に垂直配向膜(不図示)が形成される。勿論、他の材料を用いて垂直配向膜を形成することもできる。また、基板301の材料によっては、その表面を清浄にするだけでも液晶分子を垂直に配向させることができる。
【0078】
次に、図10(a)に示すように、SmE相を呈する液晶材料(例えば、上述の8−PNP−O4)308を等方的液体相を示す温度において、基板301の溝305および306に流し込む。この後、図10(b)に示すように、平板基板309で蓋をすることによって、溝305および306内に液晶材料308を封入していもよい。この工程により、溝305および306から溢れた余剰の液晶材料308を容易に取り除くことができる。
【0079】
あるいは、図11(a)および(b)に示すように、DMOAPなどで配向処理を施した平板基板309’を基板301に貼り合わせ、積層体310を形成するための実質的に密閉された空間を形成する。予め、平板基板309’に形成しておいた注入口311から液晶材料308を注入してもよい。
【0080】
上述の様にして、溝305および306内に充填された液晶材料308をSmE相を示す温度まで冷却する。その結果、図12に示すようなスメクティック層構造からなる積層体310を溝305および306内に形成することができる。積層体310が有するスメクティック層構造は、図5に示した積層体70と実質的に同じであるので、その特徴の説明はここでは、省略する。なお、等方性液体相を示す温度で注入し、その後、SmE相を示す温度まで徐冷することによって、SmE相の相構造を再現性良く、安定に形成できる利点が得られる。
【0081】
端子電極320付近の構造を図13Aおよび図13Bを参照しながら説明する。図13Aは、図8(a)中の13A−13A’線に沿った断面図であり、図13Bは、図8(a)中の13B−13B’線に沿った断面図である。
【0082】
図13Aに示したように、溝306の斜面306aに設けられた端子電極320は、積層体310の上層レベルdAのみと接触するようになっている。一方、図13Bに示したように、溝305の斜面305aに設けられた端子電極320は、積層体310と下層レベルdBのみと接触するようになっている。溝305および306のそれぞれの他端の斜面305aおよび306aに形成されている端子電極320も、それぞれ図13Aおよび図13Bに示したレベルに形成されている。
【0083】
溝305と306とが互いに交差する部分の構造を図13Cおよび図13Dを参照しながら説明する。図13Cは、図8(a)中の13C−13C’線に沿った断面図であり、図13Dは、図8(a)中の13D−13D’線に沿った断面図である。
【0084】
溝305の深さが200μmである交差部に着目する。最も下層レベルの50μmの部分にあるスメクティック層が、図13B中のdBで示された部分に相当し、溝305の斜面305aに形成された2つの端子電極320(BとD)を互いに接続する配線層として機能する。また、積層体310の最も上層レベルに浅い50μmの部分にあるスメクティック層が、図13A中のdAで示される部分に相当し、溝306の斜面306aに形成された2つの端子電極320(AとC)を互いに接続する配線層として機能する。
【0085】
溝305の中央部の厚さ100μm分のスメクティック層は、何れの導通にも関与しない層間絶縁層として機能する。これによって、溝306の斜面306aに形成された2つの端子電極320(AとC)を接続する配線層と、溝305の斜面305aに形成された2つの端子電極320(BとD)を互いに接続する配線層とを、電気的に絶縁することができる。
【0086】
溝305は、全ての領域にわたって200μmの深さを有する必要はなく、例えば、図13Bに示したように、端子電極320付近で浅くなっていても良い。このような構成にすると、溝305内のスメクティック層のうち表層部にあるスメクティック層は、溝の底面のテーパ部305bに沿って、表層部へ押し上げられ、端子電極320に接触しない。すなわち、積層体310の下層のスメクティック層が底面に沿って端子電極320に到達する。なお、このとき、溝305の底面に設けるテーパ305bは、溝305内に形成されるスメクティック層が、層構造を保持しながら(断切れ等を生じずに)、テーパ305bに追随し、端子電極320と確実に電気的な接続が取れるような形状(傾斜角度、長さ等)であることが好ましい。
【0087】
このようにして、互いに交差する2つの配線としての機能を有する配線構造300が得られる。また、実質的に2つの配線が、深さの異なる溝305および306にスメクティック液晶を充填するという一回の工程で形成される。これは、積層体310が、図5の積層体70と同様に、層法線方向には実質的に電流を流さない異方性導電体であるためである。また、互いに交差する2本の配線間を絶縁するための層間絶縁層を形成する工程を省略できる利点も得られる。
【0088】
次に、2本の配線と、別の2本の配線が交差する構造を有する配線構造350の製造方法を示す。
【0089】
図14(a)に配線構造350の上面図を示し、図14(b)に、図14(a)中の14B−14B’線に沿った断面図を示す。また、図15に配線構造350の等価回路図を示し、図16に配線構造350に用いられる基板350の斜視図を示す。
【0090】
まず、配線構造300の製造工程と同様に、基板350に2本×2本の構造(溝351,351×溝352、352)を形成する(図16参照)。このとき、溝351が溝352よりも深い構造を形成する(図14(b)参照)。
【0091】
2つの溝351内に形成された積層体310のそれぞれの下層レベル(溝351内の深い部分)で配線を形成すると、これらは互いに絶縁される。すなわち、図15中のT1―T6およびT2−T5間をそれぞれ接続する2つの配線は、互いに独立に形成される。
【0092】
一方、2つの溝352内に形成された積層体310のそれぞれの上層レベル(溝352内の浅い部分:図17中の厚さdAの部分)に配線を形成すると、これらは互いに導通してしまう。すなわち、図15中のT3―T8およびT4−T7間をそれぞれ接続する2つの配線の間に、X点を含む配線が形成されてしまうことになる。溝352の上層レベルに形成される配線の導通を防止するためには、図15中のX点において、積層体310の上層レベルのスメクティック層を分断する必要がある。このような、積層体310の上層レベルに形成される互いに隣接する配線間の導通を防止するための方法を以下に説明する。
【0093】
第1の方法では、図17に示すように、溝352と隣合う二本の溝351との交差部の間(図15のX点に相当する位置)の溝351の底面に凸部362を形成する。この凸部362の高さdCを、溝352内の配線を形成している上層レベルの厚さdAよりも大きくする。これにより、溝352内に形成された積層体310の上層レベルのスメクティック層が分断され、図15中のX点が切断される。
【0094】
第2の方法を、図18A、図18B、図18Cおよび図18Dを参照しながら説明する。図18Aは、第2の方法による配線構造350’の上面図(端子電極を省略)、図18Bは配線構造350’に用いられる基板360’の斜視図、図18Cは配線構造350’の上面図(端子電極あり)で、図18Dは図18C中の18D−18D’線に沿った断面図である。
【0095】
図18Aおよび図18Bに示した様に、図15中のX点に相当する部分で互いに分離された2対の溝351aおよび351bを形成する。すなわち、それぞの対が、図16の溝351に対応する。また、溝351aおよび351bの下層レベルに形成された配線を互いに接続する接続電極356を図18cおよび図18Dに示した様に形成する。図18Dに示した様に、溝351aおよび351bの底面はテーパ状に加工されており、端子電極T2およびT5に接続されている下層レベルのスメクティック層(配線)だけが接続電極356に接触するように形成されている。
【0096】
上記の例では、1つの溝内に形成された積層体310に2層の配線層を形成した例を説明したが、3層以上の配線層を形成する構成も同様に形成できる。図19に示すように、基板365に形成された溝370内に形成された積層体310に、3つの配線層11を形成した場合にも、端子電極380を形成するレベル(深さ)によって、接続される配線層11を規定することができる。
【0097】
上記の例では、予め形成された溝内に積層体を形成することによって、配線層の外形を規定したが、図20(a)および(b)に示すように、表面に突起392を有する基板390を利用することもできる。
【0098】
まず、図20(a)に示した様に、表面に突起392を有する基板390を用意する。例えば、プラスチック基板をエンボス加工することによって得られる。この基板390の表面上に、導電層1と絶縁層2とを交互に積層する。例えば、スパッタ法を用いて実行できる。
【0099】
この後、図20(b)に示したように、得られた積層体10の表面を、例えば砥石394を用いて研磨することによって、不要な導電層1を取り除く。その結果、導電層(配線層)の外形が規定される。すなわち、突起392の間の領域に配線が形成される。なお、簡単のために2つの導電層1と1つの絶縁層2しか示していないが、上述してきたように、複数の導電層1を用いて配線層を形成し、複数の絶縁層2を用いて層間絶縁層を形成してもよい。
【0100】
参考例2
参考例1および実施形態1では、配線構造について説明したが、導波路構造(光回路構造)を形成することもできる。
【0101】
配線構造における導電層の代わりにコア層を形成し、絶縁層の代わりにククラッド層を形成することによって、コア層とクラッド層の交互積層体が得られる。これは、一対のクラッド層とその間のコア層とによって形成される導波路層が複数積層された導波路構造となる。
【0102】
例えば、図21に示す導波路構造400のように、2本の互いに交差する深さの異なる溝410aおよび410bが形成された基板410に、複数の導波路層420を形成することができる。クラッド層412としてSiO(n=1.46)を用い、コア層411として7059ガラス(n=1.54)を用いて、例えばスパッタ法で交互積層構造を形成することができる。図で簡単のためにそれぞれの溝410aおよび41bの溝に1つの導波路層420を示しているが、それぞれの溝410aおよび410b内に、複数の導波路層420が積層された構造を作製することが好ましい。このように、同一方向に複数の導波路層420が積層された導波路構造は、複数の導波路層420のそれぞれに入出力部(光取り出し部)を設けることによって、同一方向における複数の場所から略均一な強度の光を取り出すことができるという利点がある。これに対して、1つの溝に1つの導波路層420が設けられた構成は、同一方向における複数の場所に入出力部(光取り出し部)を設けた場合、取り出しロスが大きく、略均一な強度の光が取り出せないことがある。
【0103】
上述のような導波路構造は、液晶表示装置の光アドレス用回路基板や、光コンピューティング用の光回路として利用することができる。
【0104】
【発明の効果】
上述したように、本発明によると、従来よりも簡便な方法で製造される回路構造(配線構造および導波路構造)が提供されるとともに、そのような回路構造の製造方法が提供される。
【0105】
本発明による回路構造は、従来よりも簡便な方法で製造されるので、複雑な回路構造を備える電子機器、光学機器の製造コストを低減するとともに、製造に要するエネルギーを削減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 (a)および(b)は、本発明による参考例1の配線構造の模式的な部分断面図である。
【図2】 (a)および(b)は、参考例1の他の配線構造の模式的な部分断面図である。
【図3】 参考例1の他の配線構造の模式的な部分断面図である。
【図4】 参考例1の他の配線構造の模式図である。
【図5】 参考例1の配線構造に用いられるスメクティック層構造からなる積層体を示す模式図である。
【図6】 参考例1の配線構造に用いられる二分子膜の積層構造からなる積層体を示す模式図である。
【図7】 参考例1の他の配線構造の模式図である。
【図8】 (a)および(b)は、本発明による実施形態の配線構造を示す模式図である。
【図9】 (a)および(b)は、図8に示した配線構造を製造する工程を説明するための図である。
【図10】 (a)および(b)は、図8に示した配線構造を製造する工程を説明するための図である。
【図11】 (a)および(b)は、図8に示した配線構造を製造する工程を説明するための図である。
【図12】 図8に示した配線構造を製造する工程を説明するための図である。
【図13A】 図8に示した配線構造の端子電極部の構造を説明するための図である。
【図13B】 図8に示した配線構造の他の端子電極部の構造を説明するための図である。
【図13C】 図8に示した配線構造の積層体の部分構造を説明するための図である。
【図13D】 図8に示した配線構造の積層体の他の部分構造を説明するための図である。
【図14】 実施形態の他の配線構造を示す図であり、(a)は上面図を示し、(b)は(a)中の14B−14B’線に沿った断面図を示す。
【図15】 図14に示した配線構造の等価回路図である。
【図16】 図14に示した配線構造に用いられる基板の斜視図である。
【図17】 図14に示した配線構造に用いられる積層体の部分断面図である。
【図18A】 実施形態の他の配線構造を示す上面図(端子電極を省略)である。
【図18B】 図18Aに示した配線構造に用いられる基板の斜視図である。
【図18C】 図18Aに示した配線構造の上面図(端子電極あり)である。
【図18D】 図18C中の18D−18D’線に沿った断面図である。
【図19】 3層の配線層を有する配線構造の端子電極部の構造を説明するための図である。
【図20】 (a)および(b)は、配線構造の他の製造方法を説明するための図である。
【図21】 参考例2の導波路構造を示す模式図である。
【符号の説明】
1 導電層
2 絶縁層
11 配線層
12 層間絶縁層
10 積層体
20a、20b、20c、20d、20e、20f、20g 入出力電極
22 リード
30 穴
40 基板
42 斜面
43 基板の底面
44 他の基板の表面
50 対向基板
52 対向基板の表面
62 シール剤
70 スメクティック層構造からなる積層体
80 二分子膜からなる積層体

Claims (7)

  1. それぞれが電気を通す複数の配線と、
    前記複数の配線の少なくとも1つをそれぞれが有する複数の配線層と、
    前記複数の配線層の間に設けられた少なくとも1つの層間絶縁層と、
    前記複数の配線のいずれかにそれぞれが接続された複数の入出力電極と、
    を有し、
    前記複数の配線層のそれぞれは、複数の第1導電層と前記複数の第1導電層の間に設けられた少なくとも1つの第1絶縁層とを含む第1積層構造を有し、
    前記少なくとも1つの層間絶縁層は、複数の第2絶縁層と前記複数の第2絶縁層の間に設けられた少なくとも1つの第2導電層とを含む第2積層構造を有し、
    互いに交差すると共に互いに異なる深さを有する複数の溝が形成された基板を更に有し、
    前記複数の配線層および前記少なくとも1つの層間絶縁層は、前記複数の溝内にそれぞれ形成され、
    前記複数の溝に形成されている前記配線層は、前記各溝同士の間で絶縁され、配線構造として機能する、回路構造。
  2. 前記複数の入出力電極のそれぞれは、前記第1積層構造が有する前記複数の第1導電層と、前記複数の第1導電層の層面と交差する面で接触している、請求項に記載の回路構造。
  3. 前記第1積層構造および第2積層構造が含む前記複数の第1導電層および前記少なくとも1つの第2導電層と、前記少なくとも1つの第1絶縁層および前記複数の第2絶縁層は、それぞれ実質的に同じ材料を用いて形成されている、請求項またはに記載の回路構造。
  4. 前記第1積層構造および第2積層構造は、両親媒性分子の二分子膜から形成されている、請求項からのいずれかに記載の回路構造。
  5. 前記第1積層構造および第2積層構造は、スメクティック相を呈する材料から形成されている、請求項からのいずれかに記載の回路構造。
  6. 前記スメクティック相はスメクティックE相である請求項に記載の回路構造。
  7. 前記第1積層構造および第2積層構造は、硬化されたスメクティック液晶材料を含む、請求項またはに記載の回路構造
JP2001106828A 2001-04-05 2001-04-05 回路構造 Expired - Fee Related JP3856657B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001106828A JP3856657B2 (ja) 2001-04-05 2001-04-05 回路構造
US10/117,614 US6759749B2 (en) 2001-04-05 2002-04-05 Circuit structure, manufacturing method thereof and wiring structure

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001106828A JP3856657B2 (ja) 2001-04-05 2001-04-05 回路構造

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002303749A JP2002303749A (ja) 2002-10-18
JP3856657B2 true JP3856657B2 (ja) 2006-12-13

Family

ID=18959267

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001106828A Expired - Fee Related JP3856657B2 (ja) 2001-04-05 2001-04-05 回路構造

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6759749B2 (ja)
JP (1) JP3856657B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT12322U1 (de) * 2009-01-27 2012-03-15 Dcc Dev Circuits & Components Gmbh Verfahren zur herstellung einer mehrlagigen leiterplatte, haftverhinderungsmaterial sowie mehrlagige leiterplatte und verwendung eines derartigen verfahrens
DE102013207779A1 (de) * 2012-10-23 2014-05-15 Heraeus Precious Metals Gmbh & Co. Kg Multischichtaufbau mit alternierenden leitenden und nicht leitenden Schichten
KR20150014167A (ko) * 2013-07-29 2015-02-06 삼성전기주식회사 유리 코어가 구비된 인쇄회로기판
US9498142B2 (en) * 2014-07-03 2016-11-22 Heraeus Deutschland GmbH & Co. KG Multi-layered structure and method
US20240061177A1 (en) * 2022-08-16 2024-02-22 Panduit Corp. Multichannel optical tap devices

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0490514A (ja) * 1990-08-02 1992-03-24 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
JP3515363B2 (ja) * 1998-03-24 2004-04-05 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
JPH11330670A (ja) 1998-05-14 1999-11-30 Citizen Watch Co Ltd 電子回路の形成方法
US6479900B1 (en) * 1998-12-22 2002-11-12 Sanyo Electric Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing the same
US6534870B1 (en) * 1999-06-15 2003-03-18 Kabushiki Kaisha Toshiba Apparatus and method for manufacturing a semiconductor device
JP4122687B2 (ja) * 2000-06-13 2008-07-23 沖電気工業株式会社 半導体装置
US6522011B1 (en) * 2000-08-15 2003-02-18 Micron Technology, Inc. Low capacitance wiring layout and method for making same

Also Published As

Publication number Publication date
US20020145171A1 (en) 2002-10-10
JP2002303749A (ja) 2002-10-18
US6759749B2 (en) 2004-07-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3644963B2 (ja) 非常に高い伝導率を有しかつ極めて微細な電気回路、同回路の製造方法、ならびに同回路を含む装置
JP3048905B2 (ja) 積層配線基板構造体、及びその製造方法
TWI360244B (en) Laminated structure, production method of the same
US5650640A (en) Integrated electro-optic package
TW200842913A (en) Capacitor devices
JPH057063A (ja) コンデンサ内蔵型配線基板およびその製造方法
KR20130026910A (ko) 유기발광다이오드 및 그의 제조방법
JPH08213754A (ja) 積層配線基板の構造と製作
CN104509206A (zh) 有机电致发光元件
JP3856657B2 (ja) 回路構造
TW202032916A (zh) 包括低電感通孔總成之多層濾波器
JP5008076B2 (ja) 光デバイスの製造方法
Li et al. Multinozzle 3D printing of multilayer and thin flexible electronics
JP5156048B2 (ja) 導電体充填ビアを用いた内蔵キャパシタ
JP6648832B2 (ja) 多層基板およびその製造方法
JP2015197499A (ja) 光導波路素子およびその製造方法
KR20150138027A (ko) 다층 배선 기판 및 그 제조 방법
JPH11186448A (ja) 積層セラミック回路基板の製造方法
JP3343837B2 (ja) 電気光混載モジュールの製造方法
JP4641826B2 (ja) コンデンサ内蔵セラミック配線基板およびその製造方法
KR20010105354A (ko) 용적흐름 및 에너지흐름을 위한 3차원배열 도전재료와접속재료의 제조방법
JP2021158157A (ja) 電子部品及びその製造方法
CN113986051B (zh) 触控装置的制备方法、触控装置及触控屏
CN111983869B (zh) 改善变色反应速度的电致变色器件及其制作方法
WO2019085051A1 (zh) 薄膜晶体管阵列基板及其制备方法、显示装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060606

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060803

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060829

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060912

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090922

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100922

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110922

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120922

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130922

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees