JP3854727B2 - Color filter color unevenness inspection device - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶カラー・デイスプレイ装置等に使用するカラーフィルタの色むら検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
カラーフィルタは、通常、ガラス板等の透明基板上に、レッド(R)、グリーン(G)およびブルー(B)の各色のカラーフィルタ層を形成し、さらに各カラーフィルタ層の境界部にブラックマトリックス層を形成して製造される。
上記カラーフィルタ層は、一般に感光性インキをスピンコーターにて透明基板上に塗布し、乾燥、露光、現像、硬化させるフォトリソグラフィー法にて形成される。ところが、このようにして製造される各カラーフィルタ層には、塗布むらや温度むら等によって色むらができやすい。このような色むらのあるカラーフィルタは、不良品として製品から除去しなければならない。
【0003】
そのため、最終的に製造されたカラーフィルタについて色むら検査を行い、RGBのいずれのカラーフィルタ層において色むらの発生の有無を確認し、色むらが発生したカラーフィルタ層の工程をチェックする必要がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
色むらの有無を検査するには、各カラーフィルタ層について(すなわち、各色ごとに)色むらを検査する必要がある。そのため、カラーフィルタの色むら検査にあたっては、一色のカラーフィルタ層の部分だけで光透過するように当該色のカラーフィルタ層部分を光透過性とし、その他の部分をマスク基板を使用して遮光する。すなわち、マスク基板をカラーフィルタと重ね合わせ、検査する色のカラーフィルタ層とマスク基板内の光透過部とを一致させ、背後から光を照射して、目視にて当該色のカラーフィルタ層について色むらの有無を検査する。
【0005】
図8および図9は、マスク基板3上にカラーフィルタ4を重ね合わせ、カラーフィルタ層51について色むら検査ができる状態を示している。マスク基板3にはカラーフィルタ4の透明基板50と同様な透明基板54の表面にブラックマトリックス層57と同じ材料で作られた遮光層55が形成されている。この遮光層55には各色のカラーフィルタ層に対応する位置でかつ当該カラーフィルタ層よりもやや広い大きさのスリット部56(光透過部)が形成されている。
【0006】
一方、カラーフィルタ4には、ストライプ状にR,G,Bの各カラーフィルタ層51,52,53が並設され、さらに各カラーフィルタ層51,52,53の間隙およびそれらの周囲にはブラックマトリックス層57が形成されている。
そして、カラーフィルタ層51の色むら検査を行うには、マスク基板3のスリット部56の上にカラーフィルタ層51が配置されるように、マスク基板3とカラーフィルタ4との位置決めを行わなければならない。
従来、カラーフィルタ4の色むら検査では、検査員がカラーフィルタ4とマスク基板3とを重ね合わせ、手でカラーフィルタ4を動かしながら前記カラーフィルタ層51とマスク基板3のスリット部56とを一致させていた。
【0007】
ところが、カラーフィルタ層51,52,53は、幅約100μmのストライプ状で構成され、かつそれらが約10〜20μmの間隔で並設されおり、きわめて微細なパターンである。
そのため、カラーフィルタ4とマスク基板3とを手で動かして位置合わせする従来の方法では、位置合わせが非常に困難であり、その結果検査作業に多くの時間がかかり、効率が悪かった。
そこで、本発明の目的は、カラーフィルタとマスク基板との位置合わせが容易になり、検査の作業性および効率を向上させることができるカラーフィルタ用色むら検査装置を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは、カラーフィルタの色むら検査において最も困難なカラーフィルタとマスク基板との位置合わせを簡単にか確実に行えるようにするために鋭意研究を重ねた結果、簡単な手動操作にて位置合わせを行える機構を備えた色むら検査装置の開発に成功し、本発明を完成するに至った。
【0009】
すなわち、本発明の色むら検査装置は、カラーフィルタをマスク基板上に重ね合わせ、カラーフィルタ中の一色のカラーフィルタ層部分のみを光透過させ、その他の色のカラーフィルタ層部分を遮光するように位置合わせし、背後から光を照射して当該一色のカラーフィルタ層について色むらを検査するための色むら検査装置であって、内部に光源が内蔵され上面が光照射面となった検査台と、この検査台の上面に載置されたマスク基板を固定するためのマスク基板固定手段と、マスク基板上に重ね合わされたカラーフィルタを上から押圧してカラーフィルタを固定保持するためのカラーフィルタ保持部と、このカラーフィルタ保持部が先端に取り付けられたアームと、このアームの後端が取り付けられアームを介して前記カラーフィルタのマスク基板に対する位置合わせを行ってマスク基板に形成された光透過部とカラーフィルタ内の所定色部分とを一致させるための位置合わせ手段とを備え、前記位置合わせ手段が、マスク基板の縦方向および横方向にカラーフィルタをそれぞれ移動させるスライド調整部と、前記マスク基板上を中心として前記アームの後端を円弧状に移動させてマスク基板上に重ね合わせたカラーフィルタがマスク基板と平行になるように載置角度を調整するようにした角度調整部とを有することを特徴とする。
【0010】
このように、本発明では、マスク基板上に重ねたカラーフィルタを保持部で押さえ、この保持部がアームに取り付けられているので、前記位置合わせ手段によってアームを介してカラーフィルタを縦方向および横方向にスライドさせたり、あるいはカラーフィルタの載置角度を調整したりできるので、従来のように手でカラーフィルタを動かしながら位置合わせするのに比べて、作業が著しく容易になる。
前記スライド調整部は、縦方向粗動調整部と、縦方向微動調整部と、横方向粗動調整部と、横方向微動調整部とからなるのが好ましい。従って、位置合わせにあたっては、粗動調整部で大まかな調整を行い、微動調整部で微細な調整を行うことができる。
【0011】
前記スライド調整部では、横方向粗動調整部、縦方向微動調整部、横方向微動調整部および縦方向粗動調整部をこの順で下から積載し、前記アームの後端を縦方向粗動調整部に取り付けている。このように積載することにより、装置をコンパクト化することができる。
前記縦方向微動調整部および横方向微動調整部としては、互いに縦方向または横方向にスライド自在に係合した上板および下板と、この上板または下板をスライドさせるマイクロメーターヘッド部とを備えたものが使用可能である。従って、マイクロメーターヘッド部を操作することによって、アームを正確に所定位置に微動させることが可能となり、微細な位置合わせが容易になる。
【0012】
また、前記角度調整部は、前記マスク基板上に中心を有する円弧状のレールと、このレールに沿って移動する移動台とを備えているのが好ましい。かかる角度調整部によって、マスク基板とカラーフィルタとの角度のずれを簡単に修正することができ、角度がずれて他の色のカラーフィルタ層を透過した光で、色むらの検査が妨げられるのを防止することができる。
前記移動台には、前記したように縦方向粗動調整部を介してアームを取り付けてもよく、あるいは直接アームを取り付けてもよい。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明のカラーフィルタ用色むら検査装置を詳細に説明する。
図1は本発明のカラーフィルタ用色むら検査装置の一実施形態を示す斜視図である。
図1において、1は検査台であり、内部に光源が内蔵され上面が光照射面2となっている。この光照射面2上に、図2に示すようにマスク基板3を置き、このマスク基板3上に検査用のカラーフィルタ4を重ね合わせる。なお、図1では、1枚の透明基板に2つのカラーフィルタ4,4が形成されている。
【0014】
図1に示すように、光照射面2のコーナー部にはL字形のマスク基板位置決め具5が設けられ、この位置決め具5にマスク基板3の角部を押し当てる。また、位置決め具5に対して対角線上の反対側にはマスク基板固定具6(マスク基板固定手段)が設けられている。このマスク基板固定具6は、比較的重量のある部材でつくられており、図2に示すようにL字形の内側に設けられた薄板部61の内面がマスク基板3の端面に当接して、上記位置決め具5と共にマスク基板3が不用意に動かないように固定している。
【0015】
マスク基板3上に重ね合わされる検査用カラーフィルタ4は、カラーフィルタ保持部7によって動かないように上から押圧され固定保持される。カラーフィルタ保持部7は、図3に示すように、棒体71と、この棒体71の下面に設けられたゴム弾性体72とからなる。棒体71はその上面両側部に立設した一対のガイドバー75,75によってアーム8の先端8aに保持されると共に、棒体71の上面中央部に設けた押圧部73によって下向きに押圧される。この押圧部73は内部にコイルバネ(図示せず)が内蔵されており、このバネの弾性力によって棒体71をカラーフィルタ4に押圧している。押圧力はナット74を調節することによって調整可能である。
以上の構成により、アーム8を動かすことにより、このアーム先端8aに取り付けられた保持部7を介してカラーフィルタ4を自由に動かすことができるようになる。
【0016】
アーム8の先端8aは、図3に示すように蝶番40によってアーム8の本体8bと接続されており、これによってカラーフィルタ保持部7を有するアーム先端8aを上方に回動させて持ち上げることができる。従って、カラーフィルタ4の着脱が容易になる。一方、検査時にアーム先端8aが不用意に持ち上がらないようにロック部41が蝶番40と共に設けられる。このロック部41はいかなる機構でもよいが、例えば図3に示すように長手方向に長孔42が形成されたスライド片43をアーム先端8aにスライドさせてアーム先端8aをロックすることができる(図2はロック状態を示している)。ロックを解除する場合には、スライド片43を矢印C方向にスライドさせればよい。
【0017】
アーム8の後端は、図1に示すように位置合わせ手段9に取り付けられている。この位置合わせ手段は、マスク基板3に形成された光透過部とカラーフィルタ4内の所定色部分とを一致させるためのものであって、図4および図5に示すように、検査台1の前面に付設されたテーブル10上に設置されている。より詳しく説明すると、位置合わせ手段9は、横方向粗動調整部11と、縦方向微動調整部12と、横方向微動調整部13と、角度調整部14と、縦方向粗動調整部15とからなり、この順序でテーブル10上に設置されている。そして、最上段の縦方向粗動調整部15の上部にはアーム8が取り付けられる。
ここで、横方向とは図1に示す矢印Aの方向(すなわち、テーブル10の長手方向)を意味し、縦方向とは矢印Bの方向(すなわち、テーブル10の幅方向)を意味するものとする。
【0018】
横方向粗動調整部11は、アーム8を横方向に移動させて、カラーフィルタ4のおおよその位置決めを行うためのものである。かかる横方向粗動調整部11は、テーブル10上に横方向に沿って敷設されたレール16と、このレール16と係合しレール16に沿って移動するスライド台17とからなる。レール16とスライド台17とをスライド自在に係合するために、例えばノングリースタイプのベアリング式のリニアガイドが設けられる。
かかる横方向粗動調整部11には、図5に示すようにスライドロック39が付設される(便宜上、図4ではスライドロック39を省略している)。
【0019】
スライド台17の上部に設けられる縦方向微動調整部12は、互いに縦方向にスライド自在に係合した上板18および下板19と、この下板19に取り付けられ上板18をそれらのスライド方向に微動させるマイクロメーターヘッド部20とを有する。そして、マイクロメーターヘッド部20の先端部は、上板18の側部に付設された当接板18aに当接または固定されているため、つまみ20aを回すことにより、上板18を下板19に対して微動させることができる。微動範囲は約5〜10μmであるのがよい。
上板18と下板19とは、図5に示すようにボールベアリング21にて互いにスライド自在に係合する。また、上板18には該上板18を固定するためのロック用つまみ22が設けられている。
【0020】
次の横方向微動調整部13では、前記上板18が下板となって、その上面に横方向にスライド自在に第2の上板24が係合する。その他は、縦方向微動調整部と実質的に同じである。すなわち、上板18に対して第2の上板24を微動させるためのマイクロメーターヘッド部25が上板18の側部に設けられる。
上板18と第2の上板24とは、ボールベアリング23によってスライド自在に係合する。また、上板24には該上板24を固定するためのロック用つまみ26が設けられている。
【0021】
前記第2の上板24の上面には角度調整部14が設けられる。すなわち、第2の上板24上面に取り付けられたプレート27の上面には、図6に示すように円弧状レール28が敷設され、前記アーム8が積載された移動台29がレール28に移動可能に取り付けられる。上記円弧状レール28はその円弧の中心がマスク基板3上、好ましくはマスク基板3の中心にあるように設定するのがよい。
また、プレート27の上面には上記円弧状レール28と共に横方向に平行にラック30が敷設される。このラック30に係合するピニオン(図示せず)が内蔵された操作部31の前面には、前記ピニオンに接続されたハンドル32が設けられる。
【0022】
操作部31の後端はU字形の切り欠き部33が設けられる。そして、移動台29に突設されたピン34がこの切り欠き部33内に収容されている。
前記移動台29には、縦方向粗動調整部15を介してアーム8が取り付けられている。上記縦方向粗動調整部15は互いに係合するラック35とピニオン(図示せず)とから構成される。ラック35はアーム8の下部に取り付けられると共に、ピニオン収容ケース36は図4に示すようにスペーサー37を介して移動台29上に取り付けられる。また、ピニオン収容ケース36の側面にはピニオンに接続されたハンドル38が取り付けられる。
【0023】
次に、本発明の色むら検査装置を用いて、カラーフィルタ4の色むらを検査する方法を説明する。
まず、アーム先端8aに設けたスライド片43を図2に示す矢印C方向にスライドさせてアーム先端8aのロックを外し、カラーフィルタ保持部7を上方に持ち上げる。ついで、マスク基板3を検査台1の光照射面2上に載置し、位置決め具5で位置決めした後、固定具6を位置決め具5の対角線上の反対側に配置して固定する。
そして、マスク基板3の上面にカラーフィルタ4を配置し、カラーフィルタ保持部7をカラーフィルタ4上に下ろして、カラーフィルタ4をマスク基板3上に押圧して固定する。そして、マスク基板3に対するカラーフィルタ4のおよその位置合わせを行うため、横方向粗動調整部11および縦方向粗動調整部15を操作する。
【0024】
横方向粗動調整部11では、図5に示すスライドロック39をゆるめ、レール16に沿って位置合わせ手段9全体を移動させ、カラーフィルタ4を横方向に移動させる。そして、およその所定位置に到達すると、スライドロック39を締めて、横方向粗動調整部11を動かないようにロックする。
一方、縦方向粗動調整部15では、ピニオンに連結したハンドル38を回してラック35を移動させてラック35上に取り付けられたアーム8を縦方向にスライドさせて、カラーフィルタ4をおよその所定位置に移動させる。
【0025】
縦方向および横方向の粗動による調整が完了した後、カラーフィルタ4がマスク基板3と平行でない場合には、角度調整部14にてカラーフィルタ4の載置角度を調整する。すなわち、図6に示すように角度調整用のハンドル32を左右いずれかに回しながらラック30に沿って操作部31を横方向に移動させる。このとき、図7に示すように、操作部31先端のU字形切り欠き部33内には、移動台29から突設したピン34が収容されているため、操作部31を横方向に移動させると[例えば図7に示す(i) の位置から(ii)または(iii) の位置に移動させると]、移動台29も横方向に移動するが、移動台29は円弧状レール28上に載せられているため、ピン34がU字形切り欠き部33から抜け出す方向に移動しながら、移動台29は円弧状レール28に沿って円弧を描きながら移動する。移動台29の移動角度θは60°(すなわち(i) の中心線に対して±30°)程度でよい。
【0026】
このようにしてカラーフィルタ4をマスク基板3と平行に揃えた後、縦方向および横方向へ微動調整を行う。縦方向微動調整部12では、図4に示すように下板19に取り付けられたマイクロメーターヘッド部20のつまみ20aを回して上板18を微動させて、カラーフィルタ4の縦方向の位置を微調整する。
また、横方向微動調整部13では、上記上板18に取り付けられたマイクロメーターヘッド部25のつまみを回して、上板18上にスライド自在に載置された第2の上板24を微動させ、カラーフィルタ4の横方向の位置を微調整する。
【0027】
これらの調整の結果、図8および図9に示すように、カラーフィルタ4の透明基板50の表面に交互にストライプ上に形成されたRGB3色のカラーフィルタ層51,52,53のうちの1つのカラーフィルタ層51は、マスク基板3の透明基板54上に設けた遮光層55内のスリット部56と一致し、下からの光はスリット部56を経てカラーフィルタ層51を透過する。従って、検査時に上から視認できる光は単色のカラーフィルタ層51を透過した光のみであり、他のカラーフィルタ層52,53を透過した光が混じり合うことがない。また、カラーフィルタ層51の一部がマスク基板3の遮光層55の部分と重なっていないので、カラーフィルタ層51の全領域において光は透過する。従って、カラーフィルタ層51の色むら検査を高精度で行うことができる。他のカラーフィルタ層52,53の場合も同様にして位置調整を行って、色むら検査を行うことができる。
【0028】
なお、マスク基板3の固定には、固定具6を使用したが、接着剤や粘着テープを用いて固定してもよく、本発明におけるマスク基板固定手段とは、このような接着剤や粘着テープ等をも含む概念である。
また、以上の説明では、位置合わせ手段9を構成する横方向粗動調整部11、縦方向微動調整部12、横方向微動調整部13、角度調整部14および縦方向粗動調整部15をこの順で下から積載したが、積載順序はこの順に限定されるものではなく、必要に応じて適宜変更可能である。
さらに、マイクロメーターヘッド部20,25の取り付け位置は図4および図5に示した位置に限定されるものではない。
また、位置合わせ手段9のうち、粗動調整部は設けずに、アームを手で粗動させるようにしてもよい。
【0029】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、カラーフィルタに形成された各カラーフィルタ層の色むら検査時に必要とされるカラーフィルタとマスク基板との位置合わせが容易になり、検査の作業性および効率が向上するという効果がある。
【0030】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の色むら検査装置の一実施態様を示す斜視図である。
【図2】マスク基板3の固定状態を示す部分断面図である。
【0031】
【図3】カラーフィルタ保持部を有するアームの先端部分を示す斜視図である。
【図4】位置合わせ手段の一例を示す側面図である。
【図5】図4に示す位置合わせ手段の正面図である。
【図6】図4に示す位置合わせ手段の要部を示す平面図である。
【0032】
【図7】角度調整部の動作を示す説明図である。
【図8】マスク基板と位置合わせされたカラーフィルタ4の平面図である。
【図9】図8の拡大断面図である。
【符号の説明】
1 検査台
2 光照射面
3 マスク基板
4 カラーフィルタ
6 マスク基板固定具
7 カラーフィルタ保持部
8 アーム
9 位置合わせ手段
11 横方向粗動調整部
12 縦方向微動調整部
13 横方向微動調整部
14 角度調整部
15 縦方向粗動調整部
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an apparatus for inspecting color unevenness of a color filter used in a liquid crystal color display device or the like.
[0002]
[Prior art]
A color filter usually forms a color filter layer of each color of red (R), green (G) and blue (B) on a transparent substrate such as a glass plate, and further, a black matrix at the boundary of each color filter layer. Manufactured by forming layers.
The color filter layer is generally formed by a photolithography method in which a photosensitive ink is applied on a transparent substrate with a spin coater, dried, exposed, developed and cured. However, each color filter layer manufactured in this way is likely to have color unevenness due to uneven coating or uneven temperature. Such an uneven color filter must be removed from the product as a defective product.
[0003]
Therefore, it is necessary to perform color unevenness inspection on the finally produced color filter, confirm whether color unevenness occurs in any of the RGB color filter layers, and check the process of the color filter layer where the color unevenness has occurred. is there.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
In order to inspect the presence or absence of color unevenness, it is necessary to inspect the color unevenness for each color filter layer (that is, for each color). Therefore, when inspecting color unevenness of a color filter, the color filter layer portion of the color is made light-transmitting so that only one color filter layer portion transmits light, and the other portions are shielded using a mask substrate. . That is, the mask substrate is overlapped with the color filter, the color filter layer of the color to be inspected is matched with the light transmitting portion in the mask substrate, light is irradiated from behind, and the color filter layer of the color is visually observed. Inspect for unevenness.
[0005]
8 and 9 show a state in which the color filter 4 is superimposed on the mask substrate 3 and the color filter layer 51 can be inspected for color unevenness. On the mask substrate 3, a light shielding layer 55 made of the same material as the black matrix layer 57 is formed on the surface of a transparent substrate 54 similar to the transparent substrate 50 of the color filter 4. A slit portion 56 (light transmission portion) is formed in the light shielding layer 55 at a position corresponding to the color filter layer of each color and slightly larger than the color filter layer.
[0006]
On the other hand, in the color filter 4, R, G, B color filter layers 51, 52, 53 are arranged in parallel in a stripe shape, and the gaps between the color filter layers 51, 52, 53 and the surroundings are black. A matrix layer 57 is formed.
In order to perform color unevenness inspection of the color filter layer 51, the mask substrate 3 and the color filter 4 must be positioned so that the color filter layer 51 is disposed on the slit portion 56 of the mask substrate 3. Don't be.
Conventionally, in the color unevenness inspection of the color filter 4, an inspector superimposes the color filter 4 and the mask substrate 3, and moves the color filter 4 by hand to match the color filter layer 51 and the slit portion 56 of the mask substrate 3. I was letting.
[0007]
However, the color filter layers 51, 52, and 53 are formed in stripes having a width of about 100 μm, and they are arranged in parallel at intervals of about 10 to 20 μm, and are very fine patterns.
For this reason, in the conventional method in which the color filter 4 and the mask substrate 3 are moved and aligned by hand, the alignment is very difficult. As a result, the inspection work takes a lot of time and the efficiency is poor.
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a color filter color unevenness inspection apparatus that facilitates alignment between a color filter and a mask substrate and can improve inspection workability and efficiency.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
The present inventors have made intensive studies in order to enable the One or easily align the most difficult color filter and the mask substrate reliably in color unevenness inspection of the color filter, a simple manual operation As a result, the inventors have succeeded in developing a color unevenness inspection apparatus equipped with a mechanism capable of aligning the positions, and completed the present invention.
[0009]
In other words, the color unevenness inspection apparatus of the present invention superimposes the color filter on the mask substrate so that only the color filter layer portion of one color in the color filter transmits light and blocks the color filter layer portions of other colors. A color unevenness inspection apparatus for aligning and inspecting color unevenness of the color filter layer of one color by irradiating light from behind, and an inspection table in which a light source is incorporated and a top surface is a light irradiation surface; The mask substrate fixing means for fixing the mask substrate placed on the upper surface of the inspection table and the color filter holding unit for pressing and holding the color filter superimposed on the mask substrate from above. Part, an arm having the color filter holding part attached to the tip, and a rear end of the arm being attached to the color filter via the arm. Alignment means for aligning the light transmitting portion formed on the mask substrate by aligning with the mask substrate and a predetermined color portion in the color filter, the alignment means comprising: a longitudinal direction of the mask substrate; and A slide adjustment unit that moves the color filters in the horizontal direction and a color filter that is overlapped on the mask substrate by moving the rear end of the arm in an arc shape around the mask substrate is parallel to the mask substrate. And an angle adjuster adapted to adjust the mounting angle.
[0010]
Thus, in the present invention, the color filter superimposed on the mask substrate is pressed by the holding portion, and this holding portion is attached to the arm. Therefore, the color filter is moved in the vertical direction and the horizontal direction via the arm by the positioning means. Since the color filter can be slid in the direction or the mounting angle of the color filter can be adjusted, the operation is significantly facilitated as compared with the conventional method of aligning while moving the color filter by hand.
It is preferable that the slide adjustment unit includes a vertical coarse adjustment unit, a vertical fine adjustment unit, a horizontal coarse adjustment unit, and a horizontal fine adjustment unit. Therefore, in the alignment, rough adjustment can be performed by the coarse adjustment unit, and fine adjustment can be performed by the fine adjustment unit.
[0011]
In the slide adjustment unit, a horizontal coarse adjustment unit, a vertical fine adjustment unit, a horizontal fine adjustment unit, and a vertical coarse adjustment unit are stacked in this order from the bottom, and the rear end of the arm is arranged in the vertical coarse adjustment. It is attached to the adjustment unit. By loading in this way, the apparatus can be made compact.
The vertical fine adjustment unit and the horizontal fine adjustment unit include an upper plate and a lower plate that are slidably engaged with each other in a vertical direction or a horizontal direction, and a micrometer head unit that slides the upper plate or the lower plate. What you have is available. Therefore, by operating the micrometer head unit, the arm can be accurately finely moved to a predetermined position, and fine alignment is facilitated.
[0012]
Moreover, it is preferable that the said angle adjustment part is equipped with the arc-shaped rail which has a center on the said mask board | substrate, and the moving stand which moves along this rail. Such an angle adjustment unit can easily correct the angle deviation between the mask substrate and the color filter, and the inspection of the color unevenness is hindered by the light having the angle shifted and transmitted through the color filter layer of another color. Can be prevented.
As described above, an arm may be attached to the moving table via the longitudinal coarse adjustment part, or an arm may be directly attached.
[0013]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, a color filter color unevenness inspection apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a color filter color unevenness inspection apparatus according to the present invention.
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes an inspection table, in which a light source is incorporated and the upper surface is a light irradiation surface 2. A mask substrate 3 is placed on the light irradiation surface 2 as shown in FIG. 2, and an inspection color filter 4 is overlaid on the mask substrate 3. In FIG. 1, two color filters 4 and 4 are formed on one transparent substrate.
[0014]
As shown in FIG. 1, an L-shaped mask substrate positioning tool 5 is provided at a corner portion of the light irradiation surface 2, and a corner portion of the mask substrate 3 is pressed against the positioning tool 5. A mask substrate fixing tool 6 (mask substrate fixing means) is provided on the opposite side of the positioning tool 5 on the diagonal line. The mask substrate fixture 6 is made of a relatively heavy member, and as shown in FIG. 2, the inner surface of the thin plate portion 61 provided inside the L-shape is in contact with the end surface of the mask substrate 3, The mask substrate 3 is fixed together with the positioning tool 5 so as not to move carelessly.
[0015]
The inspection color filter 4 superimposed on the mask substrate 3 is pressed and fixedly held from above so as not to move by the color filter holding unit 7. As shown in FIG. 3, the color filter holding unit 7 includes a rod 71 and a rubber elastic body 72 provided on the lower surface of the rod 71. The rod 71 is held at the tip 8a of the arm 8 by a pair of guide bars 75, 75 standing on both sides of the upper surface, and is pressed downward by a pressing portion 73 provided at the center of the upper surface of the rod 71. . The pressing portion 73 includes a coil spring (not shown) inside, and presses the rod 71 against the color filter 4 by the elastic force of the spring. The pressing force can be adjusted by adjusting the nut 74.
With the above configuration, by moving the arm 8, the color filter 4 can be freely moved via the holding portion 7 attached to the arm tip 8a.
[0016]
As shown in FIG. 3, the tip 8a of the arm 8 is connected to the main body 8b of the arm 8 by a hinge 40, so that the arm tip 8a having the color filter holding portion 7 can be rotated upward and lifted. . Therefore, the color filter 4 can be easily attached and detached. On the other hand, the lock portion 41 is provided together with the hinge 40 so that the arm tip 8a is not lifted carelessly during inspection. The locking portion 41 may be of any mechanism, but for example, as shown in FIG. 3, the arm tip 8a can be locked by sliding a slide piece 43 formed with a long hole 42 in the longitudinal direction to the arm tip 8a (FIG. 2 indicates a locked state). In order to release the lock, the slide piece 43 may be slid in the direction of arrow C.
[0017]
The rear end of the arm 8 is attached to the alignment means 9 as shown in FIG. This alignment means is for matching the light transmitting portion formed on the mask substrate 3 with the predetermined color portion in the color filter 4, and as shown in FIG. 4 and FIG. It is installed on a table 10 attached to the front. More specifically, the alignment means 9 includes a lateral coarse adjustment unit 11, a vertical fine adjustment unit 12, a horizontal fine adjustment unit 13, an angle adjustment unit 14, and a vertical coarse adjustment unit 15. And are installed on the table 10 in this order. The arm 8 is attached to the upper part of the uppermost vertical direction coarse adjustment part 15.
Here, the horizontal direction means the direction of the arrow A shown in FIG. 1 (that is, the longitudinal direction of the table 10), and the vertical direction means the direction of the arrow B (that is, the width direction of the table 10). To do.
[0018]
The lateral direction coarse motion adjusting unit 11 is for roughly positioning the color filter 4 by moving the arm 8 in the lateral direction. The lateral coarse adjustment unit 11 includes a rail 16 laid on the table 10 along the lateral direction, and a slide base 17 that engages with the rail 16 and moves along the rail 16. In order to slidably engage the rail 16 and the slide base 17, for example, a non-grease type bearing type linear guide is provided.
As shown in FIG. 5, a slide lock 39 is attached to the lateral coarse motion adjusting unit 11 (for convenience, the slide lock 39 is omitted in FIG. 4).
[0019]
A vertical fine adjustment unit 12 provided at the upper part of the slide base 17 is an upper plate 18 and a lower plate 19 that are slidably engaged with each other in a vertical direction, and the upper plate 18 attached to the lower plate 19 in the sliding direction. And a micrometer head portion 20 for fine movement. Since the tip of the micrometer head portion 20 is in contact with or fixed to a contact plate 18a attached to the side of the upper plate 18, the upper plate 18 is moved to the lower plate 19 by turning the knob 20a. Can be finely moved. The fine movement range is preferably about 5 to 10 μm.
As shown in FIG. 5, the upper plate 18 and the lower plate 19 are slidably engaged with each other by a ball bearing 21. The upper plate 18 is provided with a locking knob 22 for fixing the upper plate 18.
[0020]
In the next lateral fine adjustment section 13, the upper plate 18 serves as a lower plate, and a second upper plate 24 is engaged with the upper surface of the upper fine plate 24 so as to be slidable in the lateral direction. Others are substantially the same as the vertical fine adjustment section. That is, a micrometer head portion 25 for finely moving the second upper plate 24 with respect to the upper plate 18 is provided on the side portion of the upper plate 18.
The upper plate 18 and the second upper plate 24 are slidably engaged by a ball bearing 23. The upper plate 24 is provided with a locking knob 26 for fixing the upper plate 24.
[0021]
An angle adjusting unit 14 is provided on the upper surface of the second upper plate 24. That is, on the upper surface of the plate 27 attached to the upper surface of the second upper plate 24, an arc-shaped rail 28 is laid as shown in FIG. 6, and the movable table 29 on which the arm 8 is loaded can move to the rail 28. Attached to. The arc-shaped rail 28 is set so that the center of the arc is on the mask substrate 3, preferably the center of the mask substrate 3.
A rack 30 is laid on the upper surface of the plate 27 in parallel with the arc-shaped rail 28 in the lateral direction. A handle 32 connected to the pinion is provided on the front surface of the operation unit 31 in which a pinion (not shown) that engages with the rack 30 is built.
[0022]
A U-shaped notch 33 is provided at the rear end of the operation unit 31. A pin 34 protruding from the movable table 29 is accommodated in the notch 33.
An arm 8 is attached to the moving table 29 via a longitudinal coarse adjustment unit 15. The longitudinal coarse adjustment portion 15 includes a rack 35 and a pinion (not shown) that engage with each other. The rack 35 is attached to the lower part of the arm 8, and the pinion accommodation case 36 is attached to the movable table 29 via a spacer 37 as shown in FIG. A handle 38 connected to the pinion is attached to the side surface of the pinion housing case 36.
[0023]
Next, a method for inspecting the color unevenness of the color filter 4 using the color unevenness inspection apparatus of the present invention will be described.
First, the slide piece 43 provided at the arm tip 8a is slid in the direction of arrow C shown in FIG. 2 to unlock the arm tip 8a, and the color filter holder 7 is lifted upward. Next, after the mask substrate 3 is placed on the light irradiation surface 2 of the inspection table 1 and positioned by the positioning tool 5, the fixing tool 6 is arranged on the opposite side of the positioning tool 5 on the diagonal line and fixed.
Then, the color filter 4 is disposed on the upper surface of the mask substrate 3, the color filter holding portion 7 is lowered onto the color filter 4, and the color filter 4 is pressed and fixed onto the mask substrate 3. Then, the lateral coarse adjustment unit 11 and the vertical coarse adjustment unit 15 are operated in order to perform approximate alignment of the color filter 4 with respect to the mask substrate 3.
[0024]
In the lateral coarse adjustment unit 11, the slide lock 39 shown in FIG. 5 is loosened, the entire alignment means 9 is moved along the rail 16, and the color filter 4 is moved in the lateral direction. When the approximate predetermined position is reached, the slide lock 39 is tightened to lock the lateral coarse adjustment unit 11 so as not to move.
On the other hand, in the vertical direction coarse adjustment unit 15, the handle 38 connected to the pinion is rotated to move the rack 35, and the arm 8 mounted on the rack 35 is slid in the vertical direction, so that the color filter 4 is approximately predetermined. Move to position.
[0025]
If the color filter 4 is not parallel to the mask substrate 3 after the adjustment by the coarse movement in the vertical direction and the horizontal direction is completed, the mounting angle of the color filter 4 is adjusted by the angle adjustment unit 14. That is, as shown in FIG. 6, the operation unit 31 is moved in the horizontal direction along the rack 30 while turning the handle 32 for angle adjustment to the left or right. At this time, as shown in FIG. 7, the U-shaped notch 33 at the distal end of the operation unit 31 accommodates the pin 34 protruding from the moving table 29, and thus the operation unit 31 is moved in the lateral direction. [For example, when moving from the position (i) shown in FIG. 7 to the position (ii) or (iii)], the moving table 29 also moves in the lateral direction, but the moving table 29 is placed on the arc-shaped rail 28. Therefore, the moving base 29 moves while drawing an arc along the arc-shaped rail 28 while the pin 34 moves in the direction of coming out of the U-shaped notch 33. The moving angle θ of the moving table 29 may be about 60 ° (ie, ± 30 ° with respect to the center line of (i)).
[0026]
After aligning the color filter 4 in parallel with the mask substrate 3 in this way, fine adjustment is performed in the vertical and horizontal directions. In the vertical fine adjustment section 12, as shown in FIG. 4, the knob 20a of the micrometer head section 20 attached to the lower plate 19 is turned to finely move the upper plate 18 to finely adjust the vertical position of the color filter 4. adjust.
Further, in the lateral fine adjustment unit 13, the knob of the micrometer head unit 25 attached to the upper plate 18 is turned to finely move the second upper plate 24 slidably mounted on the upper plate 18. The position of the color filter 4 in the horizontal direction is finely adjusted.
[0027]
As a result of these adjustments, as shown in FIGS. 8 and 9, one of RGB color filter layers 51, 52, 53 formed on stripes alternately on the surface of the transparent substrate 50 of the color filter 4. the color filter layer 51 is coincident with the slit portion 56 of the optical layer 55 barrier provided on the transparent substrate 54 of the mask substrate 3, the light from below passes through the color filter layer 51 through the slit portion 56. Therefore, the light visible from above at the time of inspection is only the light transmitted through the monochromatic color filter layer 51, and the light transmitted through the other color filter layers 52 and 53 is not mixed. Further, since part of the color filter layer 51 does not overlap with the part of the light shielding layer 55 of the mask substrate 3, light is transmitted through the entire region of the color filter layer 51. Therefore, the color unevenness inspection of the color filter layer 51 can be performed with high accuracy. In the case of the other color filter layers 52 and 53, the color unevenness inspection can be performed by adjusting the position in the same manner.
[0028]
In addition, although the fixture 6 was used for fixation of the mask substrate 3, you may fix using an adhesive agent or an adhesive tape, and the mask substrate fixing means in this invention is such an adhesive agent or an adhesive tape. It is a concept that also includes.
In the above description, the lateral coarse adjustment unit 11, the vertical fine adjustment unit 12, the horizontal fine adjustment unit 13, the angle adjustment unit 14, and the vertical coarse adjustment unit 15 that constitute the alignment means 9 are described. Although the stacking is performed from the bottom in order, the stacking order is not limited to this order, and can be appropriately changed as necessary.
Furthermore, the attachment positions of the micrometer head portions 20 and 25 are not limited to the positions shown in FIGS.
Further, in the positioning means 9, the arm may be coarsely moved by hand without providing the coarse adjustment part.
[0029]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, it is easy to align the color filter and the mask substrate, which are required at the time of color unevenness inspection of each color filter layer formed on the color filter, and the workability and efficiency of the inspection are improved. There is an effect of improving.
[0030]
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a color unevenness inspection apparatus according to the present invention.
FIG. 2 is a partial cross-sectional view showing a fixed state of a mask substrate 3;
[0031]
FIG. 3 is a perspective view showing a tip portion of an arm having a color filter holding portion.
FIG. 4 is a side view showing an example of alignment means.
FIG. 5 is a front view of the alignment means shown in FIG.
6 is a plan view showing a main part of the alignment means shown in FIG. 4. FIG.
[0032]
FIG. 7 is an explanatory diagram showing the operation of the angle adjustment unit.
FIG. 8 is a plan view of a color filter 4 aligned with a mask substrate.
9 is an enlarged cross-sectional view of FIG.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inspection table 2 Light irradiation surface 3 Mask board | substrate 4 Color filter 6 Mask board | substrate fixture 7 Color filter holding | maintenance part 8 Arm 9 Positioning means 11 Lateral coarse adjustment part 12 Vertical fine adjustment part 13 Lateral fine adjustment part 14 Angle Adjustment unit 15 Longitudinal coarse adjustment unit

Claims (6)

カラーフィルタをマスク基板上に重ね合わせ、カラーフィルタ中の一色のカラーフィルタ層部分のみを光透過させ、その他の色のカラーフィルタ層部分を遮光するように位置合わせし、背後から光を照射して当該一色のカラーフィルタ層について色むらを検査するための色むら検査装置であって、
内部に光源が内蔵され上面が光照射面となった検査台と、
この検査台の上面に載置されたマスク基板を固定するためのマスク基板固定手段と、
マスク基板上に重ね合わされたカラーフィルタを上から押圧してカラーフィルタを固定保持するためのカラーフィルタ保持部と、
このカラーフィルタ保持部が先端に取り付けられたアームと、
このアームの後端が取り付けられアームを介して前記カラーフィルタのマスク基板に対する位置合わせを行ってマスク基板に形成された光透過部とカラーフィルタ内の所定色部分とを一致させるための位置合わせ手段とを備え、
前記位置合わせ手段が、マスク基板の縦方向および横方向にカラーフィルタをそれぞれ移動させるスライド調整部と、前記マスク基板上を中心として前記アームの後端を円弧状に移動させてマスク基板上に重ね合わせたカラーフィルタがマスク基板と平行になるように載置角度を調整するようにした角度調整部とを有することを特徴とする、カラーフィルタの色むら検査装置。
Overlay the color filter on the mask substrate, align only the color filter layer part of one color in the color filter and transmit the light from behind. A color unevenness inspection apparatus for inspecting color unevenness for the color filter layer of one color,
An inspection table with a built-in light source and a light irradiation surface on the top,
A mask substrate fixing means for fixing the mask substrate placed on the upper surface of the inspection table;
A color filter holding unit for fixing and holding the color filter by pressing the color filter superimposed on the mask substrate from above;
An arm with the color filter holder attached to the tip;
Positioning means for attaching a rear end of the arm and aligning the color filter with respect to the mask substrate through the arm so as to match a light transmitting portion formed on the mask substrate with a predetermined color portion in the color filter. And
The alignment means includes a slide adjustment unit that moves the color filter in the vertical direction and the horizontal direction of the mask substrate, and a rear end of the arm that moves around the mask substrate in an arc shape so as to overlap the mask substrate. An apparatus for inspecting color unevenness of a color filter, comprising: an angle adjusting unit configured to adjust a mounting angle so that the combined color filter is parallel to the mask substrate .
前記スライド調整部が、縦方向粗動調整部と、縦方向微動調整部と、横方向粗動調整部と、横方向微動調整部とからなる請求項1記載の色むら検査装置。The color unevenness inspection apparatus according to claim 1, wherein the slide adjustment unit includes a vertical coarse adjustment unit, a vertical fine adjustment unit, a horizontal coarse adjustment unit, and a horizontal fine adjustment unit. 前記スライド調整部を構成する横方向粗動調整部、縦方向微動調整部、横方向微動調整部および縦方向粗動調整部がこの順で下から積載されており、前記アームが縦方向粗動調整部に取り付けられている請求項1または2記載の色むら検査装置。The horizontal coarse adjustment unit, vertical fine adjustment unit, horizontal fine adjustment unit, and vertical coarse adjustment unit that constitute the slide adjustment unit are stacked in this order from the bottom, and the arm performs vertical coarse adjustment. The color unevenness inspection device according to claim 1 or 2, wherein the color unevenness inspection device is attached to an adjustment unit. 前記横方向微動調整部および縦方向粗動調整部の間に前記角度調整部が設けられている請求項3記載の色むら検査装置。The color unevenness inspection apparatus according to claim 3, wherein the angle adjustment unit is provided between the horizontal fine adjustment unit and the vertical coarse adjustment unit. 前記縦方向微動調整部および横方向微動調整部が、互いに縦方向または横方向にスライド自在に係合した上板および下板と、この上板および下板のいずれかに取り付けられ上板または下板をそれらのスライド方向に微動させるマイクロメーターヘッド部とを備えたものである請求項2ないし4のいずれかに記載の色むら検査装置。The vertical fine adjustment part and the horizontal fine adjustment part are attached to either the upper plate or the lower plate, and the upper plate or the lower plate are slidably engaged with each other in the vertical direction or the horizontal direction. The color unevenness inspection apparatus according to any one of claims 2 to 4, further comprising a micrometer head unit that finely moves the plate in a sliding direction thereof. 前記角度調整部が、前記マスク基板上に中心を有する円弧状のレールと、このレールに沿って移動する移動台とを備えた請求項1記載の色むら検査装置。The color unevenness inspection apparatus according to claim 1, wherein the angle adjustment unit includes an arc-shaped rail having a center on the mask substrate, and a moving base that moves along the rail.
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