JP3846303B2 - Surface treatment apparatus and surface treatment method - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、被処理物の表面に存在する有機物等の異物のクリーニング、レジストの剥離やエッチング、有機フィルムの密着性の改善、金属酸化物の還元、成膜、めっき前処理、コーティング前処理、各種材料・部品の表面改質などの表面処理に利用される表面処理装置、及びこれを用いた表面処理方法に関するものであり、特に、精密な接合が要求される電子部品の表面のクリーニングに好適に応用されるものである。
【0002】
【従来の技術】
従来より、気体放電により生じる活性種を含むガスやプラズマを用いてクリーニング等の表面処理が行われている。例えば、特開平3−219082号公報に記載された吹出型表面処理装置は、高圧電極と接地電極の間に形成される放電空間を配置した放電部を形成し、放電部にその上流側から反応ガスを流入させると共にこの反応ガスが放電空間を通過した後放電部の下流側に設けた吹出口から吹き出して被処理物に噴出する構成からなり、高圧電極と接地電極の間に高電圧を印加して大気圧近傍でグロー放電あるいは無声放電する放電空間に反応ガスを通過させてプラズマ励起するようにしたものである。そして、この吹出型表面処理装置はプラズマ励起した反応ガスに含まれているイオンや電子等の活性種を被処理物に供給することによって被処理物の表面処理を行うものである。
【0003】
上記の吹出型表面処理装置において、表面処理の能力を高めるために各種の方法が採用されている。例えば、反応ガスの流量を増加させることにより吹出口からの反応ガスの流速を増加させることにより表面処理の能力を高めることが行われている。しかし、この場合、反応ガスの消費量が増大するために表面処理のランニングコストが増加して経済的に不利になるという問題があった。また、表面処理の能力を高めるための他の方法としては放電空間に投入する印加電力を増加させる方法がある。この場合、吹出口から吹き出す反応ガス中に含まれる活性種の密度が増加して表面処理の能力が高まるものであるが、これと同時に、吹出口から吹き出す反応ガスの温度が上昇して被処理物に熱的損傷が生じたり、被処理物と放電場との電位差が大きくなってアークが発生しやすくなったりするという問題があった。さらに、表面処理の能力を高めるための他の方法としては被処理物に反応ガスを供給する時間を長くするという方法がある。しかし、この場合、一つの被処理物の表面処理にかかる時間が長くなって生産性が低下するという問題があった。また、表面処理の能力を高めるための他の方法としては吹出口にできる限り近づけて高圧電極及び接地電極を配設すると共に吹出口の直下に被処理物を配置する方法がある。この場合、放電空間と被処理物の距離が短くなるために活性種が失活する前に被処理物に到達しやすくなって表面処理の能力が高まるものであるが、放電場から被処理物までの距離も短くなって放電場からの被処理物へのアークが生じやすく、このアークにより被処理物が損傷を受けるという問題があった。
【0004】
また、特許第3147137号公報に記載された表面処理装置は、放電空間と被処理物との距離を小さくして表面処理の能力を高め、且つアークによる被処理物の損傷を生じないようにするために、活性種を含むガス流を吹き出すガス噴出口と被処理物の間に金属メッシュを介在させ、この金属メッシュを接地するようにしたものであるが、この場合、金属メッシュにより被処理物に供給されるガス流が遮られるために、表面処理の能力を高めることはできなかった。また、金属メッシュが腐食して酸化物(錆)が飛散し被処理物を汚すという恐れがあった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
そこで、本発明は、ランニングコストの増加を抑えて経済的に不利にならず、また、被処理物に供給されるガス流の温度上昇を抑えて被処理物の熱的損傷を抑え、さらに、短時間で表面処理が行うことができて生産性の低下を抑え、加えて、被処理物の酸化物による汚染を抑え、しかも、アークによる被処理物の損傷を抑えながら表面処理の能力を高めることができる表面処理装置及び表面処理方法を提供することを目的とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明の請求項1に係る表面処理装置は、絶縁材料で形成される反応容器1の外側に複数の電極2、3を設け、反応容器1内にプラズマ生成用のガスを導入すると共に電極2、3間に交流あるいはパルス状の電界を印加することにより大気圧又はその近傍の圧力下で反応容器1の内側に気体放電Pを発生し、この気体放電Pにより生じる活性種を含むガス流Gを反応容器1から吹き出して被処理物4に供給することによって、被処理物4の表面処理を行う表面処理装置において、気体放電Pを発生するための放電発生部6とガス流Gを吹き出すための吹き出し部7とを備えて略円筒状の反応容器1を形成し、放電発生部6の径D1よりも吹き出し部7の径D2を小さくすることにより、反応容器1から吹き出すガス流Gの流速を加速しながら気体放電Pで生じる発光Sが吹き出し部7に導入されるのを抑制して被処理物4へのアークを抑制するためのアーク抑制手段を反応容器1に設けて成ることを特徴とするものである。
【0007】
また、本発明の請求項2に係る表面処理装置は、絶縁材料で形成される反応容器1の外側に複数の電極2、3を設け、反応容器1内にプラズマ生成用のガスを導入すると共に電極2、3間に交流あるいはパルス状の電界を印加することにより大気圧又はその近傍の圧力下で反応容器1の内側に気体放電Pを発生し、この気体放電Pにより生じる活性種を含むガス流Gを反応容器1から吹き出して被処理物4に供給することによって、被処理物4の表面処理を行う表面処理装置において、気体放電Pを発生するための放電発生部6とガス流Gを吹き出すための吹き出し部7とを備えて略角筒状の反応容器1を形成し、放電発生部6の狭小側の寸法W1よりも吹き出し部7の狭小側の寸法W2を小さくすることにより、反応容器1から吹き出すガス流Gの流速を加速しながら気体放電Pで生じる発光Sが吹き出し部7に導入されるのを抑制して被処理物4へのアークを抑制するためのアーク抑制手段を反応容器1に設けて成ることを特徴とするものである。
【0010】
また、本発明の請求項3に係る表面処理装置は、請求項1又は2に加えて、吹き出し部7の径D2/放電発生部6の径D1あるいは吹き出し部7の狭小側の寸法W2/放電発生部6の狭小側の寸法W1が0.005〜0.99であり、放電発生部6の径D1あるいは放電発生部6の狭小側の寸法W1が0.5〜20mmであることを特徴とするものである。
【0011】
また、本発明の請求項4に係る表面処理装置は、請求項1乃至3のいずれかに加えて、吹き出し部7の径D2/吹き出し部7の長さLあるいは吹き出し部7の狭小側の寸法W2/吹き出し部7の長さLが0.002〜19.9であることを特徴とするものである。
【0012】
また、本発明の請求項5に係る表面処理装置は、請求項1乃至4のいずれかに加えて、吹き出し部7の基部8と吹き出し部7に最も近い電極3との距離K/吹き出し部7の長さLが0.002〜50であることを特徴とするものである。
【0013】
本発明の請求項6に係る表面処理方法は、請求項1乃至5のいずれかに記載の表面処理装置を用いた表面処理方法であって、反応容器1に設けたアーク抑制手段により反応容器1から吹き出すガス流Gの流速を加速しながら気体放電Pで生じる発光Sが吹き出し部7に導入されるのを抑制して被処理物4へのアークを抑制することを特徴とするものである。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を説明する。
【0015】
図1に本発明の表面処理装置の一例を示す。この表面処理装置は反応容器1と複数(一対)の電極2、3とを備えて形成されている。反応容器1は高融点の絶縁材料(誘電体材料)で形成されるものであって、例えば、石英ガラス、アルミナ、イットリア、ジルコニウムなどのガラス質材料やセラミック材料などで形成することができるが、これらの材料に限定されるものではない。また、反応容器1はその全体が上下方向に長い略円筒状に形成されるものであって、上部のガス流路部10と下部の吹き出し部7が直線状に並んで構成されている。
【0016】
ガス流路部10は上下方向に長い真っ直ぐな円筒(円直管)で形成されており、その径(内径)は吹き出し部7の径(内径)よりも大きく形成されている。また、ガス流路部10の上端面は導入口11として全面に亘って開口されていると共にガス流路部10の底部にはその略中央部を貫通するように接続口12が設けられている。この接続口12の口径は吹き出し部7の径(内径)と略等しく形成されている。一方、吹き出し部7は上下方向に長い真っ直ぐな円筒(円直管)で形成されており、その径(内径)はガス流路部10の径(内径)よりも小さく形成されている。吹き出し部7の内側の空間は活性種を含むガスが流通する活性ガス流路19として形成されている。また、活性ガス流路19は吹き出し部7の上端面と下端面の全面に亘って開口されており、吹き出し部7の下端面における活性ガス流路19の開口は吹き出し口13として形成されている。そして、ガス流路部10の下面に開口した接続口12と吹き出し部7の上端面の開口とが位置合わせされた状態で、ガス流路部10の下面と吹き出し部7の上端とが一体的に接合されることによって反応容器1が形成されている。従って、ガス流路部10の内側の空間と吹き出し部7の活性ガス流路19とは接続口12を介して連通状態となっている。
【0017】
電極2、3は銅、アルミニウム、真鍮、耐食性の高いステンレス鋼(SUS304など)などの導電性の金属材料を用いてドーナツ状の円筒に形成されている。また、電極2、3の内部には冷却水循環路16が設けられており、この冷却水循環路16に冷却水を通して循環させることによって電極2、3が冷却可能に形成されている。さらに、電極2、3の表面(外面)には腐食の防止等の目的で金メッキ等のメッキを施すことができる。
【0018】
そして、電極2、3の内周面を反応容器1のガス流路部10の外周面に全周に亘って密着させるようにして、両方の電極2、3が反応容器1のガス流路部10の外側に設けられている。また、電極2、3は反応容器1の長手方向すなわち上下方向に対向するように並べて配置されており、反応容器1のガス流路部10において、上側の電極2の上端と下側の電極3の下端との間に対応する部分が放電発生部6として形成されており、この放電発生部6の内側の空間が放電空間17として形成されている。また、反応容器1のガス流路部10において吹き出し部7の上端である吹き出し部7の基部8と吹き出し部7に最も近い電極である下側の電極3の下面との間に対応する部分がバッファ部15として形成されている。従って、バッファ部15の下部はその内周面と底面とで段形状に形成されている。
【0019】
上記電極2、3には高電圧を発生する電源20が接続されており、上側の電極2が高圧電極として、下側の電極3が低圧電極として形成されている。また、下側の電極3が接地されている場合、下側の電極3は接地電極として形成されるものである。尚、電極2、3の間隔はプラズマを安定に生成するために3〜20mmに設定するのが好ましい。そして、この電源20により電極2、3間に高電圧を印加することによって、電極2、3を通じて電極2、3間の放電空間17に交流あるいはパルス状の電界を印加することができるものである。交流の電界は休止時間(電圧が一定で定常状態になっている時間)が無いかほとんど無い電界波形(例えば、正弦波)を有するものであり、パルス状の電界は休止時間のある電界波形を有するものである。また、放電空間17で気体放電Pを連続的に生成するのに必要な電極2、3間の電圧は反応容器1の厚みや放電空間17の大きさ等によって異なるので適宜設定すればよいが、例えば、0.5〜5kVに設定することができる。
【0020】
電源20として交流電源を用いた場合、放電空間17に印加される交流電界の周波数は1kHz〜200MHzに設定するのが好ましい。交流電界の周波数が1kHz未満であれば、放電空間17での放電を安定化させることができなくなり、表面処理を効率よく行うことができなくなる恐れがある。また、交流電界の周波数が200MHzを超えると、放電空間17での気体放電(プラズマ)Pの温度上昇が著しくなり、反応容器1や電極2、3の寿命が短くなる恐れがあり、しかも、表面処理装置が複雑化及び大型化する恐れがある。また本発明において、放電空間17に印加される印加電力の密度は20〜3500W/cm3に設定するのが好ましい。放電空間17に印加される印加電力の密度が20W/cm3未満であれば、気体放電Pを充分に発生させることができなくなり、逆に、放電空間17に印加される印加電力の密度が3500W/cm3を超えると、安定した放電を得ることができなくなる恐れがある。尚、印加電力の密度(W/cm3)は、(印加電力/放電空間17の体積)で定義される。
【0021】
本発明では、プラズマ生成用のガスとして不活性ガス(希ガス)あるいは不活性ガスと反応ガスの混合気体を用いる。不活性ガスとしては、ヘリウム、アルゴン、ネオン、クリプトンなどを使用することができるが、気体放電Pの安定性や経済性を考慮すると、アルゴンやヘリウムを用いるのが好ましい。また、反応ガスの種類は処理の内容によって任意に選択することができる。例えば、被処理物4の表面に存在する有機物のクリーニング、レジストの剥離、有機フィルムのエッチングなどを行う場合は、酸素、空気、CO2、N2Oなどの酸化性ガスを用いるのが好ましい。また、反応ガスとしてCF4などのフッ素系ガスも適宜用いることができ、シリコンなどのエッチングを行う場合にはこのフッ素系ガスを用いるのが効果的である。また、金属酸化物の還元を行う場合は、水素、アンモニアなどの還元性ガスを用いることができる。反応ガスの添加量は不活性ガスの全量に対して10体積%以下、好ましくは0.1〜5体積%の範囲である。反応ガスの添加量が0.1体積%未満であれば、表面処理効果が低くなる恐れがあり、反応ガスの添加量が10体積%を超えると、気体放電Pが不安定になる恐れがある。
【0022】
そして、本発明で被処理物4の表面処理を行うにあたっては次のようにして行う。まず、大気圧下あるいはその近傍の圧力下(93.3〜106.7kPa(700〜800Torr))において、導入口11から反応容器1のガス流路部10の内側にプラズマ生成用のガスを導入する。ガス流路部10に導入されたガスはガス流路部10の内側の空間を上から下に向かって流れて放電発生部6の放電空間17に流入する。ここで、電源20により電極2、3の間に高電圧を印加することにより放電空間17には交流又はパルス状の電界が印加されているので、この電界の印加により大気圧下あるいはその近傍の圧力下で放電空間17に気体放電Pが発生すると共にこの気体放電Pによりプラズマ生成用のガスがプラズマ化されて放電空間17に活性種が生成される。この後、放電空間17で生じた活性種はプラズマ生成用のガスとともにそのガス流に載ってバッファ部15に導入される。次に、活性種を含むガスはバッファ部15の内側の空間から接続口12を通じて吹き出し部7の活性ガス流路19に導入される。そして、活性種を含むガスは活性ガス流路19を上から下に向かって流れて吹き出し口13から連続的にスポット状に吹き出されるものであり、吹き出し口13の下側に被処理物4を配置し、活性種を含むガス流Gを吹き出し口13から被処理物4の表面の一部又は全部に吹き付けて供給することによって、被処理物4の表面処理を行うことができる。
【0023】
尚、吹き出し口13の下側に被処理物4を配置するにあたっては、ベルトコンベア等の搬送装置で被処理物4を搬送するようにして行うことができる。また、搬送装置で複数の被処理物4を吹き出し口13の下側に順次搬送することによって、複数の被処理物4を連続的に表面処理することができる。また、吹き出し口13と被処理物4の表面との間の距離は、ガス流Gの流速、プラズマ生成用のガスの種類、被処理物4や表面処理の内容等によって適宜設定可能であるが、例えば、2〜10mmに設定することができる。
【0024】
そして、本発明では放電発生部6の径D1よりも吹き出し部7の径D2を小さくすると共に吹き出し部7の基部8と吹き出し部7に最も近い下側の電極3の下面とを離して配置することにより吹き出し部7の基部8と吹き出し部7に最も近い下側の電極3との間にバッファ部15を設けることによってアーク抑制手段が形成されているものであり、このアーク抑制手段により反応容器1の吹き出し口13から吹き出すガス流Gの流速を加速しながら被処理物4へのアークを抑制することができるものである。
【0025】
すなわち、本発明において、反応容器1に導入口11から供給されたプラズマ生成用のガスは放電発生部6の放電空間17を通過することにより活性種を含むガスとなり、この活性種を含むガスが放電空間17から吹き出し部7の活性ガス流路19に導入された後、吹き出し口13から吹き出されるものであるが、上記のように、放電発生部6の径D1よりも吹き出し部7の径D2を小さくすることによって、活性ガス流路19の断面積(ガス流の方向と直交する面の断面積)を放電空間17の断面積(ガス流の方向と直交する面の断面積)よりも小さくすることができ、これにより、放電空間17におけるガス流よりも活性ガス流路19におけるガス流を加速して、反応容器1の吹き出し口13から吹き出すガス流Gの流速を放電空間17におけるガス流よりも加速することができるものであり、吹き出し口13から吹き出されるガス流Gの流速が速まることにより、表面処理の能力を高めることができるものである。
【0026】
また、気体放電Pの発生時に放電空間17では発光Sが生じるが、放電空間17を流れるガス流で気体放電Pが下側に流されて吹き出し部7の活性ガス流路19に侵入すると、上記の発光Sも活性ガス流路19に侵入することになる。そして、発光Sが活性ガス流路19に侵入すると、気体放電Pから被処理物4へのアークが生じやすくなる。そこで、本発明では放電発生部6と吹き出し部7の間に段形状のバッファ部15を設けることにより、気体放電Pで生じる発光Sが吹き出し部7に導入されるのを抑制したものであり、これにより、放電空間17を流れるガス流で気体放電P及び発光Sが下側に流されても発光Sをバッファ部15の内側の空間に止めて活性ガス流路19に侵入させないようにすることができ、アークの発生を防いでアークによる被処理物4の損傷を抑えることができるものである。
【0027】
そして、本発明ではプラズマ生成用のガスの流量を増加させることなく吹き出し口13からのガス流Gの流速を増加させて表面処理の能力を高めているので、プラズマ生成用のガスの消費量が増大しないものであり、従って、表面処理のランニングコストが増加することなく経済的に不利にならないものである。また、本発明では放電空間17に投入する印加電力を増加させることなく、吹き出し口13からのガス流Gの流速を増加させて表面処理の能力を高めているので、吹き出し口13から吹き出す活性種を含むガスの温度が上昇することがなく、被処理物4に熱的損傷が生じないものであり、しかも、被処理物4と放電場(放電空間17)との電位差が大きくならないのでアークが発生しにくいものである。さらに、本発明では活性種を含むガスを被処理物4に供給する時間を長くせずに吹き出し口13からのガス流Gの流速を増加させて表面処理の能力を高めているので、一つの被処理物4の表面処理にかかる時間が長くならないようにすることができ、生産性が低下しないようにすることができるものである。また、本発明では放電場から被処理物4までの距離を短くすることなく、吹き出し口13からのガス流Gの流速を増加させて表面処理の能力を高めているので、放電場からの被処理物4へのアークが生じにくくなって、アークにより被処理物4が損傷を受けないようにすることができるものである。また、本発明では吹き出し口13と被処理物4の間に金属メッシュを介在させていないので、被処理物4に供給されるガス流Gが遮られることがなく、表面処理の能力が低下しないものであり、しかも、金属メッシュが腐食して酸化物(錆)が飛散し被処理物4を汚すという問題も発生しないものである。
【0028】
上記の表面処理装置において、吹き出し部7の径(内径)D2と放電発生部6の径(内径)D1の比率は、D2/D1=0.005〜0.99であることが好ましく、また、放電発生部6の径D1が0.5〜20mmであることが好ましいものであり、これらの範囲を逸脱すると、アーク抑制手段により反応容器1から吹き出すガス流Gの流速を加速しながら被処理物4へのアークを抑制することができなくなる恐れがある。また、上記の表面処理装置において、吹き出し部7の径D2と吹き出し部7の長さLの比率は、D2/L=0.002〜19.9であることが好ましいものであり、この範囲を逸脱すると、アーク抑制手段により反応容器1から吹き出すガス流Gの流速を加速することができなくなる恐れがある。さらに、上記の表面処理装置において、吹き出し部7の基部8と吹き出し部7に最も近い下側の電極3の下面との距離Kと吹き出し部7の上下方向の長さLとの比率は、K/L=0.002〜50であることが好ましい。この範囲を逸脱すると、アーク抑制手段により被処理物4へのアークを抑制することができなくなる恐れがある。尚、上記の距離Kはバッファ部15の上下方向の長さである。
【0029】
図3に本発明の他の実施の形態を示す。この実施の形態の表面処理装置は、図1、2に示すものと比べて、反応容器1及び電極2、3の形状が異なるものであり、その他の構成は図1、2に示すものと同等である。反応容器1はその全体が上下方向及び幅方向に長い略角筒状に形成されるものであって、上部のガス流路部10と下部の吹き出し部7が直線状に並んで構成されている。ガス流路部10は上下方向及び幅方向に長い角筒(矩形の角管)で形成されており、その狭小側の寸法(内寸)W1は吹き出し部7の狭小側の寸法(内寸)W2よりも大きく形成されている。すなわち、ガス流路部10は一対の対向配置された平板状の幅広壁10aと一対の対向配置された平板状の狭小壁10bとで形成されるものであり、一対の幅広壁10aは互い平行に対向配置されていると共に一対の狭小壁10bは下端に近づくほど互いの間隔が徐々に小さくなるように傾斜させて対向配置されている。狭小壁10aの傾斜角度θは筒軸方向(鉛直方向)に対して3〜30°にすることができるが、これに限定されるものではない。そして、一対の狭小壁10bが対向する方向を上記の幅方向とすると共に一対の幅広壁10aが対向する方向を狭小方向とするものであり、上記のガス流路部10の狭小側の寸法W1は一対の幅広壁10aの間隔のことである。また、ガス流路部10の上端面の略中央部には幅方向に長いスリット状の導入口11が開口されていると共にガス流路部10の下端面には幅方向に長いスリット状の接続口12が開口されている。この接続口12の大きさは吹き出し部7の上端面の開口の大きさ(内寸)と略等しく形成されている。
【0030】
一方、吹き出し部7は上下方向及び幅方向に長い角筒(角管)で形成されており、その狭小側の寸法(内寸)W2はガス流路部10の狭小側の寸法(内寸)W1よりも小さく形成されている。すなわち、吹き出し部7は一対の対向配置された平板状の幅広壁7aと一対の対向配置された平板状の狭小壁7bとで形成されるものであり、一対の幅広壁7aは互いに平行に対向配置されていると共に一対の狭小壁7bは下端に近づくほど互いの間隔が徐々に小さくなるように傾斜させて対向配置されている。狭小壁7aの傾斜角度θは上記のガス流路部10の狭小壁10aと同じである。そして、一対の狭小壁7bが対向する方向を上記の幅方向とすると共に一対の幅広壁7aが対向する方向を狭小方向とするものであり、上記の吹き出し部7の狭小側の寸法W2は一対の幅広壁7aの間隔のことである。吹き出し部7の内側の空間は活性種を含むガスが流通する活性ガス流路19として形成されている。また、活性ガス流路19は吹き出し部7の上端面と下端面の全面に亘って開口されており、吹き出し部7の下端面における活性ガス流路19の開口は吹き出し口13として形成されている。
【0031】
そして、ガス流路部10の下面に開口した接続口12と吹き出し部7の上端面の開口とが位置合わせされた状態で、ガス流路部10の下面と吹き出し部7の上端とが一体的に接合されることによって反応容器1が形成されている。従って、ガス流路部10の内側の空間と吹き出し部7の活性ガス流路19とは接続口12を介して連通状態となっている。
【0032】
電極2、3は平面視で略ロ字状の角筒に形成されている以外は上記と同様に形成されるものであり、また、電極2、3は上記と同様にして反応容器1の外側に取り付けられている。そして、反応容器1のガス流路部10において、上側の電極2の上端と下側の電極3の下端との間に対応する部分が放電発生部6として形成されており、この放電発生部6の内側の空間が放電空間17として形成されている。また、反応容器1のガス流路部10において吹き出し部7の上端である吹き出し部7の基部8と吹き出し部7に最も近い電極である下側の電極3の下面との間に対応する部分がバッファ部15として形成されている。従って、バッファ部15の下部はその内周面と底面とで段形状に形成されている。
【0033】
この表面処理装置において、吹き出し部7の狭小側の寸法(内寸)W2と放電発生部6の狭小側の寸法(内寸)W1の比率は、W2/W1=0.005〜0.99であることが好ましく、また、放電発生部6の狭小側の寸法W1が0.5〜20mmであることが好ましいものであり、これらの範囲を逸脱すると、アーク抑制手段により反応容器1から吹き出すガス流Gの流速を加速しながら被処理物4へのアークを抑制することができなくなる恐れがある。また、上記の表面処理装置において、吹き出し部7の狭小側の寸法W2と吹き出し部7の上下方向の長さLの比率は、W2/L=0.002〜19.9であることが好ましいものであり、この範囲を逸脱すると、アーク抑制手段により反応容器1から吹き出すガス流Gの流速を加速することができなくなる恐れがある。さらに、上記の表面処理装置において、吹き出し部7の基部8と吹き出し部7に最も近い下側の電極3の下面との距離Kと吹き出し部7の上下方向の長さLとの比率は、K/L=0.002〜50であることが好ましい。この範囲を逸脱すると、アーク抑制手段により被処理物4へのアークを抑制することができなくなる恐れがある。尚、上記の距離Kはバッファ部15の上下方向の長さである。
【0034】
そして、この実施の形態の表面処理装置は図1、2に示すものと同様して表面処理を行うものであって、図1、2に示すものと同様の作用効果を奏するものである。また、図3、4に示す表面処理装置では、活性種を含むガス流Gを連続的にカーテン状に吹き出すことができ、図1、2に示すものに比べて被処理物4の広い面積に一度に活性種を含むガス流Gを吹き付けて供給することができ、処理効率を高めることができるものである。
【0035】
【実施例】
以下、本発明を実施例によって具体的に説明する。尚、実施例1〜22、比較例1〜6においては表面処理装置の反応容器1の吹き出し口13から5mm下流(下側)に被処理物4を10mm/秒で水平に移動させながら表面処理を行った。被処理物4にはネガ型フォトレジストを塗布したシリコン基板を用いた。
【0036】
(実施例1及び比較例1、2)
実施例1では図1、2に示す反応容器1を装備した表面処理装置を使用した。反応容器1は肉厚1mmの石英ガラス製である。実施例1では上下電極2、3間における放電発生部6の放電空間17におけるガスの流速に比べて、吹き出し口13から吹き出される活性種を含むガス流Gの流速を高速化するために、吹き出し口13から20mm上流までを吹き出し部7とし(長さL=20mm)、吹き出し部7での内径D2は1mmとし、他の領域(ガス流路部10)での内径D1は3mmとなる段付き構造とした。電極2、3は内径3mmの放電発生部6の領域に設置され、下側の電極3はその下面が吹き出し部7の基部8から16mm上流側に位置するようした(K=16mm)。この下側の電極3の下面から吹き出し部7の基部8まではバッファ部15である。よって、下側の電極3の最下面は反応容器1の先端(下端)の吹き出し口13より36mm上流側にある。
【0037】
比較例1では反応容器1に肉厚1mm、内径3mmの直管の石英ガラス管を使用した。比較例2では反応容器1に肉厚1mm、内径1mmの直管の石英ガラス管を使用した。比較例1、比較例2のいずれも実施例1と同様に下側の電極3の下面を反応容器1の先端の吹き出し口13より36mm上流側に設置した。
【0038】
一対の電極2,3は銅製でその表面に金メッキ処理を行った。電極2、3間の隣接間隔は5mmとした。電極2、3の内部には冷却水循環用の冷却水流路16を設け、この冷却水流路16に冷却水を循環させ電極2、3を冷却した。上側の電極2は高周波電界(電圧)を発生する電源20に接続し、下側の電極3は接地した。これらの構成は比較例1、比較例2も同様である。
【0039】
これらの表面処理装置を用いて、大気圧下でアルゴン1.75リットル/分、酸素0.022リットル/分の混合ガスを反応容器1に導入し、13.56MHz、100Wの高周波電力を印加し、反応容器1の吹き出し口13より活性種を含むガス流Gを被処理物4の表面に噴射することにより表面処理を行った。実施例1及び比較例1、比較例2について表面処理後のレジストのエッチング深さを測定し、反応容器1の吹き出し口13から吹き出されるガス流Gの流速を測定した。これらの結果を表1に示す。
【0040】
【表1】
【0041】
表1に示すように実施例1では比較例1に比べて吹き出し口13でのガス流Gの流速が約8倍増大した。同時にエッチング量も大きく増加し、吹き出し口13での流速の増加による処理速度の顕著な差が確認された。また、比較例2では放電発生部6が狭く、アーク抑制手段であるバッファ部15が設けられていないため、被処理物4へのアークが発生したものと考えられる。
【0042】
(実施例2及び比較例3、4)
実施例2では図3、4に示す矩形の反応容器1を装備した表面処理装置を使用した。反応容器1は肉厚1mmの石英ガラス製である。また、放電発生部6の狭小側の内寸(以下、放電スリット幅と記す)W1は1mm、吹き出し部7の狭小側の内寸(以下、吹き出しスリット幅と記す)W2は0.3mmとした。さらに、反応容器1の幅方向については、導入口11側(上側)で85mm、吹き出し口13側(下側)で56mm、高さが80mm、筒軸方向と狭小壁10aとの傾斜角θが10.3度とし、下流方向に向かうほどガス流路の断面積が小さくなる構造とした。導入口11は1mm×24mmの矩形とした。本実施例では吹き出し部7の長さLを3mmとした。
【0043】
また、電極2、3は放電スリット幅W1が1mmの放電発生部6の領域に設置され、下側の電極3はその下面が吹き出し部7の基部8から2mm上流側に位置するようにした(K=2mm)。この下側の電極3の下面から吹き出し部7の基部8まではバッファ部15である。よって、下側の電極3の最下面は反応容器1の先端(下端)の吹き出し口13より5mm上流側にある。
【0044】
比較例3では反応容器1に放電スリット幅W1が1mmのものを使用した。比較例4では反応容器1に放電スリット幅W1が0.3mmのものを使用し、いずれも実施例2のような吹き出し部7は設けられていない。また、比較例3、比較例4のいずれも実施例2と同様に下側の電極3の下面を反応容器1の先端の吹き出し口13より5mm上流側に設置した。
【0045】
一対の電極2,3は銅製でその表面に金メッキ処理を行った。電極2、3間の隣接間隔は5mmとした。電極2、3の内部には冷却水循環用の冷却水流路16を設け、この冷却水流路16に冷却水を循環させ電極2、3を冷却した。上側の電極2は高周波電界(電圧)を発生する電源20に接続し、下側の電極3は接地した。これらの構成は比較例3、比較例4も同様である。
【0046】
これらの表面処理装置を用いて、大気圧下でアルゴン11.8リットル/分、酸素0.62リットル/分の混合ガスを反応容器1に導入し、13.56MHz、700Wの高周波電力を印加し、吹き出し口13より活性種を含むガス流Gを被処理物4の表面に噴射することにより表面処理を行った。実施例2及び比較例3、比較例4について表面処理後のレジストのエッチング深さを測定し、吹き出し口13でのガス流Gの流速を測定した。これらの結果を表2に示す。
【0047】
【表2】
【0048】
表2に示すように実施例2では比較例3に比べて吹き出し口13でのガス流Gの流速が約2倍増大した。同時にエッチング量も増加し、吹き出し口13でのガス流Gの流速が大きく増加したことによる反応容器1における処理速度の顕著な差を確認することができた。また、比較例4では放電発生部6が狭く、アーク抑制手段であるバッファ部15が設けられていないため、被処理物4へのアークが発生したものと考えられる。
【0049】
(実施例3乃至7及び比較例1)
本実施例で使用した表面処理装置は、以下の点を除いて実施例1で用いた装置と同じである。すなわち、吹き出し部の内径D2を0.1mm〜2.8mmの間で変化させ、表面処理に与える影響を検討した。
【0050】
これらの表面処理装置を用いて大気圧下で、アルゴン1.75リットル/分、酸素0.022リットル/分の混合ガスを反応容器1に導入し、13.56MHz、100Wの高周波電力を印加し、反応容器1の吹き出し口13からガス流Gを被処理物4の表面に噴射することにより表面処理を行った。結果を表3に示す。
【0051】
【表3】
【0052】
表3から明らかなように、吹き出し部7の内径D2が減少するにつれ、放電時の吹き出し口13でのガス流Gの流速は増加する傾向が見られた。エッチング深さはすべての実施例3〜7において、吹き出し部7を持たない比較例1に比べて増加した。これは、吹き出し口13でのガス流Gの流速の増加に伴い、エッチングに寄与する酸素ラジカルが効果的に被処理物4の表面に運搬されたためと考えられる。
【0053】
(実施例8乃至13)
本実施例で使用した表面処理装置は、以下の点を除いて実施例1で用いた装置と同じである。すなわち、吹き出し部7の内径D1は0.4mm、放電発生部6の内径D1を0.5〜50mmの間で変化させ、表面処理に与える影響を検討した。
【0054】
これらの表面処理装置を用いて大気圧下で、アルゴン1.75リットル/分、酸素0.022リットル/分の混合ガスを反応容器1に導入し、13.56MHz、100Wの高周波電力を印加し、反応容器1の吹き出し口13でのガス流Gを被処理物4の表面に噴射することにより表面処理を行った。結果を表4に示す。
【0055】
【表4】
【0056】
表4から明らかなように、放電発生部6の内径D1が増加するにつれ、エッチング深さが減少する傾向が見られた。さらに、実施例13ではエッチング深さが極端に低下した。これは、放電が反応容器1の壁面で起こるため、放電発生部6の内径D1が大きくなると、反応容器1の中心部で気体放電Pが活発に行われなくなりエッチング量が低下したものと考えられる。
【0057】
(実施例14乃至19及び比較例5)
本実施例で使用した表面処理装置は、以下の点を除いて実施例2で用いた装置と同じである。すなわち、吹き出し部7の狭小側の寸法W2を0.1〜1mm、吹き出し部7の長さLを1〜60mmの間で変化させることにより、表面処理に与える影響を検討した。
【0058】
これらの表面処理装置を用いて大気圧下で、アルゴン11.8リットル/分、酸素0.62リットル/分の混合ガスを反応容器1に導入し、13.56MHz、700Wの高周波電力を印加し、反応容器1の吹き出し口13からのガス流Gを被処理物4の表面に噴射することにより表面処理を行った。結果を表5に示す。
【0059】
【表5】
【0060】
表5に示すように、吹き出し部7がない比較例5ではアークが発生した。また、吹き出し部7の長さLと吹き出し部7の狭小側の寸法W2を変化させることにより、エッチング深さとアーク発生の有無に大きな影響が現れた。吹き出し部7の長さLが極端に長くなる実施例19では、被処理物4と放電発生部6の放電空間17との距離が大きくなるため、表面処理が効果的に行われなかった。また、吹き出し部7の長さLが短くなるにつれ、アークの発生が起こりやすくなる傾向が見られた。これは、被処理物4と電極2、3との距離が短くなるためであると考えられる。
【0061】
(実施例20乃至22及び比較例6)
本実施例で使用した表面処理装置は、以下の点を除いて実施例1で用いた装置と同じである。すなわち、吹き出し部7の長さLとバッファ部15の長さKをそれぞれ1〜20mm、0〜60mmの間で変化させることにより、表面処理に与える影響を検討した。
【0062】
これらの表面処理装置を用いて大気圧下で、アルゴン1.75リットル/分、酸素0.022リットル/分の混合ガスを反応容器に導入し、13.56MHz、100Wの高周波電力を印加し、反応容器1の吹き出し口13からのガス流Gを被処理物4の表面に噴射することにより表面処理を行った。結果を表6に示す。
【0063】
【表6】
【0064】
表6に示すように、バッファ部15の長さを変化させることにより、エッチング深さに大きな影響が現れた。バッファ部15の全く存在しない比較例6では、気体放電Pによって生じたプラズマの発光Sが吹き出し部7に流入するため、エッチング深さは増大するが、被処理物4へのアークが発生し易くなった。(バッファ部15の長さK)/(吹き出し部7の長さL)が60となる実施例22では、エッチング深さが極端に低下した。これは放電発生部6より下流部での反応容器1の内面積が増加したため、活性種を含むガス流の内部の酸素ラジカルが反応容器1の内壁面で失活し、被処理物4の表面でのエッチングが行われなかったものと考えられる。
【0065】
【発明の効果】
上記のように本発明の請求項1の発明は、絶縁材料で形成される反応容器の外側に複数の電極を設け、反応容器内にプラズマ生成用のガスを導入すると共に電極間に交流あるいはパルス状の電界を印加することにより大気圧又はその近傍の圧力下で反応容器の内側に気体放電を発生し、この気体放電により生じる活性種を含むガス流を反応容器から吹き出して被処理物に供給することによって、被処理物の表面処理を行う表面処理装置において、反応容器から吹き出すガス流の流速を加速しながら被処理物へのアークを抑制するためのアーク抑制手段を反応容器に設けるので、アーク抑制手段により反応容器から吹き出すガス流の流速を加速しながら被処理物へのアークを抑制することができ、ランニングコストの増加を抑えて経済的に不利にならず、また、被処理物に供給されるガス流の温度上昇を抑えて被処理物の熱的損傷を抑え、さらに、短時間で表面処理が行うことができて生産性の低下を抑え、加えて、被処理物の酸化物による汚染を抑え、しかも、アークによる被処理物の損傷を抑えながら表面処理の能力を高めることができるものである。
【0066】
また、気体放電を発生するための放電発生部とガス流を吹き出すための吹き出し部とを備えて略円筒状の反応容器を形成し、放電発生部の径よりも吹き出し部の径を小さくすることによりアーク抑制手段を形成するので、放電発生部の径よりも吹き出し部の径を小さくすることによって、反応容器へのプラズマ生成用のガスの導入量を増加させることなく、吹き出し部からのガスの流速を増加させることができ、経済的に不利になることなく表面処理の能力を高めることができるものである。
【0067】
また、気体放電を発生するための放電発生部とガス流を吹き出すための吹き出し部とを備えて略角筒状の反応容器を形成し、放電発生部の狭小側の寸法よりも吹き出し部の狭小側の寸法を小さくすることによりアーク抑制手段を形成するので、放電発生部の狭小側の寸法よりも吹き出し部の狭小側の寸法を小さくすることによって、反応容器へのプラズマ生成用のガスの導入量を増加させることなく、吹き出し部からのガスの流速を増加させることができ、経済的に不利になることなく表面処理の能力を高めることができるものである。
【0068】
また、気体放電で生じる発光が吹き出し部に導入されるのをアーク抑制手段で抑制するので、気体放電の発光から吹き出し部を通じて被処理物にアークが発生しにくくすることができ、アークによる被処理物の損傷を抑えることができるものである。
【0069】
また、本発明の請求項3の発明は、吹き出し部の径/放電発生部の径あるいは吹き出し部の狭小側の寸法/放電発生部の狭小側の寸法が0.005〜0.99であり、放電発生部の径あるいは放電発生部の狭小側の寸法が0.5〜20mmであるので、アークによる被処理物の損傷をより抑えながら表面処理の能力をより高めることができるものである。
【0070】
また、本発明の請求項4の発明は、吹き出し部の径/吹き出し部の長さあるいは吹き出し部の狭小側の寸法/吹き出し部の長さが0.002〜19.9であるので、アークによる被処理物の損傷をより抑えながら表面処理の能力をより高めることができるものである。
【0071】
また、本発明の請求項5の発明は、吹き出し部の基部と吹き出し部に最も近い電極との距離/吹き出し部の長さが0.002〜50であるので、アークによる被処理物の損傷をより抑えながら表面処理の能力をより高めることができるものである。
【0072】
また、本発明の請求項6の発明は、請求項1乃至5のいずれかに記載の表面処理装置を用いた表面処理方法であって、反応容器に設けたアーク抑制手段により反応容器から吹き出すガス流の流速を加速しながら気体放電で生じる発光が吹き出し部に導入されるのを抑制して被処理物へのアークを抑制するので、アーク抑制手段により反応容器から吹き出すガス流の流速を加速しながら被処理物へのアークを抑制することができ、ランニングコストの増加を抑えて経済的に不利にならず、また、被処理物に供給されるガス流の温度上昇を抑えて被処理物の熱的損傷を抑え、さらに、短時間で表面処理が行うことができて生産性の低下を抑え、加えて、被処理物の酸化物による汚染を抑え、しかも、アークによる被処理物の損傷を抑えながら表面処理の能力を高めることができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の一例を示す斜視図である。
【図2】同上の断面図である。
【図3】同上の他の実施の形態の一例を示す斜視図である。
【図4】同上の断面図である。
【符号の説明】
1 反応容器
2 電極
3 電極
4 被処理物
6 放電発生部
7 吹き出し部
8 基部[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention includes cleaning of foreign substances such as organic substances existing on the surface of the object to be processed, resist peeling and etching, improvement of organic film adhesion, metal oxide reduction, film formation, plating pretreatment, coating pretreatment, The present invention relates to a surface treatment apparatus used for surface treatment such as surface modification of various materials and parts, and a surface treatment method using the same, and particularly suitable for cleaning the surface of electronic parts that require precise bonding. It is applied to.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, surface treatment such as cleaning is performed using a gas or plasma containing active species generated by gas discharge. For example, the blowout type surface treatment apparatus described in JP-A-3-219082 forms a discharge part in which a discharge space formed between a high-voltage electrode and a ground electrode is formed, and reacts to the discharge part from its upstream side. The gas is introduced and the reaction gas passes through the discharge space and then blows out from the outlet provided on the downstream side of the discharge part, and then blows out to the workpiece. A high voltage is applied between the high-voltage electrode and the ground electrode. Thus, plasma is excited by passing a reactive gas through a discharge space where glow discharge or silent discharge is performed near atmospheric pressure. This blow-out type surface treatment apparatus performs surface treatment of the object to be treated by supplying active species such as ions and electrons contained in the plasma-excited reaction gas to the object to be treated.
[0003]
In the above blow-out type surface treatment apparatus, various methods are employed in order to enhance the surface treatment capability. For example, increasing the flow rate of the reaction gas by increasing the flow rate of the reaction gas from the outlet by increasing the flow rate of the reaction gas is performed. However, in this case, since the consumption amount of the reaction gas is increased, there is a problem that the running cost of the surface treatment is increased and it is economically disadvantageous. As another method for improving the surface treatment capability, there is a method for increasing the applied power to be applied to the discharge space. In this case, the density of the active species contained in the reaction gas blown out from the blowout port is increased and the surface treatment capability is increased. At the same time, the temperature of the reaction gas blown out from the blowout port is increased to be treated. There has been a problem that an object is thermally damaged, or a potential difference between an object to be processed and a discharge field is increased, and an arc is easily generated. Furthermore, as another method for improving the surface treatment capability, there is a method of extending the time for supplying the reaction gas to the object to be treated. However, in this case, there is a problem that the time required for the surface treatment of one object to be processed becomes long and the productivity is lowered. In addition, as another method for improving the surface treatment capability, there is a method in which a high-voltage electrode and a ground electrode are disposed as close as possible to the air outlet and an object to be processed is disposed immediately below the air outlet. In this case, since the distance between the discharge space and the object to be processed is shortened, it becomes easy to reach the object to be processed before the active species are deactivated, and the surface treatment ability is increased. As a result, there is a problem that an arc from the discharge field to the workpiece is easily generated, and the workpiece is damaged by the arc.
[0004]
In addition, the surface treatment apparatus described in Japanese Patent No. 3147137 reduces the distance between the discharge space and the object to be treated to increase the surface treatment capability and prevents the object from being damaged by the arc. For this purpose, a metal mesh is interposed between the gas jet port for blowing the gas flow containing the active species and the object to be processed, and this metal mesh is grounded. Since the gas flow supplied to is blocked, the surface treatment capacity could not be increased. In addition, the metal mesh may corrode and oxide (rust) may scatter and contaminate the workpiece.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
Therefore, the present invention suppresses an increase in running cost and is not economically disadvantageous, and suppresses a thermal damage to the object to be processed by suppressing a temperature rise of the gas flow supplied to the object to be processed. The surface treatment can be performed in a short time, and the decrease in productivity is suppressed. In addition, the contamination of the object to be processed is suppressed, and the surface treatment ability is enhanced while suppressing the damage to the object to be processed by the arc. An object of the present invention is to provide a surface treatment apparatus and a surface treatment method that can be used.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
In the surface treatment apparatus according to claim 1 of the present invention, a plurality of
[0007]
A surface treatment apparatus according to
[0010]
Further, the claims of the
[0011]
Further, the claims of the
[0012]
Further, the claims of the present invention 5 The surface treatment apparatus according to claim 1 to 4 In addition to any of the above, the distance K between the
[0013]
Claims of the
[0014]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below.
[0015]
FIG. 1 shows an example of the surface treatment apparatus of the present invention. The surface treatment apparatus includes a reaction vessel 1 and a plurality (a pair) of
[0016]
The gas
[0017]
The
[0018]
Then, the inner peripheral surfaces of the
[0019]
A
[0020]
When an AC power source is used as the
[0021]
In the present invention, an inert gas (rare gas) or a mixed gas of an inert gas and a reactive gas is used as a plasma generating gas. As the inert gas, helium, argon, neon, krypton, or the like can be used. However, in view of the stability and economical efficiency of the gas discharge P, it is preferable to use argon or helium. Moreover, the kind of reaction gas can be arbitrarily selected according to the content of the process. For example, in the case of performing cleaning of organic substances existing on the surface of the
[0022]
And in performing surface treatment of the to-
[0023]
In addition, when arrange | positioning the to-
[0024]
In the present invention, the diameter D2 of the blowing
[0025]
That is, in the present invention, the plasma generating gas supplied to the reaction vessel 1 from the inlet 11 becomes a gas containing active species by passing through the
[0026]
Further, when the gas discharge P is generated, light emission S is generated in the
[0027]
In the present invention, the flow rate of the gas flow G from the
[0028]
In the above surface treatment apparatus, the ratio of the diameter (inner diameter) D2 of the
[0029]
FIG. 3 shows another embodiment of the present invention. The surface treatment apparatus of this embodiment is different from that shown in FIGS. 1 and 2 in the shape of the reaction vessel 1 and the
[0030]
On the other hand, the blowing
[0031]
Then, in a state where the
[0032]
The
[0033]
In this surface treatment apparatus, the ratio between the narrow side dimension (inner dimension) W2 of the blowing
[0034]
And the surface treatment apparatus of this embodiment performs surface treatment similarly to what is shown to FIG. 1, 2, Comprising: There exists an effect similar to what is shown to FIG. Moreover, in the surface treatment apparatus shown in FIGS. 3 and 4, the gas flow G containing the active species can be continuously blown out in a curtain shape, so that the surface area of the
[0035]
【Example】
Hereinafter, the present invention will be specifically described by way of examples. In Examples 1 to 22 and Comparative Examples 1 to 6, the surface treatment was performed while moving the
[0036]
(Example 1 and Comparative Examples 1 and 2)
In Example 1, a surface treatment apparatus equipped with the reaction vessel 1 shown in FIGS. The reaction vessel 1 is made of quartz glass having a thickness of 1 mm. In the first embodiment, in order to increase the flow rate of the gas flow G including the active species blown from the blowing
[0037]
In Comparative Example 1, a straight quartz glass tube having a thickness of 1 mm and an inner diameter of 3 mm was used for the reaction vessel 1. In Comparative Example 2, a straight quartz glass tube having a wall thickness of 1 mm and an inner diameter of 1 mm was used for the reaction vessel 1. In both Comparative Example 1 and Comparative Example 2, the lower surface of the
[0038]
The pair of
[0039]
Using these surface treatment apparatuses, a mixed gas of argon of 1.75 liters / minute and oxygen of 0.022 liters / minute is introduced into the reaction vessel 1 under atmospheric pressure, and high frequency power of 13.56 MHz and 100 W is applied. The surface treatment was performed by injecting a gas flow G containing active species from the
[0040]
[Table 1]
[0041]
As shown in Table 1, in Example 1, the flow velocity of the gas flow G at the
[0042]
(Example 2 and Comparative Examples 3 and 4)
In Example 2, a surface treatment apparatus equipped with a rectangular reaction vessel 1 shown in FIGS. The reaction vessel 1 is made of quartz glass having a thickness of 1 mm. Further, the inner dimension W1 on the narrow side of the discharge generating part 6 (hereinafter referred to as discharge slit width) W1 was 1 mm, and the inner dimension on the narrow side of the blowing part 7 (hereinafter referred to as blowing slit width) W2 was 0.3 mm. . Furthermore, with respect to the width direction of the reaction vessel 1, the inlet 11 side (upper side) is 85 mm, the
[0043]
The
[0044]
In Comparative Example 3, a reaction vessel 1 having a discharge slit width W1 of 1 mm was used. In Comparative Example 4, a reaction vessel 1 having a discharge slit width W1 of 0.3 mm is used, and none of the blowing
[0045]
The pair of
[0046]
Using these surface treatment apparatuses, a mixed gas of 11.8 liters / minute of argon and 0.62 liters / minute of oxygen was introduced into the reaction vessel 1 under atmospheric pressure, and high frequency power of 13.56 MHz and 700 W was applied. The surface treatment was performed by injecting a gas flow G containing active species from the
[0047]
[Table 2]
[0048]
As shown in Table 2, in Example 2, the flow velocity of the gas flow G at the
[0049]
(Examples 3 to 7 and Comparative Example 1)
The surface treatment apparatus used in this example is the same as the apparatus used in Example 1 except for the following points. That is, the inner diameter D2 of the blowing portion was changed between 0.1 mm and 2.8 mm, and the influence on the surface treatment was examined.
[0050]
Using these surface treatment apparatuses, a mixed gas of argon of 1.75 liters / minute and oxygen of 0.022 liters / minute is introduced into the reaction vessel 1 under atmospheric pressure, and high frequency power of 13.56 MHz and 100 W is applied. The surface treatment was performed by spraying the gas flow G from the
[0051]
[Table 3]
[0052]
As is apparent from Table 3, the flow velocity of the gas flow G at the blowing
[0053]
(Examples 8 to 13)
The surface treatment apparatus used in this example is the same as the apparatus used in Example 1 except for the following points. That is, the inner diameter D1 of the blowing
[0054]
Using these surface treatment apparatuses, a mixed gas of argon of 1.75 liters / minute and oxygen of 0.022 liters / minute is introduced into the reaction vessel 1 under atmospheric pressure, and high frequency power of 13.56 MHz and 100 W is applied. The surface treatment was performed by injecting the gas flow G at the
[0055]
[Table 4]
[0056]
As is apparent from Table 4, the etching depth tended to decrease as the inner diameter D1 of the
[0057]
(Examples 14 to 19 and Comparative Example 5)
The surface treatment apparatus used in this example is the same as that used in Example 2 except for the following points. That is, the influence on the surface treatment was examined by changing the dimension W2 on the narrow side of the blowing
[0058]
Using these surface treatment apparatuses, a mixed gas of 11.8 liters / minute of argon and 0.62 liters / minute of oxygen is introduced into the reaction vessel 1 under atmospheric pressure, and high frequency power of 13.56 MHz and 700 W is applied. The surface treatment was performed by spraying the gas flow G from the
[0059]
[Table 5]
[0060]
As shown in Table 5, an arc occurred in Comparative Example 5 without the blowing
[0061]
(Examples 20 to 22 and Comparative Example 6)
The surface treatment apparatus used in this example is the same as the apparatus used in Example 1 except for the following points. That is, the influence on the surface treatment was examined by changing the length L of the blowing
[0062]
Using these surface treatment apparatuses, a mixed gas of argon of 1.75 liters / minute and oxygen of 0.022 liters / minute was introduced into the reaction vessel under atmospheric pressure, and high frequency power of 13.56 MHz and 100 W was applied, Surface treatment was performed by injecting a gas flow G from the
[0063]
[Table 6]
[0064]
As shown in Table 6, by changing the length of the
[0065]
【The invention's effect】
As described above, according to the first aspect of the present invention, a plurality of electrodes are provided outside a reaction vessel formed of an insulating material, a plasma generating gas is introduced into the reaction vessel, and an alternating current or pulse is applied between the electrodes. A gas discharge is generated inside the reaction vessel under atmospheric pressure or a pressure near it by applying an electric field, and a gas flow containing active species generated by this gas discharge is blown out of the reaction vessel and supplied to the object to be processed. In the surface treatment apparatus for performing the surface treatment of the object to be treated, the reaction container is provided with an arc suppression means for suppressing the arc to the object to be treated while accelerating the flow rate of the gas flow blown out from the reaction container. The arc suppression means can suppress the arc to the workpiece while accelerating the flow velocity of the gas flow blown out of the reaction vessel. In addition, the temperature rise of the gas flow supplied to the object to be processed is suppressed to suppress the thermal damage of the object to be processed, and the surface treatment can be performed in a short time to suppress the decrease in productivity. In addition, it is possible to increase the surface treatment capability while suppressing contamination of the object to be processed by oxides and suppressing damage to the object to be processed by the arc.
[0066]
Also ,spirit An arc is formed by forming a substantially cylindrical reaction vessel with a discharge generating part for generating body discharge and a blowing part for blowing out a gas flow, and by making the diameter of the blowing part smaller than the diameter of the discharge generating part Since the suppression means is formed, the flow velocity of the gas from the blowing portion is increased without increasing the introduction amount of the plasma generating gas into the reaction vessel by making the diameter of the blowing portion smaller than the diameter of the discharge generating portion. It is possible to increase the surface treatment ability without being economically disadvantageous.
[0067]
Also ,spirit A discharge generating part for generating body discharge and a blowing part for blowing out a gas flow to form a substantially rectangular tube-shaped reaction vessel, which is closer to the narrow side of the blowing part than the narrow side of the discharge generating part Since the arc suppression means is formed by reducing the size, the amount of plasma generation gas introduced into the reaction vessel can be reduced by making the size of the narrow side of the blowing portion smaller than the size of the narrow side of the discharge generating portion. Without increasing, the flow rate of the gas from the blowing portion can be increased, and the surface treatment ability can be enhanced without being economically disadvantageous.
[0068]
Also ,spirit Since the arc suppression means suppresses light emission caused by body discharge from being introduced into the blowing part, it is possible to make it difficult for the arc to be generated in the object to be processed through the blowing part from the light emission of the gas discharge. Damage can be suppressed.
[0069]
Further, the claims of the
[0070]
Further, the claims of the
[0071]
Further, the claims of the present invention 5 Since the distance between the base of the blowing portion and the electrode closest to the blowing portion / the length of the blowing portion is 0.002 to 50, the surface treatment ability can be improved while further suppressing damage to the workpiece due to the arc. It can be increased.
[0072]
Further, the claims of the
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view showing an example of an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view of the above.
FIG. 3 is a perspective view showing an example of another embodiment.
FIG. 4 is a cross-sectional view of the above.
[Explanation of symbols]
1 reaction vessel
2 electrodes
3 electrodes
4 Workpiece
6 Discharge generator
7 Callout
8 base
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