JP3835581B2 - 光ディスク装置および試し書き方法 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明が属する技術分野】
本発明は、光ディスク装置および試し書き方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクを記録または記録・再生する光ディスク装置（例えば、ＣＤ−Ｒドライブ装置、ＣＤ−ＷＲドライブ装置）が知られている。
【０００３】
このような情報の記録機能を持つ光ディスク装置では、実際に情報の書き込み（記録）を行う前に、その光ディスクに固有の特性や環境条件に適した最適な記録パワー（レーザ光の出力）を求める必要がある。
【０００４】
この最適記録パワーを求めることをＯＰＣ（Optimum Power Control ）と呼ぶ。ＯＰＣは、光ディスクの最内周部にあるＰＣＡ（Power Calibration Area）と呼ばれる領域で行われる。ＰＣＡは、テストエリア（Ｔｅｓｔ Ａｒｅａ）とカウントエリア（Ｃｏｕｎｔ Ａｒｅａ）の２つに分割されている。
【０００５】
テストエリアでは、レーザ光出力を段階的に変えて試し書きが行われ、カウントエリアでは、その試し書きの回数（ＯＰＣの回数）を記録する。
【０００６】
この場合、新たにＯＰＣを行う前には、必ずカウントエリアの記録を見て、それ以前に当該光ディスクに書き込まれたＯＰＣの回数を調べる。
【０００７】
しかしながら、何らかの原因で、テストエリアに試し書きを行ったにもかかわらずそのことがカウントエリアに記録されない場合がある。すなわち、カウントエリアに記録されている試し書きの回数が実際の回数より少ない場合がある。
【０００８】
テストエリアに新たに試し書きを行う場合のテストエリア上での書き込み予定箇所は、カウントエリアでの記録回数の情報によってのみ特定しているため、上記のようなカウントエリアの誤記録があった場合には、テストエリアの書き込み済の部分に再度上書き（オーバーライト）を行うこととなり、その結果、ＯＰＣが失敗に終わる（適正なレーザ光出力が得られない）。そして、不適正なレーザ光出力で情報の記録を行うと、光ディスクに多大なダメージを与えることもある。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、レーザの出力を設定（ＯＰＣ）を適正に行うことができる光ディスク装置および試し書き方法を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
このような目的は、下記（１）〜（３）の本発明により達成される。
【００１１】
（１） 試し書きを行うテストエリアと前記テストエリアに試し書きを行った回数を記録するカウントエリアとを有する光ディスクに対し記録または記録・再生する光ディスク装置であって、
光ディスクを回転駆動するモータと、
少なくとも光ディスクの半径方向に移動可能であり、光ディスクにレーザ光を照射して情報を書き込むことができる光学ヘッドと、
前記光学ヘッドの作動を制御する制御手段とを有し、
前記レーザ光の出力を決定するための試し書きをするに際し、前記カウントエリアに記録されたカウント数Ｎに対応した前記テストエリア上の書き込み予定箇所が記録済か否かを、当該書き込み予定箇所にＥＦＭ信号が書き込まれているか否かにより検出し、未記録の場合には当該書き込み予定箇所に試し書きを行い、記録済の場合には前記カウントエリアから取得したカウント数ＮをＮ＋１に修正し、当該修正されたカウント数に対応した前記テストエリア上の書き込み予定箇所において同様の処理を行うよう構成したことを特徴とする光ディスク装置。
【００１２】
（２） 試し書きを行うテストエリアと前記テストエリアに試し書きを行った回数を記録するカウントエリアとを有する光ディスクの前記テストエリアに試し書きを行う方法であって、
前記カウントエリアに記録されたカウント数Ｎに対応した前記テストエリア上の書き込み予定箇所を検出し、
次いで、前記書き込み予定箇所が記録済か否かを、当該書き込み予定箇所にＥＦＭ信号が書き込まれているか否かにより検出し、未記録の場合には当該書き込み予定箇所に試し書きを行い、記録済の場合には前記カウントエリアから取得したカウント数ＮをＮ＋１に修正し、当該修正されたカウント数に対応した前記テストエリア上の書き込み予定箇所において同様の処理を行うようにしたことを特徴とする試し書き方法。
【００１７】
（３） 前記試し書きは、光ディスクへの記録の際のレーザ光の出力を決定するために行われる上記（２）に記載の試し書き方法。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の光ディスク装置および試し書き方法を添付図面に示す好適実施例に基づいて詳細に説明する。
【００１９】
図１は、本発明の光ディスク装置をコンピュータに接続した状態を示すブロック図、図２は、本発明の光ディスク装置の実施例を示すブロック図である。
【００２０】
これらの図に示す光ディスク装置１は、光ディスク（ＣＤ−Ｒ）２を記録・再生するＣＤ−Ｒドライブ装置である。
【００２１】
光ディスク２には、図示しない螺旋状のプリグルーブ（ＷＯＢＢＬＥ：ウォブル）が形成されている。
【００２２】
このプリグルーブは、所定の周期（１倍速で２２．０５kHz ）で蛇行しているとともに、該プリグルーブには、ＡＴＩＰ（Absolute Time In Pre-Groove ）情報（時間情報）が記録されている。この場合、ＡＴＩＰ情報は、バイフェーズ変調され、さらに、２２．０５kHz のキャリア周波数でＦＭ変調されて記録されている。
【００２３】
このプリグルーブは、光ディスク２へのピット／ランド形成（ピット／ランド記録）時の案内溝として機能する。また、このプリグルーブは、再生され、光ディスク２の回転速度制御や、光ディスク２上の記録位置（絶対時間）の特定等に利用される。
【００２４】
光ディスク装置１は、ターンテーブルおよびターンテーブル回転用（光ディスク回転用）のスピンドルモータ８を備え、このターンテーブルに光ディスク２を装着して回転させる図示しない回転駆動機構を有している。このスピンドルモータ８の近傍には、スピンドルモータ８の回転を検出するセンサーとして、ホール素子９が設置されている。スピンドルモータ８の回転に伴い、ホール素子９からは、ＦＧ信号（サイン波）が出力される。このＦＧ信号の周期はスピンドルモータ８の回転数に対応する。
【００２５】
また、光ディスク装置１は、前記装着された光ディスク２（ターンテーブル）に対し、光ディスク２の径方向（ターンテーブルの径方向）に移動し得る光学ヘッド（光ピックアップ：ＰＵ）３と、この光学ヘッド３を前記径方向に移動、すなわち光学ヘッド３の後述する光学ヘッド本体（光ピックアップベース）を前記径方向に移動させるスレッドモータ５を備えた図示しない光学ヘッド本体移動機構と、ドライバ６および１１と、ＰＷＭ信号平滑フィルター（平滑化回路）７および１２と、制御手段１３と、レーザ制御部１４と、ＨＦ信号生成回路１５と、ＨＦ信号ゲイン切り替え回路１６と、ピーク・ボトム検出回路１７と、エラー信号生成回路１８と、ＷＯＢＢＬＥ信号検出回路１９と、ＣＤサーボコントローラ２１と、ＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２と、ＦＧ信号２値化回路２３と、ＥＦＭ／ＣＤＲＯＭエンコーダ制御部２４と、メモリー２５、２６および２９と、シンク信号生成・ＡＴＩＰデコーダ２７と、ＣＤＲＯＭデコーダ制御部２８と、インターフェース制御部３１と、クロック３２、３３、３４および３５と、これらを収納するケーシング１０とを有している。以下、前記光ディスク２の径方向を単に「径方向」と言う。
【００２６】
光学ヘッド３は、レーザダイオード（レーザ光源）および分割ホトダイオード（受光素子）を備えた図示しない光学ヘッド本体（光ピックアップベース）と、対物レンズ（集光レンズ）とを有している。このレーザダイオードの駆動は、レーザ制御部（制御手段）１４により制御される。
【００２７】
対物レンズは、光学ヘッド本体に設けられた図示しないサスペンジョンバネで支持され、光学ヘッド本体に対し、径方向および光ディスク２（ターンテーブル）の回転軸方向のそれぞれに移動し得るようになっている。対物レンズがその中立位置（中点）からずれると、その対物レンズは、前記サスペンジョンバネの復元力によって中立位置に向って付勢される。以下、前記光ディスク２の回転軸方向を単に「回転軸方向」と言う。
【００２８】
また、光学ヘッド３は、光学ヘッド本体に対し、径方向および回転軸方向のそれぞれに対物レンズを移動させるアクチュエータ４を有している。
【００２９】
制御手段１３は、マイクロコンピュータ（ＣＰＵ）で構成され、光学ヘッド３（アクチュエータ４）、スレッドモータ５、スピンドルモータ８、レーザ制御部１４、ＨＦ信号ゲイン切り替え回路１６、ピーク・ボトム検出回路１７、ＣＤサーボコントローラ２１、ＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２、ＥＦＭ／ＣＤＲＯＭエンコーダ制御部２４、メモリー２５、２６、２９、シンク信号生成・ＡＴＩＰデコーダ２７、ＣＤＲＯＭデコーダ制御部２８、インターフェース制御部３１等、光ディスク装置１全体の制御を行う。
【００３０】
なお、制御手段１３からは、アドレス・データバス３６を介してアドレス、データ、ＣＯＭＭＡＮＤ（コマンド）等が、ＥＦＭ／ＣＤＲＯＭエンコーダ制御部２４、メモリー２６、シンク信号生成・ＡＴＩＰデコーダ２７、ＣＤＲＯＭデコーダ制御部２８、インターフェース制御部３１等に入力される。
【００３１】
この光ディスク装置１には、インターフェース制御部３１を介して外部装置（本実施例では、コンピュータ４１）が着脱自在に接続され、光ディスク装置１とコンピュータ４１との間で通信を行うことができる。
【００３２】
インターフェース制御部３１としては、例えば、ＡＴＡＰＩ（ＩＤＥ）（アタピー規格）や、ＳＣＳＩ（スカジー規格）等が用いられる。
【００３３】
前記コンピュータ４１には、キーボード４２、マウス４３およびモニター４４がそれぞれ接続されている。
【００３４】
なお、インターフェース制御部３１により、送信手段が構成される。
また、ＨＦ信号生成回路１５、ＨＦ信号ゲイン切り替え回路１６、ピーク・ボトム検出回路１７、エラー信号生成回路１８、ＷＯＢＢＬＥ信号検出回路１９、ＣＤサーボコントローラ２１およびＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２により、信号処理手段が構成される。
【００３５】
次に、光ディスク装置１の作用について説明する。
光ディスイク装置１は、所定のトラックにおいて、フォーカス制御、トラッキング制御、スレッド制御および回転数制御（回転速度制御）を行いつつ、光ディスク２への情報（データ）の記録（書き込み）および再生（読み出し）を行う。以下、▲１▼記録、▲２▼再生、▲３▼フォーカス制御、トラッキング制御およびスレッド制御、▲４▼回転数制御（回転速度制御）時の作用を説明する。
【００３６】
まず、前提として、図２に示すように、制御手段１３からは、所定のＣＯＭＭＡＮＤ信号がＣＤサーボコントローラ２１に入力される。また、制御手段１３からは、所定のＣＯＭＭＡＮＤ信号がＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２に入力される。
【００３７】
このＣＯＭＭＡＮＤ信号は、制御手段１３からＣＤサーボコントローラ２１やＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２への所定の命令（例えば、制御の開始等）を示す信号である。
【００３８】
そして、ＣＤサーボコントローラ２１からは、所定のＳＴＡＴＵＳ信号が制御手段１３に入力される。また、ＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２からは、所定のＳＴＡＴＵＳ信号が制御手段１３に入力される。
【００３９】
このＳＴＡＴＵＳ信号は、前記命令に対する応答、すなわち、前記制御に対する情報（例えば、制御成功、制御失敗、制御実行中等の各ステータス）を示す信号である。
【００４０】
▲１▼［記録］
光ディスク２にデータ（信号）を記録する（書き込む）際は、光ディスク２に形成されているプリグルーブが再生され（読み出され）、この後、このプリグルーブに沿って、データが記録される。
【００４１】
光ディスク装置１に、インターフェース制御部３１を介して、光ディスク２に記録するデータ（信号）が入力されると、そのデータは、ＥＦＭ／ＣＤＲＯＭエンコーダ制御部２４に入力される。
【００４２】
このＥＦＭ／ＣＤＲＯＭエンコーダ制御部２４では、前記データが、クロック３４からのクロック信号に基づいて（クロック信号のタイミングで）エンコードされ、ＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulation）と呼ばれる変調方式で変調（ＥＦＭ変調）されて、ＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号とされる。
【００４３】
図３に示すように、このＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号は、３Ｔ〜１１Ｔの長さ（周期）のパルスで構成される信号である。
【００４４】
また、図４および図５に示すように、ＥＦＭ／ＣＤＲＯＭエンコーダ制御部２４では、クロック３４からのクロック信号を分周して、所定周期のパルスで構成されるＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号（サブコードシンク信号）が生成される。このＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号のパルスの周期（隣接するパルス間の間隔）は、１倍速の場合、１／７５秒である。
【００４５】
前記エンコードの際は、同期信号、すなわち、ＳＹＮＣパターン（シンクパターン）が、このＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号に基づいて（ＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号のタイミングで）、前記ＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号に付加される。すなわち、各サブコードフレームの先頭部に対応する部分に、それぞれ、ＳＹＮＣパターンが付加される。
【００４６】
このＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号は、ＥＦＭ／ＣＤＲＯＭエンコーダ制御部２４からレーザ制御部１４に入力される。
【００４７】
また、アナログ信号であるＷＲＩＴＥ ＰＯＷＥＲ信号（電圧）が、制御手段１３に内蔵される図示しないＤ／Ａ変換器から出力され、レーザ制御部１４に入力される。
【００４８】
レーザ制御部１４は、ＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号に基づいて、制御手段１３からのＷＲＩＴＥ ＰＯＷＥＲ信号のレベルをハイレベル（Ｈ）と、ローレベル（Ｌ）とに切り替えて出力し、これにより光学ヘッド３のレーザダイオードの駆動を制御する。
【００４９】
具体的には、レーザ制御部１４は、ＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号のレベルがハイレベル（Ｈ）の期間、ＷＲＩＴＥ ＰＯＷＥＲ信号のレベルをハイレベル（Ｈ）にして出力する。すなわち、レーザの出力を上げる（書き込み出力にする）。そして、ＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号のレベルがローレベル（Ｌ）の期間、ＷＲＩＴＥ ＰＯＷＥＲ信号のレベルをローレベル（Ｌ）にして出力する。すなわち、レーザの出力を下げる（読み出し出力に戻す）。
【００５０】
これにより、光ディスク２には、ＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号のレベルがハイレベル（Ｈ）のとき、所定長のピットが書き込まれ、ＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号のレベルがローレベル（Ｌ）のとき、所定長のランドが書き込まれる。
【００５１】
このようにして、光ディスク２の所定のトラックに、データが書き込まれる（記録される）。
【００５２】
ＥＦＭ／ＣＤＲＯＭエンコーダ制御部２４では、前述したＥＮＣＯＤＥ ＥＦＭ信号の他に、所定のＥＮＣＯＤＥ ＥＦＭ信号（ランダムＥＦＭ信号）が生成される。このランダムＥＦＭ信号は、レーザの出力を決定するＯＰＣ（Optimum Power Control ）において、テストエリアへの試し書きの際のレーザの出力調整（パワーコントロール）に用いられる。
【００５３】
ＯＰＣについて、図１６および図１７に基づき説明する。ＣＤ−Ｒによる光ディスク２では、プログラムエリアの内周側に、ＡＴＩＰ特殊情報を有するリードインエリア、ＰＭＡ（Program Memory Area ）、ＰＣＡ（Power Calibration Area）が順次設定されている（図１６参照）。ＰＭＡは、トラックの開始、終了時間等が書き込まれるエリアである。
【００５４】
また、ＰＣＡは、さらに試し書きを行うテストエリアと、そのカウント数を記録するカウントエリアとに別れている（図１７参照）。テストエリアは、１５ＡＴＩＰフレーム×１００のスペースがあり、それに対応して、カウントエリアは、１ＡＴＩＰフレーム×１００のスペースがある。
【００５５】
テストエリアへの試し書きの際には、前記ランダムＥＦＭ信号が、ＥＦＭ／ＣＤＲＯＭエンコーダ制御部２４からレーザ制御部１４に入力される。また、制御手段１３では、１５段階のレベルのＷＲＩＴＥ ＰＯＷＥＲ信号が生成され、そのＷＲＩＴＥ ＰＯＷＥＲ信号が、制御手段１３に内蔵される図示しないＤ／Ａ変換器から出力され、レーザ制御部１４に入力される。
【００５６】
そして、レーザ制御部１４は、前記ランダムＥＦＭ信号に基づいて、制御手段１３からのＷＲＩＴＥ ＰＯＷＥＲ信号のレベルをハイレベル（Ｈ）と、ローレベル（Ｌ）とに切り替えて出力し、これにより光学ヘッド３のレーザダイオードの駆動を制御する。これを１５段階のレベルのＷＲＩＴＥ ＰＯＷＥＲ信号のそれぞれで行う。
【００５７】
このようにして、１５段階の出力のレーザ光でテストエリアへの試し書きが行われる。この試し書きは、１００回行うことができる。試し書きを１回行う毎に、カウントエリアにそのことを示すフラグを立てる（１ＡＴＩＰフレーム分、記録する）。
【００５８】
ランダムＥＦＭ信号における３Ｔの信号と１１Ｔの信号の波形の中心同士のずれ量をβとしたとき、この１５段階のＷＲＩＴＥ ＰＯＷＥＲ信号に対応した１５種のβのうち、４％に最も近いもののレーザ出力を適正なレーザ出力として定める。
【００５９】
なお、図１６、図１７に示すように、リードインエリア開始時間Ｔ３、プログラムエリア開始時間（リードインエリア終了時間）Ｔ４およびリードアウトエリア最終可能開始時間Ｔ５は、それぞれ、ＡＴＩＰ情報にエンコードされている。そして、ＰＭＡ開始時間Ｔ２およびＰＣＡ開始時間Ｔ１は、前記Ｔ３を基準にディスク内周側へ所定時間移動した位置として把握される。また、テストエリアとカウントエリアの境界も同様である。このように、ＯＰＣにおいては、ＡＴＩＰ情報等に基づいて、テストエリアおよびカウントエリアにおける書き込み位置を特定することができる。
【００６０】
また、光ディスク２にデータを書き込む際は、読み出し出力のレーザ光が、光学ヘッド３のレーザダイオードから光ディスク２のプリグルーブに照射され、その反射光が、光学ヘッド３の分割ホトダイオードで受光される。
【００６１】
この分割ホトダイオードからは、図６に示すＷＯＢＢＬＥ信号が出力される。前述したように、このＷＯＢＢＬＥ信号には、１倍速で２２．０５kHz の周波数の信号と、ＡＴＩＰ情報をバイフェーズ変調し、さらに、２２．０５kHz のキャリア周波数でＦＭ変調した信号とが含まれる。
【００６２】
このＷＯＢＢＬＥ信号は、ＷＯＢＢＬＥ信号検出回路１９に入力され、ＷＯＢＢＬＥ信号検出回路１９で２値化される。
【００６３】
２値化されたＷＯＢＢＬＥ信号は、ＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２に入力される。
【００６４】
ＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２では、ＷＯＢＢＬＥ信号のうちのＦＭ変調されているＡＴＩＰ情報を復調し、図７に示すＢＩＤＡＴＡ信号（バイフェーズデータ信号）を得る。このＢＩＤＡＴＡ信号は、１Ｔ〜３Ｔの信号（パルス信号）である。なお、このＢＩＤＡＴＡ信号をバイフェーズ復調し、その後、デコードすることにより、ＡＴＩＰ情報が得られる。
【００６５】
また、ＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２に内蔵される図示しないデジタルＰＬＬ回路では、前記ＢＩＤＡＴＡ信号に基づいてクロック生成を行って、図７に示すＢＩＣＬＯＣＫ信号を得る。このＢＩＣＬＯＣＫ信号は、後述するＢＩＤＡＴＡ信号のデコードのタイミングに使用される。
【００６６】
前記ＢＩＤＡＴＡ信号およびＢＩＣＬＯＣＫ信号は、それぞれ、シンク信号生成・ＡＴＩＰデコーダ２７に入力される。
【００６７】
シンク信号生成・ＡＴＩＰデコーダ２７では、ＢＩＣＬＯＣＫ信号に基づいて、ＢＩＤＡＴＡ信号をバイフェーズ復調し、その後、デコードしてＡＴＩＰ情報を得るとともに、図７に示すＡＴＩＰ−ＳＹＮＣ信号（ＡＴＩＰシンク信号）を生成する。
【００６８】
この場合、図７に示すように、ＢＩＤＡＴＡ信号に含まれるＳＹＮＣパターンが検出されたときに、ＡＴＩＰ−ＳＹＮＣ信号のパルスが生成される。このＡＴＩＰ−ＳＹＮＣ信号のパルスの周期（隣接するパルス間の間隔）は、１倍速の場合、１／７５秒である。
【００６９】
このＡＴＩＰ−ＳＹＮＣ信号は、制御手段１３およびＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２のそれぞれに入力される。
【００７０】
また、前記デコードされたＡＴＩＰ情報は、制御手段１３に入力される。制御手段１３は、このＡＴＩＰ情報により、光ディスク２上の絶対時間を把握する。
【００７１】
前述したＥＦＭ／ＣＤＲＯＭエンコーダ制御部２４からのＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号は、シンク信号生成・ＡＴＩＰデコーダ２７に入力され、このシンク信号生成・ＡＴＩＰデコーダ２７から制御手段１３およびＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２のそれぞれに入力される。
【００７２】
図８は、ＡＴＩＰフレームのフォーマットを示す図である。
同図に示すように、ＡＴＩＰフレームのデータは、４ビットの同期信号、すなわちシンク（Ｓｙｎｃ）と、８ビットの分（Ｍｉｎ）と、８ビットの秒（Ｓｅｃ）と、８ビットのフレームと、１４ビットの誤り検出符号（ＣＲＣ：Cyclic Redundancy Code）とで構成されている。
【００７３】
ＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２では、各ＡＴＩＰフレームに対し、ＡＴＩＰ情報の誤り（エラー）検出がなされる（ＡＴＩＰ情報が誤っているか否かを判別する）。
【００７４】
このＡＴＩＰ情報の誤り検出では、ＡＴＩＰフレームのＳｙｎｃ、分（Ｍｉｎ）、秒（Ｓｅｃ）およびフレームのデータに対して所定の演算を行った結果と、誤り検出符号（ＣＲＣ）とが一致する場合を「正常」、一致しない場合を「ＡＴＩＰエラー」と言う。
【００７５】
この場合、図４に示すように、ＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２では、ＡＴＩＰ情報の誤り、すなわちＡＴＩＰエラーが検出されると、パルス５１が生成され、出力される。
【００７６】
このパルス５１で構成されるＡＴＩＰ ＥＲＲＯＲ信号は、制御手段１３のカウンター（計数手段）１３１に入力される。そして、このカウンター１３１により、ＡＴＩＰ ＥＲＲＯＲ信号のパルス数が、ＡＴＩＰエラーとして計数（計測）される。
【００７７】
このＡＴＩＰ情報の誤り検出は、ＡＴＩＰフレーム毎に行われるので、ＡＴＩＰエラーは、７５ＡＴＩＰフレーム（１倍速で１秒間）に、最大７５個存在する。
【００７８】
なお、ＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２により、ＡＴＩＰエラーを検出する検出手段が構成される。
【００７９】
前記ＡＴＩＰエラーの計数値は、メモリー２６に記憶されるとともに、インターフェース制御部３１を介して、コンピュータ４１に送信され、光ディスク装置１の検査（光ディスク装置１の記録能力の判定）に利用される。
【００８０】
前記制御手段１３に入力されたＡＴＩＰ−ＳＹＮＣ信号は、ＡＴＩＰ時間情報の更新のタイミングに利用される。
【００８１】
また、ＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２に入力されたＡＴＩＰ−ＳＹＮＣ信号は、ＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号との同期合わせに用いられる。
【００８２】
制御手段１３に入力されたＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号は、ＡＴＩＰ時間情報の補間や、前述したＡＴＩＰエラーの計測に用いられる。
【００８３】
また、ＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２に入力されたＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号は、前記ＡＴＩＰ−ＳＹＮＣ信号と同様、同期合わせの基準信号として用いられる。
【００８４】
なお、同期合わせは、書き込み時に生成するＥＦＭデータ内にあるＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号の位置と、光ディスク２上のＡＴＩＰ−ＳＹＮＣ信号の発生する位置とを実質的に一致させるために行う。
【００８５】
図９に示すように、ＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号と、ＡＴＩＰ−ＳＹＮＣ信号のずれは、通常、光ディスク２全体において、各部位でそれぞれ、±２ＥＦＭフレームまで許されている。
【００８６】
▲２▼［再生］
光ディスク２からデータ（信号）を再生する（読み出す）際は、レーザ制御部１４からのＷＲＩＴＥ ＰＯＷＥＲ信号のレベルは、読み出し出力に対応する一定のＤＣレベルに保持され、これにより、レーザの出力が、読み出し出力に保持される。読み出し出力（メインビームの出力）は、通常、０．７mW以下とされる。
【００８７】
光ディスク２からデータを読み出す際は、読み出し出力のレーザ光が、光学ヘッド３のレーザダイオードから光ディスク２の所定のトラックに照射され、その反射光が、光学ヘッド３の分割ホトダイオードで受光される。
【００８８】
この分割ホトダイオードの各受光部からは、それぞれ、受光光量に応じた電流（電圧）が出力され、これらの電流、すなわち、各信号（検出信号）は、それぞれ、ＨＦ信号生成回路１５およびエラー信号生成回路１８に入力される。
【００８９】
ＨＦ信号生成回路１５では、これらの検出信号の加算や減算等を行うことにより、ＨＦ（ＲＦ）信号が生成される。
【００９０】
このＨＦ信号は、光ディスク２に書き込まれたピットとランドに対応するアナログ信号である。
【００９１】
このＨＦ信号は、ＨＦ信号ゲイン切り替え回路１６に入力され、増幅される。このＨＦ信号ゲイン切り替え回路１６の増幅率（ゲイン）は、制御手段１３からのゲイン切り替え信号により切り替えられる。
【００９２】
この増幅後のＨＦ信号（以下、単に「ＨＦ信号」と言う）は、ピーク・ボトム検出回路１７およびＣＤサーボコントローラ２１のそれぞれに入力される。
【００９３】
また、ピーク・ボトム検出回路１７には、▲３▼のフォーカス制御、トラッキング制御およびスレッド制御において説明するトラッキングエラー（ＴＥ）信号が入力される。
【００９４】
図１０に示すように、ピーク・ボトム検出回路１７では、入力信号、例えば、ＨＦ信号やトラッキングエラー信号等の振幅（エンベローブ）が抽出される。
【００９５】
この振幅の上側をＰＥＥＫ（ＴＯＰ）、振幅の下側をＢＯＴＴＯＭと言い、振幅の上側に対応する信号をＰＥＥＫ（ＴＯＰ）信号、振幅の下側に対応する信号をＢＯＴＴＯＭ信号と言う。
【００９６】
ＰＥＥＫ信号およびＢＯＴＴＯＭ信号は、それぞれ、制御手段１３に内蔵されている図示しないＡ／Ｄ変換器に入力され、このＡ／Ｄ変換器でデジタル信号に変換される。
【００９７】
これらＰＥＥＫ信号およびＢＯＴＴＯＭ信号は、例えば、振幅測定、トラッキングエラー信号の振幅調整、前記ＯＰＣにおけるテストエリア上のランダムＥＦＭ信号の有無の検出やβ（β値）の計算、ＨＦ信号の有無の判断等に利用される。
【００９８】
ＣＤサーボコントローラ２１では、ＨＦ信号が２値化され、ＥＦＭ復調され、ＥＦＭ信号が得られる。このＥＦＭ信号は、３Ｔ〜１１Ｔの長さ（周期）のパルスで構成される信号である。
【００９９】
そして、ＣＤサーボコントローラ２１では、このＥＦＭ信号に対して、ＣＩＲＣ（Cross Interleaved Read Solomon Code ）と呼ばれる誤り訂正符号を用いたエラー訂正（ＣＩＲＣエラー訂正）が２回行われる。
【０１００】
この場合、１回目のＣＩＲＣ訂正をＣ１エラー訂正、２回目のＣＩＲＣ訂正をＣ２エラー訂正と言う。
【０１０１】
そして、１回目のＣＩＲＣ訂正、すなわちＣ１エラー訂正において訂正できない場合を「Ｃ１エラー」と言い、２回目のＣＩＲＣ訂正、すなわちＣ２エラー訂正において訂正できない場合を「Ｃ２エラー」と言う。
【０１０２】
図１１に示すように、ＣＤサーボコントローラ２１では、このＣ１エラー訂正の際、Ｃ１エラーが検出されると、パルス５２が生成され、出力される。
【０１０３】
このパルス５２で構成されるＣ１ＥＲＲＯＲ信号は、制御手段１３のカウンター１３１に入力される。そして、このカウンターにより、Ｃ１ＥＲＲＯＲ信号のパルス数が、Ｃ１エラーとして計数（計測）される。
【０１０４】
１サブコードフレームは、９８ＥＦＭフレームで構成されるので、Ｃ１エラーと、Ｃ２エラーは、それぞれ、７５サブコードフレーム（１倍速で１秒間）に、最大７３５０個存在する。
【０１０５】
なお、ＣＤサーボコントローラ２１により、Ｃ１エラーを検出する検出手段が構成される。
【０１０６】
前記Ｃ１エラーの計数値は、メモリー２６に記憶されるとともに、インターフェース制御部３１を介して、コンピュータ４１に送信され、光ディスク装置１の検査（光ディスク装置１の再生能力または記録・再生能力の判定）に利用される。
【０１０７】
ＣＤサーボコントローラ２１では、ＣＩＲＣエラー訂正後のＥＦＭ信号が、所定形式のデータ、すなわち、ＤＡＴＡ信号にデコード（変換）される。
【０１０８】
以下、代表的に、光ディスク２にオーディオデータ（音楽データ）が記録されており、そのＥＦＭ信号をオーディオ形式のＤＡＴＡ信号にデコードする場合を説明する。
【０１０９】
図１２は、オーディオ形式のＤＡＴＡ信号、ＬＲＣＬＯＣＫ信号およびＢＩＴＣＬＯＣＫ信号を示すタイミングチャートである。
【０１１０】
同図に示すように、ＣＤサーボコントローラ２１では、ＥＦＭ信号が、クロック３３からのクロック信号に基づいて、１６ビットのＬチャンネルデータと、１６ビットのＲチャンネルデータとで構成されるＤＡＴＡ信号にデコードされる。
【０１１１】
また、ＣＤサーボコントローラ２１では、クロック３３からのクロック信号に基づいて、ＢＩＴＣＬＯＣＫ信号およびＬＲＣＬＯＣＫ信号が、それぞれ生成される。
【０１１２】
このＢＩＴＣＬＯＣＫ信号は、シリアルデータ転送クロックである。
また、ＬＲＣＬＯＣＫ信号は、ＤＡＴＡ信号中のＬチャンネルデータとＲチャンネルデータとを区別するための信号である。この場合、ＬＲＣＬＯＣＫ信号のレベルがハイレベル（Ｈ）のときが、Ｌチャンネルデータを示し、ローレベル（Ｌ）のときが、Ｒチャンネルデータを示す。
【０１１３】
なお、光ディスク２に通常データが記録されている場合も、そのＥＦＭ信号は、前述した１６ビットのＬチャンネルデータと、１６ビットのＲチャンネルデータとで構成されるＤＡＴＡ信号にデコードされる。
【０１１４】
これらＤＡＴＡ信号、ＬＲＣＬＯＣＫ信号およびＢＩＴＣＬＯＣＫ信号は、それぞれ、ＣＤＲＯＭデコーダ制御部２８に入力される。
【０１１５】
ＣＤＲＯＭデコーダ制御部２８では、光ディスク２に、補正情報、例えば、ＥＣＣ（Error Correction Code ）／ＥＤＣ（Error Detecting Code）のエラー訂正符号が記録されている場合には、ＤＡＴＡ信号に対して、そのエラー訂正が行われる。
【０１１６】
このＥＣＣ／ＥＤＣは、ＣＤ−ＲＯＭ ＭＯＤＥ１フォーマットにおけるエラー訂正符号である。このエラー訂正により、ビットの誤り率を１０^-12 程度まで減少させることができる。
【０１１７】
そして、ＣＤＲＯＭデコーダ制御部２８では、ＤＡＴＡ信号が、クロック３５からのクロック信号に基づいて、通信（送信）用の所定形式のデータにデコードされ、このデコードされたデータ（デコードデータ）は、インターフェース制御部３１を介して、コンピュータ４１に送信される。
【０１１８】
コンピュータ４１側では、例えば、このデコードデータがエンコードされ、そのエンコードされたデータ（エンコードデータ）が、所定の記録媒体（例えば、光ディスク）に記録（コピー）される。
【０１１９】
また、ＣＤサーボコントローラ２１では、図１３に示すＦＲＡＭＥ ＳＹＮＣ信号が生成される。
【０１２０】
このＦＲＡＭＥ ＳＹＮＣ信号のレベルは、ＣＤサーボコントローラ２１にＨＦ信号が入力され、規定の周期（３Ｔ〜１１Ｔ）でＥＦＭ信号が同期しているときに、ハイレベル（Ｈ）になる。そして、ＨＦ信号（ＥＦＭ信号）が入力されなくなると（同期が合わなくなると）、ＥＦＭフレーム単位で、ＦＲＡＭＥ ＳＹＮＣ信号のレベルが、ハイレベル（Ｈ）からローレベル（Ｌ）に変化する。
【０１２１】
なお、１ＥＦＭフレームの長さ（周期）は、１倍速の場合、１３６μsec であり、９８ＥＦＭフレームが１サブコードフレームである。
【０１２２】
このＦＲＡＭＥ ＳＹＮＣ信号は、制御手段１３に入力され、ＨＦ信号の終端の検出に用いられる。
【０１２３】
また、ＣＤサーボコントローラ２１からは、ＳＵＢＱ ＤＡＴＡ信号が制御手段１３に入力される。
【０１２４】
このＳＵＢＱ ＤＡＴＡ信号は、サブコードデータのうちのＱデータを示す信号である。
【０１２５】
サブコードには、Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｓ、Ｔ、Ｕ、ＶおよびＷの８種類がある。１ＥＦＭフレームには、サブコードが１バイト付いており、その１バイトには、Ｐ〜Ｗの各データが、それぞれ１ビット記録されている。
【０１２６】
Ｐ〜Ｗの各データは、それぞれ１ビットであり、１サブコードフレームは、９８ＥＦＭフレームであるので、１サブコードフレーム中のＰ〜Ｗの各データは、それぞれ、９８ビットである。但し、先頭の２ＥＦＭフレームは、ＳＹＮＣパターン（同期信号）に使用されるので、実際のデータは、９６ビットである。
【０１２７】
図１４は、Ｑデータ９６ビットのフォーマットを示す図である。
同図に示すＱ１〜Ｑ４のコントロール（４ビット）は、通常データ／オーディオデータの識別に用いられる。
【０１２８】
また、Ｑ５〜Ｑ８のアドレス（４ビット）は、Ｑ９〜Ｑ８０までのデータ（７２ビット）の内容を示す。
【０１２９】
また、Ｑ８１〜Ｑ９６のＣＲＣ（Cyclic Redundancy Code）（１６ビット）は、エラー（誤り）検出（データが間違っているか否かの判別）に用いられる。
【０１３０】
このＱデータからは、さらに、光ディスク２上の絶対時間情報、現在のトラック情報、リードイン、リードアウト、曲の番号、リードインに記録されるＴＯＣ（Table Of Contents ）と呼ばれる目次の内容等を取得することができる。
【０１３１】
制御手段１３では、このようなＱデータから情報を取得して所定の制御を行う。
【０１３２】
また、ＣＤサーボコントローラ２１からは、ＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号が制御手段１３に入力される。
【０１３３】
図１５に示すように、９８ＥＦＭフレーム中に、サブコードデータは、９８バイトあるが、前述したように、先頭２ＥＦＭフレームの２バイト、すなわち、Ｓ０およびＳ１には、ＳＹＮＣパターン（同期信号）が記録される。
【０１３４】
ＣＤサーボコントローラ２１では、このＳＹＮＣパターンが検出されると、パルスが生成され、出力される。すなわち、１サブコードフレーム（９８ＥＦＭフレーム）毎に、パルスが生成され、出力される。このパルスで構成される信号が、ＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号である。前記ＳＹＮＣパターンは、１倍速の場合、１秒間に７５回検出される。
【０１３５】
なお、ＣＤサーボコントローラ２１では、ＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号のパルスの検出後に、前述したＱデータが更新される。そして、その更新されたＱデータは、制御手段１３に読み込まれる。
【０１３６】
▲３▼［フォーカス制御、トラッキング制御およびスレッド制御］
エラー信号生成回路１８では、前述した分割ホトダイオードからの検出信号の加算や減算等を行うことにより、フォーカスエラー（ＦＥ）信号、トラッキングエラー（ＴＥ）信号およびスレッドエラー（ＳＥ）信号が、それぞれ生成される。
【０１３７】
このフォーカスエラー信号は、合焦位置からの回転軸方向における対物レンズのずれの大きさおよびその方向（合焦位置からの対物レンズのずれ量）を示す信号である。
【０１３８】
また、トラッキングエラー信号は、トラック（プリグルーブ）の中心からの径方向における対物レンズのずれの大きさおよびその方向（トラックの中心からの対物レンズのずれ量）を示す信号である。
【０１３９】
また、スレッドエラー信号は、スレッド制御、すなわち、スレッドサーボ（光学ヘッド３の光学ヘッド本体の送りサーボ）に使用されるエラー（誤差）信号である。換言すれば、光学ヘッド３の目標位置（適正位置）からの径方向（光学ヘッド３の送り方向）における該光学ヘッド３のずれの大きさおよびその方向を示す信号である。
前記フォーカスエラー信号は、ＣＤサーボコントローラ２１に入力される。
【０１４０】
また、トラッキングエラー信号は、ＣＤサーボコントローラ２１に入力されるとともに、前述したようにピーク・ボトム検出回路１７にも入力される。
また、スレッドエラー信号は、ＣＤサーボコントローラ２１に入力される。
【０１４１】
光ディスイク装置１は、これらフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号およびスレッドエラー信号を用い、所定のトラックにおいて、フォーカス制御、トラッキング制御およびスレッド制御を行う。
【０１４２】
フォーカス制御の際は、ＣＤサーボコントローラ２１では、アクチュエータ４の回転軸方向の駆動を制御するフォーカスＰＷＭ（Puls Width Modulation ）信号が生成される。このフォーカスＰＷＭ信号は、デジタル信号（連続パルス）である。
【０１４３】
このフォーカスＰＷＭ信号は、ＣＤサーボコントローラ２１からＰＷＭ信号平滑フィルター７に入力され、このＰＷＭ信号平滑フィルター７で平滑化、すなわち、制御電圧（制御信号）に変換され、ドライバ６に入力される。そして、ドライバ６は、この制御電圧に基づいて、アクチュエータ４にフォーカス信号（所定電圧）を印加し、アクチュエータ４を回転軸方向（フォーカス方向）に駆動させる。
【０１４４】
この場合、ＣＤサーボコントローラ２１は、フォーカスエラー信号のレベルが０になるように（可及的に減少するように）、前記フォーカスＰＷＭ信号のパルス幅（デューティー比）の調整と、フォーカスＰＷＭ信号の符合（正負）の反転とを行う。これにより、光学ヘッド３の対物レンズは合焦位置に位置する。すなわち、フォーカスサーボがかかる。
【０１４５】
また、トラッキング制御の際は、ＣＤサーボコントローラ２１では、アクチュエータ４の径方向の駆動を制御するトラッキングＰＷＭ信号が生成される。このトラッキングＰＷＭ信号は、デジタル信号（連続パルス）である。
【０１４６】
このトラッキングＰＷＭ信号は、ＣＤサーボコントローラ２１からＰＷＭ信号平滑フィルター７に入力され、このＰＷＭ信号平滑フィルター７で平滑化、すなわち、制御電圧（制御信号）に変換され、ドライバ６に入力される。そして、ドライバ６は、この制御電圧に基づいて、アクチュエータ４にトラッキング信号（所定電圧）を印加し、アクチュエータ４を径方向（トラッキング方向）に駆動させる。
【０１４７】
この場合、ＣＤサーボコントローラ２１は、トラッキングエラー信号のレベルが０になるように（可及的に減少するように）、前記トラッキングＰＷＭ信号ののパルス幅（デューティー比）の調整と、トラッキングＰＷＭ信号の符合（正負）の反転とを行う。これにより、光学ヘッド３の対物レンズはトラック（プリグルーブ）の中心に位置する。すなわち、トラッキングサーボがかかる。
【０１４８】
また、スレッド制御の際は、ＣＤサーボコントローラ２１では、スレッドモータ５の駆動を制御するスレッドＰＷＭ信号が生成される。このスレッドＰＷＭ信号は、デジタル信号（連続パルス）である。
【０１４９】
このスレッドＰＷＭ信号は、ＣＤサーボコントローラ２１からＰＷＭ信号平滑フィルター７に入力され、このＰＷＭ信号平滑フィルター７で平滑化、すなわち、制御電圧（制御信号）に変換され、ドライバ６に入力される。そして、ドライバ６は、この制御電圧に基づいて、スレッドモータ５にスレッド信号（所定電圧）を印加し、スレッドモータ５を回転駆動させる。
【０１５０】
この場合、ＣＤサーボコントローラ２１は、スレッドエラー信号のレベルが０になるように（可及的に減少するように）、前記スレッドＰＷＭ信号のパルス幅（デューティー比）の調整と、スレッドＰＷＭ信号の符合（正負）の反転とを行う。これにより、光学ヘッド３の光学ヘッド本体は目標位置（適正位置）に位置する。すなわち、スレッドサーボがかかる。
【０１５１】
なお、トラッキングエラー信号は、トラッキング制御の他、例えば、光学ヘッド（ＰＵ）３を光ディスク２の所定のトラック（目的トラック）へ移動させるとき（トラックジャンプ動作）の制御等にも用いられる。
【０１５２】
▲４▼［回転数制御（回転速度制御）］
光ディスク装置１は、例えば、１倍速、２倍速、４倍速、６倍速、８倍速、１２倍速のように、スピンドルモータ８の回転数を１倍速の整数倍で多段階に変更することができる。この変更は、倍速切り替えモードに設定されることにより行われる。
【０１５３】
例えば記録および再生の際には、所定倍速（原則として１倍速で説明する）に設定されている状態で、それに応じてスピンドルモータ８の回転数（回転速度）が制御される。
【０１５４】
この回転数の制御方法には、ＷＯＢＢＬＥ ＰＷＭ（Puls Width Modulation ：パルス幅変調）信号で制御する方法、すなわちＷＯＢＢＬＥ信号を利用するスピンドルサーボ（ＷＯＢＢＬＥサーボ）と、ＦＧ ＰＷＭ信号で制御する方法、すなわちＦＧ信号を利用するスピンドルサーボ（ＦＧサーボ）と、ＥＦＭ ＰＷＭ信号で制御する方法、すなわちＥＦＭ信号を利用するスピンドルサーボ（ＥＦＭサーボ）とがある。以下、これらを順次説明する。
【０１５５】
ＷＯＢＢＬＥ ＰＷＭ信号は、ＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ（マイクロプロセッサ）２２で生成されるスピンドルモータ制御信号である。具体的には、０−５Ｖレベルのデジタル信号（連続パルス）である。
【０１５６】
このＷＯＢＢＬＥ ＰＷＭ信号は、ＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２からＰＷＭ信号平滑フィルター１２に入力され、このＰＷＭ信号平滑フィルター１２で平滑化、すなわち、制御電圧（制御信号）に変換され、ドライバ１１に入力される。そして、ドライバ１１は、この制御電圧に基づいてスピンドルモータ８を回転駆動させる。
【０１５７】
この場合、ＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ２２は、ＷＯＢＢＬＥ信号の周波数（周期）が、目標値（例えば、１倍速のときは２２．０５kHz ）になるように、前記ＷＯＢＢＬＥ ＰＷＭ信号のパルス幅（デューティー比）を調整する。これにより、スピンドルモータ８の回転数（回転速度）が目標値（以下「目標回転数」と言う）となるようにスピンドルサーボがかかる。
【０１５８】
ＦＧ ＰＷＭ信号は、制御手段１３で生成されるスピンドルモータ制御信号である。具体的には、０−５Ｖレベルのデジタル信号（連続パルス）である。
【０１５９】
このＦＧ ＰＷＭ信号は、制御手段１３のＩ／Ｏポート１３４から出力され、ＰＷＭ信号平滑フィルター１２に入力され、このＰＷＭ信号平滑フィルター１２で平滑化、すなわち、制御電圧（制御信号）に変換され、ドライバ１１に入力される。そして、ドライバ１１は、この制御電圧に基づいてスピンドルモータ８を回転駆動させる。
【０１６０】
一方、モータ回転数検出手段により、スピンドルモータ８の回転数が、ＦＧ（Frequency Generator ）信号の周波数（周期）として検出される。すなわち、ホール素子９からは、スピンドルモータ８の回転数（回転速度）に対応するＦＧ信号が出力される。このＦＧ信号は、ＦＧ信号２値化回路２３で２値化されて方形波とされ、制御手段１３の周波数測定部（周期測定部）１３２に入力される。制御手段１３の周波数測定部１３２では、クロック３２からのクロック信号に基づいて、ＦＧ信号の周波数（周期）を測定する。
【０１６１】
そして、制御手段１３は、ＦＧ信号の周波数（周期）が、目標値になるように、前記ＦＧ ＰＷＭ信号のパルス幅（デューティー比）を調整する。これにより、スピンドルモータ８の回転数（回転速度）が目標回転数となるようにスピンドルサーボがかかる。
【０１６２】
ＦＧ信号の周波数は、スピンドルモータ８の回転数に比例する。従って、例えば６倍速の場合、１倍速に比べ、ＦＧ信号の周波数は６倍となる。
【０１６３】
ＥＦＭ ＰＷＭ信号は、ＣＤサーボコントローラ２１で生成されるスピンドルモータ制御信号である。具体的には、０−５Ｖレベルのデジタル信号（連続パルス）である。
【０１６４】
このＥＦＭ ＰＷＭ信号は、ＣＤサーボコントローラ２１からＰＷＭ信号平滑フィルター１２に入力され、このＰＷＭ信号平滑フィルター１２で平滑化、すなわち、制御電圧（制御信号）に変換され、ドライバ１１に入力される。そして、ドライバ１１は、この制御電圧に基づいてスピンドルモータ８を回転駆動させる。
【０１６５】
この場合、ＣＤサーボコントローラ２１は、ＥＦＭ信号、すなわち、３Ｔ〜１１Ｔの周期のパルスのうちの所定のパルスの周期が、目標値になるように、前記ＥＦＭ ＰＷＭ信号のパルス幅（デューティー比）を調整する。これにより、スピンドルモータ８の回転数（回転速度）が目標回転数となるようにスピンドルサーボがかかる。
【０１６６】
以上のようなスピンドルサーボにおいて、スピンドルモータ８の目標回転数は、光ディスク２上での線速を一定とするために、光ディスク２の内周側と外周側とで異なる（最内周は最外周の２．５倍）。従って、目標回転数を決定するに際しては、現在何倍速に設定されているかという情報とともに、光学ヘッド３の径方向の位置に関する情報が考慮される。
【０１６７】
この光学ヘッド３の径方向の位置に関する情報は、光ディスク上の絶対時間より求まる。この絶対時間は、ＡＴＩＰデコーダやＣＤサーボコントローラより出力されるＡＴＩＰやＳＵＢコードのＱデータなどより得られ、制御手段１３に入力され、把握される。
【０１６８】
さて、以上のような光ディスク装置１においては、光ディスク２のプログラムエリア等へのデータの書き込みに際し、前述したＯＰＣを行い、照射するレーザ光の出力を設定する。
【０１６９】
この場合、ＯＰＣのテストエリアへの試し書き回数（以下「カウント数」と言う）は、カウントエリアの記録（書き込みフレーム数）のみから判断するのではなく、実際にテストエリアに書き込まれているＥＦＭ信号を検出することにより、テストエリアにおける書き込み予定箇所（今回試し書きを行おうとする箇所：１５ＡＴＩＰフレーム分のスペースを有する）が未記録であるか否かを判断し、当該書き込み予定箇所の全てが未記録であることを判断してから、その箇所へ試し書きを行う。なお、書き込み予定箇所は、カウントエリアのカウント数より次に書き込みを始める箇所（光ディスク上の絶対時間）を計算して求めることができる。
【０１７０】
テストエリアにおける前記書き込み予定箇所が一部でも記録済であった場合には、その次の箇所（新たな書き込み予定箇所となる：ディスク内周側に隣接する次の１５ＡＴＩＰフレーム分のスペース）が未記録であるか否かを判断し、当該書き込み予定箇所の全てが未記録であることを判断してから、その箇所へ試し書きを行う。また、この場合には、カウントエリアのカウント数（書き込みフレーム数）が欠落していたこととなるので、カウントエリアの修正（修復）を行う。すなわち、カウントエリアの書き込みフレーム数を書き込み予定箇所の更新回数に応じて増やす。
【０１７１】
図１８は、本発明におけるＯＰＣの制御動作を示すフローチャートである。以下、図１７および図１８に基づいて、ＯＰＣの制御動作をさらに詳細に説明する。
【０１７２】
まず、初期化を行う（ステップ１００）。この初期化は、今回カウントエリアに書き込む数Ｎを０にする設定が含まれる。
【０１７３】
次に、光学ヘッド３を移動してカウントエリアをサーチし、そこに記録されたカウント数を取得し（ステップ１０１）、ＯＰＣモードに設定する（ステップ１０２）。
【０１７４】
次に、取得したカウント数より、テストエリアの書き込み予定箇所を検出し、そこへ光学ヘッド（ＰＵ）３を移動する（ステップ１０３）。例えばカウント数が３であった場合には、書き込み予定箇所はテストエリアの４番目のパーティション（１５ＡＴＩＰフレーム×４）となる。
【０１７５】
次に、光ディスク２を再生し、ＥＦＭデータが有るか否か判断する（ステップ１０４）。すなわち、ピーク・ボトム検出回路１７によりＥＦＭデータ（ランダムＥＦＭ信号）のエンベローブのＰＥＥＫ信号とＢＯＴＴＯＭ信号を検出し、両者の差より振幅を求め、当該フレームにＥＦＭデータ（ＨＦ信号）が書き込まれているかを判断する。
【０１７６】
ステップ１０４の判断の結果、ＥＦＭデータが有る場合には、前記カウント数が誤っていたこととなるため、次の書き込み予定箇所（前記例の場合、テストエリアの５番目のパーティション）に光学ヘッド（ＰＵ）３を移動する（ステップ１０５）。次いで、下記ステップ１１５でカウントエリアの不足カウント分を修正するために、前記Ｎを１つインクリメントし（ステップ１０６）、ステップ１０４へ戻る。
【０１７７】
ステップ１０４の判断の結果、ＥＦＭデータが無い場合には、当該書き込み予定箇所における終了時間を通過したか、すなわち１５ＡＴＩＰフレーム分ＥＦＭデータをサーチしたか否かを判断し（ステップ１０７）、終了時間を通過するまで、ステップ１０４の判断等を行う。
【０１７８】
終了時間を通過したら、すなわち、最新の書き込み予定箇所にＥＦＭデータが全く無い状態となったら、当該書き込み予定箇所における書き込み開始時間（書き込み開始位置）に光学ヘッド（ＰＵ）３を移動し（ステップ１０８）、書き込みを開始する（ステップ１０９）。これにより、書き込み予定箇所に１５段階の出力のレーザ光で試し書きがなされる。
【０１７９】
当該書き込み予定箇所における書き込みが終了したか否かを判断し（ステップ１１０）、書き込みが終了したら、当該書き込み予定箇所における書き込み開始時間（書き込み開始位置）に再度光学ヘッド（ＰＵ）３を移動し（ステップ１１１）、試し書きされたＥＦＭデータ（ランダムＥＦＭ信号）を読む。
【０１８０】
次に、その試し書きされたＥＦＭデータより、前記β値（１５種）を取得し（ステップ１１２）、これらのβ値から最適なレーザ出力を計算して求める（ステップ１１３）。
【０１８１】
次に、この最適なレーザ出力値を制御手段１３に内蔵されたＤ／Ａ変換器にセットし（ステップ１１４）、このレーザ出力で、カウントエリアをＮ＋１回（Ｎ＋１ＡＴＩＰフレーム分）書き込む（ステップ１１５）。これにより、カウントエリアのカウント数が適正な数に修正される。
【０１８２】
以上、図１７、図１８に基づいて説明したように、本発明の光ディスク装置１によれば、ＯＰＣのカウント数を、カウントエリアの記録のみから判断するのではなく、テストエリアにおける書き込み予定箇所に実際にＥＦＭ信号が記録されているか否かを検出し、当該書き込み予定箇所の全てが未記録であることを判断してから、その箇所へ試し書きを行うので、カウント数の正誤にかかわらず、テストエリア上での二重書き（オーバーライト）を防止することができる。
【０１８３】
カウントエリアのカウント数が誤っていた場合には、それを修正するので、次回からの誤りも無くなり、迅速にＯＰＣを行うことができるとともに、光ディスクを無駄にすることなく使用することができる。
【０１８４】
本発明の光ディスク装置は、前述したＣＤ−Ｒドライブ装置に限らず、この他、例えば、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の各種光ディスクを記録・再生する各種光ディスク装置や、これらの光ディスクへの記録専用の光ディスク装置に適用することができる。
【０１８５】
以上、本発明の光ディスク装置および試し書き方法を、図示の実施例に基づいて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、各部の構成は、同様の機能を有する任意の構成のものに置換し、または省略することができる。
【０１８６】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明によれば、テストエリアに試し書きをする際に、二重書き（オーバーライト）を未然に防ぐことができ、これにより、適正なレーザ光の出力設定（ＯＰＣ）が可能となる。
【０１８７】
また、カウントエリアの修正を行う場合には、光ディスクを無駄なく使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の光ディスク装置をコンピュータに接続した状態を示すブロック図である。
【図２】本発明の光ディスク装置の実施例を示すブロック図である。
【図３】本発明におけるＥＦＭ／ＣＤＲＯＭエンコーダ制御部からのＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号と、レーザ制御部からのＥＮＣＯＲＤＥ ＥＦＭ信号とを示すタイミングチャートである。
【図４】本発明におけるＡＴＩＰ−ＳＹＮＣ信号と、シンク信号生成・ＡＴＩＰデコーダからのＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号と、ＡＴＩＰ ＥＲＲＯＲ信号とを示すタイミングチャートである。
【図５】本発明におけるＡＴＩＰ−ＳＹＮＣ信号と、シンク信号生成・ＡＴＩＰデコーダからのＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号と、ＣＤサーボコントローラからのＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号とを示すタイミングチャートである。
【図６】本発明における１Ｔ Ｂｉｐｈａｓｅ ＡＴＩＰタイミングと、ＷＯＢＢＬＥ信号と、２値化後のＷＯＢＢＬＥ信号とを示すタイミングチャートである。
【図７】本発明におけるＢＩＤＡＴＡ信号と、ＢＩＣＬＯＣＫ信号と、ＡＴＩＰ−ＳＹＮＣ信号とを示すタイミングチャートである。
【図８】本発明におけるＡＴＩＰフレームのフォーマットを示す図である。
【図９】本発明におけるＡＴＩＰ−ＳＹＮＣ信号と、ＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号とを示すタイミングチャートである。
【図１０】本発明におけるピーク・ボトム検出回路への入力信号と、その入力信号の振幅（エンベロープ）と、ＰＥＥＫ信号およびＢＯＴＴＯＭ信号とを示すタイミングチャートである。
【図１１】本発明におけるＣＤサーボコントローラからのＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号と、Ｃ１ＥＲＲＯＲ信号とを示すタイミングチャートである。
【図１２】本発明におけるオーディオ形式のＤＡＴＡ信号、ＬＲＣＬＯＣＫ信号およびＢＩＴＣＬＯＣＫ信号を示すタイミングチャートである。
【図１３】本発明におけるＣＤサーボコントローラからのＳＵＢＣＯＤＥ−ＳＹＮＣ信号と、ＦＲＡＭＥ ＳＹＮＣ信号と、ＨＦ信号（ＥＦＭ信号）とを示すタイミングチャートである。
【図１４】本発明におけるＱデータ９６ビットのフォーマットを示す図である。
【図１５】本発明における１サブコードフレームを示す図である。
【図１６】本発明における光ディスク（ＣＤ−Ｒ）の情報記録エリアを示す図である。
【図１７】本発明における光ディスク（ＣＤ−Ｒ）のＯＰＣに必要なＰＣＡ等を示す図である。
【図１８】本発明におけるＯＰＣの制御動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１ 光ディスク装置
１０ ケーシング
２ 光ディスク
３ 光学ヘッド（光ピックアップ）
４ アクチュエータ
５ スレッドモータ
６ ドライバ
７ ＰＷＭ信号平滑フィルター
８ スピンドルモータ
９ ホール素子
１１ ドライバ
１２ ＰＷＭ信号平滑フィルター
１３ 制御手段
１３１ カウンター
１３２ 周波数測定部（周期測定部）
１４ レーザ制御部
１５ ＨＦ信号生成回路
１６ ＨＦ信号ゲイン切り替え回路
１７ ピーク・ボトム検出回路
１８ エラー信号生成回路
１９ ＷＯＢＢＬＥ信号検出回路
２１ ＣＤサーボコントローラ
２２ ＷＯＢＢＬＥサーボコントローラ
２３ ＦＧ信号２値化回路
２４ ＥＦＭ／ＣＤＲＯＭエンコーダ制御部
２５、２６ メモリー
２７ シンク信号生成・ＡＴＩＰデコーダ
２８ ＣＤＲＯＭデコーダ制御部
２９ メモリー
３１ インターフェース制御部
３２〜３５ クロック
３６ アドレス・データバス
４１ コンピュータ
４２ キーボード
４３ マウス
４４ モニター（ＣＲＴ）
５１、５２ パルス
１００〜１１５ ステップ

Claims (3)

1. 試し書きを行うテストエリアと前記テストエリアに試し書きを行った回数を記録するカウントエリアとを有する光ディスクに対し記録または記録・再生する光ディスク装置であって、
   光ディスクを回転駆動するモータと、
   少なくとも光ディスクの半径方向に移動可能であり、光ディスクにレーザ光を照射して情報を書き込むことができる光学ヘッドと、
   前記光学ヘッドの作動を制御する制御手段とを有し、
   前記レーザ光の出力を決定するための試し書きをするに際し、前記カウントエリアに記録されたカウント数Ｎに対応した前記テストエリア上の書き込み予定箇所が記録済か否かを、当該書き込み予定箇所にＥＦＭ信号が書き込まれているか否かにより検出し、未記録の場合には当該書き込み予定箇所に試し書きを行い、記録済の場合には前記カウントエリアから取得したカウント数ＮをＮ＋１に修正し、当該修正されたカウント数に対応した前記テストエリア上の書き込み予定箇所において同様の処理を行うよう構成したことを特徴とする光ディスク装置。
2. 試し書きを行うテストエリアと前記テストエリアに試し書きを行った回数を記録するカウントエリアとを有する光ディスクの前記テストエリアに試し書きを行う方法であって、
   前記カウントエリアに記録されたカウント数Ｎに対応した前記テストエリア上の書き込み予定箇所を検出し、
   次いで、前記書き込み予定箇所が記録済か否かを、当該書き込み予定箇所にＥＦＭ信号が書き込まれているか否かにより検出し、未記録の場合には当該書き込み予定箇所に試し書きを行い、記録済の場合には前記カウントエリアから取得したカウント数ＮをＮ＋１に修正し、当該修正されたカウント数に対応した前記テストエリア上の書き込み予定箇所において同様の処理を行うようにしたことを特徴とする試し書き方法。
3. 前記試し書きは、光ディスクへの記録の際のレーザ光の出力を決定するために行われる請求項２に記載の試し書き方法。

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