JP3827708B2 - 軟x線を利用した静電気除去装置 - Google Patents
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Description
上記ヘッド部を包んでおり,作業者が放射線に被爆しないように上記ヘッド部から軟X線の漏出を防止する軟X線保護部;および
上記ヘッド部と上記軟X線保護部とが電気的に連結され上記ヘッド部が軟X線を適正に発生するようにイオン生成を制御するため上記軟X線管に軟X線管のフィラメント電圧及び軟X線管のイオン生成を制御するためターゲット電圧を供給する電源制御部を包含して構成され,
帯電物体の近方の周囲ガスを電離させイオンと電子を生成して帯電物体表面の静電気を除去することを特徴とする軟X線を利用する静電気の除去装置の所望的な一実施例。
高電圧を発生する高圧変圧器;
上記高圧変圧器によって発生した高電圧を感知する管電圧センサ;
電圧を上記管電圧センサを通じフィードバック受けて定電圧で動作できるようにする高電圧ダブリング整流器;
フィラメント電流を生成する変圧器;
上記変圧器によって生成されたフィラメント電流を感知するためのフィラメント電流センサ;および
セラミツク軟X線チューブを固定して電線を高電圧絶縁して導入する部分;を包含してできるのが所望的だ。
セラミックチューブのメタライジング膜を得るためセラミック上のMo Mnペイストをシルクスクリーンでペインティングした後水素雰囲気から1,350℃て2時間加熱した後冷却する段階;
上記冷却後ブレージングの時にしめる性質を増進させるためメタライジングされた面に無電解ニッケルを鍍金する段階;
上記ニッケル鍍金の後発生する電子の量によってタングステンフィラメントの直径を決定して,所定の厚さの鋼鉄棒に所定回数(turn)くらいフィラメントを巻いて引き出しLaBaOでコーティングする段階;
上記LaBaOコーティングの後ベリリウムウィンドウプレート上にアノード物質をコーティングしてこの時ブレージングが出来る側面の余白はコーティング出来ないように残し73%の銀(Ag)と27%の銅(Cu)で構成したフィラーメタルにコーティングしたアノード表面に流入して効率が低減するのを防止する段階;
上記アノ-ド物質コーティングのあとFVAS(Filtered Vacuum Arc Source)コーティング装置を利用してBeウィンドウプレートの上のWをコーティングする段階;
専用真空路を使用して高真空ブレージングをしながら,モリブデンヒーターを使用して900℃まて温度が到達するようにして,到達真空度はターボモレキュラーポンプとロータリーポンプを利用して4x10-7 Torrまて出来るように排気する段階;および
管の寿命を延すために内部陰極の周辺にZr-Ni-V-Feの物質で構成されたノンエバポレイブルゲッターで450℃からジガシングされ活性化するゲッターを挿入する段階;を具備して出来る,軟X線管の製造方法の所望的な一実施例。
上記のように動作する従来技術の問題点を解決するため創案したこの発明の目的はLCD,PDPおよび半導体工程とおなじクリーンルーム中でガラス基板及びウエハ表面に蓄積された静電気を除去するのに適合な特性波長(1.2Å以上1.5Å以下)の軟X線を利用した静電気除去装置を提供する事である。
この発明のこれ以外の目的と長点は下記の発明の詳細な説明を読み添付図面を参照するとより明白だ。
添付図面は,
図1は従来の電圧印加式静電気除去装置の除電原理を現した図面で;
図2はこの発明による軟X線静電気除去装置構成の1つの実施例を現わすブロック図で;
図3はこの発明による電源制御部構成の1つの実施例を現わすブロック図。
図4はこの発明に適用する軟X線管内部構成図。
図5はこの発明に適用する軟X線発生装置のイオン生成原理を現わす図面。
<図面の主要部分に対する符号の説明>
10:AC高電圧
20:放電電極
30:イオングループ
40:帯電物体
100:ヘッド部
150:イオン生成管
151:ウィンドウ部
152,154,158:フィラーメタルリング
153:アノード プレート
155:セラミックシリンダー
156:チタニウムフォイルシリンダー
157:タングステンフィラメント
159:セラミックピンヘッド
200:軟X線保護部
210:ドア
220:インターロックスイッチ
300:電源制御部
310:PWMモジュレイター
320:FETブリッジ回路部
330:フィラメント電流センサー部
340:高圧変圧器(ターゲット電源部)
350:高圧整流器(ターゲット電源整流部)
360:隔離変圧器(フィラメント電源部)
370:管電圧センサ(ターゲット電圧センサ部)
380:管電流センサ(ターゲット電流センサ部)
390:リファレンスコンパレイター
400:光イオン化装置
S410:安定した原子/分子状態
S420:微弱X線が安定した原子/分子との衝突状態
S430:安定した原子/分子が+イオンを現わす状態
S440:電子が安定した原子/分子と結合する状態
S450:電子と結合した原子/分子が−イオンを現状態
1.発明の構成
この発明による軟X線利用した静電気除去装置は,窓の材質としてベリリウム(Be)薄膜のタングステン(W)を蒸着されたものを使用するイオン生成管の軟X線管からエネルギーが高い1.2Å以上1.5Å以下の波長を持つ軟X線を発生させ静電気除去対象物体の静電気を中和および弱化して,直接ガス分子をイオン化して不活性ガス(N2,Ar)内でも静電気を除去するヘッド部(100),上記ヘッド部を包み,作業者が放射線に被爆しないように上記ヘッド部から軟X線が漏出するのを防止する軟X線保護部(200)および上記ヘッド部と上記軟X線保護部とを電気的に連結し上記ヘッド部の軟X線が適正に発生するようにイオン生成を制御するために上記軟X線管に軟X線管のフィラメント電圧と軟X線管のイオン生成を制御するためにターゲット電圧を供給する電源制御部(300)、を包含して構成する。
上で言及した問題点を解決するために軟X線式(1.2Å以上1.5Å以下)による空気気体電離作用を利用して周囲雰囲気の酸素および窒素分子をイオン化して静電気除去対象物体の静電気を緩和させる。この発明では,静電気除去装置の微粉状態のごみを全然発生しないので,または空気を対流する必要がないからLCD,PDPおよび半導体製造工程に適合である。
また390はリファレンスコンパレイターである。
1)帯電物体の帯電状態について適切な設置距離を選択して実験結果静電気除去装置の最大設置距離は2000mmまで有効な静電気除去能力を得た。
2)静電気除去装置の設置角度につれて静電気除去効率の差異は別にないが立体角度115°以内のとき比較的優秀であつた。
3)軟X線静電気除去装置の発生イオン電流は最大+630nA,-523nAにあらわれた。設置距離100mmまではイオン電流が増加したが,100mm以上ではゆつくり低下して900mmから17〜18nAに低下した。
4)この発明から開発された軟X線静電気除去装置は微粒子と粉塵の汚染が全然発生しないことで半導体とTFT-LCD, PDP製造工程に適合である。
1)N2,Ar等の不活性ガスの雰囲気でも静電気除去が可能である。
2)残留帯電電位をほとんど±5V以内に維持することができる。
3)短時間(ほとんど1sec程度)内で静電気除去が可能である。
4)周囲雰囲気中のガス依存性がない。
5)電極を使用しないから無発塵(Dust Free)が可能である。
6)電子雑音(Electromagnetic Noise)がない。
7)別の維持および補修が必要でない。(Maintenance Free)
以上で詳細に説明したように動作するこの発明において,開示する発明中代表的な事によって得られる効果を簡単に説明すると。次のようである。
20 放電電極
30 イオングループ
40 帯電物体
100 ヘッド部
150 イオン生成管
151 ウィンドウ部
152,154,158 フィラーメタルリング
153 アノード プレート
155 セラミックシリンダー
156 チタニウムフォイルシリンダー
157 タングステンフィラメント
159 セラミックピンヘッド
200 軟X線保護部
210 ドア
220 インターロックスイッチ
300 電源制御部
310 PWMモジュレイター
320 FETブリッジ回路部
330 フィラメント電流センサー部
340 高圧変圧器(ターゲット電源部)
350 高圧整流器(ターゲット電源整流部)
360 隔離変圧器(フィラメント電源部)
370 管電圧センサ(ターゲット電圧センサ部)
380 管電流センサ(ターゲット電流センサ部)
390 リファレンスコンパレイター
400 光イオン化装置
S410 安定した原子/分子状態
S420 微弱X線が安定した原子/分子との衝突状態
S430 安定した原子/分子が+イオンを現わす状態
S440 電子が安定した原子/分子と結合する状態
S450 電子と結合した原子/分子が−イオンを現状態
Claims (6)
- 窓の材質としてベリリウム(Be)薄膜にタングステン(W)を蒸着したのを使用するイオン生成管の軟X線管からエネルギーが高い1.2Å以上1.5Å以下の波長を持つ軟X線を発生させ静電気除去対象物体の静電気を中和および弱化して,直接ガス分子をイオン化し不活性ガス内でも静電気を除去するヘッド部;
上記ヘッド部を包んでおり,作業者が放射線に被爆しないように上記ヘッド部から軟X線の漏出を防止する軟X線保護部;および
上記ヘッド部と上記軟X線保護部とに電気的に連結され、上記ヘッド部が軟X線を適正に発生するように、上記軟X線管に、イオン生成を制御するための軟X線管のフィラメント電圧及びターゲット電圧を供給する電源制御部;を包含して構成され,
帯電物体近方の周囲ガスを電離させイオンと電子を生成して帯電物体表面の静電気を除去することと、
上記軟X線保護部は,厚さ1mmの鋼板で構成され,安全のために上記電源制御部の動作与否を制御する連動スイッチと上記連動スイッチをオン/オフするドアとを装着しており,上記ドアが開放した状態では上記ヘッド部が軟X線を発生しないようにすることと、
上記電源制御部はPWMモジュレイターを使用してアノード電圧(ターゲット電圧)とフィラメント電流とをパルスウィドス制御方法で制御し,FETを使用してハーフブリッジ回路を構成して30kHzの周波数にスイッチングし,上記PWMモジュレイターとハーフブリッジ回路とはフィラメント電源及びアノード電圧発生用に各々一つずつ設置されることと、
上記電源制御部のアノード電圧発生部は,
高電圧を発生する高圧変圧器;
上記高圧変圧器によって発生した高電圧を感知する管電圧センサ;
電圧が上記管電圧センサを通じフィードバック受けて定電圧で動作できるようにする高電圧ダブリング整流器;
フィラメント電流を生成する変圧器;
上記変圧器によって生成されたフィラメント電流を感知する為のフィラメント電流センサ;および
セラミツク軟X線チューブを固定して電線を高電圧絶縁して導入する部分;
を包含してできることと、
上記軟X線管はイオンを生成して軟X線を発生するため真空管で構成され軟X線管の発熱温度を抑制する為にセラミック管を使用することと、
を特徴とする軟X線を利用する静電気の除去装置。 - 請求項1記載の軟X線を利用する静電気の除去装置において,
上記電源制御部のアノード電源部は管電圧センサを通じフィードバックされてターゲットが9.5KVの定電圧で動作するようにして,フィラメント定電圧電源装置の隔離された変圧器はフィラメント電流センサと管電流センサとを通じ電流がフィードバックされてフィラメントが150μAの定電流で動作するようにして,管電流センサを通じフィードバックされて長時間使用しても軟X線の発生量が変化しないようにすることを特徴とする軟X線を利用する静電気の除去装置。 - 請求項1記載の軟X線を利用する静電気の除去装置において,
上記静電気除去装置の有効な最大設置距離は2000mmであることを特徴とする軟X線を利用する静電気の除去装置。 - 請求項1に記載の静電気の除去装置に使用される軟X線管の製作方法において,
セラミックチューブのメタライジング膜を得るためセラミック上のMo Mn ペイストをシルクスクリーンでペインティングした後水素雰囲気から1,350℃で2時間加熱した後冷却する段階;
上記冷却後ブレージングの時にしめる性質を増進させるためメタライジングされた面に無電解ニッケルを鍍金する段階;
上記ニッケル鍍金の後発生する電子の量によってタングステンフィラメントの直径を決定して,所定の厚さの鋼鉄棒に所定回数くらいフィラメントを巻いて引き出しLaBaOでコ
ーティングする段階;
上記LaBaOコーティングの後ベリリウムウィンドウプレート上にアノード物質をコーテ
ィングしてこの時ブレージングが出来る側面の余白はコーティング出来ないように残し73%の銀(Ag)と27%の銅(Cu)とで構成したフィラーメタルにコーティングしたアノード表面に流入して効率が低減するのを防止する段階;
上記アノード物質コーティングのあとFVAS(Filtered Vacuum Arc Source)コーティング装置を利用してBe ウィンドウプレートの上のWをコーティングする段階;
専用真空路を使用して高真空ブレージングをしながら,モリブデンヒーターを使用して900℃まで温度が到達するようにして,到達真空度はターボ モレキュラーポンプとロ
ータリーポンプを利用して4x10-7 Torrまで出来るように排気する段階;および
管の寿命を延す為に内部陰極の周辺にZr-Ni-V-Feの物質で構成されたノンエバポレイブルゲッターで450℃からジガシングされ活性化するゲッターを挿入する段階;を具備してできることを特徴とする軟X線管の製造方法。 - 請求項4記載の軟X線管の製造方法において,
上記ゲッターはフィラメントを張る時陰極のTiシリンダー外壁にスポット溶接で固定して,活性化されたゲッターは密閉したチューブ内部の空間から発生するガスを吸着させて真空度を長く維持してチューブの寿命を延長することを特徴とする軟X線管の製造方法。 - 請求項5記載の軟X線管の製造方法において,
上記軟X線を発生させる為のターゲット電圧は9.5kV,フィラメント電流は150μAであることを特徴とする軟X線管の製造方法。
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