JP3826175B2 - 雰囲気中の水分検出方法 - Google Patents

雰囲気中の水分検出方法 Download PDF

Info

Publication number
JP3826175B2
JP3826175B2 JP32241097A JP32241097A JP3826175B2 JP 3826175 B2 JP3826175 B2 JP 3826175B2 JP 32241097 A JP32241097 A JP 32241097A JP 32241097 A JP32241097 A JP 32241097A JP 3826175 B2 JP3826175 B2 JP 3826175B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
atmosphere
moisture
transmittance
oxide thin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP32241097A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11142340A (ja
Inventor
義幸 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST filed Critical National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority to JP32241097A priority Critical patent/JP3826175B2/ja
Publication of JPH11142340A publication Critical patent/JPH11142340A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3826175B2 publication Critical patent/JP3826175B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、雰囲気中の水分が吸着又は脱離することにより、光学的な吸収度が可逆的に変化する特性を有する薄膜を用いた雰囲気中の水分の検出方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、酸素を含む雰囲気中(大気中、所定空間での空気中やガス雰囲気中等)の水分又はガスにより光学的な吸収度を変化させる種々の材料がガスセンサー用に研究されている。光学的に水分またはガスを検出する方法は、周知の電気的検出方法に比べて、電磁ノイズに強く、光ファイバーの先端にセンサー材料を形成すれば装置のコンパクト化が可能であるという特徴を有している。光学的な感湿材料としては、有機色素や塩化コバルトなどの無機塩が知られているが、長期間の安定性の観点からは金属酸化物が特に好ましいと考えられている。例えば、1996年に安藤らは、センサーズ アンド アクチュエーターズ(Sensors and Actuators)B誌第32巻第157頁〜第160頁に、湿度の変化に応じて、酸化コバルト薄膜の可視域から近赤外域の光の吸収度が変化することを測定原理とする、光学的な湿度の検出方法を提案している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記文献にも記載されているように、酸化コバルト薄膜の吸光度は、相対湿度10%から90%の変化に対し波長400nmにおいて0.006程度の極めて小さな変化しか生じない。
【0004】
また、同じく安藤らは、1996年に米国において開催された第6回化学センサ国際会議要旨集第73頁において、酸化マンガン、酸化鉄、酸化ニッケル、酸化銅も同様な特性を示すと述べている。
【0005】
このように、金属酸化物は長期安定性の観点からは好ましいが、酸化コバルト薄膜等の光学的な吸収度の変化は極めて小さいため、前記薄膜等を用いた方法によっては、雰囲気中の水分を高感度且つ高精度に検出することが困難であるという問題があった。
【0006】
以上のような従来技術の現状に鑑み、本発明は、雰囲気中の水分の吸着又は脱離によって可逆的に吸光度が変化する特性を有し、且つ吸光度の変化が酸化コバルトよりも大きい薄膜を用いた雰囲気中の水分の検出方法を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明者は、上述の課題を解決すべく種々研究を重ねた結果、酸化イリジウム薄膜が、雰囲気中の水分の吸収によって紫外域から近赤外域までの広い波長範囲において光学的透過率及び光学的反射率を大きく変化させるという事実を見出すに至った。さらに、酸化イリジウム薄膜を加熱することによって光学的透過率及び光学的反射率の変化する速度が加速されること、及び酸素を含む雰囲気中で250℃で、10分間程度加熱することにより光学的透過率及び反射率が初期の状態となり、雰囲気中の水分の吸収による光学的透過率及び光学的反射率の変化を繰り返し測定できるという事実を見出すに至った。
【0008】
本発明者は、このような酸化イリジウム薄膜の特性を利用し、雰囲気中の水分検出方法を完成させた。すなわち、本発明は、酸化イリジウム薄膜を表面に形成した基材を酸素を含む雰囲気中に設置し、前記薄膜の光学的透過率又は反射率を測定することにより前記雰囲気中に存する水分を検出することを特徴とする雰囲気中の水分検出方法を提供するものである。なお、測定対象を酸素を含む雰囲気中の水分に限ったのは、酸化イリジウムの還元により金属イリジウムが生じると、上記特性を十分に維持し得ないことによる。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について説明する。本発明は、酸化イリジウム薄膜を用いて該薄膜の光学的透過率又は反射率を測定するものであり、その酸化イリジウム薄膜は、例えば、本発明者による特公昭62−57707号公報に記載の発明のように、金属イリジウムと炭素からなる複合膜を加熱酸化することを基本として製造される。
【0010】
透過率を測定する場合には、ガラス等の透明な基板上に形成されることが望ましいが、反射率を測定する場合には、金属等の不透明な基板上に形成することも可能である。
【0011】
その他、酸化イリジウム薄膜は、公知の方法、すなわち、陽極酸化法、反応性スパッタ法、塩化イリジウムを空気中で酸化する方法などで得ることができる。
【0012】
酸化イリジウム薄膜の光学的透過率または光学的反射率を測定することにより雰囲気中の水分を検出するにあたり、酸化イリジウム薄膜の膜厚は必要に応じて種々の厚さとされる。しかし、雰囲気中の水分の吸収による光学的透過率の変化量は、酸化イリジウム薄膜の膜厚の増加とともに増大する。一方、膜厚が大きくなると透過率そのものが小さくなる(膜厚200nmで透過率は数%)ため、膜厚を大きくしすぎると透過率を測定する際の感度を低下させることになる。したがって、膜厚としては10〜200nmの範囲にあることが好ましく、特に50〜100nm程度であることが好ましい。また、反射率を測定する場合には、50nm程度で十分な測定感度を得ることが可能である。光学的透過率または光学的反射率を測定する波長は、必要に応じて紫外から近赤外域にある種々の波長とされるが、700nm付近が最も感度が高いため、特に500〜800nmの範囲にある波長とすることが好ましい。
【0013】
雰囲気中の水分の吸収を測定するには、あらかじめ、酸素を含む雰囲気中で200〜250℃の温度で10分間程度の熱処理を行って初期化した酸化イリジウム薄膜を用い、この酸化イリジウム薄膜を形成した基板を測定を行う雰囲気中に設置し、光学的な透過率変化又は反射率変化を測定する。測定手段としては、フォトマルチプライヤーを検出器として用いる分光光度計のほか、電球、ハロゲンランプ、レーザ等を光源とし、フォトダイオードを検出器としたもの等の種々の手段を用いることができる。なお、測定毎に上記初期化を行うことが、測定精度を高める点で望ましいが、初期化を行わない場合でも、1回目の測定時及び再測定時の透過率又は反射率を比較することにより、再測定時における雰囲気中の水分を検出することは可能である。
【0014】
【実施例】
以下実施例を示し、本発明の特徴とするところをより一層明らかにする。
【0015】
本発明者による特公昭62−57707号公報に記載の発明のように、金属イリジウムと炭素からなる複合膜を加熱酸化することを基本とする酸化イリジウム膜の製造方法によって、酸化イリジウム薄膜を、コーニング7059ガラス基板、石英ガラス基板及び酸化すず透明電極が塗布されたガラス基板上にそれぞれ形成した。膜厚は60〜120nmの範囲にあった。加熱酸化温度は250℃及び350℃であった。酸化イリジウム薄膜の構造は、X線回折法による測定では、加熱酸化温度が250℃の場合、非晶質であり、加熱酸化温度が350℃の場合、結晶化が認められた。
【0016】
(実施例1)
膜厚が120nmであり加熱酸化温度が250℃の条件で得た酸化イリジウム薄膜をコーニング7059ガラス基板上に形成した試料(試料a)を、空気中、電気炉で250℃の温度で10分間程度加熱した後、2分間以内に、酸化イリジウム薄膜の透過率を測定したところ、波長が700nmにおいて、約25%の透過率を示した。この透過率の値は、空気中、電気炉で250℃の温度で10分間程度加熱することにより、再現性良く得られた。
【0017】
次に、加熱処理を行った試料aを、室温で、相対湿度が48〜50%の空気中に設置したところ、試料aの透過率は、時間の経過とともに上昇し、波長が700nmにおいて約10%の上昇を示した(図1の(a))。この透過率変化は吸光度変化で0.1以上に相当し、安藤らが見いだした酸化コバルト薄膜の吸光度変化に比べて極めて大きい。
【0018】
同じ測定方法を用いて測定すると、膜厚が60nmであり、加熱酸化温度が250℃の条件で得た酸化イリジウム薄膜を石英ガラス基板上に形成した試料(試料b)の透過率は、時間の経過とともに上昇し、波長が700nmにおいて、約5%の透過率の上昇を示した(図1の(b))。
【0019】
また、同様に、膜厚が75nmであり、加熱酸化温度が350℃の条件で得た酸化イリジウム薄膜を石英ガラス基板上に形成した試料(試料c)の透過率は、時間の経過とともに上昇し、波長が700nmにおいて、約2%の透過率の上昇を示した(図1の(c))。
【0020】
試料a、b、cにおいて観察された、時間の経過による透過率の上昇の原因は、以下の結果から水分の吸収に起因するものと考えることができる。すなわち、酸化すず透明電極が塗布されたガラス基板上に形成した、膜厚が110nmの酸化イリジウム薄膜に、水分の吸収波長である波長2.86μm(=波数3500cm-1)付近の赤外線を照射し、その反射光を検出したところ、加熱処理直後よりも長時間放置後の方が大きな吸収を示した。これは、酸化イリジウム薄膜に水分の吸収が生じたことを意味する。
【0021】
また、図2に示したように、試料aを室温で相対湿度が25%の環境下にあるデシケーターに入れ、時間経過に伴う吸光度変化を測定(図2に×、□で示す)したところ、上述した相対湿度48〜50%の空気中に設置した場合(図2に○で示す)よりも変化量が小さいことからも、上述の透過率の上昇が水分の吸収に起因すると考えることができる。
【0022】
このように、酸化イリジウム薄膜の水分の吸収に伴う透過率変化は、安藤らの報告による酸化コバルト薄膜に比べて極めて大きい。なお、室温では応答時間がやや遅いが、以下の実施例2及び実施例3で示すように、基材温度を100〜150℃とすることによって、時間に対する応答特性が向上する。
【0023】
(実施例2)
前述の試料aを空気中、電気炉で250℃の温度で10分間程度加熱した後、別の電気炉内において75℃から200℃の範囲の種々の温度で10分間から1時間程度、保管したところ、時間経過に伴う透過率変化が促進されることが分かった。図2に示したように、100℃から150℃の温度範囲、特に125℃の温度で保管することにより、10分間で、波長が700nmでの吸光度変化が0.05以上を示した。
【0024】
(実施例3)
透過率変化を測定する以外に反射率変化を測定することによっても、空気中の水分の検出を行うことが可能である。試料bを空気中、電気炉で250℃の温度で10分間程度加熱した後、125℃の温度で保管することにより、10分間で、波長が350〜800nmでの範囲において、数%の反射率の増大が認められた。具体的には、波長500nmにおいて、約4.5%の反射率の増大、波長600nmにおいて、約3.5%の反射率の増大、波長700nmにおいて、約3%の反射率の増大を示した。
【0025】
【発明の効果】
本発明によれば、以下の如き効果が奏される。本発明に係る雰囲気中の水分検出方法は、酸化イリジウム薄膜の大きな光透過率変化または光反射率変化を利用するため、雰囲気中の微量な水分を高感度に検出することができる。したがって、例えば、高純度ガス中の水分の有無を正確に調べることが可能である。
【0026】
また、酸化イリジウム薄膜は、高温時に水分の吸収に伴う吸光度変化の時間応答が促進され、さらに、酸に浸され易い酸化コバルト等と異なり、化学的に極めて安定している。したがって、本発明に係る方法は、酸またはアルカリが存在し室温以上の温度、特に100℃以上の高温環境下での雰囲気中の水分の検出方法として極めて有用である。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、種々の膜厚の酸化イリジウム薄膜を用いて本発明に係る方法により測定した加熱処理直後及び時間経過後の透過率スペクトルを示すグラフである。
【図2】図2は、種々の温度条件で試料を設置して本発明方法により測定した場合の波長700nmにおける吸光度の時間的変化を示すグラフである。

Claims (1)

  1. 酸化イリジウム薄膜を表面に形成した基材を酸素を含む雰囲気中に設置し、前記薄膜の光学的透過率又は反射率を測定することにより前記雰囲気中に存する水分を検出することを特徴とする雰囲気中の水分検出方法。
JP32241097A 1997-11-07 1997-11-07 雰囲気中の水分検出方法 Expired - Lifetime JP3826175B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32241097A JP3826175B2 (ja) 1997-11-07 1997-11-07 雰囲気中の水分検出方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32241097A JP3826175B2 (ja) 1997-11-07 1997-11-07 雰囲気中の水分検出方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11142340A JPH11142340A (ja) 1999-05-28
JP3826175B2 true JP3826175B2 (ja) 2006-09-27

Family

ID=18143363

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32241097A Expired - Lifetime JP3826175B2 (ja) 1997-11-07 1997-11-07 雰囲気中の水分検出方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3826175B2 (ja)

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62110143A (ja) * 1985-11-08 1987-05-21 Res Dev Corp Of Japan 感応媒体
JP3054850B2 (ja) * 1994-09-16 2000-06-19 科学技術振興事業団 湿度検知方法
JP3700877B2 (ja) * 1996-02-07 2005-09-28 日本電信電話株式会社 二酸化窒素ガス検出法および検出材料
JP3054688B2 (ja) * 1997-08-29 2000-06-19 工業技術院長 湿度検知用材料及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11142340A (ja) 1999-05-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Leftheriotis et al. Deposition and optical properties of optimised ZnS/Ag/ZnS thin films for energy saving applications
US6535658B1 (en) Hydrogen sensor apparatus and method of fabrication
Wang et al. Spectrally selective solar absorber stable up to 900° C for 120 h under ambient conditions
Pemberton et al. Surface enhanced Raman scattering in electrochemical systems: The complex roles of surface roughness
CN106198648B (zh) 一种室温氢气传感器的制备方法
Fan Sputtered films for wavelength-selective applications
Yan et al. Optical fiber evanescent wave absorption spectrometry of nanocrystalline tin oxide thin films for selective hydrogen sensing in high temperature gas samples
Konz et al. Micromachined IR-source with excellent blackbody like behaviour
JPS6239744A (ja) 光学式湿度検知装置
JP4639344B2 (ja) 水素検知材料とその製造方法
US7432577B1 (en) Semiconductor component for the detection of radiation, electronic component for the detection of radiation, and sensor system for electromagnetic radiation
Liang et al. Periodic Arrays of 3D AuNP‐Capped VO2 Shells and Their Temperature‐Tunable SERS Performance
JP4164574B2 (ja) 光学反射率変化を用いる水素センサ、水素検出方法及び検出装置
JP3826175B2 (ja) 雰囲気中の水分検出方法
US6911179B2 (en) Ozone detecting material and method for detecting ozone
Benson et al. Low-cost fiber optic hydrogen gas detector using guided-wave surface-plasmon resonance in chemochromic thin films
CN112014358A (zh) 一种双程表面等离子共振的光学薄膜气体传感器及其制法
Shuangjiao et al. Study of WO3/Pt hydrogen sensitive film fabricated by Sol-Gel method
US20090084161A1 (en) Hydrogen sensor
OH et al. A novel palladium thin film hydrogen-detector
Henry et al. A blue colored surface observed during high temperature oxidation of aluminum (111)
Roos et al. Tin-oxide-coated anodized aluminium selective absorber surfaces II. Aging and durability
JP3126759B2 (ja) 光学式分析装置
Oesterlein et al. Optical dispersion in electron-beam-evaporated indium tin oxide thin films
JPH09113501A (ja) 一酸化炭素ガス検知用検知材料及び一酸化炭素ガス検知方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041013

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060327

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060418

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20060421

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20060421

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term