JP3819967B2 - 波形処理装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、時系列に入力されるアナログ信号の波形を処理する波形処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
種々の物体の形状および寸法を測定するために変位計が用いられている。例えば、図13に示すように、搬送ライン100の上方に変位計102を配置し、搬送ライン100上を移動する被検出体101に光を照射するとともに、その反射光を受光する。変位計102の出力信号は、被検出体101の外形に対応する波形を有する。したがって、その出力信号の波形に基づいて被検出体101の形状および寸法を測定することができる。
【0003】
図14(a)に変位計102の出力信号の波形を示す。図において、横軸は時間を表わし、縦軸は信号レベルを表わす。図14(a)に示す波形は、図13の被検出体101の外形に対応している。この波形における各エッジ(波形の立ち上がり部分または立ち下がり部分)の時間軸上の位置および各部分の信号レベルを検出することにより被検出体101の各部分の寸法を測定することができる。例えば、波形の信号レベルを検出することにより被検出体101の高さを測定することができ、波形のエッジ間の間隔を検出することにより被検出体101の幅を測定することができる。
【0004】
また図15(a)に示すような波形が得られた場合、即ち線分C1とC3において段差がある場合、その段差の位置つまりエッジに相当する点を演算したい場合がある。図15の場合、C1とC3の間に有限の傾きを持つ線分C2があるため、厳密にその段差の位置を演算することができない。
【0005】
このような段差の位置に変わるものとして従来より線分C1およびC2仮想的な交点の演算がなされている。この交点の位置(この位置は近似的に変曲点と呼ばれている。)の演算には、図15(a)の波形を微分し(図15(b))、所定のレベルVと交差する位置Pを変曲点として演算する方法や、図16(a)に示すように線分C1と線分C2上にA1、A2およびB1、B2を通る直線l1、l2をそれぞれ設定し、その交点を変曲点の位置Pとする方法が従来より用いられている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、図14(b)に破線で示すように、変位計102の出力信号を取り込むタイミングが時間軸方向にずれると、被検出体101の所定の部分の寸法を正確に測定することができない。そのため、従来は、例えば、タイミング信号TIMを用いて信号レベルの検出タイミングを制御することにより、波形の部分の信号レベルを検出している。
【0007】
一方、搬送ライン100の上面の高さにばらつきがあると、図14(c)に破線で示すように、出力信号の波形の信号レベルが上下にずれることになる。また、搬送ライン100の上面が湾曲または傾斜していると、図14(d)に破線で示すように、出力信号の波形が傾くことになる。このような場合には、被検出体101の形状や寸法を正確に測定することができない。そのため、搬送ライン100を高精度で作製する必要がある。
【0008】
また、図15(a)に示すような波形の変曲点を算出する際、図15(a)の波形の微分波形は図15(b)に示すようなものではなく、図15(c)のようにノイズが重畳したものになり、所定のレベルVと交差する位置を特定することが困難である。
【0009】
また、図16(a)に示すような方法で波形の変曲点を算出する際、点A1,A2および、点B1,B2の設定により直線l1,l2の傾きが変化するので交点Pの位置に誤差を生じやすいという問題がある。この誤差を軽減するためにより正確に直線を決定するためにはデータの処理量が多くなり、高速に波形を処理できないという問題もある。
【0010】
本発明の目的は、時系列に入力されるアナログ信号の波形の所定部分のレベルまたは時間軸上の位置を容易、高精度かつ高速に検出することができる波形処理装置を提供することである。
【0011】
本発明の他の目的は、時系列で入力されるアナログ信号の波形の傾きを容易に補正することができる波形処理装置を提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段および発明の効果】
(1)第1の発明
第1の発明に係る波形処理装置は、入力手段、トリガ処理手段、記憶手段、第1の設定手段、エッジ検出手段、第2の設定手段およびレベル検出手段を備える。
【0013】
詳しくは、搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、
外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、
前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、
前記波形データにおける時間軸上の所定測定範囲を設定する第1の設定手段と、
前記第1の設定手段により設定された前記所定測定範囲内において、前記被検出体の段差の位置に対応する前記波形データのエッジの時間軸上の位置を検出するエッジ検出手段と、
前記エッジ検出手段により検出された前記エッジの時間軸上の位置を基準として前記波形データにおける所定の測定範囲または測定点を設定する第2の設定手段と、
前記第2の設定手段により設定された前記所定の測定範囲または測定点における前記被検出体の高さに対応した前記波形データのレベルを検出するレベル検出手段とを備えたことを特徴とする。
【0014】
第1の発明に係る波形処理装置においては、入力されたアナログ信号が波形データとして記憶され、その波形データにおける時間軸上の所定範囲が設定され、その範囲内において波形データのエッジの時間軸上の位置が検出される。そして、エッジの時間軸上の位置を基準として波形データにおける所定部分が設定され、その所定部分における波形データのレベルが検出される。
【0015】
このように、波形データのエッジの位置を基準としてその波形データの所定部分が設定されるので、波形データが時間軸方向にずれても、そのずれが所定範囲内であれば、波形データの所定部分におけるレベルを正確に測定することができる。したがって、時系列で入力されるアナログ信号の波形におけるエッジの時間軸上の位置を容易にかつ高精度に検出することが可能となる。
【0016】
(2)第2の発明
第2の発明に係る波形処理装置は、入力手段、トリガ処理手段、記憶手段、第1の設定手段、レベル検出手段、第2の設定手段およびエッジ検出手段を備える。
【0017】
詳しくは、搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の第1および第2の測定範囲または測定点を設定する第1の設定手段と、前記第1の設定手段により設定された前記第1および第2の測定範囲または測定点における前記被検出体の高さに対応した前記波形データのレベルをそれぞれ第1および第2のレベルとして検出するレベル検出手段と、前記レベル検出手段により検出された前記第1および第2のレベルに基づいて検出レベルを設定する第2の設定手段と、前記第2の設定手段により設定された前記検出レベルに基づいて、前記波形データにおける前記被検出体の段差の位置に対応したエッジの時間軸上の位置を検出するエッジ検出手段とを備えたことを特徴とする。
【0018】
第2の発明に係る波形処理装置においては、入力されたアナログ信号が波形データとして記憶され、その波形データにおける時間軸上の第1および第2の部分が設定され、それらの第1および第2の部分における波形データのレベルがそれぞれ第1および第2のレベルとして検出される。そして、第1および第2のレベルに基づいて検出レベルが設定され、その検出レベルに基づいて波形データにおけるエッジの時間軸上の位置が検出される。
【0019】
このように、波形データの第1および第2の部分のレベルに基づいて検出レベルが設定されるので、波形データのレベルが上下方向にずれても、その波形データにおけるエッジの時間軸上の位置を正確に測定することができる。したがって、時系列で入力されるアナログ信号の波形におけるエッジの時間軸上の位置を容易にかつ高精度に検出することが可能となる。
【0020】
(3)第3の発明
第3の発明に係る波形処理装置は、入力手段、トリガ処理手段、記憶手段、第1の設定手段、レベル検出手段、第2の設定手段およびエッジ検出手段を備える。
【0021】
詳しくは、搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の所定の測定範囲または測定点を設定する第1の設定手段と、前記第1の設定手段により設定された前記所定の測定範囲または測定点における前記被検出体の高さに対応した前記波形データのレベルを検出するレベル検出手段と、前記レベル検出手段により検出されたレベルに基づいて検出レベルを設定する第2の設定手段と、前記第2の設定手段により設定された前記検出レベルに基づいて、前記被検出体の段差の位置に対応した前記波形データにおけるエッジの時間軸上の位置を検出するエッジ検出手段とを備えたことを特徴とする。
【0022】
第3の発明に係る波形処理装置においては、入力されたアナログ信号が波形データとして記憶され、その波形データにおける時間軸上の所定部分が設定され、その所定部分における波形データのレベルが検出される。そして、検出されたレベルを基準として検出レベルが設定され、その検出レベルに基づいて波形データにおけるエッジの時間軸上の位置が検出される。
【0023】
このように、波形データの所定部分のレベルを基準として検出レベルが設定されるので、波形データのレベルが上下方向にずれても、その波形データにおけるエッジの時間軸上の位置を正確に測定することができる。したがって、時系列で入力されるアナログ信号の波形におけるエッジの時間軸上の位置を容易にかつ高精度に検出することが可能となる。
【0024】
(4)第4の発明
第4の発明に係る波形処理装置は、入力手段、トリガ処理手段、記憶手段、設定手段、微分値算出手段および変曲点検出手段を備える。
【0025】
詳しくは、搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の所定測定範囲を設定する設定手段と、前記設定手段により設定された前記所定測定範囲内における前記波形データと所定の基準波形データとの差分を表わす差分波形データを算出する差分波形算出手段と、前記差分波形算出手段により算出された前記差分波形データにおける最大レベルとその時間軸上の位置を検出する最大部分検出手段とを備えたことを特徴とする。
【0026】
第4の発明に係る波形処理装置においては、入力されたアナログ信号が波形データとして記憶され、その波形データにおける時間軸上の所定範囲が設定される。そして、所定範囲内において波形データの微分値が算出され、その微分値に基づいて波形データにおける変曲点が検出される。
【0027】
このように、波形データの微分値に基づいて変曲点が検出されるので、波形データが時間軸方向にずれても、また波形データのレベルが上下方向にずれても、波形データにおける変曲点を正確に測定することができる。したがって、時系列で入力されるアナログ信号の波形における変曲点を容易にかつ高精度に検出することが可能となる。
【0028】
(5)第5の発明
第5の発明に係る波形処理装置は、入力手段、トリガ処理手段、記憶手段、設定手段、差分波形算出手段および最大部分検出手段を備える。
【0029】
詳しくは、搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の所定測定範囲を設定する設定手段と、前記設定手段により設定された前記所定測定範囲内における前記波形データと所定の基準波形データとの差分を表わす差分波形データを算出する差分波形算出手段と、前記差分波形算出手段により算出された前記差分波形データにおける最大レベルとその時間軸上の位置を検出する最大部分検出手段とを備えたことを特徴とする。
【0030】
第5の発明に係る波形処理装置においては、入力されたアナログ信号が波形データとして記憶され、その波形データにおける時間軸上の所定範囲が設定される。そして、その所定範囲内における波形データと所定の基準波形データとの差分を表わす差分波形データが算出され、その差分波形データにおける最大部分が検出される。
【0031】
このように、波形データと所定の基準波形データとの差分を表わす差分波形データにおける最大部分が算出されるので、波形データのレベルが上下方向にずれても、その波形データにおける最大部分を正確に測定することができる。したがって、時系列で入力されるアナログ信号の波形における最大部分を容易にかつ高精度に検出することが可能となる。
【0032】
(6)第6の発明
第6の発明に係る波形処理装置は、入力手段、トリガ処理手段、記憶手段、設定手段、差分波形算出手段および最小部分検出手段を備える。
【0033】
詳しくは、搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の所定測定範囲を設定する設定手段と、前記設定手段により設定された前記所定範囲内における前記波形データと所定の基準波形データとの差分を表わす差分波形データを算出する差分波形算出手段と、前記差分波形算出手段により算出された前記差分波形データにおける最小レベルとその時間軸上の位置を検出する最小部分検出手段とを備えたことを特徴とする。
【0034】
第6の発明に係る波形処理装置においては、入力されたアナログ信号が波形データとして記憶され、その波形データにおける時間軸上の所定範囲が設定される。そして、その所定範囲内における波形データと所定の基準波形データとの差分を表わす差分波形データが算出され、その差分波形データにおける最小部分が検出される。
【0035】
このように、波形データと所定の基準波形データとの差分を表わす差分波形データにおける最小部分が算出されるので、波形データのレベルが上下方向にずれても、その波形データにおける最小部分を正確に測定することができる。したがって、時系列で入力されるアナログ信号の波形における最小部分を容易にかつ高精度に検出することが可能となる。
【0036】
(7)第7の発明
第7の発明に係る波形処理装置は、入力手段、トリガ処理手段、記憶手段、設定手段、差分波形算出手段、最大部分検出手段、最小部分検出手段および差検出手段を備える。
【0037】
詳しくは、搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の第1の測定範囲を設定する第1の設定手段と、前記第1の設定手段により設定された前記第1の測定範囲内における前記被検出体の段差の位置に対応する前記波形データのエッジの時間軸上の位置を検出するエッジ検出手段と、前記エッジ検出手段により検出された前記エッジの時間軸上の位置を基準として前記波形データにおける時間軸上の第2の測定範囲を設定する第2の設定手段と、前記第2の設定手段により設定された前記第2の測定範囲内における前記被検出体の最大高さとその位置に対応する前記波形データの最大レベルおよびその時間軸上の位置を検出する最大部分検出手段とを備えたことを特徴とする
【0038】
第7の発明に係る波形処理装置においては、入力されたアナログ信号が波形データとして記憶され、その波形データにおける時間軸上の所定範囲が設定される。そして、その所定範囲内における波形データと所定の基準波形データとの差分を表わす差分波形データが算出され、その差分波形データにおける最大部分および最小部分が検出され、さらに最大部分と最小部分との差が検出される。
【0039】
このように、波形データと所定の基準波形データとの差分を表す差分波形データにおける最大部分および最小部分が算出されるので、波形データのレベルが上下方向にずれても、その波形データにおける最大部分および最小部分を正確に測定することができ、さらに最大部分と最小部分との差を正確に測定することができる。したがって、時系列で入力されるアナログ信号の波形における最大部分と最小部分との差を容易にかつ高精度に検出することが可能となる。
【0040】
(8)第8の発明
第8の発明に係る波形処理装置は、入力手段、トリガ処理手段、記憶手段、第1の設定手段、エッジ検出手段、第2の設定手段および最大部分検出手段を備える。
【0041】
詳しくは、搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の第1の測定範囲を設定する第1の設定手段と、前記第1の設定手段により設定された前記第1の測定範囲内における前記被検出体の段差の位置に対応する前記波形データのエッジの時間軸上の位置を検出するエッジ検出手段と、前記エッジ検出手段により検出された前記エッジの時間軸上の位置を基準として前記波形データにおける時間軸上の第2の測定範囲を設定する第2の設定手段と、前記第2の設定手段により設定された前記第2の測定範囲内における前記被検出体の最大高さとその位置に対応する前記波形データの最大レベルおよびその時間軸上の位置を検出する最大部分検出手段とを備えたことを特徴とする。
【0042】
第8の発明に係る波形処理装置においては、入力されたアナログ信号が波形データとして記憶され、その波形データにおける第1の範囲が設定され、その第1の範囲内におけるエッジの時間軸上の位置が検出される。そして、エッジの時間軸上の位置を基準として波形データにおける時間軸上の第2の範囲が設定され、第2の範囲内における波形データの最大部分が検出される。
【0043】
このように、エッジの時間軸上の位置を基準として第2の範囲が設定されるので、波形データが時間軸方向にずれても、波形データの最大部分を正確に測定することができる。したがって、時系列で入力されるアナログ信号の波形における最大部分を容易にかつ高精度に検出することが可能となる。
【0044】
(9)第9の発明
第9の発明に係る波形処理装置は、入力手段、トリガ処理手段、記憶手段、第1の設定手段、エッジ検出手段、第2の設定手段および最小部分検出手段を備える。
【0045】
詳しくは、搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の第1の測定範囲を設定する第1の設定手段と、前記第1の設定手段により設定された前記第1の測定範囲内における前記被検出体の段差の位置に対応する前記波形データのエッジの時間軸上の位置を検出するエッジ検出手段と、前記エッジ検出手段により検出された前記エッジの時間軸上の位置を基準として前記波形データにおける時間軸上の第2の測定範囲を設定する第2の設定手段と、前記第2の設定手段により設定された前記第2の測定範囲内における前記被検出体の最大高さとその位置に対応する前記波形データの最小レベルおよびその時間軸上の位置を検出する最小部分検出手段とを備えたことを特徴とする。
【0046】
第9の発明に係る波形処理装置においては、入力されたアナログ信号が波形データとして記憶され、その波形データにおける第1の範囲が設定され、その第1の範囲内におけるエッジの時間軸上の位置が検出される。そして、エッジの時間軸上の位置を基準として波形データにおける時間軸上の第2の範囲が設定され、第2の範囲内における波形データの最小部分が検出される。
【0047】
このように、エッジの時間軸上の位置を基準として第2の範囲が設定されるので、波形データが時間軸方向にずれても、波形データの最小部分を正確に測定することができる。したがって、時系列で入力されるアナログ信号の波形における最小部分を容易にかつ高精度に検出することが可能となる。
【0048】
(10)第10の発明
第10の発明に係る波形処理装置は、入力手段、トリガ処理手段、記憶手段、設定手段、レベル検出手段、傾き算出手段および傾き補正手段を備える。
【0049】
詳しくは、搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の第1および第2の測定範囲を設定する設定手段と、前記設定手段により設定された前記第1および第2の測定範囲における前記被検出体の高さに対応する前記波形データのレベルをそれぞれ第1および第2のレベルとして検出するレベル検出手段と、前記第1および第2の測定範囲の位置および前記レベル検出手段により検出された前記第1および第2のレベルに基づいて、前記被検出体の傾きに対応する前記波形データの傾きを算出する傾き算出手段と、前記傾き算出手段により算出された前記傾きに基づいて前記記憶手段に記憶される波形データの傾きを補正する傾き補正手段とを備えたことを特徴とする。
【0050】
第10の発明に係る波形処理装置においては、入力されたアナログ信号が波形データとして記憶され、その波形データにおける時間軸上の第1および第2の部分が設定され、それらの第1および第2の部分における波形データのレベルがそれぞれ第1および第2のレベルとして検出される。そして、第1および第2の部分ならびに第1および第2のレベルに基づいて波形データの傾きが算出され、算出された傾きに基づいて波形データの傾きが補正される。
【0051】
したがって、時系列で入力されるアナログ信号の波形が傾いている場合でも、記憶手段に記憶される波形データの傾きを容易に補正することができる。
【0052】
(11)第11の発明
第11の発明に係る波形処理装置は、入力手段、トリガ処理手段、記憶手段、データ演算手段および最大値検出手段を備える。
【0053】
詳しくは、搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、前記波形データにおける第1および第2のデータを設定する設定手段と、前記第1および第2のデータを通る線分データ含むデータを発生するデータ演算手段と、前記第1と第2のデータの間の各々の時間における前記波形データと前記線分データの差が最大となる時間軸上の位置を検出し前記波形データの変曲点とする変曲点検出手段とを備えたことを特徴とする。
【0054】
したがって、時系列で入力されるアナログ信号の波形データの特定の範囲内の変曲点を容易に算出することができる。
【0055】
(12)第12の発明
第12の発明に係る変位計は、被検出体の変位を検出してアナログ信号として出力する変位検出手段と、変位検出手段から出力されるアナログ信号を受ける第1〜第11のいずれかの発明に係る波形処理装置とを備えるものである。
【0056】
第12の発明に係る変位計においては、第1〜第11のいずれかの発明に係る波形処理装置が設けられているので、変位計から出力されるアナログ信号の波形の所定部分のレベルまたは時間軸上の位置を容易にかつ高精度で検出することができ、または変位計から出力されるアナログ信号の波形の傾きや変曲点を容易に補正することができる。したがって、被検出体の傾きやずれにかかわらず、被検出体の形状および寸法を正確に測定することができる。第13の発明に係る波形装置においては、請求項1〜11のいずれかに記載の波形処理装置において、前記設定手段により設定を行うための表示手段を備えたことを特徴とする。
【0057】
【発明の実施の形態】
図1は本発明の一実施例による波形処理装置の構成を示すブロック図である。図1の波形処理装置は、データ処理用CPU(中央演算処理装置)1、インタフェース用CPU2、アナログ入出力回路3、出力回路4、入力回路5、通信インタフェース6および表示器7を備える。データ処理用CPU1は、制御部11、トリガ処理部12、データ処理部13、データ用メモリ14、設定値用メモリ15および判定処理部16を含む。インタフェース用CPU2は、表示処理部21、表示用メモリ22、タッチスイッチ入力部23、入力処理部24および通信処理部25を含む。
【0058】
アナログ入出力回路3は、1または複数の変位計等のセンサから出力されるアナログ信号を時系列に入力し、デジタルデータに変換する。制御部11は、アナログ入出力回路3により得られるデジタルデータに関する演算処理を制御する。例えば、制御部11は、2つのセンサに対応するデジタルデータの加算処理または減算処理を制御する。
【0059】
入力回路5は、外部から与えられるトリガ信号および各種操作信号をそれぞれトリガ処理部12および入力処理部24に入力する。トリガ処理部12は、入力回路5により入力されたトリガ信号またはアナログ入出力回路3から出力されるデータのレベルに基づいてアナログ入出力回路3から出力されるデータを波形データとしてデータ用メモリ14に取り込む。
【0060】
データ処理部13は、データ用メモリ14に取り込まれた波形データに後述する各動作モードの処理を行う。判定処理部16は、後述する各動作モードで得られた測定値が所定範囲内にあるか否かを判定する。出力回路4は、判定処理部16による判定結果を出力する。
【0061】
表示器7は、タッチスイッチが装着された画面(タッチパネル)を有し、データ用メモリ14に取り込まれた波形データおよび測定値を表示する。表示処理部21は、データ処理用CPU1から与えられた波形データおよび制御信号に基づいて表示器7の表示処理を行うとともに、表示用メモリ22に表示用データを格納する。タッチスイッチ入力部23は、表示器7のタッチスイッチにより入力された各種操作信号および設定値をそれぞれデータ処理部13および設定値用メモリ15に与える。
【0062】
入力処理部24は、入力回路5により入力された各種操作信号をデータ処理用CPU1に与える。通信処理部25は、通信インタフェース6を介して通信処理を行う。
【0063】
本実施例では、アナログ入出力回路3が入力手段を構成し、データ用メモリ14が記憶手段を構成し、データ処理部13および設定値用メモリ15が、設定手段、第1の設定手段、第2の設定手段、エッジ検出手段、レベル検出手段、微分値算出手段、変曲点検出手段、差分波形算出手段、最大部分検出手段、最小部分検出手段、差算出手段、傾き算出手段、傾き補正手段、データ演算手段および最大値検出手段を構成する。
【0064】
次に、図2〜図9を参照しながら図1の波形処理装置における動作モードを説明する。図2〜図9はデータ用メモリ14に取り込まれた波形データを示し、横軸は時間を表わし、縦軸は信号レベルを表わす。以下の説明では、変位計等のセンサによる被検出体の測定時に、アナログ入出力回路3にそのセンサの出力信号が時系列に入力されるものとする。
【0065】
図2は高さ測定モードを示す図である。この高さ測定モードは、波形データのエッジの位置を基準として所定部分のレベルを測定するものである。
【0066】
作業者は、データ範囲の開始点X0を基準とした第1の計測期間T1(位置X1〜)、エッジ検出のための検出レベルV1、エッジ位置を基準とした第2の計測期間T2(位置X2〜X3)を予め表示器7のタッチスイッチにより設定する。これらの第1の計測期間T1、検出レベルV1および第2の計測期間T2は設定値として設定値用メモリ15に記憶される。
【0067】
被検出体の測定時には、トリガ処理部12がアナログ入出力回路3から出力されるデータを所定のタイミングで波形データとしてデータ用メモリ14に取り込む。データ処理部13は、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいてデータ用メモリ14におけるデータ範囲の開始点X0を基準とする第1の計測期間T1を設定し、その第1の計測期間T1において検出レベルV1に一致する波形データの位置をエッジE1として検出する。次に、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいてエッジE1の位置を基準とする第2の計測期間T2を設定し、第2の計測期間T2における波形データのレベルの平均値AV0を測定する。
【0068】
この高さ測定モードによれば、波形データのエッジE1の位置を基準として所定部分(第2の計測期間T2)が設定されるので、図2に一点鎖線で示すように、波形データが時間軸方向にずれても、ずれが第1の測定期間T1の範囲内であれば、波形データの所定部分のレベルを正確に測定することができる。
【0069】
なお、第2の計測期間T2を設定する代わりにエッジE1の位置を基準とする計測点を設定し、その計測点における波形データのレベルを測定してもよい。
【0070】
図3は第1のエッジ位置測定モードを示す図である。この第1のエッジ位置測定モードは、波形データの2つの測定レベルに基づく検出レベルを用いてエッジの位置を測定するものである。
【0071】
作業者は、データ範囲の開始点X0を基準とした第1の計測期間T1(位置X1〜X2)、データ範囲の開始点X0を基準とした第2の計測期間T2(位置X3〜X4)、およびデータ範囲の開始点X0を基準とした第3の計測期間T3(位置X5〜)を予め表示器7のタッチスイッチにより設定する。これらの第1の計測期間T1、第2の計測期間T2および第3の計測期間T3は設定値として設定値用メモリ15に記憶される。
【0072】
被検出体の測定時には、トリガ処理部12がアナログ入出力回路3から出力されるデータを所定のタイミングで波形データとしてデータ用メモリ14に取り込む。データ処理部13は、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいてデータ用メモリ14におけるデータ範囲の開始点X0を基準とする第1の計測期間T1を設定し、その第1の計測期間T1における波形データのレベルの平均値AV1を測定する。次に、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいてデータ範囲の開始点X0を基準とする第2の計測期間T2を設定し、その第2の計測期間T2における波形データのレベルの平均値AV2を測定する。そして、2つの平均値AV1,AV2の中点を検出レベルV2とする。次いで、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいてデータ範囲の開始点X0を基準とする第3の計測期間T3を設定し、その第3の計測期間T3において検出レベルV2に一致する波形データの位置をエッジE2の位置として検出する。
【0073】
この第1のエッジ位置測定モードによれば、第1および第2の計測期間T1,T2における波形データのレベルの平均値AV1,AV2に基づいて検出レベルV2が設定されるので、図3に一点鎖線で示すように、波形データのレベルが上下方向にずれても、波形データのエッジE2の位置を正確に測定することができる。
【0074】
なお、第1の計測期間T1および第2の計測期間T2を設定する代わりにデータ範囲の開始点X0を基準とする第1の計測点および第2の計測点を設定し、それらの計測点における波形データのレベルを測定してもよい。
【0075】
図4は第2のエッジ位置測定モードを示す図である。この第2のエッジ位置測定モードは、波形データの1つの測定レベルを基準とする検出レベルを用いてエッジの位置を測定するものである。
【0076】
作業者は、データ範囲の開始点X0を基準とした第1の計測期間T1(位置X1〜X2)、測定レベルを基準としたレベル差ΔV、およびデータ範囲の開始点X0を基準とした第2の計測期間T2(位置X3〜)を予め表示器7のタッチスイッチにより設定する。これらの第1の計測期間T1、レベル差ΔVおよび第2の計測期間T2は設定値として設定値用メモリ15に記憶される。
【0077】
被検出体の測定時には、トリガ処理部12がアナログ入出力回路3から出力されるデータを所定のタイミングで波形データとしてデータ用メモリ14に取り込む。データ処理部13は、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいてデータ用メモリ14におけるデータ範囲の開始点X0を基準とする第1の計測期間T1を設定し、その第1の計測期間T1における波形データのレベルの平均値AV3を測定する。そして、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいて平均値AV3を基準とする検出レベルV1(平均値からレベル差ΔVだけ低下したレベル)を設定する。次に、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいてデータ範囲の開始点X0を基準とする第2の計測期間T2を設定し、その第2の計測期間T2において検出レベルV3に一致する波形データの位置をエッジE3の位置として検出する。
【0078】
この第2のエッジ位置測定モードによれば、波形データの1つの測定レベルを基準として検出レベルが設定されるので、図4に一点鎖線で示すように、波形データのレベルが上下方向にずれても、波形データのエッジE3の位置を正確に測定することができる。
【0079】
なお、計測期間T1を設定する代わりにデータ範囲の開始点X0を基準とする計測点を設定し、その計測点における波形データのレベルを測定してもよい。
【0080】
図5は微分測定モードを示す図である。この微分測定モードは、波形データの微分値に基づいて変曲点のレベルおよび位置を測定するものである。
【0081】
作業者は、データ範囲の開始点X0を基準とした計測期間T1(位置X1〜)、および微分設定値D1を予め表示器7のタッチスイッチにより設定する。これらの計測期間T1および微分設定値D1は設定値として設定値用メモリ15に記憶される。
【0082】
被検出体の測定時には、トリガ処理部12がアナログ入出力回路3から出力されるデータを所定のタイミングで波形データとしてデータ用メモリ14に取り込む。データ処理部13は、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいてデータ用メモリ14におけるデータ範囲の開始点X0を基準とする計測期間T1を設定し、その計測期間T1における波形データの微分値を算出し、微分波形データを求める。そして、微分波形データにおいて微分設定値D1に一致する位置を変曲点L1の位置として検出し、変曲点L1のレベルを測定する。
【0083】
この微分測定モードによれば、波形データの微分値に基づいて変曲点が検出されるので、図5に一点鎖線で示すように、波形データが時間軸方向にずれても、また波形データのレベルが上下方向にずれても、波形データの変曲点のレベルおよび位置を正確に測定することができる。
【0084】
この微分測定モードは、例えば、物の圧入を検出する圧力センサの出力信号において変化点を測定する際に用いることができる。
【0085】
図6は第1のピーク測定モードおよび第1のボトム測定モードを示す図である。第1のピーク測定モードは、波形比較により波形データのピーク(最大部分)のレベルおよび位置を測定するものである。第1のボトム測定モードは、波形比較により波形データのボトム(最小部分)のレベルおよび位置を測定するものである。
【0086】
作業者は、データ範囲の開始点X0を基準とした計測期間T1(位置X1〜X2)を予め表示器7のタッチスイッチにより設定する。この計測期間T1は設定値として設定値用メモリ15に記憶される。
【0087】
第1のピーク測定モードでは、被検出体の測定時に、トリガ処理部12がアナログ入出力回路3から出力されるデータを所定のタイミングで波形データとしてデータ用メモリ14に取り込む。データ処理部13は、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいてデータ用メモリ14におけるデータ範囲の開始点X0を基準とする計測期間T1を設定し、その第1の計測期間T1において、データ用メモリ14に記憶された波形データ(以下、入力波形データと呼ぶ。)WIと所定のマスタ波形データ(基準波形データ)WMとの差分を算出し、差分波形データを求める。そして、その差分波形データにおけるピークP1を検出し、そのピークP1のレベルおよび位置を測定する。
【0088】
第1のボトム測定モードでは、被検出体の測定時に、トリガ処理部12がアナログ入出力回路3から出力されるデータを所定のタイミングで波形データとしてデータ用メモリ14に取り込む。データ処理部13は、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいてデータ用メモリ14におけるデータ範囲の開始点X0を基準とする計測期間T1を設定し、その第1の計測期間T1において、入力波形データWIと所定のマスタ波形データ(基準波形データ)WMとの差分を算出し、差分波形データを求める。そして、その差分波形データにおけるボトムB1を検出し、そのボトムB1のレベルおよび位置を測定する。
【0089】
第1のピーク測定モードおよび第1のボトム測定モードによれば、入力波形データWIとマスタ波形データWMとの差分波形データに基づいてピークまたはボトムが検出されるので、入力波形データWIのレベルが上下方向にずれても、入力波形データWIにおけるピークまたはボトムのレベルおよび位置を正確に測定することができる。
【0090】
さらに、第1のピーク測定モードにより測定されたピークP1のレベルと第1のボトム測定モードにより測定されたボトムB1のレベルとの差を算出することにより、被検出体のピーク位置とボトム位置との間の寸法を測定することができる。
【0091】
図7は第2のピーク測定モードおよび第2のボトム測定モードを示す図である。第2のピーク測定モードは、波形データのエッジの位置を基準としてピークのレベルおよび位置を測定するものである。第2のボトム測定モードは、波形データのエッジの位置を基準としてボトムのレベルおよび位置を測定するものである。
【0092】
作業者は、データ範囲の開始点X0を基準とした第1の計測期間T1(位置X1〜)、エッジ検出のための検出レベルV4、およびデータ範囲の開始点X0を基準とした第2の計測期間T2(位置X2〜X3)を予め表示器7のタッチスイッチにより設定する。これらの第1の計測期間T1、検出レベルV1および第2の計測期間T2は設定値として設定値用メモリ15に記憶される。
【0093】
第2のピーク測定モードでは、被検出体の測定時に、トリガ処理部12がアナログ入出力回路3から出力されるデータを所定のタイミングで波形データとしてデータ用メモリ14に取り込む。データ処理部13は、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいてデータ用メモリ14におけるデータ範囲の開始点X0を基準とする第1の計測期間T1を設定し、その第1の計測期間T1において検出レベルV4に一致する波形データの位置をエッジE4の位置として検出する。次に、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいてエッジE4の位置を基準とする第2の計測期間T2を設定する。そして、第2の計測期間T2におけるピークP2を検出し、ピークP2のレベルおよび位置を測定する。
【0094】
第2のボトム測定モードでは、被検出体の測定時に、トリガ処理部12がアナログ入出力回路3から出力されるデータを所定のタイミングで波形データとしてデータ用メモリ14に取り込む。データ処理部13は、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいてデータ用メモリ14におけるデータ範囲の開始点X0を基準とする第1の計測期間T1を設定し、その第1の計測期間T1において検出レベルV4に一致する波形データの位置をエッジE4の位置として検出する。次に、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいてエッジE4の位置を基準とする第2の計測期間T2を設定する。そして、第2の計測期間T2におけるボトムB2を検出し、ボトムB2のレベルおよび位置を測定する。
【0095】
第2のピーク測定モードおよび第2のボトム測定モードによれば、波形データのエッジE4の位置を基準として第2の計測期間T2が設定されるので、波形データが時間軸方向にずれても、ピークP2またはボトムB2のレベルおよび位置を正確に測定することができる。
【0096】
図8は第1の傾き補正モードを示す図である。この第1の傾き補正モードは、波形データの傾きが一定である場合に波形データの2つの位置およびそのレベルに基づいて波形データの傾きを補正するものである。
【0097】
作業者は、データ範囲の開始点X0を基準とした第1の計測期間T1(位置X1〜X2)、およびデータ範囲の開始点X0を基準とした第2の計測期間T2(位置X3〜X4)を予め表示器7のタッチスイッチにより設定する。これらの第1の計測期間T1および第2の計測期間T2は設定値として設定値用メモリ15に記憶される。
【0098】
トリガ処理部12は、被検出体の測定ごとに、アナログ入出力回路3から出力されるデータを所定のタイミングで波形データとしてデータ用メモリ14に取り込む。
【0099】
最初の被検出体の測定時に、データ処理部13は、設定値用メモリ15に記憶され設定値に基づいてデータ用メモリ14におけるデータ範囲の開始点X0を基準とする第1の計測期間T1を設定し、その第1の計測期間における波形データのレベルの平均値AV4を測定するとともに、第1の計測期間T1の中点M1の位置を算出する。また、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいてデータ範囲の開始点X0を基準とする第2の計測期間T2を設定し、その第2の計測期間T2における波形データのレベルの平均値AV5を測定するとともに、第2の計測期間T2の中点M2の位置を算出する。そして、中点M1,M2の位置および平均値AV4,AV5に基づいて波形データの傾きを算出し、算出された傾きに基づいてデータ用メモリ14に取り込まれた波形データの傾きを補正する。
【0100】
以後の被検出体の測定時には、最初の測定時に算出された波形データの傾きに基づいてデータ用メモリ14に取り込まれた波形データの傾きを補正する。
【0101】
この第1の傾き補正モードによれば、データ用メモリ14に取り込まれる波形データの傾きが常に一定の場合に、図8に一点鎖線で示すように波形データの傾きを正確に補正することができる。
【0102】
なお、第1の計測期間T1および第2の計測期間T2を設定する代わりにデータ範囲の開始点X0を基準とする第1の計測点および第2の計測点を設定し、それらの計測点における波形データのレベルに基づいて傾きを算出してもよい。
【0103】
図9は第2の傾き補正モードを示す図である。この第2の傾き補正モードは、測定ごとに波形データの傾きが変化する場合に波形データの2つの位置およびそのレベルに基づいて波形データの傾きを補正するものである。
【0104】
作業者は、データ範囲の開始点X0を基準とした第1の計測期間T1(位置X1〜X2)、およびデータ範囲の開始点X0を基準とした第2の計測期間T2(位置X3〜X4)を予め表示器7のタッチスイッチにより設定する。これらの第1の計測期間T1および第2の計測期間T2は設定値として設定値用メモリ15に記憶される。
【0105】
トリガ処理部12は、被検出体の測定ごとに、アナログ入出力回路3から出力されるデータを所定のタイミングで波形データとしてデータ用メモリ14に取り込む。
【0106】
被検出体の測定ごとに、データ処理部13は、設定値用メモリ15に記憶され設定値に基づいてデータ用メモリ14におけるデータ範囲の開始点X0を基準とする第1の計測期間T1を設定し、その第1の計測期間における波形データのレベルの平均値AV4を測定するとともに、第1の計測期間T1の中点M1の位置を算出する。また、設定値用メモリ15に記憶された設定値に基づいてデータ範囲の開始点X0を基準とする第2の計測期間T2を設定し、その第2の計測期間T2における波形データのレベルの平均値AV5を測定するとともに、第2の計測期間T2の中点M2の位置を算出する。そして、中点M1,M2の位置および平均値AV4,AV5に基づいて波形データの傾きを算出し、算出された傾きに基づいて波形データの傾きを補正する。
【0107】
この第2の傾き補正モードによれば、図9に実線および点線で示すように、データ用メモリ14に取り込まれる波形データの傾きが測定ごとに異なる場合に、図9に一点鎖線で示すように波形データの傾きを正確に補正することができる。
【0108】
なお、第1の計測期間T1および第2の計測期間T2を設定する代わりにデータ範囲の開始点X0を基準とする第1の計測点および第2の計測点を設定し、それらの計測点における波形データのレベルに基づいて傾きを検出してもよい。
【0109】
図17は、変曲点を演算するモードを説明するための波形である。記憶された波形データにおける線分C1およびC2の変曲点を演算する場合、線分C1、C2上に点Aおよび点Bを設定する。続いてこれらの点A、Bを通る直線をデータ演算手段より算出する。更に点A、Bの間の各時間の波形データにおいて、同じ時間に対応する直線上のデータとの差を算出し、その中の最大値を求める。即ち点Aと点Bの間における直線から線分C1およびC2上のデータの差は図17(b)のようになり、変曲点Pはその最大値として算出される。
【0110】
この演算において変曲点は、直線を設定して波形データとの差を演算するだけで求めることができるので、演算量が少なくて済む。ノイズによる影響も受けにくいので安定した演算結果を得ることができる。
【0111】
また、この変曲点の演算は、直線データと波形データの大小関係を識別し、又は予め設定することにより常に大きい値から小さい値のデータを減ずる用にしてもよいし、大小関係にかかわらず減算を行いその結果の絶対値を求めるようにしてもよい。
【0112】
また、この変曲点を演算する際に設定する2点は、演算しようとする変曲点の位置に応じて任意の位置に設定することができるが、被検出体が上下左右にずれることを考慮して、図3又は図4に示されるエッジの位置を基準にして上記2点を設定することができるようにしてもよい。この設定によれば被検出体が上下左右にずれても、変曲点を安定して演算することができる。
【0113】
図10および図11は本実施例の波形処理装置における表示器7の画面を示す図である。
【0114】
図10および図11に示すように、画面上にXカーソルCXおよびYカーソルCYが表示されている。また、画面の上部には、XカーソルCXの座標値PXおよびYカーソルCYの座標値PYが表示されている。
【0115】
図10に示すように、画面上の任意の位置を指30で触れると、図11に示すように、その位置にXカーソルCXおよびYカーソルCYが移動する。この動作を図12のフローチャートを参照しながら説明する。
【0116】
まず、図1の表示処理部21は、タッチスイッチが押されたか否かを判別する(ステップS1)。タッチスイッチが押された場合には、タッチスイッチの押下位置をタッチスイッチ入力部23からの信号に基づいて読み取り、XカーソルCXおよびYカーソルCYの位置に換算する(ステップS2)。
【0117】
そして、表示処理部21はXカーソルCXおよびYカーソルCYを画面上で換算位置に移動させる(ステップS3)。そして、XカーソルCXおよびYカーソルCYの移動に連動してXカーソルCXの座標値PX、YカーソルCYの座標値PY等の変数値を変化させる(ステップS4)。
【0118】
従来の表示器では、画面上でカーソルを移動させるためには、カーソルキー、マウス、ジョグダイヤル等のポインティングデバイスを操作する必要がある。この場合、画面上でカーソルが所望の位置まで移動するまでに時間がかかるという問題がある。また、表示器を制御盤等の盤に垂直に取り付けると、カーソルキーやマウスを操作しづらいという問題がある。
【0119】
これに対して、本実施例の波形処理装置における表示器7では、画面の所望の位置を指で触れるだけでその位置にカーソルを瞬時に移動させることができる。したがって、画面上でのカーソルの移動を簡単にかつ迅速に行うことができる。
【0120】
このような表示器7は、画面に装着されたタッチスイッチと、画面に所定のパターンを表示させるパターン表示手段と、タッチスイッチの押下位置を検出する押下位置検出手段と、パターン表示手段により表示されるパターンを画面上で押下位置検出手段により検出された位置に移動させるパターン移動手段とを備える。
【0121】
なお、パターンはカーソルであってもよく、波形やその他の図形、文字等であってもよい。パターンが波形である場合、まず、画面に表示される波形を指で触れ、次に画面の任意の位置を指で触れることにより、画面上で波形を任意の位置に瞬時に移動させるように構成してもよい。
【0122】
本実施例の波形処理装置のアナログ入出力回路3に変位センサを接続した場合には、変位センサおよび波形処理装置が全体として変位計を構成する。変位センサとしては、磁気を用いて被検出体の変位を検出する磁気式変位センサ、超音波を用いて被検出体の変位を検出する超音波式変位センサ、光を用いて被検出体の変位を検出する光学式変位センサ等を用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例における波形処理装置の構成を示すブロック図である。
【図2】図1の波形処理装置における高さ測定モードを示す図である。
【図3】図1の波形処理装置における第1のエッジ位置測定モードを示す図である。
【図4】図1の波形処理装置における第2のエッジ位置測定モードを示す図である。
【図5】図1の波形処理装置における変曲点測定モードを示す図である。
【図6】図1の波形処理装置における第1のピーク測定モードおよび第1のボトム測定モードを示す図である。
【図7】図1の波形処理装置における第2のピーク測定モードおよび第2のボトム測定モードを示す図である。
【図8】図1の波形処理装置における第1の傾き補正モードを示す図である。
【図9】図1の波形処理装置における第2の傾き補正モードを示す図である。
【図10】図1の波形処理装置における表示器の画面を示す図である。
【図11】図1の波形処理装置における表示器の画面を示す図である。
【図12】図1の波形処理装置におけるXカーソルおよびYカーソルの移動処理を示すフローチャートである。
【図13】変位計による被検出体の測定を示す図である。
【図14】図13の変位計の出力信号の波形図である。
【図15】従来の変曲点の演算方法を説明する波形である。
【図16】従来の他の変曲点の演算方法を説明する波形である。
【図17】本発明の変曲点の演算方法を説明する波形である。
【符号の説明】
1 データ処理用CPU
2 インタフェース用CPU
3 アナログ入出力回路
4 出力回路
5 入力回路
7 表示器
12 トリガ処理部
13 データ処理部
14 データ用メモリ
15 設定値用メモリ
16 判定処理部
21 表示処理部
22 表示用メモリ
23 タッチスイッチ入力部
24 入力処理部
Claims (13)
- 搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、
外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、
前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、
前記波形データにおける時間軸上の所定測定範囲を設定する第1の設定手段と、
前記第1の設定手段により設定された前記所定測定範囲内において、前記被検出体の段差の位置に対応する前記波形データのエッジの時間軸上の位置を検出するエッジ検出手段と、
前記エッジ検出手段により検出された前記エッジの時間軸上の位置を基準として前記波形データにおける所定の測定範囲または測定点を設定する第2の設定手段と、
前記第2の設定手段により設定された前記所定の測定範囲または測定点における前記被検出体の高さに対応した前記波形データのレベルを検出するレベル検出手段とを備えたことを特徴とする波形処理装置。 - 搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、
外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、
前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の第1および第2の測定範囲または測定点を設定する第1の設定手段と、
前記第1の設定手段により設定された前記第1および第2の測定範囲または測定点における前記被検出体の高さに対応した前記波形データのレベルをそれぞれ第1および第2のレベルとして検出するレベル検出手段と、
前記レベル検出手段により検出された前記第1および第2のレベルに基づいて検出レベルを設定する第2の設定手段と、
前記第2の設定手段により設定された前記検出レベルに基づいて、前記波形データにおける前記被検出体の段差の位置に対応したエッジの時間軸上の位置を検出するエッジ検出手段とを備えたことを特徴とする波形処理装置。 - 搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、
外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、
前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の所定の測定範囲または測定点を設定する第1の設定手段と、
前記第1の設定手段により設定された前記所定の測定範囲または測定点における前記被検出体の高さに対応した前記波形データのレベルを検出するレベル検出手段と、
前記レベル検出手段により検出されたレベルに基づいて検出レベルを設定する第2の設定手段と、
前記第2の設定手段により設定された前記検出レベルに基づいて、前記被検出体の段差の位置に対応した前記波形データにおけるエッジの時間軸上の位置を検出するエッジ検出手段とを備えたことを特徴とする波形処理装置。 - 搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、
外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、
前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の所定測定範囲を設定する設定手段と、
前記設定手段により設定された前記所定測定範囲内における前記波形データの微分値を算出する微分値算出手段と、
前記微分値算出手段により算出された前記微分値に基づいて、前記被検出体の段差の位置に対応する前記波形データにおける変曲点を検出する変曲点検出手段とを備えたことを特徴とする波形処理装置。 - 搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、
外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、
前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の所定測定範囲を設定する設定手段と、
前記設定手段により設定された前記所定測定範囲内における前記波形データと所定の基準波形データとの差分を表わす差分波形データを算出する差分波形算出手段と、
前記差分波形算出手段により算出された前記差分波形データにおける最大レベルとその時間軸上の位置を検出する最大部分検出手段とを備えたことを特徴とする波形処理装置。 - 搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、
外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、
前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の所定測定範囲を設定する設定手段と、
前記設定手段により設定された前記所定範囲内における前記波形データと所定の基準波形データとの差分を表わす差分波形データを算出する差分波形算出手段と、
前記差分波形算出手段により算出された前記差分波形データにおける最小レベルとその時間軸上の位置を検出する最小部分検出手段とを備えたことを特徴とする波形処理装置。 - 搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、
外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、
前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の所定測定範囲を設定する設定手段と、
前記設定手段により設定された前記所定測定範囲内における前記波形データと所定の基準波形データとの差分を表わす差分波形データを算出する差分波形算出手段と、
前記差分波形算出手段により算出された前記差分波形データにおける最大レベルを検出する最大部分検出手段と、
前記差分波形算出手段により算出された前記差分波形データにおける最小レベルを検出する最小部分検出手段と、
前記所定測定範囲での前記被検出体の最大高さと最小高さとの間の寸法を算出するために前記最大部分検出手段により算出された前記最大レベルと前記最小部分検出手段により算出された前記最小レベルとの差を算出する差算出手段とを備えたことを特徴とする波形処理装置。 - 搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、
外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、
前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の第1の測定範囲を設定する第1の設定手段と、
前記第1の設定手段により設定された前記第1の測定範囲内における前記被検出体の段差の位置に対応する前記波形データのエッジの時間軸上の位置を検出するエッジ検出手段と、
前記エッジ検出手段により検出された前記エッジの時間軸上の位置を基準として前記波形データにおける時間軸上の第2の測定範囲を設定する第2の設定手段と、
前記第2の設定手段により設定された前記第2の測定範囲内における前記被検出体の最大高さとその位置に対応する前記波形データの最大レベルおよびその時間軸上の位置を検出する最大部分検出手段とを備えたことを特徴とする波形処理装置。 - 搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、
外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、
前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の第1の測定範囲を設定する第1の設定手段と、
前記第1の設定手段により設定された前記第1の測定範囲内における前記被検出体の段差の位置に対応する前記波形データのエッジの時間軸上の位置を検出するエッジ検出手段と、
前記エッジ検出手段により検出された前記エッジの時間軸上の位置を基準として前記波形データにおける時間軸上の第2の測定範囲を設定する第2の設定手段と、
前記第2の設定手段により設定された前記第2の測定範囲内における前記被検出体の最大高さとその位置に対応する前記波形データの最小レベルおよびその時間軸上の位置を検出する最小部分検出手段とを備えたことを特徴とする波形処理装置。 - 搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、
外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、
前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された波形データにおける時間軸上の第1および第2の測定範囲を設定する設定手段と、
前記設定手段により設定された前記第1および第2の測定範囲における前記被検出体の高さに対応する前記波形データのレベルをそれぞれ第1および第2のレベルとして検出するレベル検出手段と、
前記第1および第2の測定範囲の位置および前記レベル検出手段により検出された前記第1および第2のレベルに基づいて、前記被検出体の傾きに対応する前記波形データの傾きを算出する傾き算出手段と、
前記傾き算出手段により算出された前記傾きに基づいて前記記憶手段に記憶される波形データの傾きを補正する傾き補正手段とを備えたことを特徴とする波形処理装置。 - 搬送ライン上を移動する被検出体の高さの変位を検出し前記変位に対応したアナログ信号を出力する変位計から、前記アナログ信号を時系列に入力する入力手段と、
外部から与えられるトリガ信号または前記入力手段から入力される前記アナログ信号のレベルに基づいて、前記入力手段からのアナログ信号を前記被検出体の外形に対応した波形データとして取込むトリガ処理手段と、
前記トリガ手段により取込まれた波形データを記憶する記憶手段と、
前記波形データにおける第1および第2のデータを設定する設定手段と、
前記第1および第2のデータを通る線分データ含むデータを発生するデータ演算手段と、
前記第1と第2のデータの間の各々の時間における前記波形データと前記線分データの差が最大となる時間軸上の位置を検出し前記波形データの変曲点とする変曲点検出手段とを備えたことを特徴とする波形処理装置。 - 前記被検出体の変位を検出してアナログ信号として出力する変位検出手段と、請求項1〜11のいずれかに記載の波形処理装置とを備えたことを特徴とする変位計。
- 請求項1〜11のいずれかに記載の波形処理装置において、前記設定手段により設定を行うための表示手段を備えたことを特徴とする波形処理装置。
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