JP3784330B2 - 数値制御研削盤を制御する創成研削用ｎｃデータの補正方法及びその方法を実施する数値制御研削盤 - Google Patents

Description

本発明は、数値制御研削盤を制御する創成研削用ＮＣデータの補正方法及びその方法を実施する数値制御研削盤に関する。
【０００１】
【従来の技術】
ベッド上に、クランクシャフト、カムシャフト等の工作物を回転可能に支持する工作物支持装置と、砥石を回転駆動可能に支承する砥石台を備え、この砥石台を工作物の回転に関連して進退移動し工作物を創成研削するＮＣ制御研削盤はよく知られている。クランクシャフトのピン部などの研削箇所を創成研削する場合、研削箇所の寸法精度の要求は厳しく、通常のフィードバック制御系だけでは、工作物の剛性や研削抵抗の変化等により要求精度を満足することができず、従来は、試研削を行って得られた研削箇所の測定データに基づいてNCデータを補正することが行われていた。
【０００２】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来方法では、研削箇所の仕上寸法と試研削された研削箇所の測定寸法との比を仕上寸法に乗じて補正仕上寸法を求め、この補正仕上寸法に基づいてNCデータを補正していただけであるので、動特性上満足できるNCデータの補正を行なうことができなかった。
【０００３】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するため、請求項１に係る発明は、工作物の回転中心と研削箇所の形状中心とを含む基準線からの各位相角度における研削箇所の形状中心から放射方向の各仕上寸法が定義された工作物を、工作物支持装置の主軸に前記基準線を位相決めして支持し、砥石が回転駆動可能に支承された砥石台を数値制御装置からの指令に基づいて前記工作物の回転と関連して工作物に向かって進退移動させて前記研削箇所を前記砥石により創成研削する数値制御研削盤を制御する創成研削用NCデータの補正方法において、前記研削箇所を仕上寸法に創成するために前記工作物の回転と前記砥石台との進退移動を関連付けて指令する仕上NCデータにより前記数値制御研削盤を制御して前記工作物を創成研削し、該創成研削された研削箇所の前記基準線からの各位相角度における形状中心から放射方向の各測定寸法を計測し、前記各位相角度における仕上寸法及び測定寸法を夫々フーリェ変換して仕上寸法フーリェ級数及び測定寸法フーリェ級数を求め、前記仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅と前記測定寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅との各比を前記仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅に夫々乗じるとともに、前記測定寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相と前記仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相との各差を前記仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相から減算して補正寸法フーリェ級数を求め、該補正寸法フーリェ級数を逆フーリェ変換して前記各位相角度における補正寸法を求め、該各位相角度における補正寸法に基づいて補正NCデータを作成することである。
【０００４】
請求項２に係る発明は、請求項１に記載の数値制御研削盤を制御する創成研削用NCデータの補正方法において、前記数値制御研削盤を前記補正NCデータにより制御して工作物を創成研削し、該補正NCデータにより創成研削された研削箇所の前記基準線からの各位相角度における形状中心から放射方向の各再測定寸法を計測し、前記各位相角度における再測定寸法をフーリェ変換して再測定寸法フーリェ級数を求め、前記仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅と前記再測定寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅との各比を前記補正寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅に夫々乗じるとともに、前記再測定寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相と前記仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相との各差を前記補正寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相から減算して再補正寸法フーリェ級数を求め、該再補正寸法フーリェ級数を逆フーリェ変換して各位相角度における各再補正寸法を求め、該各位相角度における各再補正寸法に基づいて再補正NCデータを作成することである。
【０００５】
請求項３の発明は、請求項１に記載の数値制御研削盤を制御する創成研削用NCデータの補正方法において、前記仕上 NC データにより研削した研削箇所の測定寸法フーリェ級数の振幅をみて前記補正寸法フーリェ級数の次数を設定することである。
【０００６】
請求項４の発明は、請求項１乃至３のいずれかに記載の数値制御研削盤を制御する創成研削用NCデータの補正方法を実施する数値制御研削盤において、前記各フーリエ級数の各周波数成分の振幅及び位相を前記数値制御装置にパラメータ設定可能としたことである。
【０００７】
請求項５の発明は、請求項４に記載の数値制御研削盤において、フーリェ級数の取り扱い次数を前記数値制御装置にパラメータ設定可能としたことである。
【０００８】
【発明の作用・効果】
上記のように構成した請求項１に係る発明においては、工作物の研削箇所の基準線からの各位相角度における仕上寸法に基づいて作成されたＮＣデータにより創成研削し、創成研削された研削箇所の各位相角度における各測定寸法を計測し、これら各位相角度における仕上寸法及び測定寸法を夫々フーリェ変換して仕上寸法フーリェ級数及び測定寸法フーリェ級数を求め、仕上寸法フーリェ級数の測定寸法フーリェ級数に対する振幅比を周波数成分毎に求め、これを仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅に夫々乗じ、さらに測定寸法フーリェ級数の位相と仕上寸法フーリェ級数の位相との差を周波数成分毎にとり、各差を仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相から減算して補正寸法フーリェ級数を得、これを逆フーリェ変換して各位相角度における補正寸法を求め、この補正寸法に基づいて補正NCデータを作成するもので、NCデータを補正するための各位相角度における仕上寸法の補正をフーリェ級数に展開して各周波数成分にまで掘り下げて行なうことができ、動特性上高精度な補正が可能となり、工作物の研削箇所を高精度に研削することができる。
【０００９】
上記のように構成した請求項２に係る発明においては、請求項１で得られた補正NCデータにより研削した研削箇所の各位相角度における寸法を再測定し、この再測定寸法をフーリェ級数に展開し、当該再測定寸法フーリェ級数に対する仕上寸法フーリェ級数の振幅比を周波数成分毎に求め、この振幅比を前記補正寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅に乗じ、再測定寸法フーリェ級数と仕上寸法フーリェ級数との位相差を各周波数成分毎に求め、この位相差を補正寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相より減算して、再補正寸法フーリェ級数を得、これを逆フーリェ変換して各位相角度における再補正寸法を求め、この再補正寸法に基づいて補正ＮＣデータを再補正するもので、請求項１で求めた補正ＮＣデータにより研削した研削箇所の測定結果に基づき補正ＮＣデータを再補正して研削箇所を系の動特性に応じて二次補正し研削箇所をより高精度の創成研削することができる。
【００１０】
上記のように構成した請求項３に係る発明においては、仕上 NC データにより研削した研削箇所の測定寸法フーリエ級数の振幅をみて補正寸法フーリェ級数の次数を設定することができるので、フーリェ級数の次数を必要最小限にして補正時間を短縮し、研削箇所の所望寸法精度を得るためのNCデータの補正を効率的に行なうことができる。
【００１１】
上記のように構成した請求項４に係る発明においては、各フーリエ級数の各周波数成分の振幅及び位相を数値制御装置にパラメータとして設定できるので、NCデータの補正作業を容易に行なうことができる。
【００１２】
上記のように構成した請求項５に係る発明においては、フーリェ級数の取り扱い次数をパラメータとして設定できるので、NCデータの補正作業を迅速かつ容易に行なうことができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る数値制御研削盤を制御する創成研削用ＮＣデータの補正方法及びその方法を実施する数値制御研削盤の実施形態を図面に基づいて説明する。図１において、ベッド１０上にはテーブル１１が摺動可能に載置され、サーボモータにより回転駆動される送りねじ機構によりＹ軸方向に移動されるようになっている。テーブル１１上には、工作物支持装置である一対の主軸台１２が対向して載置され、各主軸台１２には主軸１３がＹ軸方向に回転可能に軸承され、各主軸１３はサーボモータによりＣ軸回りに同期して回転駆動される。各主軸１３の先端にはセンタが対向して突設され、この両センタ間に工作物であるクランクシャフトＷの両端ジャーナル部Ｊが挟持され、工作物ＷはＣ軸回りの回転方向に位相決めされて主軸１３に回転連結されている。クランクシャフトＷには、研削箇所であるピン部Pがジャーナル部Ｊから偏心量Aだけ偏心して形成され、クランクシャフトWの回転中心であるジャーナル部Jの中心Woと研削箇所の形状中心Poであるピン部Ｐの中心とを含む線分が基準線Ｓであり、クランクピンＷは基準線Ｓを位相合わせして主軸１３に回転連結されている。NCデータの作成において、クランクシャフトＷのピン部Ｐの仕上形状は、基準線Ｓからの反時計方向の各位相角度における形状中心Poから放射方向の各仕上寸法ｒにより定義される。ピン部Ｐでは、各位相角度θにおける形状中心Poから放射方向の各仕上寸法ｒはピン部Ｐの半径である。
【００１４】
ベッド１０上に設けられた案内ベース１５には砥石台１６が摺動可能に載置され、サーボモータ１７により回転駆動される送りねじ機構１８によりＹ軸と直角なＸ軸方向に進退移動される。砥石台１６には先端に砥石Ｇが装着される砥石軸１９がＹ軸方向に軸承され、砥石駆動モータにより回転駆動される。これにより、主軸台１２の主軸１３にクランクシャフトＷを基準線Ｓを位相決めして支持し、砥石Ｇが回転駆動可能に支承された砥石台１６を数値制御装置２０からの指令に基づいて前記クランクシャフトＷの回転と関連してクランクシャフトＷに向かってＸ軸方向に進退移動させてピン部Ｐを砥石Ｇにより創成研削することができる。
【００１５】
数値制御装置２０は、インターフェース２１、ドライバ２２を介して主軸駆動用サーボモータ及び砥石台駆動用サーボモータ１７に接続され、後述する仕上NCデータ等の創成研削用NCデータに基づいて両サーボモータに駆動指令を送出し、主軸１３の回転に関連して砥石台１６を進退移動する。
【００１６】
図２は、砥石台１６をクランクシャフトＷの回転に関連してＸ軸方向に進退移動させてピン部Ｐを砥石Ｇにより創成研削するNCデータを作成するために、クランクシャフトW、即ち基準線Ｓの各回転角度τにおけるクランクシャフトWの回転中心Woと砥石Ｇの回転中心Goとの間のWo−Go間距離Ｘを算出する方法を示す説明図である。クランクシャフトＷは主軸１３に支持されて回転中心Wo回りに反時計方向に回転され、クランクシャフトＷの回転角度τは、クランクシャフトWの回転中心Woと砥石Ｇの回転中心Goとを結ぶ線分Wo−Goに対して基準線Ｓが反時計方向に回転した角度である。この状態においてピン部Ｐは砥石Ｇにより研削点Ｑにおいて接触して研削加工され、線分Po−Ｑが基準線Ｓとなす角度が位相角度θとなり、ピン部Ｐの形状中心Poと研削点Ｑとを結ぶ線分Po−Ｑの長さｒが、位相角度θにおけるピン部Ｐの形状中心Poから放射方向の仕上寸法ｒとなる。工作物Ｗの回転角度τにおけるクランクシャフトWの回転中心Woと砥石Ｇの回転中心Goとの間の距離Ｘは、（Ｘ−Ａｃｏｓτ）² ＝（Ｒ＋ｒ）²−Ａ²ｓｉｎ²τ なる関係からＸ＝Ａｃｏｓτ＋√（（Ｒ＋ｒ）²−Ａ²ｓｉｎ²τ）・・・（１）となる。ここにおいて、Ａは工作物Ｗの回転中心Woとピン部Ｐの形状中心Poとの間の偏心量、Ｒは砥石Gの半径である。なお、研削箇所がピン部の場合は、仕上寸法ｒは一定値である。
【００１７】
工作物Wの回転角度τと研削点Qの位相角度θとの関係は、Ｘ／ｓｉｎθ＝（Ｒ＋ｒ）／ｓｉｎτからｓｉｎθ＝Ｘｓｉｎτ／（Ｒ＋ｒ）・・・（２）となる。上記（１），（２）式から工作物Wの各回転角度τ、即ち主軸１３の各回転角度に対応して、研削点Qの各位相角度θ、及び各位相角度θにおける各仕上寸法ｒに基づいてクランクシャフトWの回転中心Woと砥石Ｇの回転中心Goとの間の距離Ｘが算出され、算出した距離Ｘから主軸１３の各回転角度τにおける砥石台１６のＸ軸方向位置が求められ、砥石Ｇが支承された砥石台１６をクランクシャフトＷを支持する主軸１３の回転に関連してＸ軸方向に進退移動させてピン部Ｐを砥石Ｇにより創成研削する創成研削用NCデータが作成される。このように研削箇所の仕上寸法ｒに基づいて作成された仕上NCデータは数値制御装置２０のNCデータ記憶エリア２３に記憶される。
【００１８】
図３は、基準線Ｓからの各位相角度θにおけるピン部Ｐの形状中心Poからの放射方向の測定寸法rmを計測する方法を示す説明図である。クランクシャフトＷは測定機のセンタ間に支持されて回転中心Wo回りに反時計方向に回転され、クランクシャフトＷの回転角度τは、水平線Ｌに対して基準線Ｓが反時計方向に回転した角度である。この状態においてピン部Ｐの頂部Ｔと水平線Ｌとの間の距離Ｈが測定され、線分Po−Ｔが基準線Ｓとなす角度が位相角度θとなり、頂部Ｔとピン部Ｐの形状中心Poとを結ぶ線分Po−Ｔの長さrmが、位相角度θにおけるピン部Ｐの形状中心Poから放射方向の測定寸法rmである。測定寸法rmは、距離Ｈ、ピン部Ｐの偏心量Ａ及びクランクシャフトＷの回転角度τから、Ｈ＝rm＋Ａｓｉｎτ・・・（３）により算出される。頂部Ｔの位相角度θは、θ＝π＋（π／2−τ）＝３／2π−τ・・・（４）で算出される。このように研削されたピン部Ｐの各位相角度θにおける測定寸法rmは数値制御装置２０の測定寸法記憶エリア２４に記憶される。
【００１９】
次に、上記数値制御研削盤の作動とともに、数値制御研削盤を制御する創成研削用NCデータの補正方法について説明する。クランクシャフトWのジャーナル部Ｊを主軸１３に基準線Ｌを主軸１３の基線に位相合わせして取り付け、仕上NCデータにより主軸１３、砥石台１６をサーボモータにより関連付けて駆動し、ピン部Ｐを砥石Ｇにより創成研削する（ステップ３１）。研削したクランクシャフトＷを主軸１３から取り外し、測定機のスピンドルに基準線Ｌをスピンドルに位相合わせして両端のジャーナル部Ｊで挟持し、クランクシャフトＷの各回転角度τに対するピン部Ｐの頂部Ｔの水平線Ｌからの距離Ｈを測定する（ステップ３２）。測定した距離Ｈから式（３），（４）式に基づいて各位相角度θにおけるピン部Ｐの測定寸法rmが求められ、数値制御装置２０の測定寸法記憶エリア２４に記憶される（ステップ３３）。数値制御装置２０では、各位相角度θにおける仕上寸法ｒ及び測定寸法rmを夫々フーリェ展開し、仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅Ar_k＝√（ar_k ²＋br_k ²）と、測定寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅Arm_k＝√（arm_k ²＋brm_k ²）との各比Ar_k／Arm_kを求め、この各比を仕上寸法フーリェ級数の振幅Ar_kに各周波数成分毎に乗じて補正寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅Arc_kを得る。測定寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相φrm_k＝tan-¹arm_k／brm_kと、仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相φr_k＝tan-¹ar_k／br_kとの各差（φrm_k−φr_k）を仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相φr_kから減算して補正寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相φrc_kを得る（ステップ３４）。この補正寸法フーリェ級数を逆フーリェ変換してピン部Ｐの各位相角度θにおける各補正寸法rcを求め（ステップ３５）、該各位相角度θにおける補正寸法rcと仕上寸法ｒとの差（rc−ｒ）に基づいて仕上NCデータを補正して補正NCデータを作成し、NCデータ記憶エリア２３に記憶する（ステップ３６）。この仕上NCデータの補正方法の一例としては、式（１），（２）により算出された工作物Wの回転角度τにおける砥石Ｇの回転中心GoとクランクシャフトWの回転中心Woとの間の距離Ｘに（rc−ｒ）×cos（π−τ−θ）を加算して距離Ｘを補正し、この補正された距離Ｘに基づいて補正NCデータを作成する。
【００２０】
仕上寸法フーリェ級数及び測定寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅及び位相は、数値制御装置２０の振幅記憶エリア２５及び位相記憶エリア２６に周波数毎にフーリェ級数別にパラメータとして設定できるようになっている。また、測定寸法フーリェ級数の振幅が十分小さくなった次数でフーリェ級数展開を終了し、計算時間の短縮を図るために、フーリェ級数の次数を数値制御装置２０の次数記憶エリア２７にパラメータとして設定できるようになっている。
【００２１】
さらに、補正NCデータの補正が必要な場合、クランクシャフトWを主軸１３に位相合わせして取り付け、補正NCデータによりピン部Ｐを砥石Ｇにより試し創成研削する（ステップ４１）。研削したクランクシャフトＷを測定機に取り付け、各回転角度τに対するピン部Ｐの頂部Ｔの水平線Ｌからの距離Ｈを測定する（ステップ４２）。測定した距離Ｈから各位相角度θにおける再測定寸法rmmが求められ、数値制御装置２０の測定寸法記憶エリア２４に記憶される（ステップ４３）。数値制御装置２０では、各位相角度θにおける仕上寸法ｒ及び再測定寸法rmmを夫々フーリェ展開し、仕上寸法フーリェ級数の振幅Ar_kと、再測定寸法フーリェ級数の振幅Arm_k＝√（armm_k ²＋brmm_k ²）との比Ar_k／Armm_kを周波数成分毎に求め、この各比を補正寸法フーリェ級数の振幅Arc_kに各周波数成分毎に乗じて、再補正寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅Arcc_kを得る。再測定寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相φrmm_k＝tan-¹armm_k／brmm_kと、仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相φr_kとの各差（φrmm_k−φr_k）を補正寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相φrc_kから減算して再補正寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相φrcc_kを得る（ステップ４４）。この再補正寸法フーリェ級数を逆フーリェ変換してピン部Ｐの各位相角度θにおける各再補正寸法rccを求め（ステップ４５）、該各位相角度θにおける再補正寸法rccと補正寸法rcとの差（rcc−ｒ）に基づいて補正NCデータを補正して再補正NCデータを作成し、NCデータ記憶エリア２３に記憶する（ステップ４６）。この再補正NCデータの作成は、工作物Wの回転角度τにおける補正されたGo−Wo間距離、Ｘ＋（rc−ｒ）×cos（π−τ−θ）に、（rcc−ｒ）×cos（π−τ−θ）を加算して再補正されたGo−Wo間距離、Ｘ＋（rc＋rcc−２ｒ）×cos（π−τ−θ）に基づいて行なわれる。再測定寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅及び位相も数値制御装置２０の振幅記憶エリア２５及び位相記憶エリア２６に周波数毎にパラメータとして設定される。
【００２２】
上記実施形態では、クランクシャフトのピン部を研削しているが、カムシャフトのカム部の場合は、カムシャフトの回転中心とカム部の形状中心とが一致するので、回転中心と形状中心とを含む基準線Ｌの他端をカム部のベース円の中央部に設定するとよい。基準線Lからの各回転位相における形状中心から放射方向の各仕上寸法が定義されたカムを研削するための仕上NCデータの作成は公知の方法により作成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の実施の形態である数値制御研削盤の概略図。
【図２】 クランクシャフトの各回転角度τにおけるクランクシャフトの回転中心と砥石の回転中心との間の距離Ｘを算出する方法を示す説明図。
【図３】 各位相角度におけるピン部の形状中心からの放射方向の測定寸法を計測する方法を示す説明図。
【図４】 仕上NCデータを補正して補正NCデータを得るフロー図。
【図５】 補正NCデータを再補正して再補正NCデータを得るフロー図。
【符号の説明】
１２・・・主軸台、１３・・・主軸、１６・・・砥石台、１７・・・サーボモータ、２０・・・数値制御装置、２５・・・振幅記憶エリア、２６・・・位相記憶エリア、２７・・・次数記憶エリア、Ｇ・・・砥石、Ｗ・・・クランクシャフト（工作物）、Ｐ・・・ピン部（研削箇所）。

Claims (5)

1. 工作物の回転中心と研削箇所の形状中心とを含む基準線からの各位相角度における研削箇所の形状中心から放射方向の各仕上寸法が定義された工作物を、工作物支持装置の主軸に前記基準線を位相決めして支持し、砥石が回転駆動可能に支承された砥石台を数値制御装置からの指令に基づいて前記工作物の回転と関連して工作物に向かって進退移動させて前記研削箇所を前記砥石により創成研削する数値制御研削盤を制御する創成研削用NCデータの補正方法において、前記研削箇所を仕上寸法に創成するために前記工作物の回転と前記砥石台との進退移動を関連付けて指令する仕上NCデータにより前記数値制御研削盤を制御して前記工作物を創成研削し、該創成研削された研削箇所の前記基準線からの各位相角度における形状中心から放射方向の各測定寸法を計測し、前記各位相角度における仕上寸法及び測定寸法を夫々フーリェ変換して仕上寸法フーリェ級数及び測定寸法フーリェ級数を求め、前記仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅と前記測定寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅との各比を前記仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅に夫々乗じるとともに、前記測定寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相と前記仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相との各差を前記仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相から減算して補正寸法フーリェ級数を求め、該補正寸法フーリェ級数を逆フーリェ変換して前記各位相角度における補正寸法を求め、該各位相角度における補正寸法に基づいて補正NCデータを作成することを特徴とする数値制御研削盤を制御する創成研削用NCデータの補正方法。
2. 前記数値制御研削盤を前記補正NCデータにより制御して工作物を創成研削し、該補正NCデータにより創成研削された研削箇所の前記基準線からの各位相角度における形状中心から放射方向の各再測定寸法を計測し、前記各位相角度における再測定寸法をフーリェ変換して再測定寸法フーリェ級数を求め、前記仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅と前記再測定寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅との各比を前記補正寸法フーリェ級数の各周波数成分の振幅に夫々乗じるとともに、前記再測定寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相と前記仕上寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相との各差を前記補正寸法フーリェ級数の各周波数成分の位相から減算して再補正寸法フーリェ級数を求め、該再補正寸法フーリェ級数を逆フーリェ変換して各位相角度における各再補正寸法を求め、該各位相角度における各再補正寸法に基づいて再補正NCデータを作成することを特徴とする請求項１に記載の数値制御研削盤を制御する創成研削用NCデータの補正方法。
3. 前記仕上 NC データにより研削した研削箇所の測定寸法フーリェ級数の振幅をみて前記補正寸法フーリェ級数の次数を設定することを特徴とする請求項１に記載の数値制御研削盤を制御する創成研削用NCデータの補正方法。
4. 請求項１乃至３のいずれかに記載の数値制御研削盤を制御する創成研削用NCデータの補正方法を実施する数値制御研削盤において、前記各フーリエ級数の各周波数成分の振幅及び位相を前記数値制御装置にパラメータ設定可能としたことを特徴とする数値制御研削盤。
5. フーリェ級数の取り扱い次数を前記数値制御装置にパラメータ設定可能としたことを特徴とする請求項４に記載の数値制御研削盤。

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