JP3778362B2 - Led発光測定装置 - Google Patents

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Description

本発明は発光ダイオード(以下LEDという)の光量及び波長特性を測定する発光測定装置に関する。
LEDの光量測定においては、発光量を平均的に捕らえるために、LEDの発光を光検出器で直接受光するのではなく、発光を一旦拡散板に当て、拡散した光を測定するのが一般的である。
拡散板としては反射型のものや透過型のものがある。
また、波長の測定は分光分布測定器(波長計)で行うが、その場合は直接入射光でも、また拡散板を経由した拡散光であってもよい。
また発光測定はLED完成品についても行われるが、多数のLEDチップが集積された半導体ウエハの状態でも行われることがある。
その場合、ウェハはチャックテーブル上に載置され、裏面からの吸引によって固定され、ウェハ上面から光量検出器及び分光分布測定器(波長計)によって各素子の光量及び波長を検出する。
従来、このチャックテーブルの材質としては、硬度を有し、汚染に強いステンレス等の金属が使用されるのが一般的である。
照明学会編「光の計測マニュアル」(1990年11月30日発行)
光の拡散板として表面に硫酸バリウムを塗布したものは、硫酸バリウム層が汚れ,酸化,機械的傷等により経時変化し、安定した光の拡散効果が継続しない。
また半導体ウェハ上にLEDチップを集積したものを測定する場合において、従来の装置ではウェハの上面からのみしか測定できない。
近年例えばフリップチップ形と称する透明ウェハ上にLEDを集積し、ウェハの両面へ発光させる形のLEDがあるが、このようなウェハの光量及び波長分布を測定する場合は、上面側と裏面側の両面の測定が要求される。
ウェハをひっくり返して吸引取付けすることはできないので、裏面側の光を検出するにはチャックテーブルに光の透過性を有する材料を使用する必要がある。
しかし、チャックテーブルにはウェハ吸引吸着用の空気孔が設けられており、単に光の透過性を有するだけでは、この空気孔の影響を受けて場所によりむらを生ずるなど、実用に供することができない。
請求項1の発明は、透明か、透明に近いプラスチック素材に硫酸バリウムを混入し、成形したチャックテーブルの上下に、光量検出器を設けた、光量測定装置に関するものである。
請求項2の発明は、上記チャックテーブルの上下に、LEDの発光した光を波長計に導く光ファイバを設けた、波長特性測定装置に関するものである。
請求項1の発明によれば、透明ウェハ上に形成されたLEDチップの発光量を表裏両面から同時に測定できるLED光測定装置を得ることができる。
請求項2の発明によれば、透明ウェハ上に形成されたLEDチップの波長分布を表裏両面から同時に測定することが可能な波長特性測定装置を得ることができる。
以下図面に基づいて本発明の実施例を説明する。
図1は、LED発光測定装置の模式図である。
1は光量検出器で内部にはフォートダイオードのような光検出素子が内蔵されており、矢印で示した入射光側を覆うように、拡散板2が設けられている。
3aは被検査LEDで、その上側発光は拡散板2に向かって矢印のように照射される。
拡散板2素材を透明なプラスチックで構成し、その成形の過程で硫酸バリューム粒子を混在せしめるようにしたものである。
この拡散板を用いることにより非検査LED3aの発光は、光量検出器1に直接照射されることはなく、拡散板の内部で硫酸バリューム粒子によって複数回の拡散を繰り返した後に光量検出器1に到達することになる。
また硫酸バリュームは拡散板内部に散在しているので、外気や物理的接触によって拡散機能に変化を生じさせることがなく、常に安定した性能を維持することが可能になる。
拡散板2は、拡散作用を有するのみでなく、良好な光の透過性能も有する必要がある。
従って、透明プラスチック素材に対する混入率が重要であり、一般的に使用される拡散板の厚み1mmの場合、混入率は約10%前後が最適である。
5%では散乱率が低下し、反対に20%を超えると、光の透過率が低下して、光量検出の感度に悪影響が生じることが確かめられている。
4は透明又は半透明な半導体ウェハで、その表面には複数のLEDチップ3a,3b,・・・3nが集積されている。
5はチャックテーブルで、通常はステンレスのような硬い、耐腐食性のものが使用されている。
6はチャックテーブル内部に設けられている空気吸引孔で、空気を矢印の方向に吸引することにより、半導体ウェハ4をチャックテーブル上に吸引して固定させる。
従来の装置において、チャックテーブルは、ステンレスのような不透光素材で作られているので、フリップチップのような透明基板上に作られたLEDチップの下(裏)側の発光を測定することはできない。
本発明のLED発光測定装置においては、チャックテーブルの素材として透明なプラスチックを使用し、チャックテーブル成型の過程において硫酸バリュームの粒子を混入するようにしたものである。
それによりチャックテーブル23は光拡散性を備えた材質となる。
そこでLEDチップ3aを発光させると、上面に発光した光は、拡散板2で拡散され、光量検出器1で上面側発光量を測定される。
それと同時に、下面に発光した光は、透明な半導体ウェハ4を通過し、チャックテーブル5の内部で拡散する。
従って、チャックテーブル下面に、光量検出器1と同様の、光量検出器7を置くと、LEDチップ3aの下面発光量も測定することができる。
この場合、チャックテーブルに光の拡散性を持たせたことにより、チャックテーブルに吸引用空気孔があってもその影響を除外して測定することが可能である。
なお、光量検出器7には、光量検出器1に用いられている拡散板2は不要である。
光量検出器1の出力と、光量検出器7の出力を加算することにより、LEDチップ3aの総合的出力を計測できるだけでなく、両出力を比較することによって、その特性を決定することができる。
またLEDチップの上下(表裏)面の発光量を一回の測定で完了できるので、生産工程の簡略化を計ることができる。
チャックテーブル5の厚みは、機械的強度及び内部に空気吸引孔を設ける必要上、拡散板7の厚み約1mmよりは厚く、約5mm程度となる。
この場合も、光の通過及び拡散のバランスを考慮すると、硫酸バリュームの混入量はプラスチック素材の10%程度がもっとも好ましいことが実験的に確かめられた。
混入比率が5%以下となると、良好な拡散が得られず、20%を超えると光の透過率が低下し、光量検出の感度に悪影響が生じることが確かめられている。
LEDの特性は受光量とともにその波長分布も重要な要素となっている。
以下図1に基づき波長分布の測定について説明する。
図1において8は上側の発光について波長分布を測定する波長計で、光ファイバー9によって光量検出器1の近辺において、披検査LED3aの上側の発光を集光し、測定できるようになっている。
10は下側の発光の波長分布を測定する波長計で光ファイバ11によって、下側の光量検出器7の近辺において被検査LEDの下側の発光を集光し測定できるようになっている。
この場合、光はチャックテーブルの拡散層を通過したものとなるが、硫酸バリュームの混入率が10%程度のチャックテーブルであれば、材質による波長依存特性がなく、波長分布に影響を与えることはない。
従来の装置においては、被検査LEDの下側の発光の波長分布は測定することができなかったが、本発明の装置においては、発光量と同様に下側の発光の波長分布を、上側と同時に測定できることになる。
LED発光測定装置の模式図
符号の説明
1・・・・・・・・・・・光量検出器
2・・・・・・・・・・・拡散板
3a,3b,・・・3n・・LEDチップ
4・・・・・・・・・・・半導体ウェハ
5・・・・・・・・・・・チャックテーブル
6・・・・・・・・・・・空気吸引孔
7・・・・・・・・・・・光量検出器
8・・・・・・・・・・・波長計
9・・・・・・・・・・・光ファイバー
10・・・・・・・・・・波長計
11・・・・・・・・・・光ファイバー

Claims (2)

  1. 透明なプラスチック材料に、硫酸バリュームを混入して成型した、半導体ウエハのチャックテーブル、
    前記チャックテーブルの上方に配置された第1の光量検出器、
    前記チャックテーブルの下方に配置された第2の光量検出器、
    からなるLED光量測定装置。
  2. 透明なプラスチック材料に、硫酸バリュームを混入して成型した、半導体ウエハのチャックテーブル、
    前記チャックテーブルの上方に配置された第1の受光用ファイバー、
    前記チャックテーブルの下方に配置された第2の受光用ファイバー、
    前記第1,第2の受光用ファイバーによるLED受光光の、波長分布(分光分布)を測定するための第1及び第2の分光分布測定器(波長計)、
    からなるLED波長特性測定装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009150791A (ja) * 2007-12-21 2009-07-09 Oputo System:Kk 発光体の測光装置
JP5572557B2 (ja) * 2008-02-06 2014-08-13 コンテックス・エー/エス 光学スキャナーにおける光度の測定及び補正
JP2009250879A (ja) * 2008-04-09 2009-10-29 Ae Tekku Kk 発光装置の検査装置及び検査方法
JP2011226869A (ja) * 2010-04-16 2011-11-10 Sharp Corp 発光測定装置
WO2012073345A1 (ja) * 2010-11-30 2012-06-07 パイオニア株式会社 発光素子用受光モジュール及び発光素子用検査装置
CN102829859A (zh) * 2011-06-17 2012-12-19 致茂电子股份有限公司 光学测量系统及其装置
JP5813861B2 (ja) * 2012-03-27 2015-11-17 パイオニア株式会社 半導体発光素子用の測定装置および半導体発光素子用の測定方法
CN104501945B (zh) * 2015-01-17 2016-08-17 国家电网公司 一种光功率计自动化计量检定系统及方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102735424A (zh) * 2011-04-02 2012-10-17 浙江天时光电科技有限公司 Led灯配光测试仪
CN102735424B (zh) * 2011-04-02 2015-11-25 浙江天时光电科技有限公司 Led灯配光测试仪

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